JP2002050807A - Manufacturing method of piezoelectric device and washing device - Google Patents

Manufacturing method of piezoelectric device and washing device

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JP2002050807A
JP2002050807A JP2000234366A JP2000234366A JP2002050807A JP 2002050807 A JP2002050807 A JP 2002050807A JP 2000234366 A JP2000234366 A JP 2000234366A JP 2000234366 A JP2000234366 A JP 2000234366A JP 2002050807 A JP2002050807 A JP 2002050807A
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哲章 永田
Osamu Tsuchido
修 土戸
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of a piezoelectric device that is strong against fluctuation of a drive voltage and can improve drive level characteristics, and a washing device utilized in this manufacturing method. SOLUTION: In the manufacturing method of the piezoelectric device for forming a specific piezoelectric chip by cutting a piezoelectric material, namely wafer (ST11), forming an electrode at the piezoelectric chip as a piezoelectric vibration piece (ST14), and accommodating the piezoelectric vibration piece in a specific package 12, an aligning tool used for forming the electrode is used for washing the piezoelectric chip before forming the electrode (ST13).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、圧電振動子や圧電
発振器等の圧電デバイスの製造方法の改良と、このよう
な製造方法の特定の工程に利用される洗浄装置に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in a method for manufacturing a piezoelectric device such as a piezoelectric vibrator or a piezoelectric oscillator, and a cleaning apparatus used in a specific step of such a manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】図12は、従来の圧電デバイスの製造工
程を簡単に示すフローチャートである。
2. Description of the Related Art FIG. 12 is a flowchart simply showing the steps of manufacturing a conventional piezoelectric device.

【0003】図において、先ず、圧電材料としての例え
ば人工水晶の結晶から矩形状の水晶ウエハを切り出す
(ST1)。
In the figure, first, a rectangular crystal wafer is cut out of a crystal of, for example, artificial quartz as a piezoelectric material (ST1).

【0004】次に、この水晶ウエハを重ねて接着剤等に
より固定して積層したウエハを所定の切断線に沿って切
断してウエハブロックを作る。このウエハブロックの端
面どうしを貼り合わせて全体に平たい形状とした後に、
さらに、所定の切断線に沿って再度切断して、水晶チッ
プブロックを形成する。この水晶チップブロックを加工
単位として、その角部を研磨する加工を行った後で、上
記接着剤を剥離することによって、ブランクと呼ばれる
水晶チップを得るようにしている(ST2)。
[0004] Next, the crystal wafers are stacked and fixed with an adhesive or the like, and the stacked wafers are cut along a predetermined cutting line to form a wafer block. After bonding the end faces of this wafer block together to make the whole flat,
Further, cutting is performed again along a predetermined cutting line to form a crystal chip block. The crystal chip block is used as a processing unit, and after the corner is polished, the adhesive is peeled off to obtain a crystal chip called a blank (ST2).

【0005】次いで、この水晶チップをエッチングして
所定の厚みにし(ST3)、さらに、水晶チップの表面
及び裏面に必要な電極を形成するため、例えば蒸着によ
り電極パターン設けて、所定の駆動電極を備えた水晶振
動片を得るようにしている(ST4)。
Next, this crystal chip is etched to a predetermined thickness (ST3). Further, in order to form necessary electrodes on the front and back surfaces of the crystal chip, an electrode pattern is provided by, for example, vapor deposition, and a predetermined drive electrode is formed. The crystal resonator element provided is obtained (ST4).

【0006】この圧電振動片を所定のベースにマウント
し(ST5)、圧電振動片の駆動電極に駆動電圧を印加
して、振動周波数をモニタしながら、例えば、その表面
にレーザービームや電子ビームを照射したり、プラズマ
エッチングを行う等して、圧電振動片の質量を減少させ
て、振動周波数を増加させ、所望の周波数に合わせ込み
を行う周波数調整を行う(ST6)。
[0006] The piezoelectric vibrating reed is mounted on a predetermined base (ST5), and a driving voltage is applied to a driving electrode of the piezoelectric vibrating reed to monitor a vibration frequency, and for example, apply a laser beam or an electron beam to the surface thereof. By performing irradiation, plasma etching, or the like, the mass of the piezoelectric vibrating piece is reduced, the vibration frequency is increased, and the frequency is adjusted to match the desired frequency (ST6).

【0007】最後に、ベースに蓋体等を真空封止して、
あるいは窒素ガス等の不活性ガス雰囲気中で封止して、
圧電振動子を完成する(ST7)。
Finally, a lid is vacuum-sealed on the base,
Or sealed in an inert gas atmosphere such as nitrogen gas,
A piezoelectric vibrator is completed (ST7).

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
製造方法により形成される圧電振動子においては、完成
後に所定の電子機器に組み込まれて、駆動電圧が印加さ
れた場合に、その駆動電圧の変動により、特に電圧が著
しく低下した際に稀に発振が停止してしまうという不具
合がみられた。
By the way, in a piezoelectric vibrator formed by such a manufacturing method, when the piezoelectric vibrator is assembled in a predetermined electronic device after completion and a driving voltage is applied, the driving voltage is reduced. Owing to the fluctuation, oscillation was rarely stopped particularly when the voltage was significantly reduced.

【0009】すなわち、従来の比較的大きな駆動電圧に
より駆動される場合と比較して、最近の圧電デバイスは
低電圧で駆動される。このため、非常に稀ではあるが振
動が停止するという現象が見られる。
That is, a recent piezoelectric device is driven at a lower voltage as compared with a conventional case driven by a relatively large driving voltage. For this reason, although very rarely, the phenomenon that the vibration stops is observed.

【0010】この発明は上述のような課題を解決するた
めになされたもので、駆動電圧の変動に強く、ドライブ
レベル特性の向上をはかることができる圧電デバイスの
製造方法と、この製造方法に利用される洗浄装置を提供
することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and is provided with a method of manufacturing a piezoelectric device which is resistant to fluctuations in drive voltage and can improve drive level characteristics, and a method for manufacturing the same. It is an object of the present invention to provide a cleaning device that is performed.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的は、請求項1の
発明によれば、圧電材料のウエハを切断して所定の圧電
チップを形成し、この圧電チップに電極を形成して圧電
振動片とし、この圧電振動片を所定のパッケージ内に収
容する圧電デバイスの製造方法において、前記電極形成
前に、電極形成に用いる整列治具を用いて前記圧電チッ
プを洗浄する、圧電デバイスの製造方法により、達成さ
れる。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the first aspect of the present invention, a predetermined piezoelectric chip is formed by cutting a wafer of a piezoelectric material, and an electrode is formed on the piezoelectric chip to form a piezoelectric vibrating reed. In the method for manufacturing a piezoelectric device for accommodating the piezoelectric vibrating reed in a predetermined package, the method for manufacturing a piezoelectric device includes, before forming the electrodes, cleaning the piezoelectric chip using an alignment jig used for forming the electrodes. Is achieved.

【0012】請求項1の構成によれば、圧電チップに電
極を形成する前に、電極形成に用いる整列治具を用いて
圧電チップを洗浄するようにしている。これは次のよう
な理由による。
According to the first aspect of the present invention, before the electrodes are formed on the piezoelectric chips, the piezoelectric chips are cleaned using the alignment jig used for forming the electrodes. This is for the following reasons.

【0013】本発明者の研究によれば、従来みられた圧
電デバイスによるドライブレベル特性の悪化、特に発振
の停止は、従来工程における取扱に原因があることが判
明した。特に、ブランクを形成してエッチングにより厚
み調整した後で、電極を形成する際に、作業者により圧
電チップである水晶チップを電極形成用の治具に並べる
ようにしている。この作業の際に圧電チップに極めて微
細な異物が付着することがあり、この異物がついた状態
で電極が形成されてしまう。これが完成後の圧電振動片
のドライブ特性に影響を与えている。そこで、本発明者
等は、この電極形成工程に着目し、電極を形成する前
に、治具に圧電チップを並べた状態において、この治具
を利用して洗浄する。これにより圧電チップの電極を形
成すべき面がきれいになるので、圧電チップを治具に並
べる際に付着した極めて微細な異物が除去される。特
に、治具に圧電チップを並べた状態で洗浄するので、例
えば、カゴ等に圧電チップをまとめて投入する場合と比
べて、ごく薄い圧電チップ片が重なりくっついてしまう
ことで、その表面がかくれてしまうことがなく、表面が
きれいに洗浄される。この状態で電極形成を行うことに
より、極めて微細な異物が付着した状態で電極が形成さ
れることを回避し、適切に発振動作を行うことができる
ようにしたものである。
According to the study of the present inventor, it has been found that the deterioration of the drive level characteristic due to the piezoelectric device, especially the stoppage of the oscillation caused by the piezoelectric device is caused by the handling in the conventional process. In particular, after forming a blank and adjusting the thickness by etching, when forming an electrode, a worker arranges a quartz chip, which is a piezoelectric chip, on a jig for forming an electrode. During this operation, extremely fine foreign matter may adhere to the piezoelectric chip, and an electrode is formed with the foreign matter attached. This affects the drive characteristics of the completed piezoelectric vibrating reed. Therefore, the present inventors pay attention to this electrode forming step, and perform cleaning using the jig in a state where the piezoelectric chips are arranged on the jig before forming the electrodes. This cleans the surface of the piezoelectric chip on which the electrodes are to be formed, so that extremely fine foreign substances attached when the piezoelectric chips are arranged on the jig are removed. In particular, since the cleaning is performed with the piezoelectric chips arranged in a jig, compared to when the piezoelectric chips are put together in a basket or the like, very thin piezoelectric chip pieces overlap and stick together, and the surface is hidden. The surface is cleanly cleaned. By forming the electrodes in this state, it is possible to prevent the electrodes from being formed in a state where extremely fine foreign matter is attached, and to appropriately perform the oscillation operation.

