JP2000125290A - 画像記録装置及び方法 - Google Patents
画像記録装置及び方法Info
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- JP2000125290A JP2000125290A JP29431498A JP29431498A JP2000125290A JP 2000125290 A JP2000125290 A JP 2000125290A JP 29431498 A JP29431498 A JP 29431498A JP 29431498 A JP29431498 A JP 29431498A JP 2000125290 A JP2000125290 A JP 2000125290A
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- JP
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- motion
- motion amount
- screen
- image
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- Studio Devices (AREA)
- Compression Or Coding Systems Of Tv Signals (AREA)
- Television Signal Processing For Recording (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 誤判定の可能性が低く信頼性が高い画像記録
装置及び方法を提供する。 【解決手段】 本発明は、ビデオカメラと、ビデオカメ
ラからの画像の画面をいくつかの画面ブロックに分けて
各画面ブロックの動き量を検出する動き検出回路を有す
る動画圧縮回路と、動き検出回路により検出された各画
面ブロックの動き量を大きいものから順に並べ直し、動
き量が大きいものから予め設定した数の画面ブロックの
動き量の平均値を算出する動き量集計回路と、これによ
り算出された平均値が予め設定されたしきい値を比較し
て平均値がしきい値より大きいか否かを判断する比較器
と、これにより平均値が前記しきい値より大きいと判断
された時に予め決められた時間だけディスクドライブ装
置を駆動してビデオディスクに画像を記録する装置を有
する。
装置及び方法を提供する。 【解決手段】 本発明は、ビデオカメラと、ビデオカメ
ラからの画像の画面をいくつかの画面ブロックに分けて
各画面ブロックの動き量を検出する動き検出回路を有す
る動画圧縮回路と、動き検出回路により検出された各画
面ブロックの動き量を大きいものから順に並べ直し、動
き量が大きいものから予め設定した数の画面ブロックの
動き量の平均値を算出する動き量集計回路と、これによ
り算出された平均値が予め設定されたしきい値を比較し
て平均値がしきい値より大きいか否かを判断する比較器
と、これにより平均値が前記しきい値より大きいと判断
された時に予め決められた時間だけディスクドライブ装
置を駆動してビデオディスクに画像を記録する装置を有
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像記録装置及び
方法に関し、特に防犯監視または観察に用いられる画像
記録装置及び方法に関する。
方法に関し、特に防犯監視または観察に用いられる画像
記録装置及び方法に関する。
【0002】
【従来の技術】画像記録機能を有する監視用ビデオカメ
ラにおいては従来のタイムラプスVTRに代表される超
長時間記録を目的とするものや、センサ等を利用して異
常事態が起きたことを検知し、その時のみ画像を記録す
るような装置が提案されている。
ラにおいては従来のタイムラプスVTRに代表される超
長時間記録を目的とするものや、センサ等を利用して異
常事態が起きたことを検知し、その時のみ画像を記録す
るような装置が提案されている。
【0003】この種の従来の画像記録装置として、特開
平8−221514号公報及び特開平7−231442
号公報に記載されたものがある。特開平8−22151
4号公報に記載された画像記録装置は、カメラとセンサ
とMOドライブ装置とを有し、赤外線等のセンサで異常
を検出した場合のみ画像を記録する。図8に示すよう
に、特開平8−221514号公報に記載された画像記
録装置は、ビデオカメラ90と動体センサ91とI/O
ポート92とディスクドライブ93とCPU装置94と
を有している。また、特開平7−231442号公報に
記載された画像記録装置は、動画圧縮手段と動き検出手
段により、カメラの撮影画像の中から画像の動きを検出
し、動きのあったときのみ記録媒体に記録する。
平8−221514号公報及び特開平7−231442
号公報に記載されたものがある。特開平8−22151
4号公報に記載された画像記録装置は、カメラとセンサ
とMOドライブ装置とを有し、赤外線等のセンサで異常
を検出した場合のみ画像を記録する。図8に示すよう
に、特開平8−221514号公報に記載された画像記
録装置は、ビデオカメラ90と動体センサ91とI/O
ポート92とディスクドライブ93とCPU装置94と
を有している。また、特開平7−231442号公報に
記載された画像記録装置は、動画圧縮手段と動き検出手
段により、カメラの撮影画像の中から画像の動きを検出
し、動きのあったときのみ記録媒体に記録する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
タイムラプスVTRでは、記録した画像が超長時間に及
ぶため、後で画像を全てチェックするのは困難であり、
また画質を犠牲にして長時間記録しているために異常が
起きた部分を鮮明な画質で検証することができないとい
う問題がある。
タイムラプスVTRでは、記録した画像が超長時間に及
ぶため、後で画像を全てチェックするのは困難であり、
また画質を犠牲にして長時間記録しているために異常が
起きた部分を鮮明な画質で検証することができないとい
う問題がある。
【0005】また、特開平8−221514号公報に記
載された画像記録装置においては、画像を記録するカメ
ラと異常を検出するセンサが別のためセンサの設置場所
の選定が難しい。また、センサの検出範囲を広くすれば
センサの誤動作を防ぐため感度を落とさなければならな
いので、小さな変化を見落とす原因になり、センサの検
出範囲を狭くすれば感度は上げることができるが、カメ
ラの画角内であっても検出できない恐れがあるという問
題がある。
載された画像記録装置においては、画像を記録するカメ
ラと異常を検出するセンサが別のためセンサの設置場所
の選定が難しい。また、センサの検出範囲を広くすれば
センサの誤動作を防ぐため感度を落とさなければならな
いので、小さな変化を見落とす原因になり、センサの検
出範囲を狭くすれば感度は上げることができるが、カメ
ラの画角内であっても検出できない恐れがあるという問
題がある。
【0006】特開平7−231442号公報に記載され
た画像記録装置においては、平常時に既に動きがある物
体、例えば木の葉や時計等が監視対象近くにある状況で
は誤判定を起こしやすくなるため、設置場所が制限され
るという問題がある。
た画像記録装置においては、平常時に既に動きがある物
体、例えば木の葉や時計等が監視対象近くにある状況で
は誤判定を起こしやすくなるため、設置場所が制限され
るという問題がある。
【0007】本発明の目的は、誤判定の可能性が低く信
頼性が高い画像記録装置及び方法を提供することにあ
る。
頼性が高い画像記録装置及び方法を提供することにあ
