JP2003167327A - Pellicle - Google Patents

Pellicle

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JP2003167327A
JP2003167327A JP2001368738A JP2001368738A JP2003167327A JP 2003167327 A JP2003167327 A JP 2003167327A JP 2001368738 A JP2001368738 A JP 2001368738A JP 2001368738 A JP2001368738 A JP 2001368738A JP 2003167327 A JP2003167327 A JP 2003167327A
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JP
Japan
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pellicle
frame
light
adhesive
quartz glass
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Withdrawn
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JP2001368738A
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Japanese (ja)
Inventor
Hitoshi Mishiro
均 三代
Shinya Kikukawa
信也 菊川
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AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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Publication date
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Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pellicle that prevents deterioration of an adhesive and a sealant due to cleaning light and can retain its function over a prolonged period of time. <P>SOLUTION: The pellicle 1 obtained by bonding a pellicle plate 2 comprising synthetic quartz glass to the opening of a pellicle frame 5 with an adhesive 4, is characterized in that the pellicle plate 2 has a first light shielding body 3 for protecting the adhesive 4 from irradiation with ultraviolet light and the pellicle frame 5 comprises quartz glass and has second light shielding bodies on its top surface and bottom surface and/or its outer surface and inner surface. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LSI、超LSI
などの半導体あるいは液晶表示を製造する場合などに用
いられ、とりわけ実質的に波長220nm以下の光を用
いる露光法に好適なペリクルおよびその使用方法に関す
る。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an LSI and a VLSI.
The present invention relates to a pellicle suitable for an exposure method using a light having a wavelength of 220 nm or less and a method of using the pellicle, which is used when manufacturing a semiconductor or a liquid crystal display.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、LSI、超LSI等の半導体ある
いは液晶表示デバイスの製造において、半導体ウエハあ
るいは液晶表示板に波長240nm以上の光をマスク
(マスクまたはレチクル)を通して照射することによっ
てパターニングが行われている。この場合、マスクのパ
ターン形成面にゴミが付着していると、このゴミが露光
光を吸収、反射あるいは曲げたりするため、寸法精度、
品質、外観などが損なわれてしまう。このため、クリー
ンルーム内で露光作業は行われているが、マスクを清浄
に保つことは難しい。
2. Description of the Related Art Conventionally, in the manufacture of semiconductors such as LSI and VLSI, or liquid crystal display devices, patterning is performed by irradiating a semiconductor wafer or liquid crystal display plate with light having a wavelength of 240 nm or more through a mask (mask or reticle). ing. In this case, if dust adheres to the pattern formation surface of the mask, the dust absorbs, reflects, or bends the exposure light.
The quality and appearance will be impaired. Therefore, although the exposure work is performed in the clean room, it is difficult to keep the mask clean.

【0003】そこで、マスクへのゴミの付着を防ぐため
に、ペリクルを使用して露光作業を行うのが一般的であ
る。具体的には、図6は従来のペリクルをマスクに装着
した状態を示す斜視図であり、図7は図6のAA断面図
であるが、ペリクル11は、露光光を透過させるペリク
ル膜12を接着剤4によりペリクルフレーム15の開口
部に接着して構成されており、露光作業に際してこのペ
リクル11は、ペリクルフレーム15をシール材6によ
りマスク7に装着される。このようなペリクル1を装着
したマスク7は、ペリクル膜12またはペリクルフレー
ム15が破損しない限り、透過率の低下やゴミの侵入が
ないため、半永久的に使用できるようになる。
Therefore, in order to prevent dust from adhering to the mask, it is common to perform an exposure operation using a pellicle. Specifically, FIG. 6 is a perspective view showing a state in which a conventional pellicle is mounted on a mask, and FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 6, but the pellicle 11 includes a pellicle film 12 that transmits exposure light. The pellicle frame 15 is bonded to the opening of the pellicle frame 15 with the adhesive 4, and the pellicle frame 15 is attached to the mask 7 by the sealing material 6 during the exposure operation. The mask 7 having such a pellicle 1 mounted thereon can be used semipermanently as long as the pellicle film 12 or the pellicle frame 15 is not damaged, because the transmittance is not reduced and dust does not enter.

【0004】一方で、LSIや超LSIなどの半導体の
製造に用いられる露光光は、微細化の要求に対して波長
は益々短くなってきており、今日ではF2レーザなど波
長220nm以下の露光光を使用する技術が考案されて
いる。
On the other hand, the exposure light used in the manufacture of semiconductors such as LSI and VLSI is becoming shorter in wavelength to meet the demand for miniaturization, and today, exposure light having a wavelength of 220 nm or less such as F 2 laser is used. The technology of using is devised.

