HU0700635A2 - Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes - Google Patents

Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes Download PDF

Info

Publication number
HU0700635A2
HU0700635A2 HU0700635A HU0700635A HU0700635A2 HU 0700635 A2 HU0700635 A2 HU 0700635A2 HU 0700635 A HU0700635 A HU 0700635A HU 0700635 A HU0700635 A HU 0700635A HU 0700635 A2 HU0700635 A2 HU 0700635A2
Authority
HU
Hungary
Prior art keywords
polarization
microscope
dp
laser
unit
Prior art date
Application number
HU0700635A
Other languages
Hungarian (hu)
Other versions
HU0700635D0 (en
Inventor
Gyoezoe Dr Garab
Istvan Pomozi
Original Assignee
Mta Szegedi Biolog Koezpont
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mta Szegedi Biolog Koezpont filed Critical Mta Szegedi Biolog Koezpont
Priority to HU0700635A priority Critical patent/HU0700635A2/en
Publication of HU0700635D0 publication Critical patent/HU0700635D0/en
Publication of HU0700635A2 publication Critical patent/HU0700635A2/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/19Dichroism
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties
    • G01N21/23Bi-refringence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0068Optical details of the image generation arrangements using polarisation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6445Measuring fluorescence polarisation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence

Abstract

The invention relates to a differential polarizing laser-scanning microscope (DP LSM) for determining differential polarization quantities of a material, comprising a laser light source (L) for scanning the sample and illuminating it with a coherent and monochromatic light, a microscope unit (ME) with a sample holder for providing a preselected optical magnification and imaging and a polarization state setting unit (PAA) positioned in the illuminating beam path (between the light source and the sample holder). The microscope is further provided with detectors (D1, D2) in the observing beam path, at least one filter holder in front of the detectors and a signal-processing unit (VE) for processing the electrical signals of the detectors. In the DP-LSM microscope an optical element (DP) is located in the common beam path comprising the illuminating and the observing beams, for separating the orthogonal polarization components.

Description

··· ··· ··· • · · · · · · · · · · · · · · · •

702244/MK 702 244 / MK

Telefon: 461 100Ó, Fax: 461-1099 Phone: 461 100o, Fax: 461-1099

KÖZZÉTÉTELI DISCLOSURE

PÉLDÁNY COPIES

Differenciálpolarizációs kiegészítő mérőegység lézersugárpásztázó mikroszkópokhoz Lézersugár-pásztázó mikroszkópoknál (Laser Scanning Microscope - LSM) avizsgálandó minta egyes pontjait (jól meghatározott térfogati egységeit) fókuszáltlézersugárral megvilágítva - általában digitális formában tárolható - információ szerezhető aképpont által áteresztett, vagy az onnan emittált vagy reflektált fény intenzitásáról. Differential polarization additional measuring unit laser scanning microscopes Laser beam scanning microscopes (Laser Scanning Microscope - LSM) specific points avizsgálandó sample (volume units of well-defined) illuminated fókuszáltlézersugárral - usually stored in digital format - the transmitted information can be obtained aképpont or leaving the emitted or reflected light intensity of. Alézersugár-pásztázó mikroszkóppal meghatározott szélességű és hosszúságú felület pásztázásasorán nyert jelet használják fel nagyfelbontású képalkotáshoz, amely a továbbiakban jólanalizálható. Alézersugár specified width and length surface-scanning microscope is used for a signal from pásztázásasorán high resolution imaging that jólanalizálható hereinafter. Az LSM konfokális üzemmódjában, a fókuszponton kívül eső pontokbólszármazó fény zavaró hatásának jelentős mértékű kizárásával, a képminőség tovább javítható.Ez a kereskedelmi forgalomban kapható LSM-k többségében (mint pl. a Zeiss 410 vagy 510típusú készülékeiben) alapfelszereltség, de a legtöbb LSM-ben csak reflexiós ésfluoreszcencia leképezésekre áll rendelkezésre. interference outside the LSM in confocal mode, the focal point dots from light substantially excluding the, image quality further javítható.Ez commercially available LSM-s the majority (eg. in Zeiss 410 or 510típusú handsets) standard equipment, but most of the LSM- ésfluoreszcencia reflection only available mappings. Konfokális üzemmódban lehetővé válik aminta roncsolásmentes vékony optikai szeletelése és ezzel három-dimenziós „képek”rekonstrukciója. Confocal mode enables reconstruction Aminta nondestructive optical slicing and thus three-dimensional "images". Nagyon jelentős képminőség javulás érhető el két- vagy több-fotonoslézergeqesztés révén is, minthogy ezen eljárással a geqesztés szigorúan a vizsgálni kívánttérrészre korlátozható és így a zavaró háttérintenzitás gyakorlatilag teljesen megszüntethető(A. Diaspro és M. Robello: Multi-Photon Excitation Microscopy to Study Biosystems,European Microscopy and Analysis, March, 1999). Very significant image quality improvement can be achieved through bilateral or multi-fotonoslézergeqesztés like that in this process the geqesztés strictly limited to the investigated desired area and thereby disturbing background intensity is virtually eliminated (the Diaspro and M. Robella. Multi-Photon Excitation Microscopy to Study Biosystems , European Microscopy and Analysis, March 1999). Ezért tehát az LSM - a hagyományosmikroszkópos eljárásokhoz képest - rendkívül jó minőségű és részletgazdag információt nyújtaz anyag szerkezetéről. Therefore, the LSM - compared to hagyományosmikroszkópos processes - very high quality and detailed information on the structure of nyújtaz material. Mindazonáltal ezekkel az eljárásokkal nem kaphatunk információt azanyag anizotrop felépítéséről és több más, csak polarizációs spektroszkópiai eljárásokkalnyerhető jellegzetes fizikai kölcsönhatásokról. However, these methods do not provide information azanyag anisotropy and many other, but the polarization spectroscopic method obtainable with typical physical interactions. A polarizált fény alkalmazásával olyan képeket lehet alkotni az anyagokról, amelyekinformációt nyújtanak a minta anizotrop szerkezetéről, azaz a molekulák átmenetidipólusainak térbeli elhelyezkedéséről, továbbá egymás közötti és mikrokömyezetükkeltörténő jellegzetes fizikai kölcsönhatásairól. The use of polarized light provides images of forming the substances that provide a pattern amelyekinformációt anisotropic structure, i.e., the spatial arrangement of the molecules átmenetidipólusainak and characteristic physical interactions with each other and mikrokömyezetükkeltörténő. Az anyagok anizotrop tulajdonságai általában azanyagok által kibocsátott, visszavert vagy áteresztett fény polarizációs tulajdonságait isanizotrop módon befolyásolják, ezért az anyagok által kibocsátott, visszavert vagy áteresztett • · · * · · -2- fény polarizációs tulajdonságainak vizsgálata következtetéseket tesz lehetővé az anyag optikaianizotrópiájára és így a molekuláris rendezettségére vonatkozóan. anisotropic properties of the materials in general polarization properties emitted, reflected or transmitted by azanyagok light influencing isanizotrop manner so emitted, reflected or transmitted by the materials • · · * · Examination -2- light polarization characteristics allows conclusions optikaianizotrópiájára the material and hence the in respect of molecular order. Polarizált fénnyel végzettabszorpciós mérések (LD: lineáris dikroizmus, CD: cirkuláris dikroizmus) leírása megtalál-ható TC Oakberg: Application note, Stokes Polarimetry, Hinds Instruments Inc., 1991közleményében. végzettabszorpciós measurements polarized light (LD: linear dichroism, CD: circular dichroism) are described by TC-Oakberg in Application note, Stokes Polarimetry, Hinds Instruments Inc., 1991közleményében. Hasonló eljárás alkalmazható a kettőstörés mérésére is. A similar procedure can be used to measure the birefringence. A fluoreszcenciaemisszió lineáris polarizáltsága fontos információt nyújt az emissziós dipólusok anizotrópiá-jára, ezért az erre jellemző anizotrópia mennyiség (r) az anyagszerkezetre fontos, más módonnem nyerhető információt szolgáltat. The linear polarization of fluorescence emission provides important information on the anisotropy of the emission dipoles, therefore the anisotropy for this characteristic quantity (r) provides important information not otherwise obtainable on the material structure. Az emisszió cirkulárisán poláros lumineszcencia (CPL)tartalma az anyag gerjesztett állapothoz tartozó királis szerkezetéről ad más módszerrel nemhelyettesíthető felvilágosítást. The emission of circularly polarized luminescence (CPL) content gives nemhelyettesíthető other method information corresponding excited states of the chiral structure of the material. További fontos információ a fluoreszcencia polarizáció foka(P), amely következtetéseket enged meg a dipólusok közötti energiaátadásra, a molekulakörnyezetének mikroviszkozitására, gerjesztési élettartamra és más fontos paraméterekre. Other important information about the degree of fluorescence polarization (P), which allows conclusion on energy transfer between dipoles, the molecular environment mikroviszkozitására, excitation life and other important parameters. P, rés CPL definíciójára, mérésükre és fizikai tartalmukra vonatkozón részletes leírást találhatunkJ.R. P, r and CPL The definition, measurement and physical content by a detailed description concerning találhatunkJ.R. Lakovicz Principles of Fluorescence Spectroscopy könyvében ill. Fluorescence Spectroscopy in his book Principles of Lakovicz respectively. IZ Steinberg Methodsin Enzymology-ban megjelent közleményében. IZ Steinberg Methodsin in Enzymology released a statement. A differenciál polarizációs képalkotás során, amint azt Kim és munkatársai aBiophysical Journal közleményében részletesen leírják, a mintáról ortogonálisán polarizáltfénnyel két képet készítenek, amelyek intenzitásra normált különbsége felvilágosítást nyújt azanyag anizotrop felépítéséről. During differential polarization imaging as described in detail by Kim et al, Journal aBiophysical Communication produce two orthogonally polarizáltfénnyel image of the sample, which provides information on the intensity normalized difference azanyag anisotropy. Az így nyert CD, LD és más, az ott is ismertetett Mueller-matrix formalizmussal leírható transzmissziós differenciálpolarizációs mennyiségek fontos,másként nem nyerhető információt hordoznak az anyag anizotrop szerkezetéről. The resulting CD, LD and other describable in there described Mueller matrix formalism transmission differential polarization quantities carry important information otherwise obtained anisotropic structure of the material.

