DE69935517T2 - Flugzeit-massenspektrometer - Google Patents

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Stephen Charles Macclesfield Davis
Alexander Alekseevich Cheadle Hulme Makarov
Andrew David Didsbury HOFFMAN
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
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  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
  • Plural Heterocyclic Compounds (AREA)

Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Diese Erfindung bezieht sich auf Flugzeit-Massenspektrometer, in denen das Masse/Ladung-Verhältnis (m/z) einer Anzahl von Ionen aus der Zeitspanne hergeleitet werden kann, die die Ionen benötigen, eine gegebene Strecke mittels eines geeigneten Beschleunigungsfeldes, wie z. B. eines elektrostatischen Feldes, vorangetrieben zu werden.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Ein Beispiel eines Flugzeit-Spektrometers ist ein grundsubstanzunterstütztes Laserdesorbtionsionisation-Flugzeit-(MALDI-TOF)-Spektrometer (MALDI-TOF = Matrix Assisted Laser Desorption Ionisation Time Of Flight).
  • Ein solches Spektrometer wird gewöhnlich verwendet, um Substanzen mit hohem Molekulargewicht zu analysieren, insbesondere biochemische Stoffe, wobei es einen kurzen Impuls von Laserenergie nutzt, um Moleküle eines Analyts aus Kristallen, die innerhalb einer Grundsubstanz gehalten werden, die aus kleinen organischen Molekülen gebildet ist, die die einfallende Laserstrahlung absorbieren, ausstößt und ionisiert. Die Grundsubstanz absorbiert resonierend diese Strahlung, was dementsprechend eine Ablösung eines Bereiches der Grundsubstanz, eines Analytgemisches, sowie die Ausbildung eines Expansionsstrahls über der Oberfläche hervorruft, wobei innerhalb dieses Strahls Ionen/Molekül-Reaktionen stattfinden. Moleküle und Ionen können aus der Grundsubstanz mit zahlreichen unterschiedlichen kinetischen Energien ausgestoßen werden.
  • Die so erzeugten Ionen werden anschließend in Richtung zu einem Detektor beschleunigt, normalerweise mittels eines elektrostatischen Feldes. Die kinetische Energie KE eines Partikels der Masse m, der mit einer Geschwindigkeit v fliegt, ist gegeben durch die Gleichung: KE = 1/2mv2
  • Somit fliegt jeder Partikel mit der Geschwindigkeit, die entsprechend seiner Masse mittels der Gleichung eingestuft wird:
    Figure 00020001
  • Wenn dementsprechend ein Impuls aus Ionen gebildet wird, was den Zeitpunkt 0 definiert, der eine bestimmte Strecke zum Detektor fliegt, werden leichtere Ionen früher am Detektor ankommen. Folglich repräsentiert das Detektorsignal als Funktion der Zeit ein m/z-Spektrum von Partikeln einer gegebenen Ladung.
  • Flugzeit-Massenspektrometer haben zwei bedeutende Vorteile gegenüber anderen Typen von Massenspektrometern:
    • 1. sie weisen eine sehr hohe Empfindlichkeit auf, da ein Großteil der erzeugten Ionen am Detektor erfasst wird, im Gegensatz zu abtastenden Spektrometern, in denen nur Ionen eines gegebenen m/z auf dem Detektor zu einem beliebigen Zeitpunkt fokussiert werden; und
    • 2. mittels eines TOF-Spektrometers kann ein sehr großer Massebereich erreicht werden, der nur durch die Effizienz der Detektion von Ionen mit hoher Masse begrenzt ist.
  • Einer der wichtigsten Faktoren jedoch, der die Genauigkeit von Massenmessungen beschränkt, die mittels eines MALDI-TOF-Spektrometers erhalten werden, ist die Schwankung der Ionenextraktionszeitpunkte aus dem Bereich der Quelle. Es wird angenommen, dass dies durch die Schwankungen der anfänglichen Geschwindigkeiten von Ionen und der Positionen, an denen die Ionen in Folge von Laserimpulsen gebildet werden, von Impuls zu Impuls hervorgerufen wird.
  • Eine Möglichkeit, zu versuchen, den Effekt dieses Problems zu reduzieren, besteht darin, sehr starke Extraktionsfelder zu verwenden, um die Ionen in Richtung zum Detektor zu beschleunigen. Dies behebt jedoch nicht das Problem selbst, wobei die Massengenauigkeit und die Massenauflösung weiterhin begrenzt sind.
  • Es ist bekannt, ein Spektrometer mit einem Reflektron auszustatten, um die Massenauflösung des Spektrometers zu erhöhen. Das Reflektron reflektiert die Ionen, um die Bahnlängen von der Quelle zum Detektor zu erhöhen, während energiereichere Ionen (eines gegebenen m/z) veranlasst werden, eine weitere Strecke zu fliegen als die energieärmeren Ionen, um die unterschiedlichen Ionengeschwindigkeiten zu kompensieren. Das Reflektron kann somit die schneller bewegten Ionen hinten den Ionen mit langsameren Geschwindigkeiten positionieren. Wenn dies geschieht, holen die schnelleren Ionen schließlich die langsamer bewegten Ionen ein und überholen diese an einem zeitlichen Brennpunkt des Spektrometers.
