JP2000346948A - X-ray detector for x-ray ct apparatus and its manufacture - Google Patents

X-ray detector for x-ray ct apparatus and its manufacture

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JP2000346948A
JP2000346948A JP11155486A JP15548699A JP2000346948A JP 2000346948 A JP2000346948 A JP 2000346948A JP 11155486 A JP11155486 A JP 11155486A JP 15548699 A JP15548699 A JP 15548699A JP 2000346948 A JP2000346948 A JP 2000346948A
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Japan
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ray
scintillator
slice
separation groove
light
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JP11155486A
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Japanese (ja)
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Mitsuru Tamura
充 田村
Tomotsune Yoshioka
智恒 吉岡
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
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Hitachi Medical Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an X-ray detector for X-ray CT apparatus without any dispersion in characteristic between X-ray detection elements arranged in a channel direction and a slice direction. SOLUTION: An X-ray detection element array 8 composing the X-ray detector consists of an X-ray detection element 7 that is arranged in a channel direction and a slice direction on a printed-circuit board 1. Each X-ray detection element 7 is composed of a scintillator 5 and a photo detector 2. The photo detector 2 is formed as a photo detector array 3 on the printed-circuit board 1, and the scintillator 5 adheres onto it. The area between the scintillators 5 is separated by a channel direction separation groove 11 and a slice direction separation groove 12. Light reflection layers 10, 13, and 14 formed of a light reflection material are formed in the channel direction separation groove 11 and the slice direction separation groove 12 on the upper surface of the scintillator 5. A guide member 9 with a reference surface in that a light reflection layer is formed is studs to an end part in the slice direction. The depth of the separation grooves 11 and 12 nearly reaches the photo detector 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はX線CT装置に使用
されるX線検出器に係り、特に同時に複数スライスの画
像データの計測を行うことができるX線CT装置用X線
検出器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray detector used in an X-ray CT apparatus, and more particularly to an X-ray detector for an X-ray CT apparatus capable of simultaneously measuring a plurality of slices of image data.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、X線CT装置に使用されるX線検
出器として、X線検出精度の向上を図るため、従来のキ
セノンガスによる電離箱方式のものに対し、シンチレー
タを用いた固体検出器が広く用いられるようになった。
この固体検出器は、入射X線を光に変換するシンチレー
タと、このシンチレータで変換された光を検出して電気
信号として出力するシリコンフォトダイオードなどの光
検出素子とから成るX線検出素子を、X線源を中心とし
て円弧状に多数のチャンネルを配列して構成される。
2. Description of the Related Art In recent years, as an X-ray detector used in an X-ray CT apparatus, in order to improve X-ray detection accuracy, a solid-state detector using a scintillator has been used instead of a conventional ionization chamber system using xenon gas. Vessels have become widely used.
The solid state detector includes an X-ray detection element including a scintillator that converts incident X-rays into light, and a light detection element such as a silicon photodiode that detects light converted by the scintillator and outputs the light as an electric signal. A large number of channels are arranged in an arc shape around the X-ray source.

【0003】X線CT装置では、装置のスループット向
上のため、1枚のCT画像を得るのに要する時間の短縮
化が望まれている。この時間の短縮の方法として以下の
2つがあげられる。 (1)スキャナ1回転あたりに要する時間の短縮化 (2)スキャナ1回転あたりに撮影できる断層画像の増加
In the X-ray CT apparatus, it is desired to reduce the time required to obtain one CT image in order to improve the throughput of the apparatus. To reduce this time,
There are two. (1) Reduction of the time required for one rotation of the scanner (2) Increase in tomographic images that can be captured per rotation of the scanner

【0004】(1)に関しては、X線発生装置であるX
線管の軽量化等により、スキャナの回転速度の向上が図
られている。他方、(2)に関しては、X線検出器にお
いて、これまでチャンネル方向に1次元的に配列されて
いたX線検出素子の列を、スライス方向(チャンネル方
向に直交する方向)に2列もしくはそれ以上の複数列配
置することにより達成される。このようなX線検出器は
マルチスライス型X線検出器と呼ばれている(これに対
し、従来の1次元配列のX線検出器はシングルスライス
型X線検出器と呼ばれる)。
[0004] Regarding (1), X-ray generator X
The rotation speed of the scanner has been improved by reducing the weight of the wire tube. On the other hand, regarding (2), in the X-ray detector, the rows of the X-ray detection elements which have been arranged one-dimensionally in the channel direction until now are changed to two rows or two rows in the slice direction (the direction orthogonal to the channel direction). This is achieved by arranging a plurality of rows as described above. Such an X-ray detector is called a multi-slice X-ray detector (in contrast, a conventional one-dimensional array X-ray detector is called a single-slice X-ray detector).

【0005】マルチスライス型X線検出器の概略図を図
12に示す。図12は、マルチスライス型X線検出器103と
被検体102とX線管101との関係を示している。図12にお
いて、マルチスライス型X線検出器103はスライス方向
に配列された4列のX線検出素子列105によって構成され
ているため、X線管101より放射されたX線ビーム104を
受光することにより、被検体102のスライス1からスライ
ス4までの4スライス分の領域の画像データを計測でき
る。この結果、従来のシングルスライス型X線検出器に
比較すると、X線管101からのX線ビーム104の利用効率
が4倍に向上するという利点が得られる。この利点はX
線検出素子列105の数を増加するとともに向上する。
FIG. 1 is a schematic view of a multi-slice type X-ray detector.
See Figure 12. FIG. 12 shows the relationship between the multi-slice X-ray detector 103, the subject 102, and the X-ray tube 101. In FIG. 12, the multi-slice type X-ray detector 103 includes four X-ray detection element rows 105 arranged in the slice direction, and thus receives the X-ray beam 104 emitted from the X-ray tube 101. This makes it possible to measure image data of an area corresponding to four slices from the slice 1 to the slice 4 of the subject 102. As a result, there is an advantage that the use efficiency of the X-ray beam 104 from the X-ray tube 101 is quadrupled as compared with the conventional single slice type X-ray detector. The advantage is X
The number of the line detection element rows 105 is increased and the number is improved.

【0006】マルチスライス型X線検出器は従来のシン
グルスライス型X線検出器の技術を基礎にして開発が進
められ、シングルスライス型X線検出器をスライス方向
に並べる方式が多く進められている。しかし、マルチス
ライス型X線検出器では、X線検出素子をチャンネル方
向およびスライス方向にそれぞれ複数列配列する場合、
個々のX線検出素子の性能が全体として十分揃っている
ことが必要となる。X線検出素子間で性能にばらつきが
存在すると、再構成されたCT画像にリングアーチファ
クトなどが発生し、画質を悪化させることになる。
[0006] Multi-slice X-ray detectors have been developed based on conventional single-slice X-ray detector technology, and many methods of arranging single-slice X-ray detectors in the slice direction have been advanced. . However, in the multi-slice X-ray detector, when the X-ray detection elements are arranged in a plurality of rows in the channel direction and the slice direction, respectively,
It is necessary that the performances of the individual X-ray detection elements are sufficiently uniform as a whole. If there is a variation in performance between the X-ray detection elements, ring artifacts or the like will occur in the reconstructed CT image, and the image quality will be degraded.

【0007】また、X線検出素子の性能のばらつきがス
ライス方向で存在すると、被検体102の同一のスライス
面の画像データを計測した場合でも、スライス方向のど
の位置のX線検出素子によって計測されたかによって計
測データに差異が生じ、CT画像の画質やそのCT画像
から得られる医療情報が異なってしまうおそれがある。
同一の被検体102の同一のスライス面の画像データを計
測したにもかかわらず、計測に用いたX線検出素子が異
なるためにCT画像が異なってしまうことは絶対にあっ
てはならないことである。このために、X線検出素子の
特性は、チャンネル方向に加えて、スライス方向につい
ても十分に揃っていることが必要である。
[0007] Further, if there is a variation in the performance of the X-ray detecting element in the slice direction, even if the image data of the same slice plane of the subject 102 is measured, the image data is measured by the X-ray detecting element at any position in the slice direction. Differences may occur in the measurement data depending on the situation, and the image quality of the CT image and the medical information obtained from the CT image may be different.
Despite measuring image data of the same slice plane of the same subject 102, CT images should never be different due to different X-ray detection elements used for measurement. . For this reason, it is necessary that the characteristics of the X-ray detection element are sufficiently uniform not only in the channel direction but also in the slice direction.

【0008】以上のことから、マルチスライス型X線検
出器にてX線検出素子を2次元に配列するためには、X
線検出器全体の構造や個々のX線検出素子の構造をはじ
めとして、その製造方法についても、従来の1次元配列
のシングルスライス型X線検出器と比較して複雑にな
り、また製造工程や組立工程においても十分な精度が要
求される。また、X線検出素子の特性値を揃えるために
は、シンチレータの特性の均一性とシンチレータの上面
および側面に適切な光反射手段を設けることが重要であ
る。また、シンチレータの側面については光の反射以外
にX線遮蔽によるクロストーク防止も重要である。
From the above, in order to arrange the X-ray detecting elements two-dimensionally in the multi-slice type X-ray detector, the
The manufacturing method, including the structure of the entire X-ray detector and the structure of each X-ray detection element, is more complicated than the conventional one-dimensional array single-slice X-ray detector. Sufficient accuracy is also required in the assembly process. In addition, in order to make the characteristic values of the X-ray detection elements uniform, it is important to provide uniformity of the characteristics of the scintillator and to provide appropriate light reflecting means on the top and side surfaces of the scintillator. In addition to the light reflection, it is also important to prevent crosstalk on the side surface of the scintillator by X-ray shielding.

【0009】従来のシングルスライス型X線検出器の一
例を図13、図14に示す。図13はシングルスライス型X線
検出器の全体構造を示す概略図、図14はシングルスライ
ス型X線検出器を構成するX線検出素子アレイの外観図
および断面図である。図13において、シングルスライス
型X線検出器110は複数個(図示では11個)のX線検出
素子アレイ112から構成され、その全体がX線検出器容
器113内に収容されている。X線検出素子アレイ112はX
線管の焦点を中心とする円弧上に多角形状(以下、ポリ
ゴン状という)に、シンチレータのX線受光面をX線管
の焦点に対向するようにして配列されている。X線検出
素子アレイ112のX線管焦点対向面側には光反射率の高
い光反射フィルム111が設置されている。この光反射フ
ィルム111は、X線検出素子アレイ112のシンチレータ内
で発光した光が外部に漏れないようにするために設置さ
れたものである。図13に示した構成はマルチスライス型
X線検出器においても採用されている。
An example of a conventional single slice type X-ray detector is shown in FIGS. FIG. 13 is a schematic diagram showing the entire structure of a single-slice X-ray detector, and FIG. 14 is an external view and a sectional view of an X-ray detection element array constituting the single-slice X-ray detector. In FIG. 13, a single-slice X-ray detector 110 is composed of a plurality (11 in the figure) of X-ray detection element arrays 112, and the whole is accommodated in an X-ray detector container 113. X-ray detection element array 112 is X
The X-ray receiving surface of the scintillator is arranged in a polygonal shape (hereinafter, referred to as a polygon) on an arc centered on the focal point of the X-ray tube so as to face the focal point of the X-ray tube. A light reflection film 111 having a high light reflectance is provided on the X-ray tube focal point facing surface side of the X-ray detection element array 112. The light reflecting film 111 is provided to prevent light emitted in the scintillator of the X-ray detecting element array 112 from leaking outside. The configuration shown in FIG. 13 is also employed in a multi-slice X-ray detector.

【0010】図14(b)は、図14(a)のA−A矢視断
面図で、X線検出素子アレイ112の要部を示している。
図14(b)において、X線検出素子アレイ112は複数個
のX線検出素子115から構成され、各X線検出素子115は
シンチレータ116と光検出素子(シリコンフォトダイオ
ードなど)117から構成される。X線検出素子アレイ112
はプリント基板120上に形成されており、各X線検出素
子115のシンチレータ116の間にはチャンネル方向分離溝
118が設けられ、そのチャンネル方向分離溝118には光反
射率の高い金属板119が挿入されている。この金属板119
は各X線検出素子115のシンチレータ116で発光した光が
隣接する素子のシンチレータ116に漏れないようにする
ものである。同様に、シンチレータ116で発光した光が
上面に漏れないようにしているのが図13に示した光反射
フィルム111である。
FIG. 14B is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 14A, and shows a main part of the X-ray detecting element array 112.
In FIG. 14B, the X-ray detecting element array 112 includes a plurality of X-ray detecting elements 115, and each X-ray detecting element 115 includes a scintillator 116 and a light detecting element (eg, a silicon photodiode) 117. . X-ray detection element array 112
Are formed on a printed circuit board 120, and a channel direction separating groove is provided between the scintillators 116 of each X-ray detecting element 115.
A metal plate 119 having a high light reflectance is inserted into the channel direction separation groove 118. This metal plate 119
Is to prevent light emitted from the scintillator 116 of each X-ray detecting element 115 from leaking to the scintillator 116 of an adjacent element. Similarly, the light reflecting film 111 shown in FIG. 13 prevents light emitted from the scintillator 116 from leaking to the upper surface.

