JP2002174592A - Evaluation apparatus - Google Patents

Evaluation apparatus

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JP2002174592A
JP2002174592A JP2000372448A JP2000372448A JP2002174592A JP 2002174592 A JP2002174592 A JP 2002174592A JP 2000372448 A JP2000372448 A JP 2000372448A JP 2000372448 A JP2000372448 A JP 2000372448A JP 2002174592 A JP2002174592 A JP 2002174592A
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JP
Japan
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measured
light
appearance
internal quality
information
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JP2000372448A
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Japanese (ja)
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Kenichi Iwami
憲一 石見
Shinichi Kawabata
河端  真一
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Kubota Corp
Original Assignee
Kubota Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an evaluation apparatus, capable of analyzing the interior quality of an object to be measured and reducing the cost, while permitting examination of the appearance of the object, and facilitating installation work and maintenance work. SOLUTION: The evaluation apparatus comprises a conveying means 2 for conveying the object M to be measured for passing a position 1 to be measured about the interior quality; an appearance detecting means 5 for detecting the appearance information of the object M, disposed at the position 4 to be inspected of an upstream side from the position 1 to be measured about the interior quality in the conveying direction of the object M of the means 2; and a control means 8 for examining the appearance of the object M, based on the detection information of the means 5 and managing the positional information of the object M to the position 1, based on the position information of the object M in the conveying means, when the appearance of the object M is examined to control a light-emitting and photodetecting means 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、内部品質計測対象
箇所を通過するように被計測物を搬送する搬送手段が設
けられ、前記内部品質計測対象箇所に位置する前記被計
測物に光を照射して、前記被計測物からの透過光または
反射光を受光する投受光手段と、その投受光手段の動作
を制御しかつ前記投受光手段にて受光した光により前記
被計測物の内部品質を解析する制御手段とを備えた評価
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for transporting an object to be measured so as to pass through a portion to be measured for internal quality, and irradiates the object to be measured located at the portion to be measured with internal quality with light. And a light emitting and receiving means for receiving transmitted light or reflected light from the object to be measured, and controlling the operation of the light emitting and receiving means and controlling the internal quality of the object by the light received by the light emitting and receiving means. The present invention relates to an evaluation device including control means for analyzing.

【0002】[0002]

【従来の技術】上記のような評価装置は、青果物などの
被計測物が内部品質計測対象箇所を通過するときに、そ
の被計測物に光を照射し、その被計測物からの透過光ま
たは反射光を受光するように投受光手段を作動させて、
その投受光手段にて受光した光により被計測物の内部品
質を解析する内部品質評価装置が設けられているもので
ある。そして、例えば、凹面回折格子にて被計測物から
の透過光または反射光を分光した後、複数の光電変換素
子などからなる受光素子をアレイ状に並べた電荷蓄電式
のラインセンサなどを投受光手段として用い、このよう
な投受光手段にて計測される分光スペクトルデータに
は、青果物などの被計測物の内部品質が反映されている
ことから、投受光手段にて計測される分光スペクトルデ
ータに基づいて、青果物などの被計測物の内部品質を解
析するものである。
2. Description of the Related Art The above-described evaluation apparatus irradiates light to an object to be measured, such as fruits and vegetables, when the object passes through a portion to be measured for internal quality, and transmits light or light transmitted from the object to be measured. Activate the light emitting and receiving means to receive the reflected light,
An internal quality evaluation device for analyzing the internal quality of the object to be measured based on the light received by the light emitting and receiving means is provided. Then, for example, after the transmitted light or the reflected light from the object to be measured is separated by a concave diffraction grating, the light is transmitted and received by a charge storage type line sensor or the like in which light receiving elements including a plurality of photoelectric conversion elements are arranged in an array. Since the internal quality of the object to be measured such as fruits and vegetables is reflected in the spectral spectrum data measured by such light emitting and receiving means, the spectral spectrum data measured by the light emitting and receiving means is used. Based on this, the internal quality of an object to be measured such as fruits and vegetables is analyzed.

【0003】前記内部品質評価装置では、搬送手段にて
搬送される被計測物が内部品質計測対象箇所に位置する
タイミングで投受光手段を作動させることが必要である
ことから、搬送手段における被計測物の搬送方向におい
て内部品質計測対象箇所よりも上流側に、例えば、被計
測物が通過したことを検出する位置センサなど、搬送方
向での被計測物の位置情報を検出する位置情報検出手段
を設けて、その位置情報検出手段の検出情報に基づい
て、内部品質計測対象箇所に対する被計測物の位置情報
を管理して、的確なタイミングにて投受光手段を作動さ
せるようにしている。また、内部品質評価装置は、被計
測物の形状や大きさなどが変わると、被計測物からの透
過光または反射光の光量が変化して、投受光手段にて設
定適正量の光を受光できず、被計測物の内部品質を精度
よく計測できない虞があるために、被計測物の形状や大
きさなどに応じて、被計測物の内部品質を解析するとき
の計測条件を調整することが望まれていることから、被
計測物の形状や大きさなどの情報を得るための検出手段
を設けて、その検出手段の検出情報に基づいて被計測物
の内部品質を解析するときの計測条件を調整するように
している。
In the above internal quality evaluation apparatus, it is necessary to operate the light emitting and receiving means at the timing when the object to be measured conveyed by the conveying means is located at the internal quality measurement target location. A position information detecting unit that detects position information of the measured object in the transport direction, such as a position sensor that detects that the measured object has passed, on the upstream side of the internal quality measurement target point in the transport direction of the object, for example. The position information of the object to be measured with respect to the internal quality measurement target is managed based on the detection information of the position information detecting means, and the light emitting and receiving means is operated at an appropriate timing. In addition, when the shape or size of the measured object changes, the internal quality evaluation device changes the amount of transmitted light or reflected light from the measured object, and receives an appropriate amount of light set by the light emitting and receiving means. Adjustment of the measurement conditions when analyzing the internal quality of the object to be measured according to the shape and size of the object to be measured, since the internal quality of the object to be measured may not be able to be measured with high accuracy because it is not possible. Therefore, it is necessary to provide detection means to obtain information such as the shape and size of the measured object, and to measure the internal quality of the measured object based on the detection information of the detecting means. The conditions are adjusted.

【0004】この種の評価装置では、搬送手段にて外観
検査計測対象箇所を通過するように被計測物を搬送する
とともに、その外観検査計測対象箇所に位置する被計測
物の外観情報を検出する外観検出手段を設け、上述の内
部品質装置に加えて、外観検出手段の検出情報に基づい
て、被計測物の外観を検査する外観検査装置を設けて、
被計測物の内部品質の解析に加えて、被計測物の外観を
検査するようにしているものがある。この外観検査装置
は、例えば、被計測物を撮像する撮像手段を外観検出手
段として用い、外観検査計測対象箇所に位置する被計測
物を撮像するように撮像手段を作動させ、その撮像手段
の画像情報に基づいて、搬送方向での被計測物の位置情
報を得るとともに、被計測物の形状や大きさなどの外観
情報を得て、被計測物の外形形状が正常か異常かなどを
検査するように構成されている。
In this type of evaluation apparatus, the object to be measured is conveyed by the conveying means so as to pass through the target position for appearance inspection measurement, and the appearance information of the object to be measured located at the target position for appearance inspection measurement is detected. Providing an appearance detection means, in addition to the internal quality device described above, based on the detection information of the appearance detection means, provided with an appearance inspection device for inspecting the appearance of the measured object,
In some cases, in addition to the analysis of the internal quality of the measured object, the appearance of the measured object is inspected. This appearance inspection apparatus uses, for example, imaging means for imaging the object to be measured as appearance detection means, operates the imaging means to image the object to be measured located at the appearance inspection measurement target location, and outputs an image of the imaging means. Based on the information, obtain the position information of the measured object in the transport direction, obtain the appearance information such as the shape and size of the measured object, and inspect whether the outer shape of the measured object is normal or abnormal. It is configured as follows.

【0005】上述の如く、この種の評価装置では、被計
測物の内部品質を解析する内部品質評価装置と被計測物
の外観を検査する外観検査装置とを設けて、被計測物の
内部品質を解析するとともに、被計測物の外観を検査す
るようにしているが、例えば、搬送方向での被計測物の
位置情報や被計測物の形状や大きさなど各種の情報が内
部品質評価装置と外観検査装置との夫々で各別に管理さ
れ、これら2つの装置は各別に制御するようにしてい
る。
As described above, this type of evaluation device is provided with an internal quality evaluation device for analyzing the internal quality of the object to be measured and an appearance inspection device for inspecting the appearance of the object to be measured, and the internal quality of the object to be measured is provided. In addition to analyzing the external appearance of the object to be measured, various types of information such as the position information of the object to be measured in the transport direction and the shape and size of the object to be measured are transmitted to the internal quality evaluation device. Each of them is managed separately by the visual inspection device, and these two devices are individually controlled.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
評価装置では、搬送方向での被計測物の位置情報や被計
測物の形状や大きさなど各種の情報が内部品質評価装置
と外観検査装置との夫々で各別に管理され、これら2つ
の装置は各別に制御されているために、各種の情報を検
出するための検出手段などを夫々の装置に設ける必要が
あり、そのために、検出手段などの部品点数が多くな
り、コストアップを招くとともに、設置作業およびメン
テナンス作業などが煩わしいものとなる虞がある。
However, in the above-described evaluation device, various information such as the position information of the object to be measured in the transport direction and the shape and size of the object to be measured are stored in the internal quality evaluation device and the appearance inspection device. , Each of which is controlled separately, and since these two devices are individually controlled, it is necessary to provide a detection means for detecting various information in each device. The number of parts increases, which leads to an increase in cost and a troublesome installation work and maintenance work.

【0007】本発明は、かかる点に着目してなされたも
のであり、被計測物の内部品質を解析するとともに、被
計測物の外観を検査することを可能としながら、コスト
の低減を図り、かつ、設置作業およびメンテナンス作業
の容易化を図ることが可能となる評価装置を提供する点
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and aims to reduce the cost while analyzing the internal quality of the object to be measured and enabling the appearance of the object to be measured to be inspected. Another object of the present invention is to provide an evaluation device that can facilitate installation work and maintenance work.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明によれば、内部品質計測対象
箇所を通過するように被計測物を搬送する搬送手段が設
けられ、前記内部品質計測対象箇所に位置する前記被計
測物に光を照射して、前記被計測物からの透過光または
反射光を受光する投受光手段と、その投受光手段の動作
を制御しかつ前記投受光手段にて受光した光により前記
被計測物の内部品質を解析する制御手段とを備えた評価
装置において、前記搬送手段における前記被計測物の搬
送方向において前記内部品質計測対象箇所よりも上流側
の外観検査計測対象箇所に位置する前記被計測物の外観
情報を検出する外観検出手段が設けられ、前記制御手段
が、前記外観検出手段の検出情報に基づいて、前記被計
測物の外観を検査するとともに、その被計測物の外観を
検査するときの前記搬送方向での前記被計測物の位置情
報に基づいて、前記内部品質計測対象箇所に対する前記
被計測物の位置情報を管理して、前記投受光手段を制御
するように構成されている。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a transporting means for transporting an object to be measured so as to pass through a location to be measured for internal quality. By irradiating the object to be measured located at the internal quality measurement target location with light, and transmitting and receiving means for receiving transmitted light or reflected light from the object to be measured, and controlling the operation of the light emitting and receiving means, and A control unit for analyzing the internal quality of the object to be measured by the light received by the light emitting and receiving means, wherein the upstream of the internal quality measurement target portion in the transport direction of the object to be measured in the transport means. Appearance detection means for detecting the appearance information of the object to be measured located at the side of the appearance inspection measurement target side, the control means, based on the detection information of the appearance detection means, the appearance of the object to be measured Inspection And, based on the position information of the measured object in the transport direction when inspecting the appearance of the measured object, manages position information of the measured object with respect to the internal quality measurement target location, It is configured to control light emitting and receiving means.

