JP2003129017A - 導電性接着フィルム及びこれを用いた半導体装置 - Google Patents

導電性接着フィルム及びこれを用いた半導体装置

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JP2003129017A JP2001328376A JP2001328376A JP2003129017A JP 2003129017 A JP2003129017 A JP 2003129017A JP 2001328376 A JP2001328376 A JP 2001328376A JP 2001328376 A JP2001328376 A JP 2001328376A JP 2003129017 A JP2003129017 A JP 2003129017A
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Noriyuki Daito
範行 大東
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 厚みの均一性に優れ、高い接着強度、熱放散
性、導電性および耐熱性を有する低温で熱圧着可能な導
電性接着フィルムを提供する。 【解決手段】 (A)銀粉、(B)熱可塑性ポリイミ
ド、(C)熱硬化性樹脂を必須成分とする導電性接着フ
ィルムであって、銀粉がアドマイズド銀粉を含むことを
特徴とする導電性接着フィルムであり、好ましくは、フ
レーク状および/または微細球状銀粉を含んでなり、よ
り好ましくは、銀粉の全含有量が、70〜90重量%で
あり、その銀成分中アドマイズド銀粉が15〜50重量
%、フレーク状銀粉が30〜80重量%、微細球状銀粉
が5〜20重量%であることを特徴とする導電性接着フ
ィルムであり、また、これを用いた半導体装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明に属する技術分野】本発明は、導電性接着フィル
ム及びこれを用いた半導体装置に関するものである。更
に詳しくは、IC、LSI等の半導体素子と、金属リー
ドフレーム、ポリイミド基板および有機硬質基板等との
ダイボンディングに好適な導電性接着フィルム、及びそ
れを用いた半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の組立において、半導体素子
を金属リードフレームに接着させる工程、いわゆるダイ
ボンディング工程において用いられる接合方法は、これ
まで金−シリコーン共晶に始まり、半田、樹脂ペースト
と推移してきた。現在では主にIC、LSIの組立にお
いては導電性の樹脂ペーストを使用している。
【0003】近年の電子機器の高機能化とモバイル用途
への拡大に対応して、半導体装置の高密度化、高集積化
の要求が強まり、ICパッケージの大容量高密度化が進
んでいる。これに伴い被着体は金属リードフレームに替
わり、ポリイミド基板やソルダーレジストを表面に塗布
した有機硬質基板を使用した半導体装置の要求が高まっ
てきた。
【0004】これらの半導体装置は、多くの熱を発生さ
せることから、より高い熱放散性と導電性を要求され
る。これまで、半導体素子の接着には導電性樹脂ペース
トを用いたものが主流となってきた。しかし、コスト削
減により、従来ペーストを塗布する、いわゆるダイパッ
ト部のメッキを無くしたベア銅フレームや、新規に開発
されたBGA、CSPに用いられるソルダーレジストを
表面に塗布した有機基板では、硬化時にペースト部の温
度変化により、揮発分が急激に揮発するため、ペースト
がはじけ、ボイドが多発する現象が確認されている。
【0005】これらの現象は、いずれもペースト樹脂を
熱硬化させる際に、ペーストの温度が上昇し、樹脂の粘
度が低下する。そのため金属フレーム、有機基板の表面
上で、樹脂のはじきが生じ、ボイドとなり、硬化後のペ
ースト厚が均一でない状態になる。この様に、ペースト
厚が均一でないことが、半導体装置の組立工程におい
て、不良の発生や半導体装置の信頼性が低下する原因と
なってきた。
【0006】また、近年開発されたBGAやCSPとい
った高密度実装や、小型化が可能になった半導体装置に
おいて、従来のペースト樹脂を用いる場合、接着後に樹
脂が、はみ出すという問題もある。
