JP2002343848A - 半導体装置製造設備 - Google Patents

半導体装置製造設備

Info

Publication number
JP2002343848A
JP2002343848A JP2002000564A JP2002000564A JP2002343848A JP 2002343848 A JP2002343848 A JP 2002343848A JP 2002000564 A JP2002000564 A JP 2002000564A JP 2002000564 A JP2002000564 A JP 2002000564A JP 2002343848 A JP2002343848 A JP 2002343848A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
chambers
chamber
device manufacturing
load lock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002000564A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsukan Sai
哲煥 崔
Yoko Kim
容甲 金
Sanko Cho
讚衡 趙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2002343848A publication Critical patent/JP2002343848A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67259Position monitoring, e.g. misposition detection or presence detection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/6773Conveying cassettes, containers or carriers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Manipulator (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 制限された半導体装置の生産ラインに対し容
易に各製造設備の空間確保ができるようにし、より多く
の製造設備を設置することにより単位生産ラインの生産
量を増大させることができる半導体装置製造設備を提供
する。 【解決手段】 半導体装置生産ラインに設置される半導
体装置製造設備において、ウェーハWを選択的に固定さ
せるロボットアーム18が設けられ、そのロボットアー
ム18を伸縮駆動、昇降駆動及び回転させるロボット手
段Raがトランスファチャンバ30aに設置され、トラ
ンスファチャンバ30aに工程チャンバ32a及びロー
ドロックチャンバ34aが選択的に連通して連結され、
それぞれ高さ方向に配置されて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
設備に関し、詳しくは制限された半導体装置の生産ライ
ンに対し容易に各製造設備の空間確保ができるように
し、より多くの製造設備を設置することにより単位生産
ラインに対し生産量を増大させることができる半導体装
置製造設備に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体装置の生産ラインは、製
造される半導体装置を外部の各種汚染源から隔離するた
めに高清浄度の環境を形成し、またその環境状態を継続
して維持するための各種装置が設置された構成をもつ。
また、生産ライン内の各製造設備はウェーハが半導体装
置として製造されるまで同一工程を行うもの同士、また
は各工程間の関連性と持続性をもつもの同士が近接する
ように配置されて、その生産性と空間活用の効率を高め
るように設置されることが求められる。一般の生産ライ
ンにおける製造設備の配置関係は、例えば図13に示す
ように、生産ライン1のワーキングライン(working lin
e)2部位に製造設備4が設置され、作業者が移動する通
路3に沿って同一工程を行う複数の製造設備4が一列に
配列される。
【0003】ここで、各製造設備4は半導体装置の高集
積化の趨勢に対応してより多様な機能が求められている
ため、既存の製造設備と比較してその設置領域が拡大形
成されつつある。即ち、図13に示した配列方向(X軸
方向)と長さ方向(Y軸方向)が拡張され、特に、配列
方向への拡張は生産ライン1の制限された空間内の他の
製造設備4の設置領域を侵犯する。よって、相互に関連
性及び連続性をもつ各工程の製造設備4中の一部は他の
生産ライン1に分離して設置され、これはウェーハが半
導体装置として製造されるまでのウェーハ移送に伴う停
滞性を誘発させて時間的且つ経済的損失を招来するだけ
でなく、連続する次の工程中において前工程での工程不
良を確認した場合、その間の継続的な工程進行による不
良率が拡大し、製造収率の低下と停滞性による生産量の
低下とに繋がるという問題点があった。
