JP2000243330A - 画像形成装置 - Google Patents

画像形成装置

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JP2000243330A
JP2000243330A JP11045088A JP4508899A JP2000243330A JP 2000243330 A JP2000243330 A JP 2000243330A JP 11045088 A JP11045088 A JP 11045088A JP 4508899 A JP4508899 A JP 4508899A JP 2000243330 A JP2000243330 A JP 2000243330A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子放出素子による大画面表示装置におい
て、スペーサ表面に形成された帯電防止用の高抵抗膜と
電気的接続用の低抵抗膜の境界に生ずる電界集中を緩和
し、放電を防止する。 【解決手段】 スペーサ表面の低抵抗膜21と高抵抗膜
11の境界において、低抵抗膜から高抵抗膜へと抵抗値
が連続的に変化する領域を設け、低抵抗膜の突起が生じ
ても上記領域内に納まることにより、突起頂部での電界
集中を緩和して放電発生を抑制する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は画像形成装置に関
し、特に、複数の電子放出素子を配置した真空外囲器の
スペーサの放電を抑制した平面型画像形成装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】平面型表示装置は、薄型でかつ軽量であ
ることから、ブラウン管型表示装置に置き換わるものと
して注目されている。特に、電子放出素子と電子ビーム
の照射により発光する蛍光体とを組み合わせて用いた表
示装置は、従来の他の方式の表示装置よりも優れた特性
が期待されている。例えば、近年普及してきた液晶表示
装置と比較しても、自発光型であるためバックライトを
必要としない点や、視野角が広い点が優れていると言え
る。
【0003】従来、電子放出素子として熱陰極素子と冷
陰極素子の2種類が知られている。このうち冷陰極素子
では、例えば表面伝導型電子放出素子や、電界放出型素
子(以下FE型と記す)や、金属/絶縁層/金属型放出
素子(以下MIM型と記す)、などが知られている。
【0004】表面伝導型電子放出素子としては、例え
ば、M.I.Elinson,Radio Eng.ElectronPhys.,10,1
290,(1965)が知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より電子放出が生ずる現象を利用するものである。この
表面伝導型電子放出素子としては、前記エリンソン等に
よるSnO2 薄膜を用いたものの他に、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“Thin Solid Films",9,317
(1972)]や、In2 O3 /SnO2 薄膜に
よるもの[M.Hartwelland C.G.Fonstad:“IEEE Trans.E
D Conf.",519(1975)]や、カーボン薄膜によ
るもの[荒木久 他:真空、第26巻、第1号、22
(1983)]等が報告されている。
【0006】これらの表面伝導型電子放出素子の素子構
成の典型的な例として、図18に前述のM.Hartw
ellらによる素子の平面図を示す。同図において、3
001は基板で、3004はスパッタで形成された金属
酸化物よりなる導電性薄膜である。導電性薄膜3004
は図示のようにH字形の平面形状に形成されている。該
導電性薄膜3004に後述の通電フォーミングと呼ばれ
る通電処理を施すことにより、電子放出部3005が形
成される。図中の間隔Lは、0.5〜1[mm]、W
は、0.1[mm]で設定されている。尚、図示の便宜
から、電子放出部3005は導電性薄膜3004の中央
に矩形の形状で示したが、これは模式的なものであり、
実際の電子放出部の位置や形状を忠実に表現しているわ
けではない。
【0007】M.Hartwellらによる素子をはじ
めとして上述の表面伝導型電子放出素子においては、電
子放出を行う前に導電性薄膜3004に通電フォーミン
グと呼ばれる通電処理を施すことにより電子放出部30
05を形成するのが一般的であった。すなわち、通電フ
ォーミングとは、前記導電性薄膜3004の両端に一定
の直流電圧、もしくは、例えば1V/分程度の非常にゆ
っくりとしたレートで昇圧する直流電圧を印加して通電
し、導電性薄膜3004を局所的に破壊もしくは変形も
しくは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部
3005を形成することである。尚、局所的に破壊もし
くは変形もしくは変質した導電性薄膜3004の一部に
は、亀裂が発生する。前記通電フォーミング後に導電性
薄膜3004に適宜の電圧を印加した場合には、前記亀
裂付近において電子放出が行われる。
【0008】また、FE型の例は、例えば、W.P.Dyke &
W.W.Dolan,“Field emission",Advance in Electron P
hysics,8,89(1956)や、あるいは、C.A.Spindt,“Physic
al properties of thin-film field emission cathodes
with molybdenium cones",J.Appl.Phys.,47,52
48(1976)などが知られている。
【0009】FE型の素子構成の典型的な例として、図
19に前述のC.A.Spindtらによる素子の断面
図を示す。同図において、3010は基板で、3011
は導電材料よりなるエミッタ配線、3012はエミッタ
コーン、3013は絶縁層、3014はゲート電極であ
る。本素子は、エミッタコーン3012とゲート電極3
014の間に適宜の電圧を印加することにより、エミッ
タコーン3012の先端部より電界放出を起こさせるも
のである。
【0010】また、FE型の他の素子構成として、図1
9のような積層構造ではなく、基板上に基板平面とほぼ
平行にエミッタとゲート電極を配置した例もある。
【0011】また、MIM型の例としては、例えば、C.
A.Mead,“Operation of tunnel-emission Devices,J.Ap
pl.Phys.,32,646(1961)などが知られて
いる。MIM型の素子構成の典型的な例を図20に示
す。同図は断面図であり、図において、3020は基板
で、3021は金属よりなる下電極、3022は厚さ1
00オングストローム程度の薄い絶縁層、3023は厚
さ80〜300オングストローム程度の金属よりなる上
電極である。
【0012】MIM型においては、上電極3023と下
電極3021の間に適宜の電圧を印加することにより、
上電極3023の表面より電子放出を起こさせるもので
ある。
【0013】上述の冷陰極素子は、熱陰極素子と比較し
て低温で電子放出を得ることができるため、加熱用ヒー
ターを必要としない。従って、熱陰極素子よりも構造が
単純であり、微細な素子を作成可能である。また、基板
上に多数の素子を高い密度で配置しても、基板の熱溶融
などの問題が発生しにくい。また、熱陰極素子がヒータ
ーの加熱により動作するため応答速度が遅いのとは異な
り、冷陰極素子の場合には応答速度が速いという利点も
ある。
【0014】このため、冷陰極素子を応用するための研
究が盛んに行われてきている。
【0015】例えば、表面伝導型電子放出素子は、冷陰
極素子のなかでも特に構造が単純で製造も容易であるこ
とから、大面積にわたり多数の素子を形成できる利点が
ある。そこで、例えば本出願人による特開昭64−31
332号公報において開示されるように、多数の素子を
配列して駆動するための方法が研究されている。
【0016】また、表面伝導型電子放出素子の応用につ
いては、例えば、画像形成装置、画像記録装置などの画
像形成装置や、荷電ビーム源、等が研究されている。
【0017】特に、画像形成装置への応用としては、例
えば本出願人によるUSP5,066,883や特開平
2−257551号公報や特開平4−28137号公報
において開示されているように、表面伝導型電子放出素
子と電子ビームの照射により発光する蛍光体とを組み合
わせて用いた画像形成装置が研究されている。表面伝導
型電子放出素子と蛍光体とを組み合わせて用いた画像形
成装置は、従来の他の方式の画像形成装置よりも優れた
特性が期待されている。例えば、近年普及してきた液晶
表示装置と比較しても、自発光型であるためバックライ
トを必要としない点や、視野角が広い点が優れていると
言える。
【0018】また、FE型を多数個ならべて駆動する方
法は、例えば本出願人によるUSP4,904,895
に開示されている。また、FE型を画像形成装置に応用
した例として、例えば、R.Meyerらにより報告さ
れた平板型表示装置が知られている。[R.Meyer:“Rece
nt Development on Microtips Display at LETI",Tec
h.Digest of 4th Int.Vacuum Microelectronics Conf.,
Nagahama,pp.6〜9(1991)]また、MIM型
を多数個並べて画像形成装置に応用した例は、例えば本
出願人による特開平3−55738号公報に開示されて
いる。
【0019】図21は平面型の画像形成装置をなす表示
パネル部の一例を示す斜視図であり、内部構造を示すた
めにパネルの一部を切り欠いて示している。
【0020】図中、3115はリアプレート、3116
は側壁、3117はフェースプレートであり、リアプレ
ート3115、側壁3116及びフェースプレート31
17により、表示パネルの内部を真空に維持するための
外囲器(気密容器)を形成している。
【0021】リアプレート3115には基板3111が
固定されているが、この基板3111上には冷陰極素子
3112が、n×m個形成されている(n,mは2以上の正
の整数であり、目的とする表示画素数に応じて適宜設定
される。)。また、前記N×M個の冷陰極素子3112
は、(従来図4)に示すとおり、m本の行方向配線31
13とn本の列方向配線3114により配線されてい
る。これら基板3111、冷陰極素子3112、行方向
配線3113及び列方向配線3114によって構成され