【0005】従来、ペリクル膜としては、ニトロセルロ
ースまたはフッ素樹脂からなる数nm〜数μmの厚みの
有機樹脂膜が用いられている。しかし、このような有機
膜等を使用したペリクルは、露光精度を上げるために使
用される波長が短くなると、光学的エネルギーが強大で
あることから、有機分が分解し、実際の露光で使用する
エネルギーでのショット数、いいかえれば使用時間に対
して充分な耐久性を持っていない。
Conventionally, as the pellicle film, an organic resin film made of nitrocellulose or fluororesin having a thickness of several nm to several μm is used. However, in a pellicle using such an organic film, when the wavelength used for improving the exposure accuracy becomes shorter, the optical energy is large, so the organic component is decomposed and used in actual exposure. It does not have enough durability for the number of shots with energy, in other words, the usage time.

【0006】そこで、近年、有機樹脂膜に替わり、合成
石英ガラスを薄い板に加工したものをペリクル膜として
使用することが検討されている(本明細書では合成石英
ガラスからなるペリクル膜を、有機樹脂系ペリクル膜と
区別してペリクル板と称する)。この合成石英ガラス
は、例えば、珪素源と酸素源とを気相で反応させスート
と呼ばれる酸化珪素からなる多孔質を成長させ、この多
孔質を焼結して得られる実質的に酸化珪素のみからなる
ガラスである。この合成石英ガラスからなるペリクル板
には、157.6nm以下の波長を用いる露光系では、
透過効率を良くするため、その片面もしくは両面に反射
防止膜を施すことが好ましい。
Therefore, in recent years, it has been investigated to use a synthetic quartz glass processed into a thin plate as a pellicle film instead of the organic resin film (in this specification, a pellicle film made of synthetic quartz glass is referred to as an organic pellicle film). It is called a pellicle plate to distinguish it from a resin-based pellicle film). This synthetic quartz glass is obtained, for example, by reacting a silicon source and an oxygen source in a gas phase to grow a porous silicon oxide called soot, and sintering the porous material to obtain substantially only silicon oxide. It is a glass. In a pellicle plate made of this synthetic quartz glass, in an exposure system using a wavelength of 157.6 nm or less,
In order to improve the transmission efficiency, it is preferable to apply an antireflection film on one side or both sides.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、これらの露
光光に使用されるマスクは、露光時にクリーンルーム内
に存在する有機系ガスが付着して光透過率が低下するこ
とがある。また、マスクは、保管・運搬時には、ポリア
クリレート、ポリスチレン、ポリプロピレン、ポリエチ
レン、ポリカーボネート、ABS樹脂などの合成樹脂製
のケースに収納される。しかしながら、このケースから
は有機系のガスが発生しており、収納されたマスクの表
面に付着して光透過率を低下させることもわかってき
た。
By the way, in the mask used for these exposure lights, the organic gas existing in the clean room at the time of exposure adheres and the light transmittance may decrease. The mask is stored in a case made of synthetic resin such as polyacrylate, polystyrene, polypropylene, polyethylene, polycarbonate, and ABS resin during storage and transportation. However, it has also been found that an organic gas is generated from this case and adheres to the surface of the housed mask to reduce the light transmittance.

【0008】そこで、露光前にマスクの洗浄を行うのが
一般的であるが、本出願人はこの洗浄方法としてXe2
エキシマランプ、F2レーザなどの紫外線(以下、「洗
浄光」と呼ぶ)を照射して有機物を分解して除去する技
術を提案している(PCT/JP00/01869)。
Therefore, it is common to clean the mask before exposure, and the applicant of the present invention uses Xe 2 as the cleaning method.
A technique has been proposed (PCT / JP00 / 01869) for decomposing and removing organic substances by irradiating ultraviolet rays (hereinafter referred to as “cleaning light”) such as excimer lamps and F 2 lasers.

