JP2003067676A - Inspection method for capacitive coupling type rf-id and inspection system therefor - Google Patents

Inspection method for capacitive coupling type rf-id and inspection system therefor

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the inspection quality and to improve the inspection efficiency by continuously inspecting a capacitive coupling type RF-ID which is an inspection object at a short interval in an inspection method and an inspection system inspecting normal/defective conditions of manufactured capacitive coupling type RF-IDs. SOLUTION: One 23 of two electrodes 22 and 23 provided in the capacitive coupling type RF-ID 21 of the inspection object is grounded through a circuit and one 13 of two counter electrodes 12 and 13 facing the electrodes 22 and 23 of the inspection object 21 on the side of the inspection system 11 arranged at a position isolated from a communicable distance of the inspection object 21 is grounded through the circuit. By capacitively coupling the side of the inspection system 11 and the inspection object 21 and performing communication, the normal/defective conditions of the inspection object 21 are judged.

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、製造される静電結合型RF−IDの良否を検査する検査方法および検査システムに関する。 BACKGROUND OF THE INVENTION [0001] [Technical Field of the Invention The present invention relates to an inspection method and an inspection system for inspecting the quality of the electrostatic coupling type RF-ID produced. 【0002】 【従来の技術】近年、RF−ID(Radio Fre [0002] In recent years, RF-ID (Radio Fre
quency Identification)と称される非接触型識別媒体(非接触型ICカード等)に関する技術が急速に進歩してきており、その使用も多岐にわたっている。 quency Identification) and technology relating to the non-contact identification medium (contactless IC card) has been rapid progress called, are its use diversified. このようなRF−IDには、電磁結合型と静電結合型に大別され、特に静電結合型のRF−IDの検査品質の向上、検査効率の向上が望まれている。 Such RF-ID, is roughly classified into an electromagnetic coupling type and an electrostatic coupling type, in particular the improvement of the quality inspection of the RF-ID of the electrostatic coupling type, the improvement of inspection efficiency is desired. 【0003】従来、RF−IDのうち、静電結合型のものは、基材上に4個または2個の電極が形成され、これら電極にICモジュールが接続されたものが一般的となっている。 Conventionally, among the RF-ID, the ones of the electrostatic coupling type, on the substrate 4 or two electrodes are formed, which IC module is connected to these electrodes become common there. このような静電結合型RF−IDは、非接触型ICカードはもちろん、非接触型のラベル、タグ等の非接触で識別情報等のデータ送受が行える媒体として使用されている。 Such electrostatic coupling type RF-ID is a non-contact type IC card, of course, the label of the non-contact type are used as non-contact data transmission and reception can be performed medium such identification information such as a tag. そして、上記のような静電結合型RF− Then, the electrostatic coupling type as described above RF-
IDにおける動作原理は既に公知のものであり、製造時の検査においても上記動作原理に基づいた使用形態と同様のデータ送受により行われている。 The operating principle of the ID is already publicly known, it is carried out by the same data transmission and reception and use forms based on the principle of operation in the inspection during production. 【0004】すなわち、検査対象の静電結合型RF−I [0004] That is, the electrostatic coupling type RF-I inspected
Dと同様の電極を備えたリーダ・ライタと基本的な構成を同じとする検査システムにおいて、互いの電極を対向させ、システム側の電極にデータを所定の方式で変調処理した交番電界を印加することで検査対象側の対向する電極と静電結合されることによりデータを送信し、一方で検査対象側からの変調処理されたデータの交番電界を静電結合により受信して復調することにより当該検査対象が間違いなく動作していることを確認するものである。 In the inspection system for the same writer and basic structure having the same electrode and D, and applying an alternating electric field which are opposed to each other of the electrodes, and the data on the electrode system side and modulation process in a predetermined manner the by sending the data, while the receiving and by electrostatic coupling an alternating electric field modulation processing data from the test object side to demodulate by being coupled opposing electrodes and electrostatic inspected side by it is intended to confirm that the test object is running definitely. 【0005】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記のような静電結合型RF−IDの通信検査を検査効率の観点から連続させて行う場合、検査対象の間隔を短くすると当該静電結合型RF−IDの通信距離の範囲内で当該検査対象と隣接された静電結合型RF−IDとも通信可能となってその応答が混在して受信されることとなり、 However [0005], if carried out by continuous communication inspection of the electrostatic coupling type RF-ID as described above from the viewpoint of the inspection efficiency, the electrostatic The shorter the distance of the test object within a communication distance of conjugated RF-ID with electrostatically bonded RF-ID, which is adjacent to the test object and can communicate becomes that the response is received mixed,
検査対象が本来不良品であるにも拘わらず、良品と判定されたり、あるいは、良品を不良品と判定されるなど、 Inspected despite originally it is defective, or is judged to be good, or the like is judged non-defective and defective,
検査品質の低下を招く。 It leads to a decrease in the quality inspection. このことは検査対象が製造段階上の連続した形態であると、連続形態から単葉形態とされたものであると同様のことが言える。 When this is a continuous form on the inspected manufacturing stage, the same is said to be one which is a monoplane configuration from the continuous form. そのため、検査対象と隣接する静電結合型RF−IDを通信可能距離以上とさせて間隔を長く設定すると検査効率が低下するという問題を生じる。 Therefore, there arises a problem that the electrostatic coupling type RF-ID adjacent to the test object is a communicable distance or more inspection efficiency setting a longer interval decreases. また、検査だけのためにRF−ID Also, RF-ID for testing only