る部分をマルチ電子ビーム源と呼ぶ。また、行方向配線
3113と列方向配線3114の少なくとも交差する部
分には、両配線間に絶縁層(不図示)が形成されてお
り、電気的な絶縁が保たれている。
【0022】フェースプレート3117の下面には、蛍
光体からなる蛍光膜3118が形成されており、赤
(R)、緑(G)、青(B)の3原色の蛍光体(不図
示)が塗り分けられている。また、蛍光膜3118をな
す上記各色蛍光体の間には黒色体(不図示)が設けてあ
り、さらに蛍光膜3118のリアプレート3115側の
面には、Al等からなるメタルバック3119が形成さ
れている。
【0023】Dx1〜Dxm及びDy1〜Dyn及びH
vは、当該表示パネルと不図示の電気回路とを電気的に
接続するために設けた気密構造の電気接続用端子であ
る。Dx1〜Dxmはマルチ電子ビーム源の行方向配線
3113と、Dy1〜Dynはマルチ電子ビーム源の列
方向配線3114と、Hvはメタルバック3119と各
々電気的に接続している。
【0024】また、上記気密容器の内部は10のマイナ
ス6乗Torr程度の真空に保持されており、画像形成
装置の表示面積が大きくなるにしたがい、気密容器内部
と外部の気圧差によるリアプレート3115及びフェー
スプレート3117の変形あるいは破壊を防止する手段
が必要となる。リアプレート3115及びフェースプレ
ート3117を厚くすることによる方法は、画像形成装
置の重量を増加させるのみならず、斜め方向から見たと
きに画像のゆがみや視差を生ずる。
【0025】これに対し、図21においては、比較的薄
いガラス板からなり大気圧を支えるための構造支持体
(スペーサあるいはリブと呼ばれる)3120が設けら
れている。このようにして、マルチビーム電子源が形成
された基板3111と蛍光膜3118が形成されたフェ
ースプレート3117間は通常サブミリないし数ミリに
保たれ、前述したように気密容器内部は高真空に保持さ
れている。
【0026】以上説明した表示パネルを用いた画像形成
装置は、容器外端子Dx1ないしDxm、Dy1ないし
Dynを通じて各冷陰極素子3112に電圧を印加する
と、各冷陰極素子3112から電子が放出される。それ
と同時にメタルバック3119に容器外端子Hvを通じ
て数百[V]ないし数[kV]の高圧を印加して、上記
放出された電子を加速し、フェースプレート3117の
内面に衝突させる。これにより、蛍光膜3118をなす
各色の蛍光体が励起されて発光し、画像が表示される。
【0027】ところが、以上説明した従来の画像形成装
置の表示パネルにおいては、以下のような問題点があっ
た。
【0028】第1に、スペーサ3120の近傍から放出
された電子の一部がスペーサ3120に当たることによ
り、あるいは放出電子の作用でイオン化したイオンがス
ペーサに付着することにより、スペーサ帯電をひきおこ
す可能性がある。更には、フェースプレートに到達した
電子が一部反射、散乱され、その一部がスペーサに当た
ることによりスペーサ帯電を引き起こす可能性がある。
このスペーサの帯電により冷陰極素子3112から放出
された電子はその軌道を曲げられ、蛍光体上の正規な位
置とは異なる場所に到達し、スペーサ近傍の画像がゆが
んで表示される。
【0029】第2に、冷陰極素子3112からの放出電
子を加速するためにマルチ電子ビーム源とフェースプレ
ート3117との間には数百V以上の高電圧(即ち1k
V/mm以上の高電界)が印加されるため、スペーサ3
120表面での沿面放電が懸念される。特に、上記のよ
うにスペーサが帯電している場合は、放電が誘発される
可能性がある。
【0030】この問題点を解決するために、スペーサに
微小電流が流れるようにして帯電を除去する提案が本出
願人によりなされている(特開平8−180821号公
報、特開平8−250032号公報)。そこでは絶縁性
のスペーサの表面に高抵抗薄膜を形成することにより、
スペーサ表面に微小電流が流れるようにしている。ここ
で用いられている高抵抗膜は、酸化スズ、あるいは酸化
スズと酸化インジウム混晶薄膜や島状の金属膜等であ
る。
【0031】また、本出願人による上記提案において
は、前記高抵抗膜が被覆されたスペーサをマルチ電子ビ
ーム源及びフェースプレートと電気的に良好に接続する
為に、接続部に低抵抗膜を形成する構成も開示されてい
る。更に、前記高抵抗膜及び前記低抵抗膜が被覆された
スペーサを、導電性を有するフリットガラスを用いて、
マルチ電子ビーム源及びフェースプレートと電気的接続
及び機械的固定を行う構成も開示されている。
【0032】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のよう
に、前記高抵抗膜及び前記低抵抗膜が形成されたスペー
サを用いる場合、高抵抗膜部分と低抵抗膜部分ではその
表面に生ずる電界が互いに異なるために両者の境界部に
おいて電界の飛びが発生する。このような遷移領域に置
いては作製工程の不備などにより、突起などの特異な形
状が発生した場合、電界集中が生じ易く放電を招く原因
となる。
【0033】そこで、本発明は、表面に高抵抗膜を有
し、マルチ電子ビーム源及びフェースプレートとの接続
部に低抵抗膜を有するスペーサを用いた画像形成装置に
おいて、前記高抵抗膜と低抵抗膜の境界部での不意の電
界集中を抑制し、放電の発生を防止するスペーサの構成
を提供することを課題としている。また、上記手段によ
り信頼性の高い画像形成装置を提供することを課題とし
ている。
【0034】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本発明は、冷陰極素子を有する電子源と、前記電子
源より放出された電子を制御する電極と、前記電子源よ
り放出された電子の衝突により画像を形成する画像形成
部材と、前記電子源と前記電極の間に配置されたスペー
サとを有する画像形成装置に於いて、前記スペーサは表
面に高抵抗膜を有し、前記電子源及び前記電極に対する
前記スペーサの当接部に低抵抗膜を有し、前記高抵抗膜
は前記低抵抗膜を介して前記電子源及び前記電極に電気
的に接続され、前記スペーサの一部に、前記低抵抗膜か
ら前記高抵抗膜へと抵抗値が連続的に変化する領域を設
けるようにしている。
【0035】すなわち、本発明においては、前記高抵抗
膜と低抵抗膜の境界に抵抗値の連続的に変化する領域を
設けることにより、製造工程等で発生する低抵抗膜境界
線の凸部などによる電界集中を緩和している。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について説明する。
【0037】図1は、本発明の画像形成装置が備える表
示パネルの斜視図であり、内部構造を示すためにパネル
の一部を切り欠いて示している。図中、1015はリア
プレート、1016は側壁、1017はフェースプレー
トであり、リアプレート1015、側壁1016及びフ
ェースプレート1017により、表示パネルの内部を真
空に維持するための外囲器(気密容器)を形成してい
る。また、気密容器内部には、大気圧を支えるためのス
ペーサ1020が設けられている。本態様で用いたスペ
ーサは平板状のものである。
【0038】リアプレート1015には基板1011が
固定されているが、この基板1011上には冷陰極素子
1012がn×m個形成されており、m本の行方向(X方
向)配線1013とn本の列方向(Y方向)配線101
4により結線されている。
【0039】フェースプレート1017の下面には、蛍
光膜1018が形成され、さらに蛍光膜1018のリア
プレート1015側の面には、Al等からなるメタルバ
ック1019が形成されている。
【0040】図2は図1のA−A′断面の模式図であ
る。図3はスペーサ1020を平板面の方向からみた模
式図であり、その近傍の装置構成も合せて記載してあ
る。図2と図3中の各部の番号は図1に対応している。
【0041】図2において、スペーサ1020は、薄板
状の絶縁性部材1の表面に高抵抗膜11を成膜し、かつ
フェースプレート1017の内側(メタルバック101
9)及び基板1011の表面(行方向配線1013)に
面したスペーサの当接面3及び当接面3に接する側面部
5に低抵抗膜21を成膜した部材からなる。薄板状のス
ペーサ1020は、行方向(X方向)に沿って配置さ
れ、接合材1041を介して基板1011の行方向配線
1013上に固定されている。高抵抗膜11は、基板1
011側では低抵抗膜22及び接合材1041を介して
行方向配線1013と電気的に接続されており、フェー
スプレート1017側では低抵抗膜22を介して圧接に
よりメタルバック1019と電気的に接続されている。
【0042】図3において、高抵抗膜11と低抵抗膜2
1の境界領域には、抵抗値が連続的に(或いは段階的
に)変化する境界膜31が設けてある。
【0043】境界膜31を形成する好適な方法として
は、可動マスクを用いたスパッタリングやイオン打ち込
む等の真空成膜、インクジェットや印刷による塗布、加
熱処理による拡散等がある。
【0044】境界膜31のシート抵抗値は高抵抗膜11
と接する側では高抵抗膜11のシート抵抗値と一致し、
低抵抗膜21と接する側では低抵抗膜21のシート抵抗
値と一致している。境界膜31のなす領域の幅Wは、概
ね50μm以下である。
【0045】図4は、製造工程で低抵抗膜境界線に凸部
が発生した場合を表す図である。図中、22は低抵抗膜
21の境界領域の凸部であり、高さh及び幅wでその形
状が代表される。
【0046】このような凸形状が発生した場合の電界集
中の度合いを図5に示す。ここに、凸部22がない場合
を1とする。図5において、凸形状の幅wに対する高さ
hの比率が1以下の場合には、高さの比率が高まっても
電界集中度の急激な上昇はなく、最大でも3倍程度であ
る。一方、凸形状の幅wに対する高さhの比率が2を超
えるあたりから、高さの比率が高まるにつれて、電界集
中度が急激に上昇する。従って、低抵抗膜21の境界領
域に凸部22が発生する場合においても、その高さ対幅
比(h/w)が2以下となるようにスペーサ作製・組立
プロセスを制御するのが好ましい。
【0047】また、図1及び図2に示した本発明の実施
例においては、高抵抗膜11と低抵抗膜21の境界領域
に抵抗値が連続的に(或いは段階的に)変化する境界膜
31が設けてあるが、低抵抗膜21の凸部22が境界膜
31の範囲を超えて高抵抗膜11の領域まではみ出さな
いようにスペーサ作製・組立プロセスを制御するのはさ
らに好ましい条件となる。これにより、凸部22での電
界集中はさらに緩和されることになる。
【0048】境界膜31の領域幅sは、どの程度の高さ
