JP2002270481A - 試料自動回収システム - Google Patents

試料自動回収システム

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JP2002270481A
JP2002270481A JP2001065457A JP2001065457A JP2002270481A JP 2002270481 A JP2002270481 A JP 2002270481A JP 2001065457 A JP2001065457 A JP 2001065457A JP 2001065457 A JP2001065457 A JP 2001065457A JP 2002270481 A JP2002270481 A JP 2002270481A
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suction
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JP2001065457A
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Yutaka Uchiki
裕 内木
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Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】装置が停止してその復旧の後に確実に試料の有
無を判断し、人の手作業による回収の手間を減らして自
動的に試料を回収して無人化に貢献できること。 【解決手段】装置の通常の動作中に搬送エラー等が発生
して装置全体が停止し、その復旧後に、試料搬送部4と
試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおいてそれぞれ
試料3を吸着動作を試み、各真空センサ12、13、1
4から出力される検出信号のオン(吸着可能)、オフ
(吸着不可能)から試料搬送部4と試料位置合わせ部5
と試料検査部6とにおけるそれぞれの試料3の有無を判
断する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体デバ
イスなどの試料を吸着保持しながら試料位置合わせ部や
試料検査部に搬送して試料の欠陥検査を行なう試料検査
装置に係わり、当該装置に緊急停止などが発生してその
復旧の後に、試料の回収を行なう試料自動回収システム
に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体デバイスの製造ライン内で
基板の搬送エラーが発生したときに基板の復帰処理を行
なう技術しては、例えば特開平10−12702号公報
がある。この技術は、デバイス製造ライン内での基板の
処理状況を常時監視し、搬送エラーが発生したときに監
視している処理状況に基づいてデバイス製造ライン内に
存在する全ての基板について各々の基板が搬出された搬
出元格納部を判別して、全ての基板を判別された搬出元
格納部に搬送して回収し、この回収された後に、搬出元
格納部に回収された基板の処理を再開するもので、基板
の処理を再開する前に搬出元格納部に回収された基板の
うち処理済の基板については搬入先格納部に搬送するも
のである。なお、自動回収の前に、自動回収不可能な基
板が存在する場合には、オペレータの手作業によりその
基板を回収し、その後に復帰の指示を与えて自動回収す
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記技
術では、搬送エラーが発生したときに、監視している処
理状況に基づいてデバイス製造ライン内に存在する基板
の有無を判断しているが、この判断では実際にその場所
に基板が存在しているか否かを適確に判断することは困
難である。
【0004】又、自動回収の前に、自動回収不可能な基
板をオペレータの手作業により回収し、その後に復帰の
指示を与えて自動回収するというように、試料の自動回
収を人(オペレータ)が行なうかどうかの判断を自動回
収する前に行なっているために、人に対する負担が多く
なっている。
【0005】又、搬送エラーが発生したときに、監視し
ている処理状況に基づいて自動回収を行なっているが、
瞬時停止時等のマンマシンコントローラでの監視してい
る処理状況の記録ミスやマンマシンコントローラの故障
時には、自動回収に対処できなくなるおそれがある。
【0006】そこで本発明は、装置が停止してその復旧
の後に確実に試料の有無を判断できる試料自動回収シス
テムを提供することを目的とする。
【0007】又、本発明は、装置が停止してその復旧の
後に確実に試料の有無を判断し、人の手作業による回収
の手間を減らして自動的に試料を回収して無人化に貢献
できる試料自動回収システムを提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1記載による本発
明は、半導体デバイスを搬送部により吸着保持しながら
各工程間に搬送する半導体製造装置において、この半導
体製造装置が停止してからの復旧後に、前記搬送部や前
記工程においてそれぞれ吸着動作を試みる手段と、これ
