JP2003075750A - 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置 - Google Patents

走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置

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JP2003075750A JP2001271686A JP2001271686A JP2003075750A JP 2003075750 A JP2003075750 A JP 2003075750A JP 2001271686 A JP2001271686 A JP 2001271686A JP 2001271686 A JP2001271686 A JP 2001271686A JP 2003075750 A JP2003075750 A JP 2003075750A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な位置合わせでも高精度な同期検出が可
能で、かつ高密度化された高性能な走査光学装置及びそ
れを用いた画像形成装置を得ること。 【解決手段】 光源手段1から射出された光束を入射光
学手段21を介して偏向手段5に導光し、偏向手段によ
り偏向された光束を走査光学手段6により被走査面7上
に導光し、被走査面上の光走査を、被走査面上に入射す
る光束の一部を同期検出用光学系10で同期検出手段8
に導き、同期検出手段で得た同期信号を用いて行う際、
光源手段を構成する光源と、同期検出手段を構成する同
期検出器とは同一の基板11上に設けられており、基板
は入射光学手段の光軸方向に垂直な面内で回動可能な構
造であり、同期検出器に入射する光束は副走査方向に長
い形状をしていること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は走査光学装置及びそ
れを用いた画像形成装置に関し、特に高速、高記録密度
を達成するために光源手段として複数の発光点を有する
マルチ半導体レーザを用いて画像形成を行うようにし
た、例えばレーザビームプリンタやデジタル複写機等の
画像形成装置に好適なものである。
【0002】
【従来の技術】図5は複数の発光点を有する光源手段を
用いた従来のマルチビーム走査光学装置の主走査方向の
要部断面図(主走査断面図)である。
【0003】同図において2つの発光点51A,51B
を有するマルチ半導体レーザ51から出射した2つの光
束(光ビーム)はコリメータ−レンズ52により略平行
光束に変換され、副走査方向にのみ所定の屈折力を有す
るシリンドリカルレンズ54によって副走査方向にのみ
収束される。
【0004】更に光軸から離れた2つの発光点51A,
51Bからたどる光束が異なることから発生する収差の
差分が結像性能に影響するため、その影響を極力低減さ
せるための開口絞り53でその光束を整形して光偏向器
であるポリゴンミラー55の偏向面(反射面)55c近
傍において主走査方向に長く伸びた焦線状に結像する。
【0005】そして図中矢印55b方向に一定角速度で
回転しているポリゴンミラー55によって反射偏向され
た2つの光束は走査レンズ系56としての2つのfθレ
ンズ56a、56bによって被走査面としての感光ドラ
ム面57上にスポット状に各々集光され、図中矢印57
b方向(主走査方向)に一定速度で走査される。
【0006】このようなマルチビーム走査光学装置にお
いては図6に示すように2つの発光点51A,51Bを
副走査方向に直線的に並べて配置してしまうと感光ドラ
ム面上での副走査方向の2つの走査線の間隔が記録密度
よりも大幅に間隔が空いてしまうため、通常は図7に示
すように2つの発光点51A,51Bを副走査方向に対
応する方向に対して傾けて配置し、その傾け角度θを調
整することにより、感光ドラム面上での副走査方向の複
数の走査線の間隔を記録密度に合わせて正確に調整して
いる。
【0007】こうすることにより光線束の経路を極力一
致させ、より高記録密度を達成することが可能となり、
更にポリゴンミラーの駆動モータの回転数を発光点が1
つのときに比べて1/2に抑えることができ、充分余裕
を持って高速化へ対応することが可能となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで高速で高密度
な走査を行うためには画像情報を書き出す時間的制御に
ついても同様に対応が必要である。
【0009】図5には被走査面上の走査開始位置のタイ