hを有する凸部22が発生するかに依存するが、これは
スペーサの作製プロセスに依存する。しかし、マスク法
による真空成膜、印刷法による成膜等を用いる場合、凸
部22の高さを10μm乃至20μm以内に抑えること
は通常のプロセスで十分可能である。従って、境界膜3
1の領域幅sは10μm程度よりも大きいのが好まし
い。
【0049】一方、低抵抗膜21及び境界膜31の一部
は後述するように、スペーサ近傍の電子放出素子から放
出される電子軌道に影響を与えフェースプレートへの到
達点を変化させることになる。この到達点の変化に対す
る許容度は、形成される画像の解像度などに依存する
が、概ね10μmから100μm程度である。例えば、
対角60インチ(アスペクト比16:9)の画像形成装
置において高品位表示(走査線1000本以上)を行う
場合、1走査ラインの幅は約800μmとなるがその5
%程度を到達点の変化の許容度とすると40μmとな
る。以上のことから、境界膜31の領域幅sは概ね10
0μm以下であることが好ましい。
【0050】次に、本発明を適用した画像形成装置の表
示パネルの構成と製造法について、具体的な例を示して
説明する。
【0051】図1は、実施例に用いた表示パネルの斜視
図であり、内部構造を示すためにパネルの一部を切り欠
いて示している。
【0052】図中、1015はリアプレート、1016
は側壁、1017はフェースプレートであり、1015
〜1017により表示パネルの内部を真空に維持するた
めの気密容器を形成している。気密容器を組み立てるに
あたっては、各部材の接合部に十分な強度と気密性を保
持させるため封着する必要があるが、例えばフリットガ
ラスを接合部に塗布し、大気中あるいは窒素雰囲気中
で、摂氏400〜500度で10分以上焼成することに
より封着を達成した。気密容器内部を真空に排気する方
法については後述する。また、上記気密容器の内部は1
0のマイナス6乗[Torr]程度の真空に保持される
ので、大気圧や不意の衝撃などによる気密容器の破壊を
防止する目的で、耐大気圧構造体として、スペーサ10
20が設けられている。
【0053】リアプレート1015には、基板1011
が固定されているが、該基板上には冷陰極素子1012
がN×M個形成されている(N,Mは2以上の正の整数
であり、目的とする表示画素数に応じて適宜設定され
る。例えば、高品位テレビジョンの表示を目的とした表
示装置においては、N=3000,M=1000以上の
数を設定することが望ましい。)。前記N×M個の冷陰
極素子は、M本の行方向配線1013とN本の列方向配
線1014により単純マトリクス配線されている。前
記、1011〜1014によって構成される部分をマル
チ電子ビーム源と呼ぶ。
【0054】本発明の画像形成装置に用いるマルチ電子
ビーム源は、冷陰極素子を単純マトリクス配線した電子
源であれば、冷陰極素子の材料や形状あるいは製法に制
限はない。従って、例えば表面伝導型電子放出素子やF
E型、あるいはMIM型などの冷陰極素子を用いること
ができる。
【0055】次に、冷陰極素子として表面伝導型電子放
出素子(後述)を基板上に配列して単純マトリクス配線
したマルチ電子ビーム源の構造について述べる。
【0056】図6に示すのは、図1の表示パネルに用い
たマルチ電子ビーム源の平面図である。基板1011上
には、後述の図102で示すものと同様な表面伝導型電
子放出素子が配列され、これらの素子は行方向配線電極
1013と列方向配線電極1014により単純マトリク
ス状に配線されている。行方向配線電極1013と列方
向配線電極1014の交差する部分には、電極間に絶縁
層(不図示)が形成されており、電気的な絶縁が保たれ
ている。
【0057】図6のB−B′に沿った断面を、図7に示
す。
【0058】なお、このような構造のマルチ電子源は、
あらかじめ基板上に行方向配線電極1013、列方向配
線電極1014、電極間絶縁層(不図示)、及び表面伝
導型電子放出素子の素子電極と導電性薄膜を形成した
後、行方向配線電極1013及び列方向配線電極101
4を介して各素子に給電して通電フォーミング処理(後
述)と通電活性化処理(後述)を行うことにより製造し
た。
【0059】本実施形態においては、気密容器のリアプ
レート1015にマルチ電子ビーム源の基板1011を
固定する構成としたが、マルチ電子ビーム源の基板10
11が十分な強度を有するものである場合には、気密容
器のリアプレートとしてマルチ電子ビーム源の基板10
11自体を用いてもよい。
【0060】また、フェースプレート1017の下面に
は、蛍光膜1018が形成されている。本実施例はカラ
ー表示装置であるため、蛍光膜1018の部分にはCR
Tの分野で用いられる赤、緑、青の3原色の蛍光体が塗
り分けられている。
【0061】各色の蛍光体は、例えば図8(a)に示す
ようにストライプ状に塗り分けられ、蛍光体のストライ
プの間には黒色の導電体1010が設けてある。黒色の
導電体1010を設ける目的は、電子ビームの照射位置
に多少のずれがあっても表示色にずれが生じないように
する事や、外光の反射を防止して表示コントラストの低
下を防ぐ事、電子ビームによる蛍光膜のチャージアップ
を防止する事などである。黒色の導電体1010には、
黒鉛を主成分として用いたが、上記の目的に適するもの
であればこれ以外の材料を用いても良い。
【0062】また、3原色の蛍光体の塗り分け方は前記
図8(a)に示したストライプ状の配列に限られるもの
ではなく、例えば図8(b)に示すようなデルタ状配列
や、それ以外の配列であってもよい。例えば、図9に示
すように、黒色の導電体1010が、ストライプ状の各
色蛍光体間だけでなく、直交するストライプ方向につい
ても設けられ、行列両方向の画素間を分離するよう塗り
分けられた配列であってもよい。
【0063】なお、モノクロームの表示パネルを作成す
る場合には、単色の蛍光体材料を蛍光膜1018に用い
ればよく、また黒色導電材料は必ずしも用いなくともよ
い。
【0064】また、蛍光膜1018のリアプレート側の
面には、CRTの分野では公知のメタルバック1019
を設けてある。メタルバック1019を設けた目的は、
蛍光膜1018が発する光の一部を鏡面反射して光利用
率を向上させる事や、負イオンの衝突から蛍光膜101
8を保護する事や、電子ビーム加速電圧を印加するため
の電極として作用させる事や、蛍光膜1018を励起し
た電子の導電路として作用させる事などである。メタル
バック1019は、蛍光膜1018をフェースプレート
基板1017上に形成した後、蛍光膜表面を平滑化処理
し、その上にAlを真空蒸着する方法により形成した。
なお、蛍光膜1018に低電圧用の蛍光体材料を用いた
場合には、メタルバック1019は用いない。
【0065】また、本実施例では用いなかったが、加速
電圧の印加用や蛍光膜の導電性向上を目的として、フェ
ースプレート基板1017と蛍光膜1018との間に、
例えばITOを材料とする透明電極を設けてもよい。
【0066】なお、本発明の実施例においては、蛍光膜
1018は、図9に示した配列のものを用い、各色蛍光
体を列方向(Y方向)に延びるように配置した。スペー
サ1020は、行後方(X方向)に平行に、黒色の導電
体1010に対応する領域内に、メタルバック1019
(後述)を介して配置された。
【0067】なお、前述の封着を行う際には、フェース
プレート1017上に配置された各色蛍光体と基板10
11上に配置された各素子1012とを対応させなくて
はいけないため、リアプレート1015、フェースプレ
ート1017及びスペーサ1020は十分な位置合わせ
を行った。
【0068】図2は図1のA−A′の断面模式図であ
り、各部の番号は図1に対応している。スペーサ102
0は絶縁性部材1の表面に帯電防止を目的とした高抵抗
膜11を成膜し、かつフェースプレート1017の内側
(メタルバック1019等)及び基板1011の表面
(行方向配線1013または列方向配線1014)に面
したスペーサの当接面3及び接する側面部5に低抵抗膜
21を成膜した部材からなるもので、上記目的を達成す
るのに必要な数だけ、かつ必要な間隔をおいて配置さ
れ、フェースプレートの内側及び基板1011の表面に
接合材1041により固定される。また、高抵抗膜は、
絶縁性部材1の表面のうち、少なくとも気密容器内の真
空中に露出している面に成膜されており、スペーサ10
20上の低抵抗膜21及び接合材1041を介して、フ
ェースプレート1017の内側(メタルバック1019
等)及び基板1011の表面(行方向配線1013また
は列方向配線1014)に電気的に接続される。ここで
説明される態様においては、スペーサ1020の形状は
薄板状とし、行方向配線1013に平行に配置され、行
方向配線1013に電気的に接続されている。
【0069】スペーサ1020としては、基板1011
上の行方向配線1013及び列方向配線1014とフェ
ースプレート1017内面のメタルバック1019との
間に印加される高電圧に耐えるだけの絶縁性を有し、か
つスペーサ1020の表面への帯電を防止する程度の導
電性を有する必要がある。
【0070】スペーサ1020の絶縁性部材1として
は、例えば石英ガラス、Na等の不純物含有量を減少し
たガラス、ソーダライムガラス、アルミナ等のセラミッ
クス部材等が挙げられる。なお、絶縁性部材1はその熱
膨張率が気密容器及び基板1011を成す部材と近いも
のが好ましい。
【0071】スペーサ1020を構成する高抵抗膜11
には、高電位側のフェースプレート1017(メタルバ
ック1019等)に印加される加速電圧Vaを高抵抗膜
11の抵抗値Rsで除した電流が流される。そこで、ス
ペーサの抵抗値Rsは帯電防止及び消費電力からその望
ましい範囲に設定される。帯電防止の観点から表面抵抗
R/□は1012Ω/□以下であることが好ましい。十分
な帯電防止効果を得るためには1011Ω/□以下がさら
に好ましい。表面抵抗の下限はスペーサ形状とスペーサ
間に印加される電圧により左右されるが、105Ω/□
以上であることが好ましい。
【0072】絶縁性部材1に形成された高抵抗膜11の
厚みtは10nm〜1μmの範囲が望ましい。材料の表
面エネルギー及び基板との密着性や基板温度によっても
異なるが、一般的に10nm以下の薄膜は島状に形成さ
れ、抵抗が不安定で再現性に乏しい。一方、膜厚tが1
μm以上では膜応力が大きくなって膜はがれの危険性が
高まり、かつ成膜時間が長くなるため生産性が悪い。従
って、膜厚は50〜500nmであることが望ましい。
表面抵抗R/□はρ/tであり、以上に述べたR/□と
tの好ましい範囲から、高抵抗膜11の比抵抗ρは0.