ら吸着の可能又は不可能により前記搬送部や前記工程に
おけるそれぞれでの前記半導体デバイスの有無を判断す
る手段と、この有無判断において前記半導体デバイスが
有ると判断された場合にその半導体デバイスを前記搬送
部により自動回収する手段とを具備したことを特徴とす
る試料自動回収システムである。
【0009】請求項2記載による本発明は、試料を吸着
保持して位置合わせを行なう試料位置合わせ部と、前記
試料を吸着保持して前記試料の少なくとも欠陥の検査を
行なう試料検査部と、前記試料を試料保管部から取り出
して吸着保持し、前記試料を前記試料保管部と前記試料
位置合わせ部と前記試料検査部との間に搬送する試料搬
送部とからなる試料検査装置において、この試料検査装
置が停止してからの復旧後に、前記試料位置合わせ部と
前記試料検査部と前記試料搬送部においてそれぞれ吸着
動作を試みる手段と、これら吸着の可能又は不可能によ
り前記試料位置合わせ部と前記試料検査部と前記試料搬
送部とのそれぞれで前記試料の有無を判断する手段とを
具備したことを特徴とする試料自動回収システムであ
る。
【0010】請求項3記載による本発明は、請求項2記
載の試料自動回収システムにおいて、前記吸着動作を試
みたところ吸着不可能であれば、前記試料検査装置の検
査状況の記録から前記試料の有無を判断し、前記試料が
有ることになっていれば試料有りの報知を行ない、前記
試料が無いことになっていれば前記試料の無しと判断す
る手段を備えたことを特徴とする。
【0011】請求項4記載による本発明は、請求項2又
は3記載の試料自動回収システムにおいて、前記吸着動
作を試みたところ吸着可能で前記試料が有る場合、前記
試料検査装置の検査状況の記録から前記試料保管部にお
ける収納可能なスペースを確認し、当該スペースに前記
試料を前記試料搬送部を動作させて回収させる手段を備
えたことを特徴とする。
【0012】請求項5記載による本発明は、請求項4記
載の試料自動回収システムにおいて、前記前記試料保管
部に前記試料を回収できない場合にその旨を報知するこ
とを特徴とする。
【0013】請求項6記載による本発明は、請求項2乃
至5のうちいずれか1項記載の試料自動回収システムに
おいて、前記吸着動作を試みたところ吸着不可能であれ
ば、試料有無確認センサにより前記試料の有無を検出す
る手段を備えたことを特徴とする。
【0014】請求項7記載による本発明は、請求項2乃
至6のうちいずれか1記載の試料自動回収システムにお
いて、前記吸着動作を試みたところ吸着不可能であれ
ば、試料有無確認センサにより前記試料の有無を検出す
る手段と、この検出により前記試料が有れば、試料修正
用センサの検出信号に基づいて前記試料の姿勢のずれ量
を検出する手段と、前記基板を前記試料保管部に回収す
るときに前記基板を前記姿勢のずれ量に基づいて姿勢を
修正して前記試料保管部に収納する手段とを備えたこと
を特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
【0016】図1は本発明の試料自動回収システムを備
えた試料検査装置の全体構成図である。装置本体1に
は、試料保管部2が設けられている。この試料保管部2
は、例えば半導体ウエハやフラットディスプレイのガラ
ス基板などの半導体デバイスを含む吸着搬送可能な試料
3がを上下方向に所定間隔で複数の収納するカセットで
ある。
【0017】試料搬送部4は、ロボットハンド等により
試料3を吸着保持して試料保管部2と試料位置合わせ部
5と試料検査部6との相互間を搬送し、これら試料保管
部2と試料位置合わせ部5と試料検査部6とに対してそ
れぞれ試料3の受け渡しを行なうものである。
【0018】試料位置合わせ部5は、試料保管部2に揃
えられずに収納されている試料3を、試料検査部6に受
け渡すときに、試料3の向きや中心位置を合わせる機能
を有している。例えば試料3が半導体ウエハであれば、
この半導体ウエハのオリフラやノッチの位置及び半導体
ウエハの中心ずれを検出して、この検出結果に基づいて
半導体ウエハの向き中心を位置合わせを行なっている。
【0019】試料検査部6は、試料位置合わせ部5によ
り位置合わせされた試料3を試料搬送部4から受け取っ
て吸着保持し、この状態で試料3を顕微鏡を通してCC
Dカメラ等の撮像装置により撮像して試料3の拡大画像
を取得し、この拡大画像から試料3上の欠陥を検出する
機能を有している。又、この試料検査部6は、試料位置
合わせ部5により位置合わせされた試料3を試料搬送部
4から受け取って吸着保持し、この状態で試料3にライ
ン照明光を照射し、その回折光をラインセンサカメラ等
の撮像装置により撮像し、その画像から試料3上の欠陥
を検出するものであってもよい。
【0020】これら試料搬送部4のロボットハンドと試
料位置合わせ部5の回転テーブルと試料検査部6の試料
ホルダの各吸着部には、真空引き管9、10、11が接
続され、真空供給口7を介して真空源8が接続されてい
る。真空源8は、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と
試料検査部6とにおいて試料3を吸着保持するために必
要な吸引力となるように真空引きするものである。
【0021】これら真空引き管9、10、11には、そ
れぞれ真空センサ12、13、14が接続されている。
