ES2206599T3 - Contraband detection by interactive use of multiple probes scan. - Google Patents

Contraband detection by interactive use of multiple probes scan.

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ES2206599T3
ES2206599T3 ES96935921T ES96935921T ES2206599T3 ES 2206599 T3 ES2206599 T3 ES 2206599T3 ES 96935921 T ES96935921 T ES 96935921T ES 96935921 T ES96935921 T ES 96935921T ES 2206599 T3 ES2206599 T3 ES 2206599T3
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ray
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inspection
rays
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Michael Ellenbogen
Paul J. Hurd
Kristoph D. Krug
John O. Tortora
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L3 Communications Security and Detection Systems Inc
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Abstract

UN SISTEMA DE INSPECCION PARA DETECTAR UN MATERIAL ESPECIFICO DE INTERES EN PAQUETES QUE COMPRENDE UNA SONDA DE INSPECCION POR RAYOS X DE MULTIPLES VISTAS (30) Y UNA O MAS SONDAS SENSIBLES LA MATERIAL. INSPECTION SYSTEM TO DETECT A SPECIFIC MATERIAL INTEREST IN PACKAGES comprising a probe X-ray inspection multiview (30) PROBES AND ONE OR MORE SENSITIVE MATERIAL. LA SONDA DE INSPECCION POR RAYOS X DE MULTIPLES VISTAS HACE USO DE LOS RAYOS X TRANSMITIDOS A TRAVES DE O DIFUSOS DE UN ELEMENTO EXAMINADO (14A; 14B) PARA IDENTIFICAR UNA REGION SOSPECHOSA (155) EN EL INTERIOR DEL ELEMENTO. PROBE X-ray inspection multiview uses X RAYS OR TRANSMITTED THROUGH FUZZY ELEMENT OF AN EXAMINED (14A, 14B) TO IDENTIFY SUSPECT A REGION (155) INSIDE THE ELEMENT. SE HACE USO DE UNA INTERFAZ (119) PARA RECIBIR DE LA SONDA DE INSPECCION POR RAYOS X DATOS QUE PROPORCIONAN INFORMACION ESPACIAL SOBRE LA REGION SOSPECHOSA Y PARA ENVIAR ESTA INFORMACION A UNA SONDA SENSIBLE AL MATERIAL SELECCIONADA (140, 275). It makes use of an interface (119) for receiving PROBE X-ray inspection SPATIAL DATA PROVIDING INFORMATION ON THE REGION SUSPICIOUS AND SEND THIS INFORMATION TO PROBE TO SENSITIVE MATERIAL SELECTED (140, 275). LAS ONDA SENSIBLE AL MATERIAL ADQUIERE ENTONCES INFORMACION ESPECIFICA SOBRE EL MATERIAL DE LA PARTE DE ALREDEDOR DE LA REGION SOSPECHOSA YA IDENTIFICADA Y SE LA ENVIA A UN ORDENADOR PARA QUE IDENTIFIQUE LA PRESENCIA DEL MATERIAL ESPECIFICO EN LA REGION SOSPECHOSA. Sensibly ACQUIRES ONDA THEN THE MATERIAL INFORMATION SPECIFIC MATERIAL PART OF REGION AROUND THE SUSPECT AND IDENTIFIED AND THE SEND TO A COMPUTER FOR IDENTIFYING THE PRESENCE OF THE SUSPECT MATERIAL SPECIFIC REGION. LA SONDA SENSIBLE AL MATERIAL PUEDE SER UNA SONDA DIRECCIONAL TAL COMO UNA SONDA DE DISPERSION COHERENTE, O UNA SONDA NO DIRECCIONAL TAL COMO UNA SONDA DE DISPERSION COMPTON O UNA SONDA NQR. THE SENSITIVE MATERIAL MAY BE PROBE PROBE AS A directional probe COHERENT DISPERSION, OR AS PROBE nondirectional probe or probe COMPTON SCATTERING NQR.

Description

Detección de contrabando por empleo interactivo de múltiples sondas de tomografía. Contraband detection by interactive use of multiple probes tomography.

La presente invención se refiere a un sistema de inspección para detectar un material específico de interés en artículos de equipaje o paquetes, comprendiendo el sistema medios de inspección por dispersión de rayos X, de múltiples vistas, para inspeccionar un artículo examinado, y que comprende un sistema de exposición a rayos X, de múltiples vistas, para obtener múltiples vistas de rayos X del objeto examinado exponiendo el artículo examinado a una haz de radiación de rayos X desde una pluralidad de posiciones; The present invention relates to an inspection system for detecting a specific material of interest in items of baggage or packages, the media inspection system comprising by x-ray scattering, multi-view, for inspecting an examined item and comprising a system X-ray exposure, multiple views, multiple views for X-ray examined object by exposing the examined item to a beam of X-ray radiation from a plurality of positions; medios de examen sensibles a materiales para adquirir información específica del material acerca de dicho artículo examinado; means responsive examination materials to acquire material specific information about said examined item; medios para identificar una región sospechosa dentro de dicho artículo examinado, con dependencia de información espacial acerca de dicho artículo examinado producida de la salida de dichos medios de inspección por rayos X, y para controlar dichos medios de examen sensibles a materiales a fin de concentrar su funcionamiento sobre una región sospechosa identificada; means for identifying a suspicious region within said examined item, in dependence on spatial information about said examined item produced from the output of said means of X-ray inspection, and for controlling said means responsive examination materials in order to concentrate its operation on an identified suspicious region; y un procesador configurado para procesar la salida de dichos medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, a fin de identificar la presencia de dicho material específico en dicha región sospechosa. and a processor configured to process the output of said examining means X-ray sensitive materials, in order to identify the presence of said specific material in said suspicious region.

La presente invención se refiere también a un método de inspección por rayos X para detectar un material específico de interés en artículos de equipaje o paquetes, que comprende utilizar un sistema de exposición a rayos X, de múltiples vistas, para obtener múltiples vistas de rayos X del objeto examinado exponiendo el artículo examinado a una haz de radiación de rayos X desde una pluralidad de posiciones y detectar los rayos X dispersados por el objeto examinado; The present invention also relates to a method of X-ray inspection for detecting a specific material of interest in items of baggage or packages, comprising using a system of X-ray exposure, multi-view, for multi-view X-ray examined object by exposing the article to a beam examined X-ray radiation from a plurality of locations and detecting X-rays scattered by the examined object; identificar, a partir de la información, una región sospechosa dentro del artículo examinado; identifying from the information a suspicious region within the article examined; determinar información espacial relacionada con dicha región sospechosa; determining spatial information relating to said suspicious region; emplear medios de examen sensibles a materiales y usar dicha información espacial para adquirir información específica del material acerca de la región sospechosa; means responsive to employ materials examination and using said spatial information to acquire material specific information about the suspicious region; e identificar, basándose en un tratamiento por ordenador, una presencia del material específico en la región sospechosa. and identifying, based on computer processing, a presence of the specific material in the suspicious region.

En los últimos años, los sistemas de inspección de equipajes por rayos X han evolucionado desde sistemas de rayos X de una sola imagen que eran totalmente dependientes de la interpretación por parte de un operador, hasta sistemas automáticos más sofisticados que pueden reconocer automáticamente ciertos tipos de contrabando. In recent years, systems for baggage inspection X-rays have evolved from X-ray single-image systems that were completely dependent on interpretation by an operator to more sophisticated automatic systems that can automatically recognize certain types of smuggling. Los sistemas de inspección más sofisticados han empleado la radiación de rayos X de una sola energía o de dos energías transmitidas a través de, o dispersadas desde, el equipaje examinado. More sophisticated systems have employed inspection X-ray radiation from a single energy or dual energy transmitted through or scattered from the examined baggage. Algunos sistemas han usado una disposición detectora de fuente de una sola vista, otras han utilizado una disposición de dos vistas o múltiples vistas. Some systems have used a sensing source arrangement a single view, others have used an arrangement of two views or multiple views. Los sistemas de una o dos vistas exploran usualmente los equipajes cuando éstos se mueven sobre una banda transportadora, usando un haz en abanico o un haz estrecho de exploración de rayos X de una geometría fija. Systems usually one or two views scan luggage when they move on a conveyor, using a fan beam or a narrow beam X-ray scanning of a fixed geometry. Los sistemas del tipo de tomografía computarizada (TC) de múltiples vistas exploran usualmente equipajes estacionarios en una geometría fija de ángulos de exploración y procesan datos correspondientes a la absorción de rayos X para reconstruir cortes seleccionados del equipaje. Type systems computed tomography (CT) scan multiview usually stationary baggage in a fixed geometry of scan angles and process corresponding to the X-ray absorption data to reconstruct selected slices of the baggage.