ミングを制御する同期検出手段(BD光学系)58が設
けられており、同期信号(BD信号)を検出するための
同期検出器(BDセンサー)59と該同期検出器59に
同期検出用の光束(BD光束)を導くための同期検出用
光学系(BDレンズ)60とが配置されている。
【0010】前述の如くシリンドリカルレンズ54によ
って副走査方向にのみ収束光束とされた光束は偏向面5
8c近傍で主走査方向に伸びた線状の光束とされ、同期
検出用光学系60に対して主走査断面内は略平行光束と
して、副走査断面内は発散光束として入射する。
【0011】同期検出用光学系60は主走査断面内と副
走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有しており、
該主走査断面内と副走査断面内にそれぞれに対して同期
検出器59に集光するよう適したパワーが与えられてお
り、光束は該同期検出器59面上でスポットを形成す
る。
【0012】更に電気部品である光源の半導体レーザ5
1と同期検出器59は、従来別の基板を使った独立した
回路構成とされていたが、近年では組立工数の低減や部
品点数の削減によるコストダウンのために、該半導体レ
ーザ51と同期検出器59とを同一基板61上に配した
工夫がなされている。
【0013】但し、この場合、同一基板61上に半導体
レーザ51と同期検出器59とが配置されることから、
その位置合せが重要となってくることは明白である。
【0014】この位置合せに対しては従来からは、特に
マルチビーム光源の場合、該マルチビーム光源を副走査
方向のピッチ調整のために光軸周りに回転させることが
行われているが、これは同時に同期検出器に対してもそ
の集光位置が回転していくこととなる。
【0015】つまりマルチビーム光源の回転により移動
したスポットを同期検出器に入射させるため、例えば図
8に示すようにマルチビーム光源を中心として回転させ
るような構造がとられていたが、この構造においては回
転時に同期検出器から集光点が外れてしまう恐れがある
ため移動範囲が十分取れず、また外れた場合には同期検
出器かマルチビーム光源の端子の足を曲げるなどして位
置そのものをずらす等の作業が必要となり、調整に過大
な時間を費やしていた。
【0016】本発明は光源手段を構成する光源と、該同
期検出手段を構成する同期検出器とを同一の基板上に配
置した際、その位置関係を良好に保ち、被走査面上への
走査開始位置のタイミングの高精度化を可能とする走査
光学装置及びそれを用いた画像形成装置の提供を目的と
する。
【0017】また本発明は位置合せを簡易な方法とし、
部品点数の削減やその位置合せに調整に必要な作業時間
を短縮することによるコスト削減をも図ることが可能な
走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置の提供を目
的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明の走査光
学装置は、光源手段から射出された光束を入射光学手段
を介して偏向手段に導光し、該偏向手段により偏向され
た光束を走査光学手段により被走査面上に導光し、該被
走査面上の光走査を、該被走査面上に入射する光束の一
部を同期検出用光学系を含む同期検出手段に導き、該同
期検出手段で得た同期信号を用いて行う走査光学装置に
おいて、該光源手段を構成する光源と、該同期検出手段
を構成する同期検出器とは同一の基板上に設けられてお
り、該基板は該入射光学手段の光軸方向に垂直な面内で
回動可能な構造であり、該同期検出器に入射する光束は
副走査方向に長い形状をしていることを特徴としてい
る。
【0019】請求項2の発明は請求項1の発明におい
て、前記基板は前記光源の位置又はその近傍を回動中心
として回動可能な構造であることを特徴としている。
【0020】請求項3の発明の走査光学装置は、複数の
発光点を有する光源手段から射出された複数の光束を入
射光学手段を介して偏向手段に導光し、該偏向手段によ
り偏向された複数の光束を走査光学手段により被走査面
上に導光し、該被走査面上の光走査を、該被走査面上に
入射する複数の光束の一部を同期検出用光学系を含む同
期検出手段に導き、該同期検出手段で得た同期信号を用
いて行う走査光学装置において、該光源手段の複数の発
光点のうち1以上を含む光源と、該同期検出手段を構成
する同期検出器とは同一の基板上に設けられており、該
基板は該入射光学手段の光軸方向に垂直な面内で回動可
能な構造であり、該同期検出器に入射する光束は副走査
方向に長い形状をしていることを特徴としている。
