JP2003173559A

JP2003173559A - ディスク再生装置

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Publication number: JP2003173559A
Application number: JP2001371198A
Authority: JP
Inventors: Kenji Uehara; 健治上原; Satoshi Sekine; 聡関根; Muneyuki Shinoda; 宗幸信田
Original assignee: Alpine Electronics Inc
Current assignee: Alpine Electronics Inc
Priority date: 2001-12-05
Filing date: 2001-12-05
Publication date: 2003-06-20
Anticipated expiration: 2021-12-05
Also published as: JP3934410B2

Abstract

(57)【要約】【課題】使用状態を反映して光ピックアップの適切な
状態把握を行うことができるディスク再生装置を提供す
ること。【解決手段】再生動作が開始すると、タイマ５０はタ
イマ動作を実行する。温度検出部２８は、光ピックアッ
プ１６の周辺温度を測定する。タイマ５０による計測時
間が一定時間を経過すると、ダメージ指数計算部５２
は、光ピックアップ１６の周辺温度に応じた所定の温度
係数と、光ピックアップ１６の動作時間を乗算してダメ
ージ指数を計算し、その累積値を更新してメモリ３２に
格納する。基準温度設定部５６は、ダメージ指数の累積
値を所定の基準値と比較し、ダメージ指数の累積値が基
準値を超えている場合には基準温度を現在の設定値より
も下げる。光ピックアップ１６の周辺温度が基準温度を
超える場合に、動作可否判定部５４は、光ピックアップ
１６の出力動作を停止する必要があると判断する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ピックアップを
備えたディスク再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤ（コンパクトディスク）やＤＶＤ
（デジタルバーサタイルディスク）等を記録媒体として
用いるディスク再生装置には、これらのディスクに記録
された情報を読み出すために光ピックアップが備わって
いる。一般に、動作中の光ピックアップは熱に弱いた
め、ディスク再生装置には、動作温度が所定値に達した
ときに光ピックアップの出力を停止させる保護回路が設
けられている。例えば、光ピックアップが取り付けられ
た基板に備わったサーミスタ等の温度検出素子によって
光ピックアップの動作温度が検出され、この温度が８０
°Ｃになると保護回路が作動して、光ピックアップのレ
ーザ光の出力動作を停止させる。これにより、高温環境
下での光ピックアップの破損を防止することができる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うに、動作中の光ピックアップは熱に弱いという特性を
有しているため、光ピックアップの周辺温度の上昇は、
光ピックアップの寿命に影響を及ぼす要因となる。しか
し、従来のディスク再生装置は、動作温度が所定値に達
しない限りは光ピックアップの動作を停止しないため、
利用者の使用状態によっては、動作温度が所定値よりも
少し低い状態（例えば、３〜４°Ｃ低い状態）での出力
動作が長時間継続される場合もある。このような場合に
は、光ピックアップが高温環境下に長時間さらされるこ
とから、光ピックアップの寿命を大幅に低下させてしま
うことになる。

【０００４】光ピックアップの寿命は、出力動作時の周
辺温度と、その周辺温度における動作時間の２つの要因
に大きく影響を受けると考えられる。しかし、従来で
は、これらの要因によって光ピックアップに与えられる
ダメージの度合いを的確に判断する方法が存在しなかっ
た。このため、従来のディスク再生装置では、使用状態
に応じて適切に光ピックアップの状態把握を行うことが
難しいという問題があった。また、使用状態に応じて適
切に光ピックアップの状態把握を行うことが難しいこと
から、従来のディスク再生装置では、使用状態に応じて
光ピックアップを適切に保護することが難しいという問
題もあった。

【０００５】本発明は、このような点に鑑みて創作され
たものであり、その目的は、使用状態を反映して光ピッ
クアップの適切な状態把握を行うことができるディスク
再生装置を提供することにある。また、本発明の他の目
的は、使用状態を反映して光ピックアップを適切に保護
することができるディスク再生装置を提供することにあ
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明のディスク再生装置は、光ピックアップ
の周辺温度を温度検出手段によって検出するとともに、
光ピックアップの動作時間を動作時間測定手段によって
測定しており、温度の上昇に伴って増加する第１のパラ
メータと動作時間の経過に伴って増加する第２のパラメ
ータとを乗算したダメージ指数を、温度検出手段によっ
て検出された周辺温度と動作時間計測手段によって測定
された動作時間を用いてダメージ指数計算手段によって
計算している。そして、ダメージ指数計算手段によって
計算されたダメージ指数をダメージ指数累積手段によっ
て累積し、このダメージ指数の累積値を累積値格納手段
によって格納している。