Az LSM detektora elé polarizátor komponenst pl. LSM polarizer to the detector components such. polárszűrőt helyezve, a polárszűrőkülönböző, egymásra merőleges lineárisan poláros fénykomponens átbocsátását biztosítóállásaiban két képet készítve egymás után elvileg meghatározhatók a fluoreszencia (emittáltfény) polarizációs tulajdonságai. placing polar filter, the polarizing filter is different, mutually orthogonal linearly polarized light components pass therethrough and providing a resistance made of two images in principle can be determined sequentially in fluorescence (emittáltfény) polarization properties. Ez a módszer, amely pl. This method, which can emerge. Zeiss LSM 410 típusú készülékbengyári tartozék, mégsem kielégítő, mert - különösen biológiai eredetű mintákban - afluoreszencia erőssége időben változhat. Zeiss LSM 410 készülékbengyári accessories, not satisfactory, because - in particular in samples of biological origin - afluoreszencia strength change with time. További problémát jelenthet a megvilágító lézerintenzitásának esetleges ingadozása. A further problem may be the variation in the intensity of the laser illumination. Egyes esetekben a minta vagy a tárgyasztal kisebbelmozdulásai vagy rezgései jelentős torzításokhoz vezethetnek. In some cases kisebbelmozdulásai or vibrations of the sample or the stage may lead to significant distortions.

Az US 5,457,536 sz. The US No. 5,457,536. szabadalmi leírás olyan javaslatot tesz a Zeiss LSMtovábbfejlesztésére, amely alkalmassá teszi az általános felhasználású lézersugár-pásztázómikroszkópot a mintán átmenő fény képpontonkénti dikroizmusának és kettős törésének amérésére. patent makes a proposal on a Zeiss LSMtovábbfejlesztésére which makes the general purpose laser scanning microscope capable of-light transmitted through the sample pixel dichroism and birefringence of amérésére. A méréshez a tárgyra irányított lézersugár polarizációs állapotát modulálják, a • · -3- sugárforrás és a tárgy közé helyezett polarizációs állapot generátorral. The measurement modulate the polarization state of the laser beam directed to the object, the • · -3- radiation source and the object placed between the polarization state generator. A mérést a tárgyonáteresztett sugarakon végzik úgy, hogy a tárgyasztalnak a lézersugár forrással ellentétesoldalán polarizációs állapot analizátor van elhelyezve, amelynek kimenetéhez fotodetektor, afotodetektorhoz pedig demodulátor egység csatlakozik. The measurement was conducted in tárgyonáteresztett radii that tárgyasztalnak disposed ellentétesoldalán polarization state analyzer, the laser light source whose output of the photodetector, afotodetektorhoz demodulator is connected. A megoldás egyik hátránya, hogy alegtöbb LSM-ben a konfokalitás nem biztosítható az LD és a CD valamint a szinténtranszmissziós üzemmódhoz kötött kettőstörés mérések esetére. One drawback that on most LSM can not be provided in the LD and CD and birefringence measurements with the szinténtranszmissziós case of confocal mode. Továbbá, ezzel az eljárássalaz emisszió és a reflexió polarizációtartalma nem mérhető, így pl. Furthermore, this eljárássalaz polarizációtartalma emission and reflection can not be measured, e. nem határozható meg azemisszió lineáris ill. azemisszió can not be defined or linear. cirkuláris polarizációs anizotrópiája (r ill. CPL), és az emissziópolarizációfoka (P). circular polarization anisotropy (r respectively. CPL) and emissziópolarizációfoka (P). Ez különösen a biológiai anyagok esetén széles körben elterjedtkonfokális fluoreszcencia mikroszkópiában jelent hátrányt. This is particularly the case of biological agents widely elterjedtkonfokális fluorescence microscopy is a disadvantage. A legtöbb biológiai alkalmazássorán több kromofór emisszióját követve nyernek a különböző komponensek térbelielhelyezkedésére fontos adatokat; Most biological applications in several important chromophore win térbelielhelyezkedésére the various components following the emission data; ezek mindegyike más-más polarizációs információt ishordoz, melyek analízise a leírt eljárásokkal nem valósítható meg. they also carry each different polarization information which can not be analyzed with said conventional techniques. Egyes LSM-ekben - pl. In each LSM - eg. alézersugár fénykábeles csatolása miatt - technikailag nem vagy nagyon nehezen valósíthatómeg a lézersugár polarizációs állapotának modulálása is. alézersugár for attaching fiber optic - or technically very difficult valósíthatómeg state of polarization modulation of the laser beam as well. Az is hátrányos ennél amegoldásnál, hogy nem ad megoldást a fény polarizáció tartalmának teljes jellemzésére, ésezzel a fény-anyag kölcsönhatás egyes fontos, a Muller mátrix elemeihez rendelt, paramétereiLSM-ben nem meghatározhatóak. The disadvantage is more amegoldásnál that does not do full characterization, ésezzel content of light polarization of light-matter interaction can not be determined by the importance attributed to each of the Muller matrix elements, in paramétereiLSM. A bejelentők korábbi, WO/2002/040953 szabadalmi leírása olyan eljárást ésberendezést ismertet, amely a lézersugár-pásztázó mikroszkópok (LSM) és a polarimetriaelőnyeit úgy egyesíti, hogy a lehetőségekhez képest több mérési eredményt lehessen kapniegyetlen mérőberendezéssel ill. earlier WO / 2002/040953 patent description Applicants discloses a method ésberendezést which the laser-scanning microscope (LSM) and polarimetriaelőnyeit integrates to several measurement results will be obtained a single apparatus or as much as possible. esetleg annak különböző konfigurációiban, különös tekintettela fluoreszcencia emisszió segítségével konfokális üzemmódban - egyidejűleg egy vagy többhullámhosszon - mérhető differenciál polarizációs sajátosságaira, valamint általában azátbocsátóit, reflektált vagy emittált fény polarizáció tartalmának minél teljesebb analízisére.Ennél az eljárásnál és berendezésnél a megvilágító és/vagy a mérendő fénysugár útjában egy-egy polarizációs állapotot változató, vagy moduláló egység van elhelyezve, amelyeketegyenként vagy együttesen vezérleve lehet az egyes DP paramétereket a pásztázott sugárminden egyes pontjára meghatározni. maybe its different configurations of using special tekintettela fluorescence emission confocal mode - simultaneously one or more wavelengths - can be measured by differential polarization characteristics, and usually azátbocsátóit, reflected or content of emitted light polarization is the more complete analízisére.Ennél the method and apparatus of the illumination and / or the measuring beam a polarization state is disposed version or path modulation unit which are individually or jointly controlled release may be determined for each individual point DP parameters of each scanned radiation. Ennél a megoldásnál azonban hátrányként jelentkezik,hogy a méréshez szükséges egységek elhelyezéséhez az LSM fő egységeit meg kell bontani. However, this solution is a disadvantage that the placement of units for measuring main units of the LSM to be broken down. A kereskedelemben kapható LSM-ek többsége (mint pl. a Zeiss 410 vagy 510 típusúkészüléke) hagyományos mikroszkópból, lézeroptikai egységből, lézerforrásból és az LSMvezérlőből áll. LSM-s the majority of commercially available (eg. 410 or in the Zeiss type 510 device) is a conventional microscope, a laser optical unit, a laser source and LSMvezérlőből. Ilyen LSM kialakítások megismerhetők a DE 107 02 753, az US 6,167,173 -4- valamint az US 6,947,127 sz. Such designs LSM learned from DE 107 02 753, US 6,167,173 and US 6,947,127 -4- c. szabadalmi leírásokból. patents. A hagyományos mikroszkóp önmagban is használható nem lézerfényforrást használva,ez tartalmazza a tárgyasztalt, objektív lencsét és az okulárt. Conventional microscopy can not himself be used by using a laser light source, it includes a stage, an objective lens and eyepiece. A lézeroptikai rész rendszerintkülönálló, fizikailag is elhatárolt egység, mely tartalmazza a lézerfény becsatolására alkalmasoptikát, a sugártágítót (beam expander), a fő dikroikus tükröt a megvilágító lézer és afluoreszcens emisszió szétválasztására, további optikai elemeket: tükröket, sugárosztókat,szűrőket és a pin-hole-t a fókuszsíkon kívülről jövő fény kiszűrésére, valamint a detektorokat.A lézerfény pásztázását megvalósító egység (LPE) a hagyományos mikroszkóp egység és alézeroptikai egység között található, általában vagy az egyikkel, vagy a másikkal egybeépítve.Az egységek elrendezését az 1. ábra mutatja. The laser optical part system according separate, physically distinct unit, which includes the laser light for coupling suitable optics, sugártágítót (beam expander), the main dichroic mirror in the illuminating laser and afluoreszcens emission separating additional optical elements: mirrors sugárosztókat, filters, and the pin-hole -t shown in Figure 1 light from outside the focal plane filter, and the arrangement of units constituting the detektorokat.A laser light scanning (LPE) located between the conventional microscope unit alézeroptikai unit and, in general, or against one or the other egybeépítve.Az units. A WO/2002/040953 szerinti DP-LSM esetén az 1. ábra szerinti LSM úgy van átalakítva, hogy a modulátor vagy A helyen (CD, LD, FDLD,FDCD, LB, CB mérés), vagy B helyen (P, r mérés) van, az analizátor pedig C helyen (P, Rmérés), vagy D helyen (LB, CB mérés) van. in case of WO / 2002/040953 the LSM DP-LSM according to Figure 1 is adapted to the modulator or the place (CD, LD, FDLD, FDCD, LB, CB measurement), or in Position B (P, r measurement ) is and the analyzer has at C (P, Rmérés) or location D (LB, CB measurement). Ebből világosan látható, hogy a korábbimegoldásnál a hagyományos LSM berendezést több helyen, mint például a mikroszkóp és alézeroptikai egységben meg kell bontani. It is clear that the conventional LSM korábbimegoldásnál the apparatus to be broken down in several places, such as a microscope and alézeroptikai unit. Ez magával vonja az egész berendezésújratervezésének szükségességét, ami a megoldást bonyolulttá és költségessé teszi. This implies the need for re-design of the entire plant, which makes the solution more complex and costly. A találmány szerinti eljárás és berendezés célja a WO/2002/040953 szerinti DP-LSMolyan új megvalósítása, amely lehetővé teszi a DP egység illesztését az LSM-hez, anélkül,hogy az LSM lézeroptikai vagy hagyományos mikroszkóp részét meg kelljen bontani. of WO / 2002/040953 DP LSMolyan new embodiment of the method and apparatus of the invention aims to allow splicing of the LSM unit DP offer without being part of the LSM laser or conventional optical microscope having a broken. A cél eléréséhez olyan LSM berendezésből indulunk ki, amelynek - koherens és monokromatikus megvilágítást biztosító, a minta letapogatásárahasználható lézersugár fényforrása, - a kiválasztott optikai nagyítást és leképezést biztosító, mintatartót tartalmazómikroszkóp egysége és - a megvilágító sugárútban (a fényforrás és a mintatartó között) polarizációs állapotállító helyezhető el, ahol - a megfigyelő sugárútban detektorok vannak, a detektorok előtt pedig analizátorhelyezhető el, továbbá - a detektorok villamos jeleit fogadó feldolgozó egysége van. To achieve this goal starts from an LSM apparatus having - providing a coherent and monochromatic light, the sample letapogatásárahasználható laser beam light source, - providing optical magnification and imaging is selected, sample holder tartalmazómikroszkóp unit and - the illuminating beam path polarization state adjuster (between the light source and the sample holder) placed where - the observation beam path are detectors, and analizátorhelyezhető out, and before the detector - electrical signals from the detectors is host processing unit.