【0021】請求項4の発明は請求項2の発明におい
て、前記基板は前記光源の発光点の重心位置又はその近
傍を回動中心として回動可能な構造であることを特徴と
している。
【0022】請求項5の発明は請求項1、2、3又は4
の発明において、前記同期検出用光学系は主走査断面内
と副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、該
同期検出用光学系を射出した光束の集光位置が主走査断
面内と副走査断面内で一致しないことを特徴としてい
る。
【0023】請求項6の発明は請求項1、2、3又は4
の発明において、前記同期検出用光学系は主走査断面内
と副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、一
面以上の回折面を含むことを特徴としている。
【0024】請求項7の発明は請求項1、2、3又は4
の発明において、前記同期検出用光学系は主走査断面内
と副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、一
面以上のシリンドリカル面を有することを特徴としてい
る。
【0025】請求項8の発明は請求項1、2、3又は4
の発明において、前記同期検出用光学系は主走査断面内
と副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、一
面以上のトーリック面を有することを特徴としている。
【0026】請求項9の発明は請求項1、2、3又は4
の発明において、前記同期検出用光学系において、集光
または発散性能を有する面と、主走査方向を軸として傾
けた平面からなる光学素子を有することを特徴としてい
る。
【0027】請求項10の発明は請求項1乃至9の何れ
か1項の発明において、前記同期検出用光学系を通過し
た光束の主走査断面内の集光位置に、副走査方向に長い
開口の矩形スリットを配し、前記基板を回転させたとき
に該矩形スリットが同期して回転する構造としたことを
特徴としている。
【0028】請求項11の発明は請求項1乃至10の何
れか1項の発明において、前記同期検出用光学系は前記
基板と一体構成した筐体の一部に固定された構造とした
ことを特徴としている。
【0029】請求項12の発明は請求項1乃至10の何
れか1項の発明において、前記同期検出用光学系は前記
基板に対して独立した構造としたことを特徴としてい
る。
【0030】請求項13の発明の画像形成装置は、請求
項1乃至12の何れか1項に記載の走査光学装置と、前
記被走査面に配置された感光体と、前記走査光学装置で
走査された光束によって前記感光体上に形成された静電
潜像をトナー像として現像する現像器と、現像されたト
ナー像を被転写材に転写する転写器と、転写されたトナ
ー像を被転写材に定着させる定着器とを有することを特
徴としている。
【0031】請求項14の発明の画像形成装置は、請求
項1乃至12の何れか1項に記載の走査光学装置と、外
部機器から入力したコードデータを画像信号に変換して
前記走査光学装置に入力せしめるプリンタコントローラ
とを有していることを特徴としている。
【0032】
【発明の実施の形態】[実施形態1]図1は本発明の実
施形態1の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)であ
る。
【0033】尚、本明細書において偏向手段によって光
束(光ビーム)が反射偏向(偏向走査)される方向を主
走査方向、走査光学手段の光軸及び主走査方向と直交す
る方向を副走査方向と定義する。
【0034】同図において1は光源手段であり、2つの
発光点1A,1Bを有するマルチ半導体レーザ(光源)
より成っている。この2つの発光点1A,1Bは主走査
方向及び副走査方向に対して各々離れて配置されてい
る。
【0035】2はコリメーターレンズであり、光源手段
1から射出した光束を所望の拡がり角に規制している。
尚、コリメーターレンズ2で規制される光束は収束光
束、発散光束、略平行光束と、必要に応じてその形態が
とられるが、ここでは説明を簡単にするために略平行光
束としている。
【0036】4はシリンドリカルレンズであり、副走査
方向のみに所定の屈折力を有しており、コリメーターレ
ンズ2で規制された略平行光束を後述するポリゴンミラ
ー5の偏向面5c近傍にて副走査方向に収束(主走査方
向に長手の線像)させている。偏向面5c近傍において
光源手段1の発光点1Aと発光点1Bから射出した光束
の収束点はわずかに副走査方向に間隔をもって結像され
