JP2002032421A - 空港制限表面チェック装置及びそのためのプログラムを記憶した記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 調査点におけるクリアランスを容易かつ迅速
に取得すること、及び航空運用の専門家以外の者が容易
に制限表面を理解することができる制限表面のチェック
装置及びプログラムを提供する。 【解決手段】 調査対象物と制限表面との干渉をチェッ
クする制限表面チェック装置において、調査対象領域の
位置情報を入力する入力手段と、入力された位置情報に
対応する地図を表示する地図表示手段と、調査対象領域
の平面的輪郭を画定する複数の頂点の位置情報を地図上
で入力するための頂点入力手段と、前記複数の頂点にお
ける調査対象物の絶対高さを決定する絶対高さ決定手段
と、前記複数の頂点における制限表面の高さを算出する
制限高さ算出手段と、前記複数の頂点について、前記制
限表面の高さと前記調査対象物の絶対高さを比較してク
リアランスを算出するクリアランス算出手段と、算出結
果を表示する結果表示手段と、を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、空港制限表面の自
動チェック装置及びそのためのプログラムに関し、特に
航空法に基づく空港周辺建物等と制限表面との干渉度合
いの判定を行う装置及びプログラムに関する。

【０００２】

【従来の技術】空港の周りでは、航空機の航行空間の安
全を確保するために空間の制限が設けられており、これ
を空港制限表面（以下、単に「制限表面」とも呼ぶ）。
これは、空港の近辺に高い建造物などがあると航空機の
安全な航行の妨げになるため空港の近辺ではそのような
建造物の建築などを禁止する目的によるものであり、制
限表面上に出る物件の設置は航空法により禁止されてい
る。従って、制限表面内に高層建築や花火などのイベン
トを計画する場合には事前に制限表面との干渉の可能性
を検討しなければならない。

【０００３】従来、このような制限表面との干渉チェッ
クは、以下のように行われていた。第１の方法は、制限
表面の高さを等高線表示した地図を利用し、同地図上の
建築予定地などの地点（以下、「調査点」とも呼ぶ）に
おける等高線の読みから制限高さを想定する。そして、
予定された建築物の高さとの差を計算することにより制
限表面までの高さの余裕（以下、「クリアランス」と呼
ぶ。）を得てその建築予定物の適否を判断する。

【０００４】第２の方法は、調査点と制限表面の基準点
との距離の差から調査点の制限高さを想定する。そし
て、第１の方法と同様に予定された建築物の高さとの差
を計算してその建築予定物の適否を判断する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述のような制限表面
との干渉チェックは、地図上の等高線表示などから調査
点における制限表面の高さを取得して行うものであり、
ある程度の経験やチェックのための時間を要するもので
あった。また、判定結果は２次元表示されるため、航空
運用にかかわらない分野の人々などは、制限表面の３次
元的な制限を理解することが難しい傾向があった。さら
に、建築予定地がある程度広い敷地面積を有するような
場合には、その敷地内の複数の点におけるクリアランス
をチェックする必要が生じ、上述の方法によるチェック
は一層煩雑となる。

【０００６】本発明は、以上の点に鑑みてなされたもの
であり、調査点におけるクリアランスを容易かつ迅速に
取得すること、及び航空運用の専門家以外の者が容易に
制限表面を理解することができる制限表面のチェック装
置及びプログラムを提供することを目的とする。

【０００７】また、本発明は、ある程度広い面積の領域
にわたる建築物などについて複数の地点におけるクリア
ランスを容易に取得し、その建築の適否などを総合的に
判定できる制限表面のチェック装置及びプログラムを提
供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、調査対象物と制限表面との干渉をチェックする制限
表面チェック装置において、調査対象領域の位置情報を
入力する入力手段と、入力された位置情報に対応する地
図を表示する地図表示手段と、調査対象領域の平面的輪
郭を画定する複数の頂点の位置情報を地図上で入力する
ための頂点入力手段と、前記複数の頂点における調査対
象物の絶対高さを決定する絶対高さ決定手段と、前記複
数の頂点における制限表面の高さを算出する制限高さ算
出手段と、前記複数の頂点について、前記制限表面の高
さと前記調査対象物の絶対高さを比較してクリアランス
を算出するクリアランス算出手段と、算出結果を表示す
る結果表示手段と、を備える。

