JP2001311761A - Positioning method for tab automatic handler and tab automatic handler - Google Patents

Positioning method for tab automatic handler and tab automatic handler

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JP2001311761A
JP2001311761A JP2000130743A JP2000130743A JP2001311761A JP 2001311761 A JP2001311761 A JP 2001311761A JP 2000130743 A JP2000130743 A JP 2000130743A JP 2000130743 A JP2000130743 A JP 2000130743A JP 2001311761 A JP2001311761 A JP 2001311761A
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tape
tab
tab tape
classification
chip
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JP2000130743A
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Japanese (ja)
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Yukiyasu Takano
行康 高野
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Ando Electric Co Ltd
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Ando Electric Co Ltd
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    • B66HOISTING; LIFTING; HAULING
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B66HOISTING; LIFTING; HAULING
    • B66CCRANES; LOAD-ENGAGING ELEMENTS OR DEVICES FOR CRANES, CAPSTANS, WINCHES, OR TACKLES
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To position a TAB tape with high precision and punch a high-precision punch hole. SOLUTION: The interval DH between the position of an IC chip 18 and a sorting position SP is determined and stored in advance with the position of the TAB tape detected by a position detecting device 11. For positioning the relevant IC chip 18 to the sorting position SP based on an inspection result, the TAB tape 1 is conveyed to a detection position by the position detecting device 11, and the TAB tape 1 is conveyed by the interval DH and stopped, thereby the high-precision positioning of the TAB tape 1 can be made.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、TABテープ上の
ICチップを検査・選別するTAB用オートハンドラに
おいて、検査により不適格と判明したICチップの位置
にマークパンチ穴やリジェクトパンチ穴を穿孔するため
のTABテープの位置決めを好適に行う、TAB用オー
トハンドラにおける位置決め方法及び、上記位置決めを
好適に行うことのできるTAB用オートハンドラに関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a TAB auto-handler for inspecting and sorting IC chips on a TAB tape, in which a mark punch hole or a reject punch hole is punched at a position of an IC chip determined to be ineligible by inspection. The present invention relates to a TAB auto-handler positioning method for suitably positioning a TAB tape for the TAB tape, and a TAB auto-handler capable of suitably performing the above-mentioned positioning.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7は従来のTAB用オートハンドラを
示す模式図、図8はTABテープ表面を示した図であ
る。TAB用オートハンドラとは、例えば半導体チップ
等のICチップ18をポリイミド等のフィルム19にボ
ンディング接合してなるTABテープ1を搬送させ、該
TABテープ1上のICチップ18を検査・分類する装
置である。
2. Description of the Related Art FIG. 7 is a schematic view showing a conventional TAB auto-handler, and FIG. 8 is a view showing the surface of a TAB tape. The TAB auto-handler is a device that transports a TAB tape 1 formed by bonding an IC chip 18 such as a semiconductor chip to a film 19 such as a polyimide, and inspects and sorts the IC chip 18 on the TAB tape 1. is there.

【0003】従来のTAB用オートハンドラは図7に示
すように供給リール2A及び収容リール2Bを有し、こ
れらリール2A、2B間にTABテープ1を巻回して有
している。これらリール2A、2B間のTABテープ1
は供給側サブスプロケット7、収容側サブスプロケット
8、供給側テンションガイド5、収容側テンションガイ
ド6、供給側メインスプロケット9、収容側メインスプ
ロケット10等により保持されている。
A conventional TAB auto handler has a supply reel 2A and a storage reel 2B as shown in FIG. 7, and has a TAB tape 1 wound between these reels 2A and 2B. TAB tape 1 between these reels 2A and 2B
Is held by a supply side sub-sprocket 7, a storage side sub-sprocket 8, a supply side tension guide 5, a storage side tension guide 6, a supply side main sprocket 9, a storage side main sprocket 10, and the like.

【0004】メインスプロケット9、10間にはプッシ
ャ3が設けられており、該プッシャ3は上記メインスプ
ロケット9、10と共にこれらメインスプロケット9、
10間に保持したTABテープ1を把持して図7の矢印
C、D方向に押出・引戻駆動自在になっている。
A pusher 3 is provided between the main sprockets 9 and 10. The pusher 3 is provided with the main sprockets 9 and 10 together with the main sprockets 9 and 10.
The TAB tape 1 held between the ten grips is gripped so that the TAB tape 1 can be pushed and pulled back in the directions of arrows C and D in FIG.

【0005】即ち、リール2A、2B間のTABテープ
1は図7の矢印A方向に順次搬送され、プッシャ3の位
置に搬送されたTABテープ1は該プッシャ3の押出駆
動により図7の矢印D側に押出される。押出されたTA
Bテープ1上のICチップ18は図示しないプローブカ
ード上のプローブに接触導通される。このプローブカー
ドは図示しないICテスタに接続されており、該ICテ
スタにより上記ICチップ18の電気試験による検査が
行われる。
That is, the TAB tape 1 between the reels 2A and 2B is sequentially conveyed in the direction of arrow A in FIG. 7, and the TAB tape 1 conveyed to the position of the pusher 3 is pushed by the pusher 3 to drive the arrow D in FIG. Extruded to the side. Extruded TA
The IC chip 18 on the B tape 1 is brought into contact with a probe on a probe card (not shown). The probe card is connected to an IC tester (not shown), and an inspection of the IC chip 18 by an electric test is performed by the IC tester.

【0006】前記プッシャ3の下流側(収容側テンショ
ンガイド6と収容側サブスプロケット8との間)にはI
Cテスタによる検査結果に基づいてTABテープ1上の
ICチップ18を分類する分類装置4を有している。
On the downstream side of the pusher 3 (between the accommodation side tension guide 6 and the accommodation side sub-sprocket 8),
It has a classification device 4 for classifying the IC chips 18 on the TAB tape 1 based on the inspection result by the C tester.