1[Ωcm]乃至10の8乗[Ωcm]が好ましい。さ
らに表面抵抗と膜厚のより好ましい範囲を実現するため
には、ρは10の2乗乃至10の6乗Ωcmとするのが
良い。
【0073】スペーサは上述したようにその上に形成し
た高抵抗膜11を電流が流れることにより、あるいはデ
ィスプレイ全体が動作中に発熱することによりその温度
が上昇する。高抵抗膜11の抵抗温度係数が大きな負の
値であると温度が上昇した時に抵抗値が減少し、スペー
サに流れる電流が増加し、さらに温度上昇をもたらす。
そして電流は電源の限界を越えるまで増加しつづける。
このような電流の暴走が発生する抵抗温度係数の値は経
験的に負の値で絶対値が1%以上である。即ち、高抵抗
膜11の抵抗温度係数は−1%未満であることが望まし
い。
【0074】帯電防止特性を有する高抵抗膜11の材料
としては、例えば金属酸化物を用いることが出来る。金
属酸化物の中でも、クロム、ニッケル、銅の酸化物が好
ましい材料である。その理由はこれらの酸化物は二次電
子放出効率が比較的小さく、冷陰極素子1012から放
出された電子がスペーサ1020に当たった場合におい
ても帯電しにくいためと考えられる。金属酸化物以外に
も炭素は二次電子放出効率が小さく好ましい材料であ
る。特に、非晶質カーボンは高抵抗であるため、スペー
サ抵抗を所望の値に制御しやすい。
【0075】帯電防止特性を有する高抵抗膜11の他の
材料として、アルミと遷移金属合金の窒化物は遷移金属
の組成を調整することにより、良伝導体から絶縁体まで
広い範囲に抵抗値を制御できるので好適な材料である。
さらには後述する表示装置の作製工程において抵抗値の
変化が少なく安定な材料である。かつ、その抵抗温度係
数が−1%未満であり、実用的に使いやすい材料であ
る。遷移金属元素としてはTi,Cr,Ta等が挙げら
れる。
【0076】合金窒化膜はスパッタ、窒素ガス雰囲気中
での反応性スパッタ、電子ビーム蒸着、イオンプレーテ
ィング、イオンアシスト蒸着法等の薄膜形成手段により
絶縁性部材上に形成される。金属酸化膜も同様の薄膜形
成法で作製することができるが、この場合窒素ガスに代
えて酸素ガスを使用する。その他、CVD法、アルコキ
シド塗布法でも金属酸化膜を形成できる。カーボン膜は
蒸着法、スパッタ法、CVD法、プラズマCVD法で作
製され、特に非晶質カーボンを作製する場合には、成膜
中の雰囲気に水素が含まれるようにするか、成膜ガスに
炭化水素ガスを使用する。
【0077】スペーサ1020を構成する低抵抗膜21
は、高抵抗膜11を高電位側のフェースプレート101
7(メタルバック1019等)及び低電位側の基板10
11(配線1013,1014等)と電気的に接続する
為に設けられたものであり、以下では、中間電極層(中
間層)という名称も用いる。中間電極層(中間層)は以
下に列挙する複数の機能を有することが出来る。
【0078】高抵抗膜11をフェースプレート101
7及び基板1011と電気的に接続する。
【0079】既に記載したように、高抵抗膜11はスペ
ーサ1020表面での帯電を防止する目的で設けられた
ものであるが、高抵抗膜11をフェースプレート101
7(メタルバック1019等)及び基板1011(配線
1013,1014等)と直接或いは当接材1041を
介して接続した場合や、接続部界面に大きな接触抵抗が
発生し、スペーサ表面に発生した電荷を速やかに除去で
きなくなる可能性がある。これを避ける為に、フェース
プレート1017、基板1011及び当接材1041と
接触するスペーサ1020の当接面3或いは側面部5に
低抵抗の中間層を設けた。
【0080】高抵抗膜11の電位分布を均一化する。
【0081】冷陰極素子1012より放出された電子
は、フェースプレート1017と基板1011の間に形
成された電位分布に従って電子軌道を成す。スペーサ1
020の近傍で電子軌道に乱れが生じないようにする為
には、高抵抗膜11の電位分布を全域にわたって制御す
る必要がある。高抵抗膜11をフェースプレート101
7(メタルバック1019等)及び基板1011(配線
1013,1014等)と直接或いは当接材1041を
介して接続した場合、接続部界面の接触抵抗の為に、接
続状態のむらが発生し、高抵抗膜11の電位分布が所望
の値からずれてしまう可能性がある。これを避ける為
に、スペーサ1020がフェースプレート1017及び
基板1011と当接するスペーサ端部(当接面3或いは
側面部5)の全長域に低抵抗の中間層を設け、この中間
層部に所望の電位を印加することによって、高抵抗膜1
1全体の電位を制御可能とした。
【0082】放出電子の軌道を制御する。
【0083】冷陰極素子1012より放出された電子
は、フェースプレート1017と基板1011の間に形
成された電位分布に従って電子軌道を成す。スペーサ近
傍の冷陰極素子から放出された電子に関しては、スペー
サを設置することに伴う制約(配線、素子位置の変更
等)が生じる場合がある。このような場合、歪みやむら
の無い画像を形成する為には、放出された電子の軌道を
制御してフェースプレート1017上の所望の位置に電
子を照射する必要がある。フェースプレート1017及
び基板1011と当接する面の側面部5に低抵抗の中間
層を設けることにより、スペーサ1020近傍の電位分
布に所望の特性を持たせ、放出された電子の軌道を制御
することが出来る。
【0084】低抵抗膜21は、高抵抗膜11に比べ十分
に低い抵抗値を有する材料を選択すればよく、Ni,C
r,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等
の金属、あるいは合金、及びPd,Ag,Au,RuO
2 ,Pd−Ag等の金属や金属酸化物とガラス等から
構成される印刷導体、あるいはIn2 O3 −SnO
2 等の透明導体及びポリシリコン等の半導体材料等よ
り適宜選択される。
【0085】接合材1041はスペーサ1020が行方
向配線1013及びメタルバック1019と電気的に接
続するように、導電性をもたせる必要がある。すなわ
ち、導電性接着材や金属粒子や導電性フィラーを添加し
たフリットガラスが好適である。
【0086】また、Dx1〜Dxm及びDy1〜Dyn
及びHvは、当該表示パネルと不図示の電気回路とを電
気的に接続するために設けた気密構造の電気接続用端子
である。Dx1〜Dxmはマルチ電子ビーム源の行方向
配線1013と、Dy1〜Dynはマルチ電子ビーム源
の列方向配線1014と、Hvはフェースプレートのメ
タルバック1019と電気的に接続している。
【0087】また、気密容器内部を真空に排気するに
は、気密容器を組み立てた後、不図示の排気管と真空ポ
ンプとを接続し、気密容器内を10-7Torr程度の真
空度まで排気する。その後、排気管を封止するが、気密
容器内の真空度を維持するために、封止の直前あるいは
封止後に気密容器内の所定の位置にゲッター膜(不図
示)を形成する。ゲッター膜とは、例えばBaを主成分
とするゲッター材料をヒーターもしくは高周波加熱によ
り加熱し蒸着して形成した膜であり、該ゲッター膜の吸
着作用により気密容器内は1×10-5ないしは1×10
-7Torrの真空度に維持される。
【0088】以上説明した表示パネルを用いた画像形成
装置は、容器外端子Dx1ないしDxm、Dy1ないし
Dynを通じて各冷陰極素子1012に電圧を印加する
と、各冷陰極素子1012から電子が放出される。それ
と同時にメタルバック1019に容器外端子Hvを通じ
て数百[V]ないし数[kV]の高圧を印加して、上記
放出された電子を加速し、フェースプレート1017の
内面に衝突させる。これにより、蛍光膜1018をなす
各色の蛍光体が励起されて発光し、画像が表示される。
【0089】通常、冷陰極素子である本発明の表面伝導
型電子放出素子への1012への印加電圧は12〜16
[V]程度、メタルバック1019と冷陰極素子101
2との距離dは0.1[mm]から8[mm]程度、メ
タルバック1019と冷陰極素子1012間の電圧0.