Az anyagok differenciál polarizációs mennyiségeinek meghatározására is alkalmastalálmány szerinti differenciálpolarizációs lézersugárpásztázó mikroszkóp (DP-LSM) úgy vankialakítva, hogy - az ortogonális polarizációs komponenseket időben szétválasztó elem a megvilágító -5- «««* ·· · · · ·• · » · « és a megfigyelő sugarakat tartalmazó közös sugárútban van elhelyezve. determining that a material differential polarization quantities of too differential polarization laser scanning microscope according to a suitable formula (DP-LSM) is vankialakítva in that - the orthogonal polarization component separation time element of the illuminating -5- «« «* ·· · · • ·» · «and It is arranged in the common beam path comprising the observer rays.

Egy előnyös megvalósításnál az ortogonális polarizációs komponenseket időbenszétválasztó elem a mikroszkóp egység és a lézersugarat eltérítő egység között vanelhelyezve. In a preferred embodiment, the orthogonal polarization components in time vanelhelyezve separation element between the microscope unit and the laser beam deflecting unit.

Az ilyen kialakítás lehetővé teszi az olyan DP-LSM berendezés kialakítását, amelynéla hagyományos LSM berendezés fő egységeit nem kell megbontani, az átalakítás során az újelemek a hagyományos LSM berendezés fő egységei közötti térben helyezhetők el. Such a configuration makes it possible to form the DP-LSM apparatus amelynéla main LSM units of conventional apparatus will not be broken, during the conversion of the new elements could be located in the space between the main units of the conventional LSM apparatus. Ebbőladódóan a találmány szerinti DP-LSM egy olyan kiegészítő megoldást ad a meglévőhagyományos LSM berendezésekhez, amely egyszerűen és gyorsan előállítható, kiegészítőegységként vagy adapterként bármelyik meglévő LSM berendezéssel összeépíthető. Ebbőladódóan DP-LSM according to the invention gives a complementary to existing LSM unconventional apparatus, which is simple and quick to manufacture, can be assembled on any existing equipment additional LSM unit or adapter. Ameglévő hagyományos LSM berendezés semmilyen megbontása, illetve átalakítása nemszükséges. Ameglévő conventional LSM apparatus of any breakdown or conversion is not necessary. A találmányt a továbbiakban a mellékelt rajzon példaképpen bemutatott kiviteli alakokalapján ismertetjük részletesebben, ahol az 1. ábra egy hagyományos LSM berendezés blokkvázlata a korábbi DP-LSM kiegészítőegységekkel, a 2. ábra a találmány szerinti DP-LSM berendezés szerkezeti blokkvázlata , a 3. ábra a 2. ábra szerinti berendezésben alkalmazott modulátor egység első lehetségesváltozata, a 4. ábra a 2. ábra szerinti berendezésben alkalmazott modulátor egység másodiklehetséges változata, a 5. ábra a 2. ábra szerinti berendezésben alkalmazott modulátor egység harmadiklehetséges változata, és a 6. ábra a 2. ábra szerinti berendezésben alkalmazott modulátor egység negyediklehetséges változata. The invention will now be described embodiments based presented by way of example in the accompanying drawings, wherein: Figure 1 is a conventional LSM block diagram of the previous DP-LSM supplementary units Figure 2 is a DP-LSM apparatus according to the invention structural block diagram of Figure 3 the modulator means used in the apparatus according to Figure 2. the first potentiality version, Figure 4 is a second potentiality version modulator means used in the apparatus of Figure 2, Figure 5 is a third potentiality version modulator means used in the apparatus of Figure 2, and Figure 6 is the 2 potentiality fourth version modulator means used in the apparatus of FIG..

