JP2002305339A - 被固定膜およびその形成方法、ならびにスピンバルブ構造体およびその形成方法 - Google Patents
被固定膜およびその形成方法、ならびにスピンバルブ構造体およびその形成方法Info
- Publication number
- JP2002305339A JP2002305339A JP2001400179A JP2001400179A JP2002305339A JP 2002305339 A JP2002305339 A JP 2002305339A JP 2001400179 A JP2001400179 A JP 2001400179A JP 2001400179 A JP2001400179 A JP 2001400179A JP 2002305339 A JP2002305339 A JP 2002305339A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- layer
- iron alloy
- cobalt
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 55
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title claims 3
- 229910001313 Cobalt-iron alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 272
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 47
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 47
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- 229910003321 CoFe Inorganic materials 0.000 claims abstract description 23
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 21
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 513
- 229910000623 nickel–chromium alloy Inorganic materials 0.000 claims description 73
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 41
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 claims description 27
- IGOJMROYPFZEOR-UHFFFAOYSA-N manganese platinum Chemical compound [Mn].[Pt] IGOJMROYPFZEOR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 16
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 14
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000011572 manganese Substances 0.000 claims description 9
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 5
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 4
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 5
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- AKDJDUXNKGWGAZ-XPWFQUROSA-N diadenosine 5',5'-diphosphate Chemical compound C1=NC2=C(N)N=CN=C2N1[C@@H]([C@H](O)[C@@H]1O)O[C@@H]1COP(O)(=O)OP(O)(=O)OC[C@H]([C@@H](O)[C@H]1O)O[C@H]1N1C(N=CN=C2N)=C2N=C1 AKDJDUXNKGWGAZ-XPWFQUROSA-N 0.000 description 13
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 12
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 11
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 239000002885 antiferromagnetic material Substances 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 229910018487 Ni—Cr Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002772 conduction electron Substances 0.000 description 2
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZPEZUAAEBBHXBT-WCCKRBBISA-N (2s)-2-amino-3-methylbutanoic acid;2-amino-3-methylbutanoic acid Chemical compound CC(C)C(N)C(O)=O.CC(C)[C@H](N)C(O)=O ZPEZUAAEBBHXBT-WCCKRBBISA-N 0.000 description 1
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000914 Mn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000788 chromium alloy Substances 0.000 description 1
- BIJOYKCOMBZXAE-UHFFFAOYSA-N chromium iron nickel Chemical compound [Cr].[Fe].[Ni] BIJOYKCOMBZXAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- ZAUUZASCMSWKGX-UHFFFAOYSA-N manganese nickel Chemical compound [Mn].[Ni] ZAUUZASCMSWKGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N oxonickel Chemical compound [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y25/00—Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/32—Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
- H01F10/324—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
- H01F10/3268—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the exchange coupling being asymmetric, e.g. by use of additional pinning, by using antiferromagnetic or ferromagnetic coupling interface, i.e. so-called spin-valve [SV] structure, e.g. NiFe/Cu/NiFe/FeMn
- H01F10/3272—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the exchange coupling being asymmetric, e.g. by use of additional pinning, by using antiferromagnetic or ferromagnetic coupling interface, i.e. so-called spin-valve [SV] structure, e.g. NiFe/Cu/NiFe/FeMn by use of anti-parallel coupled [APC] ferromagnetic layers, e.g. artificial ferrimagnets [AFI], artificial [AAF] or synthetic [SAF] anti-ferromagnets
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/32—Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
- H01F10/324—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
- H01F10/3295—Spin-exchange coupled multilayers wherein the magnetic pinned or free layers are laminated without anti-parallel coupling within the pinned and free layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
- H01F41/30—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates for applying nanostructures, e.g. by molecular beam epitaxy [MBE]
- H01F41/302—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates for applying nanostructures, e.g. by molecular beam epitaxy [MBE] for applying spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
- G11B5/3906—Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
- G11B5/3929—Disposition of magnetic thin films not used for directly coupling magnetic flux from the track to the MR film or for shielding
- G11B5/3932—Magnetic biasing films
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/11—Magnetic recording head
- Y10T428/1107—Magnetoresistive
- Y10T428/1121—Multilayer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/11—Magnetic recording head
- Y10T428/1164—Magnetic recording head with protective film
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12639—Adjacent, identical composition, components
- Y10T428/12646—Group VIII or IB metal-base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12771—Transition metal-base component
- Y10T428/12806—Refractory [Group IVB, VB, or VIB] metal-base component
- Y10T428/12826—Group VIB metal-base component