る。
【0008】また、本発明の他の目的は、常時揺れる物
体や高感度カメラのノイズ等によっても誤判定すること
がない画像記録装置及び方法を提供することにある。
体や高感度カメラのノイズ等によっても誤判定すること
がない画像記録装置及び方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、ビデオカメラと、ビデオカ
メラからの画像の画面をいくつかの画面ブロックに分け
て各画面ブロックの動き量を検出する動き量検出手段
と、動き量検出手段により検出された各画面ブロックの
動き量を大きいものから順に並べ直して動き量が大きい
ものから予め設定した数の画面ブロックの動き量の平均
値を算出する動き量集計手段と、動き量集計手段により
算出された平均値を予め設定されたしきい値と比較して
平均値がしきい値より大きいか否かを判断する比較手段
と、比較手段により平均値がしきい値より大きいと判断
された時に予め決められた時間だけビデオディスクに画
像を記録する記録手段とを有することを特徴とする。
に、請求項1記載の発明は、ビデオカメラと、ビデオカ
メラからの画像の画面をいくつかの画面ブロックに分け
て各画面ブロックの動き量を検出する動き量検出手段
と、動き量検出手段により検出された各画面ブロックの
動き量を大きいものから順に並べ直して動き量が大きい
ものから予め設定した数の画面ブロックの動き量の平均
値を算出する動き量集計手段と、動き量集計手段により
算出された平均値を予め設定されたしきい値と比較して
平均値がしきい値より大きいか否かを判断する比較手段
と、比較手段により平均値がしきい値より大きいと判断
された時に予め決められた時間だけビデオディスクに画
像を記録する記録手段とを有することを特徴とする。
【0010】請求項4記載の発明は、ビデオカメラと、
ビデオカメラからの画像の画面をいくつかの画面ブロッ
クに分けて各画面ブロックの動き量を検出する動き量検
出手段と、予め画面ブロックの動きベクトル量の最大値
を計測して、最大値を平常時の最大ベクトル量として各
画面ブロックのオフセット量とするオフセット量検出手
段と、動き量検出手段により検出された各画面ブロック
の動き量からオフセット量検出手段により計測されたオ
フセット量を減算して、各画面ブロックの動き量を算出
して大きいものから順に並べ直し、動き量が大きいもの
から予め設定した数の画面ブロックの動き量の平均値を
算出する動き量集計手段と、動き量集計手段により算出
された平均値を予め設定されたしきい値と比較して平均
値がしきい値より大きいか否かを判断する比較手段と、
比較手段により平均値がしきい値より大きいと判断され
た時に予め決められた時間だけビデオディスクに画像を
記録する記録手段とを有することを特徴とする。
ビデオカメラからの画像の画面をいくつかの画面ブロッ
クに分けて各画面ブロックの動き量を検出する動き量検
出手段と、予め画面ブロックの動きベクトル量の最大値
を計測して、最大値を平常時の最大ベクトル量として各
画面ブロックのオフセット量とするオフセット量検出手
段と、動き量検出手段により検出された各画面ブロック
の動き量からオフセット量検出手段により計測されたオ
フセット量を減算して、各画面ブロックの動き量を算出
して大きいものから順に並べ直し、動き量が大きいもの
から予め設定した数の画面ブロックの動き量の平均値を
算出する動き量集計手段と、動き量集計手段により算出
された平均値を予め設定されたしきい値と比較して平均
値がしきい値より大きいか否かを判断する比較手段と、
比較手段により平均値がしきい値より大きいと判断され
た時に予め決められた時間だけビデオディスクに画像を
記録する記録手段とを有することを特徴とする。
【0011】請求項7記載の発明は、ビデオカメラから
の画像の画面をいくつかの画面ブロックに分けて各画面
ブロックの動き量を検出する動き量検出ステップと、動
き量検出ステップにより検出された各画面ブロックの動
き量を大きいものから順に並べ直し、動き量が大きいも
のから予め設定した数の画面ブロックの動き量の平均値
を算出する動き量集計ステップと、動き量集計ステップ
により算出された平均値を予め設定されたしきい値と比
較して平均値がしきい値より大きいか否かを判断する比
較ステップと、比較ステップにより平均値がしきい値よ
り大きいと判断された時に予め決められた時間だけビデ
オディスクに画像を記録する記録ステップとを有するこ
とを特徴とする。
の画像の画面をいくつかの画面ブロックに分けて各画面
ブロックの動き量を検出する動き量検出ステップと、動
き量検出ステップにより検出された各画面ブロックの動
き量を大きいものから順に並べ直し、動き量が大きいも
のから予め設定した数の画面ブロックの動き量の平均値
を算出する動き量集計ステップと、動き量集計ステップ
により算出された平均値を予め設定されたしきい値と比
較して平均値がしきい値より大きいか否かを判断する比
較ステップと、比較ステップにより平均値がしきい値よ
り大きいと判断された時に予め決められた時間だけビデ
オディスクに画像を記録する記録ステップとを有するこ
とを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。画像データの圧縮方
式としてMPEG等の方式が一般に知られているが、こ
れらの画像圧縮方式は高効率符号化の手法として動き検
出という機能を持っている。前フレームのデータと現フ
レームのデータを比較し、その差分から動きのあったこ
とを検出するが、この比較単位として1フレームの画像
の画面をいくつかの分割した画面ブロックとしている。
画面ブロックの大きさは、システムによって異なる。画
面ブロックとして、DCTブロック(8×8ピクセ
ル)、マクロブロック(16×16ピクセル)、及びマ
クロブロックを数個組み合わせたスーパーブロックなど
がある。この場合、動きを検出する画面ブロック単位に
画像内容の動き成分が検出できるため、どのくらいの範
囲でどのくらいの移動量で動きがあったかを把握するこ
とが可能である。
て図面を参照して詳細に説明する。画像データの圧縮方
式としてMPEG等の方式が一般に知られているが、こ
れらの画像圧縮方式は高効率符号化の手法として動き検
出という機能を持っている。前フレームのデータと現フ
レームのデータを比較し、その差分から動きのあったこ
とを検出するが、この比較単位として1フレームの画像
の画面をいくつかの分割した画面ブロックとしている。
画面ブロックの大きさは、システムによって異なる。画
面ブロックとして、DCTブロック(8×8ピクセ
ル)、マクロブロック(16×16ピクセル)、及びマ
クロブロックを数個組み合わせたスーパーブロックなど
がある。この場合、動きを検出する画面ブロック単位に
画像内容の動き成分が検出できるため、どのくらいの範
囲でどのくらいの移動量で動きがあったかを把握するこ
とが可能である。
【0013】本発明では、もともと定常的で微弱な動き
があるカメラ画像中で、特に一定以上の大きさの検出対
象が動いたこと、または出現したことを検出するため
に、図1に示した動き検出回路21において動きのあっ
た画面ブロックを動き量に応じて上位から並べ直し、予
め検出対象の大きさに合わせて設定した画面ブロックの
数の動き量を上位から集計して、その平均値を求め、こ
れも予め検出対象の動く速度に合わせて設定されたしき
い値と比較して、しきい値を上回った場合のみ画像をビ
デオディスクに記録する。
があるカメラ画像中で、特に一定以上の大きさの検出対
象が動いたこと、または出現したことを検出するため
に、図1に示した動き検出回路21において動きのあっ
た画面ブロックを動き量に応じて上位から並べ直し、予
