BESCHREIBUNG
Fertigungseinrichtung zum additiven Fertigen von Bauteilen aus einem Pulvermaterial, Verfahren zum Verändern eines Strahlprofils eines Energiestrahls, und Verwendung von wenigstens einem akustooptischen Deflektor
Die Erfindung betrifft eine Fertigungseinrichtung zum additiven Fertigen von Bauteilen aus einem Pulvermaterial, ein Verfahren zum Verändern eines Strahlprofils eines Energiestrahls, und eine Verwendung von wenigstens einem akustooptischen Deflektor.
Beim additiven Herstellen von Bauteilen aus einem Pulvermaterial wird typischerweise ein Energiestrahl an vorbestimmte Bestrahlungspositionen eines Arbeitsbereichs - insbesondere entlang eines vorbestimmten Bestrahlungspfads - verlagert, um in dem Arbeitsbereich angeordnetes Pulvermaterial lokal zu verfestigen. Dies wird insbesondere schichtweise in aufeinanderfolgend in dem Arbeitsbereich angeordneten Pulvermaterialschichten wiederholt, um schließlich ein dreidimensionales Bauteil aus verfestigtem Pulvermaterial zu erhalten. Um eine Produktivität zu erhöhen und/oder Materialeigenschaften des entstehenden Bauteils lokal verschieden auszugestalten ist es wünschenswert, verschiedene Bereiche innerhalb des zu fertigenden Bauteils, insbesondere verschiedene Bereiche innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht in dem Arbeitsbereich, mit verschiedenen Strahlprofilen des Energiestrahls zu beaufschlagen. Eine Erzeugung geeigneter, angepasster Strahlprofile mittels konventioneller Strahlformung, insbesondere durch refraktive oder interferometrische optische Elemente bei einem optischen Energiestrahl, ist oft aufwendig und nicht flexibel einsetzbar. Insbesondere erweist es sich als schwierig oder sogar kaum möglich, während des einzelnen Herstellungsvorgangs und ganz besonders innerhalb einer Pulvermaterialschicht zwischen verschiedenen Strahlprofilen umzuschalten. Darüber hinaus ermöglichen konventionelle Methoden der Strahlformung nur die Darstellung einer begrenzten Auswahl an Strahlprofilen, sodass sie auch in ihrer Anwendbarkeit begrenzt sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Fertigungseinrichtung zum additiven Fertigen von Bauteilen aus einem Pulvermaterial, ein Verfahren zum Verändern eines Strahlprofils eines
Energiestrahls auf einem Arbeitsbereich einer solchen Fertigungseinrichtung, und eine Verwendung von wenigstens einem akustoopti sehen Deflektor zu schaffen, wobei die genannten Nachteile zumindest vermindert, vorzugsweise vermieden sind.
Die Aufgabe wird gelöst, indem die vorliegende technische Lehre bereitgestellt wird, insbesondere die Lehre der unabhängigen Ansprüche sowie der in den abhängigen Ansprüchen und der Beschreibung offenbarten Ausführungsformen.
Die Aufgabe wird insbesondere gelöst, indem eine Fertigungseinrichtung zum additiven Fertigen von Bauteilen aus einem Pulvermaterial geschaffen wird, die eine Strahlerzeugungseinrichtung aufweist, die eingerichtet ist zum Erzeugen eines Energiestrahls. Die Fertigungseinrichtung weist außerdem eine Scannereinrichtung auf, die eingerichtet ist, um den Energiestrahl innerhalb eines Arbeitsbereichs an eine Mehrzahl von Bestrahlungspositionen zu verlagern, um mittels des Energiestrahls ein Bauteil aus dem in dem Arbeitsbereich angeordneten Pulvermaterial herzustellen. Außerdem weist die Fertigungseinrichtung eine Ablenkeinrichtung auf, die eingerichtet ist, um den Energiestrahl an einer Bestrahlungsposition der Mehrzahl von Bestrahlungspositionen innerhalb eines Strahlbereichs an eine Mehrzahl von Strahlpositionen zu verlagern. Weiterhin weist die Fertigungseinrichtung eine Steuereinrichtung auf, die mit der Ablenkeinrichtung wirkverbunden und eingerichtet ist, um die Ablenkeinrichtung anzusteuem, und um ein Strahlprofil des Strahlbereichs während der Herstellung eines Bauteils zu verändern, indem die Ansteuerung der Ablenkeinrichtung verändert wird.
Auf diese Weise kann insbesondere ein verwendetes Strahlprofil während der Herstellung eines Bauteils, insbesondere während der Bearbeitung einer selben Pulvermaterialschicht einfach und schnell vorgegeben und verändert werden, ohne dass es hierfür besonderer, insbesondere für das Erzeugen des Strahlprofils spezifischer Einrichtungen bedarf. Insbesondere ist es einfach und schnell möglich, zwischen verschiedenen Strahlprofilen zu wechseln. Die Fertigungseinrichtung ist somit sehr flexibel in der Lage, angepasst an die jeweils lokal herrschenden Anforderungen und/oder Bedingungen, insbesondere die jeweils herzustellenden Bereiche des Bauteils, ein geeignetes Strahlprofil zu erzeugen. Sie weist somit nicht nur eine hohe Produktivität auf, sondern ermöglicht auch eine lokal variierende Einstellung der Materialeigenschaften des entstehenden Bauteils. Insbesondere dadurch ist es möglich, die Qualität der mit der hier vorgeschlagenen Fertigungseinrichtung hergestellten Bauteile, insbesondere durch Auswahl besonders geeigneter Strahlprofile, zu steigern. Da auf eigens an die Strahlprofile angepasste, insbesondere refraktive oder statische interferometrische optische Elemente verzichtet werden kann, ist die
Fertigungseinrichtung trotz ihrer hohen flexiblen Einsetzbarkeit kostengünstig ausgestaltet, ganz besonders unter dem Aspekt, dass es keiner verschiedenartigen Einrichtungen zur Erzeugung verschiedener Strahlprofile bedarf, die zusätzliche Teilekosten verursachen, und zwischen denen umständlich und zeitraubend gewechselt werden müsste. Die hier vorgeschlagene Fertigungseinrichtung erlaubt auch durch geeignete Ansteuerung der Scannereinrichtung einerseits und der Ablenkeinrichtung andererseits einen Wechsel zwischen einer möglichst effizienten, insbesondere auch schnellen Bauteilfertigung und einer qualitativ besonders hochwertigen Fertigung, insbesondere auch mit lokal variierender Einstellung der Materialeigenschaften für das entstehende Bauteil, beispielsweise einer höheren Härte im Bereich der Bauteiloberfläche als im Inneren des Bauteils.