【0007】これらの問題を解決する手法として、IC
の熱放散として、ヒートシンクや放熱ファンの利用が検
討されているが、これらの放熱構造部とチップ間の接合
部分には、高熱伝導性の接着剤が必要とされている。こ
れらの導電性の接着剤は、接着部分にボイド等の空隙が
存在すると、導電性が大幅に減少する。このため、ボイ
ド、泡を内部に巻き込み易い液状の接着剤より、熱圧着
可能なフィルム状接着剤が好ましい。しかしながら、伝
導性、高接着性、耐熱性の全て満足する導電性接着フィ
ルムはなかった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的とすると
ころは、厚みの均一性に優れ、高い接着強度、熱放散
性、導電性および耐熱性を有する低温で熱圧着可能な導
電性接着フィルムを提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、有機溶剤
に可溶な熱可塑性ポリイミド樹脂に、特定の銀紛を組み
合わせて使用し、均一分散させたフィルムが上記問題を
解決し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。
【0010】本発明は(A)銀粉、(B)熱可塑性ポリ
イミド、(C)熱硬化性樹脂を必須成分とする導電性接
着フィルムであって、銀粉がアドマイズド銀粉を含むこ
とを特徴とする導電性接着フィルムであり、好ましく
は、フレーク状および/または微細球状銀粉を含んでな
り、より好ましくは、銀粉の全含有量が、70〜90重
量%であり、更に好ましくは、その銀成分中アドマイズ
ド銀粉が15〜50重量%、フレーク状銀粉が30〜8
0重量%、微細球状銀粉が5〜20重量%であることを
特徴とする導電性接着フィルムである。また、本発明
は、これを用いた半導体装置である。
【0011】
【発明実施の形態】本発明に用いる銀紛(A)として
は、還元法、電解法、アドマイズド法などで得られた銀
粉が挙げられる。本発明において、アドマイズド銀粉
は、必須であり、前記製法の内、アドマイズド法により
得られるものであり、銀を溶融させた後、噴霧冷却して
銀の微粒子を得ることより、粒子間に空隙を有さず、熱
伝導性の低下が無く熱放散性を付与する。また、本発明
に用いるアドマイズド銀粉は、平均粒径が3〜10μm
で、かつ、銀粉の高充填させるにはタップ密度が4.5
g/cm3以上であることが好ましい。タップ密度はJ
ISK5101−1991の20.2タップ法に準じた
方法により測定した。
【0012】本発明に用いる銀粉には、アドマイズド銀
粉の他に、前記製法で得られた微細球状銀粉やフレーク
状銀粉を、それぞれ単独もしくは両者を混合して使用す
ると好ましい。これらの内、主成分としてフレーク状銀
粉を用いることでフィルムのハンドリング性が飛躍的に
向上することができる。また、微細球状銀粉は、導電性
を付与する上で好ましい。
【0013】また、本発明に用いるフレーク状の銀粉
は、前記製法で得られた球状、塊状銀粉をジェットミ
ル、ロールミル、ボールミルなどで機械的に粉砕するな
どして得られるものであり、平均粒径が1〜15μmで
あることが好ましい。
【0014】本発明に用いる微細球状銀粉は、平均粒径
が0.5〜3.0μmであることが好ましい。本発明に
用いる銀粉の最大粒径としては30μm以下が好まし
い。30μm以上より大きい銀粉を使用した場合、フィ
ルム表面に銀が析出し、外観不良や接着性の低下を引き
起こすためである恐れがある。
【0015】本発明において、銀の含有率を70〜90
重量%とすることが好ましい。含有率が、70重量%よ
り少ないと十分な導電性を得ることはできなくなる恐れ
があり、また、90重量%より多くなると導電性は優れ
るものの、接着性、作業性を著しく低下させる恐れがあ
る。
【0016】本発明において、導電性フィラーとして用
いる銀粉の種類はアドマイズ銀粉、球状、微細球状、フ
レーク状の中から少なくとも2種以上を組合せて用いる
のが通常である。特に好ましくは、フレーク状銀粉が3
0〜80重量%、アドマイズド銀粉が15〜50重量
%、微細球状銀粉は5〜20重量%である。
【0017】本発明に用いる熱可塑性ポリイミド樹脂
(B)は、有機溶剤に可溶なポリイミド樹脂であること
が好ましい。中でも、シリコーン変性ポリイミド樹脂