る。これは被走査面7において既に知られているように
2つの光束が副走査方向に走査間隔だけ離れて結像する
よう光源であるマルチ半導体レーザ1を光軸周りに回転
させてfθレンズ系6の副走査倍率分と合わせて考慮さ
れた間隔に配置されているものである。
【0037】尚、コリメーターレンズ2、シリンドリカ
ルレンズ4等の各要素は入射光学手段21の一要素を構
成している。
【0038】3は開口絞りであり、シリンドリカルレン
ズ4より出射された2つの光束を所望の最適なビーム形
状に成形している。本実施形態における開口絞り3はポ
リゴンミラー5の近傍、図中では偏向面5cへの入射直
前の場所に配置されており、これにより偏向面5cでの
光束の不一致を低減し、走査線間での収差の発生度合い
を極力差が出ないようにしている。
【0039】5は偏向手段としての光偏向器であり、例
えば回転多面鏡(ポリゴンミラー)より成り、モータ等
の駆動手段(不図示)により図中矢印5b方向に一定速
度で回転している。
【0040】6は集光機能とfθ特性を有する走査光学
手段(fθレンズ系)であり、第1、第2の2枚の走査
レンズ(fθレンズ)6a,6bを有し、該2枚の走査
レンズ6a,6bは走査線と同じ平面内の主走査断面と
それと垂直な方向の副走査断面で異なった形状に形成さ
れている。
【0041】fθレンズ系6は主走査断面内においては
ポリゴンミラー5の回転で作られるfθレンズ系6への
入射角θに対応した像高で良好なる結像性能が得られる
よう、第1、第2のfθレンズ6a、6bともに非球面
で形成されている。また副走査断面内についてはポリゴ
ンミラー5の偏向面5c近傍で一旦収束している光束
を、同図に示すように被走査面7上にスポットとして形
成されるようパワーが配分され、その形状は第2のfθ
レンズ6bについては主走査方向に沿って曲率が異なる
ような形状とされ、画角周辺まで結像性能を維持してい
る。
【0042】また必要に応じて第1、第2のfθレンズ
6a、6bのうち少なくとも一方をシフトや傾けなどで
光軸Lから偏芯させて使用したり、あるいはfθレンズ
系6そのものを主走査方向に沿った方向で非対称とする
などして、主走査方向の両側で異なった最端画角に対応
して結像性能が得られるようにすることもできる。
【0043】またfθレンズ系6はポリゴンミラー5に
より偏向された2つの光束を感光ドラム面7上にスポッ
ト状に結像させ、2本の走査線を形成している。さらに
fθレンズ系6は副走査断面内においてポリゴンミラー
5の偏向面5a近傍と感光ドラム面7近傍との間を共役
関係にすることにより、倒れ補正機能を有している。
【0044】7は被走査面としての感光ドラム面であ
る。感光ドラム面7はfθレンズ系6の光軸Lに対して
副走査方向にαなる角度で光束が入射するよう、該光軸
Lからシフトして配置されている。これは感光ドラム面
7からの戻り光が発生した場合でも元の光路を辿って光
源1に戻らないようにするためである。
【0045】8は同期検出手段であり、同期検出用光学
系(BDレンズ)10と同期同期検出器(BDセンサ
ー)9とを有しており、該同期検出器9で検知して得ら
れた同期信号(BD信号)を用いて感光ドラム面7上へ
の画像記録の走査開始位置のタイミングを調整してい
る。
【0046】同期検出用光学系10は主走査断面内と副
走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、該同期
検出用光学系10を通過した光束の集光位置が主走査断
面内と副走査断面内で一致しないように形成されてい
る。即ち、同期検出用光学系10は主走査断面内と副走
査断面内でのパワーが互いに異なっている。また同期検
出用光学系10には光束が主走査断面内では略平行光束
が入射し、副走査断面内では拡散光束が入射する。
【0047】本実施形態においては光源1と同期検出器
9は同一の基板11上に配置されている。基板11は入
射光学手段21の光軸4a方向と垂直な面内で光源1の
発光点の重心位置(尚、ここで重心位置とは発光点の一
端から他端までの距離の半分の位置のことである。)又
はその近傍を回動中心として回動可能な構造であり、ま
た同期検出器9に入射する光束は副走査方向に長い形状
と成るようにしている。同期検出用光学系10は基板1
1と一体構成した筐体13の一部に固定、もしくは基板
11と独立に構成している。
【0048】本実施形態において画像情報に応じてマル
チ半導体レーザ1から光変調され出射した2つの光束は
コリメーターレンズ2により略平行光束に変換され、シ
リンドリカルレンズ4に入射する。シリンドリカルレン
