JP2002309928A - 内燃機関の排気浄化装置 - Google Patents

内燃機関の排気浄化装置

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Toru Nakazono
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 NO吸蔵還元触媒の実際の劣化状態を検出
し、かつ、短時間でNO吸蔵還元触媒を再生すること
ができる内燃機関の排気浄化装置を提供することであ
る。 【解決手段】 排気通路にNO吸蔵還元触媒を設けた
内燃機関において、前記排気通路のNO吸蔵還元触媒
の下流側に酸素センサを設け、リッチスパイク実行時に
おける前記酸素センサの出力電圧値が最高値を記録する
前の少ない変化量の電圧値を記録する時間の長さにより
NO吸蔵還元触媒の劣化状態を判定する判定手段を備
えた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、排気通路にNO
吸蔵還元触媒を備えた内燃機関の排気浄化装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】排気通路にNO吸蔵還元触媒(以下、
吸蔵触媒と呼ぶ。)を備えた内燃機関においては、吸蔵
触媒にNOがある程度まで吸蔵されると、空燃比を一
時的かつ急激にリーンからリッチに切換えるリッチスパ
イクと呼ばれる操作を行い、吸蔵されたNOを還元し
除去している。
【0003】このリッチスパイクにより吸蔵触媒を再生
する方法の発明としては、本願出願人の出願である特開
2000−45752号(内燃機関における窒素酸化物
吸蔵還元触媒の浄化方法)がある。特開2000−45
752号では、吸蔵触媒のNOの吸蔵可能容量を把握
し、吸蔵触媒に流入するNOの積算値が吸蔵可能容量
に達したら(又は達する手前で)リッチスパイクを実行
して吸蔵触媒を浄化し、吸蔵触媒の吸蔵能力を十分に発
揮することができるように配慮していた。
【0004】しかし、吸蔵触媒は、排気ガス中に含まれ
る硫黄成分により吸蔵触媒が被毒し、時間が経過するに
つれて劣化しNOの吸蔵可能容量が減少してしまう。
被毒した吸蔵触媒から硫黄成分を除去する方法として、
本願出願人の出願である特開2000−8909号(内
燃機関の制御方法)があるが、特開2000−8909
号では、内燃機関の運転時間が所定時間(例えば100
分)経過すると、空燃比をリーンからリッチに切換え、
排気温度が600℃以上の環境下で所定時間(10分程
度)運転することにより吸蔵触媒を再生していた。
【0005】このように、従来は吸蔵触媒が硫黄成分に
よりどの程度被毒されているかを内燃機関の運転時間か
ら推測するのみであった。つまり吸蔵触媒の実際の劣化
状態を把握することなく、所定時間が経過すると機械的
に再生作業を行っていた。ここで「吸蔵触媒の劣化」と
は、硫黄成分による被毒と熱劣化により吸蔵触媒の浄化
性能の低下を意味している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明では、吸
蔵触媒の実際の劣化状態を検出し、かつ、短時間で吸蔵
触媒を再生することができる内燃機関の排気浄化装置を
提供することを課題としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1の発明では、排気通路にNO吸蔵還元触媒を
設けた内燃機関において、前記排気通路のNO吸蔵還
元触媒の下流側に酸素センサを設け、リッチスパイク実
行時における前記酸素センサの出力電圧値が最高値を記
録する前の少ない変化量の電圧値を記録する時間の長さ
によりNO吸蔵還元触媒の劣化状態を判定する判定手
段を備えた。請求項2の発明では請求項1の発明におい
て、前記判定手段により判定されたNO吸蔵還元触媒
の劣化の度合が大きくなるほどNO吸蔵還元触媒の再
生時におけるNO吸蔵還元触媒より上流側の排気通路
内のCO濃度が高くなるように設定する空燃比設定手段
を備えた。請求項3の発明では請求項2の発明におい
