FI69931B - Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser - Google Patents
Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser Download PDFInfo
- Publication number
- FI69931B FI69931B FI842191A FI842191A FI69931B FI 69931 B FI69931 B FI 69931B FI 842191 A FI842191 A FI 842191A FI 842191 A FI842191 A FI 842191A FI 69931 B FI69931 B FI 69931B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- capacitance
- oscillator
- capacitances
- pulse train
- measured
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Claims (7)
1. Förfarande för raätning av kapacitanser, speciellt smä kapacltanser, vid vilket det används en mätoscillator (10), vars avglvna utglngsfrek-vens (f) är en funktion av en kapacitans son kopplas tili ingangspoler (a,b) tili en krets soin bestäramer nämnda oscillators frekvens och vid 5 vilket förfarande det används kända referenskapacitanser, som kopplas omväxlande med en kapacitans (C^) som mäts eller med kapacitanser som rnäts tili mätoscillatorn genom utnyttjande av ett kopplingsarrangemang, kännetecknat därav, 10 att det vid förfarandet används en sadan mätoscillator (10), vars signals periodtid (T ) är direkt proportionell mot kapacitansen (CM) som mäts och referenskapacitanserna (C^ och C^) » som turvis kopplas tili inglngspolerna (a,b) tili kretsen som bestämmer oscillatorns (10) frekvens (f), av vilka sistnämnda referenskapacitanser tva sinsemellan olika 15 Stora är i användning vid förfarandet, att nämnda mätoscillators (10) utgäng är kopplad tili atminstone tva sinsemellan i kaskad kopplade delare (11,12), varvid oscillatorns frekvens (f) i den första (11) av dessa delas med ett första tai (n) och 20 oscillatorns ovan delade frekvens (f/n) i den andra (12) av dessa vidare delas med ett andra tai (m), att en logikdel (IA) styrs med den med det första talet (n) delade frek- vensen (f/n), vilken del styr kopplingar (13a,13b,13c) som kopplar nämnda 25 kapacitanser Parvis alternerande tili mätoscillatorn (10) st, att den första referenskapacitansen (C^) och kapacitansen (C^) som mäts tlllkopplas turvis med mellanrum av halvperioden (T^ = n . T ) av en av nämnda delningsförhällande (n) bestämd första pulsrad (V ), och n 1 30 att nämnda logikdel (14) styrs med en pulsrad (V ) fran den andra dela- nm ren (12) sä, att med mellanrum av halvperioden = m . * n · m · T ) av sistnämnda pulsrad byts den andra referenskapacitansen (C^) att kopplas tili mätoscillatorn (10) i stället för kapacitansen (CM) som mäts för att växla med den första referenskapacitansen (C ) med mellanrum Rl 35 som bestäms av halva perioden (T^) av den första pulsraden (V ). 69931
2. Förfarande enligt patentkravet 1, kännetecknat därav, att fran kopplingen (13b) som tillkopplar kapacitansen (C^) som mäts har ta-gits en styrpulsrad, varvid förändringen i radens pulsförhallande används som matt p3 kapacitansen (Cw) som mäts. 5
3. Förfarande enligt patentkravet 1 eller 2, kännetecknat därav, att mätkretsen innefattar kopplingar (16b och 22), som har anord- nats att styras med den fran den andra delaren (12) erhallna pulsraden (V ) sa, att da den sistnämnda puisen är t.ex. nere nämnda kopplingar nm 10 (16b och 22) är 1 ledande tillstand (stängda) och härvid har styrpulsra- derna för kopplingarna (13a,13b) som tillkopplar den första referenskapa-citansen (C^) och kapacitansen (C^) som mäts styrts att koirana tili i mätkretsen ingäende RC-lagpassfilten (17a och 17b), fran vilka det er-halls tva spänningar (U^ och l^) och att de frln nämnda RC-filter 15 (17a,17b) erhallna tvl spänningarna (U^.U^) leds tili en diff-förstär- kare (19), varvid en fran dess utgang erhallen spanning (U^) anger skill-naden mellan kapacitansen (C^) som mäts och den första referenskapaci-tansen (Cp^) sa, att den konstanta termen (b) (off-set) för systemets kalibreringslinje har hiivit definierad. 20
4. Förfarande enligt nagot av patentkraven 1-3, kännetecknat därav, att styrpulsraderna förs styrda av kopplingar (16a,21), som styrs av den fran den andra delaren (12) erhallna andra pulsraden (V ), tili nm RC-filtren (17a, 17b), fran vilka erhalls den tili kretsen hörande diff- 25 förstärkarens (19) utglngsspänning (U), som anger referenskapacitan- sernas (C _ och C ,) skillnad sä, att vinkelkoefficienten (k) för sys-RZ Rl temets kalibreringslinje kan bestämmas och stabiliseras.