が、より好ましい。シリコーン変性ポリイミド樹脂を用
いることで、耐熱性、耐湿性に優れた導電性接着フィル
ムを得ることができる。更に、シリコーン変性ポリイミ
ド樹脂のガラス転移温度が、100℃以下であること
が、特に好ましい。ガラス転移温度が100℃以下であ
ると比較的低温での加熱圧着することが可能となる。本
発明において、その含有量は10〜30重量%が好まし
く、特に好ましくは15〜20重量%である。
【0018】本発明に用いる熱硬化性樹脂(C)は、熱
圧着時には濡れ性向上の役割を果たし、圧着後に加熱に
より硬化反応が進行し、三次元網目状化し、被着体であ
る金属リードフレームや有機基板に強固に接着するもの
であれば、特に制限されることはない。具体的には、エ
ポキシ樹脂、シアネート樹脂、フェノール樹脂、レゾル
シノール樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、シリコーン樹
脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂等が挙げられる。中で
も、エポキシ樹脂、シアネート樹脂、フェノール樹脂が
好ましい。
【0019】熱硬化性樹脂(C)には、上記で挙げた成
分のほかにも、エポキシオリゴマーなども用いることが
できる。この化合物は、分子内に少なくとも1つのエポ
キシ基を有し、通常は分子量が1000〜50000、
好ましくは3000〜10000程度である。
【0020】エポキシ樹脂としては、従来周知の種々の
エポキシ樹脂が用いられるが、通常は、分子量300〜
2000程度のものが好ましく、特に好ましくは、分子
量300〜800の常温液状のエポキシ樹脂および/ま
たは、分子量400〜2000、好ましくは500〜1
500の常温固体のエポキシ樹脂した形で用いるのが望
ましい。また、本発明に、特に好ましく使用されるエポ
キシ樹脂のエポキシ当量は、通常100〜2000g/
eqである。
【0021】このようなエポキシ樹脂としては、具体的
には、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノー
ルF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ
樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ポリエチ
レングリコール型エポキシ樹脂などを挙げることができ
る。これらは、1種単独で、または2種類以上を組合せ
て用いることができる。中でも、本発明では、ビスフェ
ノール型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキ
シ樹脂及びフェノールノボラック型エポキシ樹脂を用い
ることが特に好ましい。本発明において、熱硬化性樹脂
(C)の含有量は1〜10重量%が好ましい。
【0022】本発明において、エポキシ樹脂を硬化促進
させるために硬化促進剤も用いることができる。これら
硬化促進剤として例えば、ジシアンジアミド誘導体、イ
ミダゾール類、トリフェニルホスフィンなどが用いられ
る。これらは2種類以上を併用してもよい。中でも、イ
ミダゾール類を使用することが好ましい。例えば、1−
ベンジル−2−メチルイミダゾール、2−フェニル−4
−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5
−ヒドロキシメチルイミダゾール、1−ベンジル−2−
フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチル
−イミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−
メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシ
ルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミ
ダゾールなどが挙げられる。
【0023】本発明に用いることのできる熱硬化性樹脂
において、上記の硬化促進剤剤は、エポキシ樹脂100
重量部に対して好ましくは0〜10重量部、特に好まし
くは0.5〜5重量部の割合で用いられる。
