JP2003222800A - 光軸補正装置 - Google Patents

光軸補正装置

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JP2003222800A
JP2003222800A JP2002021067A JP2002021067A JP2003222800A JP 2003222800 A JP2003222800 A JP 2003222800A JP 2002021067 A JP2002021067 A JP 2002021067A JP 2002021067 A JP2002021067 A JP 2002021067A JP 2003222800 A JP2003222800 A JP 2003222800A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 顕微鏡本体に共焦点顕微鏡ヘッドを接続させ
る場合、両者の光軸のずれを補正する光軸補正装置を提
供する。 【解決手段】 光軸補正装置50は、顕微鏡本体に配設
された鏡筒9に顕微鏡本体の光軸J1と同軸上に回動可
能に取り付けられる回動軸部52と、この上部に繋がっ
た大径部53と、大径部53と回動軸部52を貫通する
第1貫通孔55及び傾斜孔56とを有する第1補正部材
51と、傾斜孔56に取り付けられ、回動軸部52の回
動中心軸線S1よりも所定傾斜角度を有する傾斜中心軸
線S3を回動中心に回動する傾動軸部72と、この上部
に設けられて上部に延びる傾動大径部73と、傾動軸部
72と傾動大径部73を貫通して共焦点顕微鏡ヘッド2
0を嵌合保持する第2貫通孔79とを有する第2補正部
材71を備える。回動中心軸線S1と傾斜中心軸線S3
と第2貫通孔79の嵌合中心軸線S2とが共焦点顕微鏡
ヘッド20の結像面21で交わる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光軸補正装置に関
し、さらに詳細には、光学機器ユニットを顕微鏡に接続
させる場合に使用され、顕微鏡の光軸と光学機器ユニッ
トの光軸を同軸上に補正する光軸補正装置に関する。
【0002】
【従来の技術】顕微鏡には、光源から出射された励起光
を導いて顕微鏡本体に出射するとともに、顕微鏡本体に
載置されてこの励起光が照射された被検物から発光する
蛍光を入射させ、この蛍光の蛍光量を測定する蛍光測定
器に出射する光学機器ヘッドが接続されて使用される場
合がある。光学機器ヘッドは光源から出射された励起光
を光学機器ヘッド内で一旦像面に集光させるように構成
され、顕微鏡本体は光学機器ヘッドの像面と共役となる
被検物上に励起光を集光させるように構成されている。
被検物から発光する蛍光は顕微鏡本体内において励起光
が進んできた方向と逆方向に進んで光学機器ヘッドの像
面に集光される。光学機器ヘッドの像面に集光された蛍
光は励起光が進んできた照明光路を逆方向に進み、照明
光路から分岐した観察光路を進んで蛍光測定器に送られ
る。
【0003】ここで、光学機器ヘッドの照明光路の光軸
と顕微鏡本体の光軸がずれている場合には、顕微鏡本体
に設けられて励起光を被検物上に集光させる対物レンズ
から出射する励起光の瞳がずれ、励起光は被検物を偏っ
た状態で照射する。このような被検物への偏った励起光
の照射が行なわれると、被検物から発光した蛍光が光学
機器ヘッドの像面に集光される蛍光像の明るさにムラが
生じる(以下、この現象をシェーディングと記す)。ま
た、被検物から発光する蛍光の光量は微弱である。この
ため、光量が微弱であるとともにシェーディングが生じ
ている蛍光像を蛍光量測定器に送っても、蛍光量測定器
は正確な蛍光量を得るのが難しい。また、蛍光顕微鏡の
ステージ上に予め均一濃度を有した蛍光色素標本を載
せ、この蛍光色素標本に光学機器ヘッド及び顕微鏡本体
を介して励起光を照射し、蛍光色素標本から発生する蛍
光から得られる画像を処理して、シェーディングを補正
する方法が提案されているが、この方法では標本を変え
る度にシェーディング補正用の画像を取得しなければな
らず、手間がかかる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】そこで、光学機器ヘッ