Insbesondere erlauben die Scannereinrichtung einerseits und die Ablenkeinrichtung andererseits eine Separation der für die Herstellung des entstehenden Bauteils relevanten Zeit- und Längenskalen. Während die Scannereinrichtung eingerichtet ist, den Energiestrahl auf einer im Vergleich zu der Ablenkeinrichtung größeren Zeitskala entlang der Mehrzahl von Bestrahlungspositionen, insbesondere entlang eines vorbestimmten Bestrahlungspfads, quasi global über den gesamten Arbeitsbereich zu verlagern, ist die Ablenkeinrichtung eingerichtet, um den Energiestrahl auf einer relativ zu der Zeitskala der Scannereinrichtung kürzeren Zeitskala quasi lokal an einer durch die Scannereinrichtung vorgegebenen, aufgrund der Zeitskalenseparation quasi festgehaltenen Bestrahlungsposition an die Mehrzahl von Strahlpositionen innerhalb des Strahlbereichs zu verlagern. Aufgrund der Zeitskalenseparation entsteht quasi so an jeder Bestrahlungsposition der Mehrzahl von Bestrahlungspositionen quasistatisch ein bestimmtes Strahlprofil als geometrische Form und als Intensitätsprofil des Strahlbereichs. Durch die Scannereinrichtung wird wiederum insbesondere das so erzeugte Strahlprofil entlang der Mehrzahl von Bestrahlungspositionen, insbesondere entlang des Bestrahlungspfads, verlagert. Durch Veränderung der Ansteuerung der Ablenkeinrichtung kann nun vorteilhaft das Strahlprofil des Strahlbereichs, insbesondere also die Form des Strahlbereichs und/oder das Intensitätsprofil in dem Strahlbereich, quasi beliebig verändert werden, bei Bedarf sogar von Bestrahlungsposition zu Bestrahlungsposition. In der Regel werden allerdings eine Mehrzahl benachbarter Bestrahlungspositionen, insbesondere jeweils ein zusammenhängender Abschnitt des Bestrahlungspfads, mit einem gleichen Strahlprofil überstrichen. Verschiedene Abschnitte des Bestrahlungspfads werden aber vorzugsweise mit verschiedenen Strahlprofilen üb er strichen.
Das erzeugte Strahlprofil ist insbesondere auch quasistatisch mit Blick auf den Schmelzprozess im Pulvermaterial, wobei die Zeitskala für die Ablenkung des Energiestrahls durch die Ablenkeinrichtung deutlich kürzer ist als die charakteristische Wechselwirkungszeit des Energiestrahls mit dem Pulvermaterial. Das dynamisch generierte Strahlprofil wechselwirkt so über die Zeit gemittelt mit dem Pulvermaterial wie ein statisch erzeugtes Profil.
Unter einem additiven oder generativen Herstellen eines Bauteils wird insbesondere ein schichtweises Aufbauen eines Bauteils aus Pulvermaterial verstanden, insbesondere ein Pulverbett-basiertes Verfahren zum Herstellen eines Bauteils in einem Pulverbett, insbesondere ein Fertigungsverfahren, das ausgewählt ist aus einer Gruppe, bestehend aus einem selektiven Lasersintem, einem Laser-Metall-Fusionieren (Laser Metal Fusion - LMF), einem direkten Metall-Laser-Schmelzen (Direct Metal Laser Melting - DMLM), einem Laser Net Shaping Manufacturing (LNSM), und einem Laser Engineered Net Shaping (LENS). Die Fertigungseinrichtung ist demnach insbesondere eingerichtet zur Durchführung von wenigstens einem der zuvor genannten additiven oder generativen Fertigungsverfahren.
Unter einem Energiestrahl wird allgemein gerichtete Strahlung verstanden, die Energie transportieren kann. Hierbei kann es sich allgemein um Teilchenstrahlung oder Wellenstrahlung handeln. Insbesondere propagiert der Energiestrahl entlang einer Propagationsrichtung durch den physikalischen Raum und transportiert dabei Energie entlang seiner Propagationsrichtung. Insbesondere ist es mittels des Energiestrahls möglich, Energie lokal in dem Arbeitsbereich zu deponieren.
Der Energiestrahl ist in bevorzugter Ausgestaltung ein optischer Arbeitsstrahl. Unter einem optischen Arbeitsstrahl ist insbesondere gerichtete elektromagnetische Strahlung, kontinuierlich oder gepulst, zu verstehen, die im Hinblick auf ihre Wellenlänge oder einen Wellenlängenbereich geeignet ist zum additiven oder generativen Fertigen eines Bauteils aus Pulvermaterial, insbesondere zum Sintern oder Schmelzen des Pulvermaterials. Insbesondere wird unter einem optischen Arbeitsstrahl ein Laserstrahl verstanden, der kontinuierlich oder gepulst erzeugt sein kann. Der optische Arbeitsstrahl weist bevorzugt eine Wellenlänge oder einen Wellenlängenbereich im sichtbaren elektromagnetischen Spektrum oder im infraroten elektromagnetischen Spektrum, oder im Überlappungsbereich zwischen dem infraroten Bereich und dem sichtbaren Bereich des elektromagnetischen Spektrums auf.
Unter einem Arbeitsbereich wird insbesondere ein Bereich, insbesondere eine Ebene oder Fläche, verstanden, in dem das Pulvermaterial angeordnet ist, und der lokal mit dem Energiestrahl beaufschlagt wird, um das Pulvermaterial lokal zu verfestigen. Insbesondere wird das Pulvermaterial in dem Arbeitsbereich sequentiell schichtweise angeordnet und mit dem Energiestrahl lokal beaufschlagt, um - Schicht für Schicht - ein Bauteil herzustellen.
Unter einer Bestrahlungsposition wird insbesondere ein Ort innerhalb des Arbeitsbereichs verstanden, an dem lokal mittels des Energiestrahls Energie in den Arbeitsbereich, insbesondere in das dort angeordnete Pulvermaterial, deponiert wird. Die Scannereinrichtung ist bevorzugt eingerichtet, um den Energiestrahl innerhalb des Arbeitsbereichs entlang eines Bestrahlungspfads zu verlagern, wobei der Bestrahlungspfad aus einer zeitlichen Abfolge nacheinander mit dem Energiestrahl überstrichener Bestrahlungspositionen besteht. Die einzelnen Bestrahlungspositionen können dabei zueinander beabstandet angeordnet sein, aber auch miteinander überlappen. Insbesondere kann der Bestrahlungspfad ein kontinuierlich mit dem Energiestrahl abgetasteter Pfad sein.
Unter einem Strahlbereich wird hier insbesondere ein Bereich an einer Bestrahlungsposition verstanden, innerhalb dessen das bestimmte Intensitätsprofil erzeugt wird. Der Strahlbereich weist dabei insbesondere eine flächenmäßige Ausdehnung auf, die größer ist als ein auf den Arbeitsbereich projizierter Querschnitt des Energiestrahls.
Die Ablenkeinrichtung ist somit insbesondere eingerichtet, um den Energiestrahl an einer festgehaltenen Bestrahlungsposition, insbesondere an jeder Bestrahlungsposition, innerhalb des Strahlbereichs zu verlagern und so an der festgehaltenen Bestrahlungsposition einen bestimmten Bereich - den Strahlbereich - innerhalb des Arbeitsbereichs mit dem Energiestrahl zu beaufschlagen, der größer ist als der auf den Arbeitsbereich projizierte Querschnitt des Energiestrahls; demgegenüber ist die Scannereinrichtung eingerichtet, um den Energiestrahl zwischen den einzelnen Bestrahlungspositionen zu verlagern und somit wiederum der Ablenkeinrichtung zu ermöglichen, einen neuen Strahlbereich an einem anderen Ort mit dem Energiestrahl zu üb erstreichen. Die Ablenkeinrichtung dient also einer lokalen Ablenkung des Energiestrahls an einer Bestrahlungsposition, während die Scannereinrichtung der globalen Verlagerung des Energiestrahls auf dem Arbeitsbereich dient.
