DE4142850A1 - Lichtleiterverbindung zum verkoppeln eines wellenleiters und einer faser - Google Patents
Lichtleiterverbindung zum verkoppeln eines wellenleiters und einer faserInfo
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- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/30—Optical coupling means for use between fibre and thin-film device
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine auf einem gemeinsamen
Substrat ausgebildete Lichtleiterverbindung zum Verkoppeln
eines integriert optischen Wellenleiters mit einer in einer
Ätzgrube im Substrat eingebetteten optischen Faser.
Derartige monolithisch integrierte Lichtleiterverbindungen
werden beim Einsatz von Bauelementen, Chips und Komponenten
der Integrierten Optik z. B. in nachrichtentechnischen oder
in künftigen optischen Rechner-Systemen, auf dem Gebiet der
Sensorik und dergleichen an der Schnittstelle zur Faseroptik
benötigt.
Der Stand der Technik, von dem die Erfindung ausgeht, ist
aus "Optics Letters" Bd. 9, Nr. 10, Oktober 1984, Seiten 463
bis 465 bekannt. Die dort gewählte Anordnung für die
Verbindung eines Wellenleiters und einer Faser, die beide im
selben Kanal eines LiNbO3-Substrats versenkt bzw. einge
bettet sind, diente hauptsächlich für erste Untersuchungen
der auftretenden Koppelmechanismen. Die dafür angewendeten
Maßnahmen zur Vorbereitung des Kanalgrabens (Ionenstrahl-Ät
zen) und der Faser (chemisches Abätzen bis auf den Kernbe
reich und Polieren) dürften wohl für die Herstellung in
großen Stückzahlen und den Einsatz unter harten Betriebbe
dingungen zu aufwendig und zu störanfällig sein.
Eine andere, ökonomischere und robustere Art für Lichtlei
terverbindungen stellen hybride Aufbauten dar (vgl. z. B.
"TEEE Journal of Quantum Electronics Bd. Q-E 22 Nr. 6, Juni
1986, Seiten 928 bis 932; "Journal of Optical Communica
tions" Bd. 2 Nr. 4 (1981), Seiten 122 bis 127; "Journal of
Optical Communications" Bd. 10 Nr. 2 (1989), Seiten 54/55.
Dort werden die Fasern in V-Gruben von Si-Chips befestigt
und diese sodann auf einem Substrat mit integriert optischen
Wellenleitern angebracht. Problematisch sind dabei die un
terschiedlichen thermischen Eigenschaften in ihren Auswir
kungen auf die Justierung.
Für die eingangs erwähnten Einsatzgebiete der Integrierten
Optik bestimmt der weiter zunehmende Integrationsgrad die
Entwicklungen. Diese zielen auf monolithische Mikrosysteme
ab, die neben passiven Wellenleiterstrukturen und opto-elek
tronischen Bauelementen auch aktive optische Komponenten
sowie rein elektrische bzw. elektronische Bauelemente und
Schaltungen aufweisen können und mit mindestens einer opti
schen Ein- und/oder Auskoppelstelle versehen sind. An derar
tigen Mikrosystemen sind somit die Gebiete der Integrierten
Optik, der Mikroelektronik, der Mikromechanik und auch der
Mikrooptik sowie der Faseroptik beteiligt.
Aus "Electronics Letters" Bd. 27 Nr. 20 (26. Sept. 1991),
Seiten 1836 bis 1838 sowie aus "Optics Letters" Bd. 16 Nr. 5
(1. März 1991), Seiten 306 bis 308 sind bereits monolithisch
integrierte Wellenleiter-Taper bekannt für unkritischere Ju
stiertoleranzen bei einer Verkopplung eines Wellenleiters
mit einer Faser. Dazu kann ein vergrabener Wellenleiter-Ta
per vorgesehen werden (vgl. a. a. O. "El. Lett.") , nach dessen
Strukturierung sowie eventueller weiterer integrierter Kom
ponenten das Schichtenwachstum fortgesetzt werden muß. Wer
den zwei dicht benachbarte vertikale Schichten als Wellen
leiter-Kerne auf dem Substrat ausgebildet (vgl. a. a. O.