1[kV]から10[kV]程度である。
【0090】以上、本発明の実施例の表示パネルの基本
構成と製法、及び画像形成装置の概要を説明した。続い
て、前記実施形態の表示パネルに用いたマルチ電子ビー
ム源の製造方法について説明する。本発明の画像形成装
置に用いるマルチ電子ビーム源は、冷陰極素子を単純マ
トリクス配線した電子源であれば、冷陰極素子の材料や
形状あるいは製法に制限はない。従って、例えば表面伝
導型電子放出素子やFE型、あるいはMIM型などの冷
陰極素子を用いることができる。
【0091】ただし、表示画面が大きくてしかも安価な
表示装置が求められる状況のもとでは、これらの冷陰極
素子の中でも、表面伝導型電子放出素子が特に好まし
い。すなわち、FE型ではエミッタコーンとゲート電極
の相対位置や形状が電子放出特性を大きく左右するた
め、極めて高精度の製造技術を必要とするが、これは大
面積化や製造コストの低減を達成するには不利な要因と
なる。また、MIM型では、絶縁層と上電極の膜厚を薄
くてしかも均一にする必要があるが、これも大面積化や
製造コストの低減を達成するには不利な要因となる。そ
の点、表面伝導型電子放出素子は、比較的製造方法が単
純なため、大面積化や製造コストの低減が容易である。
また、発明者らは、表面伝導型電子放出素子の中でも、
電子放出部もしくはその周辺部を微粒子膜から形成した
ものがとりわけ電子放出特性に優れ、しかも製造が容易
に行えることを見いだしている。従って、高輝度で大画
面の画像形成装置のマルチ電子ビーム源に用いるには、
最も好適であると言える。そこで、上記実施例の表示パ
ネルにおいては、電子放出部もしくはその周辺部を微粒
子膜から形成した表面伝導型電子放出素子を用いた。
【0092】そこで、まず好適な表面伝導型電子放出素
子について基本的な構成と製法及び特性を説明し、その
後で多数の素子を単純マトリクス配線したマルチ電子ビ
ーム源の構造について述べる。
【0093】(表面伝導型電子放出素子の好適な素子構
成と製法)電子放出部もしくはその周辺部を微粒子膜か
ら形成する表面伝導型電子放出素子の代表的な構成に
は、平面型と垂直型の2種類が挙げられる。
【0094】(平面型の表面伝導型電子放出素子)まず
最初に、平面型の表面伝導型電子放出素子の素子構成と
製法について説明する。図10に示すのは、平面型の表
面伝導型電子放出素子の構成を説明するための平面図
(a)及び断面図(b)である。図中、1101は基
板、1102と1103は素子電極、1104は導電性
薄膜、1105は通電フォーミング処理により形成した
電子放出部、1113は通電活性化処理により形成した
薄膜である。
【0095】基板1101としては、例えば、石英ガラ
スや青板ガラスをはじめとする各種ガラス基板や、アル
ミナをはじめとする各種セラミックス基板、あるいは上
述の各種基板上に例えばSiO2 を材料とする絶縁層
を積層した基板、などを用いることができる。
【0096】また、基板1101上に基板面と平行に対
向して設けられた素子電極1102と1103は、導電
性を有する材料によって形成されている。例えば、N
i,Cr,Au,Mo,W,Pt,Ti,Cu,Pd,
Ag等をはじめとする金属、あるいはこれらの金属の合
金、あるいはIn2 O3 −SnO2 をはじめとす
る金属酸化物、ポリシリコンなどの半導体、などの中か
ら適宜材料を選択して用いればよい。電極を形成するに
は、例えば真空蒸着などの製膜技術とフォトリソグラフ
ィー、エッチングなどのパターニング技術を組み合わせ
て用いれば容易に形成できるが、それ以外の方法(例え
ば印刷技術)を用いて形成してもさしつかえない。
【0097】素子電極1102と1103の形状は、当
該電子放出素子の応用目的に合わせて適宜設計される。
一般的には、電極間隔Lは通常は数百オングストローム
から数百マイクロメーターの範囲から適当な数値を選ん
で設計されるが、なかでも表示装置に応用するために好
ましいのは数マイクロメーターより数十マイクロメータ
ーの範囲である。また、素子電極の厚さdについては、
通常は数百オングストロームから数マイクロメーターの
範囲から適当な数値が選ばれる。
【0098】また、導電性薄膜1104の部分には、微
粒子膜を用いる。ここで述べた微粒子膜とは、構成要素
として多数の微粒子を含んだ膜(島状の集合体も含む)
のことをさす。微粒子膜を微視的に調べれば、通常は、
個々の微粒子が離間して配置された構造か、あるいは微
粒子が互いに隣接した構造か、あるいは微粒子が互いに
重なり合った構造が観測される。
【0099】微粒子膜に用いた微粒子の粒径は、数オン
グストロームから数千オングストロームの範囲に含まれ
るものであるが、なかでも好ましいのは10オングスト
ロームから200オングストロームの範囲のものであ
る。また、微粒子膜の膜厚は、以下に述べるような諸条
件を考慮して適宜設定される。すなわち、素子電極11
02あるいは1103と電気的に良好に接続するのに必
要な条件、後述する通電フォーミングを良好に行うのに
必要な条件、微粒子膜自身の電気抵抗を後述する適宜の
値にするために必要な条件、などである。具体的には、
数オングストロームから数千オングストロームの範囲の
なかで設定するが、なかでも好ましいのは10オングス
トロームから500オングストロームの間である。
【0100】また、微粒子膜を形成するのに用いられう
る材料としては、例えば、Pd,Pt,Ru,Ag,A
u,Ti,In,Cu,Cr,Fe,Zn,Sn,T
a,W,Pbなどをはじめとする金属や、PdO,Sn
O2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 など
をはじめとする酸化物や、HfB2 ,ZrB2 ,L
aB6 ,CeB6 ,YB4 ,GdB4 などをは
じめとする硼化物や、TiC,ZrC,HfC,Ta
C,SiC,WCなどをはじめとする炭化物や、Ti
N,ZrN,HfNなどをはじめとする窒化物や、S
i,Geなどをはじめとする半導体や、カーボンなどが
挙げられ、これらの中から適宜選択される。
【0101】以上述べたように、導電性薄膜1104を
微粒子膜で形成したが、そのシート抵抗値については、
103Ω/□から107Ω/□の範囲に含まれるよう設定
した。
【0102】なお、導電性薄膜1104と素子電極11
02及び1103とは、電気的に良好に接続されるのが
望ましいため、互いの一部が重なりあうような構造をと
っている。その重なり方は、図102の例においては、
下から、基板、素子電極、導電性薄膜の順序で積層した
が、場合によっては下から基板、導電性薄膜、素子電
極、の順序で積層してもさしつかえない。
【0103】また、電子放出部1105は、導電性薄膜
1104の一部に形成された亀裂状の部分であり、電気
的には周囲の導電性薄膜よりも高抵抗な性質を有してい
る。亀裂は、導電性薄膜1104に対して、後述する通
電フォーミングの処理を行うことにより形成する。亀裂
内には、数オングストロームから数百オングストローム
の粒径の微粒子を配置する場合がある。なお、実際の電
子放出部の位置や形状を精密かつ正確に図示するのは困
難なため、図102においては模式的に示した。
【0104】また、薄膜1113は、炭素もしくは炭素
化合物よりなる薄膜で、電子放出部1105及びその近
傍を被覆している。薄膜1113は、通電フォーミング
処理後に、後述する通電活性化の処理を行うことにより
形成する。
【0105】薄膜1113は、単結晶グラファイト、多
結晶グラファイト、非晶質カーボン、のいずれかか、も
しくはその混合物であり、膜厚は500[オングストロ
ーム]以下とするが、300[オングストローム]以下
とするのがさらに好ましい。なお、実際の薄膜1113
の位置や形状を精密に図示するのは困難なため、図10
2においては模式的に示した。また、平面図(a)にお
いては、薄膜1113の一部を除去した素子を図示し
た。
【0106】以上、好ましい素子の基体構成を述べた
が、実施例においては以下のような素子を用いた。
【0107】すなわち、基板1101には青板ガラスを
用い、素子電極1102と1103にはNi薄膜を用い
た。素子電極の厚さdは1000[オングストロー
ム]、電極間隔Lは2[マイクロメーター]とした。
【0108】微粒子膜の主要材料としてPdもしくはP
dOを用い、微粒子膜の厚さは約100[オングストロ
ーム]、幅Wは100[マイクロメーター]とした。
【0109】次に、好適な平面型の表面伝導型電子放出
素子の製造方法について説明する。
【0110】図11(a)〜(d)は、表面伝導型電子
放出素子の製造工程を説明するための断面図で、各部材
の表記は前記図10と同一である。
【0111】1)まず、図11(a)に示すように、基
板1101上に素子電極1102及び1103を形成す
る。
【0112】形成するにあたっては、あらかじめ基板1
101を洗剤、純水、有機溶剤を用いて十分に洗浄後、
素子電極の材料を堆積させる(堆積する方法としては、
例えば、蒸着法やスパッタ法などの真空成膜技術を用い
ればよい。)。その後、堆積した電極材料を、フォトリ
ソグラフィー・エッチング技術を用いてパターニング
し、(a)に示した一対の素子電極(1102と110
3)を形成する。
【0113】2)次に、同図(b)に示すように、導電
性薄膜1104を形成する。
【0114】形成するにあたっては、まず前記(a)の
基板に有機金属溶液を塗布して乾燥し、加熱焼成処理し
て微粒子膜を成膜した後、フォトリソグラフィー・エッ
チングにより所定の形状にパターニングする。ここで、
有機金属溶液とは、導電性薄膜に用いる微粒子の材料を
主要元素とする有機金属化合物の溶液である(具体的に
は、本実施例では主要元素としてPdを用いた。また、
実施例では塗布方法として、ディッピング法を用いた
が、それ以外の例えばスピンナー法やスプレー法を用い
てもよい。)。
【0115】また、微粒子膜で作られる導電性薄膜の成
膜方法としては、本実施例で用いた有機金属溶液の塗布
による方法以外の、例えば真空蒸着法やスパッタ法、あ
るいは化学的気相堆積法などを用いる場合もある。
【0116】3)次に、同図(c)に示すように、フォ
ーミング用電源1110から素子電極1102と110
3の間に適宜の電圧を印加し、通電フォーミング処理を
