JP2001025891A - 鉛フリーはんだ - Google Patents

鉛フリーはんだ

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JP2001025891A
JP2001025891A JP20084699A JP20084699A JP2001025891A JP 2001025891 A JP2001025891 A JP 2001025891A JP 20084699 A JP20084699 A JP 20084699A JP 20084699 A JP20084699 A JP 20084699A JP 2001025891 A JP2001025891 A JP 2001025891A
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JP
Japan
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solder
lead
silver
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copper
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JP20084699A
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English (en)
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Tamotsu Yamada
保 山田
Nobuyuki Araki
伸行 荒木
Yoshitoshi Kobayashi
佐敏 小林
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 融点がSnPb系程度に低く、しかも引張強
度及び衝撃強度に優れた接合部が得られる鉛フリーはん
だを提供する。 【解決手段】 銀を0.1〜3重量%、ビスマスを3〜
7重量%、銅を0.5〜1重量%含み、残部錫からなる
ことを特徴とする鉛フリーはんだ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、各種の電気機器や
電子素子の電気的接続に使用される鉛フリーはんだに関
する。
【0002】
【従来の技術】例えばプリント配線板への電気部品や電
子素子の実装、半導体素子のリードワイヤーのボンディ
ング、電線と端子との接続等のために、従来よりはんだ
が用いられている。従来のはんだは錫−鉛共晶はんだ
(以降「SnPb系」と称する)が一般的であったが、
近年では環境汚染の問題から鉛の使用量の削減、更には
全廃が推進されている。
【0003】従来のSnPb系に代わる材料として、錫
をベースに数種類の金属を添加した、所謂鉛フリーはん
だが各種提案されている。例えば、鉛の代わりに銀を主
成分として含むSnAg系、ビスマスを主成分として含
むSnBi系、亜鉛を主成分として含むSnZn系の各
鉛フリーはんだが代表的である。しかしながら、表1に
これらの鉛フリーはんだの組成の一例を示すが、何れも
SnPb系に比べて融点が高く、例えばプリント配線板
の実装に用いた場合、基板に過剰の熱応力を与えたり、
極端な場合には基板を溶かすといった不具合を生じるこ
とがある。
【0004】
【表1】
【0005】一方、はんだ材料の品質・信頼性の課題も
多く、中でも近年、機器の小型化・携帯化に伴い落下な
どの衝撃ではんだ接続部が破壊するケースが増えてい
る。そのため、鉛フリーはんだ材料を選定する上でも、
一般的な指標である接続部の引張強度とともに衝撃強度
の確保が重要になってきている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記のような
状況に鑑みてなされたものであり、融点がSnPb系程
度に低く、しかも引張強度及び衝撃強度に優れた接合部
が得られる鉛フリーはんだを提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明者らは、
鉛に代わる金属を種々変えてその融点を低下させるとも
に、はんだ接合部の引張強度と衝撃強度とを測定したと
ころ、融点が低く、かつ引張強度と衝撃強度とがバラン
ス良く高い値を示すはんだ組成を得ることができた。本
発明はこのような知見に基づくものである。
【0008】即ち、本発明は、上記の目的を達成するた
めに、銀を0.1〜3重量%、ビスマスを3〜7重量
%、銅を0.5〜1重量%含み、残部錫からなることを
特徴とする鉛フリーはんだを提供する。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明に関して図面を参照
して詳細に説明する。本発明の鉛フリーはんだは、銀、
ビスマス及び銅を必須成分として特定量含み、残部錫か
らなる。
【0010】銀の含有量は0.1〜3重量%である。銀
ははんだの耐熱疲労特性を改善する効果があり、0.1
重量%未満の添加ではその効果が得られず、本発明が目
的とする引張強度と衝撃強度とをバランス良く改善する
上で好ましくない。一方、3重量%を超える場合には液
相線温度が高くなり過ぎ、本発明が目的とする低融点化
を実現できない。