Die Scannereinrichtung und die Ablenkeinrichtung unterscheiden sich somit insbesondere - wie bereits ausgeführt - mit Blick auf die Längenskala der möglichen Verlagerung, wobei die
Scannereinrichtung bevorzugt eingerichtet ist, den gesamten Arbeitsbereich mit dem Energiestrahl zu üb erstreichen, wobei die Ablenkeinrichtung eingerichtet ist, um den Energiestrahl lokal an einer durch die Scannereinrichtung vorgegebenen Bestrahlungsposition innerhalb des Strahlbereichs abzulenken, wobei der jeweilige Strahlbereich sehr viel kleiner ist als der Arbeitsbereich. Insbesondere weist der Strahlbereich bevorzugt eine Längenskala im Bereich von wenigen (das heißt kleiner zehn) Millimetern bis zu wenigen Zentimetern auf, sowie bevorzugt eine flächige Ausdehnung im Bereich von wenigen Quadratmillimetern bis zu wenigen Quadratzentimetem, während der Arbeitsbereich eine Längenskala im Bereich von wenigen Dezimetern bis zu wenigen Metern aufweist, sowie vorzugsweise eine flächige Ausdehnung im Bereich von wenigen Quadratdezimetern bis zu wenigen Quadratmetern.
Die Scannereinrichtung einerseits und die Ablenkungseinrichtung andererseits unterscheiden sich bevorzugt auch bezüglich der Zeitskala, auf welcher eine Ablenkung des Energiestrahls erfolgt: Insbesondere erfolgt die Ablenkung des Energiestrahls durch die Ablenkeinrichtung innerhalb des Strahlbereichs bevorzugt auf einer kürzeren, insbesondere sehr viel kürzeren Zeitskala als die Ablenkung innerhalb des Arbeitsbereichs durch die Scannereinrichtung, das heißt als der Wechsel von einer Bestrahlungsposition zur nächsten Bestrahlungsposition. Auf diese Weise kann vorteilhaft an jeder Bestrahlungsposition, die durch eine momentane Einstellung der Scannereinrichtung vorgegeben ist, mittels der Ablenkeinrichtung quasistatisch ein bestimmtes Strahlprofil durch geeignete Verlagerung des Energiestrahls innerhalb des Strahlbereichs erzeugt werden. Vorzugsweise ist die Zeitskala, auf welcher der Energiestrahl durch die Ablenkeinrichtung abgelenkt werden kann, um einen Faktor von 10 bis 1000, vorzugsweise von 20 bis 200, vorzugsweise von 40 bis 100, oder mehr, kleiner als die Zeitskala, auf der eine Ablenkung des Energiestrahls durch die Scannereinrichtung erfolgt.
Die Steuereinrichtung ist vorzugsweise ausgewählt aus einer Gruppe, bestehend aus einem Computer, insbesondere Personal Computer (PC), einer Einschubkarte oder Ansteuerkarte, und einem FPGA-Board. In bevorzugter Ausgestaltung ist die Steuereinrichtung eine RTC6- Ansteuerkarte der SCANLAB GmbH, insbesondere in der an dem den Zeitrang des vorliegenden Schutzrechts bestimmenden Tag aktuellen erhältlichen Ausgestaltung.
Die Steuereinrichtung ist bevorzugt eingerichtet, um die Scannereinrichtung mit der Ablenkeinrichtung mittels eines digitalen RF- Synthesizers zu synchronisieren, wobei der RF- Synthesizer über ein programmierbares FPGA-Board angesteuert wird. Zusätzlich erfolgt bevorzugt eine Aufteilung in die vergleichsweise langsame Bewegung der Scannereinrichtung und
die schnelle Bewegung der Ablenkeinrichtung mittels einer Frequenzweiche. Bevorzugt werden Positionswerte und Vorgabewerte für das Strahlprofil errechnet, die dann in dem FPGA-Board in zeitlich synchrone Frequenzvorgaben für den RF-Synthesizer umgerechnet werden. Davor braucht es eine räumliche Zuweisung der Strahlprofile zu Bestrahlungspositionen in der jeweiligen Pulvermaterialschicht, was bevorzugt schon in einem Buildprozessor durchgeführt wird. Dieser schreibt die entsprechenden Daten in eine Datei, die dann vorzugsweise von der Steuereinrichtung verwendet wird. Alternativ oder zusätzlich ist es bevorzugt möglich, aus vordefinierten Strahlprofilen auszuwählen.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Ablenkeinrichtung eingerichtet ist, um den Energiestrahl sprunghaft an die Mehrzahl von Strahlpositionen zu verlagern, wobei es sich bei der Mehrzahl von Strahlpositionen um diskrete Strahlpositionen handelt. Insbesondere ist es möglich, dass benachbarte Strahlpositionen voneinander beabstandet sind. Es ist aber auch möglich, dass benachbarte Strahlpositionen zumindest bereichsweise miteinander überlappen. Der Energiestrahl wird durch die Ablenkeinrichtung vorteilhaft nicht kontinuierlich von Strahlposition zu Strahlposition verlagert, sondern insbesondere in diskreten Schritten. Ohne Beschränkung und ohne an die Theorie gebunden sein zu wollen, kann für alle praktischen Anwendungszwecke angenommen werden, dass der Energiestrahl bei der sprunghaften oder diskreten Verlagerung von einer ersten Strahlposition zu einer zweiten Strahlposition quasi an der ersten Strahlposition verschwindet und an der zweiten Strahlposition erscheint, insbesondere ohne dazwischenliegende Bereiche zu überstreichen. Auf diese Weise ist eine sehr schnelle Verlagerung des Energiestrahls innerhalb des Strahlbereichs möglich, und es können vorzugsweise Materialtransportprozesse, die andernfalls auf einer kontinuierlichen Verlagerung des Energiestrahls beruhen, vermieden werden, was die Qualität des entstehenden Bauteils erhöht.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Steuereinrichtung eingerichtet ist, um als Strahlprofil eine Form des Strahlbereichs während der Herstellung des Bauteils zu verändern. Unter einer Form des Strahlbereichs wird dabei insbesondere die Geometrie einer äußeren Umrandung des Strahlbereichs oder - äquivalent - eine Form der quasistatisch innerhalb des Strahlbereichs mit dem Energiestrahl überstrichenen Fläche verstanden. Dies entspricht einem quasi statischen Querschnittsprofil der Energiestrahlung, mit welcher der Arbeitsbereich an der jeweiligen Bestrahlungsposition beaufschlagt wird.
Alternativ oder zusätzlich ist die Steuereinrichtung bevorzugt eingerichtet, um als Strahlprofil ein Intensitätsprofil in dem Strahlbereich während der Herstellung des Bauteils zu verändern. Unter
einem Intensitätsprofil wird dabei insbesondere eine Flächenleistungsdichteverteilung des Energiestrahls verstanden.
Durch Veränderung des Strahlprofils, insbesondere der Form des Strahlbereichs und/oder des Intensitätsprofils, ist es in vorteilhafter Weise einfach und schnell möglich, das Strahlprofil während der Herstellung des Bauteils bedarfsgerecht anzupassen.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Steuereinrichtung eingerichtet ist, um das Strahlprofil, insbesondere die Form des Strahlbereichs, abhängig von einer momentanen Bestrahlungsposition innerhalb des herzustellenden Bauteils, insbesondere innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht, vorzugeben. Insbesondere ist die Steuereinrichtung eingerichtet, um an verschiedenen Bestrahlungspositionen verschiedene Strahlprofile vorzugeben. Auf diese Weise kann vorteilhaft das Strahlprofil flexibel und lokal an verschiedene Bedingungen oder Anforderungen angepasst werden.