て、NO吸蔵還元触媒の再生時において、前記NO
吸蔵還元触媒より下流側の排気通路内のCO濃度が一定
になるようにNO吸蔵還元触媒より上流側の排気通路
内の空燃比を設定するようにした。請求項4の発明では
請求項1〜3のいずれかの発明において、排気ガス流量
検出手段と排気ガス中のNO濃度を検出するNO
度検出手段と、NO吸蔵還元触媒の温度を検出する温
度センサとを備え、前記排気ガス流量検出手段とNO
濃度検出手段により得られた排気ガス流量とNO濃度
からNO吸蔵還元触媒に流入する単位時間当たりのN
量を算出する算出手段を備え、前記温度センサによ
り前記NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵可能容量を推定
し、NO吸蔵還元触媒に流入する積算NO量が吸蔵
可能量に達したらNO吸蔵還元触媒の再生を行うよう
にした。請求項5の発明では請求項4の発明において、
劣化したNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵可能容量を推
定し、前記NO吸蔵可能容量に応じたリッチスパイク
の実行間隔を設定するようにした。請求項6の発明では
請求項2又は3の発明において、NO吸蔵還元触媒の
下流側の排気通路内に二次空気供給通路と酸化触媒を配
置し、NO吸蔵還元触媒を通過したCOを前記酸化触
媒内で酸化させるようにした。請求項7の発明では請求
項1の発明において、NO吸蔵還元触媒の上流側の排
気通路内に酸素吸蔵機能と酸化機能を備えた三元触媒を
配置した。請求項8の発明では請求項7の発明におい
て、三元触媒とNO吸蔵還元触媒とを一体的にユニッ
ト化し、排気通路の上流側に三元触媒がくるように前記
ユニットを配置するようにした。
【0008】
【発明の実施の形態】(請求項1の発明の実施例)図1
は、請求項1の発明を実施した内燃機関100の正面略
図である。内燃機関100の排気管1にはユニット化さ
れたNO吸蔵還元触媒2が設けてある。NO吸蔵還
元触媒2の下流側の排気通路(排気管1)には酸素セン
サ3が設置されている。酸素センサ3は、信号線6を介
してCPU4と接続されており、酸素センサ3で検出し
た検出信号は信号線6を介してCPU4へ伝達される。
またCPU4は、詳しくは後述するメモリ5にアクセス
可能となっている。
【0009】図2は、酸素センサ3の出力電圧の波形を
示すグラフである。図1のNO吸蔵還元触媒2は、排
気管1内を流れる排気ガス中のNOを吸蔵するが、吸
蔵量が吸蔵可能容量に達するとそれ以上吸蔵することが
できなくなるので、吸蔵量が吸蔵可能容量の例えば90
%に達すると、空燃比λを理論空燃比より僅かにリッチ
側に設定するリッチスパイクと呼ばれる操作を行う。
【0010】図2において、リッチスパイクは時刻t
から時刻tまで行われている。内燃機関100(図
1)の通常運転時には、空燃比はリーン(λ=1.3〜
1.5)に設定されている。空燃比λの値が大きくなる
ほど(つまり、希薄になるほど)酸素濃度は高くなり、
酸素センサ3の出力電圧値は、酸素が多くなるほど低く
なる。したがって図2に示すように、リッチスパイク実
行中は酸素濃度が低くなるので、出力電圧値は高くなっ
ている。
【0011】ところで、図2において時刻tから時刻
までの間は電圧値がEからほとんど変化せず(請
求項1の「少ない変化量の電圧値」)、時刻tを過ぎ
ると再度急激に上昇しているのがわかる。空燃比λがリ
ーンのときには、NO吸蔵還元触媒2はNOを吸蔵
すると同時に酸素も吸蔵する。リッチスパイクを実行す
ると、NO吸蔵還元触媒2に吸蔵された酸素が放出さ
れるため、NO吸蔵還元触媒2の下流側の排気管1内
における酸素濃度が一時的に高くなり、吸蔵された酸素
が放出され尽くすまではリッチスパイクの実行中にも関
わらず、時刻t から時刻tの間では酸素濃度がほと
んど変化せず、このことが酸素センサ3の出力電圧値に
も反映されている。
【0012】リッチスパイクは例えば5秒間行われ、N
吸蔵還元触媒2が新品のときには時刻tで吸蔵し
