JP2003092813A - ガス絶縁開閉装置 - Google Patents

ガス絶縁開閉装置

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JP2003092813A JP2001284258A JP2001284258A JP2003092813A JP 2003092813 A JP2003092813 A JP 2003092813A JP 2001284258 A JP2001284258 A JP 2001284258A JP 2001284258 A JP2001284258 A JP 2001284258A JP 2003092813 A JP2003092813 A JP 2003092813A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾燥空
気と同等となるほぼ8:2の絶縁ガスを絶縁媒体とする
ガス絶縁開閉装置の漏れ検査のために充填したヘリウム
ガスを残留させたまま使用できるガス絶縁開閉装置を構
成する。 【解決手段】 ガス絶縁開閉装置の構成は乾燥空気また
は窒素と酸素の混合比が乾燥空気と同等となるほぼ8:
2の絶縁ガスを絶縁媒体とするガス絶縁開閉装置の開閉
機器が収容された容器の漏れ検査のために充填したヘリ
ウムガスを残留させ、乾燥空気または窒素と酸素の混合
比が乾燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスを大気圧よ
りも高いガス圧力で充填した構成とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、容器に遮断器、
断路器、接地開閉器等の開閉機器が収容され、内部に乾
燥空気または窒素ガス等の絶縁ガスが充填されたガス絶
縁開閉装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電気機器の絶縁媒体として広く用いられ
ているSFガスが、1997年の地球温暖化防止京都
会議において、排出抑制ガスに指定され、今後はガス絶
縁開閉装置にはSFガスの使用が制限され、SF
スを全く使用しないガス絶縁開閉装置が開発され実用化
されてきている。例えば、24kV級のガス絶縁開閉装
置としては、文献「SFガスフリーの新型24kVス
イッチギア」(電気評論2001年 3月号掲載)に示
されたものがある。
【0003】そのガス絶縁開閉装置の全体構成を図3、
遮断部の構成を図4に示す。図において、1a、1b、
1cは真空スイッチ、2a、2b、2cは線路側断路
器、3a、3b、3cは真空スイッチ1a、1b、1c
を開閉する絶縁操作ロッド、4a、4b、4cは接続導
体、5a、5b、5cは接続ブッシング、6は真空スイ
ッチ1a、1b、1c、断路器2a、2b、2c、操作
ロッド3a、3b、3cが収容された遮断部容器、7は
真空スイッチ1a、1b、1cを開閉操作する遮断部操
作機構、10は遮断部容器6に真空スイッチ1a、1
b、1c、線路側断路器2a、2b、2c、操作ロッド
3a、3b、3c等が収容された部分と、接続ブッシン
グ5a、5b、5c、遮断部操作機構7、線路側ブッシ
ング8a、8b、8cとで構成された遮断部である。9
a、9b、9cは線路側ブッシング8a、8b、8cと
線路間を接続する絶縁導体である。
【0004】22a、22b、22cは母線側断路器、
23a、23b、23cは母線と接続する母線側ブッシ
ング、26は母線側断路器22a、22b、22cが収
容された母線側断路器容器、27は母線側断路器22
a、22b、22cを操作する母線側断路器操作機構で
ある。20は母線側断路器容器26に収容された母線側
断路器22a、22b、22cと母線側断路器操作機構
27とで構成された母線側断路器部である。29は遮断
部10、母線側断路器部20を収容した筐体である。3
0は筐体29に遮断部10及び母線側断路部20及びそ
の他の機器が収容されたガス絶縁開閉装置である。
【0005】遮断部10の内部構造は、真空スイッチ1
a、1b、1cの軸方向から見た構成図の図4に示すよ
うに、真空スイッチ1a、1cを両側に配置し、中央相
の真空スイッチ1bは上方にずらせて配置し、各相の相
間には絶縁バリア11a、11b、11cを配置した構
成である。ガス絶縁開閉装置30は上記の図示された部
分に隠れた位置に接地開閉器が配置されている。
【0006】このように構成されたガス絶縁開閉装置3
0は、遮断部10が遮断器部容器6、母線側断路器部2
0が母線側断路器部容器26にそれぞれ収容されて、そ
れぞれの容器6及び26に乾燥空気または窒素と酸素の
混合比が乾燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスを大気
圧よりも少し高い圧力で充填した構成であり、各相充電