【0011】次に、このX線検出素子アレイ112の製造
方法の一例を簡単に説明する。図14(b)において、先
ず、プリント基板120の上面にはシリコンフォトダイー
ドなどの光検出素子117を複数チャンネル配列した光検
出素子アレイ(122)が形成される。この光検出素子ア
レイ(122)の上面に、光検出素子アレイ(122)全体を覆
うシンチレータ板(123)が透明な接着剤121によって接着
される。シンチレータ板(123)は、X線照射による発
光特性が板全面に渡って均一に作られたものである。次
に、このシンチレータ板(123)には、個々の光検出素子1
17に対応させて、個々のチャンネルを分離するためのチ
ャンネル方向分離溝118が形成される。このチャンネル
方向分離溝118の深さは光検出素子アレイ(122)にほぼ
達する程度である。更に、各チャンネル方向分離溝118
に金属板119が挿入される。この金属板119は両端のX線
検出素子115のシンチレータ116の外側の面にも取り付け
られる。
Next, an example of a method of manufacturing the X-ray detecting element array 112 will be briefly described. In FIG. 14B, first, a photodetector array (122) in which photodetectors 117 such as silicon photodiodes are arranged in a plurality of channels is formed on the upper surface of the printed circuit board 120. A scintillator plate (123) covering the entire photodetector array (122) is adhered to the upper surface of the photodetector array (122) with a transparent adhesive 121. The scintillator plate (123) is one in which light emission characteristics by X-ray irradiation are made uniform over the entire surface of the plate. Next, each scintillator plate (123) includes
Corresponding to 17, a channel direction separation groove 118 for separating individual channels is formed. The depth of the channel direction separation groove 118 is almost such that it reaches the photodetector array (122). Furthermore, each channel direction separation groove 118
The metal plate 119 is inserted into. This metal plate 119 is also attached to the outer surface of the scintillator 116 of the X-ray detection elements 115 at both ends.

【0012】上記のシングルスライス型X線検出器を2
次元に配列した2次元放射線固体検出器が特開平10-1860
44号(以下、第1の公知例という)に開示されている。こ
のX線検出器では、シンチレータ板とフォトダイオード
基板を接着した後に、シンチレータ板にチャンネル方向
分離溝とスライス方向分離溝を溝切り加工しその溝に光
反射率の高い金属板が挿入されている。この金属板は縦
横に交差するため、交差する位置に板の高さのほぼ半分
の深さの溝が加工され、例えばチャンネル方向のものは
上側半分、スライス方向のものは下側半分に溝が設けら
れ、両方向の金属板の溝が嵌合して、格子状のものに組
み立てられて、各分離溝に挿入されている。
The above single slice type X-ray detector is
2D radiation solid state detector arranged in two dimensions
No. 44 (hereinafter, referred to as a first known example). In this X-ray detector, after a scintillator plate and a photodiode substrate are bonded, a channel direction separation groove and a slice direction separation groove are cut into the scintillator plate, and a metal plate having a high light reflectance is inserted into the groove. . Since this metal plate crosses vertically and horizontally, a groove with a depth of approximately half the height of the plate is machined at the crossing position, for example, a groove in the upper half in the channel direction and a groove in the lower half in the slice direction. The grooves of the metal plate in both directions are fitted, assembled into a lattice, and inserted into each separation groove.

【0013】X線検出素子のシンチレータの光反射手段
としては、上記以外に、シンチレータの上面にアルミニ
ウム蒸着を行う方法(従来例1)、光反射フィルムを貼り
付ける方法(従来例2)などがある。
As the light reflecting means of the scintillator of the X-ray detecting element, other than the above, there are a method of depositing aluminum on the upper surface of the scintillator (conventional example 1) and a method of attaching a light reflecting film (conventional example 2). .

【0014】また、特開平7-148615号公報(以下、第2の
公知例という)には、シンチレータ板と光反射板を交互
にサンドイッチ状にチャンネル数分だけ重ね合わせたも
のを切断してシンチレータアレイを作成し、これをプリ
ント基板上に形成されているフォトダイオードアレイ上
に貼り合わせ、更にシンチレータアレイの上面に光反射
層を設けるというシングルスライス型X線検出器の製造
方法が開示されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-48615 (hereinafter referred to as a second known example) discloses a scintillator in which a scintillator plate and a light reflecting plate are alternately stacked in a sandwich shape by the number of channels and cut. A method for manufacturing a single-slice X-ray detector is disclosed in which an array is formed, this is attached to a photodiode array formed on a printed circuit board, and a light reflection layer is further provided on the upper surface of the scintillator array. .

【0015】また、特開平9-54161号公報(以下、第3の
公知例という)には、1枚のシンチレータ板に光反射膜を
形成した後、細長く角材状に切断し、各切断片を、光反
射膜面がシンチレータによってサンドイッチ状に挟まれ
るような状態にしてチャンネル数分だけ貼り合わせ(即
ち並べ替え)、これをプリント基板上のフォトダイオー
ドアレイ面に貼り付けるというシングルスライス型X線
検出器の製造方法が開示されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-54161 (hereinafter referred to as a third known example) discloses that after forming a light reflecting film on a single scintillator plate, the scintillator plate is cut into an elongated rectangular shape, and each cut piece is cut. Single-slice type X-ray detection, in which the light reflecting film surface is sandwiched by a scintillator in a sandwich shape and bonded by the number of channels (that is, rearranged) and then bonded to the photodiode array surface on a printed circuit board A method of making a vessel is disclosed.

【0016】また、特開平5-16060号公報(以下、第4の
公知例という)には、シンチレータの製造方法として、
BGOシンチレータ結晶の光の出射面から互いに直交す
る格子状の切込み溝を形成した後に、その溝に光反射材
粉末を含有する樹脂溶液を減圧化下で充填し、減圧によ
り脱溶媒して光反射層を形成する技術が開示されてい
る。
Japanese Patent Laid-Open Publication No. Hei 5-16060 (hereinafter referred to as a fourth known example) discloses a method for manufacturing a scintillator.
After forming lattice-shaped cut grooves orthogonal to each other from the light emitting surface of the BGO scintillator crystal, the grooves are filled with a resin solution containing a light reflecting material powder under reduced pressure, and the solvent is removed under reduced pressure to remove light reflection. Techniques for forming layers are disclosed.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】図13のようにX線検出
素子アレイ112を数十個ポリゴン状に配列した後、アレ
イ群の上面から光反射フィルム111(または光反射板)を
密着固定する構造では、ポリゴン状に配列されたX線検
出素子アレイ112に対して光反射フィルム111などは円弧
状に固定されることになり、X線検出素子アレイ112の
上面と光反射フィルム111などとの間にチャンネル毎に
異なった隙間が生じ、これに起因する光反射率のばらつ
き、すなわち出力のばらつきがチャンネル間で発生し
て、X線検出器の出力特性を悪化させる問題となってい
た。図13の構成はマルチスライス型X線検出器でも採用
されているので、マルチスライス型X線検出器のチャン
ネル方向の特性については同様に問題となる。
After tens of X-ray detecting element arrays 112 are arranged in a polygonal shape as shown in FIG. 13, a light reflecting film 111 (or a light reflecting plate) is tightly fixed from the upper surface of the array group. In the structure, the light reflection film 111 and the like are fixed in an arc shape with respect to the X-ray detection element array 112 arranged in a polygon, and the upper surface of the X-ray detection element array 112 and the light reflection film 111 and the like are fixed. Different gaps are generated between the channels between the channels, and variations in the light reflectance due to the gaps, that is, variations in the output, occur between the channels, causing a problem of deteriorating the output characteristics of the X-ray detector. Since the configuration shown in FIG. 13 is also employed in the multi-slice X-ray detector, the characteristics of the multi-slice X-ray detector in the channel direction pose a similar problem.

【0018】また、第1の公知例では、チャンネル方向
およびスライス方向分離のために挿入されている光遮蔽
手段としての金属板が、チャンネルおよびスライス方向
分離溝に挿入された際にシンチレータ上面に一部が突出
し、金属板の加工精度によりこの突出量のばらつきが生
じるため、図13の如く光反射フィルム111などを上面か
ら押さえつける際にX線検出素子アレイの上面と光反射
フィルム111などとの間にX線検出素子毎に異なった隙
間が生じ、これに起因する出力のばらつきを生じさせ、
同様にX線検出器の出力特性を悪化させる問題となる。
Further, in the first known example, when a metal plate as a light shielding means inserted for separation in the channel direction and the slice direction is inserted into the channel and the slice direction separation groove, the metal plate is placed on the upper surface of the scintillator. Since the projections protrude and the variation in the amount of protrusion occurs due to the processing accuracy of the metal plate, when pressing the light reflection film 111 or the like from the upper surface as shown in FIG. 13, the distance between the upper surface of the X-ray detection element array and the light reflection film 111 or the like is reduced. , Different gaps are generated for each X-ray detection element, which causes variations in output,
Similarly, the output characteristic of the X-ray detector deteriorates.

【0019】また、第1の公知例では、チャンネル方向
分離溝に挿入される金属板とスライス方向分離溝に挿入
される金属板が各々の金属板に設けられた溝を嵌合させ
格子状の金属板を構成するため、各々の金属板の溝間
隔、溝幅を高精度に加工し、金属板の組合せ、嵌合にも
精度を要するため、作業コストが上昇するという問題が
ある。
In the first known example, the metal plate inserted into the channel direction separation groove and the metal plate inserted into the slice direction separation groove are fitted in the grooves provided in each metal plate to form a lattice-like shape. Since the metal plates are formed, the groove spacing and the groove width of each metal plate are processed with high precision, and precision is required for the combination and fitting of the metal plates, so that there is a problem that the operation cost increases.

【0020】また、従来例1のシンチレータ上面にアル
ミニウム蒸着を行う方法では、強固な蒸着を行うために
蒸着前に蒸着面を研磨加工したりするなどの工程が必要
になり、作業コストが増えるなどの問題が生じる。
Further, in the method of performing aluminum vapor deposition on the upper surface of the scintillator of the conventional example 1, a step of polishing the vapor deposition surface before vapor deposition is required to perform strong vapor deposition, which increases the operation cost. Problem arises.

【0021】また、従来例2の光反射フィルムをシンチ
レータ上面に貼り付ける方法でも、チャンネル方向およ
びスライス方向分離のための溝加工を行う際に光反射フ
ィルムの切断面にバリが出たり、光反射フィルムの接着
の際に気泡が混入するなどの問題も生じている。
Also, in the method of pasting the light reflecting film of Conventional Example 2 on the upper surface of the scintillator, burrs appear on the cut surface of the light reflecting film when the groove processing for separating the channel direction and the slice direction is performed. There are also problems such as the incorporation of bubbles when the film is bonded.

【0022】また、第2の公知例や第3の公知例は、シン
グルスライス型X線検出器の製造方法としては有効な方
法であるが、マルチスライス型X線検出器にそのまま適
用するのは困難である。また、各X線検出素子のシンチ
レータが異なるシンチレータ板から切り出したものであ
るため、チャンネル間の特性ばらつきを起こすという問
題も生じる。
The second and third known examples are effective methods for manufacturing a single-slice X-ray detector, but are not directly applied to a multi-slice X-ray detector. Have difficulty. In addition, since the scintillator of each X-ray detection element is cut out from a different scintillator plate, there is also a problem that characteristics are varied between channels.

【0023】また、第4の公知例では、シンチレータ単
体でチャンネル方向およびスライス方向の分離溝の加工
を行い、光反射材を充填してから、光検出素子への接合
を行っているため、分離溝の深さを十分にとることがで
きず、隣接素子への光の漏れ防止が不十分であること、
光反射材の充填作業を減圧下で行うことになるため、作
業コストが増加することなどの問題が生じる。
Further, in the fourth known example, the separation groove is formed in the channel direction and the slice direction with the scintillator alone, the light reflecting material is filled, and then the bonding to the light detecting element is performed. The depth of the groove cannot be sufficiently taken, and the prevention of light leakage to an adjacent element is insufficient;
Since the work of filling the light reflecting material is performed under reduced pressure, problems such as an increase in operation cost occur.

