JP2003101121A - Semiconductor light emitting device - Google Patents

Semiconductor light emitting device

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JP2003101121A
JP2003101121A JP2001297921A JP2001297921A JP2003101121A JP 2003101121 A JP2003101121 A JP 2003101121A JP 2001297921 A JP2001297921 A JP 2001297921A JP 2001297921 A JP2001297921 A JP 2001297921A JP 2003101121 A JP2003101121 A JP 2003101121A
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Japan
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light emitting
groove
conductive layer
element chip
mount member
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JP2001297921A
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Japanese (ja)
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Yasuyuki Kawachi
泰之 河内
真一 ▲浜▼口
Shinichi Hamaguchi
Tatsuya Nakamori
達哉 中森
Masahiko Nishimoto
雅彦 西本
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor light emitting device which suppresses the short circuit being caused by adhesive material sticking out to an unnecessary region when connecting the electrode of a light emitting element chip with the conductive layer of a mount member. SOLUTION: In a semiconductor light emitting device, a light emitting element chip 10 equipped with an electrode 4 at its surface is mounted in such manner that the above electrode 4 and the above conductive layer 5 face each other, on the mount member 20 equipped with the conductive layer 5 at its surface. A first groove 9a and a second groove 9b are made apart with the above conductive layer 5 in-between at the above mount member 20. The total dimensions (W1a +W1b +W1c ) of the width (W1a ) of the above first groove 9a, the width (W1c ) of the above second groove 9b, and the interval (W1b ) between the above first groove and the above second groove is made smaller than the width (W2 ) of the above electrode 4 of the above light emitting element chip 10.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、マウント部材上に
発光ダイオード(LED)、半導体レーザ(LD)およ
びこれらのアレイ素子などの発光素子チップを実装した
半導体発光装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor light emitting device in which a light emitting diode (LED), a semiconductor laser (LD), and a light emitting element chip such as an array element thereof are mounted on a mount member.

【0002】[0002]

【従来の技術】図5は、従来の半導体発光装置の構造を
示す断面図である。この半導体発光装置は、発光素子チ
ップ10がマウント部材20上に実装された構造を有し
ている。発光素子チップ10においては、半導体基板2
上にエピタキシャル層1が形成されており、このエピタ
キシャル層1上に電極4が形成されている。なお、エピ
タキシャル層1は、n型導電層1b、活性層1aおよび
p型導電層1cを含む。すなわち、発光素子チップとし
て、半導体レーザ素子を搭載した例である。また、マウ
ント部材20においては、基板3上に導電層5が形成さ
れている。発光素子チップ10は電極4が導電層5と対
向するようにマウント部材20上に搭載され、前記電極
4と前記導電層5とが半田などの接着材6を介して接続
されている。
2. Description of the Related Art FIG. 5 is a sectional view showing the structure of a conventional semiconductor light emitting device. This semiconductor light emitting device has a structure in which a light emitting element chip 10 is mounted on a mount member 20. In the light emitting element chip 10, the semiconductor substrate 2
An epitaxial layer 1 is formed on the upper side, and an electrode 4 is formed on the epitaxial layer 1. Epitaxial layer 1 includes n-type conductive layer 1b, active layer 1a and p-type conductive layer 1c. That is, this is an example in which a semiconductor laser element is mounted as a light emitting element chip. Further, in the mount member 20, the conductive layer 5 is formed on the substrate 3. The light emitting element chip 10 is mounted on the mount member 20 so that the electrode 4 faces the conductive layer 5, and the electrode 4 and the conductive layer 5 are connected via an adhesive material 6 such as solder.

