JP2003277934A - 金属膜作製装置 - Google Patents

金属膜作製装置

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JP2003277934A
JP2003277934A JP2002084847A JP2002084847A JP2003277934A JP 2003277934 A JP2003277934 A JP 2003277934A JP 2002084847 A JP2002084847 A JP 2002084847A JP 2002084847 A JP2002084847 A JP 2002084847A JP 2003277934 A JP2003277934 A JP 2003277934A
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duct
gas
substrate
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JP2002084847A
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English (en)
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Toshihiko Nishimori
年彦 西森
Hitoshi Sakamoto
仁志 坂本
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 排ガスの排気系のダクトに対する付着物の付
着を可及的に低減し得る金属膜作製装置を提供する。 【解決手段】 Cl2 ガス等の原料ガスをチャンバ1内
に供給してCu薄膜16を基板3に形成する場合におい
て、前記チャンバ1の排気口17を介してチャンバ1内
に連通するダクト18の端部に配設されチャンバ1内に
発生するガスを吸引して排気する排気系Iを有するとと
もに、この排気系Iは、ダクト18を流通する排ガスを
ヒータ20で加熱してその蒸気圧を高くすることにより
排ガス中の成分が凝縮しにくくし、同時にダクト18を
流通する排ガスを冷却してこの排ガスに含まれる粒子等
を析出させ、冷却トラップ21で捕捉するようにしたも
のである。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は金属膜作製装置に関
し、特にチャンバ内での原料ガスプラズマの作用により
所定の金属の前駆体を形成してこの金属の薄膜を基板上
に析出させる金属膜作製装置の排気系に適用して有用な
ものである。 【0002】 【背景技術】従来、気相成長法により金属膜、例えばC
uの薄膜を作製する場合、例えば銅・ヘキサフロロアセ
チルアセトナト・トリメチルビニルシラン等の液体の有
機金属錯体を原料として用い、固体状の原料を溶媒に溶
かし、熱的な反応を利用して気化することにより基板に
対する成膜を実施している。 【0003】これに対し、本発明者等は、次の様な新規
な金属膜作製装置を発明した。すなわち、金属膜(例え
ばCu膜)を付着させる基板を内部に収容するチャンバ
と、高蒸気圧ハロゲン化物を作る金属(例えばCu)で
形成して前記チャンバに配設した被エッチング部材(例
えば銅板部材)と、この被エッチング部材の温度と前記
基板の温度とを所定の温度及び温度差に制御する温度制
御手段とを有し、被エッチング部材と前記基板の温度と
を所定の温度及び温度差に制御しつつ前記チャンバ内で
形成したハロゲンを含有する原料ガスプラズマ又は別途
形成してチャンバ内に供給するハロゲンを含有する原料
ガスプラズマで前記被エッチング部材をエッチングして
金属成分と原料ガスとの前駆体を形成し、この前駆体の
金属成分を前記基板に析出させて所定の金属膜の成膜を
行うというものである。ここで、当該金属膜作製装置
は、前記チャンバ内に発生するガスをこのチャンバ内か
ら排出するため、一般に、排気口を介して前記チャンバ
内に連通するダクト及びこのダクトを介して前記チャン
バ内に発生するガスを吸引して排気する真空ポンプから
なる排気系を有している。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】上述の如きエッチング
による新規な金属膜作製装置をはじめ、一般にチャンバ