  • Außerdem ist bekannt, Verzögerungsextraktionstechniken zu verwenden, wodurch ein Verzögerung zwischen dem Abfeuern des Laserimpulses und dem Anlegen des Beschleunigungsfeldes eingeführt wird, so dass dann, wenn das Feld angelegt wird, Ionen mit einer höheren Anfangsgeschwindigkeit weiter von der Probenplatte abgetrieben sind als diejenigen einer niedrigeren Anfangsgeschwindigkeit.
  • Die letzteren Ionen werden somit bis zu einem größeren Ausmaß beschleunigt als diejenigen, die ursprünglich eine höhere Energie hatten. Die Ionen mit den niedrigeren Anfangsgeschwindigkeiten holen zu den anderen Ionen an einem weiteren zeitlichen Brennpunkt auf und überholen diese schließlich.
  • Es wurde ferner von einer Variation der verzögerten Extraktion berichtet, bei der ein kleines Verzögerungsfeld zwischen der Probenplatte und der ersten Extraktionsplatte während der Verzögerungsperiode besteht, bevor der Extraktionsimpuls angewendet wird. (US-Patent Nr. 5.625.184).
  • Selbst wenn jedoch diese Techniken kombiniert werden, können die Schwankungen der anfänglichen kinetischen Energien immer noch die Massengenauigkeit des Spektrometers deutlich reduzieren. Die Massengenauigkeit wird ferner durch Schwankungen der Stromversorgungsspannungen (aus denen die Beschleunigungsspannungen hergeleitet werden), eine Temperaturdrift und andere Faktoren, die die Flugzeiten der Ionen zum Detektor beeinflussen können, beeinträchtigt.
  • Eine bekannte Möglichkeit, die Massengenauigkeit des Spektrometers weiter zu verbessern, ist die Verwendung interner Standards. Ein interner Standard ist eine bekannte Verbindung (oder eine Anzahl von Verbindungen), die mit der zu analysierenden Probe gemischt wird (werden) und mit dem Analyt ionisiert wird (werden). Es wird angenommen, dass die gleichen Schwankungen der Anfangsbedingungen sowohl bei der/den bekannten Verbindung(en) und dem Analyt auftreten, so dass der interne Standard verwendet werden kann, um das vom Detektor erhaltene Massenspektrum zu rekalibrieren. Es kann jedoch schwierig sein, den internen Standard zu veranlassen, gleichmäßig mit den analysierten Verbindungen gemeinsam zu kristallisieren.
  • WO 98/21749, US 5.331.158 und US 5.619.034 haben TOF-Spektrometer beschrieben.
  • Überblick über die Erfindung
  • Gemäß einem ersten Aspekt der Erfindung wird ein Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 1 geschaffen.
  • Es wird angenommen, dass für die Zwecke dieser Beschreibung die zu messenden Eigenschaften z. B. das Ladung/Masse-Verhältnis oder dessen Kehrwert umfassen können.
  • Schwankungen der anfänglichen Geschwindigkeiten oder der Ionisationszeitpunkte der Partikel beeinflussen die Ausgangssignale beider Detektoren. Diese Schwankungen weisen jedoch eine ähnliche Wirkung auf die Detektorausgangssignale auf, so dass ein Detektor wirksam verwendet werden kann, um das Ausgangssignal des anderen Detektors zu kalibrieren. In ähnlicher Weise beeinflussen Schwankungen irgendwelcher anderer Parameter, wie z. B. der Beschleunigungsspannungen, die Ausgangssignale beider Detektoren.
  • Typischerweise weist das Ausgangssignal jedes Detektors ein oder mehrere Spitzen auf. Folglich kann die Analyse der Detektorausgangssignale das Identifizieren entsprechender Spitzen in den Detektorausgangssignalen und das Berechnen der Differenz ihrer jeweiligen Auftrittszeitpunkte umfassen.
  • Das Spektrometer enthält vorzugsweise zeitliche Fokussierungsmittel, um wenigstens teilweise irgendeine Streuung der anfänglichen kinetischen Energien von Partikeln eines gegebenen m/z zu kompensieren, um somit zwei zeitliche Brennpunkte zu schaffen, wobei jeder Detektor an einem entsprechenden zeitlichen Brennpunkt angeordnet ist. Das Fokussierungsmittel kann auf eine oder mehrere verschiedene Arten funktionieren. Zum Beispiel können Partikel mit höheren kinetischen Energien veranlasst werden, entlang längerer Bahnen zu fliegen als diejenigen mit niedrigeren kinetischen Energien, und/oder können bis zu einem geringeren Ausmaß beschleunigt werden als die langsameren Partikel.
  • Das Spektrometer ist vorzugsweise so betreibbar, dass es einen Strahl der Partikel erzeugt, wobei der Strahl beide Bahnen enthält.
  • In diesem Fall kann das Fokussierungsmittel vorteilhaft Reflexionsmittel umfassen, um die Partikel im Strahl zu reflektieren, derart, dass mit höherer kinetischer Energie von Partikeln gegebener Ladung und Masse die Bahn dieser Partikel durch das Reflexionsmittel länger wird, wobei das Reflexionsmittel in der Bahn des Strahls zwischen den zwei Detektoren angeordnet ist.
  • Das Fokussierungsmittel umfasst vorzugsweise ferner Reflexionsmittel, die in der Bahn des Strahls zwischen der Probe und dem ersten der Detektoren angeordnet sind, so dass der Strahl im Wesentlichen eine gewundene Form aufweist.