【０００７】上述したように、光ピックアップの寿命に
対して影響を与える要因としては、主に（１）動作時の
周辺温度と、（２）その周辺温度での動作時間、の２つ
が考えられる。このため、本発明では、温度の上昇に伴
って増加する第１のパラメータと、動作時間の経過に伴
って増加する第２のパラメータを乗算することによって
ダメージ指数を計算し、このダメージ指数の累積値を累
積値格納手段に格納している。このようなダメージ指数
の累積値を用いて光ピックアップに与えられたダメージ
の度合いを判断することにより、周辺温度と動作時間の
両者による影響、すなわち使用状態を反映して光ピック
アップの適切な状態把握を行うことができる。

【０００８】また、従来では、光ピックアップに故障が
生じた場合に、その原因が、高温環境下における長時間
使用などの過酷な使用状態に起因するものか、それ以外
の要因（例えば、ディスク再生装置の組み立て時に、静
電気の影響による損傷が生じていた場合など）によるも
のかを解析することが困難であった。本発明では、周辺
温度と動作時間を反映したダメージ指数の累積値を格納
しているので、故障時には、その時点でのダメージ指数
の累積値に基づいて、それまでの使用状態を推定し、光
ピックアップの故障原因を解析することができる。

【０００９】また、温度検出手段によって検出される周
辺温度が所定の基準温度を超えるときに、光ピックアッ
プの動作を停止させる保護手段と、この保護手段による
停止動作の判断基準となる基準温度をダメージ指数累積
手段による累積値に基づいて可変する基準温度変更手段
とをさらに備えることが望ましい。上述したように、ダ
メージ指数は、光ピックアップの周辺温度と動作時間の
両者による影響を反映して計算されているので、このダ
メージ指数の累積値に基づいて、光ピックアップの動作
を停止させる際の判断基準となる基準温度を可変するこ
とにより、実際の使用状態を反映して光ピックアップを
適切に保護することができる。

【００１０】また、基準温度変更手段は、ダメージ指数
の累積値が、想定されている単位期間毎の基準値を超え
るときに、基準温度を下げることが望ましい。ダメージ
指数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基準値
を超えるときには、想定しているよりも使用状態が過酷
であり、光ピックアップの受けたダメージが大きいと考
えられる。このような場合には、基準温度を下げること
により、光ピックアップの周辺温度が高くなり過ぎない
うちに保護手段による停止動作を行うことができる。し
たがって、周辺温度が高い状態での使用を抑制し、光ピ
ックアップの寿命低下を防止することができる。

【００１１】また、基準温度変更手段は、ダメージ指数
の累積値が、想定されている単位期間毎の基準値よりも
少ないときに、基準温度を上げることが望ましい。ダメ
ージ指数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基
準値よりも少ないときには、想定しているよりも光ピッ
クアップの受けたダメージが小さいと考えられる。この
ような場合には、基準温度を上げることにより、保護手
段による停止動作が必要以上に行われることを防ぐこと
ができる。

【００１２】また、上述した第１のパラメータは、周辺
温度が１０度上昇したときに値が２倍となることが望ま
しい。一般に、光ピックアップに備わった半導体レーザ
の寿命は、出力動作時の周辺温度が１０度上昇する毎に
寿命が１／２になると言われている。これは、換言すれ
ば、周辺温度が１０度上昇する毎に、光ピックアップの
受けるダメージが２倍になるということである。したが
って、周辺温度が１０度上昇するときにその値が２倍と
なるように第１のパラメータを設定することにより、実
状に即した適切なダメージ指数を計算することができ
る。

【００１３】また、上述した動作時間計測手段は、所定
時間の経過を測定するタイマにより構成されており、ダ
メージ指数計算手段およびダメージ指数累積手段の動作
をこのタイマによって一定時間がカウントされる毎に行
うことが望ましい。ダメージ指数を計算し、累積する処
理を一定時間（例えば、１分間など）がカウントされる
毎に行うことにより、処理回数を少なくし、処理負担の
増加を抑えることができる。