En los aeropuertos, el procedimiento de inspección de equipajes está dividido en al menos tres niveles de inspección. At airports, the baggage inspection procedure is divided into at least three levels of inspection. Un sistema de "nivel 1" procesa los equipajes rápidamente, idealmente a un ritmo de hasta 1.500 bultos por hora. A system of "Level 1" processes baggage rapidly, ideally at a rate of up to 1,500 bags per hour. El siste a está situado en un primer puesto de inspección e inspecciona todos los equipajes; Immune System A is located at a first inspection station and inspects all baggage; de por sí, representa la primera línea de defensa. in itself, it represents the first line of defense. El sistema explora rápidamente los equipajes y toma automáticamente una decisión basándose en sus modos de detección y metodología particulares. The system rapidly scans baggage and automatically makes a decision based on their particular modes of detection and methodology. Esta metodología puede estar basada en el objeto, por ejemplo, densidad de la masa, número atómico efectivo (Z_{ef}), o dispersión de Compton de rayos X, o puede estar basada en técnicas tales como Resonancia Nuclear Cuadripolar (NQR = Nuclear Quadrupole Resonance), espectroscopia de masa iónica, luminiscencia química de vapor, u otras técnicas. This methodology may be based on the object, for example, mass density, effective atomic number (Z_ {ef}), or Compton scattering X-ray, or may be based on techniques such as Nuclear Resonance Quadrupole (NQR = Nuclear Quadrupole Resonance), ion mass spectroscopy, vapor chemical luminescence, or other techniques. Hasta cierto punto, tales sistemas pueden excluir rápidamente equipajes "limpios" y no sospechosos de la corriente de equipajes de pasajeros y han demostrado ser eficaces para detectar amenazas reales. To some extent, such systems can quickly exclude baggage "clean" and not suspicious of the current passenger baggage and have proved effective in detecting real threats. El número de bultos que no se pueden excluir en el nivel 1 puede variar entre el 10% y el 50% del número total de bultos. The number of packages can not be excluded at level 1 may vary between 10% and 50% of the total number of packages. La eficacia de exclusión depende de la metodología particular de detección y del umbral de amenaza usado en el sistema. Exclusion efficiency depends on the particular detection methodology and threat threshold used in the system. Los bultos rechazados (es decir, no excluidos) son enviados automáticamente a un área de "nivel 2". Rejected packages (ie, not excluded) are automatically sent to an area of ​​"Level 2". Usualmente, en el área de "nivel 2", un operador inspecciona visualmente una imagen de rayos X del bulto rechazado e intenta determinar si un objeto sospechoso dentro del bulto se puede excluir basándose en su forma evidente. Usually, in the area of ​​"Level 2", an operator visually inspect an X-ray of the rejected package and attempts to determine whether a suspicious object inside the package may be excluded based on its obvious shape. El operador busca en la imagen objetos característicos tales como armas, dispositivos temporizadores y detonadores, cables u otras características asociadas con el contrabando. The operator searches the image characteristic objects such as weapons, timing devices and detonators, cables or other characteristics associated with smuggling. En su puesto, el operador puede excluir la mayoría, pero no todos los bultos rechazados. In his position, the operator can exclude most, but not all lumps rejected. El restante equipaje, que es usualmente del 0,1% al 0,5% de la corriente inicial, se envía después a un puesto de inspección de "nivel 3" que es usualmente un medio de inspección más lento que usa una tecnología diferente. The remaining baggage, which is usually 0.1% to 0.5% of the initial stream, is then sent to an inspection station "level 3" which is usually a slower inspection means that uses more different technology.

Se han usado detectores de vapores o indicios (denominados también "sniffers" o "husmeadores") y escáneres de TC como dispositivos de "nivel 3". Detectors were used vapors or traces (also called "sniffers" or "sniffers") and CT scanners and devices "level 3". Un detector de vapores o indicios no emplea un tipo de radiación penetrante, sino que busca indicios de materiales característicos. A vapor detector or indications does not employ a type of penetrating radiation, but looks for traces of characteristic materials. Se sugirió que, mediante un cuidadoso emplazamiento dentro del bulto, una cantidad relativamente grande de explosivo podría pasar sin ser detectada por el dispositivo de indicios. It was suggested that, by careful placement within the package, a relatively large amount of explosive could pass undetected by the indication device. Por otra parte, un escáner de TC que, por supuesto, emplea radiación penetrante de rayos X, tiene usualmente éxito en identificar explosivos dentro de un bulto, especialmente cuando está presente en una cantidad grande. Moreover, a CT which of course employs penetrating X-ray radiation, usually successful in identifying explosives is within a package, especially when present in a large amount. El escáner de TC mide básicamente un solo parámetro, es decir, la densidad de la masa del objeto examinado. The CT scanner basically measures a single parameter, ie the mass density of the examined object. El escáner de TC se puede ajustar para comunicar con el dispositivo del "nivel 1" a fin de investigar un objeto específico identificado por ese dispositivo dentro del equipaje. The CT scanner can be set to communicate with the device "Level 1" to investigate a specific object identified by that device inside the luggage. Si un escáner de rayos X del "nivel 1" identifica amenazas basándose en el número atómico efectivo (Z_{ef}), la información adicional de la densidad procedente del escáner de TC puede reducir significativamente la tasa de falsas alarmas, pero no puede eliminarla completamente. If a scanner X "level 1" rays identifies threats on the basis of effective atomic number (Z_ {ef}), the additional density information from the CT scanner can significantly reduce the false alarm rate, but can not remove completely. Sin embargo, los escáneres de TC pueden ser muy caros considerando la poca utilización en un puesto de "nivel 3". However, CT scanners can be very expensive considering the low utilization in a position of "level 3".

Como media, los dispositivos del "nivel 3" excluyen menos de la mitad de los objetos inspeccionados, haciendo que entre el 0,05% y el 0,25% de los equipajes sean enviados al "nivel 4". On average, devices "level 3" excluding less than half of the inspected objects, making between 0.05% and 0.25% of the baggage to be sent to "level 4". El "nivel 4" está definido como reconciliación con el propietario. "Level 4" is defined as reconciliation with the owner. La reconciliación es a menudo difícil, si no imposible. Reconciliation is often difficult, if not impossible. Cuando la reconciliación no es posible, se confisca el equipaje, lo cual origina una queja de un pasajero disgustado. When reconciliation is not possible, the luggage was confiscated, which causes a complaint from a disgruntled passenger.

Aunque el sistema anterior puede funcionar con éxito, todavía hay la necesidad de medios de inspección por rayos X de coste relativamente bajo, que puedan detectar fiablemente varios explosivos (u otro contrabando) que tengan formas diferentes y que estén situados en cualquier parte del equipaje examinado. While the above system can operate successfully, there is still the need for means of X-ray inspection of relatively low cost, that can reliably detect various explosives (or other contraband) having different shapes and are located anywhere in the examined baggage . Tal dispositivo debe tener una alta confianza y una baja tasa de falsas alarmas. Such a device must have a high confidence and low false alarm rate.

El documento WO-9613839 describe un sistema de inspección que emplea dos etapas de detección y está comprendido en el estado de la técnica en virtud del Artículo 54(3) EPC. WO-9613839 discloses an inspection system employing two sensing stages and is comprised in the state of the art under Article 54 (3) EPC.

El documento EP-A-0459648 describe un sistema de inspección que emplea dos etapas, una de las cuales emplea rayos X. EP-A-0459648 discloses an inspection system employing two stages, one of which employs X-rays

Un sistema de inspección según la presente invención está caracterizado porque el sistema de exposición a rayos X está configurado para producir un haz de rayos X en abanico; An inspection system according to the invention is characterized in that the system X-ray exposure is configured to produce a beam of X rays in a fan; los medios de examen sensibles a materiales son unos medios de examen por dispersión de rayos X, sensibles a materiales; means responsive to the test materials are examined by means of X-ray scattering, sensitive materials; y el sistema de inspección comprende también un brazo que se puede situar en posición mecánicamente, en el cual están montados los medios de inspección por dispersión de rayos X, de múltiples vistas, y los medios de examen por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, pudiendo ser hecho girar dicho brazo alrededor del artículo examinado para obtener dichas múltiples vistas de rayos X y la concentración de los medios de examen por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, sobre una región sospechosa identificada. and the inspection system also comprises an arm positionable in position mechanically, in which the inspection means are mounted by X-ray scattering, multiple views, and the examination means X-ray scattering material-sensitive , being rotatable around said arm the examined item for obtaining said multiple X-ray views and concentration of the examination means X-ray scattering, sensitive materials on a suspicious region identified.

Preferiblemente, dicho brazo es un brazo en forma de C construido para girar alrededor del artículo examinado a fin de situar la fuente de rayos X de los medios de inspección por rayos X en dicha pluralidad de posiciones. Preferably, said arm is a C-shaped arm constructed to rotate about the examined item so as to position the X-ray source means of x-ray inspection in said plurality of positions.

Preferiblemente, los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, comprenden unos medios direccionales de examen por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales. Preferably the examination means sensitive X-ray materials, comprise means for examining directional coherent scatter X-ray sensitive materials.

Preferiblemente, los medios de inspección por rayos X comprenden un sistema de detección que incluye una formación de detectores de transmisión de rayos X situados para detectar la radiación de rayos X transmitidos a través del artículo examinado. Preferably, the inspection means comprise an X-ray detection system including an array of transmission detectors positioned to detect X-ray radiation X-rays transmitted through the examined item.

Preferiblemente, los medios de inspección por rayos X comprenden un sistema de detección que incluye una formación de detectores de rayos X retrodispersados, situados para detectar la radiación de rayos X retrodispersada desde el artículo examinado. Preferably, the inspection means comprise an X-ray detection system including an array of backscattered x-ray detectors, positioned to detect X-ray radiation backscattered from the item examined.

Preferiblemente, los medios de inspección por rayos X comprenden un sistema de detección que incluye una formación de detectores de rayos X dispersados hacia delante, situados para detectar la radiación de rayos X dispersada hacia delante desde el artículo examinado. Preferably, the inspection means comprise an X-ray detection system including an array of X-ray detectors scattered forward, positioned to detect X-ray radiation scattered forward from the examined item.

Preferiblemente, el sistema de exposición a rayos X, de múltiples vistas, está construido para generar el haz en abanico de radiación de rayos X con dos energías sustancialmente diferentes. Preferably the system X-ray exposure, multi-view, is constructed to generate the fan beam of X-ray radiation with two substantially different energies.

Preferiblemente, los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluyen una fuente de rayos X construida para emitir un haz estrecho colimado de rayos X que irradian la región sospechosa, y un detector de rayos X, sensible a la posición, construido para detectar los rayos X dispersados desde la región sospechosa. Preferably the examination means sensitive X-ray materials, include X-ray source constructed to emit a narrow collimated beam of X-rays that irradiate the suspicious region, and an X-ray detector, position sensitive built for detecting X-rays scattered from the suspicious region. Más preferiblemente, los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluyen también un filtro de fuente construido y dispuesto para filtrar el haz estrecho colimado. More preferably, the means for examining X-ray sensitive materials, also include a source filter constructed and arranged to filter the collimated narrow beam. Aún más preferiblemente, los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluyen también un filtro detector situado enfrente del detector de rayos X, sensible a la posición, construido para filtrar los rayos X dispersados desde la región sospechosa. Even more preferably, the examination means X-ray sensitive materials also include, located opposite the X-ray detector, position sensitive, constructed to filter X-rays scattered from the suspicious region detector filter.