【0007】分類装置4は、検査結果に基づきTABテ
ープ1上のICチップ18の位置にパンチ穴をあけるこ
とによりICチップを分類する。パンチ穴には、図8に
示すように、不適格となったICチップ18を打ち抜く
リジェクトパンチ穴15がある。また、検査結果に基づ
きICチップ18の近傍に直径1mm〜3mmの丸穴を
開けるマークパンチ穴16とがある。図8では説明のた
め2種類のパンチ穴15、16を同一TABテープ1上
に示しているが、実際にはどちらか1種類のパンチ穴だ
けが穿孔されるようになっている。
[0007] The classification device 4 classifies the IC chips by punching holes at the positions of the IC chips 18 on the TAB tape 1 based on the inspection results. As shown in FIG. 8, the punch hole has a reject punch hole 15 for punching out the disqualified IC chip 18. Further, there is a mark punch hole 16 for making a round hole having a diameter of 1 mm to 3 mm near the IC chip 18 based on the inspection result. In FIG. 8, two types of punch holes 15 and 16 are shown on the same TAB tape 1 for explanation, but only one type of punch holes is actually punched.

【0008】なお図8において、符号13はTABテー
プ1のフィルム19に形成されたパーフォレーションで
あり、スプロケット7、8、9、10の歯に噛合するよ
うになっている。また符号20はパッドであり、各パッ
ド20とICチップ18とはパターン21により電気的
に接続されている。上記マークパンチ穴16がパッド2
0やパターン21にかかることはTABテープ1の損傷
となり許されない。
In FIG. 8, reference numeral 13 denotes a perforation formed on the film 19 of the TAB tape 1 so as to mesh with the teeth of the sprockets 7, 8, 9, and 10. Reference numeral 20 denotes a pad, and each pad 20 and the IC chip 18 are electrically connected by a pattern 21. The mark punch hole 16 is the pad 2
It is not permissible to damage the TAB tape 1 if it hits 0 or the pattern 21.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のTAB
用オートハンドラでは、分類装置4でのTABテープ1
の位置決めは、スプロケットによるTABテープ1の搬
送位置決め機能により実現している。そしてこのように
位置決めされた位置においてパンチ穴15又は16を穿
孔している。このように位置決めされた位置が正確か否
かは確認できず、たとえ位置決めされた位置が間違って
いても位置の補正等を行わずにパンチ穴の穿孔をしてお
り、高精度にパンチ穴を穿孔できていなかった。
The conventional TAB described above.
TAB tape 1 in the classifier 4
Is realized by the transport positioning function of the TAB tape 1 by the sprocket. The punched holes 15 or 16 are formed at the positions thus determined. It is not possible to confirm whether the position thus positioned is accurate or not.Even if the positioned position is incorrect, the punch hole is punched without correcting the position, etc. It could not be pierced.

【0010】近年、TABテープでは1つのデバイス
(図8の破線で示した部分であり符号14で示す)の大
きさが縮小化されており、またパッド、パターンの数は
増加し高密度化している。このためパンチ穴を開ける領
域は狭くなり、TAB用オートハンドラには高精度なパ
ンチ穴の穿孔が要求されている。未測定のデバイスと識
別するために、良品のデバイスにマークパンチ穴をあけ
る場合は、更なる正確さが要求される。
In recent years, in a TAB tape, the size of one device (a portion shown by a broken line in FIG. 8 and denoted by reference numeral 14) has been reduced, and the number of pads and patterns has been increased to increase the density. I have. For this reason, the area where the punch holes are formed becomes narrower, and the TAB auto-handler is required to punch the punch holes with high precision. When a mark punch hole is made in a good device to distinguish it from an unmeasured device, further accuracy is required.

【0011】本発明は上記事情に鑑み、パンチ穴の穿孔
においてTABテープを高精度で位置決めでき、よって
高精度なパンチ穴の穿孔が可能な、TAB用オートハン
ドラにおける位置決め方法及びTAB用オートハンドラ
を提供することを目的とするに関するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above circumstances, the present invention provides a TAB auto-handler positioning method and a TAB auto-handler capable of positioning a TAB tape with high accuracy in punching holes, and thereby enabling high-precision punching. Related to the purpose of providing.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の請求項1に係る発明は、図1に示すように、一定の大
きさ及び形状からなる複数のパーフォレーション(1
3)が伸延方向に一定間隔で形成配置されたテープ材
(19)に、複数のICチップ(18)を前記伸延方向
に一定間隔で設置してなるTABテープ(1)を搬送方
向(A)に搬送させ、該TABテープ(1)の搬送によ
り送られて来る該TABテープ(1)上の前記ICチッ
プ(18)を順次検査すると共に、該検査結果に基づい
て該当するICチップ(18)を分類位置(SP)に順
次位置決めし、前記分類位置(SP)に位置決めされた
前記ICチップ(18)に対して分類を行う、TAB用
オートハンドラ(30)において、前記パーフォレーシ
ョン(13)を検知することにより前記TABテープ
(1)の位置を検出するテープ位置検出手段(11)を
設けておき、予め、前記テープ位置検出手段(11)に
より前記TABテープ(1)の位置が検知される状態で
の前記ICチップ(18)の位置と、前記分類位置(S
P)との間の間隔(DH)を記憶しておき、前記検査結
果に基づいて該当するICチップ(18)を分類位置
(SP)に位置決めする際に、前記テープ位置検出手段
(11)により検出される位置まで前記TABテープ
(1)を搬送し、更に該TABテープ(1)を前記記憶
しておいた間隔(DH)だけ搬送して停止させるように
した、ことを特徴とするTAB用オートハンドラにおけ
る位置決め方法にある。
According to the first aspect of the present invention, as shown in FIG. 1, a plurality of perforations (1) having a fixed size and shape are provided.
3) A TAB tape (1) in which a plurality of IC chips (18) are installed at regular intervals in the extension direction on a tape material (19) formed and arranged at regular intervals in the extension direction. And sequentially inspects the IC chips (18) on the TAB tape (1) sent by transporting the TAB tape (1), and based on the inspection result, the corresponding IC chip (18) Are sequentially positioned at the sorting position (SP), and the IC chip (18) positioned at the sorting position (SP) is classified. The TAB auto-handler (30) detects the perforation (13). The tape position detecting means (11) for detecting the position of the TAB tape (1) is provided in advance, and the TAB tape (1) is previously detected by the tape position detecting means (11). The position of the IC chip (18) in a state where the position of 1) is detected, the classification position (S
P) is stored, and when the corresponding IC chip (18) is positioned at the classification position (SP) based on the inspection result, the tape position detecting means (11) uses the same. The TAB tape (1) is transported to a position where the TAB tape is detected, and the TAB tape (1) is further transported by the stored interval (DH) and stopped. Positioning method in the auto handler.

