JP2001138228A - 吸着板及びその吸着板を備えた研削装置 - Google Patents

吸着板及びその吸着板を備えた研削装置

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JP2001138228A
JP2001138228A JP32991799A JP32991799A JP2001138228A JP 2001138228 A JP2001138228 A JP 2001138228A JP 32991799 A JP32991799 A JP 32991799A JP 32991799 A JP32991799 A JP 32991799A JP 2001138228 A JP2001138228 A JP 2001138228A
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plate
grinding
porous portion
chuck table
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 隙間、段差、うねりが生じることのない吸着
板、及びその吸着板を備えた切削装置を提供する。 【解決手段】 円盤状のポーラス部2と、このポーラス
部2を囲繞するリング状の枠体3とを同質のセラミック
スで一体焼成することにより吸着板1を形成する。この
吸着板1は、ポーラス部2と枠体3との間に隙間が生じ
ず、上面を研削すると研削量が一定となって段差が生じ
ず、且つ枠体に底部がないことからポーラス部の表面に
うねりが生じない。吸引機構を有する基台4の上面に吸
着板1を取り付けてチャックテーブル5を形成し、この
チャックテーブルを切削装置に装着する。吸着板1に半
導体ウェーハ等の板状物を吸引保持して研削すると、表
面に窪み、段差、うねりが生じることなく高精度に研削
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェーハ等
の板状物を吸着する吸着板及びその吸着板を備えた研削
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェーハ等の板状物(被加工物)
の表面を研削する研削装置においては、通常チャックテ
ーブルに板状物を吸引保持し、その板状物に研削手段の
回転砥石を当てて研削する。従来のチャックテーブルA
は、例えば図4(b)のように板状物を直接保持する吸
着板Bと、この吸着板Bを支持すると共に吸着板Bに吸
引作用を施す基台Cとから構成されている。そして、吸
着板Bは、図4(a)のように通気性のポーラスセラミ
ックスで形成されたポーラス部Dと、このポーラス部D
の外周及び底部を覆う非通気性のセラミックスで形成さ
れた凹状の枠体Eとにより形成されており、図4(c)
のように枠体Eの底部には吸引溝Fと、基台Cの吸引作
用を連通させる吸引孔Gとが形成され、その吸引作用が
ポーラス部Dを介して板状物に確実に伝達される構造と
なっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の吸着板Bによると、ポーラス部Dと枠体Eとは適宜
の接着剤によって結合されているため、ポーラス部Dと
枠体Eの外周との間には、例えば数十μm程の隙間及び
段差が生じるという問題があった。又、ポーラス部Dと
枠体Eとの表面が同一平面となるように研削加工して
も、ポーラス部Dと枠体Eとの材質が異なるため研削量
が均一ではなく、段差を取り除くことができないという
問題があった。更に、枠体Eの底部に形成された吸引溝
Fが、ポーラス部Dの表面に数μm程のうねりを生じさ
せるとういう問題もあった。このようなポーラス部Dと
枠体Eとに関連する「隙間、段差、うねり」の問題は、
半導体ウェーハ等の板状物の表面を研削する際に窪み、
段差、うねりを生じさせることとなり、板状物を高精度
に研削できず品質の低下を招くという事態を引き起こ
す。
【0004】本発明は、このような従来技術の事態に鑑
みてなされたもので、「隙間、段差、うねり」が生じる
ことのない吸着板及びその吸着板を備えた切削装置を提
供することで、半導体ウェーハ等の板状物の研削におい
て窪み、段差、うねりを防止し、品質の向上を図ること
を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの技術的手段として、本発明は、吸引源に連通し吸引
作用を施す基台に載置され、吸引作用を表面に施して板
状物を吸引保持する吸着板であって、この吸着板は、ポ
ーラス部と、このポーラス部の外周のみを囲繞するリン