Preferiblemente, el sistema comprende también una interfaz gráfica y una pantalla de presentación construida para ofrecer información espacial del artículo examinado. Preferably, the system also comprises a graphical interface and a display constructed to provide spatial information in the article under consideration.

Preferiblemente, el sistema comprende también una interfaz de usuario construida y dispuesta para permitir la comunicación interactiva con el sistema de inspección. Preferably, the system also comprises a user interface constructed and arranged to enable interactive communication with the inspection system. Más preferiblemente, los medios para identificar una región sospechosa están configurados para determinar una geometría de inspección para una región sospechosa identificada por ellos. More preferably, the means for identifying a suspicious region is configured to determine a geometry for a suspicious inspection region identified by them. Aún más preferiblemente, la interfaz de usuario está construida también para recibir una entrada de un usuario, que proporciona información acerca de dicha geometría de inspección. Even more preferably, the user interface is also built to receive input from a user, providing information about said inspection geometry.

Un método según la presente invención está caracterizado porque la primera etapa de utilización emplea un haz de rayos X en abanico, la segunda etapa de utilización emplea unos medios de examen por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, y el sistema de exposición a rayos X, de múltiples vistas, y los medios de examen por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, están montados en el mismo brazo que se puede situar en posición mecánicamente y que pueden girar por ello alrededor del artículo examinado para la primera y segunda etapas de utilización, a fin de obtener dichas múltiples vistas de rayos X y concentrar el funcionamiento de los medios de examen por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, sobre una región sospechosa identificada. A method according to the invention is characterized in that the first stage of use employs an X-ray beam in a fan, the second stage of use employs means test dispersive X-ray sensitive materials, and the exposure system rays X, multiview, and the examination means X-ray scattering, sensitive materials are mounted on the same arm positionable in mechanically position and can thereby rotate about the examined item for the first and second stages use, in order to obtain said multiple X-ray views and concentrate operation of the examination means X-ray scattering, sensitive materials on a suspicious region identified.

Preferiblemente, dicho brazo es un brazo giratorio en forma de C, y la etapa de exponer el artículo examinado con el sistema de exposición a rayos X, sensible a materiales, incluye girar el brazo en forma de C para situar dicha fuente de rayos X en dicha pluralidad de posiciones. Preferably, said arm is a rotating arm C-shaped, and the step of exposing the examined item with the system X-ray exposure sensitive material includes rotating the arm C-shaped to position said X-ray source in said plurality of positions.

Preferiblemente, la etapa de emplear los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, comprende utilizar medios direccionales de examen por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales. Preferably, the step of employing the means for examining X-ray sensitive material, comprising using directional examination means coherent scatter X-ray sensitive materials.

La etapa de detectar la radiación de rayos X puede incluir detectar la radiación de rayos X transmitidos a través del artículo examinado, detectar la radiación de rayos X retrodispersada desde el artículo examinado, o detectar la radiación de rayos X dispersada hacia delante desde el objeto examinado. The step of detecting X-ray radiation may include detecting X-ray radiation transmitted through the examined item, detecting X-ray radiation backscattered from the examined item or detecting X-ray radiation scattered forward from the examined object .

Preferiblemente, la etapa de exposición comprende generar dos energías sustancialmente diferentes de haz de radiación de rayos X. Preferably, the exposing step comprises generating two substantially different energies of radiation beam X-ray

Preferiblemente, la etapa de determinación incluye determinar una geometría de inspección para la región sospechosa. Preferably, the determining step includes determining an inspection geometry for the suspicious region. Más preferiblemente, el método incluye también la etapa de presentar la información espacial. More preferably, the method also includes the step of presenting spatial information. Aún más preferiblemente, la etapa de determinación incluye efectuar al menos una reconstrucción parcial de objetos en la región sospechosa, basándose en la pluralidad de posiciones. Even more preferably, the determining step includes performing at least a partial reconstruction of objects in the suspicious region based on the plurality of positions.

Preferiblemente, la etapa de emplear los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluye utilizar medios direccionales de examen por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales, y usar la información espacial para irradiar la región sospechosa con un haz enfocado de rayos X y detectar los rayos X dispersados coherentemente para adquirir datos de rayos X específicos del material. Preferably, the step of employing the means for examining X-ray sensitive materials, include use directional examination means coherent scatter X-ray sensitive materials, and use the spatial information to irradiate the suspicious region with a focused beam of X-rays and detecting coherently scattered x-rays to acquire specific data from X-ray material. Más preferiblemente, la etapa de irradiación incluye emitir un haz estrecho colimado de rayos X hacia la región sospechosa, o la etapa de detección incluye emplear un detector de rayos X, sensible a la posición, o un detector de rayos X, sensible a la energía. More preferably, the irradiating step includes emitting a narrow collimated beam of X rays toward the suspicious region or the detecting step includes employing a X-ray detector, position sensitive, or an X-ray detector, sensitive to energy . Aún más preferiblemente, la etapa de irradiación incluye también filtrar el haz estrecho colimado y/o la etapa de detección incluye también filtrar los rayos X dispersados desde la región sospechosa. Even more preferably, the irradiation step also includes filtering the collimated narrow beam and / or the detection step also includes filtering X-rays scattered from the suspicious region. Todavía más preferiblemente, la utilización de la información espacial incluye usar la información espacial para situar los medios direccionales de examen por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales, para irradiar la región sospechosa en una dirección seleccionada. Still more preferably, using the spatial information includes using the spatial information to position the directional examination means coherent scatter X-ray sensitive materials, to irradiate the suspicious region in a selected direction.

Ahora se describirán realizaciones de la invención, a modo de ejemplo, con referencia a los dibujos adjuntos, en los cuales: Embodiments of the invention will be described, by way of example, with reference to the accompanying drawings, in which:

la Figura 1 es una vista esquemática desde arriba, de un sistema de inspección de equipajes que emplea dos medios de inspección por rayos X; Figure 1 is a schematic top view of a baggage inspection system employing two means X-ray inspection;

la Figura 2 muestra una vista lateral esquemática, de unos medios de inspección por rayos X empleados en el sistema de la Figura 1; Figure 2 shows a schematic side view of a means of X-ray inspection system used in Figure 1;

la Figura 3 muestra una vista en corte transversal de los medios de inspección de la Figura 2; Figure 3 shows a cross-sectional view of the inspection means of Figure 2;

las Figuras 3A, 3B y 3C son vistas en corte transversal de los medios de inspección de la Figura 2 en diferentes ángulos de funcionamiento; 3A, 3B and 3C are cross-sectional views of the inspection means of Figure 2 in different operating angles;

las Figuras 4, 4A y 4B son diagramas de bloques del dispositivo de la Figura 2; Figures 4, 4A and 4B are block diagrams of the device of Figure 2;

la Figura 5 muestra esquemáticamente una sonda por dispersión coherente de rayos X empleada en el dispositivo de la Figura 2; Figure 5 schematically shows a probe coherent scatter X-ray used in the device of Figure 2; y Y

la Figura 6 es un diagrama de flujo del funcionamiento del dispositivo de la Figura 2. Figure 6 is a flowchart of the operation of the device of Figure 2.

Con referencia a la Figura 1, un sistema 10 de inspección por rayos X incluye un dispositivo 12 de inspección por rayos X de nivel uno, tal como el "VIVID Rapid Detection System" (disponible en Vivid Technologies, Inc., Waltham, MA), que examina artículos de equipajes que son transportados sobre una banda transportadora 16. Cuando el dispositivo 12 examina un artículo de equipaje 14A y evalúa el artículo como libre de regiones que podrían contener contrabando, el artículo es dirigido automáticamente por un empujador 18 de equipaje para seguir adelante sobre la banda transportadora 20. Si el dispositivo 12 detecta la posible presencia de contrabando, el empujador 18 dirige el equipaje 14B a la banda transportadora 22 que transporta el equipaje a un dispositivo 30 de inspección por rayos X, tal como una versión modificada de un escáner QDR 4500 (disponible en Hologic, Inc., Waltham, MA). Referring to Figure 1, a system 10 X-ray inspection device 12 includes an inspection level one X-ray, such as "VIVID Rapid Detection System" (available from Vivid Technologies, Inc., Waltham, MA) , which examines items of baggage being transported on a conveyor 16. When the device 12 examines an item of baggage 14A and evaluates the item as free of regions that could contain contraband, the item is automatically directed by a pusher 18 of luggage moving forward on the conveyor 20. If device 12 detects possible presence of contraband the, pusher 18 directs baggage 14B to the conveyor belt 22 carrying the luggage to a device 30 X-ray inspection, such as a modified a QDR 4500 (available from Hologic, Inc., Waltham, MA) scanner. Un operador situado en un puesto alejado 32 puede supervisar todo el proceso de inspección, evaluar los datos detectados y procesados por el dispositivo de inspección 12, y dirigir la operación del dispositivo de inspección 30. An operator at a remote station 32 can monitor the entire inspection process, evaluate data detected and processed by inspection device 12 and direct operation of inspection device 30.

