JP2000247782A - 単結晶の製造方法および製造装置 - Google Patents

単結晶の製造方法および製造装置

Info

Publication number
JP2000247782A
JP2000247782A JP11051532A JP5153299A JP2000247782A JP 2000247782 A JP2000247782 A JP 2000247782A JP 11051532 A JP11051532 A JP 11051532A JP 5153299 A JP5153299 A JP 5153299A JP 2000247782 A JP2000247782 A JP 2000247782A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
furnace
temperature
region
pulling
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP11051532A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoji Yamashita
洋二 山下
Jisaburo Ushizawa
次三郎 牛沢
Sadao Matsumura
禎夫 松村
Isamu Shindo
勇 進藤
Shinji Kimura
伸二 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Crystal Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Crystal Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Crystal Systems Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP11051532A priority Critical patent/JP2000247782A/ja
Publication of JP2000247782A publication Critical patent/JP2000247782A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 引き上げ法での単結晶の製造において、(1)
引き上げ機の実質稼動率の向上による生産性の大幅向
上、(2) 貴金属部材の寿命の大幅向上、耐火物部材の寿
命の大幅向上、および冷却過程での単結晶のクラックフ
リー率の向上による製造コストの低減、をはかること。 【解決手段】 第一育成炉1内で貴金属るつぼ5内に収
容された単結晶原料の融液に種結晶を接触させて融液か
ら単結晶を引き上げる際に、引き上げられた単結晶を第
一育成炉内で保温炉に収容し、この状態で第二育成炉2
に移動させ、ここで徐冷させる。貴金属るつぼ5には、
実質的に第一育成炉1内の温度を低下させることなく単
結晶原料を補給して溶融させ、次の単結晶引き上げを行
う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、るつぼ内の溶融原
料より単結晶を引き上げる単結晶の製造方法および製造
装置に係り、特に弾性表面波素子や光学素子の基板とし
て用いられるタンタル酸リチウム(LiTaO3 )単結
晶やニオブ酸リチウム(LiNbO3 )単結晶のような
酸化物単結晶製造の貴金属るつぼの改鋳コストを低減さ
せるとともに生産性を向上させて単結晶の生産コストを
低減させ、併せて単結晶の割れを減少させた単結晶の製
造方法および製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に単結晶は、窒素やアルゴン等の不
活性ガス雰囲気とした育成炉内に単結晶原料を収容した
るつぼを設置し、引上げ軸の先端に固定した種結晶をる
つぼ内の融液に接触させ、引き上げ軸を回転し引き上げ
ながら単結晶を育成するチヨクラルスキー法により製造
されている。
【0003】また、夕ンタル酸リチウムやニオブ酸リチ
ウム等の酸化物単結晶は融点が高いことから、チヨクラ
ルスキー法に使用するるつぼとしては、白金、白金一ロ
ジウムあるいはイリジウムのような貴金属るつぼが用い
られている。
【0004】これらの酸化物単結晶の引き上げにおいて
は、るつぼ内に収容した単結晶原料の融液の半分程度が
引き上げられて消費された状態で、引き上げられた単結
晶が育成炉内で育成炉とともに徐冷された後取り出され
る。
【0005】そして、るつぼ内に残った固化した単結晶
原料には、引き上げで消費した分の粉末状の単結晶原料
が追加され再度溶融されて次の引き上げが行われてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の方法
では、るつぼ内に残つた融液を固化させるとるつぼに変
形が生じ、単結晶原料の溶融、固化を繰り返すにつれて
るつぼの変形が甚だしくなり、変形がひどくなったとこ
ろでるつぼを改鋳し作り直さなくてはならないという問