部分の対地間及び相間に絶縁バリアを配置することによ
り、地球温暖化係数の大きなSFガスを使用しない
で、SFガスを使用した場合と寸法的に遜色がないガ
ス絶縁開閉装置として実現したものである。
【0007】このように構成されたガス絶縁開閉装置3
0は、真空スイッチ1a、1b、1c、線路側断路器2
a、2b、2c等の開閉機器が遮断器部容器6に収容さ
れ、母線側も同様に母線側断路器22a、22b、22
cが母線側断路器部容器26に収容されて絶縁ガスが充
填された構成であり、それぞれの容器6または26に漏
れがあると絶縁性能が維持できなくなるので、容器の製
作過程においてはガス漏れが生じないように厳密な管理
のもとに製作され、開閉機器が組み込まれた状態におい
ては、内部に漏れ検査のためのヘリウムガスを充填し、
容器の周囲を検査容器に入れて真空引き等によってヘリ
ウムガスの充填圧力よりも低い状態を確保して所定の時
間保持し、検査容器中のヘリウムガスの有無及び濃度を
ヘリウムガス検出器により検知して漏れ検査を行ってい
る。
【0008】漏れ検査のために充填したヘリウムガス
は、容器内に残留した場合の耐電圧性能への影響につい
て把握できていないために、漏れ検査後に開閉機器が収
容された容器6または26内を真空引きしてヘリウムガ
スを抜き取り、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾
燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスを所定の圧力で充
填している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の空気絶縁式
のガス絶縁開閉装置では、開閉機器が収容された容器内
にヘリウムガスを充填し、開閉機器が収容された容器6
または26の周囲を減圧状態として漏れ検査を行い、漏
れ検査後にヘリウムガスが充填された容器内を真空引き
してヘリウムガスを抜き取り、乾燥空気または窒素と酸
素の混合比が乾燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスを
所定の圧力に充填した構成であり、漏れ検査後に容器6
または26の真空引き作業、絶縁ガスの充填作業があ
り、組立作業時間が長く、製作コストが高くなるという
問題点があった。
【0010】この発明は、開閉機器が収容された容器内
の漏れ検査のために充填したヘリウムガスの耐電圧性能
に対する影響を明確にし、充填したヘリウムガスは容器
内に残留させた状態で、所定の圧力の乾燥空気または窒
素と酸素の混合比が乾燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁
ガスを加えて所定の圧力に充填したガス絶縁開閉装置を
提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
るガス絶縁開閉装置は、容器に開閉機器が収容され、上
記容器内部に絶縁ガスが充填されて使用されるガス絶縁
開閉装置の絶縁ガスは、容器の漏れ検査時に充填された
ヘリウムガスに加えて、乾燥空気または窒素と酸素の混
合比が乾燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスを大気圧
よりも高いガス圧力で充填したものである。
【0012】この発明の請求項2に係るガス絶縁開閉装
置は、請求項1の構成の容器の漏れ検査時に充填するヘ
リウムガスを、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾
燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスが充填された状態
における分圧比が3〜15%となる量を充填したもので
ある。
【0013】この発明の請求項3に係るガス絶縁開閉装
置は、請求項1の構成の容器の漏れ検査時に充填するヘ
リウムガスを、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾
燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスが充填された状態
における分圧比が3〜7%となる量を充填したものであ
る。
【0014】
【発明の実施の形態】実施の形態1.実施の形態1は、
使用制限されている地球温暖化ガスのSFガスを使用
しないガス絶縁開閉装置の構成を変えることなく、漏れ
検査に必要な量のヘリウムガスを残留させて、乾燥空気
または窒素と酸素の混合比が乾燥空気と同等のほぼ8:
2の絶縁ガスを充填した状態で使用できるようにしたも
のである。
【0015】漏れ検査後に、漏れ検査のために充填した
ヘリウムガスを抜き取ることなく所定の圧力の乾燥空気