内で成膜処理を行う金属膜作製装置の排気系において
は、ダクト内において排ガス中の粒子が析出し、ダクト
の内壁に付着物となって付着する。かかる付着物の成長
を放置しておくとダクトの詰まりを生起するばかりでな
く、ダクト側からチャンバ内に逆流して成膜中の金属膜
に混入してその膜質を悪化させる等の不都合を生起す
る。このため、ダクト等、排気系は定期的にクリーニン
グを行う必要があるが、このクリーニングは当該排気系
をチャンバから取り外して手作業でこれを行う必要があ
る。このため、その分成膜効率が低下するばかりでな
く、クリーニングの作業自体も大変な作業となる。 【0005】本発明は、上記従来技術に鑑み、排ガスの
排気系のダクトに対する付着物の付着を可及的に低減
し、そのクリーニングの回数及び時間を少なくして成膜
効率の向上に寄与し得る排気系を手有する金属膜作製装
置を提供することを目的とする。 【0006】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の構成は次の点を特徴とする。 【0007】1) 原料ガスをチャンバ内に供給して所
定の金属膜を基板に形成する金属膜作製装置において、
排気口を介して前記チャンバ内に連通するダクト、この
ダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に発生するガ
スを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダクトを流通
する排ガスを加熱するようダクトの途中に配設した加熱
手段を備えた排気系を有すること。 【0008】2) 原料ガスをチャンバ内に供給して所
定の金属膜を基板に形成する金属膜作製装置において、
排気口を介して前記チャンバ内に連通するダクト、この
ダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に発生するガ
スを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダクトを流通
する排ガスを冷却してこの排ガスに含まれる粒子等を捕
捉する冷却トラップを備えた排気系を有すること。 【0009】3) 金属膜を付着させる基板を内部に収
容するチャンバと、高蒸気圧ハロゲン化物を作る金属で
形成して前記チャンバに配設した被エッチング部材と、
この被エッチング部材の温度と前記基板の温度とを所定
の温度及び温度差に制御する温度制御手段とを有し、被
エッチング部材と前記基板との温度を所定の温度及び温
度差に制御しつつ前記チャンバ内で形成したハロゲンを
含有する原料ガスプラズマ又は別途形成してチャンバ内
に供給するハロゲンを含有する原料ガスプラズマで前記
被エッチング部材をエッチングして金属成分と原料ガス
との前駆体を形成し、この前駆体の金属成分を前記基板
に析出させて所定の金属膜の成膜を行う金属膜作製装置
において、排気口を介して前記チャンバ内に連通するダ
クト、このダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に
発生するガスを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダ
クトを流通する排ガスを加熱するようダクトの途中に配
設した加熱手段を備えた排気系を有すること。 【0010】4) 金属膜を付着させる基板を内部に収
容するチャンバと、高蒸気圧ハロゲン化物を作る金属で
形成して前記チャンバに配設した被エッチング部材と、
この被エッチング部材の温度と前記基板の温度とを所定
の温度及び温度差に制御する温度制御手段とを有し、被
エッチング部材と前記基板との温度を所定の温度及び温
度差に制御しつつ前記チャンバ内で形成したハロゲンを
含有する原料ガスプラズマ又は別途形成してチャンバ内
に供給するハロゲンを含有する原料ガスプラズマで前記
被エッチング部材をエッチングして金属成分と原料ガス
との前駆体を形成し、この前駆体の金属成分を前記基板
に析出させて所定の金属膜の成膜を行う金属膜作製装置
において、排気口を介して前記チャンバ内に連通するダ
クト、このダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に
発生するガスを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダ
クトを流通する排ガスを冷却してこの排ガスに含まれる
粒子等を捕捉する冷却トラップを備えた排気系を有する
こと。 【0011】5) 上記1)又は3)に記載する何れか
一つの金属膜作製装置において、排気系は、ダクトを流
通する排ガスを冷却してこの排ガスに含まれる粒子等を
捕捉する冷却トラップを、加熱手段の下流位置で、ダク
トの途中にさらに配設したものであること。 【0012】6) 上記1)乃至5)の何れか一つに記
載する金属膜作製装置において、排気系は、ダクト内に
クリーニングガスを供給して、その内壁に付着した付着
物を除去するクリーニングガス供給手段を有すること。 【0013】7) 上記1)乃至5)の何れか一つに記
載する金属膜作製装置において、排気系は、ダクト内に
クリーニングガスのプラズマを形成して、その内壁に付
着した付着物を除去するクリーニングガスプラズマ発生
段を有すること。 【0014】8) 上記1)乃至5)の何れか一つに記
載する金属膜作製装置において、排気系は、遠隔で形成
したクリーニングガスのプラズマをダクト内に供給し
て、その内壁に付着した付着物を除去するクリーニング
ガスプラズマ発生段を有すること。 【0015】 【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面に
基づき詳細に説明する。 【0016】図1は本発明の実施の形態に係る金属膜
(Cu薄膜)作製装置の概略側面図である。同図に示すよ
うに、円筒状に形成された、例えば、セラミックス製
(絶縁材料製)のチャンバ1(絶縁材料製)の底部近傍
には支持台2が設けられ、支持台2には基板3が載置さ
れている。また、支持台2にはヒータ4及び冷媒流通手
段5を備えた温度制御手段6が設けられ、この温度制御
手段6により支持台2を所定温度(例えば、基板3が1
00°C乃至200°Cに維持される温度)に制御する
ようになっている。 【0017】チャンバ1の上面は開口部とされ、開口部
は金属製の被エッチング部材としての銅板部材7によっ
て塞がれている。銅板部材7によって塞がれたチャンバ
1の内部は真空装置8により所定の真空圧に維持され
る。 【0018】チャンバ1の筒部の銅板部材7側の周囲に
は、チャンバ1の軸方向に亘り巻回したコイル状の成膜
用プラズマアンテナ9が配設してあり、この成膜用プラ
ズマアンテナ9には整合器10及び電源11が接続され
て給電が行われる。成膜用プラズマアンテナ9、整合器
10及び電源11で成膜用プラズマ発生手段を構成して
いる。 【0019】支持台2の上方におけるチャンバ1の内部
には、塩素を含有する原料ガス(Heで塩素濃度が≦50%
、好ましくは10% 程度に希釈されたCl2 ガス)を供
給するノズル12が配設してある。ノズル12は銅板部
材7に向けて開口している。また、このノズル12には
流量制御器13を介して原料ガスが送給される。原料ガ
スは、成膜時に、チャンバ1内で壁面側に沿って基板3
側から銅板部材7側に送られる。ここで、チャンバ1内
に供給するCl2 ガスの量は、前記流量制御器13で制
御する。 【0020】排気系Iは、排気口17を介して前記チャ
ンバ1内に連通するダクト18及びこのダクト18の端
部に配設されて前記チャンバ1内に発生するガスを吸引
して排気する真空ポンプ19を基本的な構成要素として
有している。さらに、本形態に係る金属膜作製装置の排
気系Iは、前記ダクト18を流通する排ガスを加熱する
ようダクト18の途中に配設した加熱手段であるヒータ
20と、ダクト18を流通する排ガスを冷却してこの排
ガスに含まれる粒子等を捕捉する冷却トラップ21をダ
クト18の途中に配設したものである。また、当該排気
系Iには、排気口17に隣接してターボ分子ポンプ22
が設けてあり、このターボ分子ポンプ22で排気速度の
高速化を図っている。 【0021】かかる金属膜作製装置における成膜時に
は、先ず、チャンバ1の内部にノズル12から原料ガス
を供給しつつ、成膜用プラズマアンテナ9から電磁波を
チャンバ1の内部に入射することで、Cl2 ガスをイオ
ン化してCl2 ガスプラズマ(原料ガスプラズマ)14
を発生させる。このCl2 ガスプラズマ14は、チャン
バ1内の成膜用プラズマアンテナ9に隣接する空間、す
なわちチャンバ1の銅板部材7側(上部)の空間に形成
される。このときCl* も発生する。 【0022】Cl2 ガスプラズマ14により、銅板部材
7にエッチング反応が生じ、前駆体(CuxCly)15が生