題があった。すなわち、貴金属はそれ自体高価な材料で
あるが、改鋳費用も高価であり、この改鋳費用が単結晶
製造のコストを上昇させる要因の一つとなっていた。
【0007】また、昇温−冷却のヒートサイクルを繰り
返すことにより、引き上げ炉内の保温材として用いてい
る耐火物もヒートシヨック割れが生じやすくなり、耐火
物の寿命も短くなってしまい、これも、単結晶製造のコ
スト上昇要因となっていた。さらに、単結晶引き上げ終
了後の結晶の冷却工程は、単結晶が冷却中の熱応力によ
り割れ易いため通常1日程度あるいはそれ以上の長時間
を要しており、結晶引き上げ装置の稼働率を下げて生産
性を落とす原因となっていた。
【0008】さらにまた育成結晶の冷却を引き上げ炉内
で行うため、冷却中の結晶には炉内温度分布に対応する
熱応力がかかるため、均一な温度分布で結晶冷却を行う
場合に比べれば、結晶が割れ易い、という問題があっ
た。
【0009】本発明はかかる従来の難点を解消すべくな
されたものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の単結晶の製造方
法は、高温の第1の領域内で貴金属るつぼ内に収容され
た単結晶原料の融液に種結晶を接触させて前記融液から
単結晶を引き上げる工程と、前記引き上げられた単結晶
を第1の領域内で可動の保温炉に収容する工程と、前記
可動の保温炉に収容された単結晶を前記第1の領域より
は温度が低く環境温度よりは温度の高い第2の領域に移
動して徐冷する工程と、前記貴金属るつぼ内に前記第1
の領域の温度を実質的に下げることなく単結晶原料を補
給して溶融する工程とを有し、以上の工程を繰り返すこ
とにより前記第1の領域の温度を実質的に下げることな
く繰り返し単結晶の引き上げを行うことを特徴とする。
【0011】このように、貴金属るつぼ内の単結晶原料
の融液を固化させずに、単結晶原料が補給されて次の引
き上げが行われるので、貴金属るつぼに変形が生じるこ
とがなく、長期に亙って使用可能となる。
【0012】また、単結晶を取り出すたびに昇温−冷却
のヒートサイクルが繰り返されることがなくなるので、
引き上げ炉内の保温材の耐火物のヒートショック割れが
なくなる。
【0013】さらに、単結晶を取り出すために第1の領
域の温度を下げる必要がなくなるので、引き続いて単結
晶の引き上げを行うことが可能となる。
【0014】また、単結晶の冷却を保温炉内で行うた
め、冷却中の結晶に炉内温度分布に対応する熱応力がか
かることがなくなる。
【0015】育成された単結晶を保温炉に収容した状態
で、直ちにただちに第2の領域に移動させることによ
り、単結晶は第2の領域においても第1の領域で徐冷し
たのと同様の冷却速度で徐冷することが可能である。
【0016】また、第1の領域の温度を下げることなく
単結晶を第1の領域から第2の領域に移動させることに
より、るつぼ内に歪み残りの単結晶原料の融液を固化さ
せることなく、るつぼに単結晶原料を補給することが可
能になり、単結晶原料の溶融後引き続いて単結晶の引き
上げを行うことができ、単結晶製造の生産性が向上す
る。
【0017】前記第2の領域は、一般に第1の領域の上
方に位置しており、育成された単結晶は保温炉に収容さ
れた状態で第2の領域に移動させることができる。
【0018】第1の領域はるつぼが配置される高温の領
域であり、第2の領域は高温ではあるが第1の領域より
低い温度の領域とされている。
【0019】第1の領域と第2の領域間には開閉可能な
遮蔽扉が配設させることができる。この開閉可能な遮蔽
扉は、るつぼへの原料の投入時と原料の溶融時は閉鎖し
ておくことが望ましい。このように、第1の領域と第2
の領域とを遮蔽扉で閉鎖しておくことにより、第1の領
域の温度が低下するのを防ぐことができる。
【0020】本発明に使用される保温炉は、育成された
単結晶を外側から間隔をおいて包囲する形状とされ、例
えば下方が開放された釣り鐘型や単結晶を両側から挟み
込む二つ割形状とすることができる。このような保温炉
は、例えば耐熱金属製または耐熱金属製の外殻の内面に
ロックウールのような断熱材を内張りして構成される。
好ましくは、保温炉には所定の温度に保持する温度調
節装置が設けられる。そして、単結晶収容時の保温炉の
温度は、単結晶原料の融液の温度をTm °Kとしたと
き、(0.7〜1)Tm °Kの範囲に設定される。
【0021】この保温炉には独自の移動機構を設けるこ
とができる。このような保温炉では、第1の領域におい
て単結晶の外周を保温炉で覆った後、単結晶の引き上げ
軸を上昇させて第2の領域に移動させる際、保温炉も単
結晶の移動に同期させて移動させ、単結晶を保温炉で包
囲した状態のまま第1の領域から第2の領域へ移動させ
ることができる。
【0022】以上説明したように、引き上げられた単結
晶は、第1の領域内において保温炉内に収容され、保温
炉内の温度分布を均一な状態として第2の領域へ移動さ
れ、次いで外部へ搬出されるが、その過程を通じて単結
晶は必要な時間をかけて徐冷され割れのない単結晶が得
られる。