ていた酸素を放出し尽くし、NO吸蔵還元触媒2の劣
化が進行してくると、例えば図2に示すように時刻t
に達する手前の時刻tで吸蔵していた酸素を放出し尽
くす。
【0013】NO吸蔵還元触媒が新品で吸蔵能力が高
いときには、NOとともに酸素も多量に吸蔵される。
しかし、NO吸蔵還元触媒2が長時間使用されて劣化
が進行すると吸蔵能力が低下し、リッチスパイクを実行
したときに放出される酸素量も少なくなる。そのため、
NO吸蔵還元触媒2が劣化すると、図2に示す時刻t
5で酸素がすべて放出され尽くし、電圧値は比較的早期
に最高値Eまで上昇する。
【0014】したがって、この酸素センサ3の出力電圧
の波形により、NO吸蔵還元触媒2の劣化の進行度合
を知ることができる。そこで、予めNO吸蔵還元触媒
2の酸素吸蔵量(NO吸蔵量)と電圧波形との相関関
係を実験により求めておき、図1のメモリ5に記憶させ
ておく。メモリ5に記憶されたデータと、実測されたリ
ッチスパイク実行時における酸素センサ3の出力電圧値
の波形をCPU4が比較することによりNO吸蔵還元
触媒2の劣化の進行度合を推定することができる。
【0015】(請求項2の発明の実施例)図1に示すよ
うに、空気供給管7と燃料供給管9とがミキサ8に接続
されている。ミキサ8で生成された混合気は、ミキサ8
から混合気供給管11を介して内燃機関100の燃焼室
(図示せず)へ供給され、燃焼室で燃焼が行われる。
【0016】燃焼室へ供給する混合気の空燃比λは、燃
料供給管9の途中に設けた燃料供給量調整弁10の開度
を調整することにより変更することができる。すなわ
ち、開度を小さくすると、燃料の供給量が減少するので
空燃比λは大きく(リーンに)なり、逆に開度を大きく
すると空燃比λは小さく(リッチに)なる。
【0017】図13は、空燃比λとCO濃度及びNO
濃度の関係を示すグラフである。図13に示すように、
空燃比λがリッチになるほど触媒下流のCO濃度は高く
なりNO濃度は低くなる。逆に空燃比λがリーンにな
ると、CO濃度は低くなりNO濃度は高くなる。CO
とNOの両方の濃度が比較的低くなる空燃比λの領域
を浄化ウィンドウと呼ぶ。
【0018】劣化したNO吸蔵還元触媒から硫黄成分
を除去する作業を「再生」と呼ぶ。NO吸蔵還元触媒
を再生するとNO吸蔵還元触媒から硫黄成分が除去さ
れ、NOの吸蔵可能容量が新品のときの吸蔵可能容量
に近づく。
【0019】CO濃度が高いほど硫黄成分を除去するの
に有利である(図10に示すように、CO濃度が大きく
なるほど再生速度が速くなる)ので、燃料供給量調整弁
10(空燃比設定手段)を調整することにより再生時に
は空燃比λを浄化ウィンドウのリッチ側の端部(λ=
0.99〜0.997)に設定し、かつ排気ガスの温度
が再生が可能な温度(600℃以上が好ましい)となる
ように内燃機関100を運転する。
【0020】図3に示すように触媒上流のCO濃度を一
定に保つと、触媒下流側のCO濃度は、当初は低くなる
が、時刻tになると所定の値まで上昇する。吸蔵限界
まで吸蔵した新品の触媒では、NOや酸素などのCO
が反応する対象が多く、所定の値まで上昇するのに時間
がかかる。
【0021】しかし、被毒が進んだ触媒では、吸蔵した
NO量及び酸素量が少ないため、COと反応する対象
が少なくなり、時刻tより手前の時刻tになると所
定の値までCO濃度が上昇する。
【0022】図4に示すように再生当初は、CO濃度を
高く設定しても、触媒下流にはCOはあまり流れない。
ゆえに再生の度合に応じて触媒上流側のCO濃度を低く
設定していけば、触媒下流側のCO濃度を低く抑えなが
ら触媒の再生時間を短縮することができる。
【0023】図4では、触媒下流側のCO濃度を排出可
能な環境基準値内に設定し、触媒再生中の触媒下流側の
CO濃度が、この設定値になるように触媒上流側のCO
濃度を設定する。再生中の触媒上流側のCO濃度を予め
高めることにより、再生時間を短縮することができる。
【0024】図14は、NO吸蔵還元触媒があまり劣
化していない場合とかなり劣化が進んだ場合における設
定した触媒上流側のCO濃度と再生完了時間の関係を示