成される。このとき、銅板部材7はCl2 ガスプラズマ
14により基板3の温度よりも高い所定温度(例えば、
200℃乃至400℃)に維持されている。 【0023】チャンバ1の内部で生成された前駆体(Cu
xCly)15は、銅板部材7よりも低い温度に制御された
基板3に搬送される。基板3に搬送されてこれに吸着さ
れた前駆体(CuxCly)15は、成膜反応により基板3上
にCuを析出させる。かくして、基板3の表面にCu薄膜
16が形成される。 【0024】このときチャンバ1内では次の様な反応が
起こっていると考えられる。 プラズマの解離反応;Cl2 →2Cl* エッチング反応;Cu+Cl* →CuCl(g) 基板への吸着反応;CuCl(g)→CuCl(a
d)成膜反応;CuCl(ad)+Cl* →Cu+Cl2 ↑ ・・・(1) ここで、Cl* はClのラジカルであることを、(g)
はガス状態であることを、(ad)は吸着状態であるこ
とをそれぞれ表している。 【0025】また、もう一つの成膜反応として次式
(2)で表される反応も起こっていると考えられる。 2CuCl(ad)→2Cu+Cl2 ↑ ・・・・・・・(2) 【0026】この結果、排気系Iを介して排気される排
ガスはCl2 ガスを主成分とするものであるが、その中
にはCuCl、CuCl2 等も含まれるため、これらが
ダクト18の内周面に付着する可能性がある。かかる付
着物はダクト18の流路断面積の狭窄等を生起し好まし
くない。そこで、本形態では、ヒータ20によりダクト
18内の排ガスを加熱することによりこの排ガスの蒸気
圧を上昇させている。このように蒸気圧を上昇させるこ
とにより排ガス中のCuCl、CuCl2 が固化してダ
クト18の内周面に付着するのを防止し得るからであ
る。このときの加熱によるダクト18の内部温度は16
0°C程度にするのが最適である。ダクト18の内部圧
力は10-3乃至10-1程度であるため、かかる圧力下で
も蒸発させることができるようにするためである。 【0027】同時に、このヒータ20の下流に配設した
冷却トラップ21では排ガスを冷却することによりこの
排ガス中のCuCl、CuCl2 成分等を析出させて捕
捉している。このときの冷却は、室温における排ガスの
蒸気圧以下に押さえ込めるような温度まで冷却する。ま
た、捕捉したCuCl、CuCl2 等の付着物は別途処
理して廃棄する。このことにより、ダクト18の内周面
への付着物を可及的に低減し得る。 【0028】図2は排気系Iに代わる排気系IIの主要部
を抽出・拡大して示す縦断面図である。同図中、28は
ダクト、30はヒータ、31は冷却トラップであり、図
1のダクト18、ヒータ20、冷却トラップ21にそれ
ぞれ対応する。また、同図に詳細に示すように、冷却ト
ラップ31はその内周面に埋設した管路31aを有して
おり、この管路31aに冷媒(例えば冷却水)を流通さ
せることによりその内部を冷却するとともに、排ガスの
流通路の一部となるその内部空間に突出させて多くの捕
捉板31bを設けてあり、冷却して蒸気圧が低下した排
ガスを捕捉板31bに接触させてこの排ガス中からCu
Cl、CuCl2 等を析出させて捕捉するように構成し
てある。 【0029】本形態の排気系IIは、さらに流量制御器3
2、ノズル33、絶縁筒34、プラズマ生成用コイル3
5等を有している。ここでノズル33はヒータ30に対
してダクト28の上流側でこのダクト28内に臨んでお
り、このダクト28内にCl 2 ガス等のクリーニングガ
スを供給するようになっている。Cl2 ガス等のクリー
ニングガスは流量制御器32でその流量を制御しつつダ
クト28内に供給される。 【0030】このようにしてダクト28内に供給された
Cl2 ガスは、ノズル33とヒータ30との間に配設さ
れた絶縁筒34の内部でプラズマ化される。すなわち、
プラズマ生成用コイル35には所定の高周波電力が供給
され、このプラズマ生成用コイル35が形成する高周波
電界の作用により当該部分にCl2 ガスプラズマを形成
するようになっている。このCl2 ガスプラズマは、上
述の如く、ダクト28の内周面に付着したCu及びその
塩化物(一般的には高蒸気圧ハロゲン化物を作る金属及
びそのハロゲン化物)に作用してエッチング反応を生起
する。この結果、付着物はCuClガス等となって蒸発
し、ダクト28の内周面から除去される。このように付