【0014】しかも専用治具は、電極形成用の治具と共
通であるから、電極形成に際して、圧電チップを他の治
具に移載する必要がなく、極めて微細な異物が付着する
おそれがない。
In addition, since the dedicated jig is common to the electrode forming jig, there is no need to transfer the piezoelectric chip to another jig when forming the electrodes, and there is no possibility that extremely fine foreign matter adheres. .

【0015】請求項2の発明は、請求項1の構成におい
て、前記洗浄に用いる専用治具は、前記圧電チップを複
数個互いに重なり合わないように並べて保持することを
特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, the dedicated jig used for the cleaning holds the plurality of piezoelectric chips side by side so as not to overlap each other.

【0016】請求項2の構成によれば、専用治具は圧電
チップが複数個互いに重ならないように保持するように
しているので、個々の圧電チップの電極を形成すべき面
がかくれてしまうことなく複数個同時に洗浄することが
できる。
According to the second aspect of the present invention, since the dedicated jig holds a plurality of piezoelectric chips so that they do not overlap each other, the surface of each piezoelectric chip on which electrodes are to be formed is hidden. And a plurality can be washed simultaneously.

【0017】請求項3の発明は、請求項2の構成におい
て、前記専用治具は、洗浄槽内で前記圧電チップが並ぶ
方向を縦方向に揃えて保持されることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in the configuration of the second aspect, the exclusive jig is held such that a direction in which the piezoelectric chips are arranged in a cleaning tank is aligned in a vertical direction.

【0018】請求項3の構成によれば、圧電チップが並
ぶ方向を縦方向に揃えて洗浄槽内に浸漬することがで
き、全ての圧電チップが確実に洗浄液内に浸漬された状
態で洗浄される。
According to the third aspect of the present invention, the piezoelectric chips can be immersed in the cleaning tank with the direction in which the piezoelectric chips are lined up in the vertical direction, and all the piezoelectric chips can be cleaned in a state of being immersed in the cleaning liquid. You.

【0019】請求項4の発明は、請求項1ないし3の構
成において、前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電チップに対
して濡れ性の高い洗浄液中で行われ、かつ超音波を印加
しながら前記専用治具を揺動させて行われることを特徴
とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the configuration of the first to third aspects, the cleaning is performed in a cleaning solution having a high wettability to the piezoelectric chip in the cleaning tank, and while applying ultrasonic waves. This is performed by swinging the dedicated jig.

【0020】請求項4の構成によれば、洗浄液は特に圧
電チップに対して濡れ性が高いものが使用されること
で、洗浄効果が高められる。また、洗浄液中では、圧電
チップは揺動されることと、超音波を印加されること
で、付着した極めて微細な異物が効果的に洗浄されるこ
とになる。
According to the structure of the fourth aspect, the cleaning effect is enhanced by using a cleaning liquid having a high wettability particularly to the piezoelectric chip. In addition, in the cleaning liquid, the piezoelectric chip is oscillated and ultrasonic waves are applied, so that the adhered extremely fine foreign matter is effectively cleaned.

【0021】請求項5の発明は、請求項1ないし4の構
成において、前記洗浄が洗浄槽の中で、少なくとも異な
る2方向から圧電チップに対して超音波を印加しながら
行われることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the first to fourth aspects, the cleaning is performed while applying ultrasonic waves to the piezoelectric chip from at least two different directions in the cleaning tank. I do.

【0022】請求項5の構成によれば、少なくとも異な
る2方向から圧電チップに対して超音波が印加されるこ
とで、極めて微細な異物が異なる2方向から振動され
る。これにより、一層効果的に洗浄される。
According to the fifth aspect, by applying ultrasonic waves to the piezoelectric chip from at least two different directions, extremely fine foreign matter is vibrated from two different directions. As a result, cleaning can be performed more effectively.

【0023】請求項6の発明は、請求項5の構成におい
て、前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電チップに対して少な
くとも異なる2方向から異なる複数の周波数による超音
波を印加して行われることを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in the configuration of the fifth aspect, the cleaning is performed by applying ultrasonic waves having different frequencies from at least two different directions to the piezoelectric chip in the cleaning tank. It is characterized by.

【0024】請求項6の構成によれば、圧電チップに対
して少なくとも異なる2方向から異なる複数の周波数に
よる超音波を印加するようにしたので、異なる周波数に
よる複数の振動が与えられ、より一層効果的に洗浄され
る。
According to the sixth aspect of the present invention, since ultrasonic waves having different frequencies are applied to the piezoelectric chip from at least two different directions, a plurality of vibrations having different frequencies are provided, which further enhances the effect. Is washed.

【0025】請求項7の発明は、請求項1ないし6の構
成において、前記洗浄後の圧電チップに対して、洗浄装
置内で、洗浄液もしくは置換液を蒸気化させて当てるこ
とにより乾燥させることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, in the configuration of the first to sixth aspects, the cleaning and the replacement liquid are vaporized and applied to the cleaned piezoelectric chip in a cleaning apparatus. Features.

【0026】請求項7の構成によれば、洗浄後の圧電チ
ップを別の設備等に移して、熱風乾燥させること等と比
べると、他設備による汚染の心配がなく、次工程へ直ち
に移動させることができることから、放置時間によって
の再汚染のおそれもない。
According to the configuration of claim 7, the piezoelectric chip after cleaning is moved to another facility or the like and dried with hot air, etc., so that there is no fear of contamination by other facilities and the piezoelectric chip is immediately moved to the next step. Therefore, there is no danger of recontamination depending on the standing time.

【0027】上記目的は、請求項8の発明によれば、圧
電材料のウエハを切断して所定の圧電チップを形成し、
この圧電チップに電極を形成して圧電振動片とし、この
圧電振動片を所定のパッケージ内に収容する圧電デバイ
スの製造方法において、前記圧電振動片の周波数の調整
の後で前記圧電振動片を前記パッケージに封止する前
に、封止に用いる治具を用いて、圧電振動片を洗浄す
る、圧電デバイスの製造方法により、達成される。
According to the present invention, a predetermined piezoelectric chip is formed by cutting a wafer made of a piezoelectric material.
An electrode is formed on the piezoelectric chip to form a piezoelectric vibrating reed, and in a method of manufacturing a piezoelectric device in which the piezoelectric vibrating reed is housed in a predetermined package, the piezoelectric vibrating reed is adjusted after adjusting the frequency of the piezoelectric vibrating reed. This is achieved by a method of manufacturing a piezoelectric device, in which a piezoelectric vibrating reed is cleaned using a jig used for sealing before sealing in a package.

【0028】請求項8の構成によれば、圧電チップに電
極を形成した後の圧電振動片に関して、周波数調整した
後で、封止用治具を用いて圧電振動片を洗浄するように
している。これは次のような理由による。
According to the eighth aspect of the present invention, the frequency of the piezoelectric vibrating reed after the electrodes are formed on the piezoelectric chip is adjusted, and then the piezoelectric vibrating reed is cleaned using the sealing jig. . This is for the following reasons.

【0029】本発明者の研究によれば、従来みられた圧
電デバイスによるドライブレベル特性の悪化、特に発振
の停止のもうひとつの原因は、周波数調整工程後にある
ことが判明した。特に、従来は、電極形成後幾つかの工
程を経ることにより極めて微細な異物が圧電振動片に付
着した状態でパッケージが封止されて完成品となってし
まう。これが完成後の圧電振動片のドライブ特性に影響
を与えている。そこで、本発明者等は、この封止工程に
着目し、これを行う前に、治具に圧電振動片をマウント
したベースを並べた状態において、この治具を利用して
洗浄する。これにより圧電振動片についた極めて微細な
異物が除去されるので、きれいな状態で封止され、適切
に発振動作を行うことができるようにしたものである。
According to the study of the present inventors, it has been found that another cause of the deterioration of the drive level characteristic due to the piezoelectric device, especially the stop of the oscillation, which is observed in the past, is after the frequency adjustment step. In particular, conventionally, through several steps after the formation of the electrodes, the package is sealed in a state in which extremely fine foreign matter adheres to the piezoelectric vibrating reed, and a completed product is obtained. This affects the drive characteristics of the completed piezoelectric vibrating reed. Therefore, the present inventors pay attention to this sealing step, and before performing the sealing step, perform cleaning using the jig in a state where the base on which the piezoelectric vibrating reed is mounted is arranged on the jig. As a result, extremely fine foreign matters attached to the piezoelectric vibrating reed are removed, so that the piezoelectric vibrating reed is sealed in a clean state, and the oscillation operation can be appropriately performed.

【0030】請求項9の発明は、請求項8の構成におい
て、前記洗浄に用いる専用治具は、前記圧電振動片がマ
ウントされたベースを複数個互いに重なり合わないよう
に並べて保持することを特徴とする。
According to a ninth aspect of the present invention, in the configuration of the eighth aspect, the exclusive jig used for the cleaning holds a plurality of bases on which the piezoelectric vibrating reeds are mounted so as not to overlap each other. And

【0031】請求項10の発明は、請求項9の構成にお
いて、前記専用治具は、洗浄槽内でベースが並ぶ方向を
縦方向に揃えて保持されることを特徴とする。項9に記
載の圧電デバイスの製造方法。
According to a tenth aspect of the present invention, in the configuration of the ninth aspect, the exclusive jig is held such that a direction in which the bases are lined up in the cleaning tank is aligned in a vertical direction. Item 10. The method for manufacturing a piezoelectric device according to Item 9.

