JP2000132917A

JP2000132917A - 情報記録媒体の欠陥を管理する方法、その装置及び情報記録媒体

Info

Publication number: JP2000132917A
Application number: JP33775199A
Authority: JP
Inventors: Motoyuki Itou; 基志伊藤; Takahiro Nagai; 隆弘永井; Hiroshi Ueda; 宏植田
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1995-04-21
Filing date: 1999-11-29
Publication date: 2000-05-12

Abstract

(57)【要約】【課題】情報記録媒体に生じた欠陥を小さなサイズの
欠陥リストで管理することが可能な欠陥管理方法を提供
する。【解決手段】光ディスク等の情報記録媒体に生じた欠
陥を管理する方法であって、光ディスク装置その他の情
報記録再生装置に用いられる。情報記録媒体上の欠陥リ
スト（図２（ｂ））にはデータセクタ領域に属する欠陥
セクタのアドレスとその欠陥セクタを代替するスペアセ
クタ領域に属する正常なセクタのアドレスとの組（図２
（ｂ）におけるＡ１＆Ａ２、Ｂ１＆Ｂ３）のみが記録さ
れ、欠陥となったスペアセクタ（図２（ａ）におけるＢ
２）に関する情報は記録されない。

Description

【発明の詳細な説明】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク等の情
報記録媒体に生じた欠陥を管理する方法、その方法を実
践する装置及び情報記録媒体に関し、特に繰り返し記録
で劣化し易い情報記憶媒体に生じた欠陥の管理に関す
る。

【従来の技術】近年、ホストコンピュータの補助記憶装
置として、大容量で交換可能な情報記憶媒体を扱う情報
記録再生装置が普及し始めている。特に光ディスク装置
は、レーザ光を用いて光ディスク上に微少なピットを形
成することによって記録再生を行うので、大容量で交換
可能な情報記録に適している。図１５は、光ディスクを
用いる一般的なコンピュータシステムの構成を示す図で
ある。ところが、光ディスクは、その記録面に欠陥を持
つ媒体であって、生のバイトエラーレート（ＢＥＲ）は
１０の−４乗程度を想定しなければならない。そこで、
エラー訂正コードを付加することによって、訂正後のＢ
ＥＲを１０の−１２乗以下に押さえている。これは、欠
陥がランダムに分布していると仮定した場合であって、
エラー訂正の限界を超えるようなバーストエラーも存在
しうる。そこでさらに、エラー訂正の限界を超える場所
は他のよい場所で交替させるという欠陥管理が行われ
る。従来の光ディスク装置で用いられる欠陥管理につい
て２種類の方法を説明する。第１の従来方法は、９０ｍ
ｍ光ディスクの国際標準規格であるＩＳＯ１００９０
（以下ＩＳＯ規格と略す）で採用されている方法であ
る。ＩＳＯ規格の１８章に光ディスクのレイアウトに関
する記述がある。図１６（ａ）は、ＩＳＯ規格の表５か
ら抜粋した光ディスクのデータゾーンのレイアウト図で
ある。このレイアウト図は、図１７に示される光ディス
クのデータゾーンにおける各トラックをテーブル形式に
並べたものである。図１６（ａ）において、ＤＭＡ（De
fect Management Area）１〜４と示されている領域が、
欠陥管理に関する情報が納められている領域である。Ｄ
ＭＡ１〜４には、全て同じ情報が多重記録されている。
これは、ＤＭＡ１〜４自身が欠陥に冒されている場合の
備えである。図１６（ｂ）は、各ＤＭＡの構成要素を示
す図である。ＤＤＳ（Disk Definition Sector）には、
次に述べる書換ゾーン（Rewritable Zone）のパーティ
ションに関する情報が納められている。ＰＤＬ（Primar
y Defect List）とＳＤＬ（Secondary Defect List）
は、欠陥セクタの位置を登録するための欠陥リストであ
る。ＰＤＬに登録されている欠陥セクタには、セクタス
リッピング（Sector Slipping）アルゴリズムが適用さ
れ、ＳＤＬに格納されている欠陥セクタには、リニアリ
プレースメント（Linear Replacement）アルゴリズムが
適用される。なお、セクタとは、図１７に示されるよう
に、各トラックを予め決められた数に分割した部分をい
う。また、セクタの位置は、そのセクタを一意に識別す
るアドレスで特定される。図１６（ｃ）は、ＩＳＯ規格
の表６から抜粋した書換ゾーンのパーティション図であ
る。書換ゾーンは、複数のグループに分けられる。各グ
ループは、複数のデータセクタと複数のスペアセクタか
ら構成されている。グループは、欠陥管理の単位となる
ものであり、欠陥と判断されたデータセクタは、基本的
に同一グループのいずれかのスペアセクタによって代替
される。また、ＩＳＯ規格の１９章には、欠陥管理に関
する記述がある。その中で特に、ＳＤＬを用いたリニア
リプレースメントアルゴリズムについて説明する。図１
８は、ＳＤＬの構成図で、ＩＳＯ規格の表１２から簡略
化して示している。図１８において、ＳＤＬ４００は、
ヘッダ４０１と複数のエントリー４０２からなってい
る。ヘッダ４０１は、ＳＤＬであること示す識別子とエ
ントリーの個数などの情報から構成されている。各エン
トリーは、欠陥セクタの位置を記憶しておく領域４０３
とそれを代替するスペアセクタ（これを代替セクタと呼
ぶ）の位置を記憶しておく領域４０４とを一組とする記
憶領域から構成されている。図１９（ａ）及び図１９
（ｂ）は、ＩＳＯ規格によるリニアリプレースメントア
ルゴリズムを説明するための図である。図１９（ａ）
は、書換ゾーンのレイアウト図である。本図において、
各行は光ディスクの１つのトラックに該当し、小さな正
方形が一つのセクタに該当する。書換ゾーンは２つのグ
ループ（Group1, Group2）に分割されており、各グルー
プは複数のデータセクタと複数のスペアセクタから構成
されている。いま、図中の黒丸で示されたセクタを、本
図に示されるように、セクタＡ１、セクタＡ２、セクタ
Ｂ１、セクタＢ２，セクタＢ３と名付ける。図１９
（ｂ）は、ＳＤＬの内容を示す図である。本図には、Ｓ
ＤＬに登録された３つのエントリー、即ち、セクタＡ１
はセクタＡ２で代替されるという情報と、セクタＢ１は
セクタＢ２で代替されるという情報と、セクタＢ２はセ
クタＢ３で代替されるという情報とが示されている。こ
のような情報がＳＤＬに登録されている場合には、ホス
トコンピュータがセクタＡ１をアクセスせよと命令する
と、光ディスク装置は欠陥セクタＡ１の代わりに代替セ
クタＡ２をアクセスすることになる。また、ホストコン
ピュータがセクタＢ１をアクセスせよと命令すると、光
ディスク装置は欠陥セクタＢ１の代わりに代替セクタＢ
３をアクセスすることになる。後者の例では、Ｂ１→Ｂ
２とＢ２→Ｂ３の情報を元に、Ｂ１→Ｂ３の情報と解釈
される。この様なＳＤＬのリスト構造をチェイニング
（Chaining）方式と呼ぶ。ところで、光ディスクの記録
再生方式には、大別して光磁気方式と相変化方式とがあ
る。上述したＩＳＯ規格は、光磁気方式の光ディスクに
適用されるものである。光磁気方式と相変化方式は、そ
れぞれ長所と短所を持っている。光磁気方式の長所は、
繰り返し記録しても媒体の劣化がないことである。逆に
短所は、光以外に磁界も用い、通常は記録動作に先立っ
て消去動作が必要で、再生の為に偏光角の検出が必要な
ことである。一方、相変化方式の長所と短所は、光磁気
方式のそれの裏返しである。即ち、相変化の長所は、光
さえあればよく、記録動作に先立って消去動作の必要が
なく、再生の為にＣＤ（Compact Disc）と同じ検出でよ
いことである。逆に短所は、繰り返し記録によって媒体
が劣化することである。従って、相変化方式の場合、光
磁気方式に比べて、スペアセクタを多く用意するのが一
般的である。そこで、欠陥管理についての第２の従来方
法として、１３０ｍｍ相変化光ディスクの米国標準規格
であるＡＮＳＩＸ３Ｂ１１／９４−１５４５ｔｈ
Ｄｒａｆｔ（以下ＡＮＳＩ規格と略す）で採用されてい
る方法を説明する。ＡＮＳＩ規格において、ＩＳＯ規格
と異なる点は、ＳＤＬのリスト構造に関する箇所であ
る。この箇所に関する記述は、ＡＮＳＩ規格の１７章３
節「リニアリプレースメントアルゴリズム」にある。こ
こでは、ＳＤＬのリスト構造にダイレクトポインタ（Di
rect Pointer）方式が用いられ、また、代替セクタが欠
陥となった場合には、そのＳＤＬの代替セクタ位置４０
４にフラグ（１６進数ＦＦＦＦＦＦＦＦ）が書き込まれ
た新エントリーが作成される。図２０（ａ）及び図２０
（ｂ）は、ＡＮＳＩ規格によるリニアリプレースメント
アルゴリズムを説明するための図である。図２０（ａ）
は、書換ゾーンのレイアウト図であり、図１９（ａ）と
同一とする。図２０（ｂ）は、ＳＤＬの内容を示す図で
ある。図２０（ｂ）に示されるように、このＳＤＬに
は、セクタＡ１はセクタＡ２で代替されている情報と、
セクタＢ１がセクタＢ３で代替されている情報と、セク
タＢ２は欠陥となった代替セクタであるという情報とが
登録されているとする。このような情報がＳＤＬに登録
されている場合には、ホストコンピュータがセクタＡ１
にアクセスせよと命令すると、光ディスク装置は欠陥セ
クタＡ１の代わりに代替セクタＡ２をアクセスすること
になる。また、ホストコンピュータがセクタＢ１をアク
セスせよと命令すると、光ディスク装置は欠陥セクタＢ
１の代わりに代替セクタＢ３をアクセスすることにな
る。従って、ダイレクトポインタ方式は、Ｂ１→Ｂ２と
Ｂ２→Ｂ３をＢ１→Ｂ３と解釈することなしに、チェイ
ニング方式と同じ結果を得ることができる。次に、ＩＳ
Ｏ規格およびＡＮＳＩ規格に沿って、ホストコンピュー
タがアクセスしようとしたセクタが欠陥セクタと判別さ
れたときに、光ディスク装置において、その代わりのセ
クタを割り当てる処理について説明する。図２１は、代
替セクタを割り当てるための処理のフローチャートであ
る。先ず、光ディスク装置１０２は、利用可能なスペア
セクタを検索する（ステップＳ７０１）。その結果、利
用可能なスペアセクタがあればＳＤＬを更新して（ステ
ップＳ７０２、Ｓ７０３）、正常終了するが（ステップ
Ｓ７０４）、一方、利用可能なスペアセクタがなければ
エラー終了する（ステップＳ７０２、Ｓ７０５）。図２
２は、図２１におけるステップＳ７０１を詳細に説明す
るために用意したもので、利用可能な代替セクタの検索
処理のフローチャートである。なお、ＩＳＯ規格および
ＡＮＳＩ規格において、同一グループに属するスペアセ
クタはそのアドレスの小さいもの順に代替セクタとして
使用されていく旨が規定されている。また、一のグルー
プに属するスペアセクタが無くなると、他のグループの
スペアセクタを使用する旨が規定されている。先ず、光
ディスク装置１０２は、スペアセクタを検索する対象と
なるグループとして、欠陥セクタが属するグループを第
一候補とする（ステップＳ８０１）。次に、そのグルー
プに属し、既に代替セクタとして使用されているスペア
セクタの内で最大のアドレスを持つものをＳＤＬから検
索し（ステップＳ８０２）、検索したその代替セクタの
次のアドレスを持つスペアセクタを、この欠陥セクタの
代替セクタとして利用可能なスペアセクタの候補とする
（ステップＳ８０３）。そして、この候補としたスペア
セクタがスペア領域内のセクタであるかどうか判断し
（ステップＳ８０４）、スペア領域のセクタである場合
には正常終了する（ステップＳ８０８）。一方、スペア
領域のセクタでない場合には、ステップＳ８０２で検索
した代替セクタがグループの最後のスペアセクタであっ
たことを意味するので、即ち、もはやそのグループで利
用可能なスペアセクタが無いことを意味するので、続い
て、利用可能なスペアセクタをまだ検索していないグル
ープがあるかどうかを判断する（ステップＳ８０５）。
その結果、まだ検索していないグループがあれば、その
グループを、スペアセクタを検索する対象となるグルー
プとして設定し（ステップＳ８０６）、再び利用可能な
スペアセクタを探す（ステップＳ８０２〜Ｓ８０５）。
一方、検索していないグループが存在しなければ、エラ
ー終了する（ステップＳ８０７）。次に、図２１におけ
るステップＳ７０３を詳細に説明する。このＳＤＬの更
新（ステップＳ７０３）は、ＩＳＯ規格とＡＮＳＩ規格
によって処理が異なる。図２３は、ＩＳＯ規格に適用す
るＳＤＬの更新処理のフローチャートであり、図２４
は、ＡＮＳＩ規格に適用するＳＤＬの更新処理のフロー
チャートである。但し、どちらの規格においても、欠陥
セクタ位置４０３に書き込まれているアドレスが昇順に
なるように、ＳＤＬのエントリーを並べなければならな
いと規定されている。先ず、図２３のフローチャートを
用いて、ＩＳＯ規格に適用するＳＤＬの更新処理を説明
する。光ディスク装置１０２は、ＳＤＬの新エントリー
の欠陥セクタ位置４０３に、検出された欠陥セクタのア
ドレスを書き込む（ステップＳ９０１）。続いて、新エ
ントリーの代替セクタ位置４０４に、検索されたスペア
セクタのアドレスを書き込み（ステップＳ９０２）、エ
ントリー総数を１増やす（ステップＳ９０３）。最後
に、既存のエントリーに新エントリーを加えたものを対
象として、欠陥セクタ位置４０３に書き込まれているア
ドレスの昇順に並べ替える（ステップＳ９０４）。次
に、図２４のフローチャートを用いて、ＡＮＳＩ規格に
適用するＳＤＬの更新処理を説明する。先ず、光ディス
ク装置１０２は、検出された欠陥セクタが既にＳＤＬに
既に登録されている代替セクタかどうか判断する（ステ
ップＳ１００１）。その結果、代替セクタでないと判断
した場合には、新エントリーの欠陥セクタ位置４０３
に、その欠陥セクタのアドレスを書き込み（ステップＳ
１００２）、続いて、その新エントリーの代替セクタ位
置４０４に、既に検索されているスペアセクタのアドレ
スを書き込む（ステップＳ１００３）。一方、ステップ
Ｓ１００１において、検出された欠陥セクタが既にＳＤ
Ｌに登録されている代替セクタであると判断した場合に
は、その代替セクタを持つエントリーの代替セクタ位置
４０４に、既に検索されているスペアセクタのアドレス
を書き込む（ステップＳ１００４）。そして、新エント
リーの欠陥セクタ位置４０３に、欠陥となったその代替
セクタのアドレスを書き込み（ステップＳ１００５）、
その代替セクタ位置４０４にＦＦＦＦＦＦＦＦ（１６進
数）を書き込む（ステップＳ１００６）。最後に、エン
トリー総数を１増やした後（ステップＳ１００７）、既
存のエントリーにその新エントリーを加えたものを対象
として、欠陥セクタ位置に書き込まれているアドレスの
昇順に並べ替える（ステップＳ１００８）。以上のよう
にして、第１の従来方式（チェイニング方式）及び第２
の従来方式（ダイレクトポインタ方式）により、ＳＤＬ
のエントリーを更新しながら光ディスクの欠陥管理が行
われる。

