DE4218926A1 - Vorrichtung zur Messung einer Gasdichte - Google Patents

Vorrichtung zur Messung einer Gasdichte

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Walter Gribi
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Description

Technisches Gebiet
Bei der Erfindung wird ausgegangen von einer Vorrichtung zur Messung einer Gasdichte, insbesondere des Isoliergases einer gasisolierten elektrischen Anlage, mit zwei jeweils einen piezoelektrischen Kristall und jeweils mindestens zwei auf dem Kristall aufgebrachte Elektroden enthaltenden Resonatoren, von welchen beiden Resonatoren ein erster in einem zu vermessendes Gas enthaltenden ersten Raum und ein zweiter in einem gegenüber dem Gas abgeschlossenen zweiten Raum eingebaut ist. Die Erfindung geht ferner aus von Verfahren zur Herstellung einer derartigen Gasdichte- Meßvorrichtung.
Stand der Technik
Eine Vorrichtung der eingangs genannten Art ist in EP-A-0484 569 beschrieben. Bei dieser Vorrichtung wird die Dichte von Schwefelhexafluorid in einer gasisolierten elektrischen Hochspannungsanlage mittels zweier Resonatoren gemessen. Beide Resonatoren weisen bei gleichen äußeren Bedingungen, d. h. bei einer vorgegebenen Temperatur und gleicher Umgebung, wie insbesondere Vakuum, gleiche Resonanzfrequenzen auf. Einer der beiden Resonatoren dient als Meßfühler und ist in einem Schwefelhexafluorid enthaltenden Raum angeordnet. Hierbei ist die gasdichteabhängige Verstimmung seiner Resonanzfrequenz ein Maß für die zu messende Dichte des Schwefelhexafluorids. Ein anderer der beiden Resonatoren ist zu Referenzzwecken vorgesehen und ist vorzugsweise unter Vakuum angeordnet. In einer mit den Ausgangssignalen der beiden Resonatoren beaufschlagten Auswerteelektronik wird ein der Dichte des Schwefelhexafluorids proportionales Meßsignal abgegriffen.
Als Resonatoren werden hierbei piezoelektrisch angeregte Stimmgabelquarze eingesetzt. Diese Quarze werden in der Uhrenindustrie bei der Herstellung von Zeitmessern in großen Stückzahlen aus einem Quarzwafer herausgeschnitten und jeweils mit zwei Goldelektroden beschichtet. Diese Goldelektroden dienen zum einen der piezoelektrischen Anregung des Stimmgabelquarzes mit Hilfe eines elektrischen Schwingkreises. Zum anderen dienen sie aber auch der Abstimmung der einzelnen Stimmgabelquarze auf eine einheitliche Resonanzgrundfrequenz von 32768 Hz bei einer Temperatur von 25°C.
Darstellung der Erfindung
Der Erfindung, wie sie in den Patentansprüchen 1, 8 und 9 definiert ist, liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art anzugeben, welche trotz geringer Abmessungen und trotz einfachen und robusten Aufbaus über einen großen Zeitraum hinweg eine hohe Meßgenauigkeit aufweist, und zugleich Verfahren anzugeben, mit deren Hilfe diese Vorrichtung in kostengünstiger Weise hergestellt werden kann.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ermöglicht eine hochpräzise Messung der Gasdichte bis zu hohen Werten, beispielsweise von 50 kg/m3 und mehr. Die Dichtemessung ist weitgehend unabhängig von der Temperatur und liefert auch über sehr lange Zeiträume hinweg gleichbleibend exakte Werte. Deswegen ist die Vorrichtung nach der Erfindung mit besonderem Vorteil zur kontinuierlichen Überwachung und zur Diagnostik langzeitig betriebener Anlagen geeignet sowie auch zur Ermittlung von Trends bei gegebenenfalls einsetzenden Gasverlusten. Die Wartung an langzeitig betriebenen Anlagen kann so ökonomischer geplant und ausgeführt werden. Mögliche Fehlerquellen können zudem rechtzeitig lokalisiert und behoben werden. Hierdurch wird die Verfügbarkeit der auf Gasdichte überwachten Anlagen erheblich vergrößert.