Beispielsweise kann für einen äußeren Hüllbereich des entstehenden Bauteils, das heißt insbesondere für dessen Oberfläche, ein anderes Strahlprofil gewählt werden als für einen inneren Bereich innerhalb des äußeren Hüllbereichs des Bauteils.
Alternativ oder zusätzlich kann für eine Kontur, das heißt eine Umrandung oder äußere Grenze eines zu verfestigenden oder verfestigten Bereichs innerhalb einer Pulvermaterialschicht, ein anderes Strahlprofil gewählt werden als für einen sogenannten Kern, das heißt einen Bereich innerhalb der Kontur in der Pulvermaterialschicht.
Zusätzlich oder alternativ kann ein wieder anderes Strahlprofil für einen Überhangbereich gewählt werden, wobei ein Überhangbereich ein Bereich innerhalb einer Pulvermaterialschicht ist, unterhalb von dem, das heißt in darunterliegenden Pulvermaterialschichten, sich nicht-verfestigtes Pulvermaterial befindet. Ein solcher Überhang wird auch als „down skin“ bezeichnet. Dieser Begriff bezeichnet auch die unterste Pulvermaterialschicht, die verfestigtes Pulvermaterial umfasst, das heißt eine Bodenfläche des Bauteils.
Zusätzlich oder alternativ kann ein wieder anderes Strahlprofil für einen Deckschichtbereich verwendet werden, wobei eine Deckschichtbereich ein Bereich innerhalb einer Pulvermaterialschicht ist, oberhalb von dem, das heißt in darüberliegenden Pulvermaterialschichten, sich nicht-verfestigtes Pulvermaterial befindet. Ein solcher
Deckschichtbereich wird auch als „up skin“ bezeichnet. Dieser Begriff bezeichnet auch die oberste Pulvermaterialschicht, die noch verfestigtes Pulvermaterial umfasst, das heißt eine Dachfläche oder oberste Fläche des Bauteils.
Insbesondere kann ein wieder anderes Strahlprofil gewählt werden für einen Volumenbereich des entstehenden Bauteils, das heißt einen Bereich innerhalb einer Pulvermaterialschicht, der allseitig, insbesondere innerhalb der Pulvermaterialschicht, aber auch oberhalb und unterhalb der gerade bearbeiteten Pulvermaterialschicht, in dem fertiggestellten Bauteil von verfestigtem Pulvermaterial umgeben ist. Ein solcher Bereich wird auch als „in skin“ -Bereich bezeichnet.
Verschiedene Strahlprofile können auch verwendet werden einerseits für filigrane Strukturen eines Bauteils, die beispielsweise in der Größenordnung des Strahlbereichs liegen, und andererseits für gröbere, größere, insbesondere flächige Strukturen. Gegebenenfalls können filigrane Strukturen, insbesondere abgeschlossene Strukturab schnitte, auch allein durch Ansteuerung der Ablenkeinrichtung und Erzeugen eines lokalen Strahlprofils an einer festgehaltenen Bestrahlungsposition erzeugt werden, ohne dass die Scannereinrichtung angesteuert wird, insbesondere in dem durch geeignete Ansteuerung der Ablenkeinrichtung ein Strahlprofil in der Form des auszubildenden Strukturabschnitts erzeugt wird.
Die Vorgabe des Strahlprofils abhängig von der momentanen Bestrahlungsposition ermöglicht es auch, das entstehende Bauteilgefüge über die Intensitätsverteilung zu beeinflussen. Beispielsweise verändert sich eine Kornstruktur des entstehenden Bauteils bei Bestrahlung mit veränderten Temperaturgradienten und Erstarrungsbedingungen. Somit können insbesondere auch lokale Festigkeitswerte oder Oberflächenhärten beeinflusst und insbesondere lokal variiert werden.
Insbesondere ist es möglich, die äußere Oberfläche des Bauteils dadurch zu härten, dass in up skin- oder down skin-Bereichen in mehreren unmittelbar darunter oder darüber angeordneten Pulvermaterialschichten eine höhere Härte des verfestigten Pulvermaterials erzeugt wird. Entsprechend können auch in einzelnen Pulvermaterialschichten Konturlinien in breiterem Umfang mit größerer Härte verfestigt werden.
Ein äußerer Hüllbereich ist demgegenüber insbesondere ein Bereich innerhalb einer Pulvermaterialschicht, der innerhalb der Pulvermaterialschicht zumindest eine Grenzlinie zu nicht-verfestigtem Pulvermaterial aufweist. Ein solcher Hüllbereich kann zugleich ein Überhang
sein, er kann aber auch im fertigen Bauteil oberhalb und unterhalb der momentan hergestellten Pulvermaterialschicht von verfestigtem Pulvermaterial umgeben sein.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Steuereinrichtung eingerichtet ist, um die Form des Strahlbereichs vorzugeben als eine Form, die ausgewählt ist aus einer Gruppe, bestehend aus: Einer rotationssymmetrischen Form, insbesondere einer dreizählig- rotationssymmetrischen oder höherzählig-rotationssymmetrischen Form, insbesondere einer C3- rotationssymmetrischenForm, einer Kreisform, einer Ringform, einer Torusform oder Donutform, einem Polygon, einem Rechteck, einer langgestreckten Form, vorzugsweise mit abgerundeten Ecken, einer Strichform, einer irregulären Form, und einer Punktform. Größere, flächig ausgedehntere Formen werden bevorzugt verwendet, um innenliegende in skin-Bereiche und/oder Kernbereiche und/oder innere Bereiche des Bauteils schnell und somit mit hoher Produktivität zu fertigen, wobei filigranere, kleinere Formen bevorzugt verwendet werden, um insbesondere filigrane oder detaillierte Hüllbereiche oder Überhänge zu bearbeiten.
Die Steuereinrichtung ist bevorzugt eingerichtet, um zwischen mindestens zwei verschiedenen Formen des Strahlbereichs zu wechseln oder umzuschalten.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Steuereinrichtung eingerichtet ist, um das Intensitätsprofil als gaußförmiges Intensitätsprofil zu erzeugen. Insbesondere kann es sich dabei auch um einen entlang einer Richtung innerhalb des Arbeitsbereichs langgestrecktes Gaußprofil handeln, wobei sich die Achse längster Erstreckung des Gaußprofils in bevorzugter Ausgestaltung senkrecht zu einem Bestrahlungspfad, das heißt einer insbesondere lokalen Verlagerungsrichtung des Energiestrahls in dem Arbeitsbereich, oder alternativ entlang des Bestrahlungspfads des Energiestrahls, also in Verlagerungsrichtung, erstrecken kann. Selbstverständlich ist es aber auch möglich, dass sich die Achse längster Erstreckung des Gaußprofils schräg zu dem Bestrahlungspfad erstreckt.
Alternativ ist die Steuereinrichtung bevorzugt eingerichtet, um das Intensitätsprofil als nicht gaußförmiges Intensitätsprofil zu erzeugen.
Alternativ oder zusätzlich ist die Steuereinrichtung eingerichtet, um das Intensitätsprofil als konstantes Intensitätsprofil, insbesondere nach Art eines Flat-Top-Strahls, zu erzeugen.