【０００９】また、請求項９に記載の発明は、調査対象
物と制限表面との干渉をチェックする制限表面チェック
プログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能な記
憶媒体において、前記プログラムは前記コンピュータ
を、制限表面チェック調査対象領域の位置情報を入力す
る入力手段、入力された位置情報に対応する地図を表示
する地図表示手段、調査対象領域の平面的輪郭を画定す
る複数の頂点の位置情報を地図上で入力するための頂点
入力手段、前記複数の頂点における調査対象物の絶対高
さを決定する絶対高さ決定手段、前記複数の頂点におけ
る制限表面の高さを算出する制限高さ算出手段、前記複
数の頂点について、前記制限表面の高さと前記調査対象
物の絶対高さを比較してクリアランスを算出するクリア
ランス算出手段、算出結果を表示する結果表示手段、と
して動作させるためのプログラムを記憶する。

【００１０】上記のように構成された装置によれば、ユ
ーザが調査対象領域の位置情報を入力すると、それに対
応する地図が表示される。次に、ユーザは、調査対象領
域の平面的輪郭を画定する複数の頂点の位置情報を入力
する。各頂点における調査対象物の絶対高さが決定さ
れ、さらに各頂点における制限高さが算出される。各頂
点について、前記制限表面の高さと前記調査対象物の絶
対高さが比較されてクリアランスが算出され、その結果
が表示される。

【００１１】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の制限表面チェック装置において、前記絶対高さ決定手
段は、前記複数の頂点における調査対象物の高さを入力
するための高さ入力手段と、前記複数の頂点における地
盤高さを取得する地盤高さ取得手段と、入力された調査
対象物の高さと地盤高さとを加算して前記調査対象物の
絶対高さを決定する手段と、を有する。また、請求項１
１に記載の発明は、請求項９又は１０に記載の記憶媒体
において、前記結果表示手段は、前記複数の頂点につい
てのクリアランスのうち、最小のクリアランスを特定
し、表示する。これにより、各頂点における絶対高さが
決定される。

【００１２】請求項３に記載の発明は、請求項１又は２
に記載の制限表面チェック装置において、前記結果表示
手段は、前記複数の頂点についてのクリアランスのう
ち、最小のクリアランスを特定し、表示する。また、請
求項１２に記載の発明は、請求項９乃至１１のいずれか
に記載の記憶媒体において、前記算出結果を、前記複数
の頂点毎に保存する保存手段を備える。これにより、複
数の頂点のうち最も問題となる頂点を瞬時に知ることが
できる。

【００１３】請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３
のいずれかに記載の制限表面チェック装置において、前
記算出結果を、前記複数の頂点毎に保存する保存手段を
備える。また、請求項１３に記載の発明は、請求項９乃
至１２のいずれかに記載の記憶媒体において、前記結果
表示手段は、前記算出結果に基づいて制限表面及び調査
対象物を含む３次元画像を表示する。これにより、各頂
点毎にクリアランスの算出結果を保存し、後に再度参照
することができる。

【００１４】請求項５に記載の発明は、請求項１乃至４
のいずれかに記載の制限表面チェック装置において、前
記結果表示手段は、前記算出結果に基づいて制限表面及
び調査対象物を含む３次元画像を表示する。これによ
り、ユーザは制限表面と調査対象物との位置関係を視覚
的に容易に把握することができる。

【００１５】請求項６に記載の発明は、請求項２乃至５
のいずれかに記載の制限表面チェック装置において、前
記高さ入力手段は、前記複数の頂点毎に異なる高さを入
力可能である。また、請求項１４に記載の発明は、請求
項１０乃至１３のいずれかに記載の記憶媒体において、
前記高さ入力手段は、前記複数の頂点毎に異なる高さを
入力可能である。これにより、調査対象物の最上部が異
なる高さを有する場合でも、緻密なチェックを行うこと
ができる。

