FI98761C - Mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten - Google Patents
Mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten Download PDFInfo
- Publication number
- FI98761C FI98761C FI940442A FI940442A FI98761C FI 98761 C FI98761 C FI 98761C FI 940442 A FI940442 A FI 940442A FI 940442 A FI940442 A FI 940442A FI 98761 C FI98761 C FI 98761C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- light
- measuring
- photometer
- measuring device
- channel
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 17
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 14
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 9
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/1748—Comparative step being essential in the method
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/33—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/065—Integrating spheres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
98761
MITTAUSLAITE REFLEKTOMETRISIÄ MITTAUKSIA VARTEN - MÄT-NINGSANORDNING FÖR REFLEKTOMETRISKA MÄTNINGAR
Keksinnön kohteena on mittauslaite reflekto-metrisiä mittauksia varten, kuten on määritelty pa-5 tenttivaatimuksen 1 johdanto-osassa.
Erityisesti keksintö kohdistuu reflektomet-riseen mittauslaitteeseen, jossa mitattava näyte valaistaan diffuusisti. Kirjallisuudesta tällaisesta menetelmästä ja laitteesta käytetään nimitystä ELREPHO 10 (lyhennys sanoista Electric Reflectance Photometer). Reflektometrisiä mittausmenetelmiä käytetään mitattaessa näytteiden vaaleus-, fluoresenssi-, valkeus-, läpinäkyvyys-, opasiteetti-, kirkkaus-, tms. muita reflektometrisiä valo-opillisia ominaisuuksia. Aivan 15 erityisesti keksintö kohdistuu reflektometriseen mittauslaitteeseen, joka on tarkoitettu vaaleuden mittaukseen paperista, sellusta ja kartongista, so paperituotteista .
Nykyisen paperin vaaleus määritellään käytän-20 nössä kaikkialla lähes yksinomaisesti käyttäen Zeiss'n valmistamaa 2-kanavaista reflektometristä mittauslaitetta. Laitteeseen kuuluu pallomainen sisäpuoleltaan valkea mittauskammio, joka on varustettu mittaus- ja vertailukanavan muodostavilla kahdella mikroskoopilla. 25 Kanavaan sijoitetaan standardi- ja/tai mittausnäyte ja mittauskohteen valointensiteettiä detektoidaan kanaviin sijoitetuilla fotometreillä, ja saatuja detektoi-tuja valointensiteettiarvoja käsitellään ja tarvittaessa vahvistetaan sekä vertaillaan erityisellä signaa-30 linkäsittely- ja laskentalaitteella. Laite kalibroi-. ' daan tunnetun reflektanssiarvon omaavan standardinäyt- teen avulla. Mittausmenetelmä on sinänsä yleisesti , alalla tunnettu, eikä sitä kuvata yksityiskohtaisemmin tässä yhteydessä; viitataan esim. amerikkalaiseen pa-35 tenttijulkaisuun US-07/793,261 ja eurooppalaiseen patenttijulkaisuun EP-229602.
Yllä esitetty, tunnettu reflektometrinen mit- 2 98761 tauslaite on kuitenkin osoittautunut epätyydyttäväksi mittaustarkkuusvaatimuksien kasvaessa. Erityisesti pyrittäessä säätämään valolähteiden valaistusarvoja ja siten mittauskammion valaistusta esim. säätöhimmenti-5 mien avulla joudutaan tilanteeseen, jossa valolähteen muodostaman valon (yleensä valkoinen valo) eri aallonpituuksien edustamat osat, esim. UV-valon intensiteetin suhde näkyvän valon intensiteettiin, muuttuu johtuen himmentimen selektiivisyydestä eri aallonpituus-10 arvot omaavilla valon osa-alueilla. Tästä johtuen, muutettaessa mittauskammion valaistusta mittahimmenti-men avulla, kammion kalibrointi on suoritettava kokonaan uudelleen huomioiden muuttuneet olosuhteet. Lisäksi saatavat mittaustulokset, esim. UV-alueen ja nä-15 kyvän alueen valointensiteettien suhteiden muuttuessa himmennyksen ansiosta, eivät ole enää vertailukelpoisia standardiolosuhteiden kanssa, so. mittausolosuh-teet eivät vastaa valaistukseltaan standardisoitua simuloitua päivänvalon spektriä.
