JP2002268576A - Image display device, manufacturing method for the device and image display driver ic - Google Patents

Image display device, manufacturing method for the device and image display driver ic

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JP2002268576A
JP2002268576A JP2001371495A JP2001371495A JP2002268576A JP 2002268576 A JP2002268576 A JP 2002268576A JP 2001371495 A JP2001371495 A JP 2001371495A JP 2001371495 A JP2001371495 A JP 2001371495A JP 2002268576 A JP2002268576 A JP 2002268576A
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JP
Japan
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image display
display device
transistor
receiving element
electrode
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JP2001371495A
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Japanese (ja)
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Teru Nishitani
輝 西谷
Mutsumi Yamamoto
睦 山本
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image display device in which unwanted radiation is reduced and the number of terminals of a data signal input terminal is also reduced, to provide a manufacturing method for the device and to provide an image display driver IC. SOLUTION: In the image display device, signals are transmitted to an image display device IC3 from a peripheral substrate 5 and an image is displayed by driving a plurality of transistors arranged in a matrix manner by the IC3. A light emitting element 7 is provided on the substrate 5 to transmit optical signals. A light receiving element 8 is provided on the IC3 to receive the optical signals. A portion of the IC3, a portion of the transistors arranged in a matrix manner and a portion of the element 8 are simultaneously formed in the same process.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、画像表示装置、画
像表示装置の製造方法及び画像表示ドライバICに関す
るものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to an image display device, a method of manufacturing the image display device, and an image display driver IC.

【0002】[0002]

【従来の技術】画像表示装置として最も一般的な液晶表
示装置の例について説明する。アクティブマトリクス型
の液晶表示装置では、複数の画素がマトリクス状に配置
された画像表示部が設けられている。画像表示部は、2
枚の基板と、上記基板間に封入された液晶により形成さ
れている。画素毎に液晶に電場を発生させるため、一方
の基板には各画素に対応する画素電極が形成されてお
り、他方の基板には各画素電極と対面するように対向電
極が形成されている。
2. Description of the Related Art An example of a liquid crystal display device which is the most general image display device will be described. In an active matrix liquid crystal display device, an image display unit in which a plurality of pixels are arranged in a matrix is provided. The image display unit is 2
It is formed of a single substrate and liquid crystal sealed between the substrates. In order to generate an electric field in the liquid crystal for each pixel, a pixel electrode corresponding to each pixel is formed on one substrate, and a counter electrode is formed on the other substrate so as to face each pixel electrode.

【0003】画素電極が形成された基板には、各画素を
駆動するための複数の走査信号線とデータ信号線とが互
いに交差するように設けられている。また、画素電極が
形成された基板には、走査信号線とデータ信号線との各
交差部分において、画素電極のスイッチング機能を有す
る薄膜トランジスタ(以下「TFT」という)が形成さ
れている。なお、以降において画素電極が形成された基
板を「アレイ基板」といい、対向電極が形成された基板
を「対向基板」という。
A plurality of scanning signal lines for driving each pixel and data signal lines are provided on a substrate on which pixel electrodes are formed so as to cross each other. Further, a thin film transistor (hereinafter, referred to as a “TFT”) having a function of switching a pixel electrode is formed at each intersection of a scanning signal line and a data signal line on the substrate on which the pixel electrode is formed. Hereinafter, the substrate on which the pixel electrodes are formed is referred to as “array substrate”, and the substrate on which the counter electrodes are formed is referred to as “counter substrate”.

【0004】各画素では、画像信号によって走査信号線
に走査信号が印加され、この走査信号によりTFTがO
N/OFF制御される。また、画像信号によってデータ
信号線にデータ信号が印加される。即ち、TFTのON
/OFF制御を行なう走査信号とデータ信号とによって
画素毎に液晶が制御され、これによって各画素が点灯
し、結果、画像表示部において画像が表示される。
In each pixel, a scanning signal is applied to a scanning signal line by an image signal, and a TFT is turned on by the scanning signal.
N / OFF control is performed. Further, a data signal is applied to the data signal line by the image signal. That is, turning on the TFT
The liquid crystal is controlled for each pixel by the scanning signal and the data signal for performing the / OFF control, whereby each pixel is turned on, and as a result, an image is displayed on the image display unit.

【0005】また、液晶表示装置には、走査信号線を駆
動する走査ドライバとデータ信号線を駆動するデータド
ライバとが設けられている。この各ドライバはICで構
成されており、TFTを駆動するための駆動回路を有し
ている。なお、以降において走査ドライバを構成するI
Cとデータドライバを構成するICとを合わせて「画像
表示ドライバIC」という。
Further, the liquid crystal display device is provided with a scanning driver for driving the scanning signal lines and a data driver for driving the data signal lines. Each of these drivers is constituted by an IC, and has a driving circuit for driving the TFT. It should be noted that, hereinafter, I
C and the IC constituting the data driver are collectively referred to as “image display driver IC”.

【0006】画像表示ドライバICと画像表示部とを接
続する方式としては、図17に示すTAB(Tape Autom
ated bonding)方式と図18に示すCOG(Chip On Gl
ass)方式とが知られている。
As a method for connecting the image display driver IC and the image display unit, a TAB (Tape Automated) shown in FIG.
ated bonding) and COG (Chip On Gl
ass) method is known.

【0007】図17は、画像表示ドライバICがTAB
方式によって接続された従来の液晶表示装置を示す図で
ある。図17において、1はアレイ基板、2は対向基
板、3は画像表示ドライバICである。アレイ基板1と
対向基板2との間には液晶(図示せず)が封入されてお
り、液晶を封入しているアレイ基板1の領域、液晶、対
向基板2とで構成された部分が画面表示部となる。
FIG. 17 shows a case where the image display driver IC is TAB.
FIG. 3 is a diagram showing a conventional liquid crystal display device connected by a method. In FIG. 17, 1 is an array substrate, 2 is a counter substrate, and 3 is an image display driver IC. Liquid crystal (not shown) is sealed between the array substrate 1 and the opposing substrate 2, and a portion of the array substrate 1 enclosing the liquid crystal, the liquid crystal, and the opposing substrate 2 is displayed on a screen. Department.

【0008】図17示すように、TAB方式による接続
では、フレキシブルテープに画像表示ドライバIC3を
ボンディングして構成したTCP(Tape Carrier Packa
ge)4が用いられている。TCP4は、アレイ基板1の
外周近傍に設けられた接続部1a〜1eに、熱圧着によ
り電気的に接続されている。5は周辺基板である。
As shown in FIG. 17, in connection by the TAB method, a TCP (Tape Carrier Packa) formed by bonding an image display driver IC 3 to a flexible tape is used.
ge) 4 is used. The TCP 4 is electrically connected to the connection portions 1 a to 1 e provided near the outer periphery of the array substrate 1 by thermocompression. Reference numeral 5 denotes a peripheral substrate.

【0009】図18は、画像表示ドライバICがCOG
方式によって接続された従来の液晶表示装置を示す図で
ある。なお、図18において用いている符号のうち図1
7においても用いられているものは、図17と同様のも
のを示している。
FIG. 18 shows that the image display driver IC is COG
FIG. 3 is a diagram showing a conventional liquid crystal display device connected by a method. In addition, among the reference numerals used in FIG.
7 are the same as those in FIG.

【0010】図18に示すように、COG方式による接
続では、画像表示ドライバIC3はガラス基板1の外周
近傍に直接実装される。画像表示ドライバICの各端子
は導電性ペーストによって走査信号線又はデータ信号線
に電気的に接続されている。6は周辺基板5と画像表示
ドライバIC3とを接続するためのコネクターであり、
フレキシブルテープによって形成されている。
As shown in FIG. 18, in connection by the COG method, the image display driver IC 3 is directly mounted near the outer periphery of the glass substrate 1. Each terminal of the image display driver IC is electrically connected to a scanning signal line or a data signal line by a conductive paste. Reference numeral 6 denotes a connector for connecting the peripheral substrate 5 and the image display driver IC 3,
It is formed by a flexible tape.

【0011】ところで、近年、パーソナルコンピュータ
用の液晶表示装置は、自然画に近い画像を表現するため
に多色化、高解像度化が進み、入力データビット数はよ
り多くなる傾向にある。そのため、周辺基板5に接続さ
れる画像表示ドライバIC3の入力端子の数も増加する
傾向にある。
In recent years, liquid crystal display devices for personal computers have become more multicolored and have higher resolution in order to represent images close to natural images, and the number of input data bits tends to increase. Therefore, the number of input terminals of the image display driver IC 3 connected to the peripheral substrate 5 also tends to increase.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかし、入力端子の数
が増加すると、入力端子間のピッチが減少するため、入
力端子と周辺基板5との接続がより困難となる。また、
各入力端子と周辺基板5からの接続線との位置合わせに
精度が要求される。更に、機械的接続では機械的なスト
レスに起因する接続不良が増大してしまう。
However, when the number of input terminals increases, the pitch between the input terminals decreases, so that the connection between the input terminals and the peripheral substrate 5 becomes more difficult. Also,
Accuracy is required for alignment between each input terminal and a connection line from the peripheral board 5. Further, in the case of mechanical connection, connection failures due to mechanical stress increase.

【0013】また、多色化、高解像度化により、入力信
号の周波数が増加する傾向にあるため、主に、周辺基板
5と画像表示ドライバIC3とを接続するフレキシブル
テープからノイズが他の機器へ輻射される問題(EM
I)や、他の機器がノイズ成分を拾ってしまう問題(E
MS)が増加している。
Since the frequency of the input signal tends to increase due to the increase in the number of colors and the increase in resolution, noise is mainly transmitted from the flexible tape connecting the peripheral substrate 5 and the image display driver IC 3 to other devices. Radiated problem (EM
I) and the problem that other devices pick up noise components (E
MS) is increasing.

【0014】本発明は、このような問題点に鑑みてなさ
れており、不要輻射を低減し、データ信号入力端子の端
子数を低減することができる画像表示装置、その製造方
法及び画像表示ドライバICを提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the foregoing problems, and has been made in view of the above circumstances, and is capable of reducing unnecessary radiation and reducing the number of data signal input terminals, a method of manufacturing the same, and an image display driver IC. The purpose is to provide.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1の画像表示装置は、周辺回路から駆動
回路に信号を送信し、前記駆動回路によってマトリック
ス状に配置された複数のトランジスタを駆動して画像を
表示する画像表示装置であって、前記周辺回路は、前記
信号を光信号にして送信するように構成されており、前
記駆動回路は、前記光信号を受信するための受光素子を
有していることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a first image display device of the present invention transmits a signal from a peripheral circuit to a driving circuit, and a plurality of signals are arranged in a matrix by the driving circuit. An image display device that displays an image by driving a transistor of the image display device, wherein the peripheral circuit is configured to transmit the signal as an optical signal, and the driving circuit receives the optical signal. Characterized in that the light-receiving element is provided.

【0016】上記第1の画像表示装置において、前記駆
動回路及び前記トランジスタのうち少なくとも一方の一
部と、前記受光素子の一部又は全部とは、同一工程によ
って形成できる。具体的には、前記受光素子と前記トラ
ンジスタとが、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不
純物注入領域及び電極を設けて形成されている場合に、
前記受光素子の電極と前記トランジスタの電極とを、前
記受光素子の不純物注入領域の一部又は全部と前記トラ
ンジスタの不純物注入領域の一部又は全部とを、又は前
記受光素子の前記絶縁膜と前記トランジスタの絶縁膜と
を同一工程によって形成できる。
In the first image display device, a part of at least one of the drive circuit and the transistor and a part or all of the light receiving element can be formed by the same process. Specifically, when the light receiving element and the transistor are formed on the same substrate by providing at least an insulating film, an impurity implantation region, and an electrode,
The electrode of the light receiving element and the electrode of the transistor, part or all of the impurity implantation region of the light receiving element and part or all of the impurity implantation region of the transistor, or the insulating film of the light receiving element and The insulating film of the transistor can be formed in the same step.

【0017】また、上記第1の画像表示装置は太陽電池
を有することもでき、この場合は、前記駆動回路の一部
と、前記トランジスタの一部と、前記受光素子の一部又
は全部と、前記太陽電池の一部又は全部とは、同一工程
によって形成できる。
Further, the first image display device may include a solar cell. In this case, a part of the drive circuit, a part of the transistor, a part or all of the light receiving element, Some or all of the solar cells can be formed by the same process.

【0018】上記第1の画像表示装置は、前記駆動回路
が光信号を前記周辺回路に送信するための発光素子を有
し、前記周辺回路が前記駆動回路からの光信号を受信す
るための受光素子を有している態様とすることができ
る。この場合、前記駆動回路から送信される光信号は、
タブレット位置情報、信号同期情報及び周辺輝度情報う
ち少なくとも一つを含むことができる。
In the first image display device, the driving circuit has a light emitting element for transmitting an optical signal to the peripheral circuit, and the peripheral circuit has a light receiving element for receiving an optical signal from the driving circuit. An embodiment having an element can be employed. In this case, the optical signal transmitted from the driving circuit is
It may include at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information.

【0019】また、この態様においては、前記駆動回路
及び前記トランジスタのうち少なくとも一方の一部と、
前記発光素子の一部又は全部とは、同一工程によって形
成できる。具体的には、前記発光素子と前記トランジス
タとが、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注
入領域及び電極を設けて形成されている場合に、前記発
光素子の電極と前記トランジスタの電極とを、又は前記
発光素子の絶縁膜と前記トランジスタの絶縁膜とを同一
工程によって形成できる。
Further, in this aspect, at least a part of at least one of the drive circuit and the transistor,
Some or all of the light emitting elements can be formed by the same process. Specifically, when the light emitting element and the transistor are formed over the same substrate by providing at least an insulating film, an impurity implantation region and an electrode, the electrode of the light emitting element and the electrode of the transistor Or the insulating film of the light emitting element and the insulating film of the transistor can be formed in the same step.

【0020】更に、この態様においては、前記駆動回路
の一部と、前記トランジスタの一部と、前記受光素子の
一部又は全部と、前記発光素子の一部又は全部とは、同
一工程によって形成できる。
Further, in this aspect, a part of the driving circuit, a part of the transistor, a part or all of the light receiving element, and a part or all of the light emitting element are formed by the same process. it can.

【0021】また、この態様においても、上記第1の画
像表示装置は、太陽電池を有することができ、前記駆動
回路の一部と、前記トランジスタの一部と、前記発光素
子の一部又は全部と、前記太陽電池の一部又は全部と
は、同一工程によって形成できる。なお、この場合、前
記受光素子の一部又は全部も同一工程によって形成でき
る。
Also in this embodiment, the first image display device may include a solar cell, and may include a part of the driving circuit, a part of the transistor, and a part or all of the light emitting element. And part or all of the solar cell can be formed by the same process. In this case, part or all of the light receiving element can be formed by the same process.

【0022】上記第1の画像表示装置においては、前記
光信号が変調光であるのが好ましい。また、前記周辺回
路と前記トランジスタとを、それぞれ別個の基板上に形
成し、前記周辺回路が形成された基板と前記トランジス
タが形成された基板とを固定するのが好ましい。
In the first image display device, it is preferable that the optical signal is modulated light. It is preferable that the peripheral circuit and the transistor are formed on separate substrates, respectively, and the substrate on which the peripheral circuit is formed and the substrate on which the transistor is formed are fixed.

【0023】上記目的を達成するために、本発明の第2
の画像表示装置は、周辺回路から駆動回路に信号を送信
し、前記駆動回路によってマトリックス状に配置された
複数のトランジスタを駆動して画像を表示する画像表示
装置であって、前記周辺回路は、前記信号を電波信号に
して送信するように構成されており、前記駆動回路は、
前記電波信号を受信するための受信素子を有しているこ
とを特徴とする。
In order to achieve the above object, a second aspect of the present invention is provided.
An image display device is an image display device that transmits a signal from a peripheral circuit to a drive circuit, and drives the plurality of transistors arranged in a matrix by the drive circuit to display an image, wherein the peripheral circuit includes: The signal is configured to be transmitted as a radio signal, and the driving circuit includes:
It has a receiving element for receiving the radio signal.

【0024】上記第2の画像表示装置は、前記駆動回路
が電波信号を前記周辺回路に送信するための発信素子を
有し、前記周辺回路が前記駆動回路からの電波信号を受
信するための受信素子を有している態様とすることがで
きる。この態様においては、前記駆動回路から送信され
る電波信号は、タブレット位置情報、信号同期情報及び
周辺輝度情報うち少なくとも一つを含むことができる。
In the second image display device, the driving circuit has a transmitting element for transmitting a radio signal to the peripheral circuit, and the peripheral circuit has a receiving element for receiving a radio signal from the driving circuit. An embodiment having an element can be employed. In this aspect, the radio signal transmitted from the driving circuit can include at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information.

