JP2003155575A - 複合材料及びその製造方法 - Google Patents

複合材料及びその製造方法

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健 鈴木
Shuhei Ishikawa
修平 石川
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Abstract

(57)【要約】 【課題】メッキされた複合材料を半田層等の接合層によ
って他の物体に接合する場合において、接合層へのクラ
ックや膨れ・剥離並びにボイドの発生を抑制できるよう
にする。 【解決手段】複合素材に対してマスキングを行った後、
複合素材に対して前処理を行う。その後、複合素材の表
面を活性化した後、複合素材の接合面並びにマスキング
テープの表面に金属触媒を付与し、その後、無電解メッ
キ処理を行って、複合素材の接合面並びにマスキングテ
ープの表面にメッキ層を形成する。このメッキ層の厚み
は5〜100μmであることが好ましい。その後、複合
素材に貼着されていたマスキングテープを除去した後、
接合面のみメッキ層が形成された複合素材に対して乾燥
処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多孔質焼結体に金
属が含浸された複合素材を有し、接合層によって他の物
体に接合される複合材料及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近時、CPUを搭載したICチップ等に
使用されるヒートシンクの構成材料としては、単に熱伝
導度を考えるのみでなく、半導体基体であるシリコンや
GaAsと熱膨張率がほぼ一致し、しかも、熱伝導度の
高い材料の選定が必要となってきている。
【0003】ヒートシンク材の改善に関しては、多種多
様の報告があり、例えば窒化アルミニウム(AlN)を
使用した例や、Cu(銅)−W(タングステン)を用い
た例などがある。AlNは、熱伝導性と熱膨張性のバラ
ンスに優れており、特にSiの熱膨張率とほぼ一致する
ことから、半導体基体としてシリコン基板を用いた半導
体装置のヒートシンク材として好適である。
【0004】また、Cu−Wは、Wの低熱膨張性とCu
の高熱伝導性を兼ね備えた複合材料であり、しかも、焼
結成形が容易であることから、複雑な形状を有するヒー
トシンクの構成材料として好適である。
【0005】また、他の例としては、SiCを主成分と
するセラミック基材に金属Cuを20〜40vol%の
割合で含有させたもの(特開平8−279569号公報
参照)や、無機物質からなる粉末焼結多孔質体(多孔質
焼結体)にCuを5〜30wt%含浸させたもの(特開
昭59−228742号公報参照)などが提案されてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、多孔質焼結
体にCuを含浸させた複合材料をヒートシンクとして用
いる場合には、該複合材料を半田付けあるいはろう付け
等によって半導体回路や基板に接合するようにしてい
る。
【0007】しかしながら、上述の複合材料は半田やろ
う材に対する濡れ性(半田付け性、ろう付け性)が良好
でないという問題がある。そこで、前記複合材料の前記
濡れ性を良好にするためには、複合材料の表面にメッキ
層を形成することが有効であると考えられる。
【0008】複合材料にメッキ層を形成した場合には、
以下のような新たな問題が生じる。即ち、上述の複合材
料には、多少の残留気孔が存在する。このため、この残
留気孔に残留液(加工研削液やメッキ処理液)が浸透
し、半田付け時に気化して半田層にボイド(残留気泡)
が発生することになる。
【0009】具体的には、複合材料の表面に形成される
メッキ層の厚みが薄いと、メッキ層の未着部分が点在す
ることとなり、半田付け時にボイドが発生しやすくな
る。反対に前記メッキ層を厚くすると、半田付け時に前
記残留液の気化膨張時の応力で膨れや剥離が発生し、素
材とメッキ層の熱伝達が得られなくなる。
【0010】本発明はこのような課題を考慮してなされ
たものであり、メッキされた複合材料を半田層等の接合
層によって他の物体に接合する場合において、メッキ層
へのクラックや膨れ・剥離の発生並びに接合層へのボイ
ドの発生等を抑制することができる複合材料及びその製
造方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明に係る複合材料
は、多孔質焼結体に金属が含浸された複合素材を有し、
接合層によって他の物体に接合される複合材料であっ
て、前記複合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層
が形成される部分にメッキ層が形成されていることを特
徴とする。
【0012】これにより、接合層を介して他の物体に接
合する際、前記複合素材に残留していた液(切削液やメ
ッキ処理液等)が気化してガスとして流出することにな
るが、このとき、気化ガスは透過上の抵抗体として働く
メッキ層を避け、メッキ層が形成されていない部分ある
いはメッキ層が薄く形成された部分から流出することな
る。
【0013】そのため、本発明においては、気化ガスの
流出に伴うメッキ層へのクラックや膨れ・剥離の発生並
びに接合層へのボイドの発生等が抑制される。
【0014】そして、前記メッキ層は、第1のメッキ層
のみ、あるいは第1のメッキ層と第2のメッキ層で構成
されていてもよい。この場合、前記複合素材の表面のう
ち、少なくとも前記接合層が形成される部分に前記第1
のメッキ層が形成され、それ以外の部分には前記第2の
メッキ層が形成されていてもよいし、あるいは、前記複
合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層が形成され
る部分に前記第1のメッキ層が形成され、それ以外の部
分には前記第2のメッキ層が形成されていない構成も好
ましく採用される。
【0015】前記第1のメッキ層は、該第1のメッキ層
を透過する気化ガスによって前記接合層に発生するボイ
ド率が5%以下、好ましくは3%以下となるように形成
することが望ましい。あるいは、前記第1のメッキ層
は、残留液の気化ガスを透過しないことが好ましい。
【0016】また、前記第1のメッキ層は、該第1のメ
ッキ層を透過する気化ガスの体積が前記接合層の体積の
5%以下、好ましくは3%以下となるように形成するこ
とが望ましく、前記第1のメッキ層のリーク性は、5.
0×10-10cc−atm/sec以下、好ましくは
2.0×10-10cc−atm/sec以下であること
が望ましい。
【0017】また、前記第1のメッキ層は、前記複合素
材の表面に存在する開気孔を完全に被覆しているか、あ
るいは、前記開気孔を面積率で90%以上被覆している
か、あるいは前記開気孔を面積率で95%以上被覆して
いるか、あるいは前記開気孔を面積率で99%以上被覆
していることが好ましい。
【0018】また、前記第1のメッキ層は、少なくとも
最表面が無電解メッキによる層であってもよい。この場
合、前記第1のメッキ層は、:無電解メッキによる層
で、かつメッキクラックがないこと、あるいは、:無
電解メッキによる層で、かつ硬度が最高硬度の80%以
下であることが好ましい。
【0019】前記第1のメッキ層は、少なくとも最表面
が電解メッキによる層であってもよい。この場合、前記
第1のメッキ層は、少なくとも最表面がNiを含むこと
が好ましい。
【0020】また、前記第1のメッキ層は、無電解メッ
キによる層と電解メッキによる層とで構成されていても
よい。
【0021】また、前記第1のメッキ層は、気化ガスを
透過しない程度の厚み、あるいは前記複合素材の表面に
存在する開気孔の径の2倍以上の厚みを有することが好
ましい。具体的には、前記第1のメッキ層は、厚みが5
〜100μm、好ましくは5〜50μm、更に好ましく
は5〜30μm、より好ましくは15〜25μmである
とよい。
【0022】また、前記第1のメッキ層は、メッキ処理
を行った後、乾燥するという一連の処理をn回繰り返し
て形成するようにしてもよい。
【0023】一方、前記第2のメッキ層は、残留液が気
化除去しやすい厚みであることが好ましく、少なくとも
前記第1のメッキ層より残留液の気化ガスを透過しやす
いことが好ましい。具体的には、前記第2のメッキ層
は、厚みが10μm以下、好ましくは5μm以下、更に
好ましくは3μm以下であるとよい。
【0024】前記第2のメッキ層のリーク性は、5.0
×10-10cc−atm/sec以上、好ましくは1.