Az 1. ábrán egy hagyományos lézersugárpásztázó mikroszkóp (LSM) blokkvázlatalátható a főbb szerkezeti egységekkel. 1 shows a conventional laser scanning microscope (LSM) blokkvázlatalátható the main structural units. Egy LSM, mint például a DE 107 02 753 szerinti LSMME mikroszkóp egységet, a mikroszkóphoz csatlakozó LOE lézeroptikai egységet, valamint alézeroptikai egységhez csatlakozó LE lézer egységet és VE vezérlőegységet tartalmaz. A LSM than contains for example by DE 107 02 753 LSMME microscope unit connected to the laser optical unit LOE microscope, and the connector unit alézeroptikai laser unit LE and VE controller. Az LElézer egység L lézerforrást tartalmaz, amelynek lézersugara a lézer egységhez csatlakozó LOElézeroptikai egységben elhelyezett DBS fő dikroikus tükörre esik, amely szétválasztja amegvilágító sugarat és a fluoreszcens emissziót tartalmazó megfigyelő sugarat. The unit containing L LElézer laser source whose laser beam is in the connecting DBS laser unit LOElézeroptikai main unit a dichroic mirror which separates amegvilágító beam and the observation beam containing fluorescence emission. A lézeroptikai -6- ··«· ·· ·* · * • · · · · • ♦···♦· »·· « » · · · · • »« · ·♦ egység tartalmaz még egy P pin-hole-t a fókuszsíkon kívülről jövő fény kiszűrésére, éslegalább egy D2 detektort. The laser optical -6- ·· "* · ·· · · · · · · * • • ♦ ♦ ··· ·» ·· «» · · • »« · ♦ unit further comprises a pin-hole P -t from outside the focal plane of light filtering, éslegalább a detector D2. A lézeroptikai egységhez csatlakozó (vagy azzal egybeépített) LPElézersugár-pásztázó egység gondoskodik az L lézersugárforrás DBS dikroikus sugárosztóvalelterelt lézersugarának pásztázásáról. coupling the laser optical unit (or an integral) LPElézersugár-scanning unit provides the laser beam L DBS source dichroic sugárosztóvalelterelt pásztázásáról laser light. A pásztázás két egymásra lényegében merőleges irányúeltérítést jelent, ahol az egyik irány egy képsoron belül a képpontokon való végighaladást(adott esetben léptetést) az első irányra merőleges második irány pedig a képen valóvégighaladást (adott esetben léptetést) azaz a képsorok váltását jelenti. Scanning means in two substantially perpendicular irányúeltérítést, wherein the one direction within an image line going through the image points (optionally promotion) perpendicular to the first direction, the second direction and means for browsing through (optionally promotion), i.e. the picture lines shift in the image. A kép alatt jelenesetben a tárgyasztalon lévő minta képét értjük. It refers to sample image of a stage in this case under the picture. A rajzon az LPE lézer pásztázó egység azLOE lézeroptikai egységen kívül van ábrázolva, de létezik olyan kialakítás is, ahol az LPElézer pásztázó egység az LOE lézeroptikai egység szerves részét képezi. In the drawing, the laser scanning unit LPE is shown outside AZLON laser optical unit, but there is also a construction in which the LPElézer scanning unit is an integral part of the laser optical unit LOE. Más elrendezésbenis, pl. Other elrendezésbenis, for example. a tárgyasztal mozgatásával (scanning stage), lehetséges a minta letapogatása alézerfénnyel. moving the stage (stage scanning), scanning of the pattern alézerfénnyel possible. A detektrok előtt általában szűrőtartók vannak kialakítva, amelyekbenszínszűrők vagy polárszűrők helyezhetők el. Before detektrok they are generally designed filter holder, in which color filters or polarizer placed. A megvilágító lézersugár az LPE lézer pásztázó egységből az ME mikroszkópegységbejut, ahol egy M tükör, O objektív, S mintatartó és Dl detektor van elhelyezve. The illuminating beam laser scanning unit LPE ME mikroszkópegységbejut, wherein M is a mirror, objective O, S DI and sample the detector is placed. Amikroszkóphoz tartozik általában még egy okulár, amin keresztül a minta megtekinthető. Amikroszkóphoz is generally any one eyepiece through which the sample can be viewed. AzME mikroszkóp egység önmagában, a többi egység nélkül hagyományos mikroszkópként ishasználható. AzME microscope unit itself can be used as a conventional microscope without the other units. A WO/2002/040953 szerinti DP-LSM esetén az 1. ábra szerinti LSM úgy vanátalakítva, hogy a modulátor (mint például a PEM - fotoelasztikus modulátor) A helyen (CD,LD, FDLD, FDCD, LB, CB mérés), vagy B helyen (P, r és CPL mérés), az analizátor pedig Chelyen (P, R mérés) vagy D helyen (LB, CB mérés) van elhelyezve. The case according to WO / 2002/040953 the LSM DP-LSM according to Figure 1 vanátalakítva so that said modulator (such as a PCA - photoelastic modulator) the location (CD, LD, FDLD, FDCD, LB, CB measurement), or is positioned at a position B (P, r and CPL measurement), the analyzer Chely (P, R measurement) or location D (LB, CB measurement). Amint az a rajzon jóllátható, a korábbi DP-LSM megoldásnál a modulátor és az analizátor egyike a megvilágítósugárútban, a másik pedig a megfigyelő sugárútban van elhelyezve. As jóllátható in the drawing, the DP-LSM previous embodiments, the modulator and the analyzer is one of the illumination beam path and the other is arranged in the observation beam path. A helyes működéselengedhetetlen feltétele továbbá, hogy a modulátor és az analizátor vezérlése egymássalszinkronban és fázishelyesen történjen. Correct operation also indispensable condition that the modulator and the analyzer control between egymássalszinkronban phase and correctly. A 2. ábrán látható a találmány szerinti DP-LSM elrendezés, ahol az LE lézer egység ésaz LOE lézeroptikai egység között PAA polarizációs állapot állító, az ME mikroszkóp egységés az LPE lézerpásztázó egység között pedig differenciálpolarizációs DP egység vanelhelyezve. between DP-LSM arrangement according to the invention shown in Figure 2, wherein the laser unit LE andthe laser optical unit LOE PAA polarization state adjuster, the microscope unit ME combustion between the laser-scanning unit LPE is vanelhelyezve differential polarization unit DP. Amint a rajzon jól látható, a differenciálpolarizációs DP egység a megvilágító ésmegfigyelő sugarat egyaránt tartalmazó közös fényútban van elhelyezve. As shown in the drawing contains both the illumination beam to the differential polarization ésmegfigyelő DP system is disposed on the common optical path. A DP egység olyanmodulátort tartalmaz, amely a modulációt az egymásra merőleges polarizációs komponensekfázisának modulációjával éri el (mint például a 3. ábra szerinti PEM). DP unit comprises olyanmodulátort which achieves the modulation of the orthogonal polarization components of phase modulation in (such as PCA in Figure 3). A méréshez szükséges • · * « « ··«·«« ♦ · · • » ♦ · · ···*··< -7- analizátor (például polárszűrő) a Dl vagy D2 detektor elé kerülhet a szűrőtartókba). needed for the measurement • · * «« ·· «·« «♦ • · ·» · · · · · * ·· ♦ <-7 analyzer (polarizing filter, for example) can be in front of the detector Dl or D2 of the filter holders). Mivel aszűrőtartó az LSM-ből kivehető, annak cseréje nem jár a készülék megbontásával ésátalakításával. Since aszűrőtartó removed from the LSM, the replacement of the device does not involve breaking ésátalakításával. Ezzel az elrendezéssel - az alábbiakban részletezett módon, megfelelőenkonfigurálva a polarizációs optikai elemeket - mérhető az anizotrópia (r), a luminesszenciacirkuláris polarizációja (CPL), a fluoreszcencia detektált lineáris és cirkuláris dikroizmus(FDLD, FDCD), a lineáris és cirkuláris dikroizmus (LD, CD) és a kettőstörések (LB ÉS CB).A polarizációfok (P) konvencionális mérésére (a gerjesztő fény polarizációjának állandóságamellett, alternáló analizátorral vizsgálva a gerjesztési polarizációval párhuzamos és merőlegeskomponensek intenzitását) egy módosított DP optikai egységet írunk le. With this arrangement - detail below, megfelelőenkonfigurálva the polarizing optical elements - measured anisotropy (r), the luminesszenciacirkuláris polarization (CPL), the fluorescence detected linear and circular dichroism (FDLD, FDCD), linear and circular dichroism (LD, (As excitation light polarization constant frequency on alternating excitation analyzer the polarization components parallel and perpendicular intensities) described a modified DP conventional optical measuring unit CD) and birefringence (LB and CB) .This polarization (P). A rajzon a DP egységaz ME mikroszkóp egység és az EPE lézerpásztázó egység között van elhelyezve, determészetesen azonos hatás érhető el akkor is, ha a DP egység és az LPE lézerpásztázó egységegymással fel van cserélve, például amikor az LPE lézerpásztázó egység az ME mikroszkópegységbe van beépítve. is disposed between the DP egységaz ME microscope unit and EPE laser scanning unit in this drawing, determészetesen same effect can be achieved even if the DP unit and LPE are replaced by laser scanning unit to each other, for example when the LPE laser scanning unit is installed in the ME microscope unit. A jelfeldolgozás, a detektor jelének demodulációja és a polarizációs mennyiségekszámolása a W0/2002/040953-ban leírtak szerint történik. The signal processing and demodulation of the detector signal are counted according to the polarization quantities W0 2002 040953 / in / as happens. A detektor jelét a DP vezérlőegységébe, a jelfeldolgozó egységbe vezetjük, a valós időben számított DP mennyiség a DPelektronikus jelfeldolgozó egység (DPEF) kimenetén jelennek meg vagy/és egy külső (nem azLSM-hez tartozó) monitoron jelenítjük meg. The signal from the detector is fed to the control unit of the DP, the signal processing unit quantity DP calculated in real time are displayed in the output of the signal processing unit DPelektronikus (DPEF) or / and displayed on an external monitor (not part azLSM offer). A DP elektronikus jelfeldolgozó egységkimenetét visszavezetve az LSM-be a DP képek az LSM rendszerébe is bekerülhetnek, ottmegjeleníthetőek, feldolgozhatok. DP fed back to the electronic signal processing unit output of the DP-LSM images can also get into the LSM system, ottmegjeleníthetőek, can be processed. A visszacsatolás kétféleképpen történhet: The feedback is done in two ways:

Analóg: detektornak megfelelő jel előállítása, mintha egy detektor lenne, az LSMközponti egysége nem érzékel semmit, nem kell megbontani. Analog: preparation of a suitable detector signal, as if it were a detector, the LSMközponti unit does not detect anything, will not be broken.