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、それら
両方式においては、欠陥セクタの数だけＳＤＬのエント
リーを登録しなければならないため、容量の大きなＳＤ
Ｌが必要とされるという問題点を有している。特に、相
変化方式の光ディスクは、上述したように、光磁気方式
に比べて繰り返し記録による媒体の劣化の度合いが大き
いために、かなり大きなＳＤＬを準備しておく必要があ
る。さらに、そのＳＤＬを含むＤＭＡは、１つの光ディ
スクにつき４箇所の領域に複製して置かれる。そのため
に、ＤＭＡを構成するセクタ数が大幅に増加することと
なり、書換ゾーンの領域が圧迫されるという問題点があ
る。また、ＤＭＡの領域が大きくなると、ＤＭＡ自体に
欠陥セクタを含む確率が増加することとなり、結果的に
欠陥管理の信頼性が低下してしまうという問題点もあ
る。そこで、本発明は、従来技術におけるＳＤＬ、即
ち、情報記録媒体の欠陥セクタとその代替セクタに関す
る情報を記憶する欠陥リストのサイズを小さくすること
を目的とする。

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、予め定められた記録領域であるデータ領
域、スペア領域及び欠陥リストを有する情報記録媒体に
おいて発生した欠陥を記録再生の単位であるセクタ単位
で管理する方法であって、欠陥セクタが発見されるとそ
の欠陥セクタを代替するセクタを前記スペア領域の中か
ら割り当てる代替セクタ割当ステップと、前記欠陥セク
タが前記データ領域又は前記スペア領域のいずれに属す
るかを判断する領域判断ステップと、前記領域判断ステ
ップにおいて前記欠陥セクタが前記データ領域に属する
と判断された場合には、その欠陥セクタの識別情報と前
記代替セクタ割当ステップで割り当てた代替セクタの識
別情報とを組にして前記欠陥リストの新たな記録箇所に
書き込む欠陥新規登録ステップと、前記領域判断ステッ
プにおいて前記欠陥セクタが前記スペア領域に属すると
判断された場合には、前記代替セクタ割当ステップで割
り当てた代替セクタの識別情報を前記欠陥リストのその
欠陥セクタの識別情報が書き込まれていた記録箇所に上
書きすることにより、前記欠陥リストには前記データ領
域又は前記スペア領域に属するセクタの識別情報のみを
書き込む欠陥上書きステップとからなる。ここで、スペ
ア領域とデータ領域の一部の組を１つのグループとする
複数のグループに分割し、情報記録媒体にはスペア枯渇
情報領域を設け、割り当て可能なスペアセクタが残され
ているか否かを示す各グループごとの枯渇情報をこの領
域に記録し更新していくこともできる。また、情報記録
媒体には上記スペア枯渇情報領域に替えて次スペアセク
タ指摘領域を設け、割り当て可能なセクタが残されてい
るか否かを示す情報だけでなく、次に割り当てるべきセ
クタの識別情報をもこの領域に記録し更新していくこと
もできる。また、前記欠陥リストには、データ領域に属
する欠陥セクタの識別情報とその欠陥セクタを代替する
スペア領域に属する正常なセクタの識別情報との組だけ
でなく、そのスペア領域には割り当て可能なセクタが残
されていないことを示す情報を記録することもできる。