【0025】また、上記第2の画像表示装置は、前記駆
動回路と前記トランジスタとを含む部分が、前記周辺回
路を含む部分から着脱可能であって、前記周辺回路を含
む部分から分離した状態で画像表示可能な構成とでき
る。この場合、前記駆動回路と前記トランジスタとを含
む部分に、画像表示のための電源を備えておくのが好ま
しい。前記電源として太陽電池を用いることができ、前
記太陽電池は前記トランジスタが配置された基板上に設
けることができる。
In the second image display device, the portion including the drive circuit and the transistor is detachable from the portion including the peripheral circuit, and is separated from the portion including the peripheral circuit. It can be configured to display images. In this case, it is preferable that a power supply for displaying an image is provided in a portion including the driving circuit and the transistor. A solar cell can be used as the power supply, and the solar cell can be provided over a substrate provided with the transistor.

【0026】上記第1及び第2の画像表示装置は、液晶
表示装置、EL表示装置、及びフィールドエミッション
表示装置のうちいずれかとして用いることができる。
The first and second image display devices can be used as any one of a liquid crystal display device, an EL display device, and a field emission display device.

【0027】上記目的を達成するために、本発明の画像
表示装置の製造方法は、周辺回路が駆動回路に光信号を
送信し、前記駆動回路が受光素子によって前記光信号を
受信してマトリックス状に配置された複数のトランジス
タを駆動することによって画像を表示する画像表示装置
の製造方法であって、前記駆動回路及び前記トランジス
タのうち少なくとも一方の一部と、前記受光素子の一部
又は全部とを同時に形成する工程を少なくとも有してい
ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method of manufacturing an image display device according to the present invention is characterized in that a peripheral circuit transmits an optical signal to a driving circuit, and the driving circuit receives the optical signal by a light receiving element and forms a matrix. A method for manufacturing an image display device that displays an image by driving a plurality of transistors disposed in a part of at least one of the drive circuit and the transistor, and part or all of the light receiving element. Are formed at least simultaneously.

【0028】上記画像表示装置の製造方法において、前
記受光素子と前記トランジスタとが、同一の基板上に、
少なくとも絶縁膜、不純物注入領域及び電極を設けて形
成されている場合は、前記受光素子の電極と前記トラン
ジスタの電極とを、前記受光素子の不純物注入領域の一
部又は全部と前記トランジスタの不純物注入領域の一部
又は全部とを、又は前記受光素子の前記絶縁膜と前記ト
ランジスタの絶縁膜とを同時に形成することができる。
In the above method for manufacturing an image display device, the light receiving element and the transistor may be formed on the same substrate.
When at least an insulating film, an impurity-implanted region, and an electrode are provided, the electrode of the light-receiving element and the electrode of the transistor are partially and entirely connected to the impurity-implanted region of the light-receiving element and the impurity implanted in the transistor. Part or all of the region, or the insulating film of the light receiving element and the insulating film of the transistor can be formed simultaneously.

【0029】また、上記画像表示装置の製造方法におい
て、前記駆動回路が、タブレット位置情報、信号同期情
報及び周辺輝度情報うち少なくとも一つを含む光信号を
前記周辺回路に送信するための発光素子を有し、前記周
辺回路が、前記タブレット位置情報、信号同期情報及び
周辺輝度情報のうち少なくとも一つを含む光信号を受信
するための受光素子を有している場合は、前記駆動回路
及び前記トランジスタのうち少なくとも一方の一部と、
前記発光素子の一部又は全部とを同時に形成することが
できる。
In the method of manufacturing an image display device, the driving circuit may include a light emitting element for transmitting an optical signal including at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information to the peripheral circuit. When the peripheral circuit has a light receiving element for receiving an optical signal including at least one of the tablet position information, signal synchronization information and peripheral luminance information, the drive circuit and the transistor At least one of the
Some or all of the light emitting elements can be formed simultaneously.

【0030】この場合、前記発光素子と前記トランジス
タとが、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注
入領域及び電極を設けて形成されているならば、前記発
光素子の電極と前記トランジスタの電極とを、又は前記
発光素子の絶縁膜と前記トランジスタの絶縁膜とを同時
に形成することができる。
In this case, if the light emitting element and the transistor are formed on the same substrate with at least an insulating film, an impurity implantation region and an electrode provided, the electrode of the light emitting element and the electrode of the transistor are formed. Or the insulating film of the light emitting element and the insulating film of the transistor can be formed simultaneously.

【0031】上記目的を達成するため、本発明にかかる
第1の画像表示ドライバICは、入力された光信号を電
気信号に変換する受光素子を有することを特徴とする。
上記第1の画像表示ドライバにおいて、前記受光素子
は、当該画像表示ドライバICを構成するシリコン基板
にモノリシックに形成されているのが好ましい。また、
前記受光素子は、フォトダイオード又はフォトトランジ
スタであるのが好ましい。
In order to achieve the above object, a first image display driver IC according to the present invention has a light receiving element for converting an input optical signal into an electric signal.
In the first image display driver, it is preferable that the light receiving element is monolithically formed on a silicon substrate constituting the image display driver IC. Also,
Preferably, the light receiving element is a photodiode or a phototransistor.

【0032】また、上記目的を達成するため、本発明に
かかる第2の画像表示ドライバICは、入力された電気
信号を光信号に変換する発光素子を有することを特徴と
する。上記第2の画像表示ドライバICにおいて、前記
発光素子は、当該画像表示ドライバICを構成するシリ
コン基板にモノリシックに形成されているのが好まし
い。また、前記発光素子は、LED又はレーザであるの
が好ましい。
In order to achieve the above object, the second image display driver IC according to the present invention is characterized in that it has a light emitting element for converting an input electric signal into an optical signal. In the second image display driver IC, it is preferable that the light emitting element is monolithically formed on a silicon substrate constituting the image display driver IC. Preferably, the light emitting element is an LED or a laser.

【0033】更に、上記目的を達成するために、本発明
にかかる第3の画像表示ドライバICは、太陽電池を有
することを特徴とする。
Further, in order to achieve the above object, the third image display driver IC according to the present invention is characterized by including a solar cell.

【0034】また、上記目的を達成するために、本発明
にかかる第4の画像表示ドライバICは、電波を受信し
て電気信号に変換する素子、及び電気信号を電波に変換
して送信する素子のうち少なくとも一方を有することを
特徴とする。
In order to achieve the above object, a fourth image display driver IC according to the present invention comprises an element for receiving a radio wave and converting it into an electric signal, and an element for converting an electric signal into a radio wave and transmitting it. Characterized by having at least one of the following.

【0035】更に、上記目的を達成するために、本発明
にかかる第5の画像表示ドライバICは、磁気による信
号を受信して電気信号に変換する素子、及び電気信号を
磁気信号に変換して送信する素子のうち少なくとも一方
を有することを特徴とする。
Further, in order to achieve the above object, a fifth image display driver IC according to the present invention comprises an element for receiving a magnetic signal and converting it to an electric signal, and a device for converting an electric signal to a magnetic signal. It has at least one of the transmitting elements.

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】以下、本発明にかかる画像表示装
置、画像表示装置の製造方法及び画像表示ドライバIC
の実施の形態について説明する。本発明にかかる画像表
示装置は、周辺回路から画像表示ドライバICに信号を
入力し、画像表示ドライバICが有する駆動回路によっ
てアレイ基板上に設けられたTFTを駆動して画像を表
示するものである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an image display device, a method of manufacturing an image display device, and an image display driver IC according to the present invention
An embodiment will be described. An image display device according to the present invention inputs a signal from a peripheral circuit to an image display driver IC, and drives a TFT provided on an array substrate by a drive circuit of the image display driver IC to display an image. .

【0037】本発明にかかる画像表示装置は、液晶表示
装置、EL(Electro Luminescent)表示装置、及びフ
ィールドエミッション表示装置等として用いることがで
きる。なお、本発明にかかる画像表示装置を上記のいず
れの画像表示装置として用いるかは、基本的にアレイ基
板より上の部分(即ち、画像表示側の部分)の構造によ
って決定され、信号伝達に関しては上記のいずれの画像
表示装置として用いた場合も共通である。
The image display device according to the present invention can be used as a liquid crystal display device, an EL (Electro Luminescent) display device, a field emission display device and the like. Whether the image display device according to the present invention is used as any of the above image display devices is basically determined by the structure of a portion above the array substrate (that is, a portion on the image display side). The same applies when used as any of the above image display devices.

【0038】(実施の形態1)次に、本発明の実施の形
態1にかかる画像表示装置、その製造方法及び画像表示
ドライバICについて、図1〜図6及び図14に基づい
て説明する。図1〜図6は本実施の形態1にかかる画像
表示装置が液晶表示装置である例について示しており、
図14は本実施の形態1にかかる画像表示装置がEL表
示装置である例について示している。
(Embodiment 1) Next, an image display device, a method of manufacturing the same, and an image display driver IC according to Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6 and FIG. FIGS. 1 to 6 show an example in which the image display device according to the first embodiment is a liquid crystal display device.
FIG. 14 shows an example in which the image display device according to the first embodiment is an EL display device.

【0039】図1は、実施の形態1にかかる画像表示装
置の側面を示す図である。図2は、実施の形態1にかか
る画像表示装置の上面を示す図である。
FIG. 1 is a side view of the image display device according to the first embodiment. FIG. 2 is a diagram illustrating an upper surface of the image display device according to the first embodiment.

【0040】図1に示すように、駆動回路を含む画像表
示ドライバIC3はアレイ基板1にCOG実装されてい
る。なお、駆動回路は、後述するようにアレイ基板1を
構成するTFTと一緒に、アレイ基板1を形成するため
のガラス基板上に形成することもできる。
As shown in FIG. 1, an image display driver IC 3 including a drive circuit is mounted on the array substrate 1 by COG. The drive circuit can be formed on a glass substrate for forming the array substrate 1 together with the TFTs constituting the array substrate 1 as described later.

【0041】画像表示ドライバIC3に信号を送る周辺
回路(図示せず)は、アレイ基板1及び対向基板2とは
別個の周辺基板5に設けられている。周辺基板5に設け
られた周辺回路からは、アレイ基板1に対して、アレイ
基板1上に形成されたTFTを駆動するための画像信
号、アレイ基板1上に形成されたTFTを制御するため
の制御信号、駆動用の電力等の信号が発信される。
A peripheral circuit (not shown) for sending a signal to the image display driver IC 3 is provided on a peripheral substrate 5 separate from the array substrate 1 and the counter substrate 2. From the peripheral circuit provided on the peripheral substrate 5, an image signal for driving the TFT formed on the array substrate 1 and an image signal for controlling the TFT formed on the array substrate 1 are supplied to the array substrate 1. Signals such as control signals and driving power are transmitted.

【0042】本実施の形態1においては、周辺基板5に
発光素子7が設置されており、画像表示ドライバIC3
は受光素子8を有している。このため、周辺回路は信号
を光信号にして画像表示ドライバIC3に送信すること
ができ、画像表示ドライバIC3は、発光素子7から送
信された光信号を受信することができる。
In the first embodiment, the light emitting element 7 is provided on the peripheral substrate 5 and the image display driver IC 3
Has a light receiving element 8. Therefore, the peripheral circuit can convert the signal into an optical signal and transmit the optical signal to the image display driver IC 3, and the image display driver IC 3 can receive the optical signal transmitted from the light emitting element 7.

【0043】なお、本実施の形態1において、光信号と
して送信されているのは、画像信号と制御信号であり、
駆動用の電力はフレキシブル基板等を介して周辺基板5
からアレイ基板1上の電源配線に供給されている。発光
素子7と受光素子8の位置決めは、発光素子7から受光
素子8へ光信号伝送できるように行なわれている。
In the first embodiment, image signals and control signals are transmitted as optical signals.
The driving power is supplied to the peripheral substrate 5 via a flexible substrate or the like.
To the power supply wiring on the array substrate 1. The light emitting element 7 and the light receiving element 8 are positioned so that an optical signal can be transmitted from the light emitting element 7 to the light receiving element 8.

【0044】ところで、周辺回路から信号を送信するた
めには、通常、データビット数に対応する多数の信号伝
送経路が必要である。しかし、本実施の形態にかかる画
像表示装置では、周辺基板5上に並列直列変換回路(図
示せず)が設けられ、画像表示ドライバIC3内に直列
並列変換回路(図示せず)が設けられている。また、光
伝送には変調光を用いている。このため、図2に示すよ
うに、発光素子7及び受光素子8の数はデータビット数
に対して大幅に少ない数で良い。
By the way, in order to transmit a signal from a peripheral circuit, a large number of signal transmission paths corresponding to the number of data bits are usually required. However, in the image display device according to the present embodiment, a parallel-serial conversion circuit (not shown) is provided on the peripheral substrate 5, and a serial-parallel conversion circuit (not shown) is provided in the image display driver IC3. I have. Modulated light is used for optical transmission. Therefore, as shown in FIG. 2, the number of light emitting elements 7 and light receiving elements 8 may be significantly smaller than the number of data bits.

【0045】図2に示すように、本実施の形態にかかる
画像表示装置においては、対向基板2の周囲に合計5個
の画像表示ドライバIC3が設置されており、各画像表
示ドライバIC3それぞれに受光素子8は一つずつ設け
られている。各画像表示ドライバIC3は、駆動する信
号ラインに相当する画像信号及び制御信号を受信する。
As shown in FIG. 2, in the image display device according to the present embodiment, a total of five image display driver ICs 3 are installed around the opposing substrate 2, and each image display driver IC 3 receives light. The elements 8 are provided one by one. Each image display driver IC3 receives an image signal and a control signal corresponding to a signal line to be driven.

【0046】また、本実施の形態1においては、画像表
示ドライバ3の一部又は一つの画像表示ドライバIC3
にのみ受光素子8を形成しても良い。この場合、一つの
受光素子8によって、全て又は複数の画像表示ドライバ
IC3が駆動する信号ラインに相当する画像信号及び制
御信号を一括して受信でき、受光素子8が形成されてい
ない画像表示ドライバIC3へ信号を伝達する構成とす
ることが可能である。
In the first embodiment, a part of the image display driver 3 or one image display driver IC 3
The light receiving element 8 may be formed only in the light receiving element. In this case, the image signal and the control signal corresponding to the signal lines driven by all or a plurality of the image display driver ICs 3 can be collectively received by one light receiving element 8, and the image display driver IC 3 without the light receiving element 8 is formed. It is possible to adopt a configuration for transmitting a signal to the device.

【0047】なお、通常、画像表示ドライバIC3は、
シリコン基板上のトランジスタ等が形成された面がアレ
イ基板を向かないように実装される。しかし、図1及び
図2に示した例では、シリコン基板上のトランジスタ等
が形成された面に受光素子8が形成されており、又受光
素子8によって光信号を受信する必要があるため、画像
表示ドライバIC3は、トランジスタ等や受光素子8が
形成された面がアレイ基板1を向くように実装されてい
る。
Normally, the image display driver IC 3
The silicon substrate is mounted such that the surface on which the transistors and the like are formed does not face the array substrate. However, in the example shown in FIGS. 1 and 2, the light receiving element 8 is formed on the surface of the silicon substrate on which the transistor and the like are formed, and the light receiving element 8 needs to receive an optical signal. The display driver IC 3 is mounted such that the surface on which the transistors and the like and the light receiving elements 8 are formed faces the array substrate 1.

【0048】このため、アレイ基板1の下に周辺基板5
を設置して光送受信を行なうのが可能となり、装置構成
が簡易となる。また、アレイ基板1と周辺基板5とは接
着剤によって接着されている。これは、受光素子8と発
光素子7の位置のズレを防止し、外力が加わった場合で
も、安定な光送受信が実現できるようにするためであ
る。
For this reason, the peripheral substrate 5 is provided under the array substrate 1.
Can be installed to perform optical transmission and reception, and the device configuration is simplified. The array substrate 1 and the peripheral substrate 5 are adhered by an adhesive. This is to prevent the positional shift between the light receiving element 8 and the light emitting element 7 and to realize stable optical transmission / reception even when an external force is applied.

【0049】このように、本実施の形態1においては、
周辺基板5とアレイ基板1との間で電気的な接続が必要
なのは電源供給ラインのみであり、周辺基板5とアレイ
基板1との間の接続点数を大幅に減少することができ
る。
As described above, in the first embodiment,
Only the power supply line needs to be electrically connected between the peripheral substrate 5 and the array substrate 1, and the number of connection points between the peripheral substrate 5 and the array substrate 1 can be greatly reduced.

【0050】従って、本実施の形態1にかかる画像表示
装置及び画像表示ドライバICを用いることにより、接
続信頼性及び歩留まりの向上を図ることができ、そのた
め返品率を減少できる。また、接続の簡素化によってコ
ストの削減を図ることができ、更に、不要輻射(EM
S,EMI)の低減を図ることができるので、画質を安
定化でき、また他の機器への悪影響を減少することがで
きる。
Therefore, by using the image display device and the image display driver IC according to the first embodiment, the connection reliability and the yield can be improved, and the return rate can be reduced. In addition, cost can be reduced by simplifying the connection, and unnecessary radiation (EM
S, EMI) can be reduced, so that image quality can be stabilized and adverse effects on other devices can be reduced.