  • Das Spektrometer enthält günstigerweise einen Laser zum Freisetzen der ionisierten Partikel von der Probe. Alternativ kann das Spektrometer andere Mittel zum Erzeugen von Ionen verwenden, z. B. die Elektrospray-Ionisation, die Elektronenstoßionisation, die chemische Ionisation, MALDI mit erhöhtem Druck, und dergleichen.
  • Das Fokussierungsmittel kann ferner ein Verzögerungsmittel zum Verzögern der Operation des Beschleunigungsmittels für eine festgelegte Zeitspanne nach der Operation des Lasers umfassen, wobei das Beschleunigungsmittel so angeordnet ist, dass mit zunehmender Flugstrecke eines Partikels von der Probe, bevor das Beschleunigungsmittel aktiviert ist, die Beschleunigung des Partikels geringer ist.
  • Das Spektrometer enthält vorzugsweise ein Datenverarbeitungsmittel, das mit beiden Detektoren verbunden ist und so betreibbar ist, dass es entsprechende Abschnitte der Detektorausgangssignal identifiziert und das Differenzmaß zwischen den Zeitpunkten, zu dem die Abschnitte aufgetreten sind, identifiziert.
  • Die Abschnitte umfassen vorzugsweise Spitzen in den Ausgangssignalen der Detektoren.
  • Das Spektrometer ist vorzugsweise ein MALDI-TOF-Spektrometer, obwohl das Prinzip auf andere Typen von Massenspektrometern angewendet werden kann, wie z. B. Orthogonalextraktions-TOF-Massenspektrometer, Vierpol-TOF- oder Sektor-TOF-Massenspektrometer. Das Prinzip ist sowohl auf Ionenzählungs- als auch Analogerfassungssysteme anwendbar.
  • Das Spektrometer enthält vorzugsweise ein Einfangmittel zum vorübergehenden Einfangen von Partikeln, die von der Quelle freigesetzt worden sind, in einer Zone neben der Probe vor der Beschleunigung der Partikel.
  • Das Einfangmittel trägt dazu bei, die Schwankungen der Partikelextraktionszeitpunkte von einer Probe zu kompensieren.
  • Das Einfangmittel enthält vorzugsweise ein Mittel zum Injizieren eines Gases in diese Zone, um mit den Partikeln zu wechselwirken.
  • Das Einfangmittel ist ein Beispiel eines Ionentransportmittels zwischen der Ionenquelle und dem Beschleunigungsbereich. In anderen Ausführungsformen des hier beschriebenen Doppeldetektorprinzips kann der Ionenquellenbereich durch andere Formen von Ionentransportmittel getrennt sein. Das Ionentransportmittel kann z. B. eine differenziell gepumpte Grenzfläche oder irgendeine andere Anzahl von Vorstufen der Massenspektrometrieanalyse enthalten.
  • Gemäß einem zweiten Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren der Flugzeit-Spektrometrie gemäß Anspruch 14 geschaffen.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
  • Im Folgenden wird die Erfindung lediglich beispielhaft mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, in welchen:
  • 1 eine schematische Seitenschnittansicht eines MALDI-TOF-Massenspektrometers gemäß der Erfindung ist;
  • 2 eine genauere Seitenschnittansicht eines Detektors für das Spektrometer ist;
  • 3 ein Diagramm ist, das die Bahnen von zwei Ionen durch einen Reflektor des Spektrometers zeigt;
  • 4 und 5 vereinfacht die Darstellungen von Signalen sind, die von zwei Detektoren des Spektrometers erhalten werden;
  • 6 ein Signal zeigt, das aus den Signalen von den Detektoren hergeleitet wird; und
  • 7 eine Seitenschnittansicht eines Teils einer modifizierten Version des Spektrometers ist.
  • Genaue Beschreibung
  • Das in 1 gezeigte Spektrometer weist ein Gehäuse 2 auf, das eine Vakuumkammer 1 definiert und einen Endabschnitt 4 enthält, der einen Probenverschluss enthält, welcher eine Probenplatte 6 zum Halten einer zu analysierenden Probe enthält. Der Probenverschluss enthält eine (nicht gezeigte) abdichtbare Tür, um Zugang zur Platte 6 von außerhalb des Gehäuses 2 zu schaffen, wobei der Probenverschluss eine weitere Tür zum Abdichten des Verschlusses vom Rest der Kammer 1 enthält, so dass ein Probe auf der Platte 6 platziert oder von dieser entnommen werden kann, ohne die Kammer 1 unter Druck zu setzen.
  • Ein Impulslaser 8 ist außerhalb des Gehäuses 2 an einer Position angeordnet, in der Licht vom Laser 8 durch ein Fenster 10 in das Gehäuse 2 und auf die Probenplatte 6 gelangt. Eine Folge von ringförmigen Elektroden 12 ist zwischen der Probenplatte 6 und dem Hauptkörper des Gehäuses 2 eingesetzt, wobei die zentralen Öffnungen der Elektroden 12 aufeinander ausgerichtet sind, so dass die von der Probe 6 emittierten Ionen längs einer Bahn durch die Öffnungen in den Elektroden 12 in den Hauptkörper des Gehäuses 2 gelangen können. Diese Bahn erstreckt sich durch eine ringförmige Linsen- und Beschleunigereinheit 14.