Alternativ oder zusätzlich ist die Steuereinrichtung eingerichtet, um das Intensitätsprofil als asymmetrisches oder verzerrtes Intensitätsprofil zu erzeugen. Die Steuereinrichtung ist somit bevorzugt in der Lage, eine Vielzahl von verschiedenen Intensitätsprofilen, insbesondere beliebige Intensitätsprofile, zu erzeugen und zwischen diesen zu wechseln.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Steuereinrichtung eingerichtet ist, um das Strahlprofil, insbesondere die Form des Strahlbereichs, abhängig von einer momentanen Bestrahlungsposition innerhalb des herzustellenden Bauteils, insbesondere innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht, derart vorzugeben, dass das auf dem Arbeitsbereich projizierte Strahlprofil einem vorgegebenen projizierten Strahlprofil entspricht.
Dies löst das Problem, dass das Strahlprofil bei nicht senkrechtem Einfall auf das Pulvermaterial im Arbeitsbereich verzerrt wird. So wird bspw. ein kreisförmiges Strahlprofil, das unter einem Winkel zur Oberflächennormalen des Pulvermaterials im Arbeitsbereich auf das Pulvermaterial einfällt zu einer Ellipse verzerrt. Entsprechend kann für das Strahlprofil eine Ellipse derart vorgegeben werden, dass das auf dem Pulvermaterial projizierte Strahlprofil wieder kreisförmig ist.
In einer bevorzugten Weiterbildung ist die Steuereinrichtung eingerichtet, das vorgegebene Strahlprofil derart zu verzerren, dass das projizierte Strahlprofil einem der in den vorherigen Weiterbildungen genannten Strahlprofilen entspricht.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Ablenkeinrichtung in Propagationsrichtung des Energiestrahls vor der Scannereinrichtung angeordnet ist. Die Propagationsrichtung des Energiestrahls ist dabei insbesondere eine Ausbreitungsrichtung der Energiestrahlung im Raum. Der Begriff „vor“ bezieht sich darauf, dass die Ablenkeinrichtung während der Propagation des Energiestrahls entlang der Propagationsrichtung zuerst von dem Energiestrahl erreicht wird, wobei die Scannereinrichtung danach von dem Energiestrahl erreicht wird. Die Anordnung der Ablenkeinrichtung in Propagationsrichtung vor der Scannereinrichtung stellt eine besonders geeignete Konfiguration für eine flexible Erzeugung des Strahlprofils dar.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Ablenkeinrichtung mindestens einen akustoopti sehen Deflektor aufweist.
Unter einem akustoopti sehen Deflektor wird dabei insbesondere ein Element verstanden, welches einen für den Energiestrahl transparenten Festkörper aufweist, der mit Schallwellen, insbesondere Ultraschallwellen, beaufschlagt werden kann, wobei der Energiestrahl beim Durchtritt durch den transparenten Festkörper abhängig von der Frequenz der Schallwellen, mit denen der transparente Festkörper beaufschlagt ist, abgelenkt wird. Dabei wird in dem transparenten Festkörper durch die Schallwellen insbesondere ein optisches Gitter erzeugt. Solche akustoopti sehe Deflektoren sind vorteilhaft in der Lage, den Energiestrahl sehr schnell um einen durch die Frequenz der in dem transparenten Festkörper erzeugten Schallwellen vorgegebenen Winkelbereich abzulenken. Dabei können insbesondere Schaltgeschwindigkeiten von bis zu 1 MHz erreicht werden. Insbesondere sind die Schaltzeiten für einen solchen akustoopti sehen Deflektor deutlich schneller als typische Schaltzeiten für konventionelle Scanneroptiken, insbesondere Galvanometer-Scanner, die im Allgemeinen zur Verlagerung eines Energiestrahls innerhalb eines Arbeitsbereichs einer Fertigungseinrichtung der hier angesprochenen Art verwendet werden. Daher kann ein solcher akustoopti scher Deflektor in besonders geeigneter Weise zur Erzeugung eines quasi statischen Strahlprofils in dem Strahlbereich verwendet werden.
Moderne akustoopti sehe Deflektoren lenken den Energiestrahl mit einer Effizienz von mindestens 90 % in einen vorbestimmten Winkelbereich der ersten Beugungsordnung ab, sodass sie sich hervorragend als Ablenkeinrichtung für die hier vorgeschlagene Fertigungseinrichtung eignen. Entscheidend für die hohe Effizienz sind insbesondere das verwendete, für den Energiestrahl transparente Material sowie eine geeignet hohe Intensität der eingekoppelten Ultraschallwellen.
In bevorzugter Ausgestaltung weist die Ablenkeinrichtung zwei nicht parallel zueinander orientierte, vorzugsweise senkrecht zueinander orientierte akustoopti sehe Deflektoren auf. Somit ist vorteilhaft eine Ablenkung des Energiestrahls in zwei nicht zueinander parallele, insbesondere aufeinander senkrecht stehende Richtungen möglich. Die zueinander nicht parallelen akustoopti sehen Deflektoren sind vorzugsweise in Propagationsrichtung des Energiestrahls hintereinander angeordnet.
Mit „hinter“ ist hier insbesondere gemeint, dass ein hinter einem anderen Element angeordnetes Element bei einer Propagation des Energiestrahls entlang der Propagationsrichtung nach dem anderen Element von dem Energiestrahl erreicht wird, analog zu der oben gegebenen Definition für „vor“.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Fertigungseinrichtung in Propagationsrichtung des Energiestrahls hinter der Ablenkeinrichtung und vor der Scannereinrichtung einen Separationsspiegel aufweist, der eingerichtet ist, um einen Teilstrahl nullter Ordnung des Energiestrahls von einem Teilstrahl erster Ordnung zu trennen. Insbesondere wenn die Ablenkeinrichtung einen akustoopti sehen Deflektor aufweist, erzeugt sie aufgrund ihrer Ausgestaltung analog zu einem optischen Gitter einen ungebeugten Teilstrahl nullter Ordnung sowie einen gebeugten oder abgelenkten Teilstrahl erster Ordnung. Zur Bestrahlung des Arbeitsbereichs soll lediglich der Teilstrahl erster Ordnung verwendet werden. Mithilfe des Separationsspiegels ist es nun vorteilhaft möglich, die Teilstrahlen verschiedener Ordnung voneinander zu trennen und dabei nur den Teilstrahl erster Ordnung zu dem Arbeitsbereich, insbesondere zu der Scannereinrichtung, durchzulassen. Der Teilstrahl nullter Ordnung wird vorzugsweise durch den Separationsspiegel in eine Strahlfalle umgelenkt.
Diese Darstellung ist korrekt für die Verwendung genau eines akustoopti sehen Deflektors. Wenn in bevorzugter Ausgestaltung zwei nicht parallel zueinander orientierte, vorzugsweise senkrecht zueinander orientierte akustoopti sehe Deflektoren verwendet werden, so sind auch die entsprechenden Beugungsordnungen kumulativ zu betrachten: Als Nutzstrahl soll letztlich der Teil strahl verwendet werden, der zunächst als Teil strahl erster Ordnung des ersten akustoopti sehen Deflektors auf den zweiten akustoopti sehen Deflektor trifft, und dann wiederum als Teilstrahl erster Ordnung von dem zweiten akustoopti sehen Deflektor gebeugt wird. Der Nutzstrahl als „Teilstrahl erster Ordnung“ ist in diesem Fall quasi ein Teilstrahl erster erster Ordnung. Um die Darstellung einfach zu halten, wird gleichwohl im Folgenden stets nur von der ersten Ordnung gesprochen.