0×10-9cc−atm/sec以上であることが望ま
しい。
【0025】また、前記第2のメッキ層は、無電解メッ
キによる層であってもよいし、電解メッキによる層であ
ってもよい。あるいは無電解メッキによる層と電解メッ
キによる層で構成されていてもよい。
【0026】また、前記メッキ層は、少なくとも前記接
合層が形成される部分以外の部分をエッチングや研磨で
加工して薄膜化するようにしてもよい。
【0027】次に、本発明に係る複合材料の製造方法
は、多孔質焼結体に金属が含浸された複合素材を有し、
接合層によって他の物体に接合される複合材料の製造方
法において、前記複合素材の表面のうち、少なくとも前
記接合層が形成される部分にメッキ層を形成する工程を
含むことを特徴とする。
【0028】これにより、複合素材に残留する液の気化
ガスの流出に伴うメッキ層へのクラックや膨れ・剥離の
発生並びに接合層へのボイドの発生等が抑制され、複合
材料の品質並びに歩留まりを向上させることができる。
【0029】そして、前記メッキ層を第1のメッキ層の
み、あるいは第1のメッキ層と第2のメッキ層で形成す
るようにしてもよい。
【0030】この場合、前記複合素材の表面のうち、少
なくとも前記接合層が形成される部分に前記第1のメッ
キ層を形成し、それ以外の部分に前記第2のメッキ層を
形成するようにしてもよいし、あるいは前記複合素材の
表面のうち、少なくとも前記接合層が形成される部分に
前記第1のメッキ層を形成し、それ以外の部分には前記
第2のメッキ層を形成しないようにしてもよい。
【0031】また、本発明は、前記第1のメッキ層を形
成する部分以外の表面に、メッキ層が形成されないよう
にする工程を含むようにしてもよいし、あるいは前記第
1のメッキ層を形成する部分以外の表面にマスキング処
理を施す工程を含むようにしてもよい。
【0032】また、本発明は、前記第2のメッキ層を形
成した後、前記第1のメッキ層を形成する部分以外の第
2のメッキ層にマスキング処理を施した後、第1のメッ
キ層を形成する工程を含むようにしてもよいし、あるい
は前記第1のメッキ層を形成した後、少なくとも前記接
合層が形成される部分以外の部分をエッチングや研磨で
加工するようにしてもよい。
【0033】そして、前記メッキ層を形成した後、乾燥
処理を行うことが好ましい。この場合、前記乾燥処理
は、少なくとも水分が気化除去可能な温度と時間で実施
することが好ましい。
【0034】具体的には、前記乾燥処理は、30〜60
0℃の任意の温度で1〜300分の任意の時間保持する
ことが好ましく、更に好ましくは200〜400℃の任
意の温度で1〜300分の任意の時間保持する、より好
ましくは200〜300℃の任意の温度で1〜120分
の任意の時間保持するとよい。
【0035】また、前記乾燥処理は、前記メッキ層の酸
化を抑制する雰囲気で行うことが好ましい。この場合、
前記雰囲気は、不活性ガス雰囲気、真空雰囲気、及び還
元雰囲気から選択することができる。特に、前記還元雰
囲気を選択した場合は、水素が3%以上の雰囲気である
ことが好ましく、更に好ましくは、水素が30%以上の
雰囲気であり、より好ましくは、水素が90%以上の雰
囲気であるとよい。
【0036】また、前記乾燥処理は、前記第1のメッキ
層及び第2のメッキ層に膨れを発生させない昇温レート
で行うことが好ましい。この場合、前記昇温レートは、
400℃/hr以下であることが好ましく、更に好まし
くは、100℃/hr以下であり、より好ましくは50
℃/hr以下であるとよい。
【0037】また、前記乾燥処理は、残留液の気化温度
付近で保持するヒートプログラムで実施することが好ま
しい。
【0038】なお、前記第1のメッキ層及び第2のメッ
キ層は、メッキ処理を行った後、乾燥するという一連の
処理をn回繰り返して形成するようにしてもよい。この
場合、前記メッキ処理を行う前に、被メッキ処理面に金
属触媒を付与する処理を行ったり、被メッキ処理面を活
性化する処理を行うことが好ましい。
【0039】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る複合材料及び
その製造方法の実施の形態例を図1〜図18を参照しな
がら説明する。
【0040】まず、第1の実施の形態に係る複合材料1
0Aは、図1に示すように、カーボン又はその同素体、
あるいはSiCを予備焼成してネットワーク化すること
によって得られる多孔質焼結体12に金属14が含浸さ
れた複合素材16の表面にメッキ層18が形成されて構
成されている。金属14は、Cu、Al、Agから選択
された少なくとも1種、あるいはこれらの合金が用いら
れる。
【0041】この場合、前記カーボン又はその同素体、
あるいはSiCとして、熱伝導率が100W/mK以
上、望ましくは150W/mK以上(気孔がない状態で
の推定値)、更に望ましくは200W/mK以上(気孔
がない状態での推定値)のものを使用することが好まし
い。
【0042】本例では、熱伝導率が100W/mK以上
のグラファイト、あるいはSiCで構成された多孔質焼
結体12の開気孔に銅を含浸させた複合素材16を示
す。含浸する金属14としては、銅のほかに、アルミニ
ウムや銀を使用することができる。
【0043】また、多孔質焼結体12と金属14との体
積率は、多孔質焼結体12が50vol%〜80vol
%、金属14が50vol%〜20vol%の範囲とし
ている。これにより、熱伝導率が180〜220W/m
K以上であって、かつ、熱膨張率が4×10-6/℃〜7
×10-6/℃である複合素材16を得ることができる。
【0044】前記多孔質焼結体12の気孔率としては、
10vol%〜50vol%であることが望ましい。気
孔率が10vol%以下では、180W/mK(室温)
の熱伝導率を得ることができず、50vol%を超える
と多孔質焼結体12の強度が低下し、熱膨張率を15.
0×10-6/℃以下に抑えることができないからであ
る。
【0045】前記多孔質焼結体12の平均開気孔径(気
孔径)の値としては、0.1〜200μmが望ましい。
前記気孔径が0.1μm未満であると、開気孔内に金属
14を含浸することが困難になり、熱伝導率が低下す
る。一方、前記気孔径が200μmを超えると、多孔質
焼結体12の強度が低下し、熱膨張率を低く抑えること
ができない。
【0046】前記多孔質焼結体12の平均開気孔に関す
る分布(気孔分布)としては、0.5〜50μmに90
vol%以上分布することが好ましい。0.5〜50μ
mの気孔が90vol%以上分布していない場合は、金
属14が含浸していない開気孔が増え、熱伝導率が低下
する可能性がある。
【0047】また、多孔質焼結体12に金属14を含浸
して得た複合素材16の閉気孔率としては、5vol%
以下であることが好ましい。5vol%を超えると、熱
伝導率が低下する可能性があるからである。
【0048】なお、前記気孔率、気孔径及び気孔分布の
測定には、株式会社島津製作所製の自動ポロシメータ
(商品名「オートポア9200」)を使用した。
【0049】この第1の実施の形態に係る複合材料10
Aにおいて、例えばグラファイトを用いた場合は、該グ
ラファイトを予備焼成した際の閉気孔率を低減させる添
加物を添加させることが好ましい。この添加物として
は、SiC及び/又はSiを挙げることができる。これ
により、焼成時の閉気孔(クローズドポア)を減少させ
ることができ、多孔質焼結体12に対する金属14の含
浸率を向上させることができる。
【0050】また、グラファイト中に、該グラファイト
と反応し、カーバイド層を形成する元素を添加するよう
にしてもよい。この添加元素としては、Nb、Cr、Z
r、Be、V、Mo、Al、Ta、Mn、Si、Fe、
Co、Ni、Mg、Ca、W、Ti、B、ミッシュメタ
ルから選択された1種以上を挙げることができる。これ
により、グラファイトの焼成時に、該グラファイトの表
面(開気孔の表面を含む)に反応層(カーバイド層)が
形成され、グラファイトの開気孔に含浸される金属14
との濡れ性が改善し、低圧での含浸が可能になり、しか
も、微細開気孔への含浸も可能になる。
【0051】一方、多孔質焼結体12に含浸される金属
14に、Te、Bi、Pb、Sn、Se、Li、Sb、
Tl、Ca、Cd、Niから選択された1種以上を添加
することが好ましい。これにより、多孔質焼結体12と
金属14との界面の濡れ性が改善され、多孔質焼結体1
2の開気孔内に金属14が入り易くなる。特に、Ni
は、カーボンを溶解しやすく含浸しやすいという効果が
ある。
【0052】また、多孔質焼結体12に含浸される金属
14に、Nb、Cr、Zr、Be、Ti、Ta、V、
B、Mnから選択された1種以上を添加することが好ま
しい。これにより、グラファイトと金属14との反応性
が向上し、開気孔内においてグラファイトと金属14と
が密着し易くなり、閉気孔の発生を抑制することができ
る。
【0053】また、多孔質焼結体12に含浸される金属
14に、固相/液相の温度範囲が30℃以上、望ましく
は50℃以上の元素、例えばSn、P、Si、Mgから
選択された1種以上を添加することが好ましい。これに
より、含浸の際のばらつきを低減することができる。ま
た、前記金属14に、融点を低減させるための元素を添
加することが好ましい。この添加元素としては、例えば
Znなどがある。
【0054】ところで、上述の複合素材16には、多少
の残留気孔が存在する。このため、複合素材16の表面
にメッキ層18を形成する場合、前記残留気孔に加工研
削液やメッキ処理液が浸透し、通常は、半田付け時に気
化して半田層にボイド(残留気泡)が発生することにな
る。
【0055】しかし、第1の実施の形態では、複合素材