【0011】ビスマスの含有量は3〜7重量%、好まし
くは3を超え4.5重量%である。ビスマスははんだの
融点を低下させる効果に優れるため、4重量%未満では
その効果が十分に現れない。一方でビスマスは接合部で
の偏在を起こしやすく、また脆性により伸びを減少させ
る性質を有するため、7重量%を超える配合ではこのよ
うな現象が顕著となり、本発明が目的とする引張強度と
衝撃強度とをバランス良く改善する上で好ましくない。
【0012】銅の含有量は0.5〜1重量%、好ましく
は0.5〜0.7重量%である。銅は銀と同様にはんだ
の耐熱疲労特性を改善する効果があり、0.5重量%未
満の添加ではその効果が得られず、本発明が目的とする
引張強度と衝撃強度とをバランス良く改善する上で好ま
しくない。また、銀と同様に多量の添加は液相線温度の
上昇を招くため、本発明の目的である低融点化を実現す
るためには、銅の含有量上限を1重量%とする。
【0013】上記の組成範囲にあるはんだの融点は、1
87〜220℃であり、従来のSnPb系の融点183
℃に比べて若干高いものの、ほぼ満足できる程度にまで
低温化が図られている。
【0014】以上のように、錫をベースに銀、ビスマス
及び銅を特定量配合したことにより、低融点化に加え
て、引張強度と衝撃強度とをバランス良く改善すること
ができる。従って、上記の金属以外が添加されるとこの
ような微妙なバランスが乱れるため、不純物として混入
されるもの以外は含有しないことが重要である。
【0015】本発明の鉛フリーはんだの使用形態として
は、例えば平均粒径10〜75μm程度に分級したもの
を液状フラックスと混練してクリームはんだとすること
ができる。この場合の液状フラックスには制限がない
が、好ましくはRMAフラックスまたは無残渣フラック
スを用いる。尚、RMAフラックスとしては塩素量が
0.05%以下のものが好ましく、無残渣フラックスと
しては松脂や活性剤等の固形成分が30%以下のものが
好ましい。
【0016】
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を更に説明す
る。 (供試はんだの調製)表2に示すように錫、銀、ビスマ
ス及び銅の配合量を変えて供試はんだ〜を作製し
た。そして、液状フラックスと混練してクリームはんだ
とし、下記に示す引張試験及び衝撃試験に供した。
【0017】
【表2】
【0018】(引張試験及び衝撃試験)先ず、図1に示
すように、銅板(タフピッチ銅:20×50×1mm)
1にレジスト2を介して各供試クリームはんだ3を印刷
し、それを2枚重ねた状態で加熱して各サンプルAを作
成した。はんだの印刷条件及び加熱条件は、表3に示す
通りである。
【0019】
【表3】
【0020】そして、引張試験は、図2に示すようにサ
ンプルAの一方の銅板1aを引張試験機の固定端10に
装着し、他方の銅板1bを図中矢印F方向に引っ張り、
はんだ接合部(符号3の部分)が剥離した時の引張力を
測定した。試験条件は、表4に示す通りである。
【0021】また、衝撃試験は、図3に示すようにサン
プルAの一方の銅板1aを衝撃試験機20の固定治具2
1に装着し、他方の銅板1bに重り22(100g)を
取り付けた状態で試料ステージ23を衝撃吸収パッド2
4に落下し、破壊限界強度を測定した。試験条件は、表
4に示す通りである。
【0022】
【表4】
【0023】(試験結果)引張強度の測定結果を図4
に、また衝撃強度の測定結果を図5に示す。図示されう
ように、銀、ビスマス及び銅の含有量が本発明の範囲内
にあるはんだ、は、総合的に見て引張強度及び衝撃
強度に優れることが判る。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
融点がSnPb系程度に低く、しかも引張強度及び衝撃
強度に優れた接合部が得られる鉛フリーはんだが提供さ
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】引張試験及び衝撃試験で使用されたサンプルを
示す斜視図である。
【図2】引張試験の試験方法を説明するための概略図で
ある。
【図3】衝撃試験の試験方法を説明するための概略図で
ある。
【図4】引張強度の測定結果を示す図である。
【図5】衝撃強度の測定結果を示す図である。
【符号の説明】 1 銅板 2 レジスト 3 クリームはんだ 10 固定端 20 衝撃試験機 21 固定治具 22 重り 23 試料ステージ 24 衝撃吸収パッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小林 佐敏 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目3番1 号 松下通信工業株式会社内 Fターム(参考) 5E319 BB01

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 銀を0.1〜3重量%、ビスマスを3〜
    7重量%、銅を0.5〜1重量%含み、残部錫からなる
    ことを特徴とする鉛フリーはんだ。
JP20084699A 1999-07-14 1999-07-14 鉛フリーはんだ Pending JP2001025891A (ja)

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