JP2003124182A - Substrate processor - Google Patents

Substrate processor

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JP2003124182A
JP2003124182A JP2001320734A JP2001320734A JP2003124182A JP 2003124182 A JP2003124182 A JP 2003124182A JP 2001320734 A JP2001320734 A JP 2001320734A JP 2001320734 A JP2001320734 A JP 2001320734A JP 2003124182 A JP2003124182 A JP 2003124182A
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JP
Japan
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substrate
liquid
water
air knife
processing apparatus
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Application number
JP2001320734A
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Japanese (ja)
Inventor
Tatsumi Hamano
辰美 濱野
Haruhiko Koizumi
晴彦 小泉
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Sumitomo Precision Products Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Precision Products Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To uniformly drain liquid by an air knife even in the case of a water- shedding substrate. SOLUTION: A liquid draining part 60 by the air knife is disposed on the downstream side of a wet processing part. A liquid supply nozzle 64 is arranged on the upstream side of the air supply nozzles for air knife 62 and 63 in the liquid draining part 60. The liquid supply nozzle 64 supplies liquid for wet processing to the upper face of the substrate 10 for whole width in a paddle shape. Prior to liquid drainage, liquid for wet processing is placed on the upper face of the substrate for whole width in the paddle shape, and liquid is drained by the air knife in such a state. Consequently, liquid is uniformly removed from the surface and irregularity after liquid drainage is prevented even if the substrate has water shedding property.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置用ガ
ラス基板の製造に好適に使用される水平搬送式の基板処
理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a horizontal transfer type substrate processing apparatus preferably used for manufacturing glass substrates for liquid crystal display devices.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置に使用されるガラス基板
は、素材であるガラス基板の表面にエッチング、剥離等
の化学処理を繰り返し施すことにより製造される。その
基板処理装置はドライ式とウェット式に大別され、ウェ
ット式はバッチ式と枚葉式に分けられる。更に、枚葉式
は定置回転式とローラ搬送等による水平搬送式に細分さ
れる。
2. Description of the Related Art A glass substrate used in a liquid crystal display device is manufactured by repeatedly subjecting a surface of a glass substrate, which is a raw material, to chemical treatment such as etching and peeling. The substrate processing apparatus is roughly classified into a dry type and a wet type, and the wet type is divided into a batch type and a single wafer type. Further, the single-wafer type is subdivided into a stationary rotation type and a horizontal conveyance type such as roller conveyance.

【0003】これらの基板処理装置のうち、水平搬送式
のものは、基板を水平方向に搬送しながら基板の表面に
処理液を供給する基本構造になっており、高効率なこと
から以前よりエッチング処理や剥離処理に使用されてい
る。
Among these substrate processing apparatuses, the horizontal transfer type has a basic structure for supplying the processing liquid to the surface of the substrate while transferring the substrate in the horizontal direction, and since it is highly efficient, it has been etched more than before. It is used for processing and peeling processing.

【0004】エッチング処理に使用される水平搬送式の
基板処理装置では、一般に基板が受け入れ部、液避け
部、エッチング部、水洗部及び水切り部を順番に通過す
る。エッチング部では、基板搬送ラインの上方にマトリ
ックス状に配置された多数のスプレーノズルからエッチ
ング液がシャワー状に噴出され、そのシャワー中を基板
が通過することにより、基板の表面全体にエッチング液
が供給される。このシャワー処理により、基板の表面
が、マスキング材が塗布された部分を除いて選択的にエ
ッチングされる。
In a horizontal transfer type substrate processing apparatus used for etching, a substrate generally passes through a receiving section, a liquid avoiding section, an etching section, a water washing section and a water draining section in order. In the etching section, a large number of spray nozzles arranged in a matrix above the substrate transfer line eject the etching liquid in a shower shape, and the substrate passes through the shower, thereby supplying the etching liquid to the entire surface of the substrate. To be done. By this shower treatment, the surface of the substrate is selectively etched except for the portion coated with the masking material.

