JP2003029163A - 顕微鏡システム - Google Patents

顕微鏡システム

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JP2003029163A JP2001214601A JP2001214601A JP2003029163A JP 2003029163 A JP2003029163 A JP 2003029163A JP 2001214601 A JP2001214601 A JP 2001214601A JP 2001214601 A JP2001214601 A JP 2001214601A JP 2003029163 A JP2003029163 A JP 2003029163A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】高精度かつ迅速な位置決めを実現可能な顕微鏡
システムを提供する。 【解決手段】標本をxy方向に移動させるステージと、
ステージの移動後のxy座標を検出する検出部と、観察
者からステージの移動目標位置のxy座標の入力を受け
付ける受付部と、標本の拡大像を撮像する撮像部21
と、撮像部の撮像した拡大像のうち予め定められた領域
Bの像を外部の表示装置に表示させる演算部とを有する
顕微鏡システムである。演算部は、検出部の検出したx
y座標と、受付部が受け付けた移動目標位置のxy座標
との差に応じて領域をxy方向にシフトさせ、移動目標
位置を中心とした領域の像を前記外部の表示装置に表示
させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電動ステージを備
えた顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電動ステージを備えた顕微鏡において、
電動ステージの位置決め方法は大別して2つある。
【0003】第1の方法は、オープンループ制御法であ
り、目標点に到達するために必要なモータの回転量を予
め計算し、これに基づいてモータを回転させるものであ
る。一般的にはステッピングモータがよく用いられれ
る。
【0004】第2の方法は、クローズドループ制御法で
あり、駆動用のモータの他にステージの位置を検出する
リニアエンコーダ等のセンサを持ち、目標点の位置と現
在位置とを比較しながら目標点の位置に到達するまでモ
ータを駆動するものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】電動ステージの位置決
めにおいては、画像モニタ上において観察者が移動させ
ようとした位置、すなわち「移動目標位置」と、実際に
移動完了したときの位置、すなわち「ステージ位置」と
は完全には一致せず、2つの位置の間には微小な誤差が
存在する。移動目標位置とステージ位置との誤差は物体
面においては微小量であっても、観察倍率が大きい場合
は、モニタ等の表示手段上では大きな差となり、必ずし
も観察者の意図する観察視野が得られない場合がある。
例えば、ステージの移動量精度が10ミクロンであった
場合には、モニタ等の表示装置上で10ミクロンの整数
倍以外の量を含む移動目標位置が指示されると正確な移
動制御ができない。特に、上述のオープンループ制御法
を用いる電動ステージの場合、構造および制御が簡単で
低コストであるが、モータの回転量のみを制御するの
で、モータの回転量がステージの移動量に変換される際
のリードねじのバックラッシュ等によって誤差が生じや
すく、位置決め精度を高くすることが難しい。このた
め、移動目標位置とステージ位置との誤差が生じやす
い。
【0006】一方、上述のクローズドループ制御法は、
リニアエンコーダ等の位置検出センサにより、ステージ
の位置をリアルタイムで検出し、移動目標位置との差が
予め定めた許容範囲内に入るまでステージの位置を補正
しながら位置決めすることができるため、比較的高い精
度で位置決めすることができる。しかしながら、あまり
に高い位置決め精度を要求すると、上記許容範囲が小さ
くなるため、移動目標位置の前後をステージが往復す
る、いわゆるハンチングを生じ、位置決めに時間がかか
ったり、ハンチングが止まらないといった現象が起きる
ことがある。
【0007】本発明は、このような問題を鑑みてなされ
たものであり、高精度で迅速に目標位置の像を表示する
ことのできる顕微鏡を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本願によれば以下のような電動ステージを備えた顕