【0009】すなわち、外観検出手段が、被計測物の搬
送方向において内部品質計測対象箇所よりも上流側の外
観検査計測対象箇所に位置する被計測物の外観情報を検
出するので、制御手段が、外観検出手段の検出情報に基
づいて、被計測物の外観を検査するとともに、外観検出
手段の検出情報に基づいて、被計測物の外観を検査する
ときに搬送方向での被計測物の位置情報を得ることが可
能となる。そして、制御手段が、被計測物の外観を検査
するときに得られた搬送方向での被計測物の位置情報に
基づいて、内部品質計測対象箇所に対する被計測物の位
置情報を管理するように構成されているので、搬送手段
にて搬送される被計測物が内部品質計測対象箇所に位置
するタイミングで投受光手段を作動させることが可能と
なる。このようにして、制御手段が、内部計測対象箇所
に位置するタイミングで投受光手段を作動させることに
よって、投受光手段にて受光した光により前記被計測物
の内部品質を解析することが可能となる。
That is, since the external appearance detecting means detects the external appearance information of the object to be measured which is located at the external inspection measurement object position upstream of the internal quality measurement object position in the transport direction of the object to be measured, the control means comprises: Based on the detection information of the appearance detecting means, the appearance of the measured object is inspected, and based on the detection information of the appearance detecting means, the position information of the measured object in the transport direction when inspecting the appearance of the measured object is inspected. Can be obtained. Then, based on the position information of the measured object in the transport direction obtained when inspecting the appearance of the measured object, the control unit manages the position information of the measured object with respect to the internal quality measurement target location. With this configuration, it is possible to operate the light emitting and receiving means at the timing when the object to be measured conveyed by the conveying means is located at the internal quality measurement target location. In this way, the control means operates the light emitting and receiving means at the timing of being located at the internal measurement target position, whereby the internal quality of the object to be measured can be analyzed by the light received by the light emitting and receiving means. Become.

【0010】したがって、搬送方向での被計測物の位置
情報を検出する位置情報検出手段などを設けなくても、
制御手段が、被計測物の外観を検査するときに得られる
搬送方向での被計測物の位置情報を利用して、搬送手段
にて搬送される被計測物が内部品質計測対象箇所に位置
するタイミングで投受光手段を作動させて、被計測物の
内部品質を解析することが可能となる。
Therefore, even if no position information detecting means for detecting the position information of the object to be measured in the transport direction is provided,
The control unit utilizes the positional information of the measured object in the conveying direction obtained when inspecting the appearance of the measured object, and the measured object conveyed by the conveying unit is located at the internal quality measurement target position. By operating the light emitting and receiving means at the timing, it is possible to analyze the internal quality of the measured object.

【0011】以上のことから、請求項1に記載の発明に
よれば、被計測物の内部品質を解析するとともに、被計
測物の外観を検査することを可能としながら、コストの
低減を図り、かつ、設置作業およびメンテナンス作業の
容易化を図ることが可能となる評価装置を提供すること
ができるに到った。
As described above, according to the first aspect of the present invention, it is possible to analyze the internal quality of an object to be measured and to inspect the appearance of the object to be measured while reducing the cost. In addition, an evaluation device capable of facilitating the installation work and the maintenance work can be provided.

【0012】請求項2に記載の発明によれば、内部品質
計測対象箇所を通過するように被計測物を搬送する搬送
手段が設けられ、前記内部品質計測対象箇所に位置する
前記被計測物に光を照射して、前記被計測物からの透過
光または反射光を受光する投受光手段と、その投受光手
段の動作を制御しかつ前記投受光手段にて受光した光に
より前記被計測物の内部品質を解析する制御手段とを備
えた評価装置において、前記搬送手段における前記被計
測物の搬送方向において前記内部品質計測対象箇所より
も上流側の外観検査計測対象箇所に位置する前記被計測
物の外観情報を検出する外観検出手段が設けられ、前記
制御手段が、前記外観検出手段の検出情報に基づいて、
前記被計測物の外観を検査するとともに、前記外観検出
手段の検出情報に基づいて、前記被計測物の内部品質を
解析するときの計測条件を調整するように構成されてい
る。
According to the second aspect of the present invention, there is provided a transporting means for transporting the object to be measured so as to pass through the internal quality measurement target location, and the transport means is provided for the internal quality measurement target location. Irradiating light, light emitting and receiving means for receiving transmitted light or reflected light from the object to be measured, and controlling the operation of the light emitting and receiving means and controlling the operation of the light emitting and receiving means by light received by the light emitting and receiving means. An evaluation device having control means for analyzing the internal quality, wherein the measurement target object is located at an appearance inspection measurement target position upstream of the internal quality measurement target position in the conveyance direction of the measurement target in the conveyance means. Appearance detection means for detecting the appearance information of is provided, the control means, based on the detection information of the appearance detection means,
The external appearance of the object to be measured is inspected, and a measurement condition for analyzing the internal quality of the object to be measured is adjusted based on the detection information of the external appearance detecting means.

【0013】すなわち、外観検出手段が、被計測物の搬
送方向において内部品質計測対象箇所よりも上流側の外
観検査計測対象箇所に位置する被計測物の外観情報を検
出するので、制御手段が、外観検出手段の検出情報に基
づいて、被計測物の外観を検査するとともに、外観検出
手段の検出情報から被計測物の形状や大きさなどの外観
情報を得ることが可能となる。そして、制御手段が、被
計測物の外観を検査するときに得られた被計測物の外観
情報に基づいて、被計測物の内部品質を解析するときの
計測条件を調整するように構成されているので、制御手
段が、被計測物の外観情報に応じて、被計測物の内部品
質を解析するときの計測条件を被計測物の内部品質を精
度よく計測することが可能となる計測条件に調整するこ
とが可能となる。
That is, since the appearance detecting means detects the appearance information of the object to be measured which is located at the appearance inspection measurement point upstream of the internal quality measurement object point in the transport direction of the object to be measured, the control means: In addition to inspecting the appearance of the object to be measured based on the detection information of the appearance detection means, it is possible to obtain appearance information such as the shape and size of the object to be measured from the detection information of the appearance detection means. The control means is configured to adjust measurement conditions when analyzing the internal quality of the measured object based on the appearance information of the measured object obtained when inspecting the appearance of the measured object. Therefore, the control means sets the measurement conditions when analyzing the internal quality of the measured object according to the appearance information of the measured object to the measurement conditions that enable the internal quality of the measured object to be accurately measured. It can be adjusted.

【0014】したがって、被計測物の形状や大きさなど
の情報を得るための検出手段を設けなくても、制御手段
が、外観検出手段の検出情報から得られる被計測物の外
観情報を利用して、被計測物の外観情報に応じて、被計
測物の内部品質を解析するときの計測条件を調整して、
被計測物の内部品質を精度よく計測することが可能とな
る。
Therefore, the control means uses the appearance information of the measured object obtained from the detection information of the appearance detecting means without providing a detecting means for obtaining information such as the shape and size of the measured object. By adjusting the measurement conditions when analyzing the internal quality of the measured object according to the appearance information of the measured object,
It is possible to accurately measure the internal quality of the object to be measured.

【0015】以上のことから、請求項2に記載の発明に
よれば、被計測物の内部品質を解析するとともに、被計
測物の外観を検査することを可能としながら、コストの
低減を図り、かつ、設置作業およびメンテナンス作業の
容易化を図ることが可能となる評価装置を提供すること
ができるに到った。
As described above, according to the second aspect of the present invention, it is possible to analyze the internal quality of the object to be measured and to inspect the appearance of the object to be measured while reducing the cost. In addition, an evaluation device capable of facilitating the installation work and the maintenance work can be provided.

【0016】請求項3に記載の発明によれば、前記制御
手段が、前記外観検出手段の検出情報に基づいて、前記
被計測物の内部品質を解析するときの前記投受光手段に
よる投受光量を調整するように構成されている。
According to the third aspect of the present invention, the control means analyzes the internal quality of the object to be measured based on the detection information of the appearance detecting means, and the amount of light emitted and received by the light emitting and receiving means. Is configured to be adjusted.

【0017】すなわち、例えば、被計測物の内部品質を
解析するときの投受光手段による投受光量を一定量に固
定している場合には、被計測物の外観が変化すると、投
受光手段による受光量が変化し、投受光手段にて設定適
正量の光を受光できず、被計測物の内部品質を精度よく
計測することができない虞がある。それに対して、制御
手段が、外観検出手段の検出情報から得られる被計測物
の形状や大きさなどの外観情報に基づいて、被計測物の
内部品質を解析するときの投受光手段による投受光量を
調整するように構成されているので、被計測物の外観情
報に応じて、投受光手段にて設定適正量の光を受光する
ように、投受光手段の投受光量を調整することが可能と
なる。したがって、被計測物の外観が変化しても、その
変化に対応した状態で、被計測物の内部品質を解析する
ことが可能となって、被計測物の内部品質をより一層精
度よく計測することが可能となる。
That is, for example, when the amount of light emitted and received by the light emitting and receiving means for analyzing the internal quality of the object to be measured is fixed to a fixed amount, when the appearance of the object changes, There is a possibility that the amount of received light changes and the proper amount of light cannot be received by the light emitting / receiving means, so that the internal quality of the object to be measured cannot be accurately measured. On the other hand, the control unit analyzes the internal quality of the measured object based on the appearance information such as the shape and size of the measured object obtained from the detection information of the appearance detecting unit. Since the light amount is configured to be adjusted, it is possible to adjust the light emitting and receiving amount of the light emitting and receiving means so that the light emitting and receiving means receives the appropriate amount of light according to the appearance information of the measured object. It becomes possible. Therefore, even if the appearance of the measured object changes, the internal quality of the measured object can be analyzed in a state corresponding to the change, and the internal quality of the measured object is measured with higher accuracy. It becomes possible.

【0018】請求項4に記載の発明によれば、前記制御
手段が、前記外観検出手段の検出情報における前記被計
測物の大きさ情報に基づいて、前記内部品質計測対象箇
所と前記投受光手段との相対位置関係を調整するように
構成されている。
According to a fourth aspect of the present invention, the control means controls the internal quality measurement target portion and the light emitting / receiving means based on the size information of the object to be measured in the detection information of the appearance detecting means. It is configured to adjust the relative positional relationship with the.

【0019】すなわち、例えば、内部品質計測対象箇所
と投受光手段との相対位置関係を被計測物の大きさが大
きいものに対して適正な相対位置関係に固定した場合に
は、被計測物の大きさが小さくなると、被計測物に照射
した光のうち被計測物を回り込む光が生じ、その回り込
んだ光が投受光手段にて受光されることとなり、S/N
(信号対騒音)比が小さくなって、被計測物の内部品質
を精度よく計測することができない虞がある。それに対
して、制御手段が、外観検出手段の検出情報における被
計測物の大きさ情報に基づいて、内部品質計測対象箇所
と投受光手段との相対位置関係を調整するように構成さ
れているので、被計測物の大きさに応じて、投受光手段
が被計測物を回り込んだ光を受光しないように、内部品
質計測対象箇所と投受光手段との相対位置関係を調整す
ることが可能となる。したがって、被計測物の大きさが
変化しても、その変化に対応した状態で、被計測物の内
部品質を解析することが可能となって、被計測物の内部
品質をより一層精度よく計測することが可能となる。
That is, for example, when the relative positional relationship between the internal quality measurement target portion and the light emitting and receiving means is fixed to an appropriate relative positional relationship with respect to a large object to be measured, When the size is reduced, light that circulates around the object to be measured out of the light applied to the object to be measured is generated, and the diverted light is received by the light emitting and receiving means, and S / N
There is a possibility that the (signal to noise) ratio becomes small and the internal quality of the object to be measured cannot be accurately measured. On the other hand, the control means is configured to adjust the relative positional relationship between the internal quality measurement target portion and the light emitting and receiving means based on the size information of the measured object in the detection information of the appearance detecting means. It is possible to adjust the relative positional relationship between the internal quality measurement target portion and the light emitting and receiving means so that the light emitting and receiving means does not receive the light circling around the object to be measured according to the size of the object to be measured. Become. Therefore, even if the size of the measured object changes, the internal quality of the measured object can be analyzed in a state corresponding to the change, and the internal quality of the measured object can be measured more accurately. It is possible to do.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】本発明にかかる評価装置につい
て、被計測物として例えばミカンの選別仕分けを行う選
果設備に備えられて、ミカンの外観、すなわち、外形形
状や大きさなどを検査し、ミカンの内部品質情報、すな
わち、糖度や酸度などを計測する構成に適用した場合に
ついて図面に基づいて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The evaluation apparatus according to the present invention is provided, for example, in a fruit sorting facility for sorting and sorting mandarin oranges as objects to be measured, and inspects the appearance of the mandarin oranges, that is, the external shape and size. A case where the present invention is applied to a configuration for measuring internal quality information of oranges, that is, a sugar content, an acidity, and the like, will be described with reference to the drawings.