【0003】図6は、従来の半導体発光装置の別の構造
を示す断面図である。この半導体発光装置では、同一チ
ップ内に複数の発光素子が集積された半導体レーザアレ
イ素子である発光素子チップ11が用いられており、こ
れがマウント部材20上に実装されている。発光素子チ
ップ11においては、各発光素子が半導体基板2上に形
成されたエピタキシャル層1(n型導電層1b、活性層
1aおよびp型導電層1cを含む。)を有しており、各
エピタキシャル層1上には電極4が形成されている。ま
た、マウント部材20においては、基板3上に、各発光
素子に対応するように複数の導電層5が形成されてい
る。発光素子チップ11は電極4が導電層5と対向する
ようにマウント部材20上に搭載され、前記電極4と前
記導電層5とが半田などの接着材6を介して接続されて
いる。
FIG. 6 is a sectional view showing another structure of a conventional semiconductor light emitting device. In this semiconductor light emitting device, a light emitting element chip 11 which is a semiconductor laser array element in which a plurality of light emitting elements are integrated in the same chip is used, and this is mounted on a mount member 20. In the light emitting element chip 11, each light emitting element has an epitaxial layer 1 (including an n-type conductive layer 1b, an active layer 1a and a p-type conductive layer 1c) formed on a semiconductor substrate 2, and each epitaxial layer. An electrode 4 is formed on the layer 1. In addition, in the mount member 20, a plurality of conductive layers 5 are formed on the substrate 3 so as to correspond to the respective light emitting elements. The light emitting element chip 11 is mounted on the mount member 20 so that the electrode 4 faces the conductive layer 5, and the electrode 4 and the conductive layer 5 are connected via an adhesive material 6 such as solder.

【0004】これらの半導体発光装置によれば、発光素
子チップがエピタキシャル層側をマウント部材に向けて
搭載されるため、発光素子チップの放熱性を向上させる
ことができる。
According to these semiconductor light emitting devices, since the light emitting element chip is mounted with the epitaxial layer side facing the mount member, the heat dissipation of the light emitting element chip can be improved.

【0005】しかし、上記のような半導体発光装置にお
いては、図5および図6に示すように、発光素子チップ
をマウント部材に実装する際に、接着材の量または組成
のばらつき、更には実装条件(例えば、温度、雰囲気な
ど)のばらつきなどの影響により、接着材6が発光素子
チップのエピタキシャル層1側面に盛り上がり、n型導
電層1bとp型導電層1cとの間にショートを生じさせ
るという問題があった。また、図6に示すように、同一
チップ内に複数の発光素子が集積された発光素子チップ
11を用いた場合、接着材6が横方向に広がり、隣接す
る発光素子の電極4同士間にショートを生じさせるとい
う問題があった。特に、アレイ素子やモノリシックマル
チ波長半導体レーザなどを用いた場合、複数存在する発
光点を近接させるほど上記問題が重大な課題となった。
更に、GaN系材料を用いた青紫色半導体レーザなどに
見られるような、p型電極とn型電極を基板の同一面に
複数配置した半導体発光装置においても、大きな課題で
あった。
However, in the semiconductor light emitting device as described above, as shown in FIGS. 5 and 6, when the light emitting element chip is mounted on the mount member, variations in the amount or composition of the adhesive, and further mounting conditions. It is said that the adhesive 6 rises up on the side surface of the epitaxial layer 1 of the light emitting element chip due to the influence of variations in temperature (atmosphere, atmosphere, etc.) and causes a short circuit between the n-type conductive layer 1b and the p-type conductive layer 1c. There was a problem. Further, as shown in FIG. 6, when the light emitting element chip 11 in which a plurality of light emitting elements are integrated in the same chip is used, the adhesive 6 spreads in the lateral direction and short-circuits between the electrodes 4 of the adjacent light emitting elements. There was a problem of causing. In particular, when an array element or a monolithic multi-wavelength semiconductor laser is used, the above problem becomes a serious problem as the plurality of light emitting points are brought closer to each other.
Further, it has been a big problem also in a semiconductor light emitting device in which a plurality of p-type electrodes and n-type electrodes are arranged on the same surface of a substrate, as seen in a blue-violet semiconductor laser using a GaN-based material.