ズ4に入射した光束のうち主走査断面内においてはその
ままの状態で出射して開口絞り3を通過する(一部遮光
される)。また副走査断面内においては収束して開口絞
り3を通過し(一部遮光される)光偏向器5の偏向面5
cにほぼ線像(主走査方向に長手の線像)として結像す
る。そして光偏向器5の偏向面5cで反射偏向された2
つの光束は各々走査光学手段6により感光ドラム面7上
にスポット状に結像され、該光偏向器5を矢印5b方向
に回転させることによって、該感光ドラム面7上を矢印
7b方向(主走査方向)に等速度で光走査している。こ
れにより記録媒体である感光ドラム面7上に2本の走査
線を同時に形成し、画像記録を行っている このとき感光ドラム面7上を光走査する前に該感光ドラ
ム面7上の走査開始位置のタイミングを調整する為に、
光偏向器5で反射偏向された2つの光束の一部を同期検
出用光学系10により同期検出器9に導光している。そ
して同期検出器9からの出力信号を検知して得られた同
期信号(BD信号)を用いて感光ドラム面7上への画像
記録の走査開始位置のタイミングを各BD光束毎に調整
している。
【0049】尚、図1は説明を簡便にする為に発光点を
2個用いた2ビーム走査光学装置を示しているが、発光
点は3つ以上でも良い。
【0050】次に本実施形態の特徴について図2
(A),(B)を用いて説明する。
【0051】図2(A)は光源1と同期検出器9とを同
一基板11上に取り付けた直後の調整前の状態を示して
おり、図2(B)は調整後(基板11を光源1の2つの
発光点1A、1Bの重心位置1c又はその近傍を回動中
心として回動させた後)の状態を示している。
【0052】光源1から出射した2つの光束の一部は光
偏向器5を介し同期検出用光学系10により同期検出器
9へ向けられているが、該同期検出用光学系10の副走
査断面内においては主走査断面内と比較して弱いパワー
しか与えられておらず、該同期検出器9においては結像
位置に達していない。
【0053】同期検出用光学系10は主走査断面内(図
1の面内)に対して同期検出器9上で光束が結像するよ
うパワーが与えられているので、結果として同期検出器
9上では副走査方向に長い形状の光束として存在するこ
ととなる。このとき被走査面上における走査線ピッチの
間隔を光源1を回転させることによって調整する。
【0054】基板11の回転は光源1の2つの発光点1
A、1Bの重心位置1Cを中心として入射光学手段21
の光軸4a周りに回転され、同一基板11に載せられて
いる同期検出器9も同じ方向に同角度回転する。
【0055】このとき同期検出用光学系10が基板11
と一体的に構成されているときは基板11と一体的に回
転する。すると同期して図2(B)に示すように光束の
状態も(イ)から(ロ)へ変化する。しかしながら光束
が回転方向におよそ沿うような細長い形状の光束のた
め、同期検出器9から光束が外れることはなく、回転に
よる光量の変化の影響も微小なため安定した同期検出が
行える。
【0056】ここで同期検出用光学系10の副走査断面
内のパワーは同期検出器9で結像しない弱いパワーとし
たが、状況に応じて、逆に副走査断面内のパワーを強く
し、主走査断面内の結像位置よりも前に設定して副走査
断面内の結像点よりも後ろに同期検出器9を配置しても
同様の効果が得られる。
【0057】この際、同期検出用光学系10としては1
面以上のシリンドリカル面や1面以上のトーリック面
(トロイダル面)を含むレンズやプリズムで構成するこ
とで主走査断面内及び副走査断面内に対して最適な結像
位置を与えることができる。
【0058】また同期検出用光学系10を1面以上の回
折面を含む1枚ないし複数枚のレンズ構成とし、この回
折面に適宜パワーを配分することにより収差上の有利性
や構成枚数の簡略化の利便性などと共に同様の効果が得
られる。
【0059】また同期検出用光学系10を集光又は発散
性能を有する面と、主走査方向を軸として傾けた平面か
らなる光学素子とを有するように構成すれば、射出光束
を所定の方向に偏向させることができ、これにより同期
検出器9に入射する光束を制限することができる。
【0060】尚、本実施形態では光源手段を複数の発光
点を有するマルチ半導体レーザーより構成したが、単一
の発光点を有する半導体レーザ(光源)より構成しても
本発明は実施形態1と同様に適用することができる。こ
のときは光源と同期検出器とを配置した基板を光源の位
置又はその近傍を回動中心として回動させれば良い。
【0061】また本実施形態においてはコリメーターレ
ンズ2とシリンドリカルレンズ4等を用いずに、光源手