Con referencia a las Figuras 2 y 3, el dispositivo 30 de inspección por rayos X, contenido en el blindaje 28 (Figura 1), incluye varias sondas sensibles a materiales. Referring to Figures 2 and 3, the device 30 X-ray inspection, contained in the shield 28 (Figure 1), it includes several material sensitive probes. Estas sondas están situadas en un brazo 40 en forma de C, que utiliza los subsistesas de desplazamiento 42 y 44 para moverse linealmente o girar con respecto a una plataforma móvil 34 y un bastidor 35. Una primera sonda utiliza radiación de rayos X policromos para explorar el equipaje 14B desde varios ángulos a fin de localizar regiones u objetos sospechosos. These probes are located on an arm 40 as C, using the subsistesas displacement 42 and 44 to move linearly or rotate relative to a moving platform 34 and 35. Frame A first probe utilizes X-ray radiation polychromatic to explore 14B luggage from various angles in order to locate suspicious objects or regions. Basándose en datos de transmisión de rayos X, de múltiples vistas, la primera sonda crea imágenes del artículo que rodean las regiones u objetos sospechosos, e identifica también la mejor geometría de examen para una sonda de la segunda etapa. Based on data from X-ray transmission, multi-view, the first probe creates images of article surrounding the suspicious objects or regions, and also identifies the best examination geometry for a second stage probe. La mejor geometría de examen incluye una orientación óptima de transmisión o reflexión (tal como la mejor vista de transmisión, posición y orientación de una región seleccionada con respecto a un detector de dispersión), una orientación donde un parámetro seleccionado el material tenga un valor mínimo o máximo, o una posición de la región examinada con respecto al detector empleado, que obtenga la mayor relación señal/ruido. The best geometry examination includes an optimal orientation transmission or reflection (as the best view of transmission, position and orientation of a selected region relative to a scatter detector), an orientation where a selected parameter material has a minimum value or maximum, or a position of the region examined with respect to the detector used, obtaining the highest signal / noise ratio.

El sistema usa varias sondas diferentes con propiedades direccionales y no direccionales en la segunda etapa de examen. The system uses several different probes with directional and non-directional properties in the second stage of examination. Una sonda direccional preferida emplea la técnica de difracción de rayos X usando la geometría proporcionada por la primera sonda. A preferred directional probe employs the technique of X-ray diffraction using the geometry provided by the first probe. Otras sondas de la segunda etapa utilizan espectroscopia Raman, espectroscopia de infrarrojos, resonancia nuclear cuadripolar (NQR), o creación de imágenes por microondas, como se describirá más adelante. Other probes of the second stage using Raman spectroscopy, infrared spectroscopy, nuclear quadrupole resonance (NQR), or microwave imaging as will be described later.

La primera sonda crea una imagen o al menos identifica las regiones u objetos sospechosos en el artículo examinado y proporciona la mejor geometría de examen para la segunda sonda direccional o no direccional. The first probe creates an image or at least identifies the suspicious objects or regions in the examined item and provides the best examination geometry for the second directional or nondirectional probe. Para ahorrar tiempo y aumentar la velocidad de inspección, la primera sonda no tiene que reconstruir un conjunto de cortes seleccionados, proporcionar una imagen del objeto sospechoso, ni determinar su masa o densidad usada para reconocimiento del objeto. To save time and increase the speed of inspection, the first probe does not have to reconstruct a set of selected slices, provide an image of the suspicious object, or determine its mass or density used for object recognition. El reconocimiento del objeto se puede lograr solamente por una cualquiera de las sondas secundarias. Object recognition can be achieved only by any one of the secondary probes.

La primera sonda de rayos X polícromos de múltiples vistas incluye un subsistema 46 de fuente de rayos X, un subsistema 50 de detectores de rayos X, y los correspondientes circuitos electrónicos mostrados esquemáticamente en la Figura 4A. The first probe polychromatic X-ray includes a multi-view subsystem 46. X-ray source, a subsystem 50 X-ray detectors and associated electronic circuitry shown schematically in Figure 4A. El subsistema 46 de fuente de rayos X tiene un tubo de rayos X, un colimador y un controlador 48 de rayos X que incluye un transformador de filamento del tubo de rayos X, un circuito rectificador de alto voltaje y circuitos detectores que supervisan el alto voltaje aplicado al tubo de rayos X y la corriente del haz. The subsystem 46 X-ray source has an X-ray tube, a collimator and a controller 48 X-ray includes a transformer filament X-ray tube, a rectifying circuit and high voltage detecting circuits that monitor the high voltage applied to the X-ray tube and the beam current. El controlador de rayos X, que puede funcionar tanto en modo de impulsos como en modo continuo, activa la fuente de rayos X (por ejemplo, un tubo de rayos X de tungsteno) que puede producir un haz de rayos X en bandas de alta y baja energía. The controller X-ray, which can operate in either pulsed or continuous mode, triggers the X-ray source (for example, a tube X tungsten rays) can produce a beam of X-ray bands high and low energy. (En el documento US-A-5319547 se describe un controlador de rayos X adecuado). (In US-A-5,319,547 controller suitable X-rays described). La radiación de rayos X emitida es colimada por el colimador para crear un haz en abanico de una radiación 47 de rayos X. The emitted X-ray radiation is collimated by the collimator to create a fan beam of radiation X-ray 47

El subsistema 50 de detectores de rayos X incluye 72 cristales centelleantes de CdWo_{4}, acoplados ópticamente cada uno de ellos a un fotodiodo. The subsystem 50 X-ray detectors includes 72 scintillating crystals CdWo_ {4}, optically coupled to each photodiode. Cada fotodiodo detecta luz emitida por el correspondiente cristal y convierte la luz en corriente, la cual es amplificada en un convertidor de corriente a voltaje. Each photodiode detects light emitted the corresponding crystal and converts the light into current, which is amplified by a current to voltage converter. La salida del amplificador se aplica a un integrador a través de conmutadores analógicos. The amplifier output is applied to an integrator through analog switches. Los conmutadores analógicos, que funcionan en paralelo, son activados durante el impulso de rayos X y desactivados durante el tiempo de retención del integrador para impedir ruido de integración en los datos. Analog switches, operating in parallel, are activated during the pulse X-rays and off during the integrator hold time to prevent integrating noise in the data. La señal de control que activa y desactiva estos conmutadores es suministrada desde una placa 114 de integrador/multiplexor. The control signal which switches these switches is supplied from a plate 114 of integrator / multiplexor.

La placa 114 de integrador/multiplexor envía las señales analógicas a una placa 112 de convertidor analógico/digital (A/D) para la conversión a un formato digital. The plate 114 of integrator / multiplexor sends analog to a plate 112 analog / digital converter (A / D) for converting signals into digital form. Las señales analógicas de la placa 114 de integrador/multi-plexor se aplican a amplificadores diferenciales de la placa 112 de convertidor A/D en cuatro grupos de hasta 64 canales. The analog signals of the plate integrator 114 / multi-plexer differential amplifiers are applied to the plate 112 A / D converter in four groups of up to 64 channels. Las salidas de los amplificadores diferenciales se combinan en un multiplexor final que consta de cuatro conmutadores analógicos. The outputs of the differential amplifiers are combined in a final multiplexor consisting of four analog switches. Las señales multiplexadas pasan a través de un amplificador de ganancia programable y un amplificador sumador antes de ser aplicadas al convertidor A/D. The multiplexed signals pass through a programmable gain amplifier and summing amplifier before being applied to A / D converter. El convertidor A/D convierte la señal analógica en datos paralelos de 16 bits para ser procesados por un procesador de señales digitales, por ejemplo, Motorola 56000. El procesador de señales digitales genera todas las señales de control necesarias para el conjunto de la formación de detectores. The A / D converter converts the analog signal into parallel 16-bit data to be processed by a digital signal processor, for example, Motorola 56000. The digital signal processor generates all necessary control signals for the set of training detectors. Este procesador también proporciona un enlace de datos en serie de alta velocidad para el ordenador 70. This processor also provides a serial data link high speed computer 70.

Con referencia también a la Figura 4, el dispositivo de inspección 30 incluye también un ordenador 70 que controla y gobierna el equipo físico. Referring also to Figure 4, the inspection device 30 also includes a computer 70 controls and governs the physical computer. El ordenador 70 está conectado a una placa de distribución 80 que proporciona las interconexiones entre una consola 33 de operador, la interfaz 110 del brazo en forma de C (Figuras 4A, 4B o 4C), el controlador 84 del panel de control y los subsistemas de desplazamiento 42 y 44. El controlador 84 del panel de control adapta un panel de control 86 a la consola 33 del operador. The computer 70 is connected to a distribution plate 80 which provides interconnections between a console 33 for operator interface 110 of arm C-shaped (Figures 4A, 4B or 4C), the controller 84 of the control panel and subsystems scroll 42 and 44. the controller 84 adjusts the control panel a control panel 86 to the console 33 by the operator. El panel de control 86 proporciona conmutadores que incluyen indicadores visuales para mover el brazo 40 en forma de C y la plataforma 34. El subsistema 42 de desplazamiento lineal incluye motores paso a paso TX y TY y un subsistema giratorio 44 incluye el motor 98 de giro del brazo en forma de C y un motor 102 del carro del brazo en forma de C. El excitador 88 del motor paso a paso TX controla el movimiento de la plataforma 34 usando un motor 90 de accionamiento basándose en órdenes procedentes del ordenador 70. Un codificador de posición asociado con el motor 90 proporciona la supervisión de posición. The control panel 86 provides switches including visual indicators for moving the arm 40 as C and platform 34. Linear displacement subsystem 42 includes TX stepper motors and a rotational subsystem TY and 44 includes the motor 98 of rotation the C-shaped arm and carriage motor 102 shaped arm C. the exciter 88 TX stepper motor controls movement of the platform 34 using a drive motor 90 based on commands from the computer 70. a position encoder associated with motor 90 provides position monitoring. El motor paso a paso TY 94 y el excitador 92 asociado proporcionan el movimiento de la plataforma 34 en la dirección del movimiento del equipaje y su posición es rastreada por un codificador de posición asociado. The stepper motor 94 and TY 92 associated exciter provide the movement of the platform 34 in the direction of movement of luggage and its position is tracked by an associated position encoder. Un excitador 96 del motor paso a paso AR controla el giro del brazo 40 en forma de C, que es movido por un motor 98 de giro del brazo 40 en forma de C, y su posición es controlada por un codificador de posición asociado. A driver 96 of the stepping motor AR controls the rotation of arm 40 as C, which is driven by a motor 98 of rotation of the arm 40 as C, and its position is controlled by a position encoder associated. Un motor 102 de carro de brazo 40 en forma de C mueve linealmente el brazo 40 en forma de C, y un codificador de posición asociado proporciona la supervisión de posición. A carriage motor 102 of arm 40 as the arm moves linearly C 40 as C, and an associated position encoder provides position monitoring. El movimiento del brazo 40 en forma de C a la izquierda o a la derecha es controlado por un excitador 100 de motor paso a paso AY. The movement of the arm 40 as C left or right is controlled by an exciter 100 AY stepper motor. Un motor de plataforma eleva o desciende la plataforma 34, y el correspondiente codificador de posición proporciona la supervisión de posición. A platform motor raises or lowers the platform 34, and the corresponding position encoder provides position monitoring. El movimiento del motor 106 es controlado por un controlador 104 de excitación del motor DZ. The movement of the motor 106 is controlled by a controller 104 DZ motor excitation.