【0013】また請求項2に係る発明は、前記TABテ
ープ(1)は、複数のスプロケット(7、8、9、1
0)を介して搬送されるようになっており、前記検査結
果に基づいて該当するICチップ(18)を分類位置
(SP)に位置決めする際には、前記分類位置(SP)
に対して下流側のスプロケット(8)を上流側のスプロ
ケット(7、9、10)よりも遅らせて駆動し、その
後、前記上流側のスプロケット(8)を停止すると共に
前記下流側のスプロケット(7、9、10)を駆動する
ことにより、前記テープ位置検出手段(11)により検
出される位置まで前記TABテープ(1)を前記搬送方
向(A)に搬送し、更に該TABテープ(1)を前記記
憶しておいた間隔(DH)だけ前記搬送方向(A)に搬
送して停止させるようにした、ことを特徴とする請求項
1記載のTAB用オートハンドラにおける位置決め方法
である。
According to a second aspect of the present invention, the TAB tape (1) includes a plurality of sprockets (7, 8, 9, 1).
0), and when the corresponding IC chip (18) is positioned at the classification position (SP) based on the inspection result, the classification position (SP) is used.
, The downstream sprocket (8) is driven later than the upstream sprocket (7, 9, 10), and thereafter, the upstream sprocket (8) is stopped and the downstream sprocket (7) is stopped. , 9, 10), the TAB tape (1) is transported in the transport direction (A) to a position detected by the tape position detecting means (11), and the TAB tape (1) is further transported. 2. The positioning method in the TAB auto-handler according to claim 1, wherein the transport is performed in the transport direction (A) by the stored interval (DH) and stopped.

【0014】また請求項3に係る発明は、前記分類位置
(SP)の上流下流に位置する2つのスプロケット(1
0、8)間において、前記TABテープ(1)の張りを
調整自在なテンション手段(6)を設けておき、前記2
つのスプロケット(10、8)間における前記TABテ
ープ(1)の張りを前記テンション手段(6)により調
整する、ことを特徴とする請求項2記載のTAB用オー
トハンドラにおける位置決め方法である。
According to a third aspect of the present invention, there are provided two sprockets (1) located upstream and downstream of the sorting position (SP).
0, 8), a tension means (6) for adjusting the tension of the TAB tape (1) is provided.
3. The positioning method in a TAB auto-handler according to claim 2, wherein the tension of the TAB tape (1) between two sprockets (10, 8) is adjusted by the tension means (6).

【0015】また請求項4に係る発明は、図1に示すよ
うに、一定の大きさ及び形状からなる複数のパーフォレ
ーション(13)が伸延方向に一定間隔で形成配置され
たテープ材(19)に、複数のICチップ(18)を前
記伸延方向に一定間隔で設置してなるTABテープ
(1)を搬送方向(A)に搬送させる搬送手段(2A、
2B、7、8、9、10)と、該TABテープ(1)の
搬送により送られて来る該TABテープ(1)上の前記
ICチップ(18)を順次検査する検査手段(3)と、
前記検査結果に基づいて該当するICチップ(18)を
分類位置(SP)に順次位置決めする位置決め手段(1
1、12、35)と、前記分類位置(SP)に位置決め
された前記ICチップ(18)に対して分類を行う分類
手段(4)と、を備えたTAB用オートハンドラ(3
0)において、前記位置決め手段は、前記パーフォレー
ション(13)を検知することにより前記TABテープ
(1)の位置を検出するテープ位置検出手段(11)
と、前記テープ位置検出手段(11)により前記TAB
テープ(1)の位置が検知される状態での前記ICチッ
プ(18)の位置と、前記分類位置(SP)との間の間
隔(DH)を記憶する間隔記憶手段(12)と、前記検
査結果に基づいて該当するICチップ(18)を分類位
置(SP)に位置決めする際に、前記テープ位置検出手
段(11)により該TABテープ(1)の位置が検出さ
れる位置まで該TABテープ(1)を搬送し、更に該T
ABテープ(1)を前記間隔記憶手段(12)に記憶さ
れた間隔(DH)だけ搬送して停止させるように前記搬
送手段(7、8、9、10)を制御する搬送制御部(3
5)と、を有する、ことを特徴とするTAB用オートハ
ンドラにある。
According to a fourth aspect of the present invention, as shown in FIG. 1, a tape material (19) in which a plurality of perforations (13) having a constant size and shape are formed and arranged at regular intervals in the extension direction. Transport means (2A, TAB tape (1) comprising a plurality of IC chips (18) arranged at regular intervals in the extension direction) for transporting the TAB tape (1) in the transport direction (A);
2B, 7, 8, 9, 10) and inspection means (3) for sequentially inspecting the IC chip (18) on the TAB tape (1) sent by transporting the TAB tape (1);
Positioning means (1) for sequentially positioning the corresponding IC chip (18) at the classification position (SP) based on the inspection result.
TAB auto-handler (3) comprising: a classification unit (4) for classifying the IC chip (18) positioned at the classification position (SP);
In (0), the positioning means detects a position of the TAB tape (1) by detecting the perforation (13).
And the TAB by the tape position detecting means (11).
Interval storage means (12) for storing an interval (DH) between the position of the IC chip (18) in a state where the position of the tape (1) is detected and the classification position (SP); When positioning the corresponding IC chip (18) at the classification position (SP) based on the result, the TAB tape (1) is moved until the position of the TAB tape (1) is detected by the tape position detecting means (11). 1), and the T
A transport controller (3) for controlling the transport means (7, 8, 9, 10) to transport the AB tape (1) by the interval (DH) stored in the interval storage means (12) and to stop the transport;
And 5) an auto handler for TAB.