【0051】本実施の形態1において、受光素子8とし
ては、画像表示ドライバIC3やアレイ基板1とは別個
に作製した単体の受光素子を用いることができる。この
場合、受光素子8は、アレイ基板1上に画像表示ドライ
バIC3とは別に実装しても良いし、画像表示ドライバ
IC3と一緒にパッケージしても良い。後者の場合は、
画像表示ドライバIC3と受光素子8とで一つのICパ
ッケージが形成される。
In the first embodiment, as the light receiving element 8, a single light receiving element manufactured separately from the image display driver IC 3 and the array substrate 1 can be used. In this case, the light receiving element 8 may be mounted on the array substrate 1 separately from the image display driver IC 3 or may be packaged together with the image display driver IC 3. In the latter case,
One IC package is formed by the image display driver IC 3 and the light receiving element 8.

【0052】但し、COG実装される部品点数の低減の
点からは、受光素子8は、画素ドライバIC3を形成す
るためのシリコン基板上に画素ドライバIC3を構成す
るトランジスタと共に形成(モノリシックに形成)する
のが好ましく、又アレイ基板1を形成するためのガラス
基板上に、TFTと共に形成するのも好ましい。
However, from the viewpoint of reducing the number of components mounted on the COG, the light receiving element 8 is formed (monolithically formed) together with the transistors constituting the pixel driver IC 3 on a silicon substrate for forming the pixel driver IC 3. It is also preferable to form them together with TFTs on a glass substrate for forming the array substrate 1.

【0053】前者の場合、受光素子8と画像表示ドライ
バIC3を構成するトランジスタとで一つのICチップ
が形成されるので、COG実装される部品点数を低減で
きる。また、後者の場合、アレイ基板1を形成するため
のガラス基板上に駆動回路を形成すれば、駆動回路、受
光素子8、及びTFTの全てを同一の基板上に形成でき
るので、COG実装される部品点数を更に低減できる。
In the former case, since one IC chip is formed by the light receiving element 8 and the transistor constituting the image display driver IC 3, the number of components mounted by COG can be reduced. In the latter case, if a driving circuit is formed on a glass substrate for forming the array substrate 1, all of the driving circuit, the light receiving element 8, and the TFT can be formed on the same substrate, so that COG mounting is performed. The number of parts can be further reduced.

【0054】図3は受光素子の一例を示す断面図であ
る。図3に示す受光素子は画像表示ドライバICやアレ
イ基板とは別個に作成されている。図3に基づいて受光
素子及びその形成方法について説明する。
FIG. 3 is a sectional view showing an example of the light receiving element. The light receiving element shown in FIG. 3 is formed separately from the image display driver IC and the array substrate. A light receiving element and a method for forming the same will be described with reference to FIG.

【0055】最初に、p型シリコン基板11の表面(図
中上面)からリンをドープしてn層13を形成する。ま
た、裏面(図中下面)にボロンをドープしてp+層(図
示せず)を形成する。ドープにはイオンドープ装置を用
いている。
First, an n-layer 13 is formed by doping phosphorus from the surface (upper surface in the figure) of the p-type silicon substrate 11. In addition, a p + layer (not shown) is formed by doping boron on the back surface (the lower surface in the figure). An ion doping apparatus is used for doping.

【0056】次に、p型シリコン基板11に対して80
0℃でアニールを行い、p型シリコン基板11の表面側
に反射防止膜9としてSOG膜を形成する。次いで、n
電極10を形成する。n電極10の形成は、フォトリソ
グラフィエッチングによって反射防止膜9の一部を除去
し、その上からスパッタ装置によってアルミニウム膜を
形成し、フォトリソグラフィエッチングすることによっ
て行なう。
Next, the p-type silicon substrate 11
Annealing is performed at 0 ° C. to form an SOG film as an antireflection film 9 on the surface of the p-type silicon substrate 11. Then, n
The electrode 10 is formed. The formation of the n-electrode 10 is performed by removing a part of the antireflection film 9 by photolithography etching, forming an aluminum film thereon by a sputtering device, and performing photolithography etching.

【0057】次に、p型シリコン基板11の裏面にスパ
ッタ装置により、アルミニウム電極12を成膜する。以
上の工程により、図3に示す受光素子が完成する。図3
に示す受光素子はフォトダイオードである。
Next, an aluminum electrode 12 is formed on the back surface of the p-type silicon substrate 11 by a sputtering device. Through the above steps, the light receiving element shown in FIG. 3 is completed. FIG.
Is a photodiode.

【0058】図4は、受光素子が画像表示ドライバIC
の基板上に形成された例を示す断面図である。図4に基
づいて、受光素子及び画像表示ドライバICを構成する
トランジスタ、これらの製造工程について説明する。
FIG. 4 shows a case where the light receiving element is an image display driver IC.
FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating an example formed on a substrate of FIG. With reference to FIG. 4, the light-receiving element and the transistors constituting the image display driver IC, and their manufacturing steps will be described.

【0059】最初にトランジスタについて説明する。図
4に示すように、先ずp型シリコン基板40にフォトリ
ソグラフィによりレジストパターンを形成し、レジスト
パターンが形成されていない部分にイオンドーピングに
よってリンを注入して、不純物注入領域となる低濃度注
入領域(n−)45を形成する。
First, the transistor will be described. As shown in FIG. 4, first, a resist pattern is formed by photolithography on a p-type silicon substrate 40, and phosphorus is implanted by ion doping into a portion where the resist pattern is not formed, so that a low-concentration implantation region serving as an impurity implantation region (N−) 45 is formed.

【0060】次に、水蒸気中でアニールを行なって熱酸
化膜(ゲート酸化膜)49を形成する。更にフォトリソ
グラフィ及びエッチングを行なって、ゲート電極48が
形成される部分及びゲート電極配線以外の熱酸化膜を除
去する。次いで、フォトリソグラフィ、CVD法により
ゲート電極48を形成する。
Next, annealing is performed in water vapor to form a thermal oxide film (gate oxide film) 49. Further, photolithography and etching are performed to remove the thermal oxide film other than the portion where the gate electrode 48 is formed and the gate electrode wiring. Next, a gate electrode 48 is formed by photolithography and CVD.

【0061】その後、フォトリソグラフィによってレジ
ストパターンを形成し、イオンドーピングによってリン
を注入して、不純物注入領域となる高濃度注入領域(n
+)44を形成する。次いで、フォトリソグラフィ、エ
ッチングによって分離層の部分をエッチングした後、T
EOS−CVD法でシリコン酸化膜(SiO2膜)42
を成膜する。
Thereafter, a resist pattern is formed by photolithography, phosphorus is implanted by ion doping, and a high concentration implantation region (n
+) 44 are formed. Next, after the portion of the separation layer is etched by photolithography and etching, T
Silicon oxide film (SiO 2 film) 42 by EOS-CVD
Is formed.

【0062】次に、フォトリソグラフィ、エッチングに
より、コンタクトホールを形成する。更に、電極となる
チタン膜及びアルミニウム膜を成膜し、フォトリソグラ
フィ、エッチングによって、ソース電極43a、ドレイ
ン電極43b及びソース・ドレイン電極配線となる部分
以外のチタン膜及びアルミニウム膜を除去する。これに
より、画像表示ドライバICを構成するトランジスタが
完成する。
Next, a contact hole is formed by photolithography and etching. Further, a titanium film and an aluminum film serving as electrodes are formed, and the titanium film and the aluminum film other than portions serving as the source electrode 43a, the drain electrode 43b, and the source / drain electrode wiring are removed by photolithography and etching. As a result, transistors constituting the image display driver IC are completed.

【0063】次に受光素子について説明する。先ず、図
4に示すように、p型シリコン基板40の上にn型の非
晶質シリコン膜41を膜厚70nmで成膜する。n型の
非晶質シリコン膜41の成膜はプラズマCVD法によっ
て行っている。但し、原料ガスとしては、通常の原料ガ
スであるシランにホスフィンを混合した混合ガスを用い
ている。
Next, the light receiving element will be described. First, as shown in FIG. 4, an n-type amorphous silicon film 41 having a thickness of 70 nm is formed on a p-type silicon substrate 40. The n-type amorphous silicon film 41 is formed by a plasma CVD method. However, as the source gas, a mixed gas obtained by mixing phosphine with silane, which is a normal source gas, is used.

【0064】次いで、フォトリソグラフィでレジストパ
ターンを形成した後、イオンドーピングによりボロンを
注入してpの領域46を形成する。なお、イオンドーピ
ングは高加速電圧、ここでは70keVで行なってい
る。その後、再度イオンドーピングにより、ボロンを注
入して非晶質シリコン膜41の表面近くにp+の領域4
7を形成する。なお、この場合のイオンドーピングは低
加速電圧、ここでは10keVで行なっている。
Next, after a resist pattern is formed by photolithography, boron is implanted by ion doping to form a p region 46. The ion doping is performed at a high accelerating voltage, here, 70 keV. Thereafter, boron is implanted again by ion doping, and the p + region 4 is formed near the surface of the amorphous silicon film 41.
7 is formed. In this case, the ion doping is performed at a low acceleration voltage, here, 10 keV.

【0065】その後、フォトリソグラフィによってレジ
ストパターンを形成し、イオンドーピングによってリン
を注入して、不純物注入領域となる高濃度注入領域(n
+)44を形成する。
Thereafter, a resist pattern is formed by photolithography, phosphorus is implanted by ion doping, and a high-concentration implantation region (n
+) 44 are formed.

【0066】次に、TEOS−CVD法でシリコン酸化
膜42を成膜する。更に、フォトリソグラフィ及びエッ
チングにより、コンタクトホール形成する。更に、電極
となるチタン膜及びアルミニウム膜を成膜し、フォトリ
ソグラフィ及びエッチングによって、アノード電極43
c、カソード電極43d及び配線となる部分以外のチタ
ン膜及びアルミニウム膜を除去する。これにより、受光
素子(PN型フォトダイオード)が完成する。
Next, a silicon oxide film 42 is formed by the TEOS-CVD method. Further, a contact hole is formed by photolithography and etching. Further, a titanium film and an aluminum film serving as electrodes are formed, and the anode electrode 43 is formed by photolithography and etching.
c, The titanium film and the aluminum film other than the portion serving as the cathode electrode 43d and the wiring are removed. Thus, the light receiving element (PN type photodiode) is completed.

【0067】このように、図4の例では、トランジスタ
と受光素子とが同一のp型シリコン基板40上に形成さ
れる。また、図4において、高濃度注入領域(n+)4
4、シリコン酸化膜42、電極(43a〜43d)の形
成は、トランジスタと受光素子の両方において同一工程
によって同時におこなわれている。
As described above, in the example of FIG. 4, the transistor and the light receiving element are formed on the same p-type silicon substrate 40. In FIG. 4, the high-concentration injection region (n +) 4
4. The formation of the silicon oxide film 42 and the electrodes (43a to 43d) are simultaneously performed in the same step in both the transistor and the light receiving element.

【0068】このため、受光素子の形成は、通常の画像
表示ドライバICの工程と同時に処理されるので、画像
表示ドライバICの製造における工程数は増加しないと
言える。また、受光素子と画像表示ドライバICとの接
続信頼性の向上を図ることができる。なお、本実施の形
態1では、受光素子としてフォトダイオードを形成して
いるが、受光素子はこれに限定されるものではない。本
発明において受光素子は、フォトトランジスタ、CC
D、MOS等であっても良い。
For this reason, since the formation of the light receiving element is performed simultaneously with the steps of the normal image display driver IC, it can be said that the number of steps in the manufacture of the image display driver IC does not increase. Further, the connection reliability between the light receiving element and the image display driver IC can be improved. In the first embodiment, a photodiode is formed as a light receiving element, but the light receiving element is not limited to this. In the present invention, the light receiving element is a phototransistor, CC
D, MOS or the like may be used.

【0069】次に、本実施の形態1にかかる画像表示装
置の画像表示部について説明する。図5は、図1中の線
A−A´に沿って切断した実施の形態1にかかる画像表
示装置の断面図である。なお、図5においては、画像表
示部の一部分のみを示している。図5に基づいて、実施
の形態1にかかる画像表示装置の画像表示部及びその製
造工程について説明する。
Next, an image display unit of the image display device according to the first embodiment will be described. FIG. 5 is a cross-sectional view of the image display device according to the first embodiment, taken along line AA ′ in FIG. Note that FIG. 5 shows only a part of the image display unit. An image display unit of the image display device according to the first embodiment and a manufacturing process thereof will be described with reference to FIG.

【0070】先ずアレイ基板について説明する。図5に
示すように、最初に、ガラス基板14の上に、ガラス基
板14からの不純物の拡散を防ぐ目的で、例えばTEO
S−CVD法により膜厚300nmのシリコン酸化膜を
下地膜15として成膜する。
First, the array substrate will be described. As shown in FIG. 5, first, for example, TEO is deposited on the glass substrate 14 in order to prevent diffusion of impurities from the glass substrate 14.
A 300 nm-thick silicon oxide film is formed as the base film 15 by the S-CVD method.

【0071】なお、本実施の形態1では、基板としてガ
ラス基板14を使用しているが、これに限定されず、プ
ラスチック基板やフィルム基板を使用することも可能で
ある。
Although the glass substrate 14 is used as the substrate in the first embodiment, the present invention is not limited to this, and a plastic substrate or a film substrate can be used.

【0072】また、下地膜15の膜厚は300nmに限
らず、種々の設定が可能である。更に、下地膜15とし
ては、窒化シリコン膜も使用することができる。下地膜
15の膜厚は、シリコン酸化膜及び窒化シリコン膜のど
ちらの場合においても、200nm以上であれば良い。
200nm以下の場合は、ガラス基板14からの不純物
が、TFTのシリコン層に拡散し、TFT特性のVtシ
フト等の問題が発生するからである。
The thickness of the base film 15 is not limited to 300 nm, and various settings can be made. Further, as the base film 15, a silicon nitride film can be used. The film thickness of the base film 15 may be 200 nm or more in both cases of the silicon oxide film and the silicon nitride film.
If the thickness is 200 nm or less, impurities from the glass substrate 14 diffuse into the silicon layer of the TFT, and a problem such as Vt shift of TFT characteristics occurs.

【0073】次にプラズマCVD法により、非晶質シリ
コン膜(図示せず)を成膜する。非晶質シリコン膜の成
膜は、減圧CVD法やスパッタ法を用いて行なうことが
できる。非結晶質シリコン膜の膜厚は、30nm〜90
nmに設定するのが良く、本実施の形態1では70nm
に設定している。
Next, an amorphous silicon film (not shown) is formed by a plasma CVD method. The amorphous silicon film can be formed by using a low pressure CVD method or a sputtering method. The thickness of the amorphous silicon film is 30 nm to 90 nm.
It is good to set to 70 nm.
Is set to

【0074】次いで、形成された非晶質シリコン膜中の
水素を除去するため、脱水素工程として450℃で1時
間の熱処理を行なう。なお、スパッタ法等の非晶質シリ
コン膜中に水素が含まれない又は水素の量が少ない成膜
方法を用いた場合は、脱水素処理は必要ない。
Next, in order to remove hydrogen in the formed amorphous silicon film, a heat treatment is performed at 450 ° C. for 1 hour as a dehydrogenation step. Note that when a film formation method in which hydrogen is not contained in the amorphous silicon film or the amount of hydrogen is small, such as a sputtering method, a dehydrogenation treatment is not necessary.

【0075】更に、非晶質シリコン膜を結晶化させる。
これにより、非晶質シリコン膜は多結晶シリコン膜とな
る。結晶化は、レーザアニール装置により非晶質シリコ
ン膜を溶融、結晶化させることにより行なう。なお、レ
ーザアニール装置は基板を縦横に移動させることができ
る。レーザ光を照射して非晶質シリコン膜の結晶化を行
なうのであれば、室温において約160mJ/cm2
上のエネルギー密度で照射する必要がある。
Further, the amorphous silicon film is crystallized.
Thus, the amorphous silicon film becomes a polycrystalline silicon film. The crystallization is performed by melting and crystallizing the amorphous silicon film using a laser annealing apparatus. Note that the laser annealing apparatus can move the substrate vertically and horizontally. If the amorphous silicon film is crystallized by irradiating a laser beam, it is necessary to irradiate at an energy density of about 160 mJ / cm 2 or more at room temperature.

【0076】本実施の形態1ではXeClパルスレーザ
(波長308nm)を用いて、レーザ光のエネルギー密
度を370mJ/cm2に設定している。また、レーザ
光の光軸と基板との相対位置を変化させながら、更にレ
ーザパルスと相対位置の変化とをオーバーラップさせな
がら、複数パルスを照射している。
In the first embodiment, the energy density of the laser light is set to 370 mJ / cm 2 using a XeCl pulse laser (wavelength 308 nm). Further, a plurality of pulses are emitted while changing the relative position between the optical axis of the laser beam and the substrate, and further overlapping the laser pulse with the change in the relative position.