"Optics Lett."), bewirkt eine als lateraler Taper, also in
unterschiedlicher Breite ausgebildete Rippe auf einer
Schicht aus mehreren Lagen eine vertikale Führung der opti
schen Welle im wesentlichen im Bereich der breit ausgebilde
ten Rippe bzw. im tieferen Wellenleiterkern bei schmaler
Rippe. Auf welche Art und Weise hierbei eine mechanisch
stabile, leicht justierbare Lichtleiterverbindung (Faser/
Wellenleitertaper) konstruktiv zu realisieren ist, wird in
diesem Zusammenhang nicht erwähnt.
Der Erfindung liegt das technische Problem zugrunde, für in
tegriert optische Systeme die Maßnahmen zur Konfektionierung
mit mindestens einer optischen Ein- und/oder Auskoppelein
richtung bereits weitestgehend im Maskensatz für die Ausbil
dung von Strukturen auf dem Substrat zu berücksichtigen und
dabei die bestehenden Freiheiten für andere Strukturen nicht
zu beschränken sowie mit möglichst geringem Aufwand die
Endfläche der Faser vorbereiten und die Einbettung der Faser
vornehmen zu können. Die fertige Lichtleiterverbindung soll
möglichst geringe Koppelverluste aufweisen, zuverlässig,
stabil und gegen äußere Störeinflüsse unempfindlich sein und
sich für den Einsatz bei Bauelementen, Komponenten, Chips
und monolithischen Mikrosystemen eignen.
Die erfindungsgemäße Lösung sieht bei einer Lichtleiterver
bindung der eingangs genannten Art vor, daß das Substrat aus
einem III-V-Halbleitermaterial besteht und der integriert
optische Wellenleiter als Oberflächen-Streifenwellenleiter
ausgebildet und mit einer durch Mikroabspaltung erzeugten
Endfläche versehen ist.
III-V-Verbindungshalbleitermaterial ermöglicht für die dämp
fungsarmen Wellenlängenbereiche faseroptischer Übertragungs
systeme den Aufbau rein elektrischer, rein optischer und
opto-elektronischer in Planartechnologie herzustellender
Bauteile und ist gut spaltbar; die Spalt-Endflächen haben
optische Qualität. Ein Oberflächen-Streifenwellenleiter hat
gegenüber vergrabenen oder versenkten Strukturen den Vor
teil, daß mit seiner Ausbildung das Schichtenwachstum zumin
dest im wesentlichen beendet ist.
Für die Erzeugung der Wellenleiter-Endfläche durch Mikroab
spaltung ist allerdings während des Schichtenwachstums
unterhalb des Wellenleiters durch Ausbildung einer spe
ziellen Ätzschicht dafür zu sorgen, daß sich eine Lasche am
Ende des Wellenleiters von der Ätzgrube aus freilegen läßt.
Nähere Ausführungen hierzu folgen im Zusammenhang mit der
Beschreibung der in den Figuren dargestellten Ausführungs
formen der Erfindung.
Die technische Lehre gemäß der Erfindung bietet besonders
vorteilhafte Möglichkeiten, die optische Faser zugfest in
der Ätzgrube einzubetten. Ein Kleber oder ein Lotmittel kön
nen vor der Justierung ohne Schwierigkeit aufgebracht werden
und füllen die Fugen zwischen dem Mantel der Faser und den
Flankenflächen der Ätzgrube über eine Länge von einigen mm
aus und lassen sich nach der Justierung in kurzer Zeit ver
festigen.
Weiterhin wird eine Ätzgrube vorteilhaft v-förmig ausge
bildet. Die V-Form gewährleistet zumindest eine Grobjustie
rung und ergibt sich bei einem Naßätzprozeß in III-V-Halb
leitermaterial bei entsprechender Ausrichtung bezüglich der
Kristallrichtungen und -ebenen von selbst.
Bei monolithischen Lichtleiterverbindungen gemäß der Erfin
dung und ihrer vorteilhaften Ausführungsformen ist zwischen
zwei Aufbautypen zu unterscheiden. Der eine Typ ist so aus
gebildet, daß die optische Faser mit einem Taper versehen
ist, beim anderen Typ ist der Wellenleiter im näheren
Bereich seiner Endfläche als asymmetrischer Wellenleiter-Ta
per ausgebildet. Die Vorteile eines Wellenleiter-Tapers, wie
diese auch den weiter vorstehend bei der Würdigung des Stan
des der Technik erwähnten Veröffentlichungen insbesondere
bezüglich der Justiertoleranzen entnommen werden können,
kommen damit auch bei diesem Typ der Ausführungsformen der
Erfindung voll zur Geltung.