El dispositivo 30 está interconectado con un ordenador de vía de comunicación ISA para controlar el movimiento de la mesa y del brazo en forma de C, y la generación de rayos X, efectuar todos los cálculos necesarios y gobernar la información del equipaje y de la base de datos. The device 30 is interfaced with a computer communication path ISA to control the movement of the table and arm C-shaped, and the generation of X-rays, make all necessary calculations and govern information luggage and base of data. Este sistema usa un ordenador con un procesador Pentium, de 16 Mb de memoria y una tarjeta de vídeo súper VGA. This system uses a computer with a Pentium processor, 16MB of memory and a super VGA video card.

Con referencia a la Figura 5, la segunda sonda, que es una sonda 140 por dispersión coherente (Rayleigh) de rayos X, también está situada en el brazo 40 en forma de C. La sonda 140 por dispersión coherente de rayos X incluye una fuente 142 de rayos X policromos que emite una radiación de rayos X colimada por un colimador 144 de haz estrecho. Referring to Figure 5, the second probe, a probe 140 coherent scatter (Rayleigh) X-ray, is also located in the arm 40 as probe 140 C. The coherent scatter X-ray includes a source 142 polychromatic X-ray radiation emitting a collimated X-ray collimator 144 by a narrow beam. La fuente 142 de rayos X comparte el tubo de rayos X de tungsteno con la fuente 142 de rayos X de la primera sonda. The X-ray source 142 shares the X-ray tube tungsten source 142 X-ray of the first probe. (Alternativamente, la fuente 142 de rayos X usa un tubo de rayos X separado). (Alternatively, X-ray source 142 uses a separate X-ray tube). El colimador 144 está situado en, y controlado por, un motor de apertura y sensor 118 (Figura 4A). The collimator 144 is located in and controlled by a motor and sensor opening 118 (Figure 4A). El haz estrecho 146 es filtrado por un filtro 148 de erbio o un filtro Ross 150 de tulio antes que irradie el objeto examinado (155). The narrow beam 146 is filtered by a filter 148 erbium or thulium Ross filter 150 before radiating to the examined object (155). El haz 152 de rayos X filtrados es dispersado por el objeto examinado y la radiación característica (158) es detectada por un subsistema 160 de detección de rayos X por dispersión coherente. The beam X-ray 152 is scattered filtered by the examined object and the characteristic radiation (158) is detected by a subsystem 160 of detection X-ray coherent scatter. El subsistema de detección 160 incluye un colimador 162 que limita el ángulo de visión del detector de rayos X. El detector de rayos X incluye un tubo fotomultiplicador PMT 166 (PMT = Photo Multiplier Tube) sensible a la posición, que detecta la ubicación espacial de la radiación óptica emitida desde un cristal centelleante 164 de NaI. Detection subsystem 160 includes a collimator 162 limiting the view angle of the X-ray detector the X-ray detector includes a position sensitive PMT 166 photomultiplier tube (PMT = Photo Multiplier Tube), which detects spatial location of the optical radiation emitted from a scintillating crystal NaI 164. La geometría de detección se seleccionó para evitar sustancialmente la interacción de otros objetos ocultadores (154a, 154b) con el haz de la sonda. The detection geometry was selected to substantially avoid interaction of other concealers objects (154a, 154b) with the probe beam.

Esta sonda usa una técnica que utiliza un filtro Ross, llamado también filtro equilibrado, y fue descrita por BD Cullity en "Elements of X-ray Diffraction" Addison-Wesley Publishing Company, Inc., 1978. Puesto que los filtros (148 y 150) están hechos de dos sustancias diferentes que difieren en el número atómico en una unidad, tienen la misma atenuación relativa en cada longitud de onda, excepto para la estrecha banda de longitudes de onda entre los bordes K de las dos sustancias. This probe uses a technique utilizing a Ross filter, also called balanced filter, and was described by BD Cullity in "Elements of X-ray Diffraction" Addison-Wesley Publishing Company, Inc., 1978. Since the filters (148 and 150 ) they are made of two different substances differing in atomic number by one, have the same relative attenuation at every wavelength except for the narrow band of wavelengths between the K edges of the two substances. Cuando la figura de difracción de una sustancia se mide primero con un filtro y después con el otro filtro, la diferencia entre las dos figuras de difracción medidas produce la figura de difracción correspondiente a un haz casi monocromático con una energía en el borde K. Ventajosamente, esta medida no requiere la determinación de la energía fotónica de los rayos X dispersados coherentemente. When the diffraction pattern from a substance is measured first with one filter and then with the other filter, the difference between the two diffraction patterns produces measures figure corresponding diffraction almost monochromatic beam with an energy in K. Advantageously edge this measure does not require the determination of the photon energy of the X-rays scattered coherently. Los filtros empleados tienen respectivamente bordes K justamente debajo (57,43 Kev) y justamente encima (59,32 Kev) de la K_{\alpha} característica del tungsteno (58,87 Kev). The filters used have K edges respectively just below (57.43 Kev) and just above (59.32 Kev) of K {\ alpha} characteristic of tungsten (58.87 Kev). Por tanto, sus regiones de paso banda coinciden precisamente con la banda de emisión más fuerte del tungsteno. Therefore, regions passband coincide precisely with the strongest emission band of tungsten. El equilibrio detallado de atenuación entre los dos filtros se consigue mediante un equilibrio físico del grosor relativo de los dos filtros o mediante la detección por programa de ordenador. The detailed balancing of attenuation between the two filters is accomplished by a physical balancing of the relative thickness of the two filters or by the detection by computer program.

En otra realización, la sonda 140 por dispersión coherente de rayos X mide con exactitud el espectro de energía de los fotones dispersados, en varias posiciones diferentes. In another embodiment, the probe 140 for coherent X-ray scattering spectrum accurately measures energy of photons scattered in several different positions. La sonda mide todo el espectro de energía o solamente energías seleccionadas correspondientes a materiales seleccionados. The probe measures the entire energy spectrum or only selected energies corresponding to selected materials. Utiliza diferentes tipos de medidas por dispersión coherente de rayos X descritas en la técnica anterior (véase (1) Strecker, H., Harding, G., Bomsdorf, H., Kanzenbach, J., Linde, R., Martens, G. "Detection of explosives in airport baggage using coherent X-ray scatter", SPIE vol. 2092 Substance Detection Systems, páginas 399-410, 1993; (2) Luggar, RD, Gilboy, WB, MacCuaig, N., "Industrial potential of Rayleigh scattered X-rays for identification of low-Z materials", SPIE vol. 2092, Substance Detection Systems, páginas 378-386, 1993; (3) Speller, RD, Horrock, JA, Lacey, R., "X-ray scattering signatures for material identification", SPIE vol. 2092, Substance Detection Systems, páginas 366-377, 1993; y (4) Luggar, RD, Horrocks, JA, Speller, RD, Royle, GJ, Lacey, R., "Optimization of a low angle X-ray scatter system for explosive detection". Different types of measurements used by coherent X-ray scattering described in the prior art (see (1) Strecker, H., Harding, G., Bomsdorf, H., Kanzenbach, J., Linde, R., Martens, G. "Detection of explosives in airport baggage using coherent X-ray scatter", SPIE vol 2092 Substance Detection Systems, pages 399-410, 1993;. (2) Luggar, RD, Gilboy, WB, MacCuaig, N., "Industrial potential of Rayleigh scattered X-rays for identification of low-Z materials ", SPIE vol 2092, Substance Detection Systems, pages 378-386, 1993;. (3) Speller, RD, Horrock, JA, Lacey, R.," X-ray scattering signatures for material identification "SPIE vol 2092 Substance Detection Systems, pages 366-377. 1993; and (4) Luggar, RD, Horrocks, JA, Speller, RD, Royle, GJ, Lacey, R.," Optimization of a low angle X-ray scatter system for explosive detection ".