20 Edellä estettyjä ongelmia ei ole pystytty toistaiseksi poistamaan. Ongelmat ovat erityisen merkityksellisiä paperituotteiden vaaleusmittausten yhteydessä, ja usein paperin myyjän ja vastaanottajan mittaustulokset ovat näinollen poikkeavia toisistaan 25 aiheuttaen ongelmia kaupankäynnissä.
Esillä olevan keksinnön tarkoituksena on poistaa edellä esitetyt epäkohdat.
Erityisesti keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten, 30 jonka mittauslaitteen valaistusta voidaan säätää halutulla tavalla siten, että valaistukseen käytettävän valon eri aallonpituusalueiden suhteet pysyvät haluttuina ja/tai muuttumattomina.
Keksinnölle tunnusomaisten seikkojen osalta 35 viitataan patenttivaatimuksiin.
Keksintö perustuu siihen perusajatukseen, että mittauslaitteeseen kuuluu ainakin yksi näkyvän va- 98761 3 lon valolähde, joka lähettää pääasiassa valoa, jonka aallonpituus on pääasiassa yli n. 380 nm, sekä UV-valon lähde, joka lähettää pääasiassa UV-alueen valoa, jonka aallonpituus on pääasiassa alle n. 380 nm. Valo-5 lähteen lähettämän UV-alueen aallonpituus on sopivasti pääasiassa 300 - 380 nm. Lisäksi mittauslaiteeseen kuuluu mittauskanava, joka on varustettu optiikalla mitattavasta näytteestä heijastuvan valon ohjaamiseksi mittauskanavaan kuuluvaan fotometriin, mahdollisella 10 himmentimellä fotometriin ohjattavan valon himmentämi-seksi ja mahdollisella suotimella fotometriin ohjattavan valon suodattamiseksi; vertailukanava, joka on varustettu optiikalla valon ohjaamiseksi mittauskammios-ta vertailukanavaan kuuluvaan fotometriin, mahdolli-15 sella himmentimellä fotometriin ohjattavan valon him-mentämiseksi ja mahdollisella suotimella fotometriin ohjattavan valon suodattamiseksi; sekä signaalinkäsittely- ja laskentalaite mittauskanavan ja vertailukana-van fotometreillä havaittujen valointensiteettiarvojen 20 käsittelemiseksi ja vertaamiseksi. Keksinnön mukaisesti UV-valon valolähde on varustettu himmentimellä.
Näkyvän valon valolähde voi olla esim. tavanomainen, valkoista valoa lähettävä valolähde, esim. hehkulamppu, purkauslamppu tai kaarilamppu, joka on 25 varustettu erityisellä suotimella UV-alueen valon suodattamiseksi pois.
Edelleen näkyvän valon valolähde on edullisesti varustettu mittahimmentimellä mittauskammion valaistuksen säätämiseksi.
30 UV-valon valolähde on edullisesti UV-lamppu · tai yleensä mikä tahansa UV-valoa lähettävä valolähde, esim. valolähde, joka on varustettu suotimella tai prismalla muun valon paitsi UV-valon suodattamiseksi pois.
35 Keksinnön ansiosta mittauskammion valaistuk seen käytettävä, esim. pääasiassa valkoinen valo voidaan säätää halutulle intensiteettitasolle erikseen 4 98761 riippumatta UV-valon intensiteettitasosta. Edelleen, keksinnön ansioista, mittauskammion valaistukseen käytettävän UV-alueen valon intensiteetti voidaan säätää halutulle tasolle riippumatta esim. näkyvän valon in-5 tensiteettiarvosta.