16の表面におけるメッキ層18を以下の工程を踏んで
形成するようにしている。即ち、複合素材16の表面の
うち、少なくとも前記半田層が形成される部分にメッキ
層18を形成する。
【0056】例えば複合素材16をヒートシンク材とし
て使用する場合を想定すると、図2に示すように、該複
合素材16上に絶縁基板20を介して例えばICチップ
22が実装されることになるが、複合素材16への絶縁
基板20の接合並びに絶縁基板20へのICチップ22
の接合は例えば半田層24によって行われることにな
る。そこで、複合素材16の半田層24に対する濡れ性
を良好とするために、複合素材16の表面のうち、半田
層24が形成される接合面16a(例えば上面)にメッ
キ層18を形成し、その他の面(例えば下面及び4つの
側面)にはメッキ層18を形成しない。
【0057】ここで、第1の実施の形態に係る複合材料
10Aの製造方法の具体例(第1の製造方法)について
及び図3〜図8を参照しながら説明する。
【0058】この第1の製造方法は、まず、図3のステ
ップS1において、カーボン又はその同素体、あるいは
SiCを予備焼成してネットワーク化することによって
得られる多孔質焼結体12に金属14が含浸された複合
素材16を作製する。
【0059】その後、ステップS2において、複合素材
16に対してマスキングを行う。このマスキングは、例
えば図4の「(1)マスキング」の工程に示すように、
ほぼ直方体状の複合素材16の表面のうち、接合面16
aを除く面(例えば下面並びに4つの側面)にマスキン
グテープを貼り付ける。もちろん、マスキングテープに
代えて通常のフォトレジスト膜等を使用することができ
る。
【0060】その後、ステップS3において、マスキン
グされた複合素材16に対して前処理を行う。この前処
理は、例えば図4の「(2)前処理」の工程に示すよう
に、アルカリ脱脂処理及びクリーナーコンディショナー
処理が挙げられる。この前処理にて使用される薬品、濃
度、温度の例を図4に示す。この図4において、UF−
80K及びACL−009は共に上村工業製の薬品であ
る。
【0061】その後、図3のステップS4において、複
合素材16の表面を活性化処理する。この活性化処理
は、例えば図4の「(3)活性化1」の工程に示すよう
に、エッチング処理及び酸洗処理が挙げられる。この活
性化処理にて使用される薬品、濃度、温度の例を図4に
示す。
【0062】そして、その後に、無電解メッキ処理を行
う場合は、該無電解メッキ処理に先立って、図3のステ
ップS5において、複合素材16の少なくとも接合面1
6aに金属触媒を付与する。この金属触媒付与の条件
(薬品、濃度、温度)を、例えば図4の「(4)触媒付
与」の工程の欄に示す。この図4において、PED−1
04、AT−105及びAT−106は共に上村工業製
の薬品である。
【0063】なお、無電解メッキ処理に代えて電解メッ
キ処理を行う場合は、後述するように、該工程(図3の
ステップS5)を省略することができる。従って、図3
では、ステップS5をかっこ書きで示す。
【0064】その後、図3のステップS6において、無
電解メッキ処理を行って、複合素材16の少なくとも接
合面16aにメッキ層18を形成する。この無電解メッ
キ処理は、例えば図5の「(5)無電解メッキ」の工程
に示すように、NiPの無電解メッキ処理を行った後
に、NiBの無電解メッキ処理を行うことが挙げられ
る。これらの無電解メッキ処理の条件を図5に示す。こ
の図5において、ニムデンSX、SX−M、SX−A、
BEL−980、BEL−980M、BEL−980
S、BEL−980P、BEL−980T、BEL−9
80Rはいずれも上村工業製の薬品である。
【0065】このメッキ層18の厚みt(図8参照)
は、複合素材16に残留する液の気化ガスがメッキ層1
8を透過しない程度の厚み、あるいは、複合素材16に
存在する開気孔を被覆できる程度の厚みを有することが
好ましい。ここで、複合素材16に存在する開気孔を被
覆できる程度の厚みとは、複合素材16に存在する開気
孔の平均径の2倍程度の厚みを示す。
【0066】気化ガスの透過性(リーク性)で見た場
合、メッキ層18のリーク性は、5.0×10-10cc
−atm/sec以下であることが好ましく、更に好ま
しくは、2.0×10-10cc−atm/sec以下で
ある。
【0067】具体的には、メッキ層18の厚みtは、5
〜100μmであり、好ましくは5〜50μm、更に好
ましくは5〜30μm、より好ましくは15〜25μm
である。
【0068】その後、図3のステップS7において、マ
スキングテープの剥離処理を行う。この処理は、例えば
ピンセット等を使用して、メッキ処理された複合素材1
6の側面をつまんで、マスキングテープをメッキ層18
から露出させた後、該マスキングテープを剥がすことに
より簡単に行うことができる。この剥離処理にて、図8
に示すように、複合素材16の接合面16aのみにメッ
キ層18が残存することになる。
【0069】マスキングテープの代わりにフォトレジス
ト膜を使用した場合は、メッキ済みの複合素材16をフ
ォトレジスト膜が溶解する液中に浸漬させることにより
行う。この処理によって、フォトレジスト膜の表面に形
成されていたメッキ層18はフォトレジスト膜と共に除
去され(リフトオフ法)、結果的に、図8に示すよう
に、複合素材16の接合面16aのみにメッキ層18が
残存することになる。
【0070】その後、図3のステップS8において、接
合面16aにメッキ層18が形成された複合素材16に
対して乾燥処理を行う。この乾燥処理は、例えば図6の
「(8)乾燥」の工程に示すように、予備乾燥を行った
後に、本乾燥を行うことが挙げられる。予備乾燥及び本
乾燥の条件を図6に示す。この乾燥処理では、メッキ層
18の酸化を抑制する雰囲気、例えば還元雰囲気、不活
性ガス雰囲気、真空雰囲気で行うことが好ましい。つま
り、この乾燥処理工程は、要するに残留物の気化除去が
酸化しない条件で実施されることが好ましい。従って、
前記乾燥処理の雰囲気は、酸化を抑制するため、水素3
%以上の雰囲気、望ましくは水素30%以上の雰囲気、
さらに望ましくは水素90%以上の雰囲気がよい。
【0071】また、前記乾燥処理においては、少なくと
も水分が気化除去可能な温度と時間で実施することが好
ましく、メッキ層18の硬度が最高硬度の80%以下の
硬度になるような、あるいはHV750以下になるよう
な温度と時間で行うことが好ましい。
【0072】ここで、メッキ層18へのクラックの発生
原因について説明すると、例えばNiPメッキ層を例に
した場合、メッキ層18の時効析出によってメッキ層1
8自体が硬度アップ、延性低下、寸法収縮等が生じる。
その結果、母材である複合素材16との熱応力差に追従
できずにクラックが発生することになる。この時効析出
は、例えばメッキ処理後に行われる乾燥処理の熱履歴で
発生することが判明した。
【0073】そこで、メッキ層18へのクラックの発生
を防止するためには、上述の条件を満足する温度と時間
に基づいたヒートプログラムで実施することが好まし
い。具体的には、乾燥処理は、30〜600℃の任意の
温度で1〜300分の任意の時間保持することが好まし
く、更に好ましくは200〜400℃の任意の温度で1
〜300分の任意の時間保持する、より好ましくは20
0〜300℃の任意の温度で1〜120分の任意の時間
保持するとよい。
【0074】また、前記乾燥処理は、メッキ層18に膨
れを発生させない昇温レートで行うことが好ましい。こ
の場合、前記昇温レートは、400℃/hr以下である
ことが好ましく、更に好ましくは、200℃/hr以下
であり、より好ましくは50℃/hr以下である。
【0075】前記ステップS8での乾燥処理が終了した
段階で、第1の実施の形態に係る複合材料10Aが完成
するが、その後、ステップS9において、保管がなされ
るか、あるいは梱包(ステップS9a:かっこ書きで示
す)、出荷されて、例えばユーザの元で保管される。
【0076】そして、必要な場合に、前記保管されてい
た複合材料10Aの半田接合が行われることになる(ス
テップS10)。
【0077】例えば、図2に示すように、複合素材16
にて構成されたヒートシンク材に対して半田層24を介
して絶縁基板20を接合する際、複合素材16に残留し
ていた液(切削液やメッキ処理液等)が気化してガスと
して流出することになるが、このとき、気化ガスは透過
上の抵抗体として働くメッキ層18を避け、メッキ層1
8が形成されていない部分から流出することになる。
【0078】そのため、この第1の実施の形態において
は、気化ガスの流出に伴うメッキ層18へのクラックや
膨れ・剥離の発生並びに半田層24へのボイドの発生等
が抑制される。
【0079】なお、保管の際には、アルミホイル等の密
閉性の高い材料を使用して梱包し、更には乾燥剤の併用
でシンター処理直後の品質を維持するようにしてもよ
い。このような処置を施すことで、保管後の半田接合時
にボイドが発生するということを回避することができ
る。
【0080】上述の例では、メッキ層18を無電解メッ
キ処理で形成した場合を示したが、その他、電解メッキ
処理で形成するようにしてもよい。この場合、図3に示
すステップS5での触媒付与工程を省略することができ
る。また、ステップS6で行われる電解メッキ処理は、
例えば図5の「(6)電解メッキ」の工程に示すような
条件で行うことができる。
【0081】次に、第2の実施の形態に係る複合材料1
0Bについて図9を参照しながら説明する。
【0082】この第2の実施の形態に係る複合材料10
Bは、図9に示すように、上述した第1の実施の形態に