【0023】本発明は、特に弾性表面波素子や光学素子
の基板として用いられるタンタル酸リチウム(LiTa
3 )やニオブ酸リチウム(LiNbO3 )のような融
点の高い酸化物単結晶の製造に好適している。
【0024】本発明の単結晶製造装置は、内部を高温雰
囲気に保持する育成炉と、前記育成炉内に配置された貴
金属るつぼと、前記貴金属るつぼに収容された単結晶原
料の融液より単結晶を引き上げる引上げ軸と、前記育成
炉内で上下動可能とされ、かつ前記育成炉外へ取り出し
可能に構成された前記単結晶を覆う保温炉と、前記貴金
属るつぼに前記育成炉外から前記単結晶原料を供給する
装置とを具備してなることを特徴とする。
【0025】育成炉は、単結晶を引き上げ成長させる高
温の第1育成炉と、第1育成炉の上部に配置された、保
温炉と保温炉内に収容された単結晶を一旦収容するため
の第2育成炉の上下2室構造に構成することが好まし
い。このように構成することにより、単結晶取り出し時
における貴金属るつぼと第1育成炉の温度の低下を防ぐ
ことができる。
【0026】また、第一育成炉と第二育成炉間には、第
一育成炉と第二育成炉を仕切るためのゲートバルブを設
けることがより望ましい。このゲートバルブは、第一育
成炉から第二育成炉へ保温炉に収容された単結晶を搬出
する際閉鎖される。
【0027】第一育成炉内に配置される貴金属るつぼの
上部には、保温筒が同軸的に設けられるが、その保温筒
の直上部に移動式の隔離板を設けることもできる。単結
晶原料を溶融する際、保温筒の直上部を隔離板で覆うこ
とにより、放熱を抑制して単結晶原料の溶融を促進する
ことができる。
【0028】この単結晶製造装置には、第一育成炉外か
ら貴金属るつぼに単結晶の原料粉末を補給する装置が設
けられている。この装置は、第一育成炉を貫通して貴金
属るつぼに対して進退する案内管と、この案内管に単結
晶の原料粉末を定量送入する定量供給装置とから構成さ
れている。案内管は常時は第一育成炉の隔壁際まで後退
している。
【0029】なお、育成炉は、第一育成炉、第二育成炉
ともにアルゴンガスなどによる不活性ガス雰囲気とされ
ている。
【0030】
【作 用】第一育成炉に配置された貴金属るつぼに、単
結晶原料が収容され、誘導炉により融点よりややた高い
温度で溶融する。次いで、貴金属るつぼ内の融液に引き
上げ軸の先端に固定された種結晶を接触させて、引き上
げ軸をゆっくりと回転させながら引き上げることにより
先端の種結晶から単結晶が成長する。
【0031】単結晶原料を溶融するとき、るつぼ上部に
設置された保温筒直上を移動可能な隔離板で閉鎖するよ
うにすると、短時間での溶融が可能となる。
【0032】単結晶が所定の大きさとなったところで、
その外周に保温炉が被嵌され、この状態で単結晶と保温
炉は、第二育成炉に移動され、ゲートバルブが閉められ
る。単結晶は第二育成炉で徐冷されながら、育成炉外へ
送り出され、徐冷が継続される。
【0033】一方、単結晶原料の融液が残された貴金属
るつぼには、単結晶の原料粉末が育成炉外から実質的に
育成炉内の温度を低くしないようにして供給され溶融さ
れる。 このように、本発明においては、育成炉内の温
度を実質的に下げることなく、かつ貴金属るつぼ内に残
留した融液を固化させることなく、単結晶の原料粉末が
貴金属るつぼに供給されて溶融され次の単結晶の引き上
げが行われる。
【0034】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施態様を図1
乃至図4を参照しながら詳細に説明する。
【0035】図1に示すように、この実施例の単結晶育
成炉、単結晶の引き上げ育成を行う第1育成炉1と、そ
の上部に配設された育成単結晶の冷却および炉外への取
り出しを行うための第2育成炉2から構成されている。
第1育成炉1と第2育成炉2はゲートバルブ3で仕切る
ことができる構造となっている。
【0036】育成炉内には上下動可能で、育成炉外への
取り出し可能な保温炉4が配置されている。保温炉4
は、引き上げ終了後の育成単結晶14をその中に収容し
て、育成単結晶14の冷却を長時間かけて行うものであ
る。また育成炉外には重量センサーと供給速度調節機能
を備えた原料供給装置16が配置されており、原料18
を原料供給管17を介してIr(イリジウム)等の貴金
属からなる貴金属るつぼ5に供給できる構造となつてい
る。
【0037】貴金属るつぼ5の周囲には、耐火物るつぼ
6を含む断熱材が配置してあり、さらにその上部にも同
心状に断熱材が配置してある。貴金属るつぼ5の上部に
は貴金属からなるリング状の反射板8が配置され、さら
にその上部には円筒状あるいは円錐台状等の形状をした
貴金属からなるアフターヒーター9が配置されている。
耐火物るつぼ6の外側には誘導加熱コイル7が配置し
てあり、貴金属るつぼ5、反射板8、アフターヒーター
9を昇温することができるようになっている。
【0038】次にこの実施態様の装置を用いて酸化物単
結晶を引き上げ育成する方法について説明する。
【0039】まず、貴金属るつぼ5の中に酸化物単結晶
の原料を収容し、誘導加熱コイル7により該貴金属るつ
