DE635316C

DE635316C - Measuring device for test devices or the like.

Info

Publication number: DE635316C
Application number: DEL86679D
Authority: DE
Inventors: Helmut Becker; Ludwig Leitz
Original assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Current assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date: 1934-09-28
Filing date: 1934-09-28
Publication date: 1936-09-15

Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Messen der Kreuzverschiebung des Arbeitstisches eines Prüfgerätes, einer Werkzeugmaschine o. dgl.The invention relates to a device for measuring the cross displacement of the work table a test device, a machine tool or the like.

Es ist bekannt, an Prüfgeräten o. dgl. die lineare Verschiebung eines Geräteteils gegen den anderen mittels mikroskopischer Ablesung von fein geteilten Maßstäben zu bestimmen. Soweit bisher derartige Geräte mit Kreuzverschiebung hergestellt wurden, las man das Maß der Verstellung seitlich ab, und zwar derart, daß an der einen Platte seitlich ein Maßstab angebracht war und an der darunter oder darüber befindlichen die Ablesemarke. Diese Befestigungsart der Maßstäbe hat den Nachteil, daß sie durch Öl ο. dgl. leicht verschmutzen und infolgedessen schlecht ablesbar werden. Vollkommen untauglich sind dieselben aber für eine mikroskopische Feinablesung. Man hat daher bei linearer Verschiebung den Maßstab verdeckt angebracht. Andererseits ist es bei geodätischen Instrumenten bekannt, mehrere Meßstellen in einem Okular abzubilden.It is known, on test devices or the like. The linear displacement of a device part against to determine the other by means of microscopic reading of finely divided scales. As far as such devices with cross shift have been manufactured so far, the amount of adjustment was read from the side, in such a way that a scale was attached to the side of one plate and on the below or above the reading mark. This way of fixing the rules has the disadvantage that oil ο. Like. Easily dirty and as a result bad can be read. However, they are completely unsuitable for a microscopic fine reading. The scale has therefore been attached in a concealed manner in the case of a linear shift. On the other hand, it is with geodetic instruments known to map several measuring points in one eyepiece.

Unter Anwendung dieser Maßnahmen kann man nun bei zweidimensionaler Verschiebung die obigen Nachteile beheben. Erfindungsgemäß werden zwei sich annähernd in ihren Mitten kreuzende Maßstäbe angebracht. Davon liegt der eine in der Grundplatte und der andere in der oberen beweglichen Platte. In einer zwischen diesen liegenden, gegen die oberste gekreuzt beweglichen Platte sind das Beobachtungssystem und die Beleuchtungsvorrichtung eingebaut. Diese Anordnung bringt folgende Vorteile mit sich. Es liegen beide Maßstäbe verdeckt und durch die Tischplatte vollkommen abgeschlossen, so daß sie vor Verschmutzen und gegen Beschädigung geschützt und für die mikroskopische Ablesung geeignet sind. Die gekreuzte Anordnung der Maßstäbe gestattet, die Ablesung für beide an dem Kreuzungspunkt entweder durch zwei dicht beieinander liegende, getrennte Beobachtungsemrichtungen oder mittels eines einzigen Systems vorzunehmen, während die Kreuzung in den Mitten der Maßstäbe den Vorteil mit sich bringt, daß eine einseitige Verschiebung des Arbeitstisches mit dabei eintretender einseitiger Überlastung vermieden wird.Using these measures one can now with two-dimensional displacement fix the above disadvantages. According to the invention, two are approximately in their Crossing rulers attached in the middle. One of them is in the base plate and one is in the others in the upper movable plate. In one lying between these, against the The uppermost crossed movable plate are the observation system and the lighting device built-in. This arrangement has the following advantages. Both scales are covered and by the table top completely sealed so that they are protected from dirt and damage and for microscopic reading are suitable. The crossed arrangement of the gauges allows the reading for both at the crossing point either by means of two closely spaced, separate observation devices or by means of a single system to undertake while crossing in the midst of the scales has the advantage that a one-sided displacement of the work table with thereby occurring one-sided overload is avoided.

Die optischen Mittel der Beobachtungseinrichtung sind hierbei so beschaffen, daß sie die Skalen der Maßstäbe in zueinander paralleler Lage in das Bildfeld des Okulars abbilden. Dort werden entweder beide zugleich im Trennbild oder durch Abblenden einer nach dem anderen beobachtet. ZwischenThe optical means of the observation device are designed so that the scales of the rulers in a mutually parallel position in the field of view of the eyepiece depict. There either both are observed at the same time in the separating image or by stopping down one after the other. Between

*) Von dem Patentsucher sind als die Erfinder angegeben worden:*) The patent seeker indicated the following as the inventors:

Helmut Becker und Ludwig Leitz in Wetzlar.Helmut Becker and Ludwig Leitz in Wetzlar.

oder neben den Bildern der Skalen ist .für beide gemeinsam ein unterteilter Maßstab oder ein Nonius angeordnet.or next to the pictures of the scales there is a subdivided scale for both together or a vernier.

In der Zeichnung¹ ist die Erfindung in zwei^;: Ausführungsbeispielen dargestellt, und zJfftajr zeigt ' If^ In the drawing ^1, the invention is in ^two; illustrated embodiments, and shows zJfftajr 'If ^

Abb. ι eine Einrichtung mit zwei Beobacn?' tungssystemen im Aufriß,Fig. Ι a device with two observations? ' management systems in elevation,

Abb. 2 die gleiche Einrichtung in der Aufsieht, _t Fig. 2 the same device in the looks, _t

Abb. 3 eine Einrichtung: mit einem Beobachtungssystem im Aufriß,Fig. 3 a facility: with an observation system in elevation,

Abb. 4 die gleiche Einrichtung in der Aufsicht, Fig. 4 the same device from above,

is Abb. S eine x^nsicht des in der Einrichtung nach Abb. 3 und 4 verwendeten Prismen-• systems.is Fig. S an x ^ view of the in the establishment according to Fig. 3 and 4 used prism • systems.