【0077】また、多結晶シリコン膜には、多数のダン
グリングボンドが形成されているので、水素化工程とし
て、水素プラズマ中で、例えば450℃、2時間放置す
る。更に、フォトリソグラフィとドライエッチングによ
り多結晶シリコン層をパターニングする。多結晶シリコ
ン層は、後述するLDD領域(低濃度注入領域)17、
ソース領域とドレイン領域(以下、これらを合わせて
「ソース・ドレイン領域」という。)16、及びチャン
ネル領域21となる。
Since a large number of dangling bonds are formed in the polycrystalline silicon film, the film is left in a hydrogen plasma, for example, at 450 ° C. for 2 hours as a hydrogenation step. Further, the polycrystalline silicon layer is patterned by photolithography and dry etching. The polycrystalline silicon layer includes an LDD region (low-concentration implantation region) 17 described later,
A source region and a drain region (hereinafter, these are collectively referred to as “source / drain regions”) 16 and a channel region 21.

【0078】次に、例えばTEOS−CVD法によりシ
リコン酸化膜をゲート絶縁膜18として必要な膜厚、例
えば100nm程度に成膜する。その後、モリブデン・
タングステン合金膜をスパッタリングにより成膜し、エ
ッチングにより所定の形状にパターニングして、ゲート
電極19を形成する。
Next, a silicon oxide film is formed to a necessary thickness, for example, about 100 nm as the gate insulating film 18 by, for example, the TEOS-CVD method. After that, molybdenum
A gate electrode 19 is formed by forming a tungsten alloy film by sputtering and patterning it into a predetermined shape by etching.

【0079】その後、イオンドーピング装置により、ゲ
ート電極19をマスクとして、リンを低濃度で注入して
LDD領域(低濃度注入領域)17を形成する。LDD
領域17とLDD領域17との間がチャンネル領域21
となる。次に、フォトリソグラフィでゲート電極19と
その両端から1μmの上にレジストパターンを形成し、
イオンドーピング装置により、上記レジストパターンを
マスクとして高濃度のリンを注入することで、ソース・
ドレイン領域となるN型領域(不純物注入領域)16が
形成される。
After that, using the gate electrode 19 as a mask, phosphorus is implanted at a low concentration to form an LDD region (low-concentration implantation region) 17 using an ion doping apparatus. LDD
The channel region 21 is between the region 17 and the LDD region 17.
Becomes Next, a resist pattern is formed on the gate electrode 19 and 1 μm from both ends by photolithography,
By implanting high-concentration phosphorus using the resist pattern as a mask by an ion doping apparatus, the source
An N-type region (impurity-implanted region) 16 serving as a drain region is formed.

【0080】次に、層間絶縁膜となるシリコン酸化膜2
0bをTEOS−CVD法にて成膜し、注入されたイオ
ンの活性化のために、窒素雰囲気中で550℃でアニー
ルを行なう。その後、エッチングにより、シリコン酸化
膜20bとゲート絶縁膜18を貫通し、且つ、多結晶シ
リコン膜で形成されたソース・ドレイン領域16に達す
るコンタクトホールを開口する。
Next, a silicon oxide film 2 serving as an interlayer insulating film
Ob is formed by a TEOS-CVD method, and annealing is performed at 550 ° C. in a nitrogen atmosphere to activate the implanted ions. Thereafter, a contact hole that penetrates the silicon oxide film 20b and the gate insulating film 18 and reaches the source / drain region 16 formed of the polycrystalline silicon film is opened by etching.

【0081】次に、チタン膜及びアルミニウム・ジルコ
ニウム合金膜をスパッタリングによって成膜し、エッチ
ングにより所定の形状にパターニングしてソース電極お
よびドレイン電極(以下、これらを合わせて「ソース・
ドレイン電極」という。)22を形成する。
Next, a titanium film and an aluminum-zirconium alloy film are formed by sputtering, and patterned into a predetermined shape by etching to form a source electrode and a drain electrode.
Drain electrode. ) 22 is formed.

【0082】以上のプロセスにより、n型TFTが完成
する。p型TFTが必要な場合には、フォトリソグラフ
ィ工程とBドーピング工程とを追加すればよい。
Through the above process, an n-type TFT is completed. When a p-type TFT is required, a photolithography step and a B doping step may be added.

【0083】なお、従来においては、非晶質シリコン層
を半導体層にしており、移動度は約1cm2/VS(1
×1042/VS)程度であるため、画素のスイッチン
グを行なうためのTFTだけをガラス基板14上に形成
し、駆動回路を含む画像ドライバICはTAB方式によ
って又はガラス基板14に直接貼り付けることによって
実装している。
Conventionally, an amorphous silicon layer is used as a semiconductor layer, and the mobility is about 1 cm 2 / VS (1
(× 10 4 m 2 / VS), so only TFTs for switching pixels are formed on the glass substrate 14, and the image driver IC including the drive circuit is attached by the TAB method or directly to the glass substrate 14. By implementing it.

【0084】しかし、図5に示すように多結晶シリコン
層を半導体層として用いると、移動度を大幅に向上でき
るため(例えば100cm2/VS(1×1062/V
S))、図5の例では、駆動回路を構成するCMOSト
ランジスタ(図示せず)についても、ガラス基板14上
の画像表示部を構成するTFTの周辺に形成している。
また、画像表示ドライバICを構成するトランジスタと
画像表示用のTFTとは構造において略同一であるた
め、これらは同一の工程によって同時に形成することが
可能である。
However, when a polycrystalline silicon layer is used as a semiconductor layer as shown in FIG. 5, the mobility can be greatly improved (for example, 100 cm 2 / VS (1 × 10 6 m 2 / V).
S)), in the example of FIG. 5, the CMOS transistors (not shown) forming the drive circuit are also formed on the glass substrate 14 around the TFTs forming the image display section.
Further, since the transistors constituting the image display driver IC and the TFT for image display are substantially the same in structure, they can be formed simultaneously by the same process.

【0085】次に、層間絶縁膜となるシリコン酸化膜2
0a、ポリイミド樹脂による平坦化膜29、透明電極2
8、配向膜27を順に形成することでアレイ基板が完成
する。
Next, a silicon oxide film 2 serving as an interlayer insulating film
0a, flattening film 29 made of polyimide resin, transparent electrode 2
8. An array substrate is completed by sequentially forming the alignment film 27.

【0086】一方、対向基板は、絶縁基板である例えば
コーニング社の品番1737のガラス基板を用い、これ
をガラス基板25として、その一方の面に、カラーフィ
ルタ26、ITOなどの透明導電膜で形成された対向電
極24、配向膜27を形成することによって完成する。
On the other hand, for the counter substrate, an insulating substrate, for example, a glass substrate of No. 1737 manufactured by Corning Incorporated is used as a glass substrate 25, and on one surface thereof, a color filter 26 and a transparent conductive film such as ITO are formed. This is completed by forming the counter electrode 24 and the alignment film 27 thus formed.

【0087】その後、この得られたアレイ基板と対向基
板との間に液晶30を封入することにより、画像表示部
が完成する。
Thereafter, the liquid crystal 30 is sealed between the obtained array substrate and the opposing substrate to complete the image display section.

【0088】次に、本実施の形態1にかかる画像表示装
置の製造方法について、受光素子がアレイ基板上にTF
Tと共に形成された例に基づいて説明する。図6は、受
光素子がアレイ基板上に形成された画像表示装置を示す
断面図である。
Next, in the method of manufacturing the image display device according to the first embodiment, the light receiving element is provided on the array substrate with the TF.
A description will be given based on an example formed with T. FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating an image display device in which light receiving elements are formed on an array substrate.

【0089】図6に示す画像表示装置も図5に示す画像
表示装置と同様の液晶表示装置である。図6に示す画像
表示装置において、TFT及び対向基板は図5に示すも
のと同様であり、同様の工程で形成されている。よっ
て、以下に受光素子の製造工程について説明する。
The image display device shown in FIG. 6 is a liquid crystal display device similar to the image display device shown in FIG. In the image display device shown in FIG. 6, the TFT and the counter substrate are the same as those shown in FIG. 5, and are formed in the same steps. Therefore, the manufacturing process of the light receiving element will be described below.

【0090】図6に示すように、最初にガラス基板14
の上に下地膜15を形成する。次いで、結晶ポリシリコ
ン膜を形成し、高濃度のリンを注入してN型領域16を
形成する。この下地膜15とN型領域16は画像表示部
において形成されたものと同様のものであり、同一工程
によって同時に形成されている。
As shown in FIG. 6, first, the glass substrate 14
A base film 15 is formed thereon. Next, a crystalline polysilicon film is formed, and high-concentration phosphorus is implanted to form an N-type region 16. The base film 15 and the N-type region 16 are the same as those formed in the image display section, and are formed simultaneously by the same process.

【0091】次に、原料ガスとしてシランにジボランを
混合させた混合ガスを用いたプラズマCVD装置によっ
て、p+の多結晶シリコン膜を膜厚70nmで成膜す
る。その後、フォトリソグラフィ及びエッチングによ
り、このp+多結晶シリコン膜の一部を除去してP型領
域61を形成する。
Next, a p + polycrystalline silicon film having a thickness of 70 nm is formed by a plasma CVD apparatus using a mixed gas of silane and diborane as a source gas. Thereafter, a part of the p + polycrystalline silicon film is removed by photolithography and etching to form a P-type region 61.

【0092】更に、保護用絶縁膜となるシリコン酸化膜
20bをTEOS−CVD法にて成膜し、注入されたイ
オンの活性化のために、窒素雰囲気中の550℃でアニ
ールを行なう。このシリコン酸化膜20bも画像表示部
において形成されたものと同様のものであり、同一工程
によって同時に形成されている。
Further, a silicon oxide film 20b serving as a protective insulating film is formed by a TEOS-CVD method, and annealing is performed at 550 ° C. in a nitrogen atmosphere to activate the implanted ions. This silicon oxide film 20b is also the same as that formed in the image display section, and is formed simultaneously by the same process.

【0093】次に、フォトリソグラフィ及びエッチング
により、シリコン酸化膜20bに、N型領域16に達す
るコンタクトホールと、P型領域61に達するコンタク
トホールとを形成する。
Next, a contact hole reaching the N-type region 16 and a contact hole reaching the P-type region 61 are formed in the silicon oxide film 20b by photolithography and etching.

【0094】その後、チタン膜及びアルミニウム・ジル
コニウム合金膜をスパッタリングによって成膜し、エッ
チングにより所定の形状にパターニングして、カソード
電極60aとアノード電極60bとを形成する。なお、
カソード電極60a及びアノード電極60bはソース・
ドレイン電極22と異なる形状を有しているが、ソース
・ドレイン電極22と同一工程によって同時に形成され
ている。
Thereafter, a titanium film and an aluminum-zirconium alloy film are formed by sputtering, and are patterned into a predetermined shape by etching to form a cathode electrode 60a and an anode electrode 60b. In addition,
The cathode electrode 60a and the anode electrode 60b are
Although it has a shape different from that of the drain electrode 22, it is formed simultaneously with the source / drain electrode 22 in the same step.

【0095】以上のプロセスにより、受光素子(PN型
フォトダイオード)が完成する。また、図6の例でも、
図5の例と同様に、駆動回路を構成するトランジスタ
は、ガラス基板14上に画像表示用のTFTと同一の工
程により同時に形成されている。
By the above process, the light receiving element (PN type photodiode) is completed. Also, in the example of FIG.
As in the example of FIG. 5, the transistors forming the drive circuit are formed on the glass substrate 14 at the same time as the TFT for image display by the same process.

【0096】また、図14は、図6に示す画像表示装置
がEL表示装置である例を示す断面図である。図14に
示す画像表示装置においても、図6と同様にガラス基板
14上に画素用TFTと受光素子とが形成されている。
しかし、図14に示す画像表示装置はEL表示装置であ
るため、画素用TFTより表示面側にある部分の構成
が、図6で示した画像表示装置と異なっている。
FIG. 14 is a sectional view showing an example in which the image display device shown in FIG. 6 is an EL display device. Also in the image display device shown in FIG. 14, a pixel TFT and a light receiving element are formed on a glass substrate 14 as in FIG.
However, since the image display device shown in FIG. 14 is an EL display device, the structure of a portion closer to the display surface than the pixel TFT is different from the image display device shown in FIG.

【0097】先ず、上記の異なる部分の製造工程につい
て説明する。最初に、アレイ基板上に、TFTのドレイ
ン電極22と接続する透明電極となるITO電極71を
形成する。ITO電極の形成は図6に示した液晶表示装
置の場合と同様に行なう。その後、フォトリソグラフィ
によって、ITO電極のパターン間を樹脂ブラックレジ
ストで埋めて光遮断層72を形成する。
First, the manufacturing process of the above different parts will be described. First, an ITO electrode 71 serving as a transparent electrode connected to the drain electrode 22 of the TFT is formed on the array substrate. The formation of the ITO electrode is performed in the same manner as in the case of the liquid crystal display device shown in FIG. Thereafter, the light blocking layer 72 is formed by filling the space between the ITO electrode patterns with a resin black resist by photolithography.

【0098】次に、例えばインクジェットプリント装置
を用いて、赤、緑、青の発光材料(エレクトロルミネッ
センス材料)をパターン状に塗布して、発光層73を形
成する。その後、発光層73の上に、ポリビニルカルバ
ゾールを真空蒸着して正孔注入層74を形成する。
Next, red, green, and blue luminescent materials (electroluminescent materials) are applied in a pattern using, for example, an ink-jet printing apparatus to form a luminescent layer 73. Thereafter, on the light-emitting layer 73, polyvinyl carbazole is vacuum-deposited to form a hole injection layer 74.

【0099】次に、例えばアルミニウムキノリノール錯
体75を形成し、その上に、例えば、アルミニウムで反
射画素電極76を形成する。以上の工程により、エレク
トロルミネッセンス表示装置が完成する。
Next, for example, an aluminum quinolinol complex 75 is formed, and a reflective pixel electrode 76 is formed thereon, for example, of aluminum. Through the above steps, an electroluminescent display device is completed.

【0100】図14に示すEL表示装置においては、T
FTがON状態となるように走査線にパルス信号を与え
ると同時に、信号線に表示信号を印加すると、TFTが
ON状態となって電流供給線から電流が流れ、エレクト
ロルミネッセンスセルが発光する。
In the EL display device shown in FIG.
When a pulse signal is applied to the scanning line so that the FT is turned on and a display signal is applied to the signal line at the same time, the TFT is turned on, a current flows from the current supply line, and the electroluminescence cell emits light.

【0101】なお、本実施の形態1においては、エレク
トロルミネッセンス材料として、ポリジアルキルフルオ
レン誘導体を用いたが、これに限定されるものではな
い。エレクトロルミネッセンス材料としては、他の有機
材料、例えば、他のポリフルオレン系材料やポリフェニ
ルビニレン系の材料、無機材料等が挙げられる。
In Embodiment 1, a polydialkylfluorene derivative is used as an electroluminescent material, but the present invention is not limited to this. Examples of the electroluminescent material include other organic materials, for example, other polyfluorene-based materials, polyphenylvinylene-based materials, and inorganic materials.

【0102】また、エレクトロルミネッセンス材料によ
る発光層73の形成は、上記に示したインクジェットに
よる吐出形成に限定されるものではなく、スピンコート
等の塗布による形成や、蒸着による形成であっても良
い。
Further, the formation of the light emitting layer 73 using an electroluminescent material is not limited to the above-described ejection formation by ink jet, but may be formation by coating such as spin coating or formation by vapor deposition.

【0103】このように、本実施の形態1にかかる画像
表示装置の製造方法によれば、共通のガラス基板上に、
画像表示用のTFTの一部と、駆動回路を構成するトラ
ンジスタの一部と、受光素子の一部とを同時に形成する
ことができる。よって、受光素子を別のチップとして接
続する場合と比較して、接続不良を少なくすることが
可能、設置面積が小さくてすむため小型化が可能、
受光素子の接続のためのコストの低減が可能といった効
果を得ることができる。
As described above, according to the method for manufacturing an image display device according to the first embodiment, the common glass substrate
Part of an image display TFT, part of a transistor included in a driver circuit, and part of a light receiving element can be formed at the same time. Therefore, compared to the case where the light receiving element is connected as a separate chip, it is possible to reduce connection failures, and it is possible to reduce the installation area, thereby enabling downsizing.
The effect that the cost for connecting the light receiving element can be reduced can be obtained.

【0104】本実施の形態1においては、上記したよう
に、周辺基板と画像表示ドライバICとの間で、発光素
子と受光素子とによる光送受信を行なっている。但し、
これに限定されず、発光素子と受光素子の代わりに電磁
石等を用い、磁気によって信号の送受信を行なう構成と
することもできる。この場合も光送受信と同様に、接続
配線を減少させることができる。
In the first embodiment, as described above, light transmission and reception by the light emitting element and the light receiving element are performed between the peripheral substrate and the image display driver IC. However,
The present invention is not limited to this, and a configuration in which an electromagnet or the like is used instead of the light emitting element and the light receiving element and signals are transmitted and received by magnetism can be used. Also in this case, similarly to the optical transmission and reception, the number of connection wirings can be reduced.