【００１４】また、光ピックアップを用いてディスク型
記録媒体から読み出された信号に対して所定の再生動作
を行う再生手段が備わっている場合に、動作時間計測手
段は、再生手段によってディスク型記録媒体から経過時
間情報を読み出すことにより、動作時間を測定するよう
にしてもよい。一般に、音楽用ＣＤなどのディスク型記
録媒体では、音声等の再生情報を再生する際の再生タイ
ミングを管理するために、経過時間に関する情報が記録
されており、ディスク再生装置は、この経過時間情報を
読み出して再生動作を行っている。したがって、ディス
ク型記録媒体から読み出される経過時間情報を用いるこ
とにより、特にハードウェアを追加することなく、ソフ
トウェアを一部変更することにより光ピックアップの動
作時間を計測することが可能であり、ディスク再生装置
のコスト増加を最小限に抑えることができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した一実施形
態のディスク再生装置について、図面を参照しながら説
明する。図１は、一実施形態のディスク再生装置の構成
を示す図である。図１に示すディスク再生装置は、ディ
スク１０に記録された信号を読み出して、各種情報（例
えば、音声や映像等）の再生を行うものであり、スピン
ドルモータ１２、スレッドモータ１４、光ピックアップ
１６、ＲＦアンプ１８、サーボＬＳＩ２０、サーボドラ
イバ２２、デジタル信号処理部２４、時計２６、温度検
出部２８、システムコントローラ３０、メモリ３２、操
作部３４、表示部３６を含んで構成されている。

【００１６】スピンドルモータ１２は、ディスク１０を
所定速度で回転させる。スレッドモータ１４は、光ピッ
クアップ１６をディスク１０の径方向に移動させる。光
ピックアップ１６は、ディスク１０に記録された信号の
読み取りを行うものであり、半導体レーザ、ホトダイオ
ードおよびフォーカスレンズを含んで構成される。また
光ピックアップ１６には、フォーカスレンズをディスク
１０の記録面に対してほぼ垂直方向に移動させるフォー
カスアクチュエータと、フォーカスレンズをディスク１
０の径方向に移動させるトラッキングアクチュエータも
含まれている。

【００１７】ＲＦアンプ１８は、光ピックアップ１６か
ら出力される信号を増幅して所定のイコライザ処理を行
うことによりＲＦ信号を生成し、デジタル信号処理部２
４に出力する。また、ＲＦアンプ１８は、フォーカスサ
ーボに必要なフォーカスエラー信号（ＦＥ）と、トラッ
キングサーボに必要なトラッキングエラー信号（ＴＥ）
を生成し、サーボＬＳＩ２０に出力する。

【００１８】サーボＬＳＩ２０は、各種のサーボ制御を
行う。具体的には、サーボＬＳＩ２０は、ＲＦアンプ１
８から出力されるフォーカスエラー信号に対して位相補
償や増幅を行い、光ピックアップ１６内のフォーカスア
クチュエータの駆動状態を制御するために必要なフォー
カスアクチュエータ制御信号を生成する。

【００１９】また、サーボＬＳＩ２０は、ＲＦアンプ１
８から出力されるトラッキングエラー信号に対して位相
補償や増幅を行い、光ピックアップ１８内のトラッキン
グアクチュエータの駆動状態を制御するために必要なト
ラッキングアクチュエータ制御信号を生成するととも
に、トラッキングエラー信号の低域成分（主に直流成
分）に基づいてスレッドモータ１４の駆動状態を制御す
るために必要なスレッドモータ制御信号を生成する。ま
た、サーボＬＳＩ２０は、ＲＦアンプ１８から出力され
る制御信号に基づいて、スピンドルモータ１２の駆動状
態を制御するために必要なスピンドルモータ制御信号を
生成する。サーボＬＳＩ２０によって生成されるこれら
の信号は、サーボドライバ２２に出力される。

【００２０】サーボドライバ２２は、サーボＬＳＩ２０
から出力されるフォーカスアクチュエータ制御信号に基
づいて、光ピックアップ１６のフォーカスアクチュエー
タの駆動電圧を発生する。また、サーボドライバ２２
は、サーボＬＳＩ２０から出力されるトラッキングアク
チュエータ制御信号に基づいて、光ピックアップ１６の
トラッキングアクチュエータの駆動電圧を発生する。ま
た、サーボドライバ２２は、サーボＬＳＩ２０から出力
されるスレッドモータ制御信号に基づいて、スレッドモ
ータ１４の駆動電圧を発生する。さらに、サーボドライ
バ２２は、サーボＬＳＩ２０から出力されるスピンドル
モータ制御信号に基づいて、スピンドルモータ１２の駆
動電圧を発生する。

【００２１】デジタル信号処理部２４は、ＲＦアンプ１
８から出力されるＲＦ信号に対して、同期検出および復
調処理を行った後に所定のデコード処理を行う。時計２
６は、日付および時刻を計測しており、システムコント
ローラ３０からの要求に応じて、現在の日付および時刻
を出力する。

【００２２】温度検出部２８は、温度検出素子であるサ
ーミスタを含んでおり、光ピックアップ１６の周辺温度
を検出し、検出結果をシステムコントローラ３０に出力
する。上述したサーミスタは、光ピックアップ１６が取
り付けられている基板の上など、光ピックアップ１６の
近傍に設置されている。また、本実施形態の温度検出部
２８は、周辺温度の検出結果を「２９°Ｃ〜３１°
Ｃ」、「３２°Ｃ〜３４°Ｃ」、「３５°Ｃ〜３７°
Ｃ」、…と３°Ｃ刻みで出力している。