【００１６】請求項７に記載の発明は、調査点における
調査対象物と制限表面との干渉をチェックする制限平面
チェック装置において、調査対象領域の位置情報を入力
する入力手段と、入力された位置情報に対応する地図を
表示する地図表示手段と、前記地図上の１つの調査点の
位置情報を入力するための入力手段と、前記調査点にお
ける調査対象物の絶対高さを決定する高さ決定手段と、
前記調査点における制限表面の高さを算出する制限高さ
算出手段と、前記調査点について、前記制限表面の高さ
と前記調査対象物の絶対高さを比較してクリアランスを
算出するクリアランス算出手段と、算出結果を表示する
結果表示手段と、を備える。

【００１７】また、請求項１５に記載の発明は、調査点
における調査対象物と制限表面との干渉をチェックする
制限表面チェックプログラムが記憶されたコンピュータ
読み取り可能な記憶媒体において、前記プログラムは前
記コンピュータを、調査対象領域の位置情報を入力する
入力手段、入力された位置情報に対応する地図を表示す
る地図表示手段、前記地図データ上の１つの調査点の位
置情報を入力するための入力手段、前記調査点における
調査対象物の絶対高さを決定する高さ決定手段、前記調
査点における制限表面の高さを算出する制限高さ算出手
段、前記調査点について、前記制限表面の高さと前記調
査対象物の絶対高さを比較してクリアランスを算出する
クリアランス算出手段、算出結果を表示する結果表示手
段、として動作させるためのプログラムを記憶する。

【００１８】上記のように構成された制限平面チェック
装置によれば、ユーザが調査対象領域の位置情報を入力
すると、対応する地図情報が表示される。次に、ユーザ
が１つの調査点の位置情報を入力すると、その調査点に
おける絶対高さが決定され、さらにその調査点における
制限表面の高さが決定される。そして、制限表面の高さ
と調査対象物の絶対高さとの比較によりクリアランスが
算出され、表示される。

【００１９】請求項８に記載の発明は、請求項１乃至７
のいずれかに記載の制限表面チェック装置において、前
記地図上に、制限表面の輪郭を表示する輪郭表示手段を
備える。また、請求項１６に記載の発明は、請求項９乃
至１５のいずれかに記載の記憶媒体において、前記地図
上に、制限表面の輪郭を表示する輪郭表示手段を備え
る。これにより、ユーザは制限表面の概要を視覚的にと
らえることができる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の好
適な実施の形態について説明する。

【００２１】図１に、本発明の実施形態にかかる制限表
面チェック装置の機能ブロックを示す。本発明の制限表
面チェック装置は、制限表面チェックプログラム（以
下、単に「チェックプログラム」と呼ぶ。）を汎用コン
ピュータにおいて実行することにより実現される。図１
において、制限表面チェック装置は、バス１に接続され
たＣＰＵ２、ＲＯＭ３、ＲＡＭ４、キーボード５、マウ
ス６、表示装置７、地図メモリ８及びＣＤ−ＲＯＭドラ
イブ９を含む。チェックプログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ１
０に記憶されており、ＣＤ−ＲＯＭドライブ９により読
み取られ、ＲＡＭ４などに一時的に展開されて実行され
る。なお、ＣＤ−ＲＯＭはチェックプログラムを提供す
る手法の単なる一例であり、チェックプログラムを他の
記憶媒体や通信路を介してチェック装置内へ読み込むこ
とも可能である。

【００２２】ＣＰＵ２は、チェックプログラムを実行す
ることにより、キーボード５、マウス６、表示装置７、
地図メモリ８などを制御して制限表面のチェック処理を
行う。キーボード５、マウス６は、ユーザが必要な情報
の入力や選択を行うために利用される。表示装置７は例
えばＣＲＴやＬＣＤなどであり、チェックプログラムの
実行中に作成される表示画面をユーザに提示する。