【0024】そこで本発明は上記のような事情に基づい
てなされたものであり、本発明の目的はチャンネル方向
およびスライス方向に配列されたX線検出素子相互間で
特性ばらつきのないX線CT装置用X線検出器およびそ
の製造方法並びにX線CT装置を提供するものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an X-ray CT apparatus having no characteristic variation between X-ray detecting elements arranged in the channel direction and slice direction. X-ray detector for use, a method for manufacturing the same, and an X-ray CT apparatus.

【0025】[0025]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のX線CT装置用X線検出器は、入射した放
射線を検知して発光するシンチレータと、シンチレータ
での発光を受光することによりシンチレータが検知した
放射線の線量に対応する出力信号を発生する光検出素子
とを組み合わせたX線検出素子をチャンネル方向にほぼ
円弧状に複数個配列したX線検出素子列を、チャンネル
方向と直交するスライス方向に複数列配列するX線CT
装置用X線検出器において、各X線検出素子間をチャン
ネル方向およびスライス方向に分離するためのチャンネ
ル方向分離溝およびスライス方向分離溝をシンチレータ
部分に設け、該分離溝の深さを光検出素子にほぼ達する
深さとし、各X線検出素子のシンチレータの上面、チャ
ンネル方向分離溝およびスライス方向分離溝に光反射材
を被覆または充填して光反射層としたものである(請求
項1)。
In order to achieve the above object, an X-ray detector for an X-ray CT apparatus according to the present invention comprises a scintillator for detecting and emitting incident radiation and receiving light emitted from the scintillator. An X-ray detection element array in which a plurality of X-ray detection elements in combination with a light detection element that generates an output signal corresponding to the dose of radiation detected by the scintillator are arranged in a substantially arc shape in the channel direction is orthogonal to the channel direction. -Ray CT arranged in multiple rows in the slice direction
In an X-ray detector for an apparatus, a channel direction separation groove and a slice direction separation groove for separating each X-ray detection element in a channel direction and a slice direction are provided in a scintillator portion, and the depth of the separation groove is determined by a photodetection element. The light reflecting material is coated or filled on the upper surface of the scintillator, the channel direction separating groove and the slice direction separating groove of each X-ray detecting element to form a light reflecting layer (claim 1).

【0026】この構成では、X線検出器を構成する全て
のX線検出素子のシンチレータがチャンネル方向分離溝
およびスライス方向分離溝によって分離され、かつその
上面および側面を高い光反射率を有する光反射層によっ
て囲まれているので、各X線検出素子はチャンネル方向
およびスライス方向に素子間の分離が効率良く行われる
ととも、各X線検出素子のシンチレータ内で発光した光
は外部に漏れることなく光検出素子に伝達され、各X線
検出素子のX線検出性能の均一性が確保される。この結
果、X線検出器全体として性能ばらつきのない高精度の
X線CT装置用X線検出器が得られる。
In this configuration, the scintillators of all the X-ray detecting elements constituting the X-ray detector are separated by the channel direction separating groove and the slice direction separating groove, and the upper and side surfaces thereof have a high light reflectance. Each X-ray detecting element is efficiently separated from each other in the channel direction and the slice direction because it is surrounded by the layers, and light emitted in the scintillator of each X-ray detecting element does not leak to the outside. The light is transmitted to the light detecting elements, and the uniformity of the X-ray detecting performance of each X-ray detecting element is ensured. As a result, a high-precision X-ray detector for an X-ray CT apparatus having no performance variation as the whole X-ray detector can be obtained.

【0027】本発明のX線CT装置用X線検出器は更
に、チャンネル方向について複数のブロックに分割され
た複数個のX線検出素子アレイによって構成され、該X
線検出素子アレイがほぼ円弧状(ポリゴン状)に配列さ
れている。また、X線検出素子アレイはプリント基板上
に配列されている。この構成では、X線検出器が複数の
X線検出素子アレイに細分化されているので、製作が容
易となり、またX線検出素子の特性を揃えることも容易
となる。
The X-ray detector for an X-ray CT apparatus according to the present invention further comprises a plurality of X-ray detection element arrays divided into a plurality of blocks in the channel direction.
Line detection element arrays are arranged in a substantially arc shape (polygon shape). The X-ray detection element array is arranged on a printed circuit board. In this configuration, since the X-ray detector is subdivided into a plurality of X-ray detection element arrays, the production becomes easy, and the characteristics of the X-ray detection elements can be made uniform.

【0028】本発明のX線CT用X線検出器は更に、X
線検出素子アレイのスライス方向の両端部に、光反射材
の被覆または充填のための基準面を備えたガイド部材を
取り付けたものである。この構成では、X線検出素子ア
レイのスライス方向の両端部に基準面を備えたガイド部
材を取り付けることにより、このガイド部材の基準面を
利用してシンチレータの上面および側面に光反射材を被
覆または充填することができるので、光反射層の厚さ、
特にシンチレータ上面の光反射層の厚さを均一で一様な
ものにすることができる。この結果、各X線検出素子の
X線検出特性の均一性を確保することができる。また、
X線検出素子アレイのスライス方向の両端部はスペース
的にも余裕があるので、X線検出器の配列で邪魔になる
ことはない。
The X-ray detector for X-ray CT according to the present invention further comprises:
A guide member having a reference surface for coating or filling a light reflecting material is attached to both ends in the slice direction of the line detection element array. In this configuration, a guide member having a reference surface is attached to both ends in the slice direction of the X-ray detection element array, and the top and side surfaces of the scintillator are coated with the light reflecting material using the reference surface of the guide member. Can be filled, the thickness of the light reflection layer,
In particular, the thickness of the light reflection layer on the upper surface of the scintillator can be made uniform and uniform. As a result, it is possible to ensure uniformity of the X-ray detection characteristics of each X-ray detection element. Also,
Since both ends of the X-ray detecting element array in the slice direction have a space, there is no hindrance in the arrangement of the X-ray detectors.

【0029】本発明のX線CT装置用X線検出器の製造
方法は、プリント基板上に複数の光検出素子をチャンネ
ル方向およびスライス方向に配列して形成した光検出素
子アレイの上面にシンチレータ板を接着固定する第1の
ステップと、光検出素子のスライス方向の各スライス境
界位置に対応してシンチレータ板に光検出素子アレイに
ほぼ達するまでの深さのスライス方向分離溝を形成する
第2のステップと、シンチレータ板のスライス方向両端
部に高さの基準面を確保するためのガイド部材を接着す
る第3のステップと、ガイド部材を基準にして、シンチ
レータ板の上面およびスライス方向分離溝に光反射材を
充填して、シンチレータ板の上面の光反射層およびスラ
イス方向分離層を形成する第4のステップと、光検出素
子のチャンネル方向の各チャンネル境界位置に対応して
シンチレータ板に光検出素子アレイにほぼ達するまでの
チャンネル方向分離溝を形成する第5のステップと、ガ
イド部材を基準にして、チャンネル方向分離溝に光反射
材を充填して、チャンネル方向分離層を形成する第6の
ステップとを含むものである(請求項2)。
According to the method of manufacturing an X-ray detector for an X-ray CT apparatus of the present invention, a scintillator plate is provided on an upper surface of a photodetector array formed by arranging a plurality of photodetectors on a printed circuit board in a channel direction and a slice direction. A second step of forming a slice-direction separation groove having a depth until reaching the photodetector array in the scintillator plate corresponding to each slice boundary position of the photodetector in the slice direction. Step, a third step of adhering a guide member for securing a height reference surface at both ends in the slice direction of the scintillator plate, and light on the upper surface of the scintillator plate and the slice direction separation groove with reference to the guide member. A fourth step of filling a reflective material to form a light reflection layer and a slice direction separation layer on the upper surface of the scintillator plate; A fifth step of forming a channel direction separation groove in the scintillator plate corresponding to the channel boundary position until the light detection element array is almost reached, and filling the channel direction separation groove with a light reflecting material based on the guide member. Forming a channel direction separation layer (claim 2).

【0030】この構成では、先ず1枚のシンチレータ板
を使用しているため、X線検出素子アレイ全体として一
様なX線検出特性が確保される。また、スライス方向分
離溝およびチャンネル方向分離溝を光検出素子にほぼ達
するまでの深さに加工して光反射材を充填しているた
め、シンチレータで発光した光が隣接するシンチレータ
に漏れにくい。また、光反射材がガイド部材の深さ基準
面を利用して充填されているため、シンチレータ上面の
光反射層は均一かつ一様に形成され、シンチレータ上面
からの光の漏れがなくなり、光の漏れがあったとしても
一様性が確保される。従って、この製造方法で作られた
X線検出器ではX線検出性能の均一性が確保されるとと
もに、製造歩留まりも良くなり、製造コストも低減され
る。
In this configuration, first, since one scintillator plate is used, uniform X-ray detection characteristics are secured for the entire X-ray detection element array. Further, since the slice direction separation groove and the channel direction separation groove are processed to a depth almost reaching the photodetector and filled with the light reflecting material, light emitted from the scintillator is less likely to leak to the adjacent scintillator. In addition, since the light reflecting material is filled using the depth reference surface of the guide member, the light reflecting layer on the upper surface of the scintillator is formed uniformly and uniformly, light leakage from the upper surface of the scintillator is eliminated, and light Even if there is a leak, uniformity is ensured. Therefore, in the X-ray detector manufactured by this manufacturing method, the uniformity of the X-ray detection performance is ensured, the manufacturing yield is improved, and the manufacturing cost is reduced.

【0031】本発明のX線CT装置用X線検出器の製造
方法では更に、第4のステップおよび第6のステップにお
いて、光反射材を加圧板で加圧して、シンチレータ板の
上面、スライス方向分離溝およびチヤンネル方向分離溝
に充填するものである。この構成では、光反射材を加圧
することにより、大気中で常温で作業を行うことがで
き、また、各分離溝に沿って光反射材を押し込んで行く
ことができるので、形成された光反射層に気泡や異物な
どが混入することはなく、均一な光反射層が得られる。
また、大気中で作業できることから、作業コストの低減
が可能となる。
In the method of manufacturing an X-ray detector for an X-ray CT apparatus according to the present invention, in the fourth step and the sixth step, the light reflecting material is pressurized by a pressing plate, and the upper surface of the scintillator plate, the slice direction The separation groove and the channel direction separation groove are filled. In this configuration, by pressing the light reflecting material, the work can be performed at room temperature in the atmosphere, and the light reflecting material can be pushed in along each separation groove. No air bubbles or foreign substances are mixed into the layer, and a uniform light reflecting layer can be obtained.
Further, since the operation can be performed in the atmosphere, the operation cost can be reduced.

【0032】本発明のX線CT装置は、X線検出器を用
いて被検体を透過したX線を検出してCT画像を得るX
線CT装置において、前記X線検出器が本発明のX線C
T装置用X線検出器である(請求項3)。この構成で
は、本発明のX線CT装置用X線検出器を適用すること
により、1回のスキャンで複数のCT画像を良好な画質
で取得ることができる。
The X-ray CT apparatus of the present invention uses an X-ray detector to detect X-rays transmitted through a subject to obtain a CT image.
In the X-ray CT apparatus, the X-ray detector is the X-ray C of the present invention.
It is an X-ray detector for a T device (Claim 3). With this configuration, by applying the X-ray detector for an X-ray CT apparatus of the present invention, a plurality of CT images can be acquired with good image quality in one scan.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について添
付図面に基づき説明する。本発明のX線CT装置用X線
検出器の第1の実施例を図1に示す。図1(a)はX線検出
器を構成するX線検出素子アレイの外観図、図1(b)は
図1(a)のX線検出素子アレイのA‐A矢視断面図、図1
(c)は図1(a)のX線検出素子アレイのB‐B矢視断面
図である。本発明のX線CT装置用X線検出器は、図1
(a)に示すX線検出素子アレイ8が、図13の従来例の如
く、X線管の焦点を中心とする円弧上にポリゴン状に複
数個配列されて構成される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 shows a first embodiment of an X-ray detector for an X-ray CT apparatus according to the present invention. FIG. 1A is an external view of an X-ray detection element array constituting an X-ray detector, FIG. 1B is a cross-sectional view of the X-ray detection element array of FIG.
FIG. 2C is a cross-sectional view of the X-ray detection element array of FIG. The X-ray detector for an X-ray CT apparatus of the present invention is shown in FIG.
As shown in FIG. 13, a plurality of X-ray detecting element arrays 8 shown in FIG. 13A are arranged in a polygonal shape on an arc centered on the focal point of an X-ray tube.