【００２３】システムコントローラ３０は、サーボＬＳ
Ｉ２０に対して各種のサーボ指令を出力するなど、ディ
スク再生装置の全体動作を制御するものであり、タイマ
５０、ダメージ指数計算部５２、動作可否判定部５４、
基準温度設定部５６を含んで構成されている。

【００２４】タイマ５０は、所定時間の経過を測定す
る。具体的には、本実施形態では、タイマ５０は、光ピ
ックアップ１６の出力動作の開始とともに時間を計測す
る動作（タイマ動作）を開始し、１秒間を最小単位とし
て時間の経過を測定する。ダメージ指数計算部５２は、
温度検出部２８により検出される光ピックアップ１６の
周辺温度に基づいて、所定の温度係数Ｗを設定し、この
温度係数Ｗと、光ピックアップ１６の動作時間とを乗算
することにより、所定のダメージ指数を計算する。ま
た、ダメージ指数計算部５２は、ダメージ指数の累積値
を計算してメモリ３２に格納する処理も行っている。本
実施形態のダメージ指数計算部５２は、ダメージ指数を
計算し、メモリ３２に格納されたダメージ指数の累積値
を更新する処理を、タイマ５０によって一定時間ｔ１
（例えば、１分間）がカウントされる毎に行っている。
これにより、ダメージ指数を計算し、累積値を更新する
処理を行う回数を少なくし、処理負担の増加を抑えるこ
とができる。

【００２５】上述したダメージ指数は、温度係数Ｗ（第
１のパラメータに対応）と動作時間Ｔ（第２のパラメー
タに対応）を乗算することにより求められる。具体的に
は、ダメージ指数Ｄは、以下の計算式に基づいて計算さ
れる。ここで、Ｈ：周辺温度（単位：°Ｃ）Ｈ０：標準温度（単位：°Ｃ）Ｔ：動作時間（単位：時間）である。本実施形態では、標準温度Ｈ０が３０°Ｃに設
定されている。

【００２６】（１）式に示した温度係数Ｗは、Ｈ＝３０
°ＣのときにＷ＝１、Ｈ＝４０°ＣのときにＷ＝２、Ｈ
＝５０°ＣのときにＷ＝４、…というように、周辺温度
Ｈが１０度上昇したときにその値が２倍となる。一般
に、光ピックアップに備わった半導体レーザの寿命は、
周辺温度が１０度上昇する毎に寿命が１／２になると言
われている。これは、換言すれば、周辺温度が１０度上
昇する毎に、光ピックアップの受けるダメージが２倍に
なるということである。したがって、周辺温度が１０度
上昇するときにその値が２倍となるように温度係数Ｗを
設定することにより、実状に即した適切なダメージ指数
を計算することができる。

【００２７】動作可否判定部５４は、温度検出部２８に
より検出される光ピックアップ１６の周辺温度を所定の
基準温度と比較して再生動作の可否を判定する。具体的
には、動作可否判定部５４は、光ピックアップ１６の周
辺温度が基準温度（例えば、９０°Ｃ）を超える場合
に、光ピックアップ１６の出力動作を停止する必要があ
ると判断する。

【００２８】基準温度設定部５６は、時計２６から取得
した現在の日付および時刻に基づいて、ダメージ指数の
累積値を所定の基準値（詳細は後述する）と比較し、ダ
メージ指数の累積値が基準値を超えている場合には、基
準温度を現在値よりも低い値に変更し、ダメージ指数の
累積値が基準値を大幅に下回っている場合には、基準温
度を現在値よりも高い値に変更する。

【００２９】メモリ３２は、ダメージ指数計算部５２に
より計算されるダメージ指数の累積値を格納する。本実
施形態のメモリ３２は、不揮発性メモリであり、ディス
ク再生装置の電源が遮断された場合にも、格納されたデ
ータをそのまま保持するものとする。

【００３０】操作部３４は、複数の操作キーが備わって
おり、所定の操作キーを押下することにより、利用者が
各種の動作指示（例えば、再生や停止など）を入力する
ために用いられる。表示部３６は、ディスク再生装置の
動作状態に関する表示を行う。

【００３１】上述した温度検出部２８が温度検出手段
に、ダメージ指数計算部５２がダメージ指数計算手段お
よびダメージ指数累積手段に、メモリ３２が累積値格納
手段に、動作可否判定部５４が保護手段に、基準温度設
定部５６が基準温度変更手段に、デジタル信号処理部２
４、システムコントローラ３０が再生手段にそれぞれ対
応している。