【００２３】地図メモリ８は、少なくとも空港を含む所
定エリアの地図情報を記憶したメモリである。地図メモ
リ８には、位置情報（緯度及び経度）と住所とその位置
情報に対応する地点の土地の情報（建造物、川、海な
ど）とが相互に対応付けされて記憶されている。また、
位置情報とその地点の高度とが対応付けされて記憶され
ている。よって、地図メモリ８を参照することにより、
緯度及び経度や住所からその地点の土地の状況や高度を
得ることができる。なお、地図メモリとしては、ＣＤ−
ＲＯＭ、ＤＶＤなどの記憶媒体を利用することもでき
る。

【００２４】次に、制限表面の概念について説明する。
図２にある一種空港の制限表面を模式的に示す。制限表
面は、基本的に滑走路を中心に放射状に規定され、一般
的に滑走路の高さ近傍に規定された（内側）水平表面
と、航空機の離着陸軌跡を考慮して規定された円錐表面
と、円錐表面の外側に所定距離にわたり規定された外側
水平表面と、を有する。また、滑走路の方向においては
さらに進入表面、転移表面などを含む。空港毎に単一の
制限表面が規定される。

【００２５】制限表面は航空法及びその付則により規定
されており、制限表面を構成する各表面の高さは、図３
及び４に示す作図方法に基づいて、それぞれ以下の式に
より求められる。

【００２６】

【数１】 後述のクリアランスチェックでは、ユーザが指定した地
図上の位置について上記の式により制限表面の高さを求
め、それと建築予定の建物などの高さとの差としてクリ
アランスを求める。なお、制限表面の計算方法は航空法
その他の法規により既知であるので、本明細書ではこれ
以上の詳細についての説明は行わない。

【００２７】図２において、制限表面を超える高さの建
物が図示されているが、このような建物の建築や花火の
打ち上げなどは航空法により禁止される。よって、建築
やイベントを行う者は、予定している建築物などが制限
表面内におさまっているかどうか、おさまっている場合
には、制限表面に対してどの程度のクリアランス（余
裕）があるかどうか、などを事前調査する必要がある。
本発明の制限表面チェック装置はこのために使用され
る。

【００２８】次に、本発明による制限表面チェック処理
について図５乃至１３を参照して説明する。以下に説明
する処理は、ユーザが図１に示すキーボード５、マウス
６などにより制限表面チェック装置を操作することによ
り行われる。図５は制限表面チェック処理のメインルー
チンを示す。

【００２９】まず最初に、ユーザは図８（Ａ）に示す初
期画面１５において、制限表面チェックを行う空港を選
択する（ステップＳ２）。これは、図８（Ａ）に示すプ
ルダウンメニューから対象となる空港を選択することに
より行われる。また、ユーザは必要に応じてチェックの
対象となるプロジェクト名、建築予定物件の住所、担当
者などを入力する。

【００３０】ユーザが空港を選択し、ＯＫボタンをクリ
ックすると、図８（Ｂ）に例示するメニュー画面２０が
表示される。メニュー画面２０においては、上部にメニ
ュー２２（「ファイル」、「編集」、「クリアランスチ
ェック」、「地図」、「ヘルプ」）が表示され、その下
にはツールバー２１（「新規」、「開く」、「検索」、
「判定」、「単点」、「測定」、「ＤＢ」）が表示され
る。また、メニュー画面上部には、プロジェクト名２
３、地図の縮尺２４、緯度２５、経度２６などが表示さ
れる。さらに、メニュー画面２０の下部には地図２７が
表示される。なお、緯度２５、経度２６の値は地図上の
マウス位置の移動に追従して変化する。また、地図の縮
尺は所定のボタンを操作することにより変更することが
できる。

【００３１】本発明の制限表面チェック装置において中
心的な処理として、図５に示す制限表面輪郭表示処理、
クリアランスチェック処理、及びピンポイントチェック
処理があげられる。以下、これらについて説明する。