Yleisesti keksinnön ansiosta mittauskammion valaistusolosuhteiden säätö voidaan toteuttaa entistä olennaisesti monipuolisemmin ja halutulla tavalla vastaten esim. paperin valoisuusmittauksen asettamia kor-10 keitä vaatimuksia.
Keksintöä selostetaan seuraavassa yksityiskohtaisesti suoritusesimerkkien avulla viitaten oheisiin piirustuksiin, joissa kuva 1 esittää kaaviokuvaa eräästä keksinnön mukaises-15 ta mittauslaitteesta reflektometrisiä mittauksia varten, pääasiassa paperin vaaleusmittauksia varten, ja kuva 2 esittää kuvan 1 mukaisella laitteella mitattua valon intensiteettiä aallonpituuden funktiona ilman UV-lisävalolähdettä ja sen kanssa.
20 Mittauslaitteeseen kuuluu pallomainen mit- tauskammio 1, joka on varustettu valolähteellä 2S, esitetty sovellutuksessa kahdella näkyvän valon valolähteellä 2S. Edelleen mittauskammioon kuuluu näy-teaukko 3 järjestettynä siten, että näyteaukkoon si-25 joitetun näytteen valaisu on diffuusi. Edelleen mittauslaitteeseen kuuluu erityinen mittauskanava 4, joka on varustettu optiikalla 5 mitattavasta näytteestä heijastuvan valon ohjaamiseksi mittauskanavaan kuuluvan fotometriin 6; mittauskanava on edelleen varustet-30 tu esitetyssä sovellutuksessa himmentimellä 7 fotometriin ohjattavan valon himmentämiseksi ja suotimella 8 fotometriin ohjattavan valon suodattamiseksi. Edelleen mittauslaitteeseen kuuluu vertailukanava 14, joka on varustettu optiikalla 15 valon ohjaamiseksi mittaus-35 kammiosta vertailukanavaan kuuluvaan fotometriin 16; vertailukanava on esitetyssä sovellutuksessa varustettu lisäksi mahdollisella himmentimellä 17 fotometriin 98761 5 ohjattavan valon himmentämiseksi ja suotimella 18 fotometriin ohjattavan valon suodattamiseksi. Edelleen mittauslaitteeseen kuuluu erityisen signaalinkäsittely- ja laskentalaite, kuten vahvistin ym. sig-5 naalinkäsittelylaitteet 20s fotometristä saatavan, fotometriin johdetun valonsäteen intensiteettiin verrannollisen sähköisen signaalin käsittelemiseksi ja haluttaessa vahvistamiseksi, sekä laskentalaite 20c, kuten tietokone, joka on järjestetty määrittämään mit-10 tauskanavaan kanavan ja vertailukanavan fotometreillä havaittujen valointensiteettiarvojen, so. mainittujen signaalien muodostamien intensiteettiarvojen käsittelemiseksi ja vertaamiseksi.
Mittauslaitteeseen kuuluu kaksi näkyvän valon 15 valolähdettä 2S, jotka lähettävät pääasiassa valoa, jonka aallonpituus on pääasiassa yli n. 380 nm, sekä UV-valon valolähde 2u, joka lähettää pääasiassa UV-alueen valoa, jonka aallonpituus on pääasiassa alle n. 380 nm, edullisesti pääasiassa 300 - 380 nm.
20 Näkyvän valon valolähteet 2S on sijoitettu symmetrisesti mittauskanavaan 4 ja vertailukanavaan 14 nähden; mittauskanava 4 ja vertailukanava 14 on sijoitettu siten, että niiden akselit kulkevat mittauskam-mion keskipisteen kautta ja muodostavat kulman a kes-25 kenään, a >0 ja a< 180°, esim. < 45°, > 135°. UV-valon valolähde 2Ö on edelleen sijoitettu symmetrisesti näkyvän valon valolähteisiin 2S sekä mittauskanavaan 4 ja vertailukanavaan 14 nähden.