着物が蒸発したガスも成分として含む排ガスは、上記実
施の形態と同様に、ヒータ30で加熱されてダクト28
内に付着することなく冷却トラップ31に至り、この冷
却トラップ31で冷却されて析出した粒子成分を捕捉さ
れる。 【0031】図2に示す排気系IIでは、ダクト28内で
クリーニングガスのプラズマを形成するように構成した
が、クリーニングガスのプラズマは、ダクト28外で形
成しても良い。かかる排気系III を図3に基づき説明す
る。なお、図3中、図2と同一部分には同一番号を付
し、重複する説明は省略する。 【0032】図3に示す排気系では、ダクト38の外部
に図2の絶縁筒34及びプラズマ生成用コイル35と同
様の絶縁筒44及びプラズマ生成用コイル45を配置
し、流量制御器42を介してCl2 ガスを供給しつつ絶
縁筒44の内部でCl2 ガスプラズマを形成する。その
後、絶縁筒44の内部で形成したCl2 ガスプラズマを
ヒータ30の上流側でダクト38内に供給している。 【0033】かかるCl2 ガスプラズマによっても、図
2に示す場合と同態様で、ダクト38の内部の付着物が
除去される。 【0034】上述の如く、図1乃至図3に示す排気系I
乃至III は何れも、ヒータ20、30及び冷却トラップ
21、31の何れも具備するものとして説明したが、こ
れはヒータ20、30又は冷却トラップ21、31の何
れか一方であっても良い。また、排気系II、III では、
何れもクリーニングガスのプラズマにより付着物を除去
するようにしたが、これはクリーニングガスをダクト2
8、38内に供給することによってもある程度目的を達
成し得る。例えば、クリーニングガスをCl2ガスとし
た場合、このCl2 ガスは付着物に対して作用し付着物
をガス化して除去することができるからである。したが
って、クリーニングガスとしては、Cl 2 ガスと同様に
作用するハロゲン化ガスであれば一般に用いることがで
きる。 【0035】なお、図1に示す金属膜作製装置において
は、原料ガスとして、Heで希釈されたCl2 ガスを例に挙
げて説明したが、Cl2 ガスを単独で用いたり、HCl ガス
を適用することも可能である。HCl ガスを適用した場
合、原料ガスプラズマはHCl ガスプラズマが生成される
が、銅製の被エッチング部材のエッチングにより生成さ
れる前駆体はCuxClyである。したがって、原料ガスは塩
素を含有するガスであればよく、HCl ガスとCl2 ガスと
の混合ガスを用いることも可能である。さらに、一般的
には塩素に限らず、ハロゲンガスであれば、当該金属膜
作製装置の原料ガスとして利用することができる。 【0036】また、被エッチング部材は銅に限らず、T
a,Ti,W等の高蒸気圧ハロゲン化物を作る金属であれば
同様に用いることができる。この場合、前駆体はTa,Ti,
W等の塩化物(ハロゲン化物)となり、基板3の表面に
生成される薄膜はTa,Ti,W等となる。 【0037】金属膜作製装置としては、図1に示す装置
に限る必要は、勿論ない。銅板等で形成した被エッチン
グ部材と基板の温度とを所定の温度及び温度差に制御す
ることにより、チャンバ内の原料ガスプラズマで前記被
エッチング部材をエッチングして金属成分と原料ガスと
の前駆体を形成し、この前駆体の金属成分を基板に析出
させて成膜を行うようにした装置であれば良い。したが
って、被エッチング部材の形状は、図1に示すものに限
らず板状及び錐状のものであっても良く、またチャンバ
内に原料ガスを供給してチャンバ内でそのプラズマを形
成する装置ばかりでなく、別途形成した原料ガスプラズ
マをチャンバ内に供給するようにした装置であっても良
い。さらに、原料ガスをチャンバ内に供給して所定の金
属膜を基板に形成する金属膜作製装置において、同様の
排気系を具備する金属膜作製装置に一般的に適用し得
る。 【0038】 【発明の効果】以上実施の形態とともに具体的に説明し
た通り、〔請求項1〕に記載する発明は、原料ガスをチ
ャンバ内に供給して所定の金属膜を基板に形成する金属
膜作製装置において、排気口を介して前記チャンバ内に
連通するダクト、このダクトの端部に配設されて前記チ
ャンバ内に発生するガスを吸引して排気するポンプ手段
及び前記ダクトを流通する排ガスを加熱するようダクト
の途中に配設した加熱手段を備えた排気系を有するの
で、ダクトを流通する排ガスの蒸気圧を高くすることが
でき、その成分がダクトの内周面に付着するのを可及的