ぼ5を加熱して、原料を溶融させて融液10とする。
【0040】ここで、誘導加熱コイル7への電力を調節
することにより融液10の表面温度を結晶成長の適正温
度に調節する。第二育成炉2にはその中心と貴金属るつ
ぼ5を結ぶ線上に引き上げ軸11が配置されており、引
き上げ軸11の先端にはアルミナ棒12を介して種結晶
13が固定されている。
【0041】引き上げ軸11を下げて、種結畠13を融
液10の表面に接触させる。誘導加熱コイル7への電力
を調節しながら、引き上げ軸11を回転させつつ引き上
げることにより、種結晶13の下に育成単結晶14が育
成する。(図1参照)育成単結晶14が所定の長さにな
ったところで、引き上げ軸11を早送りで所定の距離だ
け上昇させて、育成単結晶14を融液10表面より切り
離す。なお、このような方法ではなく、結晶テールを形
成させて融液10の表面から切り離すようにしてもよ
い。
【0042】その後、育成単結晶14を所定の位置まで
ゆっくりと上昇させる。このとき保温炉4は所定の温度
にまで上昇させその温度を維持した状態で第一育成炉1
の上方に保持されている。
【0043】育成単結晶14が所定の位置まで上昇した
ところでその位置で止め、保温炉4を降下させ、育成単
結晶14の周囲に配置する。(図2参照)この状態まで
は、原料供給管17の先端は、貴金属るつぼ5の上に懸
からない位置まで後退させておくことが望ましい。
【0044】その後、保温炉4と育成単結晶14を同期
して上昇させ、第2育成炉2内に収容し、ゲートバルプ
3を閉鎖して第1育成炉1と第2育成炉2を仕切る。
【0045】この実施態様では保温炉4の下が開放状態
とされており、育成単結晶14に好ましくない温度分布
が生ずるおそれがあるので、保温炉4の底には断熱用の
蓋をすることが望ましい。この実施態様では、ゲートバ
ルブ3の上にヒーター付きの底蓋4aを載せておき、そ
の上に保温炉4と育成単結晶14を同期して下降させる
ことで、底に蓋をする構成を採用している。同時に、誘
導加熱コイル7への電力を増加させ、るつぼ5の温度を
上昇させる。
【0046】次に、原料供給管17の先端が貴金属るつ
ぼ5の上にくるように前進させ、原料供給管17を介し
て、設定された速度で単結晶原料8粉末の貴金属るつぼ
5への供給を開始する。
【0047】引き上げ軸11の上部にはロードセル19
が配置されており、育成単結晶14の重量がわかるよう
になっている。供給された原料粉末の総重量が育成単結
晶14の重量と同重量となるまで、貴金属るつぼ5への
原料粉末の供給が続けられる。この時、貴金属るつぼ5
を回転させながら原料18の供給をすることが望まし
い。 貴金属るつぼ5へ投入された原料が融けて融液と
なるには、ある程度の時問が必要であり、貴金属るつぼ
5が回転してないと先に投入された原料が融ける前に、
次から次ぎに原料が投入されて山になってしまいスムー
ズに投入原料が融けないおそれがある。貴金属るつぼ5
を回転させながら原料供給を行うことによりこのような
問題が回避される。
【0048】この実施態様ではるつぼ軸15に回転機能
を持たせており、貴金属るつぼ5を回転させながち原料
18の供給をするので、投入された原料はスムーズに融
け、原料の供給速度を大き目に設定することが可能であ
る。(図3参照)単結晶原料18の供給・溶融を行って
いる間に、第2育成炉2より保温炉4と育成単結晶14
を取り出し、引き上げ軸11の先端には新しい種結晶1
3をセットする。酸化物単結晶は一般に割れ易く、引き
上げ後の冷却に10時間前後あるいはそれ以上の長時間
を要するが、この長時間の単結晶の冷却の大部分をこの
実施態様では育成炉の外で保温炉4の中で行う。(図4
参照)次に、本発明の具体的な実施例について説明す
る。
【0049】(実施例1)貴金属るつぼ5として、直径
180mmφ、高さ180mmのIr(イリジウム)製
るつぼを用いた。このるつぼ内に、組成比がLi/Ta
=0.943(モル比)となるようにLiTaO3 とL
iNbO3 の粉末を秤量し焼成した焼結原料を7〜10
kgるつぼ内に入れ、誘導加熱コイル7で貴金属るつぼ
5を加熱して、原料を溶融させた。その後、原料供給装
置16より原料18を貴金属るつぼ5内に供給しながら
溶融させ、総重量が13kgの融液10を貴金属るつぼ
5内に作成した。
【0050】誘導加熱コイル7の出力を調整し(下
げ)、融液10表面温度を結晶成長の適性温度に安定さ
せた。引き上げ軸11を下げ、種結晶13を融液10表
面に接触させ、誘導加熱コイルの出力を調節しながら、
引き上げ軸11を回転させつつ引き上げることにより、
種結晶13の下に、直胴直径が105〜110mmφ、
重量6〜7kgの育成単結晶14を通常の方法に従い成
長させた。2本目以降の結晶作成では、前回の育成単結
晶14と同一重量の原料を原料供給装置16を用いてる
つぼ5内に供給し、総重量が13kgの融液10をるつ
ぼ5内に作成し、引き上げを行った。
【0051】結晶成長終了時の誘導加熱コイル7の出力
を維持したまま、育成単結晶14を1時間かけて上方に
移動させ、結晶センターが所望の炉内温度T℃あたりの