【0105】また、発光素子と受光素子の代わりに電波
を発信する発信素子と電波を受信する受信素子とを用
い、電波によって信号の送受信を行なう構成とすること
もできる。この場合も光送受信と同様に接続配線を減少
させることができる。更に、電波による信号の送受信を
行なった場合は、信号の伝達距離が長いという利点や、
遮蔽物があっても信号が伝達されるという利点もある。
In addition, it is also possible to use a transmitting element for transmitting a radio wave and a receiving element for receiving a radio wave instead of the light emitting element and the light receiving element to transmit and receive signals by the radio wave. Also in this case, the number of connection wirings can be reduced as in the case of optical transmission / reception. Furthermore, when signals are transmitted and received by radio waves, there is an advantage that the signal transmission distance is long,
There is also an advantage that a signal is transmitted even if there is an obstruction.

【0106】(実施の形態2)次に、本発明の実施の形
態2にかかる画像表示装置、その製造方法及び画像表示
ドライバICについて、図7〜図11及び図15に基づ
いて説明する。図7〜図11は本実施の形態2にかかる
画像表示装置が液晶表示装置である例について示してお
り、図15は本実施の形態1にかかる画像表示装置がE
L表示装置である例について示している。
(Embodiment 2) Next, an image display device, a method of manufacturing the same, and an image display driver IC according to Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 to 11 show an example in which the image display device according to the second embodiment is a liquid crystal display device, and FIG.
An example of an L display device is shown.

【0107】図7は、実施の形態2にかかる画像表示装
置の側面を示す図である。図8は、実施の形態2にかか
る画像表示装置の上面を示す図である。
FIG. 7 is a side view of the image display device according to the second embodiment. FIG. 8 is a diagram illustrating an upper surface of the image display device according to the second embodiment.

【0108】本実施の形態2にかかる画像表示装置も実
施の形態1と同様の液晶表示装置である。図7及び図8
に示すように、本実施の形態2にかかる画像表示装置に
おいても、実施の形態1と同様に、駆動回路を含む画像
表示ドライバIC3はアレイ基板1にCOG実装されて
おり、画像表示ドライバIC3は発光素子3を有し、周
辺基板5は発光素子7を有している。
The image display device according to the second embodiment is also a liquid crystal display device similar to the first embodiment. 7 and 8
As shown in FIG. 7, in the image display device according to the second embodiment, similarly to the first embodiment, the image display driver IC 3 including the drive circuit is mounted on the array substrate 1 by COG. The peripheral substrate 5 has the light emitting element 7.

【0109】本実施の形態2にかかる画像表示装置は、
画像表示部にタブレットが形成されている点、画像ドラ
イバIC3が発光素子31を有している点、及び周辺基
板5が受光素子32を有している点で、実施の形態1に
かかる画像表示装置と異なっており、それ以外の点は実
施の形態1にかかる画像表示装置と同様に構成されてい
る。本実施の形態2にかかる画像表示装置のアレイ基板
1及び対向基板2は図6で示したアレイ基板及び対向基
板と同様に構成されている。
The image display device according to the second embodiment is
The image display according to the first embodiment is that a tablet is formed on the image display unit, the image driver IC 3 has the light emitting element 31, and the peripheral substrate 5 has the light receiving element 32. The configuration is different from that of the image display apparatus, and the other points are the same as those of the image display apparatus according to the first embodiment. The array substrate 1 and the counter substrate 2 of the image display device according to the second embodiment have the same configuration as the array substrate and the counter substrate shown in FIG.

【0110】このため、本実施の形態2にかかる画像表
示装置では、画像表示ドライバIC3から送信された光
信号、例えばタブレット位置情報、信号同期情報及び周
辺輝度情報うち少なくとも一つを含む光信号を周辺基板
5に送信することができる。本実施の形態2において、
発光素子31と受光素子32との位置決めも、発光素子
7と受光素子8との位置決めと同様に、光信号伝送でき
るように行なわれている。
For this reason, in the image display device according to the second embodiment, the optical signal transmitted from the image display driver IC3, for example, the optical signal including at least one of the tablet position information, the signal synchronization information and the peripheral luminance information is transmitted. It can be transmitted to the peripheral board 5. In the second embodiment,
The positioning of the light emitting element 31 and the light receiving element 32 is performed so that an optical signal can be transmitted similarly to the positioning of the light emitting element 7 and the light receiving element 8.

【0111】また、発光素子7と受光素子8との場合と
同様に、データビット数に対して少ない光伝送経路での
信号送受信を実現するため、画像表示ドライバ3内には
並列直列変換回路(図示せず)が設けられ、周辺基板5
上には直列並列変換回路が設けられている。また、光伝
送には変調光を用いている。
As in the case of the light emitting element 7 and the light receiving element 8, in order to realize signal transmission / reception on an optical transmission path with a smaller number of data bits, a parallel / serial conversion circuit ( Peripheral board 5 (not shown) is provided.
A serial-parallel conversion circuit is provided above. Modulated light is used for optical transmission.

【0112】よって、画像表示ドライバIC3から周辺
基板5に信号を送信する必要のある画像表示装置に、本
実施の形態2にかかる画像表示装置を適用すれば、信号
配線の増加を抑制でき、又信号送信の信頼性の向上を図
ることができ、高速伝送が可能となる。
Therefore, if the image display device according to the second embodiment is applied to an image display device that needs to transmit a signal from the image display driver IC 3 to the peripheral substrate 5, an increase in signal wiring can be suppressed, and The reliability of signal transmission can be improved, and high-speed transmission can be performed.

【0113】図8に示すように、各画像表示ドライバI
C3それぞれに受光素子8に加えて発光素子31が一つ
ずつ設けられている。各画像表示ドライバIC3は、駆
動する信号ラインに相当する画像信号及び制御信号を受
信し、又駆動する信号ラインに相当するタブレット情
報、信号同期情報及び周辺輝度情報を送信する。
As shown in FIG. 8, each image display driver I
Each C3 is provided with one light emitting element 31 in addition to the light receiving element 8. Each image display driver IC3 receives an image signal and a control signal corresponding to a signal line to be driven, and transmits tablet information, signal synchronization information, and peripheral luminance information corresponding to a signal line to be driven.

【0114】また、本実施の形態2においては、画像表
示ドライバ3の一部又は一つの画像表示ドライバIC3
にのみ受光素子8及び受光素子31を形成しても良い。
この場合、実施の形態1と同様に、一つの受光素子8に
よって、全て又は複数の画像表示ドライバIC3が駆動
する信号ラインに相当する画像信号及び制御信号を一括
して受信でき、受光素子8が形成されていない画像表示
ドライバIC3へ信号を伝達する構成とすることが可能
である。
In the second embodiment, a part of the image display driver 3 or one image display driver IC 3
The light-receiving element 8 and the light-receiving element 31 may be formed only in the case.
In this case, as in the first embodiment, the image signal and the control signal corresponding to the signal lines driven by all or the plurality of image display driver ICs 3 can be collectively received by one light receiving element 8, and the light receiving element 8 It is possible to adopt a configuration in which a signal is transmitted to an image display driver IC3 that is not formed.

【0115】更に、この場合、全て又は複数の画像表示
ドライバIC3が駆動する信号ラインに相当するタブレ
ット情報、信号同期情報及び周辺輝度情報を、一つの発
光素子によって一括して送信でき、発光素子31が形成
されていない画像表示ドライバIC3の信号も周辺基板
5に伝達できる。
Further, in this case, the tablet information, signal synchronization information and peripheral luminance information corresponding to the signal lines driven by all or a plurality of image display driver ICs 3 can be transmitted collectively by one light emitting element. The signal of the image display driver IC 3 in which no is formed can also be transmitted to the peripheral substrate 5.

【0116】本実施の形態2においても、実施の形態1
と同様に、画像表示ドライバIC3は、トランジスタ等
や受光素子8、発光素子31が形成された面がアレイ基
板1を向くように実装されている。また、アレイ基板1
と周辺基板5とは接着剤によって接着されている。
Also in the second embodiment, the first embodiment
Similarly to the above, the image display driver IC 3 is mounted such that the surface on which the transistors and the like, the light receiving elements 8, and the light emitting elements 31 are formed faces the array substrate 1. Also, the array substrate 1
And the peripheral substrate 5 are adhered by an adhesive.

【0117】このように、本実施の形態2においても、
周辺基板5とアレイ基板1との間で電気的な接続が必要
なのは電源供給ラインのみであり、周辺基板5とアレイ
基板1との間の接続点数を大幅に減少することができ
る。
As described above, also in the second embodiment,
Only the power supply line needs to be electrically connected between the peripheral substrate 5 and the array substrate 1, and the number of connection points between the peripheral substrate 5 and the array substrate 1 can be greatly reduced.

【0118】従って、本実施の形態2にかかる画像表示
装置及び画像表示ドライバICを用いることによって
も、接続信頼性及び歩留まりの向上を図ることができ、
そのため返品率を減少できる。また、接続の簡素化によ
ってコストの削減を図ることができ、更に、不要輻射
(EMS,EMI)の低減を図ることができるので、画
質を安定化でき、また他の機器への悪影響を減少するこ
とができる。
Therefore, the connection reliability and the yield can be improved by using the image display device and the image display driver IC according to the second embodiment.
Therefore, the return rate can be reduced. Further, the cost can be reduced by simplifying the connection, and unnecessary radiation (EMS, EMI) can be reduced, so that the image quality can be stabilized and the adverse effect on other devices can be reduced. be able to.

【0119】本実施の形態2において、受光素子8は、
実施の形態1と同様にして形成することができる。本実
施の形態2において、発光素子31としては、画像表示
ドライバIC3やアレイ基板1とは別個に作製した単体
の発光素子を用いることができる。この場合、発光素子
31は、アレイ基板1上に画像表示ドライバIC3とは
別に実装しても良いし、画像表示ドライバIC3と一緒
にパッケージしても良い。後者の場合は、画像表示ドラ
イバIC3と発光素子8とで一つのICパッケージが形
成される。
In the second embodiment, the light receiving element 8
It can be formed in the same manner as in Embodiment 1. In the second embodiment, a single light emitting element manufactured separately from the image display driver IC 3 and the array substrate 1 can be used as the light emitting element 31. In this case, the light emitting element 31 may be mounted on the array substrate 1 separately from the image display driver IC3, or may be packaged together with the image display driver IC3. In the latter case, one IC package is formed by the image display driver IC 3 and the light emitting element 8.

【0120】但し、COG実装される部品点数の低減の
点からは、発光素子31は、画素ドライバIC3を形成
するためのシリコン基板上に画素ドライバIC3を構成
するトランジスタと共に形成(モノリシックに形成)す
るのが好ましく、又アレイ基板1を形成するためのガラ
ス基板上に、TFTと共に形成するのも好ましい。
However, from the viewpoint of reducing the number of components mounted on the COG, the light emitting element 31 is formed (monolithically formed) together with the transistors constituting the pixel driver IC 3 on a silicon substrate for forming the pixel driver IC 3. It is also preferable to form them together with TFTs on a glass substrate for forming the array substrate 1.

【0121】前者の場合、発光素子31と画像表示ドラ
イバIC3を構成するトランジスタとで一つのICチッ
プが形成されるので、COG実装される部品点数を低減
できる。また、後者の場合、アレイ基板1を形成するた
めのガラス基板上に駆動回路を形成すれば、駆動回路、
受光素子8、及びTFTの全てを同一の基板上に形成で
きるので、COG実装される部品点数を更に低減でき
る。
In the former case, since one IC chip is formed by the light emitting element 31 and the transistor constituting the image display driver IC 3, the number of components mounted by COG can be reduced. In the latter case, if a drive circuit is formed on a glass substrate on which the array substrate 1 is formed, the drive circuit,
Since all of the light receiving element 8 and the TFT can be formed on the same substrate, the number of components mounted by COG can be further reduced.

【0122】図9は発光素子の一例を示す断面図であ
る。図9に示す発光素子は画像表示ドライバICやアレ
イ基板とは別個に作成されている。図9に基づいて発光
素子及びその形成方法について説明する。
FIG. 9 is a sectional view showing an example of a light emitting device. The light emitting element shown in FIG. 9 is formed separately from the image display driver IC and the array substrate. A light emitting element and a method for forming the light emitting element will be described with reference to FIG.

【0123】最初に、p型シリコン基板11の表面(図
中上面)にCVD装置を用いて酸化膜34を成膜する。
次に、フォトリソグラフィ及びエッチングにより酸化膜
34の一部を除去し、レーザアブレーション法により、
シリコン超微粒子膜35を成膜する。
First, an oxide film 34 is formed on the surface (upper surface in the figure) of the p-type silicon substrate 11 using a CVD apparatus.
Next, a part of the oxide film 34 is removed by photolithography and etching, and the laser ablation method is used.
A silicon ultrafine particle film 35 is formed.

【0124】次いで、シリコン超微粒子膜35をフォト
リソグラフィ及びエッチングによりパターン形成する。
その後、ITO電極28を成膜する。更に、p型シリコ
ン基板11の裏面にアルミニウム電極12を成膜する。
以上の工程により、図9に示す発光素子が完成する。図
9に示す発光素子はEL発光素子(LED)である。
Next, a pattern of the silicon ultrafine particle film 35 is formed by photolithography and etching.
Thereafter, an ITO electrode 28 is formed. Further, an aluminum electrode 12 is formed on the back surface of the p-type silicon substrate 11.
Through the above steps, the light-emitting element shown in FIG. 9 is completed. The light emitting element shown in FIG. 9 is an EL light emitting element (LED).

【0125】図10は、発光素子が画像表示ドライバI
Cの基板上に形成された例を示す断面図である。図10
に基づいて、発光素子及び画像表示ドライバICを構成
するトランジスタ、これらの製造工程について説明す
る。
FIG. 10 shows a case where the light emitting element is the image display driver I.
It is sectional drawing which shows the example formed on the board | substrate of C. FIG.
Based on the above, a description will be given of a light-emitting element and a transistor constituting an image display driver IC, and a manufacturing process thereof.

【0126】図10に示すトランジスタは、図4で示し
たトランジスタと同様のものであり、図4で示した製造
工程によって形成されている。図10において、50は
p型シリコン基板、51はシリコン酸化膜、52は熱酸
化膜、56aはソース電極、56bはドレイン電極、5
7は高濃度注入領域(n+)、58は低濃度注入領域
(n−)、59はゲート電極である。
The transistor shown in FIG. 10 is similar to the transistor shown in FIG. 4, and is formed by the manufacturing steps shown in FIG. In FIG. 10, 50 is a p-type silicon substrate, 51 is a silicon oxide film, 52 is a thermal oxide film, 56a is a source electrode, 56b is a drain electrode,
7 is a high-concentration injection region (n +), 58 is a low-concentration injection region (n-), and 59 is a gate electrode.

【0127】次に、発光素子について説明する。先ず、
図10に示すように、p型シリコン基板50の上に、水
蒸気中でアニールを行なって熱酸化膜52を形成する。
更に、フォトリソグラフィ及びエッチングにより、発光
部となる部分の周辺保護部分以外の熱酸化膜を除去す
る。
Next, the light emitting element will be described. First,
As shown in FIG. 10, on a p-type silicon substrate 50, annealing is performed in water vapor to form a thermal oxide film 52.
Further, the thermal oxide film other than the peripheral protection part of the part to be the light emitting part is removed by photolithography and etching.

【0128】次いで、レーザアブレーション法により、
厚み70nmのシリコン超微粒子膜54を成膜する。具
体的には、n+シリコン基板を設置し、その上に孔を設
けてパターンニングしたマスクを設置して、n+シリコ
ン基板に対して強強度でレーザ光を照射し、n+シリコ
ン基板を飛散させ、シリコン超微粒子膜54を成膜す
る。
Next, by laser ablation method,
A silicon ultrafine particle film 54 having a thickness of 70 nm is formed. Specifically, an n + silicon substrate is provided, a mask is formed on the n + silicon substrate by patterning holes, and the n + silicon substrate is irradiated with laser light at a high intensity to scatter the n + silicon substrate. A silicon ultrafine particle film 54 is formed.

【0129】更に、スパッタによりITO膜55を成膜
し、フォトリソグラフィ及びエッチングにより、発光部
の上面となる部分以外を除去する。その後、TEOS−
CVD装置により、保護膜となるシリコン酸化膜51を
成膜する。
Further, an ITO film 55 is formed by sputtering, and portions other than the upper surface of the light emitting portion are removed by photolithography and etching. After that, TEOS-
A silicon oxide film 51 serving as a protective film is formed by a CVD apparatus.

【0130】次に、フォトリソグラフィ、エッチングに
より、シリコン酸化膜51にコンタクトホールを形成す
る。次いで、電極となるチタン膜及びアルミニウム膜を
成膜し、フォトリソグラフィ及びエッチングによって、
アノード電極53a及びカソード電極53bとなる部分
以外のチタン膜及びアルミニウム膜を除去する。これに
より、発光素子が完成する。以上のプロセスにより、発
光素子(LED)が完成する。
Next, a contact hole is formed in the silicon oxide film 51 by photolithography and etching. Next, a titanium film and an aluminum film to be electrodes are formed, and photolithography and etching are performed.
The titanium film and the aluminum film other than the portions that become the anode electrode 53a and the cathode electrode 53b are removed. Thereby, the light emitting element is completed. Through the above process, a light emitting element (LED) is completed.