【0004】このような問題点に対応して、従来の製造
設備4中で化学気相蒸着、食刻、拡散、金属蒸着などの
工程を行う製造設備4の構成には、一つのトランスファ
チャンバに対し複数個の工程チャンバ、複数のロードロ
ックチャンバ、ならびにこれと関連した他の複数の補助
チャンバとが選択的に連通するように設置されてコント
ローラーにより制御されるマルチチャンバ構造がある。
【0005】以下、前記マルチチャンバ構造の製造設備
に対する従来技術の構成を説明する。図14及び図15
に示すように、生産ライン1、即ち、作業者が移動する
通路3に対し選択的に連通し、またその内部を選択的に
気密維持する少なくとも一つ以上のロードロックチャン
バ10a、10bがあり、複数個のウェーハWを受容し
たカセットKは生産ライン1から選択的に開放されるロ
ードロックチャンバ10a、10bのドア部22a、2
2bを通じてその内部に投入されまたは引き出される。
【0006】また、ロードロックチャンバ10a、10
bの内部はカセットKの投入及び引出に対応して、連結
された真空圧提供手段(図面の単純化のため省略する)
の駆動により所定の真空圧状態をなし、ロードロックチ
ャンバ10a、10bの一側部位は配置されたウェーハ
Wを要求される工程位置に移送するロボット手段Rが設
置されているトランスファチャンバ12の一側部と選択
的に連通して連結される。そして、トランスファチャン
バ12の他側部にはウェーハWに対し食刻、化学気相蒸
着、拡散、金属蒸着(スパッタリング)などのメイン工
程中で何れか一つのメイン工程を行う複数の工程チャン
バ14a、14bが選択的に連通するように設置され、
また、トランスファチャンバ12のさらに他の一側部に
は工程チャンバ14a、14bの工程を行う前後のウェ
ーハWに対し冷却、乾燥、洗浄、検査などのメイン工程
に対する前後処理過程を行う補助チャンバ16が選択的
に連通するように連結されている。ここで、上記の製造
設備の構成は、一つの工程に関連した構成、即ち、複数
個の工程チャンバ14a、14b、ロードロックチャン
バ10a、10bならびに補助チャンバ16などがロボ
ット手段Rが設置されたトランスファチャンバ12に連
通して連結されるマルチチャンバ構造をもって、生産ラ
インで製造設備が占める占有面積をある程度減らすこと
ができる。
【0007】しかし、ロードロックチャンバ10a、1
0b、工程チャンバ14a、14b及び補助チャンバ1
6は相互にトランスファチャンバ12の周りに沿って広
さ方向に配置されるに従いその設置による占有面積が広
さ方向に拡大され、生産ライン内の他の製造設備の設置
空間を縮小させるという問題点がある。また、ロードロ
ックチャンバ10a、10b、工程チャンバ14a、1
4b及び補助チャンバ16が広さ方向に配置されるに従
い上記のトランスファチャンバ12の設置領域と、設置
されるロボット手段Rを構成するロボットアーム18の
駆動領域と、各種ユニット20の設置領域とが広さ方向
に拡張して形成されるという問題点がある。そこで、各
製造設備中で関連性及び連続性をもつ一部の製造設備が
他の生産ラインに分離して設置される場合が発生し、こ
れは他の生産ラインの増設を要求すると共にその管理に
よる追加費用が発生するなどの非経済的な問題点を誘発
させる。そして、このような費用発生は製造される半導
体装置の製品単価を高めて競争力を弱化させる結果を招
来する。特に、上記のマルチチャンバ構造の製造設備に
より向上した機能を追加しようとする場合、その機能に
相応する設置空間には広さ方向に拡張された領域が要求
されるが、製造設備の設計変更ならびに生産ラインのレ
イアウト変更は非常に困難である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、半導
体装置生産ライン内の設備の占有面積を縮小させ、一つ
の生産ライン内において同一な工程を行う複数の設備な
らびに相互に関連し連続するより多くの設備の設置を可
能にし、作業者の作業空間ならびにウェーハの移送のた
めの空間確保などが容易になる半導体装置製造設備を提
供することにある。
【0009】本発明の他の目的は、半導体装置の製造過
程における停滞を減らし、生産ラインの効率的利用でよ
り向上した高機能化を具現すると共に、単位生産ライン
での生産量の極大化と所要費用の縮小とで製品単価を減
らすなどの設備競争力を大きく向上させることができる
半導体装置製造設備を提供することにある。本発明の又
他の目的は、生産ライン内の空間確保により、その生産
ライン内部に設置される製造設備の設計変更と生産ライ
ンのレイアウトの変更とがより容易になる半導体装置製
造設備を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るため本発明は請求項1記載の手段を採用する。この手
段によると、半導体装置生産ラインに設置される半導体
装置製造設備において、ウェーハを選択的に固定するロ
ボットアームが設けられ、ロボットアームを伸縮駆動、
昇降駆動及び回転させるロボット手段がトランスファチ
ャンバに設置され、トランスファチャンバに複数のチャ
ンバが選択的に連通して連結され、複数のチャンバはそ
れぞれ高さ方向に配置される。