【0034】図1(a)においてプリント基板1上にX線検
出素子アレイ8が配列されている。X線検出素子アレイ8
はチャンネル方向およびスライス方向に配列された複数
個のX線検出素子で構成されている。チャンネル方向は
プリント基板1の幅方向で、従来のシングルスライス型
X線検出器のチャンネル方向と同じである。スライス方
向はプリント基板1の長手方向で、チャンネル方向と直
交する方向である。従って図1(b)はX線検出素子アレ
イ8のチャンネル方向の断面図であり、図1(c)はX線検
出素子アレイ8のスライス方向の断面図である。
In FIG. 1A, an X-ray detecting element array 8 is arranged on a printed circuit board 1. X-ray detection element array 8
Is composed of a plurality of X-ray detecting elements arranged in the channel direction and the slice direction. The channel direction is the width direction of the printed circuit board 1 and is the same as the channel direction of the conventional single slice type X-ray detector. The slice direction is a longitudinal direction of the printed circuit board 1 and is a direction orthogonal to the channel direction. Therefore, FIG. 1B is a cross-sectional view of the X-ray detection element array 8 in the channel direction, and FIG. 1C is a cross-sectional view of the X-ray detection element array 8 in the slice direction.

【0035】図1(b)および図1(c)において、プリン
ト基板1の上部にはシリコンフォトダイオードアレイ3が
形成されており、そのシリコンフォトダイオードアレイ
3の上部にシンチレータ5が透明接着剤4で接着されてい
る。シリコンフォトダイオードアレイ3は、チャンネル
方向およびスライス方向に配列されたシリコンフォトダ
イオード2から成り、シリコンフォトダイオード2の個数
は必要とされるX線検出素子7の個数に対応する。
In FIG. 1B and FIG. 1C, a silicon photodiode array 3 is formed on a printed board 1 and the silicon photodiode array 3 is formed.
A scintillator 5 is adhered to the upper part of 3 with a transparent adhesive 4. The silicon photodiode array 3 includes the silicon photodiodes 2 arranged in the channel direction and the slice direction, and the number of the silicon photodiodes 2 corresponds to the required number of the X-ray detection elements 7.

【0036】X線検出素子7はシンチレータ5とシリコン
フォトダイオード2から構成される。各X線検出素子7間
はチャンネル方向についてはチャンネル方向分離層13に
よって、スライス方向についてはスライス方向分離層14
によって分離されている。また、シンチレータ5の上面
には上面光反射層10が形成されている。チャンネル方向
分離層13、スライス方向分離層14および上面光反射層10
は光反射材から成る。ここで、シンチレータ5の材料と
しては、従来のシングルスライス型X線検出器と同様、
X線などの放射線を検知して発光する固体材料、例えば
BGOやGdWO4などが用いられる。シリコンフォトダイオー
ド2についてはこれに限定されず、他の光検出素子を用
いてもよい。シンチレータ5とシリコンフォトダイオー
ド2との間に介在する透明接着剤4は光透過率が良好で、
X線照射によって変色したり、接着強度が弱くなった
り、ひび割れなどの損傷を受けたりすることのない接着
剤が適当である。
The X-ray detecting element 7 comprises the scintillator 5 and the silicon photodiode 2. Between the X-ray detection elements 7, a channel direction separation layer 13 in the channel direction and a slice direction separation layer 14 in the slice direction.
Are separated by Further, an upper surface light reflecting layer 10 is formed on the upper surface of the scintillator 5. Channel direction separation layer 13, slice direction separation layer 14, and top light reflection layer 10
Is made of a light reflecting material. Here, the material of the scintillator 5 is the same as that of the conventional single slice type X-ray detector.
A solid material that emits light by detecting radiation such as X-rays, for example,
BGO or GdWO4 is used. The silicon photodiode 2 is not limited to this, and another photodetector may be used. The transparent adhesive 4 interposed between the scintillator 5 and the silicon photodiode 2 has a good light transmittance,
An adhesive that does not undergo discoloration by X-ray irradiation, decrease in adhesive strength, or damage such as cracks is suitable.

【0037】シンチレータ5とシリコンフォトダイオー
ド2との接着については、シンチレータ5が素材のシンチ
レータ板であったときに行われるもので、シンチレータ
板とシリコンフォトダイオードアレイ3との間で接着が
行われる。接着後、シンチレータ板の部分に、チャンネ
ル方向分離溝11およびスライス方向分離溝12がシリコン
フォトダイオードアレイ3を基準にして各シリコンフォ
トダイオード2の境界位置に対応付けて形成される。両
分離溝11、12の深さは、通常シンチレータ板の厚さを通
してシリコンフォトダイオードアレイ3にほぼ達する程
度の深さとなっている。しかし配線などとの関係で若干
浅くする場合もある。
The bonding between the scintillator 5 and the silicon photodiode 2 is performed when the scintillator 5 is a material scintillator plate, and the bonding is performed between the scintillator plate and the silicon photodiode array 3. After the bonding, a channel direction separation groove 11 and a slice direction separation groove 12 are formed in a portion of the scintillator plate in correspondence with a boundary position of each silicon photodiode 2 with reference to the silicon photodiode array 3. The depth of the two separation grooves 11 and 12 is generally such that it reaches almost the silicon photodiode array 3 through the thickness of the scintillator plate. However, it may be slightly shallower in relation to wiring and the like.

【0038】シンチレータ5の上面、チャンネル方向分
離溝11およびスライス方向分離溝12には光反射層10、1
3、14が形成される。この光反射層10、13、14はシンチ
レータ5がX線によって発光した際に、その発光を効率
良くシリコンフォトダイオード2などの光検出素子に伝
達し電気信号に変換するために、シンチレータ5から上
方または側方に光が漏洩するのを遮蔽する目的で設けら
れたもので、光反射率の良い材料が選ばれる。
On the upper surface of the scintillator 5, the channel direction separation groove 11 and the slice direction separation groove 12, light reflecting layers 10, 1 are provided.
3 and 14 are formed. When the scintillator 5 emits light by X-rays, the light reflecting layers 10, 13, and 14 are disposed above the scintillator 5 in order to efficiently transmit the light emission to a photodetector such as the silicon photodiode 2 and convert the light emission into an electric signal. Alternatively, a material which is provided for the purpose of shielding light from leaking to the side and has a high light reflectance is selected.

【0039】シンチレータ5の上面に形成される上面光
反射層10の光反射材としては、たとえばエポキン樹脂な
どに二酸化チタン(TiO2)や酸化バリウムなどの白色
材を加えた白色接着剤などがあげられる。樹脂や白色材
の選定にはX線減弱の小さいものやX線照射による性能
劣化の少ない材料が適当である。X線減弱の大きい材料
では、シンチレータ5に入射してくるX線が上面光反射
層10によって減弱されてしまうので、入射X線を効率良
く捕らえることができないからである。
The light reflecting material of the upper light reflecting layer 10 formed on the upper surface of the scintillator 5 is, for example, a white adhesive obtained by adding a white material such as titanium dioxide (TiO2) or barium oxide to an epoxy resin or the like. . For selection of a resin or a white material, a material having a small X-ray attenuation or a material having a small performance deterioration due to X-ray irradiation is suitable. This is because, in the case of a material having a large X-ray attenuation, the X-ray incident on the scintillator 5 is attenuated by the upper light reflection layer 10, so that the incident X-ray cannot be efficiently captured.

【0040】チャンネル方向分離溝11およびスライス方
向分離溝12にも、シンチレータ5の上面に形成されてい
る上面光反射層10と同様の光反射層を形成するため、光
反射材が充填され、各チャンネル間のチャンネル方向分
離層13および各スライス間のスライス方向分離層14が形
成される。チャンネル方向分離層13およびスライス方向
分離層14に用いる光反射材は、隣接するシンチレータ5
から漏れ込むX線のクロストークを防止するためのX線
遮蔽効果を持ち、高い光反射率とともに高いX線減弱率
を有する材料が好ましい。しかし、チャンネル方向分離
層13またはスライス方向分離層14を通過してくるX線の
クロストークの影響は比較的小さいことが知られている
ため、上面光反射層10の光反射材と同様なものを用いて
も特性上支障がない。
The channel direction separation groove 11 and the slice direction separation groove 12 are also filled with a light reflecting material in order to form a light reflecting layer similar to the upper surface light reflecting layer 10 formed on the upper surface of the scintillator 5. A channel direction separation layer 13 between channels and a slice direction separation layer 14 between slices are formed. The light reflecting material used for the channel direction separation layer 13 and the slice direction separation layer 14 is the adjacent scintillator 5
It is preferable to use a material that has an X-ray shielding effect for preventing cross-talk of X-rays leaking from the substrate and has a high light reflection factor and a high X-ray attenuation rate. However, since it is known that the influence of X-ray crosstalk passing through the channel-direction separation layer 13 or the slice-direction separation layer 14 is relatively small, a material similar to the light reflection material of the upper surface light reflection layer 10 is used. There is no problem in characteristics even if is used.

【0041】図1(b)において、X線検出素子アレイ8の
チャンネル方向の両端面は光反射層15にて覆われてい
る。また、図1(c)において、X線検出素子アレイ8のス
ライス方向の両端には、ガイド部材9が取り付けられて
いる。このガイド部材9はスライス方向両端のX線検出
素子7のシンチレータ5の側面に密着して、接着剤など
で、プリント基板1の上面に固定されている。ガイド部
材9のシンチレータ5に密着する面は光反射率を高くする
処理が施されている。あるいは、ガイド部材9自身を光
反射率の高い材料で作ってもよい。
In FIG. 1B, both end faces in the channel direction of the X-ray detecting element array 8 are covered with a light reflecting layer 15. In FIG. 1C, guide members 9 are attached to both ends of the X-ray detection element array 8 in the slice direction. The guide members 9 are closely attached to the side surfaces of the scintillator 5 of the X-ray detection elements 7 at both ends in the slice direction, and are fixed to the upper surface of the printed circuit board 1 with an adhesive or the like. The surface of the guide member 9 which is in close contact with the scintillator 5 is subjected to a process for increasing the light reflectance. Alternatively, the guide member 9 itself may be made of a material having a high light reflectance.

【0042】上記の如く、X線検出素子アレイ8の周囲
を光反射層15及びガイド部材9で覆うことにより、X線
検出素子アレイ8を構成する全てのX線検出素子7のシン
チレータ5は縦横(チャンネル方向およびスライス方
向)に格子状に分離されるとともに、その上面および側
面は光反射材で塗り固められて、密閉された構造になっ
ている。
As described above, by covering the periphery of the X-ray detecting element array 8 with the light reflecting layer 15 and the guide member 9, the scintillators 5 of all the X-ray detecting elements 7 constituting the X-ray detecting element array 8 are vertically and horizontally. (In the channel direction and the slice direction), they are separated in a grid pattern, and the top and side surfaces thereof are coated with a light reflecting material to form a closed structure.

【0043】また、ガイド部材9は後述の製造方法の実
施例で詳細に説明する如く、シンチレータ5と対向する
側には階段部を有し、この階段面と最上面が光反射層を
形成する際の基準面となる。すなわち、光反射材は2回
に分けて充填され、その1回目の充填で階段面が利用さ
れ、2回目の充填で最上面が利用される。図1(c)の
例では、上面光反射層10はガイド部材9の最上面の高さ
まで形成されている。
As will be described in detail in an embodiment of the manufacturing method described later, the guide member 9 has a step portion on the side facing the scintillator 5, and the step surface and the uppermost surface form a light reflecting layer. It becomes a reference plane for the case. That is, the light reflecting material is filled in two times, the first filling uses the step surface, and the second filling uses the top surface. In the example of FIG. 1C, the upper surface light reflecting layer 10 is formed up to the height of the uppermost surface of the guide member 9.

【0044】次に、図2を用いて、本発明のX線検出素
子アレイの製造方法の実施例について説明する。図2に
おいて、図2(a)は準備する部品を、図2(b)〜図2
(g)はそれぞれ工程1〜工程6を示す。
Next, an embodiment of a method for manufacturing an X-ray detecting element array according to the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 2, FIG. 2 (a) shows parts to be prepared, and FIGS.
(G) shows Step 1 to Step 6, respectively.