め検出対象の大きさに合わせて設定した画面ブロックの
数の動き量を上位から集計して、その平均値を求め、こ
れも予め検出対象の動く速度に合わせて設定されたしき
い値と比較して、しきい値を上回った場合のみ画像をビ
デオディスクに記録する。
【0014】図4に示すように、大きな物体Aが一定距
離移動した場合と、小さな物体Bが同じだけ移動した場
合には、1画面中の動き量の最大値は等しくなるが、動
きが発生した画面ブロック数が大きく異なるため、動き
量が大きい画面ブロック(上位の画面ブロック)から一
定数の画面ブロックの平均値を取ることで対象の大きさ
を限定することができる。
離移動した場合と、小さな物体Bが同じだけ移動した場
合には、1画面中の動き量の最大値は等しくなるが、動
きが発生した画面ブロック数が大きく異なるため、動き
量が大きい画面ブロック(上位の画面ブロック)から一
定数の画面ブロックの平均値を取ることで対象の大きさ
を限定することができる。
【0015】図1は本発明の1つの実施の形態としての
画像記録装置を示している。図2は本発明の画像記録装
置の動き量集計回路3を示している。本発明の画像記録
装置は、ビデオカメラ1と、ビデオカメラ1に接続され
ている動画圧縮回路2と、動画圧縮回路2に接続されて
いる動き量集計回路3と、動画圧縮回路2及び動き量集
計回路3に接続されているドライブ制御回路4と、動画
圧縮回路2及びドライブ制御回路4に接続されているデ
ィスクドライブ装置5とを有している。
画像記録装置を示している。図2は本発明の画像記録装
置の動き量集計回路3を示している。本発明の画像記録
装置は、ビデオカメラ1と、ビデオカメラ1に接続され
ている動画圧縮回路2と、動画圧縮回路2に接続されて
いる動き量集計回路3と、動画圧縮回路2及び動き量集
計回路3に接続されているドライブ制御回路4と、動画
圧縮回路2及びドライブ制御回路4に接続されているデ
ィスクドライブ装置5とを有している。
【0016】動画圧縮回路2は、ビデオカメラ1からの
画像の画面をいくつかの画面ブロックに分け、各画面ブ
ロック毎の動きを検出する動き検出機能を有している。
動き量集計回路3は、検出した各画面ブロック毎の動き
量を大きいもの(上位)から順に並べ直し、予め設定し
た数の画面ブロックの動き量の平均値を算出する。ドラ
イブ制御回路4は、動画圧縮回路2及び動き量集計回路
3からの信号を受けてディスクドライブ装置5を制御す
る。
画像の画面をいくつかの画面ブロックに分け、各画面ブ
ロック毎の動きを検出する動き検出機能を有している。
動き量集計回路3は、検出した各画面ブロック毎の動き
量を大きいもの(上位)から順に並べ直し、予め設定し
た数の画面ブロックの動き量の平均値を算出する。ドラ
イブ制御回路4は、動画圧縮回路2及び動き量集計回路
3からの信号を受けてディスクドライブ装置5を制御す
る。
【0017】動画圧縮回路2は、符号化制御回路10
と、減算器11と、切替えスイッチ12、13と、DC
T変換回路14と、量子化回路15と、可変長符号制御
回路16と、逆量子化回路17と、逆DCT変換回路1
8と、加算器19と、可変長メモリ20と、動き検出回
路21とを有している。減算器11は、ビデオカメラ1
に接続されている。切替えスイッチ12、13および量
子化回路15は、符号化制御回路10に接続されてい
る。DCT変換回路14は、切替えスイッチ12を介し
て減算器11に接続されている。量子化回路15は、D
CT変換回路14に接続されている。可変長符号制御回
路16は、量子化回路15とドライブ制御回路4及びデ
ィスクドライブ装置5に接続されている。逆量子化回路
17は、量子化回路15に接続されている。逆DCT変
換回路18は、逆量子化回路17に接続されている。加
算器19は、逆DCT変換回路18に接続され、かつ、
減算器11に切替えスイッチ13を介して接続されてい
る。可変長メモリ20は、加算器19及び減算器11に
接続されている。動き検出回路21は、ビデオカメラ1
及び可変長メモリ20に接続されている。動き検出回路
21は、ビデオカメラ1からの画像の画面をいくつかの
画面ブロックに分け、各画面ブロック毎の動きを検出す
る。
と、減算器11と、切替えスイッチ12、13と、DC
T変換回路14と、量子化回路15と、可変長符号制御
回路16と、逆量子化回路17と、逆DCT変換回路1
8と、加算器19と、可変長メモリ20と、動き検出回
路21とを有している。減算器11は、ビデオカメラ1
に接続されている。切替えスイッチ12、13および量
子化回路15は、符号化制御回路10に接続されてい
る。DCT変換回路14は、切替えスイッチ12を介し
て減算器11に接続されている。量子化回路15は、D
CT変換回路14に接続されている。可変長符号制御回
路16は、量子化回路15とドライブ制御回路4及びデ
ィスクドライブ装置5に接続されている。逆量子化回路
17は、量子化回路15に接続されている。逆DCT変
換回路18は、逆量子化回路17に接続されている。加
算器19は、逆DCT変換回路18に接続され、かつ、
減算器11に切替えスイッチ13を介して接続されてい
る。可変長メモリ20は、加算器19及び減算器11に
接続されている。動き検出回路21は、ビデオカメラ1
及び可変長メモリ20に接続されている。動き検出回路
21は、ビデオカメラ1からの画像の画面をいくつかの
画面ブロックに分け、各画面ブロック毎の動きを検出す
る。
【0018】動き量集計回路3は、オフセット量計数回
路22と、動き量集計器23と、モード判定回路24と
を有している。オフセット量計数回路22は、オフセッ
ト計測スイッチ6に接続されている。動き量集計器23
は、動き検出回路21及びオフセット量計数回路22に
接続されている。モード判定回路24は、動き量集計器
23とドライブ制御回路4及び可変長符号制御回路16
に接続されている。オフセット量計数回路22は、平常
時に各画面ブロックが最大どれだけの動き量を持ってい
るか予め計測し、オフセット量として記憶する。動き量
集計器23は、検出した各画面ブロック毎の動き量を大
きいもの(上位)から順に並べ直し、予め設定した数の
画面ブロックの動き量の平均値を算出する。モード判定
回路24は、動き量集計器23の平均値と予め設定され
たしきい値を比較し、平均値がしきい値より大きい時に
ドライブ制御回路4およびディスクドライブ装置5を画
像記録モードとする。この場合に可変長符号制御回路1
6は、データレート情報7をドライブ制御回路4に与
え、かつ、圧縮画像データ8をディスクドライブ装置5
に与える。
路22と、動き量集計器23と、モード判定回路24と
を有している。オフセット量計数回路22は、オフセッ
ト計測スイッチ6に接続されている。動き量集計器23
は、動き検出回路21及びオフセット量計数回路22に
接続されている。モード判定回路24は、動き量集計器
23とドライブ制御回路4及び可変長符号制御回路16
に接続されている。オフセット量計数回路22は、平常
時に各画面ブロックが最大どれだけの動き量を持ってい
るか予め計測し、オフセット量として記憶する。動き量
集計器23は、検出した各画面ブロック毎の動き量を大
きいもの(上位)から順に並べ直し、予め設定した数の
画面ブロックの動き量の平均値を算出する。モード判定
回路24は、動き量集計器23の平均値と予め設定され
たしきい値を比較し、平均値がしきい値より大きい時に
ドライブ制御回路4およびディスクドライブ装置5を画
像記録モードとする。この場合に可変長符号制御回路1
6は、データレート情報7をドライブ制御回路4に与
え、かつ、圧縮画像データ8をディスクドライブ装置5
に与える。
【0019】図1において、ビデオカメラ1は監視対象