  • Die Linse/Beschleunigereinheit funktioniert im Normalbetrieb als Linse, um für eine gewisse Fokussierung des Strahls zu sorgen und die Transmission durch das Instrument zu verbessern. Die Linse/Beschleunigereinheit ist nach einem Ionengatter angeordnet. Das Ionengatter umfasst in dieser Ausführungsform Drähte, die Spannungen wechselnder Polarität führen können, um den Ionenstrahl aus der normalen Bahn auszulenken, so dass er die Detektoren nicht erreicht. Wenn die Spannungen am Gate zu einem bestimmten Zeitpunkt abgeschaltet werden, wenn Ionen eines bestimmten m/z-Verhältnisses am Gatter ankommen, werden sie durch das Instrument gesendet. Das Gatter wird im Nachquellenabfall-(PSD)-Modus (PSD, Post Source Decay) des Instruments betrieben. PSD bezieht sich auf die Fragmentierung von Ionen, nachdem sie aus der Ionenquelle extrahiert worden sind. PSD-Fragmentionen weisen unterschiedliche kinetische Energien gegenüber dem Stammion aus, von dem sie abgeleitet sind, fliegen jedoch mit nahezu der gleichen Geschwindigkeit. Daher werden jedes m/z-Stammion und dessen PSD-Fragmentionen im Wesentlichen zum gleichen Zeitpunkt am Ionengatter ankommen und können in das Instrument durchgelassen werden, während alle anderen m/z-Stammionen zurückgewiesen werden.
  • Sobald ein Ion vom Ionengatter ausgewählt worden ist, kann es von seinen PSD-Fragmenten unterschieden werden, indem alle Ionen elektrischen Feldern ausgesetzt werden. Im PSD-Modus arbeitet die Linse/Beschleunigereinheit als Beschleuniger, um alle Ionen auf eine hohe Energie zu beschleunigen. Das bedeutet, dass die relative Energiedifferenz zwischen den PSD-Fragmentionen reduziert wird, um die Massenauflösung des aufgezeichneten Massenspektrum zu erhöhen. Die Kammer weist eine Innenschicht in Form eines leitenden Mantels 28 auf, der auf anderen Spannungen als derjenigen der Vakuumkammerwand schweben kann. Im PSD-Betriebsmodus schwebt der Mantel auf hohen Spannungen (negativen Spannungen im Fall von positiven Ionen), um die hohe Energie der Ionen nach der Beschleunigung mittels der Linse/Beschleunigereinheit aufrechtzuerhalten.
  • Die Linsen- und Beschleunigereinheit 14 wird von einem zylindrischen Mantel 16 getragen, dessen Achse auf ein Reflexionsmittel ausgerichtet ist, das ein erstes Reflektron 18 umfasst. Das Reflektron 18 nimmt die Form eines Zylinders an, der definiert ist durch eine Folge von abwechselnden ringförmigen Elektrodenplatten und ringförmigen Isolationsabstandshaltern. Die Platten sind mit einer (nicht gezeigten) Spannungsversorgung verbunden, die eine entsprechende Spannung an jede Elektrodenplatte anlegt. Die an die Platten angelegten Spannungen weisen die gleiche Polarität auf wie die Ladung der vom Spektrometer zu analysierenden Ionen, und nehmen schrittweise zu, so dass die Höhe der angelegten Spannung am Ende des Reflektrons 18 näher an der Linsen- und Beschleunigereinheit 14 niedriger ist als die Höhe der Spannung, die an der Elektrodenplatte an gegenüberliegenden Ende des Reflektrons 18 anliegt.
  • Unmittelbar jenseits dieses Endes des Reflektrons 18 ist ein Mikrokanalplattendetektor 20 angeordnet, der erlaubt, das Spektrometer für einen linearen Analysemodus zu verwenden (wenn das Reflektron 18 nicht aktiv ist). Ein weiterer ähnlicher Detektor 22 ist neben der Linse/Beschleunigereinheit 14 und zwischen dem Reflektron 18 und einem weiteren identischen Reflektron 24 angeordnet.
  • Es ist möglich, ein Ionengatter zwischen den zwei Reflektrons hinzuzufügen, um Stammionen für eine anschließende Fragmentierung vor dem Eintritt in das zweite Reflektron auszuwählen. Die zwei Hälften des Instruments, d. h. von der Quelle zum Detektor und vom ersten Detektor zum zweiten Detektor, können anschließend als separate TOF-Massenspektrometer verwendet werden, um eine Tandem-Massenspektrometrie (MS/MS) durchzuführen. In diesem Fall können zusätzliche Mäntel und Ionenoptiken bei Bedarf hinzugefügt werden.
  • Der Detektor 22 ist mit einer dünnen leitenden Abschirmung 26 verbunden. Sowohl der Detektor 22 als auch die Abschirmung 26 sind in 2 genauer gezeigt, aus der deutlich wird, dass der Detektor und die Abschirmung auf einem zylindrischen Mantel 28 in der Bahn montiert sind, die im Gebrauch von einigen der vom Spektrometer zu analysierenden Ionen genommen wird. Aus 2 wird deutlich, dass der Detektor 22 diese Ionen einfängt, während er den übrigen Ionen erlaubt, weiter in Richtung des Reflektrons 22 zu fliegen, wobei die Abschirmung den Detektor 22 daran hindert, die Bahnkurven dieser Ionen zu beeinflussen.
  • Ein dritter Detektor 30, der zu den Detektoren 22 und 20 identisch ist, ist an dem Ende des Gehäuses 2 gegenüberliegend dem Reflektron 24 angeordnet, derart, dass er die von Letzterem reflektierten Ionen einfängt. Die Ausgänge der Detektoren 20, 22 und 30 sind über ein Datenerfassungssystem 32 mit einem Computer 34 verbunden.