【0005】エッチング処理を終えた基板は、水洗部で
純水シャワーによる両面洗浄処理を受け、水切り部へ送
られる。水切り部では、基板の両面に付着する水気が除
去されるが、その除去方法の一つとしてエアナイフによ
るものが知られている。エアナイフによる水切りでは、
基板の搬送ラインを挟んで設けられた上下1組のスリッ
トノズルから薄膜状にエアを噴出し、このエアナイフを
基板の両面に衝突させることにより、その両面から水分
を除去する。エアの噴射方向は、水分の除去効率を高め
るために、側面視で基板搬送方向上流側に、平面視で側
方にそれぞれ傾斜している。
The substrate that has been subjected to the etching process is subjected to a double-sided cleaning process with a pure water shower in the water washing section, and then sent to the water draining section. Water adhering to both surfaces of the substrate is removed at the water draining portion, and an air knife is known as one of the removing methods. When draining with an air knife,
Air is ejected in a thin film form from a pair of upper and lower slit nozzles provided on both sides of the substrate transfer line, and the air knife is made to collide with both sides of the substrate to remove water from both sides. The jet direction of air is inclined to the upstream side in the substrate transport direction in a side view and to the side in a plan view in order to enhance the efficiency of removing water.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】エアナイフによる水切
りは、回転による水切りと比べて、装置規模が小さく、
スペース効率に優れる。また、搬送ライン中にダイレク
トに配置され、ロボットによる出し入れが不要になるた
め、高効率であり、この点からもスペース効率に優れ
る。これらの利点のために、水平搬送式の基板処理装置
における水洗後の乾燥手段として注目されている。
The water draining by the air knife has a smaller device scale than the water draining by the rotation,
Excellent space efficiency. In addition, since it is arranged directly in the transfer line and does not need to be taken in and out by a robot, it is highly efficient, and in this respect as well, it is excellent in space efficiency. Due to these advantages, it is drawing attention as a drying means after washing with water in a horizontal transfer type substrate processing apparatus.

【0007】しかしながら、これらの利点の一方で、基
板の種類によっては、水分の均一な除去が難しく、シミ
が生じやすいという問題がある。即ち、最近の基板の大
型化・薄厚化に伴って撥水性基板が多用されている。撥
水性基板の表面にシャワー洗浄を行うと、表面張力のた
めに洗浄水が基板の表面に部分的に残る。この状態でエ
アナイフによる水切りを行うと、水切りが不均一にな
り、水切り後に表面にシミが残るのである。
However, in addition to these advantages, there is a problem that it is difficult to uniformly remove moisture depending on the type of substrate, and stains are likely to occur. That is, the water-repellent substrate is frequently used with the recent increase in size and thickness of the substrate. When shower cleaning is performed on the surface of the water-repellent substrate, cleaning water partially remains on the surface of the substrate due to surface tension. If water is drained with an air knife in this state, the drainage becomes uneven, and stains remain on the surface after draining.

【0008】同様の問題は、エッチング等の薬液処理の
後でエアナイフによる液切りを行う場合にも発生する。
The same problem occurs when the liquid is drained by the air knife after the chemical liquid treatment such as etching.

【0009】本発明の目的は、撥水性基板の場合もエア
ナイフにより均一な液切りを行うことができる水平搬送
式の基板処理装置を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide a horizontal transfer type substrate processing apparatus capable of uniformly draining liquid even with a water repellent substrate.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の基板処理装置は、基板を水平方向へ搬送し
て複数の処理部に通過させ、複数の処理部の少なくとも
1つでウエット処理を行うと共に、ウエット処理部の下
流側にエアナイフによる液切り部を設けた水平搬送式の
基板処理装置において、液切り部内のエアナイフ用のエ
ア供給ノズルの上流側に、基板の上面に全幅にわたって
前記ウエット処理用の液体をパドル状に供給する液体供
給ノズルを設けたものである。
In order to achieve the above object, the substrate processing apparatus of the present invention conveys a substrate in a horizontal direction and passes it through a plurality of processing sections, and at least one of the plurality of processing sections is used. In a horizontal transfer type substrate processing apparatus that performs wet processing and has a liquid cutting part by an air knife on the downstream side of the wet processing part, in the liquid cutting part, on the upstream side of the air supply nozzle for the air knife, on the upper surface of the substrate A liquid supply nozzle for supplying the liquid for the wet treatment in the form of a paddle is provided all over.