【0006】このような問題に対して、図7に示すよう
に、マウント部材20において、基板3表面に溝9を設
け、この溝9に隣接する領域(凸部)を発光素子チップ
11との接着部とし、この接着部表面に導電層5を形成
した構造が提案されている(特開平6−310617号
公報)。更に、接着部の幅は、発光素子チップ11の電
極4の幅よりも小さく設定されている。このような構造
によれば、はみ出した接着材6が溝9に流れ込むため、
図5および図6に示すような構造に比べて、ショート発
生を抑制することができる。
To solve this problem, as shown in FIG. 7, a groove 9 is provided on the surface of the substrate 3 in the mount member 20, and a region (projection) adjacent to the groove 9 is formed with the light emitting element chip 11. A structure has been proposed in which a conductive layer 5 is formed on the surface of the adhesive portion as an adhesive portion (Japanese Patent Laid-Open No. 6-310617). Further, the width of the adhesive portion is set smaller than the width of the electrode 4 of the light emitting element chip 11. According to such a structure, the protruding adhesive 6 flows into the groove 9,
Compared with the structure shown in FIGS. 5 and 6, the occurrence of short circuit can be suppressed.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】前述したように、図7
に示すような構成によれば、接着材の量および組成のば
らつき、実装条件のばらつきに対する許容範囲を多少緩
和することができるものの十分ではなかった。なぜなら
ば、このような構成においては、接着材が溝に沿ってう
まく流れない場合があり、このような場合に、n型導電
層とp型導電層との間のショート、および、隣接する発
光素子の電極同士間のショートが生じてしまうからであ
る。
As described above, as shown in FIG.
According to the configuration shown in (1), the allowable range for the variation in the amount and composition of the adhesive and the variation in the mounting conditions can be somewhat relaxed, but it is not sufficient. In such a configuration, the adhesive may not flow well along the groove, and in such a case, a short circuit between the n-type conductive layer and the p-type conductive layer and adjacent light emission may occur. This is because a short circuit will occur between the electrodes of the device.

【0008】本発明は、上記状況に鑑み、マウント部材
と発光素子チップとを接続する接着材の量および組成の
ばらつきや、実装条件のばらつきの影響によるショート
の発生が抑制された半導体発光装置を提供することを目
的とする。
In view of the above situation, the present invention provides a semiconductor light emitting device in which the occurrence of a short circuit is suppressed due to variations in the amount and composition of the adhesive material connecting the mount member and the light emitting element chip, and variations in mounting conditions. The purpose is to provide.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明の半導体発光装置は、表面に電極を備えた発
光素子チップが、表面に導電層を備えたマウント部材上
に、前記電極と前記導電層とが対向するように搭載さ
れ、前記電極と前記導電層とが接着材を介して接続され
た半導体発光装置であって、前記マウント部材表面に、
前記導電層を挟んで互いに離間するように第1の溝およ
び第2の溝が形成されており、前記第1の溝の幅、前記
第2の溝の幅および前記第1の溝と前記第2の溝との離
間距離を合計した寸法が、前記発光素子チップの前記電
極の幅よりも小さいことを特徴とする。
To achieve the above object, in a semiconductor light emitting device of the present invention, a light emitting element chip having an electrode on its surface is provided with the above electrode on a mount member having a conductive layer on its surface. A semiconductor light emitting device mounted such that the conductive layer faces each other, the electrode and the conductive layer are connected via an adhesive, on the surface of the mount member,
A first groove and a second groove are formed so as to be separated from each other with the conductive layer interposed therebetween, and the width of the first groove, the width of the second groove, and the first groove and the first groove. The total size of the distances from the two grooves is smaller than the width of the electrodes of the light emitting element chip.

【0010】このような構成にしたことにより、発光素
子チップの電極とマウント部材の導電層とを接続する際
に、接着材の量および組成のばらつきや、実装条件のば
らつきの影響によって、導電層が形成された領域から接
着材がはみ出した場合であっても、このはみ出した接着
材を確実にマウント部材表面の溝に流し込むことがで
き、その結果、ショートの発生を抑制することができ
る。
With this structure, when the electrodes of the light emitting element chip and the conductive layer of the mount member are connected to each other, the conductive layer is affected by variations in the amount and composition of the adhesive and variations in mounting conditions. Even if the adhesive material squeezes out from the region where the ridge is formed, the squeezed adhesive material can be reliably poured into the groove on the surface of the mount member, and as a result, the occurrence of a short circuit can be suppressed.