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12771—Transition metal-base component
- Y10T428/12861—Group VIII or IB metal-base component
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12771—Transition metal-base component
- Y10T428/12861—Group VIII or IB metal-base component
- Y10T428/12868—Group IB metal-base component alternative to platinum group metal-base component [e.g., precious metal, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12493—Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, joint, etc.]
- Y10T428/12771—Transition metal-base component
- Y10T428/12861—Group VIII or IB metal-base component
- Y10T428/12931—Co-, Fe-, or Ni-base components, alternative to each other
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24942—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
- Y10T428/2495—Thickness [relative or absolute]
- Y10T428/24967—Absolute thicknesses specified
- Y10T428/24975—No layer or component greater than 5 mils thick
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
可能なスピンバルブ構造体およびその形成方法を提供す
る。 【解決手段】 コバルト鉄合金(CoFe)層21と、
ルテニウム(Ru)層22と、コバルト鉄合金層23
と、ニッケルクロム合金(NiCr)層24と、コバル
ト鉄合金層25とがこの順に積層された5層構成をなす
ピンド層35を備え、特に、コバルト鉄合金層25の厚
みγがコバルト鉄合金層23の厚みβの約1/2となり
(γ=1/2・β)、かつコバルト鉄合金層23,25
の厚みの総和β+γがコバルト鉄合金層21の厚みαよ
りも小さくなるように((β+γ)<α)、スピンバル
ブ構造体を構成する。従来のスピンバルブ構造体と比較
してヒステリシス曲線の開度が小さくなるため、ピンド
層35の強度が向上し、高密度記録化に対応した優れた
安定性が確保される。
Description
テムに搭載され、巨大磁気抵抗効果(GMR:Giant Ma
gneto-Resistance)を利用して情報を再生する磁気再生
ヘッドに関し、特に、磁気再生ヘッドを構成するスピン
バルブ構造体の一部をなす被固定膜およびその形成方
法、ならびにその被固定膜を備えたスピンバルブ構造体
およびその形成方法に関する。
(以下、単に「磁化物質」という)の抵抗変化(磁気抵
抗変化)を検出することにより、再生機能を実行する。
すなわち、多くの磁性材料は、外部磁界により容易に磁
化可能な所定の方向性(容易軸)を有し、異方性を示
す。容易軸に対して直交する方向に磁化物質が磁化され
ると、磁気抵抗効果が生じることにより磁化物質の抵抗
が増加する。一方、容易軸と平行な方向に磁化物質が磁
化されると、磁気抵抗効果が消失する。この原理を利用
することにより、磁化物質の磁気抵抗変化を通じて磁気
情報(ディスクに書き込まれた磁気信号等)を検出する
ことが可能となる。
に「スピンバルブ」と呼ばれる構造を適用することによ
り、顕著に向上する。磁気再生ヘッドの主要部(スピン
バルブ構造体)において生じる磁気抵抗効果は、特に、
「巨大磁気抵抗効果(GMR)」と呼ばれている。スピ
ンバルブ構造体では、磁化物質全体の磁化方向に対し
て、その磁化物質中における電子自身のスピンに起因す
る磁気ベクトルが平行(方向が反対の場合を除く)にな
ると、結晶格子により電子が極めて散乱されにくくなる
という現象を利用している。
構成の一例を表すものである。このスピンバルブ構造体
は、例えば、基体110上に、シード層120と、磁性
材料よりなるフリー層130と、非磁性材料よりなるス
ペーサ層140と、強磁性材料よりなるピンド層150
と、反強磁性材料(AFM;Antiferromagnetic Materi
al)よりなるピンニング層160と、保護層170とが
この順に積層された構成をなしている。スペーサ層14
0の厚みは、例えば、フリー層130とピンド層150
とを互いに交換結合が生じない程度(原子レベルにおい
て互いの磁気特性に影響を及ぼし合わない程度)に離間
させ、かつフリー層130とピンド層150との間の距
離が伝導電子の平均自由行程以内となるような厚みにな
っている。
化方向が互いに反対になるようにフリー層130および
ピンド層150が磁化された状態において、これらのフ
リー層130およびピンド層150の内部を磁化方向
(図中の矢印18の方向)に沿って電流が流れるとする
と、フリー層130およびピンド層150の内部を流れ
る半数の電子が散乱現象に寄与し、残りの半数の電子は
散乱現象に寄与しないこととなる。そして、散乱現象に
寄与しない電子のみが、高い確率でフリー層130から
ピンド層150(またはピンド層150からフリー層1
30)へ移行可能な平均自由行程を有することとなる。
しかしながら、これらの電子は、一旦移動方向を変える
と直ちに散乱現象に寄与し、移動方向が元の方向に戻ら
なくなってしまい、結果として全体として抵抗が大きく
増加することとなる。
果(GMR)を生じさせるために、ピンド層150の磁
化方向が固定される。ピンド層150の磁化方向を固定
する際には、主に、成膜処理およびアニール処理を利用
して、ピンド層150上に、反強磁性材料よりなるピン
ニング層160を形成したのち、ピンニング層160に
よりピンド層150を磁化する。ピンド層150の磁化
方向が固定される一方、フリー層13の磁化方向は、例
えば磁気ディスクなどの記録媒体の表面のビットに起因
して生じる磁界により自由に変化可能である。
に、ピンニング層160がフリー層130よりも基体1
10から遠い側(図中の上側)に位置している構成に基
づき、「トップスピンバルブ構造体」と呼ばれる。これ
に対して、基体110上に、シード層120、ピンニン
グ層160、ピンド層150、スペーサ層140、フリ
ー層130、保護層170がこの順に積層され、ピンニ
ング層160がフリー層130よりも基体110に近い
側に位置する構成は「ボトムスピンバルブ構造体」と呼
ばれる。
ンバルブ構造体の一構成要素をなし、例えばコバルト鉄
合金(CoFe)などの強磁性材料よりなるピンド層1
50は、反強磁性材料よりなるピンニング層160によ
り交換バイアスが印加される必要がある。例えばマンガ
ン白金合金(MnPt)やニッケルマンガン合金(Ni
Mn)などのブロッキング温度が高い反強磁性材料より
なるピンニング層160によりピンド層150の磁化方
向が固定されると、一般に、ピンド層150は大きな異
方性を示し、異方性磁界Hckはピンニング磁界Hpin と
同等になる。これにより、ピンド層150が不安定にな
り、ヒステリシス曲線(磁化曲線)の開度(開き具合)
が大きくなってしまう。この問題は、例えば、タンタル
(Ta)よりなるシード層120を備えたスピンバルブ
構造体よりも、ニッケルクロム合金(NiCr)やニッ
ケル鉄クロム合金(NiFeCr)よりなるシード層1
20を備えたスピンバルブ構造体において、より深刻と
なる。
層150、すなわちシンセティック反平行ピンド層(S
yAP;Synthetic anti-parallel pinned layer)を備
えたスピンバルブ構造体(SyAP−SV;Spin Valv
e)において、ピンド層150に基づくヒステリシス曲
線の開度を小さくし得ることが知られている。このSy
AP−SVでは、単層構成よりなる一般的なピンド層1
50を備えたスピンバルブ構造体と比較して、ピンニン
グ強度が極めて大きくなる。一般に、SyAP−SV
は、ルテニウム層を挟んで互いに交換結合され、磁化方
向が互いに反平行な2つの磁性層AP1,AP2(ピン
ニング層160から遠い側の磁性層をAP1,近い側の
磁性層をAP2とする)を備えており、これらの2つの
磁性層AP1,AP2の磁化方向は一体的に回転可能に
なっている。具体的なSyAP−SVの構成としては、
例えば、シード層/フリー層/スペーサ層(銅)/[A
P1/ルテニウム層/AP2]/ピンニング層/保護層
が挙げられる(構成中の[]部分はシンセティック反平
行ピンド層(SyAP)を表す)。このSyAP−SV
では、磁性層AP2に基づく異方性磁界Hckが極めて小
さくなる。このSyAP−SVによれば、上記したピン
ド層150の不安定性やヒステリシス曲線の開度の拡大
に係る問題を改善し得るが、その改善の程度は未だ十分
なものとはいえない。
願文献を調査したところ、いくつか興味深い文献が発見
された。
は、Gillにより、ルテニウム層を挟んで離間された2つ
の反平行なコバルト鉄合金層を備え、酸化ニッケル(N
iO)により覆われたスピンバルブ構造体について開示
されている。また、米国特許第5738946号では、
Iwasaki 等により、ニッケルクロム合金よりなる保護膜
を備えたスピンバルブ構造体について開示されており、
米国特許第6115224号では、Saito により、スピ
ンバルブ構造体の形成プロセスについて開示されてい
る。さらに、米国特許第5702832号(Iwasaki
等),米国特許第5936810号(Nakamoto),米国
特許第5780176号(Iwasaki 等)では、いずれも
スピンバルブ構造体の構成およびその形成プロセスにつ
いて開示している。
(出願番号:09/495348、出願日:2000年
2月1日)では、極めて薄いニッケルクロム合金(Ni
Cr)層が挿入されてなるピンド層を備えたスピンバル
ブ構造体において、ヒステリシス曲線の開度が小さくな
る旨が開示されている。このピンド層では、ニッケルク
ロム合金層により離間された2つの磁性層P1,P2
(ピンニング層から遠い側をP1,近い側をP2とす
る)が強磁性的に結合されており、その結合強度は約
1.0×10-7J/cm2 (約1.0erg/cm2 )
である。このような特徴的な構成を有するピンド層は、
特に、平行ピンド層(PP;paraller-pinnedlayer )
と呼ばれている。平行ピンド層(PP)備えたスピンバ
ルブ構造体の構成は、例えば、シード層/フリー層/ス
ペーサ層(銅)/[P1/ニッケルクロム合金層/P
2]/ピンニング層/保護層である(構成中の[]部分
は平行ピンド層(PP)を表す)。平行ピンド層(P
P)を備えたスピンバルブ構造体においてヒステリシス
曲線の開度が小さくなる理由は、主に、シンセティック
反平行ピンド層(SyAP)を備えたスピンバルブ構造
体の場合と同様である。この平行ピンド層(PP)を備
えたスピンバルブ構造体では、2つの磁性層P1,P2
が互いに強磁性的に結合することにより、両磁性層の磁
化方向が一体的に回転可能になると共に、磁性層P2に
基づく異方性磁界Hckは小さくなるが、ピンニング磁界
Hpin が十分でないため、高密度記録化に対応できな
い。
(SyAP)や平行ピンド層(PP)を備えたスピンバ
ルブ構造体では、互いに反強磁性的または強磁性的に結
合された2つの磁性層(AP1,AP2またはP1,P
2)が非磁性層を挟んで離間された構成に基づき、ピン
ド層の強度を比較的向上させ、かつヒステリシス曲線の
開度を比較的小さくすることができるが、高密度記録化
に係る対応性を考慮すれば、その特性は未だ十分とは言
えない。
ので、その第1の目的は、従来よりも優れた強度を確保
可能な被固定膜ならびにこれを備えたスピンバルブ構造
体およびその形成方法を提供することにある。
ス曲線の開度をより小さくすることが可能な被固定膜な
らびにこれを備えたスピンバルブ構造体およびその形成
方法を提供することにある。
化に対応して優れた安定性を確保可能な被固定膜ならび
にこれを備えたスピンバルブ構造体およびその形成方法
を提供することにある。
固定膜およびスピンバルブ構造体の形成方法を提供する
ことにある。
る被固定膜の形成方法は、スピンバルブ構造体の一部を
なす被固定膜を形成する方法であり、非磁性膜上に2.