場所に常時向けられており、画像情報は動画圧縮回路2
に送られる。符号化制御回路10は動画圧縮回路2の内
部動作モードを制御している。動き検出回路21は可変
長メモリ20に格納されている前フレームデータと現フ
レームデータの差分から、各動き画面ブロック単位で動
きを表わすベクトル情報を算出する。通常はこの動きデ
ータを現フレームの補償データとして減算器11に戻
す。本発明では、この動きベクトルを動き量集計回路3
にも供給して、ある一定の動きがあると判断された場合
のみディスクドライブ装置5及び可変長符号制御回路1
6に対して記録開始のドライブ制御信号9を送り画像を
記録する。
場所に常時向けられており、画像情報は動画圧縮回路2
に送られる。符号化制御回路10は動画圧縮回路2の内
部動作モードを制御している。動き検出回路21は可変
長メモリ20に格納されている前フレームデータと現フ
レームデータの差分から、各動き画面ブロック単位で動
きを表わすベクトル情報を算出する。通常はこの動きデ
ータを現フレームの補償データとして減算器11に戻
す。本発明では、この動きベクトルを動き量集計回路3
にも供給して、ある一定の動きがあると判断された場合
のみディスクドライブ装置5及び可変長符号制御回路1
6に対して記録開始のドライブ制御信号9を送り画像を
記録する。
【0020】図2に示すように、前フレームから現フレ
ームへの画像の移動情報は、ブロック位置情報30と動
きベクトルX成分32および動きベクトルY成分33と
いう形で与えられる。画面ブロックとは、図3で示され
るフレーム内の有効画像55中を一定のピクセル数で区
切った動き画面ブロック56に相当し、各動き画面ブロ
ックの動きベクトルX、動きベクトルYは同図中のdX
及びdYで示される。動き量57はdXの2乗とdYの
2乗をたし合わせたものの平方根を取って得られる。し
かし、動き量57は、単に大小関係のみ問題になるため
ここでは平方根が省略可能である。
ームへの画像の移動情報は、ブロック位置情報30と動
きベクトルX成分32および動きベクトルY成分33と
いう形で与えられる。画面ブロックとは、図3で示され
るフレーム内の有効画像55中を一定のピクセル数で区
切った動き画面ブロック56に相当し、各動き画面ブロ
ックの動きベクトルX、動きベクトルYは同図中のdX
及びdYで示される。動き量57はdXの2乗とdYの
2乗をたし合わせたものの平方根を取って得られる。し
かし、動き量57は、単に大小関係のみ問題になるため
ここでは平方根が省略可能である。
【0021】図2に示すように、動き量集計回路3は、
オフセット量計数回路22と、動き量集計器23と、モ
ード判定回路24と、ベクトル動き量変換回路51とを
有している。ベクトル動き量変換回路51は、オフセッ
ト量計数回路22及び動き量集計器23に接続され、か
つ、動きベクトルX成分32及び動きベクトルY成分3
3を受ける。
オフセット量計数回路22と、動き量集計器23と、モ
ード判定回路24と、ベクトル動き量変換回路51とを
有している。ベクトル動き量変換回路51は、オフセッ
ト量計数回路22及び動き量集計器23に接続され、か
つ、動きベクトルX成分32及び動きベクトルY成分3
3を受ける。
【0022】オフセット量計数回路22は、オフセット
設定イベント制御回路34と、メモリ制御回路35と、
オフセット量保存メモリ36と、最大値判定回路37と
を有している。オフセット設定イベント制御回路34
は、ブロック位置情報30及びオフセット計測パルス3
1を受ける。メモリ制御回路35は、オフセット設定イ
ベント制御回路34に接続されている。オフセット量保
存メモリ36は、メモリ制御回路35に接続されてい
る。最大値判定回路37は、オフセット量保存メモリ3
6及びベクトル動き量変換回路51に接続されている。
設定イベント制御回路34と、メモリ制御回路35と、
オフセット量保存メモリ36と、最大値判定回路37と
を有している。オフセット設定イベント制御回路34
は、ブロック位置情報30及びオフセット計測パルス3
1を受ける。メモリ制御回路35は、オフセット設定イ
ベント制御回路34に接続されている。オフセット量保
存メモリ36は、メモリ制御回路35に接続されてい
る。最大値判定回路37は、オフセット量保存メモリ3
6及びベクトル動き量変換回路51に接続されている。
【0023】動き量集計器23は、動き量集計イベント
制御回路38と、メモリ制御回路39と、動き量保存メ
モリ40と、減算器41とを有している。動き量集計イ
ベント制御回路38は、ブロック位置情報30を受け
る。メモリ制御回路39は、動き量集計イベント制御回
路38に接続されている。動き量保存メモリ40は、メ
モリ制御回路39に接続されている。減算器41は、動
き量保存メモリ40と最大値判定回路37及びベクトル
動き量変換回路51に接続されている。
制御回路38と、メモリ制御回路39と、動き量保存メ
モリ40と、減算器41とを有している。動き量集計イ
ベント制御回路38は、ブロック位置情報30を受け
る。メモリ制御回路39は、動き量集計イベント制御回
路38に接続されている。動き量保存メモリ40は、メ
モリ制御回路39に接続されている。減算器41は、動
き量保存メモリ40と最大値判定回路37及びベクトル
動き量変換回路51に接続されている。
【0024】モード判定回路24は、ブロック数レジス
タ42と、再集計イベント制御回路43と、平均値算出
回路44と、比較器45と、しきい値レジスタ46とを
有している。再集計イベント制御回路43は、ブロック
数レジスタ42及びメモリ制御回路39に接続されてい
る。平均値算出回路44は、再集計イベント制御回路4
3及び減算器41に接続されている。比較器45は、平
均値算出回路44及びしきい値レジスタ46に接続され
ている。
タ42と、再集計イベント制御回路43と、平均値算出
回路44と、比較器45と、しきい値レジスタ46とを
有している。再集計イベント制御回路43は、ブロック
数レジスタ42及びメモリ制御回路39に接続されてい
る。平均値算出回路44は、再集計イベント制御回路4
3及び減算器41に接続されている。比較器45は、平
均値算出回路44及びしきい値レジスタ46に接続され
ている。
【0025】各動き画面ブロックの動き量を集計するた
め動き量集計イベント制御回路38とメモリ制御回路3
9の作用によって動き量保存メモリ40に動き量を一時
保存する。1フレーム分の動き量データが蓄積された
後、再集計イベント制御回路43が動き量保存メモリ4
0内の画面ブロック毎のデータを大きい順に並べ直し、
その際ブロック数レジスタ42で設定されるブロック数
を大きい順から選別し、その動き量の平均値を求める。
比較器45は、平均値としきい値レジスタ46で設定さ
れるしきい値と比較して、平均値がしきい値より大きい
時にドライブ制御信号9によりディスクドライブ装置5
を一定時間だけ記録モードにする。
め動き量集計イベント制御回路38とメモリ制御回路3
9の作用によって動き量保存メモリ40に動き量を一時
保存する。1フレーム分の動き量データが蓄積された
後、再集計イベント制御回路43が動き量保存メモリ4
0内の画面ブロック毎のデータを大きい順に並べ直し、
その際ブロック数レジスタ42で設定されるブロック数
を大きい順から選別し、その動き量の平均値を求める。
比較器45は、平均値としきい値レジスタ46で設定さ
れるしきい値と比較して、平均値がしきい値より大きい
時にドライブ制御信号9によりディスクドライブ装置5
を一定時間だけ記録モードにする。
【0026】なお、図7に示すように、ディスクドライ
ブ装置5の記録方式は、巡回記録区間81をディスク内
にいくつか儲け常時その区間内を周期的に記録して、ド