【0011】また、前記半導体発光装置においては、前
記第1の溝および前記第2の溝が、前記マウント部材表
面をエッチングすることにより形成されていることが好
ましい。この好ましい例によれば、マウント部材表面の
溝の寸法精度および位置精度を向上させることができ、
その結果、微細なチップの組立てやアレイ素子チップの
微細化が可能となる。
In the semiconductor light emitting device, it is preferable that the first groove and the second groove are formed by etching the surface of the mount member. According to this preferable example, it is possible to improve the dimensional accuracy and the positional accuracy of the groove on the surface of the mount member,
As a result, it becomes possible to assemble fine chips and miniaturize array element chips.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について、図
面を用いて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0013】(実施形態1)図1は、本発明の実施形態
1における半導体発光装置の一例を示す断面図ある。本
発明の半導体発光装置は、マウント部材20上に発光素
子チップ10を実装することにより作製できる。
(First Embodiment) FIG. 1 is a sectional view showing an example of a semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present invention. The semiconductor light emitting device of the present invention can be manufactured by mounting the light emitting element chip 10 on the mount member 20.

【0014】発光素子チップ10としては、例えば、半
導体レーザ素子、発光ダイオードなどの発光素子を含む
チップを用いることができる。なお、図1は、発光素子
チップとして端面発光型の半導体レーザ素子チップを用
いた場合を例示するものである。
As the light emitting element chip 10, for example, a chip including a light emitting element such as a semiconductor laser element or a light emitting diode can be used. Note that FIG. 1 illustrates a case where an edge emitting semiconductor laser device chip is used as the light emitting device chip.

【0015】発光素子チップ10は、GaAs基板2上
に形成されたエピタキシャル層1を有し、このエピタキ
シャル層1上には電極4が形成されている。エピタキシ
ャル層1は、例えば、n型導電層1bと、活性ストライ
プを含む活性層1aと、p型導電層1cとが基板側から
順に積層された構造とすることができる。また、エピタ
キシャル層1は更に別の層を含んでいてもよい。
The light emitting device chip 10 has an epitaxial layer 1 formed on a GaAs substrate 2, and an electrode 4 is formed on the epitaxial layer 1. The epitaxial layer 1 can have, for example, a structure in which an n-type conductive layer 1b, an active layer 1a including an active stripe, and a p-type conductive layer 1c are sequentially stacked from the substrate side. In addition, the epitaxial layer 1 may include another layer.

【0016】マウント部材20においては、基板3に第
1の溝9aおよび第2の溝9bが形成されており、これ
らの溝の間の基板3表面に導電層5が形成されている。
第1および第2の溝9a、9bは、図1に示すように、
発光素子チップ10の発光面と直交する方向に沿った形
状とされる。
In the mount member 20, a first groove 9a and a second groove 9b are formed in the substrate 3, and a conductive layer 5 is formed on the surface of the substrate 3 between these grooves.
The first and second grooves 9a and 9b are, as shown in FIG.
It has a shape along a direction orthogonal to the light emitting surface of the light emitting element chip 10.

【0017】第1および第2の溝9a、9bは、各溝の
幅(W1a、W1c)と、溝同士の離間距離(W1b)とを合
計した寸法(W1a+W1b+W1c)が、発光素子チップ1
0の電極4の幅(W2)よりも小さくなるように形成さ
れる。
In the first and second grooves 9a and 9b, the total dimension (W1a + W1b + W1c) of the width (W1a, W1c) of each groove and the separation distance (W1b) between the grooves is the light emitting element chip 1
It is formed to be smaller than the width (W2) of the zero electrode 4.

【0018】図1に示した例において、上記各寸法は、
例えば、電極4の幅W2は250μm、溝9の幅W1aお
よびW1cはそれぞれ30μm、溝同士の離間距離W1bは
140μmとすることができる。このような例によれ
ば、発光チップの電極幅と、溝の幅および離間距離の合
計寸法との差は50μmとなり、接着剤6は確実に溝9
に流れ込み、ショート発生を抑制することができる。ま
た、発光チップ素子とマウント部材の組立てマージンと
して、±20μm以上という十分なマージンを確保する
ことができる。
In the example shown in FIG. 1, each of the above dimensions is
For example, the width W2 of the electrode 4 may be 250 μm, the widths W1a and W1c of the grooves 9 may be 30 μm, and the distance W1b between the grooves may be 140 μm. According to such an example, the difference between the electrode width of the light emitting chip and the total size of the groove width and the separation distance is 50 μm, so that the adhesive 6 surely holds the groove 9 in place.
It is possible to suppress the occurrence of short circuit. Further, it is possible to secure a sufficient margin of ± 20 μm or more as an assembly margin of the light emitting chip element and the mount member.