【0011】本発明の基板処理装置においては、薬液処
理や水洗処理等のウエット処理に続いてエアナイフによ
る液切りが行われる。この液切りに先立って、基板の上
面に全幅にわたってウエット処理用の液体がパドル状に
載せ置かれる。この状態でエアナイフによる液切りを行
うことにより、基板が撥水性の場合も、その表面から液
体が均等に除去され、液切り後のムラが防止される。
In the substrate processing apparatus of the present invention, liquid removal by an air knife is performed following wet processing such as chemical solution processing or water cleaning processing. Prior to this drainage, the liquid for wet processing is placed on the upper surface of the substrate in a paddle shape over the entire width. By performing liquid draining with the air knife in this state, even if the substrate is water repellent, the liquid is uniformly removed from the surface thereof, and unevenness after draining is prevented.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面に
基づいて詳細に説明する。図1は本発明の一実施形態を
示す基板処理装置の概略側面図、図2は同基板処理装置
の主要部の概略平面図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic side view of a substrate processing apparatus showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic plan view of a main part of the substrate processing apparatus.

【0013】本実施形態の基板処理装置は、液晶表示装
置用ガラス基板の製造に使用されるエッチング装置であ
る。この基板処理装置は、図1に示すように、基板10
の搬送方向へ順番に配列された受け入れ部20、液避け
部30、エッチング部40、水洗部50及び液切り部6
0を備えている。各部は、基板10を水平に支持して水
平方向へ搬送する多数の搬送ローラ21,31,41,
51,61をそれぞれ装備している。
The substrate processing apparatus of this embodiment is an etching apparatus used for manufacturing glass substrates for liquid crystal display devices. This substrate processing apparatus, as shown in FIG.
Receiving section 20, liquid avoiding section 30, etching section 40, water washing section 50, and draining section 6 arranged in order in the transport direction of
It has 0. Each unit includes a large number of transport rollers 21, 31, 41, which horizontally support the substrate 10 and transport the substrate 10 in the horizontal direction.
Equipped with 51 and 61 respectively.

【0014】受け入れ部20とエッチング部40の間に
設けられた液避け部30は、エッチング部40から受け
入れ部20へエッチング液が侵入するのを防止するバッ
ファ(緩衝部)である。
The liquid avoiding portion 30 provided between the receiving portion 20 and the etching portion 40 is a buffer (buffer portion) for preventing the etching liquid from entering the receiving portion 20 from the etching portion 40.

【0015】エッチング部40には、基板10の上面に
上方からエッチング液をシャワー状に供給するシャワー
ユニット42が、基板10の搬送ラインの上方に位置に
して設けられている。
In the etching section 40, a shower unit 42 for supplying the etching liquid in a shower shape from above is provided on the upper surface of the substrate 10 at a position above the transfer line of the substrate 10.

【0016】水洗部50には、基板10の上面に上方か
ら純水をシャワー状に散布する第1のシャワーユニット
52と、基板10の下面に下方から純水をシャワー状に
散布する第2のシャワーユニット53が、基板10の搬
送ラインを挟んで設けられている。
In the water washing section 50, a first shower unit 52 for spraying pure water from above on the upper surface of the substrate 10 and a second shower unit 52 for spraying pure water on the lower surface of the substrate 10 from below. The shower unit 53 is provided so as to sandwich the transfer line for the substrate 10.

【0017】液切り部60は、水洗を終えた基板10の
両面から水分を除去する乾燥部である。液切り部60に
は、基板10の搬送ラインを上下から挟むように配置さ
れた上下一対のスリットノズル62,63が設けられて
いる。上側のスリットノズル62は、基板10の上面に
全幅にわたってエアを薄膜状に吹き付けることにより、
洗浄後の基板10の上面から水滴・水分を除去するエア
ナイフ用のエアノズルである。下側のスリットノズル6
3は、基板10の下面に全幅にわたってエアを薄膜状に
吹き付けることにより、洗浄後の基板10の下面から水
滴・水分を除去するエアナイフ用のエアノズルである。
The liquid draining section 60 is a drying section for removing water from both surfaces of the substrate 10 which has been washed with water. The liquid draining unit 60 is provided with a pair of upper and lower slit nozzles 62 and 63 arranged so as to sandwich the transfer line of the substrate 10 from above and below. The upper slit nozzle 62 blows air on the upper surface of the substrate 10 in a thin film shape over the entire width,
It is an air nozzle for an air knife that removes water droplets and water from the upper surface of the substrate 10 after cleaning. Lower slit nozzle 6
Reference numeral 3 denotes an air nozzle for an air knife that removes water droplets and water from the cleaned lower surface of the substrate 10 by blowing a thin film of air onto the lower surface of the substrate 10.