【0131】このように、図10の例では、トランジス
タと発光素子とが同一のp型シリコン基板50上に形成
される。また、図10において、シリコン酸化膜51、
熱酸化膜52及び電極(53a、53b、56a、56
b)の形成は、トランジスタと発光素子の両方において
同一工程によって同時におこなわれている。
As described above, in the example of FIG. 10, the transistor and the light emitting element are formed on the same p-type silicon substrate 50. 10, a silicon oxide film 51,
Thermal oxide film 52 and electrodes (53a, 53b, 56a, 56
The formation of b) is performed simultaneously by the same process in both the transistor and the light emitting element.

【0132】このため、発光素子の形成においても、発
光素子の形成は、通常の画像表示ドライバICの工程と
同時に処理されるので、画像表示ドライバICの製造に
おける工程数は増加しないと言える。また、発光素子と
画像表示ドライバICとの接続信頼性の向上を図ること
ができる。なお、本実施の形態2では、発光素子として
LEDを形成しているが、発光素子はこれに限定される
ものではない。本発明において発光素子は、他の材料、
例えばGaAs、InP等を用いたLEDであっても良
い。
Therefore, also in the formation of the light emitting element, the formation of the light emitting element is processed simultaneously with the steps of the normal image display driver IC, and it can be said that the number of steps in the manufacture of the image display driver IC does not increase. Further, the connection reliability between the light emitting element and the image display driver IC can be improved. In Embodiment 2, an LED is formed as a light emitting element, but the light emitting element is not limited to this. In the present invention, the light emitting element is made of another material,
For example, an LED using GaAs, InP or the like may be used.

【0133】次に、本実施の形態2にかかる画像表示装
置の製造方法について、発光素子がアレイ基板上にTF
Tと共に形成された例に基づいて説明する。図11は、
発光素子がアレイ基板上に形成された画像表示装置を示
す断面図である。
Next, in the method of manufacturing the image display device according to the second embodiment, the light emitting element is provided on the array substrate with the TF.
A description will be given based on an example formed with T. FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an image display device in which light emitting elements are formed on an array substrate.

【0134】図11に示す画像表示装置も図5に示す画
像表示装置と同様の液晶表示装置である。図11に示す
画像表示装置において、TFT及び対向基板は図5に示
すものと同様であり、同様の工程で形成されている。以
下に発光素子の製造工程について説明する。
The image display device shown in FIG. 11 is a liquid crystal display device similar to the image display device shown in FIG. In the image display device shown in FIG. 11, the TFT and the counter substrate are the same as those shown in FIG. 5, and are formed in the same steps. Hereinafter, the manufacturing process of the light emitting device will be described.

【0135】図11に示すように、最初にガラス基板1
4の上に下地膜15を形成する。この下地膜15は画像
表示部において形成されたものと同様のものであり、同
一工程によって同時に形成されている。
As shown in FIG. 11, first, the glass substrate 1
On the substrate 4, a base film 15 is formed. This base film 15 is the same as that formed in the image display section, and is formed simultaneously by the same process.

【0136】次に、スパッタ法により、透明電極64と
なるITO膜を成膜する。次いで、レーザアブレーショ
ン法により、膜厚70nmのシリコン超微粒子膜63を
形成する。具体的には、n+シリコン基板を設置し、n
+シリコン基板に対して強強度でレーザ光を照射し、n
+シリコン基板を飛散させてシリコン超微粒子膜(N型
領域)63を成膜する。
Next, an ITO film to be the transparent electrode 64 is formed by a sputtering method. Next, a silicon ultrafine particle film 63 having a thickness of 70 nm is formed by a laser ablation method. Specifically, an n + silicon substrate is installed, and n +
+ Irradiate the silicon substrate with a laser beam at a high intensity, and n
+ The silicon substrate is scattered to form a silicon ultrafine particle film (N-type region) 63.

【0137】更に、原料ガスとしてシランにジボランを
混合させた混合ガスを用いたプラズマCVD装置によっ
て、膜厚70nmのp+の多結晶シリコン膜62(P型
領域)を成膜し、注入されたイオンの活性化のために、
窒素雰囲気中の550℃でアニールを行なう。このシリ
コン酸化膜20bも画像表示部において形成されたもの
と同様のものであり、同一工程によって同時に形成され
ている。その後、フォトリソグラフィ及びエッチングに
より、p+多結晶シリコン膜62及び微粒子シリコン膜
63の余分な部分を除去する。
Further, a p + polycrystalline silicon film 62 (P-type region) having a film thickness of 70 nm was formed by a plasma CVD apparatus using a mixed gas of silane and diborane as a raw material gas. For the activation of
Annealing is performed at 550 ° C. in a nitrogen atmosphere. This silicon oxide film 20b is also the same as that formed in the image display section, and is formed simultaneously by the same process. Thereafter, unnecessary portions of the p + polycrystalline silicon film 62 and the fine particle silicon film 63 are removed by photolithography and etching.

【0138】次に、フォトリソグラフィ及びエッチング
により、シリコン酸化膜20bに、透明電極64に達す
るコンタクトホールと、p+多結晶シリコン膜62に達
するコンタクトホールとを形成する。
Next, a contact hole reaching the transparent electrode 64 and a contact hole reaching the p + polycrystalline silicon film 62 are formed in the silicon oxide film 20b by photolithography and etching.

【0139】その後、チタン膜及びアルミニウム・ジル
コニウム合金膜をスパッタリングによって成膜し、エッ
チングにより所定の形状にパターニングして、カソード
電極60aとアノード電極60bとを形成する。なお、
カソード電極60a及びアノード電極60bはソース・
ドレイン電極22と異なる形状を有しているが、ソース
・ドレイン電極22と同一工程によって同時に形成され
ている。
After that, a titanium film and an aluminum-zirconium alloy film are formed by sputtering, and are patterned into a predetermined shape by etching to form a cathode electrode 60a and an anode electrode 60b. In addition,
The cathode electrode 60a and the anode electrode 60b are
Although it has a shape different from that of the drain electrode 22, it is formed simultaneously with the source / drain electrode 22 in the same step.

【0140】以上のプロセスにより、発光素子(LE
D)が完成する。また、図10の例でも、図5の例と同
様に、駆動回路を構成するCMOSトランジスタは、ガ
ラス基板14上に画像表示用のTFTと同一の工程によ
り同時に形成されている。
By the above process, the light emitting element (LE)
D) is completed. Also, in the example of FIG. 10, as in the example of FIG. 5, the CMOS transistors forming the driving circuit are formed on the glass substrate 14 at the same time as the image display TFTs in the same process.

【0141】また、図15は、図11に示す画像表示装
置がEL表示装置である例を示す断面図である。図15
に示す画像表示装置においても、図11と同様にガラス
基板14上に画素用TFTと発光素子とが形成されてい
る。しかし、図15に示す画像表示装置はEL表示装置
であるため、画素用TFTより表示面側にある部分の構
成が、図11で示した画像表示装置と異なっている。画
素用TFTより表示面側にある部分の構成は図14で示
した構成と同様である。
FIG. 15 is a sectional view showing an example in which the image display device shown in FIG. 11 is an EL display device. FIG.
In the image display device shown in FIG. 1, a pixel TFT and a light emitting element are formed on a glass substrate 14 as in FIG. However, since the image display device illustrated in FIG. 15 is an EL display device, the configuration of a portion closer to the display surface than the pixel TFT is different from the image display device illustrated in FIG. The configuration of the portion on the display surface side from the pixel TFT is the same as the configuration shown in FIG.

【0142】このように、本実施の形態2にかかる画像
表示装置の製造方法によれば、共通のガラス基板上に、
画像表示用のTFTの一部と、駆動回路を構成するトラ
ンジスタの一部と、発光素子の一部とを同時に形成する
ことができる。よって、発光素子を別のチップとして接
続する場合と比較して、接続不良を少なくすることが
可能、設置面積が小さくてすむため小型化が可能、
発光素子の接続のためのコストの低減が可能といった効
果を得ることができる。
As described above, according to the method of manufacturing an image display device according to the second embodiment, the common glass substrate
Part of an image display TFT, part of a transistor included in a driver circuit, and part of a light-emitting element can be formed at the same time. Therefore, compared to the case where the light emitting element is connected as another chip, it is possible to reduce connection failures, and it is possible to reduce the installation area and to reduce the size,
The effect that the cost for connecting the light emitting element can be reduced can be obtained.

【0143】また、本実施の形態2においても、実施の
形態1と同様に、発光素子と受光素子の代わりに電磁石
等を用いて、磁気信号による送受信を行なう構成とする
ことができ、又電波を発信する発信素子と電波を受信す
る受信素子とを用いて、電波信号による送受信を行なう
構成とすることができる。
Also, in the second embodiment, similarly to the first embodiment, transmission and reception by magnetic signals can be performed by using an electromagnet or the like instead of the light emitting element and the light receiving element. And a receiving element for receiving a radio wave.

【0144】(実施の形態3)次に、本発明の実施の形
態3にかかる画像表示装置、その製造方法及び画像表示
ドライバICについて、図12及び図13に基づいて説
明する。図12は、実施の形態3にかかる画像表示装置
の上面を示す図である。
(Embodiment 3) Next, an image display device, a method of manufacturing the same, and an image display driver IC according to Embodiment 3 of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 12 is a diagram illustrating an upper surface of the image display device according to the third embodiment.

【0145】図12に示すように、本実施の形態3にか
かる画像表示装置は、実施の形態1と同様のアレイ基板
1及び対向基板2を有しているが、周辺基板(図示せ
ず)に電波信号を発信する発信素子(図示せず)が取り
付けられ、画像表示ドライバIC3が電波信号を受信す
る受信素子38を有している点で実施の形態1と異なっ
ている。また、アレイ基板1上にアモルファスシリコン
又はポリシリコンを受光層とする太陽電池36が形成さ
れている点でも異なっている。
As shown in FIG. 12, the image display apparatus according to the third embodiment has the same array substrate 1 and counter substrate 2 as in the first embodiment, but has a peripheral substrate (not shown). A transmitting element (not shown) for transmitting a radio signal is attached to the image display driver IC3, and the image display driver IC3 has a receiving element 38 for receiving the radio signal. Another difference is that a solar cell 36 having amorphous silicon or polysilicon as a light receiving layer is formed on the array substrate 1.

【0146】実施の形態3にかかる画像表示装置におい
ては、太陽電池36により画像表示部が駆動されてい
る。また、本実施の形態3にかかる画像表示装置には、
充電可能な二次電池37が備えられている。二次電池3
7は太陽電池36によって充電され、画像表示部への電
力供給の安定化を図っている。
In the image display device according to the third embodiment, the image display section is driven by the solar cell 36. The image display device according to the third embodiment includes:
A rechargeable secondary battery 37 is provided. Rechargeable battery 3
Reference numeral 7 is charged by the solar cell 36 to stabilize the power supply to the image display unit.

【0147】このように、本実施の形態3では、アレイ
基板1に電源が備えられており、又周辺基板と画像表示
ドライバとは電波信号によって送受信を行なっている。
このため、アレイ基板1と対向基板2とを、周辺基板か
ら、即ち画像表示装置から着脱することが可能である。
また、アレイ基板1には太陽電池38による電源が備え
られているため、アレイ基板1を周辺基板から分離した
状態で画像表示することが可能である。
As described above, in the third embodiment, the power supply is provided to the array substrate 1, and the peripheral substrate and the image display driver transmit and receive by radio signals.
Therefore, the array substrate 1 and the opposing substrate 2 can be detached from the peripheral substrate, that is, from the image display device.
Further, since the array substrate 1 is provided with a power supply by the solar cell 38, it is possible to display an image in a state where the array substrate 1 is separated from the peripheral substrate.

【0148】なお、本実施の形態3にかかわらず、実施
の形態1及び2にかかる画像表示装置においても、太陽
電池を備えておくことは可能である。この場合は、実施
の形態1及び2にかかる画像表示装置においても、アレ
イ基板1と対向基板2とを周辺基板から着脱可能な構成
とすることができる。
Note that, regardless of the third embodiment, the image display devices according to the first and second embodiments can also be provided with a solar cell. In this case, in the image display devices according to the first and second embodiments, the array substrate 1 and the counter substrate 2 can be configured to be detachable from the peripheral substrate.

【0149】但し、上述のように、実施の形態1及び2
にかかる画像表示装置においては、光信号による送受信
を行なうため、信号の伝達距離が短く、遮蔽物があると
信号が伝達されにくいという問題がある。この点から、
本実施の形態3にかかる画像示装置の方が、着脱可能な
構成に適していると言える。
However, as described above, Embodiments 1 and 2
In the image display device according to the above, since transmission and reception are performed by optical signals, there is a problem that a signal transmission distance is short and a signal is difficult to be transmitted if there is a shield. From this point,
It can be said that the image display device according to the third embodiment is more suitable for a detachable configuration.

【0150】太陽電池38への光の供給は、外光によっ
て行なっても良いし、周辺基板からの光の照射によって
行なっても良い。また、画像表示用に用いるバックライ
トによって照射された光の一部が太陽電池に入射するよ
う設計することも可能である。
The supply of light to the solar cell 38 may be performed by external light or by irradiation of light from a peripheral substrate. It is also possible to design so that part of the light emitted by the backlight used for image display enters the solar cell.

【0151】また、本実施の形態3においては、画像表
示ドライバIC3に発信素子38に加えて発信素子を設
けておくことができ、周辺基板に発信素子に加えて受信
素子を設けておくことができる。この場合は、実施の形
態2と同様に、例えばタブレット位置情報、信号同期情
報及び周辺輝度情報うち少なくとも一つを含む電波信号
を周辺基板に送信することができる。
In the third embodiment, a transmitting element can be provided in addition to the transmitting element 38 in the image display driver IC3, and a receiving element in addition to the transmitting element can be provided in the peripheral substrate. it can. In this case, as in the second embodiment, for example, a radio signal including at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information can be transmitted to the peripheral substrate.

【0152】本実施の形態3では、太陽電池38は画像
表示部の周辺に形成されているが、これに限定されず、
画像表示部内に形成されていても良い。また、太陽電池
38は、画像表示ドライバIC3やアレイ基板1とは別
個に作製した単体の太陽電池であっても良い。太陽電池
38は画像表示ドライバIC3と一緒にパッケージして
も良く、この場合は、画像表示ドライバIC3と太陽電
池38とで一つのICパッケージが形成される。
In the third embodiment, the solar cell 38 is formed around the image display section, but is not limited to this.
It may be formed in the image display unit. Further, the solar cell 38 may be a single solar cell manufactured separately from the image display driver IC 3 and the array substrate 1. The solar cell 38 may be packaged together with the image display driver IC3. In this case, one IC package is formed by the image display driver IC3 and the solar cell 38.

【0153】COG実装される部品点数の低減の点から
は、太陽電池38は、画素ドライバIC3を形成するた
めのシリコン基板上に画素ドライバIC3を構成するト
ランジスタと共に形成(モノリシックに形成)するのが
好ましく、又アレイ基板1を形成するためのガラス基板
上に、TFTと共に形成するのも好ましい。
From the viewpoint of reducing the number of components mounted by COG, the solar cell 38 is formed (monolithically formed) together with the transistors constituting the pixel driver IC 3 on a silicon substrate for forming the pixel driver IC 3. Preferably, it is also preferably formed together with a TFT on a glass substrate for forming the array substrate 1.

【0154】前者の場合、太陽電池38と画像表示ドラ
イバIC3を構成するトランジスタとで一つのICチッ
プが形成されるので、COG実装される部品点数を低減
できる。また、後者の場合、アレイ基板1を形成するた
めのガラス基板上に駆動回路を形成すれば、駆動回路、
太陽電池38、及びTFTの全てを同一の基板上に形成
できるので、COG実装される部品点数を更に低減でき
る。
In the former case, since one IC chip is formed by the solar cell 38 and the transistor constituting the image display driver IC 3, the number of components mounted by COG can be reduced. In the latter case, if a drive circuit is formed on a glass substrate on which the array substrate 1 is formed, the drive circuit,
Since all of the solar cell 38 and the TFT can be formed on the same substrate, the number of components mounted by COG can be further reduced.

【0155】画像表示ドライバIC3を形成するための
シリコン基板上に太陽電池33を形成する場合は、図4
に示した受光素子の形成工程を受光部の面積が大きくな
るようにして行なえば良い。
When the solar cell 33 is formed on a silicon substrate for forming the image display driver IC 3, FIG.
The process of forming the light receiving element described in (1) may be performed so that the area of the light receiving portion is increased.

【0156】次に、太陽電池をアレイ基板上にTFTと
共に形成する例について、図12〜図13及び図16に
基づいて説明する。図12〜図13は本実施の形態3に
かかる画像表示装置が液晶表示装置である例について示
しており、図16は本実施の形態1にかかる画像表示装
置がEL表示装置である例について示している。
Next, an example of forming a solar cell together with a TFT on an array substrate will be described with reference to FIGS. 12 to 13 and FIG. 12 and 13 show an example in which the image display device according to the third embodiment is a liquid crystal display device, and FIG. 16 shows an example in which the image display device according to the first embodiment is an EL display device. ing.