【0019】各溝の形状については、特に限定するもの
ではなく、例えば、図1に示すような断面が矩形となる
形状、断面がV字形となる形状、断面が台形となる形状
などを採用することができる。
The shape of each groove is not particularly limited, and for example, a shape having a rectangular cross section, a shape having a V-shaped cross section, a shape having a trapezoidal cross section as shown in FIG. 1 is adopted. be able to.

【0020】なお、基板3としては、例えば、SiC、
Si、AlN、ダイヤモンド、Mo系材料、W系材料な
どを使用することができる。また、導電層5としては、
例えば、Au、Al、AuSnなどを使用することがで
きる。
The substrate 3 is, for example, SiC,
Si, AlN, diamond, Mo-based material, W-based material, etc. can be used. Further, as the conductive layer 5,
For example, Au, Al, AuSn or the like can be used.

【0021】このようなマウント部材20は、例えば、
基板3表面に導電性材料を成膜し、これをパターニング
して導電層5を形成した後、導電層5の両側に第1の溝
9aおよび第2の溝9bを形成することによって作製す
ることができる。本実施形態においては、溝9a、9b
の形成方法としてダイシングを採用することができる。
Such a mount member 20 is, for example,
Producing by forming a conductive material on the surface of the substrate 3, patterning the conductive material to form the conductive layer 5, and then forming the first groove 9a and the second groove 9b on both sides of the conductive layer 5. You can In this embodiment, the grooves 9a and 9b
Dicing can be adopted as a method of forming the.

【0022】上記マウント部材20上に発光素子チップ
10が実装される。このとき、発光素子チップ10は、
電極4が導電層5と対向するようにマウント部材20上
に搭載され、電極4と導電層5とが接着材6によって接
続される。接着材6としては、例えば、半田などを使用
することができる。
The light emitting element chip 10 is mounted on the mount member 20. At this time, the light emitting element chip 10
The electrode 4 is mounted on the mount member 20 so as to face the conductive layer 5, and the electrode 4 and the conductive layer 5 are connected by the adhesive material 6. As the adhesive material 6, for example, solder or the like can be used.

【0023】発光素子チップ10のマウント部材20へ
の実装は、例えば、マウント部材20の導電層5上に半
田を形成した後、マウント部材20上に発光素子チップ
10を位置合わせして搭載し、この状態で昇温して半田
を溶融させるとともに、発光素子チップ10をマウント
部材20に押し付けることによって実施することができ
る。
To mount the light emitting element chip 10 on the mount member 20, for example, after solder is formed on the conductive layer 5 of the mount member 20, the light emitting element chip 10 is aligned and mounted on the mount member 20, In this state, the temperature is raised to melt the solder, and the light emitting element chip 10 is pressed against the mount member 20.

【0024】上記説明においては、発光素子チップとし
て半導体レーザ素子チップを用いた場合を例示したが、
本発明はこれに限定されるものではない。例えば、発光
素子チップとして、同一チップ内に複数の発光素子が集
積されたアレイ素子チップを用いることもできる。
In the above description, the case where the semiconductor laser element chip is used as the light emitting element chip has been exemplified.
The present invention is not limited to this. For example, an array element chip in which a plurality of light emitting elements are integrated in the same chip can be used as the light emitting element chip.

【0025】図2は、アレイ素子チップを用いた半導体
発光装置を示す断面図であり、端面発光型の半導体レー
ザアレイ素子を用いた場合を例示するものである。この
半導体発光装置は、サブマウント部材20上に、アレイ
素子チップである発光素子チップ11を実装することに
より作製できる。
FIG. 2 is a sectional view showing a semiconductor light emitting device using an array element chip, and illustrates a case where an edge emitting semiconductor laser array element is used. This semiconductor light emitting device can be manufactured by mounting the light emitting element chip 11, which is an array element chip, on the submount member 20.