【0011】請求項2記載の手段を採用することによ
り、複数のチャンバは、ウェーハに対し工程を行うため
の複数の工程チャンバと、半導体装置生産ライン及びト
ランスファチャンバにそれぞれ対応して選択的に開閉す
るドア部が設置されている複数のロードロックチャンバ
とを有する。
【0012】請求項3記載の手段を採用することによ
り、複数の工程チャンバはトランスファチャンバの一側
から上下に垂直に配置され、複数のロードロックチャン
バはトランスファチャンバの他の一側から上下に垂直に
配置される。請求項4記載の手段を採用することによ
り、複数の工程チャンバと複数のロードロックチャンバ
とはトランスファチャンバの一側で互いに層をなして配
置される。
【0013】請求項5記載の手段を採用することによ
り、複数の工程チャンバと複数のロードロックチャンバ
とは何れか一つのチャンバを基準にした上下の垂直位置
から前後または左右方向のうち少なくとも一つの方向に
互いに所定間隔ずれて配置される。
【0014】請求項6記載の手段を採用することによ
り、複数の工程チャンバと複数のロードロックチャンバ
とは何れか一つのチャンバを基準にした上下方向に対し
階段形状をなして配置される。また、請求項7記載の手
段を採用することにより、ロボットアームは少なくとも
2つのウェーハを同時に固定するようにロボット手段か
ら少なくとも2つの分岐をもつ形状をなし、チャンバは
ロボットアームの配置に対応してウェーハが配置される
ように形成されている。
【0015】請求項8記載の手段を採用することによ
り、ロボット手段はチャンバが各々上下に配置されるこ
とに対応してトランスファチャンバに設置され、少なく
とも2つ上下に分離して設置されている。請求項9記載
の手段を採用することにより、半導体装置生産ラインに
対応する複数のロードロックチャンバのドア部上には複
数のウェーハを収容するカセットをロードロックチャン
バの何れか一つに対しローディング及びアンローディン
グ案内するインデックス部が設置されている。
【0016】請求項10記載の手段を採用することによ
り、インデックス部はカセットが安定して配置されたこ
とを感知する感知手段が設置されているテーブルと、カ
セットが配置されたテーブルを印加される移送制御信号
に従い所定位置のロードロックチャンバに対応して昇降
させるエレベーター手段と、所定位置のロードロックチ
ャンバのドア部開閉に対応してカセットを選択的に投入
するまたは引き出すスライディング移送手段と、エレベ
ーター手段及びスライディング移送手段を駆動させる駆
動信号を印加する制御手段とを有する。
【0017】なお、請求項11記載の手段を採用するこ
とにより、ロボット手段はトランスファチャンバの高さ
方向に設置されて水平方向にスライディング移動可能に
設置される支持軸と、支持軸に昇降及び回転可能に設置
される移動軸と、支持軸からロボットアームを伸縮駆動
させる伸縮駆動軸とを有する。
【0018】請求項12記載の手段を採用することによ
り、ロードロックチャンバはローディングされるカセッ
トに対するウェーハの引出及び投入が上側からなされる
ようにトランスファチャンバの下部に選択的に連通して
設置され、工程チャンバはトランスファチャンバの一側
から垂直方向に連通して設置され、ロボット手段はロー
ドロックチャンバの上部に昇降駆動可能に設置される駆
動軸と、駆動軸に設置されカセット及び工程チャンバに
対向して垂直及び水平方向への回転駆動が可能に設置さ
れる移動軸ならびに移動軸に設置されるロボットアーム
を伸縮させる伸縮部とを有する。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
面を用いて詳しく説明する。図1から図3は本発明の第
1から第3実施例による半導体装置製造設備の構成を概
略的に示した平面図で、図4から図8は図1から図3に
示した各実施例の構成の設置関係を示す断面図で、図9
から図12は本発明のその他の実施例をそれぞれ示す断
面図で、従来と同一な部分に対しては図14及び図15
と同一な符号をつけ、それに従う詳しい説明は省略す
る。
【0020】本発明の各実施例による半導体装置製造設
備の構成は、図1から図12に示したように、ウェーハ
Wを移送するためのロボット手段Ra、Rb、Rc、R
dが設置されたトランスファチャンバ30a、30b、
30c、30d、30e、30f、30gに複数のチャ
ンバがそれぞれ連通して連結され、その複数のチャンバ
が高さ方向に配列されて構成される。
【0021】このような各実施例中でまず、図1と、図
1に示したVI−VI線及びVII−VII線に沿った断面図であ
って各チャンバの配置関係を示す図4及び図5とに示し
た第1実施例による構成を説明する。複数のチャンバ
は、複数の工程チャンバ32aと複数のロードロックチ
ャンバ34aと複数の補助チャンバ36aとからなり、
これらはウェーハWの移送のためのロボット手段Raが
設置されたトランスファチャンバ30aに対しそれぞれ
選択的に連通し、またこれらのそれぞれは図4及び図5
に示したように、高さ方向の垂直方向に配置された構成
である。また、これらの各チャンバにそれぞれ連結され
る真空ラインまたはガス供給ラインなどの各種形態のユ