に低減し得る。この結果、本発明によれば、排気系のメ
ンテナンス間隔を飛躍的に長くすることができ、その分
当該金属膜作製装置による金属膜の製造効率を向上させ
ることができる。また、排ガス成分がパーティクルとし
てチャンバ内に逆流して成膜中の膜に付着し、その膜質
を低下させるという不都合も除去し得る。 【0039】〔請求項2〕に記載する発明は、原料ガス
をチャンバ内に供給して所定の金属膜を基板に形成する
金属膜作製装置において、排気口を介して前記チャンバ
内に連通するダクト、このダクトの端部に配設されて前
記チャンバ内に発生するガスを吸引して排気するポンプ
手段及び前記ダクトを流通する排ガスを冷却してこの排
ガスに含まれる粒子等を捕捉する冷却トラップを備えた
排気系を有するので、冷却トラップ内で排ガスの蒸気圧
を低くしてその成分を析出させ、これを捕捉して除去す
ることができる。この結果、本発明によれば、〔請求項
1〕に記載する発明と同様に排気系のメンテナンス間隔
を飛躍的に長くすることができ、その分当該金属膜作製
装置による金属膜の製造効率を向上させることができ
る。また、排ガス成分がパーティクルとしてチャンバ内
に逆流して成膜中の膜に付着し、その膜質を低下させる
という不都合も除去し得る。 【0040】〔請求項3〕に記載する発明は、金属膜を
付着させる基板を内部に収容するチャンバと、高蒸気圧
ハロゲン化物を作る金属で形成して前記チャンバに配設
した被エッチング部材と、この被エッチング部材の温度
と前記基板の温度とを所定の温度及び温度差に制御する
温度制御手段とを有し、被エッチング部材と前記基板と
の温度を所定の温度及び温度差に制御しつつ前記チャン
バ内で形成したハロゲンを含有する原料ガスプラズマ又
は別途形成してチャンバ内に供給するハロゲンを含有す
る原料ガスプラズマで前記被エッチング部材をエッチン
グして金属成分と原料ガスとの前駆体を形成し、この前
駆体の金属成分を前記基板に析出させて所定の金属膜の
成膜を行う金属膜作製装置において、排気口を介して前
記チャンバ内に連通するダクト、このダクトの端部に配
設されて前記チャンバ内に発生するガスを吸引して排気
するポンプ手段及び前記ダクトを流通する排ガスを加熱
するようダクトの途中に配設した加熱手段を備えた排気
系を有するので、当該金属膜作製装置において、〔請求
項1〕に記載する発明と同様の作用・効果を得る。 【0041】〔請求項4〕に記載する発明は、金属膜を
付着させる基板を内部に収容するチャンバと、高蒸気圧
ハロゲン化物を作る金属で形成して前記チャンバに配設
した被エッチング部材と、この被エッチング部材の温度
と前記基板の温度とを所定の温度及び温度差に制御する
温度制御手段とを有し、被エッチング部材と前記基板と
の温度を所定の温度及び温度差に制御しつつ前記チャン
バ内で形成したハロゲンを含有する原料ガスプラズマ又
は別途形成してチャンバ内に供給するハロゲンを含有す
る原料ガスプラズマで前記被エッチング部材をエッチン
グして金属成分と原料ガスとの前駆体を形成し、この前
駆体の金属成分を前記基板に析出させて所定の金属膜の
成膜を行う金属膜作製装置において、排気口を介して前
記チャンバ内に連通するダクト、このダクトの端部に配
設されて前記チャンバ内に発生するガスを吸引して排気
するポンプ手段及び前記ダクトを流通する排ガスを冷却
してこの排ガスに含まれる粒子等を捕捉する冷却トラッ
プを備えた排気系を有するので、当該金属膜作製装置に
おいて、〔請求項2〕に記載する発明と同様の作用・効
果を得る。 【0042】〔請求項5〕に記載する発明は、〔請求項
1〕又は〔請求項3〕に記載する金属膜作製装置におい
て、排気系は、ダクトを流通する排ガスを冷却してこの
排ガスに含まれる粒子等を捕捉する冷却トラップを、加
熱手段の下流位置で、ダクトの途中にさらに配設したも
のであるので、〔請求項1〕及び〔請求項2〕、又は
〔請求項3〕及び〔請求項4〕に記載する発明と同様の
作用・効果を合わせて得ることができる。この結果、排
気系のボンプ手段の負荷を低減することもできる。 【0043】〔請求項6〕に記載する発明は、〔請求項
1〕乃至〔請求項5〕の何れか一つに記載する金属膜作
製装置において、排気系は、ダクト内にクリーニングガ
スを供給して、その内壁に付着した付着物を除去するク
リーニングガス供給手段を有するので、ダクトの内周面
に付着した付着物をクリーニングガスにより除去するこ
とができる。この結果、本発明によれば、〔請求項1〕