【0157】図13は、太陽電池がアレイ基板上に形成
された画像表示装置を示す断面図である。図13に示す
画像表示装置も図5に示す画像表示装置と同様の液晶表
示装置である。図13に示す画像表示装置において、T
FT及び対向基板は図5に示すものと同様であり、同様
の工程で形成されている。以下に太陽電池の製造工程に
ついて説明する。
FIG. 13 is a sectional view showing an image display device in which solar cells are formed on an array substrate. The image display device shown in FIG. 13 is also a liquid crystal display device similar to the image display device shown in FIG. In the image display device shown in FIG.
The FT and the counter substrate are the same as those shown in FIG. 5, and are formed in the same steps. Hereinafter, the manufacturing process of the solar cell will be described.

【0158】図13に示すように、最初にガラス基板1
4の上に下地膜15を形成する。次いで、結晶ポリシリ
コン膜を形成し、高濃度のリンを注入してN型領域16
を形成する。この下地膜15とN型領域16は画像表示
部において形成されたものと同様のものであり、同一工
程によって同時に形成されている。
[0158] As shown in FIG.
On the substrate 4, a base film 15 is formed. Next, a crystalline polysilicon film is formed, and high-concentration phosphorus is implanted into the N-type region 16.
To form The base film 15 and the N-type region 16 are the same as those formed in the image display section, and are formed simultaneously by the same process.

【0159】次に、原料ガスとしてシランにジボランを
混合させた混合ガスを用いたプラズマCVD装置によっ
て、p+の多結晶シリコン膜を膜厚70nmで成膜す
る。その後、フォトリソグラフィ及びエッチングによ
り、このp+多結晶シリコン膜の一部を除去してP型領
域61を形成する。
Next, a p + polycrystalline silicon film is formed to a thickness of 70 nm by a plasma CVD apparatus using a mixed gas of silane and diborane as a source gas. Thereafter, a part of the p + polycrystalline silicon film is removed by photolithography and etching to form a P-type region 61.

【0160】更に、保護用絶縁膜となるシリコン酸化膜
20bをTEOS−CVD法にて成膜し、注入されたイ
オンの活性化のために、窒素雰囲気中の550℃でアニ
ールを行なう。このシリコン酸化膜20bも画像表示部
において形成されたものと同様のものであり、同一工程
によって同時に形成されている。
Further, a silicon oxide film 20b serving as a protective insulating film is formed by a TEOS-CVD method, and annealing is performed at 550 ° C. in a nitrogen atmosphere to activate the implanted ions. This silicon oxide film 20b is also the same as that formed in the image display section, and is formed simultaneously by the same process.

【0161】次に、フォトリソグラフィ及びエッチング
により、シリコン酸化膜20bに、N型領域16に達す
るコンタクトホールと、P型領域61に達するコンタク
トホールとを形成する。なお、受光部の面積が大きくな
るようにするため、コンタクトホールは、図6で示した
発光素子の場合よりもコンタクトホール間の距離が短く
なるように形成されている。
Next, a contact hole reaching the N-type region 16 and a contact hole reaching the P-type region 61 are formed in the silicon oxide film 20b by photolithography and etching. In order to increase the area of the light receiving portion, the contact holes are formed such that the distance between the contact holes is shorter than that in the case of the light emitting element shown in FIG.

【0162】その後、チタン膜及びアルミニウム・ジル
コニウム合金膜をスパッタリングによって成膜し、エッ
チングにより所定の形状にパターニングして、カソード
電極64aとアノード電極64bとを形成する。なお、
カソード電極64a及びアノード電極64bはソース・
ドレイン電極22と異なる形状を有しているが、ソース
・ドレイン電極22と同一工程によって同時に形成され
ている。
Thereafter, a titanium film and an aluminum-zirconium alloy film are formed by sputtering, and are patterned into a predetermined shape by etching to form a cathode electrode 64a and an anode electrode 64b. In addition,
The cathode electrode 64a and the anode electrode 64b have a source
Although it has a shape different from that of the drain electrode 22, it is formed simultaneously with the source / drain electrode 22 in the same step.

【0163】以上のプロセスにより、太陽電池が完成す
る。また、図13の例でも、図5の例と同様に、駆動回
路を構成するCMOSトランジスタは、ガラス基板14
上に画像表示用のTFTと同一の工程により同時に形成
されている。
The solar cell is completed by the above process. In the example of FIG. 13, as in the example of FIG.
It is formed at the same time as the image display TFT by the same process.

【0164】また、図16は、図13に示す画像表示装
置がEL表示装置である例を示す断面図である。図16
に示す画像表示装置においても、図13と同様にガラス
基板14上に画素用TFTと発光素子とが形成されてい
る。しかし、図16に示す画像表示装置はEL表示装置
であるため、画素用TFTより表示面側にある部分の構
成が、図13で示した画像表示装置と異なっている。画
素用TFTより表示面側にある部分の構成は図14で示
した構成と同様である。
FIG. 16 is a sectional view showing an example in which the image display device shown in FIG. 13 is an EL display device. FIG.
In the image display device shown in FIG. 1, a pixel TFT and a light emitting element are formed on a glass substrate 14 as in FIG. However, since the image display device illustrated in FIG. 16 is an EL display device, the configuration of a portion closer to the display surface than the pixel TFT is different from the image display device illustrated in FIG. The configuration of the portion on the display surface side from the pixel TFT is the same as the configuration shown in FIG.

【0165】このように、本実施の形態3によれば、共
通のガラス基板上に、画像表示用のTFTの一部と、駆
動回路を構成するトランジスタの一部と、太陽電池の一
部とを同時に形成することができる。よって、太陽電池
を別に設けて接続する場合と比較して、接続不良を少
なくすることが可能、設置面積が小さくてすむため小
型化が可能、太陽電池の接続のためのコストの低減が
可能といった効果を得ることができる。
As described above, according to the third embodiment, a part of a TFT for image display, a part of a transistor constituting a driving circuit, and a part of a solar cell are formed on a common glass substrate. Can be simultaneously formed. Therefore, compared to the case where a solar cell is separately provided and connected, connection failure can be reduced, the installation area can be reduced, the size can be reduced, and the cost for connecting the solar cell can be reduced. The effect can be obtained.

【0166】[0166]

【発明の効果】以上のように、本発明にかかる画像表示
装置を用いれば、周辺回路かと駆動回路との間で光信号
によって送受信を行なうことが可能となる。このため、
電気な接続を電源供給ラインのみとできるため、接続点
数を大幅に減少することができる。
As described above, the use of the image display device according to the present invention makes it possible to transmit and receive optical signals between the peripheral circuit and the drive circuit. For this reason,
Since electrical connection can be made only to the power supply line, the number of connection points can be significantly reduced.

【0167】また、これにより、接続信頼性及び歩留ま
りの向上を図ることができるので、返品率の減少を図る
ことができる。接続の簡素化によって、コストの削減を
図ることができ、更に不要輻射(EMS,EMI)の低
減を図ることができるので、画質を安定化でき、他の機
器への悪影響を減少することができる。不要輻射(EM
S,EMI)の低減により、周波数の高い信号によって
データを入力することも可能となる。
[0167] Further, since the connection reliability and the yield can be improved, the return rate can be reduced. By simplifying the connection, cost can be reduced, and unnecessary radiation (EMS, EMI) can be reduced, so that image quality can be stabilized and adverse effects on other devices can be reduced. . Unwanted radiation (EM
(S, EMI), it is also possible to input data using a signal with a high frequency.

【0168】また、周辺回路に受光素子を設け、駆動回
路に発光素子を設けた態様とすれば、画像表示部の接続
配線の増加なしにタブレット情報を伝送することが可能
となる。更に駆動回路から、周辺回路へ信号同期情報を
送信することにより、信号伝送の信頼性を高めることが
でき、より情報量の多い信号を伝送することが可能とな
る。
Further, if the light receiving element is provided in the peripheral circuit and the light emitting element is provided in the driving circuit, tablet information can be transmitted without increasing the number of connection wirings of the image display unit. Further, by transmitting the signal synchronization information from the drive circuit to the peripheral circuit, the reliability of signal transmission can be improved, and a signal having a larger amount of information can be transmitted.

【0169】周辺回路と駆動回路との間で、磁気又は電
波によって信号の送受信を行なう態様では、信号送受信
の距離を長くとれ、又周辺回路と駆動回路との間に遮蔽
物があっても信号の送受信が可能である。
In the mode in which signals are transmitted and received between the peripheral circuit and the drive circuit by magnetic or radio waves, the signal transmission and reception distance can be increased, and even if there is a shield between the peripheral circuit and the drive circuit, the signal can be transmitted and received. Can be transmitted and received.

【0170】本発明の画像表示装置には、アレイ基板に
太陽電池と充電池を設置することが可能である。この態
様では、周辺回路と駆動回路との間における電気的な接
続配線をなくすことができ、信頼性をより高めることが
できる。また、この態様では、画像表示部分を着脱自在
な構造にでき、本発明の画像表示装置の利用の自由度を
高めることができる。
In the image display device of the present invention, a solar battery and a rechargeable battery can be provided on the array substrate. In this aspect, electrical connection wiring between the peripheral circuit and the drive circuit can be eliminated, and reliability can be further improved. Further, in this aspect, the image display portion can have a detachable structure, and the degree of freedom in using the image display device of the present invention can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施の形態1にかかる画像表示装置の側面を示
す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a side surface of an image display device according to a first embodiment;

【図2】実施の形態1にかかる画像表示装置の上面を示
す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an upper surface of the image display device according to the first embodiment;

【図3】受光素子の一例を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an example of a light receiving element.

【図4】受光素子が画像表示ドライバICの基板上に形
成された例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example in which a light receiving element is formed on a substrate of an image display driver IC.

【図5】図1中の線A−A´に沿って切断した実施の形
態1にかかる画像表示装置の断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view of the image display device according to the first embodiment, taken along a line AA ′ in FIG. 1;

【図6】受光素子がアレイ基板上に形成された画像表示
装置を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating an image display device in which light receiving elements are formed on an array substrate.

【図7】実施の形態2にかかる画像表示装置の側面を示
す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a side surface of the image display device according to the second embodiment;

【図8】実施の形態2にかかる画像表示装置の上面を示
す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating an upper surface of the image display device according to the second embodiment;

【図9】発光素子の一例を示す断面図である。FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating an example of a light emitting element.

【図10】発光素子が画像表示ドライバICの基板上に
形成された例を示す断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example in which a light emitting element is formed on a substrate of an image display driver IC.

【図11】発光素子がアレイ基板上に形成された画像表
示装置を示す断面図である。
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating an image display device in which light emitting elements are formed on an array substrate.

【図12】実施の形態3にかかる画像表示装置の上面を
示す図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating an upper surface of the image display device according to the third embodiment;

【図13】太陽電池がアレイ基板上に形成された画像表
示装置を示す断面図である。
FIG. 13 is a cross-sectional view showing an image display device in which a solar cell is formed on an array substrate.

【図14】図6に示す画像表示装置がEL表示装置であ
る例を示す断面図である。
14 is a cross-sectional view showing an example in which the image display device shown in FIG. 6 is an EL display device.

【図15】図11に示す画像表示装置がEL表示装置で
ある例を示す断面図である。
FIG. 15 is a cross-sectional view showing an example in which the image display device shown in FIG. 11 is an EL display device.

【図16】図13に示す画像表示装置がEL表示装置で
ある例を示す断面図である。
FIG. 16 is a cross-sectional view showing an example in which the image display device shown in FIG. 13 is an EL display device.

【図17】画像表示ドライバICがTAB方式によって
接続された従来の液晶表示装置を示す図である。
FIG. 17 is a diagram illustrating a conventional liquid crystal display device in which image display driver ICs are connected by a TAB method.

【図18】画像表示ドライバICがCOG方式によって
接続された従来の液晶表示装置を示す図である。
FIG. 18 is a diagram illustrating a conventional liquid crystal display device in which image display driver ICs are connected by a COG method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 アレイ基板 2 対向基板 3 画像表示ドライバIC 4 TCP 5 周辺基板 6 コネクター 7 周辺基板上の発光素子 8 画像表示ドライバIC上の受光素子 9 反射防止膜 10 n電極 11 p型シリコン基板 12 アルミニウム電極(p電極) 13 n層 14 ガラス基板 15 下地膜(主にSiO2) 16 N型領域(ソース・ドレイン領域、高濃度不純物
注入領域) 17 LDD領域(低濃度不純物注入領域)またはオフ
セット領域 18 ゲート絶縁膜(主にSiO2) 19 ゲート電極(主にMoW) 20a シリコン酸化膜 20b シリコン酸化膜 21 チャネル領域 22 ソース・ドレイン電極 23 大粒径シリコン結晶 24 対向電極(ITO) 25 ガラス基板 26 カラーフィルタ 27 配向膜 28 透明電極(ITO) 29 平坦化膜(ポリイミド) 30 液晶 31 画像表示ドライバIC上の発光素子 32 周辺基板上の受光素子 33 画像表示ドライバIC上の太陽電池 34 酸化膜 35 シリコン超微粒子層 36 太陽電池 37 二次電池 38 受信素子 40、50 p型シリコン基板 41 n型の非晶質シリコン膜 42、51 シリコン酸化膜 43a、56a ソース電極 43b、56b ドレイン電極 43c、53a アノード電極 43d、53b カソード電極 44、57 高濃度注入領域(n+) 45、58 低濃度注入領域(n−) 46 pの領域 48、59 ゲート電極 49、52 熱酸化膜(ゲート酸化膜) 54 シリコン超微粒子膜 55 ITO膜 60a、65a カソード電極 60b、65b アノード電極 61 P型領域 62 多結晶シリコン膜(P型領域) 63 シリコン超微粒子膜(N型領域) 64 透明電極膜 71 ITO電極 72 光遮断層 73 発光層 74 正孔注入層 75 アルミニウムキノリノール錯体 76 反射画素電極
REFERENCE SIGNS LIST 1 array substrate 2 opposing substrate 3 image display driver IC 4 TCP 5 peripheral substrate 6 connector 7 light emitting element on peripheral substrate 8 light receiving element on image display driver IC 9 antireflection film 10 n electrode 11 p-type silicon substrate 12 aluminum electrode ( 13 n layer 14 glass substrate 15 base film (mainly SiO2) 16 n-type region (source / drain region, high concentration impurity implantation region) 17 LDD region (low concentration impurity implantation region) or offset region 18 gate insulating film (Mainly SiO2) 19 gate electrode (mainly MoW) 20a silicon oxide film 20b silicon oxide film 21 channel region 22 source / drain electrode 23 large grain silicon crystal 24 counter electrode (ITO) 25 glass substrate 26 color filter 27 alignment film 28 Transparent electrode (ITO) 29 Flattening film (Po 30 liquid crystal 31 light emitting element on image display driver IC 32 light receiving element on peripheral substrate 33 solar cell on image display driver IC 34 oxide film 35 silicon ultrafine particle layer 36 solar cell 37 secondary battery 38 receiving element 40, 50 p-type silicon substrate 41 n-type amorphous silicon film 42, 51 silicon oxide film 43a, 56a source electrode 43b, 56b drain electrode 43c, 53a anode electrode 43d, 53b cathode electrode 44, 57 high concentration injection region (n +) 45 58, low-concentration injection region (n-) 46 p region 48, 59 gate electrode 49, 52 thermal oxide film (gate oxide film) 54 silicon ultrafine particle film 55 ITO film 60a, 65a cathode electrode 60b, 65b anode electrode 61P Type region 62 polycrystalline silicon film (P-type region) 63 silicon Emissions ultrafine particle film (N type region) 64 transparent electrode film 71 ITO electrodes 72 light blocking layer 73 emitting layer 74 a hole injection layer 75 of aluminum-quinolinol complex 76 reflective pixel electrode

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/30 338 G09F 9/30 338 360 360 365 365Z 9/35 9/35 H01L 31/04 H01L 31/12 C 31/12 31/04 Q Fターム(参考) 2H093 NA16 NC07 NC09 NC11 NC34 NC49 NC72 NC73 NC90 ND40 ND60 5C094 AA21 AA31 AA45 AA52 AA56 BA03 BA27 BA32 BA34 BA43 CA19 DA09 DA12 DA13 DB02 EB02 FA10 GA10 GB10 5F051 AA03 AA05 BA05 5F089 AA06 AA10 AB03 AB09 5G435 AA14 AA16 AA17 AA18 BB02 BB05 BB12 CC09 EE31 EE37 EE41 GG22 HH12 HH13 HH14 KK05 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G09F 9/30 338 G09F 9/30 338 360 360 360 365 365Z 9/35 9/35 H01L 31/04 H01L 31 / 12 C 31/12 31/04 Q F term (reference) 2H093 NA16 NC07 NC09 NC11 NC34 NC49 NC72 NC73 NC90 ND40 ND60 5C094 AA21 AA31 AA45 AA52 AA56 BA03 BA27 BA32 BA34 BA43 CA19 DA09 DA12 DA13 DB02 EB02 FA10 GA05 GB10 5F05A A 5F089 AA06 AA10 AB03 AB09 5G435 AA14 AA16 AA17 AA18 BB02 BB05 BB12 CC09 EE31 EE37 EE41 GG22 HH12 HH13 HH14 KK05