In bevorzugter Weise kann dabei unterhalb des Wellenleiters
mit seinem Taper das Substrat mindestens eine optische Leit
schicht in Höhe der Achse der optischen Faser aufweisen. We
gen der weniger strengen Justiertoleranzen bei einer Ver
kopplung einer Faser mit einem Wellenleiter-Taper ist die
Lage der optischen Leitschicht bzw. Leitschichten nicht be
sonders kritisch.
Als besonders wirkungsvoll hat sich herausgestellt, den Wel
lenleiter-Taper in seiner Längsrichtung mit unterschiedli
cher, an der Endfläche geringster Rampenneigung auszubilden.
Auch hierzu finden sich nähere Erläuterungen im Zusammenhang
mit der Beschreibung der Fig. 4 bis 6.
In der Zeichnung sind schematisch Ausführungsformen der Er
findung dargestellt. Dabei zeigt
Fig. 1 eine monolithisch integrierte Lichtleiterverbindung
Chip/Faser mit Taper;
Fig. 2 eine monolithisch integrierte Lichtleiterverbindung
Chip mit Wellenleiter-Taper/Faser;
Fig. 3 einen Längsschnitt durch einen Wellenleiter-Taper
gemäß Fig. 2;
Fig. 4 Schaubilder für Feldverteilungen bei einem Wellen
leiter-Taper gemäß Fig. 3;
Fig. 5 einen Querschnitt durch den Wellenleiter-Taper gemäß
Fig. 3;
Fig. 6 eine Ätzmaske für die Strukturierung einer Lichtlei
terverbindung gemäß Fig. 1, 2 und
Fig. 7 einen Ausschnitt einer Ätzmaske gemäß Fig. 6 für den
Bereich einer abzuspaltenden Lasche am Ende des Wel
lenleiters.
In den Fig. 1 und 2 sind bei einem opto-elektronisch in
tegrierten Chip "OEIC" 1 nur die wesentlichen Teile für eine
monolithische Faser-/Chip-Kopplung dargestellt. Ein inte
griert optischer Wellenleiter 2 und eine optische Faser 3
sind hierbei zugfest, mit Feldanpassung und stabiler Justie
rung auf einem gemeinsamen Träger miteinander verbunden. Die
Faser 3 ist in einer Ätzgrube 11 eingebettet. Der Wellenlei
ter 2 verläuft in Richtung der Achse der eingebetteten Faser
3 und weist eine optische Endfläche 13 auf, die durch Mikro
abspaltung erzeugt worden ist.
Die beiden vergrößert dargestellten Ausschnitte bei den Fig. 1
und 2 für die Bereiche, in denen die beiden Licht
leiter 2, 3 miteinander verkoppelt werden, lassen den Unter
schied zwischen diesen beiden Ausführungsformen erkennen.
Bei der Lichtleiterverbindung gemäß Fig. 1 ist die Faser 3
mit einem Taper 17 versehen; die Ausführungsform gemäß Fig.
2 weist einen als Taper 7 ausgebildeten Wellenleiter 2 auf,
die Endfläche 16 der Faser 3 ist senkrecht zur Faserachse
abgespalten und entspiegelt.
Zunächst werden zu der für beide Ausführungsformen überein
stimmenden Ausbildung der Ätzgruben 11 und Wellenleiter-End
flächen 13 die durchzuführenden Maßnahmen näher erläutert.
Da die Funktionen eines OEIC optische Sender (z. B. Injek
tionslaser) , optische Wellenleiterkomponenten, optische De
tektoren sowie gegebenenfalls auch elektronische Komponenten
einschließen, ist hierfür ein III-V-Halbleitermaterial ein
zusetzen. Gegenwärtig steht das Materialsystem InP/InGaAsP
für den für die Glasfaserübertragungstechnik relevanten Wel
lenlängenbereich von 1,3 µm bis 1,6 µm im Vordergrund. Für
das Wellenlängenfenster um 800 nm kommt das GaAs-Materialsy
stem in Betracht.