ニット38aは各チャンバの垂直配列に対し相互に水平
方向位置からずれるように配置されて連結され、生産ラ
イン1の広さ方向に拡大して配置されずに所定面積を基
準にして互いに層をなして配置され、狭い空間でもその
設置が自由になされる。このように従来の占有面積を縮
小すると共に単位面積に対しより多数のチャンバが設置
されることは、複数のウェーハWに対し同時多発的に工
程を行って単位生産ライン1内の工程処理能力がより向
上し、さらにロボット手段Raを含んだトランスファチ
ャンバ30aの活用度ならびに真空圧形成を含んだ各種
ユニット38aの活用度をより高めることになる。
【0022】一方、図2と、図2に示したVIII‐VIII線
及びIX‐IX線を基準にした断面図であって各チャンバの
配置関係を示した図6及び図7とに示した第2実施例を
説明する。複数の工程チャンバ32bと複数のロードロ
ックチャンバ34bと複数の補助チャンバ36bとはト
ランスファチャンバ30bを基準にして選択的に連通す
る各チャンバの垂直配置関係において、各チャンバ中の
何れか一つのチャンバを基準にして垂直上下方向から互
いに左右に所定間隔だけずれるように配置され、これら
のそれぞれに連結される各種形態のユニット38bが互
いにずれた位置にあるように形成される。
【0023】又、図3と、図3に示したX‐X線を基準に
した断面図であって各チャンバの配置関係を示した図8
とに示した第3実施例を説明すると、この第3実施例で
は、トランスファチャンバ30cに対し選択的に連通す
る複数の工程チャンバ32c、複数のロードロックチャ
ンバ34c及び複数の補助チャンバ36cに連結される
各種形態のユニット38cが互いに広さ方向にずれるよ
うに配置されることに対応して、上記の各チャンバ構成
はその設置位置の高さを異にして互いに階段形状に配置
された構成である。
【0024】一方、図9に示す第4実施例では、トラン
スファチャンバ30dに対し選択的に連通する複数の工
程チャンバ32d、複数のロードロックチャンバ34d
及び複数の補助チャンバ36dと、各種ユニット38d
との配置状態に対応するロボット手段Ra、Raの構成
は、各チャンバの上下配置に対応して上側と下側に分離
されたウェーハWをそれぞれの上下位置から分離して、
その位置からそれぞれ移送するようにする構成である。
また、ロードロックチャンバ34dが高さ方向に複数個
設置される場合に対応して、生産ライン1から配置され
るカセットKをコントローラー(図面の単純化のため省
略する)の制御により求められる所定のロードロックチ
ャンバ34dの位置に案内移送するようにするインデッ
クス部40がさらに設置された構成であり、このような
インデックス部40には、複数のウェーハWを収容した
状態で配置されるカセットKが設定された位置に安定し
て配置されたことを感知する感知手段(図面の単純化の
ため省略する)が設置されたテーブル42が設置され、
前記テーブル42をコントローラーの移送制御信号に従
い所定位置のロードロックチャンバ34dに対応するよ
うに昇降させるエレベーター手段44が設置される。ま
た、所定位置のロードロックチャンバ34dのドア部2
2aが開放されることに対応してカセットKを選択的に
ローディングまたはアンローディングさせるスライディ
ング移送手段46が設置され、前記コントローラーはイ
ンデックス部40の各構成とロードロックチャンバ34
dの開閉とに対しエレベーター手段44とスライディン
グ移送手段46の駆動を制御する制御手段としての機能
を有し、このようなコントローラーに代わる制御手段と
しては生産ライン1の作業者通路上に露出するように設
置された操作部から構成することもできる。これによる
と、複数のウェーハWが収容されたカセットKはインデ
ックス部40のテーブル42に安定して配置され、テー
ブル42はコントローラーから印加される移送制御信号
に従うエレベーター手段44の駆動により、開放される
ロードロックチャンバ34dまたは作業者に引き渡すの
に容易な位置に移送される。そして、コントローラーは
開放されたロードロックチャンバ34dに対しスライデ
ィング移送手段46に制御信号を印加してカセットKを
ローディングまたはアンローディングさせる。このよう
な過程を通してカセットKが所定のロードロックチャン
バ34dに対応して配置される。また図10に示す第5
実施例では、ロードロックチャンバ34eの入口部位に
コントローラーの移動軸52が設置され、前記移動軸5
2上には支持軸50から前記ロボットアーム18を伸縮
駆動させる伸縮駆動軸54が設置されている。このよう
な構成によると、複数の工程チャンバ32eとロードロ
ックチャンバ34eが垂直に高さ方向に配置されること
に対応して、コントローラーは移動軸52を対応する工
程チャンバ32eまたはロードロックチャンバ34eに
対向して配置し、これらのチャンバが選択的に開放され
るに従い駆動軸54は伸縮駆動し、ロボットアーム18
がウェーハWを固定し、要求される位置に移送する。
【0025】図11に本発明の第6実施例を示す。ロボ
ット手段Rcの構成は、図11に示すように、ローディ
ングされるカセットKのウェーハWの引出及び投入が上
側からなされるようにロードロックチャンバ34fがト