ドを顕微鏡本体に装着した状態で顕微鏡本体の光軸と光
学機器ヘッドの照明経路の光軸のずれが無くなるよう
に、それぞれを製造すればよいが、顕微鏡本体の光軸調
整は顕微鏡の製造時においてプリズムやミラー等を調整
して行なわれるので、完全な顕微鏡本体の光軸調整を行
なうには限界がある。また、顕微鏡本体と光学機器ヘッ
ドは別個の物であり、それぞれが別個独自に調整される
ので、これらを組み合わせた場合、両者の光軸のずれが
更に大きくなる虞もある。更に、顕微鏡本体に光学機器
ヘッドを装着した状態で光学機器ヘッドの照明経路の光
軸と顕微鏡本体の光軸のずれを無くすための光軸調整機
構は用いられていない。その結果、顕微鏡本体と光学機
器ヘッドの光軸にずれが生じてもこれを補正することが
できないという問題が生じた。
【0005】本発明はこのような問題に鑑みてなされた
ものであり、顕微鏡本体に光学機器ヘッドを接続させる
場合、両者の光軸のずれを補正することができる光軸補
正装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記問題点を解決するた
めに本発明に係わる光軸補正装置は、光学機器ユニット
と顕微鏡とを接続させ、光学機器ユニットの光軸と顕微
鏡の光軸とを一軸となるように補正する光軸補正装置で
あって、顕微鏡の接続部に嵌合され、顕微鏡の光軸と同
軸上の回動中心軸線を中心に回動可能に取り付けられる
第1嵌合軸部と、第1嵌合軸部を上下に貫通して顕微鏡
への入射若しくは出射光を通す第1貫通孔とを有してな
る第1補正部材と、第1嵌合軸部と逆側端部の第1補正
部材の嵌合部に嵌合され、第1嵌合軸部の回動中心軸線
よりも所定傾斜角度を有する傾斜中心軸線を中心に回動
可能な第2嵌合軸部と、第2嵌合軸部とは逆側端部に設
けられ、光学機器ユニットを相対回転自在に嵌合保持す
るユニット保持部と、第2嵌合軸部及びユニット保持部
を上下に貫通して入射若しくは出射光を通す第2貫通孔
とを有してなる第2補正部材とを備え、回動中心軸線と
傾斜中心軸線とユニット保持部の嵌合中心を通る嵌合中
心軸線とが一点で交わるように構成される。
【0007】また、上記構成の光軸補正装置において、
正面視において第1補正部材の左右両端の側面のいずれ
か一方の高さが最大となるとともに、いずれか他方の高
さが最小となり、且つ第2補正部材の左右両端部の側面
のいずれか一方の高さが最小となるとともに、いずれか
他方の高さが最大となるように、第1補正部材の上に第
2補正部材の回動位置が設定されている状態で、第1補
正部材及び第2補正部材の側面に上下に並んで第1指標
及び第2指標をそれぞれ設けてもよい。
【0008】また、上記構成の光軸補正装置において、
第1補正部材の第1嵌合軸部は、顕微鏡の接続部に顕微
鏡の光軸と同軸上において取り付けられる鏡筒に回動可
能に取り付けられるとともに、回動中心軸線が顕微鏡の
光軸と同軸上に配置されるように構成されてもよい。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態を図1から図6を使用して説明する。本実施の形態は
被検物に光が照射されたときにこれから発光する蛍光を
観察する蛍光顕微鏡の態様を示す。
【0010】最初に、本発明に係わる光軸補正装置を説
明するまえに、光軸補正装置を介して接続される蛍光顕
微鏡及び共焦点顕微鏡ヘッドについて説明する。蛍光顕
微鏡1は、図1に示すように、正面視においてコ字状に
形成された顕微鏡本体3と、顕微鏡本体3の上部に取り
付けられた鏡筒9と、鏡筒9の下方に配設された第1対
物レンズ13と、第1対物レンズ13の下方に配設され
て被検物(図示せず)を載置するステージ17とを有し
て構成されている。鏡筒9は角筒状であって上下に開口
部(図示せず)を有して内部が中空状に形成されてい
る。鏡筒9は、顕微鏡本体3の先端上部に形成された上
下に延びる貫通孔(図示せず)の上部に形成された図示
しない開口部(以下、接続部と記す)に嵌合した状態で
取り付けられ、内部に第2対物レンズ10が配設されて
いる。
【0011】顕微鏡本体3の先端上部に形成された貫通
孔の下部には円板状のレボルバ5が回動可能に取り付け
られ、レボルバ5の下面には種類の異なる第1対物レン
ズ13や第1対物レンズ13から出射される後述する励