の電極等のレイアウトを変更することは無駄な部分を生じさせることとなる。 Able to change the layout, such as the electrode and thus produce useless parts. 【0006】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされたもので、検査対象の静電結合型RF−IDを短い間隔で連続的に検査可能として検査品質の向上、検査効率の向上を図るRF−IDの検査方法および検査システムを提供することを目的とする。 [0006] The present invention has been made in view of the above problems, continuous improvement in the quality inspection as testable capacitive coupling type RF-ID of the inspection target at short intervals, to improve the inspection efficiency RF- and an object thereof is to provide an inspection method and inspection system ID. 【0007】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するために、請求項1の発明では、ICモジュールと、少なくとも二つの電極を備える静電結合型RF−IDを検査対象とし、当該二つの電極と対向させる検査システム側の少なくとも二つの対向電極を介して通信を行い、当該検査対象の良否を検査する静電結合型RF−IDの検査方法であって、予め、前記検査システム側の二つの対向電極を、前記検査対象が検査位置に位置されたときに当該検査対象の通信可能距離より離隔させて配置させ、当該二つの対向電極のうちの一方の電極を回路的接地させるステップと、前記検査対象が検査位置に位置されたときに、当該検査対象の二つの電極のうちの一方の電極を前記同様の回路的接地をさせるステップと、前記検査システム側 [0007] In order to solve the above object, according to an aspect of, the invention of claim 1, and an IC module, and inspected electrostatically bonded RF-ID comprising at least two electrodes, the communicates via at least two opposing electrodes of the inspection system side to face the two electrodes, there is provided an inspection method of an electrostatic coupling type RF-ID to check the quality of the inspection object, in advance, the inspection system side step of the two opposite electrodes, is separated from the communication range of the test object is positioned when said object is located at the inspection position, one of the electrodes to the circuit ground of the two opposed electrodes If, when the test object is positioned at the test position, the steps of the one electrode of the two electrodes of the test object is the same circuit ground, the inspection system side の対向電極を介して前記検査対象と静電結合させて所定のデータを送信するステップと、前記検査対象側で、前記電極を介して前記検査システム側と静電結合させ、当該検査システム側より受信した所定のデータに応じて所定のデータを当該検査システム側に送信させるステップと、前記検査システム側で、前記検査対象側より送られてきた所定のデータに基づいて当該検査対象の良否を判定するステップと、を含む構成とする。 And transmitting predetermined data via a counter electrode coupled said object and capacitively, at said object side, the electrode is electrostatically coupled to the inspection system side through, from the inspection system side determining a step of transmitting a predetermined data to the test system side according to the received predetermined data, in the inspection system side, the quality of the inspection target based on predetermined data transmitted from said object side comprising the steps of: a structure including a. 【0008】請求項2の発明では、前記検査対象が検査位置に搬送され、当該検査対象が検査位置に位置されたことを検出し、当該位置検出後に前記検査システム側と当該検査対象側とを静電結合により通信状態とさせる構成である。 [0008] In the present invention of claim 2, wherein the test object is transferred to the inspection position, detects that the inspection target is positioned at the test position, and the inspection system side after the position detection and the inspection object side a configuration to the communication state by capacitive coupling. 【0009】請求項3の発明では、ICモジュールと、 [0009] In the present invention of claim 3, the IC module,
少なくとも二つの電極を備える静電結合型RF−IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査する静電結合型RF−IDの検査システムであって、前記検査対象を検査位置に搬送する搬送手段と、前記検査対象が検査位置に位置されたときに、当該検査対象の二つの電極のうちの一方の電極を前記同様の回路的接地をさせる短絡手段と、検査システム側で、前記検査対象の二つの電極と対向されるもので、当該検査対象が検査位置に位置されたときに当該検査対象の通信可能距離より離隔されて配置され、一方が回路的に接地される少なくとも二つの対向電極と、前記検査システム側の対向電極を介して前記検査対象と静電結合させて、所定のデータを送信し、当該検査対象側からの応答に基づいて当該検査対象の良否を判 It communicates the electrostatic coupling type RF-ID comprising at least two electrodes as the inspection target, a test system of the electrostatic coupling type RF-ID to check the quality of the test object, the test position the test object conveying means for conveying, when said object is located at the test position, the short-circuit means for the one electrode the same circuit ground of the two electrodes of the test object, the inspection system side, intended to be facing the two electrodes of the test object, at least two of the test object is arranged spaced apart from the communication range of the inspection target when it is positioned at the test position, one is grounded circuit manner One of the counter electrode, said test object and is electrostatically bonded via a counter electrode of the test system side, and transmits predetermined data, determine the quality of the inspection object based on the response from the test object side する検査処理手段と、を有する構成とする。 An inspection processing means for, configured to have a. 【0010】請求項4および5の発明では、「前記短絡手段は、前記検査対象が検査位置に位置されたときに前記一方の電極と当接されるもので、回路的接地された導電性のブラシである」構成であり、「前記検査対象が前記搬送手段により搬送されて検査位置に位置されたことを検出する検出手段を備える」構成である。 [0010] In the present invention of claim 4 and 5, "the short-circuiting means is intended that the is in contact with one electrode when the test object is positioned at the test position, electrically conductive, which is circuit ground a brush "is a configuration provided with detection means for detecting that" the test object is positioned at the test position is conveyed by said conveying means "is configured. 【0011】このように、検査対象の静電結合型RF− [0011] In this way, capacitive coupling type to be inspected RF-