ランスファチャンバ30f下部に選択的に連通するよう
に配置され、トランスファチャンバ30fから一側に選
択的に連通するように高さ方向に配置されることに対応
して、ロードロックチャンバ34fの上部に昇降駆動可
能に駆動軸56が設置され、配置されるカセットKと工
程チャンバ32fとに対向するように垂直・水平方向へ
の回転駆動が可能に駆動軸上に設置される移送軸58な
らびに移送軸58上に設置されるロボットアーム18を
伸縮させる伸縮部60を含む。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明によると、半
導体装置生産ライン内に製造設備を構成する各チャンバ
が相互に上下に配置されることによりその占有面積が縮
小され、これによる空間確保により、相互に関連し連続
する製造設備が生産ライン内により多く設置されるだけ
でなく、作業者の作業空間ならびにウェーハの移送に対
する空間の確保が容易であるという効果がある。
【0027】また、上述のように、互いに連続し関連し
た各製造設備が生産ライン内に効率よく配置されるに伴
いウェーハに対する工程流れの過程での停滞を顕著に減
少させ、また生産ラインの効率的利用で高機能化を具現
すると共に単位生産ラインでの生産量の極大化を図り、
生産ラインと製造設備の駆動による所要費用の縮小で製
品単価が減少され、設備の競争力を大きく向上させると
いう効果がある。
【0028】そして、生産ライン内の空間確保を通して
その内部に設置される製造設備の設計変更と生産ライン
のレイアウトの変更とがより容易になされるようにな
り、生産ラインの効率的利用が可能になる。本発明は、
具体的な実施例に対してのみ詳しく説明したが、本発明
の技術的思想の範囲内で変形及び変更できることは本発
明が属する分野の当業者には明白なものであり、このよ
うな変形及び変更は本発明の特許請求の範囲に属する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例による半導体装置製造設備
の構成を概略的に示す平面図である。
【図2】本発明の第2実施例による半導体装置製造設備
の構成を概略的に示す平面図である。
【図3】本発明の第3実施例による半導体装置製造設備
の構成を概略的に示す平面図である。
【図4】図1に示すVI‐VI線を基準にして各チャンバの
配置関係を概略的に示す断面図である。
【図5】図1に示すVII‐VII線を基準にして各チャンバ
の配置関係を概略的に示す断面図である。
【図6】図2に示すVIII‐VIII線を基準にして各チャン
バの配置関係を概略的に示す断面図である。
【図7】図2に示すIX‐IX線を基準にして各チャンバの
配置関係を概略的に示す断面図である。
【図8】図3に示すX‐X線を基準にして各チャンバの配
置関係を概略的に示す断面図である。
【図9】本発明の第4実施例による半導体装置製造設備
の構成概略的に示す断面図である。
【図10】本発明の第5実施例による半導体装置製造設
備の構成概略的に示す断面図である。
【図11】本発明の第6実施例による半導体装置製造設
備の構成概略的に示す断面図である。
【図12】本発明の第7実施例による半導体装置製造設
備の構成を概略的に示す平面図である。
【図13】一般の生産ライン内における複数の製造設備
の配置関係を概略的に示す模式図である。
【図14】従来のマルチチャンバ構造をもつ半導体装置
製造設備の構成を概略的に示す平面図である。
【図15】図14に示すA−A線を基準にして従来の半
導体装置製造設備を概略的に示す断面図である。
【符号の説明】
1 生産ライン 2 ワーキングライン 3 通路 4 製造設備 18、18a、18b ロボットアーム 30a、30b、30c、30d、30e、30f、3
0g トランスファチャンバ 32a、32b、32c、32d、32e、32f、3
2g 工程チャンバ 34a、34b、34c、34d、34e、34f、3
4g ロードロックチャンバ 36a、36b、36c、36d、36e、36f、3
6g 補助チャンバ 38a、38b、38c、38d、38e、38f、3
8g ユニット 40 インデックス部 42 テーブル 44 エレベーター手段 46 スライディング移送手段 50 支持軸 52 移動軸 54 伸縮駆動軸 56 駆動軸 58 移送軸 60 伸縮部 Ra、Rb、Rc、Rd ロボット手段 W ウェーハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 趙 讚衡 大韓民国京畿道華城郡台安邑炳点里485番 地漢新アパート101−1108号 Fターム(参考) 3C007 AS05 AS24 BS06 BS26 BT02 CT02 CT05 CU03 CV02 5F031 CA02 DA01 FA01 FA07 FA11 GA03 GA47 GA48 GA49 JA22 MA02 MA04 MA09 MA28 MA29 MA32 NA05 PA30

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置生産ラインに設置される半導
    体装置製造設備において、 ウェーハを選択的に固定するロボットアームが設けら