起光の瞳のずれ量を読みとるずれ量検出工具(図示せ
ず)が着脱可能に取り付けられる。レボルバ5はこれを
回動させて第2対物レンズ10の下方の測定位置に第1
対物レンズ13やずれ量検出工具のいずれかを移動させ
ると、顕微鏡本体3の光軸J1上に第1対物レンズ13
やずれ量検出工具の光軸が位置するように構成されてい
る。
【0012】ずれ量検出工具はレボルバ5に着脱可能に
取り付けられる筒状の工具本体部(図示せず)と、工具
本体部内に配設されて指標ライン15が付された指標板
(図示せず)を有して構成されている。指標板は励起光
及び被検物より発生する蛍光を透過可能な材料で形成さ
れ、指標ライン15は直交する2本の直交ライン15a
と、これら直交ライン15a上に所定の間隙を有した複
数の目盛り15bと、2本の直交ラインの交点を中心と
した円状ライン15cとを有して構成されている。円状
ライン15cの径の大きさは、第2対物レンズ10を通
過した励起光の瞳の大きさと略同じ径を有している。な
お、目盛り15bの間隔の大きさについては後述する。
【0013】蛍光顕微鏡1内に配設された第1対物レン
ズ13及び第2対物レンズ10を有して構成される顕微
鏡光路は、鏡筒9の上部に取り付けられた共焦点顕微鏡
ヘッド20の結像面21に結像された像をステージ17
上に載置された被検物上に像を結ぶように構成され、顕
微鏡光路の光軸J1は略垂直方向に延びている。
【0014】次に、共焦点顕微鏡ヘッド20について説
明する。共焦点顕微鏡ヘッド20は図示しない光源から
出射された励起光を導いて顕微鏡本体3に出射するとと
もに、この励起光が照射された被検物から発光する蛍光
を入射させ、この蛍光の蛍光量を測定する蛍光測定器
(図示せず)に出射する機能を有している。このような
機能を有した共焦点顕微鏡ヘッド20は、光学系23と
これを包含する筐体31とを有して構成されている。光
学系23は、図示しない光源(例えば、レーザ光源)か
らの光を結像面21に集光させるための照射経路と、被
検物からの戻り光である蛍光を観察するための観察経路
とを有して構成されている。
【0015】照射経路は、光源から出射された励起光の
上流側から順にコリメータレンズ24、ダイクロイック
ミラー25、XYガルバノミラー26及び集光レンズ2
7とを有して構成されている。コリメータレンズ24は
光源からの励起光を平行光線にする機能を有し、ダイク
ロイックミラー25は波長が特定波長周辺やこの波長よ
りも短波長の光を反射させ、それ以外の波長の光を透過
させる機能を有する。XYガルバノミラー26は、複数
の反射ミラーを備え、この反射ミラーの傾動角度を変え
てダイクロイックミラー25で反射された励起光を前後
左右方向にスキャンするように構成されている。集光レ
ンズ27は光を集光させる機能を有している。その結
果、コリメータレンズ24に入射された励起光は照射光
路を通って結像面21上に結像される。
【0016】一方、観察経路は、照射経路の一部(集光
レンズ27、ガルバノミラー26及びダイクロイックミ
ラー25)と集光レンズ28及びピンホール29等とを
有して構成されている。観察経路は結像面21に集光さ
れた蛍光像をピンホール29に結像させるように構成さ
れている。その結果、蛍光がピンホール29を通過する
際に結像に寄与しない光(フレア)等を除去することが
できる。筐体31は内部が中空な箱状であり、その右側
側面には光源から出射された光を通す光ファイバーケー
ブル32が接続され、左側側面には蛍光を通す光ファイ
バーケーブル33が接続されている。この光ファイバー
ケーブル33の先端部に蛍光量を測定する図示しない蛍
光測定器が接続されている。筐体31の下部には下方へ
突出する筒状の係合筒部35が取り付けられている。図
3に示す係合筒部35の側面中間部には左右方向へ突出
する段部37が環状に形成されている。なお、ダイクロ
イックミラー25で反射されてガルバノミラー26側へ
向かう励起光の光軸を、以下、共焦点顕微鏡ヘッド20
の光軸J2と記す。
【0017】次に、前述した蛍光顕微鏡1に共焦点顕微
鏡ヘッド20を接続させる光軸補正装置について説明す
る。光軸補正装置50は、図2に示すように、第1補正
部材51と第1補正部材51の上部に回動可能に取り付