位置まで上昇させ、その位置に保持した。尚、炉内温度
としては、図6に示した、結晶引き上げ前の縦方向炉内
温度分布を熱電対で測定したものを用いた。その問に保
温炉4を上記と同一のT℃になるように設定・維持して
おき、保温炉4を下方に下げて、育成単結晶14の周囲
に配置させた。
【0052】この状態で、保温炉4と育成単結晶14を
同期させて上昇させ、第2育成炉2内に収容し、第1育
成炉1と第2育成炉2をゲートバルブで仕切った。
【0053】その後、保温炉4は約10時間かけて出力
を線形的に減少させ、ゼロとした。保温炉からの結晶取
り出しはそれから約6時問後とした。
【0054】ここで保温炉4に育成単結晶14を収容す
る温度T℃について種々検討した。結晶収容温度T℃は
LT単結晶の育成温度1650℃に近いことが望ましい
が、このような高温に耐えるヒーターの材質および寿命
の長い容器の材質の選定は難しい。そこで、結晶収容温
度T℃を低い方に振り、育成単結晶14の冷却試験を行
った。結晶収容温度T℃としては、1400℃、130
0℃、1200℃、1100℃の4種として、各々3回
ずつ試験を行い、冷却後の結晶のクラックの有無と、ボ
ーリング工程後のクラックの有無について調査した。
尚、この試験においては、結晶引き上げ工程において理
想的な状態から外れたものについてはカウントから除外
した。
【0055】
【表1】 この実験結果から、1300℃の結晶収容温度で十分に
結晶クラックの予防ができることが判った。1200℃
においても、すでにクラックの予防効果が現れているこ
とが判った。
【0056】また、育成単結晶14の融液10よりの切
り離しから所定の位置まで上昇させるに要する時間は、
長いほど結晶の受ける熱ストレスが小さく、クラック防
止の観点からは好ましいことは言うまでもない。
【0057】実施例2 育成単結晶14のクラックフリー率の向上という観点か
ら保温炉4そのものの効果を、LT(LiTaO3 )単
結晶について、従来の引き上げ法(図7参照)によるも
のと比較して検討した。
【0058】また、貴金属るつぼ5や炉内耐火物の変形
・劣化についても本発明と従来の引き上げ法によるもの
と比較を行った。
【0059】従来の引き上げによる単結晶育成では、育
成単結晶14は融液10表面より切り離された後、融液
表面より数cm上方の位置で徐冷される。液面よりの結
晶切り離し後、8時間かけて誘導加熱コイル7の出力を
線形的に減少させ、ゼロとした。その後約10時間放置
して、室温に近い状態で育成単結晶14を育成炉より取
り出した。るつぼ5の大きさ、るつぼ内の融液量、育成
単結晶14の口径と重量は実施例1と同様である。20
本の単結晶育成を行い、冷却後のクラックフリー率を調
べたところ20本中15本のみが、クラックフリーであ
った。
【0060】一方、実施例1と同様な方法で20本の単
結晶育成を行った。ただし、育成単結晶14の融液10
よりの切り離しから所定の位置まで上昇させるに要する
時間は、実施例1では1時間であったが、本実施例では
2時間とした。また、保温炉4への結晶収容温度T℃は
本実施例では1300℃とした。また20本の引き上げ
では、5本ごとに設備のメンテナンスのため、育成炉の
温度を室温付近まで落としている。
【0061】本実施例では、冷却後のクラックフリー率
は、20本中の18本であり、従来法により引き上げた
ものと比較して、クラックフリー率が向上していること
が判る。
【0062】実施例と従来の引き上げ法による育成単結
晶14のクラックフリー率の比較を表2に示す。
【0063】
【表2】 また、LN(LiNbO3 )単結晶においても同様な比
較を行ったが、上記と同様に、本発明により、クラック
フリー率の向上が認められた。
【0064】さらに、本実施例においで貴金属部材(特
にるつぼ)および耐火物部材の劣化の様子を従来の引き
上げ法によるものと比較した。
【0065】上述した通り、従来の引き上げ法によるも
のでは、引き上げごとに育成炉の温度を室温付近にまで
落としているが、これに対して本実施では育成炉の温度
を5回の引き上げごとに室温付近まで落とした。20回
の引き上げにおいて、従来の引き上げ法では、貴金属る
つぼの変形が見られ、耐火物は貴金属るつぼ5を取り囲
む耐火物るつぼ6の劣化が特に激しく、引き上げ10回
ごとの交換が必要であった。他の耐火物についてもクラ
ック等が生じていた。
【0066】これに対して本実施例においては、20回
の引き上げにおいて、貴金属るつぼ5の変形や耐火物の
劣化については、軽微なものしか認められなかった。
【0067】実施例3 保温炉4内で育成単結晶14の徐冷方法を種々検討し、
単結晶育成後冷却中に割れ易い単結晶種について、クラ
ックフリー率の向上を検討した。
【0068】割れ易い単結晶種としては、LBO(Li
2 4 7 ) を対象とした。
【0069】現在LBO単結晶育成は、結晶成長中およ
び冷却中の熱ストレスの小さいブリッジマン法が製造の
主要方法となっている。
【0070】しかしながら、引き上げ法においても製造
は可能であり、結晶成長後冷却中(室温付近まで含む)