Digitális: az LSM központi egységébe a detektor jelének digitalizálása után csatoljukbe. Digital central unit of the LSM after digitizing the detector signal csatoljukbe. A módszer nagy előnye, hogy a mérési pontosság csökkentése nélkül, azW0/2002/040953-ban szereplő eljárástól részben eltérő módon, gazdaságosabban,egyszerűbben illeszthető az LSM-ekhez a DP kiegészítés. great advantage of this method is that without compromising on accuracy, somewhat different from the procedure contained in azW0 040953/2002 / manner, more economical, easier to fit the LSM additions to the DP. A módszer szerint a modulátort a hagyományos mikroszkóp és a lézeroptikai egységközé helyezzük, pontosabban a fő dikroikus sugárosztó és a minta közé az ún. In this method, the conventional modulator of microscope and the laser optical unit are positioned, more specifically between the main dichroic beam splitter and the sample is called. közös fényútba,ahol a megvilágító lézerfény és a mintáról érkező visszavert vagy emittált fény egyszerre vanjelen, ellentétes terjedési iránnyal. Common light path where the illuminating laser light and reflected from the sample or emitted light at a time vanjelen, propagation in the opposite direction. A fő dikroikus sugárosztó szerepe, hogy a megvilágítólézerfényt leválassza a fluoreszcencia fénytől, hogy a lézeroptikai egység detektoraiba csak amintáról emittált fény jusson. The main role of dichroic beam splitter to separate the illuminating laser light from the fluorescent light, emitted light to reach only as of the laser optical unit detectors. Reflektált fény esetén dikroikus sugárosztó helyett 4· ΐ*· ··· • » * · * -8- féligáteresztő tükör használandó. In case of reflected light instead of dichroic beam splitter 4 · · · · · • ΐ * »* · * 8- to use semi-transparent mirror. Ezt a közös fényutat kihasználva, az ide helyezett modulátorképes akár a megvilágító, akár a visszavert/emittált fény polarizációját modulálni, a méréstípusától függően. Utilizing this common light path, the modulator is able to put up to modulate the illumination or the reflection / polarization of the emitted light, depending on the type of measurement. Természetesen a moduláció befolyásolja a másik, modulálni nem kívántfény polarizációját is, de ez nem okoz problémát, amit részletesen kifejtünk az alábbiakban. Of course, the modulation affects the other, to modulate the polarization of light is not required, but it is not a problem, as explained in detail below.

Anizotrópia mérése és a luminesszencia cirkuláris polarizációja (r, CPL) A fluoreszcencia (vagy a reflektált fény) lineáris ill. Anisotropy measurements and luminesszencia circular polarization (r, CPL) of the fluorescence (or reflected light) or linear. cirkuláris anizotrópiájának, r ill.CPL, mérésekor, depolarizált lézerfénnyel geq észtjük a mintát (PAA -segítségével); circular anisotropy, r ill.CPL, measuring, depolarized laser light GEQ consumed by sample (PAA -segítségével); a mintaanizotrópiájának megfelelő mértékben polarizált fluoreszcencia emisszió polároskomponenseinek intenzitás-különbsége és az átlagos intenzitás arányából határozható meg azaz anizotrópia nagysága. mintaanizotrópiájának the corresponding extent of polarized fluorescence emission may be determined polároskomponenseinek intensity difference and intensity ratio of the average size that is anisotropy. Ekkor tehát a PAA depolarizálja a megvilágító lézerfényt, ezáthaladva a DP optikai egységen depolarizálatlan marad (a depolarizált fényben minden fázismegtalálható a két egymásra merőleges polarizációs komponens között, így ezek egymáshozképesti késleltetése nem változtatja meg a depolarizált állapotot). If so PAA depolarizes the illuminating laser light ezáthaladva DP remains depolarizálatlan optical unit (the depolarized light in each phase can be found between the two orthogonal polarization components, so that these relative to one another does not change the delay of the depolarized state). Az emittált/visszavert fényt(ami a megvilágítással ellentétes irányban teljed) a mérési hullámhosszon moduláljuk. The emitted / reflected light (which is opposite to the illumination direction completeness) modulating the measurement wavelength. Adetektor előtti analizátorral (ami egy lineárisan polarizáló passzív optikai elem) (C pozíció) afázis-moduláció intenzitás-modulációvá konvertálódik, és ezzel mérhető a két kitüntetett,ortogonális polariziójú fluoreszcencia (vagy reflektált) fény intenzitása. Pre Adetektor analyzer (which is a linear passive polarizing optical element) (C position) A phase modulation is converted into intensity-modulációvá and thus measured intensity of the two privileged orthogonal polariziójú fluorescence (or reflected) light. Az r anizotrópiamérésre pl. R anizotrópiamérésre example. PEM-et használva, mint modulátor: a moduláció amplitúdója λ/2, a demodulációkétszeres frekvencián történik, vagy ha az λ/4 és a DP optikai egység egy λ/4-es passzívfázistolót is tartalmaz (amivel a modulált fázistolás maximuma szintén λ/2), a demoduláció aPEM egyszeres frekvenciáján történik; Using PCA was as modulators: amplitude modulation λ / 2, the demodulációkétszeres frequency occurs, or if the λ / 4 and the optical unit DP comprises a λ / 4 passzívfázistolót also (by which the modulated phase shift maxima also λ / 2 ), the demodulation EMPA single frequency; λ a vizsgált visszavert/emittált fény hullámhossza. λ the wavelength of the test reflected / emitted light. CPL mérésekhez a PEM amplitúdója λ/4 és az analizátor egy lineárisan polarizáló passzívoptikai elem, a demoduláció a PEM egyszeres frekvenciáján történik. CPL measurements PEM amplitude of λ / 4 and a linearly polarizing analyzer is made passive optical element of the PEM demodulation of a single frequency.

Lineáris és cirkuláris dikroizmus (LD, CD) A berendezés ugyanúgy alkalmas marad dikroizmus mérésre, hiszen a modulátor aPAA-val megfelelő polarizációs állapotba állított lézerforrás és a minta között van, sa mintánáthaladt fényt detektáljuk (nem halad át még egyszer a modulátoron). Linear and circular dichroism (LD, CD) of the device remains the same for dichroism measurements, since the modulator between the laser light source and the sample drawn aPAA with corresponding polarization mode and the detected mintánáthaladt light (does not pass through again to the modulator). LD és CD mérésekor tehát a modulátor segítségével a lézernyaláb polarizációsállapotát periodikusan változtatjuk. So with the help of a laser beam modulator polarizációsállapotát are periodically changed LD and CD measurement. A minta differenciális abszorpciója miatt, ill. The sample due to differential absorption, respectively. általánosan,a fény differenciális extinkciója miatt, a kétféle, általában ortogonális polarizációs állapotú deazonos intenzitású fény intenzitása a mintán való áthaladás után megváltozik, amit a Dldetektor segítségével mérünk. generally, because of the differential extinction of light, the intensity of the two, usually orthogonal polarization state of light is changed deazonos intensity after passing through the sample, which is measured using the Dldetektor. A két nyaláb különbségéből, ismerve a beeső fény intenzitását 4 • * » • · ♦ -9- vagy a kétféle polarizációs állapothoz tartozó intenzitások átlagát, az LD és a CD nagyságakiszámítható. The difference of the two beams, knowing the intensity of incident light 4 • * »• · ♦ -9 or average intensities of the two polarization state, LD and CD nagyságakiszámítható. A lézer polarizációjának alapállapotát PAA-val állíthatjuk be. The ground state of polarization of the laser may be adjusted with PAA. A megvilágítólézerfény polarizációjának modulációját (időben periodikusan egymást követik az ortogonálispolarizációs állapotok) a DP optikai egység fázismodulátora (pl. PEM) végzi. The illuminating laser light polarization modulation (time follow one another periodically ortogonálispolarizációs conditions) of the optical unit DP fázismodulátora (e. PCA) carried out. A mintánáthaladt fényen történik a mérés, így a mérőfény nem halad át még egyszer a modulátoron,analizátor nem szükséges. The mintánáthaladt made in light of the measurement, so that the measuring light from passing through the modulator again, the analyzer is not required. LD méréshez (1), amihez a PAA lineáris polarizációt állít elő, aPEM amplitúdója λ/2, a demoduláció kétszeres frekvencián történik vagy (2) a PAA cirkulárispolarizációt állít elő, a PEM amplitúdója λ/4, a demoduláció a PEM frekvenciáján történik (3)a PAA lineáris polarizációt állít elő, a DP egység tartalmaz egy λ/4-es fázistolót, a PEMamplitúdója λ/4, a demoduláció a PEM frekvenciáján történik. LD measurements (1) to which the PAA produces a linear polarization occurs EMPA amplitude of λ / 2, the demodulation double frequency or (2) the PAA produces cirkulárispolarizációt, the PEM amplitude is made the PCA frequency of λ / 4, the demodulation process (3 ) PAA generates linear polarization, the DP unit comprises a λ / 4-phase, the PEMamplitúdója λ / 4, the PEM demodulation frequency. CD méréshez a PAA lineáris polarizációt állít elő, a PEM amplitúdója λ/4, ademoduláció a PEM frekvenciáján történik CD measurement of the PAA produces a linear polarization, the PEM amplitude of λ / 4, the PEM is made ademoduláció frequency