【0024】更にその他の成分として、エポキシ樹脂と
アミン化合物の反応物も用いることができる。これはマ
イクロカプセル型硬化剤と呼ばれるもので、加熱により
付加したアミン化合物がエポキシ樹脂より遊離し、エポ
キシ樹脂に作用するものである。例えば、ビスF型エポ
キシ樹脂と2−メチルイミダゾールにイソシアネートを
付加させたものがある。
【0025】更に本発明の導電性接着フィルムには必要
に応じて添加剤を用いることができる。カップリング剤
としては、シラン系、チタネート系、アルミニウム系カ
ップリング剤などある。その中でも、シリコンチップと
の界面での密着性が良いシラン系カップリング剤が好ま
しい。例えば、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシ
シラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキ
シシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ
−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、β−(3、
4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラ
ン、γ−メタクロキシプロピルトリメトキシシランなど
が挙げられる。カップリング剤の配合量は樹脂分100
重量部に対し0.5〜10重量部が好ましい。
【0026】本発明の導電性接着フィルムの製造方法と
しては、まず、前記各成分をN−メチル−2−ピロリド
ンや、アニソール等の有機溶剤中で混合してワニス状と
し、これを塗布してフィルムを形成する。更に、具体的
には、例えば、耐熱性フィルム基材を支持体として用
い、その片面または両面に同様のフィルム層を形成さ
せ、支持体と共に接着フィルムとして得るか、またはロ
ールや金属シート、ポリエステルシートなどの離型シー
ト上に、フローコーター、ロールコーター、コンマコー
ターなどによりフィルムを形成させ、加熱乾燥後、剥離
して、単層の接着フィルムとするなどの方法で得ること
ができる。
【0027】この様にして得られた導電性接着フィルム
は体積抵抗値が、10-2Ω・cm以下であることが好ま
しい。体積抵抗値が10-2Ω・cm以下になると熱の放
散性が著しく向上するため、小型化および高密度実装に
対応した最新の半導体装置に適した接着フィルムを得る
ことができる。また、ガラス転移温度が100℃以上と
なることが、より好ましい。
【0028】本発明は、前記のような従来技術を改善・
改良するための半導体用接着フィルムに関するものであ
り、厚みの均一性に優れ、高い接着強度、導電性および
耐熱性を有する。本発明の半導体装置は、前記導電性接
着フィルムを用いて、半導体素子と、半導体搭載用基板
やリードフレーム等とを接着して得られる。
【0029】
【実施例】以下、実施例を用いて本発明を更に詳しく説
明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものでは
ない
【0030】実施例に用いた原料について、以下に説明
する。 (A)銀粉 〔フレーク状銀粉〕 (A−1)SF−86S(DMC2ジャパン(株);平
均粒径:7.7μm) (A−2)SF−78(DMC2ジャパン(株);平均
粒径:5.0μm) (A−3)SF−65(DMC2ジャパン(株);平均
粒径:3.8μm) (A−4)Agc−239(福田金属(株);平均粒
径:9.6μm) 〔アドマイズド銀粉〕 (A−5)TCG−55F((株)徳力化学研究所;平
均粒径:3.8μm、タップ密度:4.7g/cm3) (A−6)TC−26A((株)徳力化学研究所;平均
粒径:2.5μm、タップ密度:4.9g/cm3) 〔微細球状銀粉〕 (A−7)AGC−G(福田金属(株);平均粒径:
0.25μm) (A−8)AGC−156I(福田金属(株);平均粒
径:2.6μm)
【0031】(B)熱可塑性ポリイミド (B−1)シリコーン変性ポリイミド樹脂A:温度計、
攪拌機、原料投入口、乾燥窒素ガス導入管を備えた四つ
口のセパラブルフラスコ中に、ジアミン成分として、
1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン73.