これら真空センサ12、13、14は、それぞれ試料搬
送部4、試料位置合わせ部5及び試料検査部6において
試料3の有無及び吸着不良を検出するためのもので、真
空引きの掛かる状態、すなわち試料3が吸着されている
ときオンの検出信号、試料3が吸着されていないとき
や、吸着不良のときにオフの検出信号を出力するものと
なる。
【0022】又、試料搬送部4、試料位置合わせ部5及
び試料検査部6には、それぞれ試料有無確認センサ1
5、16、17が設けられている。これら試料有無確認
センサ15、16、17は、試料搬送部4、試料位置合
わせ部5及び試料検査部6においてそれぞれ試料3が有
るか無いか又は試料3の位置ずれを検出するもので、例
えば反射センサ又は遮光センサが用いられている。
【0023】試料保管部3と試料搬送部4との間の搬送
路上には、自動修正用センサ18が設けられている。こ
の自動修正用センサ18は、検査が終了した試料3を試
料搬送部4により試料保管部2内に戻すときに試料3の
挿入姿勢を修正するためにその姿勢ずれを検出するもの
である。この自動修正用センサ18は、例えばラインセ
ンサが用いられている。この自動修正用センサ18によ
る検査結果に基づいて試料搬送部4のロボットハンドを
制御し、試料3が試料保管部2に正しく挿入できるよう
に少なくとも左右に対する中心ずれを修正する。
【0024】なお、この自動修正用センサ18は、例え
ば図2に示すように試料搬送部4の搬送路(試料3の搬
送路)上の両側にそれぞれセンサ19a、19bを配置
した構成にしてもよい。
【0025】さらに、この自動修正用センサ18と上記
試料有無確認センサ15とを兼用し、1つの自動修正・
試料有無確認センサとして構成してもよい。
【0026】装置コントローラ20は、試料検査装置の
動作全体を制御するもので、試料搬送部4、試料位置合
わせ部5及び試料検査部6に各種の制御指令を発すると
共に、これら試料搬送部4、試料位置合わせ部5及び試
料検査部6のシーケンスが動作状況及び検査状況を記録
し、かつ各真空センサ12、13、14から出力される
検出信号を取り込む機能を有している。
【0027】具体的には、吸着試み手段21は、本試料
検査装置が何らかの原因により停止してからの復旧する
際に、真空源8を動作させて試料搬送部4と試料位置合
わせ部5と試料検査部6とにおいてそれぞれ吸着動作を
試みさせる機能を有している。
【0028】試料有無手段22は、上記吸着試み手段2
1により各真空引き管9、10、11の図示しないバル
ブを開放し、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料
検査部6に対して吸着を試みたときの各真空センサ1
2、13、14から出力される検出信号を取り込み、こ
れら検出信号のオン(吸着可能)、オフ(吸着不可能又
は吸着不良)から試料搬送部4と試料位置合わせ部5と
試料検査部6とのそれぞれで試料3の有無を判断する機
能を有している。
【0029】検査状況手段23は、上記吸着試み手段2
1により吸着動作を試みたところ吸着不可能若しくは吸
着不良と判断されれば、試料検査装置の検査状況(検査
ログ)の記録から試料3の現在位置を確認し、試料搬送
部4、試料位置合わせ部5、試料検査部6に試料3が有
ることになっていれば試料有りの報知を行ない、試料3
が無いことになっていれば試料3の無しを判断する機能
を有している。
【0030】回収手段24は、検査状況手段23により
確認された位置に対応する真空引き管9、10、11の
バルブを上記吸着試み手段21により開放させて吸着動
作を試みたところ吸着可能で試料3の回収ができる場
合、試料検査装置の検査状況の記録から試料保管部2に
おける収納可能なスペースを確認し、当該スペースに試
料3を試料搬送部4を動作させて回収させる機能を有し
ている。
【0031】報知手段25は、上記回収手段24により
試料保管部2における収納可能なスペースへの試料3の
回収ができない場合、表示装置29や音声、ブザー等に
よりその旨を報知する機能を有している。
【0032】センサ確認手段26は、シーケンス動作状
況及び検査状況の記録から試料3の位置が判断でき、上
記吸着試み手段21により吸着動作を試みたところ吸着
不可能であれば、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と
試料検査部6とにそれぞれ設けられた各試料有無確認セ
ンサ15、16、17から出力される検出信号により試
料3の有無及び搬送位置(現在位置)を検出する機能を
有している。
【0033】位置ずれ検出手段27は、各試料有無確認
センサ15、16、17から出力される検出信号により
試料3が有ると判断されれば、自動修正用センサ18の
検出信号に基づいて試料3の姿勢のずれ量(XYZ方
向)を求める機能を有している。
【0034】位置修正手段28は、位置ずれ検出手段2
7で求められた試料3の姿勢のずれ量に基づいて試料搬
送部4のロボットアームを制御し、試料3の搬入姿勢を
修正して試料3を試料保管部2に収納する機能を有して
いる。
【0035】次に、上記の如く構成された装置の通常の
動作について説明する。
【0036】試料搬送部4は、試料保管部2の前方に移
動して停止し、この試料保管部2から未検査の試料3を