【0016】また請求項5に係る発明は、前記テープ位
置検出手段(11)は、前記パーフォレーション(1
3)の縁端部(13a)を検知する透過型センサを有す
る、ことを特徴とする請求項4記載のTAB用オートハ
ンドラである。
According to a fifth aspect of the present invention, the tape position detecting means (11) is provided with the perforation (1).
5. The TAB auto-handler according to claim 4, further comprising a transmission type sensor for detecting the edge (13a) of (3).

【0017】[作用]上記構成により、分類すべきIC
チップ(18)を分類位置(SP)に位置決めする際に
は、テープ位置検出手段(11)により検出される位置
までTABテープ(1)を搬送し、更に該TABテープ
(1)を間隔(DH)だけ搬送して停止させる。間隔
(DH)は、テープ位置検出手段(11)によりTAB
テープ(1)の位置が検知される状態でのICチップ
(18)の位置と、分類位置(SP)との間の搬送距離
であるから、TABテープ(1)上のICチップ(1
8)は分類位置(SP)に位置決めされる。
[Operation] IC to be classified by the above configuration
When positioning the chip (18) at the sorting position (SP), the TAB tape (1) is transported to a position detected by the tape position detecting means (11), and the TAB tape (1) is further separated by an interval (DH). ) And stop. The interval (DH) is set to TAB by the tape position detecting means (11).
Since this is the transport distance between the position of the IC chip (18) in the state where the position of the tape (1) is detected and the classification position (SP), the IC chip (1) on the TAB tape (1)
8) is positioned at the classification position (SP).

【0018】なお、括弧内の番号等は、図面における対
応する要素を示す便宜的なものであり、従って、本記述
は図面上の記載に限定拘束されるものではない。
Note that the numbers in parentheses are for convenience showing corresponding elements in the drawings, and therefore, the present description is not limited to the description on the drawings.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を説明する。図1はTAB用オートハンドラを示
す全体模式図である。なお、図1に示すTAB用オート
ハンドラについては、図7に示すTAB用オートハンド
ラ(「従来の技術」)と共通する部分に同一の符号を付
してその説明を省くことにする。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall schematic diagram showing a TAB auto-handler. In the TAB auto-handler shown in FIG. 1, the same parts as those of the TAB auto-handler shown in FIG.

【0020】即ちTAB用オートハンドラ30は図1に
示すように、供給リール2A及び収容リール2Bと、こ
れらリール2A、2B間に巻回されたTABテープ1
と、上記リール2A、2B間のTABテープ1を搬送可
能に保持する供給側サブスプロケット7、収容側サブス
プロケット8、供給側テンションガイド5、収容側テン
ションガイド6、供給側メインスプロケット9、収容側
メインスプロケット10(以上の2A、2B、7、8、
5、6、9、10でTABテープ1の搬送手段が構成さ
れる)と、メインスプロケット9、10間に設けられた
プッシャ3と、該プッシャ3の矢印D側に設けられた図
示しないプローブカード及びICテスタ(以上のプッシ
ャ3、プローブカード、ICテスタで検査手段が構成さ
れる)と、収容側テンションガイド6と収容側サブスプ
ロケット8との間に設けられた分類装置4と、を有して
いる。
That is, as shown in FIG. 1, the TAB auto-handler 30 includes a supply reel 2A and a storage reel 2B, and a TAB tape 1 wound between the reels 2A and 2B.
Supply-side sub-sprocket 7, storage-side sub-sprocket 8, supply-side tension guide 5, storage-side tension guide 6, supply-side main sprocket 9, supply-side main sprocket 9, which hold TAB tape 1 between reels 2A and 2B so as to be transportable. Main sprocket 10 (the above 2A, 2B, 7, 8,
5, 6, 9, and 10 constitute a transport means for the TAB tape 1), a pusher 3 provided between the main sprockets 9 and 10, and a probe card (not shown) provided on the arrow D side of the pusher 3. And an IC tester (inspection means is constituted by the above-described pusher 3, probe card, and IC tester), and a classification device 4 provided between the accommodation-side tension guide 6 and the accommodation-side sub-sprocket 8. ing.

【0021】図6は収容テンションガイドの構成を示す
概念図である。収容側テンションガイド6は収容側メイ
ンスプロケット10と収容側サブスプロケット8との間
でのTABテープ1の張り状態を一定に保つように上下
に動く機構となっている。即ち図6に示すように、収容
側テンションガイド6は回転軸24により図6の矢印
E、F方向に回動自在になっており、収容側テンション
ガイド6は重り23により図の矢印W方向(矢印E方
向)に付勢されている。なお収容側テンションガイド6
の付勢には重り23以外にばね等を採用することも可能
である。供給側テンションガイド5に関しては本発明と
は直接関連しないので詳しい説明は省略するが、基本的
に収容側テンションガイド6と同様の構成である。
FIG. 6 is a conceptual diagram showing the structure of the accommodation tension guide. The accommodation side tension guide 6 is a mechanism that moves up and down so as to keep the tension state of the TAB tape 1 between the accommodation side main sprocket 10 and the accommodation side sub sprocket 8 constant. That is, as shown in FIG. 6, the accommodation-side tension guide 6 is rotatable in the directions of arrows E and F in FIG. 6 by the rotation shaft 24, and the accommodation-side tension guide 6 is moved by the weight 23 in the direction of the arrow W ( (Direction of arrow E). The accommodation side tension guide 6
It is also possible to employ a spring or the like other than the weight 23 for the biasing. Since the supply-side tension guide 5 is not directly related to the present invention, a detailed description thereof will be omitted, but the configuration is basically the same as that of the accommodation-side tension guide 6.

【0022】TABテープ1の張りが弱くなると収容側
テンションガイド6は図6上方向(矢印E方向)に動
き、逆にTABテープ1の張りが強くなりすぎると収容
側テンションガイド6は下方向(矢印F方向)に動くこ
とにより、収容側メインスプロケット10と収容側サブ
スプロケット8との間のTABテープ1の張りを一定に
保っている。
When the tension of the TAB tape 1 becomes weak, the accommodation side tension guide 6 moves upward (in the direction of arrow E) in FIG. 6, and conversely, when the tension of the TAB tape 1 becomes too strong, the accommodation side tension guide 6 moves downward (in the direction of arrow E). By moving in the direction of arrow F), the tension of the TAB tape 1 between the housing-side main sprocket 10 and the housing-side sub-sprocket 8 is kept constant.