IDの備える二つの電極のうちの一方の電極を回路的接地させると共に、検査対象の電極と対向し、当該検査対象の通信可能距離より離隔した位置に配置される検査システム側の二つの対向電極のうちの一方の電極を回路的接地させ、検査システム側と検査対象を静電結合させて通信を行うことで検査対象の良否を判定させる。 Together to the one electrode circuit ground of the two electrodes provided in the ID, and the electrode facing the inspection target, two opposing electrodes of the inspection system side is arranged at a position spaced from the communicable distance of the test object one of the electrodes is the circuit ground of the causes determine the quality of the inspection object by performing communication by electrostatic coupling the test object and the inspection system side. すなわち、通信時には互いの一方の電極を接地させることで接地間で閉回路が形成され、このとき接地インピーダンス(接地抵抗および接地キャパシタンス)が通信空間のインピーダンスより遙かに小さいことから検査対象または検査システム側の通信電極間には接地電流が加算された電流で増加することになり、通信距離が長くなるものである。 That is, when a communication is closed circuit formed between the ground by grounding one electrode of each other, inspected or examined since the ground impedance this time (grounding resistance and capacitance to ground) is much smaller than the impedance of the communication space between the system side of the communication electrodes will be increased by a current ground current is added, in which the communication distance becomes long. したがって、検査対象の通常の通信可能距離より離隔した位置に当該検査システム側の電極を配置することで、隣接した静電結合型RF−IDとは通信不能状態とさせることが可能となる。 Thus, by arranging the normal communication distance the inspection system side position separated from the electrodes to be inspected, the adjacent capacitive coupling type RF-ID becomes possible to incommunicable state. このことによって、検査対象を短い間隔で連続的に検査可能とし、検査品質の向上、検査効率の向上を図ることが可能となるものである。 Thereby, a continuously inspectable be inspected at short intervals, improvement of the quality inspection, in which it is possible to improve the inspection efficiency. 【0012】 【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施形態を図により説明する。 DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Hereinafter, will be described with reference to FIG preferred embodiments of the present invention. ここで、本発明に係る静電結合型RF−IDは、前述と同様に、非接触型ICカードはもちろん、非接触型のラベル、タグ等の非接触で識別情報等のデータ送受が行える媒体である。 Here, the electrostatic coupling type RF-ID according to the present invention, in the same manner as described above, contactless IC card, of course, non-contact label, non-contact data transmission and reception can be performed medium such identification information such as the tag it is. また、本実施形態では、製造された静電結合型RF−IDを単葉形態とした後の検査を対象として示しているが、単葉とする以前の連続した形態であっても適用することができるものである。 Further, in the present embodiment, the electrostatic coupling type RF-ID produced is shown as a target inspection after a monoplane embodiment can be applied even prior continuous form to monoplane it is intended. さらに、検査対象の静電結合型RF−IDが備える電極を二つとし、検査システム側の対向電極を二つとした場合を示すが、互いに、送信用で二つの電極および受信用で二つの電極とする合計四つの電極をそれぞれ対向させて、送信、受信をそれぞれ別の二つの電極で通信を行うものとしてもよい。 Furthermore, the electrode in the electrostatic coupling type RF-ID of the inspection target and the two shows a case where the two opposing electrodes of the inspection system side, each other, the two electrodes for two electrodes and received at the transmission respectively are opposed to total four electrodes to, transmit, receive or as each communicating with another two electrodes. 【0013】図1に、本発明に係る静電結合型RF−I [0013] Figure 1, the electrostatic coupling type RF-I according to the present invention
Dの検査システムの概念構成図を示す。 It shows a conceptual diagram of the inspection system of D. 図1において、 In Figure 1,
静電結合型RF−IDの検査システム11は、二つの対向電極12,13、電源14、検査処理手段15を少なくとも備え、適宜表示手段16を備える。 Inspection system 11 of the electrostatic coupling type RF-ID includes two opposing electrodes 12 and 13, power supply 14, the inspection processing unit 15 at least includes an appropriate display means 16. また、検査対象の静電結合型RF−ID21は、二つの電極22,2 Further, the electrostatic coupling type RF-ID 21 to be inspected, two electrodes 22, 24, 32
3および後述のICモジュールを備える。 3 and a later IC module. 【0014】上記対向電極12,13は、検査対象21 [0014] The counter electrodes 12 and 13, the inspection target 21
が検査位置に位置されたときにその二つの電極22,2 The two electrodes 22, 24, 32 when but which is positioned at the test position
3と対向されるもので、当該検査対象が検査位置に位置されたときに当該検査対象の通信可能距離より離隔されて配置され、一方(ここでは、対向電極13)が回路的に電源14のGND(グランド)に接地される。 Intended to be 3 and the counter, the test object is arranged spaced apart from the communication range of the inspection target when it is positioned at the test position, whereas (here, the counter electrode 13) of the circuit to the power source 14 It is grounded to the GND (ground). 同様に、検査対象の静電結合型RF−ID21が検査位置に位置されて電極22,23が上記対向電極12,13とされたときに、一方(ここでは電極23)が回路的に電源14のGNDと同電位で接地される。 Similarly, when the electrodes 22 and 23 electrostatically bonded RF-ID 21 to be inspected is positioned at the test position is with the counter electrodes 12 and 13, whereas (here the electrode 23) the circuit to a power supply 14 It is grounded in the GND and the same potential. また、電源14 In addition, the power supply 14
は、本システム11における検査処理手段15を含む総ての回路モジュールを動作させるためのレギュレータであり、図示しない電力供給源の電源とは別構成であるが、接地電位を共通とする。 Is a regulator for operating all of the circuit module including an inspection processing unit 15 in the system 11, but is another configuration of the supply of the power supply source (not shown), a common ground potential. 【0015】また、検査処理手段15は、対向電極1 [0015] The inspection processing unit 15, the counter electrode 1