すグラフである。図14に示すように、設定するCO濃
度が同じであれば、劣化が進むほど被毒量が多くなるた
め再生が完了するのに時間がかかる。また、再生時間を
揃えると、あまり劣化していない場合にはCO濃度を低
く設定することができる。
【0025】(請求項3の発明の実施例)請求項2の発
明の実施例において、NO吸蔵還元触媒2を再生して
いる間は、NO吸蔵還元触媒2の下流側の排気管1内
のCO濃度が一定となるように、NO吸蔵還元触媒2
の上流側の空燃比λを設定する。
【0026】NO吸蔵還元触媒2の劣化の度合ごとに
パターン分けして、設定する下流側CO濃度と、調整す
る上流側CO濃度との関係を予め調査してマップを作成
し、このマップをメモリ5に記憶しておく。酸素センサ
3の出力電圧波形(図2)からNO吸蔵還元触媒2の
劣化度合を推定し、かつ下流側CO濃度の設定値を選定
することにより、CPU4はメモリ5に記憶されたマッ
プを参照して上流側CO濃度を適切に調整できるように
燃料供給量調整弁10の開度を調整する。
【0027】(請求項4の発明の実施例)図1に示すよ
うに、内燃機関102には機関回転数検出装置13と機
関負荷検出装置14が設けてある。これらで検出された
検出信号は、CPU4へ送られる。また、排気管1には
温度センサ15が設けてある。温度センサ15で検出し
た排気ガスの温度からNO吸蔵還元触媒の温度をCP
U4が推定する。
【0028】図5は、触媒温度とNO吸蔵可能容量の
関係を示すグラフである。図5に示すように、NO
蔵還元触媒2が新品でも劣化していても温度が上昇する
とNOの吸蔵可能容量が変化する。したがって、NO
吸蔵還元触媒2の劣化度合と温度から、吸蔵可能な容
量を求めることができる。
【0029】まず、NO吸蔵還元触媒2の劣化度合ご
とに温度と吸蔵可能量の関係を予め実験を行って求めて
おき、マップを作成してメモリ5に記憶させておく。内
燃機関102の運転状態に応じてNO吸蔵還元触媒の
温度は変化する(図9に示すように、機関負荷及び機関
回転数のいずれが大きくなっても排気ガス温度(NO
吸蔵還元触媒2の温度)は上昇することがわかる。)
が、この温度は温度センサ15で検出し、検出信号はC
PU4へ伝送する。NO吸蔵還元触媒2の劣化度合
は、図2の酸素センサ3の出力電圧波形から推定するこ
とができる。したがって、これらから現在のNO吸蔵
還元触媒2によるNOの吸蔵可能容量を把握すること
ができる。
【0030】次に、このNO吸蔵還元触媒2にどのく
らいの濃度のNOが流入しているかを調べる。内燃機
関100の運転状況は、空燃比λ,機関回転数検出装置
13と機関負荷検出装置14とで検出する機関回転数と
機関負荷とから把握することができる。これらにより排
気ガス流量と排気ガス中のNO濃度とを検出すること
ができる(排気ガス流量検出手段,NO濃度検出手
段)。
【0031】NO吸蔵還元触媒2に流入する単位時間
当りのNO量をCPU4により算出する(NO量算
出手段)。
【0032】CPU4は、上で求めた現在のNO吸蔵
還元触媒2の吸蔵可能容量の例えば90%〜95%に達
したらリッチスパイクを行い、吸蔵されたNOを還元
除去する。このようにすることにより、NO吸蔵還元
触媒2の劣化度合に応じて吸蔵能力を十分に発揮させる
ことができ、排気ガスの浄化を良好に行うことができ
る。
【0033】もちろん、CPU4が算出したNOの総
量(積算NO量)が、NO吸蔵還元触媒2の吸蔵可
能容量の100%に達するまで吸蔵を行い、その後にリ
ッチスパイクを実行してもよいが、大気に排出する排気
ガス中に含まれるNO量が増加する恐れがあるので、
上述のように吸蔵可能容量の90〜95%程度を吸蔵の
上限に設定するのが好ましい。
【0034】(請求項5の発明の実施例)請求項4の発
明の実施例において、NO吸蔵還元触媒2の吸蔵可能
容量の90〜95%程度を吸蔵の上限に設定したが、吸
蔵したNOを還元除去する際には、CPU4が算出し
た積算NO量に相当するNOが還元除去されるのに
必要な時間だけリッチスパイクを行うようにする。つま