取り出して吸着保持する。この試料搬送部4は、試料3
を吸着保持した状態で移動し、試料位置合わせ部5の前
方に到達し、試料3をこの試料位置合わせ部5に受け渡
す。
【0037】この試料位置合わせ部5は、試料3を受け
取って吸着保持し、この試料3を試料検査部6に受け渡
すときの向きを揃えるために試料3の向きを位置合わせ
する。例えば試料3が半導体ウエハであれば、この半導
体ウエハのオリフラやノッチや中心ずれを検出し、試料
3を搭載した回転テーブルを回転させて位置合わせす
る。又、半導体ウエハの中心合わせは、試料位置合わせ
部5の回転テーブルをX−Y方向に移動させるか、若し
くは試料搬送部4のロボットハンドをX−Y方向に移動
させることで中心位置を合せる。
【0038】この試料位置合わせが終了すると、試料搬
送部4は、試料位置合わせ部5から試料3を取り出して
吸着保持し、この状態で移動して試料検査部6の前方に
到達し、試料3をこの試料検査部6に受け渡す。
【0039】この試料検査部6は、試料搬送部4から試
料3を受け取って吸着保持し、この状態で試料3を例え
ば対物レンズを通してCCDカメラ等の撮像装置により
撮像して試料3の拡大画像を取得し、この拡大画像から
試料3上の欠陥を検出する。
【0040】この試料3の検査が終了すると、試料搬送
部4は、試料検査部6から試料3を取り出して吸着保持
し、この状態で移動して試料保管部2の前方に到達し、
試料3をこの試料保管部2に戻す。
【0041】これ以降、上記同様に、試料搬送部4によ
り試料保管部2から未検査の試料3を取り出して吸着保
持して移動し、試料3を試料位置合わせ部5に受け渡し
てここで試料3の向きや中心を位置を合わせ、再び試料
搬送部4により試料3を吸着保持し試料検査部6に受け
渡し、ここで試料3上の欠陥を検出し、この後、試料搬
送部4により試料3を取り出して試料保管部2に戻すこ
とを繰り返す。
【0042】次に、搬送エラー等が発生して装置全体が
停止した際の試料3の各回収方法について説明する。
【0043】(a)先ず、第1の回収方法について図3
に示す第1の回収フローチャートに従って説明する。
【0044】上記のような装置の通常の動作中に搬送エ
ラー等が発生して装置全体が停止し、その復旧後に、装
置コントローラ20の吸着試み手段21は、ステップ#
1において、真空源8を動作させ、試料搬送部4と試料
位置合わせ部5と試料検査部6とにおいてそれぞれ試料
3を吸着動作を試みる。
【0045】この吸着動作中に各真空センサ12、1
3、14は、それぞれ試料搬送部4、試料位置合わせ部
5及び試料検査部6において真空引きの掛かる状態、す
なわち試料3が吸着されているときオンの検出信号、試
料3が吸着されていないときにオフの検出信号を出力す
る。
【0046】次に、装置コントローラ20の試料有無手
段22は、ステップ#2、#3及び#4において略同時
又は順番に、各真空センサ12、13、14から出力さ
れる検出信号を取り込み、これら検出信号のオン(吸着
可能)、オフ(吸着不可能)に基づいて試料搬送部4と
試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおけるそれぞれ
の試料3の有無を判断する。
【0047】すなわち、試料有無手段22は、試料搬送
部4に対応する真空センサ12から出力される検出信号
がオンであれば、ステップ#5において試料搬送部4上
に試料3が有ると判断し、真空センサ12から出力され
る検出信号がオフであれば、ステップ#6において試料
搬送部4上に試料3が無いと判断する。
【0048】又、試料有無手段22は、試料位置合わせ
部5に対応する真空センサ13から出力される検出信号
がオンであれば、ステップ#7において試料位置合わせ
部5上に試料3が有ると判断し、真空センサ12から出
力される検出信号がオフであれば、ステップ#8におい
て試料位置合わせ部5上に試料3が無いと判断する。
【0049】これと共に、試料有無手段22は、試料検
査部6に対応する真空センサ14から出力される検出信
号がオンであれば、ステップ#9において試料検査部6
上に試料3が有ると判断し、真空センサ12から出力さ
れる検出信号がオフであれば、ステップ#10において
試料検査部6上に試料3が無いと判断する。
【0050】次に、装置コントローラ20は、ステップ
#11で、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検
査部6のいずれかの位置に試料3が有ると判断された結
果を表示装置29に表示してオペレータに報知する。こ
の報知により指定された場所、すなわち試料搬送部4、
試料位置合わせ部5又は試料検査部6にオペレータが赴
いて試料3を回収する。この場合、表示装置29には、
半導体ウエハを搬送経路を模式的に表示し、この経路図
上に試料3の現在位置を点滅表示又は赤色等の色表示で
示すと、半導体ウエハの位置を容易に確認でき望まし
い。
【0051】(b)次に、第2の回収方法について図4
に示す第2の回収フローチャートに従って説明する。な
お、図3に示すステップと同一のステップには、同一ス
テップ符号を付してその詳しい説明は省略する。この第
2の回収方法において第1の回収方法と異なるところ
は、ステップ#20〜#23を加えたところである。