Zur Herstellung erfindungsgemäßer Vorrichtungen besonders geeignete Verfahren nach der Erfindung zeichnen sich dadurch aus, daß sie für Massenfertigung hervorragend geeignet sind. Aufwendige Kalibrier- und Anpaßarbeiten entfallen weitgehend, da alle für die herzustellenden Gasdichte-Meßvorrichtungen verwendeten Resonatoren innerhalb eines vorgegebenen Toleranzbereiches einander entsprechende Frequenz-Dichte-Kennlinien aufweisen.
Die vorteilhaften Wirkungen der Erfindung beruhen vor allem auf der Erkenntnis, daß durch gezielten Einsatz gleichartig ausgebildeter und gleichartig wirkender Resonatoren unerwünschte Frequenzanomalien praktisch vollständig vermieden werden. Solche Frequenzanomalien treten hingegen auf, wenn etwa - wie bisher üblich - bei der Abstimmung aller durch Massenproduktion erzeugten Resonatoren auf eine einheitliche Resonanzfrequenz mittels eines Lasers ein Teil des zur Anregung der Resonatoren vorgesehenen Elektrodenmaterials entfernt werden muß. Hierdurch erfährt der im Gas angeordnete Resonator neben der erwünschten dichteabhängigen Resonanzverschiebung auch unerwünschte Frequenzverschiebungen, welche von der Temperatur, der Gaszähigkeit und der Wechselwirkung des Resonators mit den bei der Resonanz auftretenden Schallwellen abhängig sind.
Kurze Beschreibung der Zeichnung
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Zeichnungen näher erläutert. Hierbei zeigt:
Fig. 1 eine Aufsicht auf einen Schnitt durch einen Teil einer gasisolierten, gekapselten Schaltanlage mit einer Gasdichte-Meßvorrichtung nach der Erfindung,
Fig. 2 ein Blockschaltbild der Meßvorrichtung nach Fig. 1, und
Fig. 3 eine Aufsicht auf einen Schnitt durch einen Teil eines in der Gasdichte-Meßvorrichtung nach Fig. 1 enthaltenen Sensorkopfes.
Weg zur Ausführung der Erfindung
In allen Figuren sind gleichwirkende Teile mit gleichen Bezugszeichen versehen. In Fig. 1 bezeichnet 1 eine Gasdichte-Meßvorrichtung mit einem Sensorkopf 2. Der Sensorkopf 2 schließt mittels einer gasdichten Verbindung 3 eine nicht bezeichnete Öffnung einer mit Schwefelhexafluorid (SF6)-Gas von beispielsweise einigen kg m-3 Druck gefüllten Metallkapselung 4 einer etwa als Hochspannungsschaltanlage ausgeführten elektrischen Anlage ab. Der Sensorkopf 2 enthält zwei gasdicht gegeneinander abgeschottete Räume 5 und 6. Die Bezugszeichen 7 und 8 bezeichnen elektrische Schwingkreise. Die Versorgungsenergie der Schwingkreise 7, 8 wird einer nicht dargestellten Stromquelle entnommen. Die Ausgangssignale der Schwingkreise werden über nicht bezeichnete Anschlußleitungen und eine Durchführung 9 an eine Auswertevorrichtung 10 geführt, in der ein die Gasdichte des in der Metallkapselung 4 befindlichen SF6-Gases angebendes Signal ermittelt und an einen Beobachter und/oder eine Überwachungsvorrichtung ausgegeben wird.
Der Schwingkreis 7 enthält einen im Raum 5 angeordneten und dem SF6-Gas ausgesetzten Resonator 11, wohingegen im Schwingkreis 8 ein Resonator 12 vorhanden ist, welcher unter Ausschluß der SF6-Atmosphäre im Raum 6 definierten Druckbedingungen, vorzugsweise Vakuum, ausgesetzt ist. Der Raum 5 ist über eine nicht bezeichnete Öffnung mit dem Inneren der Metallkapselung 4 verbunden. In der Verbindungsöffnung befindet sich eine Filteranordnung 13, welche den Resonator 11 vor mechanischen Beschädigungen schützt und welche zugleich im Inneren der Metallkapselung 4 bei elektrischen Entladungen gebildete Zersetzungsprodukte des SF6-Gases adsorbiert, unzersetztes SF6-Gas oder gegebenenfalls zusätzlich vorgesehenes anderes Isoliergas, wie etwa Stickstoff, hingegen durchläßt.