けられた第2補正部材71と有して構成されている。第
1補正部材51は、図3に示すように、円筒状であり、
鏡筒9の上部に配設された開口部9aに回動可能に嵌合
する回動軸部52を有している。回動軸部52の上部に
は回動軸部52よりも大径の大径部53が上方へ延びた
状態で設けられ、大径部53と回動軸部52との間には
水平方向へ突出する段部54が環状に形成されている。
回動軸部52はこれが鏡筒9の開口部9aに嵌合して段
部54の下面が鏡筒9の上面に当接した状態において回
動軸部52の回動中心軸線S1が図1に示す顕微鏡本体
3の光軸J1と同軸上になるように構成されている。第
1補正部材51には上下に延びる第1貫通孔55が形成
され、この第1貫通孔55の上部にはこれに繋がって回
動中心軸線S1よりも所定傾斜角度θを有した傾斜孔中
心軸線S4を中心として上方へ延びる傾斜孔56が形成
されている。第1補正部材51の上面57は傾斜孔中心
軸線S4に直交するように配設されている。その結果、
第1補正部材51の上面57は回動中心軸線S1に対し
て所定傾斜角度θを有した状態で傾斜している。傾斜孔
56の外側の第1補正部材51の側壁58には止めねじ
59を螺合するねじ孔60が左右方向に延びた状態で形
成されている。
【0018】第2補正部材71は、第1補正部材51の
傾斜孔56に嵌合して傾動孔中心軸線S4と同軸上に配
置される傾斜中心軸線S3を回動中心として回動可能な
傾動軸部72と、傾動軸部72の上部に繋がって斜め上
方へ延びて傾動軸部72よりも大径の傾動大径部73
と、傾動軸部72及び傾動大径部73を上下に貫く第2
貫通孔79とを有して構成されている。傾動軸部72と
傾動大径部73との間には外側に突出する段部74が環
状に形成され、段部74の下面は傾斜中心軸線S3に直
交するように配設されている。第2補正部材71の上面
80は段部74の下面に対して所定傾斜角度θを有した
状態で傾斜している。その結果、光軸補正装置50の正
面視において、第1補正部材51の上面57が傾斜角度
θを有した状態で傾斜して見える場合、第1補正部材5
1の側面の高さが最も高い側面(このときの高さをHR
とする)の上方位置に第2補正部材71の側面の高さが
最も低い側面(このときの高さをHR′とする)を移動
させるとともに、第1補正部材51の側面の高さが最も
低い側面(このときの高さをHLとする)の上方位置に
第2補正部材71の側面の高さが最も高い側面(このと
きの高さをHL′とする)を移動させれば、第2補正部
材71の上面80は傾斜角度がゼロの状態、即ち、水平
状態になる。
【0019】また、第2補正部材71の上面80が水平
状態にあるときに、第1補正部材51に対して第2補正
部材71を回動させると、第2補正部材71の上面80
は連続的に傾斜して、図4(b)に示すように、光軸補
正装置50の正面視において、第1補正部材51の高さ
が最も高い右側側面の上方位置に第2補正部材71の高
さが最も高い側面を移動させるとともに、第1補正部材
51の高さが最も低い左側側面の上方に第2補正部材7
1の高さが最も低い側面を移動させれば、第2補正部材
71の上面80は最大傾斜角度2θを有した状態に傾斜
する。
【0020】このように構成された第2補正部材71の
第2貫通孔79の中心軸線(以下、嵌合中心軸線S2と
記す。)は第2補正部材71の上面80と直交してい
る。傾動大傾部73を形成する側壁75には止めねじ5
9を螺合するねじ孔76が左右方向に延びた状態で形成
され、傾動軸部72を形成する側壁77には第1補正部
材51のねじ孔60に螺合した止めねじ59の先端部と
係合して第2補正部材71の第1補正部材51からの抜
脱を規制する凹部78が環状に形成されている。
【0021】第1補正部材51に第2補正部材71が取
り付けられた状態において、第1貫通孔55、傾斜孔5
6及び第2貫通孔79は図1に示す顕微鏡本体3への入
射光(図1の場合では光源からの励起光)及び出射光
(図1の場合では被検物から発生する蛍光)を通すこと
ができるように連通し、第2補正部材71の上部に共焦
点顕微鏡ヘッド20が取り付けられた状態では、回動軸
部52の回動中心軸線S1と傾動軸部72の傾斜中心軸
線S3と第2貫通孔79の嵌合中心軸線S2は共焦点顕
微鏡ヘッド20の結像面21の一点Oで交わるように構