【００３２】本実施形態のディスク再生装置はこのよう
な構成を有しており、次にその動作内容について説明す
る。図２は、ディスク再生装置の動作手順を示す流れ図
である。システムコントローラ３０内のタイマ５０は、
光ピックアップ１６が出力動作を開始したか否かを監視
し（ステップ１００）、出力動作を開始した場合には肯
定判断を行って、タイマ動作を実行する（ステップ１０
１）。

【００３３】また、温度検出部２８は、光ピックアップ
１６の周辺温度を測定する（ステップ１０２）。動作可
否判定部５４は、温度検出部２８により測定される光ピ
ックアップ１６の周辺温度が所定の基準温度を超えてい
るか否かを判定する（ステップ１０３）。

【００３４】光ピックアップ１６の周辺温度が基準温度
を超えていない場合には、ステップ１０３で否定判断が
行われ、ダメージ指数計算部５２は、タイマ５０によっ
て計測される動作時間が一定時間ｔ１（本実施形態では
１分間）を経過した否かを判定する（ステップ１０
４）。動作時間が一定時間ｔ１を経過していない間は、
ステップ１０４で否定判断がなされ、上述したステップ
１０３に戻って以後の処理が繰り返される。

【００３５】動作時間が一定時間ｔ１を経過した場合に
は、ステップ１０４で肯定判断がなされ、ダメージ指数
計算部５２は、光ピックアップ１６の周辺温度に基づい
て所定の温度係数Ｗを設定する（ステップ１０５）。具
体的には、本実施形態のダメージ指数計算部５２は、周
辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を示すテーブルを内部メモ
リ（図示せず）に格納しており、このテーブルから温度
検出部２８により検出される周辺温度Ｈに対応する温度
係数Ｗを読み出すことにより、温度係数Ｗを設定してい
る。

【００３６】図３は、周辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を
示すテーブルの一例を示す図である。周辺温度Ｈは、温
度検出部２８による検出結果の出力形式に対応して、３
°Ｃ毎に設定されている。また、温度係数Ｗは、３°Ｃ
毎に設定されている周辺温度Ｈの中央値に対応する値が
計算されている。例えば、周辺温度Ｈが「２９°Ｃ〜３
１°Ｃ」の場合であれば、中央値の３０°Ｃに対応する
温度係数Ｗが計算されている。

【００３７】次に、ダメージ指数計算部５２は、ステッ
プ１０５において設定した温度係数Ｗと光ピックアップ
１６の動作時間ｔ１を乗算してダメージ指数を計算し
（ステップ１０６）、ダメージ指数の累積値を更新して
メモリ３２に格納する（ステップ１０７）。

【００３８】また、基準温度設定部５６は、ダメージ指
数計算部５２によって計算され、更新されたダメージ指
数の累積値が所定の基準値を超えているか否かを判定す
る（ステップ１０８）。図４は、ダメージ指数の基準値
の一例を示す図である。図４では、横軸が経過時間、縦
軸がダメージ指数の累積値にそれぞれ対応しており、使
用開始から３年間が経過したときにダメージ指数の累積
値が３０００となる使用状態を標準的な使用状態と想定
した直線Ａが示されている。具体的には、ダメージ指数
の累積値が３０００となる使用状態とは、例えば、光ピ
ックアップ１６の周辺温度Ｈを３０°Ｃ一定としたとき
に、動作時間が３０００時間となるような使用状態に対
応している。図４に示す直線Ａから、単位期間毎のダメ
ージ指数の基準値が求められる。例えば、１年当たりで
あれば１０００、１ヶ月当たりであれば８３．３、１日
当たりであれば２．７、というようにダメージ指数の基
準値が読み取られる。そして、図４に示すグラフ上にお
いて、ダメージ指数の累積値が直線Ａよりも上側にある
場合に、ダメージ指数の累積値が基準値を超えていると
判断される。

【００３９】ダメージ指数の累積値が基準値を超えてい
る場合には、ステップ１０８で肯定判断がなされ、基準
温度設定部５６は、基準温度を現在の設定値よりも下げ
る（ステップ１０９）。具体的には、本実施形態の基準
温度設定部５６は、５°Ｃ刻みで基準温度の設定値を増
減している。例えば、基準温度の現在の設定値が９０°
Ｃである場合には、ステップ１０９の処理が行われるこ
とにより、基準温度が８５°Ｃに下げられる。その後、
上述したステップ１０１に戻って以後の処理が繰り返さ
れる。