り、NO吸蔵還元触媒2の吸蔵可能容量(又は吸蔵可
能容量の90〜95%)に相当するNOが吸蔵される
リーン運転時間が経過するとリッチスパイクを行うよう
にする。
【0035】(請求項6の発明の実施例)図11は、請
求項6の発明を実施した内燃機関104の正面略図であ
る。請求項2及び3の発明において、NO吸蔵還元触
媒2を再生する際に、CO濃度が高くなるように空燃比
λを設定していたが、CO濃度が高く設定されることに
よりCOが大気中に排出されるのを防止するため、NO
吸蔵還元触媒2より下流側の排気通路(排気管1)に
酸化触媒20を配置した。COを酸化するため、ポンプ
21により酸化触媒20の上流の排気通路内に2次空気
を供給する。その他の構成は内燃機関100と同じであ
る。
【0036】(請求項7,8の発明の実施例)図6は、
請求項7及び8の発明を実施した内燃機関103の正面
略図である。内燃機関103では、NO吸蔵還元触媒
2の上流側に三元触媒19を配置した点のみが内燃機関
100と相違しており、その他の構成は内燃機関100
と同じである。
【0037】空燃比λを制御する際、酸素センサ3の出
力電圧値が急激に変動するまで燃料供給量調整弁10を
操作し、その燃料供給量調整弁10の操作量で操作前の
空燃比λを検出する。この操作はリーンスパイクと呼ば
れる。NO吸蔵還元触媒2を再生する際には、まずリ
ーンスパイクを行い、現在の空燃比λがいかなる値にな
っているかを検出し、空燃比λを再生に必要なだけリッ
チ側へシフトさせる。
【0038】酸素が存在するとNO吸蔵還元触媒2の
再生に支障を来すため、再生作業を開始する前にリーン
スパイクを実行した際に生じた酸素を除去する必要があ
る。そこで、NO吸蔵還元触媒2の上流側に配置した
三元触媒19により酸素を吸蔵し、酸素を下流側のNO
吸蔵還元触媒2へ流さないようにする。
【0039】図6に示すように、三元触媒19とNO
吸蔵還元触媒2とをユニット化して排気通路(排気管
1)に設置すると、三元触媒19とNO吸蔵還元触媒
2の間で排気ガスの温度が低下することを防止すること
ができ、高温でNO吸蔵還元触媒2を再生することが
できる。
【0040】
【発明の効果】請求項1の発明では、メモリ5に記憶さ
れた劣化していないNO吸蔵還元触媒2による酸素セ
ンサ3の出力電圧データと、実測したリッチスパイク実
行時における酸素センサ3の出力電圧値の波形をCPU
4が比較することによりNO吸蔵還元触媒2の劣化の
進行度合を推定することができる。したがって、NO
吸蔵還元触媒2をNO吸蔵機能を十分に発揮できる状
態に保つことができ、良好にNOを浄化することがで
きる。
【0041】請求項2の発明では、NO吸蔵還元触媒
2の劣化の度合に応じて、NO吸蔵還元触媒2の再生
時におけるNO吸蔵還元触媒2より上流側の排気通路
(排気管1)内のCO濃度を設定する空燃比設定手段
(燃料供給量調整弁10)を備えたので、良好にNO
吸蔵還元触媒2を再生させることができる。したがっ
て、常に良好にNOを浄化することができる。
【0042】請求項3の発明では、請求項2の発明にお
いて、NO吸蔵還元触媒2より下流側のCO濃度が一
定になるようにNO吸蔵還元触媒2より上流側の空燃
比λを設定するようにしたので、排出されるCO濃度を
環境基準値内の所定濃度に抑えながらNO吸蔵還元触
媒2の再生時間を最短にすることができる。したがっ
て、熱効率を高く維持することができる。
【0043】請求項4の発明では、NO吸蔵還元触媒
2のNO吸蔵可能容量を推定し、NO吸蔵還元触媒
2に流入するNO量の総量(積算NO量)がNO
吸蔵可能容量に達したらNO吸蔵還元触媒2の再生を
行うようにしたので、NO吸蔵還元触媒2の吸蔵能力
を最大限有効に活用することができる。
【0044】機関回転数や機関負荷が変動しても、排出
されるNOの総量を算出するようにしたので、運転環
境が変化してもNO吸蔵還元触媒2の再生時期を適切
に判断することができ、良好な浄化性能を発揮すること
ができる。
【0045】請求項5の発明では、NO吸蔵還元触媒