または窒素と酸素の混合ガスを追加する状態で充填する
ことができれば組立時間が短縮できることに着目して次
の実験を実施した。窒素と酸素の混合比が乾燥空気と同
等のほぼ8:2の絶縁ガスに、漏れ検査に必要なヘリウ
ムガスの混合比を変えて破壊電圧を求めた結果を図1、
図2に示す。図1は先端曲率半径25mmの棒電極対平
板電極の電極間距離を30mm、ガス圧力を0.25M
Paとし、ヘリウムガスの混合比が0のときの雷インパ
ルスの破壊電圧を1.0としてヘリウムガスの混合比と
破壊電圧の関係を示すものである。図2は先端曲率半径
10mmの棒電極対平板電極の電極間距離を60mmと
し、電極の中間に厚さ10mmの絶縁バリアを棒電極か
ら15mm、平板電極から35mmの間隔に配置し、ガ
ス圧力を0.20MPaとし、ヘリウムガスの混合比が0
のときの雷インパルスの破壊電圧を1.0としてヘリウ
ムガスの混合比と破壊電圧を関係を示すものである。
【0016】この結果、図1ではヘリウムガス分圧比が
45%まではヘリウムガスを含まない場合よりも破壊電
圧が高く、分圧比5%において最大値を示し、1.15
倍となっている。図2では、分圧比が15%以下ではヘ
リウムガスを含まない場合よりも破壊電圧が高くなって
おり、分圧比3〜7%の範囲では、ヘリウムガスを含ま
ない場合の1.05倍となっている。
【0017】上記の結果から漏れ検査のために充填する
ヘリウムガスをガス絶縁開閉装置の絶縁ガスに対する分
圧比が15%以下となる量のヘリウムガスを充填して漏
れ検査を実施し、漏れ検査後に所定の圧力まで乾燥空気
または窒素と酸素の混合比が乾燥空気と同等のほぼ8:
2の絶縁ガスを充填することにより、ヘリウムガスを含
まない場合と同等の絶縁耐力が確保されたガス絶縁開閉
装置となる。
【0018】また、漏れ検査のために充填するヘリウム
ガスをガス絶縁開閉装置の絶縁ガスに対して分圧比が3
〜7%の範囲の量を充填して漏れ検査を実施し、同様に
漏れ検査後に所定の圧力まで乾燥空気または窒素と酸素
の混合比が乾燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスを充
填することにより、ヘリウムガスをを含まない場合より
も絶縁耐力が1.05倍と高くなり、絶縁信頼性の高い
ガス絶縁開閉装置となる。
【0019】ガス絶縁開閉装置の容器6または26に開
閉機器を組み込んだ後に実施する漏れ検査は、開閉機器
が収容された容器内に漏れ検査のために必要な量のヘリ
ウムガスを充填し、容器の周囲がヘリウムガスの充填圧
力よりも低い圧力となるように真空容器に入れて真空引
きし、所定の時間真空状態を保持し、真空容器内のヘリ
ウムガスの有無及びヘリウムガス濃度を検知する方法に
て漏れ検査を行う。漏れ検査後に開閉機器が収容された
容器6または26の内部にヘリウムガスを残留させたま
ま乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾燥空気と同等
のほぼ8:2の絶縁ガスを所定の圧力で充填して組み立
てられる。
【0020】漏れ検査は、例えば図3に示すガス充填検
査装置を準備し、この装置によって行うことで漏れ検
査、絶縁ガスの充填作業を効率的に行うことができる。
図3において、31は真空容器、32はヘリウムガス検
出装置、33はガス絶縁開閉装置10または20に設け
られたバルブ、34は真空容器31壁を貫通する配管に
設けられたバルブ、35は真空容器31に設けられたバ
ルブ、36は真空ポンプに接続された配管に設けられた
バルブ、37はヘリウムガスボンベに接続されたバル
ブ、38は乾燥空気タンクまたは窒素、酸素の混合比が
乾燥空気と同等のほぼ8:2に混合された絶縁ガスのタ
ンクに接続されたバルブ、39は真空容器31に設けら
れた真空容器31内を大気圧に戻すためのバルブであ
る。
【0021】図3に示すガス充填検査装置による漏れ検
査およびガス充填作業は次の手順で行う。 (a)組み立てられたガス絶縁開閉装置10または20
を真空容器31内に収容し、バルブ33とバルブ34を
接続し、バルブ33を開状態として真空容器31の蓋を
取り付けて封止する。 (b)バルブ34、35を開状態とし、バルブ37、3
8を閉状態とし、真空ポンプを運転してバルブ36を開
状態にして、ガス絶縁開閉装置10または20の内部お
よび真空容器31の内部を真空引きする。 (c)所定の真空度に到達後に、バルブ34、35、3
6を閉状態とし、バルブ38の閉状態を維持して、バル
ブ37を開状態とし、バルブ34を開状態にしてヘリウ
ムガスを所定の圧力に充填した後にバルブ34、37を
閉状態にする。(所定の圧力=ガス絶縁開閉装置の全圧
力の3〜7%または3〜15%) (d)ヘリウムガスが充填された状態を所定の時間維持
して、ヘリウムガス検査装置32により、真空容器31
内のヘリウムガスの有無およびヘリウムガス濃度を検知