Insbesondere weist der Separationsspiegel bevorzugt in einer für den Energiestrahl reflektierenden Fläche eine Durchgangsbohrung auf, durch welche der Teilstrahl erster Ordnung den Separationsspiegel zu dem Arbeitsbereich, insbesondere zu der Scannereinrichtung hin, passiert. Der Teilstrahl nullter Ordnung - sowie vorzugsweise auch unerwünschte Teilstrahlen höherer Ordnung als der ersten Ordnung - treffen dagegen auf die reflektierende Fläche und werden durch den Separationsspiegel in die Strahlfalle umgelenkt.
Bevorzugt ist der Separationsspiegel in der Umgebung eines Zwischenfokus eines Teleskops angeordnet. Dies ermöglicht eine besonders saubere Trennung der Teilstrahlen verschiedener Ordnung.
Bevorzugt ist der Separationsspiegel nicht genau im Zwischenfokus des Teleskops angeordnet, insbesondere um eine Beschädigung des Separationsspiegels durch eine zu hohe Leistungsdichte des Energiestrahls zu vermeiden.
Vorzugsweise ist der Separationsspiegel in einem Abstand von einem Fünftel der Brennweite des Teleskops zu dem Zwischenfokus entlang der Propagationsrichtung versetzt angeordnet, vorzugsweise in Propagationsrichtung vor dem Zwischenfokus. Dies gewährleistet zugleich einerseits eine saubere Trennung der verschiedenen Teilstrahlen verschiedener Ordnung und andererseits eine hinreichend niedrige Leistungsdichte des Energiestrahls auf dem Separationsspiegel, um dessen Beschädigung durch den Energiestrahl zu vermeiden.
Das Teleskop ist vorzugsweise ein 1:1 Teleskop, weist also insbesondere weder eine strahlverkleinernde noch strahlvergrößernde Eigenschaft auf. Insbesondere erfüllt das Teleskop zwei Aufgaben, nämlich neben der Separation der verschiedenen Teil strahlen verschiedener Ordnung noch vorzugsweise zusätzlich die Abbildung eines Strahldrehpunktes, auch als Pivot- Punkt bezeichnet, auf einen Punkt in Propagationsrichtung hinter dem Teleskop, wobei der abgebildete Strahl drehpunkt bevorzugt entweder auf einen Pivot-Punkt der nachfolgenden Scannereinrichtung oder auf einem Punkt kleinster Apertur zu liegen kommt.
Auch diese Betrachtung gilt streng genommen nur für die Verwendung eines einzigen akustoopti sehen Deflektors. Werden zwei nicht parallel zueinander orientierte, vorzugsweise senkrecht zueinander orientierte akustoopti sehe Deflektoren verwendet, ergeben sich zwei Strahl drehpunkte, nämlich in jedem akustoopti sehen Deflektor ein Strahl drehpunkt. Werden die beiden akustoopti sehen Deflektoren allerdings so nah wie möglich in Propagationsrichtung hintereinander angeordnet, kann in guter Näherung ein einzelner, gedachter gemeinsamer Strahl drehpunkt angenommen werden, der dann zwischen den akustoopti sehen Deflektoren angeordnet ist.
In einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Ablenkeinrichtung mindestens einen elektrooptischen Deflektor, vorzugsweise zwei nicht parallel, insbesondere senkrecht zueinander orientierte elektrooptische Deflektoren aufweist. Die Ablenkung elektrooptischer Deflektoren (EOD) basiert auf Brechung beim Durchgang eines optisch transparenten Materials. Mit einem oder zwei EODs können die zuvor genannten Ausführungsbeispiele mit akustoopti sehen Deflektoren modifiziert werden, indem jeweils einer oder zwei der akustoopti sehen Deflektoren durch ein EOD ersetzt werden.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Scannereinrichtung mindestens einen Scanner, insbesondere einen Galvanometer-Scanner, Piezoscanner, Polygonscanner, MEMS-Scanner, und/oder einen relativ zu dem Arbeitsbereich verlagerbaren Arbeitskopf oder Bearbeitungskopf aufweist. Die hier vorgeschlagenen Scannereinrichtungen sind in besonderer Weise geeignet, den Energiestrahl innerhalb des Arbeitsbereichs zwischen einer Mehrzahl von Bestrahlungspositionen zu verlagern.
Unter einem relativ zu dem Arbeitsbereich verlagerbaren Arbeitskopf oder Bearbeitungskopf wird hier insbesondere ein integriertes Bauteil der Fertigungseinrichtung verstanden, welches mindestens einen Strahlungsauslass für mindestens einen Energiestrahl aufweist, wobei das integrierte Bauteil, das heißt der Arbeitskopf, als Ganzes entlang zumindest einer Verlagerungsrichtung, vorzugsweise entlang zweier senkrecht aufeinander stehenden Verlagerungsrichtungen, relativ zu dem Arbeitsbereich verlagerbar ist. Ein solcher Arbeitskopf kann insbesondere in Portalbauweise ausgebildet sein, oder von einem Roboter geführt werden. Insbesondere kann der Arbeitskopf als Roboterhand eines Roboters ausgebildet sein.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Strahlerzeugungseinrichtung als Laser ausgebildet ist. Der Energiestrahl wird somit vorteilhaft als intensiver Strahl kohärenter elektromagnetischer Strahlung, insbesondere kohärenten Lichts, erzeugt.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Fertigungseinrichtung eingerichtet ist zum selektiven Lasersintem. Alternativ oder zusätzlich ist die Fertigungseinrichtung eingerichtet zum selektiven Laserschmelzen. Diese Ausgestaltungen der Fertigungseinrichtung haben sich als besonders vorteilhaft erwiesen.
Die Aufgabe wird auch gelöst, indem ein Verfahren zum Verändern eines Strahlprofils eines Energiestrahls auf einem Arbeitsbereich einer Fertigungseinrichtung während des additiven Fertigens eines Bauteils aus einem Pulvermaterial geschaffen wird, wobei der Energiestrahl innerhalb des Arbeitsbereichs an eine Mehrzahl von Bestrahlungspositionen verlagert wird, um mittels des Energiestrahls das Bauteil aus dem in dem Arbeitsbereich angeordneten Pulvermaterial herzustellen. Der Energiestrahl wird an wenigstens einer Bestrahlungsposition der Mehrzahl von Bestrahlungspositionen innerhalb eines Strahlbereichs an eine Mehrzahl von Strahlpositionen verlagert. Das Strahlprofil wird verändert, indem die Verlagerung des Energiestrahls in dem Strahlbereich verändert wird. In Zusammenhang mit dem Verfahren ergeben sich insbesondere die Vorteile, die bereits in Zusammenhang mit der Fertigungseinrichtung erläutert wurden.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass das Strahlprofil, insbesondere die Form des Strahlbereichs, abhängig von einer momentanen Bestrahlungsposition innerhalb des herzustellenden Bauteils, insbesondere innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht, verändert wird, wobei insbesondere an verschiedenen Bestrahlungspositionen verschiedene Strahlprofile erzeugt werden.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass das Strahlprofil, insbesondere die Form des Strahlbereichs, abhängig von einer momentanen Bestrahlungsposition innerhalb des herzustellenden Bauteils, insbesondere innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht, derart verändert wird, dass das auf dem Arbeitsbereich projizierte Strahlprofil einem vorgegebenen projizierten Strahlprofil entspricht. Im Zusammenhang mit diesem Verfahren ergeben sich die gleichen Vorteile, die bereits im Zusammenhang mit der Fertigungseinrichtung erläutert wurde.