【0045】図2(a)は準備する部品を示す。工程1に
入る前に、シンチレータ板6とプリント基板1を準備す
る。プリント基板1の上面のX線検出素子アレイ8を形成
する位置には必要な個数のシリコンフォトダイオード2
から成る光検出素子アレイ(シリコンフォトダイオード
アレイ)3が形成されている。シンチレータ板6のチャン
ネル方向の幅は、光検出素子アレイ3のチャンネル方向
の幅(プリント基板1の幅)よりも大き目にしておく。
このシンチレータ板6の大き目の幅寸法は後工程で光検
出素子アレイ3の幅寸法に一致するように加工される。
FIG. 2A shows the parts to be prepared. Before entering step 1, the scintillator plate 6 and the printed circuit board 1 are prepared. The required number of silicon photodiodes 2 are placed on the upper surface of the printed circuit board 1 at the position where the X-ray detecting element array 8 is formed.
A photodetector array (silicon photodiode array) 3 is formed. The width of the scintillator plate 6 in the channel direction is set to be larger than the width of the photodetector array 3 in the channel direction (the width of the printed circuit board 1).
The large width dimension of the scintillator plate 6 is processed in a later step so as to match the width dimension of the photodetector array 3.

【0046】図2(b)は工程1を示す。工程1において
は、プリント基板1上の光検出素子アレイ3の上にシンチ
レータ板6を透明接着剤4にて接着する。透明接着剤4の
層は均一な厚さにする。この接着剤層4の厚さが場所に
よって異なると、光透過率が場所によって異なるため、
シンチレータ5で発光した光をシリコンフォトダイオー
ド2が正しく受光できなくなる。接着剤層4の厚さを均一
厚さに形成するためには、シンチレータ板6と光検出素
子アレイ3との接着後に、透明接着剤4が十分硬化するま
で上方から均等荷重をかけるなどしてやればよい。ま
た、接着剤層4には気泡や埃などの異物が混入しないよ
うにする。
FIG. 2B shows the step 1. In step 1, a scintillator plate 6 is bonded onto the photodetector array 3 on the printed circuit board 1 with a transparent adhesive 4. The layer of the transparent adhesive 4 has a uniform thickness. If the thickness of the adhesive layer 4 varies depending on the location, the light transmittance varies depending on the location,
The light emitted by the scintillator 5 cannot be correctly received by the silicon photodiode 2. In order to form the adhesive layer 4 to have a uniform thickness, after bonding the scintillator plate 6 and the photodetector array 3, a uniform load may be applied from above until the transparent adhesive 4 is sufficiently cured. Good. In addition, foreign substances such as air bubbles and dust are prevented from entering the adhesive layer 4.

【0047】上記接着作業において、光検出素子アレイ
3とシンチレータ板6の位置合わせは、チャンネル方向
についてはシンチレータ板6のチャンネル方向の両端部
が光検出素子アレイ3のチャンネル方向の幅よりほぼ均
等に若干出張るようにし、スライス方向についてはシン
チレータ板6のスライス方向の両端が光検出素子アレイ3
のスライス方向の長さに一致するように行う。
In the above-mentioned bonding operation, the photodetector array 3 and the scintillator plate 6 are aligned so that both ends of the scintillator plate 6 in the channel direction are almost evenly wider than the width of the photodetector array 3 in the channel direction. Slightly travel, and in the slice direction, both ends of the scintillator plate 6 in the slice direction are
To the length in the slice direction.

【0048】図2(c)は工程2を示す。図2(c)にお
いて、上図は外観図、下図は断面図である。工程2にお
いては、シンチレータ板6にスライス方向分離溝12を形
成する。スライス方向分離溝12はシンチレータ板6の上
面から所定の深さの位置に達するまで垂直に形成され
る。通常スライス方向分離溝12の深さは光検出素子アレ
イ3にほぼ達するまでの深さである。しかし、場合によ
っては、光検出素子アレイ3にまで達しない溝深さ、す
なわちシンチレータ板6の厚さの途中までの溝深さを選
んでもよい。例えば、スライス方向分離溝12が形成され
る光検出素子アレイ3の位置に信号取り出しパターンが
配線してある場合には、光検出素子アレイ3に達する溝
を形成すると、信号取り出しパターンを切断するおそれ
がある。しかし、いずれの場合にも、スライス方向分離
溝12は全て溝深さを揃えることが重要である。溝深さに
ばらつきがあると、各X線検出素子のスライス方向での
出力のばらつきが発生し、CT画像の画質の悪化を生じ
させることになる。
FIG. 2C shows the step 2. In FIG. 2C, the upper figure is an external view, and the lower figure is a cross-sectional view. In step 2, a slice direction separation groove 12 is formed in the scintillator plate 6. The slice direction separation groove 12 is formed vertically until it reaches a position at a predetermined depth from the upper surface of the scintillator plate 6. Normally, the depth of the slice direction separation groove 12 is a depth that almost reaches the photodetector array 3. However, in some cases, a groove depth that does not reach the light detection element array 3, that is, a groove depth halfway through the thickness of the scintillator plate 6 may be selected. For example, when a signal extraction pattern is wired at the position of the photodetector array 3 where the slice direction separation groove 12 is formed, if the groove reaching the photodetector array 3 is formed, the signal extraction pattern may be cut. There is. However, in any case, it is important that all the slice direction separation grooves 12 have the same groove depth. If there is a variation in the groove depth, a variation in the output of each X-ray detection element in the slice direction occurs, which causes deterioration in the image quality of the CT image.

【0049】また、スライス方向分離溝12の溝幅につい
ては、適当な幅寸法にすることが重要である。この溝幅
が大きい場合には、スライス方向の隣接するX線検出素
子への光の透過を十分小さくすることができるが、逆に
各X線検出素子のシンチレータ5の面積が溝幅を大きく
した分だけ小さくなるため、シンチレータ5の有効発光
領域が狭くなり、X線検出効率が低下する。また、この
溝幅が小さい場合には、有効発光領域を大きくすること
ができるが、スライス方向の隣接するX線検出素子への
光の透過が多くなってしまう。
It is important that the width of the slice-direction separation groove 12 is set to an appropriate width. When the groove width is large, transmission of light to adjacent X-ray detection elements in the slice direction can be sufficiently reduced, but conversely, the area of the scintillator 5 of each X-ray detection element increases the groove width. Since the size of the scintillator 5 becomes smaller, the effective light emitting area of the scintillator 5 becomes narrower, and the X-ray detection efficiency decreases. When the groove width is small, the effective light emitting area can be enlarged, but the light transmission to the adjacent X-ray detecting element in the slice direction increases.

【0050】また、スライス方向分離溝12は全て平行に
形成されていることが重要である。スライス方向分離溝
12が平行に形成されていないと、チャンネル間でX線検
出素子の出力にばらつきが生じる原因となり、CT画像
の画質の悪化を招くことになる。
It is important that the slice direction separation grooves 12 are all formed in parallel. Slice direction separation groove
If 12 are not formed in parallel, the output of the X-ray detection element will vary between channels, which will cause deterioration of the image quality of the CT image.

【0051】また、スライス方向分離溝12の本数および
位置は、X線検出器の目標とする性能仕様から決定され
るものであるが、通常光検出素子アレイ3に一致するよ
うに設定される。本数は1本または複数本である。複数
本ある場合には、全てのスライス方向分離溝12が平行に
並んでいることは重要であるが、等間隔に並んでいる必
要はなく、場合によっては不等間隔であってもよい。図
2(b)の場合には、3本のスライス方向分離溝12が等間
隔に並んでいる。スライス方向分離溝12の位置は光検出
素子のスライス方向境界位置に一致するように設定され
る。
The number and position of the slice direction separation grooves 12 are determined based on the target performance specifications of the X-ray detector, and are set so as to match the ordinary light detection element array 3. The number is one or more. When there are a plurality of slices, it is important that all the slice direction separation grooves 12 are arranged in parallel, but they need not be arranged at equal intervals, and may be unequal intervals in some cases. Figure
In the case of 2 (b), three slice direction separation grooves 12 are arranged at equal intervals. The position of the slice direction separation groove 12 is set to coincide with the slice direction boundary position of the photodetector.

【0052】図2(d)は工程3を示す。図2(d)にお
いて、上図は外観図、下図は断面図である。工程3にお
いては、シンチレータ板6のスライス方向の両端部に2個
のガイド部材9が接着される。ガイド部材9の材質は金属
やセラミックなどが選ばれる。このガイド部材9のシン
チレータ板6に接する面は光反射層として機能すること
が必要であるため、光を吸収してしまう黒色系ではな
く、光反射率の高い白色系の色をしている方がよい。こ
のため、ガイド部材9のシンチレータ板6に接する面に二
酸化チタンなどの白色材を光反射材として塗布したり、
ガイド部材9自体を白色材で作っている。シンチレータ
で発光した光を外部に逃がさず有効に利用するためであ
る。
FIG. 2D shows Step 3. In FIG. 2D, the upper figure is an external view, and the lower figure is a cross-sectional view. In step 3, two guide members 9 are bonded to both ends of the scintillator plate 6 in the slice direction. The material of the guide member 9 is selected from metals and ceramics. Since the surface of the guide member 9 which is in contact with the scintillator plate 6 needs to function as a light reflecting layer, the guide member 9 has a white color with a high light reflectance, not a black color that absorbs light. Is good. For this reason, a white material such as titanium dioxide is applied as a light reflecting material on the surface of the guide member 9 which is in contact with the scintillator plate 6,
The guide member 9 itself is made of a white material. This is because the light emitted by the scintillator is effectively used without escaping to the outside.

【0053】工程3の詳細を図3に示す。図3(a)、図3
(c)は断面図、図3(b)は上面図であり、図3(a)は
ガイド部材9を取り付ける途中の断面図で、図3(c)は
ガイド部材9を取り付けた後の断面図である。図示の如
く、ガイド部材9はシンチレータ板6に対向する側が階段
状に加工されている。このガイド部材9の階段面のおよ
び最上面が、後工程の反射層形成時の基準面となる。図
3(a)において、ガイド部材9の外形高さをA、内側の
階段面の高さをHとしたとき、これらの外形高さAおよび
階段面の高さHはシンチレータ板6とシリコンフォトダイ
オード2を接着した部分の高さhよりも大きく設定され
る。ガイド部材9の外形高さAとシンチレータ板6にシリ
コンフォトダイオード2を含めた厚さ(以下、シンチレ
ータ板等の厚さと略称する)hとの差d=A−hは最終的に
シンチレータ5の上面に形成される上面光反射層10の厚
さとなる。
FIG. 3 shows the details of step 3. FIG. 3 (a), FIG.
3 (c) is a cross-sectional view, FIG. 3 (b) is a top view, FIG. 3 (a) is a cross-sectional view in the process of mounting the guide member 9, and FIG. 3 (c) is a cross-section after the guide member 9 is mounted. FIG. As shown in the figure, the guide member 9 has a stepped shape on the side facing the scintillator plate 6. The step surface and the uppermost surface of the guide member 9 serve as reference surfaces when a reflective layer is formed in a later step. Figure
In FIG. 3A, assuming that the outer height of the guide member 9 is A and the height of the inner step surface is H, the outer height A and the height H of the step surface are the scintillator plate 6 and the silicon photodiode. The height is set to be larger than the height h of the portion where 2 is bonded. The difference d = A−h between the outer height A of the guide member 9 and the thickness h (hereinafter abbreviated as the thickness of the scintillator plate or the like) including the silicon photodiode 2 in the scintillator plate 6 is finally the scintillator 5 This is the thickness of the upper surface light reflecting layer 10 formed on the upper surface.

【0054】上面光反射層10の厚さdは、シンチレータ
5で発光した光が外部に漏れ出さないために必要な厚さ
に設定される。本実施例では、上面光反射層10は以下で
説明する如く2回に分けて形成され、1回目にはガイド部
材9の内側の階段面の高さHまで形成され、2回目にはガ
イド部材9の外形高さAまで形成される。しかし、この回
数は2回に限定されず、1回でもよい。
The thickness d of the upper surface light reflecting layer 10 is determined by the scintillator
The thickness is set to a thickness necessary for preventing the light emitted in step 5 from leaking out. In this embodiment, the upper surface light reflecting layer 10 is formed in two steps as described below, the first time it is formed up to the height H of the step surface inside the guide member 9, and the second time the guide member It is formed up to 9 external height A. However, the number of times is not limited to two, and may be one.

【0055】また、ガイド部材9の幅Bについては特に
制限はないが、プリント基板1に接着した時に十分な接
着強度の確保できる幅であれば十分である。また、内側
の階段面の幅Sは、次の工程4において加圧板21を載せる
ことができる幅であればよい。
Further, the width B of the guide member 9 is not particularly limited, but it is sufficient if the width B can secure a sufficient adhesive strength when the guide member 9 is adhered to the printed circuit board 1. Further, the width S of the inner step surface may be any width as long as the pressure plate 21 can be placed in the next step 4.