【0032】請求項11の発明は、請求項8ないし10
の構成において、前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電振動片
に対して濡れ性の高い洗浄液中で行われ、かつ超音波を
印加しながら前記専用治具を揺動させて行われることを
特徴とする。
The invention of claim 11 is the invention of claims 8 to 10
Wherein the cleaning is performed in a cleaning bath, in a cleaning liquid having high wettability with respect to the piezoelectric vibrating reed, and is performed by oscillating the dedicated jig while applying ultrasonic waves. And

【0033】請求項12の発明は、請求項8ないし11
の構成において、前記洗浄が洗浄槽の中で、少なくとも
異なる2方向から圧電振動片に対して超音波を印加しな
がら行われることを特徴とする。
[0033] The invention of claim 12 is the invention of claims 8 to 11
Wherein the cleaning is performed in a cleaning tank while applying ultrasonic waves to the piezoelectric vibrating reed from at least two different directions.

【0034】請求項13の発明は、請求項12の構成に
おいて、前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電振動片に対して
少なくとも異なる2方向から異なる複数の周波数による
超音波を印加して行われることを特徴とする。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the configuration of the twelfth aspect, the cleaning is performed by applying ultrasonic waves having different frequencies from at least two different directions to the piezoelectric vibrating reed in the cleaning tank. It is characterized by the following.

【0035】請求項14の発明は、請求項8ないし13
の構成において、前記洗浄後の圧電振動片に対して、洗
浄装置内で、洗浄液もしくは置換液を蒸気化させて当て
ることにより乾燥させることを特徴とする。
The invention of claim 14 is the invention of claims 8 to 13
Is characterized in that the cleaning liquid or the replacement liquid is vaporized and applied to the cleaned piezoelectric vibrating reed in the cleaning apparatus to dry it.

【0036】また、上記目的は、請求項15の発明によ
れば、圧電チップを洗浄するための洗浄液を収容する洗
浄槽を備えており、この洗浄槽内において、圧電チップ
を複数個互いに重なり合わないように並べて保持する専
用治具を縦方向に保持して揺動させる手段と、前記洗浄
槽内の前記圧電チップに対して超音波を印加する手段
と、前記専用治具に圧電チップを保持したままで、電極
形成工程へ送る手段とを備える、洗浄装置により、達成
される。
Further, according to the present invention, there is provided a cleaning tank for storing a cleaning liquid for cleaning a piezoelectric chip, in which a plurality of piezoelectric chips are overlapped with each other. Means for vertically holding and swinging a dedicated jig which is arranged and held so as not to be applied, means for applying ultrasonic waves to the piezoelectric chip in the cleaning tank, and holding the piezoelectric chip on the dedicated jig And a means for sending to the electrode forming step as it is.

【0037】請求項15の構成によれば、請求項1ない
し4の方法を実行するのに好適な洗浄装置を提供するこ
とができる。
According to the structure of the fifteenth aspect, it is possible to provide a cleaning apparatus suitable for executing the method of the first to fourth aspects.

【0038】請求項16の発明は、請求項15の構成に
おいて、前記洗浄槽内で、少なくとも異なる2方向から
圧電チップに対して超音波を印加する手段を備えること
を特徴とする。
According to a sixteenth aspect of the present invention, in the configuration of the fifteenth aspect, a means for applying ultrasonic waves to the piezoelectric chip from at least two different directions in the cleaning tank is provided.

【0039】請求項17の発明は、請求項16の構成に
おいて、前記圧電チップに対して少なくとも異なる2方
向から異なる複数の周波数による超音波を印加する手段
を備えることを特徴とする。
A seventeenth aspect of the invention is characterized in that, in the configuration of the sixteenth aspect, there is provided means for applying ultrasonic waves with a plurality of different frequencies to the piezoelectric chip from at least two different directions.

【0040】請求項18の発明は、請求項15ないし1
7の構成において、前記洗浄槽の周囲に収容液体の冷却
手段を備えることを特徴とする。
The invention of claim 18 is the invention of claims 15 to 1
The structure of the seventh aspect is characterized in that cooling means for cooling the stored liquid is provided around the cleaning tank.

【0041】請求項18の構成によれば、超音波の印加
により、洗浄液が不必要な限度まで温度上昇することを
好適に防止することができる。
According to the configuration of the eighteenth aspect, it is possible to suitably prevent the temperature of the cleaning liquid from rising to an unnecessary limit by applying ultrasonic waves.

【0042】さらに、上記目的は、請求項19の発明に
よれば、ベースにマウントされた圧電振動片を洗浄する
ための洗浄液を収容する洗浄槽を備えており、この洗浄
槽内において、前記圧電振動片がマウントされたベース
を複数個互いに重なり合わないように並べて保持する専
用治具を縦方向に保持して揺動させる手段と、前記洗浄
槽内の前記ベースにマウントされた圧電振動片に対して
超音波を印加する手段と、前記専用治具に前記圧電振動
片がマウントされた前記ベースを保持したままで、封止
工程へ送る手段とを備える、洗浄装置により、達成され
る。
Further, according to the present invention, there is provided a cleaning tank for storing a cleaning liquid for cleaning a piezoelectric vibrating reed mounted on a base, wherein the cleaning tank is provided in the cleaning tank. Means for vertically holding and swinging a dedicated jig for holding a plurality of bases on which the vibrating reeds are mounted so as not to overlap each other, and a piezoelectric vibrating reed mounted on the base in the cleaning tank. This is achieved by a cleaning apparatus including: means for applying ultrasonic waves to the dedicated jig; and means for sending to a sealing step while holding the base on which the piezoelectric vibrating reed is mounted on the dedicated jig.

【0043】請求項19の構成によれば、請求項8ない
し11の方法を実行するのに好適な洗浄装置を提供する
ことができる。
According to the configuration of claim 19, it is possible to provide a cleaning apparatus suitable for performing the method of claims 8 to 11.

【0044】請求項20の発明は、請求項19の構成に
おいて、前記洗浄槽内で、少なくとも異なる2方向から
パッケージにマウントされた圧電振動片に対して超音波
を印加する手段を備えることを特徴とする。
According to a twentieth aspect of the present invention, in the configuration of the nineteenth aspect, there is provided means for applying ultrasonic waves to the piezoelectric vibrating reed mounted on the package from at least two different directions in the cleaning tank. And

【0045】請求項21の発明は、請求項20の構成に
おいて、前記ベースにマウントされた前記圧電振動片に
対して少なくとも異なる2方向から異なる複数の周波数
による超音波を印加する手段を備えることを特徴とす
る。
According to a twenty-first aspect of the present invention, in the configuration of the twentieth aspect, there is provided means for applying ultrasonic waves having a plurality of different frequencies from at least two different directions to the piezoelectric vibrating reed mounted on the base. Features.

【0046】請求項22の発明は、請求項19ないし2
1の構成において、前記洗浄槽の周囲に収容液体の冷却
手段を備えることを特徴とする。
The invention of claim 22 is the invention of claims 19 to 2
In the first aspect, a cooling unit for cooling the stored liquid is provided around the cleaning tank.

【0047】[0047]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0048】この実施形態の圧電デバイスの製造方法で
は、従来の方法と異なり、所定の洗浄工程を導入した点
に特徴がある。この製造工程を説明する前に、理解の便
宜のため、図11を参照して、本実施形態の圧電デバイ
スの一例である水晶振動子の構成を説明する。
The method of manufacturing a piezoelectric device according to this embodiment is characterized in that, unlike the conventional method, a predetermined cleaning step is introduced. Before describing the manufacturing process, a configuration of a crystal resonator, which is an example of the piezoelectric device of the present embodiment, will be described with reference to FIG. 11 for convenience of understanding.

【0049】図11において、水晶振動子10は、板状
の水晶振動片11を収納する空間部12aが形成された
箱状のベース12と、空間部12aを密封するようにベ
ース12に接合された板状の蓋体13を備えている。水
晶振動片11は、一端部11aが空間部12a内に一体
に設けた段部に配設されている電極14上に図示しない
接着剤を介して接続固定され、他端部11bが自由端と
されている。ベース12と蓋体13は、封止材(ロウ
材)15を介して接合されている。
In FIG. 11, a crystal resonator 10 is joined to a box-shaped base 12 having a space 12a for accommodating a plate-shaped crystal resonator element 11, and to the base 12 so as to seal the space 12a. A plate-shaped lid 13 is provided. The quartz vibrating reed 11 is connected and fixed via an adhesive (not shown) on an electrode 14 disposed at a step portion having one end 11a integrally provided in the space 12a, and the other end 11b is connected to a free end. Have been. The base 12 and the lid 13 are joined via a sealing material (a brazing material) 15.

【0050】ここで、圧電振動片は本実施形態では、水
晶が使用された水晶振動片11となっているが、これに
限らず、例えば、水晶,LiTaO3 ,LiNbO3
の圧電材料を使用して圧電振動片を構成してもよい。
In this embodiment, the piezoelectric vibrating reed is the crystal vibrating reed 11 made of quartz in the present embodiment, but is not limited to this. For example, a piezoelectric material such as quartz, LiTaO 3 , LiNbO 3 is used. Thus, a piezoelectric vibrating reed may be configured.

【0051】ベース12の材料としては、アルミナ等の
セラミックが用いられ、蓋体13の材料としては、コバ
ール等の金属あるいはアルミナ等のセラミックが用いら
れる。また、封止材15の材料としては、低融点ガラス
または銀ロウや半田等が用いられる。
As a material of the base 12, a ceramic such as alumina is used, and as a material of the lid 13, a metal such as Kovar or a ceramic such as alumina is used. In addition, as a material of the sealing material 15, low melting point glass, silver brazing, solder, or the like is used.

【0052】この水晶振動子10は、先ず、アルミナ等
のセラミック材料により、ベース12が形成され、水晶
振動片11に対応するように、電極部が例えばメッキ等
により形成される。
In the crystal resonator 10, first, a base 12 is formed of a ceramic material such as alumina, and an electrode portion is formed by, for example, plating so as to correspond to the crystal resonator element 11.