係る複合材料10Aとほぼ同様の構成を有するが、複合
素材16の表面に薄いメッキ層18bが形成され、更
に、該薄いメッキ層18bが形成された複合素材16の
表面のうち、少なくとも前記半田層24(図2参照)が
形成される部分に厚いメッキ層18aが形成されている
点で異なる。従って、複合素材16の接合面16aには
下層の薄いメッキ層18bと上層の厚いメッキ層18a
による積層メッキ層18が形成されたかたちとなる。
【0083】この第2の実施の形態に係る複合材料10
Bにおいては、複合素材16にて構成されたヒートシン
ク材に対して半田層24を介して絶縁基板20を接合す
る際、複合素材16に残留していた液(切削液やメッキ
処理液等)が気化してガスとして流出することになる
が、このとき、気化ガスは透過上の抵抗体として働く積
層メッキ層18が形成された部分を避け、薄いメッキ層
18bが形成された部分を通じて流出することになる。
【0084】そのため、この第2の実施の形態において
も、気化ガスの流出に伴う積層メッキ層18へのクラッ
クや膨れ・剥離の発生並びに半田層24へのボイドの発
生等が抑制される。
【0085】特に、この第2の実施の形態においては、
表面に薄いメッキ層18bが形成された形態となるた
め、半田付けの際のハンドリングが良好になると共に、
外観的にも良好であり、湿気の吸収も低減することがで
きる。
【0086】次に、この第2の実施の形態に係る複合材
料10Bの製造方法の具体例(第2の製造方法)につい
て図4〜図7並びに図9及び図10を参照しながら説明
する。なお、上述した第1の製造方法と重複する部分は
簡単な説明で留める。
【0087】まず、図10のステップS101におい
て、複合素材16を作製し、その後、ステップS102
において、複合素材16に対して前処理を行う。この前
処理は、例えば図4の「(2)前処理」の工程に示すよ
うに、アルカリ脱脂処理及びクリーナーコンディショナ
ー処理が挙げられる。
【0088】その後、図10のステップS103におい
て、複合素材16の表面を活性化処理する。この活性化
処理は、例えば図4の「(3)活性化1」の工程に示す
ように、エッチング処理及び酸洗処理が挙げられる。
【0089】そして、その後に、無電解メッキ処理を行
う場合は、該無電解メッキ処理に先立って、図10のス
テップS104において、複合素材16の表面に金属触
媒を付与する。この金属触媒付与の条件(薬品、濃度、
温度)を、例えば図4の「(4)触媒付与」の工程の欄
に示す。
【0090】なお、無電解メッキ処理に代えて電解メッ
キ処理を行う場合は、上述したように、該工程(ステッ
プS104)を省略することができる。従って、図10
では、ステップS104をかっこ書きで示す。
【0091】その後、ステップS105において、無電
解メッキ処理を行って、図9に示すように、複合素材1
6の表面に薄いメッキ層18bを形成する。この無電解
メッキ処理は、例えば図5の「(5)無電解メッキ」の
工程のうち、NiPの無電解メッキ処理が挙げられる。
【0092】この薄いメッキ層18bの厚みt2は、残
留液が気化除去しやすい厚み、少なくとも前記厚いメッ
キ層18a(図9参照)より残留液の気化ガスを透過し
やすい厚みであることが好ましい。
【0093】気化ガスの透過性(リーク性)で見た場
合、薄いメッキ層18bのリーク性は、5.0×10
-10cc−atm/sec以上であることが好ましく、
更に好ましくは、1.0×10-9cc−atm/sec
以上であるとよい。
【0094】具体的には、薄いメッキ層18bの厚みt
2は、10μm以下、好ましくは5μm以下、更に好ま
しくは3μm以下であるとよい。
【0095】その後、ステップS106において、表面
に薄いメッキ層18bが形成された複合素材16に対し
て乾燥処理を行う。この乾燥処理は、例えば図6の
「(8)乾燥」の工程に示すように、予備乾燥を行った
後に、本乾燥を行うことが挙げられる。
【0096】その後、図10のステップS107におい
て、表面に薄いメッキ層18bが形成された複合素材1
6に対してマスキングを行う。このマスキングは、例え
ば図6の「(9)マスキング」の工程に示すように、表
面に薄いメッキ層18bが形成された複合素材16の表
面のうち、接合面16aを除く面(例えば下面並びに4
つの側面)にマスキングテープを貼り付ける。もちろ
ん、マスキングテープの代わりにフォトレジスト膜等を
用いてもよい。
【0097】その後、ステップS108において、マス
キングされた複合素材16に対して前処理を行う。この
前処理は、例えば図6の「(10)前処理」の工程に示
すように、アルカリ脱脂処理及びクリーナーコンディシ
ョナー処理が挙げられる。この前処理にて使用される薬
品、濃度、温度の例を図6に示す。
【0098】その後、図10のステップS109におい
て、複合素材16の表面を活性化処理する。この活性化
処理は、例えば図6の「(11)活性化2」の工程に示
すように、シアン化活性処理が挙げられる。この活性化
処理にて使用される薬品、濃度、温度の例を図6に示
す。
【0099】そして、その後に、無電解メッキ処理を行
う場合は、該無電解メッキ処理に先立って、図10のス
テップS110において、複合素材16の少なくとも接
合面16a(薄いメッキ層18bが露出している面)に
金属触媒を付与する。この金属触媒付与の条件(薬品、
濃度、温度)を、例えば図6の「(12)触媒付与」の
工程の欄に示す。なお、無電解メッキ処理に代えて電解
メッキ処理を行う場合は、後述するように、該工程(図
10のステップS110)を省略することができる。
【0100】その後、ステップS111において、無電
解メッキ処理を行って、図9に示すように、複合素材1
6の少なくとも接合面16a(薄いメッキ層18bが露
出している面)に厚いメッキ層18aを形成する。この
無電解メッキ処理は、例えば図7の「(13)無電解メ
ッキ」の工程に示すように、NiPの無電解メッキ処理
を行った後に、NiBの無電解メッキ処理を行うことが
挙げられる。これらの無電解メッキ処理の条件を図7に
示す。
【0101】このメッキ処理によって、複合素材16の
接合面16aには、薄いメッキ層18bと厚いメッキ層
18aとによる積層メッキ層18が形成されることにな
る。
【0102】積層メッキ層18の厚みt(=t1+t
2:図9参照)は、第1の実施の形態に係る複合材料1
0Aのメッキ層18と同様に、複合素材16に残留する
液の気化ガスが積層メッキ層18を透過しない程度の厚
み、あるいは、複合素材16に存在する開気孔を被覆で
きる程度の厚みを有することが好ましい。具体的には、
5〜100μm、好ましくは5〜50μm、更に好まし
くは5〜30μm、より好ましくは15〜25μmであ
るとよい。
【0103】その後、図10のステップS112におい
て、マスキングテープの剥離処理を行う。この処理によ
って、図9に示すように、複合素材16の接合面16a
には積層メッキ層18が残存し、複合素材16の下面及
び4つの側面には薄いメッキ層18bが残存することに
なる。
【0104】その後、ステップS113において、接合
面16aに積層メッキ層18が形成された複合素材16
に対して乾燥処理を行う。この乾燥処理は、例えば図7
の「(16)乾燥」の工程に示すように、予備乾燥を行
った後に、本乾燥を行うことが挙げられる。予備乾燥及
び本乾燥の条件を図7に示す。
【0105】前記ステップS106及びこのステップS
113での乾燥処理の好ましい態様(雰囲気、硬度、温
度、時間、昇温レート等)は、上述した第1の実施の形
態と同様であるため、ここではその重複説明を省略す
る。
【0106】前記ステップS113での乾燥処理が終了
した段階で、第2の実施の形態に係る複合材料10Bが
完成するが、その後、ステップS114において、保管
がなされるか、あるいは梱包(ステップS114a:か
っこ書きで示す)、出荷されて、例えばユーザの元で保
管される。
【0107】そして、必要な場合に、前記保管されてい
た複合材料10Bの半田接合が行われることになる(ス
テップS115)。
【0108】上述の例では、薄いメッキ層18b及び厚
いメッキ層18aを共に無電解メッキ処理で形成した場
合を示したが、その他、薄いメッキ層18bを無電解メ
ッキ処理で形成し、厚いメッキ層18aを電解メッキ処
理で形成してもよい。もちろん、薄いメッキ層18b及
び厚いメッキ層18aを共に電解メッキ処理で形成する
ようにしてもよい。電解メッキ処理を行う場合は、図1
0に示すステップS104やステップS110での触媒
付与工程を省略することができる。また、薄いメッキ層
18bを電解メッキ処理で形成する場合は、例えば図5
の「(6)電解メッキ」の工程に示すような条件で行う
ことができ、厚いメッキ層18aを電解メッキ処理で形
成する場合は、例えば図7の「(14)電解メッキ」の
工程に示すような条件で行うことができる。
【0109】次に、第2の実施の形態に係る複合材料1
0Bの製造方法の他の具体例(変形例に係る製造方法)
について図11及び図12を参照しながら説明する。
【0110】この変形例に係る製造方法は、上述した第
2の製造方法とほぼ同じ工程を含むが、ステップS10
7のマスキング処理が異なる。具体的には、図12に示
すように、表面に薄いメッキ層18bが形成された2つ
の複合素材16を上下に重ね合わせたものを1組のブロ
ック16Bとしたとき、数組のブロック16Bを並べ、
更にこの数組のブロック16Bを枠50内に収容したも
のを用意し、この状態で次の工程に投入する。
【0111】つまり、各複合素材16の1つの面(接合
面16a)以外の面(下面及び4つの側面)を、隣接す
る複合素材16あるいは枠50によって隠すことによっ