2,13を介して検査対象21と静電結合させて、所定のデータを送信し、当該検査対象21側からの応答に基づいて当該検査対象21の良否を判定する(詳細は後述する)。 2,13 and inspected 21 and is electrostatically bonded via a transmit predetermined data, determining (details will be described later) the quality of the inspection object 21 based on the response from the inspection target 21 side. そして、表示手段16は、所定数の検査対象である静電結合型RF−ID21の検査結果を少なくとも表示するためのものである。 The display unit 16 is for displaying at least the inspection result of the electrostatic coupling type RF-ID 21 is a predetermined number of inspected. なお、本システム11は、 It should be noted that the present system 11,
後述の図3および図4に示すように、搬送手段および検出部を備え、検査対象の静電結合型RF−ID21を検査位置まで搬送する。 As shown in FIGS. 3 and 4 below, a conveying means and the detection unit, to convey the electrostatically bonded RF-ID 21 of the inspection object to the inspection position. 【0016】ここで、図2に、本発明に係る静電結合型RF−IDの検査システムの原理説明図を示す。 [0016] Here, in FIG. 2 shows the principle diagram of the inspection system of the electrostatic coupling type RF-ID according to the present invention. 検査対象の静電結合型RF−ID21が検査位置に位置されたときに、電極22,23と検査システム側の対向電極1 When electrostatically bonded RF-ID 21 to be inspected is positioned at the test position, the counter electrode of the electrode 22, 23 inspection system side 1
2,13が対向し、このときに対向電極13は接地結合抵抗R Zを介して接地されており、検査対象21側の電極23が接地される。 2,13 are opposed, counter electrode 13 in this case is grounded via a ground coupling resistor R Z, is inspected 21 side of the electrode 23 is grounded. そこで、検査システム側で送信データが重畳された交番電界発信源E Vよりの交番電界が対向電極12より検査対象21の電極22に発せられて静電結合される。 Therefore, the transmission data is an alternating electric field from the alternating electric field source E V superimposed is coupled emitted by electrostatically electrode 22 of the inspection object 21 from the counter electrode 12 in the test system side. 【0017】このとき、交番電界発信源E V 、対向空間のキャパシタンスC S 、結合抵抗R C 、接地抵抗R G 、接地キャパシタンスC Gの閉回路と、交番電界発信源E V [0017] At this time, an alternating electric field source E V, the capacitance C S of the counter space, coupling resistor R C, grounding resistor R G, and closed circuit grounded capacitance C G, alternating electric field source E V,
キャパシタンスC S 、キャパシタンスC Z 、接地結合抵抗R Zの閉回路との並列回路が形成される。 Capacitance C S, the capacitance C Z, parallel circuit of the closed circuit of the ground coupling resistor R Z is formed. この場合、接地インピーダンス(接地抵抗R G 、接地キャパシタンスC G )は、対向空間のインピーダンス(キャパシタンスC S 、キャパシタンスC In this case, a ground impedance (ground resistance R G, grounded capacitance C G), the impedance of the opposite space (capacitance C S, the capacitance C Z )に比べて極めて小さいことから、対向電極12および電極22間には電流(I Z Since extremely small compared to Z), is between the counter electrode 12 and the electrode 22 a current (I Z +
G )が流れることになり、各電極13,23を接地しない場合に比べて当該検査対象21の接地間電位E Gに対応する電流I Gが増加したことになる。 I G) will be flowing, current I G corresponding to the ground potential between E G of the inspection target 21 is to have increased compared with the case of no grounding the electrodes 13, 23. このことは、 This means that,
電極22に励起される電圧が高くなることを意味する。 It means that the voltage induced in the electrode 22 becomes high. 【0018】したがって、電極22に励起される電圧が高くなった分だけ検査システム11と検査対象21とを離隔させても通信可能となる。 [0018] Thus, also be separated from the inspection system 11 by the amount voltage excited in the electrode 22 is increased and the test object 21 can communicate. 換言すれば、通信可能範囲まで離隔させることで、検査対象21と隣接するRF In other words, by spacing until communication range, RF adjacent inspected 21
−IDと本システム11との通信が不能となり、検査対象21だけを特定することができることになる。 -ID and communication with the system 11 is disabled and will be able to identify only inspected 21. すなわち、検査対象21に対して、検査システム11側の電極22,23を離隔させる範囲は、上記検査対象21との通信可能な範囲であって、各電極13,23を接地させない場合の当該検査対象21の通信可能範囲より大である。 In other words, the inspection object 21, the range to separate the inspection system 11 of the side electrodes 22 and 23 is a communicable range of the inspection target 21, the examination of the case of not grounding the electrodes 13, 23 it is greater than the communication range of the target 21. このように、検査対象21を確実に特定することができることから、検査対象21を短い間隔で連続的に検査可能とし、検査品質の向上、検査効率の向上を図ることができるものである。 Thus, since it is possible to reliably identify the test object 21, continuously inspectable and the test object 21 at short intervals, improvement of the quality inspection, in which it is possible to improve the inspection efficiency. 【0019】なお、図2は、検査システム11側より検査対象21にデータを送信する場合を示したが、検査対象21側より検査システム11側にデータを送信する場合も同様である。 [0019] Incidentally, FIG. 2 shows the case of transmitting the data to the test object 21 from the inspection system 11 side, the same applies to the case of transmitting the data to the inspection system 11 side of the inspection target 21 side. 【0020】次に、図3に、本発明に係る静電結合型R Next, in FIG. 3, the electrostatic coupling type according to the present invention R
F−IDの検査システムの概略構成図を示す。 It shows a schematic diagram of a test system of F-ID. 図3において、検査システム11は、搬送手段である搬送ベルト31上に連続して静電結合型RF−ID21が供給され、検査位置に位置されたときに検査対象21となる。 3, the inspection system 11, the electrostatic coupling type RF-ID 21 is supplied continuously onto the conveyor belt 31 as a transfer means, be inspected 21 when it is positioned at the test position.