【００４０】このように、本実施形態では、ダメージ指
数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基準値を
超えており、光ピックアップ１６の受けたダメージが大
きいと考えられる場合には基準温度を下げているので、
光ピックアップ１６の周辺温度が高くなり過ぎないうち
に、出力動作を停止させることができるようになる。し
たがって、周辺温度が高い状態（高温環境下）での使用
を抑制し、光ピックアップの寿命低下を防止することが
できる。

【００４１】また、ダメージ指数の累積値が基準値を超
えていない場合には、ステップ１０８で否定判断がなさ
れ、基準温度設定部５６は、ダメージ指数の累積値が基
準値を大幅に下回っているか否かを判定する（ステップ
１１０）。具体的には、本実施形態では、ダメージ指数
の累積値が基準値の１／２よりも小さい場合に、累積値
が基準値を大幅に下回っていると判断されるものとす
る。ダメージ指数の累積値が基準値の１／２を超えてい
る場合には、ステップ１１０で否定判断がなされ、上述
したステップ１０１に戻って以後の処理が繰り返され
る。

【００４２】ダメージ指数の累積値が基準値を大幅に下
回っている場合には、ステップ１１０で肯定判断がなさ
れ、基準温度設定部５６は、基準温度を現在の設定値よ
りも上げる（ステップ１１１）。例えば、基準温度の設
定値が９０°Ｃである場合には、ステップ１１１の処理
が行われることにより、基準温度が９５°Ｃに上げられ
る。その後、上述したステップ１０１に戻って以後の処
理が繰り返される。

【００４３】このように、本実施形態では、ダメージ指
数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基準値を
大幅に下回っており、光ピックアップの受けたダメージ
が想定しているよりも小さいと考えられる場合には基準
温度を上げているので、光ピックアップ１６の出力動作
を停止する制御が必要以上に行われることを防ぐことが
できる。

【００４４】また、温度検出部２８により測定される光
ピックアップ１６の周辺温度が基準温度を超えている場
合には、上述したステップ１０３で肯定判断がなされ、
動作可否判定部５４は、所定の警告を表示するようにシ
ステムコントローラ３０に依頼する。依頼を受けたシス
テムコントローラ３０は、所定の警告を表示部３６に表
示する（ステップ１１２）。具体的には、システムコン
トローラ３０は、光ピックアップ１６の周辺温度が基準
温度を超えている旨を示すメッセージ（例えば、「ＨＩ
ＧＨＴＥＭＰ！」など）を表示部３６に表示する。

【００４５】また、動作可否判定部５４は、利用者によ
り操作部３４が操作され、警告の表示を解除するように
指示されたか否かを判定する（ステップ１１３）。本実
施形態では、予め利用者に対して、光ピックアップ１６
の周辺温度が基準温度を超えた高温になっている状態、
すなわち、光ピックアップ１６の寿命低下を招く状態で
あることを承知した上で再生動作を続行させたい場合に
は、警告表示を解除する旨の操作指示を行えばよいこと
が知らされているものとする。解除指示が行われた場合
には、ステップ１１３で肯定判断がなされ、システムコ
ントローラ３０は、表示部３６に対する警告の表示を中
止する。その後、上述したステップ１０４以降の処理が
繰り返される。

【００４６】また、解除指示が行われない場合には、ス
テップ１１３で否定判断がなされ、動作可否判定部５４
は、一定時間ｔ２（例えば、１０分間）が経過したか否
かを判定する（ステップ１１４）。一定時間ｔ２が経過
しない場合には、ステップ１１４で否定判断がなされ、
上述したステップ１１３に戻って以後の処理が繰り返さ
れる。

【００４７】また、一定時間ｔ２が経過した場合には、
ステップ１１４で肯定判断がなされ、動作可否判定部５
４は、光ピックアップ１６の出力動作を停止するように
システムコントローラ３０に依頼する。依頼を受けたシ
ステムコントローラ３０は、光ピックアップ１６の出力
動作を停止させる（ステップ１１５）。

【００４８】このように、本実施形態のディスク再生装
置は、光ピックアップ１６の周辺温度に応じて所定の温
度係数を設定し、この温度係数と動作時間を乗算するこ
とによってダメージ指数を計算し、このダメージ指数の
累積値をメモリ３２に格納している。このようなダメー
ジ指数の累積値を用いて光ピックアップ１６に与えられ
たダメージの度合いを判断することにより、周辺温度と
動作時間の両者による影響、すなわち使用状態を反映し
て光ピックアップの適切な状態把握を行うことができ
る。また、ダメージ指数の累積値に基づいて、光ピック
アップ１６の動作を停止させる際の判断基準となる基準
温度を可変しているので、実際の使用状態を反映して光
ピックアップを適切に保護することができる。