て、各複合素材16において接合面16aのみを露出さ
せた形態とする。もちろん、複合素材16を2枚合わせ
てなる前記ブロック16Bの状態で次の工程に投入して
もよい。
【0112】その後、図11のステップS108の前処
理、ステップS109の活性化処理、ステップS110
の触媒付与(その後に電解メッキ処理を行う場合は省
略)、ステップS111のメッキ処理(厚いメッキ層1
8aの形成)を経ることにより、図9に示すように、複
合素材16の接合面16aのみに厚いメッキ層18aが
形成されることになる。このメッキ処理によって、複合
素材16の接合面16aには、厚いメッキ層18aと薄
いメッキ層18bとによる積層メッキ層18が形成され
る。
【0113】その後、図11のステップS112におい
て、図12に示す枠50を解体、あるいは取り外して、
数組のブロック16Bを個々の複合素材16に分離す
る。その後、ステップS113の乾燥処理を経て、第2
の実施の形態に係る複合材料10Bを得る。
【0114】この方法では、枠50だけ用意すれば、マ
スキングテープが不要となるため、コスト的にも有利で
あり、また、多数個の複合素材16を一度に処理するこ
とが可能となるため、工数の低減を図る上で有利とな
る。
【0115】次に、第3の実施の形態に係る複合材料1
0Cについて図13を参照しながら説明する。
【0116】この第3の実施の形態に係る複合材料10
Cは、図13に示すように、上述した第2の実施の形態
に係る複合材料10Bとほぼ同様の構成を有するが、複
合素材16の少なくとも半田層24(図2参照)が形成
される部分(接合面16a)に直接厚いメッキ層18a
が形成され、更に、前記厚いメッキ層18aの形成され
た複合素材16の表面(厚いメッキ層18aの表面を含
む)に薄いメッキ層18bが形成されている点で異な
る。従って、複合素材16の接合面16aには下層の厚
いメッキ層18aと上層の薄いメッキ層18bによる積
層メッキ層18が形成されたかたちとなる。
【0117】この第3の実施の形態に係る複合材料10
Cにおいては、前記第2の実施の形態に係る複合材料1
0Bと同様に、複合素材16にて構成されたヒートシン
ク材に対して半田層24を介して絶縁基板20を接合す
る際、複合素材16に残留していた液(切削液やメッキ
処理液等)が気化してガスとして流出することになる
が、このとき、気化ガスは透過上の抵抗体として働く積
層メッキ層18が形成された部分を避け、薄いメッキ層
18bが形成された部分を通じて流出することになる。
【0118】そのため、この第3の実施の形態において
も、気化ガスの流出に伴う積層メッキ層18へのクラッ
クや膨れ・剥離の発生並びに半田層24へのボイドの発
生等が抑制される。
【0119】また、この第3の実施の形態においても、
表面に薄いメッキ層18bが形成された形態となるた
め、半田付けの際のハンドリングが良好になると共に、
外観的にも良好であり、湿気の吸収も低減することがで
きる。
【0120】次に、この第3の実施の形態に係る複合材
料10Cの製造方法の具体例(第3の製造方法)につい
て図4〜図7並びに図14を参照しながら説明する。な
お、上述した第2の製造方法と重複する部分は簡単な説
明で留める。
【0121】まず、図14のステップS201におい
て、複合素材16を作製し、その後、ステップS202
において、複合素材16に対してマスキングを行う。こ
のマスキングは、複合素材16の表面のうち、接合面1
6aを除く面(例えば下面並びに4つの側面)にマスキ
ングテープを貼り付けることにより行われる。もちろ
ん、マスキングテープの代わりにフォトレジスト膜等を
用いてもよい。
【0122】その後、ステップS203において、複合
素材16に対して前処理(アルカリ脱脂処理及びクリー
ナーコンディショナー処理)を行い、その後、ステップ
S204において、複合素材16の表面を活性化処理
(エッチング処理及び酸洗処理)する。
【0123】そして、その後に、無電解メッキ処理を行
う場合は、該無電解メッキ処理に先立って、ステップS
205において、複合素材16の接合面16a及びマス
キングテープの表面に金属触媒を付与する。なお、無電
解メッキ処理に代えて電解メッキ処理を行う場合は、上
述したように、該工程(ステップS205)を省略する
ことができる。
【0124】その後、ステップS206において、無電
解メッキ処理を行って、複合素材16の接合面16a及
びマスキングテープの表面に厚いメッキ層18aを形成
する。この無電解メッキ処理は、例えば図7の「(5)
無電解メッキ」の工程に示すように、NiPの無電解メ
ッキ処理を行った後に、NiBの無電解メッキ処理を行
うことが挙げられる。この厚いメッキ層18aの好まし
い厚みは、第2の実施の形態に係る複合材料10Bにお
ける厚いメッキ層18aの厚みと同様に、5〜100μ
m、好ましくは5〜50μm、更に好ましくは5〜30
μm、より好ましくは15〜25μmであるとよい。
【0125】その後、ステップS207において、マス
キングテープの剥離処理を行う。この処理によって、複
合素材16の接合面16aのみに厚いメッキ層18aが
残存することになる。その後、ステップS208におい
て、接合面16aに厚いメッキ層18aが形成された複
合素材16に対して乾燥処理(予備乾燥処理及び本乾燥
処理)を行う。
【0126】その後、ステップS209において、乾燥
後の複合素材16に対して前処理(アルカリ脱脂処理及
びクリーナーコンディショナー処理)を行った後、ステ
ップS210において、複合素材16の表面を活性化処
理(シアン化活性処理)する。
【0127】そして、その後に、無電解メッキ処理を行
う場合は、該無電解メッキ処理に先立って、ステップS
211において、複合素材16の表面(厚いメッキ層1
8aの表面を含む)に金属触媒を付与する。なお、無電
解メッキ処理に代えて電解メッキ処理を行う場合は、後
述するように、該工程(ステップS211)を省略する
ことができる。
【0128】その後、ステップS212において、無電
解メッキ処理を行って、図13に示すように、複合素材
16の表面(厚いメッキ層18aの表面を含む)に薄い
メッキ層18bを形成する。このメッキ処理によって、
複合素材16の接合面16aには、厚いメッキ層18a
と薄いメッキ層18bとによる積層メッキ層18が形成
されることになる。
【0129】その後、ステップS213において、接合
面16aに積層メッキ層18が形成された複合素材16
に対して乾燥処理(予備乾燥処理及び本乾燥処理)を行
う。
【0130】前記ステップS208及びこのステップS
213での乾燥処理の好ましい態様(雰囲気、硬度、温
度、時間、昇温レート等)は、上述した第1の実施の形
態と同様であるため、ここではその重複説明を省略す
る。
【0131】前記ステップS213での乾燥処理が終了
した段階で、第3の実施の形態に係る複合材料10Cが
完成するが、その後、ステップS214において、保管
がなされるか、あるいは梱包(ステップS214a:か
っこ書きで示す)、出荷されて、例えばユーザの元で保
管される。
【0132】そして、必要な場合に、前記保管されてい
た複合材料10Cの半田接合が行われることになる(ス
テップS215)。
【0133】上述の例では、厚いメッキ層18a及び薄
いメッキ層18bを共に無電解メッキ処理で形成した場
合を示したが、その他、厚いメッキ層18aを無電解メ
ッキ処理で形成し、薄いメッキ層18bを電解メッキ処
理で形成してもよい。もちろん、厚いメッキ層18a及
び薄いメッキ層18bを共に電解メッキ処理で形成する
ようにしてもよい。電解メッキ処理を行う場合は、図1
4に示すステップS205やステップS211での触媒
付与工程を省略することができる。
【0134】次に、第4の実施の形態に係る複合材料1
0Dについて図15を参照しながら説明する。
【0135】この第4の実施の形態に係る複合材料10
Dは、上述した第1の実施の形態に係る複合材料10A
とほぼ同様の構成を有するが、図15に示すように、複
合素材16の表面に形成されたメッキ層18のうち、一
部(例えば複合素材16の下面に対応する部分及び/又
は4つの側面に対応する部分)がエッチング処理あるい
は研磨処理されて、該一部のメッキ層18が薄膜化され
ている点で異なる。
【0136】この第4の実施の形態に係る複合材料10
Dにおいては、前記第2の実施の形態に係る複合材料1
0Bと同様に、複合素材16にて構成されたヒートシン
ク材に対して半田層24を介して絶縁基板20を接合す
る際、複合素材16に残留していた液(切削液やメッキ
処理液等)が気化してガスとして流出することになる
が、このとき、気化ガスは透過上の抵抗体として働くメ
ッキ層18が形成された部分を避け、メッキ層18が薄
膜化された部分を通じて流出することになる。
【0137】そのため、この第4の実施の形態において
も、気化ガスの流出に伴うメッキ層18へのクラックや
膨れ・剥離の発生並びに半田層24へのボイドの発生等
が抑制される。
【0138】また、この第4の実施の形態においても、
表面にメッキ層18が形成された形態となるため、半田
付けの際のハンドリングが良好になると共に、外観的に
も良好であり、湿気の吸収も低減することができる。
【0139】次に、この第4の実施の形態に係る複合材
料10Dの製造方法の具体例(第4の製造方法)につい
て図16を参照しながら説明する。なお、上述した第1
の製造方法と重複する部分は簡単な説明で留める。
【0140】まず、図16のステップS301におい
て、複合素材16を作製し、その後、ステップS302
において、複合素材16に対して前処理(アルカリ脱脂