乃至〔請求項5〕に記載する発明の作用・効果をより顕
著なものとすることができる。 【0044】〔請求項7〕に記載する発明は、〔請求項
1〕乃至〔請求項5〕の何れか一つに記載する金属膜作
製装置において、排気系は、ダクト内にクリーニングガ
スのプラズマを形成して、その内壁に付着した付着物を
除去するクリーニングガスプラズマ発生段を有するの
で、ダクトの内周面に付着した付着物をクリーニングガ
スのプラズマにより除去することができる。この結果、
本発明によれば、〔請求項6〕に記載する発明の作用・
効果をより顕著なものとすることができる。 【0045】〔請求項8〕に記載する発明は、〔請求項
1〕乃至〔請求項5〕の何れか一つに記載する金属膜作
製装置において、排気系は、遠隔で形成したクリーニン
グガスのプラズマをダクト内に供給して、その内壁に付
着した付着物を除去するクリーニングガスプラズマ発生
段を有するので、ダクトの内周面に付着した付着物をク
リーニングガスのプラズマにより除去することができ
る。この結果、本発明によれば、〔請求項6〕に記載す
る発明の作用・効果をより顕著なものとすることができ
る。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施の形態に係る金属膜作製装置を示
す構造図である。 【図2】図1に示す金属膜作製装置の排気系の一例を抽
出・拡大して示す横断面図である。 【図3】図1に示す金属膜作製装置の排気系の他の例を
抽出・拡大して示す横断面図である。 【符号の説明】 I、II、III 排気系 1 チャンバ 2 支持台 3 基板 6 温度制御手段 7 銅板部材 9 成膜用プラズマアンテナ 12 ノズル 14 Cl2 ガスプラズマ 15 前駆体 16 Cu膜 17 排気口 18、28、38 ダクト 19 真空ポンプ 20、30 ヒータ 21、31 冷却トラップ 33 ノズル 35、45 プラズマ生成用コイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4K030 AA03 BA01 EA01 EA12 FA04 KA22 4M104 BB04 BB14 BB17 BB18 DD44 DD45

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 原料ガスをチャンバ内に供給して所定の
    金属膜を基板に形成する金属膜作製装置において、 排気口を介して前記チャンバ内に連通するダクト、この
    ダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に発生するガ
    スを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダクトを流通
    する排ガスを加熱するようダクトの途中に配設した加熱
    手段を備えた排気系を有することを特徴とする金属膜作
    製装置。 【請求項2】 原料ガスをチャンバ内に供給して所定の
    金属膜を基板に形成する金属膜作製装置において、 排気口を介して前記チャンバ内に連通するダクト、この
    ダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に発生するガ
    スを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダクトを流通
    する排ガスを冷却してこの排ガスに含まれる粒子等を捕
    捉する冷却トラップを備えた排気系を有することを特徴
    とする金属膜作製装置。 【請求項3】 金属膜を付着させる基板を内部に収容す
    るチャンバと、高蒸気圧ハロゲン化物を作る金属で形成
    して前記チャンバに配設した被エッチング部材と、この
    被エッチング部材の温度と前記基板の温度とを所定の温
    度及び温度差に制御する温度制御手段とを有し、被エッ
    チング部材と前記基板との温度を所定の温度及び温度差
    に制御しつつ前記チャンバ内で形成したハロゲンを含有
    する原料ガスプラズマ又は別途形成してチャンバ内に供
    給するハロゲンを含有する原料ガスプラズマで前記被エ
    ッチング部材をエッチングして金属成分と原料ガスとの
    前駆体を形成し、この前駆体の金属成分を前記基板に析