検査対象21(静電結合型RF−ID)は、例えば単葉のICカード形態で形成され、二つの電極22,23間にICモジュール24が接続状態で搭載されたものである。 Inspected 21 (electrostatically bonded RF-ID) is formed, for example, an IC card form monoplane, in which IC module 24 between the two electrodes 22 and 23 are mounted in the connection state. 【0021】検査対象21の検査位置とされる部分の上方には、検出部32が配置されると共に、当該検査対象21の一方に電極23と当接する短絡手段である導電性のブラシ33が配置される。 [0021] Above the portion to be the inspection position of the inspection object 21, the detection unit 32 is arranged, the conductive brush 33 is short-circuiting means for contact with the electrodes 23 on one of the inspection target 21 is placed It is. また、検査位置の下方には、対向電極12,13が、上記のように検査対象21 Below the inspection position, the counter electrode 12 and 13, the inspection target 21 as described above
の電極22,23に対して、各電極13,23を接地させない場合の当該検査対象21の通信可能範囲より大であって、当該検査対象21との通信可能範囲で離隔して配置される。 Against the electrodes 22 and 23, a larger than the communication range of the test object 21 in the case of not grounding the electrodes 13, 23 are spaced apart in the communicable range with the inspection target 21. この場合の対向電極13は、図1に示すように接地され、ブラシ33も接地される。 The counter electrode 13 in this case is grounded as shown in FIG. 1, the brush 33 is also grounded. なお、短絡手段として、ブラシ33に限らず導電性部材であれば何れでもよく、当接させる手段で当該導電性部材を上下動させるなどの駆動を行わせてもよい。 Incidentally, as a short-circuit unit may be any conductive member is not limited to the brush 33, it may be made a driving in means of contact, such as vertically moving the conductive members. 【0022】上記検出部32は、搬送されてきた検査対象21が検査位置であることを検出させるもので、位置検出後に検査システム11側と当該検査対象21側とを静電結合により通信状態とさせるためのものである。 [0022] The detection unit 32 is intended to detect that the test object 21 which has been conveyed is inspection position, and communication by electrostatic coupling an inspection system 11 side and the inspection target 21 side after the detection position it is intended to be. 当該検出部32としては、例えば、光センサが使用される。 As the detection unit 32, for example, optical sensors are used. また、カード形態の検査対象21にバーコードを形成させ、当該検出部32をバーコードリーダとして当該バーコードを読み込ませることで、位置検出と適宜固有別に作製する場合として対象の識別とを行わせることもできる。 Further, to form a bar code on the test object 21 of the card form, by loading the bar code the detection unit 32 as a bar code reader, to perform identification of the target as the case of producing the appropriate unique by the detection position it is also possible. さらに、例えばエンボス加工により識別符号等を形成させた場合に、検出部32を撮像カメラとして画像認識により識別させることも可能である。 Furthermore, for example, when to form the identification code or the like by embossing, it is possible to identify the image recognition detecting section 32 as an imaging camera. 【0023】続いて、図4に本発明に係る検査システムのブロック構成図を示すと共に、図5に図4の検査処理部の一例のブロック構成図を示す。 [0023] Subsequently, with a block diagram of the inspection system according to the present invention in FIG. 4 illustrates an example block diagram of the inspection processing unit of FIG. 4 in FIG. 5. 図4において、本発明に係る静電結合型RF−ID21の検査システム11 4, the inspection system 11 of the electrostatic coupling type RF-ID 21 according to the present invention
は、搬送手段(搬送ベルト)31上で短い間隔で連続的に搬送される各静電結合型RF−IDにおける検査対象21に対し、上述の検査処理手段15、搬送駆動部31 For the tested object 21 in each of the electrostatic coupling type RF-ID which is continuously transported at short intervals on the conveying means (conveyor belt) 31, inspection processing unit 15 described above, the conveyance driving section 31
Aおよび検出部32を含んで構成されるもので、他の構成は都度説明する。 The invention is configured to include an A and a detection unit 32, other configurations each time will be described. 【0024】上記検査対象21は、静電結合型RF−I [0024] The inspection target 21 is electrostatically bonded RF-I
Dとして、処理部41、メモリ42および復調部43で構成されるICモジュール24と、二つの電極22,2 As D, a processing unit 41, IC module 24 constituted by memory 42 and the demodulation unit 43, two electrodes 22, 24, 32
3により構成される。 3 by a composed. 電極23は検査位置で接地されるもので、電極22は、検査システム11からの信号を受信し、または当該検査対象21より検査システム11 Electrode 23 is intended to be grounded at the test position, the electrode 22 receives a signal from the inspection system 11 or the inspection system 11 from the inspection object 21,
(システム側対向電極22,23)にデータを送信する役割をなす。 It forms a role of transmitting the data to the (system side counter electrodes 22 and 23). 【0025】上記ICモジュール24において、メモリ42は当該カードとしての種々の情報を記憶するためのものである。 [0025] In the IC module 24, the memory 42 is for storing various information as the card. 上記復調部43は、電極22により静電結合で受信した交番電界から制御信号、データを復調し、 The demodulating unit 43, the control signal from the alternating electric field received by the capacitive coupling by the electrode 22, demodulates the data,
適宜コード変換する。 Appropriate transcoding. そして、処理部41は、プログラムにより、受信した制御信号、データをメモリ42に記憶させ、またメモリ42に記憶したデータを送信する処理を行う。 Then, the processing unit 41, by the program, the received control signals, stores the data in the memory 42, also performs a process of transmitting the data stored in the memory 42. 【0026】検査システム11側において、搬送駆動部31Aは、該当の検査対象21を連続的に検査位置に搬送移動させるためのもので、後述の搬送駆動制御部よりIF(インタフェース)部を介して搬送ベルト31を駆動する。 [0026] In the inspection system 11 side, the conveyance driving section 31A is intended for transporting moves the inspection object 21 corresponding to continuous inspection position, through the IF (interface) unit from carrier driving controller described later driving the conveyor belt 31. また、検出部32は、上述のように、搬送される検査対象21を検出して検査位置を特定する。 The detection unit 32, as described above, for specifying the inspection position by detecting the test object 21 to be conveyed. 【0027】上記検査処理手段15は、検査対象21の良否判定を行う処理部を構成するものとして、制御部5 [0027] The inspection processing unit 15, as constituting a processing unit that performs quality determination of the test object 21, the control unit 5