処理及びクリーナーコンディショナー処理)を行い、次
いで、ステップS303において、複合素材16の表面
を活性化処理(エッチング処理及び酸洗処理)する。
【0141】そして、その後に、無電解メッキ処理を行
う場合は、該無電解メッキ処理に先立って、ステップS
304において、複合素材16の表面に金属触媒を付与
する。なお、無電解メッキ処理に代えて電解メッキ処理
を行う場合は、上述したように、該工程(ステップS3
04)を省略することができる。
【0142】その後、ステップS305において、無電
解メッキ処理を行って、図15に示すように、複合素材
16の表面にメッキ層18を形成する。
【0143】このメッキ層18の厚みtは、上述したよ
うに、第1の実施の形態に係る複合材料のメッキ層18
と同様に、複合素材16に残留する液の気化ガスがメッ
キ層18を透過しない程度の厚み、あるいは、複合素材
16に存在する開気孔を被覆できる程度の厚みを有する
ことが好ましい。具体的には、5〜100μmであり、
好ましくは5〜50μm、更に好ましくは5〜30μ
m、より好ましくは15〜25μmである。
【0144】その後、ステップS306において、複合
素材16の表面に形成されたメッキ層18に対する部分
加工を行う。この処理は、複合素材16の表面に形成さ
れたメッキ層18のうち、その一部(例えば複合素材1
6の下面に対応する部分及び/又は4つの側面に対応す
る部分)をエッチング処理あるいは研磨処理して、該一
部のメッキ層18を薄膜化する。
【0145】この薄膜化されたメッキ層18の厚みt2
は、残留液が気化除去しやすい厚み、少なくとも接合面
16aにおけるメッキ層18より残留液の気化ガスを透
過しやすい厚みであることが好ましい。具体的には、1
0μm以下、好ましくは5μm以下、更に好ましくは3
μm以下であるとよい。
【0146】その後、ステップS307において、表面
にメッキ層18が形成された複合素材16に対して乾燥
処理(予備乾燥処理及び本乾燥処理)を行う。この乾燥
処理の好ましい態様(雰囲気、硬度、温度、時間、昇温
レート等)は、上述した第1の実施の形態と同様である
ため、ここではその重複説明を省略する。
【0147】前記ステップS307での乾燥処理が終了
した段階で、第4の実施の形態に係る複合材料10Dが
完成するが、その後、ステップS308において、保管
がなされるか、あるいは梱包(ステップS308a:か
っこ書きで示す)、出荷されて、例えばユーザの元で保
管される。
【0148】そして、必要な場合に、前記保管されてい
た複合材料10Dの半田接合が行われることになる(ス
テップS309)。
【0149】上述の例では、メッキ層を無電解メッキ処
理で形成した場合を示したが、その他、電解メッキ処理
で形成してもよい。この場合、図16に示すステップS
304での触媒付与工程を省略することができる。
【0150】次に、1つの実験例を示す。この実験例
は、図17に示す比較例1及び2並びに実施例1〜4に
ついて、それぞれ半田付けを行った場合のメッキ層18
へのクラックの発生状態、メッキ層18の膨れ・剥離の
状態、ボイドの発生状態を見たものである。
【0151】比較例1は、上述の第1の製造方法におい
て、無電解メッキ処理によって複合素材16の両面(も
しくは表面)に20μmのメッキ層18(NiPメッキ
層:18μm、NiBメッキ層:2μm)を形成した
後、乾燥処理を行った場合を示す。
【0152】比較例2は、上述の第1の製造方法におい
て、無電解メッキ処理によって複合素材16の両面(も
しくは表面)に2.5μmのメッキ層18(NiPメッ
キ層:1.5μm、NiBメッキ層:1.0μm)を形
成した後、乾燥処理を行った場合を示す。
【0153】実施例1は、上述の第1の製造方法におい
て、無電解メッキ処理によって複合素材16の接合面1
6aのみに20μmのメッキ層18(NiPメッキ層:
17μm、NiBメッキ層:3μm)を形成した後、乾
燥処理を行った場合を示す。
【0154】実施例2は、上述の第1の製造方法におい
て、電解メッキ処理によって複合素材16の接合面16
aのみに20μmのメッキ層18(Niメッキ層:20
μm)を形成した後、乾燥処理を行った場合を示す。
【0155】実施例3は、上述の第2の製造方法(又は
変形例に係る製造方法)において、無電解メッキ処理に
よって複合素材16の両面(もしくは表面)に1μmの
メッキ層18b(NiPメッキ層:1μm)を形成した
後、乾燥処理を行い、その後、無電解メッキ処理によっ
て複合素材16の接合面16aのみに19μmのメッキ
層18a(NiPメッキ層:17μm、NiBメッキ
層:2μm)を形成した後、乾燥処理を行った場合を示
す。
【0156】実施例4は、実施例3と同様に、複合素材
16の両面(もしくは表面)に1μmのメッキ層18b
(NiPメッキ層:1μm)を形成した後、乾燥処理を
行い、更に、電解メッキ処理によって複合素材16の接
合面16aのみに19μmのメッキ層18a(Niメッ
キ層)を形成した後、乾燥処理を行った場合を示す。
【0157】上述の各乾燥処理は、予備乾燥を温度60
℃で120分維持して行い、続いて本乾燥を温度260
℃で10分間維持(水素100%の雰囲気)して行っ
た。
【0158】この実験例の結果を図18に示す。この図
18において、メッキクラックの項目は、メッキ層18
へのクラック状態を示し、○は未発生、×は多く発生し
不良状態を示す。膨れ・剥離の項目は、メッキ層18の
膨れや剥離状態を示し、○は未発生、×は多く発生し不
良状態を示す。
【0159】ボイドの項目は、半田層へのボイドの発生
状態を以下の式により百分率で示したものである。な
お、ボイド部総面積や半田接合面積はX線透過写真で計
測した。
【0160】ボイド率(%)=(ボイド部総面積/半田
接合面積)×100 図18の結果から、比較例1及び2並びに実施例1〜4
のいずれもメッキクラックは発生しなかったが、比較例
1において、膨れ、剥離が多く生じていた。
【0161】ボイド率についてみると、比較例1及び2
は、複合素材16の完成直後においては、共に1.0〜
2.0%で、十分に実用性はあるが、保管後において
は、10.0〜20.0%まで増加しており、品質が低
下していることがわかる。
【0162】一方、実施例1〜4については、複合素材
16の完成直後並びに保管後のボイド率は共に1.0〜
2.0%であり、低いボイド率で、かつ、品質が安定し
ていることがわかる。
【0163】なお、この発明に係る複合材料及びその製
造方法は、上述の実施の形態に限らず、この発明の要旨
を逸脱することなく、種々の構成を採り得ることはもち
ろんである。
【0164】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る複合
材料及びその製造方法によれば、メッキされた複合材料
を半田層等の接合層によって他の物体に接合する場合に
おいて、メッキ層へのクラックや膨れ・剥離の発生並び
に接合層へのボイドの発生等を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態に係る複合材料を一部破断し
て示す斜視図である。
【図2】第1の実施の形態に係る複合材料における複合
素材をヒートシンク材として使用した場合の構成例を示
す断面図である。
【図3】第1の製造方法を示す工程ブロック図である。
【図4】各工程の内訳を示す表図(その1)である。
【図5】各工程の内訳を示す表図(その2)である。
【図6】各工程の内訳を示す表図(その3)である。
【図7】各工程の内訳を示す表図(その4)である。
【図8】第1の製造方法において、マスキングテープを
剥離した状態を示す説明図である。
【図9】第2の実施の形態に係る複合材料を示す断面図
である。
【図10】第2の製造方法を示す工程ブロック図であ
る。
【図11】第2の製造方法の変形例に係る製造方法を示
す工程ブロック図である。
【図12】マスキングの他の手法を示す説明図である。
【図13】第3の実施の形態に係る複合材料を示す断面
図である。
【図14】第3の製造方法を示す工程ブロック図であ
る。
【図15】第4の実施の形態に係る複合材料を示す断面
図である。
【図16】第4の製造方法を示す工程ブロック図であ
る。
【図17】実験例に使用した比較例1及び2並びに実施
例1〜4の内訳を示す表図である。
【図18】実験例の結果を示す表図である。
【符号の説明】
10A〜10D…複合材料 12…多孔質焼結
体 14…金属 16…複合素材 18…メッキ層 18a…厚いメッ
キ層 18b…薄いメッキ層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C25D 7/00 C25D 7/00 Q H01L 23/36 H01L 23/36 Z Fターム(参考) 4G026 BA13 BA14 BB01 BD02 BF01 BF18 BG02 BG28 BH07 BH11 4K022 AA01 AA02 AA41 BA14 CA03 CA06 DA01 DB02 EA01 4K024 AA03 AA14 AB01 AB02 AB08 AB17 BA01 BA11 BB12 BB26 BC10 DA04 DA10 DB01 GA16 4K044 AA01 AA06 AA11 AB10 BA06 BA18 BA19 BB03 BB04 BC12 CA04 CA15 CA18 CA62 5F036 AA01 BB01 BC06

Claims (40)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】多孔質焼結体に金属が含浸された複合素材