【発明の実施の形態】本発明に係る欠陥管理方法及びそ
れを実行する光ディスク装置について、図面を参照しな
がら以下に説明する。（第１実施例）第１実施例は、書換ゾーンが唯一つのグ
ループから構成される場合に適用できる欠陥管理方法に
関するものである。（光ディスクでのレイアウト）本実施例と従来技術との
主な相違点は、書換ゾーンの構成及びＳＤＬの登録・更
新方法にあるので、先ず、その相違点を中心に説明す
る。図１（ａ）は、本発明の第１実施例に係る光ディス
クのデータゾーンのレイアウト図であり、従来例の図１
６（ａ）に対応する。なお、図１（ａ）及び図１（ｂ）
は、それぞれ従来例の図１６（ａ）及び図１６（ｂ）と
同一である。図１（ｃ）は、書換ゾーンのパーティショ
ン図である。本実施例では、書換ゾーンは１グループと
し、複数グループに分けられていないものとしているの
で、従来例の図１（ｃ）と異なる。なお、ＳＤＬ自体の
構成は、従来例の図１８で示されたＩＳＯ規格のＳＤＬ
と同一である。また、本実施例における光ディスクのデ
ータゾーンにおけるトラックとセクタの物理的な配置
は、従来例の図１７と同一である。ここで、図１（ａ）
から判るように、各ＤＭＡ用に用意されている領域は、
１．５トラックである。１トラックは２５セクタからな
るので、各ＤＭＡの大きさは３７セクタである。ＤＤＳ
とＰＤＬにそれぞれ１セクタとすると、ＳＤＬは最大３
５セクタとすることができる。１セクタの容量は５１２
バイトであり、ＳＤＬのヘッダが１６バイトであり、Ｓ
ＤＬの各エントリーが８バイトで構成されていることか
ら、ＳＤＬの最大エントリー数は２２３８となる。な
お、スペアセクタの総数は、ＩＳＯ規格では１０２４以
下に制限されているが、ＤＭＡの領域の制限だけならば
２２３８まで可能である。本実施例においては、図１
（ｃ）に示されるスペアセクタの領域は、２２３８を越
えるスペアセクタを割り当てている。これは、情報記憶
媒体の繰り返し記録による劣化を見込んでいるからであ
る。この数は、情報記憶媒体を初期化するときに、ＤＤ
Ｓに記載される。即ち、本発明のスペア割当は、情報記
憶媒体の初期化時に、ＳＤＬの最大エントリー数よりも
多くのスペアセクタを割り当てたことをＤＤＳに記載す
る。図２（ａ）及び図２（ｂ）は、本実施例におけるリ
ニアリプレースメントアルゴリズムを説明するための図
である。図２（ａ）は、書換ゾーンのレイアウト図であ
るが、この書換ゾーンには、唯一つのグループしかな
く、そのグループは複数のデータセクタと複数のスペア
セクタから構成されている。ここでは、光ディスクでの
欠陥は、従来技術での説明と同様の状況を想定してい
る。即ち、セクタＡ１、セクタＡ２、セクタＢ１、セク
タＢ２、セクタＢ３が図示された位置にあり、このうち
セクタＡ１とセクタＢ１とセクタＢ２が欠陥セクタとす
る。図２（ｂ）は、そのような状況におけるＳＤＬの内
容を示す図である。図２（ｂ）から判るように、このＳ
ＤＬのは、セクタＡ１はセクタＡ２で代替されている情
報と、セクタＢ１がセクタＢ３で代替されている情報と
が登録されているが、セクタＢ２が欠陥となった代替セ
クタであるという情報は登録されていない。これは、セ
クタＢ２は以前にセクタＢ１を代替していたのである
が、セクタＢ２自体が劣化して欠陥セクタとなったの
で、セクタＢ２に関する情報はＳＤＬから抹消されたの
である。即ち、本実施例の図２（ｂ）と従来例の図１９
（ｂ）及び図２０（ｂ）とを比較して明らかなように、
従来では３つのエントリーが必要とされた欠陥状況が本
実施例ではわずか２つのエントリーで管理されている。
ホストコンピュータがセクタＢ１をアクセスせよと命令
すると、光ディスク装置はこのＳＤＬの内容を参照し
て、欠陥セクタＢ１の代わりに代替セクタＢ３をアクセ
スすることになる。従って、欠陥となった代替セクタＢ
２に関する情報が無くても、光ディスク装置は問題なく
欠陥管理を行うことができる。（光ディスク装置の構成）次に、上記の欠陥管理方法を
実行する光ディスク装置の構成について説明する。図３
は、本実施例に係る光ディスク装置１３０２の構成を示
すブロック図である。なお、本図には、図１５に対応さ
せるために、光ディスク装置１３０２の他にホストコン
ピュータ１３０１及び光ディスク１３１２も同時に示し
ている。光ディスク装置１３０２は、大きく分けて光デ
ィスクドライブ１３０４とディスクコントローラ１３０
３から構成される。光ディスクドライブ１３０４は、こ
こに装着された光ディスク１３１２を回転させる機構
部、データの記録／再生を行う光ヘッドや信号処理部等
からなる。ディスクコントローラ１３０３は、ホストイ
ンタフェース１３０５、転送データバッファ１３０６、
ドライブインタフェース１３０７、主制御部１３０８、
管理データバッファ１３０９、エラー検出訂正部１３１
０及びバス１３１１からなる。ホストインタフェース１
３０５は、ホストコンピュータ１３０１と接続され、光
ディスクドライブ１３０４に装着された光ディスク１３
１２の特定セクタへのアクセス命令を受けたり転送デー
タの授受を行う。ドライブインタフェース１３０７は、
光ディスクドライブ１３０４と接続され、ドライブコマ
ンドや転送データの授受を行う。転送データバッファ１
３０６は、上記転送データを一時的に格納するためのＲ
ＡＭであり、光ディスクドライブ１３０４での記録／再
生速度とホストコンピュータ１３０１とのデータ転送速
度との差を吸収する。エラー検出訂正部１３１０は、読
み出したデータ及びエラー訂正コードを用いてエラー検
出及び訂正を行うと共に、アクセスするセクタがそのエ
ラー訂正コードによる訂正能力を越えた欠陥セクタであ
るか否かの検出も行う。管理データバッファ１３０９
は、ＲＡＭからなり、光ディスク１３１２上の４つのＤ
ＭＡの複製を一時的に格納するための領域を有する。主
制御部１３０８は、ＣＰＵ、ＲＯＭ及びＲＡＭからな
り、内臓する制御プログラムに従って、バス１３１１を
介してディスクコントローラ１３０３全体の制御を行
う。また、主制御部１３０８は、光ディスク１３１２上
のＤＭＡを読み出して管理データバッファ１３０９に格
納し、エラー検出訂正部１３１０から欠陥セクタを検出
した旨の通知を受けると管理データバッファ１３０９の
内容を更新し、適当な時期にその内容を光ディスク１３
１２上のＤＭＡにライトバックすることにより、装着さ
れた光ディスク１３１２の欠陥管理をも行っている。（光ディスク装置の動作）以上のように構成された光デ
ィスク装置の欠陥管理における動作について説明する。
なお、上述したように、欠陥管理自体は、主制御部１３
０８からの指示に基づいて、最終的に、光ディスクドラ
イブ１３０４に装着された光ディスク１３１２上のＤＭ
Ａ、特に、そのＤＭＡを構成するＳＤＬが更新されるこ
とにより実現されるので、そのＳＤＬの更新手順を中心
に説明する。図４は、ホストコンピュータ１３０１がア
クセスしようとした光ディスク１３１２上のセクタが欠
陥セクタである場合に、光ディスク装置１３０２におい
て行われる代替セクタの割り当てのための処理のフロー
チャートであり、従来例での図２１に対応する。先ず、
光ディスク装置１３０２は、光ディスク１３１２上の利
用可能なスペアセクタを検索する（ステップＳ１４０
１）。その結果、利用可能なスペアセクタがなければエ
ラー終了する（ステップＳ１４０２、Ｓ７０５）。一
方、利用可能なスペアセクタがあればＳＤＬを更新し
（ステップＳ１４０２Ｓ７０３）、続いて、登録数がオ
ーバーしているかどうかを判断する（ステップＳ１４０
４）。その結果、登録数がオーバーしなければ正常終了
し（ステップＳ１４０５）、そうでなければエラー終了
する（ステップＳ１４０６）。従来例との相違点は、登
録数オーバーのチェック（ステップＳ１４０４）を行っ
ていることである。これは、本実施例においては、上述
したように、ＳＤＬに登録できる最大エントリー数より
も多くのスペアセクタを書換ゾーンに割り当てているか
らである。図５は、ステップＳ１４０１を詳細に説明す
るために用意したもので、利用可能なスペアセクタを検
索するための処理のフローチャートである。なお、ＩＳ
Ｏ規格と同様に、用意されたスペアセクタはアドレスの
小さいもの順に代替セクタとして使用していくものとす
る。但し、グループは唯一つしか存在しない。先ず、光
ディスク装置１３０２は、代替セクタとして使用済みの
スペアセクタの中から最大のアドレスを持つものをＳＤ
Ｌから検索する（ステップＳ１５０１）。次に、検索さ
れたそのスペアセクタの次のアドレスを持つセクタを利
用可能なスペアセクタの候補として挙げる（ステップＳ
１５０２）。続いて、その候補がスペア領域内のものか
どうかを判断し（ステップＳ１５０３）、その結果、ス
ペア領域のセクタであれば正常終了し（ステップＳ１５
０４）、そうでなければエラー終了する（ステップＳ１
５０５）。なお、本実施例ではグループが１つしか存在
しないので、他のグループからスペアセクタを借りるこ
とはできない。従って、代替セクタ自体が欠陥となった
場合には、その代替セクタの登録をＳＤＬから抹消し、
その代替セクタのよりも大きいアドレスを持つ他の正常
な代替セクタをＳＤＬに登録する。これにより、代替セ
クタとして使用済みのスペアセクタの中で最大のアドレ
スを持つものは、必ずＳＤＬに登録されていることにな
る。図６は、図４におけるステップＳ１４０３を詳細に
説明するために用意したもので、ＳＤＬの更新処理のフ
ローチャートである。先ず、光ディスク装置１３０２
は、検出された欠陥セクタがＳＤＬに既に登録されてい
る代替セクタかどうかを判断し（ステップＳ１６０
１）、代替セクタであるならば、その代替セクタを持つ
エントリーの代替セクタ位置に、既にステップＳ１４０
１で検索されているスペアセクタのアドレスを書き込む
（ステップＳ１６０７）。一方、検出された欠陥セクタ
が代替セクタでないと判断された場合は（ステップＳ１
６０１）、新エントリーの欠陥セクタ位置には、その欠
陥セクタのアドレスを書き込み（ステップＳ１６０
２）、その代替セクタ位置には、既にステップＳ１４０
１で検出されているスペアセクタのアドレスを書き込む
（ステップＳ１６０３）。続いて、既に登録したエント
リー総数がＳＤＬに登録できる最大数未満かどうかを判
断し（ステップＳ１６０４）、最大数に達している場合
にはエラー終了する（ステップＳ１６０９）。一方、最
大数未満の場合には、エントリー総数を１増やした後
（ステップＳ１６０５）、既存のエントリーにこの新エ
ントリーを加えたものを対象として、欠陥セクタ位置に
書き込まれているアドレスの昇順に並べ替える。以上の
ようにして、本発明の第１実施例では、従来例と異な
り、欠陥となったスペアセクタ（図２（ａ）におけるＢ
２）のためにＳＤＬが無駄に消費されるということがな
いので、同一の欠陥状況であっても従来よりも容量の少
ないＳＤＬで済む。また、情報記憶媒体の繰り返し記録
による劣化を見込むことで、ＳＤＬに登録できる最大エ
ントリー数を越えるスペアセクタを用意するように情報
記憶媒体を初期化することができる。（第２実施例）次に、本発明の第２実施例について、図
面を参照しながら説明する。本実施例は、書換ゾーンが
複数のグループから構成される場合に適用できる欠陥管
理方法に関するものであり、各グループごとのスペアセ
クタに関する情報をＳＤＬに設けたことを特徴とする。