【0052】装置の通常の動作中に搬送エラー等が発生
して装置全体が停止し、その復旧後に、装置コントロー
ラ20の吸着試み手段21は、ステップ#1において、
真空源8を動作させ、試料搬送部4と試料位置合わせ部
5と試料検査部6とにおいてそれぞれ試料3を吸着動作
を試みる。
【0053】そして、装置コントローラ20の試料有無
手段22は、ステップ#2、#3及び#4において略同
時又は順番に、各真空センサ12、13、14から出力
される検出信号を取り込み、これら検出信号のオン(吸
着可能)、オフ(吸着不可能)に基づいて試料搬送部4
と試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおけるそれぞ
れの試料3の有無を判断する。
【0054】この判断の結果、試料3が有れば、この報
知により表示装置29に表示された搬送経路上にて指定
された試料搬送部4、試料位置合わせ部5又は試料検査
部6にオペレータが赴いて試料3を回収する。
【0055】一方、試料搬送部4と試料位置合わせ部5
と試料検査部6とにそれぞれ対応する各真空センサ1
2、13、14から出力される検出信号がオフ(吸着不
可能)であれば、装置コントローラ20の検査状況手段
23は、ステップ#20、#21、#21において略同
時又は順番に、装置コントローラ20自身で記録してい
る検査状況の記録から試料搬送部4と試料位置合わせ部
5と試料検査部6とにおける各試料3の有無を判断し、
試料3が有ることになっていれば試料有りの警告等の報
知を行ない(ステップ#23)、記試料が無いことにな
っていれば試料3の無しと判断する(ステップ#6、#
8、#10)。
【0056】このうち試料3が有ると判断された場合
(ステップ#23)、試料有りの警告等の報知を行なっ
て、オペレータが試料3の有無を確認することになる。
【0057】(c)次に、第3の回収方法について図5
に示す第3の回収フローチャートに従って説明する。な
お、図4に示すステップと同一のステップには、同一ス
テップ符号を付してその詳しい説明は省略する。この第
3の回収方法の第2の回収方法と異なるところは、ステ
ップ#30〜#32を加えたところである。
【0058】装置の通常の動作中に搬送エラー等が発生
して装置全体が停止し、その復旧後に、真空源8を動作
させ、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部
6とにおいてそれぞれ試料3を吸着動作を試みる。そし
て、各真空センサ12、13、14から出力される検出
信号のオン(吸着可能)、オフ(吸着不可能)から試料
搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおけ
るそれぞれの試料3の有無を判断する。
【0059】この判断の結果、試料搬送部4と試料位置
合わせ部5と試料検査部6とにおいて試料3が有れば、
装置コントローラ20の回収手段24は、ステップ#3
0において、装置コントローラ20自身で記録している
検査状況の記録から試料保管部2における収納可能なス
ペースを確認する。
【0060】次に、回収手段24は、ステップ#31に
おいて、試料搬送部4を動作させて試料位置合わせ部5
又は試料検査部6から試料3を回収させる指令を試料搬
送部4に発する。これにより、試料搬送部4は、試料位
置合わせ部5と試料検査部6とに有る試料3の回収動
作、例えば試料位置合わせ部5の手前に移動してこの試
料位置合わせ部5から試料3を取り出して吸着保持し、
この状態で試料保管部2の手前まで移動し、試料3を検
査状況の記録から判断された試料保管部2における収納
可能なスペース(元の収納位置)に収納する。続いて、
試料搬送部4は、試料検査部6の手前に移動してこの試
料検査部6から試料3を取り出して吸着保持し、この状
態で試料保管部2の手前まで移動し、試料3を検査状況
の記録から判断された試料保管部2における収納可能な
スペースに収納する。
【0061】何らかの原因で試料3を回収できない場合
には、装置コントローラ20の報知手段25は、ステッ
プ#32において、表示装置29や音声、ブザー等によ
りその旨を報知し、オペレータにより試料3を手作業で
回収するように促す。
【0062】(d)次に、第4の回収方法について図6
に示す第4の回収フローチャートに従って説明する。な
お、図5に示すステップと同一のステップには、同一ス
テップ符号を付してその詳しい説明は省略する。この第
4の回収方法の第3の回収方法と異なるところは、ステ
ップ#40〜#42を加えたところである。
【0063】装置の通常の動作中に搬送エラー等が発生
して装置全体が停止し、その復旧後に、真空源8を動作
させ、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部
6とにおいてそれぞれ試料3を吸着動作を試みる。そし
て、各真空センサ12、13、14から出力される検出
信号のオン(吸着可能)、オフ(吸着不可能)から試料
搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおけ
るそれぞれの試料3の有無を判断する。
【0064】この判断の結果、試料搬送部4と試料位置
合わせ部5と試料検査部6とにおいて試料3が無けれ