    を有し、接合層によって他の物体に接合される複合材料
    であって、 前記複合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層が形
    成される部分にメッキ層が形成されていることを特徴と
    する複合材料。
  2. 【請求項2】請求項1記載の複合材料において、 前記メッキ層が、第1のメッキ層のみ、あるいは第1の
    メッキ層と第2のメッキ層で構成されていることを特徴
    とする複合材料。
  3. 【請求項3】請求項2記載の複合材料において、 前記複合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層が形
    成される部分に前記第1のメッキ層が形成され、それ以
    外の部分には前記第2のメッキ層が形成されていること
    を特徴とする複合材料。
  4. 【請求項4】請求項2記載の複合材料において、 前記複合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層が形
    成される部分に前記第1のメッキ層が形成され、それ以
    外の部分には前記第2のメッキ層が形成されていないこ
    とを特徴とする複合材料。
  5. 【請求項5】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複合
    材料において、 前記第1のメッキ層を透過する気化ガスによって前記接
    合層に発生するボイド率が3%以下であることを特徴と
    する複合材料。
  6. 【請求項6】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複合
    材料において、 前記第1のメッキ層のリーク性は、5.0×10-10
    c−atm/sec以下であることを特徴とする複合材
    料。
  7. 【請求項7】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複合
    材料において、 前記第1のメッキ層は、前記複合素材の表面に存在する
    開気孔を面積率で90%以上被覆していることを特徴と
    する複合材料。
  8. 【請求項8】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複合
    材料において、 前記第1のメッキ層は、無電解メッキによる層で、かつ
    メッキクラックがないことを特徴とする複合材料。
  9. 【請求項9】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複合
    材料において、 前記第1のメッキ層は、無電解メッキによる層で、かつ
    硬度が最高硬度の80%以下であること特徴とする複合
    材料。
  10. 【請求項10】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第1のメッキ層は、電解メッキによる層であること
    を特徴とする複合材料。
  11. 【請求項11】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第1のメッキ層は、無電解メッキによる層と電解メ
    ッキによる層とで構成されていることを特徴とする複合
    材料。
  12. 【請求項12】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第1のメッキ層は、気化ガスを透過しない程度の厚
    みをもつことを特徴とする複合材料。
  13. 【請求項13】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第1のメッキ層は、前記複合素材の表面に存在する
    開気孔の径の2倍以上の厚みを有することを特徴とする
    複合材料。
  14. 【請求項14】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第1のメッキ層は、厚みが5〜100μmであるこ
    とを特徴とする複合材料。
  15. 【請求項15】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第1のメッキ層は、厚みが5〜50μmであること
    を特徴とする複合材料。
  16. 【請求項16】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第2のメッキ層は、残留液が気化除去しやすい厚み
    であることを特徴とする複合材料。
  17. 【請求項17】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第2のメッキ層は、少なくとも前記第1のメッキ層
    より残留液の気化ガスを透過しやすいことを特徴とする
    複合材料。
  18. 【請求項18】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第2のメッキ層は、厚みが10μm以下であること
    を特徴とする複合材料。
  19. 【請求項19】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第2のメッキ層は、厚みが5μm以下であることを
    特徴とする複合材料。
  20. 【請求項20】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第2のメッキ層のリーク性は、5.0×10-10
    c−atm/sec以上であることを特徴とする複合材
    料。
  21. 【請求項21】請求項2〜4のいずれか1項に記載の複
    合材料において、 前記第2のメッキ層は、無電解メッキ及び電解メッキ、
    あるいはその両方による層であることを特徴とする複合
    材料。
  22. 【請求項22】多孔質焼結体に金属が含浸された複合素
    材を有し、接合層によって他の物体に接合される複合材
    料の製造方法であって、 前記複合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層が形
    成される部分にメッキ層を形成することを特徴とする複
    合材料の製造方法。
  23. 【請求項23】請求項22記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記メッキ層を第1のメッキ層のみ、あるいは第1のメ
    ッキ層と第2のメッキ層で形成することを特徴とする複
    合材料の製造方法。
  24. 【請求項24】請求項23記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記複合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層が形
    成される部分に前記第1のメッキ層を形成し、それ以外
    の部分に前記第2のメッキ層を形成することを特徴とす
    る複合材料の製造方法。
  25. 【請求項25】請求項23記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記複合素材の表面のうち、少なくとも前記接合層が形
    成される部分に前記第1のメッキ層を形成し、それ以外
    の部分には前記第2のメッキ層を形成しないことを特徴
    とする複合材料の製造方法。
  26. 【請求項26】請求項23〜25のいずれか1項に記載
    の複合材料の製造方法において、 前記第1のメッキ層を形成する部分以外の表面にマスキ
    ング処理を施す工程を含むことを特徴とする複合材料の
    製造方法。
  27. 【請求項27】請求項23〜25のいずれか1項に記載
    の複合材料の製造方法において、 前記第2のメッキ層を形成した後、前記第1のメッキ層
    を形成する部分以外の第2のメッキ層にマスキング処理
    を施した後、第1のメッキ層を形成する工程を含むこと
    を特徴とする複合材料の製造方法。
  28. 【請求項28】請求項23〜25のいずれか1項に記載
    の複合材料において、 前記第1のメッキ層及び第2のメッキ層は、メッキ処理
    を行った後、乾燥するという一連の処理をn回繰り返し
    て形成されることを特徴とする複合材料の製造方法。
  29. 【請求項29】請求項28記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記乾燥処理は、少なくとも水分が気化除去可能な温度
    と時間で実施することを特徴とする複合材料の製造方
    法。
  30. 【請求項30】請求項28記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記乾燥処理は、30〜600℃の任意の温度で1〜3
    00分の任意の時間保持することを特徴とする複合材料
    の製造方法。
  31. 【請求項31】請求項28記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記乾燥処理は、200〜400℃の任意の温度で1〜
    300分の任意の時間保持することを特徴とする複合材
    料の製造方法。
  32. 【請求項32】請求項28記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記乾燥処理は、前記メッキ層の酸化を抑制する雰囲気