Die Resonatoren 11, 12 werden piezoelektrisch angeregt und weisen innerhalb einer vorgebbaren Frequenztoleranz - von beispielsweise 1 oder 2 Hz - liegende Resonanzfrequenzen auf. Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, enthalten die Resonatoren 11, 12 jeweils einen piezoelektrischen Kristall 14, 15 sowie jeweils mindestens zwei auf dem piezoelektrischen Kristall 14, 15 aufgebrachte Elektroden 16, 17, 18, 19. Vorzugsweise handelt es sich bei den piezoelektrischen Kristallen 14, 15 um Stimmgabelquarze, welche jeweils durch eine an ihren Elektroden 16, 17, 18, 19 anliegende Wechselspannung in Schwingungen versetzt werden können. Das umgebende Gas erhöht die effektive Masse des Resonators 11 und führt zu einer dichteabhängigen Resonanzverschiebung. Der Zusammenhang zwischen Dichteänderung und Frequenzverschiebung ist im wesentlichen linear. In SF6 beträgt diese Verschiebung beispielsweise ca. -4.7 Hz/kg m-3.
Die Resonatoren 11, 12 werden aus einer Vielzahl von einander hinsichtlich ihrer physikalischen Eigenschaften und ihrer geometrischen Abmessungen ähnlichen und durch Massenproduktion erzeugten Resonatoren entnommen. Der erste Resonator 11 ist gegenüber der Erzeugung in der Massenproduktion unverändert. Der zweite Resonator 12 ist gegenüber der Erzeugung in der Massenproduktion entweder ebenfalls unverändert und weist innerhalb der vorgegebenen Frequenztoleranz die gleiche Resonanzfrequenz wie der erste Resonator 11 auf. Er kann aber auch durch Veränderung seiner Elektroden 18, 19 derart modifiziert sein, daß er innerhalb der vorgegebenen Frequenztoleranz die gleiche Resonanzfrequenz wie der erste Resonator 11 aufweist. Die Resonanzfrequenzen liegen typischerweise im Bereich von ca. 32,6 kHz.
Die Schwingkreisen 7 bzw. 8 sind vorzugsweise jeweils als Rechteckimpulse abgebende Inverterschaltungen ausgeführt. Diese Rechteckimpulse enthalten die Information über die Resonanzfrequenzen der Resonatoren 11 und 12. Sie werden - wie aus Fig. 2 ersichtlich ist - an den D- bzw. an den Takteingang CLK eines in der Auswertevorrichtung 10 enthaltenen D-Flip-Flops 20 geführt. Das D-Flip-Flop 20 bildet durch Korrelation der zugeführten Signale ein der Differenz der Resonanzfrequenzen der Resonatoren 11, 12 entsprechendes und der Gasdichte proportionales Signal k.
Die konstruktive Anordnung der Resonatoren 11, 12 im Sensorkopf 2 ist in Fig. 3 angegeben. Dar Sensorkopf 2 enthält einen aus wärmeleitendem Werkstoff, wie beispielsweise Messing, hergestellten Montagekörper 21 von rotationssymmetrischer Gestalt mit einer axial und zentral geführten Bohrung. Die Bohrung bildet in ihrem oberen Abschnitt den Raum 5 zur Aufnahme des Resonators 11. In ihrem unteren Abschnitt stellt sie die Verbindung zu dem in der Metallkapselung 4 vorgesehenen SF6-Gas her und ist dort mit der Filteranordnung 13 ausgefüllt. Die Filteranordnung 13 besteht aus einer porösen Sintermetall-Scheibe 22, welche in der Metallkapselung 4 möglicherweise entstehende Feststoffteilchen vom Raum 5 und damit auch vom Resonator 11 fernhält, und aus einem Adsorptionsfilter 23. Dieses Adsorptionsfilter 23 enthält ein mit Molekularsieb, Aktivtonerde, Natronasbest, Natronkalk oder einer entsprechend wirkenden Substanz gefülltes Rohr.