段1からの光束を直接開口絞り3を介して光偏向器5に
導光しても良い。
【0062】また本実施形態においては走査光学手段を
2枚のレンズより構成したが、これに限らず、例えば単
一、もしくは3枚以上のレンズより構成しても良い。
【0063】[実施形態2]図3(A),(B)は各々
本発明の実施形態2の主要部分の要部断面図である。図
3(A),(B)において図2に示した要素と同一要素
には同一符番を付している。
【0064】本実施形態において前述の実施形態1と異
なる点は、光源1の重心位置1cを回転軸とし、その周
りに回転する基板11と同期して回転する同期検出器9
の前方に主走査方向の光束を制限する矩形スリット(絞
り)12を配置したことである。その他の構成および光
学的作用は実施形態1と略同様であり、これにより同様
な効果を得ている。
【0065】即ち、同図において12は副走査方向に長
い開口の矩形スリット(絞り)であり、同期検出用光学
系(不図示)を通過した光束の主走査断面内の集光位置
に配置され、基板11を回転させたときに同期して回転
する構造より成っている。
【0066】本実施形態では上記の如く同期検出用光学
系の主走査断面内の結像位置に絞り12を配置し、主走
査断面内での所謂BD信号の切れを良くしたものであ
る。
【0067】つまり副走査方向に長い開口の矩形スリッ
ト12を配置して、主走査方向に走査される光束のう
ち、利用されるのは該矩形スリット12をよぎった間の
時間のみであるので、該矩形スリット12を置いていな
い設定に比べて常にBD光束を受光する時間が一定化さ
れ、より確実な同期検出が可能となる。
【0068】しかも光源1と同期検出器9が載っている
基板11と一体化して回転するため回転により位置関係
がずれてしまうこともない。またこの際にも同期検出器
9に入射する光束は副走査方向に長い形状としているた
め、前述のような基板11の回転を行っても光束を見失
うことはない。
【0069】[画像形成装置]図4は、前述した実施形
態1又は2の走査光学装置を用いた画像形成装置(電子
写真プリンタ)の実施形態を示す副走査断面内における
要部断面図である。図4において、符号104は画像形
成装置を示す。この画像形成装置104には、パーソナ
ルコンピュータ等の外部機器117からコードデータD
cが入力する。このコードデータDcは、装置内のプリ
ンタコントローラ111によって、画像データ(ドット
データ)Diに変換される。この画像データDiは、各
実施形態1、2で示した構成を有する光走査ユニット1
00に入力される。そして、この光走査ユニット(走査
光学装置)100からは、画像データDiに応じて変調
された光ビーム(光束)103が射出され、この光ビー
ム103によって感光ドラム101の感光面が主走査方
向に走査される。
【0070】静電潜像担持体(感光体)たる感光ドラム
101は、モータ115によって時計廻りに回転させら
れる。そして、この回転に伴って、感光ドラム101の
感光面が光ビーム103に対して、主走査方向と直交す
る副走査方向に移動する。感光ドラム101の上方に
は、感光ドラム101の表面を一様に帯電せしめる帯電
ローラ102が表面に当接するように設けられている。
そして、帯電ローラ102によって帯電された感光ドラ
ム101の表面に、前記光走査ユニット100によって
走査される光ビーム103が照射されるようになってい
る。
【0071】先に説明したように、光ビーム103は、
画像データDiに基づいて変調されており、この光ビー
ム103を照射することによって感光ドラム101の表
面に静電潜像を形成せしめる。この静電潜像は、上記光
ビーム103の照射位置よりもさらに感光ドラム101
の回転断面内における下流側で感光ドラム101に当接
するように配設された現像器107によってトナー像と
して現像される。
【0072】現像器107によって現像されたトナー像
は、感光ドラム101の下方で、感光ドラム101に対
向するように配設された転写ローラ(転写器)108に
よって被転写材たる用紙112上に転写される。用紙1
12は感光ドラム101の前方(図4において右側)の
用紙カセット109内に収納されているが、手差しでも
給紙が可能である。用紙カセット109端部には、給紙
ローラ110が配設されており、用紙カセット109内
の用紙112を搬送路へ送り込む。
【0073】以上のようにして、未定着トナー像を転写
された用紙112はさらに感光ドラム101後方(図4
において左側)の定着器へと搬送される。定着器は内部
に定着ヒータ(図示せず)を有する定着ローラ113と
この定着ローラ113に圧接するように配設された加圧