【００３２】まず、ユーザがメニュー画面２０において
「地図」メニュー内の制限表面輪郭表示処理を選択する
と、図９（Ａ）に例示する制限表面輪郭表示画面３０が
表示される。この画面３０は空港上空から見た平面図で
あり、円３１が内側水平表面を示し、円３１と円３２の
間が円錐表面を示し、円３２の外側が外側水平表面を示
している（図２を参照）。なお、図９（Ａ）の例では、
制限表面の中心部分が拡大表示されている。この制限表
面輪郭表示処理により、制限表面の概要を見ることがで
きる。

【００３３】次に、クリアランスチェック処理について
説明する。図６にクリアランスチェック処理のフローチ
ャートを示す。ユーザは、クリアランスチェック処理
（ステップＳ４）を希望する場合、まずメニュー画面２
０においてツールバー２１の「検索」を選択する（ステ
ップＳ２０）。すると、図９（Ｂ）に例示する検索メニ
ュー３３が表示される（ステップＳ２２）。検索メニュ
ー３３に示されるように、ユーザは２つの方法により、
クリアランスチェックを行うべき調査点を特定すること
ができる。第１の方法は、住所からの検索であり、ユー
ザが検索メニュー３３で「住所から検索する」を選択す
ると、住所入力ボックスが表示される。ユーザが調査点
の住所を入力すると（ステップＳ２４）、ＣＰＵ２は地
図メモリ８を参照して対応する地図データを取得し、表
示装置７に表示する。一方、第２の方法は緯度、経度か
らの検索であり、ユーザが検索メニュー３３で「緯度経
度から検索する」を選択すると、緯度経度入力ボックス
が表示される。ユーザが調査点の緯度、経度を入力する
と（ステップＳ２４）、同様にＣＰＵ２は地図メモリ８
からその緯度、経度に対応する地図データを取得し、表
示装置７に表示する（ステップＳ２６）。緯度経度入力
を利用すると、住所を保たない海洋や山間部の位置を検
索することができる。こうして表示された地図データの
例を図１０（Ａ）に示す。

【００３４】次に、ユーザは図１０（Ａ）の地図データ
表示状態において、マウス６を使用して調査対象となる
物件などの輪郭を地図データ上で描画する（ステップＳ
２８）。具体的には、これは複数の頂点を入力してそれ
らを接続することにより調査対象となる物件の平面図を
描くことにより行われる。例えば、調査対象となる物件
が四角形の平面形状を有する場合、ユーザは４つの頂点
を地図データ上で指定して、対応する四角形の領域を地
図データ上に描画する。図１０（Ｂ）に、こうして描画
された四角形領域３４を例示する。

【００３５】次に、ユーザは先に入力した各頂点の高さ
を入力する（ステップＳ３０）。これは、調査対象とな
る物件の高さである。具体的には、調査対象となる物件
がその領域全体にわたって等しい高さを有する場合（即
ち、その物件の最上部が水平である場合）、ユーザは１
つの高さを入力すればよい。一方、調査対象となる物件
が各頂点毎に異なる高さを有する場合（即ち、その物件
の最上部が水平でない場合）、ユーザはステップＳ２８
で入力した各頂点に対して高さを入力する。こうして、
調査対象物の各頂点の位置及び高さが定まる。

【００３６】次に、ユーザは地盤高さを入力する（ステ
ップＳ３２）。地盤高さとは、調査対象物件の地点にお
ける地面の標高（東京湾を０とした標高値）を指す。こ
れは、ユーザが地点の標高を知っている場合には、その
値を入力する。一方、ユーザがその地点の標高を知らな
い場合は、自動入力を指示することにより、ＣＰＵ２が
地図メモリ８にアクセスしてその地点の標高を取得す
る。なお、地盤高さは各頂点毎に入力される。