Die Aufgabe wird schließlich auch gelöst, indem eine Verwendung von wenigstens einem akustoopti sehen Deflektor angegeben wird, wobei der akustooptische Deflektor zur Veränderung eines Strahlprofils eines Energiestrahls auf einem Arbeitsbereich eine Fertigungseinrichtung während des additiven Fertigens eines Bauteils aus einem Pulvermaterial, insbesondere innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht, verwendet wird. In Zusammenhang mit der Verwendung des akustoopti sehen Deflektors ergeben sich insbesondere diejenigen Vorteile, die bereits in Zusammenhang mit der Fertigungseinrichtung und dem Verfahren erläutert wurden.
In bevorzugter Ausgestaltung wird der akustooptische Deflektor verwendet in einem erfindungsgemäßen Verfahren zum Verändern eines Strahlprofils eines Energiestrahls oder in einer der zuvor beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen eines solchen Verfahrens.
Bevorzugt wird der akustooptische Deflektor verwendet in einer erfindungsgemäßen Fertigungseinrichtung oder in einer Fertigungseinrichtung nach einem der zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiele einer solchen Fertigungseinrichtung.
Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass zwei insbesondere nicht parallel zueinander orientierte, vorzugsweise senkrecht zueinander orientierte akustooptische Deflektoren verwendet werden, um das Strahlprofil des Energiestrahls zu verändern. Somit ist es in besonders einfacher und schneller Weise möglich, das Strahlprofil in zwei vorzugsweise nicht parallel zueinander orientierten, vorzugsweise insbesondere senkrecht zueinander orientierten Richtungen zu verändern.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert. Dabei zeigen:
Figur 1 eine Darstellung eines Ausführungsbeispiels einer Fertigungseinrichtung zum additiven Fertigen von Bauteilen aus einem Pulvermaterial,
Figur 2 eine schematische Darstellung einer Mehrzahl verschiedener Formen eines
Strahlbereichs, und
Figur 3 eine Skizze zur Erläuterung einer elektrooptischen Ablenkung bei der generativen
Fertigung.
Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels einer Fertigungseinrichtung 1, die eingerichtet ist zum additiven Fertigen von Bauteilen aus einem Pulvermaterial. Die Fertigungseinrichtung 1 weist eine Strahlerzeugungseinrichtung 3 auf, die eingerichtet ist zum Erzeugen eines Energiestrahls 5. Außerdem weist die Fertigungseinrichtung 1 eine Scannereinrichtung 7 auf, die eingerichtet ist, um den Energiestrahl 5 innerhalb eines Arbeitsbereichs 9 an eine Mehrzahl von Bestrahlungspositionen 11 zu verlagern, um mittels des Energiestrahls 5 ein Bauteil aus dem in dem Arbeitsbereich 9 angeordneten Pulvermaterial herzustellen.
Die Fertigungseinrichtung 1 weist eine Ablenkeinrichtung 13 auf, die eingerichtet ist, um den Energiestrahl 5 an einer Bestrahlungsposition 11 der Mehrzahl von Bestrahlungspositionen 11 innerhalb eines Strahlbereichs 15 an eine Mehrzahl von Strahlpositionen 17 zu verlagern.
Die Fertigungseinrichtung 1 weist eine Steuereinrichtung 19 auf, die mit der Ablenkeinrichtung 13 wirkverbunden und eingerichtet ist, um die Ablenkeinrichtung 13 anzusteuern, und um ein Strahlprofil des Strahlbereichs 15 während der Herstellung des Bauteils zu verändern, indem die Ansteuerung der Ablenkeinrichtung 13 verändert wird.
Auf diese Weise ist es in einfacher und äußerst flexibler Weise möglich, ein verwendetes Strahlprofil während der Herstellung des Bauteils, insbesondere während der Bearbeitung einer selben Pulvermaterialschicht, einfach und schnell vorzugeben und zu verändern, ohne dass es hierfür besonderer, insbesondere für das Erzeugen des Strahlprofils spezifischer Einrichtungen bedarf. Insbesondere ist es einfach und schnell möglich, zwischen verschiedenen Strahlprofilen zu wechseln.
Die Ablenkeinrichtung 13 ist insbesondere eingerichtet, um den Energiestrahl 5 sprunghaft an die Mehrzahl von Strahlpositionen 17 zu verlagern, wobei es sich bei den Strahlpositionen 17 um diskrete Strahlpositionen 17 handelt.
Die Steuereinrichtung 19 ist insbesondere eingerichtet, um als Strahlprofil eine Form des Strahlbereichs 15 und/oder ein Intensitätsprofil in dem Strahlbereich 15 während der Herstellung des Bauteils zu verändern.
Die Steuereinrichtung 19 ist insbesondere eingerichtet, um das Strahlprofil, insbesondere die Form des Strahlbereichs 15, abhängig von einer momentanen Bestrahlungsposition 11 innerhalb des herzustellenden Bauteils vorzugeben. In bevorzugter Ausgestaltung ist die Steuereinrichtung 19 eingerichtet, um an verschiedenen Bestrahlungspositionen 11 verschiedene Strahlprofile vorzugeben. Insbesondere kann dies innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht durchgeführt werden, beispielsweise um verschiedene Bereiche der Pulvermaterialschicht, insbesondere einen Hüllbereich einerseits und einen inneren Bereich andererseits, mit verschiedenen Strahlprofilen zu beaufschlagen. Das Strahlprofil kann alternativ oder zusätzlich insbesondere abhängig davon gewählt werden, ob eine Kontur, ein Kern, ein Überhangbereich, ein Deckschichtbereich, oder ein Volumenbereich des entstehenden Bauteils bearbeitet wird.
Bevorzugt ist die Steuereinrichtung 19 eingerichtet, um die Form des Strahlbereichs 15 vorzugeben als eine Form, die ausgewählt ist aus einer Gruppe, bestehend aus: Einer rotationssymmetrischen Form, insbesondere einer dreizählig-rotationssymmetrischen oder höherzählig-rotationssymmetrischen Form, einer Kreisform, einer Ringform, einer Torusform oder Donutform, einem Polygon, einem Rechteck, einer langgestreckten Form, vorzugsweise mit abgerundeten Ecken, einer Strichform, einer irregulären Form, und einer Punktform. Insbesondere ist die Steuereinrichtung 19 eingerichtet, um zwischen verschiedenen Formen des Strahlbereichs 15 zu wechseln oder umzuschalten.
Die Steuereinrichtung 19 ist insbesondere eingerichtet, um das Intensitätsprofil als gaußförmiges, nicht-gaußförmiges, konstantes, asymmetrisches oder verzerrtes Intensitätsprofil zu erzeugen.
Die Ablenkeinrichtung 13 ist insbesondere in Propagationsrichtung des Energiestrahls 5 vor der Scannereinrichtung 7 angeordnet.
Die Ablenkeinrichtung 13 weist insbesondere mindestens einen akustoopti sehen Deflektor 21, hier insbesondere zwei nicht parallel, insbesondere senkrecht zueinander orientierte akustoopti sehe Deflektoren 21, nämlich einen ersten akustoopti sehen Deflektor 21.1 und einen zweiten akustoopti sehen Deflektor 21.2, auf. Die senkrecht zueinander orientierten akustoopti sehen Deflektoren 21 erlauben eine Ablenkung des Energiestrahls 5 in zwei senkrecht aufeinander stehenden Richtungen und damit insbesondere ein flächiges Abscannen des Strahlbereichs 15.