In derartigem Material kann beispielsweise durch eine naß
chemische Tiefenätzung unter Verwendung einer dielektrischen
Maske die Grube 11 mit einer Tiefe von etwas mehr als dem
halben Durchmesser der Faser 3 hergestellt werden. Die Grube
11 schließt sich an den Wellenleiter 2 an. Später wird die
Faser 3 in der Grube 11 aktiv justiert und zugfest fixiert.
Bei Ausrichtung von Wellenleiter 2 und Ätzgrube 11 in
(10)-Richtung auf (001)-Substrat entstehen Ätzgruben 11
mit positiven Flankenwinkeln von ca. 55°, da die Ätzrate an
der (111)-Ebene wesentlich geringer ist. Der Flankenwinkel
kann von der (111)-Ebene, 55°, durch zusammenwirkendes dif
fusions- und kinetisch kontrolliertes Ätzen um einige Grad
abweichen. Experimentell wurden 51°±1° erreicht. Die
Toleranz läßt sich bei optimierter Technologie verringern.
Bei Ausrichtung von Wellenleiter 2 und Ätzgrube 11 in
(110)-Richtung bilden sich entsprechend negative Flankenwin
kel aus.
Für Standardfasern mit einem Durchmesser von 125 µm ergibt
sich damit eine Maskenbreite von 200 µm für die Ausbildung
der Ätzgruben 11.
Die Wellenleiter-Endfläche 13 wird durch Mikroabspaltung ei
ner Lasche 18 (vgl. auch Fig. 6 und 7) erzeugt. Dazu ist al
lerdings im OEIC-Substrat 1 unter dem Wellenleiter 2 ein be
sonderer Schichtenaufbau erforderlich. Direkt unterhalb der
Schicht für den Wellenleiter 2 liegt eine optische Puffer
schicht 10 und unter dieser eine Ätzschicht 14, die ein se
lektives Naßätzen ermöglicht. Alle diese Schichten bestehen
aus Materialien, die dem selben Materialsystem angehören,
z. B. die Schicht für den Wellenleiter 2 aus InGaAsP mit
einer Bandlücke entsprechend 1,05 µm Wellenlänge, die opti
sche Pufferschicht 10 aus InP und die Ätzschicht 14 wiederum
aus InGaAsP, allerdings mit einer Bandlücke entsprechend ei
ner Wellenlänge von 1,3 µm. Besteht die Schicht für den
Wellenleiter 2 aus Material mit höherer Brechzahl, kann für
die Ätzschicht 14 auch ternäres InGaAs verwendet werden.
Ein derartiger Schichtenaufbau eines OEIC-Substrats 1 läßt
sich ohne weiteres im Verlauf eines Epitaxie-Prozesses rea
lisieren und erfordert keinerlei zusätzlichen apparativen
Aufwand.
Für das Freilegen der abzuspaltenden Lasche 18 am Ende des
Wellenleiters 2 stellt in besonders vorteilhafter Weise be
reits die Tiefenätzung der Ätzgrube 11 die Vorstufe dar.
Zwischen Wellenleiter 2 und der abzuspaltenden Lasche 18 ist
eine Sollbruchstelle in Form eines schmalen und kurzen Ste
ges 19 vorgesehen. Durch selektives Naßätzen wird die Ätz
schicht 14 unterhalb der Lasche 18 und des Steges 19 ent
fernt. Das Abspalten der sodann frei vorspringenden Lasche
18 kann durch Anwendung von Ultraschall herbeigeführt wer
den.
Beim selektiven Naßätzen wird allerdings die Ätzschicht 14
auch dort, wo sie an den Flankenflächen der Ätzgrube 11
zutage tritt, angegriffen. Hiermit ist jedoch keine Beein
trächtigung bezüglich der Einbettung und Befestigung der
Faser 3 in der Ätzgrube 11 verbunden. Für das Freilegen der
Lasche 18 kann auch ein weiterer lithografischer Schritt
und ein Trockenätzen, z. B. reaktives Ionenstrahlätzen,
durchgeführt werden.