成されている。その結果、第1補正部材51に対して第
2補正部材71を回動させると、嵌合中心軸線S2が一
点Oを回動中心として傾斜中心軸線S3の回りを回動す
ることになり、また、第1補正部材51及び第2補正部
材71からなる光軸補正装置50全体を回動中心軸線S
1を回動中心として回動させると、嵌合中心軸線S2が
一点Oを回動中心として回動中心軸線S1の回りを回動
することになる。
【0022】このように構成された光軸補正装置50の
第1補正部材51及び第2補正部材71の側面には、図
2(b)に示すように、正面視において第2補正部材7
1の上面80が水平状態にあるときに、光軸補正装置5
0の左右方向中央の位置に第1指標62及び第2指標8
2が上下に並んだ状態で設けられている。なお、図2の
場合では、第1指標62及び第2指標82は第1補正部
材51、第2補正部材71の側面に正面視において円形
状の凹部として形成されている。第1指標62及び第2
指標82は凹部に限らず、凸状に形成されたり、印を付
したりして形成されたものでもよい。また、図2(a)
を更に追加して説明すると、第2補正部材71の側面に
は第2指標82から周方向に所定の間隙を有するととも
に、第2指標82が設けられた位置と中心Pを境にして
反対側の位置P′まで配置された補助指標83が複数設
けられている。図2の場合おいて、補助指標83が周方
向に角度α(α=180/nとなる)を有してn個(n
は自然数とする)設けられた場合、第2補正部材71の
第1補正部材51に対する回転角度をγとした場合、第
2補正部材71の上面80は、γが0゜〜90゜の範囲
ではθSinγ゜傾斜し、γが90゜〜180゜の範囲
ではθ+θSin(γ−90゜)゜傾斜することにな
る。その結果、第1指標62の上方位置に第2指標82
からx番目の補助指標83が来るように第2補正部材7
1を回動させれば、第2補正部材71の上面80の傾斜
角度は、x番目の補助指標83と第2指標82とのなす
角度γはxαで表されるので、このxαが0゜〜90゜
の範囲ではθSin(xα)と表され、xαが90゜〜
180゜の範囲ではθ+θSin(xα−90゜)と表
される。なお、図2の場合では、補助指標63は第2補
正部材71の側面に正面視において円形状の凹部として
形成されている。補助指標63は凹部に限らず、凸状に
形成されたり、側面に印を付したりして形成されたもの
でもよい。また、第1指標62及び第2指標82の位置
は、図2(b)に示す光軸補正装置50の左右方向中央
の位置に限るものではなく、左右方向中央よりも左右い
ずれかの方向に所定量ずれて上下並んだ位置でもよい。
【0023】ここで、図1に示す直交ライン15aに付
された目盛り15bの間隔の大きさについて説明する。
この目盛り15bの間隔の大きさは、第1補正部材51
に対して第2補正部材71を回動角度γで回動させたと
きに傾斜する第2補正部材71の上面80の傾斜角度、
更に詳細には、補助指標83がn個設けられている場合
には、2θ/n度の傾斜角度に対応するように設定され
ている。その結果、例えば、励起光の瞳が目盛りm個分
ずれている場合には、図1に示す蛍光顕微鏡ヘッド20
の光軸は2θm/n度分だけ傾斜していることになる。
なお、目盛り15bの間隔の大きさに対応する蛍光顕微
鏡ヘッド20の光軸J2の傾きと、第1指標62の上方
位置に一つ分の補助指標83が来るように第2補正部材
71を回動させたときに傾斜する第2補正部材71の上
面80の傾斜角度は略同一である。
【0024】次に、前述した光軸補正装置50を使用し
て図1に示す顕微鏡本体3の光軸J1と共焦点顕微鏡ヘ
ッド20の光軸J2のずれを補正する場合の光軸補正装
置50の作動について説明する。なお、光軸補正装置5
0は予め組み立てられて、第1補正部材51の上部に第
2補正部材71が嵌合している状態にあると想定する。
先ず、図3に示すように、鏡筒9の開口部9aに第1補
正部材51の回動軸部52を嵌合させる。続いて、図2
(b)に示す第1指標62と第2指標82を上下に並ん
だ状態にした後に、第2補正部材71の第2貫通孔79
に共焦点顕微鏡ヘッド20の係合筒部35をその段部3
7の下面が第2補正部材71の上面80に当接するまで
嵌合させる。なお、係合筒部35が第2貫通孔79に嵌