Fluoreszcencia detektált lineáris és cirkuláris dikroizmus (FDLD, FDCD) Fluorescence detected linear and circular dichroism (FDLD, FDCD)

Az FDLD és FDCD mérésekor, ami fluoreszkáló kromofórok esetén valósítható megazon esetekben amikor az abszorbeált fény intenzitásával arányos a fluoreszcencia intenzitása,a kétféle polarizációs állapothoz tartozó fluoreszcencia intenzitás-különbsége arányos az LDill. The FDLD and FDCD measurement, which can be achieved in case where the fluorescent chromophore of light absorbed is proportional to the intensity of the fluorescence intensity, fluorescence intensity difference of the two polarization states is proportional to get wet LDill cases. a CD nagyságával. the size of the CD. Ezeknek a mennyiségeknek a mérése tehát alapvetően ugyanúgytörténik, mint az LD és CD mérése, azzal a különbséggel, hogy azemittált fény intenzitásátmérjük a D2 detektorral. Measuring these quantities are basically the ugyanúgytörténik as measurement of LD and CD, except that the emitted light is intenzitásátmérjük detector D2. A visszavert/emittált fény áthalad még egyszer a megvilágításirányával ellentétesen a fázismodulátoron, ez azonban a fény intenzitását nem változtatja meg(csak a polarizációs állapotát, nincs analizátor). The reflected / emitted light passes again contrary to the megvilágításirányával fázismodulátoron, but this does not change the intensity of the light (the polarization state only, not Analyzer). Mivel FDLD és FDCD mérésekben azemittáltfény polarizációját nem méljük, ezért ez a mérést nem befolyásolja. Since FDLD and FDCD measurements azemittáltfény polarization not deepens, and therefore it does not affect the measurement. (A megvilágításpolarizációját moduláljuk és azemittált fény intenzitását demoduláljuk, ezt az intenzitást nemváltoztatja a modulátoron történő áthaladás.) A mérések megvalósíthatók a Dl detektor segítségével is. (The megvilágításpolarizációját demodulating modulated and intensity of the emitted light is, this intensity nemváltoztatja passage through the modulator.) The measurements achieved using the Dl detector. Ekkor a fluoreszcencia fénylézerfénytől való leválasztására színszűrőt alkalmazunk a D pozícióban. If a color filter is used in the D position separating the fluorescence light from laser light.

Lineáris és cirkuláris kettőstörés (LB, CB) A berendezés ugyanúgy alkalmas marad kettőstörés mérésre, hiszen a modulátor aPAA-val megfelelő polarizációs állapotba állított lézerforrás és a minta között van, a mintánáthaladt fényt detektáljuk a Dl detektorral, használva a D pozícióban elhelyezett analizátort. Linear and circular birefringence (LB, CB) of the devices are kept for the same birefringence measurement, since the modulator between the laser light source and the sample drawn aPAA with appropriate polarization state detecting mintánáthaladt light Dl detector using an analyzer located at position D. ·· 4 • ·<· « « · 4 ·· • · <· «« ·

- 10- ,<.s . - 10- <s.. η « (A fény nem halad át még egyszer a modulátoron.) A mérés menete megegyezik a korábbiszabadalomban és közleményben (Garab és mtsai Eur Biophys J, 2005) leírt módszerrel. η '(the light does not pass through one more time on the modulator.) The measurement process is the same method described in the earlier patent and the communication (Garab Eur Biophys J, et al, 2005).

Polarizációfok (P) AP mérése a 2. Ábra szerinti elrendezésben, a Dl detektor segítségével úgyvalósítható meg, hogy a PAAval lineáris polarizációt állítunk be, a modulátor amplitúdóját az FDLD esetére leírt módokon állíthatjuk, a megfigyelő útba a D pozícióba pedig analizátort (pl. lineáris polárszűrőt) és egy a fluoreszcencia és gerjesztő fény leválasztására alkalmas színszűrőt használunk. Polarization (P) AP measuring arrangement of Figure 2, úgyvalósítható using Dl detector to produce a linear polarization in the PAA, the modulator amplitude can be methods described below for FDLD, the observation path and an analyzer (eg. Linear position D polarizing filter) and are used in a suitable excitation light and the fluorescence color separating filter.

Amikor a polarizációfok mérését a D2 detektorral végezzük (általában ez engedi mega konfokális detektálást), a DP optikai egység konfigurációját a 4. ábra mutatja. When the polarization is measured by the detector D2 (typically permits as confocal detection), the configuration of the optical unit DP shown in Figure 4. A DP optikaiegységen áthaladó megvilágító fény polarizációjának megtartása mellett akaijuk ugyanismodulálni az ugyancsak ott áthaladó visszavert-emittált fényt. Akai modulate the fact there is also reflected through-emitted light while maintaining the optical unit DP through the illuminating light polarization. A megvilágító fénypolarizációja nem kívánt módon változna a modulátoron áthaladva, ezért ezzel ki kell kerülnia modulátort, amihez két dikroikus sugárosztót és két tükröt használunk. The illumination passing through the modulator fénypolarizációja change in an undesirable manner, so this should avoid modulator, which uses two dichroic beam splitter and two mirrors. 4. ábra: A DP optikai egységének egy lehetséges megvalósulása, mely alkalmas apolarizációfok mérésére is. 4 shows the optical unit DP of a possible implementation, the measurement of which is suitable apolarizációfok. A dikroikus sugárosztók visszaverik a megvilágító lézerfényt,hogy az kikerülje a modulátort, míg az emittált (magasabb hullámhosszú) fényt átengedi aPEM-en keresztül. The dichroic beam splitters reflect the illuminating laser light to bypass the modulator and the emitted (higher wavelength) beam passes through EMPA-en. Például PEM-et használva, mint modulátor (1) az amplitúdója λ/2, a demodulációkétszeres frekvencián történik vagy (2) az amplitúdója λ/4 és egy λ/4-es passzív fázistolót istartalmaz a DP optikai egység a dikroikus sugárosztók között, a demoduláció ekkor a PEMfrekvenciáján történik; For example, using the PCA was as modulator (1) the amplitude of λ / 2, take place, or (2) the amplitude of λ / 4 and λ / 4, the passive layer also comprises the optical unit DP between the dichroic beam splitters for demodulációkétszeres frequencies in demodulation is performed using the PEMfrekvenciáján; λ a vizsgált emittált fény hullámhossza. λ the wavelength of the emitted light test.

Ez az elrendezés alkalmas a P polarizációfok konvencionális mérésére: a gerjesztőfény polarizációjának állandósága mellett, alternáló analizátorral vizsgáljuk a gerjesztésipolarizációval párhuzamos és merőleges komponensek intenzitását. This arrangement is suitable for conventional measurement of the polarization P: polarization of excitation light by the permanence of the intensity of the alternating test analyzer gerjesztésipolarizációval parallel and perpendicular components. A reflektált fény polarizáció-tartalmának analízise A fluoreszcencia emisszióra leírt r és CPL, valamint FDLD és FDCD mérésekalkalmazhatók a reflektált fény polarizáció-tartalmának meghatározására is a D2 detektorsegítségével. Analysis of the polarization content of the reflected light r and CPL and the FDLD and FDCD measurements of fluorescence emission may be used as described in the D2 detektorsegítségével determining the polarization content of the reflected light. Ebben a mérésben a fő dikroikus tükör helyett féligáteresztő tükör - 11 - alkalmazandó. In this measurement, instead of the main dichroic mirror Translucent Mirror - 11 - applicable. A mérés menete minden egyébben azonos a fentebb leírtakkal. The measurement process similar to that described above everything else. Ezek a mérésekígy a reflexiós Mueller mátrix megfelelő paramétereinek képpontonkénti meghatározásáraalkalmasak. These mérésekígy reflectance Mueller matrix parameters corresponding pixel meghatározásáraalkalmasak. A PAA és a DP optikai egység felépítése A PAA-nak az W0/2002/040953-ben leírt változatai lehetnek. The PAA and the optical unit DP structure variations may be described in W0 / 2002/040953 in the PAA's. Lehet üres, ekkor nemváltoztatja meg a lézer polarizációját, tartalmazhat passzív optikai elemet, amellyel a lézerpolarizációját a mérésnek megfelelően állítjuk be, például optikai fázistoló lemezt,polarizátort vagy depolarizátort, esetleg ezek kombinációját. Nullable, then nemváltoztatja the laser polarization can include passive optical elements, whereby the lézerpolarizációját adjusted according to the measurement, such as an optical phase shifting plate, or a polarizer combination depolarizer, any of these. Például lineáris polarizációtpolarizátorral, cirkuláris polarizációt a polarizátor után elhelyezett λ/4-es fázistolóval állítunkelő. Linear polarizációtpolarizátorral e.g., λ / 4 phase shift of circular polarization is placed after the polarizer is produced. A DP optikai egység tartalmazhat a modulátoron (illetve a polarizációfok méréséremódosított változatban a tükrökön, sugárosztókon) kívül passzív optikai elemeket, optikaifáziskompenzátort (fázistoló), λ/4-es lemez beillesztésével (részletes leírás fentebb) azanizotrópia, polarizációfok és a lineáris dikroizmusok pontosabban mérhetőek. The optical unit DP may include passive outside the modulator (or the polarization méréséremódosított embodiment, the mirrors, sugárosztókon) optical elements optikaifáziskompenzátort (phase shifter), λ / 4 plate inserting (detailed description above) azanizotrópia, polarization and linear dichroism accurately measurable. A WO/2002/040953 -ben leírt eljárás szerint a DP optikai egység tartalmazhat 2modulátort is (5., 6. ábra), melyek különböző frekvencián működnek, s segítségükkel apolarizációs mennyiségek teljesen meghatározhatóak: a lineáris kettőstörés, az anizotrópia, apolarizációfok iránya is a nagysága mellett. According to the process described in WO / 2002/040953 in the optical unit DP may comprise 2modulátort too (Figures 5 and 6), which operate at different frequencies, and apolarizációs help quantities completely determined: the linear birefringence, the anisotropy apolarizációfok direction of the In addition to size.