    出させて所定の金属膜の成膜を行う金属膜作製装置にお
    いて、 排気口を介して前記チャンバ内に連通するダクト、この
    ダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に発生するガ
    スを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダクトを流通
    する排ガスを加熱するようダクトの途中に配設した加熱
    手段を備えた排気系を有することを特徴とする金属膜作
    製装置。 【請求項4】 金属膜を付着させる基板を内部に収容す
    るチャンバと、高蒸気圧ハロゲン化物を作る金属で形成
    して前記チャンバに配設した被エッチング部材と、この
    被エッチング部材の温度と前記基板の温度とを所定の温
    度及び温度差に制御する温度制御手段とを有し、被エッ
    チング部材と前記基板との温度を所定の温度及び温度差
    に制御しつつ前記チャンバ内で形成したハロゲンを含有
    する原料ガスプラズマ又は別途形成してチャンバ内に供
    給するハロゲンを含有する原料ガスプラズマで前記被エ
    ッチング部材をエッチングして金属成分と原料ガスとの
    前駆体を形成し、この前駆体の金属成分を前記基板に析
    出させて所定の金属膜の成膜を行う金属膜作製装置にお
    いて、 排気口を介して前記チャンバ内に連通するダクト、この
    ダクトの端部に配設されて前記チャンバ内に発生するガ
    スを吸引して排気するポンプ手段及び前記ダクトを流通
    する排ガスを冷却してこの排ガスに含まれる粒子等を捕
    捉する冷却トラップを備えた排気系を有することを特徴
    とする金属膜作製装置。 【請求項5】 〔請求項1〕又は〔請求項3〕に記載す
    る何れか一つの金属膜作製装置において、 排気系は、ダクトを流通する排ガスを冷却してこの排ガ
    スに含まれる粒子等を捕捉する冷却トラップを、加熱手
    段の下流位置で、ダクトの途中にさらに配設したもので
    あることを特徴とする金属膜作製装置。 【請求項6】 〔請求項1〕乃至〔請求項5〕の何れか
    一つに記載する金属膜作製装置において、 排気系は、ダクト内にクリーニングガスを供給して、そ
    の内壁に付着した付着物を除去するクリーニングガス供
    給手段を有することを特徴とする金属膜作製装置。 【請求項7】 〔請求項1〕乃至〔請求項5〕の何れか
    一つに記載する金属膜作製装置において、 排気系は、ダクト内にクリーニングガスのプラズマを形
    成して、その内壁に付着した付着物を除去するクリーニ
    ングガスプラズマ発生段を有することを特徴とする金属
    膜作製装置。 【請求項8】 〔請求項1〕乃至〔請求項5〕の何れか
    一つに記載する金属膜作製装置において、 排気系は、遠隔で形成したクリーニングガスのプラズマ
    をダクト内に供給して、その内壁に付着した付着物を除
    去するクリーニングガスプラズマ発生段を有することを
    特徴とする金属膜作製装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004070802A1 (ja) * 2003-02-04 2004-08-19 Tokyo Electron Limited 処理システム及び処理システムの稼働方法
JP2017526179A (ja) * 2014-08-06 2017-09-07 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 上流のプラズマ源を使用するチャンバ後の軽減

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2004070802A1 (ja) * 2003-02-04 2004-08-19 Tokyo Electron Limited 処理システム及び処理システムの稼働方法
JP2017526179A (ja) * 2014-08-06 2017-09-07 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 上流のプラズマ源を使用するチャンバ後の軽減

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