    れ、前記ロボットアームを伸縮駆動、昇降駆動及び回転
    させるロボット手段がトランスファチャンバに設置さ
    れ、前記トランスファチャンバに複数のチャンバが選択
    的に連通して連結され、前記複数のチャンバはそれぞれ
    高さ方向に配置されることを特徴とする半導体装置製造
    設備。
  2. 【請求項2】 前記複数のチャンバは、ウェーハに対し
    工程を行うための複数の工程チャンバと、前記半導体装
    置生産ライン及び前記トランスファチャンバにそれぞれ
    対応して選択的に開閉するドア部が設置されている複数
    のロードロックチャンバとを有することを特徴とする請
    求項1に記載の半導体装置製造設備。
  3. 【請求項3】 前記複数の工程チャンバは前記トランス
    ファチャンバの一側から上下に垂直に配置され、前記複
    数のロードロックチャンバは前記トランスファチャンバ
    の他の一側から上下に垂直に配置されることを特徴とす
    る請求項2に記載の半導体装置製造設備。
  4. 【請求項4】 前記複数の工程チャンバと前記複数のロ
    ードロックチャンバとは前記トランスファチャンバの一
    側で互いに層をなして配置されることを特徴とする請求
    項2に記載の半導体装置製造設備。
  5. 【請求項5】 前記複数の工程チャンバと前記複数のロ
    ードロックチャンバとは何れか一つのチャンバを基準に
    した上下の垂直位置から前後または左右方向のうち少な
    くとも一つの方向に互いに所定間隔ずれて配置されるこ
    とを特徴とする請求項2に記載の半導体装置製造設備。
  6. 【請求項6】 前記複数の工程チャンバと前記複数のロ
    ードロックチャンバとは何れか一つのチャンバを基準に
    した上下方向に対し階段形状をなして配置されることを
    特徴とする請求項5に記載の半導体装置製造設備。
  7. 【請求項7】 前記ロボットアームは少なくとも2つの
    ウェーハを同時に固定するように前記ロボット手段から
    少なくとも2つの分岐をもつ形状をなし、前記チャンバ
    は前記ロボットアームの配置に対応してウェーハが配置
    されるように形成されていることを特徴とする請求項1
    に記載の半導体装置製造設備。
  8. 【請求項8】 前記ロボット手段は、前記チャンバが各
    々上下に配置されることに対応して前記トランスファチ
    ャンバに設置され、少なくとも2つ上下に分離して設置
    されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装
    置製造設備。
  9. 【請求項9】 前記半導体装置生産ラインに対応する前
    記複数のロードロックチャンバのドア部上には複数のウ
    ェーハを収容するカセットを前記ロードロックチャンバ
    の何れか一つに対しローディング及びアンローディング
    案内するインデックス部が設置されていることを特徴と
    する請求項2に記載の半導体装置製造設備。
  10. 【請求項10】 前記インデックス部は、前記カセット
    が安定して配置されたことを感知する感知手段が設置さ
    れているテーブルと、前記カセットが配置されたテーブ
    ルを印加される移送制御信号に従い前記ロードロックチ
    ャンバのうち所定位置のロードロックチャンバに対応し
    て昇降させるエレベーター手段と、前記所定位置のロー
    ドロックチャンバのドア部開閉に対応して前記カセット
    を選択的に投入するまたは引き出すスライディング移送
    手段と、前記エレベーター手段及び前記スライディング
    移送手段を駆動させる駆動信号を印加する制御手段とを
    有することを特徴とする請求項9に記載の半導体装置製
    造設備。
  11. 【請求項11】 前記ロボット手段は、前記トランスフ
    ァチャンバの高さ方向に設置されて水平方向にスライデ
    ィング移動可能に設置される支持軸と、前記支持軸に昇
    降及び回転可能に設置される移動軸と、前記支持軸から
    前記ロボットアームを伸縮駆動させる伸縮駆動軸とを有
    することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置製造
    設備。
  12. 【請求項12】 前記ロードロックチャンバはローディ
    ングされるカセットに対するウェーハの引出及び投入が
    上側からなされるように前記トランスファチャンバの下
    部に選択的に連通して設置され、前記工程チャンバは前
    記トランスファチャンバの一側から垂直方向に連通して
    設置され、前記ロボット手段は前記ロードロックチャン
    バの上部に昇降駆動可能に設置される駆動軸と、前記駆
    動軸に設置され前記カセット及び前記工程チャンバに対
    向して垂直及び水平方向への回転駆動が可能に設置され
    る移動軸ならびに前記移動軸に設置されるロボットアー
    ムを伸縮させる伸縮部とを有することを特徴とする請求
    項2に記載の半導体装置製造設備。
