JP2003270466A - 光導波路の製造方法及び光導波路 - Google Patents

光導波路の製造方法及び光導波路

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JP2003270466A
JP2003270466A JP2002073026A JP2002073026A JP2003270466A JP 2003270466 A JP2003270466 A JP 2003270466A JP 2002073026 A JP2002073026 A JP 2002073026A JP 2002073026 A JP2002073026 A JP 2002073026A JP 2003270466 A JP2003270466 A JP 2003270466A
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optical waveguide
light
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wavelength
substrate
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Takashi Saida
隆志 才田
Kazumasa Takada
和正 高田
Yasuaki Hashizume
泰彰 橋詰
Masaki Kamitoku
正樹 神徳
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光導波路のコア部にダメージを与えることな
く短時間で光導波路の調整を行い、精密に調整された高
性能な光導波路を得ること。 【解決手段】 レーザ1からの波長0.532ミクロン
の光は、レンズ2で集光されて上部クラッド層3の側か
ら光導波路のコア部4のほぼ上より照射される。この波
長の光は、石英系ガラスに対してほとんど吸収されない
ので、上部クラッド層3とコア部4と下部クラッド層5
とを透過してシリコン基板6へと至る。シリコン基板6
は、この波長の光を吸収するので、シリコン基板6の一
部を局所的に熱することになる。この熱によって下部ク
ラッド層5とシリコン基板6の間に結合が切れ、光導波
路作製時に石英系光導波路とシリコン基板の熱膨張係数
の違いにより生じていた応力が一部開放される。その結
果、石英系光導波路の光弾性効果により屈折率および複
屈折が変化することとなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光導波路の製造方
法及び光導波路に関し、より詳細には、基板上に形成さ
れた光導波路を通る光の位相、複屈折量、偏波結合量を
調整する光導波路の製造方法及び光導波路に関する。
【0002】
【従来の技術】光の合分波やスイッチングなど種々の機
能を実現できる光導波路型デバイスは、現在の光通信を
支える重要な光部品である。しかしながら、近年の光通
信システムの進展に伴い、光導波路デバイスにも一層の
高性能化が求められており、プロセスの不完全性による
性能劣化および歩留まりの低下が大きな問題となってき
ている。
【0003】さらに、例えば、シリコン基板上に形成さ
れた石英系光導波路では、シリコンと石英系ガラスの熱
膨張係数の差異により、光導波路が本質的に複屈折を有
しており、これにより、干渉型の光回路を構成したとき
には、光導波路型デバイスが偏波依存性損失(PDL)
を持つという問題もあった。
【0004】この問題を解決するために、特に、石英系
光導波路についての位相および複屈折の調整手法が種々
提案されている。例えば、特開平6−51145号公報
「光回路及び製造方法」では、紫外線照射による光位相
および複屈折の調整手法が示されている。この手法では
Geを添加された石英系光導波路に紫外線(波長0.2
48ミクロン)を照射することにより、色中心欠陥生成
および密度変化に起因する屈折率および複屈折変化を生
じさせている。
【0005】図1(a),(b)は、従来の光導波路の
調整法を示す図で、図1(a)は、紫外線による光導波
路の調整法の概念図を示した図で、図1(b)は、炭酸
ガスレーザによる光導波路の調整法の概念図を示した図
である。図中符号11はクラッド、12は基板、13は
コアを示している。図1(a)において、Geを添加し
た部分(一般にはコア)のみが選択的に変化する。ま
た、図1(b)において、光導波路の表面付近が変化す
るが、その深さは光強度による。
【0006】炭酸ガスレーザによる光導波路の調整法に
ついては、すでに提案された特願2001−42148
号の「光デバイスおよびその所定の透過特性を修正する
手法」に、石英系光導波路に炭酸ガスレーザからの光