0nm以上3.0nm以下の厚みとなるようにコバルト
鉄合金よりなる第1の膜を形成する工程と、この第1の
膜上に0.65nm以上0.85nm以下の厚みとなる
ようにルテニウム膜を形成する工程と、このルテニウム
膜上に1.0nm以上1.6nm以下の厚みとなるよう
にコバルト鉄合金よりなる第2の膜を形成する工程と、
この第2の膜上に0.3nm以上0.7nm以下の厚み
となるようにニッケルクロム合金膜を形成する工程と、
このニッケルクロム合金膜上に0.5nm以上0.8n
m以下の厚みとなるようにコバルト鉄合金よりなる第3
の膜を形成することにより、この第3の膜の厚みが第2
の膜の厚みの2分の1となり、かつ第2の膜の厚みと第
3の膜の厚みとの総和が第1の膜の厚みよりも小さくな
るようにする工程とを含むようにしたものである。
方法は、スピンバルブ構造体の一部をなす被固定膜を形
成する方法であり、非磁性膜上に1.5nm以上2.2
nm以下の厚みとなるようにコバルト鉄合金よりなる第
1の膜を形成する工程と、この第1の膜上に0.65n
m以上0.85nm以下の厚みとなるようにルテニウム
膜を形成する工程と、このルテニウム膜上に1.2nm
以上2.0nm以下の厚みとなるようにコバルト鉄合金
よりなる第2の膜を形成する工程と、この第2の膜上に
0.3nm以上0.7nm以下の厚みとなるようにニッ
ケルクロム合金膜を形成する工程と、このニッケルクロ
ム合金膜上に0.6nm以上1.0nm以下の厚みとな
るようにコバルト鉄合金よりなる第3の膜を形成するこ
とにより、この第3の膜の厚みが第2の膜の厚みの2分
の1となり、かつ第2の膜の厚みと第3の膜の厚みとの
総和が第1の膜の厚みよりも大きくなるようにする工程
とを含むようにしたものである。
定膜の形成方法では、コバルト鉄合金よりなる第1の膜
と、ルテニウム膜と、コバルト鉄合金よりなる第2の膜
と、ニッケル鉄合金膜と、コバルト鉄合金よりなる第3
の膜とがこの順に積層されることにより、5層構成の積
層体よりなる被固定膜が形成される。
造体の形成方法は、基体上にニッケルクロム合金よりな
るシード層を形成する工程と、このシード層上にニッケ
ル鉄合金層と第1のコバルト鉄合金層とを積層させるこ
とによりフリー層を形成する工程と、この第1のコバル
ト鉄合金層上に非磁性層を形成する工程と、この非磁性
層上に2.0nm以上3.0nm以下の厚みとなるよう
に第2のコバルト鉄合金層を形成する工程と、この第2
のコバルト鉄合金層上に0.65nm以上0.85nm
以下の厚みとなるようにルテニウム層を形成する工程
と、このルテニウム層上に1.0nm以上1.6nm以
下の厚みとなるように第3のコバルト鉄合金層を形成す
る工程と、この第3のコバルト鉄合金層上に0.3nm
以上0.7nm以下の厚みとなるようにニッケルクロム
合金層を形成する工程と、このニッケルクロム合金層上
に0.5nm以上0.8nm以下の厚みとなるように第
4のコバルト鉄合金層を形成することにより、この第4
のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバルト鉄合金層の
厚みの2分の1となり、かつ第3のコバルト鉄合金層の
厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和が、第2
のコバルト鉄合金層の厚みよりも小さくなるようにする
工程と、この第4のコバルト鉄合金層上にマンガン白金
合金層を形成する工程と、このマンガン白金合金層上に
保護層を形成する工程とを含むようにしたものである。
造体の形成方法では、第1のコバルト鉄合金層と、ルテ
ニウム層と、第2のコバルト鉄合金層と、ニッケル鉄合
金層と、第3のコバルト鉄合金層とがこの順に積層さ
れ、特に、第4のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みの2分の1となり、かつ第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みと
の総和が第2のコバルト鉄合金層の厚みよりも小さくな
るように、第2、第3および第4のコバルト鉄合金層が
形成される。
造体の形成方法は、基体上にニッケルクロム合金よりな
るシード層を形成する工程と、このシード層上にニッケ
ル鉄合金層と第1のコバルト鉄合金層とを積層させるこ
とによりフリー層を形成する工程と、この第1のコバル
ト鉄合金層上に非磁性層を形成する工程と、この非磁性
層上に1.5nm以上2.2nm以下の厚みとなるよう
に第2のコバルト鉄合金層を形成する工程と、この第2
のコバルト鉄合金層上に0.65nm以上0.85nm
以下の厚みとなるようにルテニウム層を形成する工程
と、このルテニウム層上に1.2nm以上2.0nm以
下の厚みとなるように第3のコバルト鉄合金層を形成す
る工程と、この第3のコバルト鉄合金層上に0.3nm
以上0.7nm以下の厚みとなるようにニッケルクロム
合金層を形成する工程と、このニッケルクロム合金層上
に0.6nm以上1.0nm以下の厚みとなるように第
4のコバルト鉄合金層を形成することにより、この第4
のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバルト鉄合金層の
厚みの2分の1となり、かつ第3のコバルト鉄合金層の
厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和が第2の
コバルト鉄合金層の厚みよりも大きくなるようにする工
程と、この第4のコバルト鉄合金層上にマンガン白金合
金層を形成する工程と、このマンガン白金合金層上に保
護層を形成する工程とを含むようにしたものである。
造体の形成方法では、第1のコバルト鉄合金層と、ルテ
ニウム層と、第2のコバルト鉄合金層と、ニッケル鉄合
金層と、第3のコバルト鉄合金層とがこの順に積層さ
れ、特に、第4のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みの2分の1となり、かつ第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みと
の総和が第2のコバルト鉄合金層の厚みよりも大きくな
るように、第2、第3および第4のコバルト鉄合金層が
形成される。
ピンバルブ構造体の一部をなすものであり、2.0nm
以上3.0nm以下の厚みをなし、コバルト鉄合金より
なる第1の膜と、0.65nm以上0.85nm以下の
厚みをなすルテニウム膜と、1.0nm以上1.6nm
以下の厚みをなし、コバルト鉄合金よりなる第2の膜
と、0.3nm以上0.7nm以下の厚みをなすニッケ
ルクロム合金膜と、0.5nm以上0.8nm以下の厚
みをなし、コバルト鉄合金よりなる第3の膜とがこの順
に積層された積層体を含み、第3の膜の厚みが第2の膜
の厚みの2分の1となり、かつ第2の膜の厚みと第3の
膜の厚みとの総和が第1の膜の厚みよりも小さくなよう
にしたものである。
ピンバルブ構造体の一部をなすものであり、1.5nm
以上2.2nm以下の厚みをなし、コバルト鉄合金より
なる第1の膜と、0.65nm以上0.85nm以下の
厚みをなすルテニウム膜と、1.2nm以上2.0nm
以下の厚みをなし、コバルト鉄合金よりなる第2の膜
と、0.3nm以上0.7nm以下の厚みをなすニッケ
ルクロム合金膜と、0.6nm以上1.0nm以下の厚
みをなし、コバルト鉄合金よりなる第3の膜とがこの順
に積層された積層体を含み、第3の膜の厚みが第2の膜
の厚みの2分の1となり、かつ第2の膜の厚みと第3の
膜の厚みとの総和が第1の膜の厚みよりも大きくなるよ
うにしたものである。
定膜では、コバルト鉄合金よりなる第1の膜と、ルテニ
ウム膜と、コバルト鉄合金よりなる第2の膜と、ニッケ
ル鉄合金膜と、コバルト鉄合金よりなる第3の膜とがこ
の順に積層された構成に基づき、強度が向上する。
造体は、基体と、ニッケルクロム合金よりなるシード層
と、ニッケル鉄合金層と第1のコバルト鉄合金層とが積
層されてなるフリー層と、非磁性層と、2.0nm以上
3.0nm以下の厚みをなす第2のコバルト鉄合金層
と、0.65nm以上0.85nm以下の厚みをなすル
テニウム層と、1.0nm以上1.6nm以下の厚みを
なす第3のコバルト鉄合金層と、0.3nm以上0.7
nm以下の厚みをなすニッケルクロム合金層と、0.5
nm以上0.8nm以下の厚みをなす第4のコバルト鉄
合金層と、マンガン白金合金層と、ニッケル鉄合金より
なる保護層とがこの順に積層された積層体を含み、第4
のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバルト鉄合金層の
厚みの2分の1となり、かつ第3のコバルト鉄合金層の
厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和が第2の
コバルト鉄合金層の厚みよりも小さくなるようにしたも
のである。
造体では、第2のコバルト鉄合金層と、ルテニウム層
と、第3のコバルト鉄合金層と、ニッケル鉄合金層と、
第4のコバルト鉄合金層とがこの順に積層された積層体
を備え、特に、第4のコバルト鉄合金層の厚みが第3の
コバルト鉄合金層の厚みの2分の1となり、かつ第3の