【0023】図2は分類装置と位置検出装置を示す斜視
図である。分類装置4の近傍には図1及び図2に示すよ
うに位置検出装11が設けられている。本実施形態の位
置検出装11は透過型センサを有したものである。位置
検出装11には情報を記憶自在なメモリ12が接続され
ている。また位置検出装11には搬送制御部35が接続
されており、搬送制御部35はリールやスプロケット等
の上記搬送手段を制御可能となっている。
FIG. 2 is a perspective view showing the classification device and the position detection device. A position detection device 11 is provided near the classification device 4 as shown in FIGS. The position detecting device 11 of the present embodiment has a transmission sensor. A memory 12 capable of storing information is connected to the position detecting device 11. Further, a transport control unit 35 is connected to the position detecting device 11, and the transport control unit 35 can control the transport means such as a reel and a sprocket.

【0024】TAB用オートハンドラ30は以上のよう
に構成されているので、TABテープ1上のICチップ
18を検査・分類するには、従来のTAB用オートハン
ドラ(「従来の技術」における図7参照)と同様にして
プッシャ3の位置でICチップ18の検査を行い、分類
装置4においてTABテープ1を位置決めして、検査結
果に基づきICチップ18に対してパンチ穴を穿孔す
る。
Since the TAB auto-handler 30 is configured as described above, in order to inspect and classify the IC chip 18 on the TAB tape 1, a conventional TAB auto-handler (see FIG. The IC chip 18 is inspected at the position of the pusher 3 in the same manner as described above), the TAB tape 1 is positioned in the classification device 4, and punch holes are punched in the IC chip 18 based on the inspection result.

【0025】本実施形態と従来のものとの違いは、分類
装置4においてのTABテープ1の位置決め方法にあ
る。以下、この位置決め方法について説明する。図3は
位置調整時における位置検出装置での検出位置を示す
図、図4は位置検出装置がパーフォレーションの境界ラ
インを検出した状態を示す図、図5はTABテープが停
止した直後の状態を示す図である。
The difference between this embodiment and the conventional one lies in the method of positioning the TAB tape 1 in the classification device 4. Hereinafter, this positioning method will be described. FIG. 3 is a diagram showing a position detected by the position detecting device at the time of position adjustment, FIG. 4 is a diagram showing a state where the position detecting device has detected a perforation boundary line, and FIG. 5 is a diagram showing a state immediately after the TAB tape stops. FIG.

【0026】まずTABテープ1についての検査・分類
を実際に開始する前に、位置調整作業を行う。即ち、T
ABテープ1を動かすことにより(例えば手動など、ど
のような方法でも良い)、あるICチップ18を、分類
装置4が該ICチップ18に対し指定されたパンチ穴を
正確に穿孔できる所定の分類位置SPに位置決めする。
この位置調整が完了した状態では、例えば図3に示すよ
うに位置検出装置11の検出エリア70がTABテープ
1上の1つのパーフォレーション13Aの内部に完全に
入っている(図3−A状態)。
First, before actually starting the inspection / classification of the TAB tape 1, a position adjusting operation is performed. That is, T
By moving the AB tape 1 (for example, any method such as manual operation), a certain IC chip 18 can be placed in a predetermined classification position where the classification device 4 can accurately punch a specified punch hole for the IC chip 18. Position to SP.
In the state where the position adjustment is completed, the detection area 70 of the position detection device 11 is completely inside one perforation 13A on the TAB tape 1 as shown in FIG. 3 (state A in FIG. 3).

【0027】次に、巻き戻し方向(図の矢印A方向とは
反対の方向)にTABテープ1を搬送しながら、図4に
示すようにパーフォレーション13Aの境界ライン13
aに対して検出エリア70の中央が位置する状態で停止
させる。(図4−B状態)。この状態は、透過型センサ
からの透過光量が減少して不透過と判定される時点の状
態として容易に検知できる。或いは、透過型センサの透
過光量を計測しておき、その透過光量が50%となる状
態として検知することも可能である。このように検知し
た時の状態は、パーフォレーション13Aの境界ライン
13aを基準にしているため一義的な状態であり、TA
Bテープ1についての特定の位置を検出したものと見な
せる。
Next, while transporting the TAB tape 1 in the rewinding direction (the direction opposite to the direction of the arrow A in the figure), as shown in FIG.
It is stopped in a state where the center of the detection area 70 is positioned with respect to a. (FIG. 4-B state). This state can be easily detected as the state at the time when the amount of transmitted light from the transmission type sensor is reduced and it is determined that the light is not transmitted. Alternatively, it is also possible to measure the amount of transmitted light of the transmission type sensor and detect the state where the amount of transmitted light becomes 50%. The state at the time of detection in this manner is a unique state because the boundary line 13a of the perforation 13A is used as a reference,
It can be considered that a specific position of the B tape 1 has been detected.

【0028】上述した巻き戻し方向へのTABテープ1
の搬送と共に、搬送制御部35により該搬送に要した距
離(図3−A状態から図4−B状態までにTABテープ
1を搬送した距離)をスプロケットの回転量などから検
出する。検出した距離は、位置検出装置11によりTA
Bテープ1の位置が検知される状態でのICチップ18
の位置と、分類位置SPとの間の間隔DHであるので、
間隔DHとしてメモリ12に記憶する。
TAB tape 1 in the above-mentioned rewinding direction
Along with the transport, the transport controller 35 detects the distance required for the transport (the distance the TAB tape 1 was transported from the state shown in FIG. 3A to the state shown in FIG. 4B) from the rotation amount of the sprocket. The detected distance is calculated by the position detecting device 11 as TA.
IC chip 18 in a state where the position of B tape 1 is detected
, And the distance DH between the classification position SP,
It is stored in the memory 12 as the interval DH.