ローラ114とで構成されており、転写部から撒送され
てきた用紙112を定着ローラ113と加圧ローラ11
4の圧接部にて加圧しながら加熱することにより用紙1
12上の未定着トナー像を定着せしめる。更に定着ロー
ラ113の後方には排紙ローラ116が配設されてお
り、定着された用紙112を画像形成装置の外に排出せ
しめる。
【0074】図4においては図示していないが、プリン
トコントローラ111は、先に説明したデータの変換だ
けでなく、モータ115を始め画像形成装置内の各部
や、光走査ユニット100内のポリゴンモータなどの制
御を行う。
【0075】
【発明の効果】本発明によれば前述の如く光源手段を構
成する光源と、同期検出手段を構成する同期検出器とを
同一の基板上に設け、該基板を入射光学手段の光軸方向
に垂直な面内で回動可能な構造とし、同期検出器に入射
する光束を副走査方向に長い形状と成るように構成する
ことにより、簡単な位置合わせでも高精度な同期検出が
可能となり、これにより高密度化された高性能な走査光
学装置及びそれを用いた画像形成装置を達成することが
できる。
【0076】更に本発明によれば前述の如く複雑な、ま
たは微妙な調整も必要ないため、組立時の工数が大幅に
短縮され、これにより低コストに対して優れた走査光学
装置及びそれを用いた画像形成装置を達成することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態1の走査光学装置の主走査
断面図
【図2】 (A)は本発明の実施形態1の光源と同期検
出素子とを同一基板に配置したときの図、(B)は基板
を回転させたときの図
【図3】 本発明の実施形態2の説明図であり、(A)
は光源と同期検出素子とを同一基板に配置したときの
図、(B)は基板を回転させたときの図
【図4】 本発明の走査光学装置を用いた画像形成装置
(電子写真プリンタ)の構成例を示す副走査断面図
【図5】 従来の走査光学装置の主走査断面図
【図6】 2つの発光点を副走査方向に直線的に並べて
配置した図
【図7】 2つの発光点を副走査方向に対応する方向に
対して傾けて配置した図
【図8】 マルチビーム光源を中心として回転させたと
きの図
【符号の説明】
1 光源手段(半導体レーザ) 2 コリメーターレンズ 3 絞り 4 シリンドリカルレンズ 5 偏向手段(ポリゴンミラー) 6 走査光学手段(fθレンズ系) 7 被走査面 8 同期検出手段 9 同期検出器 10 同期検出用光学系 11 基板 13 筐体 21 入射光学手段 100 走査光学装置 101 感光ドラム 102 帯電ローラ 103 光ビーム 104 画像形成装置 107 現像装置 108 転写ローラ 109 用紙カセット 110 給紙ローラ 111 プリンタコントローラ 112 転写材(用紙) 113 定着ローラ 114 加圧ローラ 115 モータ 116 排紙ローラ 117 外部機器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 1/113 B41J 3/00 D Fターム(参考) 2C362 AA07 AA13 AA48 BA04 BA48 BA70 BA71 BB03 DA27 2H045 CA88 CA89 DA02 2H087 KA19 LA22 NA09 PA02 PA17 PB02 QA03 QA12 RA07 RA08 5C051 AA02 CA07 DB02 DB22 DB24 DB30 DC02 DC04 DC07 DE02 FA01 5C072 AA03 BA04 HA02 HA06 HA09 HA13 HB08 HB13 XA01 XA05

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源手段から射出された光束を入射光学
    手段を介して偏向手段に導光し、該偏向手段により偏向
    された光束を走査光学手段により被走査面上に導光し、
    該被走査面上の光走査を、該被走査面上に入射する光束
    の一部を同期検出用光学系を含む同期検出手段に導き、
    該同期検出手段で得た同期信号を用いて行う走査光学装
    置において、 該光源手段を構成する光源と、該同期検出手段を構成す
    る同期検出器とは同一の基板上に設けられており、該基
    板は該入射光学手段の光軸方向に垂直な面内で回動可能
    な構造であり、該同期検出器に入射する光束は副走査方
    向に長い形状をしていることを特徴とする走査光学装
    置。
  2. 【請求項2】 前記基板は前記光源の位置又はその近傍