コバルト鉄合金層の厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚
みとの総和が第2のコバルト鉄合金層の厚みよりも小さ
いため、この積層体の特徴的な構成に基づき、優れた安
定性が確保される。
造体は、基体と、ニッケルクロム合金よりなるシード層
と、ニッケル鉄合金層と第1のコバルト鉄合金層とが積
層されてなるフリー層と、非磁性層と、1.5nm以上
2.2nm以下の厚みをなす第2のコバルト鉄合金層
と、0.65nm以上0.85nm以下の厚みをなすル
テニウム層と、1.2nm以上2.0nm以下の厚みを
なす第3のコバルト鉄合金層と、0.3nm以上0.7
nm以下の厚みをなすニッケルクロム合金層と、0.6
nm以上1.0nm以下の厚みをなす第4のコバルト鉄
合金層と、マンガン白金合金層と、ニッケル鉄合金より
なる保護層とがこの順に積層された積層体を含み、第4
のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバルト鉄合金層の
厚みの2分の1となり、かつ第3のコバルト鉄合金層の
厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和が第2の
コバルト鉄合金層の厚みよりも大きくなるようにしたも
のである。
造体では、第2のコバルト鉄合金層と、ルテニウム層
と、第3のコバルト鉄合金層と、ニッケル鉄合金層と、
第4のコバルト鉄合金層とがこの順に積層された積層体
を備え、特に、第4のコバルト鉄合金層の厚みが第3の
コバルト鉄合金層の厚みの2分の1となり、かつ第3の
コバルト鉄合金層の厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚
みとの総和が第2のコバルト鉄合金層の厚みよりも大き
いため、この積層体の特徴的な構成に基づき、優れた安
定性が確保される。
定膜の形成方法では、原子百分率で85%以上95%以
下のコバルトを含むように第1、第2および第3の膜を
形成するのが好ましい。
ンバルブ構造体の形成方法では、原子百分率で85%以
上95%以下のコバルトを含むように第1、第2、第3
および第4のコバルト鉄合金層を形成するのが好まし
い。
るスピンバルブ構造体の形成方法では、原子百分率で5
5%以上65%以下のニッケルを含むようにシード層お
よびニッケルクロム合金層を形成するのが好ましい。
るスピンバルブ構造体の形成方法では、7.0nm以上
25.0nm以下の厚みとなるようにマンガン白金合金
層を形成してもよい。
るスピバルブ構造体の形成方法では、原子百分率で50
%以上60%以下のマンガンを含むようにマンガン白金
合金層を形成するのが好ましい。
定膜では、第1、第2および第3の膜が、原子百分率で
85%以上95%以下のコバルトを含んで構成されてい
るのが好ましい。
ンバルブ構造体では、第1,第2,第3および第4のコ
バルト鉄合金層が、原子百分率で85%以上95%以下
のコバルトを含んで構成されているのが好ましい。
るスピンバルブ構造体では、シード層およびニッケルク
ロム合金層が、原子百分率で55%以上65%以下のニ
ッケルを含んで構成されているのが好ましい。
るスピンバルブ構造体では、マンガン白金合金層が、1
0.0nm以上25.0nm以下の厚みをなすようにし
てもよい。
るスピンバルブ構造体では、マンガン白金合金層が、原
子百分率で50%以上60%以下のマンガンを含んで構
成されているのが好ましい。
て図面を参照して説明する。
本発明の第1の実施の形態に係るスピンバルブ構造体の
構成について説明する。図1は、本実施の形態に係るス
ピンバルブ構造体の断面構成を表すものである。なお、
本発明の「被固定膜(ピンド層)」は本実施の形態に係
るスピンバルブ構造体の一要素をなすものであるため、
以下併せて説明する。
1上に、シード層12と、フリー層13と、スペーサ層
14と、ピンド層35と、ピンニング層16と、保護層
17とがこの順に積層された構成をなしている。すなわ
ち、このスピンバルブ構造体は、ピンニング層16がフ
リー層13よりも基体11から遠い側に位置するトップ
型構造をなすものである。
l2 O3 )や酸化珪素(SiO2 )などにより構成され
ている。
6.0nmの厚みをなし、原子百分率で約55%〜65
%のニッケル(Ni)および約35%〜45%のクロム
(Cr)を含むニッケルクロム合金(NiCr)により
構成されている。このシード層12は、主に、磁気抵抗
効果を高めるためのものであり、上記したニッケルクロ
ム合金により構成されることにより、例えばタンタル
(Ta)により構成される場合とは異なり、フリー層1
3中を流れる伝導電子を完全反射させる。
積層体、すなわち約2.0nm〜6.0nmの厚みをな
し、原子百分率で約77%〜83%のニッケルおよび約
17%〜23%の鉄(Fe)を含むニッケル鉄合金(N
iFe)層13Aと、約0.5nm〜1.5nmの厚み
をなし、原子百分率で約85%〜95%のコバルト(C
o)を含むコバルト鉄合金(CoFe)層13Bとがこ
の順に積層された構成をなしている。ここで、フリー層
13を構成するコバルト鉄合金層13Bが、本発明中の
請求項5,19における「第1のコバルト鉄合金層」の
一具体例に対応する。
〜2.5nmの厚みをなし、銅(Cu)などの非磁性材
料により構成されている。ここで、スペーサ層14が本
発明における「非磁性層」の一具体例に対応する。
り、磁性材料を含む積層体により構成されている。具体
的には、ピンド層35は、主に、約2.0nm〜3.0
nm、好ましくは約2.5nmの厚みをなすコバルト鉄
合金層21(AP1)と、約0.65nm〜0.85n
m、好ましくは約0.75nmの厚みをなすルテニウム
(Ru)層22と、約1.0nm〜1.6nm、好まし
くは約1.4nmの厚みをなすコバルト鉄合金層23
(AP2A)と、約0.3nm〜0.7nm、好ましく
は約0.5nmの厚みをなし、原子百分率で約55%〜
65%のニッケルを含むニッケルクロム合金層24と、
約0.5nm〜0.8nm、好ましくは約0.7nmの
厚みをなすコバルト鉄合金層25(AP2B)とが積層
された構成をなしている。このピンド層35では、特
に、コバルト鉄合金層25(AP2B)の厚みγがコバ
ルト鉄合金層23(AP2A)の厚みβの約1/2にな
っていると共に(γ=1/2・β)、コバルト鉄合金層
23(AP2A)の厚みβとコバルト鉄合金層25(A
P2B)の厚みγとの総和β+γがコバルト鉄合金層2
1(AP1)の厚みαよりも小さくなっている((β+
γ)<α)。また、コバルト鉄合金層21,23,25
は、例えば、いずれも原子百分率で約85%〜95%の
コバルトを含んで構成されている。以下では、上記「従
来の技術」の項において説明したシンセティック反平行
ピンド層(SyAP)に対して、本実施の形態における
ピンド層35を「シンセティック反平行/平行ピンド層
(SyAPP:Synthetic anti-parallel parallel-pin
ned )」と呼ぶこととし、随時この名称を用いることと
する。ここで、ピンド層35を構成するコバルト鉄合金
層21,23,25が、本発明中の請求項1,15にお
ける「第1の膜」,「第2の膜」,「第3の膜」の一具
体例にそれぞれ対応すると共に、請求項5,19におけ
る「第2のコバルト鉄合金層」,「第3のコバルト鉄合
金層」,「第4のコバルト鉄合金層」の一具体例にそれ
ぞれ対応する。
5.0nm、好ましくは約20.0nmの厚みをなし、
原子百分率で約50%〜60%のマンガン(Mn)を含
むマンガン白金合金(MnPt)などの反強磁性材料に
より構成されている。
5.0nm、好ましくは約5.0nmの厚みをなし、ニ
ッケルクロム合金により構成されている。
印加された状態においてセンス電流が流れると、巨大磁
気抵抗効果(GMR)が生じる。そして、この巨大磁気
抵抗効果を利用して、磁気記録媒体に記録された信号磁
界が検出されることにより、情報が再生される。
図1を参照して、本実施の形態に係るスピンバルブ構造
体の形成方法について説明する。なお、スピンバルブ構
造体を構成する各要素の材質や寸法等については、上記
「スピンバルブ構造体の構成」の項において既に詳述し
たので、以下の説明では、各要素の材質等に関する説明
を適宜省略するものとする。本発明の「被固定膜(ピン
ド層)の形成方法」は本実施の形態に係るスピンバルブ
構造体の形成方法に含まれるため、以下併せて説明す
る。
は、例えばDCマグネトロンスパッタリングを利用し
て、基体11上に順次成膜処理を施すことにより形成さ
れる。すなわち、まず、基体11を準備したのち、この
基体11上に、ニッケルクロム合金よりなるシード層1
2を形成する。
鉄合金層13Aとコバルト鉄合金層13Bとを積層する
ことにより、これらの積層体よりなるフリー層13を形
成する。続いて、このフリー層13上に、銅よりなるス
ペーサ層14を形成する。
ト鉄合金層21(AP1)と、ルテニウム層22と、コ
バルト鉄合金層23(AP2A)と、ニッケルクロム合
金層24と、コバルト鉄合金層25(AP2B)とをこ
の順に積層することにより、これらの積層体よりなるピ
ンド層(シンセティック反平行/平行ピンド層(SyA