2の劣化度合に応じてNOの吸蔵可能容量を推定し、
リッチスパイクの実行間隔を設定するようにしたので、
NO 吸蔵還元触媒2の劣化度合に応じて必要最小限の
再生を行うことができ、リッチでの運転時間を最短にす
ることができ、COの排出を最小限に抑えることがで
き、かつ熱効率を高く維持することができる。
【0046】請求項6の発明では、NO吸蔵還元触媒
2の下流側の排気通路(排気管1)に酸化触媒20を配
置したので、NO吸蔵還元触媒2を再生させる際に、
多量のCOのうち再生に使用されなかったCOが大気中
へ排出されることを確実に防止することができる。つま
り、再生に有効なCOを多量に流しても、NO吸蔵還
元触媒2を通過したCOは酸化触媒20で酸化処理する
ことができるので、大気中に排出することを防止するこ
とができる。
【0047】請求項7の発明では、NO吸蔵還元触媒
2の上流側の排気通路(排気管1)に三元触媒19を設
け、NO吸蔵還元触媒2の再生時にNO吸蔵還元触
媒2の上流側で三元触媒19により酸素を吸蔵させるよ
うにしたので、NO吸蔵還元触媒2を良好に再生させ
ることができ、良好な浄化性能を発揮することができる
る。
【0048】請求項8の発明では、三元触媒19とNO
吸蔵還元触媒2とをユニット化して排気通路(排気管
1)に設置するようにしたので、三元触媒19とNO
吸蔵還元触媒2の間で排気ガスの温度が低下することを
防止することができ、高温でNO吸蔵還元触媒2を再
生することができる。したがって、確実にNO吸蔵還
元触媒2を再生することができ、良好にNOを浄化さ
せることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 請求項1の発明を実施した内燃機関の正面略
図である。
【図2】 酸素センサの出力電圧の波形を示すグラフで
ある。
【図3】 NO吸蔵還元触媒の上流側と下流側のCO
濃度の時間変化を示すグラフである。
【図4】 NO吸蔵還元触媒の下流側のCO濃度を一
定に保ったときの上流側のCO濃度の変化を示すグラフ
である。
【図5】 NO吸蔵還元触媒の温度とNO吸蔵可能
容量の関係を示すグラフである。
【図6】 請求項7及び8の発明を実施した内燃機関の
正面略図である。
【図7】 請求項4の発明を実施した内燃機関の正面略
図である。
【図8】 図7の内燃機関の運転状態が変化した際の排
気ガスとNO吸蔵還元触媒の温度の時間変化を示すグ
ラフである。
【図9】 機関負荷と機関回転数によるNO吸蔵還元
触媒の温度分布を示すグラフである。
【図10】 NO吸蔵還元触媒の再生速度と空燃比λ
の関係を示すグラフである。
【図11】 請求項6の発明を実施した内燃機関の正面
略図である。
【図12】 NO吸蔵還元触媒の再生速度と温度の関
係を示すグラフである。
【図13】 空燃比λとCO濃度及びNO濃度の関係
を示すグラフである。
【図14】 NO吸蔵還元触媒があまり劣化していな
い場合とかなり劣化が進んだ場合における設定した触媒
上流側のCO濃度と再生完了時間の関係を示すグラフで
ある。
【符号の説明】
1 排気管(排気通路) 2 NO吸蔵還元触媒 3 酸素センサ 4 CPU 5 メモリ 10 燃料供給量調整弁(空燃比設定手段) 13 機関回転数検出装置 14 機関負荷検出装置 15 温度センサ 19 三元触媒 20 酸化触媒 21 ポンプ 100 内燃機関
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) F01N 3/08 F01N 3/24 R 3/22 301 3/28 301C 3/24 301D 3/28 301 301E F02D 41/04 305A 41/14 310E F02D 41/04 305 310K 41/14 310 310P 45/00 312R 312T 45/00 312 314Z B01D 53/36 103B 314 101B K Fターム(参考) 3G084 AA04 BA11 BA25 DA10 DA22 DA27 DA28 EA11 EB01 EB11 FA26 FA27 FA28 