微鏡が提供される。
【0009】すなわち、本発明の請求項1に記載の発明
によれば、標本をxy方向に移動させるステージと、前
記ステージの移動後の位置を検出する検出部と、観察者
から前記ステージの移動目標位置の入力を受け付ける受
付部と、前記標本の拡大像を結像する結像光束を形成す
る光学系と、前記拡大像を撮像する撮像部と、シフト手
段とを有し、前記シフト手段は、前記検出部の検出した
位置と前記受付部が受け付けた移動目標位置とが不一致
の場合、前記結像光束と前記撮像部との位置関係を相対
的にシフトさせることを特徴とする顕微鏡システムが提
供される。
【0010】上記請求項1に記載の顕微鏡システムにお
いて、前記撮像部は、有効画素範囲および該有効画素範
囲内に含まれる表示に使われる表示画素範囲を有し、前
記シフト手段は、前記結像光束に対して、前記撮像部の
前記表示画素範囲をxy方向にシフトさせる手段を用い
ることができる。
【0011】上記請求項1に記載の顕微鏡システムにお
いて、前記光学系は、結像レンズを含み、前記シフト手
段は、前記結像レンズをxy方向にシフトさせる手段を
用いることができる。
【0012】上記請求項1に記載の顕微鏡システムにお
いて、前記光学系は、結像レンズと、該結像レンズと撮
像部との間に配置された透明な平行平板とを含み、前記
シフト手段は、前記平行平板を前記結像レンズの光軸に
対して傾斜させる手段を用いることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態について図
面を用いて説明する。
【0014】(第1の実施の形態)まず、第1の実施の
形態の電動ステージを備えた顕微鏡システムについて、
図1,図2、図5,図6、図8、図9(a),(b)を
用いて説明する。
【0015】この顕微鏡システムは、顕微鏡10、制御
装置50、および、モニタ40を備えている。顕微鏡1
0は、電動ステージ30と、レボルバ11と、対物レン
ズ12と、鏡筒101と、TVカメラ20とを有してい
る。TVカメラ20は、鏡筒101の上部に連結されて
いる。TVカメラ20は、図2のように撮像素子として
CCD21を含む。鏡筒101の内部には、標本の観察
像をCCD21上に結像させるための結像レンズ13が
配置されている。制御装置50は、画像処理部51と演
算処理部52とを有し、CCD21の出力は、画像処理
部51に入力される。レボルバ11,電動ステージ30
は、演算処理部52に接続されている。また、制御装置
50には、マウス60と、モニタ40とが接続されてい
る。
【0016】電動ステージ30は、図9(a)のように
標本120を搭載するためのxステージ121と、xス
テージ121をx方向に移動させるためのステッピング
モータ31およびリードねじ部124と、xステージ1
21を搭載するyステージ126と、yステージをy方
向に移動させるためのステッピングモータ32およびリ
ードねじ部125とを含んでいる。また、xステージ1
21およびyステージ126には、リニアエンコーダ1
22,123のリニアスケール122a,123aがそ
れぞれ取り付けられている。リードねじ部124および
125には、リニアエンコーダ122,123のセンサ
122b,123bがそれぞれ取り付けられている。ス
テッピングモータ31、32の回転運動は、リードねじ
部123,125内のリードねじによって直線運動に変
換され、xステージ121およびyステージ126をそ
れぞれx方向y方向に駆動する(図9(b))。このと
き、センサ122b,123bは、リニアスケール12
2a、123aの位置をそれぞれ検出する。これによ
り、xおよびyステージ121,126の座標(x、
y)が検出される。ステッピングモータ31,32は、
演算処理部52に接続されており、演算処理部52の指
示した回転量にしたがって動作する。また、センサ12
2b、123bの出力は、演算処理部52に入力され
る。
【0017】CCD21は、図5のように、撮像画素が
縦横に配列された有効画素範囲Aを有している。CCD
21は、この有効画素範囲Aに結像した観察像を撮像可
能である。CCD21の出力は、画像処理部51に入力
される。画像処理部51は、有効画素範囲Aの内側の予
め定めた4つの座標(X,Y)(X,Y)(X
,Y)(X,Y)で囲まれる表示画素範囲B内
の画像を、モニタ40に出力し、表示させる。
【0018】レボルバ11は、複数の対物レンズ取付穴
を有しており、複数の対物レンズを装着可能である。レ
ボルバ11内には、レボルバ11の回転角度を検出する