【００３７】以上により、クリアランスチェックに必要
な情報が揃ったことになるので、次にクリアランスの計
算が行われる（ステップＳ３４）。具体的には、ＣＰＵ
２は、ステップＳ３２で取得した地盤高さと、ステップ
Ｓ２０でユーザが入力した調査対象物の高さを加算して
各頂点についての絶対高さを計算する。次に、ステップ
Ｓ２８で入力された各頂点について制限表面の高さを計
算し、得られた制限表面の高さから絶対高さを減算す
る。この差がクリアランスであり、減算結果が正であれ
ばその調査対象物は制限表面と干渉しないことになり、
負であれば制限表面と干渉することになる。こうして得
られた計算結果が表示装置７に表示される。さらに、Ｃ
ＰＵ２は、各頂点について得られたクリアランスの計算
値を比較し、最小クリアランスを有する頂点を特定し
て、その頂点についての詳細情報を表示することもでき
る。その表示例を図１１（Ａ）に示す。調査対象物件の
最上部が水平でなかったり、調査対象物件が円錐表面の
下に位置する場合は、複数の頂点毎にクリアランスが異
なるので、最もクリアランスが小さい（即ち、制限表面
に最も近い）頂点の情報を表示することにより、その調
査対象物件の高さなどの適否をより良く検討することが
できるようになる。

【００３８】こうして得られたチェック結果は、必要で
あれば印刷することができる。また、チェック結果を調
査結果として保存することができる（ステップＳ３
６）。保存されるデータ例を図１１（Ｂ）に示す。こう
して、プロジェクト毎にチェック結果を保存しておけ
ば、後にそのデータを読み出して再度検討などすること
ができる。なお、チェック結果は各頂点毎に保存するこ
ともできる。また、図１３（Ａ）に例示するように、一
度保存したデータを読み出し、高さ条件のみを変更して
再計算することもできる。これにより、クリアランスの
計算結果を考慮して、建築予定物の高さの見直しなどを
容易に行うことができる。

【００３９】また、図１１（Ａ）の例では、チェック結
果を数値にて表示しているが、これを断面図や３Ｄによ
り表示することもできる。図１２（Ａ）に断面図表示の
例を、図１２（Ｂ）に３Ｄ表示の例を示す。図１２
（Ａ）の表示例では、右側に制限表面の輪郭の平面図が
示され、さらに空港の標点と最小クリアランス点とを結
ぶ線分が表示される。また、空港の標点と最小クリアラ
ンス点とを結ぶ線分で切断した垂直断面が左側に表示さ
れる。

【００４０】図１２（Ｂ）の例は、調査対象物件を制限
表面とともに３Ｄ表示しており、ユーザはマウス６など
を操作することにより、表示方向を変更することができ
る。このように、調査対象物件と制限表面とを立体的に
表示することにより、専門家以外の者も調査対象物件と
制限表面との位置関係を視覚的に容易に把握することが
できるようになる。以上のようにして、クリアランスチ
ェックが終了する。

【００４１】次に、図５のステップＳ１０に示すピンポ
イントチェックについて図７を参照して説明する。ピン
ポイントチェックとは、地図上のある１地点についてク
リアランスチェックを行うものである。

【００４２】具体的には、図８（Ｂ）のように地図デー
タが表示された状態で、ユーザはツールバー２１の「単
点」をクリックしてピンポイントチェック用ツールバー
を表示させ、その調査点の建物高さ及び地盤高さを入力
する（ステップＳ５０）。次に、マウス６を操作して地
図上で調査点をクリックする（ステップＳ５２）。ＣＰ
Ｕ２は前述のクリアランスチェックの場合と同様に、そ
の調査点における制限表面とのクリアランスなどを計算
して表示装置７に表示する（ステップＳ５４）。この際
の表示例を図１３（Ｂ）に示す。こうして、地図上の１
点についてのクリアランスを計算することもできる。

【００４３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の制限表面
チェック装置によれば、制限表面の輪郭表示、所定の敷
地面積を有する物件についてのクリアランスチェック、
及び、１つの地点についてのピンポイントチェックによ
り、ユーザのニーズに適合した形態で制限表面に関する
情報を提供することができる。

【００４４】また、調査対象物件の位置及び高さなどの
情報を入力すると、その位置におけるクリアランスなど
が自動的に計算され、表示される。よって、従来の計算
手法に比べて容易かつ迅速にクリアランスチェックを行
うことができる。