【0053】このベース12の電極部に、後述するよう
に励振電極や接続電極等の駆動に必要な電極が形成され
た水晶振動片11が、導電性接着剤14a,14aを介
してマウントされる。次に、水晶振動片11の表面に電
子ビームやプラズマを照射して、重さ調整することによ
り、後述するように周波数調整を行う。
The quartz vibrating reed 11 on which electrodes necessary for driving the excitation electrodes and the connection electrodes are formed as described later is mounted on the electrode portion of the base 12 via conductive adhesives 14a. . Next, by irradiating the surface of the crystal vibrating piece 11 with an electron beam or plasma to adjust the weight, the frequency is adjusted as described later.

【0054】次いで、上記ベース12上に蓋体13を載
せて、例えば蓋体13の上方から例えば、電子ビームを
照射することにより、封止を行うことで完成する。
Next, the lid 13 is placed on the base 12 and, for example, an electron beam is irradiated from above the lid 13 to complete the sealing.

【0055】図1は、上述の水晶振動子10の製造工程
において、水晶振動片11を形成する工程を含めた製造
工程を簡単に示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart simply showing a manufacturing process including a process of forming the quartz-crystal vibrating piece 11 in the above-described process of manufacturing the quartz-crystal resonator 10.

【0056】この製造工程において、ST10からST
12までは、図12で説明した従来の製造工程と同じで
あり、先ず、圧電材料としての例えば人工水晶の結晶か
ら矩形状の水晶ウエハを切り出す(ST10)。
In this manufacturing process, ST10 to ST10
Steps up to 12 are the same as those in the conventional manufacturing process described with reference to FIG. 12. First, a rectangular crystal wafer is cut out from a crystal of, for example, artificial quartz as a piezoelectric material (ST10).

【0057】切り出した水晶ウエハを研磨等により所定
厚みまで加工した後、これらの水晶ウエハを重ねて接着
剤等により固定して積層したウエハを所定の切断線に沿
って切断してウエハブロックを作る。このウエハブロッ
クの端面どうしを貼り合わせて全体に平たい形状とした
後に、さらに、所定の切断線に沿って再度切断して、水
晶チップブロックを形成する。この水晶チップブロック
を加工単位として、その角部を研磨する加工を行った後
で、上記接着剤を剥離することによって、ブランクと呼
ばれる水晶チップを得るようにしている(ST11)。
After the cut quartz wafer is processed to a predetermined thickness by polishing or the like, these quartz wafers are stacked and fixed with an adhesive or the like, and the laminated wafer is cut along a predetermined cutting line to form a wafer block. . After bonding the end faces of the wafer block to each other to form a flat shape as a whole, the wafer block is cut again along a predetermined cutting line to form a crystal chip block. The crystal chip block is used as a processing unit, and after the corner portion is polished, the adhesive is peeled off to obtain a crystal chip called a blank (ST11).

【0058】次いで、この水晶チップをエッチングして
所定の厚み(周波数)に整える(ST12)。ここで、
従来は、この水晶チップの表面及び裏面に電極を形成し
ているが、本実施形態では、ここで、整列洗浄を行う
(ST13)。この実施形態では、ST13の洗浄は、
例えば、図2の洗浄装置を使用して行われるので、その
詳しい説明は後述する。
Next, this crystal chip is etched and adjusted to a predetermined thickness (frequency) (ST12). here,
Conventionally, electrodes are formed on the front and back surfaces of the crystal chip. In the present embodiment, alignment cleaning is performed here (ST13). In this embodiment, the cleaning of ST13 is as follows.
For example, since the cleaning is performed using the cleaning apparatus of FIG. 2, a detailed description thereof will be given later.

【0059】次いで、水晶チップの表面及び裏面に必要
な電極を形成するため、蒸着やスパッタリングにより電
極パターン設けて、所定の駆動電極を備えた水晶振動片
11を得るようにしている(ST14)。すなわち、水
晶チップにこの工程で電極を形成したものが、図11で
説明した水晶振動片11である。
Next, in order to form necessary electrodes on the front surface and the back surface of the crystal chip, an electrode pattern is provided by vapor deposition or sputtering to obtain the crystal vibrating piece 11 provided with a predetermined drive electrode (ST14). That is, the one in which the electrodes are formed on the crystal chip in this step is the crystal vibrating piece 11 described in FIG.

【0060】この水晶振動片11を、上述したように、
所定のパッケージであるベース12にマウントし(ST
15)、水晶振動片の駆動電極に駆動電圧を印加して、
振動周波数をモニタしながら、例えば、その表面にレー
ザービームや電子ビームを照射したり、プラズマエッチ
ングを行う等して、水晶振動片11の質量を減少させ
て、振動周波数を増加させ、所望の周波数に合わせ込み
を行う周波数調整を行う(ST16)。この周波数調整
後に、本実施形態では、整列洗浄を行うようにしており
(ST17)、この整列洗浄は、例えば図9の洗浄装置
を用いて行われるので、詳しい説明は後述する。
As described above, this crystal vibrating piece 11 is
It is mounted on the base 12 which is a predetermined package (ST
15) Applying a drive voltage to the drive electrode of the crystal vibrating piece,
While monitoring the vibration frequency, for example, the surface of the crystal resonator element 11 is irradiated with a laser beam or an electron beam, or plasma etching is performed to reduce the mass of the crystal vibrating piece 11 and increase the vibration frequency to a desired frequency. The frequency is adjusted so as to match (step ST16). After the frequency adjustment, in the present embodiment, the alignment cleaning is performed (ST17). Since the alignment cleaning is performed using, for example, the cleaning apparatus shown in FIG. 9, a detailed description will be given later.

【0061】最後に、パッケージに蓋体13を真空封止
して、あるいは窒素ガス等の不活性ガス雰囲気中で封止
して、水晶振動子10を完成する(ST18)。
Lastly, the lid 13 is vacuum-sealed in the package or sealed in an inert gas atmosphere such as nitrogen gas to complete the crystal unit 10 (ST18).

【0062】図2は、洗浄装置の一例を示し、この場
合、図1のST13に利用される洗浄装置の概略構成図
である。
FIG. 2 shows an example of the cleaning device. In this case, it is a schematic configuration diagram of the cleaning device used in ST13 of FIG.

【0063】図において、洗浄装置20は、水晶チップ
の洗浄を行う洗浄処理室21と、この洗浄が終わった水
晶チップに電極を形成して水晶振動片11を形成するた
めのスパッタ室22を備えている。洗浄処理室21と蒸
着(スパッタ)室22とは隔壁によりそれぞれ気密に区
画されている。
In the figure, a cleaning apparatus 20 includes a cleaning processing chamber 21 for cleaning a quartz chip, and a sputtering chamber 22 for forming electrodes on the washed quartz chip to form a crystal vibrating piece 11. ing. The cleaning processing chamber 21 and the vapor deposition (sputtering) chamber 22 are airtightly partitioned by partition walls.

【0064】洗浄処理室21には、複数の洗浄槽23,
24,25が配置されており、各洗浄槽は、後述するよ
うに洗浄液が収容される複数の洗浄槽として使用しても
よいし、その一部を洗浄槽と乾燥用の置換剤の収容槽と
いうように使い分けてもよい。複数の洗浄槽23,2
4,25の上方には、工程順に沿って延びるガイド手段
26aが設けられており、このガイド手段26aには、
揺動アーム26bが設けられている。この揺動アーム2
6bは、先端に治具保持アーム26が装着されており、
治具保持アーム26には、後述する専用治具30が着脱
されるようになっていて、この専用治具30には、後述
するように水晶チップがセットされている。揺動アーム
26bは、この状態で、専用治具30を図において上下
方向に揺動させたり、上下方向を通る中心軸の周囲に回
転もしくは回動させたりすることができるようになって
おり、ガイド手段26aの動きと合わせて、任意の揺動
を行うことなうことができるようになっている。
A plurality of cleaning tanks 23,
24 and 25 are disposed, and each cleaning tank may be used as a plurality of cleaning tanks for storing a cleaning liquid as described later, or a part of the cleaning tank may be used as a cleaning tank and a storage tank for a replacement agent for drying. You may use them properly. Multiple washing tanks 23,2
A guide means 26a extending along the process order is provided above the fourth and 25th steps.
A swing arm 26b is provided. This swing arm 2
6b, the jig holding arm 26 is attached to the tip,
A dedicated jig 30 described later is attached to and detached from the jig holding arm 26, and a crystal chip is set on the dedicated jig 30 as described later. In this state, the swing arm 26b can swing the dedicated jig 30 vertically in the figure, or rotate or rotate around a central axis passing in the vertical direction. Arbitrary swinging can be performed in accordance with the movement of the guide means 26a.

【0065】ガイド手段26aは、揺動アーム26bを
介して、治具保持アーム26に保持された専用治具30
を、複数の洗浄槽23,24,25による洗浄処理を行
いながら、矢印Aの方向に移動させて、搬送コンベア2
7に送るようになっている。搬送コンベア27は、専用
治具30を矢印Dの方向に搬送し、真空予備室29の扉
29aから真空予備室29内に搬入するようになってい
る。真空予備室29は、エアロックとして作用し、扉2
9aを閉めることにより、洗浄処理室21とは気密的に
遮断されるようになっている。真空予備室29内は図示
しない真空ポンプ等の真空引き手段が設けられており、
専用治具30が搬入されて扉29aが閉められた状態で
真空引きされるようになっている。真空予備室29の奥
側には、蒸着(スパッタ)室22と連絡する扉22aが
設けられており、真空予備室29内が真空状態の時に、
扉22aが開かれて、専用治具30は、真空予備室29
内の搬送コンベア28により、スパッタ室22に搬入さ
れ、そのまま真空蒸着による電極形成工程(図1のST
14)に移行するようになっている。
The guide means 26a is provided with a dedicated jig 30 held by the jig holding arm 26 via a swing arm 26b.
Is moved in the direction of arrow A while performing the cleaning process by the plurality of cleaning tanks 23, 24, 25, and the conveyor 2
7 The conveyer 27 conveys the dedicated jig 30 in the direction of arrow D, and carries the jig 30 from the door 29 a of the pre-vacuum chamber 29 into the pre-vacuum chamber 29. The pre-vacuum chamber 29 acts as an air lock,
By closing 9a, it is airtightly shut off from the cleaning processing chamber 21. A vacuum evacuation unit such as a vacuum pump (not shown) is provided in the vacuum preliminary chamber 29.
The dedicated jig 30 is carried in and the door 29a is closed, and the door 29a is evacuated. A door 22a communicating with the vapor deposition (sputter) chamber 22 is provided on the back side of the vacuum preliminary chamber 29, and when the vacuum preliminary chamber 29 is in a vacuum state,
When the door 22a is opened, the exclusive jig 30 is moved to the vacuum preliminary chamber 29.
An electrode forming step (ST in FIG. 1) is carried into the sputtering chamber 22 by the transfer conveyor 28 in the
14).