Näkyvän valon valolähteet 2S muodostuvat ta-30 vanomaisista valkoista valoa lähetettävästä lampusta ja ne on lisäksi varustettu suotimilla 21 UV-alueen . valon suodattamiseksi pois. Lisäksi näkyvän valon va lolähteet on varustettu mittahimmentimillä 22 näkyvän valon intensiteetin säätämiseksi. UV-valon valolähde 35 2u on lisäksi varustettu himmentimellä 23 UV-valon intensiteetin säätämiseksi.
Kuvatun mittauslaitteen näkyvän valon valo- 6 98761 lähteiden 2S mittahimmentimet on varustettu käyttölaitteella 24, joiden säätö tapahtuu laskentalaitteen 20 ohjauksella. Vastaava UV-valolähteen 2u himmentimen säätö on varustettu käyttölaitteella 25, jonka säätö 5 tapahtuu tietokoneen ohjauksella.
Esitetyssä sovellutusesimerkissä on kuvattu ainoastaan ao. mittauslaitteen mittauskammion valaistuksen säätö; mittaus tapahtuu sinänsä tunnettuun tapaan, kuten tunnetaan laajasti alan kirjallisuudesta. 10 Edelleen keksinnön mukainen mittauslaite ja erityisesti mittauskammion valaistuksen säätö soveltuu käytettäväksi minkälaisen tahansa reflektometrisen mittaus laitteen yhteydessä.
Kuvassa 2 näkyy kaaviomaisesti esitettynä 15 keksinnön mukaisessa mittauslaitteessa määritelty mit tauskammion valaistus aallonpituuden funktiona käytettäessä vain näkyvää valoa muodostavaa kahta valoläh dettä; käyrä merkitty UV OFF. Edelleen kuvassa näkyy vastaava käyrä, jossa mittauskammion valaistukseen on 20 käytetty lisäksi erityistä UV-valolähdettä, joka lähettää pääasiassa UV-alueen valoa, aallonpituus pääsiassa 300 - 380 nm; käyrä UV ON.
Kuvan 2 tarkasteluna todetaan, että keksinnön mukainen mittauslaite noudattaa varsin hyvin päivänva-25 loa simuloivan valaistuksen arvoja myös UV-alueella.
Suoritusesimerkit on tarkoitettu keksinnön havainnollistamiseksi rajoittamatta sitä millään tavoin .
r ' ait.t atm Iita'
Claims (4)
1. Mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten, johon laitteeseen kuuluu pallomainen mittaus-5 kammio (1), joka on varustettu ainakin kahdella valolähteellä (2), näkyvän valon valolähteellä (2S), joka lähettää pääasiassa valoa, jonka aallonpituus on pääasiassa yli n. 380 nm, sekä UV-valon valolähteellä (2U), joka lähettää pääasiassa UV-alueen valoa, jonka aallon-10 pituus on pääasiassa alle n. 380 nm, edullisesti 300-380 nm, ja näyteaukolla (3) siten, että näyteaukkoon sijoitetun näytteen valaisu on diffuusi; mittauskanava (4), joka on varustettu optiikalla (5) mitattavasta näytteestä heijastuvan valon ohjaamiseksi mittaus-15 kanavaan kuuluvaan fotometriin (6), mahdollisella him-mentimellä (7) fotometriin ohjattavan valon himmentämi-seksi ja mahdollisella suotimella (8) fotometriin ohjattavan valon suodattamiseksi; vertailukanava (14), joka on varustettu optiikalla (15) valon ohjaamiseksi 20 mittauskammiosta vertailukanavaan kuuluvaan fotometriin (16), mahdollisella himmentimellä (17) fotometriin ohjattavan valon himmentämiseksi ja mahdollisella suotimella (18) fotometriin ohjattavan valon suodattamiseksi; sekä signaalinkäsittely- ja laskentalaite (20, 25 21) mittauskanavan ja vertailukanavan fotometreillä (6, 16. havaittujen valointensiteettiarvojen käsittelemiseksi ja vertaamiseksi; tunnettu siitä, että UV-valon valolähde (2J on varustettu himmentimellä (23).