センサが内蔵されている。センサの出力は、制御装置5
0の演算処理部52に入力される。演算処理部52は、
内蔵するメモリに、予め複数の対物レンズ取付穴に付さ
れた番地とセンサの出力とを対応させるテーブルを格納
している。また、このテーブルには、対物レンズ取付穴
の番地を、その対物レンズ取付穴に取り付けられている
対物レンズの倍率と結像レンズ13とその他リレーレン
ズ等の倍率とを掛け合わせた観察倍率Mに対応させる情
報も含まれている。演算処理部52は、センサの出力し
た回転角度から光軸上に配置されている対物レンズ取付
穴の番地を前述のテーブルを参照して特定し、さらに観
察倍率Mを求めることができる。
【0019】演算処理部52は、内蔵されているメモリ
に格納されているプログラムを読み込んで実行すること
により、図8のフローチャートのように電動ステージ3
0を制御する。まず、演算処理部52は、リニアエンコ
ーダ122,123より現在位置(x,y)を取り
込み(ステップ81)。つぎに、標本120の移動目標
位置(x、y)の入力を観察者に促す表示をモニタ
40に表示させ、モニタ40に表示されている現在の表
示画像上で、観察者からマウス60のクリック操作によ
り指定した目標位置を受け付ける。また、レボルバ11
のセンサから受けとった回転角度を、メモリ内のテーブ
ルに参照することにより、観察倍率Mを求め、この観察
倍率Mとモニタ上の目標位置とにより、モニタ上の移動
目標位置を標本120上(電動ステージ30上)の目標
位置の座標(x、y)に変換する(ステップ8
2)。つぎに、上記ステップ81,82で取り込んだ現
在位置(x,y)と目標位置(x、y)とによ
り、x=(x−x)、y =(y−y)を計
算し、電動ステージ30の移動量x、yを求める
(ステップ83)。
【0020】求めた移動量x、yに対応するステッ
ピングモータ31,32の回転量を、予め求めておいた
ステージ移動量とモータ回転量との比を用いて計算し、
求めた回転量をステッピングモータ31,32に出力す
る(ステップ84)。これにより、ステッピングモータ
31,32は、指示された回転量だけ回転し、回転運動
はリードねじ部123,125内のリードねじによって
直線運動に変換され、xステージ121およびyステー
ジ126がそれぞれx方向y方向に駆動される(図9
(a)、(b))。駆動完了後に、演算処理部52は、
リニアエンコーダ122,123より再び現在位置(x
,y)を取り込み(ステップ86)、移動目標位置
(x、y)との差(x−x)、(y−y
が予め定めておいた規定値x、y以下かどうか(x
≧(x−x)、y≧(y−y))を求める
(ステップ88)。前記差が規定値x、yより大き
ければステップ83に戻り、再び電動ステージ30を駆
動してステージを移動させる。一方、前記差が規定値x
、y以下であれば、つぎのステップ89に進み、つ
ぎの演算式により、表示画像のシフト量を算出する。た
だし、下記演算式においてMは、ステップ82で求めて
おいた観察倍率Mである。 XΔ=(x−x)×M YΔ=(y−y)×M 演算処理部52は、画像処理部51に対し、表示画素範
囲Bの領域を定める4つの座標(X,Y)(X
)(X,Y)(X,Y)を、ステップ89
で求めたXΔ、YΔだけシフトさせるように指示する。
これにより、画像処理部51は、シフト後の表示画素範
囲Bとして、図6のように4つの座標(X+XΔ,Y
+YΔ)(X+XΔ,Y+YΔ)(X+XΔ,
+YΔ)(X+XΔ,Y+YΔ)で囲まれた領
域内の画像をモニタ40に出力し、表示させる。これに
より、物体面(標本面)上で残った誤差x−x、y
−yは、像面側で補正され、モニタ40上には、目
標位置(x、y)を中心とした画像が映し出され
る。
【0021】なお、CCD21の表示画素範囲Bのシフ
ト可能な範囲は、CCD21の有効画素範囲Aであるの
で、シフト量XΔ、YΔには上限がある。そのため、上
述の規定値x、yをシフト量XΔ、YΔの上限に設
定しておくことにより、現在位置(x,y)と移動
目標位置(x、y)との差が表示画素範囲Bのシフ
トで対応可能な値x、y以下である場合には、表示
画素範囲Bのシフトで対応し、前記差が値x、y
上である場合には、ステップ88でステップ83まで戻
り電動ステージ30をさらに移動させる構成となり、効
率よく移動目標位置(x、y)を中心とした画像を
表示できる。なお、有効画素範囲AのXY方向の幅をX
、Yで表し、表示画素範囲BのXY方向の幅を
、Yで表すと、シフト量XΔ、YΔの上限は以下
のように表される(図5参照)。なお、CCD21のX
