DE4325419C2 - Lecksuchgerät für Vakuumanlagen - Google Patents
Lecksuchgerät für VakuumanlagenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Lecksuchgerät für Vakuumanlagen, bei dem ein
Spürgas nachgewiesen wird, bestehend aus einem Rezipienten, einer
Vakuumpumpe und einem Gassensor.
Das erfindungsgemäße Lecksuchgerät ist für verschiedenartige
Anwendungsfälle auf dem Gebiet der Vakuumtechnik einsetzbar.
Im Stand der Technik sind Lecksuchgeräte, bei denen ein Spürgas in einem
Massenspektrometer nachgewiesen wird, bekannt. Damit das
Massenspektrometer zwischen leichten und schweren Ionen unterscheiden
kann, muß der Druck des zu analysierenden Gases dabei sehr gering sein.
Derartige Lecksuchgeräte besitzen daher in der Regel eine mechanische
Vorpumpe und eine Hochvakuumpumpe, die meist als mehrstufige
Öldiffusionspumpe ausgebildet ist. Das auf Undichtheiten zu überprüfende
Gefäß wird an das Lecksuchgerät angeschlossen und das Spürgas um die
Außenwand des Gefäßes geleitet. Als Spürgas wird vorzugsweise Helium
verwendet. Derartige Lecksuchgeräte erfordern deshalb einen sehr hohen
Aufwand.
Es ist weiterhin bekannt, Lecks in Vakuumanlagen mit Hilfe von
Halogenlecksuchgeräten zu bestimmen. Diese Geräte arbeiten durch
Besprühen der Rezipientenwand mit Fluor-Chlor-Kohlenwasserstoff-Gas.
Das Fluor-Chlor-Kohlenwasserstoff-Gas dringt in das Vakuum ein und führt
an einem dort angebrachten Sensor zu einer Widerstandsänderung, die ein
Signal bewirkt, welches elektronisch ausgewertet wird und damit auf ein
Leck hinweist. Bei diesem Verfahren ist nachteilig, daß stark
umweltschädliches Fluor-Chlor-Kohlenwasserstoff-Gas als
Dedektionsmedium verwendet wird.
Nach US 2819609 und nach GB-Z: Vacuum/volume 37 numbers 8/9 Seiten
691 bis 698/1987 sind Lecksuchgeräte für Vakuumanlagen bekannt, bei
denen ein Spürgas nachgewiesen wird und die einen Halbleiter-Gassensor
verwenden. Nachteilig ist hierbei, dass keine Aussage zum Leck im
Rezipienten möglich ist.
Nach US 4818976, EP 0 444 753 A1, JP 59-38640 (A) In: Patents Abstracts
of Japan, DE-Z: gwf-gas/erdgas 118 (1977) H. 1, Seiten 16 bis 19, DE-Z:
Elektronik 1/1991, Seiten 42 bis 47 sowie DE-Z: Elektronik 6/1991, Seiten
42 und 43 ist es bekannt, Zinnoxid-Gassensoren für verschiedene
Anwendungsfälle einzusetzen. Bei diesen Anordnungen ist der Einsatz aber
nur unter Normaldruckverhältnissen vorgesehen und geeignet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde ein Lecksuchgerät anzugeben, mit
dem ein in einem Rezipienten vorhandenes Leck ohne den Einsatz
umweltschädlicher Medien ermittelt wird.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit einer Vorrichtung, welche die in
Anspruch 1 angegebenen Merkmale enthält, gelöst.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung ist im Anspruch 2 angegeben.
Die Vorteile des erfindungsgemäßen Lecksuchgerätes bestehen insbesondere
darin, daß zwar das bei den Halogenlecksuchgeräten übliche
anwendungsfreundliche Verfahren angewendet werden kann, der Einsatz
umweltschädlicher Gase jedoch nicht erforderlich ist. Vorteilhaft ist dabei,
daß das Signal leicht elektronisch ausgewertet werden kann. Um die
Lecksuchgeschwindigkeit zu erhöhen kann das Grundsignal des Sensors
elektronisch nachgeführt werden.