1、検査処理部52、データメモリ53を備え、電力増幅部54、変調部55、発信部56、受信部57およびデータ変換部58を備える。 1, the inspection processing unit 52, a data memory 53, comprising a power amplifier section 54, modulation section 55, transmission section 56, a receiving unit 57 and the data conversion section 58. また、検査システム11の他の構成として搬送駆動制御部59、IF部70および表示手段16を備える。 Also comprises another conveyor as a drive control unit 59, IF unit 70 and display unit 16 of the inspection system 11. 【0028】上記制御部51は、この検査処理手段15 [0028] The control unit 51, the inspection processing unit 15
の全体を統括制御するもので、これに応じたプログラムがセットされている。 Intended to overall control of the program is set in accordance with this. 上記検査処理部52は、詳細は図5で説明するが、プログラムによる検査ルーチンで検査対象21に対する検査処理、判定を行うものある。 The inspection processing unit 52, details will be described in FIG. 5, the inspection process for the inspection object 21 by the inspection routine by program, some make a determination. 上記データメモリ53は、種々のデータを記憶すると共に、 The data memory 53 stores various data,
適宜検査判定のための一時記憶領域(バッファであって、検査処理部52に備えさせてもよい)としての役割をもなす。 (A buffer, allowed may be provided to the inspection processing section 52) a temporary storage area for the appropriate inspection determination also form role as. 上記種々のデータには、例えば、検査対象2 To the above-described various data, for example, the test object 2
1毎のメモリ42に記憶させるための情報(例えば識別情報)や、検査のための種々の設定値等がある。 Information for storing in the memory 42 for every one (e.g. identification information) and, there are a variety of setting values ​​for the test. 【0029】上記データ変換部58は、検査対象21に対して情報を送信する場合の情報を例えば「1」、 [0029] The data conversion unit 58, information such as "1" when transmitting the information to the inspection object 21,
「0」に変換し、また当該検査対象21からの送信データを例えば「1」、「0」に変換する。 Converted to "0", also converts the transmission data from the test object 21, for example, in "1", "0". 上記変調部55 The modulation unit 55
は、発信部56からの所定周波数(例えば847KH A predetermined frequency from the transmitting unit 56 (e.g. 847KH
z、424KHz、212KHz、125KHz等)の発信出力に基づいて上記データ変換部58で変換された情報を例えばPSK(位相偏位変調)変調波に変調する。 z, modulated 424KHz, 212KHz, to the data conversion unit 58 converts information, for example, PSK (phase shift keying) modulated wave based on outbound output of 125KHz, etc.). 上記電力増幅部54は、変調部55で変調された変調波を電力増幅するもので、この増幅された変調波が対向電極22より交番電界で送信されるものである。 The power amplifier 54 is for power-amplifying the modulated waves modulated by the modulation section 55, in which the amplified modulated wave is transmitted by the alternating electric field from the opposite electrode 22. そして、受信部57は、対向電極12,13で受信した検査対象21からの送信データを受信して復調する。 The receiving unit 57 receives and demodulates the transmission data from the test object 21 received in the opposing electrodes 12 and 13. 【0030】一方、上記搬送駆動制御部59は、検査対象21を順次検査するために搬送する上述の搬送駆動部31Aを駆動させるための制御信号を制御部51からの指令に基づき生成してIF部60を介して当該搬送駆動部31Aに送出する。 On the other hand, the carrier driving controller 59 generates and IF based control signals for driving the transfer drive 31A described above to convey to sequentially inspect the inspection object 21 with a command from the control unit 51 through the part 60 is sent to the transfer drive 31A. 【0031】ここで、図5において、検査処理部52 [0031] Here, in FIG. 5, the inspection processing unit 52
は、プログラム処理の機能として、処理手段61、受信データ取得手段62、送信データ取得手段63、判定手段64を備える。 As functions of the program processing, the processing unit 61, the received data acquisition unit 62, the transmission data acquisition unit 63, a judging unit 64. 上記処理手段61は、当該検査処理部52全体の処理を統括する。 The processing means 61, oversees the inspection processing unit 52 overall processing. 上記受信データ取得手段6 The received data acquisition unit 6
2は、検査対象21から送信されてくるデータが受信されたときに取得するもので、適宜データメモリ53に記憶させる(当該受信データ取得手段62がバッファを備える場合にはバッファに一時格納してもよい)。 2 is for obtaining when the data transmitted from the inspection target 21 is received, the case of storing in the appropriate data memory 53 (the received data acquisition unit 62 comprises a buffer to store temporarily in a buffer it may also be). 【0032】上記送信データ取得手段63は、検査対象21に通信によりメモリ42に書き込ませる識別情報等をデータメモリ53より読み出して取得する。 [0032] The transmission data acquisition unit 63 acquires the identification information for writing into the memory 42 by communication to the inspection object 21 is read out from the data memory 53. そして、 And,
判定手段64は、上記取得されて送信された送信データと、検査対象21より送信されてきた受信データとを比較し、一致していれば良品と判定し、不一致のときには不良品と判定するもので、送信データが検査対象21のメモリ42に実際に書き込まれたか否かをデータ比較による通信状態の良否としてとらえたものである。 Determination means 64 that compares the transmission data transmitted is the acquired, and a reception data transmitted from the inspection object 21, if the match is determined as good, when the mismatch determining defective in, in which captured whether the transmission data is actually written into the memory 42 of the inspection target 21 as a quality of a communication state by data comparison. 【0033】次に、図6に、図4および図5の検査システムにおける検査処理のフローチャートを示す。 Next, FIG. 6 shows a flowchart of the inspection process in the inspection system of FIGS. 図6において、まず、制御部51からの指令に基づき搬送駆動制御部59より搬送量がIF部60を介して搬送駆動部31Aに送出されて搬送ベルト31が駆動され、当該搬送ベルト31上に短い間隔で連続的に静電結合型RF− 6, first, the transport amount than carrier driving controller 59 based on a command from the control unit 51 is the conveyor belt 31 is driven delivered to transfer drive 31A via the IF unit 60, onto the conveyor belt 31 continuously electrostatically bonded at short intervals RF-
IDが供給されて順次搬送される(ステップ(S) ID are sequentially conveyed is supplied (step (S)