【0021】〔第1実施形態〕この評価装置は、図1に
示すように、内部品質計測対象箇所1を通過するように
被計測物M(ミカン)を搬送する搬送手段としての搬送
コンベヤ2と、内部品質計測対象箇所1に位置する被計
測物Mに光を照射して、被計測物Mからの透過光を受光
する投受光手段としての投受光部3と、搬送コンベヤ2
における被計測物Mの搬送方向において内部品質計測対
象箇所1よりも上流側の外観検査計測対象箇所4に位置
する被計測物Mの外観情報を検出する外観検出手段とし
ての外観検出部5などを設けて構成されている。
[First Embodiment] As shown in FIG. 1, this evaluation apparatus includes a transport conveyor 2 as a transport means for transporting an object to be measured M (citrus) so as to pass through an internal quality measurement target location 1. A light projecting / receiving section 3 as a light projecting / receiving means for irradiating the object M located at the internal quality measurement target position 1 with light and receiving transmitted light from the object M, and a transport conveyor 2
The appearance detection unit 5 and the like as appearance detection means for detecting the appearance information of the measurement object M located at the appearance inspection measurement target position 4 upstream of the internal quality measurement target position 1 in the transport direction of the measurement target M in It is provided and configured.

【0022】そして、この評価装置は、外観検出部5の
検出情報に基づいて、被計測物Mの外形形状や大きさな
どの外観を検査する外観検査処理部6と、投受光部3の
動作を制御しかつ投受光部3にて受光した光により被計
測物Mの内部品質を解析する内部品質解析処理部7とを
備えた制御手段としての制御部8が設けられている。ま
た、内部品質解析処理部7は、外観検査処理部6が被計
測物Mの外観を検査するときに得られる搬送方向での被
計測物Mの位置情報に基づいて、内部品質計測対象箇所
1に対する被計測物Mの位置情報を管理して、投受光手
段3を制御するように構成されている。
The evaluation device includes an appearance inspection processing unit 6 for inspecting the appearance such as the outer shape and size of the measured object M based on the detection information of the appearance detection unit 5, and an operation of the light emitting and receiving unit 3. And an internal quality analysis processing unit 7 that controls the internal quality of the measured object M with the light received by the light emitting and receiving unit 3. Further, the internal quality analysis processing unit 7 performs the internal quality measurement target location 1 based on the positional information of the measured object M in the transport direction obtained when the appearance inspection processing unit 6 inspects the appearance of the measured object M. , And controls the light emitting / receiving means 3.

【0023】また、被計測物Mは、搬送コンベア2によ
り設定速度で一列で縦列状に載置搬送される構成となっ
ており、外観検査計測対象箇所4および内部品質計測対
象箇所1を順次、通過していくように構成されている。
前記搬送コンベア2は無端回動帯2aを電動モータ2b
によって駆動する構成となっており、その無端回動帯2
aを巻回する回転体2cの回転軸の回転状態を検出する
ロータリーエンコーダ39が備えられ、このロータリー
エンコーダ39の検出情報が、制御部8に入力される構
成となっている。
The object M to be measured is arranged and conveyed in a line in a line at a set speed by the conveyor 2 so that the appearance inspection measurement target portion 4 and the internal quality measurement target portion 1 are sequentially arranged. It is configured to pass through.
The conveyor 2 is provided with an endless rotating belt 2a and an electric motor 2b.
Endless rotation belt 2
A rotary encoder 39 is provided for detecting the rotation state of the rotating shaft of the rotating body 2c that winds a. The detection information of the rotary encoder 39 is input to the control unit 8.

【0024】まず、外観検査計測対象箇所4における被
計測物Mの外観検査に関して説明する。前記外観検査部
5は、図3、図4、および、図5に示すように、カラー
式の3板式のカラーCCDカメラ9と、カラーCCDカ
メラ9による撮像対象となる被計測物Mに対して照明す
る照明部10とが設けられ、前記外観検査処理部6が、
カラーCCDカメラ9の画像情報に基づいて、被計測物
Mの不具合部分を判別するように構成されている。な
お、外観検査処理部6に対して外観検査用の基準情報な
どを人為設定するための設定手段11が設けられてい
る。
First, the appearance inspection of the object M to be measured at the appearance inspection measurement point 4 will be described. As shown in FIG. 3, FIG. 4, and FIG. 5, the appearance inspection unit 5 is provided for a color three-panel color CCD camera 9 and an object M to be imaged by the color CCD camera 9. An illumination unit 10 for illumination is provided, and the appearance inspection processing unit 6
Based on the image information of the color CCD camera 9, a defective portion of the measured object M is determined. Note that a setting unit 11 is provided for the appearance inspection processing unit 6 to artificially set reference information for appearance inspection and the like.

【0025】前記照明部10は、カラーCCDカメラ9
による撮影に際して、被計測物Mに対して特定方向に強
い光の反射光を発生しないように間接照明となるように
構成されている。すなわち、カラーCCDカメラ9は、
内壁に反射塗料を塗布して反射壁面12を形成するとと
もに、搬送コンベア2の上方側に位置する筺体形反射覆
い体13の内部に支持具14を介して取り付けられ、カ
ラーCCDカメラ9に対して所定間隔を隔てた周囲部
(4か所)に湾曲型反射板15を備えた照明用光源16
が支持アーム17を介して支持されている。
The illumination unit 10 includes a color CCD camera 9.
Is configured so as to provide indirect illumination so as not to generate reflected light of strong light in a specific direction with respect to the measurement object M during the imaging by. That is, the color CCD camera 9
A reflective paint is applied to the inner wall to form a reflective wall surface 12, and is mounted via a support 14 inside a housing-type reflective cover 13 located above the conveyor 2, and is attached to the color CCD camera 9. Illumination light source 16 provided with curved reflectors 15 at peripheral portions (four locations) separated by a predetermined distance
Are supported via a support arm 17.

【0026】そして、光源16からの照明光が、直接下
方の被計測物Mに達することなく、一旦上方周壁に形成
された反射壁面12で反射したものと、湾曲型反射板1
5で反射して更に上方周壁で反射した光が合成され、こ
の反射拡散された反射光が覆い体13の下方に位置する
被計測物Mを照射するので、均一で柔らかい間接照明と
なるように構成されている。その結果、特定方向の強い
反射光に起因して誤った情報として撮像情報を得るなど
の不利がなく、正確な被計測物Mの撮像を行うことがで
きる。また、カラーCCDカメラ9による被計測物Mの
撮影は、上方側から直接撮影するだけでなく、搬送方向
両側部に配置した反射鏡18を通して被計測物Mの左右
両側部の撮像情報も得られるように構成されている。
The illumination light from the light source 16 is reflected directly on the reflecting wall 12 formed on the upper peripheral wall without directly reaching the object to be measured M below, and the curved reflecting plate 1
The light reflected at 5 and further reflected at the upper peripheral wall is combined, and the reflected and diffused reflected light irradiates the object to be measured M located below the covering body 13, so that uniform and soft indirect illumination is achieved. It is configured. As a result, there is no disadvantage such as obtaining imaging information as erroneous information due to strong reflected light in a specific direction, and accurate imaging of the measurement target M can be performed. In addition, the image of the measurement target M by the color CCD camera 9 is not only directly photographed from the upper side, but also imaging information of the right and left sides of the measurement target M is obtained through the reflecting mirrors 18 arranged on both sides in the transport direction. It is configured as follows.

【0027】なお、カラーCCDカメラ9による被計測
物Mの撮影視野(撮像領域)は、複数(例えば5個)の
被計測物Mが同時に撮像され、この撮像領域の範囲を1
つの被計測物Mが設定時間(例えば、約1秒間)で通過
するように、搬送コンベア2の搬送速度、撮像領域に対
するカラーCCDカメラ9の相対位置などが設定されて
いる。ちなみに、搬送コンベヤ2の搬送速度について
は、ロータリーエンコーダ39により検出できることか
ら、そのロータリーエンコーダ39の検出情報に基づい
て、カラーCCDカメラ9による撮像タイミングを調整
するようにすることも可能である。また、カラーCCD
カメラ9は、連続的に移動している被計測物Mに対する
静止画像を得るために、高速の電子シャッターが備えら
れ、被計測物Mが前記撮像領域内を通過する間に、被計
測物Mの全周を複数に分割した複数の分割画像を得られ
るように画像取り込み処理を行えるように構成されてい
る。
In the field of view (imaging area) of the object M to be measured by the color CCD camera 9, a plurality (for example, five) of the objects M are imaged at the same time, and the range of the imaging area is one.
The transport speed of the transport conveyor 2, the relative position of the color CCD camera 9 with respect to the imaging area, and the like are set so that one measurement object M passes for a set time (for example, about 1 second). Incidentally, since the transport speed of the transport conveyor 2 can be detected by the rotary encoder 39, it is also possible to adjust the imaging timing of the color CCD camera 9 based on the detection information of the rotary encoder 39. Also, color CCD
The camera 9 is provided with a high-speed electronic shutter to obtain a still image of the continuously moving object M, and while the object M passes through the imaging region, the object M The image capturing process can be performed so that a plurality of divided images obtained by dividing the entire circumference into a plurality of images can be obtained.

【0028】前記外観検査処理部6は、図2に示すよう
に、マイクロコンピュータを利用して構成され、カラー
CCDカメラ9から出力される3原色の画像信号(R,
G,B)に対して画像処理を行うように構成されてい
る。そして、外観検査処理部6は、カラーCCDカメラ
9の撮像画像に基づいて、被計測物Mの彩度を表す彩度
情報、被計測物Mの明度を表す明度情報、および、被計
測物Mの色度を表す色度情報の夫々を求め、これらの彩
度情報、明度情報、および、色度情報に基づいて被計測
物Mの不具合部分を判別する外形判別処理、カラーCC
Dカメラ9の撮像画像に基づいて、被計測物Mの外形情
報、例えば、最大寸法や外形の歪みなどを判別する不具
合部分判別処理を実行するように構成されている。
As shown in FIG. 2, the visual inspection processing section 6 is constructed using a microcomputer, and outputs image signals of three primary colors (R, R) output from the color CCD camera 9.
G, B). Then, based on the image captured by the color CCD camera 9, the appearance inspection processing unit 6 performs saturation information indicating the saturation of the object M, brightness information indicating the brightness of the object M, and lightness information indicating the brightness of the object M. Chromaticity information representing the chromaticity of the target object M is determined based on the chroma information, the brightness information, and the chromaticity information.
Based on the image captured by the D camera 9, it is configured to execute a defective portion determination process for determining outer shape information of the measured object M, for example, a maximum dimension and an outer shape distortion.

【0029】前記外観検査処理部6の制御動作について
説明を加えると、カラーCCDカメラ9から出力される
3原色の画像信号(R,G,B)が入力されて、その3
原色の画像信号(R,G,B)に基づいて、画像信号を
色度(H)、彩度(S)、明度(I)の夫々の情報を表
す情報に変換するHSI変換処理を実行する。具体的に
は、カラーCCDカメラ9から出力される3原色の画像
信号(R,G,B)に対して、下記の〔数1〕〜〔数
3〕による演算式に基づいて演算処理を行い、色度
(H)、彩度(S)、明度(I)の夫々に対応する出力
を得ることになる。
The control operation of the appearance inspection processing section 6 will be described in further detail. Image signals (R, G, B) of three primary colors output from the color CCD camera 9 are input, and
Based on the image signals (R, G, B) of the primary colors, an HSI conversion process of converting the image signals into information representing respective information of chromaticity (H), saturation (S), and brightness (I) is executed. . Specifically, arithmetic processing is performed on the image signals (R, G, B) of the three primary colors output from the color CCD camera 9 based on the arithmetic expressions of the following [Equation 1] to [Equation 3]. , Chromaticity (H), saturation (S), and lightness (I).