本実施例に係る光ディスクのデータゾーンのレイアウト
は、従来例で用いた図１６（ａ）、図１６（ｂ）、図１
６（ｃ）と全く同じであり、書換ゾーンは複数のグルー
プに分割される。また、本実施例における光ディスクの
データゾーンにおけるトラックとセクタの物理的な配置
も従来例の図１７と同一である。図７は、本発明の第２
実施例におけるＳＤＬの構成図である。図７において、
ＳＤＬ１７００は、ヘッダ１７０１とスペア枯渇情報１
７０２と複数のエントリー１７０３からなっている。ヘ
ッダ１７０１は、ＳＤＬであることを示す識別子とエン
トリーの個数などの情報から構成されている。スペア枯
渇情報１７０２は、グループごとに利用可能なスペアセ
クタが残っているかどうかを示すための１ビットのフラ
グの集合であり、グループ数と同数のビットから構成さ
れている。本実施例では、書換ゾーンは３２グループで
構成されるので、スペア枯渇情報は３２ビット（＝４バ
イト）の領域としている。図８（ａ）及び図８（ｂ）
は、本発明の第２実施例におけるリニアリプレースメン
トアルゴリズムを説明するための図である。図８（ａ）
は、書換ゾーンの一部の示すレイアウト図である。図８
（ａ）には、書換ゾーンのうちの２つのグループだけが
示されており、各グループはデータセクタとスペアセク
タから構成されている。いま、セクタＡ１、セクタＡ
２、セクタＢ１、セクタＢ２、セクタＢ３、セクタＣ
１、セクタＣ２、セクタＣ３が図示された位置にあると
する。このうち欠陥セクタは、セクタＡ１とセクタＢ１
とセクタＢ２とセクタＣ１とセクタＣ２とする。図８
（ｂ）は、ＳＤＬの内容を示す図である。図８（ｂ）か
ら判るように、このＳＤＬには、グループ１の利用可能
なスペアセクタが枯渇したことと、グループ２の利用可
能なスペアセクタはまだ枯渇していないことと、セクタ
Ａ１がセクタＡ２で代替されている情報と、セクタＢ１
がセクタＢ３で代替されている情報と、セクタＣ１がセ
クタＣ３で代替されている情報が登録されている。しか
しながら、セクタＢ２とセクタＣ２が欠陥となった代替
セクタであるという情報は登録されていない。これは、
セクタＢ２は以前にセクタＢ１を代替していたのである
が、セクタＢ２が劣化して欠陥セクタとなったために、
セクタＢ２に関する情報はＳＤＬから抹消されたのであ
る。同様に、セクタＣ２は以前にセクタＣ１を代替して
いたのであるが、セクタＣ２が劣化して欠陥セクタとな
ったために、セクタＣ２に関する情報はＳＤＬから抹消
されたのである。即ち、このような欠陥状況に対して、
従来技術では欠陥セクタと同数のエントリー、即ち、５
個のエントリーが消費されるが、本実施例ではわずか３
個のエントリーだけが消費されている。ホストコンピュ
ータがセクタＢ１にアクセスせよと命令すると、光ディ
スク装置はこのＳＤＬの内容を参照して、セクタＢ１の
代わりに代替セクタＢ３をアクセスすることになる。ま
た、ホストコンピュータがセクタＣ１をアクセスせよと
命令すると、光ディスク装置はこのＳＤＬの内容を参照
して、欠陥セクタＣ１の代わりに代替セクタＣ３をアク
セスすることになる。従って、欠陥となった代替セクタ
Ｂ２とＣ２に関する情報がＳＤＬに無くても、光ディス
ク装置は、このＳＤＬに基づいて問題なく欠陥管理を行
うことができる。次に、ＳＤＬにスペア枯渇情報を設け
ている意義を説明する。グループ１の中で、代替セクタ
として使用済みのスペアセクタの内で最もアドレスの大
きいセクタＣ２は、図８（ｂ）から判るように、ＳＤＬ
から抹消されている。従って、もし、ＳＤＬがスペア枯
渇情報を持たないとすると、セクタＣ２は利用可能と判
断されてしまうという不具合が生じる。即ち、第１実施
例の如くＳＤＬがヘッダとエントリーだけから構成され
るとしたのでは、あるグループで利用可能なスペアセク
タが枯渇したときに、もはや他のグループからスペアセ
クタを借りることを実現することができなくなる。そこ
で、ＳＤＬにスペア枯渇情報を設けることにより、書換
ゾーンを複数グループに分割した場合であっても、一の
グループにおいて代替セクタとして利用可能なスペアセ
クタが枯渇してしまったときでも他のグループのスペア
セクタを代替セクタとして用いることができるようにし
ている。（光ディスク装置の動作）次に、ホストコンピュータが
アクセスしようとした光ディスク上のセクタが欠陥セク
タである場合に、光ディスク装置において行われる代替
セクタの割り当てのための処理を説明する。なお、本実
施例に係る光ディスク装置の構成は、第１実施例と同一
である。但し、主制御部１３０８に内臓される制御プロ
グラムは、第１実施例のものと異なるので、主制御部１
３０８によって行われる欠陥管理の方法が異なる。本発
明の第２実施例における代替セクタを割り当てるフロー
チャートは、第１実施例で用いた図４と同じである。し
かしながら、図４に示されたステップＳ１４０１の詳細
な内容が異なる。図９は、本発明の第２実施例における
ステップＳ１４０１を詳細に説明するために用意したも
ので、利用可能なスペアセクタの検索処理のフローチャ
ートである。ここで、ＩＳＯ規格と同様に、用意された
スペアセクタはアドレスの小さいもの順に代替セクタと
して使用していくものとする。先ず、光ディスク装置１
３０２は、スペア枯渇情報を参照することにより、その
欠陥セクタが属するグループに利用可能なスペアセクタ
が存在するかどうかを判断し（ステップＳ１９０１）、
存在すると判断した場合には、そのグループをスペアセ
クタを検索する対象となるグループとして設定する（ス
テップＳ１９０２）。一方、存在しないと判断した場合
には、続いて、利用可能なスペアセクタを持つ他のグル
ープが存在するか否かを判断し（ステップＳ１９０
３）、存在しない場合にはエラー終了する（ステップＳ
１９１０）。存在する場合には、そのグループをスペア
セクタを検索する対象となるグループとして設定する
（ステップＳ１９０４）。次に、そのように設定された
グループに属する使用済みのスペアセクタの中で最大の
アドレスを持つものをＳＤＬから検索し（ステップＳ１
９０５）、検索したそのスペアセクタの次のアドレスを
持つセクタを利用可能なスペアセクタの候補として挙げ
る（ステップＳ１９０６）。そして、そのグループの中
に利用可能なスペアセクタが他にも残っているか否か、
即ち、そのスペアセクタがそのグループの中で最も大き
いアドレスを持つスペアセクタであるか否かを判断する
（ステップＳ１９０７）。その結果、他にも残っていれ
ば正常終了し（ステップＳ１９０９）、そうでなけれ
ば、そのグループは利用可能なスペアセクタが枯渇した
ことを示すフラグをスペア枯渇情報に書き込む（ステッ
プＳ１９０８）。このようにして、欠陥セクタは、同一
グループのみならず他のグループに属するスペアセクタ
であっても、その代替セクタとして割り当てられる。な
お、図４におけるＳＤＬの更新処理（ステップＳ１４０
３）の詳細な内容は、第１実施例の場合と同じである。
以上のようにして、本発明の第２実施例においては、本
発明の第１実施例の利点に加えて、情報記憶媒体の書換
ゾーンを複数のグループに分けた場合であっても、欠陥
セクタの代替セクタの割り当てに際し、一のグループで
利用可能なスペアセクタが枯渇したときに他のグループ
からスペアセクタを借りるという柔軟な欠陥管理が可能
となる。（第３実施例）本発明の第３実施例について、図面を参
照しながら説明する。本実施例は、書換ゾーンが複数の
グループから構成される場合に適用できる欠陥管理方法
に関するものであり、各グループごとのスペアセクタに
関する情報をＳＤＬに設けたことを特徴とする点で第２
実施例と共通するが、その情報の内容と記憶容量が異な
る。本実施例に係る光ディスクのデータゾーンのレイア
ウトは、従来例で用いた図１６（ａ）、図１６（ｂ）、
図１６（ｃ）と全く同じであり、書換ゾーンは複数のグ
ループに分割される。また、本実施例における光ディス
クのデータゾーンにおけるトラックとセクタの物理的な
配置も従来例の図１７と同一である。図１０は、本発明
の第３実施例におけるＳＤＬの構成図である。図１０に
おいて、ＳＤＬ２０００は、ヘッダ２００１と次スペア
セクタ指摘情報２００２と複数のエントリー２００３か
らなっている。ヘッダ２００１は、ＳＤＬであることを
示す識別子とエントリーの個数などの情報から構成され
ている。次スペアセクタ指摘情報２００２は、各グルー
プ毎の次に利用できるスペアセクタの位置を記憶してい
る。本実施例では、セクタの位置は４バイトで表現さ
れ、書換ゾーンは３２個のグループで構成されるので、
この次スペアセクタ指摘情報２００２は、１２８バイト
の領域からなる。各エントリー２００３は、欠陥セクタ
の位置と、それを代替するスペアセクタの位置との情報
から構成されている。図１１（ａ）及び図１１（ｂ）
は、本発明の第３実施例におけるリニアリプレースメン
トアルゴリズムを説明するための図である。図１１
（ａ）は、書換ゾーンの一部を示すレイアウト図であ
る。この図は、第２実施例における図８（ａ）と同一で
あり、同一の欠陥状況を想定している。図１１（ｂ）
は、ＳＤＬの内容を示す図である。図１１（ｂ）から判
るように、このＳＤＬには、グループ１には利用可能な
スペアセクタが枯渇したこと（１６進数でＦＦＦＦＦＦ
ＦＦと表現していること）とグループ２で次に利用でき
るスペアセクタの位置がセクタＣ３の次のセクタである
ことと、セクタＡ１はセクタＡ２で代替されている情報
と、セクタＢ１がセクタＢ３で代替されている情報と、
セクタＣ１がセクタＣ３で代替されている情報が登録さ
れている。しかしながら、本実施例においても、第２実
施例と同様に、セクタＢ２とセクタＣ２が欠陥となった
代替セクタであるという情報は登録されていない。これ
は、セクタＢ２は以前にセクタＢ１を代替していたので
あるが、セクタＢ２が劣化して欠陥セクタとなったため
に、セクタＢ２に関する情報はＳＤＬから抹消されたの
である。同様に、セクタＣ２は以前にセクタＣ１を代替
していたのであるが、セクタＣ２が劣化して欠陥セクタ
となったために、セクタＣ２に関する情報はＳＤＬから
抹消されたのである。即ち、本実施例においては、第２
実施例と同様に、従来技術では欠陥セクタと同数のエン
トリー、即ち、５個のエントリーが消費されるが、本実
施例ではわずか３個のエントリーだけが消費されてい
る。ホストコンピュータからのアクセス命令に対して、
光ディスク装置がこのＳＤＬに基づいてアクセスできる
ことは、本発明の第２実施例と同様である。即ち、欠陥
となった代替セクタＢ２とＣ２に関する情報がＳＤＬに
無くても、光ディスク装置は、このＳＤＬに基づいて問
題なく欠陥管理を行うことができる。次に、ＳＤＬに次
スペアセクタ指摘情報を設けている意義を説明する。も
し、ＳＤＬがヘッダとエントリーだけから構成されると
したのでは、あるグループで利用可能なスペアセクタが
枯渇したときに、もはや他のグループからスペアセクタ
を借りることを実現することができなくなる点は、本発
明の第２実施例と同様である。従って、ＳＤＬに次スペ
アセクタ指摘情報を設けることにより、書換ゾーンを複
数グループに分割した場合であっても、一のグループに
おいて代替セクタとして利用可能なスペアセクタが枯渇
してしまったときでも他のグループのスペアセクタを代