Ein weiterer wichtiger Vorzug des erfindungsgemäßen Lecksuchgerätes ist,
daß der Sensor auch zur Sauerstoff-Partialdruckmessung verwendet werden
kann.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbeispieles näher
erläutert. In der zugehörigen Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen
Anordnung,
Fig. 2 den Widerstandsverlauf am Sensor bei 10 Sekunden
Testgaseinlaß und
Fig. 3 die Widerstandsänderung bei verschiedenen Heizspannungen
und Drücken mit 10 Sekunden Testgaseinlaß.
Der grundsätzliche Aufbau der erfindungsgemäßen Anordnung ist aus Fig.
1 ersichtlich. Der Halbleitergassensor 2 befindet sich in der
Vakuumapparatur zwischen Rezipienten 1 und Pumpe 3. In
Strömungsrichtung hinter dem Gassensor 2 ist ein Dosierventil 4 angeordnet,
das zum Einstellen eines bestimmten für die Wirkungsweise des Sensors
günstigen Druckes im Rezipienten 1 dient. Strömt das Prüfgas an den
Rezipienten 1, so dringt es an der Stelle des Lecks 5 in den Rezipienten 1 ein
und gelangt von dort zum Gassensor 2. Im Gassensor 2 wird dadurch ein
entsprechendes Signal ausgelöst. Um die Lecksuchgeschwindigkeit zu
erhöhen, wird das Grundsignal des Gassensors 2 elektronisch nachgeführt.
Das Sensorsignal ist von der Menge des am Leck 5 einströmenden Gases
abhängig und ergibt bei quantitativer Auswertung ein Maß für die Leckrate.
Die zeitliche Abhängigkeit des Widerstandsverlaufes für einen speziellen
Anwendungsfall, bei dem eine Heizspannung von 5 Volt und ein Druck von
1 × 10-2 bis 1 Torr verwendet wird, aufgezeigt.
Als Spürgas wird ein umweltschonendes Gas, vorzugsweise Formiergas
verwendet.
Wie aus Fig. 3 ersichtlich ist, ergeben sich verschiedene
Widerstandsänderungen bei unterschiedlicher Heizspannung und
unterschiedlichem Druck. Das grundlegende Prinzip von Metalloxid-
Halbleiter-Gassensoren beruht auf der Leitfähigkeitsänderung eines
sensitiven Halbleiterschicht bei der Einwirkung von Gasen. Das
erfindungsgemäße Lecksuchgerät besitzt eine hohe Empfindlichkeit und ist
mit geringem Aufwand herstellbar.
Claims (2)
1. Lecksuchgerät für Vakuumanlagen, bei dem ein Spürgas nachgewiesen
wird, bestehend aus einem Rezipienten (1), einer Vakuumpumpe (2) und
einem Gassensor (3) der sich zwischen Rezipient (1) und Pumpe (2) befindet,
dadurch gekennzeichnet, daß als Gassensor (3) ein resistiver
Zinnoxidsensor verwendet wird, daß in Strömungsrichtung hinter dem
Gassensor (2) ein Dosierventil (4) angeordnet ist und daß die
Ausgangssignale des Gassensors (3) einer Auswerteelektronik zuführbar
sind.
2. Lecksuchgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als
Spürgas umweltschonendes Formiergas verwendet wird.
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19934325419 DE4325419C2 (de) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | Lecksuchgerät für Vakuumanlagen |
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Family
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Family Applications (1)
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DE19934325419 Expired - Fee Related DE4325419C2 (de) | 1993-07-29 | 1993-07-29 | Lecksuchgerät für Vakuumanlagen |
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1993
- 1993-07-29 DE DE19934325419 patent/DE4325419C2/de not_active Expired - Fee Related
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WUTZ, Max * |
Also Published As
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