【0029】次にTABテープ1についての検査・分類
を実際に開始する。従来のTAB用オートハンドラで
は、供給側サブスプロケット7と収容側サブスプロケッ
ト8と供給側メインスプロケット9と収容側メインスプ
ロケット10は同期しており、いずれかのスプロケット
が1デバイス分(図8の符号14参照)の量を搬送する
際に他のスプロケットも1デバイス分の量を搬送した。
Next, the inspection / classification of the TAB tape 1 is actually started. In the conventional TAB auto-handler, the supply-side sub-sprocket 7, the storage-side sub-sprocket 8, the supply-side main sprocket 9, and the storage-side main sprocket 10 are synchronized, and one of the sprockets corresponds to one device (reference numeral in FIG. 8). 14), the other sprockets also carried the amount of one device.

【0030】しかし本実施形態では、供給側サブスプロ
ケット7と供給側メインスプロケット9と収容側メイン
スプロケット10とは互いに同期しているが、これらに
対して収容側サブスプロケット8は遅れて動作してい
る。即ち、他のスプロケット7、9、10が1デバイス
分の量を搬送する際に、収容側サブスプロケット8は下
記式(1)で示す分を搬送する。
In the present embodiment, however, the supply side sub-sprocket 7, the supply side main sprocket 9, and the accommodation side main sprocket 10 are synchronized with each other, but the accommodation side sub-sprocket 8 operates with a delay. I have. That is, when the other sprockets 7, 9, and 10 carry the amount of one device, the housing-side sub-sprocket 8 carries the amount represented by the following equation (1).

【0031】 (1デバイス分の搬送量)−(搬送量DH+α)……(1) この式(1)におけるαは、図5−C状態(検出エリア
70が隣接するパーフォレーション13、13間にある
状態)から図4−B状態に移行させるのに必要なTAB
テープ1の搬送量である。αはスプロケットによる搬送
精度に依存し数100μm程度の誤差をもつ。
(Conveyance amount for one device) − (Conveyance amount DH + α) (1) α in the equation (1) is in the state shown in FIG. 5-C (between the perforations 13 and 13 where the detection area 70 is adjacent). TAB required to transition from (State) to Figure 4-B
This is the transport amount of the tape 1. α has an error of about several 100 μm depending on the transfer accuracy by the sprocket.

【0032】なお以上のような搬送量で搬送を行った場
合、収容側サブスプロケット8の搬送量が収容側メイン
スプロケット10の搬送量より少ないため、収容側サブ
スプロケット8と収容側メインスプロケット10との間
でTABテープ1の量が多くなり弛もうとすることにな
る。しかしこの弛みは上述した収容側テンションガイド
6により解消されるようになっている。
When the transfer is performed with the above-described transfer amount, the transfer amount of the storage-side sub-sprocket 8 is smaller than the transfer amount of the storage-side main sprocket 10. During this time, the amount of the TAB tape 1 increases and tends to loosen. However, this slack is eliminated by the accommodation-side tension guide 6 described above.

【0033】上述した搬送量によりTABテープ1を搬
送し、位置検出装置11の検出エリア70が図5−Cに
なった状態とさせる。なお、この状態でTABテープ1
を一旦停止或いは減速してもよい。次いで、収容側サブ
スプロケット8だけを順方向に駆動しつつ他のスプロケ
ットは停止させて、TABテープ1を更に矢印A方向に
図4−B状態を検出する状態まで動かす。この状態でも
TABテープ1を一旦停止或いは減速してもよい。更に
該図4−B状態より、収容側サブスプロケット8はメモ
リ12に保存されている間隔DH分だけ順方向に駆動し
てTABテープ1を矢印A方向に動かし停止させる。こ
れにより図3−A状態になった。つまり分類装置4はパ
ンチ穴を穿孔すべきICチップ18に対して正確に位置
決めできた。
The TAB tape 1 is conveyed by the above-described conveyance amount, and the detection area 70 of the position detecting device 11 is brought to the state shown in FIG. In this state, TAB tape 1
May be temporarily stopped or decelerated. Next, the other sprocket is stopped while driving only the storage side sub-sprocket 8 in the forward direction, and the TAB tape 1 is further moved in the direction of arrow A until the state shown in FIG. Even in this state, the TAB tape 1 may be temporarily stopped or decelerated. Further, from the state shown in FIG. 4B, the storage side sub-sprocket 8 is driven in the forward direction by the interval DH stored in the memory 12 to move the TAB tape 1 in the direction of arrow A and stop. This resulted in the state shown in FIG. That is, the classification device 4 was able to accurately position the punch hole with respect to the IC chip 18 to be punched.

【0034】このように本実施形態では、ICチップ1
8の分類をパンチ穴15や16(図8参照)のような穿
孔により行う場合に、TABテープ1を高精度で位置決
めできるので、高精度なパンチ穴の穿孔が可能である。
As described above, in this embodiment, the IC chip 1
When the classification of No. 8 is performed by perforation such as the punch holes 15 and 16 (see FIG. 8), the TAB tape 1 can be positioned with high accuracy, so that high-precision punch holes can be formed.

【0035】なお、上述した位置検出装11は透過型セ
ンサを有したものであるが、これ以外にも例えば、カメ
ラを有し、該カメラで撮影した映像を画像処理・判定す
る画像処理装置等を採用することも可能である。
The above-described position detecting device 11 has a transmission type sensor. In addition to this, for example, an image processing device having a camera and image processing / judging an image photographed by the camera may be used. It is also possible to employ.