Stokes paraméterek és Mueller Mátrix mérése A polarizációfok mérésére is alkalmassá tett, módosított DP optikai egységethasználva (4., 6. ábra) egy adott polarizációjú lézerfényre adott fluoreszencia vagy reflexióStokes paraméterei (I, Q, U, V) meghatározhatóak a WO/2002/040953 szerinti eljárással. Measurement of the Stokes parameters and Mueller matrix adapted to measure the polarization modified DP optical egységethasználva (4, 6) for a given polarization of laser light or fluorescence reflexióStokes parameters (I, Q, U, V) be defined in WO / 2002/040953 according to the procedure. A fluoresszencia válaszjel vagy a reflektált fény Mueller mátrixának összes elemekimérhető, amennyiben a PAA-val a megfelelő polarizációs állapotú megvilágító fénytállítjuk elő, és a és a megfelelően konfigurált DP optikai egységet használjuk. The fluorescence response signal or reflected light elemekimérhető Mueller matrix of all, if the PAA with the appropriate illumination light in a polarization state is prepared, and used and appropriately configured optical unit DP. -12- -12-

Korrekciók A rendszer polarizációs torzításai különböző eljárásokkal korrigálhatok. The corrections system polarization distortions can be corrected by various methods. Atorzításokhoz tartozó Mueller mátrix elemei kimérhetők és a torzítások szoftveresenkorrigálhatok, illetve a DP egységen belüli fáziskompenzátorral a szükséges fázis korrekciókis elvégezhetők. Mueller matrix elements for Atorzításokhoz in fáziskompenzátorral aliquoted and distortions can be corrected by software and DP unit is required to make a small correction phase. Például a geqesztő fény lineáris polarizációs állapotát a mikroszkóp egyesoptikai komponensei megváltoztathatják, ez befolyásolhatja az LD és az FDLD nagyságát,ami szoftveresen korrigálható. For example, the linear polarization state of the light geqesztő alter certain optical components of the microscope, it can affect the magnitude of the LD and the FDLD, which software can be finely corrected. Más esetben a gerjesztő fény cirkulárisán poláros állapotát amikroszkóp optikai elemei elliptikusán polárossá változtathatják nem kívánt fázistolástokozva, ez a fáziskompenzátorral korrigálható. Alternatively, it can change the status of polar optical elements amikroszkóp elliptical polarized excitation light to circularly fázistolástokozva not want it to be corrected fáziskompenzátorral. A két módszer szükség esetén kombinálható. The two methods can be combined if necessary. Összefoglalás A megvilágítás optikai útvonala a lézerfonás -> modulátor -> fő dikroikus sugárosztó -> mintasorrend helyett lézerforrás -> fő dikroikus sugárosztó -> modulátor -> minta A visszavert/emittált fény optikai útvonala a minta -> fő dikroikus sugárosztó -> modulátor-> detektor sorrend helyett minta -> modulátor-> fő dikroikus sugárosztó -> detektor A modulátort a közös fényútba, a fő dikroikus sugárosztó és a minta közé helyezve aDP-LSM olyan megvalósítása lehetséges, amely nem igényli az LSM integritásánakmegbontását. Summary of the illumination optical path of the laser spinning -> modulator -> main dichroic beam splitter - instead> sample sequence the laser source -> main dichroic beam splitter -> modulator -> Sample The reflected / emitted light optical path of the sample -> main dichroic beam splitter -> modulator> instead detector sample sequence -> modulator> main dichroic beam splitter -> modulator detector of the common light path, an implementation of the main dichroic beam splitter and the sample is placed between ADP-LSM possible which does not require the LSM integritásánakmegbontását. A megváltozott optikai elrendezés szerint is lehetséges a differenciál-polarizációs mennyiségek mérése, ahogy ezt fentebb kifejtettük. It is possible to change the optical arrangement to measure the differential polarization quantities, as explained above.

Az LSM-et DP optikai egységgel, ami a hagyományos mikroszkóp és a lézeroptikaiegység közé könnyen illeszthető, PAA-val, ami a lézerforrás és a lézeroptikai egység közéilleszthető, analizátorral, ami az LSM detektor előtti szűrőtartójába illeszthető, valamint a DPvezérlő egységgel kell kiegészíteni a DP mérések elvégzéséhez. The LSM et DP optical unit that include the conventional microscope and the laser optical unit easily adaptable, PAA, with which the laser source and the laser optical unit are inserted, analyzer, which must be attached to the LSM filter holder prior to the detector and the DPvezérlő unit supplemented DP When performing measurements.

Amennyiben a modulátor ki van kapcsolva az LSM hagyományos módonváltozatlanul működik. If the modulator is off the conventional LSM it works módonváltozatlanul. További előny, hogy ugyanazok a mérések kevesebb mozgóalkatrésszel megvalósíthatóak, valamint egyetlen modulátor is elegendő a leírt DPmennyiségek mérésére, míg a WO/2002/040953 szerint ez két modulátort kívánt (egyet alézerforrás és a fő dikroikus tükör között, egyet a fő dikroikus tükör és a detektor között). Another advantage is that the same measurements achieved with fewer moving parts and a single modulator is sufficient to measure the DPmennyiségek described, while according to WO / 2002/040953, this two modulators to be between (one alézerforrás and the main dichroic mirror, one of the main dichroic mirror and between detector).

Claims (7)