La Figura 4B muestra esquemáticamente una interfaz tanto para una sonda 140 por dispersión coherente (Rayleigh) como para una sonda 275 de dispersión de Compton. Figure 4B shows diagrammatically an interface for both a probe 140 coherent scatter (Rayleigh) a probe 275 to Compton scattering. Un subsistema conmutable de filtro/colimador incluye un motor y sensor 262 de filtro/colimador controlado por un excitador 260 de filtro/colimador. A switchable subsystem filter / collimator motor and sensor includes a filter 262 / collimator driver 260 controlled by a filter / collimator. El subsistema de filtro/colimador sitúa selectivamente la filtración de borde K y un sistema de colimación laminar en el haz 146 de rayos X, para permitir la detección óptima de un material seleccionado. The subsystem filter / collimator selectively positioned filtration edge K and collimation system laminar beam 146 of x-rays, to enable optimum detection of a selected material. La radiación dispersada es detectada por el subsistema de detección 160 que incluye un detector sensible a la posición (es decir, el cristal centelleante 164 y el PMT 166 de la Figura 5) con los correspondientes circuitos electrónicos 270 y un discriminador 264 de posición/altura. The scattered radiation is detected by detection subsystem 160 that includes position sensitive detector (i.e., scintillating crystal 164 and PMT 166 of Figure 5) with the corresponding electronics 270 and a discriminator 264 of position / height . El subsistema 160 de detección Rayleigh es capaz de discriminar la posición (268) y la energía (266) de cada evento interactivo. The detection subsystem 160 is capable of discriminating Rayleigh position (268) and energy (266) of each interactive event. Los datos de posición y energía son enviados a un ordenador a través de la interfaz 110 del brazo en forma de C. The position and energy data are sent to a computer via the interface 110 of the C-shaped arm

La sonda 275 de dispersión de Compton incluye una formación de detectores PMT y los correspondientes circuitos electrónicos (272) montados debajo de la mesa 34. La formación por dispersión, construida como se describió en la solicitud de patente anteriormente mencionada, es movida a una posición deseada mediante el motor 280 controlado por el excitador 282. La formación de dispersión explora programablemente a lo largo del eje axial del artículo examinado para reconstruir un mapa de dos dimensiones de la radiación de rayos X retrodispersados. The probe 275 Compton scattering includes an array of PMT detectors and the corresponding electronics (272) mounted under the table 34. The formation dispersion, constructed as described in the application above mentioned patent, it is moved to a position desired by the driver controlled engine 280 282. the formation of dispersion programmably scans along the axial axis of the examined item to reconstruct a two-dimensional map of backscattered radiation X-rays. La radiación de rayos X dispersados hacia delante es detectada por una formación adicional por dispersión hacia delante, o se ajusta el subsistema de detección Rayleigh para detectar la dispersión de Compton. The X-ray radiation scattered forward is detected by additional training by forward scattering, or the Rayleigh detection subsystem is set to detect Compton scattering.

La Figura 6 muestra esquemáticamente el funcionamiento del dispositivo de inspección 30. Primero, la sonda de rayos X polícromos de múltiples vistas adquiere datos de imagen de proyección (datos H y L de absorción y dispersión de rayos X, y datos transformados B e I) de una manera similar a como se efectúa mediante un escáner (200) de rayos X de "nivel 1". Figure 6 shows schematically the operation of inspection device 30. First, the probe polychromatic X-ray data acquired multiview projection image (H and L data of absorption and scattering of X-rays, and transformed data B and I) a similar way is effected by a scanner (200) X-ray "level 1". Empleando el algoritmo de detección descrito en la solicitud mencionada anteriormente, la sonda de rayos X polícromos detecta objetos dentro de la ventana Z_{ef} que podrían contener un material amenazador (202) y también procesa el algoritmo laminar (204) para identificar láminas de un material amenazador. Using the detection algorithm described in the aforementioned application, the probe X-ray polychromatic detects objects within the Z_ window {ef} that may contain a threatening material (202) and also processes web (204) to identify sheets of the algorithm a threatening material. Después, la sonda identifica las coordenadas de los objetos individuales y efectúa un reconocimiento sobre cada objeto (206). Then the probe identifies the coordinates of the individual objects and performs a recognition on each object (206). Los objetos que son identificados como libres de cualquier amenaza (o contrabando) son excluidos, y los restantes objetos se examinan otra vez dependiendo de su forma (208). Objects that are identified as free of any threat (or contraband) are excluded, and the remaining objects are examined again depending on their shape (208).

La sonda también examina los objetos voluminosos que fueron rechazados (es decir, no excluidos) tomando vistas radiales (210) seleccionadas. The probe also examines the bulk objects that were rejected (i.e., not excluded) taking radial views (210) selected. El algoritmo forma una imagen de reconstrucción y localiza los objetos en la imagen. The algorithm forms a reconstruction image and locates the objects in the image. Después, el algoritmo mide la densidad de estos objetos (212). Then the algorithm measures the density of these objects (212). La decisión de amenaza se efectúa automáticamente tomando como base un umbral de densidad seleccionado (214). The threat decision is automatically made based on a selected density threshold (214). Los objetos fuera de este umbral son excluidos (216) y los otros (218) necesitan un proceso ulterior por una segunda sonda, tal como la sonda por dispersión coherente (236). Objects outside of this threshold are excluded (216) and others (218) need further processing by a second probe, such as probe coherent scatter (236). Este algoritmo de volumen es más rápido que un algoritmo normal de tomografía computarizada (TC), ya que la sonda toma solamente un número limitado de vistas radiales de objetos que no pudieron ser excluidos por el examen del "nivel 1" (etapas 200 a 208). This algorithm volume is faster than a normal algorithm computed tomography (CT), since the probe takes only a limited number of radial views of objects that could not be excluded by examining the "level 1" (steps 200-208 ). Los objetos excluidos ya no se examinan más. No longer excluded objects are discussed.

La sonda también examina los objetos laminares identificados tomando vistas laterales de alta resolución de estos objetos (220). The probe also examines the identified sheet objects by taking high resolution side views of those objects (220). Usualmente, los objetos laminares se encuentran en las paredes de una maleta o bolsa examinada. Usually, the sheet objects are found on the walls of a suitcase or bag examined. Entonces el algoritmo aplica una rutina de amenaza seleccionada (230) para excluir objetos libres de explosivos (u otro contrabando investigado). Then the algorithm applies a selected threat routine (230) to exclude objects free of explosives (or other contraband investigated). Alternativamente, la sonda de rayos X puede emplear aquí solamente la técnica de dispersión de Compton para examinar las paredes de una maleta examinada. Alternatively, the probe X-ray can be used here only the Compton scattering technique to examine the walls of an examined suitcase.

Como se describió anteriormente, la segunda sonda emplea dispersión coherente (Rayleigh) de rayos X para inspeccionar otra vez los objetos que no pudieron ser excluidos (236). As described above, the second probe employs coherent scattering (Rayleigh) X-ray to inspect again the objects that could not be excluded (236). La sonda por dispersión coherente recibe coordenadas de objetos sospechosos y otros objetos ocultadores, e identifica la mejor geometría de examen. The probe coherent scatter receives coordinates of suspicious objects and other objects concealers, and identifies the best geometry test. La sonda acumula datos de rayos X en diferentes posiciones y de diferentes características de energía del material irradiado. The probe accumulates X-ray data at different positions and different energy characteristics of the irradiated material. La sonda efectúa una decisión de amenaza comparando los datos adquiridos con una base de datos de explosivos (u otro contrabando) (238). The probe makes a threat decision by comparing the acquired data to a database of explosives (or other contraband) (238). Si hubiera un objeto que no se pudiera excluir, también se podría emplear otra sonda tal como una sonda Raman, una sonda de infrarrojos, una sonda de microondas o una sonda de resonancia nuclear cuadripolar NQR (240). If there were an object that could not be excluded, one could also use another probe such as a Raman probe infrared, microwave probe or probe NQR resonance quadrupole (240) probe.

Alternativamente, el sistema emplea una sonda de rayos X que utiliza un algoritmo que enfoca interactivamente la inspección dependiendo de la información recogida de vistas previas y la topología del equipaje. Alternatively, the system employs an X-ray probe using an algorithm which interactively focuses inspection dependent on information gleaned from previous views and topology luggage. El algoritmo implica "observar selectivamente alrededor" el equipaje bajo inspección para medir ciertos parámetros del material, tales como Z_{ef}con mucha más exactitud. The algorithm involves "selectively look around" luggage under inspection to measure certain material parameters such as {ef} Z_ much more accurately. Para conseguir mayor exactitud, el sistema ajusta selectivamente el ángulo del haz para evitar confusiones detectadas en vistas previas, e integra los datos durante periodos de tiempo más largos para minimizar interferencias estadísticas. For greater accuracy, the system selectively adjusts the beam angle to avoid confusions detected in previews, and integrates data for longer periods of time to minimize interference statistics. El sistema "observa alrededor" procesando la imagen de proyección para seleccionar planos de corte que tengan la menor cantidad de confusión, medida por un algoritmo de "confusión" que es sensible a variaciones rápidas de las propiedades del material sobre un área pequeña. The system "observed around" processing the projection image to select slice planes that have the least amount of confusion, as measured by an algorithm of "confusion" that is sensitive to rapid changes in material properties over a small area. Estos planos de corte son explorados después para encontrar una par de coordenadas del haz estrecho situadas próximamente, que vean diferentes cantidades de materiales amenazadores. These slice planes are scanned after finding a pair of coordinates proximately located narrow beam, which see different amounts of materials threatening. Las coordenadas del haz estrecho están en proximidad cercana y relativamente definidas y, por tanto, se pueden usar para una medida de mayor precisión de Z_{ef} del objeto seleccionado. The coordinates of the narrow beam are in close proximity and relatively defined and therefore can be used for a more accurate measure Z_} {ef the selected object.

El sistema inspecciona ciertas áreas sospechosas con mucha mayor resolución y también coloca selectivamente filtros de materiales específicos enfrente de la fuente o detectores. The system inspects certain suspicious areas with much higher resolution and also selectively filters specific materials placed opposite the source or detector. En este tipo de "búsqueda dirigida", los resultados de exploraciones previas indican la siguiente área y el modo de inspección. In this type of "targeted search", the results of previous scans indicate the next area and mode of inspection. Por ejemplo, en una rutina, si una exploración de proyección detecta que una parte de la cubierta parece anormalmente gruesa con respecto al resto del bulto examinado (o comparada con un conjunto almacenado de modelos de bultos), la máquina dirige la atención específicamente a esta área. For example, in a routine, if a scan projection detects that a part of the cover looks abnormally thick with respect to the rest of the package examined (or compared to a stored set of package designs), the machine draws attention specifically to this area. La geometría de la exploración subsiguiente se escoge para maximizar la atenuación en corte transversal; The geometry of the subsequent scan is chosen to maximize the cross-sectional attenuation; esto mejora considerablemente la medida de Z_{ef} y de la masa y densidad estimadas. this greatly improves measurement Z_ {ef} and mass and density estimated. Después se calcula la densidad midiendo la densidad zonal en la vista en corte transversal dividida por la longitud de la parte engrosada en donde los datos de longitud se miden oblicuamente mediante una exploración perpendicular. After the density is calculated by measuring the areal density in the cross-sectional view divided by the length of the thickened portion wherein the length data are measured obliquely by a perpendicular scan. Concentrando las vistas de rayos X sobre el objeto apuntado, en oposición a las vistas angulares distribuidas uniformemente alrededor de toda la región de inspección, el algoritmo es más exacto o más rápido que una exploración general del tipo de tomografía computarizada que efectúe una reconstrucción estándar del corte transversal. Concentrating views of X rays on the targeted, as opposed to angular views distributed object uniformly around the entire inspection region, the algorithm is more accurate or faster than a general scanning type CT that perform a standard reconstruction cross-section.