行って、電子放出部1105を形成する。
【0117】通電フォーミング処理とは、微粒子膜で作
られた導電性薄膜1104に通電を行って、その一部を
適宜に破壊、変形、もしくは変質せしめ、電子放出を行
うのに好適な構造に変化させる処理のことである。微粒
子膜で作られた導電性薄膜のうち電子放出を行うのに好
適な構造に変化した部分(すなわち電子放出部110
5)においては、薄膜に適当な亀裂が形成されている。
なお、電子放出部1105が形成される前と比較する
と、形成された後は素子電極1102と1103の間で
計測される電気抵抗は大幅に増加する。
【0118】通電方法をより詳しく説明するために、図
12に、フォーミング用電源1110から印加する適宜
の電圧波形の一例を示す。微粒子膜で作られた導電性薄
膜をフォーミングする場合には、パルス状の電圧が好ま
しく、本実施例の場合には同図に示したようにパルス幅
T1の三角波パルスをパルス間隔T2で連続的に印加し
た。その際には、三角波パルスの波高値Vpfを、順次
昇圧した。また、電子放出部1105の形成状況をモニ
ターするためのモニターパルスPmを適宜の間隔で三角
波パルスの間に挿入し、その際に流れる電流を電流計1
111で計測した。
【0119】実施例においては、例えば10-5Torr
程度の真空雰囲気下において、例えばパルス幅T1を1
[ミリ秒]、パルス間隔T2を10[ミリ秒]とし、波
高値Vpfを1パルスごとに0.1[V]ずつ昇圧し
た。そして、三角波を5パルス印加するたびに1回の割
りで、モニターパルスPmを挿入した。フォーミング処
理に悪影響を及ぼすことがないように、モニターパルス
の電圧Vpmは0.1[V]に設定した。そして、素子
電極1102と1103の間の電気抵抗が1×10の6
乗[オーム]になった段階、すなわちモニターパルス印
加時に電流計1111で計測される電流が1×10-7
以下になった段階で、フォーミング処理にかかわる通電
を終了した。
【0120】なお、上記の方法は、本実施例の表面伝導
型電子放出素子に関する好ましい方法であり、例えば微
粒子膜の材料や膜厚、あるいは素子電極間隔Lなど表面
伝導型電子放出素子の設計を変更した場合には、それに
応じて通電の条件を適宜変更するのが望ましい。
【0121】4)次に、図11(d)に示すように、活
性化用電源1112から素子電極1102と1103の
間に適宜の電圧を印加し、通電活性化処理を行って、電
子放出特性の改善を行う。
【0122】通電活性化処理とは、前記通電フォーミン
グ処理により形成された電子放出部1105に適宜の条
件で通電を行って、その近傍に炭素もしくは炭素化合物
を堆積せしめる処理のことである(図においては、炭素
もしくは炭素化合物よりなる堆積物を部材1113とし
て模式的に示した。)。なお、通電活性化処理を行うこ
とにより、行う前と比較して、同じ印加電圧における放
出電流を典型的には100倍以上に増加させることがで
きる。
【0123】具体的には、10-4ないし10-5 Tor
rの範囲内の真空雰囲気中で、電圧パルスを定期的に印
加することにより、真空雰囲気中に存在する有機化合物
を起原とする炭素もしくは炭素化合物を堆積させる。堆
積物1113は、単結晶グラファイト、多結晶グラファ
イト、非晶質カーボン、のいずれかか、もしくはその混
合物であり、膜厚は500[オングストローム]以下、
より好ましくは300[オングストローム]以下であ
る。
【0124】通電方法をより詳しく説明するために、図
13(a)に、活性化用電源1112から印加する適宜
の電圧波形の一例を示す。本実施例においては、一定電
圧の矩形波を定期的に印加して通電活性化処理を行った
が、具体的には、矩形波の電圧Vacは14[V]、パ
ルス幅T3は1[ミリ秒]、パルス間隔T4は10[ミ
リ秒]とした。なお、上述の通電条件は、本実施例の表
面伝導型電子放出素子に関する好ましい条件であり、表
面伝導型電子放出素子の設計を変更した場合には、それ
に応じて条件を適宜変更するのが望ましい。
【0125】図11(d)に示す1114は該表面伝導
型電子放出素子から放出される放出電流Ieを捕捉する
ためのアノード電極で、直流高電圧電源1115及び電
流計1116が接続されている(なお、基板1101
を、表示パネルの中に組み込んでから活性化処理を行う
場合には、表示パネルの蛍光面をアノード電極1114
として用いる。)。活性化用電源1112から電圧を印
加する間、電流計1116で放出電流Ieを計測して通
電活性化処理の進行状況をモニターし、活性化用電源1
112の動作を制御する。電流計1116で計測された
放出電流Ieの一例を図13(b)に示すが、活性化用
電源1112からパルス電圧を印加しはじめると、時間
の経過とともに放出電流Ieは増加するが、やがて飽和
してほとんど増加しなくなる。このように、放出電流I
eがほぼ飽和した時点で活性化用電源1112からの電
圧印加を停止し、通電活性化処理を終了する。
【0126】なお、上述の通電条件は、本実施例の表面
伝導型電子放出素子に関する好ましい条件であり、表面
伝導型電子放出素子の設計を変更した場合には、それに
応じて条件を適宜変更するのが望ましい。
【0127】以上のようにして、図11(e)に示す平
面型の表面伝導型電子放出素子を製造した。
【0128】(垂直型の表面伝導型電子放出素子)次
に、電子放出部もしくはその周辺を微粒子膜から形成し
た表面伝導型電子放出素子のもうひとつの代表的な構
成、すなわち垂直型の表面伝導型電子放出素子の構成に
ついて説明する。
【0129】図14は、垂直型の基本構成を説明するた
めの模式的な断面図であり、図中の1201は基板、1
202と1203は素子電極、1206は段差形成部
材、1204は微粒子膜を用いた導電性薄膜、1205
は通電フォーミング処理により形成した電子放出部、1
213は通電活性化処理により形成した薄膜、である。
【0130】垂直型が先に説明した平面型と異なる点
は、素子電極のうちの片方(1202)が段差形成部材
1206上に設けられており、導電性薄膜1204が段
差形成部材1206の側面を被覆している点にある。従
って、図10の平面型における素子電極間隔Lは、垂直
型においては段差形成部材1206の段差高Lsとして
設定される。なお、基板1201、素子電極1202及
び1203、微粒子膜を用いた導電性薄膜1204につ
いては、前記平面型の説明中に列挙した材料を同様に用
いることが可能である。また、段差形成部材1206に
は、例えばSiO2 のような電気的に絶縁性の材料を
用いる。
【0131】次に、垂直型の表面伝導型電子放出素子の
製法について説明する。図15(a)〜(f)は、製造
工程を説明するための断面図で、各部材の表記は前記図
14と同一である。
【0132】1)まず、図15(a)に示すように、基
板1201上に素子電極1203を形成する。
【0133】2)次に、同図(b)に示すように、段差
形成部材を形成するための絶縁層を積層する。絶縁層
は、例えばSiO2 をスパッタ法で積層すればよい
が、例えば真空蒸着法や印刷法など他の成膜方法を用い
てもよい。
【0134】3)次に、同図(c)に示すように、絶縁
層の上に素子電極1202を形成する。
【0135】4)次に、同図(d)に示すように、絶縁
層の一部を、例えばエッチング法を用いて除去し、素子
電極1203を露出させる。
【0136】5)次に、同図(e)に示すように、微粒
子膜を用いた導電性薄膜1204を形成する。形成する
には、前記平面型の場合と同じく、例えば塗布法などの
成膜技術を用いればよい。
【0137】6)次に、前記平面型の場合と同じく、通
電フォーミング処理を行い、電子放出部を形成する(図
11(c)を用いて説明した平面型の通電フォーミング
処理と同様の処理を行えばよい。)。
【0138】7)次に、前記平面型の場合と同じく、通
電活性化処理を行い、電子放出部近傍に炭素もしくは炭
素化合物を堆積させる(図11(d)を用いて説明した
平面型の通電活性化処理と同様の処理を行えばよ
い。)。
【0139】以上のようにして、図15(f)に示す垂
直型の表面伝導型電子放出素子を製造した。
【0140】(表示装置に用いた表面伝導型電子放出素
子の特性)以上、平面型と垂直型の表面伝導型電子放出
素子について素子構成と製法を説明したが、次に表示装
置に用いた素子の特性について述べる。
【0141】図16に、表示装置に用いた素子の、(放
出電流Ie)対(素子印加電圧Vf)特性、及び(素子
電流If)対(素子印加電圧Vf)特性の典型的な例を
示す。なお、放出電流Ieは素子電流Ifに比べて著し
く小さく、同一尺度で図示するのが困難であるうえ、こ
れらの特性は素子の大きさや形状等の設計パラメータを
変更することにより変化するものであるため、2本のグ
ラフは各々任意単位で図示した。
【0142】表示装置に用いた素子は、放出電流Ieに
関して以下に述べる3つの特性を有している。
【0143】第一に、ある電圧(これを閾値電圧Vth
と呼ぶ)以上の大きさの電圧を素子に印加すると急激に
放出電流Ieが増加するが、一方、閾値電圧Vth未満
の電圧では放出電流Ieはほとんど検出されない。
【0144】すなわち、放出電流Ieに関しては、明確
な閾値電圧Vthを持った非線形素子である。
【0145】第二に、放出電流Ieは素子に印加する電
圧Vfに依存して変化するため、電圧Vfで放出電流I
eの大きさを制御できる。
【0146】第三に、素子に印加する電圧Vfに対して
素子から放出される電流Ieの応答速度が速いため、電
圧Vfを印加する時間の長さによって素子から放出され
る電子の電荷量を制御できる。
【0147】以上のような特性を有するため、表面伝導
型電子放出素子を表示装置に好適に用いることができ
た。例えば多数の素子を表示画面の画素に対応して設け
た表示装置において、第一の特性を利用すれば、表示画
面を順次走査して表示を行うことが可能である。すなわ
ち、駆動中の素子には所望の発光輝度に応じて閾値電圧
Vth以上の電圧を適宜印加し、非選択状態の素子には
閾値電圧Vth未満の電圧を印加する。駆動する素子を
順次切り替えてゆくことにより、表示画面を順次走査し
て表示を行うことが可能である。
【0148】また、第二の特性かまたは第三の特性を利
用することにより、発光輝度を制御することができるた