【0026】発光素子チップ11は複数の発光素子を有
し、各発光素子が基板2上に形成されたエピタキシャル
層1(n型導電層1b、活性層1aおよびp型導電層1
cを含む。)と、その上に形成された電極4とを備えて
いる。また、マウント部材20においては、基板3上
に、各発光素子に対応するように複数の導電層5が形成
されており、各導電層5の両側に溝9aおよび9bが形
成されている。この溝は、図1の例と同様に、溝の幅と
離間距離との合計寸法(W1a+W1b+W1c)が電極4の
幅(W2)よりも小さくなるように形成される。発光素
子チップ11は電極4が導電層5と対向するようにマウ
ント部材20上に搭載され、前記電極4と前記導電層5
とが半田などの接着材6を介して接続されている。
The light-emitting element chip 11 has a plurality of light-emitting elements, and each light-emitting element is formed on a substrate 2 by an epitaxial layer 1 (n-type conductive layer 1b, active layer 1a and p-type conductive layer 1).
Including c. ) And the electrode 4 formed thereon. Further, in the mount member 20, a plurality of conductive layers 5 are formed on the substrate 3 so as to correspond to the respective light emitting elements, and grooves 9 a and 9 b are formed on both sides of each conductive layer 5. Similar to the example of FIG. 1, this groove is formed such that the total dimension (W1a + W1b + W1c) of the width of the groove and the separation distance is smaller than the width (W2) of the electrode 4. The light emitting element chip 11 is mounted on the mount member 20 so that the electrode 4 faces the conductive layer 5, and the electrode 4 and the conductive layer 5 are mounted.
And are connected via an adhesive material 6 such as solder.

【0027】本実施形態の半導体発光装置によれば、図
1および図2に示すように、マウント部材上に発光素子
チップを実装する際に導電層上から接着材がはみ出した
場合であっても、はみ出した接着材は確実に溝に流れ込
むので、発光素子チップの側面に接着材が付着すること
を回避し、ショートの発生を抑制することができる。
According to the semiconductor light emitting device of the present embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, even when the adhesive material protrudes from the conductive layer when the light emitting element chip is mounted on the mount member. Since the protruding adhesive material surely flows into the groove, it is possible to prevent the adhesive material from adhering to the side surface of the light emitting element chip and suppress the occurrence of a short circuit.

【0028】(実施形態2)本発明の半導体発光装置に
おいては、マウント部材表面の溝が、フォトリソグラフ
ィーおよびエッチングにより形成されていることが好ま
しい。このような例を実施形態2として説明する。
(Embodiment 2) In the semiconductor light emitting device of the present invention, it is preferable that the groove on the surface of the mount member is formed by photolithography and etching. Such an example will be described as a second embodiment.

【0029】図3は、本発明の実施形態2における半導
体発光装置の一例を示す断面図ある。なお、図3は、発
光素子チップとして端面発光型の半導体レーザ素子チッ
プを用いた場合を例示するものである。なお、発光素子
チップ10の構造については、実施形態1と同様であ
る。
FIG. 3 is a sectional view showing an example of a semiconductor light emitting device according to Embodiment 2 of the present invention. Note that FIG. 3 exemplifies a case where an edge-emitting semiconductor laser element chip is used as the light emitting element chip. The structure of the light emitting element chip 10 is the same as that of the first embodiment.

【0030】マウント部材20においては、基板3に第
1の溝9aおよび第2の溝9bが形成されており、これ
らの溝の間の基板3表面に導電層5が形成されている。
第1および第2の溝9a、9bは、実施形態1と同様
に、各溝の幅(W1a、W1c)と、溝同士の離間距離(W
1b)とを合計した寸法(W1a+W1b+W1c)は、発光素
子チップ10の電極4の幅(W2)よりも小さくなるよ
うに設定される。
In the mount member 20, the first groove 9a and the second groove 9b are formed in the substrate 3, and the conductive layer 5 is formed on the surface of the substrate 3 between these grooves.
Similar to the first embodiment, the first and second grooves 9a and 9b have the width (W1a, W1c) of each groove and the distance (W) between the grooves.
1b) and the total size (W1a + W1b + W1c) are set to be smaller than the width (W2) of the electrode 4 of the light emitting element chip 10.