グ状の枠体とが同質のセラミックスで一体焼成されてい
る構成を要旨とする。又、この吸着板において、前記枠
体の外周には基台に固定するための固定部が形成されて
いること、前記枠体の厚みとポーラス部の厚みは同じで
あり、枠体とポーラス部との表面は研削されて同一面に
形成されていること、を要旨とする。更に、本発明は、
半導体ウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、こ
のチャックテーブルに吸引保持された半導体ウェーハの
面を研削する研削手段と、を有する研削装置において、
前記チャックテーブルは、吸引源に連通し吸引作用を施
す基台と、この基台に載置され吸引源に連通し表面に吸
引作用を施して板状物を吸引保持する前記吸着板と、で
構成されている研削装置を要旨とするものである。
【0006】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を添付図
面に基づいて説明する。図1(a)は、本発明に係る吸
着板1の実施形態を示すもので、円盤状のポーラス部2
と、リング状の枠体3とから構成される。この場合、ポ
ーラス部2と枠体3とは同質のセラミックスで形成さ
れ、これらを一体焼成することで図1(b)のような吸
着板1が形成される。
【0007】前記枠体3の厚み(高さ)と、ポーラス部
2の厚みは同じであり、且つ枠体3の上端面とポーラス
部2の表面とは予め研削され、吸着板1を焼成した際に
同一面となるようにしてある。吸着板1を焼成した後
に、その上面を研削加工して枠体3の上端面とポーラス
部2の表面とが同一面になるように形成しても良い。い
ずれにしても、従来の如く枠体Eとポーラス部Dとを接
着剤で結合する構成とは異なり、底部を有さず底部から
の拘束がない外周のみを囲繞するリング状の枠体3とポ
ーラス部2とを同質のセラミックスで一体焼成により構
成するので、枠体3とポーラス部2との間に隙間が生じ
ることはない。又、焼成後表面を研削する場合、研削量
が均一となるため段差が生じることもない。
【0008】このような吸着板1は、例えば次の如く製
造される。 (ステップ1)グレード♯100のアルミナ、GC等の
主原料となるセラミックス粉末を重量比で80%以上
と、二酸化珪素、二酸化チタン等の副原料となるセラミ
ックス粉末を重量比で20%以下とを混合しポーラス部
2を構成する原料を生成する。 (ステップ2)グレード♯1000〜♯1200のアル
ミナ、GC等の主原料となるセラミックス粉末を重量比
で80%以上と、二酸化珪素、二酸化チタン等の副原料
となるセラミックス粉末を重量比で20%以下とを混合
攪拌し、実質的にポーラス部2を構成する原料と同じ配
合のリング状の枠体3を構成する原料を生成する。 (ステップ3)ポーラス部2を構成する原料を所定の治
具に収容し、所定の圧力を加えて圧縮成形体を生成す
る。 (ステップ4)リング状の枠体3を構成する原料を所定
の治具に収容し、所定の圧力を加えて圧縮成形体を生成
する。 (ステップ5)ステップ3で生成したポーラス部2とな
る圧縮成形体を、ステップ4で生成したリング状の枠体
3となる圧縮成形体の内部に挿入し、所定の圧力で圧縮
して一体圧縮成形体を生成する。 (ステップ6)一体圧縮成形体を1000℃〜1300
℃、好ましくは1150℃の炉の中で5時間〜20時間
焼結する。
【0009】このように(ステップ1)〜(ステップ
6)によって製造された吸着板1のポーラス部2の気孔
率は30%〜50%で、孔径は50μm〜150μmで
あり、リング状の枠体3の気孔率は30%〜50%で、
孔径は10μm以下に形成され、厚みは0.5cm〜5
cmに形成される。焼成後に、表面を研削して仕上げ
る。
【0010】リング状の枠体3は、下端部の外周に鍔状
の取付部3aが形成されており、図1(c)のようにそ
の取付部3aを基台4の上面にねじ止めして取り付ける
ことによりチャックテーブル5を形成できるようにして
ある。
【0011】前記基台4は、ポーラス部2に対応させて
中央に円形の吸引溝4aと、これと同心円状のリング状
の吸引溝4bが形成されると共に、これらの吸引溝に連
通する吸引孔4c、4dがそれぞれ形成され、且つこれ
らの吸引孔は通気経路6を経て吸引源(図略)に連通し
ている。従って、チャックテーブル5の吸着板1の上面
に板状物(被加工物)を載置して吸引源により基台4に
吸引作用を施すと、その吸引作用はポーラス部2を介し
て表面にまで達し、板状物を吸引保持することができ
る。尚、図中7は通気経路6の要所に配設された開閉バ
ルブである。
【0012】本発明に係る吸着板1を有するチャックテ
ーブル5は、例えば図2に示すような研削装置8のター