め、階調表示を行うことが可能である。
【0149】(多数素子を単純マトリクス配線したマル
チ電子ビーム源の構造)次に、上述の表面伝導型電子放
出素子を基板上に配列して単純マトリクス配線したマル
チ電子ビーム源の構造について述べる。
【0150】図6に示すのは、図1の表示パネルに用い
たマルチ電子ビーム源の平面図である。基板1011上
には、図10で示すものと同様な表面伝導型電子放出素
子が配列され、これらの素子は行方向配線1013と列
方向配線1014により単純マトリクス状に配線されて
いる。行方向配線1013と列方向配線1014の交差
する部分には、電極間に絶縁層(不図示)が形成されて
おり、電気的な絶縁が保たれている。
【0151】図6のB−B′に沿った断面図が、既に示
した図7である。
【0152】なお、このような構造のマルチ電子源は、
あらかじめ基板上に行方向配線1013、列方向配線1
014、電極間絶縁層(不図示)、及び表面伝導型電子
放出素子の素子電極と導電性薄膜を形成した後、行方向
配線1013及び列方向配線1014を介して各素子に
給電して通電フォーミング処理と通電活性化処理を行う
ことにより製造した。
【0153】(駆動回路及び駆動方法)図17は、NT
SC方式のテレビ信号に基づいてテレビジョン表示を行
う為の駆動回路の概略構成をブロック図で示したもので
ある。同図中、表示パネル1701は前述した表示パネ
ルに相当するもので、前述した様に製造され、動作す
る。また、走査回路1702は表示ラインを走査し、制
御回路1703は走査回路へ入力する信号等を生成す
る。シフトレジスタ1704は1ライン毎のデータをシ
フトし、ラインメモリ1705は、シフトレジスタ17
04からの1ライン分のデータを変調信号発生器170
7に入力する。同期信号分離回路1706はNTSC信
号から同期信号を分離する。
【0154】以下、図17の装置各部の機能を詳しく説
明する。
【0155】まず表示パネル1701は、端子Dx1な
いしDxm及び端子Dy1ないしDyn、及び高圧端子
Hvを介して外部の電気回路と接続されている。このう
ち、端子Dx1ないしDxmには、表示パネル1701
内に設けられているマルチ電子ビーム源、すなわちm行
n列の行列状にマトリクス配線された冷陰極素子を1行
(n素子)ずつ順次駆動してゆく為の走査信号が印加さ
れる。一方、端子Dy1ないしDynには、前記走査信
号により選択された1行分のn個の各素子の出力電子ビ
ームを制御する為の変調信号が印加される。また、高圧
端子Hvには、直流電圧源Vaより、例えば5[kV]
の直流電圧が供給されるが、これはマルチ電子ビーム源
より出力される電子ビームに蛍光体を励起するのに十分
なエネルギーを付与する為の加速電圧である。
【0156】次に、走査回路1702について説明す
る。同回路は、内部にm個のスイッチング素子(図中、
S1ないしSmで模式的に示されている)を備えるもの
で、各スイッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧
もしくは0[V](グランドレベル)のいずれか一方を
選択し、表示パネル1701の端子Dx1ないしDxm
と電気的に接続するものである。S1ないしSmの各ス
イッチング素子は、制御回路1703が出力する制御信
号Tscanに基づいて動作するものだが、実際には例
えばFETのようなスイッチング素子を組み合わせる事
により容易に構成することが可能である。なお、前記直
流電圧源Vxは、図108に例示した電子放出素子の特
性に基づき走査されていない素子に印加される駆動電圧
が電子放出しきい値電圧Vth電圧以下となるよう、一
定電圧を出力するよう設定されている。
【0157】また、制御回路1703は、外部より入力
する画像信号に基づいて適切な表示が行われるように各
部の動作を整合させる働きをもつものである。次に説明
する同期信号分離回路1706より送られる同期信号T
syncに基づいて、各部に対してTscan及びTs
ft及びTmryの各制御信号を発生する。同期信号分
離回路1706は、外部から入力されるNTSC方式の
テレビ信号から、同期信号成分と輝度信号成分とを分離
する為の回路で、良く知られているように周波数分離
(フィルタ)回路を用いれば容易に構成できるものであ
る。同期信号分離回路1706により分離された同期信
号は、良く知られるように垂直同期信号と水平同期信号
より成るが、ここでは説明の便宜上、Tsync信号と
して図示した。一方、前記テレビ信号から分離された画
像の輝度信号成分を便宜上DATA信号と表すが、同信
号はシフトレジスタ1704に入力される。
【0158】シフトレジスタ1704は、時系列的にシ
リアルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライ
ン毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記
制御回路1703より送られる制御信号Tsftに基づ
いて動作する。すなわち、制御信号Tsftは、シフト
レジスタ1704のシフトクロックであると言い換える
こともできる。シリアル/パラレル変換された画像1ラ
イン分(電子放出素子n素子分の駆動データに相当す
る)のデータは、Id1ないしIdnのn個の信号とし
て前記シフトレジスタ1704より出力される。
【0159】ラインメモリ1705は、画像1ライン分
のデータを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路1703より送られる制御信号Tmryに
従って適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶
された内容は、I′d1ないしI′dnとして出力さ
れ、変調信号発生器1707に入力される。
【0160】変調信号発生器1707は、前記画像デー
タI′d1ないしI′dnの各々に応じて、電子放出素
子1015の各々を適切に駆動変調する為の信号源で、
その出力信号は、端子Dy1ないしDynを通じて表示
パネル1701内の電子放出素子1015に印加され
る。
【0161】図16を用いて説明したように、本発明に
関わる表面伝導型電子放出素子は放出電流Ieに対して
以下の基本特性を有している。すなわち、電子放出には
明確な閾値電圧Vth(後述する実施例の表面伝導型電
子放出素子では8[V])があり、閾値Vth以上の電
圧を印加された時のみ電子放出が生じる。また、電子放
出閾値Vth以上の電圧に対しては、図16のグラフの
ように電圧の変化に応じて放出電流Ieも変化する。こ
のことから、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、
例えば電子放出閾値Vth以下の電圧を印加しても電子
放出は生じないが、電子放出閾値Vth以上の電圧を印
加する場合には表面伝導型電子放出素子から電子ビーム
が出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化させ
ることにより出力電子ビームの強度を制御することが可
能である。また、パルスの幅Pwを変化させることによ
り出力される電子ビームの電荷の総量を制御することが
可能である。
【0162】従って、入力信号に応じて、電子放出素子
を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調
方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器1707として、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルスの
波高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いるこ
とができる。また、パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器1707として、一定の波高値の
電圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電
圧パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路
を用いることができる。
【0163】シフトレジスタ1704やラインメモリ1
705は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式の
ものでも採用できる。すなわち、画像信号のシリアル/
パラレル変換や記憶が所定の速度で行われればよいから
である。
【0164】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路1706の出力信号DATAをデジタル信号
化する必要があるが、これには同期信号分離回路170
6の出力部にA/D変換器を設ければよい。これに関連
してラインメモリ115の出力信号がデジタル信号かア
ナログ信号かにより、変調信号発生器に用いられる回路
が若干異なったものとなる。すなわち、デジタル信号を
用いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器1707に
は、例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回
路などを付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号
発生器1707には、例えば高速の発振器及び発振器の
出力する波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器
の出力値と前記メモリの出力値を比較する比較器(コン
パレータ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じ
て、比較器の出力するパルス幅変調された変調信号を電
子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器
を付加することもできる。
【0165】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器1707には、例えばオペアンプな