【0066】図3は、専用治具30の構成を簡単に示す
分解斜視図である。
FIG. 3 is an exploded perspective view simply showing the structure of the dedicated jig 30. As shown in FIG.

【0067】図において、専用治具30は、図1のST
13の洗浄とST14の電極形成に共通して用いられる
治具である。
In the figure, the special jig 30 is the same as the ST shown in FIG.
This is a jig commonly used for cleaning 13 and forming electrodes in ST14.

【0068】専用治具30は、上板31と下板34との
間に、外形板33により位置決めされた多数の水晶チッ
プ16を挟み込むようになっている。
The exclusive jig 30 has a large number of crystal chips 16 positioned by the outer plate 33 sandwiched between the upper plate 31 and the lower plate 34.

【0069】図5は、専用治具30に水晶チップ16を
挟んで保持した状態を示している。図3の外形板33
は、縦横に水晶チップ16の外形よりも僅かに大きな内
径の同形の孔33aを有していて、この孔33a内に水
晶チップ16がひとつずつ水平に、互いに重ならないよ
うに、図3の状態に並んで位置決めされるようになって
いる。
FIG. 5 shows a state in which the quartz chip 16 is held by a dedicated jig 30. External plate 33 of FIG.
Has holes 33a of the same shape in the vertical and horizontal directions having an inner diameter slightly larger than the outer shape of the crystal chip 16, and in this hole 33a, the crystal chips 16 are horizontally placed one by one so that they do not overlap each other. Are positioned side by side.

【0070】また、上板31及び下板34は、電極形成
時のマスクであり、図4に示すように、例えば上板31
には、水晶チップ16の表面に形成すべき電極11cの
形状に対応した貫通孔(斜線部を除く部分)31a(図
5参照)が形成されている。同様にして、下板34も電
極形成時のマスクであり、水晶チップ16の裏面に、図
4と同様の電極を形成するための貫通孔34a(図5参
照)を有している。
The upper plate 31 and the lower plate 34 are masks for forming electrodes, and as shown in FIG.
Is formed with a through-hole (a portion excluding a hatched portion) 31a (see FIG. 5) corresponding to the shape of the electrode 11c to be formed on the surface of the crystal chip 16. Similarly, the lower plate 34 is also a mask for forming electrodes, and has a through hole 34a (see FIG. 5) for forming an electrode similar to that of FIG.

【0071】そして、図5に表れているカバープレート
36と図3のベースプレート35とは、貫通孔31aや
貫通孔34aよりも大きめの孔をもつ部材であり、上板
31と下板34の両外側から、これらを抑える機能を有
している。
The cover plate 36 shown in FIG. 5 and the base plate 35 shown in FIG. 3 are members having holes larger than the through holes 31a and the through holes 34a. It has a function to suppress these from the outside.

【0072】これにより、複数もしくは多数の水晶チッ
プ16が図3のように並んで、個々の水晶チップ16の
電極が形成されるべき面が外部に露出した状態で、専用
治具30に保持されるようになっている。
As a result, a plurality of or a large number of crystal chips 16 are arranged as shown in FIG. 3, and are held by the exclusive jig 30 with the surfaces of the individual crystal chips 16 on which the electrodes are to be formed being exposed to the outside. It has become so.

【0073】図6は、上記したように多数の水晶チップ
16を保持した専用治具30を治具保持アーム26にセ
ットする様子を示している。
FIG. 6 shows how the dedicated jig 30 holding a large number of crystal chips 16 is set on the jig holding arm 26 as described above.

【0074】治具保持アーム26の先端(図2において
は下端)には、保持手段41が形成されている。保持手
段41には、断面がコ字状となった溝42が開口部を対
向させて一対形成されている。
A holding means 41 is formed at the tip (the lower end in FIG. 2) of the jig holding arm 26. A pair of grooves 42 having a U-shaped cross section are formed in the holding means 41 with their openings facing each other.

【0075】これにより、図6の矢印に示すように、専
用治具30を一対の溝42に挿入することで、治具保持
アーム26の保持手段41に収容保持されるようになっ
ている。かくして、治具保持アーム26は、複数もしく
は多数の水晶チップ16が互いに重ならないように、並
列に並んで、しかも並ぶ方向を縦方向に揃えて保持され
るようになっており、各水晶チップ16は、その電極が
形成されるべき面(図4の電極11cの形状に対応)が
外部に露出された状態で保持されることになる。
Thus, as shown by the arrow in FIG. 6, by inserting the dedicated jig 30 into the pair of grooves 42, the jig is held and held in the holding means 41 of the jig holding arm 26. Thus, the jig holding arm 26 is held in parallel and in a vertical direction so that a plurality or a large number of crystal chips 16 do not overlap each other. Is held in a state where the surface on which the electrode is to be formed (corresponding to the shape of the electrode 11c in FIG. 4) is exposed to the outside.

【0076】次に、図7は、洗浄槽23の構成を概略的
に示す斜視図である。洗浄槽23の内部には、後述する
洗浄液等が収容されて、その中に専用治具30に収容さ
れた水晶チップ16が浸漬される。
Next, FIG. 7 is a perspective view schematically showing the structure of the cleaning tank 23. The cleaning tank 23 contains a cleaning liquid, which will be described later, and the quartz chip 16 stored in the dedicated jig 30 is immersed therein.

【0077】洗浄槽23が例えば直方体状に形成されて
いる場合には、少なくとも、その第1の側壁23aと第
2の側壁23bとに、ホーン等を内蔵した超音波発生手
段37と38とがそれぞれ設けられている。そして、好
ましくは、超音波発生手段37と38が発生する超音波
は、その周波数が可変できるようにされており、これに
より、超音波発生手段37と38とはそれぞれ異なる周
波数の超音波を発生することができるようになってい
る。
When the cleaning tank 23 is formed, for example, in a rectangular parallelepiped shape, at least the first side wall 23a and the second side wall 23b are provided with ultrasonic generating means 37 and 38 having a built-in horn or the like. Each is provided. Preferably, the frequency of the ultrasonic waves generated by the ultrasonic wave generating means 37 and 38 is variable, so that the ultrasonic wave generating means 37 and 38 generate ultrasonic waves having different frequencies, respectively. You can do it.

【0078】また、洗浄槽23の外壁に接して、これを
取り巻くように、冷却水を循環させるための冷却パイプ
45が配置されている。そして、これらの設備は、洗浄
槽24,25にも設けてもよい。
Further, a cooling pipe 45 for circulating cooling water is disposed so as to be in contact with and surround the outer wall of the washing tank 23. These facilities may also be provided in the cleaning tanks 24 and 25.

【0079】これにより、図8の平面図(上から見た
図)に示されているように、洗浄槽23内に浸漬された
専用治具30に対しては、異なる2方向から各超音波発
生手段37と38による超音波S1,S2が印加される
ようになっている。この場合、各超音波発生手段37と
38の機能を調整して、同一の周波数で同一のパワーに
よる超音波を印加するだけでなく、異なる2方向から、
異なる周波数の超音波S1,S2を専用治具30に印加
しながら洗浄することができるようになっている。そし
て、超音波の印加により洗浄液が必要以上に昇温しない
ように、冷却パイプ45の機能により洗浄液の温度調整
が行われるようになっている。
Thus, as shown in the plan view of FIG. 8 (a view from above), the ultrasonic wave is applied to the dedicated jig 30 immersed in the cleaning tank 23 from two different directions. Ultrasonic waves S1 and S2 by the generating means 37 and 38 are applied. In this case, the function of each of the ultrasonic wave generating means 37 and 38 is adjusted so that not only the ultrasonic waves with the same frequency but the same power are applied, but also from two different directions.
Cleaning can be performed while applying ultrasonic waves S1 and S2 of different frequencies to the dedicated jig 30. Then, the temperature of the cleaning liquid is adjusted by the function of the cooling pipe 45 so that the temperature of the cleaning liquid does not rise more than necessary by the application of the ultrasonic wave.

【0080】図2の洗浄装置20は以上のように構成さ
れており、次に洗浄方法の一例を説明する。
The cleaning apparatus 20 of FIG. 2 is configured as described above. Next, an example of the cleaning method will be described.

【0081】図2において、少なくとも、第1の洗浄槽
23には、洗浄液として、水晶チップ16に対して濡れ
性のよい液体として、例えば有機溶剤,例えば、イソプ
ロピルアルコール(IPA)が収容され、摂氏20度以
上に保たれている。
In FIG. 2, at least the first cleaning tank 23 contains, as a cleaning liquid, an organic solvent, for example, isopropyl alcohol (IPA) as a liquid having good wettability with respect to the quartz chip 16. It is kept above 20 degrees.

【0082】揺動アーム26bの先端には、図示するよ
うに治具保持アーム26が装着されており、その先端に
は、上述したように専用治具30が保持されている。ガ
イド手段26aの機能により、揺動アーム26b及び治
具保持アーム26を介して、専用治具30が水晶チップ
を収容した状態で洗浄槽23内に浸漬される。
A jig holding arm 26 is attached to the tip of the swing arm 26b as shown in the figure, and the dedicated jig 30 is held at the tip as described above. By the function of the guide means 26a, the exclusive jig 30 is immersed in the cleaning tank 23 through the swing arm 26b and the jig holding arm 26 while the crystal jig is accommodated therein.