Die Endfläche 13 des Wellenleiters 2, die beim Abspalten der
Lasche 18 am Steg 19 entsteht, weist ohne weitere Bearbei
tung ausgezeichnete Eigenschaften für eine dämpfungsarme op
tische Stoß-Kopplung auf. Im Gegensatz zu z. B. Si-Material
ermöglicht die Kristallstruktur von III-V-Material ein der
artiges einfaches Abspalten.
In der Ätzgrube 11 wird die Faser 3 sodann aktiv justiert
und anschließend unter Verwendung z. B. eines UV-aushärtenden
Klebers oder eines Lotmittels zugfest fixiert. Eine Deju
stierung aufgrund thermischer Veränderungen dünner
Kleber- bzw. Lotschichten ist allenfalls minimal. Ohne Schwierigkei
ten und ohne gegenseitige Beeinträchtigung können deshalb
auch mehrere derartige Lichtleiterverbindungen auf einem ge
meinsamen Substrat realisiert und dafür alle Fasern 3 nach
einander angebracht werden.
Die Ausführungsform gemäß Fig. 1 ist für den Anschluß einer
herkömmlichen, mit einem Taper 17 ausgebildeten optischen
Faser 3 ausgelegt. Bei Ausführungsformen gemäß Fig. 2 gelan
gen hingegen Fasern 3 mit zum Faserkern senkrechter, entspie
gelter Endfläche 16 und solche Wellenleiter 2 zum Einsatz,
die im Übergangsbereich zur Endfläche 13 als asymmetrischer
Wellenleiter-Taper 7 ausgebildet sind. Zur optischen Anpas
sung im Spalt zwischen den Endflächen 13 und 16 dient ein
Kleber mit der gleichen Brechzahl wie der des Kerns der Fa
ser 3. Bei dieser Art einer Lichtleiterverbindung wird
durch einfach durchzuführende Maßnahmen bei der Erzeugung
der Schichten unterhalb des integriert optischen Wellenlei
ters 2 und durch die Ausbildung des Tapers 7 in seinem End
bereich eine aufgeweitete und in ihrer Form mehr an das ra
dialsymmetrische optische Feld einer Faser angepaßte Inten
sitätsverteilung herbeigeführt.
Die Fig. 3 und 5 zeigen im Längs- bzw. Querschnitt den
Aufbau eines derartigen asymmetrischen Wellenleiter-Tapers
7. Ein unvergrabener Wellenleiter 2 bedeckt eine nach unten
von der Ätzschicht 14 begrenzte Schichtenfolge, in der sich
mindestens eine optische Leitschicht 21 zwischen optischen
Pufferschichten 10 befindet. Der Wellenleiter 2 weist die
Dicke t1, an der Wellenleiter-Endfläche 13 die Dicke t3
auf. Um den Taper 7 möglichst kurz halten zu können, ist
die erste Teilstrecke L1 bis zur Dicke t2 als steilere
Rampe als die zweite Teilstrecke L2 zwischen den Dicken t2
und t3 ausgebildet. Die flachere Rampe der Teilstrecke L2
sowie deren Dicke t3 an der Endfläche 13 gewährleisten
geringe Abstrahlverluste. Ein Substrat 22, das die Funk
tion des Wellenleiter-Tapers 7 nicht beeinträchtigt, kann
zum Schutz der Oberfläche des OEIC oder für die Gewährlei
stung von Funktionen anderer Bauelemente dienen.
Aus Fig. 4 ist die Wirkungsweise des Wellenleiter-Tapers 7
zu erkennen. An den Stellen t1/t2/t3 (vgl. Fig. 3) sind die
Feldverteilungen einer geführten Mode dargestellt. Wegen
des stark unterschiedlichen Brechzahlsprungs gegenüber den
Medien ober- und unterhalb der Schicht des Wellenleiters 2
(oben: Luft; unten: Substrat) wird das optische Feld bei
großer Dicke t1 praktisch vollständig in dieser Schicht,
bei geringerer Dicke t2 mit einem bedeutenden Anteil auch
in der optischen Pufferschicht 10 zwischen den Leitschich
ten 2 und 21 und bei geringer Dicke t3 nahezu vollständig
in den Pufferschichten 10 mit Zentrum in der optischen Leit
schicht 21 geführt.
Ein solcher Wellenleiter-Taper 7 arbeitet in beiden Richtun
gen, kann sich also sowohl an einer optischen Ein- als auch
an einer optischen Auskoppelstelle befinden.