のクラック発生率が50%を超えるというような大きさ
のため、主要製造方法の座を降りているのである。
【0071】さて、クラックフリー率を向上きせるため
には、熱ストレスの低減が必要である。引き上げ中の熱
ストレスの低減は炉内構造の検討や引き上げ速度を遅く
する等の方法である程度の検討は可能であるが、ここで
は結晶引き上げ後の冷却方法について熱ストレスの低減
を検討した。
【0072】検討の柱は(1) 冷却速度低減、(2) 冷却中
の結晶の温度分布の均一性向上、とした。冷却速度の低
減は、従来法による引き上げ後1日かけて冷却し結晶を
育成炉からとりだしていたものを、冷却時聞として2
日、4日かける検討を行った。また、冷却中の結晶の温
度分布の均一性向上としては、保温炉4中での結晶冷却
を検討した。実験としては育成炉中での冷却と保温炉中
での冷却それぞれについて、冷却時間を1日、2日、4
日と振ったものを各10本ずつ行った。
【0073】各条件についで、クラックフリー率をまと
めたものを表3に示す。
【0074】
【表3】 表3から、育成炉中での冷却は冷却時間を長くしてもク
ラックフリー率の向上が見られないことが判る。一方保
温炉中での冷却では、保温炉を用いただけで大きくクラ
ックフリー率が向上すること、冷却期間を長くすること
により、さらにクラックフリー率が向上することが判
る。
【0075】以上の実施例から明らかなように、本発明
によれば、育成炉内での育成単結晶の除冷を行う必要が
なくなり、通常2日で1本のペースでの結晶作成が、1
日で1本のペースで結晶作成を行うことが可能となり、
引き上げ機1台当たりの生産能力が倍増した(LiTa
3 、LiNbO3 等)。
【0076】また、引き上げごとの育成炉の冷却が必要
なくなり、るつぼ内の融液が固化することがないため、
責金属るつぼの変形が大幅に減少し、貴金属るつぼの寿
命が大幅に向上した。
【0077】さらに、育成炉内の温度が低下しないの
で、耐火物が熱ショックを受けることがなくなり、耐火
物割れが大幅に減少し、耐火物の寿命が大幅に向上し
た。
【0078】また、温度分布が比較的均一な保温炉内で
育成単結晶の冷却を行うため、育成単結昌の受ける熱ス
トレスが小さく、育成炉内で冷却した場合に比べて、育
成単結晶の冷却割れが減少した(LiTaO3 、LiN
bO3 、Li2 4 7 等)。 これらにより、育成単
結晶の生産徒力増強と生産コストの低減を同時に達成す
ることが可能となった。
【0079】なお、以上の実施例では、代表的な酸化物
単結晶であるLT、LN、LBOについてのみ説明した
が、ランガサイト型化合物のような広義の他の酸化物単
結晶に対しても、本発明を適用することが可能である。
【0080】さらに本発明は、かかる酸化物単結晶のみ
に限定されるものではなく、クラックの生じ易い、従っ
て冷却に長時間を要する他の単結晶引き上げに対して
も、引き上げ機の実質稼動率向上やクラックフリー率の
向上等の効果を発揮する。
【0081】
【発明の効果】本発明によれば、引き上げ法での単結晶
の製造において、(1) 引き上げ機の実質稼動率の向上に
よる生産性の大幅向上、(2) 貴金属部材の寿命の大幅向
上、耐火物部材の寿命の大幅向上、および冷却過程での
単結晶のクラックフリー率の向上による製造コストの低
減、という生産の2大要素の向上をはかることができそ
の効果は絶大である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明で使用される酸化物単結晶の製造装置
の縦断面図(引き上げ中)。
【図2】 本発明で使用される酸化物単結晶の製造装置
の縦断面図(引き上げ終了後、育成単結晶を保温炉に収
容した状態)。
【図3】 本発明で使用される酸化物単結晶の製造装置
の縦断面図(保温炉4と育成単結晶14を第2育成炉に
収容し、ゲートバルブを閉め、るつぼへの原料供給を開
始した状況を示す)。
【図4】 本発明で使用される酸化物単結晶の製造装置
の縦断面図(保温炉と育成単結晶を第2育成炉の外部に
出し、育成単結晶の冷却を行っている状況を示す)。
【図5】 引き上げ前の育成炉内の縦方向の温度分布を
示すグラフ。
【図6】 従来の酸化物単結晶の製造装置の縦断面図。
【符号の説明】
1……第1育成炉 2……第2育成炉 3……
ゲートバルブ 4……保温炉 5……貴金属るつぼ 6……
耐火物るつぼ 7……誘導加熱コイル 8……貴金属反射板 9…貴
金属アフターヒーター 10……融液 11……引き上げ軸 12…
…アルミナ棒 13……種結晶 14……育成単結晶 15…
…るつぼ軸 16……原料供給装置 17……原料供給管 18…
…原料 19……ロードセル
フロントページの続き (72)発明者 牛沢 次三郎 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 (72)発明者 松村 禎夫 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 (72)発明者 進藤 勇 茨城県つくば市大字倉掛404 (72)発明者 木村 伸二 山梨県韮崎市中田町中条1165 エーデルハ イツ205 Fターム(参考) 4G077 AA02 AA10 BC32 BC37 BD07 CF10 EG19 EG26