Y方向は、電動ステージ30のxy方向に対応してい
る。 (XΔの上限)=(X−X)/2 (YΔの上限)=(Y−Y)/2 よって、規定値x、yを、 x=(X−X)/(2M) y=(Y−Y)/(2M) に設定して置くことにより、効率よく移動目標位置(x
、y)を中心とした画像を表示できる。なお、上記
規定値x,yは、電動ステージ30の移動制御量の
最小単位量として定義してもよい。
【0022】なお、画像処理部51がモニタ40上に画
像を表示させる際に、予め定めた倍率に拡大する電子ズ
ームを併用することも可能である。この場合、上記観察
倍率Mには電子ズームの倍率を加味する。また、電子ズ
ームを用いる場合、例えば電子ズーム2倍とすると図7
のように表示画素範囲Bは、電子ズーム1倍の場合より
も表示画素範囲Bが小さくなり、シフト量XΔ、YΔを
大きく取ることができる。したがって、電子ズームを用
いる場合は、シフト量XΔ、YΔを大きくとることがで
きるため、観察像側をシフトさせる本実施の形態の標本
画像の移動方法は非常に有効である。なお、電子ズーム
を用いる場合は、規定値x、yを電子ズームの倍率
毎に用意しておくことが望ましい。
【0023】(第2の実施の形態)本発明の第2の実施
の形態の顕微鏡システムは、CCD21を図3のような
アクチュエータ139に搭載し、CCD21自体をXY
方向にシフトさせ、モニタ40に表示される画像をXY
方向にシフトさせる構成である。なお、CCD21のX
Y方向は、電動ステージ30のxy方向に対応してい
る。よって、第2の実施の形態では、第1の実施の形態
の図8のフローのステップ90において、表示画素範囲
Bをシフトさせる代わりに、アクチュエータ139の駆
動源であるピエゾ素子134,135を駆動させ、CC
D21自体をXΔ、YΔだけ移動させる。
【0024】アクチュエータ139は、図3のように可
撓性のある板状部材をワイヤカットで加工して形成した
Xプレート130と、Xプレート130を2本の板バネ
131によって片持ち支持するYプレート133と、Y
プレート133を2本板バネ132によって片持ち支持
する本体136とを有する。CCD21は、Xプレート
130に搭載されている。板バネ131の長手方向はY
方向であり、板ばね132の長手方向はX方向である。
Xプレート130の側面には、X方向に伸縮するピエゾ
素子134が配置されている。ピエゾ素子134はYプ
レート133により支持されている。また、Yプレート
133の側面には、Y方向に伸縮するピエゾ素子135
が配置されている。ピエゾ素子135は、本体136に
より支持されている。これにより、演算処理部52の指
示により、ピエゾ素子134を伸長させると、Xプレー
ト130がX方向に移動し、ピエゾ素子135を伸長さ
せると、Yプレート133がXプレート130ごとY方
向に移動する。これにより、CCD21をXΔ、YΔだ
けシフトさせることができる。
【0025】第2の実施の形態では、各部の動作は、図
8のステップ89のXΔ、YΔのシフト量算出までは第
1の実施の形態と同じである。ステップ90において、
演算処理部52は、アクチュエータ139のピエゾ素子
134,135を伸長させ、CCD21自体をXY方向
に移動させ、標本120(物体面)で残った誤差(x
−x)、(y−y)を補正する。これにより、モ
ニタ40上には観察者が入力した目標位置(x
)を中心とした画像が映し出される。
【0026】第2の実施の形態の構成では、CCD21
の表示画素範囲Bは、有効画素範囲Aと同じ範囲にする
ことができる。したがって、CCD21の画素すべてを
使用できるので、画質面において有利である。
【0027】(第3の実施の形態)本発明の第3の実施
の形態の顕微鏡システムは、結像レンズ13を図4のよ
うなアクチュエータ149に搭載し、結像レンズ13を
XY方向にシフトさせることにより、CCD21上の結
像される像自体をXY方向にシフトさせる。これによ
り、モニタ40に表示される画像をXY方向にシフトさ
せる構成である。アクチュエータ149の構成は、第2
の実施の形態のアクチュエータ139と同じであるので
説明を省略する。
【0028】よって、第3の実施の形態でも、第2の実
施の形態と同様に、図8のフローのステップ89までは
第1の実施の形態と同じであるが、ステップ90におい
て、表示画素範囲Bをシフトさせる代わりに、アクチュ
エータ149の駆動源であるピエゾ素子134,135
を駆動させ、結像レンズ13をXΔ、YΔだけ移動さ
せ、CCD21上の観察像をシフトさせる。これによ
り、モニタ40上には観察者が入力した目標位置