  • Im Gebrauch wird eine zu analysierende Substanz, die in eine geeignete Grundsubstanz eingebettet worden ist, auf der Probenplatte 6 platziert. Die Tür des Probenverschlusses 4 wird dann geschlossen.
  • Der Laser 8 feuert anschließend einen Impuls ultravioletten Lichts mit der Wellenlänge 337 nm durch das Fenster 10 auf die Probe auf der Platte 6. Die Grundsubstanz absorbiert resonierend das Laserlicht, was anschließend einen Strahl an Material hervorruft, der das Analyt enthält und aus dem Bereich der Probe ausbricht.
  • Die Moleküle des Analyts, die in dem Strahl enthalten sind, fliegen von der Probe mit unterschiedlichen Geschwindigkeiten weg und werden zu zahlreichen unterschiedlichen Zeitpunkten nach dem Auftreten des Impulses ionisiert.
  • Nach einer vorgegebenen Verzögerung wird der Strahl durch Anlegen einer Spannung an die Elektroden 12 mit einem beschleunigenden elektrostatischen Feld beaufschlagt. Wenn dies geschieht, sind die Ionen, die mit hohen Geschwindigkeiten ausgestoßen worden sind, weiter von der Probenplatte 6 abgetrieben und befinden sich näher an den Elektroden 12 als diejenigen Ionen des Strahls, die niedrigere Geschwindigkeiten aufweisen.
  • Je weiter die Ionen von den Elektroden 12 entfernt sind, wenn das Feld angelegt wird, desto größer ist deren Beschleunigung. Die Elektroden 12 erzeugen einen Strahl, in welchem als Ergebnis die Ionen mit niedrigen Anfangsgeschwindigkeiten (d. h. vor dem Anleger des Extraktionsfeldes) mit höheren Geschwindigkeiten fliegen als die Ionen mit hohen Anfangsgeschwindigkeiten, weshalb sie schließlich die späteren Ionen an einem ersten zeitlichen Brennpunkt einholen und überholen. Es ist ferner möglich, ein zeitveränderliches elektrisches Feld nahe der Probenplatte vor dem Anwenden des Extraktionsimpulses vorzusehen, um die Geschwindigkeit weiter zu korrigieren.
  • In 1 ist die vom Ionenstrahl genommene Bahn mit dem Bezugszeichen 36 bezeichnet, woraus deutlich wird, dass der Strahl durch die Linsen- und Beschleunigereinheit 14 läuft und auf das erste Reflektron 18 trifft, dessen Funktion im Folgenden beschrieben wird. Die Massenauflösung eines von einem Detektor in einem Flugzeit-Spektrometer erhaltenen Signals ist gegeben durch die Formel:
    Figure 00110001
    wobei T die Gesamtflugzeit bis zur Mitte der erfassten Spitze ist, und ΔT die Dauer der erfassten Spitze ist. Die Auflösung kann somit erhöht werden, indem T erhöht wird und/oder ΔT verringert wird.
  • Das Erhöhen von T wird erreicht durch Erhöhen der Flugbahnlänge. Ein einfaches Verdoppeln der Länge der Flugbahn verdoppelt jedoch nicht unbedingt die Auflösung, da aufgrund der Energiespreizung (und somit Geschwindigkeitsspreizung) der Ionen im Strahl auch ΔT mit zunehmenden Flugbahnlängen tendenziell zunimmt.
  • Das Reflektron 18 erhöht die Auflösung des Spektrometers durch Erhöhen der Fluglänge, hält jedoch ΔT nahezu auf dem gleichen Wert, wie er nach der Extraktion von der Probe besteht. Ionen, die in das Reflektron 18 gelangen, werden einem elektrischen Feld unterworfen, dessen Intensität progressiv zunimmt, wenn die Ionen in Richtung zum Detektor 20 fliegen. Es wird angenommen, dass mit höherer anfänglicher kinetischer Energie eines Ions das Ion weiter in das Reflektron 18 fliegt, bevor es stoppt und mittels des elektrischen Feldes zurück aus dem Reflektron beschleunigt wird.
  • Dieser Effekt ist in 3 dargestellt, in welcher das Bezugszeichen 38 ein Ion bezeichnet, das mit relativ niedriger Geschwindigkeit in das Reflektron 18 fliegt, und das Bezugszeichen 40 ein Ion bezeichnet, das mit höheren Geschwindigkeit fliegt. Obwohl das Ion 38 mit niedriger Geschwindigkeit das Reflektron 18 nach dem Ion mit höherer Geschwindigkeit erreicht, folgt es einer kürzeren Bahn zum Reflektor, die mit dem Bezugszeichen 42 bezeichnet ist, und verlässt somit das Reflektron 18 vor dem Ion 40 (das der längeren Bahn 44 gefolgt ist).
  • Das Ion 40 fliegt weiterhin mit einer höheren Geschwindigkeit als das Ion 18 und holt schließlich das letztere an einem zeitlichen Brennpunkt im Spektrometer ein und überholt es. Der Detektor 22 ist an diesem Brennpunkt angeordnet und ragt bis zur Hälfte in den Strahl (in 2 mit dem Bezugszeichen 46 gezeigt), um das Ion unterhalb der Achse dieses Strahls abzufangen. Andere Mittel zum Auswählen eines Teils des Strahls zur Erfassung auf dem Detektor 22, wie z. B. ein Mehrfachelementablenker, sind ebenfalls möglich.