ば、装置コントローラ20のセンサ確認手段26は、ス
テップ#40、#41、#42において略同時又は順番
に、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部6
とにそれぞれ設けられた各試料有無確認センサ15、1
6、17から出力される検出信号により試料3の有無を
検出する。
【0065】このとき、各試料有無確認センサ15、1
6、17は、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料
検査部6とにおいてそれぞれ試料3の有無を検出し、試
料3が有ればオンの検出信号を出力し、試料3が無けれ
ばオフの検出信号を出力しているので、試料搬送部4と
試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおける試料3の
有無が判断される。
【0066】この判断の結果、試料搬送部4と試料位置
合わせ部5と試料検査部6とにおいて試料3が有れば、
ステップ#9から#30に移り、装置コントローラ20
自身で記録している検査状況の記録から試料保管部2に
おける収納可能なスペースを確認し、次のステップ#3
1において、試料搬送部4を動作させて試料位置合わせ
部5又は試料検査部6から試料3を回収させる指令を試
料搬送部4に発し、この試料搬送部4により試料位置合
わせ部5と試料検査部6とに有る試料3を回収動作させ
る。
【0067】一方、上記ステップ#40、#41、#4
2の判断の結果、各試料有無確認センサ15、16、1
7から出力される検出信号がオフであれば、装置コント
ローラ20の検査状況手段23は、ステップ#20、#
21、#22において略同時又は順番に、装置コントロ
ーラ20自身で記録している検査状況の記録から試料搬
送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおける
各試料3の有無を判断し、試料3が有ることになってい
ればオペレータ(人)によって確認する旨の警告等の報
知を行ない(ステップ#23)、記試料が無いことにな
っていれば試料3の無しを判断する(ステップ#6、#
8、#10)。
【0068】(e)次に、第5の回収方法について図7
に示す第5の回収フローチャートに従って説明する。な
お、図6に示すステップと同一のステップには、同一ス
テップ符号を付してその詳しい説明は省略する。この第
5の回収方法の第4の回収方法と異なるところは、ステ
ップ#50〜#52を加えたところである。
【0069】装置の通常の動作中に搬送エラー等が発生
して装置全体が停止し、その復旧後に、真空源8を動作
させ、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部
6とにおいてそれぞれ試料3を吸着動作を試みる。そし
て、各真空センサ12、13、14から出力される検出
信号のオン(吸着可能)、オフ(吸着不可能)から試料
搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおけ
るそれぞれの試料3の有無を判断する。
【0070】この判断の結果、試料搬送部4と試料位置
合わせ部5と試料検査部6とにおいて試料3が無けれ
ば、装置コントローラ20のセンサ確認手段26は、ス
テップ#40、#41、#42において略同時に、試料
搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部6とにそれ
ぞれ設けられた各試料有無確認センサ15、16、17
から出力される検出信号により試料3の有無を検出す
る。
【0071】このとき、各試料有無確認センサ15、1
6、17は、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料
検査部6とにおいてそれぞれ試料3の有無を検出し、試
料3が有ればオンの検出信号を出力し、試料3が無けれ
ばオフの検出信号を出力しているので、試料搬送部4と
試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおける試料3の
有無が判断される。
【0072】この判断の結果、試料搬送部4と試料位置
合わせ部5と試料検査部6とにおいて試料3が有れば、
ステップ#5、#7、#9からステップ#50に移り、
装置コントローラ20の位置ずれ検出手段27は、自動
修正用センサ18の検出信号に基づいて試料3の姿勢の
所定の姿勢とのずれ量を検出する。
【0073】すなわち、このとき試料搬送部4は、試料
搬送部4自身に吸着保持している試料3、試料位置合わ
せ部5から受け取った試料3又は試料検査部6から受け
取った試料3を試料保管部2に戻すために、この試料保
管部2に向かって移動し、自動修正用センサ18の例え
ば上方を通過する。
【0074】このとき自動修正用センサ18は、例えば
ラインランサを用いたものであり、例えば当該自動修正
用センサ18を試料3で遮光したときの試料3の両端位
置に基づいて試料3の姿勢(XYZ方向、回転方向)を
検出し、所定の姿勢からの位置ずれ量を求める。
【0075】次に、回収手段24は、ステップ#30に
おいて、装置コントローラ20自身で記録している検査
状況の記録から試料保管部2における収納可能なスペー
スを確認する。