どを用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてシフトレ
ベル回路などを付加することもできる。パルス幅変調方
式の場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)
を採用でき、必要に応じて電子放出素子の駆動電圧まで
電圧増幅するための増幅器を付加することもできる。
【0166】このような構成をとりうる本発明の適用可
能な画像形成装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dx1乃至Dxm、Dy1乃至Dynを介して電
圧を印加することにより、電子放出が生じる。高圧端子
Hvを介してメタルバック1019あるいは透明電極
(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加
速された電子は、蛍光膜1018に衝突し、発光が生じ
て画像が形成される。
【0167】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の思
想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号につい
てはNTSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限るも
のではなく、PAL,SECAM方式など他、これらよ
り多数の走査線からなるTV信号(MUSE方式をはじ
めとする高品位TV)方式をも採用できる。
【0168】以上、本発明の実施形態について説明した
が、本発明はこれに限らず、電子源は、並列に配置した
複数の冷陰極素子の個々を両端で接続した冷陰極素子の
行を複数配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方
向(列方向と呼ぶ)に沿って、冷陰極素子の上方に配し
た制御電極(グリッドとも呼ぶ)により、冷陰極素子か
らの電子を制御するはしご状配置の電子源をなすものと
してもよい。
【0169】また、本発明の思想によれば、表示用とし
て好適な画像形成装置に限るものでなく、感光性ドラム
と発光ダイオード等で構成された光プリンタの発光ダイ
オード等の代替の発光源として、上述の画像形成装置を
用いることもできる。またこの際、上述のm本の行方向
配線とn本の列方向配線を、適宜選択することで、ライ
ン状発光源だけでなく、2次元状の発光源としても応用
できる。この場合、画像形成部材としては、以下の実施
例で用いる蛍光体のような直接発光する物質に限るもの
ではなく、電子の帯電による潜像画像が形成されるよう
な部材を用いることもできる。
【0170】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、表面に高
抵抗膜を有し、マルチ電子ビーム源及びフェースプレー
トとの接続部に低抵抗膜を有するスペーサを用いた画像
形成装置において、前記高抵抗膜と低抵抗膜の境界部で
の不意の電界集中を抑制し、放電の発生を防止するスペ
ーサを用いているので、信頼性の高い画像形成装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の画像形成装置が備える表示パネルの斜
視図
【図2】図1の表示パネルのA-A'に沿った断面図
【図3】スペーサを平板面の方向からみた模式図
【図4】製造工程で低抵抗膜境界線に凸部が発生した場
合を表す図
【図5】凸形状が発生した場合の電界集中の度合いを表
す図
【図6】図1の表示パネルに用いたマルチ電子ビーム源
の平面図
【図7】図6のマルチ電子ビーム源のB-B'に沿った断
面図
【図8】蛍光体のレイアウト図
【図9】蛍光体の他のレイアウト図
【図10】平面型の表面伝導型電子放出素子の平面図及
び断面図
【図11】平面型の表面伝導型電子放出素子の製造工程
【図12】フォーミング電圧の波形図
【図13】活性化処理を説明するための波形図
【図14】垂直型の表面伝導型電子放出素子の断面図
【図15】垂直型の表面伝導型電子放出素子の製造工程
【図16】電子放出素子の特性を示すグラフ
【図17】テレビジョン表示を行うための駆動回路のブ
ロック図
【図18】従来の表面伝導型電子放出素子の平面図
【図19】電界放出型電子放出素子の断面図
【図20】MIM型電子放出素子の断面図
【図21】平面型の画像形成装置をなす表示パネル部の
一例を示す斜視図
【符号の説明】
1 絶縁性部材 3 当接面 5 側面部 11 高抵抗膜 21 低抵抗膜 22 凸部 31 境界膜 1010 黒色の導電体 1011 基板 1012 冷陰極素子 1013 行方向配線 1014 列方向配線 1015 リアプレート 1016 側壁 1017 フェースプレート 1018 蛍光膜 1019 メタルバック 1020 スペーサ 1101 基板 1102,1103 素子電極 1104 導電性薄膜 1105 電子放出部 1110 フォーミング用電源 1111 電流計 1112 活性化用電源 1113 通電活性化処理により形成した薄膜 1114 アノード電極 1115 直流高電圧電源 1116 電流計 1201 基板 1202,1203 素子電極 1204 導電性薄膜 1205 電子放出部 1206 段差形成部材 1213 通電活性化処理により形成した薄膜 1701 表示パネル 1702 走査回路 1703 制御回路 1704 シフトレジスタ 1705 ラインメモリ 1706 同期信号分離回路 1707 変調信号発生器 3001 基板 3004 導電性薄膜 3005 電子放出部 3010 基板 3011 エミッタ配線 3012 エミッタコーン 3013 絶縁層 3014 ゲート電極 3020 基板 3021 下電極 3022 絶縁層 3023 上電極 3111 基板 3112 冷陰極素子 3113 行方向配線 3114 列方向配線 3115 リアプレート 3116 側壁 3117 フェースプレート 3118 蛍光膜 3119 メタルバック 3120 スペーサ

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 冷陰極素子を有する電子源と、前記電子
    源より放出された電子を制御する電極と、前記電子源よ
    り放出された電子の衝突により画像を形成する画像形成
    部材と、前記電子源と前記電極の間に配置されたスペー
    サとを有する画像形成装置に於いて、 前記スペーサは表面に高抵抗膜を有し、前記電子源及び
    前記電極に対する前記スペーサの当接部に低抵抗膜を有
    し、前記高抵抗膜は前記低抵抗膜を介して前記電子源及
    び前記電極に電気的に接続され、 前記スペーサの一部に、前記低抵抗膜から前記高抵抗膜
    へと抵抗値が連続的に変化する領域を設けたことを特徴
    とする画像形成装置。
  2. 【請求項2】 前記低抵抗膜の境界線は前記領域を超え
    て前記高抵抗膜側には存在しないことを特徴とする請求
    項1の画像形成装置。
  3. 【請求項3】 前記低抵抗膜の境界線のうち、前記高抵
    抗膜側への凸部領域の高さが幅に対して2倍以下である
    ことを特徴とする請求項2の画像形成装置。
  4. 【請求項4】 前記高抵抗膜と前記低抵抗膜の表面抵抗
    値比は、5倍以上500倍以下であることを特徴とする
    請求項1の画像形成装置。
  5. 【請求項5】 前記高抵抗膜と前記低抵抗膜の表面抵抗
    値比は、10倍以上50倍以下であることを特徴とする
    請求項1の画像形成装置。
  6. 【請求項6】 前記領域の幅は、10μm以上で100
    μm以下であることを特徴とする請求項1の画像形成装
    置。
  7. 【請求項7】 前記領域の幅は、10μm以上で30μ
    m以下であることを特徴とする請求項1の画像形成装
    置。
  8. 【請求項8】 前記領域が、可動マスクによるスパッタ
    成膜、イオン打込み、インクジェット塗布、印刷、加熱
    処理のいずれかで形成されることを特徴とする請求項1
    の画像形成装置。
  9. 【請求項9】 前記複数の冷陰極素子は配線にて結線さ
    れ、前記スペーサの前記電子源との電気的接続は、前記
    配線にてなされることを特徴とする請求項1記載の画像
    形成装置。
  10. 【請求項10】 前記複数の冷陰極素子は配線にて結線
    され、前記スペーサの前記電子源との電気的接続は、前
    記配線とは電気的に接続されていない第2の配線にてな
    されることを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。
  11. 【請求項11】 前記複数の冷陰極素子が結線される前
    記配線は、複数の行方向配線と複数の列方向配線からな
    るマトリクス配線であることを特徴とする請求項7又は
    8のいずれか一つに記載された画像形成装置。
  12. 【請求項12】 前記複数の冷陰極素子が結線される前
    記配線は、複数の行方向配線からなり、前記冷陰極素子
    は、隣接する行方向配線と結線されることを特徴とする
    請求項7又は8のいずれか一つに記載された画像形成装
    置。
  13. 【請求項13】 前記高抵抗膜は、105Ω/□以上で
    1012Ω/□以下の表面抵抗値を有することを特徴とす
    る請求項1記載の画像形成装置。
  14. 【請求項14】 前記冷陰極素子は、電極間に電子放出
    部を含む導電性薄膜を有することを特徴とする請求項1
    記載の画像形成装置。
  15. 【請求項15】 前記冷陰極素子は、表面伝導型電子放
    出素子であることを特徴とする請求項1記載の画像形成
    装置。
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CN100407360C (zh) * 2004-01-05 2008-07-30 佳能株式会社 图像形成装置

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