【0030】[0030]

【数1】I=0.3R+0.59G+0.11B## EQU1 ## I = 0.3R + 0.59G + 0.11B

【0031】[0031]

【数2】H=tan-1(C1/C2) (但し、C1=R−I、C2=B−I)H = tan -1 (C1 / C2) (where C1 = RI, C2 = BI)

【0032】[0032]

【数3】S=√(C12 +C22 ) (但し、C1=R−I,C2=B−I)S = √ (C1 2 + C2 2 ) (where C1 = RI, C2 = BI)

【0033】次に、上記HSI変換出力情報に基づい
て、例えば、各信号に対して予め設定された設定閾値と
の比較などにより、画像中における被計測物Mの領域を
抽出し、その抽出された被計測物Mの画像情報に基づい
て、被検査物Mの外形判別処理を実行する。前記外形判
別処理は、図6に示すように、被計測物Mの外形の輪郭
Lを抽出するとともに、その輪郭Lの重心位置Gを演算
にて求め、重心位置Gから輪郭L上に位置する点までの
距離についての、輪郭Lに沿う方向での変化状態をフー
リエ変換により求め、その距離の変化状態に基づいて、
被計測物Mの外形形状が異常であるか(歪みがあるか)
否かを判別する。
Next, based on the HSI conversion output information, an area of the object to be measured M in the image is extracted by comparing each signal with a preset threshold value, for example. Based on the image information of the measured object M, the outer shape determination processing of the measured object M is executed. As shown in FIG. 6, the contour discrimination processing extracts the contour L of the contour of the measured object M, calculates the center of gravity G of the contour L by calculation, and locates the contour L on the contour L from the center of gravity G. A change state of the distance to the point in the direction along the contour L is obtained by Fourier transform, and based on the change state of the distance,
Whether the external shape of the object to be measured M is abnormal (whether there is distortion)
It is determined whether or not.

【0034】具体的に説明すると、重心位置Gから輪郭
L上に位置する点までの距離についての、輪郭Lに沿う
方向での変化状態として、図7に示すように、距離r
と、重心位置から輪郭を結ぶ線と基準線とのなす角度θ
との関数として表すことができる。このとき、被計測物
の表面が滑らかな円弧状であれば、図7の(イ)に示す
ように、関数も滑らかな曲線になり、そのフーリエ変換
を求めると、空間周波数の低周波数成分のみとなるが、
被計測物の表面が凹凸が存在していれば、図7の関数が
変化の激しい曲線となり、フーリエ変換は空間周波数f
の高周波数成分を多く含むようになる。したがって、こ
のような高周波数成分の状態を判別することで、被計測
物の外形形状の歪みを判別できるのである。
More specifically, as shown in FIG. 7, the distance from the position of the center of gravity G to a point located on the contour L is changed in the direction along the contour L, as shown in FIG.
And the angle θ between the line connecting the contour from the position of the center of gravity and the reference line
And can be expressed as a function of At this time, if the surface of the object to be measured has a smooth arc shape, the function also becomes a smooth curve as shown in FIG. 7A, and when its Fourier transform is obtained, only the low frequency component of the spatial frequency is obtained. But
If the surface of the object to be measured has irregularities, the function in FIG. 7 becomes a sharply changing curve, and the Fourier transform is performed at the spatial frequency f
Contains many high frequency components. Therefore, by determining the state of such a high frequency component, it is possible to determine the distortion of the external shape of the measured object.

【0035】また、輪郭Lの情報に基づいて被計測物M
の最大径を判別する。なお、撮像画像上には実際には複
数の被計測物の画像が存在することになるが、図6にお
いては分かり易いように1個の画像情報だけを示してい
る。
Further, based on the information of the contour L, the object M
Is determined. Note that although a plurality of images of the object to be measured actually exist on the captured image, FIG. 6 shows only one piece of image information for easy understanding.

【0036】次に、上記HSI変換出力情報に基づい
て、被計測物Mの不具合部分を判別する不具合部分判別
処理を実行する。この不具合部分判別処理は、先ず、被
計測物Mの領域として抽出された領域における複数の画
素のうち、対象となる画素を設定する。その画素におけ
る彩度(S)の値が予め設定された設定彩度閾値S0よ
りも小さく、かつ、明度(I)が第1設定値I1よりも
小さい場合には、その画素が不具合部分であると判別す
る。すなわち、彩度(S)が低くかつ明度(I)がかな
り低い場合には、例えば、鳥によりつつかれるなどの原
因により、被計測物Mの表面が黒く変色していたり、黒
く汚れているような場合が考えられるからである。
Next, based on the HSI conversion output information, a defective portion determining process for determining a defective portion of the measured object M is executed. In the defective portion determination processing, first, a target pixel is set among a plurality of pixels in the region extracted as the region of the measurement target M. If the value of the saturation (S) at the pixel is smaller than the preset saturation threshold S0 and the brightness (I) is smaller than the first set value I1, the pixel is a defective portion. Is determined. In other words, when the saturation (S) is low and the lightness (I) is considerably low, the surface of the measurement target M may be discolored black or stained black due to, for example, being pinched by a bird. This is because it is possible.

【0037】また、彩度(S)の値が予め設定された設
定彩度閾値S0よりも小さく、かつ、明度(I)が第1
設定値I1以上で第2設定値I2以下である設定範囲内
にある場合には、その画素が不具合部分であると判別す
る。すなわち、彩度(S)が低くかつ明度(I)が中間
的な設定範囲にある場合には、例えば、病害などに起因
して表面が「かさぶた」状態になっている場合、あるい
は、水腐れ状態になっている場合などが考えられるから
である。
The value of the saturation (S) is smaller than a preset saturation threshold value S0, and the lightness (I) is the first.
When the pixel is within the set range of not less than the set value I1 and not more than the second set value I2, it is determined that the pixel is a defective portion. That is, when the saturation (S) is low and the lightness (I) is in an intermediate setting range, for example, when the surface is in a “scab” state due to a disease or the like, This is because it is conceivable that it is in the state.

【0038】なお、彩度(S)の値が予め設定された設
定彩度閾値S0よりも小さい場合であっても、明度
(I)が第2設定値I2よりも大きい場合には、例え
ば、被計測物Mの表面に薬剤などが残っていたり、照明
のバラツキなどによる彩度の低下が考えられるから、こ
のような場合には不具合とは判別しないようにしてい
る。不具合と判別されなかった場合には正常として判別
し、このような判別動作を抽出された領域の全ての画素
について実行する。
Even if the value of the saturation (S) is smaller than the preset saturation threshold S0, if the brightness (I) is larger than the second set value I2, for example, Since there is a possibility that a medicine or the like remains on the surface of the measurement object M or a decrease in saturation due to a variation in illumination, it is not determined that a malfunction occurs in such a case. If it is not determined to be defective, it is determined to be normal, and such a determination operation is performed for all pixels in the extracted area.

【0039】また、上記したような処理により不具合と
判別された箇所が、特定の条件を備えている場合、具体
的には、彩度の低い部分が略円形であって、かつ、被計
測物Mの外径に対して所定の割合の大きさに近い場合に
は、そのような箇所は、被計測物M(ミカン)のヘタや
ヘソと称される箇所であると判断して、そのような箇所
は不具合から除外することとしている。
When the location determined to be defective by the above-described processing satisfies a specific condition, specifically, the low-saturation portion is substantially circular and the object to be measured is When the size is close to a predetermined ratio with respect to the outer diameter of M, such a portion is determined to be a portion referred to as a scab or a navel of the measured object M (citrus), and such a portion is determined. Are excluded from defects.

【0040】次に、被計測物の領域における全画素(前
記ヘタ、ヘソの部分を除く)における彩度の平均値を演
算にて求め、その平均彩度と予め設定されている標準彩
度とを比較する。この標準彩度とは、次のようにして設
定される。つまり、色度(H)と彩度(S)とは一般に
相関関係を有している。例えば、明るい色調の色度の場
合には彩度が高くなる傾向にある。
Next, an average value of the saturation of all pixels (excluding the above-mentioned part of the head and the navel) in the region of the object to be measured is obtained by calculation, and the average saturation and a preset standard saturation are calculated. Compare. This standard saturation is set as follows. That is, the chromaticity (H) and the saturation (S) generally have a correlation. For example, in the case of chromaticity of a bright color tone, the saturation tends to increase.

【0041】そこで、検査対象となる被計測物M(ミカ
ン)におけるこのような色度と彩度との一般的な相関関
係を予め計測しておいて、カラーCCDカメラ9により
撮像された結果により、実際に計測された色度に対応し
て上記相関関係を有する彩度を標準彩度として設定し、
この標準彩度と実際に計測された彩度の被計測物Mの全
画素の平均値とを比較する。そして、平均彩度が標準彩
度よりも設定量以上低い場合には、被計測物Mの表面が
例えば萎びているような場合が考えられるから、不具合
として判別する。
Therefore, such a general correlation between chromaticity and saturation in the object to be measured M (citrus) to be inspected is measured in advance, and based on the result obtained by the color CCD camera 9, Setting the saturation having the above correlation as the standard saturation corresponding to the actually measured chromaticity,
The standard saturation is compared with the average value of all pixels of the measured object M having the actually measured saturation. If the average saturation is lower than the standard saturation by a set amount or more, it is considered that the surface of the measured object M is, for example, withered, and therefore, it is determined as a defect.

【0042】前記内部品質計測対象箇所1における被計
測物Mの内部品質の解析に関して説明する。前記投受光
部3は、図8に示すように、被計測物M(ミカン)に光
を照射する投光部19と、被計測物Mを透過した光を分
光してその分光した光を受光して分光スペクトルデータ
を得る受光部20とから構成されている。また、内部品
質計測対象箇所1に位置する被計測物Mに対して、投光
部19から投射した光が被計測物Mを透過した後に受光
部20にて受光される状態で、投光部19と受光部20
とが、内部品質計測対象箇所1の左右両側箇所に振り分
けて配置されている。
The analysis of the internal quality of the measurement object M at the internal quality measurement target location 1 will be described. As shown in FIG. 8, the light emitting and receiving unit 3 irradiates light to the object to be measured M (citrus), and separates the light transmitted through the object to be measured M to receive the separated light. And a light receiving unit 20 that obtains spectral spectrum data. In addition, the light projecting unit 19 is configured such that the light projected from the light projecting unit 19 is transmitted through the measured object M and received by the light receiving unit 20 with respect to the measured object M located at the internal quality measurement target location 1. 19 and light receiving unit 20
Are distributed to the left and right sides of the internal quality measurement target location 1.

【0043】前記投光部19は、電源回路21から供給
される電力にて発光するハロゲンランプ22と、このハ
ロゲンランプ22から発光される光を集光させるように
下方側に向けて反射させる凹面形状の反射板23とが備
えられるとともに、その反射板23による反射光を反射
して計測対象箇所に位置する被計測物Mに向けて横向き
に変更する反射鏡24が設けられている。そして、反射
鏡24にて反射した光が、内部品質計測対象箇所1に照
射される状態と、光を遮断する状態とに切り換え自在な
シャッター機構25が設けられている。
The light projecting section 19 has a halogen lamp 22 that emits light with power supplied from a power supply circuit 21 and a concave surface that reflects the light emitted from the halogen lamp 22 downward so as to condense the light. In addition to a reflection plate 23 having a shape, a reflection mirror 24 for reflecting light reflected by the reflection plate 23 and changing the reflection direction to the measuring object M located at the measurement target location in the horizontal direction is provided. A shutter mechanism 25 is provided which can be switched between a state where the light reflected by the reflecting mirror 24 is irradiated on the internal quality measurement target portion 1 and a state where the light is blocked.

【0044】前記受光部20には、被計測物Mを透過し
た光を集光する集光レンズ26、光を上向きに反射する
反射鏡27、後述するような計測対象の波長領域の光だ
けを通過させるカラーフィルタ28、光を通過させる開
状態と光を遮断する閉状態とに切り換え自在なシャッタ
ー機構29と、開状態のシャッター機構29を通過した
光が入射されると、その光を分光して前記分光スペクト
ルデータを計測する分光器30などを備えて構成されて
いる。
The light receiving section 20 includes a condenser lens 26 for condensing the light transmitted through the object M, a reflecting mirror 27 for reflecting the light upward, and only a light in a wavelength region to be measured as described later. A color filter 28 that allows light to pass therethrough, a shutter mechanism 29 that can be switched between an open state that allows light to pass through and a closed state that blocks light, and light that passes through the shutter mechanism 29 that is in the open state is split into light. And a spectroscope 30 for measuring the spectral data.