(波長10.6ミクロン)を照射し、光導波路の表面に
非常に強い歪みや変形を生じさせ、その影響でコア部の
屈折率および複屈折変化を生じさせることが示されてい
る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の光導波路の調整法には以下のような問題点が
あった。図1(a)に示した紫外線による光導波路の調
整法では、一箇所の位相あるいは複屈折を調整するため
の時間が数十分から数時間かかる問題点があった。光導
波路型デバイスを量産する工程では、このような長時間
にわたる調整は著しく生産性を低下させる。
【0008】また、図1(b)に示した炭酸ガスレーザ
による光導波路の調整法では、光導波路の表面に非常に
強い歪みや変形を生じさせるために光導波路のコア部に
ダメージを与える問題点があった。このダメージは光導
波路デバイスの損失増加を招くために、炭酸ガスレーザ
の出力パワーを精密に制御する必要があった。
【0009】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、光導波路のコア部
にダメージを与えることなく短時間で光導波路の調整が
行えるような、精密に調整された高性能な光導波路の製
造方法及び光導波路を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、請求項1に記載の発明は、基板上
に複数の層を形成する光導波路の製造方法であって、該
光導波路の製造工程中または製造工程後に、前記光導波
路の複数の層にはほとんど吸収されずに前記基板には大
部分が吸収される波長の光を前記基板上の前記光導波路
に照射し、該光導波路を通る光の位相、複屈折量、偏波
結合量を調整したことを特徴とする。
【0011】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の発明において、前記光導波路のコア部の直上位
置から前記光を照射したことを特徴とする。
【0012】また、請求項3に記載の発明は、請求項1
に記載の発明において、前記光導波路のコア部の直上よ
りずらした位置から前記光を照射したことを特徴とす
る。
【0013】また、請求項4に記載の発明は、請求項
1,2又は3に記載の発明において、前記基板上の光導
波路に光を照射した後に熱アニールを行ったことを特徴
とする。
【0014】また、請求項5に記載の発明は、請求項1
乃至4いずれかに記載の発明において、前記基板がシリ
コン基板で、前記光導波路の複数の層が石英系ガラスで
あることを特徴とする。
【0015】また、請求項6に記載の発明は、請求項1
乃至5いずれかに記載の発明において、前記照射する光
の波長が、0.38ミクロン以上、1.1ミクロン以下
であることを特徴とする。
【0016】また、請求項7に記載の発明は、請求項1
乃至6いずれかに記載の光導波路の製造方法によって作
製されたことを特徴とする。
【0017】つまり、本発明は、基板上に形成された光
導波路を、光導波路にはほとんど吸収されず基板に大部
分が吸収される波長の光を照射して、光導波路を通る光
の位相、複屈折量、偏波結合量を調整することを特徴と
している。
【0018】このようにして基板の一部のみを局所的に
加熱すると、基板と光導波路の間の結合状態を選択的に
変化させることができ、結果として光導波路のコア部に
ダメージを与えることなく位相、複屈折および偏波結合
量を調整することが可能となる。また、調整に要する時
間も短くなる。
【0019】また、シリコン基板上に形成された石英系
光導波路では、波長0.38ミクロンから1.1ミクロ
ンの光を照射することで上述した目的が達せられる。ま
た、光照射後の光導波路を熱アニールすることで、調整
された位相、複屈折および偏波結合量を安定に維持する
ことが可能となる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。なお、以下では光導波路と
してシリコン基板上に形成された石英系光導波路を例に
とって説明する。これは、この組み合わせが安定で信頼
性に優れた光導波路デバイスを作製するのに適している
ためである。しかしながら、本発明はこの組み合わせに
限定されるものではなく、他の材料を用いた基板、他の
材料を用いた光導波路であっても勿論構わない。
【0021】図2は、本発明の光導波路の製造方法を説
明するための光導波路の調整法についての概略図であ
る。図中符号1は波長0.532ミクロンのレーザ、2
はレンズ、3は石英系光導波路の上部クラッド層、4は
石英系光導波路のコア、5は石英系光導波路の下部クラ
ッド層、6はシリコン基板、aは応力が開放される箇所
を示している。
【0022】この実施の形態では、光照射の波長を0.