ライブ制御信号9を受けたイベント発生時点82から一
定時間後の記録終了点83まで記録して終了し、その後
は次のイベントに備え、別の巡回記録区間に巡回記録を
開始することで、動き量集計回路3で異常を検出した前
後の一定時間の画像を記録するようにしてもよい。
ブ装置5の記録方式は、巡回記録区間81をディスク内
にいくつか儲け常時その区間内を周期的に記録して、ド
ライブ制御信号9を受けたイベント発生時点82から一
定時間後の記録終了点83まで記録して終了し、その後
は次のイベントに備え、別の巡回記録区間に巡回記録を
開始することで、動き量集計回路3で異常を検出した前
後の一定時間の画像を記録するようにしてもよい。
【0027】次に、各動き画面ブロックの動き量を集計
するための動き量集計イベントを図6のフローチャート
を使って説明する。ステップ70〜75で全ての動き量
画面ブロックの動き量を動き量保存メモリ40に保存す
る。その際、事前に測定した各動き量画面ブロックのオ
フセット値を差し引いてもよい(ステップ73)。その
後、全画面ブロックを動き量の多い順に並べ直し(ステ
ップ76)ブロック数レジスタ42で設定されるブロッ
ク数の動き量の平均値を算出する(ステップ77)。
するための動き量集計イベントを図6のフローチャート
を使って説明する。ステップ70〜75で全ての動き量
画面ブロックの動き量を動き量保存メモリ40に保存す
る。その際、事前に測定した各動き量画面ブロックのオ
フセット値を差し引いてもよい(ステップ73)。その
後、全画面ブロックを動き量の多い順に並べ直し(ステ
ップ76)ブロック数レジスタ42で設定されるブロッ
ク数の動き量の平均値を算出する(ステップ77)。
【0028】次に、オフセット量計数回路22について
説明する。オフセット量の計数は、装置が監視動作を開
始する以前に平常時の動き量の最大値を予め計測してお
き、装置が監視動作を開始した後は、オフセット量を各
動き量画面ブロックの基準値として差し引くものであ
る。
説明する。オフセット量の計数は、装置が監視動作を開
始する以前に平常時の動き量の最大値を予め計測してお
き、装置が監視動作を開始した後は、オフセット量を各
動き量画面ブロックの基準値として差し引くものであ
る。
【0029】図2のオフセット設定イベント制御回路3
4にオフセット計測パルス31がオフセット計測スイッ
チ6によって入力されると、一定時間オフセット計測モ
ードになる。この間、オフセット設定イベント制御回路
34とメモリ制御回路35の作用によってオフセット量
保存メモリ36に平常時の動き量の最大値が保存され
る。最大値の選別は、最大値判定回路37がオフセット
量保存メモリ36内の値とベクトル動き量変換回路51
の出力の現動き量のうち大きい方を再びオフセット量保
存メモリ36に書き戻すことで行う。オフセット量は各
動き画面ブロックに固有の値を取り、このオフセット減
算によって、フレーム内の一定位置に定常的にある動き
成分を除外する。
4にオフセット計測パルス31がオフセット計測スイッ
チ6によって入力されると、一定時間オフセット計測モ
ードになる。この間、オフセット設定イベント制御回路
34とメモリ制御回路35の作用によってオフセット量
保存メモリ36に平常時の動き量の最大値が保存され
る。最大値の選別は、最大値判定回路37がオフセット
量保存メモリ36内の値とベクトル動き量変換回路51
の出力の現動き量のうち大きい方を再びオフセット量保
存メモリ36に書き戻すことで行う。オフセット量は各
動き画面ブロックに固有の値を取り、このオフセット減
算によって、フレーム内の一定位置に定常的にある動き
成分を除外する。
【0030】図5はオフセット設定イベントのフローチ
ャートである。ステップ61〜67で1フレーム分の各
動き画面ブロックの平常時の動き量をオフセット量とし
て更新し、ステップ60〜69でn周回繰り返すことで
最大値を得ることができる。
ャートである。ステップ61〜67で1フレーム分の各
動き画面ブロックの平常時の動き量をオフセット量とし
て更新し、ステップ60〜69でn周回繰り返すことで
最大値を得ることができる。
【0031】
【発明の効果】本発明は、大きな物体と小さな物体が同
じだけ動いたそれぞれの場合にも、大きな物体の方が動
きの発生するブロックが広範囲に渡っていることが検出
できるため、検出対象物の大きさを予め設定可能で、小
さな物体の動きを除外でき、誤判定の可能性が低く信頼
性が高い。
じだけ動いたそれぞれの場合にも、大きな物体の方が動
きの発生するブロックが広範囲に渡っていることが検出
できるため、検出対象物の大きさを予め設定可能で、小
さな物体の動きを除外でき、誤判定の可能性が低く信頼
性が高い。
【0032】また、本発明は、予めオフセットの動き量
を計測できるため、例えば野外等に設置した場合に問題
となる木の葉のような常時揺れる物体や、高感度カメラ
のノイズ等によっても誤判定することがない。
を計測できるため、例えば野外等に設置した場合に問題
となる木の葉のような常時揺れる物体や、高感度カメラ
のノイズ等によっても誤判定することがない。
【図1】本発明の1つの実施の形態としての画像記録装
置を示すブロック図である。
置を示すブロック図である。
【図2】図1の画像記録装置における動き量集計回路を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図3】図1の画像記録装置の画面ブロックとベクトル
量を説明するための図である。
量を説明するための図である。
【図4】図1の画像記録装置の動き量計数方式を説明す
るための図である。
るための図である。
【図5】図1の画像記録装置におけるオフセット量計数
回路の動作を説明するためのフローチャートである。
回路の動作を説明するためのフローチャートである。
【図6】図1の画像記録装置における動き量集計回路の
動作を説明するためのフローチャートである。
動作を説明するためのフローチャートである。
【図7】図1の画像記録装置における連続録画方法を説
明するための図である。
明するための図である。
【図8】従来の画像記録装置を示すブロック図である。
【符号の説明】 1 ビデオカメラ 2 動画圧縮回路 3 動き量集計回路 4 ドライブ制御回路 5 ディスクドライブ装置 6 オフセット計測スイッチ 7 データレート情報 8 圧縮画像データ 9 ドライブ制御信号 10 符号化制御回路 11 減算器 12、13 切り替えスイッチ 14 DCT変換回路 15 量子化回路 16 可変長符号制御回路 17 逆量子化回路 18 逆DCT変換回路 19 加算器 20 可変長メモリ 21 動き検出回路 22 オフセット量計数回路 23 動き量集計器 24 モード判定回路 30 ブロック位置情報 31 オフセット計測パルス 32 動きベクトルX成分 33 動きベクトルY成分 34 オフセット設定イベント制御回路 35 メモリ制御回路 36 オフセット量保存メモリ 37 最大値判定回路 38 動き量集計イベント制御回路 39 メモリ制御回路 40 動き量保存メモリ 41 減算器 42 ブロック数レジスタ 43 再集計イベント制御回路 44 平均値算出回路 45 比較器 46 しきい値レジスタ 51 ベクトル動き量変換回路
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 5/937 H04N 7/133 Z 7/30 Fターム(参考) 5C022 AA05 AC00 AC69 5C053 FA12 FA23 GB19 GB37 KA22 KA24 KA30 5C054 EA07 EG06 FC12 FC13 FC16 GA01 GB01 GD05 HA18 5C059 KK00 MA00 NN01 SS11 TA00 TB04 TC12 TD03 TD11