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高温の第1の領域内で貴金属るつぼ内に
    収容された単結晶原料の融液に種結晶を接触させて前記
    融液から単結晶を引き上げる工程と、 前記引き上げられた単結晶を第1の領域内で可動の保温
    炉に収容する工程と、 前記可動の保温炉に収容された単結晶を保温炉とともに
    前記第1の領域よりは温度が低く環境温度よりは温度の
    高い第2の領域に移動して徐冷する工程と、 前記貴金属るつぼ内に前記第1の領域の温度を実質的に
    下げることなく単結晶原料を補給して溶融する工程とを
    有し、 以上の工程を繰り返すことにより前記第1の領域の温度
    を実質的に下げることなく繰り返し単結晶の引き上げを
    行うことを特徴とする酸化物単結晶の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記第2の領域は、前記第1の領域の上
    方に位置することを特徴とする請求項1記載の単結晶の
    製造方法。
  3. 【請求項3】 第1の領域と第2の領域間には開閉可能
    な遮蔽扉が配設され、第2の領域にある可動の保温炉に
    収容された単結晶は、前記遮蔽扉を閉鎖した状態で第2
    の領域から取り出されることを特徴とする請求項1又は
    2記載の単結晶の製造方法。
  4. 【請求項4】 保温炉は、吊り下げられた単結晶の外周
    を間隔をおいて包囲する構造を有し、引き上げ終了後の
    単結晶を保温炉内に収容し、しかる後、前記単結晶と前
    記保温炉とを同期して第2の領域に移動することを特徴
    とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の単結晶の製
    造方法。
  5. 【請求項5】 単結晶収容時の前記保温炉の温度を、前
    記単結晶原料の融液の温度をTm °Kとしたとき、
    (0.7〜1)Tm °Kの範囲に設定することを特徴と
    する請求項1乃至4のいずれか1項記載の単結晶の製造
    方法。
  6. 【請求項6】 保温炉内の温度分布を均一な状態とし
    て、引き上げた単結晶を必要な時間をかけて徐冷するこ
    とを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項記載の単
    結晶の製造方法。
  7. 【請求項7】 単結晶が、タンタル酸リチウム(LiT
    aO3 )、ニオブ酸リチウム(LiNbO3 )または四
    硼素酸リチウム(Li2 4 7 )であることを特徴と
    する請求項1乃至6のいずれか1項記載の単結晶の製造
    方法。
  8. 【請求項8】 内部を高温雰囲気に保持する育成炉と、 前記育成炉内に配置された貴金属るつぼと、 前記貴金属るつぼに収容された単結晶原料の融液より単
    結晶を引き上げる引上げ軸と、 前記育成炉内で上下動可能とされ、かつ前記育成炉外へ
    取り出し可能に構成された前記単結晶を覆う保温炉と、 前記貴金属るつぼに前記育成炉外から前記単結晶原料を
    供給する装置とを具備してなることを特徴とする単結晶
    製造装置。
  9. 【請求項9】 前記育成炉が、単結晶を引き上げ成長さ
    せる高温の第1育成炉と、前記第1育成炉の上部に配置
    され前記保温炉とこの保温炉の中に収容された単結晶を
    一旦収容するための第2育成炉の上下2室構造とされて
    おり、第一育成炉と第二育成炉間には、第一育成炉と第
    二育成炉を仕切るための開閉扉が設けられていることを
    特徴とする請求項8記載の結晶製造装置。
  10. 【請求項10】 るつぼの上部に設けられた保温筒の直
    上部に移動式の隔離板を設けたことを特徴とする請求項
    8又は9記載の単結晶製造装置。
  11. 【請求項11】 単結晶育成終了後、保温筒上部から、
    原料粉末を供給可能とされていることを特徴とする請求
    項8乃至10のいずれか1項記載の単結晶製造装置。
  12. 【請求項12】 貴金属るつぼが、イリジウム金属から
    なることを特徴とする請求項8乃至11のいずれか1項
    記載の単結晶製造装置。
  13. 【請求項13】 育成炉内が、不活性ガス雰囲気とされ
    ていることを特徴とする請求項8乃至12のいずれか1
    項記載の単結晶製造装置。