ンテーブル9に装着して使用される。この研削装置8で
は、先ずカセット10内に収容されている半導体ウェー
ハ等の板状物W(被加工物)が搬出入手段11により搬
出されると共に中心位置合わせテーブル12に搬送さ
れ、ここで中心の位置合わせがされた後に旋回アームを
有する第1の搬送手段13により吸着され、受け取り位
置に位置付けられたチャックテーブル5に搬送される。
【0013】次いで、チャックテーブル5上に搬送され
た板状物Wは、前記のように吸着板1により吸引保持さ
れた後、ターンテーブル9の回転によって研削手段14
側に移動される。この場合、研削手段14は粗研削部1
4aと仕上げ研削部14bとを備え、板状物Wは最初に
粗研削部14aに位置付けられてその回転砥石14cに
より表面が粗研削され、次に仕上げ研削部14bに位置
付けられて回転砥石14dにより仕上げ研削される。こ
れらの研削時において、チャックテーブル5も回転され
る。
【0014】チャックテーブル5の吸着板1は、前記の
ようにポーラス部2と枠体3との間に隙間や段差がな
く、又枠体3には底部がないことからポーラス部2の表
面にうねりが生じることもなく、従って研削手段14に
よる板状物Wの研削が高精度に行われ、従来のように板
状物Wの表面に窪み、段差、うねり等が生じることはな
い。
【0015】仕上げ研削後に、ターンテーブル9が回転
して研削済みの板状物Wはチャックテーブル5と共に受
け渡し位置に位置付けられ、旋回アームを有する第2の
搬送手段15により吸着されてスピンナー洗浄・乾燥手
段16に搬送される。第2の搬送手段15により板状物
Wを吸着する際に、チャックテーブル5の前記開閉バル
ブ7を閉じて吸引作用を停止し、吸着板1での板状物W
の吸引を解除する。
【0016】スピンナー洗浄・乾燥手段16で洗浄及び
乾燥された研削済み板状物Wは、前記搬出入手段11に
より取り出されると共にカセット10、又はこのカセッ
ト10の対向位置に置かれた受け取り用カセット10a
に収容される。尚、これらのカセット10,10aは図
2に仮想線で示す位置に置くことも可能である。
【0017】最初の板状物Wが前記研削手段14の粗研
削部14aで粗研削されている間に、中心位置合わせテ
ーブル12上に待機している次の板状物が、第1の搬送
手段13により受け取り位置に位置付けられたチャック
テーブル5に搬送されて吸引保持される。そして、最初
の板状物Wの粗研削が終了すると、ターンテーブル9が
回転して最初の板状物Wは仕上げ研削部14bに、次の
板状物は粗研削部14aにそれぞれ位置付けられ、最初
の板状物Wの仕上げ研削と次の板状物の粗研削が同時に
行われる。このようにして、前記カセット10から搬出
される板状物Wは搬送のタイミングを取りながら移動
し、順次効率よく研削される。
【0018】図3(a)、(b)は、本発明に係る吸着
板の他の実施形態を示すもので、径の異なる板状物に適
切に対応できるように構成した点に特徴を有する。即
ち、複数のポーラス部22と枠体23とを同心円状に拡
径する方向に交互に配設してバームクーヘン状の吸着板
21としたものである。この場合も、ポーラス部22と
枠体23とは、同質のセラミックスで一体焼成して形成
する。
【0019】この吸着板21は、各ポーラス部22と枠
体23との間に隙間がないと共に、表面は均一な研削に
よって高精度な平坦面に仕上げることができるので段差
が生じない。又、各枠体23はリング状であって底部が
ないため、各ポーラス部22の表面にうねりが生じるこ
ともない。
【0020】吸着板21は、最外側の枠体23に形成し
た鍔状の取付部23aを、基台24の上面にねじ止めし
て取り付けることによりチャックテーブル25を形成す
ることができる。
【0021】前記基台24は、各ポーラス部22に対応
させて中央に円形の吸引溝24aと、これと同心円状の
リング状の吸引溝24bが形成されると共に、これらの
吸引溝に連通する吸引孔24c、24dがそれぞれ形成
され、且つこれらの吸引孔は通気経路26を経て吸引源
(図略)に連通している。又、通気経路26の要所には
複数の開閉バルブ27が配設されている。
【0022】従って、チャックテーブル25の吸着板2
1の上面に板状物を載置して吸引源により基台24に吸
引作用を施すと、その吸引作用はポーラス部22を介し
て表面にまで達し、板状物を吸引保持することができ
る。この場合、複数の開閉バルブ27を選択的に作動さ
せることで、複数のポーラス部22を選択的に吸引作用
させることができ、これにより径の異なる板状物を適切
に吸引保持することができる。
【0023】このチャックテーブル25は、前記研削装
置8におけるチャックテーブル5に替えて使用すること