Die Fertigungseinrichtung 1 weist außerdem in Propagationsrichtung des Energiestrahls 5 hinter der Ablenkeinrichtung 13 und vor der Scannereinrichtung 7 einen Separationsspiegel 23 auf, der eingerichtet ist, um einen Teilstrahl nullter Ordnung von einem Teilstrahl erster Ordnung des Energiestrahls 5 zu trennen. Hierzu weist der Separationsspiegel 23 insbesondere eine Durchgangsbohrung 25 auf, die in einer für den Energiestrahl 5 reflektierenden Oberfläche 27 des Separationsspiegels 23 vorgesehen ist und den Separationsspiegel 23 vollständig durchdringt. Der in erwünschterWeise zu der Scannereinrichtung 7 weiterzuleitende Teilstrahl erster Ordnung wird dabei durch die Durchgangsbohrung 25 geleitet und gelangt so schließlich zu der Scannereinrichtung 7. Der unerwünschte Teilstrahl nullter Ordnung, sowie gegebenenfalls auch unerwünschte Teilstrahlen höherer Ordnung, treffen dagegen auf die reflektierende Oberfläche 27 und werden zu einer Strahlfalle 29 umgelenkt.
Der Separationsspiegel 23 ist insbesondere in der Umgebung eines Zwischenfokus 31 eines Teleskops 33 angeordnet, insbesondere nicht genau in einer Ebene des Zwischenfokus 31, besonders bevorzugt in einem Abstand von einem Fünftel der Brennweite des Teleskops 33 entlang der Propagationsrichtung versetzt, insbesondere vor dem Zwischenfokus 31. Hierdurch wird vorteilhaft eine Beaufschlagung der reflektierenden Oberfläche 27 mit einer zu hohen Leistungsdichte des Energiestrahls 5 vermieden.
Das Teleskop 33 weist bevorzugt eine erste Linse 35 und eine zweite Linse 37 auf. Es ist vorzugsweise als 1 : 1-Teleskop ausgebildet. Vorzugsweise weist das Teleskop 33 eine Brennweite von 500 mm auf.
Die Funktionsweise des Teleskops 33 ist vorzugsweise eine Zweifache: Zum einen ermöglicht das Teleskop 33 insbesondere bei der hier gewählten Anordnung des Separationsspiegels 23 eine besonders vorteilhafte und saubere Trennung der verschiedenen Ordnungen des durch die Ablenkeinrichtung 13 abgelenkten Energiestrahls 5; zum anderen bildet das Teleskop 33
bevorzugt einen gedachten, gemeinsamen Strahl drehpunkt 39 der Ablenkeinrichtung 13 vorteilhaft auf einen Pivot-Punkt 41 der Scannereinrichtung 7 ab.
Alternativ bildet das Teleskop 33 bevorzugt den Strahl drehpunkt 39 auf einen Punkt kleinster Apertur ab.
Um eine kompakte Anordnung der Fertigungseinrichtung 1 zu ermöglichen, wird der Energiestrahl 5 bevorzugt mehrfach durch Umlenkspiegel 43 umgelenkt.
Die Scannereinrichtung 7 weist bevorzugt mindestens einen Scanner, insbesondere Galvanometer- Scanner, Piezoscanner, Polygonscanner, MEMS-Scanner und/oder Arbeitskopf auf.
Die Strahlerzeugungseinrichtung 3 ist bevorzugt als Laser ausgebildet.
Die Fertigungseinrichtung 1 ist vorzugsweise eingerichtet zum selektiven Lasersintem und/oder zum selektiven Laserschmelzen.
Im Rahmen eines Verfahrens zum Verändern eines Strahlprofils eines Energiestrahls 5 auf einem Arbeitsbereich 9 eine Fertigungseinrichtung 1 während des additiven Fertigens eines Bauteils aus einem Pulvermaterial wird der Energiestrahl 5 bevorzugt innerhalb des Arbeitsbereichs 9 an eine Mehrzahl von Bestrahlungspositionen 11 verlagert, um mittels des Energiestrahls 5 das Bauteil aus dem in dem Arbeitsbereich 9 angeordneten Pulvermaterial herzustellen. Der Energiestrahl 5 wird an wenigstens einer Bestrahlungsposition 11 der Mehrzahl von Bestrahlungspositionen 11 innerhalb eines Strahlbereichs 15 an eine Mehrzahl von Strahlpositionen 17 verlagert. Das Strahlprofil wird verändert, indem die Verlagerung des Energiestrahls 5 in dem Strahlbereich 15 verändert wird.
Vorzugsweise wird das Strahlprofil, insbesondere die Form des Strahlbereichs 15, abhängig von einer momentanen Bestrahlungsposition 11 innerhalb des herzustellenden Bauteils, insbesondere innerhalb einer selben Pulvermaterialschicht, verändert, wobei insbesondere an verschiedenen Bestrahlungspositionen 11 verschiedene Strahlprofile erzeugt werden.
Im Rahmen einer Verwendung von wenigstens einem akustoopti sehen Deflektor 21 wird dieser zur Veränderung eines Strahlprofils eines Energiestrahls 5 auf einem Arbeitsbereich 9 einer Fertigungseinrichtung 1 während des additiven Fertigens eines Bauteils aus einem Pulvermaterial verwendet.
Bevorzugt werden dabei zwei insbesondere nicht parallel, insbesondere senkrecht zueinander orientierte akustooptische Deflektoren 21.1, 21.2 verwendet.
Fig. 2 zeigt eine schematische Darstellung einer Mehrzahl von Formen des Strahlbereichs 15.
Dabei ist bei a) eine erste, kreisförmige Form 51 für den Strahlbereich 15 dargestellt.
Bei b) ist eine zweite, polygonale, hier insbesondere hexagonale Form 53 für den Strahlbereich 15 dargestellt.
Bei c) ist eine dritte, rechteckige Form 55 für den Strahlbereich 15 dargestellt.
Bei d) ist eine vierte, langgestreckte Form 57 für den Strahlbereich 15 mit abgerundeten Enden dargestellt.
Bei e) ist schließlich eine fünfte, ringförmige, torusförmige oder donutförmige Form 59 für den Strahlbereich 15 dargestellt.
Fig. 3 zeigt schematisch eine einstellbare Ablenkung des Energiestrahls 5 mit einem EOD 131, wobei das optisch transparente Material des EOD 131 im Brechungsindex oder in einem Brechungsindexgradienten durch Anlegen einer Spannung einstellbar ist. In Abhängigkeit der angelegten Spannung variiert die Ablenkung eines Laserstrahls 133, der auf den EOD 131 bevorzugt wieder im Brewster-Winkel einfällt und aus diesem unter einem entsprechend einstellbaren Ablenkwinkel austritt. Ein so abgelenkter Laserstrahl 133A könnte in der Anordnung der Fig. 1 der Scannereinrichtung 7 zugeführt werden. Eine Spannungsquelle 135 ermöglicht eine präzise Einstellung der Spannung, die beispielsweise in Fig. 3 zwischen Ober und Unterseite des den EOD 131 bildenden prismenförmigen Kristalls anliegt. In Abhängigkeit der eingestellten Spannung kann der Brechungsindex oder der Brechungsindexgradient und damit die Ablenkung des Energiestrahls 5 eingestellt werden. Hinsichtlich des am EOD vorliegenden Brechungsverhaltens wird ergänzend auf „Electro-optic and acousto-optic laser beam Scanners“; Römer G.R.B.E. et al., Physics Procedia 56 (2014) 29 - 39 verwiesen.