(x、y)を中心とした画像が映し出される。
【0029】(第4の実施の形態)本発明の第4の実施
の形態の顕微鏡システムを図10,図11を用いて説明
する。第4の実施の形態の顕微鏡システムは、第1の実
施の形態と同様であるが、結像レンズ13とCCD21
との間の光軸100上に平行平板14を配置し、平行平
板14を傾斜させることにより、CCD21上に結像す
る像の位置をXY方向にシフトさせる構成である。平行
平板14は枠141によって支持された外径が円形の透
明な平行平板ガラスである。枠141は、周方向の3カ
所に貫通孔145を有し、貫通孔145に挿入されたビ
ス143により鏡筒101に取り付けられている。ビス
143には、バネ142が挿入されており、バネ142
は枠141を結像レンズ13の方向に向かって付勢して
いる。また、鏡筒101には、枠141の3カ所の貫通
孔145の光軸100寄りの位置にピエゾ素子144が
それぞれ配置されている。よって、3カ所のピエゾ素子
144を伸長させることにより、枠141の3カ所を所
望量だけ押し上げることができるため、平行平板14を
所望の方向に傾斜させることができる。これにより、C
CD21上に結像する像の位置をXY方向にシフトさせ
ることができる。
【0030】よって、第4の実施の形態でも、図8のフ
ローのステップ89までは第1の実施の形態と同じであ
るが、ステップ90において、像をシフト量XΔ、YΔ
だけシフトさせるための平行平板14のXY方向の傾斜
角度を算出し、この傾斜角度を付けるための3カ所のピ
エゾ素子144の伸長量を求め、求めた伸長量だけピエ
ゾ素子144を伸長させる構成とする。これにより、C
CD21上の観察像をシフト量XΔ、YΔだけシフトさ
せる。これにより、モニタ40上には観察者が入力した
目標位置(x、y)を中心とした画像が表示させる
ことができる。
【0031】上述の第1〜第4の実施の形態において
は、標本上の所望の座標の像を表示させる際の位置決め
動作を物体面側(ステージ側)のみで行うのではなく、
像面側で補正をかけることにより最終的に位置決めして
いる。これにより、物体面側では微小で難しい位置決め
でも、像面側では拡大倍率がかかって拡大されているの
で比較的簡単に補正をかけることができる。よって、物
体面における位置決めがある程度ラフでも、高い位置決
め精度を確保できるので、結果として高精度かつ迅速な
位置決めを実現できる。特に、第1の実施の形態の構成
では、像面側での補正の際に機械的な可動部分がいっさ
いないので、スピードおよび信頼性を特に効果的に向上
させることができる。
【0032】なお、上述してきた第1〜第4の実施の形
態においては、顕微鏡システムとして、顕微鏡10、T
Vカメラ20、電動ステージ30をそれぞれ独立した製
品として、制御装置50に接続した構成を説明したが、
本発明はこの構成に限定されるものではなく、制御装置
50を顕微鏡10内に内蔵し、TVカメラ20、電動ス
テージ30が顕微鏡10と一体化した構成の顕微鏡シス
テムも実現可能である。
【0033】また、第1の実施の形態では、電動ステー
ジ30の駆動源としてステッピングモータ31,32を
用いたが、DCモータを用いることも可能である。この
場合、リニアエンコーダ122,123で現在位置を検
出しながら移動させるクローズドループ制御とすること
が望ましい。
【0034】
【発明の効果】本発明の請求項1に記載の顕微鏡システ
ムによれば、物体面側での位置ずれを像面側で補正で
き、しかも、機械的な稼働部がないため、高精度かつ迅
速な位置決めを実現可能な顕微鏡システムが提供でき
る。
【0035】また、請求項2、3、4、5に記載の顕微
鏡システムによれば、物体面側での位置ずれを像面側で
補正できるため、高精度かつ迅速な位置決めを実現可能
な顕微鏡システムが提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡システムの
全体構成を示す説明図。
【図2】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡システムの
CCD21付近の構成を示す切り欠き断面図。
【図3】本発明の第3の実施の形態の顕微鏡システムの
CCD21を搭載するアクチュエータ139の構成を示
す上面図。
【図4】本発明の第4の実施の形態の顕微鏡システムの
結像レンズ13を搭載するアクチュエータ149の構成
を示す上面図。
【図5】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡システムの
CCD21の有効画素範囲Aと表示画素範囲Bの位置関
係を示す説明図。
【図6】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡システムの
CCD21の有効画素範囲Aと表示画素範囲Bのシフト
後の位置関係を示す説明図。
【図7】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡システムの
電子ズームを用いる場合の、CCD21の有効画素範囲
Aと表示画素範囲Bの位置関係を示す説明図。
【図8】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡システムの
表示像を移動させる場合の演算処理部の動作を示すフロ
ーチャート。
【図9】本発明の第1の実施の形態の顕微鏡システムの
電動ステージ30の(a)移動前の構成を示すための説
明図、(b)移動後の構成を示す示す説明図。
【図10】本発明の第4の実施の形態の顕微鏡システム
の鏡筒101に配置された平行平板14を示す切り欠き
断面図。
【図11】図10の平行平板14を傾斜させる機構を示
す断面図。
【符号の説明】
10…顕微鏡、11…レボルバ、12…対物レンズ、1
3…結像レンズ、14…平行平板、20…TVカメラ、
21…CCD、30…電動ステージ、31,32…ステ
ッピングモータ、40…モニタ、50…制御装置、51
…画像処理部、52…演算処理部、60…マウス。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】標本をxy方向に移動させるステージと、
    前記ステージの移動後の位置を検出する検出部と、観察
    者から前記ステージの移動目標位置の入力を受け付ける
    受付部と、前記標本の拡大像を結像する結像光束を形成
    する光学系と、前記拡大像を撮像する撮像部と、シフト
    手段とを有し、 前記シフト手段は、前記検出部の検出した位置と前記受
    付部が受け付けた移動目標位置とが不一致の場合、前記
    結像光束と前記撮像部との位置関係を相対的にシフトさ
    せることを特徴とする顕微鏡システム。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の顕微鏡システムにおい
    て、前記撮像部は、有効画素範囲および該有効画素範囲
    内に含まれる表示に使われる表示画素範囲を有し、前記
    シフト手段は、前記結像光束に対して、前記撮像部の前
    記表示画素範囲をxy方向にシフトさせる手段であるこ
    とを特徴とする顕微鏡システム。
  3. 【請求項3】請求項1に記載の顕微鏡システムにおい
    て、前記光学系は、結像レンズを含み、前記シフト手段
    は、前記結像レンズをxy方向にシフトさせる手段であ
    ることを特徴とする顕微鏡システム。
  4. 【請求項4】請求項1に記載の顕微鏡システムにおい
    て、前記光学系は、結像レンズと、該結像レンズと撮像
    部との間に配置された透明な平行平板とを含み、前記シ
    フト手段は、前記平行平板を前記結像レンズの光軸に対
    して傾斜させる手段であることを特徴とする顕微鏡シス
    テム。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005092152A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Olympus Corp 顕微鏡用電動ステージ制御システム、該制御装置、及び該制御方法
JP2006243608A (ja) * 2005-03-07 2006-09-14 Nikon Corp 顕微鏡システム
JP2013250531A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Olympus Corp 顕微鏡システム及びその制御方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005017808A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Olympus Corp 光学顕微鏡システム、これを用いた光軸補正方法、光軸補正プログラム、及びこのプログラムを記録した記録媒体