ができ、吸着板21には隙間、段差、うねりがないこと
から、この吸着板21に保持された異径の半導体ウェー
ハ等板状物の表面を研削手段14によって研削してもバ
ームクーヘン状の窪み、段差、うねりが生じることなく
高精度に研削することができる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る吸着
板は、従来の如くポーラス部と凹状枠体とを適宜の接着
剤で結合するという構成とは異なり、底部を有しない外
周のみを囲繞するリング状の枠体とポーラス部とを同質
のセラミックスで一体焼成することにより構成したの
で、ポーラス部と枠体との間に隙間が生じることはな
い。又、ポーラス部と枠体との表面に段差があったとし
ても、研削手段によって同一平面になるように研削すれ
ば、ポーラス部と枠体との材質が同質であるため研削量
が均一となり、段差を取り除くことができる。更に、枠
体には底部がないことから底部からの拘束がなく、ポー
ラス部の表面に数μm程のうねりを生じさせることがな
い。従って、従来問題となっていた「隙間、段差、うね
り」を解決した吸着板を提供することができ、この吸着
板をチャックテーブルに装着した研削装置で、半導体ウ
ェーハ等の板状物の表面を研削すると、板状物に窪み、
段差、うねりを生じさせることなく、板状物を高精度に
研削できる。更に、ポーラス部と枠体とを同心円状に拡
径する方向に交互に配設してバームクーヘン状の吸着板
を形成することで、異径の板状物に適切に対応すること
ができ、この場合も隙間がないと共に吸着板の表面は研
削によって高精度な平坦面に仕上げることができるの
で、この吸着板に保持された板状物の表面を研削装置に
よって研削してもバームクーヘン状の段差、うねり等が
生じることなく高精度に研削できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る吸着板の実施形態を示すもので、
(a)は吸着板の分解斜視図、(b)は吸着板を備えた
チャックテーブルの分解斜視図、(c)はそのチャック
テーブルの概略断面図
【図2】切削装置の一例を示す斜視図
【図3】本発明に係る吸着板の他の実施形態を示すもの
で、(a)は吸着板を備えたチャックテーブルの斜視
図、(b)はそのチャックテーブルの概略断面図
【図4】従来の吸着板を示すもので、(a)は吸着板の
分解斜視図、(b)は吸着板を備えたチャックテーブル
の分解斜視図、(c)はそのチャックテーブルの概略断
面図
【符号の説明】
1…吸着板 2…ポーラス部 3…枠体 4…基台 5…チャックテーブル 6…通気経路 7…開閉バルブ 8…研削装置 9…ターンテーブル 10…カセット 11…搬出入手段 12…中心位置合わせテーブル 13…第1の搬送手段 14…研削手段 15…第2の搬送手段 16…スピンナー洗浄・乾燥装置 21…吸着板 22…ポーラス部 23…枠体 24…基台 25…チャックテーブル 26…通気経路 27…開閉バルブ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】吸引源に連通し吸引作用を施す基台に載置
    され、吸引作用を表面に施して板状物を吸引保持する吸
    着板であって、 この吸着板は、ポーラス部と、このポーラス部の外周の
    みを囲繞するリング状の枠体とが同質のセラミックスで
    一体焼成されていることを特徴とする吸着板。
  2. 【請求項2】前記枠体の外周には基台に固定するための
    固定部が形成されている、請求項1記載の吸着板。
  3. 【請求項3】前記枠体の厚みとポーラス部の厚みは同じ
    であり、枠体とポーラス部との表面は研削されて同一面
    に形成されている、請求項1又は2記載の吸着板。
  4. 【請求項4】半導体ウェーハを吸引保持するチャックテ
    ーブルと、このチャックテーブルに吸引保持された半導
    体ウェーハの面を研削する研削手段と、を有する研削装
    置において、 前記チャックテーブルは、吸引源に連通し吸引作用を施
    す基台と、この基台に載置され吸引源に連通し表面に吸
    引作用を施して板状物を吸引保持する請求項1,2又は
    3記載の吸着板と、で構成されている研削装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004209633A (ja) * 2002-12-18 2004-07-29 Komatsu Electronic Metals Co Ltd 加工用基板固定装置およびその製造方法