替セクタとして用いることができるようにしている点
も、第２実施例と同様である。但し、本実施例では、Ｓ
ＤＬは単にスペアセクタが枯渇してしまったか否かの情
報だけでなく、次に使用できるスペアセクタの位置をも
記憶している点が第２実施例と相違する。（光ディスク装置の動作）次に、ホストコンピュータが
アクセスしようとした光ディスク上のセクタが欠陥セク
タである場合に、光ディスク装置において行われる代替
セクタの割り当てのための処理を説明する。なお、本実
施例に係る光ディスク装置の構成は、第１実施例と同一
である。但し、主制御部１３０８に内臓される制御プロ
グラムは、第１実施例のものと異なるので、主制御部１
３０８によって行われる欠陥管理の方法が異なる。本発
明の第３実施例における代替セクタを割り付ける処理の
フローチャートは、第１実施例で用いた図４と同じであ
る。しかしながら、図４に示されたステップＳ１４０１
の詳細な内容が異なる。図１２は、本発明の第３実施例
におけるステップＳ１４０１を詳細に説明するために用
意したもので、利用可能なスペアセクタの検索処理のフ
ローチャートである。ここで、ＩＳＯ規格と同様に、用
意されたスペアセクタはアドレスの小さいもの順に代替
セクタとして使用していくものとする。先ず、光ディス
ク装置１３０２は、次スペアセクタ指摘情報を参照する
ことにより、欠陥セクタが属するグループに利用可能な
スペアセクタが存在するかどうかを判断する（ステップ
Ｓ２２０１）。この判断は、次スペアセクタ指摘情報の
そのグループに対応する箇所にＦＦＦＦＦＦＦＦ（１６
進数）と表記されているかどうかによって行われる。そ
の結果、スペアセクタが存在すると判断された場合に
は、そのグループをスペアセクタを検索するグループと
して設定する（ステップＳ２２０２）。一方、スペアセ
クタが存在しないと判断された場合には、次スペアセク
タ指摘情報を参照することにより、利用可能なスペアセ
クタを持つ他のグループが存在するかどうかを判断し
（ステップＳ２２０４）、存在しないときはエラー終了
する（ステップＳ２２１０）。他のグループにスペアセ
クタが存在するときは、そのグループをスペアセクタを
検索するグループとして設定する（ステップＳ２２０
５）。そのグループに対応する次スペアセクタ指摘情報
を読み取ることにより、そのスペアセクタを利用可能な
スペアセクタの候補として設定する（ステップＳ２２０
５）。そして、そのグループ中に利用可能なスペアセク
タが他にも残っているかどうか、即ち、候補としてスペ
アセクタがそのグループの中で最もアドレスが大きいス
ペアセクタかどうかを判断する（ステップＳ２２０
６）。その結果、他に利用可能なスペアセクタが残って
いれば、候補としたそのスペアセクタの次のスペアセク
タのアドレスを次スペアセクタ指摘情報のそのグループ
に対応する箇所に書き込む（ステップＳ２２０７）。一
方、他に利用可能なスペアセクタが残っていなければ、
次スペアセクタ指摘情報のそのグループに対応する次ス
ペアセクタ位置に、ＦＦＦＦＦＦＦＦ（１６進数）を書
き込む（ステップＳ２２０８）。これは、そのグループ
に利用可能なスペアセクタが枯渇したことを示すためで
ある。このようにして、欠陥セクタは、同一グループの
みならず他のグループに属するスペアセクタであって
も、その代替セクタとして割り当てられる。なお、図４
におけるＳＤＬの更新処理（ステップＳ１４０３）の詳
細な内容は、第１実施例の場合と同じである。以上のよ
うにして、本発明の第３実施例においては、本発明の第
１実施例の利点に加えて、情報記憶媒体の書換ゾーンを
複数のグループに分けた場合であっても、欠陥セクタの
代替セクタの割り当てに際し、一のグループで利用可能
なスペアセクタが枯渇したときに他のグループからスペ
アセクタを借りるという柔軟な欠陥管理が可能となる。
また、第２実施例に比べ、ＳＤＬが大きくなるという欠
点はあるものの、次に利用可能なスペアセクタを検索す
る必要がないため高速な欠陥管理が可能になるという利
点がある。（第４実施例）本発明の第４実施例について、図面を参
照しながら説明する。本実施例は、書換ゾーンが複数の
グループから構成される場合に適用できる欠陥管理方法
に関するものである点で第２及び第３実施例と共通し、
各グループごとのスペアセクタに関する情報をＳＤＬに
設けていない点で第１実施例と共通する。本実施例に係
る光ディスクのデータゾーンのレイアウト及びＳＤＬの
構成は、従来例で用いた図１６（ａ）、図１６（ｂ）、
図１６（ｃ）及び図１８と全く同じであり、書換ゾーン
は複数のグループに分割される。また、本実施例におけ
る光ディスクのデータゾーンにおけるトラックとセクタ
の物理的な配置も従来例の図１７と同一である。図１３
（ａ）及び図１３（ｂ）は、本発明の第４実施例におけ
るリニアリプレースメントアルゴリズムの概念図であ
る。図１３（ａ）は、書換ゾーンの一部を示すレイアウ
ト図である。この図は、第２及び第３実施例における図
８（ａ）及び図１１（ａ）と同一であり、同一の欠陥状
況を想定している。図１３（ｂ）は、ＳＤＬの内容を示
す図である。図１３（ｂ）から判るように、このＳＤＬ
には、セクタＡ１はセクタＡ２で代替されている情報
と、セクタＢ１がセクタＢ３で代替されている情報と、
セクタＣ１がセクタＣ３で代替されている情報と、セク
タＣ２が自分自身で代替されている（グループの最後の
代替セクタで且つ欠陥セクタという意味）とが登録され
ている。しかしながら、セクタＢ２は欠陥となった代替
セクタであるという情報は登録されていない。これは、
セクタＢ２は以前にセクタＢ１を代替していたのである
が、セクタＢ２が劣化して欠陥セクタとなったために、
セクタＢ２に関する情報はＳＤＬから抹消されたのであ
る。一方、セクタＣ２は以前にセクタＣ１を代替してい
たのであるが、セクタＣ２が劣化して欠陥セクタとなっ
たが、セクタＣ２がグループの最後のセクタであったた
めに、セクタＣ２に関する情報はＳＤＬに残されたので
ある。ホストコンピュータからのアクセス命令に対し
て、光ディスク装置がこのＳＤＬに基づいてアクセスで
きることは、本発明の第２実施例と同様である。即ち、
欠陥となった代替セクタＢ２に関する情報がＳＤＬに無
くても、光ディスク装置は問題なく欠陥管理を行うこと
ができる。ここで、図１３（ｂ）から判るように、ＳＤ
Ｌには欠陥セクタＣ２についてのエントリー、即ち、グ
ループの最後のスペアセクタを代替セクタとして使用し
たという情報が残されているために、本実施例では、第
２実施例のスペア枯渇情報１７０２や第３実施例の次ス
ペアセクタ指摘情報２００２に相当する領域をＳＤＬに
設けることなく、ＳＤＬのエントリーだけを用いて、書
換ゾーンを複数のグループに分割した場合における欠陥
管理、即ち、一のグループで利用可能なスペアセクタが
枯渇したときに他のグループからスペアセクタを借りる
という柔軟な欠陥管理を可能としている。（光ディスク装置の動作）次に、ホストコンピュータが
アクセスしようとした光ディスク上のセクタが欠陥セク
タである場合に、光ディスク装置において行われる代替
セクタの割り当てのための処理を説明する。なお、本実
施例に係る光ディスク装置の構成は、第１実施例と同一
である。但し、主制御部１３０８に内臓される制御プロ
グラムは、第１実施例のものと異なるので、主制御部１
３０８によって行われる欠陥管理の方法が異なる。本発
明の第４実施例における代替セクタを割り当てる処理の
フローチャートは、第１実施例で用いた図４と同じであ
る。また、図４に示されたステップＳ１４０１の詳細な
内容も、従来例の図２２で示された利用可能なスペアセ
クタの検索処理と同一になる。但し、図４に示されたス
テップＳ１４０３の詳細な内容が、従来例とも他の実施
例とも異なる。図１４は、本発明の第４実施例における
ステップＳ１４０３を詳細に説明するために用意したも
ので、ＳＤＬの更新処理のフローチャートである。先
ず、光ディスク装置１３０２は、検出された欠陥セクタ
がＳＤＬに既に登録されている代替セクタかどうか判断
する（ステップＳ２４０１）。その結果、ＳＤＬに既に
登録されている代替セクタでないと判断した場合は、新
エントリーの欠陥セクタ位置にその欠陥セクタのアドレ
スを書き込み（ステップＳ２４０２）、その代替セクタ
位置に既に検索されているスペアセクタのアドレスを書
き込む（ステップＳ２４０３）。一方、検出された欠陥
セクタがＳＤＬに既に登録されている代替セクタである
と判断した場合は、その代替セクタを持つエントリーの
代替セクタ位置に既に検索されているスペアセクタのア
ドレスを書き込む（ステップＳ２４０４）。続いて、欠
陥となったその代替セクタがそのグループの最後のスペ
アセクタかどうかを判断し（ステップＳ１４０５）、そ
うでなければ正常終了する（ステップＳ２４１１）。欠
陥となったその代替セクタがそのグループの最後のスペ
アセクタである場合には、新エントリーの欠陥セクタ位
置及び代替セクタ位置に欠陥となったその代替セクタの
アドレスを書き込む（ステップＳ２４０６、Ｓ２４０
７）。次に、既に登録したエントリー総数がＳＤＬに登
録できる最大数未満かどうかを判断し（ステップＳ２４
０８）、そうでなければエラー終了する（ステップＳ２
４１２）。一方、最大数未満である場合には、エントリ
ー総数を１増やした後（ステップＳ２４０９）、既存の
エントリーに新エントリーを加えたものを対象として、
欠陥セクタ位置に書き込まれているアドレスの昇順に並
べ替える（ステップＳ２４１０）。以上のようにして、
本発明の第４実施例においては、本発明の第１実施例の
利点に加えて、情報記憶媒体の書換ゾーンを複数のグル
ープに分けた場合であっても、欠陥セクタの代替セクタ
の割り当てに際し、一のグループで利用可能なスペアセ
クタが枯渇したときに他のグループからスペアセクタを
借りるという柔軟な欠陥管理が可能となる。また、第２
実施例および第３実施例に比べ、従来例のＳＤＬの構造
と基本的に同一であるため、容易に従来との互換性を保
つことができるという利点がある。（産業上の利用可能性）以上のように、本発明に係る欠
陥管理方法及びその装置は、光ディスク装置その他の情
報記録再生装置に装備される欠陥管理手段として有用で
あり、特に、繰り返し記録で劣化し易い情報記憶媒体を
扱う場合に適している。また、本発明に係る情報記録媒
体は、光ディスクその他記録再生可能な記録媒体として
有用であり、特に、相変化方式の光ディスクに適してい
る。以上、本発明に係る欠陥管理方法、それを実行する
光ディスク装置及びその情報記録媒体について、実施例
に基づいて説明したが、本発明はこれら実施例に限られ
ないことは勿論である。即ち、（１）上記実施例では、情報記録媒体は光ディスクであ
ったが、これに限定されるものではなく、例えば、磁気
ディスクであってもよい。（２）第２及び第３実施例のＳＤＬにおいては、ヘッダ
の直後にスペア枯渇情報１７０２又は次スペアセクタ指
摘情報２００２を設けたが、このような配置順序に限定
されるものではない。（３）第２及び第３実施例においては、光ディスクの書
換ゾーンは、３２個のグループに分割されていたが、こ
の個数に限定されるものではない。スペア枯渇情報１７
０２及び次スペアセクタ指摘情報２００２の記憶容量
が、書換ゾーンに設けられた全てのグループに対応する
情報を記憶できるものであればよい。