JP11051532A 1999-02-26 1999-02-26 単結晶の製造方法および製造装置 Withdrawn JP2000247782A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11051532A JP2000247782A (ja) 1999-02-26 1999-02-26 単結晶の製造方法および製造装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11051532A JP2000247782A (ja) 1999-02-26 1999-02-26 単結晶の製造方法および製造装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000247782A true JP2000247782A (ja) 2000-09-12

Family

ID=12889644

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11051532A Withdrawn JP2000247782A (ja) 1999-02-26 1999-02-26 単結晶の製造方法および製造装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000247782A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105258987A (zh) * 2014-07-08 2016-01-20 帕纳科有限公司 使用熔剂和铂坩埚制备用于xrf的样品
KR102462018B1 (ko) * 2021-12-24 2022-11-03 주식회사 르본인터내셔널 빌렛 제조장치
KR102462019B1 (ko) * 2021-12-24 2022-11-03 주식회사 르본인터내셔널 카본 주형 도가니의 탈착이동장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105258987A (zh) * 2014-07-08 2016-01-20 帕纳科有限公司 使用熔剂和铂坩埚制备用于xrf的样品
KR102462018B1 (ko) * 2021-12-24 2022-11-03 주식회사 르본인터내셔널 빌렛 제조장치
KR102462019B1 (ko) * 2021-12-24 2022-11-03 주식회사 르본인터내셔널 카본 주형 도가니의 탈착이동장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5413354B2 (ja) シリコン単結晶引き上げ装置及びシリコン単結晶の製造方法
JP6302192B2 (ja) 単結晶の育成装置及び育成方法
JP2002226299A (ja) 単結晶製造装置及び単結晶製造方法
JP3953042B2 (ja) チョクラルスキー法による原料供給装置および原料供給方法
JP2000247782A (ja) 単結晶の製造方法および製造装置
JP2017222537A (ja) るつぼ並びに単結晶の育成装置及び育成方法
JPH07187880A (ja) 酸化物単結晶の製造方法
US8691013B2 (en) Feed tool for shielding a portion of a crystal puller
JP2957857B2 (ja) 酸化物単結晶の製造方法
JP4563951B2 (ja) 固形状原料のリチャージ装置
JP2007254162A (ja) 単結晶製造装置およびリチャージ方法
JP2023132269A (ja) 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法
JP3079991B2 (ja) 単結晶の製造装置および製造方法
JPS6389488A (ja) 単結晶の製造方法
JPH07330482A (ja) 単結晶成長方法及び単結晶成長装置
JP2023147617A (ja) 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法
JP2000313690A (ja) 半導体単結晶の製造方法およびこれに用いられる固体の半導体原料塊
JPH0920596A (ja) 四ほう酸リチウム単結晶の製造装置
JP2023132267A (ja) 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法
JP2023147618A (ja) 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法
JPH03193694A (ja) 結晶成長装置
JP2023132268A (ja) 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法
JP2023132266A (ja) 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法
JP2008013376A (ja) 固形状原料のリチャージ装置およびこれを用いたリチャージ方法
JPH02283693A (ja) シリコン単結晶の製造方法および装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060509