FA29 FA33 3G091 AA12 AA17 AA23 AB02 AB03 AB06 BA11 BA14 BA15 BA19 BA33 CA22 CB02 DA01 DA02 DA04 DB06 DB10 DC01 EA01 EA03 EA18 EA30 EA33 EA34 FB06 FB07 FB10 FB12 FC02 FC04 HA02 HA09 HA10 HA37 HA39 HA47 HB07 3G301 HA01 HA15 JA15 JA25 JA26 JB09 LA01 LB07 MA01 NA04 NA06 NA07 NA08 ND01 NE01 NE06 NE13 NE15 PA17A PA17B PD01A PD01B PD02A PD02B PD12A PD12B PE01A PE01B 4D048 AA06 AA13 AA18 AB02 AB05 AB07 BD02 CC32 CC36 CC47 DA01 DA02 DA03 DA05 DA08 DA13 DA20 EA04

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 排気通路にNO吸蔵還元触媒を設けた
    内燃機関において、前記排気通路のNO吸蔵還元触媒
    の下流側に酸素センサを設け、リッチスパイク実行時に
    おける前記酸素センサの出力電圧値が最高値を記録する
    前の少ない変化量の電圧値を記録する時間の長さにより
    NO吸蔵還元触媒の劣化状態を判定する判定手段を備
    えたことを特徴とする内燃機関の排気浄化装置。
  2. 【請求項2】 前記判定手段により判定されたNO
    蔵還元触媒の劣化の度合が大きくなるほどNO吸蔵還
    元触媒の再生時におけるNO吸蔵還元触媒より上流側
    の排気通路内のCO濃度が高くなるように設定する空燃
    比設定手段を備えた請求項1に記載の内燃機関の排気浄
    化装置。
  3. 【請求項3】 NO吸蔵還元触媒の再生時において、
    前記NO吸蔵還元触媒より下流側の排気通路内のCO
    濃度が一定になるようにNO吸蔵還元触媒より上流側
    の排気通路内の空燃比を設定するようにした請求項2に
    記載の内燃機関の排気浄化装置。
  4. 【請求項4】 排気ガス流量検出手段と排気ガス中のN
    濃度を検出するNO濃度検出手段と、NO吸蔵
    還元触媒の温度を検出する温度センサとを備え、 前記排気ガス流量検出手段とNO濃度検出手段により
    得られた排気ガス流量とNO濃度からNO吸蔵還元
    触媒に流入する単位時間当たりのNO量を算出する算
    出手段を備え、 前記温度センサにより前記NO吸蔵還元触媒のNO
    吸蔵可能容量を推定し、 NO吸蔵還元触媒に流入する積算NO量が吸蔵可能
    量に達したらNO吸蔵還元触媒の再生を行うようにし
    た請求項1〜3のいずれかに記載の内燃機関の排気浄化
    装置。
  5. 【請求項5】 劣化したNO吸蔵還元触媒のNO
    蔵可能容量を推定し、前記NO吸蔵可能容量に応じた
    リッチスパイクの実行間隔を設定するようにした請求項
    4に記載の内燃機関の排気浄化装置。
  6. 【請求項6】 NO吸蔵還元触媒の下流側の排気通路
    内に二次空気供給通路と酸化触媒を配置し、NO吸蔵
    還元触媒を通過したCOを前記酸化触媒内で酸化させる
    請求項2,3のいずれかに記載の内燃機関の排気浄化装
    置。
  7. 【請求項7】 NO吸蔵還元触媒の上流側の排気通路
    内に酸素吸蔵機能と酸化機能を備えた三元触媒を配置し
    た請求項1に記載の内燃機関の排気浄化装置。
  8. 【請求項8】 三元触媒とNO吸蔵還元触媒とを一体
    的にユニット化し、排気通路の上流側に三元触媒がくる
    ように前記ユニットを配置するようにした請求項7に記
    載の内燃機関の排気浄化装置。
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