Claims (43)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 周辺回路から駆動回路に信号を送信し、
前記駆動回路によってマトリックス状に配置された複数
のトランジスタを駆動して画像を表示する画像表示装置
であって、 前記周辺回路は、前記信号を光信号にして送信するよう
に構成されており、前記駆動回路は、前記光信号を受信
するための受光素子を有していることを特徴とする画像
表示装置。
1. A signal is transmitted from a peripheral circuit to a drive circuit,
An image display device that displays an image by driving a plurality of transistors arranged in a matrix by the driving circuit, wherein the peripheral circuit is configured to transmit the signal as an optical signal, An image display device, wherein the drive circuit has a light receiving element for receiving the optical signal.
【請求項2】 前記駆動回路及び前記トランジスタのう
ち少なくとも一方の一部と、前記受光素子の一部又は全
部とが、同一工程によって形成されている請求項1記載
の画像表示装置。
2. The image display device according to claim 1, wherein a part of at least one of the drive circuit and the transistor and a part or all of the light receiving element are formed in the same step.
【請求項3】 太陽電池を有し、前記駆動回路の一部
と、前記トランジスタの一部と、前記受光素子の一部又
は全部と、前記太陽電池の一部又は全部とが、同一工程
によって形成されている請求項1記載の画像表示装置。
3. A solar cell, wherein a part of the driving circuit, a part of the transistor, a part or all of the light receiving element, and a part or all of the solar cell are formed by the same process. The image display device according to claim 1, wherein the image display device is formed.
【請求項4】 前記受光素子と前記トランジスタとが、
同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領域及
び電極を設けて形成されており、 前記受光素子の電極と前記トランジスタの電極とが同一
工程によって形成されている請求項2記載の画像表示装
置。
4. The light receiving element and the transistor,
The image display device according to claim 2, wherein at least an insulating film, an impurity implantation region, and an electrode are provided on the same substrate, and the electrode of the light receiving element and the electrode of the transistor are formed in the same process. .
【請求項5】 前記受光素子と前記トランジスタとが、
同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領域及
び電極を設けて形成されており、 前記受光素子の不純物注入領域の一部又は全部と前記ト
ランジスタの不純物注入領域の一部又は全部とが同一工
程によって形成されている請求項2記載の画像表示装
置。
5. The light receiving element and the transistor,
At least an insulating film, an impurity-implanted region, and an electrode are provided over the same substrate, and a part or all of the impurity-implanted region of the light-receiving element and a part or all of the impurity-implanted region of the transistor are the same. 3. The image display device according to claim 2, wherein the image display device is formed by a process.
【請求項6】 前記受光素子と前記トランジスタとが、
同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領域及
び電極を設けて形成されており、 前記受光素子の前記絶縁膜と前記トランジスタの絶縁膜
とが同一工程によって形成されている請求項2記載の画
像表示装置。
6. The light receiving element and the transistor,
3. The semiconductor device according to claim 2, wherein at least an insulating film, an impurity-implanted region and an electrode are provided on the same substrate, and the insulating film of the light receiving element and the insulating film of the transistor are formed by the same process. Image display device.
【請求項7】 前記駆動回路が光信号を前記周辺回路に
送信するための発光素子を有し、前記周辺回路が前記駆
動回路からの光信号を受信するための受光素子を有して
いる請求項1記載の画像表示装置。
7. The driving circuit has a light emitting element for transmitting an optical signal to the peripheral circuit, and the peripheral circuit has a light receiving element for receiving an optical signal from the driving circuit. Item 2. The image display device according to Item 1.
【請求項8】 前記駆動回路から送信される光信号が、
タブレット位置情報、信号同期情報及び周辺輝度情報う
ち少なくとも一つを含んでいる請求項7記載の画像表示
装置。
8. An optical signal transmitted from the driving circuit,
The image display device according to claim 7, wherein the image display device includes at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information.
【請求項9】 前記駆動回路及び前記トランジスタのう
ち少なくとも一方の一部と、前記発光素子の一部又は全
部とが、同一工程によって形成されている請求項7記載
の画像表示装置。
9. The image display device according to claim 7, wherein a part of at least one of the driving circuit and the transistor and a part or all of the light emitting element are formed in the same step.
【請求項10】 前記駆動回路の一部と、前記トランジ
スタの一部と、前記受光素子の一部又は全部と、前記発
光素子の一部又は全部とが、同一工程によって形成され
ている請求項7記載の画像表示装置。
10. A part of the drive circuit, a part of the transistor, a part or all of the light receiving element, and a part or all of the light emitting element are formed by the same process. 8. The image display device according to 7.
【請求項11】 太陽電池を有し、前記駆動回路の一部
と、前記トランジスタの一部と、前記発光素子の一部又
は全部と、前記太陽電池の一部又は全部とが、同一工程
によって形成されている請求項7記載の画像表示装置。
11. A solar cell including a part of the driving circuit, a part of the transistor, a part or all of the light-emitting element, and a part or all of the solar cell in the same step. The image display device according to claim 7, wherein the image display device is formed.
【請求項12】 太陽電池を有し、前記駆動回路の一部
と、前記トランジスタの一部と、前記受光素子の一部又
は全部と、前記発光素子の一部又は全部と、前記太陽電
池の一部又は全部とが、同一工程によって形成されてい
る請求項7記載の画像表示装置。
12. A solar cell, comprising: a part of the drive circuit; a part of the transistor; a part or all of the light receiving element; a part or all of the light emitting element; The image display device according to claim 7, wherein a part or all of the image display device is formed by the same process.
【請求項13】 前記発光素子と前記トランジスタと
が、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領
域及び電極を設けて形成されており、 前記発光素子の電極と前記トランジスタの電極とが同一
工程によって形成されている請求項7記載の画像表示装
置。
13. The light emitting element and the transistor are formed on the same substrate by providing at least an insulating film, an impurity implantation region and an electrode, and the electrode of the light emitting element and the electrode of the transistor are the same. The image display device according to claim 7, which is formed by a process.
【請求項14】 前記発光素子と前記トランジスタと
が、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領
域及び電極を設けて形成されており、 前記発光素子の絶縁膜と前記トランジスタの絶縁膜とが
同一工程によって形成されている請求項7記載の画像表
示装置。
14. The light emitting element and the transistor are formed on the same substrate by providing at least an insulating film, an impurity implantation region, and an electrode, wherein the insulating film of the light emitting element and the insulating film of the transistor are provided. 8. The image display device according to claim 7, wherein are formed by the same process.
【請求項15】前記光信号が変調光である請求項1また
は請求項6記載の画像表示装置。
15. The image display device according to claim 1, wherein said optical signal is modulated light.
【請求項16】 前記周辺回路と前記トランジスタと
が、それぞれ別個の基板上に形成され、前記周辺回路が
形成された基板と前記トランジスタが形成された基板と
が固定されている請求項1記載の画像表示装置。
16. The substrate according to claim 1, wherein the peripheral circuit and the transistor are formed on separate substrates, respectively, and the substrate on which the peripheral circuit is formed and the substrate on which the transistor is formed are fixed. Image display device.
【請求項17】 周辺回路から駆動回路に信号を送信
し、前記駆動回路によってマトリックス状に配置された
複数のトランジスタを駆動して画像を表示する画像表示
装置であって、 前記周辺回路は、前記信号を電波信号にして送信するよ
うに構成されており、前記駆動回路は、前記電波信号を
受信するための受信素子を有していることを特徴とする
画像表示装置。
17. An image display device for transmitting a signal from a peripheral circuit to a driving circuit, and driving the plurality of transistors arranged in a matrix by the driving circuit to display an image, wherein the peripheral circuit comprises: An image display device configured to transmit a signal as a radio signal, wherein the drive circuit has a receiving element for receiving the radio signal.
【請求項18】 前記駆動回路が電波信号を前記周辺回
路に送信するための発信素子を有し、前記周辺回路が前
記駆動回路からの電波信号を受信するための受信素子を
有している請求項17記載の画像表示装置。
18. The driving circuit according to claim 18, wherein the driving circuit has a transmitting element for transmitting a radio signal to the peripheral circuit, and the peripheral circuit has a receiving element for receiving a radio signal from the driving circuit. Item 18. The image display device according to Item 17.
【請求項19】 前記駆動回路から送信される電波信号
が、タブレット位置情報、信号同期情報及び周辺輝度情
報うち少なくとも一つを含んでいる請求項18記載の画
像表示装置。
19. The image display device according to claim 18, wherein the radio signal transmitted from the drive circuit includes at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information.
【請求項20】 前記駆動回路と前記トランジスタとを
含む部分が、前記周辺回路を含む部分から着脱可能であ
って、前記周辺回路を含む部分から分離した状態で画像
表示可能に構成されている請求項18記載の画像表示装
置。
20. A part including the drive circuit and the transistor is detachable from a part including the peripheral circuit, and is configured to be capable of displaying an image in a state separated from the part including the peripheral circuit. Item 19. The image display device according to Item 18.
【請求項21】 前記駆動回路と前記トランジスタとを
含む部分に、画像表示のための電源が備えられている請
求項20に記載の画像表示装置。
21. The image display device according to claim 20, wherein a power supply for displaying an image is provided in a portion including the drive circuit and the transistor.
【請求項22】 前記電源が太陽電池であり、前記太陽
電池が、前記トランジスタが配置された基板上に設けら
れている請求項21に記載の画像表示装置。
22. The image display device according to claim 21, wherein the power supply is a solar cell, and the solar cell is provided on a substrate on which the transistor is provided.
【請求項23】 当該画像表示装置が液晶表示装置であ
る請求項1〜22のいずれかに記載の画像表示装置。
23. The image display device according to claim 1, wherein the image display device is a liquid crystal display device.
【請求項24】 当該画像表示装置がEL表示装置であ
る請求項1〜22のいずれかに記載の画像表示装置。
24. The image display device according to claim 1, wherein said image display device is an EL display device.
【請求項25】 当該画像表示装置がフィールドエミッ
ション表示装置である請求項1〜22のいずれかに記載
の画像表示装置。
25. The image display device according to claim 1, wherein the image display device is a field emission display device.
【請求項26】 周辺回路が駆動回路に光信号を送信
し、前記駆動回路が受光素子によって前記光信号を受信
してマトリックス状に配置された複数のトランジスタを
駆動することによって画像を表示する画像表示装置の製
造方法であって、 前記駆動回路及び前記トランジスタのうち少なくとも一
方の一部と、前記受光素子の一部又は全部とを同時に形
成する工程を少なくとも有していることを特徴とする画
像表示装置の製造方法。
26. An image for displaying an image by a peripheral circuit transmitting an optical signal to a driving circuit, and the driving circuit receiving the optical signal by a light receiving element and driving a plurality of transistors arranged in a matrix. A method for manufacturing a display device, comprising: at least a step of simultaneously forming at least one part of the drive circuit and the transistor and part or all of the light receiving element. A method for manufacturing a display device.
【請求項27】 前記受光素子と前記トランジスタと
が、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領
域及び電極を設けて形成されたものであり、 前記受光素子の電極と前記トランジスタの電極とを同時
に形成する請求項26記載の画像表示装置の製造方法。
27. The light-receiving element and the transistor are formed by providing at least an insulating film, an impurity-implanted region, and an electrode on the same substrate, wherein the electrode of the light-receiving element and the electrode of the transistor are provided. 27. The method for manufacturing an image display device according to claim 26, wherein the steps (a) and (b) are simultaneously formed.
【請求項28】 前記受光素子と前記トランジスタと
が、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領
域及び電極を設けて形成されたものであり、 前記受光素子の不純物注入領域の一部又は全部と前記ト
ランジスタの不純物注入領域の一部又は全部とを同時に
形成する請求項26記載の画像表示装置の製造方法。
28. The light-receiving element and the transistor are formed on the same substrate by providing at least an insulating film, an impurity-implanted region, and an electrode; 27. The method of manufacturing an image display device according to claim 26, wherein the whole and part or all of the impurity-implanted region of the transistor are formed simultaneously.
【請求項29】 前記受光素子と前記トランジスタと
が、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領
域及び電極を設けて形成されたものであり、 前記受光素子の前記絶縁膜と前記トランジスタの絶縁膜
とを同時に形成する請求項26記載の画像表示装置の製
造方法。
29. The light receiving element and the transistor are formed by providing at least an insulating film, an impurity implantation region, and an electrode on the same substrate, and the insulating film of the light receiving element and the transistor The method for manufacturing an image display device according to claim 26, wherein the insulating film and the insulating film are simultaneously formed.
【請求項30】 前記駆動回路が、タブレット位置情
報、信号同期情報及び周辺輝度情報うち少なくとも一つ
を含む光信号を前記周辺回路に送信するための発光素子
を有し、前記周辺回路が、前記タブレット位置情報、信
号同期情報及び周辺輝度情報のうち少なくとも一つを含
む光信号を受信するための受光素子を有しており、 前記駆動回路及び前記トランジスタのうち少なくとも一
方の一部と、前記発光素子の一部又は全部とを同時に形
成する工程を有している請求項26記載の画像表示装置
の製造方法。
30. The driving circuit includes a light emitting element for transmitting an optical signal including at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information to the peripheral circuit, wherein the peripheral circuit includes: A light receiving element for receiving an optical signal including at least one of tablet position information, signal synchronization information, and peripheral luminance information; and a part of at least one of the drive circuit and the transistor; 27. The method for manufacturing an image display device according to claim 26, further comprising a step of forming a part or all of the elements simultaneously.
【請求項31】 前記発光素子と前記トランジスタと
が、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領
域及び電極を設けて形成されたものであり、 前記発光素子の電極と前記トランジスタの電極とを同時
に形成する請求項30記載の画像表示装置の製造方法。
31. The light-emitting element and the transistor are formed by providing at least an insulating film, an impurity-implanted region, and an electrode on the same substrate, wherein the electrode of the light-emitting element and the electrode of the transistor are provided. 31. The method of manufacturing an image display device according to claim 30, wherein the image display device is formed simultaneously.
【請求項32】 前記発光素子と前記トランジスタと
が、同一の基板上に、少なくとも絶縁膜、不純物注入領
域及び電極を設けて形成されたものであり、 前記発光素子の絶縁膜と前記トランジスタの絶縁膜とを
同時に形成する請求項30記載の画像表示装置の製造方
法。
32. The light emitting element and the transistor are formed by providing at least an insulating film, an impurity-implanted region, and an electrode on the same substrate, wherein the insulating film of the light emitting element is insulated from the transistor. The method for manufacturing an image display device according to claim 30, wherein the film is formed simultaneously.
【請求項33】 入力された光信号を電気信号に変換す
る受光素子を有することを特徴とする画像表示ドライバ
IC。
33. An image display driver IC having a light receiving element for converting an input optical signal into an electric signal.
【請求項34】 前記受光素子が、当該画像表示ドライ
バICを構成するシリコン基板にモノリシックに形成さ
れている請求項33に記載の画像表示ドライバIC。
34. The image display driver IC according to claim 33, wherein the light receiving element is monolithically formed on a silicon substrate constituting the image display driver IC.
【請求項35】 前記受光素子がフォトダイオードであ
る請求項33に記載の画像表示ドライバIC。
35. The image display driver IC according to claim 33, wherein said light receiving element is a photodiode.
【請求項36】 前記受光素子がフォトトランジスタで
ある請求項33に記載の画像表示ドライバIC。
36. The image display driver IC according to claim 33, wherein said light receiving element is a phototransistor.
【請求項37】 入力された電気信号を光信号に変換す
る発光素子を有することを特徴とする画像表示ドライバ
IC。
37. An image display driver IC having a light emitting element for converting an input electric signal into an optical signal.
【請求項38】 前記発光素子が、当該画像表示ドライ
バICを構成するシリコン基板にモノリシックに形成さ
れている請求項37に記載の画像表示ドライバIC。
38. The image display driver IC according to claim 37, wherein the light emitting element is monolithically formed on a silicon substrate constituting the image display driver IC.
【請求項39】 前記発光素子がLEDである請求項3
7に記載の画像表示ドライバIC。
39. The light emitting device is an LED.
8. The image display driver IC according to 7.
【請求項40】 前記発光素子がレーザである請求項3
7に記載の画像表示ドライバIC。
40. The light emitting device according to claim 3, wherein the light emitting device is a laser.
8. The image display driver IC according to 7.
【請求項41】 太陽電池を有することを特徴とする画
像表示ドライバIC。
41. An image display driver IC comprising a solar cell.
【請求項42】 電波を受信して電気信号に変換する素
子、及び電気信号を電波に変換して送信する素子のうち
少なくとも一方を有することを特徴とする画像表示ドラ
イバIC。
42. An image display driver IC comprising at least one of an element that receives a radio wave and converts it into an electric signal, and an element that converts an electric signal into a radio wave and transmits it.
【請求項43】 磁気による信号を受信して電気信号に
変換する素子、及び電気信号を磁気信号に変換して送信
する素子のうち少なくとも一方を有することを特徴とす
る画像表示ドライバIC。
43. An image display driver IC comprising at least one of an element for receiving a magnetic signal and converting it into an electric signal, and an element for converting an electric signal into a magnetic signal and transmitting it.
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