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は、予め定められた記録領域であるデータ領域、スペア
領域及び欠陥リストを有する情報記録媒体において発生
した欠陥を記録再生の単位であるセクタ単位で管理する
方法であって、欠陥セクタが発見されるとその欠陥セク
タを代替するセクタを前記スペア領域の中から割り当て
る代替セクタ割当ステップと、前記欠陥セクタが前記デ
ータ領域又は前記スペア領域のいずれに属するかを判断
する領域判断ステップと、前記領域判断ステップにおい
て前記欠陥セクタが前記データ領域に属すると判断され
た場合には、その欠陥セクタの識別情報と前記代替セク
タ割当ステップで割り当てた代替セクタの識別情報とを
組にして前記欠陥リストの新たな記録箇所に書き込む欠
陥新規登録ステップと、前記領域判断ステップにおいて
前記欠陥セクタが前記スペア領域に属すると判断された
場合には、前記代替セクタ割当ステップで割り当てた代
替セクタの識別情報を前記欠陥リストのその欠陥セクタ
の識別情報が書き込まれていた記録箇所に上書きするこ
とにより、前記欠陥リストには前記データ領域又は前記
スペア領域に属するセクタの識別情報のみを書き込む欠
陥上書きステップとからなる。これにより、欠陥リスト
にはデータ領域に属する欠陥セクタの識別情報とその欠
陥セクタを代替するスペア領域に属する正常な（欠陥で
ない）セクタの識別情報との組のみが記録され、従来の
チェイニング方式の如く、データ領域に属する欠陥セク
タの識別情報とスペア領域に属する欠陥セクタの識別情
報との組が記録されたり、従来のダイレクトポインタ方
式の如く、スペア領域に属する欠陥セクタの識別情報と
欠陥セクタであることを示す情報との組が記録されたり
することはないので、欠陥リストのサイズを大幅に小さ
くできる。よって、繰り返し記録で劣化し易い情報記憶
媒体であっても、書換ゾーンを圧迫することがなく、さ
らに、欠陥リスト自体に欠陥セクタが含まれる確率を小
さくすることができる信頼性の高い欠陥管理が実現され
る。また、欠陥リストは発生した欠陥セクタの数よりも
少ない組数だけ消費されるので、情報記憶媒体の繰り返
し記録による劣化を見込んで、欠陥リストに登録できる
組数を越えるセクタをスペア領域に設けるように情報記
憶媒体を初期化しておくことが可能となる。ここで、ス
ペア領域とデータ領域の一部の組を１つのグループとす
る複数のグループに分割し、情報記録媒体にはスペア枯
渇情報領域を設け、割り当て可能なスペアセクタが残さ
れているか否かを示す各グループごとの枯渇情報をこの
領域に記録し更新していくこともできる。これにより、
情報記録媒体にわずかな記録容量からなるスペア枯渇情
報領域を設けることで、上記効果に加えて、情報記憶媒
体を複数のグループに分けた場合であっても、一のグル
ープに生じた欠陥セクタの代替セクタとして、同一グル
ープだけでなく他のグループに属するセクタを割り当て
ることができる柔軟な欠陥管理が実現される。また、情
報記録媒体には上記スペア枯渇情報領域に替えて次スペ
アセクタ指摘領域を設け、割り当て可能なセクタが残さ
れているか否かを示す情報だけでなく、次に割り当てる
べきセクタの識別情報をもこの領域に記録し更新してい
くこともできる。これにより、情報記録媒体に少しの記
録容量からなる次スペアセクタ指摘領域を設けること
で、上記効果に加えて、欠陥セクタが発見された場合に
おける代替セクタの検索が高速に行われるという迅速な
欠陥管理が実現される。また、前記欠陥リストには、デ
ータ領域に属する欠陥セクタの識別情報とその欠陥セク
タを代替するスペア領域に属する正常なセクタの識別情
報との組だけでなく、そのスペア領域には割り当て可能
なセクタが残されていないことを示す情報を記録するこ
ともできる。これにより、従来の方式に比べて欠陥リス
トのサイズを小さくできるだけでなく、従来と異なる特
別な領域を設けていないので、従来の欠陥管理の方法と
の互換性をとり易いという利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）は、本発明の第１実施例に係る光ディス
クのデータゾーンのレイアウト図である。（ｂ）は、
（ａ）に示された各ＤＭＡの構成要素を示す図である。
（ｃ）は、（ａ）に示された書換ゾーンのパーティショ
ン図である。