PP))35を形成する。ピンド層35を形成する際に
は、特に、コバルト鉄合金層25(AP2B)の厚みγ
がコバルト鉄合金層23(AP2A)の厚みβの約1/
2になるようにすると共に(γ=1/2・β)、コバル
ト鉄合金層23の厚みβとコバルト鉄合金層25の厚み
γとの総和β+γがコバルト鉄合金層21(AP1)の
厚みαよりも小さくなるようにする((β+γ)<
α)。
白金合金よりなるピンニング層16を形成する。最後
に、このピンニング層16上に、ニッケルクロム合金よ
りなる保護層17を形成することにより、スピンバルブ
構造体が完成する。
次に、本実施の形態に係るスピンバルブ構造体に関する
実験結果について説明する。シンセティック反平行/平
行ピンド層35(SyAPP)を備えた本実施の形態に
係るスピンバルブ構造体(図1参照)と、シンセティッ
ク反平行ピンド層ピンド層150(SyAP)を備えた
従来のスピンバルブ構造体(図6参照)とについて再生
特性を調べたところ、図2および図3に示した結果が得
られた。図2および図3は、スピンバルブ構造体の再生
特性(R−H曲線)を表すものであり、図2は本実施の
形態,図3は従来についてそれぞれ示している。図2お
よび図3中の「横軸」は磁界(×104 A/m),「縦
軸」はMR比(%)をそれぞれ示している。
ブ構造体の構成は、本実施の形態についてNiCr(約
5.5nm厚)/Cu(約1.0nm厚)/NiFe
(約3.0nm厚)/NiCr(約0.5nm厚)/N
iFe(約3.0nm厚)/CoFe(約0.3nm
厚)/Cu(約2.1nm厚)/[CoFe(約1.9
nm厚;AP1)/Ru(約7.5nm厚)/CoFe
(約1.4nm厚;AP2A)/NiCr(約0.3n
m厚)/CoFe(約0.7nm厚;AP2B)]/M
nPt(約20.0nm厚)/NiCr(約5.0nm
厚),従来についてNiCr(約5.5nm厚)/Cu
(約1.0nm厚)/NiFe(約3.0nm厚)/N
iCr(約0.5nm厚)/NiFe(約3.0nm
厚)/CoFe(約0.3nm厚)/Cu(約2.1n
m厚)/[CoFe(約1.9nm厚;AP1)/Ru
(約0.75nm厚)/CoFe(約2.1nm厚;A
P2)]/MnPt(約20.0nm厚)/NiCr
(約5.0nm厚)である。なお、上記構成中、[]部
分はピンド層を表している。
ンセティック反平行/平行ピンド層35(SyAPP)
を備えた本実施の形態に係るスピンバルブ構造体では、
シンセティック反平行ピンド層150(SyAP)を備
えた従来のスピンバルブ構造体よりもヒステリシス曲線
(R−H曲線)の開度が小さくなった。この結果は、回
転磁化モデルに基づくシミュレーション結果と一致する
ものであった。
上説明したように、本実施の形態に係るスピンバルブ構
造体およびその形成方法では、コバルト鉄合金層21
(AP1)と、ルテニウム層22と、コバルト鉄合金層
23(AP2A)と、ニッケルクロム合金層24と、コ
バルト鉄合金層25(AP2B)とがこの順に積層され
た5層構成をなすシンセティック反平行/平行ピンド層
35(SyAPP)を備え、特に、コバルト鉄合金層2
5(AP2B)の厚みγがコバルト鉄合金層(AP2
A)23の厚みβの約1/2となり(γ=1/2・
β)、かつコバルト鉄合金層23の厚みβとコバルト鉄
合金層25の厚みγとの総和β+γがコバルト鉄合金層
21(AP1)の厚みαよりも小さくなるようにしてい
る((β+γ)<α)。このような特徴的な構成をなす
シンセティック反平行/平行ピンド層35を備えたスピ
ンバルブ構造体では、図2,図3に示した磁再生特性の
比較結果から明らかなように、シンセティック反平行ピ
ンド層150(SyAP)を備えた従来のスピンバルブ
構造体よりもヒステリシス曲線の開度が小さくなるた
め、ピンド層35の強度が向上する。したがって、ピン
ド層35の強度の向上に伴い、高密度記録化に対応した
優れた安定性を確保することができる。
造体がトップ型構造をなすようにしたが、必ずしもこれ
に限られるものではなく、ボトム型構造をなすようにし
てもよい。この場合においても、シンセティック反平行
/平行ピンド層35(SyAPP)を備える限り、上記
実施の形態の場合と同様の効果を得ることができる。
の実施の形態について説明する。
ルブ構造体は、コバルト鉄合金層23,25(AP2
A,AP2B)の厚みの総和β+γがコバルト鉄合金層
21(AP1)の厚みαよりも小さくなるようにシンセ
ティック反平行/平行ピンド層35(SyAPP)を構
成した上記第1の実施の形態の場合とは異なり、コバル
ト鉄合金層23,25の厚みの総和β+γがコバルト鉄
合金層21の厚みαよりも大きくなるようにしたもので
ある。
構成するピンド層35のうち、コバルト鉄合金層21
(AP1)の厚みαは約1.5nm〜2.2nm、好ま
しくは約1.9nm、コバルト鉄合金層23(AP2
A)の厚みβは約1.2nm〜2.0nm、好ましくは
約1.4nm、コバルト鉄合金層25(AP2B)の厚
みγは約0.6nm〜1.0nm、好ましくは約0.7
nmである。なお、本実施の形態に係るスピンバルブ構
造体について、上記特徴部分以外の構成、材質および厚
み等は、上記第1の実施の形態の場合と同様である。こ
こで、本実施の形態のピンド層35を構成するコバルト
鉄合金層21,23,25が、本発明中の請求項3,1
7における「第1の膜」,「第2の膜」,「第3の膜」
の一具体例にそれぞれ対応すると共に、請求項10,2
4における「第2のコバルト鉄合金層」,「第3のコバ
ルト鉄合金層」,「第4のコバルト鉄合金層」の一具体
例にそれぞれ対応する。
は、上記第1の実施の形態において説明した手法を用い
て上記構成をなすようにピンド層35を構成することに
より、形成可能である。
ついても、上記第1の実施の形態の場合と同様に、再生
特性を調べた。図4および図5は、スピンバルブ構造体
に関する再生特性(R−H曲線)を表すものであり、図
4は本実施の形態、図5は従来についてそれぞれ示した
ものである。再生特性を調べるために用いたスピンバル
ブ構造体の構成は、本実施の形態についてNiCr(約
5.5nm厚)/NiFe(約6.5nm厚)/CoF
e(約1.0nm厚)/Cu(約2.0nm厚)/[C
oFe(約2.5nm厚;AP1)/Ru/CoFe
(約1.4nm厚;AP2A)/NiCr(約0.5n
m厚)/CoFe(約0.7nm厚;AP2B)]/M
nPt(約20.0nm厚)/NiCr(約5.0nm
厚)、従来についてNiCr(約5.5nm厚)/Ni
Fe(約6.5nm厚)/CoFe(約1.0nm厚)
/[Cu(約2.0nm厚)/CoFe(約2.5nm
厚;AP1)/Ru/CoFe(約2.0nm厚;AP
2)/MnPt(約20.0nm厚)]/NiCr(約
5.0nm厚)である。
記第1の実施の形態の場合(図2,図3参照)と同様
に、シンセティック反平行/平行ピンド層35(SyA
PP)を備えた本実施の形態に係るスピンバルブ構造体
では、シンセティック反平行ピンド層150(SyA
P)を備えた従来のスピンバルブ構造体よりもヒステリ
シス曲線(R−H曲線)の開度が小さくなった。
(AP1)と、ルテニウム層22と、コバルト鉄合金層
23(AP2A)と、ニッケルクロム合金層24と、コ
バルト鉄合金層25(AP2B)とがこの順に積層され
た5層構成をなすシンセティック反平行/平行ピンド層
35(SyAPP)を備え、特に、コバルト鉄合金層2
5(AP2B)の厚みγがコバルト鉄合金層(AP2
A)23の厚みβの約1/2となり(γ=1/2・
β)、かつコバルト鉄合金層23の厚みβとコバルト鉄
合金層25の厚みγとの総和β+γがコバルト鉄合金層
21(AP1)の厚みαよりも大きくなるようにしたの
で((β+γ)>α)、図4,図5に示した再生特性の
比較結果から明らかなように、上記第1の実施の形態の
場合と同様の作用により、高密度記録化に対応した優れ
た安定性を確保することができる。
用、効果および変形等は、上記第1の実施の形態の場合
と同様である。
したが、本発明は上記各実施の形態に限定されず、種々
の変形が可能である。すなわち、上記各実施の形態にお
いて説明したスピンバルブ構造体およびその形成方法
(被固定膜(ピンド層)およびその形成方法を含む)に
関する詳細は、必ずしもこれに限られるものではなく、
コバルト鉄合金層(AP1)と、ルテニウム層と、コバ
ルト鉄合金層(AP2A)と、ニッケルクロム合金層
と、コバルト鉄合金層(AP2B)とがこの順に積層さ
れた5層構成をなすピンド層(シンセティック反平行/
平行ピンド層)を備え、特に、コバルト鉄合金層(AP
2B)の厚みがコバルト鉄合金層(AP2A)の厚みの
約1/2となり、かつコバルト鉄合金層(AP2A,A
P2B)の厚みの総和がコバルト鉄合金層(AP1)の
厚みよりも小さいまたは大きいことにより、ピンド層の
強度を向上させ、スピンバルブ構造体について高密度記
録化に対応した優れた安定性を確保可能な限り、自由に
変更可能である。ただし、スピンバルブ構造体において
交換結合力が及ぶ範囲は極めて狭いため、本発明の効果
を確保するならば、上記各実施の形態においてスピンバ
ルブ構造体の構成について列挙した設計寸法等を遵守す
るのが好ましい。