Otro algoritmo busca interactivamente modalidades específicas basadas en forma, densidad o Z_{ef}. Another algorithm interactively look for specific modalities based on shape, density or Z_ {ef}. El algoritmo dirige una secuencia de exploraciones de propiedades del material con resoluciones y disposiciones espaciales seleccionadas apropiadamente para permitir una inspección flexible y dirigida, sensible a las propiedades del material. The algorithm directs a sequence of material property scans with appropriately selected resolutions and to allow flexible and directed sensitive material properties inspection spatial arrangements. Cada exploración adicional añade información y modifica parámetros para exploraciones subsiguientes a fin de efectuar una convergencia rápida hacia una decisión sobre un objeto particular. Each additional scan adds information and modifies parameters for subsequent to effect rapid convergence towards a decision on a particular object scans. Este proceso se efectúa iterativamente. This process is performed iteratively. El algoritmo también puede dividir información espacial de un bulto más grande en varias regiones y, después, procesar iterativamente las regiones en paralelo. The algorithm can also divide spatial information of a larger package in several regions and then iteratively process the regions in parallel.

El modo totalmente automático descrito anteriormente, denominado "ojos de rayos X inteligentes", es una analogía a un operador humano con ojos de rayos X que puede "ver alrededor" del bulto para observar "anormalidades" y ver y entender cada objeto amenazador indicado. The fully automatic mode described above, called "eye ray X intelligent", is an analogy to a human operator with x-ray eyes who can 'look around "the package to observe" abnormalities' and see and understand each threatening object indicated. Alternativamente, el modo automático es mejorado proporcionando entradas desde un operador en diferentes etapas del examen. Alternatively, the automatic mode is enhanced by providing input from an operator at different stages of the examination. Aquí, el sistema de inspección incluye una interfaz gráfica y una interfaz de usuario. Here, the inspection system includes a graphical interface and a user interface. En diferentes etapas, el operador recibe una o más imágenes que también pueden incluir una superposición de colores que indiquen propiedades de las regiones u objetos localizados. At different stages, the operator receives one or more images that may also include a color overlay indicating properties of the located objects or regions. Después, el operador es incitado a proporcionar una selección óptima de geometrías de inspección para la subsiguiente exploración. Then the operator is prompted to provide optimal selection of inspection geometries for the subsequent scan. De esta manera, el algoritmo utiliza la experiencia de una persona de una manera interactiva. Thus, the algorithm uses the experience of a person in an interactive way.

Otra realización del sistema utiliza una sola sonda de rayos X de dos energías y una interfaz de datos para la máquina de inspección del "nivel 1". Another embodiment of the system uses a single probe X-ray energies and two interface for inspection machine "level 1". Esto permite al sistema usar los datos del dispositivo del "nivel 1" para dirigir el proceso de inspección, acortando, por ello, el tiempo para ejecutar el proceso de inspección del "nivel 3". This allows the system to use the device data "level 1" to direct the inspection process, shortening therefore the time to run the inspection process "Level 3".

Claims (31)