【0018】上下のスリットノズル62,63は、図2
に示すように、水滴・水分の除去効率を高めることを目
的として、側面視で基板10の搬送方向上流側に傾斜
し、平面視では側方へ傾斜している。
The upper and lower slit nozzles 62 and 63 are shown in FIG.
As shown in, for the purpose of improving the removal efficiency of water droplets / water, the substrate 10 is inclined to the upstream side in the conveyance direction of the substrate 10 in a side view and is inclined to the side in a plan view.

【0019】上側のスリットノズル62の上流側には、
更に別のスリットノズル64が前記スリットノズル62
に接近して設けられている。スリットノズル64は、水
洗後の基板10の上面に全幅にわたって純水を供給する
液体供給ノズルであり、より具体的には、基板10の上
面に表面張力によって全幅にわたって純水が載る、所謂
パドル状となるように、少量の純水を緩やかに供給する
パドル用の液体供給ノズルである。水切り部60の室内
は、エアノズル62,63による水切り位置の近傍に設
けられた隔壁65により、上流側のウエット領域と下流
側のドライ領域に仕切られている。隔壁65には、基板
10を通過させるための開口部が設けられている。前記
スリットノズル64は隔壁65より下流側のドライ領域
に配置される。
On the upstream side of the upper slit nozzle 62,
Still another slit nozzle 64 is the slit nozzle 62.
It is installed close to. The slit nozzle 64 is a liquid supply nozzle that supplies pure water over the entire width of the upper surface of the substrate 10 after washing with water, and more specifically, a so-called paddle shape in which pure water is placed on the upper surface of the substrate 10 over the entire width by surface tension. Is a liquid supply nozzle for a paddle that gently supplies a small amount of pure water. The interior of the water draining portion 60 is partitioned into a wet region on the upstream side and a dry region on the downstream side by a partition wall 65 provided in the vicinity of the water draining positions of the air nozzles 62 and 63. The partition wall 65 is provided with an opening for passing the substrate 10. The slit nozzle 64 is arranged in the dry region downstream of the partition wall 65.

【0020】本実施形態の基板処理装置においては、基
板10が受け入れ部20、液避け部30、エッチング部
40、水洗部50及び液切り部60を順に通過すること
により、基板10の上面にエッチング処理が施され、上
下面が洗浄された後、乾燥処理される。
In the substrate processing apparatus of this embodiment, the substrate 10 passes through the receiving portion 20, the liquid avoiding portion 30, the etching portion 40, the water washing portion 50 and the liquid draining portion 60 in this order to etch the upper surface of the substrate 10. After the treatment is performed and the upper and lower surfaces are washed, it is dried.

【0021】液切り部60における乾燥処理では、ま
ず、基板10の上面に全幅にわたって純水が載せ置か
れ、このパドル状態で基板10が下流側のスリットノズ
ル62,63間に移動する。そして、基板10の両面に
スリットノズル62,63から加圧エアが薄膜状に吹き
付けられる。その吹き付け方向は、基板10の搬送方向
上流側及び側方に傾斜している。
In the drying process in the liquid draining section 60, first, pure water is placed on the entire upper surface of the substrate 10 and the substrate 10 moves between the slit nozzles 62 and 63 on the downstream side in this paddle state. Then, pressurized air is blown in a thin film form from the slit nozzles 62 and 63 on both surfaces of the substrate 10. The blowing direction is inclined to the upstream side and the lateral side in the transport direction of the substrate 10.

【0022】基板10が撥水性の場合、水洗を終えた直
後の上面は、純水が部分的に載ったムラのある状態であ
る。この状態でスリットノズル62から上面に加圧エア
が吹き付けられると、その上面に乾燥ムラができる。し
かるに、本実施形態では、スリットノズル62を用いた
エアナイフによる水切りの直前に、全幅にわたって純水
が載せられる。この状態でエアナイフによる水切りを行
うことにより、基板10の上面に残存する水分が残りな
く側方へ排除される。
When the substrate 10 is water-repellent, the upper surface immediately after the washing with water is in a state in which pure water is partially deposited and uneven. When pressurized air is blown from the slit nozzle 62 to the upper surface in this state, unevenness in drying occurs on the upper surface. However, in this embodiment, pure water is placed over the entire width immediately before draining with the air knife using the slit nozzle 62. By draining water with an air knife in this state, the water remaining on the upper surface of the substrate 10 is removed sideways without remaining.