532ミクロンとしたが、これはNd:YAGレーザか
らの波長1.064ミクロンの光を非線形結晶に導くな
どして容易に生成できるからである。しかしながら、本
発明はこの波長に限定されるものではなく、波長0.3
8ミクロンから波長1.1ミクロンまでのいずれの波長
でも実施できる。
【0023】また、この実施の形態では、光導波路とし
てコアの四方がクラッドに囲まれた埋め込み型光導波路
を用いるとしたが、これはこの導波路構成が信頼性、光
ファイバとの整合性に優れた光導波路を提供できるから
である。しかしながら、本発明はこの例に限定されるも
のではなく、リッジ型光導波路など他の導波路構成でも
勿論構わない。
【0024】さて、この実施の形態おいて、レーザ1か
らの波長0.532ミクロンの光は、レンズ2で集光さ
れて上部クラッド層3の側から光導波路のコア部4のほ
ぼ上より照射される。ここで、波長0.532ミクロン
の光は、石英系ガラスに対してほとんど吸収されないの
で、上部クラッド層3とコア部4と下部クラッド層5と
を透過してシリコン基板6へと至る。
【0025】シリコン基板6は、波長0.532ミクロ
ンの光を吸収するので、この光は、シリコン基板6の一
部を局所的に熱することになる。この熱によって下部ク
ラッド層5とシリコン基板6の間に結合が切れ、光導波
路作製時に石英系光導波路とシリコン基板の熱膨張係数
の違いにより生じていた応力が一部開放される。その結
果、石英系光導波路の光弾性効果により屈折率および複
屈折が変化することとなる。この効果は、基板6と下部
クラッド層5の間に、レーザ1の波長の光を吸収する層
を設けることでさらに高めることができる。
【0026】図3は、図2に示した光導波路の調整法に
より調整したときの、レーザ照射回数と光導波路の位相
変化の関係を示した図である。図中の丸印はTE偏光に
対する位相変化量であり、四角印はTM偏光に対する位
相変化量である。この図3より光の位相だけではなく、
複屈折も調整できていることが分かる。
【0027】ここで、レーザ照射を行ったままにした光
導波路を、温度80℃、湿度90%の環境下に放置した
ところ、2000時間経過後に10%程度の位相変化が
生じているのが確認された。これに対して、レーザ照射
後に500℃で3時間熱アニールを行ったところ、その
後の位相変化は3%以内に収めることができた。
【0028】図4は、本発明の光導波路の製造方法を説
明するための他の光導波路の調整法についての概略図で
ある。図中の符号は図2に示したものと同じである。こ
こでは、コア部4の上ではなく、少しずらした位置から
光を照射している。このようにすることで、コア部4の
下よりずれた位置で下部クラッド層5とシリコン基板6
の間の結合がきれることになり、光弾性効果による複屈
折の軸を傾けることが可能となる。
【0029】図5は、図4に示した光導波路の調整法に
より調整を行ったときの、レーザ照射回数と光導波路に
TE偏光を導いたときのTM偏光へと変換された出力の
関係を示した図である。この図5より複屈折軸が次第に
傾いていくことによって偏波結合量が調整できているこ
とが分かる。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
導波路の製造工程中または製造工程後に、光導波路の複
数の層にはほとんど吸収されずに基板には大部分が吸収
される波長の光を基板上の光導波路に照射し、光導波路
を通る光の位相、複屈折量、偏波結合量を調整したの
で、光導波路のコア部にダメージを与えることなく短時
間で光導波路の調整が行えるため、精密に調整された高
性能な光導波路デバイスを提供することができる。ま
た、生産性の良い光導波路の調整法が提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の光導波路の調整法を示す図である。
【図2】本発明の光導波路の製造方法を説明するための
光導波路の調整法についての概略図である。
【図3】図2に示した光導波路の調整により調整された
光導波路の位相および複屈折の変化を示す図である。
【図4】本発明の光導波路の製造方法を説明するための
他の光導波路の調整法についての概略図である。
【図5】図4に示した光導波路の調整により調整された
光導波路の偏波結合量変化を示す図である。
【符号の説明】
1 波長0.532ミクロンのレーザ 2 レンズ 3 石英系光導波路の上部クラッド層 4 石英系光導波路のコア 5 石英系光導波路の下部クラッド層 6 シリコン基板 a 応力が開放される箇所 11 クラッド 12 基板 13 コア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橋詰 泰彰 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 神徳 正樹 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 Fターム(参考) 2H047 KA04 PA00 PA11 PA22 QA02 QA04 TA21

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に複数の層を形成する光導波路の
    製造方法であって、該光導波路の製造工程中または製造
    工程後に、前記光導波路の複数の層にはほとんど吸収さ
    れずに前記基板には大部分が吸収される波長の光を前記
    基板上の前記光導波路に照射し、該光導波路を通る光の
    位相、複屈折量、偏波結合量を調整したことを特徴とす
    る光導波路の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記光導波路のコア部の直上位置から前
    記光を照射したことを特徴とする請求項1に記載の光導
    波路の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記光導波路のコア部の直上よりずらし
    た位置から前記光を照射したことを特徴とする請求項1
    に記載の光導波路の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記基板上の光導波路に光を照射した後
    に熱アニールを行ったことを特徴とする請求項1,2又
    は3に記載の光導波路の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記基板がシリコン基板で、前記光導波
    路の複数の層が石英系ガラスであることを特徴とする請
    求項1乃至4いずれかに記載の光導波路の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記照射する光の波長が、0.38ミク
    ロン以上、1.1ミクロン以下であることを特徴とする
    請求項1乃至5いずれかに記載の光導波路の製造方法。
  7. 【請求項7】 請求項1乃至6いずれかに記載の光導波
    路の製造方法によって作製されたことを特徴とする光導
    波路。
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