【0045】前記分光器30は、図9に示すように、入
光口31から入射した光を反射する反射鏡32と、反射
された光を複数の波長の光に分光する凹面回折格子33
と、凹面回折格子33によって分光された各波長毎の光
強度を検出することにより分光スペクトルデータを計測
する受光センサ34とが、外部からの光を遮光する遮光
性材料からなる暗箱35内に配置される構成となってい
る。
As shown in FIG. 9, the spectroscope 30 includes a reflecting mirror 32 for reflecting light incident from a light entrance 31 and a concave diffraction grating 33 for separating the reflected light into light of a plurality of wavelengths.
And a light-receiving sensor 34 for measuring spectral data by detecting the light intensity of each wavelength separated by the concave diffraction grating 33 are arranged in a dark box 35 made of a light-shielding material for shielding external light. It is configured to be.

【0046】前記受光センサ34は、凹面回折格子33
にて分光反射された透過光を、同時に各波長毎に受光す
るとともに波長毎の信号に変換して出力する、1024
ビットのMOS型ラインセンサにて構成されている。こ
のラインセンサは、詳述はしないが、各単位画素毎にフ
ォトダイオードなどの光電変換素子と、その光電変換素
子にて得られた電荷を蓄積するコンデンサ、および、そ
の蓄積電荷を外部に出力させるための駆動回路などを内
装して構成されている。なお、上述のラインセンサは、
コンデンサによる電荷蓄積時間を外部から駆動回路を介
して変更させることができ、700nm〜1100nm
の範囲の波長の光を検出できるように構成されている。
The light receiving sensor 34 includes a concave diffraction grating 33
1024, simultaneously receive the transmitted light spectrally reflected at each wavelength, convert the transmitted light into a signal for each wavelength, and output the signal.
It is configured by a bit MOS type line sensor. Although not described in detail, this line sensor outputs a photoelectric conversion element such as a photodiode for each unit pixel, a capacitor for storing the charge obtained by the photoelectric conversion element, and outputs the stored charge to the outside. And a driving circuit therefor. In addition, the above-mentioned line sensor
The charge storage time by the capacitor can be changed from the outside via a drive circuit, and is 700 nm to 1100 nm
Is configured to be able to detect light having a wavelength in the range of

【0047】前記投光部19および受光部20は、被計
測物Mが通過する内部品質計測対象箇所1の上方側を迂
回するように設けられた枠体36によって一体的に支持
される状態で設けられ、この枠体36は、上下調節機構
37によって搬送コンベア2に対してその全体の上下方
向の位置を変更調節することができるようになってい
る。前記上下調節機構37については、詳述はしない
が、固定部Fに対して位置固定状態で設置され、電動モ
ータ37aにて駆動されるネジ送り機構37bによって
上下に移動させるように構成されている。
The light projecting section 19 and the light receiving section 20 are integrally supported by a frame 36 provided so as to detour above the internal quality measurement target location 1 through which the object M passes. The frame 36 can be changed and adjusted in its entirety in the vertical direction with respect to the conveyor 2 by a vertical adjusting mechanism 37. Although not described in detail, the up-down adjustment mechanism 37 is installed in a fixed position with respect to the fixed portion F, and is configured to be moved up and down by a screw feed mechanism 37b driven by an electric motor 37a. .

【0048】前記搬送コンベア2における被計測物Mの
通過箇所の上方側に位置させて、固定部Fにて位置固定
される状態で基準体の一例であるリファレンスフィルタ
ー38が設けられている。このリファレンスフィルター
38は、所定の吸光度特性を有する光学フィルターで構
成され、具体的には、オパールガラスを用いて構成され
ている。
A reference filter 38, which is an example of a reference body, is provided above the place where the object to be measured M passes on the conveyor 2 and is fixed at a fixing portion F. The reference filter 38 is constituted by an optical filter having a predetermined absorbance characteristic, and is specifically constituted by using opal glass.

【0049】そして、枠体20の全体を上下方向に位置
調節することによって、図10の(イ)に示すように、
投光部19からの光が搬送コンベア2に載置される被計
測物Mを透過した後に受光部20にて受光される通常計
測状態と、図10の(ロ)に示すように、投光部19か
らの光がリファレンスフィルター38を透過した後に受
光部20にて受光されるリファレンス計測状態とに切り
換えることができるように構成されている。
Then, by adjusting the position of the entire frame body 20 in the vertical direction, as shown in FIG.
The normal measurement state in which the light from the light projecting unit 19 is received by the light receiving unit 20 after passing through the object to be measured M placed on the conveyor 2 and, as shown in FIG. It is configured to be able to switch to a reference measurement state in which the light from the unit 19 is received by the light receiving unit 20 after passing through the reference filter 38.

【0050】前記内部品質解析処理部7は、図2に示す
ように、マイクロコンピュータを利用して構成してあ
り、ハロゲンランプ22に供給する電源電圧の変更調節
や、投光部19および受光部20夫々のシャッター機構
の開閉動作、上下調節機構37の動作などの各部の動作
を制御する構成となっている。また、内部品質解析処理
部7は、分光器30にて得られた計測結果に基づいて、
被計測物Mの内部品質を解析する演算処理を実行するよ
うに構成されている。
As shown in FIG. 2, the internal quality analysis processing section 7 is constructed using a microcomputer, and controls the change of the power supply voltage supplied to the halogen lamp 22 and the light projecting section 19 and the light receiving section. The operation of each part such as the opening and closing operation of each of the 20 shutter mechanisms and the operation of the vertical adjustment mechanism 37 is controlled. Further, the internal quality analysis processing unit 7 performs, based on the measurement result obtained by the spectroscope 30,
It is configured to execute arithmetic processing for analyzing the internal quality of the measurement object M.

【0051】前記内部品質解析処理部7による制御動作
について説明する。前記内部品質解析処理部7は、基準
データ計測モードと通常データ計測モードとに切り換え
自在に構成されている。前記基準データ計測モードは、
被計測物Mに対する通常の計測に先立って行われ、投光
部19からの光を被計測物Mに代えて前記リファレンス
フィルター38に照射して、そのリファレンスフィルタ
ー38からの透過光を、受光部20にて分光してその分
光した光を受光して得られた分光スペクトルデータを基
準分光スペクトルデータとして求めるように構成されて
いる。また、前記通常データ計測モードは、搬送コンベ
ア2により搬送される被計測物Mに対して、投光部19
から光を照射して計測分光スペクトルデータを得て、こ
の計測分光スペクトルデータと基準分光スペクトルデー
タとに基づいて、被計測物Mの内部品質を解析するよう
に構成されている。
The control operation by the internal quality analysis processing section 7 will be described. The internal quality analysis processing unit 7 is configured to be freely switchable between a reference data measurement mode and a normal data measurement mode. The reference data measurement mode is
The measurement is performed prior to the normal measurement of the measurement object M, and the light from the light projecting unit 19 is irradiated on the reference filter 38 instead of the measurement object M, and the transmitted light from the reference filter 38 is received by the light receiving unit. The apparatus is configured to obtain the spectral data obtained by spectrally separating the light at 20 and receiving the separated light as reference spectral data. In the normal data measurement mode, the light projecting unit 19 moves the object M to be conveyed by the conveyor 2.
Irradiates light to obtain measured spectral data, and analyzes the internal quality of the measured object M based on the measured spectral data and the reference spectral data.

【0052】上述の夫々のモードについて、以下、説明
を加える。まず、基準データ計測モードにおいては、搬
送コンベア2による被計測物Mの搬送を停止させている
状態で、上下調節機構37を操作して前記枠体36を前
記リファレンス計測状態に切り換える。そして、各シャ
ッター機構を開状態に切り換えて、投光部19からの光
を被計測物Mに代えて前記リファレンスフィルター38
に照射して、そのリファレンスフィルター38からの透
過光を、受光部20にて分光してその分光した光を受光
して得られた分光スペクトルデータを基準分光スペクト
ルデータとして計測する。
Each of the above modes will be described below. First, in the reference data measurement mode, the frame 36 is switched to the reference measurement state by operating the up / down adjustment mechanism 37 while the conveyance of the measurement object M by the conveyor 2 is stopped. Then, each shutter mechanism is switched to the open state, and the light from the light projecting section 19 is replaced with the object to be measured M, and the reference filter 38 is turned on.
Then, the transmitted light from the reference filter 38 is separated by the light receiving unit 20 and the spectral light data obtained by receiving the separated light is measured as the reference spectral data.

【0053】そして、基準データ計測モードにおいて
は、受光部2への光が遮断された無光状態での受光セン
サ34の検出値(暗電流データ)も計測される。すなわ
ち、前記受光部20のシャッター機構を閉状態に切り換
えて、そのときの受光センサ34の単位画素毎における
検出値を暗電流データとして求めるようにしている。
In the reference data measurement mode, the detection value (dark current data) of the light receiving sensor 34 in a non-light state where light to the light receiving section 2 is blocked is also measured. That is, the shutter mechanism of the light receiving unit 20 is switched to the closed state, and the detected value of the light receiving sensor 34 for each unit pixel at that time is obtained as dark current data.

【0054】次に、この通常データ計測モードにおいて
は、上下調節機構37を操作して枠体36を通常計測状
態に切り換えて、搬送コンベア2による被計測物Mの搬
送を行い、各被計測物Mが計測対象箇所を通過する毎
に、夫々の計測分光スペクトルデータを計測する。な
お、投光手段19における投光量およびラインセンサの
電荷蓄電時間は設定された一定値としている。
Next, in the normal data measurement mode, the frame 36 is switched to the normal measurement state by operating the up / down adjustment mechanism 37, and the object M to be measured is conveyed by the conveyor 2, and each object M is measured. Each time M passes through the measurement target location, each measurement spectrum data is measured. Note that the light projecting amount in the light projecting means 19 and the charge storage time of the line sensor are set to constant values.

【0055】そして、内部品質解析処理部7は、外観検
査処理部6が被計測物Mの外観を検査するときの搬送コ
ンベヤ2における搬送方向での被計測物Mの位置情報に
基づいて、内部品質計測対象箇所1に対する被計測物M
の位置情報を管理して、投光部19および受光部20を
制御するように構成されている。
Then, the internal quality analysis processing unit 7 performs an internal quality analysis based on the position information of the object M in the transport direction on the transport conveyor 2 when the appearance inspection processing unit 6 inspects the external appearance of the object M. Measurement object M for quality measurement target location 1
Is configured to control the light projecting section 19 and the light receiving section 20 by managing the position information of the light emitting section.

【0056】説明を加えると、外観検出部5が、外観検
査計測対象箇所4に位置する被計測物Mの外観情報を検
出するので、外観検査処理部6が、外観検出部5の検出
情報に基づいて、被計測物Mの外観を検査するととも
に、外観検出部5の検出情報に基づいて、被計測物Mの
外観を検査するときに搬送方向での被計測物Mの位置情
報を得ることができることとなる。そして、内部品質解
析処理部7が、被計測物Mの外観を検査するときに得ら
れた搬送方向での被計測物Mの位置情報に基づいて、内
部品質計測対象箇所1に対する被計測物の位置情報を管
理して、搬送コンベヤ2にて搬送される被計測物Mが内
部品質計測対象箇所1に位置するタイミングで投受光部
3を作動させるように構成されている。
In addition, since the appearance detection unit 5 detects the appearance information of the measurement object M located at the appearance inspection measurement target location 4, the appearance inspection processing unit 6 Based on the detection information of the appearance detection unit 5, based on the detection information of the measurement object M, to obtain the position information of the measurement object M in the transport direction when inspecting the appearance of the measurement object M Can be done. Then, based on the positional information of the object M in the transport direction obtained at the time of inspecting the appearance of the object M, the internal quality analysis processing unit 7 The position information is managed, and the light emitting / receiving unit 3 is operated at a timing when the object M conveyed by the conveyor 2 is located at the internal quality measurement target location 1.