1)。 1). 搬送ベルト31上で、検出部32により検査対象21を検出したときに、当該検査対象21の一方の電極23上でブラシ33が当接して接地させる(S2)。 On the conveying belt 31, upon detection of the test object 21 by the detection unit 32, the brush 33 on one of the electrodes 23 of the inspection target 21 to the ground contact (S2). 【0034】そこで、検査対象用の送信データ(識別情報)をデータメモリ53より取得して検査対象21に対して静電結合させて送信し(S3)、メモリ42に記憶させる。 [0034] Therefore, the transmission data for the inspection object (identification information) transmitted by capacitive coupling to the inspection object 21 obtains from the data memory 53 (S3), and stores in the memory 42. 当該検査対象21側では、電極22,23を介して検査システム11側と静電結合させ、当該検査システム11側より受信してメモリ42に記憶させた所定のデータを当該検査システム11側に送信するもので、検査システム11側において、当該検査対象21からの返信データを受信して復調し、上記のように判定手段64 In the inspection target 21 side, it is bound inspection system 11 side and electrostatically through the electrodes 22 and 23, transmits the predetermined data stored in the reception from the inspection system 11 side in the memory 42 to the inspection system 11 side intended to, in the inspection system 11 side, receives and demodulates the reply data from the test object 21, as described above determination means 64
が送信データと受信データとのマッチングを行う(S There performs matching between the received data and the transmission data (S
4)。 4). マッチングの結果において(S5)、一致したときには良品と判定し(S6)、不一致のときには不良品と判定し(S7)、これらの判定結果をデータメモリ6 In result of the matching (S5), matched when the is judged to be good (S6), when a mismatch is determined to be defective (S7), the data memory 6 of these determination results
3に記憶させる(S8)。 It is stored in the 3 (S8). 【0035】続いて、次の検査対象21が検出部32により検出された場合には、S2〜S8を繰り返して判定結果をデータメモリ53に記憶させる(S9)。 [0035] Then, when the next inspection target 21 is detected by the detection unit 32 stores the judgment result in the data memory 53 by repeating S2 to S8 (S9). そして、総ての検査対象21の良否がデータメモリ63に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部16に表示させるものである(S10)。 Then, when the quality of all the inspected 21 stored in the data memory 63, is intended to display the test result as appropriate display unit 16 (S10). なお、検査結果の表示を、検査対象21毎、または所定数の検査対象21の検査結果毎に行ってもよい。 Incidentally, checking the display of the results may be performed for each inspection result of the inspection target 21 or every predetermined number of inspected 21,. 【0036】このように、検査対象21の通常の通信可能距離より離隔した位置に当該検査システム11側の対向電極22,23を配置することで、隣接した静電結合型RF−IDとは通信不能状態とさせることが可能となり、検査対象21を短い間隔で連続的に検査可能させることによって、検査品質の向上、検査効率の向上を図ることができるものである。 [0036] Thus, by arranging the normal of the communicable distance from spaced positions inspection system 11 side of the counter electrode 22, 23 of the inspection object 21, communicate with adjacent electrostatically bonded RF-ID it becomes possible to disabled state, by continuously inspectable test object 21 at short intervals, improvement of the quality inspection, in which it is possible to improve the inspection efficiency. 【0037】 【発明の効果】以上のように、本発明によれば、検査対象の静電結合型RF−IDの備える二つの電極のうちの一方の電極を回路的接地させると共に、検査対象の電極と対向し、当該検査対象の通信可能距離より離隔した位置に配置される検査システム側の二つの対向電極のうちの一方の電極を回路的接地させ、検査システム側と検査対象を静電結合させて通信を行うことで検査対象の良否を判定させることにより、検査対象と隣接した静電結合型RF−IDとは通信不能状態とさせて検査対象を短い間隔で連続的に検査可能とし、検査品質の向上、検査効率の向上を図ることができるものである。 [0037] As is evident from the foregoing description, according to the present invention, the one electrode of the two electrodes included in the electrostatic coupling type RF-ID of the inspection target causes the circuit ground, inspected facing the electrode, the one electrode is the circuit ground of the two opposing electrodes of the inspection system side is arranged at a position spaced from the communicable distance of the inspection object, the electrostatic coupling the test object and the inspection system side by determining the quality of the inspection object by performing communication by, the electrostatic coupling type RF-ID adjacent inspected and continuously inspectable at short intervals be inspected by the incommunicable state, improvement of the quality inspection, in which it is possible to improve the inspection efficiency.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明に係る静電結合型RF−IDの検査システムの概念構成図である。 It is a conceptual block diagram of the inspection system of the electrostatic coupling type RF-ID according to the BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS [Figure 1] present invention. 【図2】本発明に係る静電結合型RF−IDの検査システムの原理説明図である。 Diagram for explaining the principle of the inspection system of the electrostatic coupling type RF-ID according to the invention; FIG. 【図3】本発明に係る静電結合型RF−IDの検査システムの概略構成図である。 Figure 3 is a schematic diagram of an inspection system of the electrostatic coupling type RF-ID according to the present invention. 【図4】本発明に係る検査システムのブロック構成図である。 4 is a block diagram of an inspection system according to the present invention. 【図5】図4の検査処理部の一例のブロック構成図である。 5 is a block diagram of an example of the inspection processing unit of FIG. 【図6】図4および図5の検査システムにおける検査処理のフローチャートである。 6 is a flowchart of the inspection process in the inspection system of FIGS. 【符号の説明】 11 静電結合型RF−ID検査システム12,13 対向電極14 電源15 検査処理手段16 表示手段21 静電結合型RF−ID 22,23 電極24 ICモジュール31 搬送手段(搬送ベルト) 32 検出部33 ブラシ [EXPLANATION OF SYMBOLS] 11 electrostatically bonded RF-ID inspection system 12, 13 counter electrode 14 supply 15 inspection processing unit 16 display unit 21 electrostatically bonded RF-ID 22, 23 electrode 24 IC module 31 conveying means (conveyor belt ) 32 detector 33 brush