Claims (7)
- 【請求項1】 ビデオカメラと、 ビデオカメラからの画像の画面をいくつかの画面ブロッ
クに分けて各画面ブロックの動き量を検出する動き量検
出手段と、 前記動き量検出手段により検出された各画面ブロックの
動き量を大きいものから順に並べ直して、動き量が大き
いものから予め設定した数の画面ブロックの動き量の平
均値を算出する動き量集計手段と、 前記動き量集計手段により算出された前記平均値を予め
設定されたしきい値と比較して前記平均値が前記しきい
値より大きいか否かを判断する比較手段と、 前記比較手段により前記平均値が前記しきい値より大き
いと判断された時に予め決められた時間だけビデオディ
スクに画像を記録する記録手段とを有することを特徴と
する画像記録装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の画像記録装置におい
て、 前記動き量集計手段は、前記平均値を算出する場合にお
けるブロックの数を任意の所定値に設定するブロック数
設定手段を有することを特徴とする画像記録装置。 - 【請求項3】 請求項1又は2に記載の画像記録装置に
おいて、 前記比較手段は、前記しきい値を任意の所定値に設定す
るしきい値設定手段を有することを特徴とする画像記録
装置。 - 【請求項4】 ビデオカメラと、 ビデオカメラからの画像の画面をいくつかの画面ブロッ
クに分けて各画面ブロックの動き量を検出する動き量検
出手段と、 予め画面ブロックの動きベクトル量の最大値を計測して
前記最大値を平常時の最大ベクトル量として各画面ブロ
ックのオフセット量とするオフセット量検出手段と、 前記動き量検出手段により検出された各画面ブロックの
動き量から前記オフセット量検出手段により計測された
前記オフセット量を減算して各画面ブロックの動き量を
算出して大きいものから順に並べ直して、動き量が大き
いものから予め設定した数の画面ブロックの動き量の平
均値を算出する動き量集計手段と、 前記動き量集計手段により算出された前記平均値を予め
設定されたしきい値と比較して前記平均値が前記しきい
値より大きいか否かを判断する比較手段と、 前記比較手段により前記平均値が前記しきい値より大き
いと判断された時に予め決められた時間だけビデオディ
スクに画像を記録する記録手段とを有することを特徴と
する画像記録装置。 - 【請求項5】 請求項4に記載の画像記録装置におい
て、 前記動き量集計手段は、前記平均値を算出する場合にお
けるブロックの数を任意の所定値に設定するブロック数
設定手段を有することを特徴とする画像記録装置。 - 【請求項6】 請求項4又は5に記載の画像記録装置に
おいて、 前記比較手段は、前記しきい値を任意の所定値に設定す
るしきい値設定手段を有することを特徴とする画像記録
装置。 - 【請求項7】 ビデオカメラからの画像の画面をいくつ
かの画面ブロックに分けて各画面ブロックの動き量を検
出する動き量検出ステップと、 前記動き量検出ステップにより検出された各画面ブロッ
クの動き量を大きいものから順に並べ直して、動き量が
大きいものから予め設定した数の画面ブロックの動き量
の平均値を算出する動き量集計ステップと、 前記動き量集計ステップにより算出された前記平均値を
予め設定されたしきい値と比較して前記平均値が前記し
きい値より大きいか否かを判断する比較ステップと、 前記比較ステップにより前記平均値が前記しきい値より
大きいと判断された時に予め決められた時間だけビデオ
ディスクに画像を記録する記録ステップとを有すること
を特徴とする画像記録方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29431498A JP3159186B2 (ja) | 1998-10-15 | 1998-10-15 | 画像記録装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29431498A JP3159186B2 (ja) | 1998-10-15 | 1998-10-15 | 画像記録装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000125290A true JP2000125290A (ja) | 2000-04-28 |
JP3159186B2 JP3159186B2 (ja) | 2001-04-23 |
Family
ID=17806099
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP29431498A Expired - Fee Related JP3159186B2 (ja) | 1998-10-15 | 1998-10-15 | 画像記録装置及び方法 |
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Cited By (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009213114A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-09-17 | Casio Comput Co Ltd | 撮像装置及びプログラム |
US7778031B1 (en) | 2009-07-15 | 2010-08-17 | Teradyne, Inc. | Test slot cooling system for a storage device testing system |
US7848106B2 (en) | 2008-04-17 | 2010-12-07 | Teradyne, Inc. | Temperature control within disk drive testing systems |
US7890207B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-02-15 | Teradyne, Inc. | Transferring storage devices within storage device testing systems |
US7904211B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-03-08 | Teradyne, Inc. | Dependent temperature control within disk drive testing systems |
US7908029B2 (en) | 2008-06-03 | 2011-03-15 | Teradyne, Inc. | Processing storage devices |
US7911778B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-03-22 | Teradyne, Inc. | Vibration isolation within disk drive testing systems |
US7929303B1 (en) | 2010-02-02 | 2011-04-19 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system cooling |
US7932734B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-04-26 | Teradyne, Inc. | Individually heating storage devices in a testing system |