合されると、係合筒部35は第2貫通孔79に対して相
対回動可能に嵌合して、共焦点顕微鏡ヘッド20は光軸
補正装置50に保持される。なお、第1補正部材51及
び第2補正部材71に設けられた止めねじ59、59は
非係合状態にしておく。
【0025】続いて、図1に示すように、レボルバ5に
ずれ量検出工具(図示せず)を取り付け、このずれ量検
出工具の光軸が顕微鏡本体3の光軸J1と同軸上になる
測定位置にレボルバ5を回転させる。そして、図示しな
い光源から励起光を出射させてこの励起光を共焦点顕微
鏡ヘッド20及びずれ量検出工具を介してスライド17
上に導く。また、ずれ量検出工具の下方のステージ17
上に反射鏡等(図示せず)を設置してずれ量検出工具を
通った励起光を観察する。このように観察した場合の一
例を図1に示しており、この場合、励起光の瞳は円状ラ
イン15cに対して左側にずれ、ずれ量は直交ライン1
5aに付された目盛り15bの1個分に相当すると読み
とる。このとき、共焦点顕微鏡ヘッド20の光軸J2の
ずれ方向が判るように鏡筒9の右側側面等に印を付けて
おく。なお、この印の利用は後述する。
【0026】続いて、ずれ量検出工具により読みとられ
たずれ量(目盛り1個分)に応じて、図2(b)に示す
第2指標82から左側に隣接する1番目の補助指標83
が第1指標62の上方位置にくるように第2補正部材7
1を第1補正部材51に対して回動させる。その結果、
図3に示すように、第2補正部材71の上面80は水平
状態からθSin(α)度(以下、この角度を「β」と
記す)傾斜する。なお、θSin(α)と前述した目盛
り15bの一個分の間隔に対応する共焦点顕微鏡ヘッド
20の光軸J2の傾斜角度(2θ/n)は略同じ大きさ
である。このとき、共焦点顕微鏡ヘッド20が第2補正
部材71と一緒に回動しないように共焦点顕微鏡ヘッド
20は保持しておく。なお、第2補正部材71を回動さ
せるときに共焦点顕微鏡ヘッド20を第2補正部材71
から取り外した状態にしてもよい。
【0027】ここで、図5を更に追加して光軸補正装置
50の作動を説明する。図5はXYZの3次元座標を示
し、図1に示す顕微鏡本体3の前後方向をX軸で表し、
顕微鏡本体3の左右方向をY軸で表し、顕微鏡本体3の
上下方向をZ軸で表し、これらの座標軸XYZの交点を
Qで示している。ここで、Z軸を図3に示す回動中心軸
線S1及び顕微鏡本体の光軸J1とし、Z軸上であって
交点Qよりも上方位置に点Oを設定し、この点Oを図3
に示す蛍光顕微鏡ヘッド20の結像面21上の一点Oと
設定する。また、図5中、一点鎖線で示したラインL1
はずれ量検出工具により読みとられたずれ量(目盛り1
個分)に対応した傾斜角度β(β=2θ/n度)を有し
た蛍光顕微鏡ヘッド20の光軸J2を示している。ま
た、図5中、二点鎖線L2は、光軸補正装置50に保持
されている蛍光顕微鏡ヘッド20の向きをそのままの状
態で第1補正部材51に対して第2補正部材71を回動
させて、第2補正部材71の上面20を水平状態から傾
斜角度βを有した状態で傾斜させたときの図3に示す嵌
合中心軸線S2を示している。
【0028】この状態で図3に示す蛍光顕微鏡ヘッド2
0の第2補正部材71に対する載置方向をそのままで、
第2補正部材71の上面80が傾斜角度βを有した状態
で第1補正部材51及び第2補正部材71からなる光軸
補正装置50を一体として回動させると、第2補正部材
71の上面80に直交する嵌合中心軸線S2は一点Oを
回動中心として回動中心軸線S1の回りを回動する。即
ち、図5に示すL2で示す二点鎖線の嵌合中心軸線S2
は一点Oを回動中心として回動中心軸線S1の回りを回
動する。その結果、ラインL1とX軸との交点をSとし
た場合、L2で示す嵌合中心軸線S2の先端部を交点Q
を挟んで交点Sと反対側の位置S′に回動させれば、共
焦点顕微鏡ヘッド20の図5に示す二点鎖線で示す係合
筒部35の段部37の下面は水平状態から傾斜角度βを
有した状態で矢印A方向に傾斜し、その結果として共焦
点顕微鏡ヘッド20の光軸J2が一点Oを回動中心とし
て回動して顕微鏡本体の光軸J1と同軸上に移動する。
このため、顕微鏡本体の光軸J1に対する共焦点顕微鏡
ヘッド20の光軸J2のずれを無くすことができる。な
お、共焦点顕微鏡ヘッド20全体の回動は前述した鏡筒