2B)の厚みの総和とコバルト鉄合金層(AP1)の厚
みとの関係については、特に、コバルト鉄合金層(AP
2A,AP2B)の厚みの総和がコバルト鉄合金層(A
P1)の厚みよりも小さくなるようにするのが好まし
い。なぜなら、図2〜図5に示した一連の再生特性の比
較結果から明らかなように、コバルト鉄合金層(AP2
A,AP2B)の厚みの総和がコバルト鉄合金層(AP
1)の厚みよりも小さい場合について、大きい場合より
もヒステリシス曲線の開度がより小さくなり、スピンバ
ルブ構造体についてより優れた安定性を確保可能だから
である。
求項2に記載の被固定膜の形成方法によれば、コバルト
鉄合金よりなる第1の膜と、ルテニウム膜と、コバルト
鉄合金よりなる第2の膜と、ニッケルクロム合金膜と、
コバルト鉄合金よりなる第3の膜とをこの順に積層し、
特に、第3の膜の厚みが第2の膜の厚みの2分の1とな
り、かつ第2の膜の厚みと第3の膜の厚みとの総和が第
1の膜の厚みよりも小さくなるようにしたので、極めて
優れた強度を確保可能な本発明の被固定膜を形成するこ
とができる。
固定膜の形成方法によれば、コバルト鉄合金よりなる第
1の膜と、ルテニウム膜と、コバルト鉄合金よりなる第
2の膜と、ニッケルクロム合金膜と、コバルト鉄合金よ
りなる第3の膜とをこの順に積層し、特に、第3の膜の
厚みが第2の膜の厚みの2分の1となり、かつ第2の膜
の厚みと第3の膜の厚みとの総和が第1の膜の厚みより
も大きくなるようにしたので、優れた強度を確保可能な
本発明の被固定膜を形成することができる。
1項に記載のスピンバルブ構造体の形成方法によれば、
第2のコバルト鉄合金層と、ルテニウム層と、第3のコ
バルト鉄合金層と、ニッケルクロム合金層と、第4のコ
バルト鉄合金層とをこの順に積層し、特に、第4のコバ
ルト鉄合金層の厚みが第3のコバルト鉄合金層の厚みの
2分の1となり、かつ第3のコバルト鉄合金層の厚みと
第4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和が第2のコバル
ト鉄合金層の厚みよりも小さくなるようにしたので、極
めて優れた安定性を確保可能な本発明のスピンバルブ構
造体を形成することができる。
れか1項に記載のスピンバルブ構造体の形成方法によれ
ば、第2のコバルト鉄合金層と、ルテニウム層と、第3
のコバルト鉄合金層と、ニッケルクロム合金層と、第4
のコバルト鉄合金層とをこの順に積層するようにし、特
に、第4のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバルト鉄
合金層の厚みの2分の1となり、かつ第3のコバルト鉄
合金層の厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和
が第2のコバルト鉄合金層の厚みよりも大きくなるよう
にしたので、優れた安定性を確保可能な本発明のスピン
バルブ構造体を形成することができる。
の被固定膜によれば、コバルト鉄合金よりなる第1の膜
と、ルテニウム膜と、コバルト鉄合金よりなる第2の膜
と、ニッケルクロム合金膜と、コバルト鉄合金よりなる
第3の膜とがこの順に積層され、特に、第3の膜の厚み
が第2の膜の厚みの2分の1となり、かつ第2の膜の厚
みと第3の膜の厚みとの総和が第1の膜の厚みよりも小
さくなるようにしたので、極めて優れた強度を確保する
ことができる。
の被固定膜によれば、コバルト鉄合金よりなる第1の膜
と、ルテニウム膜と、コバルト鉄合金よりなる第2の膜
と、ニッケルクロム合金膜と、コバルト鉄合金よりなる
第3の膜とがこの順に積層され、特に、第3の膜の厚み
が第2の膜の厚みの2分の1となり、かつ第2の膜の厚
みと第3の膜の厚みとの総和が第1の膜の厚みよりも大
きくなるようにしたので、優れた強度を確保することが
できる。
れか1項に記載のスピンバルブ構造体によれば、第2の
コバルト鉄合金層と、ルテニウム層と、第3のコバルト
鉄合金層と、ニッケルクロム合金層と、第4のコバルト
鉄合金層とがこの順に積層された5層構成の積層体を備
え、特に、第4のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みの2分の1となり、かつ第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みと
の総和が第2のコバルト鉄合金層の厚みよりも小さくな
るようにしたので、5層積層体の特徴的な構成に基づ
き、従来のスピンバルブ構造体よりもヒステリシス曲線
の開度が小さくなり、積層体の強度が極めて向上する。
したがって、高密度記録化に対応した極めて優れた安定
性を確保することができる。
れか1項に記載のスピンバルブ構造体によれば、第2の
コバルト鉄合金層と、ルテニウム層と、第3のコバルト
鉄合金層と、ニッケルクロム合金層と、第4のコバルト
鉄合金層とがこの順に積層された5層構成の積層体を備
え、特に、第4のコバルト鉄合金層の厚みが第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みの2分の1となり、かつ第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みと第4のコバルト鉄合金層の厚みと
の総和が第2のコバルト鉄合金層の厚みよりも大きくな
るようにしたので、5層積層体の特徴的な構成に基づ
き、従来のスピンバルブ構造体よりもヒステリシス曲線
の開度が小さくなり、積層体の強度が向上する。したが
って、高密度記録化に対応した優れた安定性を確保する
ことができる。
体の断面構成を表す断面図である。
体の再生特性を表す図である。
である。
体の他の再生特性を表す図である。
す図である。
面図である。
A,24…ニッケルクロム合金層、13B,21,2
3,25…コバルト鉄合金層、14…スペーサ層、16
…ピンニング層、17…保護層、22…ルテニウム層、
35…ピンド層。
Claims (28)
- 【請求項1】 スピンバルブ構造体の一部をなす被固定
膜を形成する方法であって、 非磁性膜上に、2.0nm以上3.0nm以下の厚みと
なるように、コバルト鉄合金(CoFe)よりなる第1
の膜を形成する工程と、 この第1の膜上に、0.65nm以上0.85nm以下
の厚みとなるようにルテニウム(Ru)膜を形成する工
程と、 このルテニウム膜上に、1.0nm以上1.6nm以下
の厚みとなるように、コバルト鉄合金よりなる第2の膜
を形成する工程と、 この第2の膜上に、0.3nm以上0.7nm以下の厚
みとなるように、ニッケルクロム合金(NiCr)膜を
形成する工程と、 このニッケルクロム合金膜上に、0.5nm以上0.8
nm以下の厚みとなるように、コバルト鉄合金よりなる
第3の膜を形成することにより、この第3の膜の厚み
が、前記第2の膜の厚みの2分の1となり、かつ前記第
2の膜の厚みと前記第3の膜の厚みとの総和が、前記第
1の膜の厚みよりも小さくなるようにする工程とを含む
ことを特徴とする被固定膜の形成方法。 - 【請求項2】 原子百分率で85%以上95%以下のコ
バルトを含むように、前記第1、第2および第3の膜を
形成することを特徴とする請求項1記載の被固定膜の形
成方法。 - 【請求項3】 スピンバルブ構造体の一部をなす被固定
膜を形成する方法であって、 非磁性膜上に、1.5nm以上2.2nm以下の厚みと
なるように、コバルト鉄合金(CoFe)よりなる第1
の膜を形成する工程と、 この第1の膜上に、0.65nm以上0.85nm以下
の厚みとなるようにルテニウム(Ru)膜を形成する工
程と、 このルテニウム膜上に、1.2nm以上2.0nm以下
の厚みとなるように、コバルト鉄合金よりなる第2の膜
を形成する工程と、 この第2の膜上に、0.3nm以上0.7nm以下の厚
みとなるように、ニッケルクロム合金(NiCr)膜を
形成する工程と、 このニッケルクロム合金膜上に、0.6nm以上1.0
nm以下の厚みとなるように、コバルト鉄合金よりなる
第3の膜を形成することにより、この第3の膜の厚み
が、前記第2の膜の厚みの2分の1となり、かつ前記第
2の膜の厚みと前記第3の膜の厚みとの総和が、前記第
1の膜の厚みよりも大きくなるようにする工程とを含む
ことを特徴とする被固定膜の形成方法。 - 【請求項4】 原子百分率で85%以上95%以下のコ
バルトを含むように、前記第1、第2および第3の膜を
形成することを特徴とする請求項3記載の被固定膜の形
成方法。 - 【請求項5】 基体上に、ニッケルクロム合金(NiC
r)よりなるシード層を形成する工程と、 このシード層上に、ニッケル鉄合金(NiFe)層と第
1のコバルト鉄合金(CoFe)層とを積層させること
によりフリー層を形成する工程と、 この第1のコバルト鉄合金層上に、非磁性層を形成する
工程と、 この非磁性層上に、2.0nm以上3.0nm以下の厚
みとなるように第2のコバルト鉄合金層を形成する工程
と、 この第2のコバルト鉄合金層上に、0.65nm以上
0.85nm以下の厚みとなるようにルテニウム(R
u)層を形成する工程と、 このルテニウム層上に、1.0nm以上1.6nm以下
の厚みとなるように第3のコバルト鉄合金層を形成する
工程と、 この第3のコバルト鉄合金層上に、0.3nm以上0.