【0009】従って、ペリクル板にはこのような洗浄光
に対して充分な耐久性(耐光性)が要求されるが、同時
にこのペリクル板とペリクルフレームとを接着している
接着剤にも洗浄光が照射されるため、接着剤にも同様の
耐光性が要求される。しかし、従来から接着剤として、
ポリブテン樹脂、アクリル樹脂またはエポキシ樹脂系接
着剤やシリコーン系粘着剤などが用いられているが、何
れの接着材料も耐光性が充分とはいえず、洗浄光照射の
回数を経るのにしたがって接着力が低下し、ペリクル板
2がペリクルフレーム4から剥離して隙間が生じて防塵
機能が発揮されなくなったり、あるいは劣化した接着剤
が新たなゴミとなってマスクのパターン形成面に付着し
たりするなどの不具合を生じるようになる。
Therefore, the pellicle plate is required to have sufficient durability (light resistance) against such cleaning light, but at the same time, the adhesive for adhering the pellicle plate and the pellicle frame also has cleaning light. The same light resistance is required for the adhesive as well. However, conventionally, as an adhesive,
Polybutene resin, acrylic resin or epoxy resin adhesives and silicone adhesives are used, but none of the adhesive materials have sufficient light resistance, and the adhesive strength increases as the number of washing light irradiations increases. And the pellicle plate 2 is separated from the pellicle frame 4 to form a gap and the dustproof function is not exerted, or the deteriorated adhesive becomes new dust and adheres to the pattern forming surface of the mask. Will cause problems.

【0010】また、合成石英ガラスをペリクル板として
使用したペリクルを実際に露光工程で使用すると、合成
石英ガラス自体が光エネルギーを吸収し熱をもつことに
よりペリクル板が膨張する。同様に、フレーム自体も自
身の光エネルギーの吸収熱、周囲からの熱伝導により膨
張する。このとき、フレーム材料として従来から用いら
れている金属、例えばアルミニウムやチタン等は、合成
石英ガラスと熱膨張係数が異なるために、ペリクル板を
ひずませ、応力が発生することにより複屈折が大きくな
る。そこで、このため機械的なたわみや複屈折によっ
て、結像性が悪くなることを防ぐために、フレーム材料
としても、ペリクル板と同等の熱膨張係数である石英ガ
ラスを用いることが提案されている。
When a pellicle using synthetic quartz glass as a pellicle plate is actually used in an exposure process, the synthetic quartz glass itself absorbs light energy and has heat, so that the pellicle plate expands. Similarly, the frame itself expands by absorbing heat of its own light energy and conducting heat from the surroundings. At this time, the metal conventionally used as the frame material, such as aluminum or titanium, has a coefficient of thermal expansion different from that of the synthetic quartz glass, so that the pellicle plate is distorted and stress is generated, which causes a large birefringence. Become. Therefore, in order to prevent deterioration of the image forming property due to mechanical deflection and birefringence, it has been proposed to use quartz glass as a frame material, which has a coefficient of thermal expansion equivalent to that of the pellicle plate.

【0011】石英ガラスより得られたペリクルフレーム
は、フレームの内面や外面を鏡面加工することが望まし
い。すなわち、フレームの内面と外面が、例えばエンド
ミル加工などによるすりガラス状態で仕上げられた場
合、このすりガラス上の表面の微細な凹凸にパーティク
ルが保持されていたり、あるいはガラス自体の破砕など
により露光の障害となる異物がマスク面に付着したりす
るおそれがあるためである。しかし、内外面を鏡面加工
した石英ガラス製フレームは、上記の洗浄光を透過する
ため、洗浄により、ペリクルフレームとマスクとの間の
シリコーン系粘着剤等からなるシール材が劣化しやす
い。また、マスクとペリクルとの界面などに洗浄光が反
射することによって生じる迷光によって、ペリクルフレ
ームとペリクル板との間の接着剤、およびペリクルフレ
ームとマスクとの間のシール材が劣化しやすい。
In the pellicle frame made of quartz glass, it is desirable that the inner surface and the outer surface of the frame be mirror-finished. That is, when the inner surface and the outer surface of the frame are finished in a frosted glass state by, for example, end milling, particles are held in the fine irregularities on the surface of the frosted glass, or the exposure of the glass itself is broken due to crushing or the like. This is because foreign matter may adhere to the mask surface. However, since the quartz glass frame whose inner and outer surfaces are mirror-finished transmits the above-mentioned cleaning light, the sealing material such as a silicone adhesive between the pellicle frame and the mask is likely to deteriorate due to the cleaning. Further, the adhesive between the pellicle frame and the pellicle plate and the sealing material between the pellicle frame and the mask are easily deteriorated by stray light generated by the reflection of the cleaning light on the interface between the mask and the pellicle.