【００４９】また、本実施形態のディスク再生装置は、
周辺温度と動作時間を反映したダメージ指数の累積値を
不揮発性のメモリ３２に格納しているので、光ピックア
ップ１６に故障が生じた場合には、メモリ３２からダメ
ージ指数の累積値を読み出して基準値と比較することに
より、それまでの使用状態を推定して光ピックアップ１
６の故障原因を解析することができるという利点もあ
る。

【００５０】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変
形実施が可能である。例えば、上述した実施形態では、
周辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を示すテーブルを用意し
ておき、温度検出部２８により検出される光ピックアッ
プ１６の周辺温度に応じてこのテーブルを参照すること
によって温度係数Ｗを求め、ダメージ指数を計算してい
たが、上述した計算式に基づいて、その都度、温度係数
Ｗを求めるようにしてもよい。

【００５１】上述した実施形態では、一例として、一定
時間ｔ１を１分間に設定し、タイマ５０によって１分間
がカウントされる毎に、ダメージ指数計算部５２による
動作（ダメージ指数の計算および累積値の更新）を行っ
ていたが、一定時間ｔ１の設定値は１分間に限定される
ものではなく、他の値に設定してもよい。

【００５２】上述した実施形態では、温度検出部２８
は、光ピックアップ１６の周辺温度を３°Ｃ刻みで検出
して検出結果を出力していたが、必ずしも３°Ｃなどの
比較的大まかな間隔で測定する必要はなく、より細かい
値（例えば、０．１°Ｃ刻みなど）で測定してもよい。

【００５３】上述した実施形態では、タイマ５０を用い
て光ピックアップ１６の動作時間を測定していたが、デ
ィスク１０から読み出された信号を用いて記録情報の再
生動作を行う際に得られる経過時間情報を用いて、光ピ
ックアップ１６の動作時間を測定してもよい。例えば、
再生対象のディスク１０として音楽用ＣＤを考えた場合
には、ＣＤに記録されたサブコードの中のＱチャンネル
と称される情報から、経過時間情報を取得することがで
きる。

【００５４】図５は、サブコードの中のＱチャンネルの
フレーム構造を示す図である。図５に示すように、Ｑチ
ャンネルは、９６ビットのデータが１フレームを構成し
ており、先頭の４ビット（Ｑ1 〜Ｑ4 ）が「コントロー
ル部」に、次の４ビット（Ｑ5 〜Ｑ8 ）が「アドレス
部」に、その次の７２ビット（Ｑ9 〜Ｑ80）が「デー
タ」に、残りの１６ビット（Ｑ81〜Ｑ96）が「ＣＲＣ」
（Cyclic Redundancy Code）に割り当てられている。

【００５５】図６は、Ｑチャンネルのフレームの「デー
タ」部分の詳細構造を示す図である。図６において、楽
章番号（ＴＮＯ）は、ＣＤに記録された各楽章を特定す
るための番号であり、０１〜９９の値をとる。インデッ
クス（Ｘ）は、楽章をさらに細分化するための番号であ
り、０１〜９９の値をとる。楽章内の経過時間は、分
（ＭＩＮ）、秒（ＳＥＣ）、フレーム番号（ＦＲＡＭ
Ｅ）から構成されており、フレーム番号（ＦＲＡＭＥ）
は１秒間に含まれている音楽データを特定するための番
号である。ここで、分（ＭＩＮ）は００〜７４、秒（Ｓ
ＥＣ）は００〜５９、フレーム番号（ＦＲＡＭＥ）は０
０〜７４の値をとる。絶対時間も楽章内の経過時間と同
様に、分（ＡＭＩＮ）、秒（ＡＳＥＣ）、フレーム番号
（ＡＦＲＡＭＥ）から構成されており、それぞれ、分
（ＡＭＩＮ）は００〜７４、秒（ＡＳＥＣ）は００〜５
９、フレーム番号（ＡＦＲＡＭＥ）は００〜７４の値を
とる。

【００５６】したがって、システムコントローラ３０
は、上述したＱチャンネルのフレームをデジタル信号処
理部２４から受け取り、楽章内の経過時間あるいは絶対
時間を経過時間情報として取得することにより、光ピッ
クアップ１６の動作時間を測定することができる。この
ように、ディスク１０から読み出される経過時間情報を
用いることにより、特にハードウェアを追加することな
く、ソフトウェアを一部変更することにより光ピックア
ップの動作時間を計測することが可能であり、ディスク
再生装置のコスト増加を最小限に抑えることができる。