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen mittauslai te, tunnettu siitä, että laitteeseen kuuluu kaksi näkyvän valon valolähdettä (2g), joiden lähettämän valon aallonpituus on yli 380 nm. t
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen mit-35 tauslaite, tunnettu siitä, että näkyvän valon valolähteet (2g) on varustettu suotimilla (21) UV-alueen valon suodattamiseksi pois, jonka UV-alueen aallonpi- 8 98761 tuus on alle 380 nm.
4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen mittauslaite, tunnettu siitä, että näkyvän valon valolähde on varustettu mittahimmentimellä (22). 98761 9
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI940442A FI98761C (fi) | 1994-01-28 | 1994-01-28 | Mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten |
| US08/687,463 US5748304A (en) | 1994-01-28 | 1995-01-30 | Measuring instrument for reflectometric measurements |
| EP95907023A EP0767903A1 (en) | 1994-01-28 | 1995-01-30 | Measuring instrument for reflectometric measurements |
| PCT/FI1995/000044 WO1995020758A1 (en) | 1994-01-28 | 1995-01-30 | Measuring instrument for reflectometric measurements |
| JP7519907A JPH09508467A (ja) | 1994-01-28 | 1995-01-30 | 反射率測定用測定装置 |
| CA002181710A CA2181710A1 (en) | 1994-01-28 | 1995-01-30 | Measuring instrument for reflectometric measurements |
| NO962817A NO962817D0 (no) | 1994-01-28 | 1996-07-04 | Måleinstrument for reflektometriske målinger |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI940442A FI98761C (fi) | 1994-01-28 | 1994-01-28 | Mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten |
| FI940442 | 1994-01-28 |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI940442A0 FI940442A0 (fi) | 1994-01-28 |
| FI940442A FI940442A (fi) | 1995-07-29 |
| FI98761B FI98761B (fi) | 1997-04-30 |
| FI98761C true FI98761C (fi) | 1997-08-11 |
Family
ID=8539817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI940442A FI98761C (fi) | 1994-01-28 | 1994-01-28 | Mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5748304A (fi) |
| EP (1) | EP0767903A1 (fi) |
| JP (1) | JPH09508467A (fi) |
| CA (1) | CA2181710A1 (fi) |
| FI (1) | FI98761C (fi) |
| NO (1) | NO962817D0 (fi) |
| WO (1) | WO1995020758A1 (fi) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10133808A1 (de) * | 2001-07-11 | 2003-02-06 | Colorpartner Gmbh Entwicklung | Messvorrichtung zur Bestimmung der Intensität des optischen Aufhellers in lichtreflektierenden Medien (z. B. Papier) |
| JP2006133052A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Ishizuka Glass Co Ltd | 異物検査方法及び装置 |
| KR101144653B1 (ko) * | 2010-08-02 | 2012-05-11 | 한국표준과학연구원 | 적분구 광도계 및 그 측정 방법 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1346766A (en) * | 1970-06-29 | 1974-02-13 | Ici Ltd | Colourimeters and fluorimeters |
| GB1379405A (en) * | 1971-09-30 | 1975-01-02 | Ici Ltd | Colourimeter and fluorimeter |
| JPS609708Y2 (ja) * | 1978-03-23 | 1985-04-05 | 蓊 須賀 | 積分球式標準光源装置 |
| FI78563C (fi) * | 1985-11-27 | 1989-08-10 | Aimo Heinonen | Reflektometriskt maetningsfoerfarande och maetningsanordning foer genomfoerande av foerfarandet. |
| US5182618A (en) * | 1985-11-27 | 1993-01-26 | Aimo Heinonen | Reflectometric method of measurement and apparatus for realizing the method |
| DE8707858U1 (de) * | 1987-06-02 | 1988-10-27 | OPTRONIK GmbH opto - elektronische - systeme, 1000 Berlin | Optische Vorrichtung zum Messen des Lumineszenzanteils bei Oberflächen |