【0056】ガイド部材9をプリント基板1に接着する接
着剤はガイド部材9、シンチレータ板6、光検出素子アレ
イ3およびプリント基板1に対して親和性がよく、十分な
接着強度を持ち、X線による劣化を起こさないものがよ
い。この接着剤は、工程1においてシンチレータ板6と
光検出素子アレイ3との接着に用いた透明接着剤4でもよ
い。
The adhesive for adhering the guide member 9 to the printed board 1 has a good affinity for the guide member 9, the scintillator plate 6, the photodetector array 3, and the printed board 1, and has a sufficient adhesive strength. The one that does not cause deterioration due to is preferred. This adhesive may be the transparent adhesive 4 used for bonding the scintillator plate 6 and the photodetector array 3 in step 1.

【0057】ガイド部材9の接着位置に関しては、図3
(b)に示す如く、ガイド部材9の外側の側面G1、G2が
スライス方向分離溝12の中心線M1〜M3に平行になるよう
に接着する。このとき、シンチレータ板6の端面とガイ
ド部材9の内側の側面との間に隙間ができないように接
着する。この部分に隙間ができるとシンチレータからの
光の漏れ出しの原因となり、X線検出素子の感度ばらつ
きの発生の要因の一つとなる。
Regarding the bonding position of the guide member 9, see FIG.
As shown in (b), the outer side surfaces G1 and G2 of the guide member 9 are adhered so as to be parallel to the center lines M1 to M3 of the slice direction separation groove 12. At this time, bonding is performed such that no gap is formed between the end surface of the scintillator plate 6 and the inner side surface of the guide member 9. If a gap is formed in this portion, it causes leakage of light from the scintillator, and becomes one of the causes of the variation in sensitivity of the X-ray detection element.

【0058】更に、2個のガイド部材9の階段面S2が共
に同一の平面内にあり、シンチレータ板6の上面S1に対
してそれぞれ平行であることが重要である。何故なら
ば、2個のガイド部材9の階段面S2は、次の工程4におい
てシンチレータ板6の上面に光反射層10を形成するとき
の重要な基準面になるからである。
Further, it is important that the step surfaces S2 of the two guide members 9 are both in the same plane and are parallel to the upper surface S1 of the scintillator plate 6, respectively. This is because the step surface S2 of the two guide members 9 becomes an important reference surface when the light reflecting layer 10 is formed on the upper surface of the scintillator plate 6 in the next step 4.

【0059】次に、ガイド部材9の取り付け位置に関す
る他の実施例を図4に示す。図4において、図4(a)は
断面図、図4(b)は上面図である。図3の実施例では、
シンチレータ板6のスライス方向のスライス方向の両端
部に、ガイド部材9が隙間ができないように密着して固
定されているが、本実施例では、シンチレータ板6の両
端面とガイド部材9との間に幅Yの隙間16を設けてガイド
部材9がプリント基板1に接着される。本実施例の場合に
は、工程4においてスライス方向分離溝12に光反射材を
充填する際に、この隙間16についても光反射材が充填さ
れる。この結果、図3の実施例で、白色系のガイド部材
(または白色系の表面処理をしたガイド部材)9をシン
チレータ板6の両端面に密着した場合と同様な効果が得
られる。隙間16の幅Yの寸法については特に制限はない
が、2個の隙間16の幅Yは同じにした方がよい。
Next, another embodiment relating to the mounting position of the guide member 9 is shown in FIG. 4A is a sectional view, and FIG. 4B is a top view. In the embodiment of FIG.
At both ends of the scintillator plate 6 in the slicing direction in the slicing direction, the guide members 9 are fixed in close contact with each other so that there is no gap, but in this embodiment, the guide members 9 are provided between the both end surfaces of the scintillator plate 6 and the guide members 9. The guide member 9 is bonded to the printed board 1 with a gap 16 having a width Y provided. In the case of the present embodiment, when filling the slice direction separation groove 12 with the light reflecting material in the step 4, the gap 16 is also filled with the light reflecting material. As a result, the same effect as in the case of the embodiment of FIG. 3 where the white guide member (or the guide member having a white surface treatment) 9 is closely attached to both end surfaces of the scintillator plate 6 can be obtained. There is no particular limitation on the width Y of the gap 16, but it is preferable that the width Y of the two gaps 16 be the same.

【0060】図2(e)は工程4を示す。図2(e)に
おいて、上図は外観図、下図は断面図である。工程4に
おいては、シンチレータ板6の上面に上面反射層10が、
スライス方向分離溝12にスライス方向分離層14が形成さ
れる。シンチレータ板6の上面の上面光反射層10とスラ
イス方向分離層14を形成する光反射材の目的は通常同一
であることから、同一の光反射材が用いられる。しか
し、上面光反射層10とスライス方向分離層14とで別の光
反射材を用いてもよい。この場合には、光反射層の形成
を2回に分けて行うことになる。均一な上面光反射層10
を形成し、かつスライス方向分離溝12にも一様な光反射
層14を形成するためには以下に述べる加圧法が適当であ
る。この加圧法は、シンチレータ板6の上面に液状の光
反射材樹脂20を滴下し、加圧板21にて上方から均一な荷
重を加えて、均一な光反射層膜を形成する方法である。
ここで用いる光反射材樹脂20については、気泡や異物な
どが混入しないように十分注意する必要がある。
FIG. 2E shows Step 4. In FIG. 2E, the upper figure is an external view, and the lower figure is a sectional view. In step 4, the upper surface reflection layer 10 on the upper surface of the scintillator plate 6,
The slice direction separation layer 14 is formed in the slice direction separation groove 12. Since the purpose of the light reflecting material forming the upper surface light reflecting layer 10 on the upper surface of the scintillator plate 6 and the slice direction separating layer 14 is usually the same, the same light reflecting material is used. However, different light reflecting materials may be used for the upper surface light reflecting layer 10 and the slice direction separating layer 14. In this case, the formation of the light reflecting layer is performed twice. Uniform top light reflection layer 10
In order to form the light reflection layer 14 and also to form a uniform light reflection layer 14 in the slice direction separation groove 12, the pressing method described below is appropriate. This pressing method is a method in which a liquid light reflecting resin 20 is dropped on the upper surface of the scintillator plate 6 and a uniform load is applied from above by the pressing plate 21 to form a uniform light reflecting layer film.
In the light reflecting resin 20 used here, it is necessary to pay sufficient attention so that air bubbles and foreign substances are not mixed.

【0061】加圧法を用いた場合の工程4の詳細につい
て、図5から図7を用いて説明する。工程4は、図5に示す
工程4.1と、図6に示す工程4.2と、図7に示す工程4.3の3
つの小工程に分けられる。図5において、図5(a)は上
面図、図5(b)は断面図である。図5に示す工程4.1に
おいては、シンチレータ板6の上面の中央部に光反射材
樹脂20をスライス方向分離溝12に対して垂直方向に線状
に分布するように滴下する。この滴下された光反射材樹
脂20の分布は、次の工程4.2で光反射材樹脂20を加圧し
て拡げて行く際に、スライス方向分離溝12に光反射材樹
脂20が入り込み、シンチレータ板6の上面の中央部分か
ら端部に向かって光反射材樹脂20が流れていくようにす
るためのものである。このようにすることにより、光反
射材樹脂20はスライス方向分離溝12内の空気を押し出し
ながら流れ込んで行くために、スライス方向分離溝12内
に気泡を一切閉じ込めることなく充填することが可能と
なる。
The details of the step 4 when the pressurizing method is used will be described with reference to FIGS. Step 4 includes Step 4.1 shown in FIG. 5, Step 4.2 shown in FIG. 6, and Step 4.3 shown in FIG.
Divided into two sub-processes. 5A is a top view, and FIG. 5B is a cross-sectional view. In step 4.1 shown in FIG. 5, the light reflecting material resin 20 is dropped on the central portion of the upper surface of the scintillator plate 6 so as to be linearly distributed in the direction perpendicular to the slice direction separating groove 12. The distribution of the dropped light-reflecting material resin 20 is such that when the light-reflecting material resin 20 is expanded by pressing in the next step 4.2, the light-reflecting material resin 20 enters the slice direction separating groove 12 and the scintillator plate 6 This is for allowing the light reflecting material resin 20 to flow from the central portion of the upper surface toward the end. In this way, since the light reflecting material resin 20 flows in while pushing out the air in the slice direction separation groove 12, it becomes possible to fill the slice direction separation groove 12 without trapping any air bubbles. .

【0062】また、光反射材樹脂20の滴下量について
は、シンチレータ板6の上面およびスライス方向分離溝1
2に充填される光反射材の正味量に対して多めに、例え
ば1.5〜2倍にする。これは工程4.2で加圧して光反射材
樹脂20を拡げる際に、シンチレータ板6の隅々にまで光
反射材樹脂20が万遍なく均一に行きわたるようにするた
めに、正味量よりも多めに滴下する必要がある。光反射
材樹脂20を滴下するには適当な内径を持つシリンダなど
を利用するとよい。
The amount of the light reflecting material resin 20 dropped is determined by the upper surface of the scintillator plate 6 and the slice direction separating groove 1.
The amount is set to be larger than the net amount of the light reflecting material filled in 2, for example, 1.5 to 2 times. This is more than the net amount in order to spread the light-reflective resin 20 evenly and uniformly to every corner of the scintillator plate 6 when applying pressure in step 4.2 to spread the light-reflective resin 20. Need to be dropped. In order to drop the light reflecting material resin 20, a cylinder having an appropriate inner diameter may be used.

【0063】図6は工程4.2を示す断面図である。工程4.
2においては、光反射材樹脂20を加圧板21にて上方から
均一に加圧する。加圧板21の大きさについては、幅Wは
シンチレータ板6の幅Wと同じとし、長さLはシンチレー
タ板6の長さVより大きくし、シンチレータ板6の両端に
あるガイド部材9の階段面S2の部分に嵌合する長さとす
る。この階段面S2の幅をSとすると、加圧板21の長さLは
L=V+2Sとすればよい。
FIG. 6 is a sectional view showing step 4.2. Step 4.
In 2, the light reflecting material resin 20 is uniformly pressed from above by the pressing plate 21. Regarding the size of the pressure plate 21, the width W is the same as the width W of the scintillator plate 6, the length L is larger than the length V of the scintillator plate 6, and the step surfaces of the guide members 9 at both ends of the scintillator plate 6 The length should fit into the part of S2. Assuming that the width of the step surface S2 is S, the length L of the pressing plate 21 is
L = V + 2S may be set.

【0064】また、加圧については、加圧板21を水平に
保ちながらゆっくりと光反射材樹脂20を加圧して行き、
加圧板21がガイド部材9の階段面S2の部分に達するまで
加圧する。スライス方向分離溝12などから漏れ出した余
分な光反射材樹脂20は速やかに拭き取り、加圧板21の上
方から十分な荷重をかけた状態で光反射材樹脂20を硬化
させる。
As for the pressing, the light reflecting material resin 20 is slowly pressed while keeping the pressing plate 21 horizontal.
Pressure is applied until the pressure plate 21 reaches the step surface S2 of the guide member 9. Excess light reflecting material resin 20 leaked from the slice direction separation groove 12 and the like is quickly wiped off, and the light reflecting material resin 20 is cured while a sufficient load is applied from above the pressing plate 21.

【0065】図7は工程4.3を示す断面図である。工程4.
3においては、光反射材樹脂20が十分硬化した後に、加
圧板21を光反射材樹脂20から剥がして取り除く。この作
業は、ガイド部材9や加圧板21を破損しないようにゆっ
くりと行う。
FIG. 7 is a sectional view showing step 4.3. Step 4.
In 3, after the light reflecting material resin 20 is sufficiently cured, the pressure plate 21 is peeled off from the light reflecting material resin 20 and removed. This operation is performed slowly so that the guide member 9 and the pressure plate 21 are not damaged.