【0023】なお、基板10の下面は裏面であるので、
水切り後に若干の乾燥ムラが残ることは大きな問題では
ない。
Since the lower surface of the substrate 10 is the back surface,
It is not a big problem that some drying unevenness remains after draining.

【0024】上記実施形態では、水洗後の水切りの前に
純水を載せたが、エッチング後に液切りを行う場合は、
その液切りの前にエッチング液を載せると同様に均等な
液切りを行うことができる。
In the above embodiment, pure water was placed before draining after washing, but when draining is performed after etching,
Even if the etching liquid is placed before the drainage, uniform drainage can be performed.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明の基板処
理装置は、液切り部内のエアナイフ用のエア供給ノズル
の上流側に、基板の上面に全幅にわたってウエット処理
用の液体をパドル状に供給する液体供給ノズルを設けた
ことにより、撥水性基板の場合もエアナイフによりムラ
のない均一な液切りを行うことができる。
As described above, the substrate processing apparatus of the present invention supplies the wet processing liquid in a paddle shape over the entire width of the upper surface of the substrate upstream of the air supply nozzle for the air knife in the liquid draining section. By providing the liquid supply nozzle, the even liquid repellant substrate can be uniformly drained by the air knife.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施形態を示す基板処理装置の概略
側面図である。
FIG. 1 is a schematic side view of a substrate processing apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図2】同基板処理装置の主要部の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a main part of the substrate processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 基板 20 受け入れ部 30 液避け部 40 エッチング部 50 水洗部 60 液切り部 62,63 スリットノズル(エア供給ノズル) 64 スリットノズル(液体供給ノズル) 65 隔壁 10 substrates 20 Reception Department 30 liquid avoidance part 40 Etching part 50 Water Wash Department 60 drainer 62, 63 slit nozzle (air supply nozzle) 64 slit nozzle (liquid supply nozzle) 65 bulkhead

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H088 FA17 FA21 FA30 MA20 2H090 HC18 JB02 JC19 3B201 AA02 AB14 BB24 BB93 CC12 5F043 EE40 GG10    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 2H088 FA17 FA21 FA30 MA20                 2H090 HC18 JB02 JC19                 3B201 AA02 AB14 BB24 BB93 CC12                 5F043 EE40 GG10

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を水平方向へ搬送して複数の処理部
に通過させ、複数の処理部の少なくとも1つでウエット
処理を行うと共に、ウエット処理部の下流側にエアナイ
フによる液切り部を設けた水平搬送式の基板処理装置に
おいて、液切り部内のエアナイフ用のエア供給ノズルの
上流側に、基板の上面に全幅にわたって前記ウエット処
理用の液体をパドル状に供給する液体供給ノズルを設け
たことを特徴とする基板処理装置。
1. A substrate is conveyed in a horizontal direction and passed through a plurality of processing sections, wet processing is performed in at least one of the plurality of processing sections, and a liquid draining section by an air knife is provided on the downstream side of the wet processing sections. In the horizontal transfer type substrate processing apparatus, a liquid supply nozzle for supplying the wet processing liquid in a paddle shape over the entire width of the upper surface of the substrate is provided upstream of the air supply nozzle for the air knife in the liquid draining section. And a substrate processing apparatus.
【請求項2】 前記ウエット処理は、水洗処理及び/又
は薬液処理である請求項1に記載の基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the wet treatment is a water washing treatment and / or a chemical treatment.
【請求項3】 前記エア供給ノズルはスリットノズルで
ある請求項1又は2に記載の基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the air supply nozzle is a slit nozzle.
【請求項4】 前記液体供給ノズルはスリットノズルで
ある請求項1又は2に記載の基板処理装置。
4. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the liquid supply nozzle is a slit nozzle.
JP2001320734A 2001-10-18 2001-10-18 Substrate processor Pending JP2003124182A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010103383A (en) * 2008-10-27 2010-05-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing apparatus
KR101254698B1 (en) * 2006-10-20 2013-04-15 주식회사 케이씨텍 Treatment apparatus for large area substrate

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