【００４５】また、調査対象物件は、ピンポイントとし
てのみならず、複数の頂点を入力することにより所定の
面積を持つ領域として規定し、各頂点に対するクリアラ
ンスを計算することができる。よって、比較的広い面積
を有する物件などについても有効なチェックを行うこと
ができる。さらに、各頂点について異なる高さを入力す
ることができるので、敷地内において高さが異なるよう
な形状の物件についても的確にチェックを行うことがで
きる。

【００４６】また、得られた計算結果を断面図や３Ｄに
より表示するので、制限表面との関係を視覚的に容易に
把握することが可能となる。さらに、計算結果を保存
し、後に高さ条件のみを変更して再計算することによ
り、建設計画などの見直しや再検討などを容易に行うこ
とができ、また、既存建物や新設建物の情報をもとにし
た新たな空域の設定を行うこともできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による制限平面チェック装置の機能ブロ
ック図である。

【図２】制限表面の概念を説明する図である。

【図３】制限表面の高さを計算方法を説明する図であ
る。

【図４】制限表面の高さを計算する方法を示す他の図で
ある。

【図５】本発明による制限表面チェック処理のフローチ
ャートである。

【図６】図５におけるクリアランスチェック処理のフロ
ーチャートである。

【図７】図５におけるピンポイントチェック処理のフロ
ーチャートである。

【図８】制限表面チェック処理における表示画面例を示
す図である。

【図９】制限表面チェック処理における表示画面例を示
す図である。

【図１０】制限表面チェック処理における表示画面例を
示す図である。

【図１１】制限表面チェック処理における表示画面例を
示す図である。

【図１２】制限表面チェック処理における表示画面例を
示す図である。

【図１３】制限表面チェック処理における表示画面例を
示す図である。

【符号の説明】

１…バス ２…ＣＰＵ ３…ＲＯＭ ４…ＲＡＭ ５…キーボード ６…マウス ７…表示装置 ８…地図メモリ ９…ＣＤ−ＲＯＭドライブ １０…ＣＤ−ＲＯＭ

Claims (16)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 調査対象物と制限表面との干渉をチェッ
   クする制限表面チェック装置において、 調査対象領域の位置情報を入力する入力手段と、 入力された位置情報に対応する地図を表示する地図表示
   手段と、 調査対象領域の平面的輪郭を画定する複数の頂点の位置
   情報を地図上で入力するための頂点入力手段と、 前記複数の頂点における調査対象物の絶対高さを決定す
   る絶対高さ決定手段と、 前記複数の頂点における制限表面の高さを算出する制限
   高さ算出手段と、 前記複数の頂点について、前記制限表面の高さと前記調
   査対象物の絶対高さを比較してクリアランスを算出する
   クリアランス算出手段と、 算出結果を表示する結果表示手段と、を備える制限表面
   チェック装置。
2. 【請求項２】 前記絶対高さ決定手段は、 前記複数の頂点における調査対象物の高さを入力するた
   めの高さ入力手段と、 前記複数の頂点における地盤高さを取得する地盤高さ取
   得手段と、 入力された調査対象物の高さと地盤高さとを加算して前
   記調査対象物の絶対高さを決定する手段と、を有する請
   求項１に記載の制限表面チェック装置。
3. 【請求項３】 前記結果表示手段は、前記複数の頂点に
   ついてのクリアランスのうち、最小のクリアランスを特
   定し、表示する請求項１又は２に記載の制限表面チェッ
   ク装置。
4. 【請求項４】 前記算出結果を、前記複数の頂点毎に保
   存する保存手段を備える請求項１乃至３のいずれかに記
   載の制限表面チェック装置。
5. 【請求項５】 前記結果表示手段は、前記算出結果に基
   づいて制限表面及び調査対象物を含む３次元画像を表示
   する請求項１乃至４のいずれかに記載の制限表面チェッ
   ク装置。
6. 【請求項６】 前記高さ入力手段は、前記複数の頂点毎