JP2002000564A 2001-05-09 2002-01-07 半導体装置製造設備 Pending JP2002343848A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0025076A KR100422467B1 (ko) 2001-05-09 2001-05-09 반도체장치 제조설비
KR2001-25076 2001-05-09

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002343848A true JP2002343848A (ja) 2002-11-29

Family

ID=19709207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002000564A Pending JP2002343848A (ja) 2001-05-09 2002-01-07 半導体装置製造設備

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2002343848A (ja)
KR (1) KR100422467B1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012017653A1 (ja) * 2010-08-06 2012-02-09 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム、搬送モジュール、基板処理方法及び半導体素子の製造方法
CN106298589A (zh) * 2015-06-26 2017-01-04 泰拉半导体株式会社 基板处理系统
CN114512431A (zh) * 2022-02-16 2022-05-17 上海普达特半导体设备有限公司 一种多腔体集成式半导体设备
CN115775735A (zh) * 2022-12-02 2023-03-10 江苏东海半导体股份有限公司 一种带有沟槽的碳化硅积累态mosfet制备方法
CN117103236A (zh) * 2023-10-19 2023-11-24 北京云圣智能科技有限责任公司 圆柱坐标机器人及飞行器机库

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100569604B1 (ko) * 2003-12-30 2006-04-10 주식회사 아이피에스 트윈 공정챔버를 이용한 클러스터 툴 시스템 및 이를 통한 박막 증착 방법
KR100719519B1 (ko) * 2005-11-24 2007-05-17 뉴영엠테크 주식회사 고온 공정용 반도체 제조장치
KR100847888B1 (ko) * 2006-12-12 2008-07-23 세메스 주식회사 반도체 소자 제조 장치
KR100858890B1 (ko) * 2007-03-28 2008-09-17 세메스 주식회사 기판 처리 장치와 기판 처리 방법

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6176667B1 (en) * 1996-04-30 2001-01-23 Applied Materials, Inc. Multideck wafer processing system
JPH10229111A (ja) * 1997-02-18 1998-08-25 Hitachi Ltd 半導体製造装置
KR100265287B1 (ko) * 1998-04-21 2000-10-02 윤종용 반도체소자 제조용 식각설비의 멀티챔버 시스템
JP2965038B1 (ja) * 1998-09-21 1999-10-18 日新電機株式会社 真空処理装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012017653A1 (ja) * 2010-08-06 2012-02-09 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム、搬送モジュール、基板処理方法及び半導体素子の製造方法
JPWO2012017653A1 (ja) * 2010-08-06 2013-10-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム、搬送モジュール、基板処理方法及び半導体素子の製造方法
KR101331288B1 (ko) 2010-08-06 2013-11-20 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 처리 시스템, 반송 모듈, 기판 처리 방법 및 반도체 소자의 제조 방법
JP5503006B2 (ja) * 2010-08-06 2014-05-28 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム、搬送モジュール、基板処理方法及び半導体素子の製造方法