US7940529B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-05-10 | Teradyne, Inc. | Storage device temperature sensing |
US7945424B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-05-17 | Teradyne, Inc. | Disk drive emulator and method of use thereof |
US7987018B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-07-26 | Teradyne, Inc. | Transferring disk drives within disk drive testing systems |
US7996174B2 (en) | 2007-12-18 | 2011-08-09 | Teradyne, Inc. | Disk drive testing |
US8041449B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-10-18 | Teradyne, Inc. | Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems |
US8102173B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-01-24 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit |
US8116079B2 (en) | 2009-07-15 | 2012-02-14 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system cooling |
US8238099B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-08-07 | Teradyne, Inc. | Enclosed operating area for disk drive testing systems |
US8405971B2 (en) | 2007-12-18 | 2013-03-26 | Teradyne, Inc. | Disk drive transport, clamping and testing |
US8482915B2 (en) | 2008-04-17 | 2013-07-09 | Teradyne, Inc. | Temperature control within disk drive testing systems |
US8547123B2 (en) | 2009-07-15 | 2013-10-01 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system with a conductive heating assembly |
US8628239B2 (en) | 2009-07-15 | 2014-01-14 | Teradyne, Inc. | Storage device temperature sensing |
US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
-
1998
- 1998-10-15 JP JP29431498A patent/JP3159186B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7996174B2 (en) | 2007-12-18 | 2011-08-09 | Teradyne, Inc. | Disk drive testing |
US8549912B2 (en) | 2007-12-18 | 2013-10-08 | Teradyne, Inc. | Disk drive transport, clamping and testing |
US8467180B2 (en) | 2007-12-18 | 2013-06-18 | Teradyne, Inc. | Disk drive transport, clamping and testing |
US8405971B2 (en) | 2007-12-18 | 2013-03-26 | Teradyne, Inc. | Disk drive transport, clamping and testing |
EP2088768A3 (en) * | 2008-02-08 | 2010-05-05 | Casio Computer Co., Ltd. | Imaging apparatus, storage medium storing computer readable program and imaging method |
KR101004914B1 (ko) * | 2008-02-08 | 2010-12-28 | 가시오게산키 가부시키가이샤 | 촬상장치 및 촬상방법 |
JP2009213114A (ja) * | 2008-02-08 | 2009-09-17 | Casio Comput Co Ltd | 撮像装置及びプログラム |
US8305751B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-11-06 | Teradyne, Inc. | Vibration isolation within disk drive testing systems |
US7911778B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-03-22 | Teradyne, Inc. | Vibration isolation within disk drive testing systems |
US8712580B2 (en) | 2008-04-17 | 2014-04-29 | Teradyne, Inc. | Transferring storage devices within storage device testing systems |
US8655482B2 (en) | 2008-04-17 | 2014-02-18 | Teradyne, Inc. | Enclosed operating area for storage device testing systems |
US8482915B2 (en) | 2008-04-17 | 2013-07-09 | Teradyne, Inc. | Temperature control within disk drive testing systems |
US7848106B2 (en) | 2008-04-17 | 2010-12-07 | Teradyne, Inc. | Temperature control within disk drive testing systems |
US7945424B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-05-17 | Teradyne, Inc. | Disk drive emulator and method of use thereof |