1. Un sistema de inspección para detectar un material específico de interés en artículos de equipaje o paquetes, comprendiendo el sistema: 1. An inspection system for detecting a specific material of interest in items of baggage or packages, the system comprising:
medios de inspección (46, 50) por dispersión de rayos X, de múltiples vistas, para inspeccionar un artículo examinado (14B), y que comprende un sistema de exposición a rayos X, de múltiples vistas, para obtener múltiples vistas de rayos X del objeto examinado exponiendo el artículo examinado a un haz de radiación de rayos X desde una pluralidad de posiciones; inspection means (46, 50) by X-ray scattering, multi-view, for inspecting an examined item (14B) and comprising a system of X-ray exposure, multi-view, for multi-view X-ray of examined object by exposing the examined item to a beam of X-ray radiation from a plurality of positions;
medios de examen (140) sensibles a materiales para adquirir información específica del material sobre dicho artículo examinado (14B); examination means (140) responsive to material for acquiring specific information about said examined item material (14B);
medios (70) para identificar una región sospechosa dentro de dicho artículo examinado (14B), con dependencia de información espacial acerca de dicho artículo examinado (14) producida de la salida de dichos medios (46, 50) de inspección por rayos X, y para controlar dichos medios de examen (140) sensibles a materiales para concentrar su funcionamiento sobre una región sospechosa identificada (155); means (70) for identifying a suspicious region within said examined item (14B), in dependence on spatial information about said examined item (14) produced from the output of said means (46, 50) of X-ray inspection, and to control said examining means (140) sensitive materials to concentrate its operation on an identified suspicious region (155); y Y
un procesador (70) configurado para procesar la salida de dichos medios (140) de examen por rayos X, sensibles a materiales, a fin de identificar la presencia de dicho material específico en dicha región sospechosa (155); a processor (70) configured to process the output of said means (140) X-ray examination, sensitive material, in order to identify the presence of said specific material in said suspicious region (155);
caracterizado porque characterized in that
el sistema de exposición a rayos X está configurado para producir un haz de rayos X en abanico; the system X-ray exposure is configured to produce a beam of X rays in a fan;
los medios de examen (140) sensibles a materiales son unos medios de examen (140) por dispersión de rayos X, sensibles a materiales; examination means (140) sensitive materials are examination means (140) dispersive X-ray sensitive material; y Y
el sistema de inspección comprende también un brazo que se puede situar en posición mecánicamente, en el cual están montados los medios de inspección (46, 50) por dispersión de rayos X, de múltiples vistas, y los medios de examen (140) por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, pudiendo ser hecho girar dicho brazo (40) alrededor del artículo examinado para obtener dichas múltiples vistas de rayos X y la concentración de los medios de examen (140) por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, sobre una región sospechosa identificada. The inspection system also comprises an arm positionable in position mechanically, in which the inspection means (46, 50) are mounted by X-ray scattering, multiple views, and the examination means (140) for dispersion X-ray sensitive materials, being rotatable said arm (40) about the examined item for obtaining said multiple views of X rays and the concentration of the examination means (140) dispersive X-ray sensitive materials, a suspicious region identified.
2. Un sistema según la reivindicación 1, en el que dicho brazo (40) es un brazo en forma de C construido para girar alrededor del artículo examinado a fin de situar la fuente (46) de rayos X, de los medios de inspección por rayos X, en dicha pluralidad de posiciones. 2. A system according to claim 1, wherein said arm (40) is a shaped arm C constructed to rotate about the examined item so as to position the source (46) X-ray of the inspection means X rays in said plurality of positions.
3. Un sistema según las reivindicaciones 1 ó 2, en el que los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, comprenden medios direccionales de examen por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales. 3. A system according to claims 1 or 2, wherein the means for examining X-ray sensitive materials comprise directional means for examining coherent scatter X-ray sensitive materials.
4. Un sistema según las reivindicaciones 1, 2 ó 3, en el que los medios (46, 50) de inspección por rayos X comprenden un sistema de detección (50) que incluye una formación de detectores de transmisión de rayos X situados para detectar la radiación de rayos X transmitida a través del artículo examinado (14B). 4. A system according to claims 1, 2 or 3, wherein the means (46, 50) of X-ray inspection comprise a detection system (50) including an array of transmission detectors positioned to detect X-rays X-ray radiation transmitted through the examined item (14B).
5. Un sistema según las reivindicaciones 1, 2 ó 3, en el que los medios (46, 50) de inspección por rayos X comprenden un sistema de detección (50) que incluye una formación de detectores de rayos X retrodispersados, situados para detectar la radiación de rayos X retrodispersada desde el artículo examinado (14B). 5. A system according to claims 1, 2 or 3, wherein the means (46, 50) of X-ray inspection comprise a detection system (50) including an array of backscattered x-ray detectors, positioned to detect X-ray radiation backscattered from the examined item (14B).
6. Un sistema según las reivindicaciones 1, 2 ó 3, en el que los medios (46, 50) de inspección por rayos X comprenden un sistema de detección (50) que incluye una formación de detectores de rayos X dispersados hacia delante, situados para detectar la radiación de rayos X dispersada hacia delante desde el artículo examinado (14B). 6. A system according to claims 1, 2 or 3, wherein the means (46, 50) of X-ray inspection comprise a detection system (50) including an array of X-ray detectors scattered forwardly located to detect X-ray radiation scattered forward from the examined item (14B).
7. Un sistema según la reivindicación 1, en el que el sistema (46) de exposición a rayos X, de múltiples vistas, está construido para generar el haz en abanico de radiación de rayos X con dos energías sustancialmente diferentes. 7. A system according to claim 1, wherein the system (46) of X-ray exposure, multi-view, is constructed to generate the fan beam of X-ray radiation with two substantially different energies.
8. Un sistema según cualquiera de las reivindicaciones precedentes, en el que los medios (140) de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluyen: 8. A system according to any of the preceding claims, wherein the means (140) X-ray examination, sensitive materials, include:
una fuente (142) de rayos X construida para emitir un haz estrecho colimado de rayos X que irradian la región sospechosa (155); a source (142) X-ray constructed to emit a narrow collimated beam of X-rays that irradiate the suspicious region (155); y Y
un detector (166) de rayos X, sensible a la posición, construido para detectar los rayos X dispersados desde la región sospechosa (155). a detector (166) X-ray sensitive position, constructed to detect X-rays scattered from the suspicious area (155).
9. Un sistema según la reivindicación 8, en el que los medios (140) de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluyen también un filtro (148, 150) de fuente, construido y dispuesto para filtrar el haz estrecho colimado. 9. A system according to claim 8, wherein the means (140) X-ray examination, sensitive materials, also include a filter (148, 150) source constructed and arranged to filter the collimated narrow beam.
10. Un sistema según la reivindicación 9, en el que los medios (140) de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluyen también un filtro detector situado enfrente del detector de rayos X, sensible a la posición, construido para filtrar los rayos X dispersados desde la región sospechosa (155). 10. A system according to claim 9, wherein the means (140) X-ray examination, sensitive materials also include, located opposite the X-ray detector, position sensitive detector filter, constructed to filter the rays X scattered from the suspicious region (155).
11. Un sistema según cualquiera de las reivindicaciones precedentes, que comprende también una interfaz gráfica y una pantalla de presentación (72) construida para ofrecer información espacial del artículo examinado (14B). 11. A system according to any of the preceding claims, further comprising a graphical interface and a display (72) constructed to provide spatial information the examined item (14B).
12. Un sistema según cualquiera de las reivindicaciones precedentes, que comprende también una interfaz de usuario construida y dispuesta para permitir la comunicación interactiva con el sistema de inspección. 12. A system according to any of the preceding claims, further comprising a user interface constructed and arranged to enable interactive communication with the inspection system.
13. Un sistema según la reivindicación 12, en el que los medios (70) para identificar una región sospechosa están configurados para determinar una geometría de inspección para una región sospechosa (155) identificada por ellos. 13. A system according to claim 12, wherein the means (70) for identifying a suspicious region is configured to determine a geometry inspection for a suspicious region (155) identified by them.
14. Un sistema según la reivindicación 13, en el que la interfaz de usuario está construida también para recibir una entrada de un usuario, que proporciona información acerca de dicha geometría de inspección. 14. A system according to claim 13, wherein the user interface is also built to receive input from a user, providing information about said inspection geometry.
15. Un método de inspección por rayos X para detectar un material específico de interés en artículos de equipaje o paquetes (14B), que comprende: 15. A method of X-ray inspection for detecting a specific material of interest in items of baggage or packages (14B), comprising:
utilizar un sistema (50) de exposición a rayos X, de múltiples vistas, para obtener múltiples vistas de rayos X del objeto examinado exponiendo el artículo examinado a un haz de radiación de rayos X desde una pluralidad de posiciones y detectar los rayos X dispersados por el objeto examinado; using a system (50) of X-ray exposure, multi-view, for multi-view X of the examined object rays exposing the examined item to a beam of X-ray radiation from a plurality of locations and detecting X-rays scattered by the object examined;
identificar, a partir de la información, una región sospechosa (155) dentro del artículo examinado (14B); identifying from the information a suspicious region (155) inside the examined item (14B);
determinar información espacial relacionada con dicha región sospechosa; determining spatial information relating to said suspicious region;
utilizar medios de examen (140) sensibles a materiales, y usar dicha información espacial para adquirir información específica del material sobre la región sospechosa (155); use examination means (140) sensitive materials, and using said spatial information to acquire material specific information about the suspicious region (155); e and
identificar, basándose en un tratamiento por ordenador, una presencia del material específico en la región sospechosa; identifying, based on computer processing, a presence of the specific material in the suspicious region;
caracterizado porque characterized in that
la primera etapa de utilización emplea un haz de rayos X en abanico; the first stage of use employs a fan beam X-rays;
la segunda etapa de utilización emplea unos medios de examen (140) por dispersión de rayos X, sensibles a materiales; the second step employs use examination means (140) dispersive X-ray sensitive material; y Y
el sistema (46) de exposición a rayos X, de múltiples vistas, y los medios de examen (140) por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, están montados en el mismo brazo (40) que se puede situar en posición mecánicamente y que puede ser hecho girar por ello alrededor del artículo examinado para la primera y segunda etapas de utilización, a fin de obtener dichas múltiples vistas de rayos X y concentrar el funcionamiento de los medios de examen (140) por dispersión de rayos X, sensibles a materiales, sobre una región sospechosa identificada. the system (46) of X-ray exposure, multiple views, and the examination means (140) dispersive X-ray sensitive materials, are mounted on the same arm (40) which can be placed in position mechanically and which can be rotated thereby about the examined item for the first and second stages of use, in order to obtain said multiple views of X rays and concentrate operation of the means for examining (140) dispersive X-ray sensitive materials on an identified suspicious region.
16. Un método según la reivindicación 15, en el que dicho brazo (40) es un brazo giratorio en forma de C, y la etapa de exponer el artículo examinado con el sistema (46, 50) de exposición a rayos X, sensible a materiales, incluye hacer girar el brazo en forma de C para situar dicha fuente de rayos X en dicha pluralidad de posiciones. 16. A method according to claim 15, wherein said arm (40) is a sensitive rotating arm C-shaped, and the step of exposing the examined item with the system (46, 50) of exposure to X-rays, materials, includes rotating the C-shaped arm to position said X-ray source at said plurality of positions.
17. Un método según las reivindicaciones 15 ó 16, en el que la etapa de utilizar los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, comprende emplear medios direccionales de examen por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales. 17. A method according to claims 15 or 16, wherein the step of using the means of X-ray examination, sensitive materials, comprising employing directional examination means coherent scatter X-ray sensitive materials.
18. Un método según las reivindicaciones 15, 16 ó 17, en el que la etapa de detectar la radiación de rayos X incluye detectar la radiación de rayos X transmitida a través del artículo examinado (14B). 18. A method according to claims 15, 16 or 17, wherein the step of detecting X-ray radiation includes detecting X-ray radiation transmitted through the examined item (14B).
19. Un método según las reivindicaciones 15, 16 ó 17, en el que la etapa de detectar la radiación de rayos X incluye detectar la radiación de rayos X retrodispersados desde el artículo examinado (14B). 19. A method according to claims 15, 16 or 17, wherein the step of detecting X-ray radiation includes detecting X-ray radiation back scattered from the examined item (14B).
20. Un método según las reivindicaciones 15, 16 ó 17, en el que la etapa de detectar la radiación de rayos X incluye detectar la radiación de rayos X dispersados hacia delante desde el objeto examinado (14B). 20. A method according to claims 15, 16 or 17, wherein the step of detecting X-ray radiation includes detecting X-ray radiation scattered forward from the examined object (14B).
21. Un método según las reivindicaciones 15, 16 ó 17, en el que la etapa de exposición comprende generar dos energías sustancialmente diferentes del haz de radiación de rayos X. 21. A method according to claims 15, 16 or 17, wherein the exposing step comprises generating two substantially different energies of the radiation beam X-ray
22. Un método según las reivindicaciones 15, 16 ó 18, en el que la etapa de determinación incluye determinar una geometría de inspección para la región sospechosa (155). 22. A method according to claims 15, 16 or 18, wherein the determining step includes determining an inspection geometry for the suspicious region (155).
23. Un método según la reivindicación 22, que incluye también la etapa de presentar la información espacial. 23. A method according to claim 22, which also includes the step of presenting spatial information.
24. Un método según la reivindicación 23, en el que la etapa de determinación incluye efectuar al menos una reconstrucción parcial de objetos en la región sospechosa (155), basándose en la pluralidad de posiciones. 24. A method according to claim 23, wherein the determining step includes performing at least a partial reconstruction of objects in the suspicious region (155), based on the plurality of positions.
25. Un método según una cualquiera de las reivindicaciones 15 a 24, en el que la etapa de emplear los medios de examen por rayos X, sensibles a materiales, incluye utilizar medios direccionales de examen (140) por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales, y usar la información espacial para irradiar la región sospechosa (155) con un haz enfocado de rayos X (146) y detectar los rayos X dispersados coherentemente para adquirir datos de rayos X específicos del material. 25. A method according to any one of claims 15 to 24, wherein the step of employing the means for examining X-ray sensitive materials, include use directional examination means (140) coherent scatter X-ray sensitive materials, and use the spatial information to irradiate the suspicious region (155) with a focused beam of X-rays (146) and detecting coherently scattered x-rays to acquire specific data from X-ray material.
26. Un método según la reivindicación 25, en el que la etapa de irradiación incluye emitir un haz estrecho colimado de rayos X (146) hacia la región sospechosa (155). 26. A method according to claim 25, wherein the irradiating step includes emitting a narrow beam collimated X-ray (146) towards the suspicious region (155).
27. Un método según la reivindicación 25, en el que la etapa de detección incluye emplear un detector (166) de rayos X, sensible a la posición. 27. A method according to claim 25, wherein the detecting step includes using a detector (166) X-ray position sensitive.
28. Un método según la reivindicación 25, en el que la etapa de detección incluye emplear un detector (160) de rayos X, sensible a la energía. 28. A method according to claim 25, wherein the detecting step includes using a detector (160) X-ray energy sensitive.
29. Un método según la reivindicación 25, en el que la etapa de irradiación incluye también filtrar el haz estrecho colimado. 29. A method according to claim 25, wherein the irradiation step also includes filtering the collimated narrow beam.
30. Un método según la reivindicación 25, en el que la etapa de detección incluye también filtrar los rayos X dispersados desde la región sospechosa (155). 30. A method according to claim 25, wherein the detecting step also includes filtering X-rays scattered from the suspicious region (155).
31. Un método según la reivindicación 25, en el que, la utilización de la información espacial incluye usar la información espacial para situar los medios direccionales de examen por dispersión coherente de rayos X, sensibles a materiales, para irradiar la región sospechosa en una dirección seleccionada. 31. A method according to claim 25, wherein, using the spatial information includes using the spatial information to position the directional examination means coherent scatter X-ray sensitive materials, to irradiate the suspicious region in a direction selected.
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