08g(0.25モル)とα,ω−ビス(3−アミノプ
ロピル)ポリジメチルシロキサン(平均分子量837)
209.25g(0.25モル)とを、N−メチル−2
−ピロリドン(NMP)525g、トルエン131g中
に縣濁させ、次いで、酸成分として、4,4’−オキシ
ジフタル酸二無水物155.11g(0.50モル)を
氷水浴中で5分間かけて、紛状のまま、ゆっくり添加し
た後、2時間攪拌をつづけた。この間ずっと乾燥窒素ガ
スを流しておき、系を20℃に保っておいた。次いで、
セパラブルフラスコから乾燥窒素導入管を外して、代わ
りにディーンスターク還流冷却管を取り付け、氷水浴に
代えてオイルバスにして、加熱した。この際、イミド化
に伴い発生する水をトルエンとの共沸により系外へ除去
した。2.0時間加熱還流したところで反応を終了し
た。この様にして、溶剤に可溶なポリイミド樹脂を得
た。分子量はMw=50000である。 (B−2)シリコーン変性ポリイミド樹脂B:温度計、
攪拌機、原料投入口を備えた四つ口のセパラブルフラス
コ中に、酸成分として、4,4’−オキシジフタル酸二
無水物155.11g(0.30モル)とを、アニソー
ル191.1g、トルエン157g中に縣濁させた。ま
た、ジアミン成分として、1,3−ビス(3−アミノフ
ェノキシ)ベンゼン43.85g(0.15モル)と
α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロ
キサン(平均分子量837)125.4g(0.15モ
ル)とをアニソール438.5g中70℃で加熱溶解さ
せたものを滴下ロートに準備した。次いで、ディーンス
ターク還流冷却管を取り付け、オイルバスにより加熱す
ると、縣濁溶液が溶解し透明になった。加熱還流が始ま
ったところで、前記ジアミン溶液を1時間ゆっくり滴下
した。この際、イミド化に伴い発生する水をトルエンと
の共沸により系外へ除去した。滴下終了後、3.0時間
加熱還流したところで反応を終了した。この様にして溶
剤に可溶なポリイミド樹脂を得た。分子量はMw=60
000である。
【0032】(C)熱硬化性樹脂 (C−1)ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エピコー
ト1001、エポキシ当量:460g/eq、油化シェ
ルエポキシ(株)) (C−2)クレゾールノボラックエポキシ樹脂(EOC
N−1020−80、エポキシ当量:200g/eq、
日本化薬(株)) (C−3)ビスF型シアネートエステル樹脂(AROC
Y L−10、旭化成エポキシ(株))
【0033】(シランカップリング剤) 〔カップリング剤1〕N−フェニル−γ−アミノプロピ
ルトリメトキシシラン(KBM−573、信越シリコー
ン(株)) 〔カップリング剤2〕3−グリシドキシプロピルトリメ
トキシシラン(KBM−403E、信越シリコーン
(株))
【0034】実施例1 表1に記載の配合割合に従い、シリコーン変性ポリイミ
ド樹脂AをNMPに溶解し、クレゾールノボラックエポ
キシ樹脂、カップリング剤1を加え溶解するまで攪拌混
合し、次いで、各銀粉を攪拌混合中の前記溶液中にゆっ
くり添加し攪拌した。前記銀粉を添加した溶液をディス
パーザーにより5000〜7000rpmで攪拌混合
し、次いでホモミキサーにより10000〜12000
rpmで銀粉を分散させた後、真空チャンバー内2mm
Hgで攪拌脱泡してワニスを得た。このワニスを100
μmのポリエチレンテレフタレート基材にコンマコータ
ーで塗布し、乾燥させて導電性接着フィルムを得た後、
以下に示す方法により各種性能を評価した。評価結果を
表1に示す。
【0035】[体積抵抗値]上記で得られたフィルム
を、180℃で1時間処理し熱硬化させ、幅10mm、
長さ60mmに切断し、スライドガラス上での体積抵抗
をミリオーム計で測定した。
【0036】[240℃熱時接着強度]2.5mmφの
金型で、上記で得られたフィルムを打ち抜き、圧着温度
160℃、圧力20MPa、加圧時間0.5秒で仮圧着
し、次いで、圧着温度160℃、圧力10MPa、加圧
時間1.0秒で、フィルムを42−合金のリードフレー
ムに貼り付ける。次いで、4mm角のシリコンチップ
を、上記2.5mmφのフィルムに、圧着温度180
℃、圧力1MPa、圧着時間1.0秒でチップマウント
し、180℃で1時間硬化させる。硬化後、プッシュプ
ルゲージを用い240℃での熱時ダイシェア強度を測定
した。
【0037】[ハンドリング性]上記で得られたフィル
ムを100mm角に切り、半分に折り曲げた後98hP
a(単位はSI単位を用いて下さい)の圧力でプレスす
る。その時、半分以上のちぎれがあると×、部分的なち
ぎれがあると△、なしで○と判定した。