US9312153B2 (en) 2010-08-06 2016-04-12 Tokyo Electron Limited Substrate processing system, transfer module, substrate processing method, and method for manufacturing semiconductor element
CN106298589B (zh) * 2015-06-26 2021-11-05 圆益Ips股份有限公司 基板处理系统
CN106298589A (zh) * 2015-06-26 2017-01-04 泰拉半导体株式会社 基板处理系统
CN114512431A (zh) * 2022-02-16 2022-05-17 上海普达特半导体设备有限公司 一种多腔体集成式半导体设备
CN114512431B (zh) * 2022-02-16 2024-03-05 上海普达特半导体设备有限公司 一种多腔体集成式半导体设备
CN115775735A (zh) * 2022-12-02 2023-03-10 江苏东海半导体股份有限公司 一种带有沟槽的碳化硅积累态mosfet制备方法
CN115775735B (zh) * 2022-12-02 2023-11-07 江苏东海半导体股份有限公司 一种带有沟槽的碳化硅积累态mosfet制备方法
CN117103236A (zh) * 2023-10-19 2023-11-24 北京云圣智能科技有限责任公司 圆柱坐标机器人及飞行器机库
CN117103236B (zh) * 2023-10-19 2024-01-23 北京云圣智能科技有限责任公司 圆柱坐标机器人及飞行器机库

Also Published As

Publication number Publication date
KR100422467B1 (ko) 2004-03-12
KR20020085526A (ko) 2002-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7628574B2 (en) Apparatus and method for processing substrates using one or more vacuum transfer chamber units
US6979168B2 (en) Method and apparatus for transferring substrate
US9443749B2 (en) Vacuum processing apparatus
JP5467221B2 (ja) 基板搬送装置及びこれを用いた高速基板処理システム
KR100571104B1 (ko) 모듈식 기판 처리 시스템
KR20150039152A (ko) 로드락 디자인 및 로드락을 사용하기 위한 방법
US9177842B2 (en) Degassing apparatus adapted to process substrates in multiple tiers with second actuator
CN103155133A (zh) 基板处理系统、搬送模块、基板处理方法和半导体元件的制造方法
US20130287529A1 (en) Method and apparatus for independent wafer handling
JP2008520837A (ja) ウエハファブ
KR102163605B1 (ko) 기판 처리 장치
JP2002343848A (ja) 半導体装置製造設備
US11282737B2 (en) Moving substrate transfer chamber
JP2017163103A (ja) 基板処理装置
US9613837B2 (en) Substrate processing apparatus and maintenance method thereof
KR20200026745A (ko) 기판 반송 기구, 기판 처리 장치 및 기판 반송 방법
WO2021131972A1 (ja) 基板処理装置
TW201527580A (zh) 基板處理裝置,半導體裝置之製造方法及記錄媒體
US20020168251A1 (en) Self-contained semiconductor device manufacturing equipment having compact arrangement of load-lock and processing chambers
US20140119858A1 (en) Semiconductor Device Manufacturing Line
KR100717990B1 (ko) 반도체 자재 처리를 위한 이송 시스템
KR20180021263A (ko) 기판 냉각 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 설비
US20230178395A1 (en) System for processing substrate and maintenance method thereof
KR102315825B1 (ko) 스토커
KR101367898B1 (ko) 플라즈마 감금 장벽 및 이를 구비한 기판 처리 시스템 및방법