【0031】図3に示した例において、上記各寸法は、
例えば、電極4の幅W2は80μm、溝9の幅W1aおよ
びW1cはそれぞれ10μm、溝同士の離間距離W1bは2
0μmとすることができる。このような例によれば、発
光チップの電極幅と、溝の幅および離間距離の合計寸法
との差は40μmとなり、接着剤6は確実に溝9に流れ
込み、ショート発生を抑制することができる。また、発
光素子アレイとマウント部材の組立てマージンとして、
±20μmという十分なマージンを確保することができ
る。
In the example shown in FIG. 3, each of the above dimensions is
For example, the width W2 of the electrode 4 is 80 μm, the widths W1a and W1c of the grooves 9 are each 10 μm, and the separation distance W1b between the grooves is 2 μm.
It can be 0 μm. According to such an example, the difference between the electrode width of the light emitting chip and the total size of the groove width and the separation distance is 40 μm, and the adhesive 6 can surely flow into the groove 9 and suppress the occurrence of a short circuit. . Also, as an assembly margin of the light emitting element array and the mount member,
A sufficient margin of ± 20 μm can be secured.

【0032】溝の形状については、実施形態1と同様、
特に限定するものではない。例えば、図3に示すような
断面がV字形となる形状のほか、断面が矩形となる形状
などを採用することができる。
Regarding the shape of the groove, as in the first embodiment,
It is not particularly limited. For example, in addition to the V-shaped cross section shown in FIG. 3, a rectangular cross section can be adopted.

【0033】なお、基板3および導電層5の材料として
は、実施形態1と同様の材料を使用することができる。
As the material of the substrate 3 and the conductive layer 5, the same material as in the first embodiment can be used.

【0034】マウント部材20の作製方法、および、発
光素子チップ10のマウント部材20への実装方法につ
いては、実施形態1と同様の方法を採用することができ
る。但し、本実施形態においては、マウント部材20の
溝9aおよび9bが、フォトリソグラフィーおよびエッ
チングによって形成される。特に、マウント部材20の
基板3としてSiを用い、溝9aおよび9bを異方性エ
ッチングにより形成することが好ましい。
As a method of manufacturing the mount member 20 and a method of mounting the light emitting element chip 10 on the mount member 20, the same method as in the first embodiment can be adopted. However, in this embodiment, the grooves 9a and 9b of the mount member 20 are formed by photolithography and etching. In particular, it is preferable to use Si as the substrate 3 of the mount member 20 and to form the grooves 9a and 9b by anisotropic etching.

【0035】また、上記説明においては、発光素子チッ
プとして半導体レーザ素子チップを用いた場合を例示し
たが、本発明はこれに限定されるものではない。例え
ば、発光素子チップとしてアレイ素子チップを用いるこ
ともできる。図4は、このような半導体発光装置を示す
断面図である。この半導体発光装置は、マウント部材の
溝がフォトリソグラフィーおよびエッチングにより形成
されること以外は、図2に示すものと同様の構造を有す
る。
Further, in the above description, the case where the semiconductor laser element chip is used as the light emitting element chip is illustrated, but the present invention is not limited to this. For example, an array element chip can be used as the light emitting element chip. FIG. 4 is a cross-sectional view showing such a semiconductor light emitting device. This semiconductor light emitting device has the same structure as that shown in FIG. 2 except that the groove of the mount member is formed by photolithography and etching.

【0036】本実施形態の半導体発光装置によれば、実
施形態1と同様に、マウント部材上に発光素子チップを
実装する際に、導電層上からはみ出した接着材が発光素
子チップの側面に付着することを回避し、ショートの発
生を抑制することができる。また、導電層上からはみ出
した接着材が横方向に広がることを回避することができ
るため、複数の発光素子を備えた発光素子チップを用い
た半導体発光装置において、隣接する発光素子同士間の
ショートをも抑制することができる。
According to the semiconductor light emitting device of this embodiment, as in the case of the first embodiment, when the light emitting element chip is mounted on the mount member, the adhesive protruding from the conductive layer adheres to the side surface of the light emitting element chip. This can be avoided, and the occurrence of short circuit can be suppressed. Further, since it is possible to prevent the adhesive material protruding from the conductive layer from spreading in the lateral direction, in a semiconductor light emitting device using a light emitting element chip having a plurality of light emitting elements, a short circuit between adjacent light emitting elements is caused. Can also be suppressed.