  • In dem in 4 gezeigten Graphen bezeichnet die horizontale Achse die Zeit nach dem Abfeuern eines verzögerten Extraktionsspannungsimpulses, der an die Elektroden 12 angelegt wird, um die Ionen zu Beschleunigen, wobei der Ursprung der Zeitpunkt ist, zu dem der Impuls abgefeuert wird, während die vertikale Achse die Amplitude des vom Detektor erzeugten Signals und somit die Anzahl der erfassten Ionen bezeichnet.
  • Die Ionen, die vom Detektor 22 nicht gezählt werden, laufen in einem Strahl in das Reflektron 24, das eine ähnliche Funktion wie das Reflektron 18 hat und die räumliche Spreizung von Ionen (mit dem gleichen Masse/Ladung-Verhältnis) unterschiedlicher Geschwindigkeiten reduziert und den Strahl in Richtung auf einen zweiten zeitlichen Brennpunkt lenkt, bei dem der Detektor 30 angeordnet ist. Die 4 und 5 sind vereinfachte Graphen, die die Signale zeigen, die von den Detektoren 22 und 30 erzeugt würden, wenn alle Ionen im Strahl das gleiche Verhältnis von Ladung zu Masse aufwiesen. Wenn alle Ionen gleichzeitig von der gleichen Position auf der Probe mit der gleichen Anfangsgeschwindigkeit freigesetzt würden, würde das vom Detektor 22 erzeugte Signal eine einfache Spitze mit einer unendlich kleinen Breite sein.
  • Aufgrund der Variation der anfänglichen kinetischen Energien der Ionen und der Ionenextraktionszeitpunkte umfasst das vom Detektor 22 erzeugte Signal einen allmählichen Anstieg 47 auf ein Maximum 48, dem ein allmählicher Abstieg 50 folgt. Der Anstieg, das Maximum und der Abstieg eines Signals werden gewöhnlich als eine Spitze bezeichnet, die daher eine endliche Breite aufweisen kann.
  • Die gestrichelte Linienspur 52 zeigt das Signal, das von Ionen erzeugt werden könnte, die von der Probe mittels eines zweiten Laserimpulses freigesetzt werden. Es wird deutlich, dass das vom Impuls zu Impuls erzeugte Signal aufgrund unterschiedlicher Ejektionseigenschaften der Probe verschoben sein kann.
  • Der Maximumabschnitt dieses Signals, mit dem Bezugszeichen 54 bezeichnet, ist zeitlich relativ zur Spitze 48 verschoben, da der zweite Laserimpuls den Ionen im Mittel niedrigere kinetischer Energien aufgeprägt hat als der erste Impuls.
  • Wie jedoch im Graphen der 5 gezeigt ist, deren Achsen denjenigen der 4 entsprechen, ist diese Verschiebung auch in den vom Detektor 30 erzeugten Signalen vorhanden, in denen die Spitzen 56 und 58 jeweils den Spitzen 48 und 54 entsprechen.
  • Der Computer 34 ist so programmiert, dass er die Spitzen von den Ausgangssignalen der einzelnen Detektoren identifiziert und die Maxima 48 und 56 sowie 54 und 58 korreliert. Der Computer erzeugt anschließend den in 6 gezeigten Graphen, in welchem die horizontale Achse die Zeitverzögerung zwischen entsprechenden Abschnitten von Signalen zeigt, die von den Detektoren 22 und 30 erzeugt werden. Anschließend wird die Verschiebung zwischen den Spitzen im Signal vom Detektor 22 mittels der entsprechenden Verschiebung in den Signalen vom Detektor 30 aufgehoben, um im Wesentlichen die gleiche Spitzenposition 60 für beide Laserimpulse zu erhalten.
  • Die entsprechenden Spitzen auf den Detektoren 22 und 30 können aus den Kalibrierungen der zwei Detektoren bestimmt werden. Sobald dies bewerkstelligt worden ist, können die Spitzen Punkt für Punkt korreliert werden, um die neue(n) Spitze(n) zu zeichnen, die anhand der Zeitdifferenz zwischen den jeweils korrelierten Punkten erzeugt wird (werden).
  • Die Spitzen auf dem ersten Detektor (Detektor 22) werden mit den Spitzen auf dem zweiten Detektor (Detektor 30) unter Verwendung einer geeigneten Korrelationsfunktion korreliert, so dass jeder Zeitkasten über den Spitzen des Detektors 30 anschließend mit einem Zeitkasten über den Spitzen auf dem Detektor 22 korreliert werden kann. Die Flugzeiten an allen Punkten über der Spitze auf dem Detektor 22 werden anschließend von der Flugzeit der entsprechenden Punkte auf dem Detektor 30 subtrahiert. Die Flugzeitdifferenzen werden anschließend in einem neuen Zeitgraphen gezeichnet, der die Flugzeiten zwischen den zwei Detektoren darstellt. Da die Spitzenbreiten der Spitzen auf den zwei Detektoren in der beschriebenen Ausführungsform ähnlich sein sollten, sind die gezeichneten Spitzen im Differenzspektrum viel schmaler.
  • Alternativ kann (können) der (die) Schwerpunkt(e) der Spitze(n) auf den Detektoren 22 und 30 berechnet werden und die Zeitdifferenz zwischen den Schwerpunkten als Schwerpunkt der Spitze im Differenzspektrum verwendet werden.