Zwei Maßstäbe-2 und 3 sind an zwei hier nur im Umriß dargestellten Platten 13 eines Werktisches, sich ungefähr in ihren Mitten kreuzend, angeordnet. Hiervon ist der eine Maßstab 3 an der unbeweglichen Grundplatte, der andere, 2, an der oberen, die Werkstücke tragenden Platte befestigt. In einer dazwischenliegenden, gegen die oberste gekreuzt laufenden Platte ist die Beleuchtungseinrichtung ι und die Beobachtungseinrichtung eingebaut. —. In der in den Abb. 1 und 2 dargestellten Einrichtung werden zunächst durch zwei rechtwinklige 45°-Prismen 4 und 5 die abbildenden Strahlen nach derselben Seite abgelenkt: Zwei geradsichtige Abbesche Prismen 6 und 7 sind nun derart eingeschaltet, nämlich das eine gegen das andere um 45° gedreht, daß sie die Bilder in parallele Lage zueinander bringen. Zwecks leichterer Ablesung erfährt jeder Strahlengang an einem Prismenpaar 8, 9 noch eine Ablenkung um etwa 45° nach oben. Beide werden dann durch zwei rhombische Prismen ι ο und 11 nebeneinander in einem Trennbild vereinigt. In der Okularebene ist auf einem Glasplättchen 12 ein unterteilter Maßstab oder ein Nonius zur Feinablesung so angeordnet, daß er, zwischen den beiden Meßskalenbildem liegend, gleichzeitig für beide verwendet werden kann.Two scales — 2 and 3 — are one of two plates 13, which are only shown here in outline Workbenches, roughly crossing each other, arranged. One of these is Scale 3 on the immovable base plate, the other, 2, on the upper one, the workpieces load-bearing plate attached. In an intermediate one, crossed against the top one running plate is the lighting device and the observation device built-in. -. In the one shown in Figs Initially, two 45 ° right-angled prisms 4 and 5 are used to set up the images Beams deflected to the same side: Two straight Abbe prisms 6 and 7 are now switched on, namely one against the other rotated by 45 ° so that the images are in a parallel position to each other bring. To make it easier to read, each beam path is shown on a pair of prisms 8, 9 another deflection of about 45 ° upwards. Both are then replaced by two rhombic prisms ι ο and 11 side by side united in a separator image. In the eyepiece plane there is a 12 on a glass plate subdivided scale or a vernier for fine reading arranged so that it, between lying on the two measuring scales, can be used for both at the same time.

In den Abb. 3, 4 und 5 ist eine Einrichtung mit nur einem Beobachtungssystem dargestellt. Ein Prismensystem 14, 1.5 vereinigt durch die teildurchlässig verspiegelte Fläche beide Strahlengänge in einem. Durch Verstellung der Blenden 17 und 18 kann jeweils ,,ein Meßfeld zur Beobachtung freigegeben /werden. Da die Parallelrichtung der Maßgi-äbe schon im Prismensystem 14, 15 vorge-■'ijiömmen wird, ist im weiteren Strahlengang %ur noch die Anordnung eines Prismas 8 für die Ablenkung zur bequemeren Beobachtung erforderlich. In der Okularebene ist auch hier auf einem Glasplättchen 12 ein unterteilter Maßstab oder ein Nonius angebracht. Man kann nun je nach Form und Verwendung der Blenden 17 und 18 entweder einen Maßstab abdecken und den anderen zur Hälfte neben dem Nonius abbilden, wie in Abb. 4 dargestellt. Man kann aber auch die Hälfte' der beiden Maßstäbe zugleich abbilden und zwischen ihnen den Nonius anordnen, wie es in Abb. 2 zu sehen ist. ^ In Figs. 3, 4 and 5 a device with only one observation system is shown. A prism system 14, 1.5 combines both beam paths in one due to the partially transparent mirrored surface. By adjusting the diaphragms 17 and 18, one measuring field can be released for observation. Since the parallel direction of the dimensions is already provided in the prism system 14, 15, the arrangement of a prism 8 for the deflection for more convenient observation is necessary in the further beam path. Here, too, a subdivided scale or a vernier is attached to a small glass plate 12 in the eyepiece plane. Depending on the shape and use of the diaphragms 17 and 18, you can either cover one scale and map the other half next to the vernier, as shown in Fig. 4. But you can also map half of the two scales at the same time and arrange the vernier between them, as can be seen in Fig. 2. ^

Claims

PATENT PROBLEMS:

I. Device for measuring the cross displacement of the work table of a test device, a machine tool or the like, characterized by two approximately in the starting position of the work table measuring rods crossing in their centers, one in the immovable base plate, the other in the the workpiece-bearing cover plate is installed concealed on the inside and an intermediate one movable plate that supports the lighting and observation device.

2. Device according to claim 1, characterized in that the measuring points imaging beam paths are combined in a prism system with a semi-transparent surface and continue through Reflection can be rotated so that the scales of the 'measures in the image field of the Oculars run parallel to each other and that each one measuring point by displaceable Apertures can be covered.

3. Device according to claims 1 and 2, characterized in that only a finely subdivided scale o ° the vernier is arranged in the image field of the eyepiece for the images of both J _{00 scales.}

1 sheet of drawings