JP2006135113A (ja) * 2004-11-08 2006-05-25 Okamoto Machine Tool Works Ltd デバイスウエハの真空チャックシステムおよびそれを用いてデバイスウエハ裏面を研磨する方法
KR100854422B1 (ko) * 2007-08-01 2008-08-26 주식회사 에스에프에이 웨이퍼 연마장치
KR100905094B1 (ko) * 2007-08-01 2009-06-30 주식회사 에스에프에이 웨이퍼 연마장치
KR100918069B1 (ko) * 2007-08-01 2009-09-22 주식회사 에스에프에이 웨이퍼 연마장치
KR100934692B1 (ko) * 2009-06-26 2009-12-31 양성수 포러스 척 테이블
JP2011041991A (ja) * 2009-08-19 2011-03-03 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの研削装置
JP2014212190A (ja) * 2013-04-18 2014-11-13 株式会社ディスコ チャックテーブル

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62162455A (ja) * 1986-06-06 1987-07-18 Hitachi Ltd ウエハ研削方法
JPH068087A (ja) * 1992-06-25 1994-01-18 Shin Etsu Handotai Co Ltd ウエーハ研削用吸着盤
JPH06114664A (ja) * 1992-10-09 1994-04-26 Nippondenso Co Ltd 真空吸着テーブル
JPH0819927A (ja) * 1994-07-04 1996-01-23 Kyocera Corp 真空吸着装置とその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62162455A (ja) * 1986-06-06 1987-07-18 Hitachi Ltd ウエハ研削方法
JPH068087A (ja) * 1992-06-25 1994-01-18 Shin Etsu Handotai Co Ltd ウエーハ研削用吸着盤
JPH06114664A (ja) * 1992-10-09 1994-04-26 Nippondenso Co Ltd 真空吸着テーブル
JPH0819927A (ja) * 1994-07-04 1996-01-23 Kyocera Corp 真空吸着装置とその製造方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004209633A (ja) * 2002-12-18 2004-07-29 Komatsu Electronic Metals Co Ltd 加工用基板固定装置およびその製造方法
JP4519457B2 (ja) * 2002-12-18 2010-08-04 Sumco Techxiv株式会社 加工用基板固定装置およびその製造方法
JP2006135113A (ja) * 2004-11-08 2006-05-25 Okamoto Machine Tool Works Ltd デバイスウエハの真空チャックシステムおよびそれを用いてデバイスウエハ裏面を研磨する方法
JP4732736B2 (ja) * 2004-11-08 2011-07-27 株式会社岡本工作機械製作所 デバイスウエハの真空チャックシステムおよびそれを用いてデバイスウエハ裏面を研磨する方法
KR100854422B1 (ko) * 2007-08-01 2008-08-26 주식회사 에스에프에이 웨이퍼 연마장치
KR100905094B1 (ko) * 2007-08-01 2009-06-30 주식회사 에스에프에이 웨이퍼 연마장치
KR100918069B1 (ko) * 2007-08-01 2009-09-22 주식회사 에스에프에이 웨이퍼 연마장치
KR100934692B1 (ko) * 2009-06-26 2009-12-31 양성수 포러스 척 테이블
JP2011041991A (ja) * 2009-08-19 2011-03-03 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの研削装置
JP2014212190A (ja) * 2013-04-18 2014-11-13 株式会社ディスコ チャックテーブル

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