7nm以下の厚みとなるようにニッケルクロム合金層を
形成する工程と、 このニッケルクロム合金層上に、0.5nm以上0.8
nm以下の厚みとなるように第4のコバルト鉄合金層を
形成することにより、この第4のコバルト鉄合金層の厚
みが、前記第3のコバルト鉄合金層の厚みの2分の1と
なり、かつ前記第3のコバルト鉄合金層の厚みと前記第
4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和が、前記第2のコ
バルト鉄合金層の厚みよりも小さくなるようにする工程
と、 この第4のコバルト鉄合金層上に、マンガン白金合金
(MnPt)層を形成する工程と、 このマンガン白金合金層上に、保護層を形成する工程と
を含むことを特徴とするスピンバルブ構造体の形成方
法。 - 【請求項6】 原子百分率で85%以上95%以下のコ
バルトを含むように、前記第1、第2、第3および第4
のコバルト鉄合金層を形成することを特徴とする請求項
5記載のスピンバルブ構造体の形成方法。 - 【請求項7】 原子百分率で55%以上65%以下のニ
ッケルを含むように、前記シード層および前記ニッケル
クロム合金層を形成することを特徴とする請求項5記載
のスピンバルブ構造体の形成方法。 - 【請求項8】 7.0nm以上25.0nm以下の厚み
となるように、前記マンガン白金合金層を形成すること
を特徴とする請求項5記載のスピンバルブ構造体の形成
方法。 - 【請求項9】 原子百分率で50%以上60%以下のマ
ンガンを含むように、前記マンガン白金合金層を形成す
ることを特徴とする請求項5記載のスピンバルブ構造体
の形成方法。 - 【請求項10】 基体上に、ニッケルクロム合金(Ni
Cr)よりなるシード層を形成する工程と、 このシード層上に、ニッケル鉄合金(NiFe)層と第
1のコバルト鉄合金(CoFe)層とを積層させること
によりフリー層を形成する工程と、 この第1のコバルト鉄合金層上に、非磁性層を形成する
工程と、 この非磁性層上に、1.5nm以上2.2nm以下の厚
みとなるように第2のコバルト鉄合金層を形成する工程
と、 この第2のコバルト鉄合金層上に、0.65nm以上
0.85nm以下の厚みとなるようにルテニウム(R
u)層を形成する工程と、 このルテニウム層上に、1.2nm以上2.0nm以下
の厚みとなるように第3のコバルト鉄合金層を形成する
工程と、 この第3のコバルト鉄合金層上に、0.3nm以上0.
7nm以下の厚みとなるようにニッケルクロム合金層を
形成する工程と、 このニッケルクロム合金層上に、0.6nm以上1.0
nm以下の厚みとなるように第4のコバルト鉄合金層を
形成することにより、この第4のコバルト鉄合金層の厚
みが、前記第3のコバルト鉄合金層の厚みの2分の1と
なり、かつ前記第3のコバルト鉄合金層の厚みと前記第
4のコバルト鉄合金層の厚みとの総和が、前記第2のコ
バルト鉄合金層の厚みよりも大きくなるようにする工程
と、 この第4のコバルト鉄合金層上に、マンガン白金合金
(MnPt)層を形成する工程と、 このマンガン白金合金層上に、保護層を形成する工程と
を含むことを特徴とするスピンバルブ構造体の形成方
法。 - 【請求項11】 原子百分率で85%以上95%以下の
コバルトを含むように、前記第1、第2、第3および第
4のコバルト鉄合金層を形成することを特徴とする請求
項10記載のスピンバルブ構造体の形成方法。 - 【請求項12】 原子百分率で55%以上65%以下の
ニッケルを含むように、前記シード層および前記ニッケ
ルクロム合金層を形成することを特徴とする請求項10
記載のスピンバルブ構造体の形成方法。 - 【請求項13】 7.0nm以上25.0nm以下の厚
みとなるように、前記マンガン白金合金層を形成するこ
とを特徴とする請求項10記載のスピンバルブ構造体の
形成方法。 - 【請求項14】 原子百分率で50%以上60%以下の
マンガンを含むように、前記マンガン白金合金層を形成
することを特徴とする請求項10記載のスピンバルブ構
造体の形成方法。 - 【請求項15】 スピンバルブ構造体の一部をなす被固
定膜であって、 2.0nm以上3.0nm以下の厚みをなし、コバルト
鉄合金(CoFe)よりなる第1の膜と、 0.65nm以上0.85nm以下の厚みをなすルテニ
ウム(Ru)膜と、 1.0nm以上1.6nm以下の厚みをなし、コバルト
鉄合金よりなる第2の膜と、 0.3nm以上0.7nm以下の厚みをなすニッケルク
ロム合金(NiCr)膜と、 0.5nm以上0.8nm以下の厚みをなし、コバルト
鉄合金よりなる第3の膜とがこの順に積層された積層体
を含み、 前記第3の膜の厚みが、前記第2の膜の厚みの2分の1
であり、かつ前記第2の膜の厚みと前記第3の膜の厚み
との総和が、前記第1の膜の厚みよりも小さくなってい
ることを特徴とする被固定膜。 - 【請求項16】 前記第1、第2および第3の膜は、原
子百分率で85%以上95%以下のコバルトを含んで構
成されていることを特徴とする請求項15記載の被固定
膜。 - 【請求項17】 スピンバルブ構造体の一部をなす被固
定膜であって、 1.5nm以上2.2nm以下の厚みをなし、コバルト
鉄合金(CoFe)よりなる第1の膜と、 0.65nm以上0.85nm以下の厚みをなすルテニ
ウム(Ru)膜と、 1.2nm以上2.0nm以下の厚みをなし、コバルト
鉄合金よりなる第2の膜と、 0.3nm以上0.7nm以下の厚みをなすニッケルク
ロム合金(NiCr)膜と、 0.6nm以上1.0nm以下の厚みをなし、コバルト
鉄合金よりなる第3の膜とがこの順に積層された積層体
を含み、 前記第3の膜の厚みが、前記第2の膜の厚みの2分の1
であり、かつ前記第2の膜の厚みと前記第3の膜の厚み
との総和が、前記第1の膜の厚みよりも大きくなってい
ることを特徴とする被固定膜。 - 【請求項18】 前記第1、第2および第3の膜は、原
子百分率で85%以上95%以下のコバルトを含んで構
成されていることを特徴とする請求項17記載の被固定
膜。 - 【請求項19】 基体と、 ニッケルクロム合金(NiCr)よりなるシード層と、 ニッケル鉄合金(NiFe)層と第1のコバルト鉄合金
(CoFe)層とが積層されてなるフリー層と、 非磁性層と、 2.0nm以上3.0nm以下の厚みをなす第2のコバ
ルト鉄合金層と、 0.65nm以上0.85nm以下の厚みをなすルテニ
ウム(Ru)層と、 1.0nm以上1.6nm以下の厚みをなす第3のコバ
ルト鉄合金層と、 0.3nm以上0.7nm以下の厚みをなすニッケルク
ロム合金層と、 0.5nm以上0.8nm以下の厚みをなす第4のコバ
ルト鉄合金層と、 マンガン白金合金(MnPt)層と、 ニッケル鉄合金よりなる保護層とがこの順に積層された
積層体を含み、 前記第4のコバルト鉄合金層の厚みが、前記第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みの2分の1であり、かつ前記第3の
コバルト鉄合金層の厚みと前記第4のコバルト鉄合金層
の厚みとの総和が、前記第2のコバルト鉄合金層の厚み
よりも小さくなっていることを特徴とするスピンバルブ
構造体。 - 【請求項20】 前記第1、第2、第3および第4のコ
バルト鉄合金層は、原子百分率で85%以上95%以下
のコバルトを含んで構成されていることを特徴とする請
求項19記載のスピンバルブ構造体。 - 【請求項21】 前記シード層および前記ニッケルクロ
ム合金ラミネート層は、原子百分率で55%以上65%
以下のニッケルを含んで構成されていることを特徴とす
る請求項19記載のスピンバルブ構造体。 - 【請求項22】 前記マンガン白金合金層は、10.0
nm以上25.0nm以下の厚みをなしていることを特
徴とする請求項19記載のスピンバルブ構造体。 - 【請求項23】 前記マンガン白金合金層は、原子百分
率で50%以上60%以下のマンガンを含んで構成され
ていることを特徴とする請求項19記載のスピンバルブ
構造体。 - 【請求項24】 基体と、 ニッケルクロム合金(NiCr)よりなるシード層と、 ニッケル鉄合金(NiFe)層と第1のコバルト鉄合金
(CoFe)層とが積層されてなるフリー層と、 非磁性層と、 1.5nm以上2.2nm以下の厚みをなす第2のコバ
ルト鉄合金層と、 0.65nm以上0.85nm以下の厚みをなすルテニ
ウム層と、 1.2nm以上2.0nm以下の厚みをなす第3のコバ
ルト鉄合金層と、 0.3nm以上0.7nm以下の厚みをなすニッケルク
ロム合金層と、 0.6nm以上1.0nm以下の厚みをなす第4のコバ
ルト鉄合金層と、 マンガン白金合金(MnPt)層と、 ニッケル鉄合金よりなる保護層とがこの順に積層された
積層体を含み、 前記第4のコバルト鉄合金層の厚みが、前記第3のコバ
ルト鉄合金層の厚みの2分の1であり、かつ前記第3の
コバルト鉄合金層の厚みと前記第4のコバルト鉄合金層
の厚みとの総和が、前記第2のコバルト鉄合金層の厚み
よりも大きくなっていることを特徴とするスピンバルブ
構造体。 - 【請求項25】 前記第1、第2、第3および第4のコ
バルト鉄合金層は、原子百分率で85%以上95%以下
のコバルトを含んで構成されていることを特徴とする請
求項24記載のスピンバルブ構造体。 - 【請求項26】 前記シード層および前記ニッケルクロ
ム合金層は、原子百分率で55%以上65%以下のニッ
ケルを含んで構成されていることを特徴とする請求項2
4記載のスピンバルブ構造体。 - 【請求項27】 前記マンガン白金合金層は、10.0
nm以上25.0nm以下の厚みをなしていることを特
徴とする請求項24記載のスピンバルブ構造体。 - 【請求項28】 前記マンガン白金合金層は、原子百分
率で50%以上60%以下のマンガンを含んで構成され
ていることを特徴とする請求項24記載のスピンバルブ
構造体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/764231 | 2001-01-19 | ||
US09/764,231 US6630248B1 (en) | 2001-01-19 | 2001-01-19 | Synthetic anti-parallel/parallel/pinned layer spin valve |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002305339A true JP2002305339A (ja) | 2002-10-18 |
JP4280010B2 JP4280010B2 (ja) | 2009-06-17 |
Family
ID=25070076
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001400179A Expired - Fee Related JP4280010B2 (ja) | 2001-01-19 | 2001-12-28 | ピンド層およびその形成方法、ならびにスピンバルブ構造体およびその形成方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6630248B1 (ja) |
JP (1) | JP4280010B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011064653A (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-31 | Tdk Corp | 磁気センサおよびその製造方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6399152B1 (en) * | 2000-07-27 | 2002-06-04 | Goodrich Technology Corporation | Vacuum metalization process for chroming substrates |