【0076】次に、回収手段24は、ステップ#51に
おいて、試料搬送部4を動作させて回収させる指令を試
料搬送部4に発し、この試料搬送部4により試料位置合
わせ部5と試料検査部6とに有る試料3を回収動作させ
る。
【0077】このとき試料搬送部4は、試料3を試料保
管部2に収納するとき、位置修正手段28により自動修
正用センサ18の検出信号に基づいて求められた試料3
の姿勢のずれ量に基づいて姿勢を修正して試料3を試料
保管部2に収納する。
【0078】そして、何らかの原因で試料3を回収でき
ない場合には、装置コントローラ20の報知手段25
は、ステップ#32において、表示装置29や音声、ブ
ザー等によりその旨を報知し、オペレータにより試料3
を手作業で回収するように促す。
【0079】そして、装置コントローラ20は、ステッ
プ#52において、試料3の自動回収後、検査状況の記
録から試料3の検査状況を判断し、自動回収した未検査
の試料3から検査を再開する。
【0080】このように上記一実施の形態によれば、装
置の通常の動作中に搬送エラー等が発生して装置全体が
停止し、その復旧後に、試料搬送部4と試料位置合わせ
部5と試料検査部6とにおいてそれぞれ試料3を吸着動
作を試み、各真空センサ12、13、14から出力され
る検出信号のオン(吸着可能)、オフ(吸着不可能)か
ら試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査部6と
におけるそれぞれの試料3の有無を判断するので、装置
が停止してその復旧の後に確実に試料搬送部4と試料位
置合わせ部5と試料検査部6とにおける試料3の有無を
判断でき、これら試料3の有る試料搬送部4、試料位置
合わせ部5又は試料検査部6から順次に試料3を試料搬
送部4により回収でき、オペレータ(人)の手作業によ
る回収の手間を減らして自動的に試料3を回収して無人
化に貢献できる。
【0081】又、装置コントローラ20自身で記録して
いる検査状況の記録から試料搬送部4と試料位置合わせ
部5と試料検査部6とにおける各試料3の有無を判断す
るので、試料搬送部4と試料位置合わせ部5と試料検査
部6とにおける試料3の有無をより確実に判断できる。
【0082】又、試料検査装置の検査状況の記録から試
料保管部2における収納可能なスペースを確認し、当該
スペースに試料3を試料搬送部4を動作させて回収させ
るので、試料保管部2における収納可能なスペースを自
動的に確認して回収できる。
【0083】又、試料保管部2における収納可能なスペ
ースへの試料3の回収ができない場合、表示装置29や
音声、ブザー等によりその旨を報知するので、かかる場
合にはオペレータによる手作業により確実に試料3を回
収できる。
【0084】さらに、試料3の吸着動作の試みによる試
料3の有無の判断に併用して、試料搬送部4と試料位置
合わせ部5と試料検査部6とにそれぞれ設けられた各試
料有無確認センサ15、16、17から出力される検出
信号により試料3の有無を検出するので、試料搬送部4
と試料位置合わせ部5と試料検査部6とにおける試料3
の有無の判断の確実性をより向上できる。
【0085】又、試料3を回収するときに自動修正用セ
ンサ18の検出信号に基づいて試料3の姿勢のずれ量を
検出し、この姿勢のずれ量に基づいて姿勢を修正して試
料3を試料保管部2に収納するので、試料保管部2に試
料3を収納するときに、試料3が試料保管部2に接触す
ることがなく、かつ試料保管部2内に試料3を一定姿勢
に整列して収納できる。
【0086】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない
範囲で種々に変形することが可能である。
【0087】さらに、上記実施形態には、種々の段階の
発明が含まれており、開示されている複数の構成要件に
おける適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾
つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとす
る課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で
述べられている効果が得られる場合には、この構成要件
が削除された構成が発明として抽出できる。
【0088】例えば、試料3としては、半導体デバイス
として半導体ウエハや液晶ディスプレイ基板の検査にも
適用できる。
【0089】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、装
置が停止してその復旧の後に確実に試料の有無を判断で
きる試料自動回収システムを提供できる。
【0090】又、本発明によれば、装置が停止してその
復旧の後に確実に試料の有無を判断し、人の手作業によ
る回収の手間を減らして自動的に試料を回収して無人化
に貢献できる試料自動回収システムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる試料自動回収システムの一実施
の形態を備えた試料検査装置を示す全体構成図。
【図2】本発明に係わる試料自動回収システムの一実施
の形態における自動修正用センサの別の構成を示す図。
【図3】本発明に係わる試料自動回収システムの一実施