【0057】このようにして、内部品質解析処理部7
が、内部計測対象箇所1に位置するタイミングで投受光
部3を作動させることによって、投受光部3にて受光し
た光により被計測物Mの内部品質を解析するように構成
されている。したがって、搬送方向での被計測物Mの位
置情報を検出する位置情報検出手段などを設けなくて
も、内部品質解析処理部7が、被計測物Mの内部品質を
解析することができることとなって、被計測物Mの内部
品質を解析するとともに、被計測物Mの外観を検査する
ことを可能としながら、コストの低減を図り、かつ、設
置作業およびメンテナンス作業の容易化を図ることが可
能となった。
Thus, the internal quality analysis processing section 7
However, by operating the light emitting and receiving unit 3 at a timing located at the internal measurement target location 1, the internal quality of the measured object M is analyzed by the light received by the light emitting and receiving unit 3. Therefore, the internal quality analysis processing unit 7 can analyze the internal quality of the measured object M without providing a position information detecting unit for detecting the position information of the measured object M in the transport direction. In addition to analyzing the internal quality of the measured object M and inspecting the appearance of the measured object M, the cost can be reduced, and the installation work and the maintenance work can be facilitated. It became.

【0058】具体的には、外観検査処理部6は、被計測
物Mの外観を検査するときに、カラーCCDカメラ9に
よる被計測物Mの撮影タイミングなどから、被計測物M
が外観検査計測対象箇所を通過したタイミング、すなわ
ち搬送方向での被計測物Mの位置情報を得るように構成
されている。また、内部品質解析処理部7は、外観検査
処理部6にて得られた搬送方向での被計測物Mの位置情
報と、ロータリーエンコーダ39により検出される搬送
コンベア2の搬送速度とに基づいて、内部品質計測対象
箇所1に搬送されてくる各被計測物Mの搬送方向中央位
置が内部品質計測対象箇所1を通過するタイミングを求
めるように構成されている。
More specifically, when inspecting the appearance of the measurement object M, the appearance inspection processing unit 6 determines the measurement object M based on the photographing timing of the measurement object M by the color CCD camera 9 and the like.
Is configured to obtain the timing at which the object M has passed through the appearance inspection measurement target, that is, the position information of the object M in the transport direction. In addition, the internal quality analysis processing unit 7 is based on the position information of the workpiece M in the transport direction obtained by the appearance inspection processing unit 6 and the transport speed of the transport conveyor 2 detected by the rotary encoder 39. The timing at which the center position in the transport direction of each object M conveyed to the internal quality measurement target location 1 passes through the internal quality measurement target location 1 is determined.

【0059】ちなみに、搬送コンベア2の搬送速度につ
いては、撮像領域の範囲を1つの被計測物Mが設定時間
(例えば、約1秒間)で通過するように設定されている
ので、ロータリーエンコーダ39を設けずに、その設定
された搬送速度として、内部品質計測対象箇所1に搬送
されてくる各被計測物Mの搬送方向中央位置が内部品質
計測対象箇所1を通過するタイミングを求めることも可
能である。
Incidentally, the transport speed of the transport conveyor 2 is set such that one object to be measured M passes through the range of the imaging area for a set time (for example, about 1 second). Without providing, it is also possible to obtain, as the set transport speed, the timing at which the center position in the transport direction of each workpiece M transported to the internal quality measurement target location 1 passes through the internal quality measurement target location 1. is there.

【0060】そして、内部品質解析処理部7は、被計測
物Mの搬送方向中央位置が計測対象箇所を通過するタイ
ミングよりも設定時間前から、被計測物Mの搬送方向中
央位置が計測対象箇所を通過するタイミングから設定時
間経過するまでの時間を、ラインセンサの電荷蓄電時間
と設定して、各被計測物Mが計測対象箇所を通過する毎
に、夫々の受光センサ18の受光量を計測して計測分光
スペクトルデータを計測するようにしている。なお、受
光センサ18の受光量を計測する前に、受光センサ18
の検出値を空読みする空読み動作を行って、コンデンサ
に既に蓄電されている電荷を抜き出すようにしてもよ
い。
Then, the internal quality analysis processing unit 7 determines that the center position of the object M in the transport direction is set to the position of the target object M before the set time before the center position of the object M in the transport direction passes through the target position. Is set as the charge storage time of the line sensor from the timing of passing through the sensor, and the amount of light received by each of the light receiving sensors 18 is measured each time each measurement object M passes through the measurement target location. To measure the measured spectral data. Before measuring the light receiving amount of the light receiving sensor 18, the light receiving sensor 18
The idle reading operation for idle reading the detected value may be performed to extract the electric charge already stored in the capacitor.

【0061】前記内部品質解析処理部7は、このように
して得られた各種データに基づいて分光分析手法を用い
て被計測物Mの内部品質を解析する演算処理を実行する
ように構成されている。すなわち、計測分光スペクトル
データ、基準分光スペクトルデータ、および、暗電流デ
ータに基づいて、分光された各波長毎の吸光度スペクト
ルおよび吸光度スペクトルの波長領域での二次微分値を
得るとともに、その二次微分値により被計測物Mに含ま
れる糖度に対応する成分量や酸度に対応する成分量を算
出する解析演算処理を実行するように構成されている。
吸光度dは、基準分光スペクトルデータをRd、計測分
光スペクトルデータをSdとし、暗電流データをDaと
すると、
The internal quality analysis processing section 7 is configured to execute a calculation process for analyzing the internal quality of the object M by using a spectroscopic analysis method based on the various data thus obtained. I have. That is, based on the measured spectral data, the reference spectral data, and the dark current data, an absorbance spectrum is obtained for each wavelength that has been separated, and a second derivative value in the wavelength region of the absorbance spectrum is obtained. It is configured to execute an analysis calculation process for calculating a component amount corresponding to the sugar content or a component amount corresponding to the acidity contained in the measured object M based on the value.
Assuming that the absorbance d is Rd for the reference spectral data, Sd for the measured spectral data, and Da for the dark current data,

【0062】[0062]

【数4】 d=log{(Rd−Da)/(Sd−Da)}D = log {(Rd-Da) / (Sd-Da)}

【0063】で定義され、内部品質解析処理部7は、下
記の数5による重回帰分析に基づいて、被計測物Mに含
まれる成分量を算出するのである。
The internal quality analysis processing unit 7 calculates the amount of components contained in the measured object M based on the multiple regression analysis according to the following equation (5).

【0064】[0064]

【数5】 Y=K0+K1・A(λ1)+K2・A(λ2)Y = K0 + K1 · A (λ1) + K2 · A (λ2)

【0065】但し、 Y ;成分量 K0,K1,K2 ;係数 A(λ1),A(λ2) ;特定波長λにおける吸光度
スペクトルの二次微分値
Where: Y; component amounts K0, K1, K2; coefficients A (λ1), A (λ2); second derivative of absorbance spectrum at specific wavelength λ

【0066】なお、内部品質解析処理部7には、成分量
を算出する成分毎に、特定の成分量算出式、特定の係数
K0,K1,K2、および、波長λ1,λ2などが予め
設定されて記憶されており、この成分毎に特定の成分量
算出式を用いて、各成分の成分量を算出する構成となっ
ている。
In the internal quality analysis processing section 7, a specific component amount calculation formula, specific coefficients K0, K1, K2, wavelengths λ1, λ2, etc. are set in advance for each component whose component amount is to be calculated. The component amount of each component is calculated using a specific component amount calculation formula for each component.

【0067】〔第2実施形態〕この第2実施形態は、上
記第1実施形態において、内部品質解析処理部7が被計
測物Mの内部品質を解析する際の制御動作についての別
実施形態を示すものであり、その内部品質解析処理部7
の制御動作について説明する。なお、この第2実施形態
では、上述の内部品質解析処理部7の制御動作以外のそ
の他の構成については、上記第1実施形態と同様である
ので、上記第1実施形態と同符号を示すなどにより、そ
の説明は省略する。
[Second Embodiment] The second embodiment is different from the first embodiment in the control operation when the internal quality analysis processing unit 7 analyzes the internal quality of the workpiece M. The internal quality analysis processing unit 7
Will be described. In the second embodiment, since other configurations other than the control operation of the internal quality analysis processing unit 7 are the same as those in the first embodiment, the same reference numerals as those in the first embodiment are used. Therefore, the description is omitted.

【0068】前記内部品質解析処理部7は、外観検出部
5の検出情報に基づいて、被計測物Mの内部品質を解析
するときの計測条件を調整するように構成されている。
すなわち、内部品質解析処理部7は、外観検出部5の検
出情報に基づいて、被計測物Mの内部品質を解析すると
きの投受光部3による投受光量を調整するように構成さ
れている。
The internal quality analysis processing section 7 is configured to adjust measurement conditions when analyzing the internal quality of the object M based on the detection information of the appearance detection section 5.
That is, the internal quality analysis processing unit 7 is configured to adjust the light emission / reception amount of the light emission / reception unit 3 when analyzing the internal quality of the measured object M based on the detection information of the appearance detection unit 5. .

【0069】説明を加えると、例えば、被計測物Mの大
きさが大きくなるほど、被計測物Mの透過光の光量が少
なくなるなど、一般に、被計測物Mの形状や大きさなど
の被計測物Mの外観が変わると、被計測物Mの透過光の
光量が変化することになり、受光部20にて設定適正量
の被計測物Mの透過光を受光できず、被計測物Mの内部
品質を精度よく計測できない虞がある。そこで、内部品
質解析処理部7が、外観検出部5の検出情報から得られ
る被計測物Mの形状や大きさなどの外観情報に基づい
て、被計測物Mの内部品質を解析するときの投受光部3
による投受光量を調整して、被計測物Mの外観情報に応
じて、投受光部3にて設定適正量の光を受光するよう
に、投受光部3の投受光量を調整するように構成されて
いる。
In general, for example, the larger the size of the object M, the smaller the amount of light transmitted through the object M, such as the shape and size of the object M, When the appearance of the object M changes, the amount of transmitted light of the object M changes, and the light receiving unit 20 cannot receive a proper amount of transmitted light of the object M. There is a possibility that the internal quality cannot be measured accurately. Therefore, the internal quality analysis processing unit 7 performs analysis when analyzing the internal quality of the measurement target M based on the appearance information such as the shape and size of the measurement target M obtained from the detection information of the appearance detection unit 5. Light receiving unit 3
The light emitting and receiving amount of the light emitting and receiving unit 3 is adjusted so that the light emitting and receiving unit 3 receives an appropriate amount of light in accordance with the appearance information of the object M to be measured. It is configured.

【0070】すなわち、被計測物Mの内部品質を精度よ
くするために、被計測物Mの外観情報を検出する専用の
手段を設けなくとも、被計測物Mの外観を検査するとき
に得られる被計測物Mの外観情報を利用して、投受光部
3の投受光量を調整して、投受光部3にて設定適正量の
被計測物Mの透過光を受光するように構成されている。
具体的には、外観検査処理部6は、外観検出部5の検出
情報に基づいて、被計測物Mの外観を検査することにな
るので、その際に、被計測物Mの形状や大きさなどの外
観情報を得ることができ、内部品質解析処理部7は、そ
の得られた被計測物Mの外観情報に基づいて、例えば、
被計測物Mの大きさが大きいほど、投光部19による投
光強度を大きくするように、ハロゲンランプ6に供給す
る電源電圧を変更調節するように構成されている。
That is, in order to improve the internal quality of the measured object M, it is possible to obtain an external appearance of the measured object M without providing a dedicated means for detecting the appearance information of the measured object M. Using the appearance information of the object to be measured M, the light emitting and receiving amount of the light emitting and receiving unit 3 is adjusted so that the light emitting and receiving unit 3 receives a set appropriate amount of transmitted light of the object to be measured M. I have.
Specifically, the appearance inspection processing unit 6 inspects the appearance of the measurement object M based on the detection information of the appearance detection unit 5, and at that time, the shape and size of the measurement object M The internal quality analysis processing unit 7 can obtain, for example, based on the obtained appearance information of the object M,
The power supply voltage supplied to the halogen lamp 6 is changed and adjusted such that the greater the size of the object to be measured M, the greater the intensity of light emitted by the light emitting unit 19.