【0066】図2(f)は工程5を示す。工程5において
は、シンチレータ板6にチャンネル方向の分離をするた
めのチャンネル方向分離溝11を形成する。チャンネル方
向分離溝11は、シンチレータ板6の上面に形成された上
面光反射層10から光検出素子アレイ3に達するまでの深
さで溝加工される。チャンネル方向分離溝11の位置は光
検出素子2のチャンネル方向境界位置に一致するように
設定される。この工程5は、工程4が完了後十分時間を置
いて、工程4で形成した上面光反射層10が十分硬化した
ことを確認した後に溝加工作業を行う。また、この工程
5では、シンチレータ板6のチャンネル方向端部のチャン
ネル方向分離溝11を形成することにより、シンチレータ
板6の幅寸法は光検出素子アレイ3の幅寸法と一致するよ
うに加工される。
FIG. 2F shows Step 5. In step 5, a channel direction separation groove 11 for separating the scintillator plate 6 in the channel direction is formed. The channel direction separation groove 11 is grooved at a depth from the upper surface light reflection layer 10 formed on the upper surface of the scintillator plate 6 to reach the photodetector array 3. The position of the channel direction separation groove 11 is set so as to coincide with the boundary position of the photodetector 2 in the channel direction. In Step 5, after a sufficient time has elapsed after Step 4 is completed, after confirming that the upper surface light-reflective layer 10 formed in Step 4 has been sufficiently cured, a groove processing operation is performed. Also, this process
In 5, by forming the channel direction separation groove 11 at the end of the scintillator plate 6 in the channel direction, the width of the scintillator plate 6 is processed so as to match the width of the photodetector array 3.

【0067】上面光反射層10が十分硬化しないうちに溝
加工を行うと、まだ軟らかい光反射材樹脂20がチャンネ
ル方向分離溝11に入り込んでしまい、各チャンネルの感
度むらを起こし、特性のばらつきを発生させる原因にな
る。チャンネル方向分離溝11の深さは全ての溝において
そろっている必要はないが、光検出素子アレイ3まで十
分に達していることが必要である。チャンネル方向分離
溝11の深さが光検出素子アレイ3まで達することなく、
シンチレータ板6が完全に分離されていない場合にはチ
ャンネル間で感度ばらつきを発生させてしまう。
If the groove processing is performed before the upper surface light reflection layer 10 is sufficiently cured, the still soft light reflection material resin 20 enters the channel direction separation groove 11, causing the sensitivity unevenness of each channel and causing the characteristic variation. Cause it to occur. The depth of the channel direction separation groove 11 does not need to be uniform in all the grooves, but needs to reach the photodetection element array 3 sufficiently. Without the depth of the channel direction separation groove 11 reaching the photodetector array 3,
If the scintillator plate 6 is not completely separated, sensitivity variations will occur between channels.

【0068】チャンネル方向分離溝11の溝幅について
は、X線の利用効率を上げるために有効に利用できない
溝幅は小さくした方がよいが、溝幅が狭くなると隣接チ
ャンネルで発光した光がチャンネル方向分離溝11を透過
して漏れ込む、いわゆる光のクロストークが発生し、各
チャンネルで正しいX線検出を行うことができなくなる
ため、適当な溝幅を選定することが重要である。チャン
ネル方向分離溝11の長さについては、シンチレータ板6
を完全にチャンネル分離することが重要であり、このた
めにシンチレータ板6の両端部に接着したガイド部材9の
部分まで溝加工してもよい。
Regarding the groove width of the channel direction separation groove 11, it is better to reduce the width of the groove which cannot be used effectively in order to increase the efficiency of use of X-rays. It is important to select an appropriate groove width because so-called crosstalk of light, which leaks through the direction separation groove 11 and cannot be performed correctly in each channel, occurs. Regarding the length of the channel direction separation groove 11, the scintillator plate 6
It is important to completely separate the channels from each other, and for this purpose, a groove may be formed up to the guide member 9 bonded to both ends of the scintillator plate 6.

【0069】図2(g)は工程6を示す。図2(g)にお
いて、上図は外観図、下図は断面図である。工程6にお
いては、チャンネル方向分離溝11に光反射材樹脂20が充
填される。光反射材樹脂20の充填方法は、上記の工程4
と同様の方法で行われる。
FIG. 2G shows the step 6. In FIG. 2 (g), the upper figure is an external view, and the lower figure is a sectional view. In Step 6, the channel direction separation groove 11 is filled with the light reflecting material resin 20. The filling method of the light reflecting material resin 20 is the same as the above-described step 4
Is performed in the same manner as described above.

【0070】以下、工程6の詳細について図8から図11を
用いて説明する。工程6は、図8に示す工程6.1と、図9
に示す工程6.2と、図10に示す工程6.3と、図11に示す工
程6.4の4つの小工程に分けられる。
Hereinafter, the details of Step 6 will be described with reference to FIGS. Step 6 includes Step 6.1 shown in FIG.
, A step 6.3 shown in FIG. 10, and a step 6.4 shown in FIG.

【0071】図8(a)は工程6.1の上面図、図8(b)
は工程6.1の断面図である。工程6.1においては、先ずX
線検出素子アレイ8のチャンネル方向の両端部にガイド
板22を固定する。このガイド板22は、工程6.3にて光反
射材樹脂20をチャンネル方向分離溝11に充填する際に、
シンチレータ板6のチャンネル方向の両端部のチャンネ
ル方向分離溝11にも光反射材樹脂20が充填されるように
するためのガイド枠の役割を分担するものである。ガイ
ド板22の適当な長さPは、2個のガイド部材9間の距離、
すなわちV+2B(シンチレータ板の長さ+ガイド部材の幅
×2)よりも若干長めとする。また、ガイド板22の適当
な高さQは、ガイド部材9の高さ寸法をA、プリント基板1
の厚さ寸法をCとするとき、Q=A+Cとする。
FIG. 8A is a top view of step 6.1, and FIG.
Is a cross-sectional view of a step 6.1. In step 6.1, first, X
Guide plates 22 are fixed to both ends of the line detection element array 8 in the channel direction. When the guide plate 22 fills the channel direction separation groove 11 with the light reflecting resin 20 in step 6.3,
The role of a guide frame for filling the light reflecting material resin 20 into the channel direction separation grooves 11 at both ends of the scintillator plate 6 in the channel direction is also assumed. An appropriate length P of the guide plate 22 is a distance between the two guide members 9,
That is, it is slightly longer than V + 2B (the length of the scintillator plate + the width of the guide member × 2). The appropriate height Q of the guide plate 22 is such that the height dimension of the guide member 9 is A, and the printed board 1
When the thickness dimension of C is C, Q = A + C.

【0072】ガイド板22は、反りや表面のきずなどのな
いものとし、その材質としてはセラミックなどが適当で
ある。上記の如き形状、寸法の2個のガイド板22がシン
チレータ板6のチャンネル方向の両端部に、その稜辺が
ガイド部材9の基準面S3(最上面)に一致するように固定
される。
The guide plate 22 is free from warpage or surface flaws, and a suitable material is ceramic or the like. The two guide plates 22 having the shapes and dimensions as described above are fixed to both ends of the scintillator plate 6 in the channel direction such that the ridges thereof coincide with the reference surface S3 (uppermost surface) of the guide member 9.

【0073】図9は工程6.2を示す。図9(a)は上面
図、図9(b)は断面図である。工程6.2においては、シ
ンチレータ板6の上面の中央部に光反射材樹脂20をチャ
ンネル方向分離溝11に対して垂直方向に線状に分布する
ように滴下する。光反射材樹脂20の滴下位置がチャンネ
ル方向分離溝11の垂直方向にしているのは、工程4の場
合と同様に、光反射材樹脂20を加圧して拡げていく際
に、チャンネル方向分離溝11内の空気を順次追い出しな
がら気泡を閉じ込めずに、光反射材樹脂20を溝の端部ま
で流し込んで行くためである。滴下する光反射材樹脂20
の量は、シンチレータ板6の上面に形成される上面光反
射層10の厚さおよびチャンネル方向分離溝11に形成され
るチャンネル方向分離層13を作るのに必要とする光反射
材樹脂20の合計正味量よりも多めに、例えば1.5〜2倍に
する。
FIG. 9 shows step 6.2. FIG. 9A is a top view, and FIG. 9B is a cross-sectional view. In step 6.2, the light reflecting material resin 20 is dropped at the center of the upper surface of the scintillator plate 6 so as to be linearly distributed in the direction perpendicular to the channel direction separation groove 11. The reason why the light reflection material resin 20 is dropped in the direction perpendicular to the channel direction separation groove 11 is that, when the light reflection material resin 20 is pressed and spread, as in the case of the step 4, the channel direction separation groove is formed. This is because the light reflecting material resin 20 flows to the end of the groove without trapping air bubbles while sequentially expelling the air in 11. Light-reflective material resin 20 to be dropped
Is the total thickness of the upper surface light reflection layer 10 formed on the upper surface of the scintillator plate 6 and the light reflection material resin 20 required to form the channel direction separation layer 13 formed in the channel direction separation groove 11. More than the net amount, for example, 1.5 to 2 times.

【0074】図10は工程6.3を示す断面図である。工程
6.3においては、光反射材樹脂20を加圧板21にて上方か
ら均一に加圧する。ここで使用する加圧板21は工程4で
使用したものと同様のものでよいが、工程6.3で使用す
る加圧板21の長さ寸法はV+2Bとし、工程4で使用したも
のより若干長くする。ここで、シンチレータ板6の長さ
寸法はV、ガイド部材9の幅寸法はBである。
FIG. 10 is a sectional view showing step 6.3. Process
In 6.3, the light reflecting material resin 20 is uniformly pressed from above by the pressing plate 21. The pressure plate 21 used here may be the same as that used in step 4, but the length of the pressure plate 21 used in step 6.3 is set to V + 2B and slightly longer than that used in step 4. . Here, the length of the scintillator plate 6 is V, and the width of the guide member 9 is B.

【0075】また、加圧については、加圧板21がガイド
部材9の基準面S3に達するまでゆっくりと均一に加圧し
ていく。チャンネル方向分離溝11などから漏れ出した余
分な光反射材樹脂20は速やかに拭きとり、一定荷重をか
けた状態で光反射材樹脂20を硬化させる。
As for the pressing, the pressing is performed slowly and uniformly until the pressing plate 21 reaches the reference surface S3 of the guide member 9. Excess light reflecting material resin 20 leaked from the channel direction separation groove 11 or the like is quickly wiped off, and the light reflecting material resin 20 is cured while a constant load is applied.

【0076】図11は工程6.4を示す断面図である。工程
6.4においては、光反射材樹脂20が十分硬化した後に、
加圧板21およびガイド板22を光反射材樹脂20から剥がし
て取り除く。工程4の場合と同様に、加圧板21、ガイド
部材9およびガイド板22が破損したり、またシンチレー
タ5の上面の上面光反射層10やシンチレータ5の側面の光
反射層15を傷つけたりしないように注意しながらゆっく
りと加圧板21およびガイド板22を剥離していく。
FIG. 11 is a sectional view showing a step 6.4. Process
In 6.4, after the light reflector resin 20 is sufficiently cured,
The pressure plate 21 and the guide plate 22 are peeled off from the light reflecting material resin 20 and removed. As in the case of the step 4, the pressing plate 21, the guide member 9 and the guide plate 22 are not damaged, and the light reflecting layer 15 on the upper surface of the scintillator 5 and the light reflecting layer 15 on the side surface of the scintillator 5 are not damaged. Carefully, the pressure plate 21 and the guide plate 22 are peeled off slowly.

【0077】以上の工程1から工程6の製造方法により、
チャンネル方向およびスライス方向にそれぞれ複数個の
X線検出素子が配列されたX線検出素子アレイが製造さ
れる。このX線検出素子アレイを図13と同様にX線管の
焦点を中心とする円弧上にポリゴン状に配列することに
より本発明のX線CT装置用X線検出器(マルチスライ
ス型X線検出器)が得られる。
According to the manufacturing method of the above steps 1 to 6,
An X-ray detection element array in which a plurality of X-ray detection elements are arranged in the channel direction and the slice direction, respectively, is manufactured. By arranging this X-ray detecting element array in a polygonal shape on an arc centered on the focal point of the X-ray tube as in FIG. 13, the X-ray detector for the X-ray CT apparatus of the present invention (multi-slice type X-ray detecting apparatus) Container) is obtained.

【0078】本発明のX線CT装置用X線検出器は、X
線検出器容器に収納して従来品と同様X線CT装置に容
易に組み込むことができる。本発明のX線検出器をX線
CT装置に適用することにより、1回のスキャンで複数
枚の高画質のCT画像を取得できるX線CT装置を実現
することができる。
The X-ray detector for an X-ray CT apparatus according to the present invention
It can be housed in a X-ray detector container and easily incorporated into an X-ray CT apparatus like a conventional product. By applying the X-ray detector of the present invention to an X-ray CT apparatus, an X-ray CT apparatus capable of acquiring a plurality of high-quality CT images in one scan can be realized.