【0037】また、本実施形態によれば、溝をフォトリ
ソグラフィーおよびエッチングという微細加工に適した
方法で形成するため、ダイシングによる形成に比べ、溝
の寸法精度および位置精度が高くなる。よって、例え
ば、発光素子チップとしてアレイ素子を用いた場合、各
発光点を近接させることができる。
Further, according to the present embodiment, the groove is formed by a method suitable for fine processing such as photolithography and etching, so that the dimensional accuracy and the positional accuracy of the groove are higher than those formed by dicing. Therefore, for example, when an array element is used as the light emitting element chip, the light emitting points can be close to each other.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明の半導体
発光装置によれば、発光素子チップの電極とマウント部
材の導電層とを接続する際に、導電層が形成された領域
から、両者を接続するための接着材がはみ出した場合で
あっても、このはみ出した接着材をマウント部材表面の
溝に流し込むことができ、その結果、ショートの発生を
抑制することができる。
As described above, according to the semiconductor light emitting device of the present invention, when the electrode of the light emitting element chip and the conductive layer of the mount member are connected to each other from the region where the conductive layer is formed, Even if the adhesive material for connecting the two is protruding, the protruding adhesive material can be poured into the groove on the surface of the mount member, and as a result, the occurrence of short circuit can be suppressed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施形態1に係る半導体発光装置の
一例を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a semiconductor light emitting device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施形態1に係る半導体発光装置の
別の一例を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing another example of the semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the invention.

【図3】 本発明の実施形態2に係る半導体発光装置の
一例を示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing an example of a semiconductor light emitting device according to a second embodiment of the invention.

【図4】 本発明の実施形態2に係る半導体発光装置の
別の一例を示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing another example of the semiconductor light emitting device according to the second embodiment of the invention.

【図5】 従来の半導体発光装置を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor light emitting device.

【図6】 従来の半導体発光装置を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor light emitting device.

【図7】 従来の半導体発光装置を示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor light emitting device.

【符号の説明】 1 エピタキシャル層 2 半導体基板 3 基板 4 電極 5 導電層 6 接着材 9a、9b 溝 10、11 発光素子チップ 20 マウント部材[Explanation of symbols] 1 Epitaxial layer 2 Semiconductor substrate 3 substrates 4 electrodes 5 Conductive layer 6 adhesive 9a, 9b groove 10, 11 Light emitting element chip 20 Mount member

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中森 達哉 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 西本 雅彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5F041 AA25 CA46 CA74 DA02 DA04 DA13 5F073 CB02 DA21 EA27 FA12 FA21   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Tatsuya Nakamori             1006 Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric             Sangyo Co., Ltd. (72) Inventor Masahiko Nishimoto             1006 Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric             Sangyo Co., Ltd. F-term (reference) 5F041 AA25 CA46 CA74 DA02 DA04                       DA13                 5F073 CB02 DA21 EA27 FA12 FA21

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面に電極を備えた発光素子チップが、
表面に導電層を備えたマウント部材上に、前記電極と前
記導電層とが対向するように搭載され、前記電極と前記
導電層とが接着材を介して接続された半導体発光装置で
あって、前記マウント部材表面に、前記導電層を挟んで
互いに離間するように第1の溝および第2の溝が形成さ
れており、前記第1の溝の幅、前記第2の溝の幅および
前記第1の溝と前記第2の溝との離間距離を合計した寸
法が、前記発光素子チップの前記電極の幅よりも小さい
ことを特徴とする半導体発光装置。
1. A light emitting device chip having electrodes on its surface,
A semiconductor light emitting device, wherein the electrode and the conductive layer are mounted so as to face each other on a mount member having a conductive layer on the surface, and the electrode and the conductive layer are connected via an adhesive, A first groove and a second groove are formed on the surface of the mount member so as to be separated from each other with the conductive layer interposed therebetween. The width of the first groove, the width of the second groove, and the width of the second groove are formed. A semiconductor light emitting device characterized in that the total distance between the first groove and the second groove is smaller than the width of the electrode of the light emitting element chip.
【請求項2】 前記第1の溝および前記第2の溝が、前
記マウント部材表面をエッチングすることにより形成さ
れている請求項1に記載の半導体発光装置。
2. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the first groove and the second groove are formed by etching the surface of the mount member.
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