【0083】この状態で揺動アーム26bが専用治具3
0を液内で揺動させる。この揺動は、上述したように、
上下の昇降や回転もくは回動を適宜組み合わせて行う。
さらに、これと同時に、超音波発生手段37と38か
ら、専用治具30に対して、異なる2方向から、例えば
異なる周波数による超音波が、出力約100W以上で印
加される。この間の時間は約10秒である。
In this state, the swing arm 26b is moved to the dedicated jig 3
0 is rocked in the liquid. This swing, as described above,
Up and down movement and rotation or rotation are appropriately combined.
Further, at the same time, ultrasonic waves having different frequencies, for example, with an output of about 100 W or more are applied to the dedicated jig 30 from the ultrasonic wave generating means 37 and 38 from two different directions. The time during this period is about 10 seconds.

【0084】これにより洗浄を終了し、揺動アーム26
bを上昇させて、洗浄液の直ぐ上で停止させ、洗浄液に
よる蒸気に晒して乾燥を行う。この乾燥時間は、約10
秒である。
Thus, the cleaning is completed, and the swing arm 26
b is raised, stopped just above the cleaning liquid, and dried by exposing to the vapor of the cleaning liquid. This drying time is about 10
Seconds.

【0085】これにより、洗浄が済んだ水晶チップ16
は、ガイド手段26aにより、矢印Aの方向に移動さ
れ、搬送コンベア27に送られる。搬送コンベア27
は、専用治具30を矢印Dの方向に搬送し、真空予備室
29の扉29aから真空予備室29内に搬入する。真空
予備室29内へ専用治具30が搬入されると、扉29a
が閉められた状態で真空引きされた後、蒸着(スパッ
タ)室22と連絡する扉22が開かれて、専用治具30
は、真空予備室29内の搬送コンベア28により、蒸着
(スパッタ)室22に搬入され、そのまま真空蒸着によ
る電極形成工程(図1のST14)に移行する。
As a result, the cleaned quartz chip 16
Is moved in the direction of arrow A by the guide means 26a and sent to the conveyor 27. Conveyor 27
Transports the dedicated jig 30 in the direction of arrow D and carries it into the vacuum preliminary chamber 29 through the door 29 a of the vacuum preliminary chamber 29. When the dedicated jig 30 is carried into the vacuum preparatory chamber 29, the door 29a
Is evacuated in a closed state, the door 22 communicating with the vapor deposition (sputter) chamber 22 is opened, and the special jig 30 is opened.
Is carried into the vapor deposition (sputter) chamber 22 by the conveyor 28 in the vacuum preparatory chamber 29, and the process proceeds to an electrode forming step by vacuum vapor deposition (ST14 in FIG. 1).

【0086】また、洗浄槽23,24,25を異なる機
能を与えて使い分ける場合には、洗浄槽23に上記と同
様にIPA等による洗浄液を収容し、次段の洗浄槽24
に例えばフッ素系の洗浄剤を水切り置換剤として収容す
る。この水切り置換剤としては、例えば3M社のハイド
ロフロオロエーテル(HFE)が好適である。そして、
このHFEを洗浄槽24に所定水位まで収容して、その
上方の空間をベーパー層として利用できるようにする。
When the cleaning tanks 23, 24, and 25 are used with different functions, the cleaning tank 23 contains a cleaning liquid such as IPA in the same manner as described above, and the next cleaning tank 24 is used.
For example, a fluorine-based cleaning agent is accommodated as a draining agent. As the draining agent, for example, hydrofluoroether (HFE) manufactured by 3M is suitable. And
The HFE is stored in the washing tank 24 up to a predetermined water level, and the space above the HFE can be used as a vapor layer.

【0087】この場合、洗浄槽23で洗浄が済んだ専用
治具30を、上記したHFEを収容した洗浄槽24のベ
ーパー層に10秒程度晒して、その後蒸気にさらさない
で10秒間放置することにより、洗浄液を乾燥させるこ
とができる。
In this case, the exclusive jig 30 that has been cleaned in the cleaning tank 23 is exposed to the vapor layer of the cleaning tank 24 containing the above-mentioned HFE for about 10 seconds, and then left for 10 seconds without being exposed to steam. Thereby, the cleaning liquid can be dried.

【0088】以上のように、本実施形態の製造方法で
は、水晶チップに電極を形成する前に、専用治具30に
水晶チップ16を並べた状態において、この専用治具3
0を利用して洗浄する。これにより水晶チップ16を専
用治具30に並べたりする上で付着した極めて微細な異
物が洗浄されて、水晶チップ10の電極を形成すべき面
がきれいになる。
As described above, in the manufacturing method according to the present embodiment, before the electrodes are formed on the crystal chip, the special jig 3
Wash using 0. As a result, extremely fine foreign substances adhered when the crystal chips 16 are arranged on the dedicated jig 30 are cleaned, and the surface of the crystal chip 10 on which the electrodes are to be formed becomes clean.

【0089】しかも専用治具30に水晶チップ16を互
いに重ならないで並べた状態で洗浄するので、例えば、
カゴ等に水晶チップ16をまとめて投入する場合と比べ
て、ごく薄い水晶チップが重なってしまうことで、その
表面がかくれてしまうことがなく、表面がきれいに洗浄
される。この状態で電極形成を行うことにより、極めて
微細な異物が付着した状態で電極が形成されることを回
避し、適切に発振動作を行うことができるようにしたも
のである。
Further, since the quartz chips 16 are washed in the exclusive jig 30 without overlapping each other, for example,
Compared with the case where the crystal chips 16 are put together in a basket or the like, since the very thin crystal chips overlap, the surface is not hidden and the surface is cleaned cleanly. By forming the electrodes in this state, it is possible to prevent the electrodes from being formed in a state in which extremely fine foreign matter is attached, and to appropriately perform the oscillation operation.

【0090】しかも専用治具30は、蒸着(スパッタ)
室22に搬入することで、そのまま電極形成が行えるの
で、電極形成に際して、水晶チップ16を他の治具に移
載する必要がなく、極めて微細な異物が付着するおそれ
がない。
Further, the special jig 30 is formed by vapor deposition (sputtering).
Since the electrodes can be formed as they are carried into the chamber 22, there is no need to transfer the crystal chip 16 to another jig when forming the electrodes, and there is no possibility that extremely fine foreign matter will adhere.

【0091】また、上述した洗浄方法によれば、洗浄液
が特に水晶チップに対して濡れ性が高いものが使用され
ることで、洗浄効果が高められる。また、洗浄液中で
は、水晶チップは揺動されることと、超音波を印加され
ることで、付着した極めて微細な異物が効果的に洗浄さ
れることになる。しかも、洗浄槽23の中で、少なくと
も異なる2方向から水晶チップ16に対して超音波が印
加され、また、超音波発生手段37と38が発生する超
音波は、その周波数が可変できるようにされていること
により、好ましくは異なる複数の周波数による超音波が
印加される。このため、水晶チップ16には異なる周波
数による複数の振動が与えられ、より一層効果的に洗浄
される。
Further, according to the above-described cleaning method, the cleaning effect is enhanced by using a cleaning liquid having a high wettability particularly to the crystal chip. In the cleaning liquid, the crystal chip is swung and an ultrasonic wave is applied, so that the attached extremely fine foreign matter is effectively cleaned. In addition, ultrasonic waves are applied to the quartz chip 16 from at least two different directions in the cleaning tank 23, and the frequency of the ultrasonic waves generated by the ultrasonic wave generating means 37 and 38 can be varied. Therefore, preferably, ultrasonic waves with a plurality of different frequencies are applied. For this reason, a plurality of vibrations with different frequencies are given to the crystal chip 16, and the crystal chip 16 is more effectively cleaned.

【0092】また、洗浄後の水晶チップ16に対して、
洗浄装置20内で、洗浄液もしくは置換液を蒸気化させ
て当てることで乾燥させているので、洗浄後の水晶チッ
プ16を別の設備等に移して、熱風乾燥させること等と
比べると、他設備による汚染の心配がなく、次工程へ直
ちに移動させることができることから、放置時間によっ
ての再汚染のおそれもない。
Further, with respect to the crystal chip 16 after cleaning,
Since the cleaning liquid or the replacement liquid is vaporized and dried in the cleaning device 20, the crystal chip 16 after the cleaning is transferred to another facility or the like and dried with hot air. There is no risk of contamination due to contamination, and it can be immediately moved to the next step, so there is no risk of re-contamination depending on the standing time.

【0093】図9は、図1で説明した製造工程における
ST17の整列洗浄,すなわち、周波数調整後の整列洗
浄に用いる洗浄装置50の一例を示す概略構成図であ
る。
FIG. 9 is a schematic configuration diagram showing an example of a cleaning apparatus 50 used for the alignment cleaning in ST17 in the manufacturing process described with reference to FIG. 1, ie, the alignment cleaning after frequency adjustment.

【0094】図9において、図2の洗浄装置20と同一
の符号を付した箇所は共通する構成であるから、重複す
る説明は省略し、相違点を中心に説明する。
In FIG. 9, the portions denoted by the same reference numerals as those of the cleaning device 20 of FIG. 2 have the same configuration, and thus the duplicate description will be omitted, and the description will focus on the differences.

【0095】この洗浄装置50も、その内部が二つに区
画されている。洗浄装置50が洗浄処理室21を備えて
いることは洗浄装置20と共通しているが、工程の相違
により、隣接する区画は、封止室52となっている。
The interior of the cleaning device 50 is also divided into two. The cleaning device 50 is provided with the cleaning processing chamber 21 in common with the cleaning device 20, but an adjacent section is a sealing chamber 52 due to a difference in steps.