【0012】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、ペリクル板とペリクルフレームとを接着す
る接着剤の洗浄光による劣化、およびペリクルフレーム
とマスクとの間に介在するシール材の劣化を防止したペ
リクルを提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such a situation, and the deterioration of the adhesive for adhering the pellicle plate and the pellicle frame due to cleaning light and the sealing material interposed between the pellicle frame and the mask. An object is to provide a pellicle that is prevented from deterioration.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、合成石英ガラスからなるペリクル板
を、接着剤により枠状のペリクルフレームの開口部に接
着してなるペリクルにおいて、接着剤を紫外光照射から
遮光するための第1の遮光体をペリクル板に備えるとと
もに、ペリクルフレームは石英ガラスからなり、ペリク
ルフレームのフレーム上表面およびフレーム下表面に第
2の遮光体を有することを特徴とするペリクル、およ
び、合成石英ガラスからなるペリクル板を、接着剤によ
り枠状のペリクルフレームの開口部に接着してなるペリ
クルにおいて、接着剤を紫外光照射から遮光するための
第1の遮光体をペリクル板に備えるとともに、ペリクル
フレームは石英ガラスからなり、ペリクルフレームのフ
レーム外周表面およびフレーム内周表面に第2の遮光体
を有することを特徴とするペリクルを提供する。
To achieve the above object, the present invention provides a pellicle obtained by bonding a pellicle plate made of synthetic quartz glass to an opening of a frame-shaped pellicle frame with an adhesive. The pellicle plate is provided with a first light shield for shielding the adhesive from ultraviolet light irradiation, the pellicle frame is made of quartz glass, and the second light shield is provided on the upper and lower surfaces of the pellicle frame. And a pellicle plate made of synthetic quartz glass adhered to an opening of a frame-shaped pellicle frame with an adhesive, the first pellicle for shielding the adhesive from ultraviolet light irradiation. The pellicle board is provided with a light shield, and the pellicle frame is made of quartz glass. Providing a pellicle characterized by having a second light shield to frame the peripheral surface.

【0014】特に上記ペリクルにおいて、遮光体が金属
または金属酸化物からなることが好ましい。
Particularly in the above pellicle, it is preferable that the light shield is made of metal or metal oxide.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明に関して図面を参照
して説明する。なお、図1は本発明のペリクルの一実施
形態をマスクに装着した状態で示す斜視図であり、図2
は図1のAA断面図である。また、図3は本発明のペリ
クルにおける他の実施形態を図1のAA断面に沿って示
した断面図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings. 1 is a perspective view showing an embodiment of the pellicle of the present invention mounted on a mask.
FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view showing another embodiment of the pellicle of the present invention along the AA cross section of FIG.

【0016】図1および図2に示すように、ペリクル1
は、ペリクル板2を接着剤4によりペリクルフレーム5
の開口部に接着してその基本構造が形成される。ペリク
ル板2としては、波長220nm以下の露光光に対応で
きるように、合成石英ガラスを薄板化したものである。
この合成石英ガラスとは、前述のように、例えば珪素源
と酸素源とを気相で反応させてスートと呼ばれる酸化珪
素からなる多孔質を成長させ、焼結して得られる実質的
に酸化珪素のみからなるガラスである。
As shown in FIGS. 1 and 2, the pellicle 1
Attach the pellicle plate 2 to the pellicle frame 5 with the adhesive 4.
The basic structure is formed by adhering to the opening. The pellicle plate 2 is a thin plate of synthetic quartz glass so that it can handle exposure light having a wavelength of 220 nm or less.
As described above, the synthetic quartz glass is substantially silicon oxide obtained by, for example, reacting a silicon source and an oxygen source in a gas phase to grow a porous silicon oxide called soot and sintering the soot. It is a glass consisting of only.

【0017】ペリクルフレーム5としては、石英ガラス
を用いている。この石英ガラスとしては、ペリクル板2
の材料である合成石英ガラスとほぼ熱膨張係数が等しい
ものであればよく、必ずしも合成石英ガラスである必要
はなく、溶融石英ガラスでも使用できる。また、接着剤
4は、従来と同様に、ポリブテン樹脂、アクリル樹脂ま
たはエポキシ樹脂系接着剤やシリコーン系粘着剤などを
用いることができる。
As the pellicle frame 5, quartz glass is used. As this quartz glass, the pellicle plate 2
Any material may be used as long as it has substantially the same thermal expansion coefficient as that of the synthetic quartz glass which is the material of (1), and is not necessarily synthetic quartz glass, and fused quartz glass can also be used. Further, as the adhesive 4, a polybutene resin, an acrylic resin, an epoxy resin adhesive, a silicone adhesive, or the like can be used as in the conventional case.