DE602004014697D1 (de) * 2003-10-17 2008-08-14 Olympus Co Objektiveinführvorrichtung, Befestigungsvorrichtung für ein Objektivsystem
DE102004026093B4 (de) * 2004-05-25 2006-04-13 Leica Microsystems Cms Gmbh System und Verfahren zur Bildaufnahme und Bilddarstellung von Präparaten
DE102004034960A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Korrektur-Vorrichtung für eine optische Anordnung und konfokales Mikroskop mit einer solchen Vorrichtung
DE102005046241A1 (de) * 2005-09-28 2007-04-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Bildaufnahmeeinheit für mikroskopische Anwendungen

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0256516A (ja) * 1988-08-23 1990-02-26 Hitachi Ltd 顕微鏡画像の視野内自動位置決め装置
JPH0515498A (ja) * 1991-07-16 1993-01-26 Topcon Corp 眼底カメラ
JPH0675173A (ja) * 1992-08-26 1994-03-18 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡システム
JPH1020200A (ja) * 1996-07-09 1998-01-23 Nikon Corp ステージ走査型測光顕微鏡
JP2001042223A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Nikon Corp 高精度微調整機能を備えた光学装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6628459B2 (en) * 2000-04-19 2003-09-30 Olympus Optical Co., Ltd. Focus stabilizing apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0256516A (ja) * 1988-08-23 1990-02-26 Hitachi Ltd 顕微鏡画像の視野内自動位置決め装置
JPH0515498A (ja) * 1991-07-16 1993-01-26 Topcon Corp 眼底カメラ
JPH0675173A (ja) * 1992-08-26 1994-03-18 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡システム
JPH1020200A (ja) * 1996-07-09 1998-01-23 Nikon Corp ステージ走査型測光顕微鏡
JP2001042223A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Nikon Corp 高精度微調整機能を備えた光学装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005092152A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Olympus Corp 顕微鏡用電動ステージ制御システム、該制御装置、及び該制御方法
JP4551071B2 (ja) * 2003-09-19 2010-09-22 オリンパス株式会社 顕微鏡用電動ステージ制御システム、該制御装置、及び該制御方法
JP2006243608A (ja) * 2005-03-07 2006-09-14 Nikon Corp 顕微鏡システム
JP2013250531A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Olympus Corp 顕微鏡システム及びその制御方法

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