5. Förfarande enligt nagot av patentkraven 1-4, kännetecknat 30 därav, att för att göra den tili mätsystemet hörande diff-förstärkarens (19) ingängsspänning (U^-l^) konstant oberoende av temperaturändringar eller andra störningsfaktorer, förs nämnda spanning via en koppling (21) och en hlllkrets eller liknande tili en integrerande komparator (24), varvid en referensspänning (Urg£) i systemet leds tili komparatorns 35 andra ingangspol och att nämnda komparators (24) utglngsspänning (U^) förs sora en iterkopplingsspänning för att styra en analogikoppling (18) eller nSgon annan motsvarande komponent, som paverkar nämnda diff- 11
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI842191A FI69931C (fi) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser |
NO852169A NO852169L (no) | 1984-05-31 | 1985-05-30 | Fremgangsmaate for maaling av kapasiteter, saerlig av lav verdi. |
DK242285A DK242285A (da) | 1984-05-31 | 1985-05-30 | Fremgangsmaade og apparat til maaling af navnlig lave kapacitetsvaerdier |
EP85850188A EP0166705A3 (en) | 1984-05-31 | 1985-05-30 | A method for measuring of capacities, particular low ones |
JP11867885A JPS60262065A (ja) | 1984-05-31 | 1985-05-31 | 容量測定方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI842191A FI69931C (fi) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser |
FI842191 | 1984-05-31 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI842191A0 FI842191A0 (fi) | 1984-05-31 |
FI69931B true FI69931B (fi) | 1985-12-31 |
FI69931C FI69931C (fi) | 1986-05-26 |
Family
ID=8519170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI842191A FI69931C (fi) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60262065A (sv) |
FI (1) | FI69931C (sv) |
-
1984
- 1984-05-31 FI FI842191A patent/FI69931C/fi not_active IP Right Cessation
-
1985
- 1985-05-31 JP JP11867885A patent/JPS60262065A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI842191A0 (fi) | 1984-05-31 |
JPS60262065A (ja) | 1985-12-25 |
FI69931C (fi) | 1986-05-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6483322B2 (en) | Capacitive physical quantity sensor | |
US4862382A (en) | Arrangement for processing the output signals of a resistance bridge | |
Mochizuki et al. | A high-resolution, linear resistance-to-frequency converter | |
US9188616B2 (en) | Module and capacitance detecting method | |
EP1279964B1 (en) | Resistance measuring circuit | |
EP0698780B1 (en) | Differential capacitance detector | |
KR910012689A (ko) | 조정된 물리매개 변수값 측정 시스템 | |
FI70753C (sv) | Förfarande för mätning av kapacitanser, speciellt små kapacitanser | |
CA2130093C (en) | Method and apparatus for measuring voltage | |
US5210501A (en) | Apparatus for processing sensor signals having switch-capacitor structures | |
US5000048A (en) | Circuit arrangement for temperature compensation of capacitive pressure and differential pressure sensors | |
FI69931B (fi) | Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser | |
JP3580817B2 (ja) | 測定増幅器 | |
US5585559A (en) | Environment measuring apparatus | |
FI69932C (fi) | Maetningsfoerfarande foer kapacitanser speciellt foer smao kapacitanser vid vilker man anvaender tvao referenser | |
WO2001088519A2 (en) | Monolithic sensor for measuring impedance | |
EP0166705A2 (en) | A method for measuring of capacities, particular low ones | |
EP0745861A3 (de) | Kapazizätsmessverfahren | |
JPS627961B2 (sv) | ||
SU1383226A1 (ru) | Измеритель параметров диэлектрических сред и материалов | |
JPH0278912A (ja) | 可変容量形センサシステム | |
JPH1194620A (ja) | 流体の流量測定装置 | |
SU983604A1 (ru) | Устройство дл измерени слабых магнитных полей | |
JPH06308176A (ja) | 容量測定回路及びそれを備えたlcrメ−タ | |
JPH11220367A (ja) | 時間伸長回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed |
Owner name: VAISALA OY |