【0018】本発明のペリクル1は、上記の基本構造に
加えて、ペリクル板2の上で、かつペリクル板2とペリ
クルフレーム4との接着部分、即ち接着剤4が塗布され
た部分を覆うように第1の遮光体3が形成されている。
In addition to the above-mentioned basic structure, the pellicle 1 of the present invention covers the part where the pellicle plate 2 and the pellicle frame 4 are bonded, that is, the part to which the adhesive 4 is applied, on the pellicle plate 2. The first light shield 3 is formed on the.

【0019】この第1の遮光体3としては、洗浄光を透
過せず、かつ充分な耐光性を有していれば、その材質や
形態は特に制限されるものではないが、金属や金属酸化
物を膜状または板状で用いることができる。金属の種類
は特に制限されるものではないが、耐光性や遮光性の理
由からクロムやアルミニウム、鉄、銅またはそれらの合
金が好ましい。金属板とする時は、アルミニウム、鉄、
銅などの精密に加工のできる金属または金属合金などが
使用できる。尚、本発明において、この金属板として金
属箔も含む。また、金属酸化物膜を使用する場合は、耐
光性や遮光性の理由からクロム酸化物(CrO)、シ
リカ(SiO2)、アルミナ(Al23)などの膜が好
ましい。また、膜厚は、膜の材質に依存するが、波長2
20nm以下の紫外光に対して充分な遮光性を有してい
ればよく、50nm以上、好ましくは50nm〜100
0nm、特に好ましくは100〜1000nmであれば
良い。
There are no particular restrictions on the material or form of the first light shield 3 as long as it does not transmit cleaning light and has sufficient light resistance. The product can be used in the form of a film or a plate. The type of metal is not particularly limited, but chromium, aluminum, iron, copper, or an alloy thereof is preferable for reasons of light resistance and light shielding properties. When using a metal plate, aluminum, iron,
A metal or a metal alloy that can be precisely processed such as copper can be used. In addition, in this invention, a metal foil is also included as this metal plate. When a metal oxide film is used, a film of chromium oxide (CrO x ), silica (SiO 2 ), alumina (Al 2 O 3 ) or the like is preferable for reasons of light resistance and light shielding properties. Although the film thickness depends on the material of the film,
It has only to have a sufficient light-shielding property with respect to ultraviolet light of 20 nm or less, and 50 nm or more, preferably 50 nm to 100
It may be 0 nm, particularly preferably 100 to 1000 nm.

【0020】第1の遮光体3は、図2に示すように、ペ
リクル板2の上に設けることもできるし、図3に示すよ
うに、ペリクル板2とペリクルフレーム5との間で、接
着剤4を覆うように設けることもできる。
The first light shield 3 can be provided on the pellicle plate 2 as shown in FIG. 2, or can be bonded between the pellicle plate 2 and the pellicle frame 5 as shown in FIG. It can also be provided so as to cover the agent 4.

【0021】また、上記の金属膜および金属酸化物膜を
成膜するには、既知の手段、例えばスパッタリング法、
蒸着法、CVD法、印刷法などを被膜材料の種類やペリ
クル板2との密着性を考慮して適宜選択すればよい。一
方、金属板の場合は、ペリクル板2の表面や、ペリクル
板2とペリクルフレーム5との間に適当な接着剤を用い
て固定すればよい。
Further, in order to form the above-mentioned metal film and metal oxide film, known means such as sputtering method,
A vapor deposition method, a CVD method, a printing method or the like may be appropriately selected in consideration of the type of coating material and the adhesiveness with the pellicle plate 2. On the other hand, in the case of a metal plate, it may be fixed by using an appropriate adhesive between the surface of the pellicle plate 2 and the pellicle plate 2 and the pellicle frame 5.

【0022】上記のペリクル1は、何れも、従来と同様
にペリクルフレーム5の下面に塗布されたシール材6を
介して、マスク7上に装着される。
Each of the above pellicles 1 is mounted on the mask 7 via the sealing material 6 applied to the lower surface of the pellicle frame 5 as in the conventional case.