US6747852B2 (en) * | 2001-08-17 | 2004-06-08 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistance sensors with Pt-Mn transverse and longitudinal pinning layers and a decoupling insulation layer |
US6914760B2 (en) * | 2001-09-07 | 2005-07-05 | International Business Machines Corporation | Hard bias layer for read heads |
US6751072B2 (en) * | 2002-03-21 | 2004-06-15 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | High magnetoresistance spin valve sensor with self-pinned antiparallel (AP) pinned layer structure |
US6826021B2 (en) * | 2002-04-03 | 2004-11-30 | International Business Machines Corporation | Spin valve sensor having ultra-thin freelayers including nickel-iron, ruthenium, and a cobalt-iron nanolayer |
US20040091743A1 (en) * | 2002-11-12 | 2004-05-13 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistance sensor with a controlled-magnetostriction Co-Fe free-layer film |
US20060146452A1 (en) * | 2005-01-04 | 2006-07-06 | Min Li | CIP GMR enhanced by using inverse GMR material in AP2 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5780176A (en) | 1992-10-30 | 1998-07-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect element |
US5549978A (en) | 1992-10-30 | 1996-08-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect element |
US5936810A (en) | 1996-02-14 | 1999-08-10 | Hitachi, Ltd. | Magnetoresistive effect head |
JP3699802B2 (ja) * | 1997-05-07 | 2005-09-28 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果ヘッド |
JP3175922B2 (ja) | 1997-10-24 | 2001-06-11 | アルプス電気株式会社 | スピンバルブ型薄膜素子の製造方法 |
US6141191A (en) * | 1997-12-05 | 2000-10-31 | International Business Machines Corporation | Spin valves with enhanced GMR and thermal stability |
US6313973B1 (en) * | 1998-06-30 | 2001-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Laminated magnetorestrictive element of an exchange coupling film, an antiferromagnetic film and a ferromagnetic film and a magnetic disk drive using same |
US6424506B1 (en) * | 1998-07-21 | 2002-07-23 | Alps Electric Co., Ltd. | Spin-valve magnetoresistive thin film element |
US6122150A (en) | 1998-11-09 | 2000-09-19 | International Business Machines Corporation | Antiparallel (AP) pinned spin valve sensor with giant magnetoresistive (GMR) enhancing layer |
US6226159B1 (en) * | 1999-06-25 | 2001-05-01 | International Business Machines Corporation | Multilayered pinned layer of cobalt based films separated by a nickel base film for improved coupling field and GMR for spin valve sensors |
-
2001
- 2001-01-19 US US09/764,231 patent/US6630248B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-12-28 JP JP2001400179A patent/JP4280010B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011064653A (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-31 | Tdk Corp | 磁気センサおよびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4280010B2 (ja) | 2009-06-17 |
US6630248B1 (en) | 2003-10-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4421822B2 (ja) | ボトムスピンバルブ磁気抵抗効果センサ素子およびその製造方法 | |
JP5771352B2 (ja) | 磁気再生記録ヘッドおよびその製造方法 | |
JP4794109B2 (ja) | スピンバルブ型磁気抵抗効果再生ヘッドおよびその製造方法 | |
US6522507B1 (en) | Single top spin valve heads for ultra-high recording density | |
JP2003006821A (ja) | 再生ヘッドおよび磁気バイアスの印加方法 | |
JP2003152243A (ja) | 磁気抵抗効果センサ積層体および磁気抵抗効果再生ヘッド、ならびにそれらの製造方法 | |
JP2005339784A (ja) | Cpp−gmr再生ヘッドおよびその製造方法、ならびにcpp−gmr素子 | |
JP2009026400A (ja) | 差動磁気抵抗効果型磁気ヘッド | |
US20060152861A1 (en) | Tunneling magneto-resistive spin valve sensor with novel composite free layer | |
JP4939050B2 (ja) | 磁気トンネル接合素子の磁化自由層の形成方法ならびにトンネル接合型再生ヘッドおよびその製造方法 | |
JP2004103120A (ja) | 差動バイアス型磁区制御構造を有する記録再生分離型磁気ヘッド | |
JP4891514B2 (ja) | スピンバルブ型磁気抵抗効果センサ素子の製造方法 | |
JP2001118217A (ja) | スピンバルブ型薄膜磁気素子及び薄膜磁気ヘッド及びスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法 | |
JP2001156358A (ja) | 磁気抵抗効果素子および磁気メモリ素子 | |
JPH10188235A (ja) | 磁気抵抗効果膜及びその製造方法 | |
JP3212569B2 (ja) | デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子及び薄膜磁気ヘッド及びデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法 | |
JP4280010B2 (ja) | ピンド層およびその形成方法、ならびにスピンバルブ構造体およびその形成方法 | |
JP2005328064A (ja) | 磁気抵抗効果素子およびその形成方法、薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 | |
JP4549546B2 (ja) | スピンバルブ構造,磁気抵抗効果素子および薄膜磁気ヘッド | |
JP2001313430A (ja) | スピンバルブ構造およびその製造方法 | |
JP2924819B2 (ja) | 磁気抵抗効果膜及びその製造方法 | |
JP2000285413A (ja) | スピンバルブ磁気抵抗効果型素子とその製造法、及びこの素子を用いた磁気ヘッド | |
JP4447538B2 (ja) | スピンバルブ構造の形成方法、cpp−gmr再生ヘッドの製造方法、強磁性層およびcpp−gmr再生ヘッド | |
JP2002314171A (ja) | 被固定層およびその形成方法、ならびにスピンバルブ構造およびその形成方法 | |
US9099120B1 (en) | Interlayer coupling field control in tunneling magnetoresistive read heads |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040722 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080523 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20080821 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20080826 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080922 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090305 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090313 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120319 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130319 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140319 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |