FI69931B - Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser - Google Patents

Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser Download PDF

Info

Publication number
FI69931B
FI69931B FI842191A FI842191A FI69931B FI 69931 B FI69931 B FI 69931B FI 842191 A FI842191 A FI 842191A FI 842191 A FI842191 A FI 842191A FI 69931 B FI69931 B FI 69931B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
capacitance
oscillator
capacitances
pulse train
measured
Prior art date
Application number
FI842191A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI842191A0 (fi
FI69931C (fi
Inventor
Risto Johannes Paajanen
Original Assignee
Vaisala Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vaisala Oy filed Critical Vaisala Oy
Priority to FI842191A priority Critical patent/FI69931C/fi
Publication of FI842191A0 publication Critical patent/FI842191A0/fi
Priority to NO852169A priority patent/NO852169L/no
Priority to DK242285A priority patent/DK242285A/da
Priority to EP85850188A priority patent/EP0166705A3/en
Priority to JP11867885A priority patent/JPS60262065A/ja
Publication of FI69931B publication Critical patent/FI69931B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI69931C publication Critical patent/FI69931C/fi

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Claims (7)

1. Förfarande för raätning av kapacitanser, speciellt smä kapacltanser, vid vilket det används en mätoscillator (10), vars avglvna utglngsfrek-vens (f) är en funktion av en kapacitans son kopplas tili ingangspoler (a,b) tili en krets soin bestäramer nämnda oscillators frekvens och vid 5 vilket förfarande det används kända referenskapacitanser, som kopplas omväxlande med en kapacitans (C^) som mäts eller med kapacitanser som rnäts tili mätoscillatorn genom utnyttjande av ett kopplingsarrangemang, kännetecknat därav, 10 att det vid förfarandet används en sadan mätoscillator (10), vars signals periodtid (T ) är direkt proportionell mot kapacitansen (CM) som mäts och referenskapacitanserna (C^ och C^) » som turvis kopplas tili inglngspolerna (a,b) tili kretsen som bestämmer oscillatorns (10) frekvens (f), av vilka sistnämnda referenskapacitanser tva sinsemellan olika 15 Stora är i användning vid förfarandet, att nämnda mätoscillators (10) utgäng är kopplad tili atminstone tva sinsemellan i kaskad kopplade delare (11,12), varvid oscillatorns frekvens (f) i den första (11) av dessa delas med ett första tai (n) och 20 oscillatorns ovan delade frekvens (f/n) i den andra (12) av dessa vidare delas med ett andra tai (m), att en logikdel (IA) styrs med den med det första talet (n) delade frek- vensen (f/n), vilken del styr kopplingar (13a,13b,13c) som kopplar nämnda 25 kapacitanser Parvis alternerande tili mätoscillatorn (10) st, att den första referenskapacitansen (C^) och kapacitansen (C^) som mäts tlllkopplas turvis med mellanrum av halvperioden (T^ = n . T ) av en av nämnda delningsförhällande (n) bestämd första pulsrad (V ), och n 1 30 att nämnda logikdel (14) styrs med en pulsrad (V ) fran den andra dela- nm ren (12) sä, att med mellanrum av halvperioden = m . * n · m · T ) av sistnämnda pulsrad byts den andra referenskapacitansen (C^) att kopplas tili mätoscillatorn (10) i stället för kapacitansen (CM) som mäts för att växla med den första referenskapacitansen (C ) med mellanrum Rl 35 som bestäms av halva perioden (T^) av den första pulsraden (V ). 69931
2. Förfarande enligt patentkravet 1, kännetecknat därav, att fran kopplingen (13b) som tillkopplar kapacitansen (C^) som mäts har ta-gits en styrpulsrad, varvid förändringen i radens pulsförhallande används som matt p3 kapacitansen (Cw) som mäts. 5
3. Förfarande enligt patentkravet 1 eller 2, kännetecknat därav, att mätkretsen innefattar kopplingar (16b och 22), som har anord- nats att styras med den fran den andra delaren (12) erhallna pulsraden (V ) sa, att da den sistnämnda puisen är t.ex. nere nämnda kopplingar nm 10 (16b och 22) är 1 ledande tillstand (stängda) och härvid har styrpulsra- derna för kopplingarna (13a,13b) som tillkopplar den första referenskapa-citansen (C^) och kapacitansen (C^) som mäts styrts att koirana tili i mätkretsen ingäende RC-lagpassfilten (17a och 17b), fran vilka det er-halls tva spänningar (U^ och l^) och att de frln nämnda RC-filter 15 (17a,17b) erhallna tvl spänningarna (U^.U^) leds tili en diff-förstär- kare (19), varvid en fran dess utgang erhallen spanning (U^) anger skill-naden mellan kapacitansen (C^) som mäts och den första referenskapaci-tansen (Cp^) sa, att den konstanta termen (b) (off-set) för systemets kalibreringslinje har hiivit definierad. 20
4. Förfarande enligt nagot av patentkraven 1-3, kännetecknat därav, att styrpulsraderna förs styrda av kopplingar (16a,21), som styrs av den fran den andra delaren (12) erhallna andra pulsraden (V ), tili nm RC-filtren (17a, 17b), fran vilka erhalls den tili kretsen hörande diff- 25 förstärkarens (19) utglngsspänning (U), som anger referenskapacitan- sernas (C _ och C ,) skillnad sä, att vinkelkoefficienten (k) för sys-RZ Rl temets kalibreringslinje kan bestämmas och stabiliseras.
5. Förfarande enligt nagot av patentkraven 1-4, kännetecknat 30 därav, att för att göra den tili mätsystemet hörande diff-förstärkarens (19) ingängsspänning (U^-l^) konstant oberoende av temperaturändringar eller andra störningsfaktorer, förs nämnda spanning via en koppling (21) och en hlllkrets eller liknande tili en integrerande komparator (24), varvid en referensspänning (Urg£) i systemet leds tili komparatorns 35 andra ingangspol och att nämnda komparators (24) utglngsspänning (U^) förs sora en iterkopplingsspänning för att styra en analogikoppling (18) eller nSgon annan motsvarande komponent, som paverkar nämnda diff- 11
FI842191A 1984-05-31 1984-05-31 Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser FI69931C (fi)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI842191A FI69931C (fi) 1984-05-31 1984-05-31 Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser
NO852169A NO852169L (no) 1984-05-31 1985-05-30 Fremgangsmaate for maaling av kapasiteter, saerlig av lav verdi.
DK242285A DK242285A (da) 1984-05-31 1985-05-30 Fremgangsmaade og apparat til maaling af navnlig lave kapacitetsvaerdier
EP85850188A EP0166705A3 (en) 1984-05-31 1985-05-30 A method for measuring of capacities, particular low ones
JP11867885A JPS60262065A (ja) 1984-05-31 1985-05-31 容量測定方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI842191A FI69931C (fi) 1984-05-31 1984-05-31 Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser
FI842191 1984-05-31