  • Der Prozess kann für jeden aufeinanderfolgenden Impuls wiederholt werden, wobei die einzelnen Impulse im Differenzspektrum akkumuliert werden. Alternativ kann eine Anzahl von Impulsen akkumuliert und/oder gemittelt werden, bevor irgendeine mathematische Prozedur verwendet wird, um das Differenzspektrum zu bestimmen. Da das Zittern der Ankunftszeiten an den zwei Detektoren in der gleichen Richtung stattfindet, ist die zeitliche Position des Differenzmassenspektrums relativ unveränderlich, wobei Spitzenbreiten schmal bleiben sollten. Schmale Spitzen bedeuten, dass die Genauigkeit der den Spitzen zugewiesenen m/z-Werte hoch ist.
  • Das Differenzmassenspektrum wird zum Bestimmen der m/z-Werte mit hoher Genauigkeit verwendet. Es spiegelt jedoch nicht die wahre Massenauflösung des Massenspektrometers wider. Die wahre Massenauflösung des Instruments ist aus individuellen Schüssen auf den Detektor 30 offensichtlich. Die individuellen Schüsse auf den Detektor 22 können auch auf der Grundlage des Zitterns, das aus den Differenzmessungen bestimmt worden ist, akkumuliert und zugeordnet werden.
  • In der Realität kann die Probe Ionen unterschiedlicher Verhältnisse von Ladung zu Masse erzeugen, so dass die Detektoren 22 und 30 Signale erzeugen, von denen jedes eine Reihe von Spitzen aufweist. Das Spektrometer kann jedoch auf einen vernünftig hohen Grad der Genauigkeit kalibriert werden, so dass es möglich wäre, festzulegen, welche Spitzen dem gleichen Masse/Ladung-Verhältnis auf den zwei Detektoren entsprechen.
  • 7 zeigt eine teilweise modifizierte Version des Spektrometers, das mit dem in 1 gezeigten Spektrometer identisch ist, abgesehen vom Einschluss eines Einfangmittels, das eine Einfangzelle 62 umfasst, die zwischen der Probenplatte 6 und der ringförmigen Elektrode 12 angeordnet ist.
  • Die Aufgabe der Zelle 62 ist, eine hohe Massengenauigkeit zu bewirken durch Berücksichtigen von Variationen der Flugzeiten auf Grund von z. B.
  • Variationen der Spannungen, der Ejektionsgeschwindigkeiten und dergleichen. Im Fall der MALDI-TOF ist es wünschenswert, eine gleichmäßige Probenvorbereitung und eine gute Kontrolle über die Laserleistung zu haben, um die beste Massenauflösung zu erzielen. Schwankungen dieser Parameter werden bis zu einem gewissen Grad durch eine verzögerte Extraktion kompensiert. Es wäre jedoch von Vorteil, die Ionenquellen-Extraktionszeitpunkte von der Zeitsteuerung des TOF-Massenspektrometers entkoppeln zu können.
  • Die bevorzugte Ausführungsform der Einfangzelle ist eine zylindrische symmetrische Einfangzelle 62, die nach der Probenplatte 6 positioniert ist. Ionen werden von der Quelle extrahiert und in die Falle 62 injiziert, wo sie innerhalb eines begrenzten Raumbereiches mittels Hochfrequenzfeldern gehalten werden, die durch Anlegen geeigneter Spannungen an drei ringförmige Elektroden 64, 66 und 68 erzeugt werden. Ein Impuls des Gases wird anschließend in die Zelle über ein gepulstes Ventil von zwei gegenüberliegenden Seiten geleitet, um einen Strahl zu bilden. Der mittels der Elektrode 66 definierte Zellenbereich wird über Öffnungen 70 und 72, die mit einer Vakuumquelle verbunden sind, gepumpt und bleibt unter Hochvakuum.
  • Die Ionen in der Falle 62 unterliegen mehrfachen Niedrigenergiekollisionen mit dem Hintergrundgas und migrieren zum Zentrum der Falle während der Zeitperiode, in der der hohe Druck besteht. Die Ionen werden anschließend aus der Falle in das Massenspektrometer ausgestoßen, wie vorher, indem ein Spannungsimpuls an die Elektroden 12 angelegt wird. Der Impuls initiiert den Startzeitpunkt für das TOF-Massenspektrometer. Es ist ferner möglich, eine solche Vorrichtung mit einer Dauerstrahlionenquelle, wie z. B. einem Elektrospray, zu verwenden, wobei die Falle für eine Zeitperiode vor dem Abkühlen und Ausstoßen in das Massenspektrometer gefüllt wird. Eine beliebige andere Konstruktion der Falle, z. B. eine vierpolige Ionenfalle, kann ebenfalls verwendet werden.
  • Es wird angenommen, dass verschiedene Modifikationen am Spektrometer vorgenommen werden können, ohne vom Umfang der Erfindung abzuweichen. Somit kann z. B. das Spektrometer nur ein Reflektron aufweisen. Außerdem kann das Spektrometer alternative Typen eines Detektors verwenden, z. B. Channeltrons (Kanalelektronenvervielfacher) oder Dynode-Elektronenvervielfacher oder eine Bildstromerfassung.