Während des Betriebes der Hochspannungsschaltanlage aufgrund elektrischer Entladungen und Restfeuchtigkeit entstehende gasförmige Zersetzungsprodukte, wie etwa SF4, WF6, S0F2 und/oder HF, werden von Adsorptionsfilter 23 aufgesaugt. Der Räume 5 und damit auch der Resonator 11 bleiben frei von derartigen unerwünschten, den Resonator 11 in seiner Funktionsweise erheblich beeinträchtigenden Zersetzungsprodukten, während das zu vermessende Gas in sauberer Form in den Raum 5 und damit zum Resonator 11 gelangt.
Der den Resonator 11 aufnehmende Raum 5 ist derart ausgebildet ist, daß akustische Wechselwirkungen mit der Umgebung des Resonators 11 weitgehend vermieden werden. Dies kann einerseits dadurch erreicht werden, daß der Raum 5 gegenüber der Wellenlänge einer vom Resonator 11 bei Resonanzfrequenz ins zu vermessende Gas abgestrahlten Schallwelle groß bemessen ist.
Häufig steht ein derartig großer Raum nicht zur Verfügung. Es empfiehlt sich dann, den Raum 5 so zu gestalten, daß keine Interferenzen das Nutzsignal stören können. Zu bevorzugen ist eine achsensymmetrische, insbesondere zylindersymmetrische Ausbildung. Der Durchmesser des Raums 5 sollte in diesem Fall kleiner sein als die halbe Wellenlänge einer vom Resonator 11 bei Resonanz(grund)frequenz ins zu vermessende Gas abgestrahlten Schallwelle.
Die akustische Wechselwirkung des als Stimmgabelquarz ausgebildeten Resonators 11 wird zusätzlich verringert, wenn der Stimmgabelquarz mit seiner Stimmgabelachse auf der Achse des ihn aufnehmenden zylinderförmigen Raums 5 angeordnet ist.
Der Raum 5 ist an seinem oberen Ende gasdicht mit einer Durchführung 24 abgeschlossen, welche die elektrischen Anschlüsse der Elektroden des Resonators 11 aus dem Raum 5 in ein die Auswertevorrichtung 10 umschließendes und auf einem Flansch 25 des Montagekörpers 21 befestigtes Gehäuse 26 führt. Der Resonator 11 wird bevorzugt durch Kleben oder Einpressen der Durchführung 24 in das obere Ende des Raums 5 eingebaut. Die zur Vermeidung akustischer Wechselwirkungen geeignete Länge des Raums 5 ist dann bestimmt durch den Abstand zwischen dem offenen Ende des Raums 5 und den freischwingenden Enden der Quarzstimmgabel des Resonators 11.
Der den zu Vergleichszwecken vorgesehenen Resonator 12 aufnehmende Raum 6 ist als Blindbohrung ausgeführt und ist eng benachbart zum Raum 5 im Montagekörper 21 angeordnet. Durch die örtliche Nähe der beiden Resonatoren 11, 12 sowie durch die gute Wärmeleitung des Montagekörpers 21, des Schwefelhexafluorides und eines gegebenenfalls eingesetzten Wärmeleitfetts werden die beiden Resonatoren 11, 12 auf gleicher Temperatur gehalten. Dadurch und da beide Resonatoren 11, 12 innerhalb eines vorgegebenen Toleranzbereiches übereinstimmende geometrische Abmessungen und übereinstimmende physikalische Eigenschaften aufweisen, werden temperaturbedingte Resonanzfrequenzänderungen innerhalb der vorgegebenen Frequenztoleranz kompensiert.
Die beiden Resonatoren 11, 12 werden vor dem Einbau in den Sensorkopf 2 aus einer Vielzahl von Resonatoren ausgewählt, die hinsichtlich ihrer physikalischen Eigenschaften und ihrer geometrischen Abmessungen einander ähnlich sind. Zu diesem Zweck werden deren Resonanzfrequenzen unter gleichen Meßbedingungen ermittelt und dasjenige Paar von Resonatoren ausgewählt, dessen Resonanzfrequenzen innerhalb der vorgegebenen, von der zu erreichenden Meßempfindlichkeit abhängigen Frequenztoleranz liegen. Weitere Paare von Resonatoren mit übereinstimmenden Resonanzfrequenzen werden aus der Vielzahl der bei der Auswahl zur Verfügung stehenden Resonatoren zum Einbau in weitere Gasdichte-Meßvorrichtungen nach der Erfindung ausgesondert.