【００５７】なお、再生対象のディスク１０は、音楽用
ＣＤ以外のもの、例えば、ＭＤ（ミニディスク）やＤＶ
Ｄなどであってもよい。ＤＶＤ等の場合にも、上述した
ＣＤの場合と同様にして経過時間情報を取得し、動作時
間を取得することができる。

【００５８】

【発明の効果】上述したように、本発明によれば、温度
の上昇に伴って増加する第１のパラメータと、動作時間
の経過に伴って増加する第２のパラメータを乗算するこ
とによってダメージ指数を計算し、このダメージ指数の
累積値が格納されるので、このダメージ指数の累積値を
用いて光ピックアップに与えられたダメージの度合いを
判断することにより、周辺温度と動作時間の両者による
影響、すなわち使用状態を反映して光ピックアップの適
切な状態把握を行うことができる。

【００５９】また、光ピックアップの周辺温度と動作時
間の両者による影響を反映して計算されるダメージ指数
の累積値に基づいて、光ピックアップの動作を停止させ
る際の判断基準となる基準温度が可変に設定されるの
で、実際の使用状態を反映して光ピックアップを適切に
保護することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】一実施形態のディスク再生装置の構成を示す図
である。

【図２】ディスク再生装置の動作手順を示す流れ図であ
る。

【図３】周辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を示すテーブル
の一例を示す図である。

【図４】ダメージ指数の基準値の一例を示す図である。

【図５】サブコードの中のＱチャンネルのフレーム構造
を示す図である。

【図６】Ｑチャンネルのフレームの「データ」部分の詳
細構造を示す図である。

【符号の説明】

１０ディスク１２スピンドルモータ１４スレッドモータ１６光ピックアップ１８ＲＦアンプ２０サーボＬＳＩ２２サーボドライバ２４デジタル信号処理部２６時計２８温度検出部３０システムコントローラ３２メモリ３４操作部３６表示部５０タイマ５２ダメージ指数計算部５４動作可否判定部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者信田宗幸東京都品川区西五反田１丁目１番８号アルパイン株式会社内Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB02 BB05 CC04 HH02 JJ02 JJ07 5D119 AA32 BA01 BB01 BB04 DA05 DA15 MA30 5D789 AA32 BA01 BB01 BB04 DA05 DA15 MA30

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ピックアップの周辺温度を検出する温
度検出手段と、前記光ピックアップの動作時間を測定する動作時間測定
手段と、温度の上昇に伴って増加する第１のパラメータと動作時
間の経過に伴って増加する第２のパラメータとを乗算し
たダメージ指数を、前記温度検出手段によって検出され
た周辺温度と前記動作時間計測手段によって測定された
動作時間を用いて計算するダメージ指数計算手段と、前記ダメージ指数計算手段によって計算されたダメージ
指数を累積するダメージ指数累積手段と、前記ダメージ指数累積手段による前記ダメージ指数の累
積値を格納する累積値格納手段と、を備えることを特徴とするディスク再生装置。
【請求項２】請求項１において、前記温度検出手段によって検出される前記周辺温度が所
定の基準温度を超えるときに、前記光ピックアップの動
作を停止させる保護手段と、前記保護手段による停止動作の判断基準となる前記基準
温度を前記ダメージ指数累積手段による累積値に基づい
て可変する基準温度変更手段と、をさらに備えることを特徴とするディスク再生装置。
【請求項３】請求項２において、前記基準温度変更手段は、前記ダメージ指数の累積値
が、想定されている単位期間毎の基準値を超えるとき
に、前記基準温度を下げることを特徴とするディスク再
生装置。
【請求項４】請求項２において、前記基準温度変更手段は、前記ダメージ指数の累積値
が、想定されている単位期間毎の基準値よりも少ないと
きに、前記基準温度を上げることを特徴とするディスク
再生装置。
【請求項５】請求項１〜４のいずれかにおいて、前記第１のパラメータは、前記周辺温度が１０度上昇し
たときに値が２倍となることを特徴とするディスク再生
装置。
【請求項６】請求項１〜５のいずれかにおいて、前記動作時間計測手段は、所定時間の経過を測定するタ
イマであり、前記ダメージ指数計算手段および前記ダメージ指数累積
手段の動作を、前記タイマによって一定時間がカウント
される毎に行うことを特徴とするディスク再生装置。
【請求項７】請求項１〜５のいずれかにおいて、前記光ピックアップを用いてディスク型記録媒体から読
み出された信号に対して所定の再生動作を行う再生手段
をさらに備え、前記動作時間計測手段は、前記再生手段によって前記デ
ィスク型記録媒体から経過時間情報を読み出すことによ
り、前記動作時間を測定することを特徴とするディスク
再生装置。