フロントページの続き (72)発明者 大家 俊介 東京都千代田区神田駿河台1丁目6番地 トッパン・フォームズ株式会社内Fターム(参考) 2C005 MA21 NA06 2G132 AA18 AB01 AE01 AE14 AE23 AF01 AF16 AH07 AL09 AL11 AL25 5B058 CA15 KA02 KA04 KA28 YA20 Front page of the continuation (72) inventor Shunsuke Daike, Chiyoda-ku, Tokyo Surugadai, Kanda 1-chome 6 address Toppan Forms Co., Ltd. in the F-term (reference) 2C005 MA21 NA06 2G132 AA18 AB01 AE01 AE14 AE23 AF01 AF16 AH07 AL09 AL11 AL25 5B058 CA15 KA02 KA04 KA28 YA20

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】ICモジュールと、少なくとも二つの電極を備える静電結合型RF−IDを検査対象とし、当該二つの電極と対向させる検査システム側の少なくとも二つの対向電極を介して通信を行い、当該検査対象の良否を検査する静電結合型RF−IDの検査方法であって、 予め、前記検査システム側の二つの対向電極を、前記検査対象が検査位置に位置されたときに当該検査対象の通信可能距離より離隔させて配置させ、当該二つの対向電極のうちの一方の電極を回路的接地させるステップと、 前記検査対象が検査位置に位置されたときに、当該検査対象の二つの電極のうちの一方の電極を前記同様の回路的接地をさせるステップと、 前記検査システム側の対向電極を介して前記検査対象と静電結合させて所定のデ And [claimed is: 1. A IC module, and examines the electrostatic coupling type RF-ID object comprising at least two electrodes, at least two opposing electrodes of the inspection system side to face the two electrodes via communicates with, a method of inspecting an electrostatic coupling type RF-ID to check the quality of the inspection object, in advance, the two opposing electrodes of the inspection system side, said object is positioned at the test position is spaced from the communication range of the test object is positioned when the the steps of one of the electrodes to the circuit ground of the two opposite electrodes, when said object is located at the test position, the and causing one of the electrodes is the same circuit ground, said object and is electrostatically bonded via a counter electrode of the inspection system side predetermined de of the two electrodes to be inspected ータを送信するステップと、 前記検査対象側で、前記電極を介して前記検査システム側と静電結合させ、当該検査システム側より受信した所定のデータに応じて所定のデータを当該検査システム側に送信させるステップと、 前記検査システム側で、前記検査対象側より送られてきた所定のデータに基づいて当該検査対象の良否を判定するステップと、 を含むことを特徴とする静電結合型RF−IDの検査方法。 And transmitting the over data, in said object side, the electrode is electrostatically coupled to the inspection system side through, the inspection system side predetermined data according to predetermined data received from the inspection system side a step of sending, in the inspection system side, capacitive coupling type RF, characterized in that it comprises, determining the quality of the inspection target based on predetermined data transmitted from said object side inspection method of -ID. 【請求項2】請求項1記載の静電結合型RF−IDの検査方法であって、前記検査対象が検査位置に搬送され、 2. A method of inspecting an electrostatic coupling type RF-ID according to claim 1, wherein the test object is transferred to the inspection position,
    当該検査対象が検査位置に位置されたことを検出し、当該位置検出後に前記検査システム側と当該検査対象側とを静電結合により通信状態とさせることを特徴とする静電結合型RF−IDの検査方法。 Detects that the inspection target is positioned at the test position, the electrostatic coupling type RF-ID, characterized in that to the communication state by the capacitive coupling between the inspection system side and the test object side after the position detection the method of inspection. 【請求項3】ICモジュールと、少なくとも二つの電極を備える静電結合型RF−IDを検査対象として通信を行い、当該検査対象の良否を検査する静電結合型RF− 3. A IC module communicates the test object capacitive coupling type RF-ID comprising at least two electrodes, the electrostatic coupling type for checking the quality of the inspection target RF-
    IDの検査システムであって、 前記検査対象を検査位置に搬送する搬送手段と、 前記検査対象が検査位置に位置されたときに、当該検査対象の二つの電極のうちの一方の電極を前記同様の回路的接地をさせる短絡手段と、 検査システム側で、前記検査対象の二つの電極と対向されるもので、当該検査対象が検査位置に位置されたときに当該検査対象の通信可能距離より離隔されて配置され、一方が回路的に接地される少なくとも二つの対向電極と、 前記検査システム側の対向電極を介して前記検査対象と静電結合させて、所定のデータを送信し、当該検査対象側からの応答に基づいて当該検査対象の良否を判定する検査処理手段と、 を有することを特徴とする静電結合型RF−IDの検査システム。 A ID inspection system, and conveying means for conveying the test object at the test position, when said object is located at the test position, similarly the one electrode of the two electrodes of the test object in the circuiting means for the circuit ground, the inspection system side, intended to be facing the two electrodes of the test object, separated from the communication range of the test object when the inspected object is positioned at the test position is disposed is, one is a circuit to at least the two opposite electrodes is grounded, the test object and is electrostatically bonded via a counter electrode of the test system side, and transmits the predetermined data, the test object the test system of the electrostatic coupling type RF-ID characterized by having a inspection processing means for determining the quality of the inspection object based on the response from the side. 【請求項4】請求項3記載の静電結合型RF−IDの検査システムであって、前記短絡手段は、前記検査対象が検査位置に位置されたときに前記一方の電極と当接されるもので、回路的接地された導電性のブラシであることを特徴とする静電結合型RF−IDの検査システム。 4. A test system of the electrostatic coupling type RF-ID according to claim 3, wherein the short circuit means, said abuts one electrode when the test object is positioned at the test position those in test system of the electrostatic coupling type RF-ID, which is a conductive brush having a circuit ground. 【請求項5】請求項3または4記載の静電結合型RF− 5. The capacitive coupling type according to claim 3 or 4, wherein RF-
    IDの検査システムであって、前記検査対象が前記搬送手段により搬送されて検査位置に位置されたことを検出する検出手段を備えることを特徴とする静電結合型RF A ID inspection system, an electrostatic coupling type RF which said object is characterized by comprising a detecting means for detecting that it has been positioned at the test position is conveyed by said conveying means
    −IDの検査システム。 -ID inspection system.
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