| DE3818815A1 (de) * | 1988-06-03 | 1989-12-14 | Zeiss Carl Fa | Remissionsmessgeraet |
| US5369481A (en) * | 1992-05-08 | 1994-11-29 | X-Rite, Incorporated | Portable spectrophotometer |
| JPH0650817A (ja) * | 1992-07-29 | 1994-02-25 | Minolta Camera Co Ltd | 試料の光学特性測定装置 |
-
1994
- 1994-01-28 FI FI940442A patent/FI98761C/fi active IP Right Grant
-
1995
- 1995-01-30 WO PCT/FI1995/000044 patent/WO1995020758A1/en not_active Application Discontinuation
- 1995-01-30 JP JP7519907A patent/JPH09508467A/ja active Pending
- 1995-01-30 US US08/687,463 patent/US5748304A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-01-30 EP EP95907023A patent/EP0767903A1/en not_active Withdrawn
- 1995-01-30 CA CA002181710A patent/CA2181710A1/en not_active Abandoned
-
1996
- 1996-07-04 NO NO962817A patent/NO962817D0/no unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI940442A0 (fi) | 1994-01-28 |
| EP0767903A1 (en) | 1997-04-16 |
| WO1995020758A1 (en) | 1995-08-03 |
| US5748304A (en) | 1998-05-05 |
| FI98761B (fi) | 1997-04-30 |
| NO962817D0 (no) | 1996-07-04 |
| FI940442A (fi) | 1995-07-29 |
| CA2181710A1 (en) | 1995-08-03 |
| JPH09508467A (ja) | 1997-08-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3346095B2 (ja) | 分光光度計 | |
| US7466417B2 (en) | Process for the colour measurement of printed samples including brighteners | |
| KR100914802B1 (ko) | 광학 센서 장치 | |
| JPS61165641A (ja) | 試料の蛍光特性を測定する装置および方法 | |
| US7502099B2 (en) | Measuring method and apparatus for measuring an optical property of a fluorescent sample | |
| KR970011803A (ko) | 스펙트럼식 반사측정 및 투과측정을 위한 방법 및 장치 | |
| US6535278B1 (en) | Apparatus and method for measuring spectral property of fluorescent sample | |
| US8288739B2 (en) | Method and apparatus for measuring optical property of fluorescent sample | |
| US20020185609A1 (en) | Apparatus for examining documents | |
| JPH11118603A (ja) | 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 | |
| CN105938016A (zh) | 一种颜色测量装置 | |
| KR970005587B1 (ko) | 분광광도계 | |
| FI98761C (fi) | Mittauslaite reflektometrisiä mittauksia varten | |
| US20030058441A1 (en) | Method and apparatus for optical measurements | |
| JP4617436B2 (ja) | 蛍光試料の光学特性測定方法及びこれを用いた光学特性測定装置 | |
| KR101147497B1 (ko) | 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법 | |
| WO2017103927A1 (en) | Method and apparatus for inspection of substrates | |
| US6204923B1 (en) | Device for color matching or color measurement | |
| CN109564168B (zh) | 用于检查涂漆表面的日光手电筒 | |
| FI78563B (fi) | Reflektometriskt maetningsfoerfarande och maetningsanordning foer genomfoerande av foerfarandet. | |
| DE3862427D1 (de) | Optische vorrichtung zum messen des lumineszenzanteils bei oberflaechen oder zur farbmessung an aufgehellten proben. | |
| Marszalec et al. | Non-destructive testing of the quality of naturally white food products | |
| Jordan et al. | The Influence of the Illuminent on the Luminescent Radiance Factor Spectrum of a Reference Fluorescent Paper | |
| HUT62089A (en) | Measuring device and method for detecting features of the samples | |
| KR20000012562A (ko) | 안경렌즈용 자외선 측정기 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG | Patent granted |
Owner name: CONREX AUTOMATION OY |
|
| BB | Publication of examined application |