【0023】また、本発明においては、第2の遮光膜9
を、ペリクルフレームのフレーム上表面およびフレーム
下表面、および/または、フレーム外周表面およびフレ
ーム内周表面に設ける。図2および図3は、ペリクルフ
レームのフレーム上表面およびフレーム下表面だけに第
2の遮光膜9を設けた例を示している。
Further, in the present invention, the second light shielding film 9
Are provided on the upper surface and the lower surface of the pellicle frame, and / or on the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the frame. 2 and 3 show an example in which the second light shielding film 9 is provided only on the frame upper surface and the frame lower surface of the pellicle frame.

【0024】図4は、第2の遮光膜9を、ペリクルフレ
ームのフレーム上表面およびフレーム下表面だけに設け
た場合を示す斜視図であり、図5は、第2の遮光膜9
を、ペリクルフレームのフレーム外周表面およびフレー
ム内周表面だけに設けた場合を示す斜視図である。具体
的には、図4においては、ペリクルフレーム5のフレー
ム上表面5aおよびフレーム下表面5bに第2の遮光膜
9が設けられており、図5においては、ペリクルフレー
ム5のフレーム外周表面5cおよびフレーム内周表面5
dに第2の遮光膜9が設けられている。図4の態様と図
5の態様とを組み合わせて、ペリクルフレームの全面に
第2の遮光体を設けてもよい。
FIG. 4 is a perspective view showing a case where the second light-shielding film 9 is provided only on the frame upper surface and the frame lower surface of the pellicle frame, and FIG.
FIG. 3 is a perspective view showing a case where the above is provided only on the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the frame of the pellicle frame. Specifically, in FIG. 4, the second light-shielding film 9 is provided on the frame upper surface 5a and the frame lower surface 5b of the pellicle frame 5, and in FIG. Inner surface 5 of frame
The second light-shielding film 9 is provided on d. The second light shield may be provided on the entire surface of the pellicle frame by combining the embodiment of FIG. 4 and the embodiment of FIG.

【0025】第2の遮光膜9は、第1の遮光膜3と同様
な材質、形態で同様の方法で設けることができる。両遮
光膜は、同じ材質、形態で設けてもよく、異なる材質形
態で設けてもよい。
The second light-shielding film 9 can be provided in the same material and form as the first light-shielding film 3 by the same method. Both light shielding films may be provided with the same material and form, or may be provided with different material forms.

【0026】本発明では、第1の遮光膜と第2の遮光膜
とを組み合わせることにより、洗浄光およびその迷光
が、ペリクルフレームとペリクル板との間の接着剤、お
よびペリクルフレームとマスクとの間のシール材に達す
るのを防止し、これらの劣化を抑制できる。
In the present invention, by combining the first light-shielding film and the second light-shielding film, the cleaning light and its stray light cause the adhesive between the pellicle frame and the pellicle plate, and the pellicle frame and the mask. It is possible to prevent them from reaching the sealing material between them, and to suppress their deterioration.

【0027】[0027]

【実施例】以下、実施例によって本発明を具体的に説明
する。既知の方法で得られた合成石英ガラスの152m
m×152mm×5.2mm厚の素板を市販のNC面取
り機でC0.3〜0.7になるようなるよう面取り加工
を実施した。次いで、切断によるクラックおよび面取り
によるクラックの進行を止めるため、5質量%HF溶液
に浸漬した。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples. 152 m of synthetic quartz glass obtained by a known method
A blank of m × 152 mm × 5.2 mm was chamfered by a commercially available NC chamfering machine so as to have a C of 0.3 to 0.7. Next, in order to stop the progress of cracks due to cutting and cracks due to chamfering, the pieces were immersed in a 5 mass% HF solution.

【0028】次いで、この石英ガラスの板材をスピード
ファム社製20B両面ラップ機を使用し、研磨剤として
FO#1200(フジミコーポレーション社製商品名)
を濾過水に10〜12質量%懸濁させたスラリーを用
い、厚さが5.05mmになるまでラップ加工を施し
た。更に、ラップ後の合成石英ガラスの板材に対して前
述と同様のエッチング処理を行った。
Then, this quartz glass plate material was used as a polishing agent in a FO # 1200 (trade name, manufactured by Fujimi Corporation) using a 20B double-sided lapping machine manufactured by Speedfam.
Using a slurry obtained by suspending 10 to 12% by mass of filtered water, lapping was performed until the thickness became 5.05 mm. Furthermore, the same etching treatment as described above was performed on the synthetic quartz glass plate material after the lapping.