US7987018B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-07-26 | Teradyne, Inc. | Transferring disk drives within disk drive testing systems |
US7890207B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-02-15 | Teradyne, Inc. | Transferring storage devices within storage device testing systems |
US7904211B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-03-08 | Teradyne, Inc. | Dependent temperature control within disk drive testing systems |
US8041449B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-10-18 | Teradyne, Inc. | Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems |
US8238099B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-08-07 | Teradyne, Inc. | Enclosed operating area for disk drive testing systems |
US8095234B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-01-10 | Teradyne, Inc. | Transferring disk drives within disk drive testing systems |
US8102173B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-01-24 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit |
US8451608B2 (en) | 2008-04-17 | 2013-05-28 | Teradyne, Inc. | Temperature control within storage device testing systems |
US8117480B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-02-14 | Teradyne, Inc. | Dependent temperature control within disk drive testing systems |
US8140182B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-03-20 | Teradyne, Inc. | Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems |
US8160739B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-04-17 | Teradyne, Inc. | Transferring storage devices within storage device testing systems |
US8086343B2 (en) | 2008-06-03 | 2011-12-27 | Teradyne, Inc. | Processing storage devices |
US7908029B2 (en) | 2008-06-03 | 2011-03-15 | Teradyne, Inc. | Processing storage devices |
US8466699B2 (en) | 2009-07-15 | 2013-06-18 | Teradyne, Inc. | Heating storage devices in a testing system |
US7778031B1 (en) | 2009-07-15 | 2010-08-17 | Teradyne, Inc. | Test slot cooling system for a storage device testing system |
US8116079B2 (en) | 2009-07-15 | 2012-02-14 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system cooling |
US7995349B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-08-09 | Teradyne, Inc. | Storage device temperature sensing |
US7940529B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-05-10 | Teradyne, Inc. | Storage device temperature sensing |
US7932734B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-04-26 | Teradyne, Inc. | Individually heating storage devices in a testing system |
US8547123B2 (en) | 2009-07-15 | 2013-10-01 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system with a conductive heating assembly |
US8279603B2 (en) | 2009-07-15 | 2012-10-02 | Teradyne, Inc. | Test slot cooling system for a storage device testing system |
US8628239B2 (en) | 2009-07-15 | 2014-01-14 | Teradyne, Inc. | Storage device temperature sensing |
US7920380B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-04-05 | Teradyne, Inc. | Test slot cooling system for a storage device testing system |
US8687356B2 (en) | 2010-02-02 | 2014-04-01 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system cooling |
US7929303B1 (en) | 2010-02-02 | 2011-04-19 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system cooling |
US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
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