• · - 13 - SZABADALMI IGÉNYPONTOK • · - 13 - CLAIMS
1. Differenciálpolarizációs lézersugárpásztázó mikroszkóp (DP-LSM), anyagokdifferenciál polarizációs mennyiségeinek meghatározására, amelynek - koherens és monokromatikus megvilágítást biztosító és a minta letapogatásárahasználható lézersugár fényforrása (L), - a kiválasztott optikai nagyítást és leképezést biztosító, mintatartót tartalmazómikroszkóp egysége és - a megvilágító sugárútban (a fényforrás és a mintatartó között) polarizációs állapotállítója (PAA) van, ahol - a megfigyelő sugárútban detektorok (Dl, D2) vannak, a detektorok előtt pedigszűrőtartók vannak továbbá - a detektorok villamos jeleit fogadó feldolgozó egysége (VE) van,azzal jellemezve, hogy - az ortogonális polarizációs komponenseket szétválasztó elem (DP) a megvilágító és amegfigyelő sugarakat tartalmazó közös sugárútban van elhelyezve. First determining differential polarization laser-scanning microscope (DP-LSM), materials differential polarization quantities of a - providing a coherent and monochromatic light and the sample letapogatásárahasználható laser beam light source (L), - providing the optical magnification and imaging is selected, sample holder tartalmazómikroszkóp unit and - the illuminating beam path (between the light source and the sample holder) is a polarization state maker (PAA), wherein - the observation beam path detectors (Dl, D2) are provided in front of the detectors and filter holders also are - electrical signals from the detectors for receiving the processing unit (VE), characterized, - that the orthogonal polarization component separation element (DP) is arranged in the common beam path comprising the illuminating and amegfigyelő rays.
2. Az 1. igénypont szerinti mikroszkóp, azzal jellemezve, hogy az ortogonálispolarizációs komponenseket szétválasztó elem (DP) a mikroszkóp egység (ME) és alézeroptikai egység (LOE) között van elhelyezve. 2. The microscope of claim 1, characterized in that the components ortogonálispolarizációs separator element (DP) is located between the microscope unit (ME) and alézeroptikai unit (LOE).
3. A 2. igénypont szerinti mikroszkóp, azzal jellemezve, hogy az ortogonálispolarizációs komponenseket szétválasztó elem (DP) egy fotoelasztikus modulátor (PEM)vagy más, a fény polarizációs állapotának periodikus vagy programozható változtatásáraalkalmas elektro-optikai egység (EOE). 3. The microscope of claim 2, characterized in that the components ortogonálispolarizációs separator element (DP) is a photoelastic modulator (PEM) or other, the polarization state of light or a programmable periodic változtatásáraalkalmas electro-optical unit (EOE).
4. A 3. igénypont szerinti mikroszkóp, azzal jellemezve, hogy a fotoelasztikusmodulátor (vagy EOE) két oldalán a megvilágító és a megfigyelő sugarakat szétválasztóelemek vannak elhelyezve. 4. The microscope of claim 3, characterized in that both sides of the fotoelasztikusmodulátor (or EOE) the illumination and observation beam separating elements is arranged.
5. A 4. igénypont szerinti mikroszkóp, azzal jellemezve, hogy a fotoelasztikusmodulátor két oldalán elhelyezett szétválasztó elemek tükrök (Ml, M2), illetve dikroikussugárosztó tükrök (DBS1, DBS2). 5. The microscope of claim 4, wherein the separation elements on either side of the fotoelasztikusmodulátor mirrors (Ml, M2) and dikroikussugárosztó mirrors (DBS1, DBS2). • · - 14- • · - 14-
6. Az 5. igénypont szerinti mikroszkóp, azzal jellemezve, hogy a fotoelasztikusmodulátor két oldalán a fő sugárútban elhelyezett tükrök dikroikus sugárosztó tükrök (DBS1,DBS2). 6. The microscope according to claim 5, characterized in that the two side fotoelasztikusmodulátor mirrors arranged in the main beam path, dichroic beam splitter mirror (DBS1, DBS2).
7. A 2-6. 7. 2-6. igénypontok bármelyike szerinti mikroszkóp, azzal jellemezve, hogy azortogonális polarizációs komponenseket szétválasztó elemet két fotoelasztikus modulátor(PEM1, PEM2) vagy két EOE alkotja. The microscope of any preceding claim, characterized in that azortogonális polarization component separation element is comprised of two photoelastic modulators (pEM1, PEM2) two or EOE. A meghatalmazott: Rövidítések LSM: Pásztázó-lézer mikroszkóp (Laser Scanning Microscope) DP: Differenciál-polarizációs (Differential Polarization) DP-LSM: Differenciál-polarizációs pásztázó-lézer mikroszkóp (Differential Polarization Laser Scanning Microscope) PEM: Fotoelasztikus modulátor (Photoelastic Modulátor) PAA: polarizációs állapot állító LPE: lézer pásztázó egységr: anizotrópiaP: polarizációfok CPL: lumineszcencia cirkuláris polarizációja (Circular Polarization of Luminescence)LD: lineáris dikroizmusCD: cirkuláris dikroizmus FDLD: fluoreszcencia detektált lineáris dikroizmusFDCD: fluoreszcencia detektált cirkuláris dikroizmusLB: lineáris kettőstörés (Linear Birefringence) CB: cirkuláris kettőstérés (Circular Birefringence) EOE, a fény polarizációs állapotát periodikusan változatni képes elektro-optikaiegység (lehet esetleg EOM elektro-optikai modulátor) Authorized: Abbreviations LSM: scanning laser microscope (Laser Scanning Microscope) DP: Differential polarization (Differential Polarization) DP-LSM: Differential polarization of a scanning laser microscope (Differential Polarization Laser Scanning Microscope) PCA: photoelastic modulator (Photoelastic Modulator) PAA: polarization state adjuster LPE: laser scanning egységr: anizotrópiaP: polarization CPL: luminescence circular polarization (circular polarization of luminescence) LD: linear dikroizmusCD: circular dichroism FDLD: fluorescence detected linear dikroizmusFDCD: fluorescence detected circular dikroizmusLB linear birefringence (linear birefringence) CB: circular kettőstérés (circular birefringence) EOE capable polarization state of the light is periodically to Change electro-optical module (EOM may be electro-optical modulator)
HU0700635A 2007-09-28 2007-09-28 Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes HU0700635A2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
HU0700635A HU0700635A2 (en) 2007-09-28 2007-09-28 Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
HU0700635A HU0700635A2 (en) 2007-09-28 2007-09-28 Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes
PCT/HU2008/000106 WO2009040591A1 (en) 2007-09-28 2008-09-26 Differential polarization measuring extension unit for a laser-scanning microscope
EP08806829.1A EP2201351B1 (en) 2007-09-28 2008-09-26 Laser-scanning microscope with a differential polarization measuring extension unit
US12/679,888 US8451446B2 (en) 2007-09-28 2008-09-26 Differential polarization measuring extension unit for a laser-scanning microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
HU0700635D0 HU0700635D0 (en) 2007-11-28
HU0700635A2 true HU0700635A2 (en) 2009-05-28

Family

ID=38707372

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
HU0700635A HU0700635A2 (en) 2007-09-28 2007-09-28 Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8451446B2 (en)
EP (1) EP2201351B1 (en)
HU (1) HU0700635A2 (en)
WO (1) WO2009040591A1 (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8773662B2 (en) * 2010-07-22 2014-07-08 Vuv Analytics, Inc. Methods and apparatus for vacuum ultraviolet (VUV) or shorter wavelength circular dichroism spectroscopy
US8427645B2 (en) * 2011-01-10 2013-04-23 Nanometrics Incorporated Mueller matrix spectroscopy using chiroptic
TWI477757B (en) * 2011-02-18 2015-03-21 Univ Nat Cheng Kung Optical parameter measuring apparatus and optical parameter measuring method
JP2013036792A (en) * 2011-08-05 2013-02-21 Seiko Epson Corp Apparatus and method for measuring polarization state
JP5890719B2 (en) * 2012-03-29 2016-03-22 日本分光株式会社 Circle with an alignment mechanism dichroism spectrometer
EP3122297A1 (en) * 2014-03-26 2017-02-01 Optimedica Corporation Confocal laser eye surgery system
WO2017210182A1 (en) * 2016-05-30 2017-12-07 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Scape microscopy with phase modulating element and image reconstruction

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5748318A (en) * 1996-01-23 1998-05-05 Brown University Research Foundation Optical stress generator and detector
US6167173A (en) * 1997-01-27 2000-12-26 Carl Zeiss Jena Gmbh Laser scanning microscope
HU226937B1 (en) * 2000-11-17 2010-03-29 Mta Szegedi Biolog Koezpont Method and apparatus for determining polarization amount of material by a laser scanning microscope
US20040233434A1 (en) * 2001-10-16 2004-11-25 Baoliang Wang Accuracy calibration of birefringence measurement systems
WO2008081374A2 (en) * 2006-12-28 2008-07-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Reflection or single scattering spectroscopy and imaging

Also Published As

Publication number Publication date
HU0700635D0 (en) 2007-11-28
EP2201351A1 (en) 2010-06-30
US8451446B2 (en) 2013-05-28
US20100245822A1 (en) 2010-09-30
WO2009040591A1 (en) 2009-04-02
EP2201351B1 (en) 2013-11-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Inoué Foundations of confocal scanned imaging in light microscopy
JP5526191B2 (en) Light measurement device
Davidson et al. Optical microscopy
Cole et al. Measuring and interpreting point spread functions to determine confocal microscope resolution and ensure quality control
US6455861B1 (en) Fluorescence polarization assay system and method
Gao et al. 3D live fluorescence imaging of cellular dynamics using Bessel beam plane illumination microscopy
US7542137B2 (en) Pathogen detection using coherent anti-stokes Raman scattering microscopy
US5943129A (en) Fluorescence imaging system
US20050073742A1 (en) Arrangement for illumination and/or detection in a microscope
US7158225B2 (en) Multi-channel, self-calibrating fiber-coupled raman spectrometers including diagnostic and safety features
US7630065B2 (en) Low-light specimen image pickup unit and low-light specimen image pickup apparatus
Cole et al. Time‐domain whole‐field fluorescence lifetime imaging with optical sectioning
Dunsby et al. An electronically tunable ultrafast laser source applied to fluorescence imaging and fluorescence lifetime imaging microscopy
US7286222B2 (en) Sample container and system for a handheld spectrometer and method for using therefor
US7317526B2 (en) System and method for dynamic chemical imaging
US6665072B2 (en) Instantaneous dual band fluorescence detection systems
JP4315794B2 (en) Confocal microscopy
US7601938B2 (en) Imaging system, methodology, and applications employing reciprocal space optical design
Hanley et al. Spectrally resolved fluorescence lifetime imaging microscopy
WO2005017489A2 (en) Film mapping system
JP2003227796A (en) Method and arrangement for grasping sample by depth decomposition
Wildanger et al. A STED microscope aligned by design
JP2004506192A (en) Method for increasing the spectroscopic and spatial resolution of the detector
US7215469B2 (en) Confocal microscope
Reichman Handbook of optical filters for fluorescence microscopy

Legal Events

Date Code Title Description
HC9A Change of name, address

Owner name: MAGYAR TUDOMANYOS AKADEMIA SZEGEDI BIOLOGIAI K, HU

Free format text: FORMER OWNER(S): MAGYAR TUDOMANYOS AKADEMIA SZEGEDI BIOLOGIAI KOEZPONT, HU

FA9A Lapse of provisional patent protection due to relinquishment or protection considered relinquished