【0096】この洗浄装置50には、周波数調整後の圧
電振動片である水晶振動片が運ばれて処理対象となる。
この洗浄処理室21内で、洗浄装置20と異なるのは、
専用治具55の構成と、洗浄治具カバー取り外しユニッ
ト54を備える点である。
The quartz vibrating reed, which is the piezoelectric vibrating reed after the frequency adjustment, is carried to the cleaning device 50 to be processed.
What is different from the cleaning apparatus 20 in the cleaning processing chamber 21 is that
The point is that the exclusive jig 55 and the cleaning jig cover removing unit 54 are provided.

【0097】洗浄用の専用治具55を説明するために、
図10を参照する。
To explain the cleaning jig 55,
Please refer to FIG.

【0098】図示されているように、専用治具55は、
2枚の部材57,58を有している。2枚のプレート状
の部材57,58には、それぞれ貫通孔が形成されてお
り、プレート状の部材57,58を重ね合わせた状態
で、各貫通孔には、内周側に互いに対向する内向き段部
57a,58aが形成されている。これにより、形成さ
れる凹部59に図示するように水晶振動片11がマウン
トされたベースが収容される。つまり、図1のST15
において、パッケージであるベース12にマウントされ
た圧電振動片11が、ベース12ごとプレート状の部材
57,58の間に挟み込まれるようになっており、上記
段部57aと58aがそれぞれベース12の上端面と下
面に当接するようにして、ベース12にマウントされた
水晶振動片11を保持するようになっている。この状態
で、水晶振動片11は、貫通孔56により露出されてい
る。
As shown in the figure, the special jig 55
It has two members 57 and 58. Through holes are formed in the two plate-shaped members 57 and 58, respectively, and in a state where the plate-shaped members 57 and 58 are overlapped, each through hole has an inner surface facing the inner peripheral side. Direction step portions 57a and 58a are formed. As a result, the base on which the quartz vibrating piece 11 is mounted is accommodated in the recess 59 formed as shown in the figure. That is, ST15 in FIG.
2, the piezoelectric vibrating reed 11 mounted on the base 12, which is a package, is sandwiched between the plate-like members 57 and 58 together with the base 12, and the step portions 57a and 58a are respectively provided on the base 12. The quartz-crystal vibrating reed 11 mounted on the base 12 is held in contact with the end face and the lower face. In this state, the quartz-crystal vibrating piece 11 is exposed by the through hole 56.

【0099】この装置内の洗浄処理は、図2の装置の場
合と同じであるから、重複する説明は省略する。
Since the cleaning process in the apparatus is the same as that in the apparatus shown in FIG. 2, a duplicate description will be omitted.

【0100】洗浄が終わった水晶振動片11は、封止室
入口扉52aを開いて、封止室52に搬入され、図11
に示すように、蓋体13を載せて、封止される(ST1
8)。
The cleaned quartz vibrating piece 11 is carried into the sealing chamber 52 by opening the sealing chamber entrance door 52a, and
As shown in the figure, the lid 13 is placed and sealed (ST1).
8).

【0101】その他、洗浄処理に伴う種々の条件は図2
の洗浄装置の場合と同じであるから、上述した図2の場
合と共通した作用効果を発揮することができる。
FIG. 2 shows various conditions involved in the cleaning process.
Since the cleaning device is the same as that of the cleaning device of FIG. 2, the same operation and effect as in the case of FIG.

【0102】本発明は上述の実施形態に限定されない。The present invention is not limited to the above embodiment.

【0103】本発明は、圧電振動子に限らず、圧電チッ
プを利用した圧電発振器等種々の圧電デバイスに適用す
ることができる。
The present invention can be applied not only to the piezoelectric vibrator but also to various piezoelectric devices such as a piezoelectric oscillator using a piezoelectric chip.

【0104】また、例えば、洗浄液や洗浄時間等は種々
の条件を適宜採用することができるし、上述の洗浄装置
の各構成は適宜変更することが可能である。
For example, various conditions such as a cleaning liquid and a cleaning time can be appropriately adopted, and each constitution of the above-mentioned cleaning apparatus can be appropriately changed.

【0105】さらにまた、上述の実施形態の各条件や各
構成は適宜その一部を省略することが可能である。
Furthermore, it is possible to appropriately omit some of the conditions and components of the above-described embodiment.

【0106】[0106]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、駆
動電圧の変動に強く、ドライブレベル特性の向上をはか
ることができる圧電デバイスの製造方法と、この製造方
法に利用される洗浄装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, a method of manufacturing a piezoelectric device that is resistant to fluctuations in drive voltage and can improve drive level characteristics, and a cleaning apparatus used in this method Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係る圧電デバイスの製造方
法の一例を簡単に示すフローチャート。
FIG. 1 is a flowchart schematically illustrating an example of a method for manufacturing a piezoelectric device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のフローチャートによるST13の洗浄を
行う洗浄装置の一例を示す概略構成図。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a cleaning apparatus that performs cleaning in ST13 according to the flowchart of FIG. 1;

【図3】図2の洗浄装置に用いる専用治具を示す分解斜
視図。
FIG. 3 is an exploded perspective view showing a dedicated jig used for the cleaning device of FIG. 2;

【図4】図3の専用治具の作用を説明するための説明
図。
FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining the operation of the dedicated jig of FIG. 3;

【図5】図3の専用治具に水晶チップを保持した状態の
概略断面図。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a state where a crystal chip is held by the exclusive jig of FIG. 3;

【図6】図2の洗浄装置の治具保持アームの構成を示す
概略斜視図。
FIG. 6 is a schematic perspective view showing a configuration of a jig holding arm of the cleaning device of FIG. 2;

【図7】図2の洗浄装置の洗浄槽の構成を示す概略斜視
図。
FIG. 7 is a schematic perspective view showing a configuration of a cleaning tank of the cleaning device of FIG. 2;

【図8】図2の洗浄装置の洗浄槽の機能を説明する概略
平面図。
8 is a schematic plan view illustrating the function of a cleaning tank of the cleaning device of FIG.

【図9】図1のフローチャートによるST17の洗浄を
行う洗浄装置の一例を示す概略構成図。
FIG. 9 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a cleaning apparatus that performs cleaning in ST17 according to the flowchart of FIG. 1;

【図10】図9の洗浄装置に用いる専用治具を示す概略
部分断面図。
FIG. 10 is a schematic partial cross-sectional view showing a dedicated jig used for the cleaning device of FIG. 9;

【図11】本発明の圧電デバイスの一例である水晶振動
子を示す一部切断斜視図。
FIG. 11 is a partially cutaway perspective view showing a crystal resonator which is an example of the piezoelectric device of the present invention.

【図12】従来の圧電デバイスの製造方法の一例を簡単
に示すフローチャート。
FIG. 12 is a flowchart simply showing an example of a conventional method for manufacturing a piezoelectric device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 水晶振動子 11 水晶振動片 12 ベース 13 蓋体 20 洗浄装置 21 洗浄処理室 22 スパッタ室 23 洗浄槽 24 洗浄槽 25 洗浄槽 26a ガイド手段 26b 揺動アーム 26 治具保持アーム 30 専用治具 50 洗浄装置 55 専用治具 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Quartz vibrator 11 Quartz vibrating piece 12 Base 13 Lid 20 Cleaning device 21 Cleaning processing chamber 22 Sputtering chamber 23 Cleaning tank 24 Cleaning tank 25 Cleaning tank 26a Guide means 26b Swing arm 26 Jig holding arm 30 Special jig 50 Cleaning Equipment 55 Exclusive jig

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成13年6月14日(2001.6.1
4)
[Submission date] June 14, 2001 (2001.6.1)
4)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0005[Correction target item name] 0005

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0005】次いで、この水晶チップをエッチングして
所定の厚みにし(ST3)、さらに、水晶チップの表面
及び裏面に必要な電極を形成するため、例えば蒸着によ
り電極パターン設けて、所定の駆動電極を備えた水晶
振動片を得るようにしている(ST4)。
Next, the crystal chip is etched to a predetermined thickness (ST3). Further, in order to form necessary electrodes on the front and back surfaces of the crystal chip, an electrode pattern is provided by, for example, vapor deposition, and a predetermined drive electrode is formed. Is obtained (ST4).

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be amended] Drawing

【補正対象項目名】図2[Correction target item name] Figure 2

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【図2】 FIG. 2

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/304 642 H03H 3/02 A 41/09 B H03H 3/02 H01L 41/22 Z 41/08 C Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (reference) H01L 21/304 642 H03H 3/02 A 41/09 B H03H 3/02 H01L 41/22 Z 41/08 C