の形態における第1の回収フローチャート。
【図4】本発明に係わる試料自動回収システムの一実施
の形態における第2の回収フローチャート。
【図5】本発明に係わる試料自動回収システムの一実施
の形態における第3の回収フローチャート。
【図6】本発明に係わる試料自動回収システムの一実施
の形態における第4の回収フローチャート。
【図7】本発明に係わる試料自動回収システムの一実施
の形態における第5の回収フローチャート。
【符号の説明】
1:装置本体 2:試料保管部 3:試料 4:試料搬送部 5:試料位置合わせ部 6:試料検査部 7:真空供給口 8:真空源 9,10,11:真空引き管 12,13,14:真空センサ 15,16,17:試料有無確認センサ 18:自動修正用センサ 20:装置コントローラ 21:吸着試み手段 22:試料有無手段 23:検査状況手段 24:回収手段 25:報知手段 26:センサ確認手段 27:位置ずれ検出手段 28:位置修正手段 29:表示装置

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体デバイスを搬送部により吸着保持
    しながら各工程間に搬送する半導体製造装置において、 この半導体製造装置が停止してからの復旧後に、前記搬
    送部や前記工程においてそれぞれ吸着動作を試みる手段
    と、 これら吸着の可能又は不可能により前記搬送部や前記工
    程におけるそれぞれでの前記半導体デバイスの有無を判
    断する手段と、 この有無判断において前記半導体デバイスが有ると判断
    された場合にその半導体デバイスを前記搬送部により自
    動回収する手段と、を具備したことを特徴とする試料自
    動回収システム。
  2. 【請求項2】 試料を吸着保持して位置合わせを行なう
    試料位置合わせ部と、前記試料を吸着保持して前記試料
    の少なくとも欠陥の検査を行なう試料検査部と、前記試
    料を試料保管部から取り出して吸着保持し、前記試料を
    前記試料保管部と前記試料位置合わせ部と前記試料検査
    部との間に搬送する試料搬送部とからなる試料検査装置
    において、 この試料検査装置が停止してからの復旧後に、前記試料
    位置合わせ部と前記試料検査部と前記試料搬送部におい
    てそれぞれ吸着動作を試みる手段と、 これら吸着の可能又は不可能により前記試料位置合わせ
    部と前記試料検査部と前記試料搬送部とのそれぞれで前
    記試料の有無を判断する手段と、を具備したことを特徴
    とする試料自動回収システム。
  3. 【請求項3】 前記吸着動作を試みたところ吸着不可能
    であれば、前記試料検査装置の検査状況の記録から前記
    試料の有無を判断し、前記試料が有ることになっていれ
    ば試料有りの報知を行ない、前記試料が無いことになっ
    ていれば前記試料の無しと判断する手段、を備えたこと
    を特徴とする請求項2記載の試料自動回収システム。
  4. 【請求項4】 前記吸着動作を試みたところ吸着可能で
    前記試料が有る場合、前記試料検査装置の検査状況の記
    録から前記試料保管部における収納可能なスペースを確
    認し、当該スペースに前記試料を前記試料搬送部を動作
    させて回収させる手段、を備えたことを特徴とする請求
    項2又は3記載の試料自動回収システム。
  5. 【請求項5】 前記前記試料保管部に前記試料を回収で
    きない場合にその旨を報知することを特徴とする請求項
    4記載の試料自動回収システム。
  6. 【請求項6】 前記吸着動作を試みたところ吸着不可能
    であれば、試料有無確認センサにより前記試料の有無を
    検出する手段、を備えたことを特徴とする請求項2乃至
    5のうちいずれか1項記載の試料自動回収システム。
  7. 【請求項7】 前記吸着動作を試みたところ吸着不可能
    であれば、試料有無確認センサにより前記試料の有無を
    検出する手段と、 この検出により前記試料が有れば、試料修正用センサの
    検出信号に基づいて前記試料の姿勢のずれ量を検出する
    手段と、 前記基板を前記試料保管部に回収するときに前記基板を
    前記姿勢のずれ量に基づいて姿勢を修正して前記試料保
    管部に収納する手段と、を備えたことを特徴とする請求
    項2乃至6のうちいずれか1記載の試料自動回収システ
    ム。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100383919C (zh) * 2005-01-24 2008-04-23 东京毅力科创株式会社 基板处理装置的复原处理方法、基板处理装置
CN110954801A (zh) * 2018-09-27 2020-04-03 精工爱普生株式会社 电子部件输送装置及电子部件检查装置
KR20200071672A (ko) * 2018-12-11 2020-06-19 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 검사 장치, 및 검사 방법

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