【図２】（ａ）は、本発明の第１実施例におけるリニア
リプレースメントアルゴリズムを説明するための書換ゾ
ーンを示す図である。（ｂ）は、同リニアリプレースメ
ントアルゴリズムを説明するためのＳＤＬの内容を示す
図である。

【図３】本発明の第１実施例に係る光ディスク装置の構
成を示すブロック図である。

【図４】本発明の第１実施例における代替セクタを割り
当てる処理のフローチャートである。

【図５】本発明の第１実施例における利用可能なスペア
セクタの検索処理のフローチャートである。

【図６】本発明の第１実施例における欠陥リストの更新
処理のフローチャートである。

【図７】本発明の第２実施例におけるＳＤＬの構成図で
ある。

【図８】（ａ）は、本発明の第２実施例におけるリニア
リプレースメントアルゴリズムを説明するための書換ゾ
ーンを示す図である。（ｂ）は、同リニアリプレースメ
ントアルゴリズムを説明するためのＳＤＬの内容を示す
図である。

【図９】本発明の第２実施例における利用可能なスペア
セクタの検索処理のフローチャートである。

【図１０】本発明の第３実施例におけるＳＤＬの構成図
である。

【図１１】（ａ）は、本発明の第３実施例におけるリニ
アリプレースメントアルゴリズムを説明するための書換
ゾーンを示す図である。（ｂ）は、同リニアリプレース
メントアルゴリズムを説明するためのＳＤＬの内容を示
す図である。

【図１２】本発明の第３実施例における利用可能なスペ
アセクタの検索処理のフローチャートである。

【図１３】（ａ）は、本発明の第４実施例におけるリニ
アリプレースメントアルゴリズムを説明するための書換
ゾーンを示す図である。（ｂ）は、同リニアリプレース
メントアルゴリズムを説明するためのＳＤＬの内容を示
す図である。

【図１４】本発明の第４実施例における欠陥リストの更
新処理のフローチャートである。

【図１５】光ディスクを用いる一般的なコンピュータシ
ステムの構成を示す図である。

【図１６】（ａ）は、従来例における光ディスクのデー
タゾーンのレイアウト図である。（ｂ）は、（ａ）に示
された各ＤＭＡの構成要素を示す図である。（ｃ）は、
（ａ）に示された書換ゾーンのパーティション図であ
る。

【図１７】光ディスクのデータゾーンにおけるトラック
とセクタの物理的な配置を示す図である。

【図１８】従来例におけるＳＤＬの構成図である。

【図１９】（ａ）は、従来例のＩＳＯ規格によるリニア
リプレースメントアルゴリズムを説明するための書換ゾ
ーンを示す図である。（ｂ）は、同リニアリプレースメ
ントアルゴリズムを説明するためのＳＤＬの内容を示す
図である。

【図２０】（ａ）は、従来例のＡＮＳＩ規格によるリニ
アリプレースメントアルゴリズムを説明するための書換
ゾーンを示す図である。（ｂ）は、同リニアリプレース
メントアルゴリズムを説明するためのＳＤＬの内容を示
す図である。

【図２１】従来例における代替セクタを割り当てる処理
のフローチャートである。

【図２２】従来例における利用可能なスペアセクタの検
索処理のフローチャートである。

【図２３】従来例における欠陥リストの更新処理のフロ
ーチャートである。

【図２４】従来例における欠陥リストの更新処理のフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

１３０１ホストコンピュータ１３０２光ディスク装置１３０３ディスクコントローラ１３０４光ディスクドライブ１３０５ホストインタフェース１３０６転送データバッファ１３０７ドライブインタフェース１３０８主制御部１３０９管理データバッファ１３１０エラー検出訂正部１３１１バス１３１２光ディスク１７００ＳＤＬ１７０１ヘッダ１７０２スペア枯渇情報１７０３エントリー２０００ＳＤＬ２００１ヘッダ２００２次スペアセクタ指摘情報２００３エントリー

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】予め定められた記録領域であるデータ領
域、スペア領域及び欠陥リストを有する情報記録媒体に
おいて発生した欠陥を記録再生の単位であるセクタ単位
で管理する方法であって、欠陥セクタが発見されると、その欠陥セクタを代替する
セクタを前記スペア領域の中から割り当てる代替セクタ
割当ステップと、前記欠陥セクタが前記データ領域又は前記スペア領域の
いずれに属するかを判断する領域判断ステップと、前記領域判断ステップにおいて前記欠陥セクタが前記デ
ータ領域に属すると判断された場合には、その欠陥セク
タの識別情報と前記代替セクタ割当ステップで割り当て
た代替セクタの識別情報とを組にして前記欠陥リストの
新たな記録箇所に書き込む欠陥新規登録ステップと、前記領域判断ステップにおいて前記欠陥セクタが前記ス
ペア領域に属すると判断された場合には、前記代替セク
タ割当ステップで割り当てた代替セクタの識別情報を前
記欠陥リストのその欠陥セクタの識別情報が書き込まれ
ていた記録箇所に上書きすることにより、前記欠陥リス
トには前記データ領域又は前記スペア領域に属するセク
タの識別情報のみを書き込む欠陥上書きステップとを有
することを特徴とする欠陥管理方法。
【請求項２】前記情報記録媒体はさらに予め定められ
たスペア枯渇情報領域を有し、前記スペア領域と前記データ領域はそれら両領域の一部
の組を１つのグループとする複数のグループに予め分割
されており、前記代替セクタ割当ステップは、欠陥セクタが発見されるとその欠陥セクタが属するグル
ープに対応する前記スペア枯渇情報領域の記録箇所に格
納されている枯渇情報を読む枯渇情報読み出しステップ
と、前記枯渇情報読み出しステップにおいて読まれた枯渇情
報より、新たに代替セクタとして割り当てることができ
るセクタが前記グループの前記スペア領域に存在するか
否かを判断する枯渇情報判断ステップと、前記枯渇情報判断ステップにおいて存在すると判断され
た場合には、前記グループの前記スペア領域の中から前
記代替セクタを決定する第１代替セクタ決定ステップ
と、前記枯渇情報判断ステップにおいて存在しないと判断さ
れた場合には、前記スペア枯渇情報領域の他の記録箇所
に格納されている枯渇情報を読むことにより、新たに代
替セクタとして割り当てることができるセクタを有する
他のグループを決定し、そのグループの前記スペア領域
の中から前記代替セクタを決定する第２代替セクタ決定
ステップとからなり、前記欠陥管理方法はさらに、前記代替セクタ割当ステップでの割当て後においても次
に割り当て可能なセクタが前記グループの前記スペア領
域に存在するか否かを判断する枯渇判断ステップと、前記枯渇判断ステップにおいて存在しないと判断された
場合には、その旨を示す枯渇情報を前記グループに対応
する前記スペア枯渇情報領域の記録箇所に書き込む枯渇
情報更新ステップとを有することを特徴とする請求項１
記載の欠陥管理方法。
【請求項３】前記情報記録媒体はさらに予め定められ
た次スペアセクタ指摘領域を有し、前記スペア領域と前記データ領域はそれら両領域の一部
の組を１つのグループとする複数のグループに予め分割
されており、前記代替セクタ割当ステップは、欠陥セクタが発見されると、その欠陥セクタが属するグ
ループに対応する前記次スペアセクタ指摘領域の記録箇
所に格納されているポインタを読むポインタ読み出しス
テップと、前記ポインタ読み出しステップにおいて読まれたポイン
タが前記グループの前記スペア領域には新たに代替セク
タとして割り当てることができるセクタが存在しない旨
を示す値であるか否かを判断するポインタ判断ステップ
と、前記ポインタ判断ステップにおいて存在しないと判断さ
れた場合には、前記次スペアセクタ指摘領域の他の記録
箇所に格納されているポインタを読むことにより、他の
グループのそのポインタに対応するセクタを前記代替セ
クタとして決定する第３代替セクタ決定ステップと、前記ポインタ判断ステップにおいて存在すると判断され
た場合は、前記ポインタに対応するセクタを前記代替セ
クタとして決定する第４代替セクタ決定ステップとから
なり、前記欠陥管理方法はさらに、前記代替セクタ割当ステップでの割当て後においても次
に割り当て可能なセクタが前記グループの前記スペア領
域に存在するか否かを判断する枯渇判断ステップと、前記枯渇判断ステップにおいて存在すると判断された場
合には、代替セクタ割当ステップにおいて決定したセク
タの次に割り当てることができるセクタの識別情報を前
記グループに対応する前記次スペアセクタ指摘領域の記
録箇所に書き込む第１ポインタ更新ステップと、前記枯渇判断ステップにおいて存在しないと判断された
場合には、その旨を示すポインタを前記グループに対応
する前記次スペアセクタ指摘領域の記録箇所に書き込む
第２ポインタ更新ステップと有することを特徴とする請
求項１記載の欠陥管理方法。
【請求項４】前記スペア領域と前記データ領域はそれ
ら両領域の一部の組を１つのグループとする複数のグル
ープに予め分割されており、前記欠陥管理方法はさらに、前記領域判断ステップにおいて前記欠陥セクタが前記ス
ペア領域に属すると判断された場合には、その欠陥セク
タがそのグループの前記スペア領域に属する割り当て可
能な最後のセクタであるか否かを判断する最終セクタ判
断ステップと、前記最終セクタ判断ステップにおいて最後のセクタであ
ると判断された場合には、その欠陥セクタの識別情報と
その識別情報の複製とを組にして前記欠陥リストの新た
な記録箇所に書き込む最終セクタ登録ステップとを有す
ることを特徴とする請求項１記載の欠陥管理方法。
【請求項５】予め定められた記録領域であるデータ領
域、スペア領域及び欠陥リストを有する情報記録媒体に
おいて発生した欠陥を記録再生の単位であるセクタ単位
で管理する装置であって、欠陥セクタが発見されると、その欠陥セクタを代替する
セクタを前記スペア領域の中から割り当てる代替セクタ
割当手段と、前記欠陥セクタが前記データ領域又は前記スペア領域の
いずれに属するかを判断する領域判断手段と、前記領域判断手段において前記欠陥セクタが前記データ
領域に属すると判断された場合には、その欠陥セクタの
識別情報と前記代替セクタ割当手段で割り当てた代替セ
クタの識別情報とを組にして前記欠陥リストの新たな記
録箇所に書き込む欠陥新規登録手段と、前記領域判断手段において前記欠陥セクタが前記スペア
領域に属すると判断された場合には、前記代替セクタ割
当手段で割り当てた代替セクタの識別情報を前記欠陥リ
ストのその欠陥セクタの識別情報が書き込まれていた記
録箇所に上書きすることにより、前記欠陥リストには前
記データ領域又は前記スペア領域に属するセクタの識別
情報のみを書き込む欠陥上書き手段とを備えることを特
徴とする欠陥管理装置。
【請求項６】前記情報記録媒体はさらに予め定められ
たスペア枯渇情報領域を有し、前記スペア領域と前記データ領域はそれら両領域の一部
の組を１つのグループとする複数のグループに予め分割
されており、前記代替セクタ割当手段は、欠陥セクタが発見されるとその欠陥セクタが属するグル
ープに対応する前記スペア枯渇情報領域の記録箇所に格
納されている枯渇情報を読む枯渇情報読み出し部と、前記枯渇情報読み出し部において読まれた枯渇情報よ
り、新たに代替セクタとして割り当てることができるセ
クタが前記グループの前記スペア領域に存在するか否か
を判断する枯渇情報判断部と、前記枯渇情報判断部において存在すると判断された場合
には、前記グループの前記スペア領域の中から前記代替
セクタを決定する第１代替セクタ決定部と、前記枯渇情報判断部において存在しないと判断された場
合には、前記スペア枯渇情報領域の他の記録箇所に格納
されている枯渇情報を読むことにより、新たに代替セク
タとして割り当てることができるセクタを有する他のグ
ループを決定し、そのグループの前記スペア領域の中か
ら前記代替セクタを決定する第２代替セクタ決定部とか
らなり、前記欠陥管理装置はさらに、前記代替セクタ割当手段での割当て後においても次に割
り当て可能なセクタが前記グループの前記スペア領域に
存在するか否かを判断する枯渇判断手段と、前記枯渇判断手段において存在しないと判断された場合
には、その旨を示す枯渇情報を前記グループに対応する
前記スペア枯渇情報領域の記録箇所に書き込む枯渇情報
更新手段とを備えることを特徴とする請求項５記載の欠
陥管理装置。
【請求項７】前記情報記録媒体はさらに予め定められ
た次スペアセクタ指摘領域を有し、前記スペア領域と前記データ領域はそれら両領域の一部
の組を１つのグループとする複数のグループに予め分割
されており、前記代替セクタ割当手段は、欠陥セクタが発見されると、その欠陥セクタが属するグ
ループに対応する前記次スペアセクタ指摘領域の記録箇
所に格納されているポインタを読むポインタ読み出し部
と、前記ポインタ読み出し部において読まれたポインタが、
前記グループの前記スペア領域には新たに代替セクタと
して割り当てることができるセクタが存在しない旨を示
す値であるか否かを判断するポインタ判断部と、前記ポインタ判断部において存在しないと判断された場
合には、前記次スペアセクタ指摘領域の他の記録箇所に
格納されているポインタを読むことにより、他のグルー
プのそのポインタに対応するセクタを前記代替セクタと
して決定する第３代替セクタ決定部と、前記ポインタ判断部において存在すると判断された場合
は、前記ポインタに対応するセクタを前記代替セクタと
して決定する第４代替セクタ決定部とからなり、前記欠陥管理装置はさらに、前記代替セクタ割当手段での割当て後においても次に割
り当て可能なセクタが前記グループの前記スペア領域に
存在するか否かを判断する枯渇判断手段と、前記枯渇判断手段において存在すると判断された場合に
は、代替セクタ割当手段において決定したセクタの次に
割り当てることができるセクタの識別情報を前記グルー
プに対応する前記次スペアセクタ指摘領域の記録箇所に
書き込む第１ポインタ更新手段と、前記枯渇判断手段において存在しないと判断された場合
には、その旨を示すポインタを前記グループに対応する
前記次スペアセクタ指摘領域の記録箇所に書き込む第２
ポインタ更新手段とを備えることを特徴とする請求項５
記載の欠陥管理装置。
【請求項８】前記スペア領域と前記データ領域はそれ
ら両領域の一部の組を１つのグループとする複数のグル
ープに予め分割されており、前記欠陥管理装置はさらに、前記領域判断手段において前記欠陥セクタが前記スペア
領域に属すると判断された場合には、その欠陥セクタが
そのグループの前記スペア領域に属する割り当て可能な
最後のセクタであるか否かを判断する最終セクタ判断手
段と、前記最終セクタ判断手段において最後のセクタであると
判断された場合には、その欠陥セクタの識別情報とその
識別情報の複製とを組にして前記欠陥リストの新たな記
録箇所に書き込む最終セクタ登録手段とを備えることを
特徴とする請求項５記載の欠陥管理装置。
【請求項９】セクタ単位で情報が記録再生される情報
記録媒体であって、新たな情報を記録するためのセクタの集まりであるデー
タ領域と、前記情報記録媒体に生じた欠陥セクタを代替するための
セクタの集まりであるスペア領域と、欠陥セクタを管理するための記録領域である欠陥リスト
とを有し、前記スペア領域には少なくとも１つの欠陥セクタが存在
し、前記欠陥リストには前記データ領域又は前記スペア領域
に属する欠陥セクタの識別情報とその欠陥セクタを代替
する前記スペア領域に属する欠陥でないセクタの識別情
報との組のみが記録されていることを特徴とする情報記
録媒体。
【請求項１０】前記スペア領域と前記データ領域はそ
れら両領域の一部の組を１つのグループとする複数のグ
ループに予め分割されており、前記情報記録媒体はさらに前記グループごとに対応づけ
られた情報の集まりであるスペア枯渇情報領域を有し、前記スペア枯渇情報領域に記録された情報は、対応する
グループのスペア領域に新たに代替セクタとして割り当
てることができるセクタが存在するか否かを示すもので
あることを特徴とする請求項９記載の情報記録媒体。
【請求項１１】前記各グループのスペア領域を構成す
るセクタの数は、前記欠陥リストに記録できる最大組数
より大きいことを特徴とする請求項１０記載の情報記録
媒体。
【請求項１２】前記スペア枯渇情報領域は、前記欠陥
リストと隣接する位置に記録されていることを特徴とす
る請求項１１記載の情報記録媒体。
【請求項１３】前記スペア領域と前記データ領域はそ
れら両領域の一部の組を１つのグループとする複数のグ
ループに予め分割されており、前記情報記録媒体はさらに前記グループごとに対応づけ
られたポインタの集まりである次スペアセクタ指摘領域
を有し、前記次スペアセクタ指摘領域に記録された各ポインタ
は、対応するグループのスペア領域に属するセクタであ
って次に代替セクタとして割り当てることができるもの
の識別情報、又は、そのスペア領域には代替セクタとし
て割り当てることができるセクタが存在しない旨を示す
情報のいずれかであることを特徴とする請求項９記載の
情報記録媒体。
【請求項１４】前記各グループのスペア領域を構成す
るセクタの数は、前記欠陥リストに記録できる最大組数
より大きいことを特徴とする請求項１３記載の情報記録
媒体。
【請求項１５】前記次スペアセクタ指摘領域は、前記
欠陥リストと隣接する位置に記録されていることを特徴
とする請求項１４記載の情報記録媒体。
【請求項１６】前記スペア領域と前記データ領域はそ
れら両領域の一部の組を１つのグループとする複数のグ
ループに予め分割されており、前記欠陥リストにはさらにいずれかの前記グループのス
ペア領域であってそのスペア領域には代替セクタとして
割り当てることができるセクタが存在しないものに属す
る欠陥セクタの識別情報とその識別情報の複製との組が
記録されていることを特徴とする請求項９記載の情報記
録媒体。
【請求項１７】前記各グループのスペア領域を構成す
るセクタの数は、前記欠陥リストに記録できる最大組数
より大きいことを特徴とする請求項１６記載の情報記録
媒体。