9の側面に付した図示しない印の上方位置に傾斜した第
2補正部材71の上面80の最も高さの高い部分がくる
ように回動させる。ここで、上面80の最も高さが高い
部分は、図4(a)に示すように、第1指標62及び第
2指標82との間の第2補正部材71の上面80の中間
の縁の位置Rとなる。
【0029】その結果、図6に示すように、図1に示す
共焦点顕微鏡ヘッド20の光軸J2が顕微鏡本体3の光
軸J1に対して傾いているときには、二点鎖線で示す共
焦点顕微鏡ヘッド20からの励起光は第2対物レンズ1
0に対して斜めに入射し、この励起光の一部は第2対物
レンズ10に入射されず、斜線で示した部分を通る光を
失って被検物89を偏った状態で照射することになる
が、顕微鏡本体3の光軸J1に対する共焦点顕微鏡ヘッ
ド20の光軸J2のずれを無くすことで、励起光により
被検物89を偏り無く照射することができる。
【0030】なお、前述した実施の形態では、被検物の
上方から励起光を照射するいわゆる落射型の蛍光顕微鏡
1を示したが、被検物の下方から励起光を照射する倒立
型の蛍光顕微鏡を使用してもよく、また蛍光顕微鏡1の
代わりに通常の光学顕微鏡を使用してもよい。更に、前
述した実施の形態では、顕微鏡本体3に取り付けられた
鏡筒9に光軸補正装置50を介して共焦点顕微鏡ヘッド
20を接続させたが、顕微鏡本体3に光軸補正装置50
を取り付け、光軸補正装置50を介して共焦点顕微鏡ヘ
ッド20を接続させてもよい。また、光軸補正装置50
は蛍光顕微鏡1に着脱可能な構成としたが、光軸補正装
置50を蛍光顕微鏡1の一体物として設けてもよい。更
に、図3に示す第2補正部材71は第1補正部材51の
傾斜孔56に嵌合して回動可能な構成を示したが、第2
補正部材71を第1補正部材51の大径部53の外側に
回動可能に嵌合するように構成されてもよい。また、光
軸補正される光学機器ユニットとして、デジタルカメラ
やCCDカメラ等でもよい。
【0031】
【発明の効果】本発明に係わる光軸補正装置によれば、
第1補正部材の上部に第2補正部材を所定傾斜角度を有
して回動可能に取り付け、第1補正部材の第1嵌合軸部
の回動中心軸線と、第1補正部材に対して回動する第2
補正部材の第2嵌合軸部の傾斜中心軸線と、光学機器ユ
ニットが取り付けられる第2補正部材のユニット保持部
の嵌合中心を通る嵌合中心軸線とが一点で交わるように
構成することで、第2補正部材に装着された光学機器ユ
ニットの光軸の傾きを調べ、第2補正部材の逆側端部の
上面がこの傾きと同一角度となるように第1補正部材に
対して第2補正部材を回動させて作り出し、光学機器ユ
ニットの光軸の傾きが打ち消されるように光学機器ユニ
ットの光軸補正装置に対する載置方向はそのままで、第
1補正部材及び第2補正部材からなる光軸補正装置全体
を回動させることで、顕微鏡の光軸に対する光学機器ユ
ニットの光軸のずれを無くすことができる。また、回動
中心軸線、傾斜中心軸線及び嵌合中心軸線とが交差する
一点が光学機器ユニットの像面となるように設定した場
合、光軸補正装置による光軸調整を行なっても顕微鏡に
対する像面の相対位置を一定にすることができる。この
ため、光学機器ユニットの光軸と顕微鏡の光軸のずれを
補正する光軸補正装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における光軸補正装置を
搭載した蛍光顕微鏡の正面図を示す。
【図2】本発明の一実施の形態における光軸補正装置を
示し、同図(a)は光軸補正装置の平面図であり、同図
(b)は光軸補正装置の正面図である。
【図3】本発明の一実施の形態における光軸補正装置の
断面図を示す。
【図4】本発明の一実施の形態における光軸補正装置を
示し、同図(a)は光軸補正装置の平面図であり、同図
(b)は光軸補正装置の断面図である。
【図5】本発明の一実施の形態における光軸補正装置に
より共焦点顕微鏡ヘッドの光軸の傾きが補正される作動
を説明するの斜視図である。
【図6】本発明の一実施の形態における光軸補正装置に
より補正される励起光の光路図を示す。
【符号の説明】