Claims (16)

  1. Flugzeit-Massenspektrometer zum Messen der m/z ionisierter Partikel, wobei das Spektrometer umfasst: eine Ionenquelle zum Erzeugen der ionisierten Partikel, ein Beschleunigungsmittel (14) zum Beschleunigen der ionisierten Partikel, um somit einen Ionenstrahl zu bilden, der längs zweier Bahnen verläuft, sowie zwei Detektoren (22, 30), von denen jeweils einer auf jeder der zwei Bahnen angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die zwei Detektoren in unterschiedlichen Abständen von der Ionenquelle angeordnet sind, wobei das Spektrometer ferner dadurch gekennzeichnet ist, dass es Mittel zum Abtasten (16) vom Ionenstrahl umfasst, die so angeordnet sind, dass sie den Ionenstrahl auf einer der zwei Bahnen abfangen, so dass ein Teil des Strahls am ersten der zwei Detektoren erfasst wird und ein Teil des Strahls weiterläuft, um vom zweiten der zwei Detektoren erfasst zu werden, so dass im Gebrauch die Flugzeiten für irgendwelche oder alle Ionen einer gegebenen m/z zu jedem der zwei Detektoren zum Zweck der Verbesserung der Messgenauigkeit der m/z-Werte der Ionen durch Messen der Differenzen oder der mittleren Differenzen der Ankunftszeiten entsprechender ionisierter Partikel an den zwei Detektoren verwendet werden, um zu ermöglichen, die m/z-Kennlinien zu bestimmen.
  2. Spektrometer nach Anspruch 1, bei dem das Spektrometer Zeitfokussierungsmittel (18, 24) enthält, um wenigstens teilweise irgendeine Spreizung der anfänglichen kinetischen Energien der Partikel einer gegebenen m/z zu kompensieren, um somit zwei zeitliche Brennpunkte zu schaffen, wobei jeder Detektor an einem entsprechenden zeitlichen Brennpunkt angeordnet ist.
  3. Spektrometer nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, wobei das Spektrometer Kopplungsmittel (12) enthält, um die Ionen von der Probe zum Beschleunigungsmittel zu transportieren, oder den Transport zu erlauben.
  4. Spektrometer nach irgendeinem der Ansprüche 1 bis 3, das so beschaffen ist, dass die Richtung des Ionenstrahls beim Eintritt in das Beschleunigungsmittel um einen beliebigen Winkel zur Richtung der Beschleunigung geneigt ist.
  5. Spektrometer nach irgendeinem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem das Fokussierungsmittel Reflexionsmittel umfasst, um die Partikel im Strahl zu reflektieren, derart, dass mit zunehmender kinetischer Energie der Partikel mit einer gegebenen Ladung und Masse die Bahn dieser Partikel durch das Reflexionsmittel länger wird, wobei das Reflexionsmittel in der Bahn des Strahls zwischen den zwei Detektoren angeordnet ist.
  6. Spektrometer nach Anspruch 5, bei dem das Fokussierungsmittel weitere Reflexionsmittel umfasst, die in der Bahn des Strahls zwischen der Probe und dem ersten der Detektoren angeordnet sind, so dass der Strahl eine im Wesentlichen gewundene Form aufweist.
  7. Spektrometer nach irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Spektrometer einen Laser (8) zum Freisetzen der ionisierten Partikel von der Probe (6) oder irgendeine andere in der Massenspektrometrie verwendete Ionenquelle enthält.
  8. Spektrometer nach irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Fokussierungsmittel ferner ein Verzögerungsmittel umfasst zum Verzögern der Operation des Beschleunigungsmittels um eine festgelegte Zeitspanne nach der Freisetzung der ionisierten Partikel.
  9. Spektrometer nach irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Spektrometer ein Datenverarbeitungsmittel (34) enthält, das mit beiden Detektoren verbunden ist und so betreibbar ist, dass es entsprechende Abschnitte der Detektorausgangssignale identifiziert und die Diffe renz zwischen den Zeitpunkten, zu denen diese Abschnitte auftreten, misst.
  10. Spektrometer nach Anspruch 8, bei dem die Abschnitte Spitzen in den Ausgangssignalen der Detektoren umfassen.
  11. Spektrometer nach irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, bei dem das Spektrometer ein MALDI-TOF-Spektrometer ist.
  12. Spektrometer nach Anspruch 3, bei das Kopplungsmittel ein Einfangmittel (62) umfasst zum vorübergehenden Einfangen von Partikeln, die von der Quelle freigesetzt worden sind, in einer Zone nahe der Probe vor der Beschleunigung der Partikel.
  13. Spektrometer nach Anspruch 11, bei dem das Einfangmittel Mittel enthält zum Injizieren eines Gases in diese Zone, um mit den Partikeln zu wechselwirken.
  14. Verfahren der Flugzeitspektrometrie zum Messen von Kennlinien der m/z ionisierter Partikel, wobei das Verfahren die Schritte umfasst: a) Freisetzen der ionisierten Partikel von einer Probe; b) Beschleunigen der Partikel längs zweier Bahnen; und gekennzeichnet ist durch c) Messen der Ankunftszeiten der Partikel an zwei Punkten, jeweils einer auf jeder der Bahnen, in unterschiedlichen Abständen von der Probe; und d) Messen der Differenzen oder der mittleren Differenzen der Ankunftszeiten der entsprechenden Partikel an den Punkten, um zu ermöglichen, die m/z-Kennlinien zu bestimmen.
  15. Verfahren nach Anspruch 14, bei dem beide Bahnen in einem einzelnen Partikelstrahl enthalten sind, wobei eine Bahn entlang der anderen verläuft, jedoch kurz vor dieser endet.
  16. Verfahren nach Anspruch 15, bei dem der Strahl eine im Wesentlichen gewundene Form aufweist.
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