【0071】また、内部品質解析処理部7は、上述の第
1実施形態と同様に、外観検査処理部6が被計測物Mの
外観を検査するときの搬送コンベヤ2における搬送方向
での被計測物Mの位置情報に基づいて、内部品質計測対
象箇所1に対する被計測物Mの位置情報を管理して、投
光部19および受光部20を制御するように構成されて
いる。
The internal quality analysis processing unit 7 performs the measurement in the transport direction on the transport conveyor 2 when the appearance inspection processing unit 6 inspects the external appearance of the workpiece M, as in the first embodiment. Based on the position information of the object M, the position information of the measured object M with respect to the internal quality measurement target location 1 is managed, and the light projecting unit 19 and the light receiving unit 20 are controlled.

【0072】ちなみに、この第2実施形態では、搬送コ
ンベヤ2の搬送方向で内部品質計測対象箇所よりも上流
側に、被計測物Mの通過を検出する光学式の通過センサ
を設けて、内部品質解析処理部7が、前記通過センサの
検出情報と、ロータリーエンコーダ39の検出情報とに
基づいて、内部品質計測対象箇所1に搬送されてくる各
被計測物Mの搬送方向中央位置が内部品質計測対象箇所
1を通過するタイミングを求めるように構成して実施す
ることも可能である。
In the second embodiment, an optical passage sensor for detecting the passage of the object M is provided on the upstream side of the internal quality measurement target in the transport direction of the transport conveyor 2, and the internal quality is measured. Based on the detection information of the passage sensor and the detection information of the rotary encoder 39, the analysis processing unit 7 determines the central position in the transport direction of each measurement object M transported to the internal quality measurement target location 1 by the internal quality measurement. It is also possible to configure and implement so as to obtain the timing of passing through the target location 1.

【0073】〔第3実施形態〕この第3実施形態は、上
記第2実施形態において、内部品質解析処理部7が被計
測物Mの内部品質を解析する際の制御動作についての別
実施形態を示すものであり、その内部品質解析処理部7
の制御動作について説明する。なお、この第3実施形態
では、上述の内部品質解析処理部7の制御動作以外のそ
の他の構成については、上記第2実施形態と同様である
ので、上記第2実施形態と同符号を示すなどにより、そ
の説明は省略する。
[Third Embodiment] The third embodiment is different from the second embodiment in the control operation when the internal quality analysis processing section 7 analyzes the internal quality of the measured object M. The internal quality analysis processing unit 7
Will be described. In the third embodiment, since the other configuration other than the control operation of the internal quality analysis processing unit 7 is the same as that of the second embodiment, the same reference numerals as those in the second embodiment are used. Therefore, the description is omitted.

【0074】前記内部品質解析処理部7は、外観検出部
5の検出情報に基づいて、被計測物Mの内部品質を解析
するときの計測条件を調整するように構成されている。
すなわち、内部品質解析処理部7は、外観検出部5の検
出情報における被計測物Mの大きさ情報に基づいて、内
部品質計測対象箇所1と投受光部3との相対位置関係を
調整するように構成されている。
The internal quality analysis processing section 7 is configured to adjust the measurement conditions when analyzing the internal quality of the measuring object M based on the detection information of the appearance detecting section 5.
That is, the internal quality analysis processing unit 7 adjusts the relative positional relationship between the internal quality measurement target location 1 and the light emitting and receiving unit 3 based on the size information of the measurement target M in the detection information of the appearance detection unit 5. Is configured.

【0075】説明を加えると、例えば、内部品質計測対
象箇所1と投受光部3との相対位置関係を被計測物Mの
大きさが大きいものに適した相対位置関係に固定した場
合には、被計測物Mの大きさが小さくなると、被計測物
1に照射した光のうち被計測物Mを回り込む光が生じ、
その回り込んだ光が投受光部3にて受光されることとな
り、S/N(信号対騒音)比が小さくなって、被計測物
Mの内部品質を精度よく計測することができない虞があ
る。そこで、内部品質解析処理部7が、外観検出部5の
検出情報における被計測物Mの大きさ情報に基づいて、
内部品質計測対象箇所1と投受光部3との相対位置関係
を調整して、被計測物Mの大きさに応じて、投受光部3
が被計測物Mを回り込んだ光を受光しないように構成さ
れている。
In addition, for example, when the relative positional relationship between the internal quality measurement target location 1 and the light emitting and receiving unit 3 is fixed to a relative positional relationship suitable for a large object to be measured M, When the size of the measurement target M is reduced, light that circulates around the measurement target M among the light applied to the measurement target 1 occurs,
The diverted light is received by the light emitting and receiving unit 3, and the S / N (signal-to-noise) ratio is reduced, so that there is a possibility that the internal quality of the measured object M cannot be measured accurately. . Therefore, the internal quality analysis processing unit 7 performs, based on the size information of the measured object M in the detection information of the appearance detection unit 5,
The relative positional relationship between the internal quality measurement target location 1 and the light emitting and receiving unit 3 is adjusted, and the light emitting and receiving unit 3 is adjusted according to the size of the measurement target M.
Are configured not to receive light that has passed around the object M.

【0076】すなわち、被計測物Mの内部品質を精度よ
くするために、被計測物Mの大きさ情報を検出する専用
の手段を設けなくとも、被計測物Mの外観を検査すると
きに得られる被計測物Mの大きさ情報を利用して、内部
品質計測対象箇所1と投受光部3との相対位置関係を調
整して、投受光部3が被計測物Mを回り込んだ光を受光
しないように構成されている。
That is, in order to improve the internal quality of the object M, it is not necessary to provide a dedicated means for detecting the size information of the object M, but it is necessary to inspect the external appearance of the object M. The relative positional relationship between the internal quality measurement target location 1 and the light emitting and receiving unit 3 is adjusted using the size information of the object M to be measured, and the light emitted and received by the light emitting and receiving unit 3 around the object M is adjusted. It is configured not to receive light.

【0077】具体的には、外観検査処理部6は、外観検
出部5の検出情報に基づいて、被計測物Mの外観を検査
することになるので、その際に、被計測物Mの大きさ情
報を得ることができ、内部品質解析処理部7は、その得
られた被計測物Mの大きさ情報に基づいて、図11に示
すように、被計測物Mの大きさが大きいほど、投受光部
3が上方側に配置されるように上下調節機構37にて調
節して、被計測物Mの中央部分を中心として投光部19
にて被計測物Mに照射するように構成されている。
More specifically, the appearance inspection processing unit 6 inspects the appearance of the measurement object M based on the detection information of the appearance detection unit 5. As shown in FIG. 11, based on the obtained size information of the measured object M, the internal quality analysis processing unit 7 The light emitting / receiving section 3 is adjusted by the up / down adjusting mechanism 37 so that the light emitting / receiving section 3 is disposed on the upper side, and the light emitting section 19 is centered on the central portion of the measured object M.
Is configured to irradiate the object M to be measured.

【0078】ちなみに、この第3実施形態において、内
部品質解析処理部7は、外観検出部5の検出情報におけ
る被計測物Mの大きさ情報に基づいて、内部品質計測対
象箇所1と投受光部3との相対位置関係を調整するとと
もに、上記第2実施形態度同様に、外観検出部5の検出
情報に基づいて、被計測物Mの内部品質を解析するとき
の投受光部3による投受光量を調整することによって、
外観検出部5の検出情報に基づいて、被計測物Mの内部
品質を解析するときの計測条件を調整するように構成す
ることも可能である。
Incidentally, in the third embodiment, the internal quality analysis processing unit 7 determines the internal quality measurement target location 1 and the light emitting / receiving unit based on the size information of the object M in the detection information of the appearance detection unit 5. In addition to the adjustment of the relative positional relationship with the light emitting and receiving unit 3, the light emitting and receiving unit 3 analyzes the internal quality of the measured object M based on the detection information of the appearance detecting unit 5 as in the second embodiment. By adjusting the amount,
It is also possible to configure so as to adjust the measurement conditions when analyzing the internal quality of the measured object M based on the detection information of the appearance detection unit 5.

【0079】また、内部品質解析処理部7は、上述の第
1実施形態と同様に、外観検査処理部6が被計測物Mの
外観を検査するときの搬送コンベヤ2における搬送方向
での被計測物Mの位置情報に基づいて、内部品質計測対
象箇所1に対する被計測物Mの位置情報を管理して、投
光部19および受光部20を制御するように構成されて
いる。
Further, the internal quality analysis processing unit 7 performs the measurement in the transport direction on the transport conveyor 2 when the appearance inspection processing unit 6 inspects the external appearance of the workpiece M, as in the first embodiment. Based on the position information of the object M, the position information of the measured object M with respect to the internal quality measurement target location 1 is managed, and the light projecting unit 19 and the light receiving unit 20 are controlled.

【0080】ちなみに、この第3実施形態では、搬送コ
ンベヤ2の搬送方向で内部品質計測対象箇所よりも上流
側に、被計測物Mの通過を検出する光学式の通過センサ
を設けて、内部品質解析処理部7が、前記通過センサの
検出情報と、ロータリーエンコーダ39の検出情報とに
基づいて、内部品質計測対象箇所1に搬送されてくる各
被計測物Mの搬送方向中央位置が内部品質計測対象箇所
1を通過するタイミングを求めるように構成して実施す
ることも可能である。
In the third embodiment, an optical passage sensor for detecting the passage of the object M is provided on the upstream side of the internal quality measurement target in the transport direction of the transport conveyor 2 so as to provide the internal quality. Based on the detection information of the passage sensor and the detection information of the rotary encoder 39, the analysis processing unit 7 determines the central position in the transport direction of each measurement object M transported to the internal quality measurement target location 1 by the internal quality measurement. It is also possible to configure and implement so as to obtain the timing of passing through the target location 1.

【0081】〔別実施形態〕 (1)上記実施形態では、外観検出部5としてカラーC
CDカメラ9を用いた例を示したが、撮像間式のカメラ
や白黒のみの画像を得るものなど、各種の撮像手段を適
応可能であり、外観検出部5としては、被計測物Mの外
観情報を検出できるものであればよい。
[Another Embodiment] (1) In the above embodiment, the color C
Although an example using the CD camera 9 has been described, various imaging means such as an inter-imaging camera and a device that obtains only black and white images can be applied. Any device that can detect information may be used.

【0082】(2)上記実施形態では、投受光部3を投
光部19と受光部20とを各別に構成する例を示した
が、投受光部3をひとつの投受光部にて構成して実施す
ることも可能である。
(2) In the above-described embodiment, an example has been described in which the light emitting and receiving unit 3 is configured separately from the light emitting unit 19 and the light receiving unit 20, but the light emitting and receiving unit 3 is configured by one light emitting and receiving unit. It is also possible to carry out.

【0083】(3)上記実施形態では、受光センサとし
てのラインセンサの電荷蓄電時間は設定された一定値と
しているが、例えば、被計測物Mの品種や大きさなどの
計測条件に応じて、ラインセンサの電荷蓄電時間を変更
するようにしてもよい。
(3) In the above embodiment, the charge storage time of the line sensor as the light receiving sensor is set to a fixed value. For example, according to the measurement conditions such as the type and size of the measuring object M, The charge storage time of the line sensor may be changed.

【0084】(4)上記実施形態では、投受光部3にて
受光された光を分光して、その分光スペクトルデータに
基づいて、被計測物Mの内部品質を解析するように構成
したが、被計測物Mの内部品質を解析する方法について
は、分光分析を利用した方法に限るものではなく、その
他各種の解析方法を用いて、被計測物Mの内部品質を解
析するようにしてもよい。
(4) In the above embodiment, the light received by the light projecting / receiving unit 3 is separated and the internal quality of the object M is analyzed based on the spectral data. The method of analyzing the internal quality of the measurement target M is not limited to the method using the spectroscopic analysis, and the internal quality of the measurement target M may be analyzed using other various analysis methods. .

【0085】(5)上記実施形態では、搬送コンベヤ2
を無端回動帯2aを電動モータ2bにより駆動する構成
としたが、搬送コンベヤ2をローラコンベヤに構成する
など各種の搬送手段が適応可能である。
(5) In the above embodiment, the conveyor 2
Is configured to drive the endless rotating belt 2a by the electric motor 2b, but various transporting means such as configuring the transporting conveyor 2 as a roller conveyor can be applied.