する。 (e)(d)においてヘリウムガス検出値が限界値以下
のときに「漏れなし」と判定し、以下の作業を行う。 (f)バルブ33、34は開状態、バルブ35、36、
37は閉状態とし、バルブ39を開状態にして真空容器
31内の真空状態を大気圧状態にする。 (g)バルブ35の閉状態を確認し、バルブ38を開状
態にし、バルブ34を開状態にして乾燥空気または窒
素、酸素の混合比が乾燥空気と同等となるほぼ8:2の
絶縁ガスを所定の圧力に充填し、バルブ34を閉状態に
する。 (h)真空容器31の蓋を取り外し、バルブ33を閉状
態にして、ガス絶縁開閉装置を取り出すことにより、漏
れ検査およびガス充填作業が完了する。
【0022】以上のように漏れ検査のために充填したヘ
リウムガスは容器内に残留させて乾燥空気または窒素と
酸素の混合比が乾燥空気と同等となるほぼ8:2の絶縁
ガスを所定の圧力に充填したことにより、従来のように
漏れ検査後の真空引き、絶縁ガスの充填作業を行うこと
がなくなり、組立作業時間が短縮できる。
【0023】
【発明の効果】この発明の請求項1に係るガス絶縁開閉
装置は、容器の漏れ検査時に充填されたヘリウムガス
に、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾燥空気と同
等のほぼ8:2の絶縁ガスを大気圧よりも高いガス圧力
で充填したので、漏れ検査後の真空引き作業、絶縁ガス
の充填作業がなくなり、組立作業時間が短縮できる。
【0024】この発明の請求項2に係るガス絶縁開閉装
置は、請求項1の構成の容器の漏れ検査時に充填するヘ
リウムガスを、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾
燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスが充填された状態
における分圧比が3〜15%となる量としたので、漏れ
検査後の真空引き作業、絶縁ガスの充填作業がなくな
り、耐電圧性能の確保された構成となる。
【0025】この発明の請求項3に係るガス絶縁開閉装
置は、請求項1の構成の容器の漏れ検査時に充填するヘ
リウムガスを、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾
燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスが充填された状態
における分圧比が3〜7%となる量としたので、ヘリウ
ムガスを含まない場合よりも耐電圧特性が向上した構成
となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 窒素と酸素を混合した絶縁ガスにヘリウムガ
スを加えた絶縁ガスの破壊電圧特性図である。
【図2】 窒素と酸素を混合した絶縁ガスにヘリウムガ
スを加えた絶縁ガスの電極間に絶縁バリアを配置した場
合の破壊電圧特性図である。
【図3】 ガス充填漏れ検査装置の概念図である。
【図4】 従来の乾燥空気を絶縁媒体とした24kV級
ガス絶縁開閉装置の構成図である。
【図5】 図4の遮断部の詳細構成図である。
【符号の説明】
31 真空容器、32 ヘリウムガス検出装置、33〜
39 バルブ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5G017 DD01 EE06 5G028 GG16 5G365 DN06

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 容器に開閉機器が収容され、上記容器内
    部に絶縁ガスが充填されたガス絶縁開閉装置において、
    上記絶縁ガスは、上記容器の漏れ検査時に充填されたヘ
    リウムガスに加えて、乾燥空気または窒素と酸素の混合
    比が乾燥空気と同等のほぼ8:2の絶縁ガスが大気圧よ
    りも高いガス圧力で充填されていることを特徴とするガ
    ス絶縁開閉装置。
  2. 【請求項2】 容器の漏れ検査時に充填するヘリウムガ
    スは、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾燥空気と
    同等のほぼ8:2の絶縁ガスが充填された状態における
    分圧比が3〜15%となる量が充填されていることを特
    徴とする請求項1記載のガス絶縁開閉装置。
  3. 【請求項3】 容器の漏れ検査時に充填するヘリウムガ
    スは、乾燥空気または窒素と酸素の混合比が乾燥空気と
    同等のほぼ8:2の絶縁ガスが充填された状態における
    分圧比が3〜7%となる量が充填されていることを特徴
    とする請求項1記載のガス絶縁開閉装置。
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