【0029】続いて、この石英ガラスの板材をスピード
ファム社製20B両面ポリシング機を用いて酸化セリウ
ムを主体としたスラリーとポリウレタンパッドで研磨
し、厚さ5.00mmのペリクルフレーム用板材を15
枚得た。
Subsequently, this quartz glass plate material was polished with a slurry mainly composed of cerium oxide and a polyurethane pad using a 20B double-side polishing machine manufactured by Speed Fam Co., and a 5.00 mm thick pellicle frame plate material was prepared.
I got one.

【0030】この板材を、トロペル社製レーザー干渉式
平坦度測定器、FM200を用いて平坦度を測定したと
ころ、一方の面が0.48〜0.65μm、もう一方の
面が0.44〜0.68μmであるとの結果を得た。更
に、これらの試料の平行度を計測したところいずれの板
材も、2.00μm以下であった。
The flatness of this plate material was measured with a laser interference flatness measuring instrument, FM200, manufactured by Tropel Co., Ltd. One surface was 0.48 to 0.65 μm and the other surface was 0.44 to 0.45 μm. The result was 0.68 μm. Furthermore, when the parallelism of these samples was measured, all the plate materials were 2.00 μm or less.

【0031】この結果を元に、板材からエンドミルを用
いて外寸149mm×122mm、内寸145mm×1
18mmの長方型の枠体で、各角部に半径5mmの丸み
をつけたペリクルフレームを作成した。しかるのち、既
にポリシング加工を施しているマスクとの接着面とペリ
クル板との接着面を除いた、フレームの内周面と外周面
とをバフ研磨により鏡面仕上げを行った。
Based on this result, using an end mill from the plate material, the outer dimensions are 149 mm × 122 mm and the inner dimensions are 145 mm × 1.
A pellicle frame having a rectangular frame body of 18 mm and rounded corners with a radius of 5 mm was prepared. After that, the inner peripheral surface and the outer peripheral surface of the frame, excluding the adhesive surface with the mask and the adhesive surface with the pellicle plate, which have already been polished, were mirror-finished by buffing.

【0032】次に、このフレーム全面に対して、金属ク
ロム膜をスパッタリングで100nm成膜してペリクル
フレームを作成した。
Next, a metal chromium film was formed on the entire surface of this frame by sputtering to a thickness of 100 nm to form a pellicle frame.

【0033】さらに、ペリクル板として厚さ0.3mm
に研磨した合成石英ガラス板を用い、ペリクルフレーム
にポリブテン系接着剤を用いて接着し、更に合成石英ガ
ラス板の表面にペリクルフレームと同一幅で、スパッタ
リングによりCr膜を100nm厚に形成してペリクル
を作成した。
Further, the pellicle plate has a thickness of 0.3 mm.
Using a polished synthetic quartz glass plate, adhere it to the pellicle frame using a polybutene adhesive, and then form a Cr film of 100 nm thickness by sputtering on the surface of the synthetic quartz glass plate with the same width as the pellicle frame. It was created.

【0034】得られたペリクルは、遮光性にすぐれてお
り、洗浄光およびその迷光が、ペリクルフレームとペリ
クル板との間の接着剤、およびペリクルフレームとマス
クとの間のシール材に達するのを防止し、これらの劣化
を抑制できる。
The pellicle obtained has excellent light-shielding properties, and prevents the cleaning light and its stray light from reaching the adhesive between the pellicle frame and the pellicle plate and the sealing material between the pellicle frame and the mask. It is possible to prevent and suppress these deteriorations.

【0035】[0035]

【発明の効果】本発明によれば、合成石英ガラス製ペリ
クル板と石英ガラス製ペリクルフレームとを有するペリ
クルについて、洗浄光による接着剤やシール材の劣化を
防ぎ長期にわたりペリクルの機能を維持できるペリクル
を提供することができる。
According to the present invention, with respect to a pellicle having a synthetic quartz glass pellicle plate and a quartz glass pellicle frame, it is possible to prevent deterioration of the adhesive or sealing material due to cleaning light and maintain the function of the pellicle for a long period of time. Can be provided.