    で行うことを特徴とする複合材料の製造方法。
  33. 【請求項33】請求項32記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記雰囲気は、不活性ガス雰囲気、真空雰囲気、及び還
    元雰囲気から選択されることを特徴とする複合材料の製
    造方法。
  34. 【請求項34】請求項33記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記還元雰囲気は、水素が3%以上の雰囲気であること
    を特徴とする複合材料の製造方法。
  35. 【請求項35】請求項33記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記還元雰囲気は、水素が30%以上の雰囲気であるこ
    とを特徴とする複合材料の製造方法。
  36. 【請求項36】請求項33記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記還元雰囲気は、水素が90%以上の雰囲気であるこ
    とを特徴とする複合材料の製造方法。
  37. 【請求項37】請求項28記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記乾燥処理は、前記第1のメッキ層及び第2のメッキ
    層に膨れを発生させない昇温レートで行うことを特徴と
    する複合材料の製造方法。
  38. 【請求項38】請求項37記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記昇温レートは、400℃/hr以下であることを特
    徴とする複合材料の製造方法。
  39. 【請求項39】請求項37記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記昇温レートは、100℃/hr以下であることを特
    徴とする複合材料の製造方法。
  40. 【請求項40】請求項28記載の複合材料の製造方法に
    おいて、 前記乾燥処理は、残留液の気化温度付近で保持するヒー
    トプログラムで実施することを特徴とする複合材料の製
    造方法。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7381673B2 (en) 2003-10-27 2008-06-03 Kyocera Corporation Composite material, wafer holding member and method for manufacturing the same
JP2010232626A (ja) * 2009-03-25 2010-10-14 Wah Hong Industrial Corp 放熱装置及び該放熱装置の製作方法
JP2011046998A (ja) * 2009-08-26 2011-03-10 guo-zhen Zhang グラファイト基板前処理方法
JP5144279B2 (ja) * 2006-01-13 2013-02-13 電気化学工業株式会社 アルミニウム−炭化珪素質複合体及びそれを用いた放熱部品
US9549481B2 (en) 2012-07-02 2017-01-17 Seiko Epson Corporation Method for producing base substrate, method for producing electronic device, base substrate, and electronic apparatus
KR101777181B1 (ko) 2017-05-15 2017-09-12 세계연마 주식회사 논슬립 전착 제조방법
JP2018003105A (ja) * 2016-07-04 2018-01-11 住友電気工業株式会社 複合部材、放熱部材及び半導体装置
JPWO2020203014A1 (ja) * 2019-04-02 2020-10-08

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4014528B2 (ja) 2003-03-28 2007-11-28 日本碍子株式会社 ヒートスプレッダモジュールの製造方法及びヒートスプレッダモジュール
JP4208863B2 (ja) * 2005-06-30 2009-01-14 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP4378334B2 (ja) * 2005-09-09 2009-12-02 日本碍子株式会社 ヒートスプレッダモジュール及びその製造方法
US7993728B2 (en) 2006-04-26 2011-08-09 Denki Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha Aluminum/silicon carbide composite and radiating part comprising the same
CN101324743A (zh) * 2007-06-15 2008-12-17 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 相机模组
DE102007051570A1 (de) * 2007-10-29 2009-04-30 Austrian Research Centers Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Verbundwerkstoffs sowie Verbundwerkstoff, Verbundwerkstoffkörper und Anschlussvorrichtung
JP5070014B2 (ja) * 2007-11-21 2012-11-07 株式会社豊田自動織機 放熱装置
JP2009130060A (ja) * 2007-11-21 2009-06-11 Toyota Industries Corp 放熱装置
JP5387034B2 (ja) * 2009-02-20 2014-01-15 大日本印刷株式会社 導電性基板
JP6064886B2 (ja) * 2012-12-26 2017-01-25 株式会社豊田中央研究所 熱伝導性応力緩和構造体
US10837087B2 (en) 2016-09-28 2020-11-17 Tenneco Inc. Copper infiltrated molybdenum and/or tungsten base powder metal alloy for superior thermal conductivity

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4090602B2 (ja) * 1998-12-25 2008-05-28 日本碍子株式会社 メッキされたセラミックス/金属複合材料およびその製造方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7381673B2 (en) 2003-10-27 2008-06-03 Kyocera Corporation Composite material, wafer holding member and method for manufacturing the same
JP5144279B2 (ja) * 2006-01-13 2013-02-13 電気化学工業株式会社 アルミニウム−炭化珪素質複合体及びそれを用いた放熱部品
JP2010232626A (ja) * 2009-03-25 2010-10-14 Wah Hong Industrial Corp 放熱装置及び該放熱装置の製作方法
JP2011046998A (ja) * 2009-08-26 2011-03-10 guo-zhen Zhang グラファイト基板前処理方法
US9549481B2 (en) 2012-07-02 2017-01-17 Seiko Epson Corporation Method for producing base substrate, method for producing electronic device, base substrate, and electronic apparatus
JP2018003105A (ja) * 2016-07-04 2018-01-11 住友電気工業株式会社 複合部材、放熱部材及び半導体装置
KR101777181B1 (ko) 2017-05-15 2017-09-12 세계연마 주식회사 논슬립 전착 제조방법
JPWO2020203014A1 (ja) * 2019-04-02 2020-10-08
WO2020203014A1 (ja) * 2019-04-02 2020-10-08 住友電気工業株式会社 複合部材、及び放熱部材
US11890831B2 (en) 2019-04-02 2024-02-06 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Composite member and heat radiation member
JP7469295B2 (ja) 2019-04-02 2024-04-16 住友電気工業株式会社 複合部材、及び放熱部材

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