3 顕微鏡本体(顕微鏡) 9 鏡筒 20 共焦点顕微鏡ヘッド(光学機器ユニット) 50 光軸補正装置 51 第1補正部材 52 回動軸部(第1嵌合軸部) 55 第1貫通孔 56 傾斜孔(嵌合部) 62 第1指標 71 第2補正部材 72 傾動軸部(第2嵌合軸部) 79 第2貫通孔(ユニット保持部) 82 第2指標 J1 顕微鏡本体の光軸(顕微鏡の光軸) J2 共焦点顕微鏡ヘッドの光軸(光学機器ユニットの
光軸) S1 回動中心軸線 S2 嵌合中心軸線 S3 傾斜中心軸線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H043 AB06 AB08 AB29 AB37 2H044 AC00 2H045 AB13 BA12 2H052 AA07 AA08 AA09 AD29 AD37 AF06 AF11

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学機器ユニットと顕微鏡とを接続さ
    せ、前記光学機器ユニットの光軸と前記顕微鏡の光軸と
    を一軸となるように補正する光軸補正装置であって、 前記顕微鏡の接続部に嵌合され、前記顕微鏡の光軸と同
    軸上の回動中心軸線を中心に回動可能に取り付けられる
    第1嵌合軸部と、前記第1嵌合軸部を上下に貫通して前
    記顕微鏡への入射若しくは出射光を通す第1貫通孔とを
    有してなる第1補正部材と、 前記第1嵌合軸部と逆側端部の前記第1補正部材の嵌合
    部に嵌合され、前記第1嵌合軸部の前記回動中心軸線よ
    りも所定傾斜角度を有する傾斜中心軸線を中心に回動可
    能な第2嵌合軸部と、前記第2嵌合軸部とは逆側端部に
    設けられ、前記光学機器ユニットを相対回転自在に嵌合
    保持するユニット保持部と、前記第2嵌合軸部及び前記
    ユニット保持部を上下に貫通して前記入射若しくは出射
    光を通す第2貫通孔とを有してなる第2補正部材とを備
    え、 前記回動中心軸線と前記傾斜中心軸線と前記ユニット保
    持部の嵌合中心を通る嵌合中心軸線とが一点で交わるよ
    うに構成されていることを特徴とする光軸補正装置。
  2. 【請求項2】 正面視において前記第1補正部材の左右
    両端の側面のいずれか一方の高さが最大となるととも
    に、いずれか他方の高さが最小となり、且つ前記第2補
    正部材の左右両端部の側面のいずれか一方の高さが最小
    となるとともに、いずれか他方の高さが最大となるよう
    に、前記第1補正部材の上に前記第2補正部材の回動位
    置が設定されている状態で、前記第1補正部材及び前記
    第2補正部材の側面に上下に並んで第1指標及び第2指
    標がそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項1
    記載の光軸補正装置。
  3. 【請求項3】 前記第1補正部材の前記第1嵌合軸部
    は、前記顕微鏡の前記接続部に前記顕微鏡の光軸と同軸
    上において取り付けられる鏡筒に回動可能に取り付けら
    れるとともに、前記回動中心軸線が前記顕微鏡の光軸と
    同軸上に配置されるように構成されていることを特徴と
    する請求項1又は2記載の光軸補正装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006011306A (ja) * 2004-06-29 2006-01-12 Toshiba Corp 射出ビーム調整装置および射出ビーム調整方法
JP2006526166A (ja) * 2003-05-12 2006-11-16 ライカ マイクロシステムス ハイデルベルク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 微調整装置
WO2006122959A1 (de) * 2005-05-20 2006-11-23 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopobjektiv, mikroskop und verfahren zum detektieren eines objekts mit einem mikroskop

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