【0036】具体的には、本発明は、遮光体により、洗
浄光によるペリクル板とペリクルフレームとを接着する
接着剤や、ペリクルフレームとマスクとの間のシール材
の劣化を防ぎ、接着剤またはシール材の劣化物が異物と
なってマスクに付着したり、ペリクル板が剥離すること
を防いでペリクルの機能を長期にわたり良好に維持する
ことができる。このような接着剤、シール材の劣化防止
効果は、特に今後微細加工の主流となる波長220nm
以下の露光光を使用する技術において顕著な効果として
現れる。
Specifically, the present invention prevents the adhesive for adhering the pellicle plate and the pellicle frame due to the cleaning light and the sealant between the pellicle frame and the mask from being deteriorated by the light shielding member. It is possible to prevent the deteriorated product of the sealing material from becoming a foreign matter and adhering to the mask, and to prevent the pellicle plate from peeling off, so that the function of the pellicle can be favorably maintained for a long time. The effect of preventing the deterioration of such adhesives and sealing materials is particularly the wavelength of 220 nm, which will be the mainstream of fine processing in the future.
It appears as a remarkable effect in the following technique using exposure light.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のペリクルの第1実施形態について、マ
スクに装着した状態を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a first embodiment of a pellicle of the present invention mounted on a mask.

【図2】図1のAA断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG.

【図3】本発明のペリクルの第2実施形態について、図
1のAA断面に沿って示した断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a second embodiment of the pellicle of the present invention along the AA cross section in FIG. 1.

【図4】本発明に用いるペリクルフレームの1例を示す
斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing an example of a pellicle frame used in the present invention.

【図5】本発明に用いるペリクルフレームの他の例を示
す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing another example of the pellicle frame used in the present invention.

【図6】従来のペリクルについて、マスクに装着した状
態を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a conventional pellicle mounted on a mask.

【図7】図4のAA断面図である。7 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:ペリクル 2:ペリクル板 3:遮光体 4:接着剤 5:ペリクルフレーム 6:シール材 7:マスク 1: Pellicle 2: Pellicle board 3: Light shield 4: Adhesive 5: Pellicle frame 6: Seal material 7: Mask

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】合成石英ガラスからなるペリクル板を、接
着剤により枠状のペリクルフレームの開口部に接着して
なるペリクルにおいて、接着剤を紫外光照射から遮光す
るための第1の遮光体をペリクル板に備えるとともに、
ペリクルフレームは石英ガラスからなり、ペリクルフレ
ームのフレーム上表面およびフレーム下表面に第2の遮
光体を有することを特徴とするペリクル。
1. A pellicle obtained by adhering a pellicle plate made of synthetic quartz glass to an opening of a frame-shaped pellicle frame with an adhesive, wherein a first light shield for shielding the adhesive from ultraviolet light irradiation is provided. While preparing for the pellicle board,
The pellicle frame is made of quartz glass, and has a second light shield on the frame upper surface and the frame lower surface of the pellicle frame.
【請求項2】合成石英ガラスからなるペリクル板を、接
着剤により枠状のペリクルフレームの開口部に接着して
なるペリクルにおいて、接着剤を紫外光照射から遮光す
るための第1の遮光体をペリクル板に備えるとともに、
ペリクルフレームは石英ガラスからなり、ペリクルフレ
ームのフレーム外周表面およびフレーム内周表面に第2
の遮光体を有することを特徴とするペリクル。
2. A pellicle formed by adhering a pellicle plate made of synthetic quartz glass to an opening of a frame-shaped pellicle frame with an adhesive, and a first light shield for shielding the adhesive from ultraviolet light irradiation. While preparing for the pellicle board,
The pellicle frame is made of quartz glass, and the pellicle frame has a second outer surface and a second inner surface.
A pellicle having a light-shielding body.
【請求項3】第2の遮光体は、金属または金属酸化物か
らなることを特徴とする請求項1または2に記載のペリ
クル。
3. The pellicle according to claim 1, wherein the second light shield is made of metal or metal oxide.
【請求項4】第2の遮光体はクロム、アルミニウム、
鉄、銅、およびそれらの合金からなる群から選ばれた少
なくとも1種の金属からなることを特徴とする請求項3
記載のペリクル。
4. The second light shield is chromium, aluminum,
4. At least one metal selected from the group consisting of iron, copper and alloys thereof.
Pellicle as described.
【請求項5】第2の遮光体はクロム酸化物、シリカおよ
びアルミナからなる群から選ばれた少なくとも1種の金
属酸化物からなることを特徴とする請求項3記載のペリ
クル。
5. The pellicle according to claim 3, wherein the second light shield is made of at least one metal oxide selected from the group consisting of chromium oxide, silica and alumina.
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