    を回動中心として回動可能な構造であることを特徴とす
    る請求項1記載の走査光学装置。
  3. 【請求項3】 複数の発光点を有する光源手段から射出
    された複数の光束を入射光学手段を介して偏向手段に導
    光し、該偏向手段により偏向された複数の光束を走査光
    学手段により被走査面上に導光し、該被走査面上の光走
    査を、該被走査面上に入射する複数の光束の一部を同期
    検出用光学系を含む同期検出手段に導き、該同期検出手
    段で得た同期信号を用いて行う走査光学装置において、 該光源手段の複数の発光点のうち1以上を含む光源と、
    該同期検出手段を構成する同期検出器とは同一の基板上
    に設けられており、該基板は該入射光学手段の光軸方向
    に垂直な面内で回動可能な構造であり、該同期検出器に
    入射する光束は副走査方向に長い形状をしていることを
    特徴とする走査光学装置。
  4. 【請求項4】 前記基板は前記光源の発光点の重心位置
    又はその近傍を回動中心として回動可能な構造であるこ
    とを特徴とする請求項3記載の走査光学装置。
  5. 【請求項5】 前記同期検出用光学系は主走査断面内と
    副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、該同
    期検出用光学系を射出した光束の集光位置が主走査断面
    内と副走査断面内で一致しないことを特徴とする請求項
    1、2、3又は4記載の走査光学装置。
  6. 【請求項6】 前記同期検出用光学系は主走査断面内と
    副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、一面
    以上の回折面を含むことを特徴とする請求項1、2、3
    又は4記載の走査光学装置。
  7. 【請求項7】 前記同期検出用光学系は主走査断面内と
    副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、一面
    以上のシリンドリカル面を有することを特徴とする請求
    項1、2、3又は4記載の走査光学装置。
  8. 【請求項8】 前記同期検出用光学系は主走査断面内と
    副走査断面内にそれぞれ独立した焦点距離を有し、一面
    以上のトーリック面を有することを特徴とする請求項
    1、2、3又は4記載の走査光学装置。
  9. 【請求項9】 前記同期検出用光学系において、集光ま
    たは発散性能を有する面と、主走査方向を軸として傾け
    た平面からなる光学素子を有することを特徴とする請求
    項1、2、3又は4記載の走査光学装置。
  10. 【請求項10】 前記同期検出用光学系を通過した光束
    の主走査断面内の集光位置に、副走査方向に長い開口の
    矩形スリットを配し、前記基板を回転させたときに該矩
    形スリットが同期して回転する構造としたことを特徴と
    する請求項1乃至9の何れか1項に記載の走査光学装
    置。
  11. 【請求項11】 前記同期検出用光学系は前記基板と一
    体構成した筐体の一部に固定された構造としたことを特
    徴とする請求項1乃至10の何れか1項に記載の走査光
    学装置。
  12. 【請求項12】 前記同期検出用光学系は前記基板に対
    して独立した構造としたことを特徴とする請求項1乃至
    10の何れか1項に記載の走査光学装置。
  13. 【請求項13】 請求項1乃至12の何れか1項に記載
    の走査光学装置と、前記被走査面に配置された感光体
    と、前記走査光学装置で走査された光束によって前記感
    光体上に形成された静電潜像をトナー像として現像する
    現像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転
    写器と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定
    着器とを有することを特徴とする画像形成装置。
  14. 【請求項14】 請求項1乃至12の何れか1項に記載
    の走査光学装置と、外部機器から入力したコードデータ
    を画像信号に変換して前記走査光学装置に入力せしめる
    プリンタコントローラとを有していることを特徴とする
    画像形成装置。
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