【0036】また上述した例では、間隔DHを求める際
に、TABテープを巻き戻し方向(図の矢印A方向とは
反対の方向)に搬送したが、この場合にTABテープを
矢印A方向に搬送して間隔DHを求めるようにしてもよ
い。但しこの場合には、実際にICチップ18を分類位
置18に位置決め際に、位置検出装置11により検出さ
れる位置までTABテープ1を搬送した後、更に該TA
Bテープ1を間隔DHだけ巻き戻し方向に搬送して停止
させる。
In the above-described example, the TAB tape is transported in the rewinding direction (the direction opposite to the direction of arrow A in the figure) when calculating the interval DH. In this case, the TAB tape is transported in the direction of arrow A. In this case, the interval DH may be obtained. However, in this case, when the IC chip 18 is actually positioned at the classification position 18, the TAB tape 1 is transported to a position detected by the position detection device 11, and then the TAB tape 1 is further moved.
The B tape 1 is transported in the rewinding direction by the interval DH and stopped.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように本発明によると、分類すべ
きICチップを分類位置に位置決めする際には、テープ
位置検出手段により検出される位置までTABテープを
搬送し、更に該TABテープを記憶しておいた間隔だけ
搬送して停止させる。この間隔は、テープ位置検出手段
によりTABテープの位置が検知される状態でのICチ
ップの位置と、分類位置との間の搬送距離であるから、
TABテープ上のICチップは分類位置に位置決めされ
る。従って、分類をパンチ穴の穿孔等により行う場合に
は、TABテープを高精度で位置決めできるので、高精
度なパンチ穴の穿孔が可能である。
As described above, according to the present invention, when positioning the IC chip to be classified at the classification position, the TAB tape is transported to the position detected by the tape position detecting means, and the TAB tape is further transferred. It is transported for the interval that has been stored and stopped. Since this interval is a transport distance between the position of the IC chip in a state where the position of the TAB tape is detected by the tape position detecting means and the classification position,
The IC chip on the TAB tape is positioned at the sorting position. Therefore, when the classification is performed by punching a punched hole or the like, the TAB tape can be positioned with high precision, so that the punching of the punched hole can be performed with high precision.

【0038】また請求項2に係る発明によると、分類位
置の上流下流に位置する2つのスプロケット間における
TABテープの量を意図的に多く確保し、分類位置への
位置決め時には下流側のスプロケットだけを順方向に駆
動することによりTABテープの搬送方向における搬送
・位置決めができる。これによりスプロケットを逆転さ
せる必要が無いので制御が容易になる。
According to the second aspect of the present invention, a large amount of TAB tape is intentionally secured between the two sprockets located upstream and downstream of the sorting position, and only the downstream sprocket is used for positioning at the sorting position. By driving in the forward direction, the transport and positioning in the transport direction of the TAB tape can be performed. This facilitates control because there is no need to reverse the sprocket.

【0039】また請求項3に係る発明によると、分類位
置の上流下流に位置する2つのスプロケット間における
TABテープの量を意図的に多く確保しても、このTA
Bテープは弛まずに張られるのでTABテープの搬送が
スムーズに行える。
According to the third aspect of the present invention, even if the amount of TAB tape between two sprockets located upstream and downstream of the sorting position is intentionally increased, this TA
Since the B tape is stretched without slack, the transport of the TAB tape can be performed smoothly.

【0040】また請求項4に係る発明によると、請求項
1と同様の方法で位置決めが行えるので、TABテープ
上のICチップを分類位置に正確に位置決めでき、分類
をパンチ穴の穿孔等により行う場合には、高精度なパン
チ穴の穿孔が可能である。
According to the fourth aspect of the present invention, since the positioning can be performed in the same manner as in the first aspect, the IC chip on the TAB tape can be accurately positioned at the classification position, and the classification is performed by punching a punch hole or the like. In such a case, it is possible to form a punch hole with high precision.

【0041】また請求項5に係る発明によると、透過型
センサを採用することにより簡易な構成の装置となる。
これにより安価な装置となる。
According to the fifth aspect of the present invention, the apparatus has a simple configuration by employing a transmission type sensor.
This results in an inexpensive device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるTAB用オートハンドラの実施形
態を示す全体模式図。
FIG. 1 is an overall schematic diagram showing an embodiment of a TAB auto handler according to the present invention.

【図2】分類装置と位置検出装置を示す斜視説明図。FIG. 2 is a perspective explanatory view showing a classification device and a position detection device.

【図3】位置調整時における位置検出装置での検出位置
を示す図。
FIG. 3 is a diagram illustrating a position detected by a position detection device during position adjustment.

【図4】位置検出装置がパーフォレーションの境界ライ
ンを検出した状態を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing a state where the position detection device has detected a perforation boundary line.

【図5】TABテープが停止した直後の状態を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a state immediately after a TAB tape stops.

【図6】収容テンションガイドの構成を示す概念図。FIG. 6 is a conceptual diagram illustrating a configuration of a storage tension guide.

【図7】従来のTAB用オートハンドラを示す模式図。FIG. 7 is a schematic diagram showing a conventional TAB auto-handler.

【図8】TABテープ表面を示した図。FIG. 8 is a diagram showing the surface of a TAB tape.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 TABテープ 2A 搬送手段(供給リール) 2B 搬送手段(収容リール) 3 検査手段(プッシヤ) 4 分類手段(分類装置) 6 テンション手段(収容側テンションガイド) 7 搬送手段(供給側サブスプロケット) 8 搬送手段(収容側サブスプロケット) 9 搬送手段(供給側メインスプロケット) 10 搬送手段(収容側メインスプロケット) 11 テープ位置検出手段(位置検出装置) 12 間隔記憶手段(メモリ) 13 パーフォレーション 18 ICチップ 19 テープ材(フィルム) 30 TAB用オートハンドラ 35 搬送制御部 DH 間隔 SP 分類位置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 TAB tape 2A Conveying means (supply reel) 2B Conveying means (containment reel) 3 Inspection means (pusher) 4 Classification means (classification device) 6 Tension means (containment side tension guide) 7 Conveyance means (supply side sub-sprocket) 8 Conveyance Means (accommodating side sprocket) 9 Conveying means (supply main sprocket) 10 Conveying means (accommodating main sprocket) 11 Tape position detecting means (position detecting device) 12 Interval storage means (memory) 13 Perforation 18 IC chip 19 Tape material (Film) 30 TAB auto-handler 35 Transfer control unit DH interval SP Classification position