Die Erscheinung, daß bei Unterschreiten einer bestimmten
Dicke des Wellenleiters 2 dort keine vertikale Führung einer
optischen Welle auftritt, wird als "Cut-Off" bezeichnet. Für
eine horizontale Führung der optischen Welle sorgt z. B. eine
auf dem Wellenleiter 2 ausgebildete Rippe.
Die Angaben im nachstehenden Beispiel zum strukturellen Auf
bau eines Wellenleiter-Tapers 7 beziehen sich auf die Fig. 3
und 5:
- - Substratmaterial: GaInAsP/InP
quaternäre Schicht: Bandkante entsprechend 1,3 µm Wellen länge - - Rippe: Breite w = 3 µm; Höhe h = 0,05 µm
- - Leitschicht(en): Dicke tL = 0,04 µm
- - Pufferschicht(en): Dicke tB2 = tB1 = 4 µm
- - Ätzschicht: Dicke tE = 2 µm
- - Längsprofil des Tapers 7: t1 = 0,5 µm,
t2 = 0,23 µm,
t3 = 0,2 µm,
L1 = 500 µm; L2 = 500 µm.
Die Fig. 6 und 7 zeigen Ausschnitte der Ätzmasken mit cha
rakteristischen Maßangaben. Für Standardfasern mit 125 µm
Durchmesser können integriert optische Wellenleiter 2 im ge
genseitigen Abstand von 250 µm liegen. Zwischen Ätzgruben 11
mit einer Länge von ca. 2000 µm bis 5000 µm verbleiben Wälle
von 50 µm Breite. Diese haben einen Abstand von 100 µm zum
Gebiet mit den Wellenleitern 2.
Für die Grundfläche der Lasche 18 sind z. B. (20·20) µm2,
für den Steg 19 ca. (10·10) µm2 vorzusehen (vgl. Fig. 7).
Nicht dargestellte und/oder in den vorstehenden Ausführun
gen nicht besonders erwähnte Einzelheiten sollen auch dann
von der Erfindung erfaßt sein, wenn es sich um technisch
gleichwertige Maßnahmen handelt. So können z. B. statt eines
Faser-Tapers 17 auch mikrooptische Elemente eingesetzt, die
Wellenleiter-Endfläche 13 insbesondere für kohärente Anwen
dungen entspiegelt, andere Lift-Off-Techniken für die abzu
spaltende Lasche 18 angewendet und andere als im Beispiel
angegebene Abmessungen gewählt werden.
Claims (7)
1. Auf einem gemeinsamen Substrat (1) ausgebildete Lichtlei
terverbindung zum Verkoppeln eines integriert optischen Wel
lenleiters (2) mit einer in einer Ätzgrube (11) im Substrat
(1) eingebetteten optischen Faser (3)
dadurch gekennzeichnet, daß
das Substrat (1) aus einem III-V-Halbleitermaterial besteht
und der Wellenleiter (2) als Oberflächen-Streifenwellenlei
ter ausgebildet und mit einer durch Mikroabspaltung erzeug
ten Endfläche (13) versehen ist.
2. Lichtleiterverbindung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die optische Faser (3) zugfest in der Ätzgrube (11) einge
bettet ist.
3. Lichtleiterverbindung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Ätzgrube (11) v-förmig ausgebildet ist.
4. Lichtleiterverbindung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
die optische Faser (3) mit einem Taper (17) versehen ist.
5. Lichtleiterverbindung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Wellenleiter (2) im näheren Bereich seiner Endfläche (13)
als asymmetrischer Wellenleiter-Taper (7) ausgebildet ist.
6. Lichtleiterverbindung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
unterhalb des Wellenleiters (2) mit seinem Taper (7) das
Substrat (1) mindestens eine optische Leitschicht (21) in
Höhe der Achse der optischen Faser (3) aufweist.
7. Lichtleiterverbindung nach Anspruch 5 oder 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Wellenleiter-Taper (7) in seiner Längsrichtung mit un
terschiedlicher, an der Endfläche (13) geringster Rampennei
gung ausgebildet ist.
Priority Applications (2)
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DE19914142850 DE4142850A1 (de) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | Lichtleiterverbindung zum verkoppeln eines wellenleiters und einer faser |
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ID=6448055
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