   に異なる高さを入力可能である請求項２乃至５のいずれ
   かに記載の制限表面チェック装置。
7. 【請求項７】 調査点における調査対象物と制限表面と
   の干渉をチェックする制限平面チェック装置において、 調査対象領域の位置情報を入力する入力手段と、 入力された位置情報に対応する地図を表示する地図表示
   手段と、 前記地図上の１つの調査点の位置情報を入力するための
   入力手段と、 前記調査点における調査対象物の絶対高さを決定する高
   さ決定手段と、 前記調査点における制限表面の高さを算出する制限高さ
   算出手段と、 前記調査点について、前記制限表面の高さと前記調査対
   象物の絶対高さを比較してクリアランスを算出するクリ
   アランス算出手段と、 算出結果を表示する結果表示手段と、を備える制限表面
   チェック装置。
8. 【請求項８】 前記地図上に、制限表面の輪郭を表示す
   る輪郭表示手段を備える請求項１乃至７のいずれかに記
   載の制限表面チェック装置。
9. 【請求項９】 調査対象物と制限表面との干渉をチェッ
   クする制限表面チェックプログラムが記憶されたコンピ
   ュータ読み取り可能な記憶媒体において、前記プログラ
   ムは前記コンピュータを、 制限表面チェック調査対象領域の位置情報を入力する入
   力手段、 入力された位置情報に対応する地図を表示する地図表示
   手段、 調査対象領域の平面的輪郭を画定する複数の頂点の位置
   情報を地図上で入力するための頂点入力手段、 前記複数の頂点における調査対象物の絶対高さを決定す
   る絶対高さ決定手段、 前記複数の頂点における制限表面の高さを算出する制限
   高さ算出手段、 前記複数の頂点について、前記制限表面の高さと前記調
   査対象物の絶対高さを比較してクリアランスを算出する
   クリアランス算出手段、 算出結果を表示する結果表示手段、として動作させるた
   めのプログラムを記憶した記憶媒体。
10. 【請求項１０】 前記絶対高さ決定手段は、 前記複数の頂点における調査対象物の高さを入力するた
    めの高さ入力手段と、 前記複数の頂点における地盤高さを取得する地盤高さ取
    得手段と、 入力された調査対象物の高さと地盤高さとを加算して前
    記調査対象物の絶対高さを決定する手段と、を有する請
    求項９に記載の記憶媒体。
11. 【請求項１１】 前記結果表示手段は、前記複数の頂点
    についてのクリアランスのうち、最小のクリアランスを
    特定し、表示する請求項９又は１０に記載の記憶媒体。
12. 【請求項１２】 前記算出結果を、前記複数の頂点毎に
    保存する保存手段を備える請求項９乃至１１のいずれか
    に記載の記憶媒体。
13. 【請求項１３】 前記結果表示手段は、前記算出結果に
    基づいて制限表面及び調査対象物を含む３次元画像を表
    示する請求項９乃至１２のいずれかに記載の記憶媒体。
14. 【請求項１４】 前記高さ入力手段は、前記複数の頂点
    毎に異なる高さを入力可能である請求項１０乃至１３の
    いずれかに記載の記憶媒体。
15. 【請求項１５】 調査点における調査対象物と制限表面
    との干渉をチェックする制限表面チェックプログラムが
    記憶されたコンピュータ読み取り可能な記憶媒体におい
    て、前記プログラムは前記コンピュータを、 調査対象領域の位置情報を入力する入力手段、 入力された位置情報に対応する地図を表示する地図表示
    手段、 前記地図データ上の１つの調査点の位置情報を入力する
    ための入力手段、 前記調査点における調査対象物の絶対高さを決定する高
    さ決定手段、 前記調査点における制限表面の高さを算出する制限高さ
    算出手段、 前記調査点について、前記制限表面の高さと前記調査対
    象物の絶対高さを比較してクリアランスを算出するクリ
    アランス算出手段、 算出結果を表示する結果表示手段、として動作させるた
    めのプログラムを記憶した記憶媒体。
16. 【請求項１６】 前記地図上に、制限表面の輪郭を表示
    する輪郭表示手段を備える請求項９乃至１５のいずれか
    に記載の記憶媒体。