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI842191A0 FI842191A0 (fi) 1984-05-31
FI69931B true FI69931B (fi) 1985-12-31
FI69931C FI69931C (fi) 1986-05-26

Family

ID=8519170

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI842191A FI69931C (fi) 1984-05-31 1984-05-31 Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPS60262065A (sv)
FI (1) FI69931C (sv)

Also Published As

Publication number Publication date
FI842191A0 (fi) 1984-05-31
JPS60262065A (ja) 1985-12-25
FI69931C (fi) 1986-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6483322B2 (en) Capacitive physical quantity sensor
US4862382A (en) Arrangement for processing the output signals of a resistance bridge
Mochizuki et al. A high-resolution, linear resistance-to-frequency converter
US9188616B2 (en) Module and capacitance detecting method
EP1279964B1 (en) Resistance measuring circuit
EP0698780B1 (en) Differential capacitance detector
KR910012689A (ko) 조정된 물리매개 변수값 측정 시스템
FI70753C (sv) Förfarande för mätning av kapacitanser, speciellt små kapacitanser
CA2130093C (en) Method and apparatus for measuring voltage
US5210501A (en) Apparatus for processing sensor signals having switch-capacitor structures
US5000048A (en) Circuit arrangement for temperature compensation of capacitive pressure and differential pressure sensors
FI69931B (fi) Foerfarande foer maetning av kapacitanser speciellt smao kapacitanser
JP3580817B2 (ja) 測定増幅器
US5585559A (en) Environment measuring apparatus
FI69932C (fi) Maetningsfoerfarande foer kapacitanser speciellt foer smao kapacitanser vid vilker man anvaender tvao referenser
WO2001088519A2 (en) Monolithic sensor for measuring impedance
EP0166705A2 (en) A method for measuring of capacities, particular low ones
EP0745861A3 (de) Kapazizätsmessverfahren
JPS627961B2 (sv)
SU1383226A1 (ru) Измеритель параметров диэлектрических сред и материалов
JPH0278912A (ja) 可変容量形センサシステム
JPH1194620A (ja) 流体の流量測定装置
SU983604A1 (ru) Устройство дл измерени слабых магнитных полей
JPH06308176A (ja) 容量測定回路及びそれを備えたlcrメ−タ
JPH11220367A (ja) 時間伸長回路

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: VAISALA OY