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一定の大きさ及び形状からなる複数のパ
ーフォレーションが伸延方向に一定間隔で形成配置され
たテープ材に、複数のICチップを前記伸延方向に一定
間隔で設置してなるTABテープを搬送方向に搬送さ
せ、 該TABテープの搬送により送られて来る該TABテー
プ上の前記ICチップを順次検査すると共に、該検査結
果に基づいて該当するICチップを分類位置に順次位置
決めし、 前記分類位置に位置決めされた前記ICチップに対して
分類を行う、TAB用オートハンドラにおいて、 前記パーフォレーションを検知することにより前記TA
Bテープの位置を検出するテープ位置検出手段を設けて
おき、 予め、前記テープ位置検出手段により前記TABテープ
の位置が検知される状態での前記ICチップの位置と、
前記分類位置との間の間隔を記憶しておき、 前記検査結果に基づいて該当するICチップを分類位置
に位置決めする際に、前記テープ位置検出手段により検
出される位置まで前記TABテープを搬送し、更に該T
ABテープを前記記憶しておいた間隔だけ搬送して停止
させるようにした、 ことを特徴とするTAB用オートハンドラにおける位置
決め方法。
1. A TAB tape in which a plurality of IC chips are installed at a constant interval in the extension direction on a tape material in which a plurality of perforations having a constant size and shape are formed and arranged at a constant interval in the extension direction. Transporting in the transport direction, sequentially inspecting the IC chips on the TAB tape sent by transporting the TAB tape, and sequentially positioning the corresponding IC chips at the classification position based on the inspection result; In a TAB auto-handler for performing classification on the IC chip positioned at a position, the TA chip is detected by detecting the perforation.
A tape position detecting means for detecting the position of the B tape is provided, and the position of the IC chip in a state where the position of the TAB tape is detected by the tape position detecting means in advance;
The interval between the TAB tape and the classification position is stored, and when the corresponding IC chip is positioned at the classification position based on the inspection result, the TAB tape is transported to a position detected by the tape position detection unit. , And the T
A method for positioning a TAB auto-handler, wherein an AB tape is transported and stopped for the stored interval.
【請求項2】 前記TABテープは、複数のスプロケッ
トを介して搬送されるようになっており、 前記検査結果に基づいて該当するICチップを分類位置
に位置決めする際には、前記分類位置に対して下流側の
スプロケットを上流側のスプロケットよりも遅らせて駆
動し、その後、前記上流側のスプロケットを停止すると
共に前記下流側のスプロケットを駆動することにより、
前記テープ位置検出手段により検出される位置まで前記
TABテープを前記搬送方向に搬送し、更に該TABテ
ープを前記記憶しておいた間隔だけ前記搬送方向に搬送
して停止させるようにした、 ことを特徴とする請求項1記載のTAB用オートハンド
ラにおける位置決め方法。
2. The TAB tape is conveyed through a plurality of sprockets. When positioning a corresponding IC chip at a classification position based on the inspection result, the TAB tape is positioned with respect to the classification position. By driving the downstream sprocket later than the upstream sprocket, and then stopping the upstream sprocket and driving the downstream sprocket,
Transporting the TAB tape in the transport direction to a position detected by the tape position detecting means, and transporting the TAB tape in the transport direction for the stored interval and stopping the TAB tape. The positioning method in the TAB auto-handler according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記分類位置の上流下流に位置する2つ
のスプロケット間において、前記TABテープの張りを
調整自在なテンション手段を設けておき、 前記2つのスプロケット間における前記TABテープの
張りを前記テンション手段により調整する、 ことを特徴とする請求項2記載のTAB用オートハンド
ラにおける位置決め方法。
3. A tension means for adjusting the tension of the TAB tape is provided between two sprockets located upstream and downstream of the classification position, and the tension of the TAB tape between the two sprockets is adjusted by the tension. 3. The positioning method in the TAB auto-handler according to claim 2, wherein the adjustment is performed by means.
【請求項4】 一定の大きさ及び形状からなる複数のパ
ーフォレーションが伸延方向に一定間隔で形成配置され
たテープ材に、複数のICチップを前記伸延方向に一定
間隔で設置してなるTABテープを搬送方向に搬送させ
る搬送手段と、 該TABテープの搬送により送られて来る該TABテー
プ上の前記ICチップを順次検査する検査手段と、 前記検査結果に基づいて該当するICチップを分類位置
に順次位置決めする位置決め手段と、 前記分類位置に位置決めされた前記ICチップに対して
分類を行う分類手段と、を備えたTAB用オートハンド
ラにおいて、 前記位置決め手段は、 前記パーフォレーションを検知することにより前記TA
Bテープの位置を検出するテープ位置検出手段と、 前記テープ位置検出手段により前記TABテープの位置
が検知される状態での前記ICチップの位置と、前記分
類位置との間の間隔を記憶する間隔記憶手段と、 前記検査結果に基づいて該当するICチップを分類位置
に位置決めする際に、前記テープ位置検出手段により該
TABテープの位置が検出される位置まで該TABテー
プを搬送し、更に該TABテープを前記間隔記憶手段に
記憶された間隔だけ搬送して停止させるように前記搬送
手段を制御する搬送制御部と、を有する、 ことを特徴とするTAB用オートハンドラ。
4. A TAB tape in which a plurality of IC chips are installed at a constant interval in the extension direction on a tape material in which a plurality of perforations having a constant size and shape are formed and arranged at a constant interval in the extension direction. Transport means for transporting in the transport direction, inspection means for sequentially inspecting the IC chips on the TAB tape sent by transporting the TAB tape, and sequentially applying the corresponding IC chips to the classification position based on the inspection result In a TAB auto-handler comprising: positioning means for positioning; and classification means for performing classification on the IC chip positioned at the classification position, wherein the positioning means detects the perforation, thereby detecting the TA.
A tape position detecting means for detecting a position of the B tape; an interval for storing an interval between the position of the IC chip in a state where the position of the TAB tape is detected by the tape position detecting means and the classification position A storage unit, when positioning the corresponding IC chip at the classification position based on the inspection result, transports the TAB tape to a position where the position of the TAB tape is detected by the tape position detection unit; A TAB auto-handler, comprising: a transport control unit that controls the transport unit to transport and stop the tape by the interval stored in the interval storage unit.
【請求項5】 前記テープ位置検出手段は、前記パーフ
ォレーションの縁端部を検知する透過型センサを有す
る、 ことを特徴とする請求項4記載のTAB用オートハンド
ラ。
5. The TAB auto-handler according to claim 4, wherein said tape position detecting means has a transmission type sensor for detecting an edge of said perforation.
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