Bevorzugt werden die in den Resonatoren 11, 12 vorgesehenen piezoelektrischen Kristalle 14, 15 sowie alle übrigen in der Vielzahl von ähnlichen Resonatoren vorgesehenen Kristalle aus einem einzigen der Dicke der Stimmgabel (beispielsweise 125 µm) entsprechenden Quarzwafer hergestellt. Die erforderliche Übereinstimmung der geometrischen Abmessungen und der physikalischen Eigenschaften wird dann mit besonders großer Sicherheit erreicht. Aus einem einzigen Quarzwafer können mehrere 100 Stimmgabelquarze hergestellt werden. Die statistische Streuung der Resonanzfrequenzen der aus diesen Stimmgabelquarzen hergestellten Oszillatoren beträgt +150 Hz. Aus dem gleichen Wafer hergestellte Resonatoren weisen den großen Vorteil auf, daß sie einen nahezu identischen Temperaturgang der Resonanzfrequenz aufweisen Neben der Auswahl geeignet ausgebildeter Paare von Resonatoren kann mit Vorteil eine erfindungsgemäße Gasdichte-Meßvorrichtung auch dadurch erreicht werden, daß aus einer Vielzahl von Resonatoren mit einander hinsichtlich ihrer Materialeigenschaften entsprechenden piezoelektrischen Kristallen 14, 15 ein beliebiges Paar von Resonatoren entnommen wird, und daß der als Referenz dienende, - vorzugsweise unter Vakuum angeordnete Resonator - durch, insbesondere materialabhebende, Bearbeitung derart verändert wird, daß seine Resonanzfrequenz innerhalb der vorgegebenen Frequenztoleranz mit der Resonanzfrequenz des im Gas angeordneten Resonators übereinstimmt.
Die Elektroden des dem Gas ausgesetzten Resonators 11 dürfen nach dem Aufbringen auf den piezoelektrischen Kristall 14 nicht mehr verändert werden. Nur so ist mit Sicherheit gewährleistet, daß der Resonator 11 die neben der erwünschten dichteabhängigen Resonanzverschiebung auftretenden unerwünschten Frequenzanomalien, welche von der Temperatur- der Gaszähigkeit und der Wechselwirkung des Resonators 11 mit den bei der Resonanz auftretenden Schallwellen abhängig sind, kompensiert.
Die Erfindung dient nicht nur der Messung der Dichte des Isoliergases von elektrischen Anlagen. Sie kann überall dort mit Vorteil zur Messung der Dichte von Gasen eingesetzt werden, wo die Dichte des Gases über einen großen Zeitraum mit guter Genauigkeit gemessen und überwacht wird.