Claims (22)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 圧電材料のウエハを切断して所定の圧電
チップを形成し、この圧電チップに電極を形成して圧電
振動片とし、この圧電振動片を所定のパッケージ内に収
容する圧電デバイスの製造方法において、 前記電極形成前に、電極形成に用いる整列治具を用いて
前記圧電チップを洗浄することを特徴とする、圧電デバ
イスの製造方法。
1. A piezoelectric device in which a predetermined piezoelectric chip is formed by cutting a wafer made of a piezoelectric material, electrodes are formed on the piezoelectric chip to form a piezoelectric vibrating reed, and the piezoelectric vibrating reed is housed in a predetermined package. In the manufacturing method, before the electrode formation, the piezoelectric chip is cleaned by using an alignment jig used for electrode formation.
【請求項2】 前記洗浄に用いる専用治具は、前記圧電
チップを複数個互いに重なり合わないように並べて保持
することを特徴とする、請求項1に記載の圧電デバイス
の製造方法。
2. The method for manufacturing a piezoelectric device according to claim 1, wherein the exclusive jig used for the cleaning holds a plurality of the piezoelectric chips side by side so as not to overlap each other.
【請求項3】 前記専用治具は、洗浄槽内で前記圧電チ
ップが並ぶ方向を縦方向に揃えて保持されることを特徴
とする、請求項2に記載の圧電デバイスの製造方法。
3. The method for manufacturing a piezoelectric device according to claim 2, wherein the dedicated jig is held in a cleaning tank with a direction in which the piezoelectric chips are lined up in a vertical direction.
【請求項4】 前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電チップに
対して濡れ性の高い洗浄液中で行われ、かつ超音波を印
加しながら前記専用治具を揺動させて行われることを特
徴とする、請求項1ないし3のいずれかに記載の圧電デ
バイスの製造方法。
4. The cleaning is performed in a cleaning bath in a cleaning liquid having a high wettability to the piezoelectric chip, and is performed by oscillating the dedicated jig while applying ultrasonic waves. The method for manufacturing a piezoelectric device according to claim 1, wherein
【請求項5】 前記洗浄が洗浄槽の中で、少なくとも異
なる2方向から圧電チップに対して超音波を印加しなが
ら行われることを特徴とする、請求項1ないし4のいず
れかに記載の圧電デバイスの製造方法。
5. The piezoelectric device according to claim 1, wherein the cleaning is performed in a cleaning tank while applying ultrasonic waves to the piezoelectric chip from at least two different directions. Device manufacturing method.
【請求項6】 前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電チップに
対して少なくとも異なる2方向から異なる複数の周波数
による超音波を印加して行われることを特徴とする、請
求項5に記載の圧電デバイスの製造方法。
6. The piezoelectric device according to claim 5, wherein the cleaning is performed by applying ultrasonic waves having different frequencies from at least two different directions to the piezoelectric chip in the cleaning tank. Device manufacturing method.
【請求項7】 前記洗浄後の圧電チップに対して、洗浄
装置内で、洗浄液もしくは置換液を蒸気化させて当てる
ことにより乾燥させることを特徴とする、請求項1ない
し6のいずれかに記載の圧電デバイスの製造方法。
7. The cleaning method according to claim 1, wherein the cleaning and replacement liquid is vaporized and applied to the cleaned piezoelectric chip in a cleaning apparatus. Of manufacturing a piezoelectric device.
【請求項8】 圧電材料のウエハを切断して所定の圧電
チップを形成し、この圧電チップに電極を形成して圧電
振動片とし、この圧電振動片を所定のパッケージ内に収
容する圧電デバイスの製造方法において、 前記圧電振動片の周波数の調整の後で前記圧電振動片を
前記パッケージに封止する前に、封止に用いる治具を用
いて、圧電振動片を洗浄することを特徴とする、圧電デ
バイスの製造方法。
8. A piezoelectric device in which a predetermined piezoelectric chip is formed by cutting a wafer of a piezoelectric material, electrodes are formed on the piezoelectric chip to form a piezoelectric vibrating piece, and the piezoelectric vibrating piece is housed in a predetermined package. In the manufacturing method, after adjusting the frequency of the piezoelectric vibrating reed and before sealing the piezoelectric vibrating reed in the package, the piezoelectric vibrating reed is cleaned using a jig used for sealing. , A method of manufacturing a piezoelectric device.
【請求項9】 前記洗浄に用いる専用治具は、前記圧電
振動片がマウントされたベースを複数個互いに重なり合
わないように並べて保持することを特徴とする、請求項
8に記載の圧電デバイスの製造方法。
9. The piezoelectric device according to claim 8, wherein the exclusive jig used for cleaning holds a plurality of bases on which the piezoelectric vibrating reeds are mounted so as not to overlap each other. Production method.
【請求項10】 前記専用治具は、洗浄槽内で前記ベー
スが並ぶ方向を縦方向に揃えて保持されることを特徴と
する、請求項9に記載の圧電デバイスの製造方法。
10. The method for manufacturing a piezoelectric device according to claim 9, wherein the dedicated jig is held in a cleaning tank with a direction in which the bases are lined up in a vertical direction.
【請求項11】 前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電振動片
に対して濡れ性の高い洗浄液中で行われ、かつ超音波を
印加しながら前記専用治具を揺動させて行われることを
特徴とする、請求項8ないし10のいずれかに記載の圧
電デバイスの製造方法。
11. The cleaning is performed in a cleaning bath in a cleaning liquid having a high wettability with respect to the piezoelectric vibrating reed, and is performed by rocking the dedicated jig while applying ultrasonic waves. The method for manufacturing a piezoelectric device according to any one of claims 8 to 10, wherein:
【請求項12】 前記洗浄が洗浄槽の中で、少なくとも
異なる2方向から圧電振動片に対して超音波を印加しな
がら行われることを特徴とする、請求項8ないし11の
いずれかに記載の圧電デバイスの製造方法。
12. The cleaning method according to claim 8, wherein the cleaning is performed in a cleaning tank while applying ultrasonic waves to the piezoelectric vibrating reed from at least two different directions. A method for manufacturing a piezoelectric device.
【請求項13】 前記洗浄が洗浄槽の中で、圧電振動片
に対して少なくとも異なる2方向から異なる複数の周波
数による超音波を印加して行われることを特徴とする、
請求項12に記載の圧電デバイスの製造方法。
13. The cleaning is performed by applying ultrasonic waves at a plurality of different frequencies from at least two different directions to the piezoelectric vibrating reed in a cleaning tank.
A method for manufacturing the piezoelectric device according to claim 12.
【請求項14】 前記洗浄後の圧電振動片に対して、洗
浄装置内で、洗浄液もしくは置換液を蒸気化させて当て
ることにより乾燥させることを特徴とする、請求項8な
いし13のいずれかに記載の圧電デバイスの製造方法。
14. The cleaning method according to claim 8, wherein the cleaning liquid or the replacement liquid is vaporized and applied to the cleaned piezoelectric vibrating reed in a cleaning apparatus. A manufacturing method of the piezoelectric device according to the above.
【請求項15】 圧電チップを洗浄するための洗浄液を
収容する洗浄槽を備えており、 この洗浄槽内において、圧電チップを複数個互いに重な
り合わないように並べて保持する専用治具を縦方向に保
持して揺動させる手段と、 前記洗浄槽内の前記圧電チップに対して超音波を印加す
る手段と、 前記専用治具に圧電チップを保持したままで、電極形成
工程へ送る手段とを備えることを特徴とする、洗浄装
置。
15. A cleaning tank for storing a cleaning liquid for cleaning a piezoelectric chip, wherein a dedicated jig for vertically holding a plurality of piezoelectric chips in a vertical direction so as not to overlap each other is provided in the cleaning tank. Means for holding and oscillating; means for applying ultrasonic waves to the piezoelectric chip in the cleaning tank; means for sending to the electrode forming step while holding the piezoelectric chip in the dedicated jig A cleaning device, characterized in that:
【請求項16】 前記洗浄槽内で、少なくとも異なる2
方向から圧電チップに対して超音波を印加する手段を備
えることを特徴とする、請求項15に記載の洗浄装置。
16. In the cleaning tank, at least two different
The cleaning device according to claim 15, further comprising a unit configured to apply an ultrasonic wave to the piezoelectric chip from a direction.
【請求項17】 前記圧電チップに対して少なくとも異
なる2方向から異なる複数の周波数による超音波を印加
する手段を備えることを特徴とする、請求項16に記載
の洗浄装置。
17. The cleaning apparatus according to claim 16, further comprising: means for applying ultrasonic waves with a plurality of different frequencies to the piezoelectric chip from at least two different directions.
【請求項18】 前記洗浄槽の周囲に収容液体の冷却手
段を備えることを特徴とする、請求項15ないし17の
いずれかに記載の洗浄装置。
18. The cleaning apparatus according to claim 15, further comprising a cooling unit for cooling the stored liquid around the cleaning tank.
【請求項19】 ベースにマウントされた圧電振動片を
洗浄するための洗浄液を収容する洗浄槽を備えており、 この洗浄槽内において、前記圧電振動片がマウントされ
たベースを複数個互いに重なり合わないように並べて保
持する専用治具を縦方向に保持して揺動させる手段と、 前記洗浄槽内の前記ベースにマウントされた圧電振動片
に対して超音波を印加する手段と、 前記専用治具に前記圧電振動片がマウントされた前記ベ
ースを保持したままで、封止工程へ送る手段とを備える
ことを特徴とする、洗浄装置。
19. A cleaning tank for containing a cleaning liquid for cleaning a piezoelectric vibrating reed mounted on a base, wherein a plurality of bases on which the piezoelectric vibrating reeds are mounted overlap each other in the cleaning tank. Means for vertically holding and swinging a dedicated jig which is arranged and held so as not to be arranged; means for applying ultrasonic waves to the piezoelectric vibrating reed mounted on the base in the cleaning tank; Means for sending to a sealing step while holding the base on which the piezoelectric vibrating reed is mounted on a tool.
【請求項20】 前記洗浄槽内で、少なくとも異なる2
方向から前記ベースにマウントされた圧電振動片に対し
て超音波を印加する手段を備えることを特徴とする、請
求項19に記載の洗浄装置。
20. In the cleaning tank, at least two different
20. The cleaning apparatus according to claim 19, further comprising: means for applying ultrasonic waves to a piezoelectric vibrating reed mounted on the base from a direction.
【請求項21】 前記ベースにマウントされた前記圧電
振動片に対して少なくとも異なる2方向から異なる複数
の周波数による超音波を印加する手段を備えることを特
徴とする、請求項20に記載の洗浄装置。
21. The cleaning apparatus according to claim 20, further comprising: means for applying ultrasonic waves having a plurality of different frequencies from at least two different directions to the piezoelectric vibrating reed mounted on the base. .
【請求項22】 前記洗浄槽の周囲に収容液体の冷却手
段を備えることを特徴とする、請求項19ないし21の
いずれかに記載の洗浄装置。
22. The cleaning apparatus according to claim 19, further comprising a cooling unit for cooling the stored liquid around the cleaning tank.
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