【0086】(6)上記第1実施形態では、搬送コンベ
ヤ2の搬送速度を撮像領域の範囲を1つの被計測物Mが
設定時間(例えば、約1秒間)で通過するように設定し
たが、搬送コンベア2の搬送速度を変更可能に構成して
もよく、この場合には、ロータリーエンコーダ39の検
出情報に基づいて、カラーCCDカメラ9による撮像タ
イミングを調整するようにしている。
(6) In the first embodiment, the transport speed of the transport conveyor 2 is set so that one object to be measured M passes through the range of the imaging area for a set time (for example, about 1 second). The transport speed of the transport conveyor 2 may be configured to be changeable. In this case, the imaging timing of the color CCD camera 9 is adjusted based on the detection information of the rotary encoder 39.

【0087】(7)上記第2実施形態では、被計測物M
の外観を検査するときに得られた被計測物Mの外観情報
に基づいて、電源電圧を調節して投光部19による投光
強度を調整するように構成したが、例えば、投光部19
による投光量を一定量として、絞り量の異なる複数の絞
り部を備えた絞り機構を設け、被計測物Mの外観を検査
するときに得られた被計測物Mの外観情報に基づいて、
投光部19からの光を絞り機構による絞り量を調整する
ように構成して実施することも可能である。また、この
場合には、絞り機構に代えて、減光量の異なる複数の減
光体を備えた減光機構を設けるようにしてもよい。
(7) In the second embodiment, the object to be measured M
The power supply voltage is adjusted based on the appearance information of the object to be measured M obtained at the time of inspecting the appearance of the light-emitting device M, and the light-emitting intensity of the light-emitting unit 19 is adjusted.
Is provided as a constant amount, a diaphragm mechanism having a plurality of diaphragm portions with different diaphragm amounts is provided, and based on appearance information of the measured object M obtained when inspecting the appearance of the measured object M,
The light from the light projecting unit 19 may be configured and adjusted so as to adjust the amount of stop by the stop mechanism. In this case, a dimming mechanism including a plurality of dimmers having different dimming amounts may be provided instead of the aperture mechanism.

【0088】(8)上記第3実施形態では、被計測物M
の外観を検査するときに得られた被計測物Mの大きさ情
報に基づいて、投光部19および受光部20を上下方向
の位置を調整して、内部品質計測対象箇所1と投受光部
3との相対位置関係を調整するように構成したが、被計
測物Mの大きさ情報に基づいて、投光部19および受光
部20を横方向の位置を調整して、内部品質計測対象箇
所1と投受光部3との相対位置関係を調整するように構
成することも可能である。
(8) In the third embodiment, the object to be measured M
The vertical position of the light projecting unit 19 and the light receiving unit 20 is adjusted based on the size information of the measured object M obtained when inspecting the external appearance of the internal quality measurement target portion 1 and the light projecting / receiving unit. 3, the position of the light projecting unit 19 and the light receiving unit 20 in the horizontal direction is adjusted based on the size information of the object M to be measured. It is also possible to configure so as to adjust the relative positional relationship between 1 and the light emitting and receiving unit 3.

【0089】(9)上記実施形態では、基準体としてオ
パールガラスによるフィルターを用いたが、これに限ら
ず、例えば、スリガラスなどの拡散板の他、所定の吸光
度特性を有するものであればよく、材質は限定されな
い。また、受光センサもMOS型ラインセンサに限ら
ず、CCD型ラインセンサなどの他の検出手段を用いる
ようにしてもよい。
(9) In the above embodiment, a filter made of opal glass was used as the reference body. However, the present invention is not limited to this. For example, a filter having a predetermined absorbance characteristic other than a diffusion plate such as ground glass may be used. The material is not limited. Further, the light receiving sensor is not limited to the MOS type line sensor, and other detecting means such as a CCD type line sensor may be used.

【0090】(10)上記実施形態では、被計測物Mか
らの透過光に基づいて分光スペクトルを計測するように
構成したが、この構成に代えて、被計測物Mからの反射
光に基づいて分光スペクトルを計測するように構成して
実施することも可能である。
(10) In the above embodiment, the spectral spectrum is measured based on the transmitted light from the object M. However, instead of this configuration, the spectral spectrum is measured based on the reflected light from the object M. It is also possible to configure and implement so as to measure a spectrum.

【0091】(11)上記実施形態では、被計測物Mの
内部品質として、糖度や酸度を例示したが、これに限ら
ず、食味の情報など、それ以外の内部品質を計測しても
よい。
(11) In the above embodiment, the sugar content and the acidity are exemplified as the internal quality of the measured object M. However, the present invention is not limited to this, and other internal quality such as taste information may be measured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】評価装置における搬送コンベヤによる搬送状態
を示す図
FIG. 1 is a diagram showing a transfer state by a transfer conveyor in an evaluation device.

【図2】評価装置の制御ブロック図FIG. 2 is a control block diagram of an evaluation device.

【図3】評価装置の外観計測対象箇所における搬送方向
の側面図
FIG. 3 is a side view of the evaluation device in a transport direction at a location to be measured for appearance.

【図4】評価装置の外観計測対象箇所における搬送方向
に直交する方向の側面図
FIG. 4 is a side view in a direction orthogonal to a transport direction at a location to be measured for appearance of the evaluation device.

【図5】評価装置の外観計測対象箇所における平面図FIG. 5 is a plan view of an appearance measurement target portion of the evaluation device.

【図6】制御手段の動作説明図FIG. 6 is an explanatory diagram of the operation of the control means.

【図7】制御手段の動作説明図FIG. 7 is an explanatory diagram of the operation of the control means.

【図8】評価装置の内部品質計測対象箇所おける搬送方
向の側面図
FIG. 8 is a side view in the transport direction of the internal quality measurement target portion of the evaluation device.

【図9】評価装置の内部品質計測対象箇所における要部
を示す図
FIG. 9 is a diagram showing a main part at a location to be measured for internal quality of the evaluation device.

【図10】評価装置の内部品質計測対象箇所における上
下位置変更状態を示す図
FIG. 10 is a diagram showing a vertical position change state of a part to be measured for internal quality of the evaluation device;

【図11】第3実施形態の評価装置の内部品質計測対象
箇所における上下位置変更状態を示す図
FIG. 11 is a diagram showing a vertical position change state at an internal quality measurement target portion of the evaluation device according to the third embodiment;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 内部品質計測対象箇所 2 搬送手段 3 投受光手段 4 外観検査計測対象箇所 5 外観検出手段 8 制御手段 1 Internal quality measurement target location 2 Transport means 3 Light emitting and receiving means 4 Appearance inspection measurement target location 5 Appearance detection means 8 Control means

フロントページの続き Fターム(参考) 2G051 AA05 AB20 AC02 BA01 BA06 BA10 BB15 CA03 CA04 CA07 CB01 CB02 CB06 DA01 DA06 EA16 EA17 EA23 EA25 EB01 EB02 EC03 EC06 ED07 ED23 2G059 AA01 AA05 BB11 DD12 EE01 EE02 EE12 EE13 FF08 GG00 GG10 HH01 HH06 JJ02 JJ05 JJ11 JJ13 JJ23 KK01 KK04 LL04 MM01 MM03 MM05 Continued on the front page F-term (reference) 2G051 AA05 AB20 AC02 BA01 BA06 BA10 BB15 CA03 CA04 CA07 CB01 CB02 CB06 DA01 DA06 EA16 EA17 EA23 EA25 EB01 EB02 EC03 EC06 ED07 ED23 2G059 AA01 AA05 BB11 EE12 EE01 EE01 JJ05 JJ11 JJ13 JJ23 KK01 KK04 LL04 MM01 MM03 MM05

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 内部品質計測対象箇所を通過するように
被計測物を搬送する搬送手段が設けられ、 前記内部品質計測対象箇所に位置する前記被計測物に光
を照射して、前記被計測物からの透過光または反射光を
受光する投受光手段と、その投受光手段の動作を制御し
かつ前記投受光手段にて受光した光により前記被計測物
の内部品質を解析する制御手段とを備えた評価装置であ
って、 前記搬送手段における前記被計測物の搬送方向において
前記内部品質計測対象箇所よりも上流側の外観検査計測
対象箇所に位置する前記被計測物の外観情報を検出する
外観検出手段が設けられ、 前記制御手段が、前記外観検出手段の検出情報に基づい
て、前記被計測物の外観を検査するとともに、その被計
測物の外観を検査するときの前記搬送方向での前記被計
測物の位置情報に基づいて、前記内部品質計測対象箇所
に対する前記被計測物の位置情報を管理して、前記投受
光手段を制御するように構成されている評価装置。
A transporting means for transporting an object to be measured so as to pass through an internal quality measurement target location; irradiating light to the object to be measured located at the internal quality measurement target location; Light transmitting and receiving means for receiving transmitted light or reflected light from an object, and control means for controlling the operation of the light transmitting and receiving means and analyzing the internal quality of the object to be measured by the light received by the light transmitting and receiving means. An appearance device for detecting appearance information of the object to be measured, which is located at a position of a visual inspection measurement upstream of the position of the internal quality measurement in the direction of conveyance of the object to be measured by the conveyance means. Detection means is provided, and the control means inspects the appearance of the object to be measured based on the detection information of the appearance detection means, and in the transport direction when inspecting the appearance of the object to be measured. Suffered An evaluation device configured to manage the position information of the object to be measured with respect to the internal quality measurement target position based on the position information of the object to control the light emitting and receiving means.
【請求項2】 内部品質計測対象箇所を通過するように
被計測物を搬送する搬送手段が設けられ、 前記内部品質計測対象箇所に位置する前記被計測物に光
を照射して、前記被計測物からの透過光または反射光を
受光する投受光手段と、その投受光手段の動作を制御し
かつ前記投受光手段にて受光した光により前記被計測物
の内部品質を解析する制御手段とを備えた評価装置であ
って、 前記搬送手段における前記被計測物の搬送方向において
前記内部品質計測対象箇所よりも上流側の外観検査計測
対象箇所に位置する前記被計測物の外観情報を検出する
外観検出手段が設けられ、 前記制御手段が、前記外観検出手段の検出情報に基づい
て、前記被計測物の外観を検査するとともに、前記外観
検出手段の検出情報に基づいて、前記被計測物の内部品
質を解析するときの計測条件を調整するように構成され
ている評価装置。
2. A device for transporting an object to be measured so as to pass through an internal quality measurement target location, irradiating the object to be measured located at the internal quality measurement target location with light, Light transmitting and receiving means for receiving transmitted light or reflected light from an object, and control means for controlling the operation of the light transmitting and receiving means and analyzing the internal quality of the object to be measured by the light received by the light transmitting and receiving means. An appearance device for detecting appearance information of the object to be measured, which is located at a position of a visual inspection measurement upstream of the position of the internal quality measurement in the conveyance direction of the object to be measured by the conveyance means. Detecting means is provided, and the control means inspects the appearance of the object to be measured based on the detection information of the appearance detecting means, and detects the inside of the object to be measured based on the detection information of the appearance detecting means. An evaluation device configured to adjust measurement conditions when analyzing quality.
【請求項3】 前記制御手段が、前記外観検出手段の検
出情報に基づいて、前記被計測物の内部品質を解析する
ときの前記投受光手段による投受光量を調整するように
構成されている請求項2に記載の評価装置。
3. The control means is configured to adjust an amount of light emitted and received by the light emitting and receiving means when analyzing the internal quality of the object to be measured, based on information detected by the appearance detecting means. The evaluation device according to claim 2.
【請求項4】 前記制御手段が、前記外観検出手段の検
出情報における前記被計測物の大きさ情報に基づいて、
前記内部品質計測対象箇所と前記投受光手段との相対位
置関係を調整するように構成されている請求項2または
3に記載の評価装置。
4. The method according to claim 1, wherein the control unit is configured to determine, based on size information of the object to be measured in detection information of the appearance detection unit,
4. The evaluation device according to claim 2, wherein the evaluation device is configured to adjust a relative positional relationship between the internal quality measurement target portion and the light emitting and receiving unit. 5.
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