Bezeichnungsliste
 1 Gasdichte-Meßvorrichtung
 2 Sensorkopf
 3 gasdichte Verbindung
 4 Metallkapselung
 5, 6 Räume
 7, 8 Schwingkreise
 9 Durchführung
10 Auswertevorrichtung
11, 12 Resonatoren
13 Filteranordnung
14, 15 piezoelektrische Kristalle
16, 17, 18, 19 Elektroden
20 D-Flip-Flop
21 Montagekörper
22 Sintermetall-Scheibe
23 Adsorptionsfilter
24 Durchführung
25 Flansch
26 Gehäuse

Claims (13)

1. Vorrichtung zur Messung einer Gasdichte, insbesondere des Isoliergases einer gasisolierten elektrischen Anlage, mit zwei jeweils einen piezoelektrischen Kristall (14, 15) und jeweils mindestens zwei auf dem Kristall aufgebrachte Elektroden (16, 17, 18, 19) enthaltenden Resonatoren (11, 12), von welchen beiden Resonatoren (11, 12) ein erster (11) in einem zu vermessendes Gas enthaltenden ersten Raum (5) und ein zweiter (12) in einem gegenüber dem Gas abgeschlossenen zweiten Raum (6) eingebaut ist, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Resonatoren (11, 12) einer Vielzahl von gleichartigen, durch Massenproduktion erzeugten und keinem Frequenzabgleich unterzogenen Resonatoren entnommen sind, daß der erste Resonator (11) gegenüber der Erzeugung in der Massenproduktion unverändert ist, und daß der zweite Resonator (12) gegenüber der Erzeugung in der Massenproduktion entweder ebenfalls unverändert ist und innerhalb einer vorgegebenen Frequenztoleranz gleiche Resonanzfrequenz wie der erste Resonator (11) aufweist oder nach Veränderung seiner Elektroden (18, 19) innerhalb der vorgegebenen Frequenztoleranz die gleiche Resonanzfrequenz wie der erste Resonator (11) aufweist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der den ersten Resonator (11) aufnehmende erste Raum (5) derart ausgebildet ist, daß akustische Wechselwirkungen mit der Umgebung des ersten Resonators (11) weitgehend vermieden werden.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Raum (5) gegenüber der Wellenlänge einer vom ersten Resonator (11) bei Resonanzfrequenz ins zu vermessende Gas abgestrahlten Schallwelle groß bemessen ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Raum (5) achsensymmetrisch, insbesondere zylinderförmig, ausgebildet ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Durchmesser des ersten Raums (5) kleiner ist als die halbe Wellenlänge einer vom ersten Resonator (11) bei Resonanzfrequenz ins zu vermessende Gas abgestrahlten Schallwelle.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die zwei Resonatoren (11, 12) als piezoelektrischen Kristall (14, 15) jeweils einen Stimmgabelquarz enthalten, und daß der Stimmgabelquarz des ersten Resonators (11) achsensymmetrisch im Raums (5) angeordnet ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Raum (5) über ein aggressive Bestandteile des zu vermessenden Gases adsorbierendes Filter (23) mit einem die aggressiven Bestandteile erzeugenden Volumen des zu vermessenden Gases verbunden ist.
8. Verfahren zur Herstellung der Gasdichte- Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Einbau der beiden Resonatoren (11, 12) die Resonanzfrequenzen der Vielzahl der in der Massenproduktion erzeugten und einander hinsichtlich ihrer physikalischen Eigenschaften und ihrer geometrischen Abmessungen ähnlichen Resonatoren unter gleichen Meßbedingungen ermittelt werden, und daß aus diesen Resonatoren ein den ersten (11) und den zweiten Resonator (12) enthaltendes Paar von Resonatoren ausgewählt wird, dessen Resonanzfrequenzen jeweils innerhalb der vorgegebenen Frequenztoleranz übereinstimmen.
9. Verfahren zur Herstellung der Gasdichte- Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Einbau der beiden Resonatoren (11, 12) die Resonanzfrequenzen der Vielzahl der in der Massenproduktion erzeugten und einander hinsichtlich ihrer physikalischen Eigenschaften und ihrer geometrischen Abmessungen ähnlichen Resonatoren unter gleichen Meßbedingungen ermittelt werden, daß diesen Resonatoren ein beliebiges, den ersten (11) und den zweiten Resonator (12) enthaltendes Paar von Resonatoren entnommen wird, und daß der zweite Resonator (12) durch Bearbeitung derart verändert wird, daß seine Resonanzfrequenz innerhalb der vorgegebenen Frequenztoleranz mit der Resonanzfrequenz des ersten Resonators (11) übereinstimmt.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die beim zweiten Resonator (12) vorgesehenen Elektroden (18, 19) nach ihrem Aufbringen auf die piezoelektrischen Kristalle bei der Abstimmung der Resonanzfrequenz materialabhebend bearbeitet werden.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die piezoelektrischen Kristalle der Resonatoren aus einem einzigen Kristallwafer herausgearbeitet werden.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Resonatoren (11, 12) benachbart in einen gut wärmeleitenden Montagekörper (21) eingebaut werden.
13. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Einbau durch gasdichtes Kleben oder Einpressen ausgeführt wird.
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