【0038】[熱分解温度]上記で得られたフィルム
を、セイコーインスツルメント社製示査熱熱重量同時測
定装置TG/DTA6200により、測定した5重量%
の熱分解温度が350℃以上を○、350℃より低けれ
ば×と判定した。
【0039】[総合評価]体積抵抗値、熱時接着強度、
ハンドリング性、熱分解温度の全てを良好なものを○、
1つでも不満足のものを×とした。
【0040】実施例2〜10 各成分の配合割合を表1のように変更し、シリコーン変
性ポリイミド樹脂Bについては、アニソールに溶解し
た。これ以外は、実施例1と同様の操作を行い導電性接
着フィルムを得た。
【0041】比較例1〜4 各成分の配合割合を、表1のように変更した。これ以外
は実施例1と同様の操作を行い導電性接着フィルムを得
た。
【0042】
【表1】
【0043】表1の結果から、実施例は導電性、接着
性、ハンドリング性、耐熱性共に良好であった。比較例
では、それぞれが満足するものが得られなかった。
【0044】
【発明の効果】本発明によれば接着性に優れ、特に室温
だけでなく240℃のような半田溶融温度域でも十分な
接着強度を有し、かつ熱放散性、電気伝導性を有する耐
熱性に優れた導電性接着フィルムを提供できる。しかも
従来にない低温、短時間での熱圧着できる量産性の点も
有利な耐熱性のある導電性接着フィルムを得ることがで
きる。また、それを使用した半導体装置は高い信頼性を
得ることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C09J 179/00 C09J 179/00 179/08 179/08 Z H01B 1/22 H01B 1/22 D H01L 21/52 H01L 21/52 E Fターム(参考) 4F071 AA03 AA41 AA42 AA43 AA60 AA69 AB07 AD00 AD02 AE15 AF37 AH13 4J004 AA11 AA12 AA13 AA16 AA18 AB05 BA02 FA05 FA08 4J040 EB031 EB032 EC001 EC002 EC061 EC062 EC071 EC072 EH001 EH002 EH031 GA29 HA061 JA09 JB02 JB10 KA03 KA32 LA06 LA08 LA09 NA20 5F047 BA32 BA33 BA53 BB03 5G301 DA03 DA42 DA51 DD03 DD08

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(A)銀粉、(B)熱可塑性ポリイミド樹
    脂、(C)熱硬化性樹脂、を必須成分とする導電性接着
    フィルムであって、銀粉がアドマイズド銀粉を含むこと
    を特徴とする導電性接着フィルム。
  2. 【請求項2】銀粉(A)が、フレーク状および/または
    微細球状銀粉を含んでなる請求項1記載の導電性接着フ
    ィルム。
  3. 【請求項3】アドマイズド銀粉が、4.5g/cm3
    上のタップ密度を有し、30μm以下の最大粒径を有す
    る請求項1又は2記載の導電性接着フィルム。
  4. 【請求項4】フレーク状銀粉が、1〜15μmの平均粒
    径、かつ30μm以下の最大粒径を有し、微細球状銀粉
    が、0.5〜3.0μmの平均粒径かつ30μm以下の
    最大粒径を有する請求項1〜3のいずれかに記載の導電
    性接着フィルム。
  5. 【請求項5】銀粉(A)が、70〜90重量%で含有す
    る請求項1〜4のいずれかに記載の導電性接着フィル
    ム。
  6. 【請求項6】アドマイズド銀粉が15〜50重量%、フ
    レーク状銀粉が30〜80重量%、微細球銀粉が5〜2
    0重量%で含まれる請求項2〜5のいずれかに記載の導
    電性接着フィルム。
  7. 【請求項7】熱可塑性ポリイミド樹脂(B)が、有機溶
    剤に可溶なポリイミドを含む請求項1〜6のいずれかに
    記載の導電性接着フィルム。
  8. 【請求項8】熱硬化性樹脂(C)が、エポキシ樹脂、シ
    アネート樹脂およびフェノール樹脂の中から選ばれた少
    なくとも1種類以上ある請求項1〜7のいずれかに記載
    の導電性接着フィルム。
  9. 【請求項9】導電性接着フィルムが、10-2Ω・cm以
    下の体積抵抗値を有する請求項1〜8のいずれかに記載
    の導電性接着フィルム。
  10. 【請求項10】請求項1〜9のいずれかに記載の導電性
    接着フィルムを用いて製造された半導体装置。
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