【0079】[0079]

【発明の効果】以上説明した如く、本発明によれば、X
線検出器を構成するX線検出素子アレイのX線検出素子
を構成するシンチレータを1枚のシンチレータ板から分
割し、シンチレータの上面および側面に均一な光反射層
を形成する構造をとることによって、個々のX線検出素
子によってシンチレータの感度に差が生じること、シン
チレータの上面および側面での光反射率に差が生じるこ
とに起因する出力特性のばらつきが解消され、高性能、
高精度のX線CT装置用X線検出器が得られる。
As described above, according to the present invention, X
By dividing the scintillator constituting the X-ray detection element of the X-ray detection element array constituting the X-ray detector from one scintillator plate, by taking a structure to form a uniform light reflection layer on the top and side surfaces of the scintillator, Variations in output characteristics caused by differences in the sensitivity of the scintillator due to individual X-ray detection elements and differences in light reflectance on the top and side surfaces of the scintillator are eliminated, and high performance and
A highly accurate X-ray detector for an X-ray CT apparatus can be obtained.

【0080】また、本発明の製造方法によれば、光反射
材を加圧して光反射層を形成することによって、シンチ
レータの上面および側面に厚さが均一で一様な光反射層
を形成することが容易に行うことができる。
Further, according to the manufacturing method of the present invention, the light reflecting material is pressed to form the light reflecting layer, so that the light reflecting layer having a uniform thickness is formed on the upper surface and the side surface of the scintillator. Can be done easily.

【0081】また、本発明のX線検出器をX線CT装置
に適用することにより、1スキャン当りに撮影できるC
T画像数の増加およびCT画像の高画質化を達成するこ
とができる。
Also, by applying the X-ray detector of the present invention to an X-ray CT apparatus, C
It is possible to increase the number of T images and improve the quality of CT images.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のX線CT装置用X線検出器の第1の実
施例。
FIG. 1 is a first embodiment of an X-ray detector for an X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図2】本発明のX線検出素子アレイの製造方法の実施
例。
FIG. 2 is an embodiment of a method for manufacturing an X-ray detection element array according to the present invention.

【図3】工程3(ガイド部材の取り付け)の詳細を示す
図。
FIG. 3 is a view showing details of a step 3 (attachment of a guide member).

【図4】工程3の他の実施例を示す図。FIG. 4 is a view showing another example of step 3.

【図5】工程4.1(光反射材樹脂の滴下)を示す図。FIG. 5 is a view showing a step 4.1 (dropping of a light reflecting material resin).

【図6】工程4.2(光反射材樹脂の加圧)を示す図。FIG. 6 is a view showing a step 4.2 (pressing a light reflecting material resin).

【図7】工程4.3(加圧板の剥離)を示す図。FIG. 7 is a view showing a step 4.3 (peeling of a pressure plate).

【図8】工程6.1(ガイド板の取り付け)を示す図。FIG. 8 is a view showing step 6.1 (attachment of a guide plate).

【図9】工程6.2(光反射材樹脂の滴下)を示す図。FIG. 9 is a view showing a step 6.2 (dropping of a light reflecting material resin).

【図10】工程6.3((光反射材樹脂の加圧)を示す図。FIG. 10 is a view showing a step 6.3 ((Pressure of light reflecting material resin));

【図11】工程6.4(加圧板、ガイド板の剥離)を示す
図。
FIG. 11 is a view showing a step 6.4 (peeling of a pressure plate and a guide plate).

【図12】マルチスライス型X線検出器の概略図。FIG. 12 is a schematic diagram of a multi-slice X-ray detector.

【図13】シングルスライス型X線検出器の全体構造を示
す概略図。
FIG. 13 is a schematic diagram showing the entire structure of a single-slice X-ray detector.

【図14】シングルスライス型X線検出器を構成するX線
検出素子アレイの外観図および断面図。
FIG. 14 is an external view and a cross-sectional view of an X-ray detection element array included in a single-slice X-ray detector.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,120…2プリント基板 2,117…シリコンフォトダイオ−ド(光検出素子) 3…シリコンフォトダイオードアレイ(光検出素子アレ
イ) 4,121…透明接着剤(接着剤層) 5,116…シンチレータ(シンチレータ素子) 6…シンチレータ板 7,115…X線検出素子 8,112…X線検出素子アレイ 9…ガイド部材 10…上面光反射層 11,118…チャンネル方向分離溝 12…スライス方向分離溝 13…チャンネル方向分離層 14…スライス方向分離層 15…光反射層 16…隙間 20…光反射材樹脂 21…加圧板 22…ガイド板 101…X線管 102…被検体 103…マルチスライス型X線検出器 104…X線ビーム 105…X線検出素子列 110…シングルスライス型X線検出器 111…光反射フィルム 113…X線検出器容器 119…金属板 122…光検出素子アレイ 123…シンチレータ板
1,120 ... 2 Printed circuit board 2,117 ... Silicon photodiode (photodetector) 3 ... Silicon photodiode array (photodetector array) 4,121 ... Transparent adhesive (adhesive layer) 5,116 ... Scintillator (Scintillator element) 6 ... Scintillator plate 7, 115 ... X-ray detection element 8, 112 ... X-ray detection element array 9 ... Guide member 10 ... Top light reflection layer 11, 118 ... Channel direction separation groove 12 ... Slice direction separation groove 13 … Channel direction separation layer 14… slice direction separation layer 15… light reflection layer 16… gap 20… light reflection material resin 21… pressure plate 22… guide plate 101… X-ray tube 102… subject 103… multi-slice X-ray detection Detector 104 X-ray beam 105 X-ray detector array 110 Single-slice X-ray detector 111 Light reflection film 113 X-ray detector container 119 Metal plate 122 Photodetector array 123 Scintillator plate

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入射した放射線を検知して発光するシン
チレータと、シンチレータでの発光を受光することによ
りシンチレータが検知した放射線の線量に対応する出力
信号を発生する光検出素子とを組み合せたX線検出素子
をほぼ円弧状に複数個配列したX線検出素子列(この配
列方向を以下チャンネル方向という)を、チャンネル方
向と直交する方向(以下、スライス方向という)に複数
列配列するX線CT装置用X線検出器において、各X線
検出素子間をチャンネル方向およびスライス方向に分離
するためのチャンネル方向分離溝およびスライス方向分
離溝をシンチレータ部分に設け、該分離溝の深さを光検
出素子にほぼ達するまでの深さとし、各X線検出素子の
シンチレータの上面、チャンネル方向分離溝およびスラ
イス方向分離溝に光反射材を被覆または充填して光反射
層としたことを特徴とするX線CT装置用X線検出器。
An X-ray combining a scintillator that detects incident radiation and emits light, and a photodetector that receives an emission from the scintillator and generates an output signal corresponding to the radiation dose detected by the scintillator. An X-ray CT apparatus in which a plurality of X-ray detection element rows in which a plurality of detection elements are arranged in a substantially arc shape (this arrangement direction is hereinafter referred to as a channel direction) are arranged in a plurality of rows in a direction orthogonal to the channel direction (hereinafter referred to as a slice direction). In the X-ray detector for use, a channel direction separation groove and a slice direction separation groove for separating each X-ray detection element in the channel direction and the slice direction are provided in the scintillator portion, and the depth of the separation groove is set in the photodetection element. The depth is set to almost reach, and light is applied to the upper surface of the scintillator of each X-ray detector, the channel direction separation groove and the slice direction separation groove. An X-ray detector for an X-ray CT apparatus, wherein a light reflecting layer is formed by coating or filling a reflecting material.
【請求項2】 プリント基板上に複数の光検出素子をチ
ャンネル方向およびスライス方向に配列して形成した光
検出素子アレイの上面にシンチレータ板を接着固定する
第1のステップと、光検出素子のスライス方向の各スラ
イス境界位置に対応してシンチレータ板に光検出素子ア
レイにほぼ達するまでの深さのスライス方向分離溝を形
成する第2のステップと、シンチレータ板のスライス方
向両端部に高さの基準面を確保するためのガイド部材を
接着する第3のステップと、ガイド部材を基準にして、
シンチレータ板の上面およびスライス方向分離溝に光反
射材を充填して、シンチレータ板の上面の光反射層およ
びスライス方向分離層を形成する第4のステップと、光
検出素子のチャンネル方向の各チャンネル境界位置に対
応してシンチレータ板に光検出素子アレイにほぼ達する
までのチャンネル方向分離溝を形成する第5のステップ
と、ガイド部材を基準にして、チャンネル方向分離溝に
光反射材を充填して、チャンネル方向分離層を形成する
第6のステップとを含むX線CT装置用X線検出器の製
造方法。
2. A first step of adhesively fixing a scintillator plate on an upper surface of a photodetector array formed by arranging a plurality of photodetectors in a channel direction and a slice direction on a printed circuit board, and slicing the photodetector. A second step of forming a slice-direction separation groove of a depth until reaching the photodetector array in the scintillator plate corresponding to each slice boundary position in the direction, and a height reference at both ends of the scintillator plate in the slice direction. A third step of bonding a guide member for securing a surface, and based on the guide member,
A fourth step of filling the upper surface of the scintillator plate and the slice direction separating groove with a light reflecting material to form a light reflecting layer and a slice direction separating layer on the upper surface of the scintillator plate, and each channel boundary in the channel direction of the photodetector. Fifth step of forming a channel direction separation groove in the scintillator plate corresponding to the position until the light detection element array is almost reached, and, based on the guide member, filling the channel direction separation groove with a light reflecting material, And a sixth step of forming a channel direction separation layer.
【請求項3】 X線検出器を用いて被検体を透過したX
線を検出してCT画像を得るX線CT装置において、前
記X線検出器が請求項1記載のX線CT装置用X線検出
器であることを特徴とするX線CT装置。
3. An X-ray transmitted through a subject using an X-ray detector.
2. An X-ray CT apparatus for detecting a line to obtain a CT image, wherein the X-ray detector is the X-ray detector for an X-ray CT apparatus according to claim 1.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002311142A (en) * 2001-04-18 2002-10-23 Toshiba Corp Method of manufacturing x-ray solid-state detector and x-ray ct apparatus
JP2013039363A (en) * 2011-08-12 2013-02-28 General Electric Co <Ge> Low resolution scintillating array for ct imaging and method of implementing the array
CN104023641A (en) * 2012-08-29 2014-09-03 株式会社东芝 X-Ray Detection Sub-Module, X-Ray Detection Module, And X-Ray Ct Apparatus
JP2016176722A (en) * 2015-03-18 2016-10-06 キヤノン株式会社 Sensor panel and radiation imaging system
CN113167916A (en) * 2018-11-30 2021-07-23 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 Radiation detection device with reflector
US11213264B2 (en) * 2015-11-23 2022-01-04 University Of Virginia Patent Foundation Positron emission tomography systems and methods
US11662481B2 (en) 2017-10-24 2023-05-30 Luxium Solutions, Llc Radiation detection apparatus having an analyzer within a housing

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002311142A (en) * 2001-04-18 2002-10-23 Toshiba Corp Method of manufacturing x-ray solid-state detector and x-ray ct apparatus
JP2013039363A (en) * 2011-08-12 2013-02-28 General Electric Co <Ge> Low resolution scintillating array for ct imaging and method of implementing the array
CN104023641A (en) * 2012-08-29 2014-09-03 株式会社东芝 X-Ray Detection Sub-Module, X-Ray Detection Module, And X-Ray Ct Apparatus
JP2016176722A (en) * 2015-03-18 2016-10-06 キヤノン株式会社 Sensor panel and radiation imaging system
US11213264B2 (en) * 2015-11-23 2022-01-04 University Of Virginia Patent Foundation Positron emission tomography systems and methods
US11662481B2 (en) 2017-10-24 2023-05-30 Luxium Solutions, Llc Radiation detection apparatus having an analyzer within a housing
CN113167916A (en) * 2018-11-30 2021-07-23 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 Radiation detection device with reflector
JP2022511442A (en) * 2018-11-30 2022-01-31 サン-ゴバン セラミックス アンド プラスティクス,インコーポレイティド Radiation detector with reflector
EP3887867A4 (en) * 2018-11-30 2022-11-02 Saint-Gobain Ceramics & Plastics Inc. Radiation detection apparatus having a reflector
JP7204920B2 (en) 2018-11-30 2023-01-16 サン-ゴバン セラミックス アンド プラスティクス,インコーポレイティド Radiation detector with reflector
US11726216B2 (en) 2018-11-30 2023-08-15 Luxium Solutions, Llc Radiation detection apparatus having a reflector

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