DE4113583A1 - Measuring control for capacitor testing and sorting - using standard reference component to provide mean measurement value and standard deviation - Google Patents

Measuring control for capacitor testing and sorting - using standard reference component to provide mean measurement value and standard deviation

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DE4113583A1
DE4113583A1 DE19914113583 DE4113583A DE4113583A1 DE 4113583 A1 DE4113583 A1 DE 4113583A1 DE 19914113583 DE19914113583 DE 19914113583 DE 4113583 A DE4113583 A DE 4113583A DE 4113583 A1 DE4113583 A1 DE 4113583A1
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DE
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Patent type
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standard deviation
mean
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sorting
testing
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DE19914113583
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Bertrand Geley
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EUROPEENNE DE COMPOSANTS ELECTRONIQUES LCC COURBEVOIE FR Cie
EUROP COMPOSANTS ELECTRON
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EUROPEENNE DE COMPOSANTS ELECTRONIQUES LCC COURBEVOIE FR Cie
EUROP COMPOSANTS ELECTRON
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Abstract

The measuring control system uses a reference component positioned in one of the cells around a turntable plate, which exhibits stable parameter values. The latter are repeatedly measured to obtain a mean measurement value and a standard deviation, used to provide frame values, with a subsequent series of measurements providing a new mean value and standard deviation for comparison with the frame values. When the new values differ from the frame values, the operation of the device is halted, or a correction procedure is initiated. USE - For testing and sorting device for chip capacitors.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kontrolle von Mes sungen, die in einem Test- und Sortiergerät für Miniaturteile wie Kondensatoren, Ferritelemente und dergleichen durchge führt werden. The invention relates to a method for the control of Mes solutions, which are transferred to a testing and sorting device for miniature components such as capacitors, ferrite elements and the like Runaway.

Die Test- und Sortiergeräte für Miniaturteile wie sogenannte "Chip"-Kondensatoren sind dem Fachmann wohlbekannt. The testing and sorting equipment for miniature parts, such as so-called "chip" capacitors are well known in the art. Wie in den Fig. 1 und 2 der beigefügten Zeichnung gezeigt ist, ent halten diese Geräte im wesentlichen auf einem Gestell 1 auf gebaut eine Übergabevorrichtung, die durch eine zylindrische Schale 2 gebildet ist, deren Achse bei der gezeigten Ausfüh rungsform gegenüber der Achse des Gestells geneigt ist. The accompanying drawings as shown in FIGS. 1 and 2, ent keep these devices in substantially a frame 1 built on a transfer device formed by a cylindrical shell 2, the axis of which, in the illustrated exporting approximate shape relative to the axis of the frame is inclined. Diese zylindrische Schale 2 nimmt eine runde Platte 3 auf, deren Umfang mit Zellen 4 zur Aufnahme der zu messenden und zu sor tierenden Teile 5 versehen ist. This cylindrical shell 2 receives a round plate 3, whose periphery with cells 4 for receiving the ends of animal to be measured and sor parts 5 is provided. Diese Teile oder Bauelemente werden durch eine in Fig. 1 nicht gezeigte Zufuhreinrichtung von der Art einer vibrierenden Schale zum Boden der Schale befördert. These parts or components are conveyed by a not shown in Fig. 1 feeding device of the type of a vibrating bowl to the bottom of the shell. Die Teile, welche in die Schale fallen, werden in den Zellen der Platte aufgenommen und durch Drehung unter die Kontakte 6/7 eines Meßkopfes 8 geführt, der in Fig. 2 schema tisch gezeigt ist. The parts that fall into the tray are received in the cells of the plate and guided by rotation under the contacts 6/7 of a measuring head 8, which is shown schematically in Fig. 2 schematically. Um dieselbe Sortiervorrichtung für die Messung von Bauteilen verschiedener Größe oder Form verwenden zu können, ist die Platte 3 entfernbar über eine Schraube 9 am Boden der Schale 2 befestigt. To be able to use the same sorting device for the measurement of components of different size or shape, the plate 3 is removably fastened by a bolt 9 at the bottom of the dish. 2 Je nach den am Meßkopf 8 auftretenden Ergebnissen werden die Gegenstände oder Bauteile durch ein nicht dargestelltes Auswurfsystem zu im Inneren einer Schublade 10 angebrachten Fächern bewegt. Depending on the occurring at the measuring head 8 results, the objects or components 10 attached compartments are moved by an unillustrated ejector system in the interior of a drawer.

Die Eichung oder genaue Einstellung des Test- und Sortierge rätes erfolgt systematisch in bestimmten Zeitabständen, bei spielsweise alle 6 Monate. The calibration or precise setting of the test and Sortierge rätes done systematically at regular intervals, at play, every 6 months. Die derzeit verwendeten Test- und Sortiergeräte für Kondensatoren ermöglichen es jedoch nicht, eine bestimmte Anzahl von Fehlern festzustellen, beispiels weise einen schlechten Kontakt zwischen den Meßklemmen und dem Teil aufgrund einer Oxidation der Kontakte, eine schlech te Positionierung des Teils unter den Kontakten oder eine fehlerhafte Messung durch das Gerät. However, the testing and sorting equipment for capacitors currently used do not make it possible to determine a certain number of errors example, a poor contact between the measuring terminals and the part due to oxidation of the contacts, a bad te positioning of the part under the contacts or faulty measurement by the device.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Kontrollverfah ren für die bei einem Test- und Sortiergerät für Miniaturtei le durchgeführten Messungen zu schaffen, insbesondere für Kondensatoren, wodurch die oben beschriebenen Mängel vermie den werden. The invention has the object of providing a Kontrollverfah ren for the tasks performed at a testing and sorting device for Miniaturtei le measurements to provide, in particular for capacitors, whereby the above-described deficiencies are the vermie.

Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Kontrolle der Messungen, die in einem Test- und Sortiergerät für Miniatur teile durchgeführt werden, mit einer Übergabevorrichtung, die mit Zellen versehen ist, um die zu testenden und zu sortie renden Artikel aufzunehmen; The invention can be carried out a method for controlling the measurements, the parts in a testing and sorting device for miniature, with a transfer device, which is provided with cells to be tested and record the leaders to sort item; das Verfahren ist dadurch ge kennzeichnet, daß the method is characterized ge features that

  • - in einer der Zellen dauerhaft ein Referenzteil positioniert wird, dessen Kenndaten zeitlich stabil sind; - in one of the cells permanently reference part is positioned, whose characteristics are stable over time;
  • - in einer ersten Stufe wenigstens einer der Kennwerte des Teils N-mal (N < 1) getestet wird, um den Mittelwert und die Standardabweichung der Kenngröße zu bestimmen; - is tested in a first stage at least one of the characteristics of the part N times (N <1) to determine the mean and standard deviation of the characteristic variable;
  • - für den Mittelwert und die Standardabweichung der Kenngröße wenigstens zwei Rahmenwerte bestimmt werden; - are determined for the mean and the standard deviation of the parameter values ​​of at least two frames;
  • - in einem zweiten Schritt die Kenngröße des Referenzteils N′-mal (N′ < 1) getestet wird, um erneut den Mittelwert und die Standardabweichung der Kenngröße zu bestimmen; - in a second step the characteristic of the reference part N'-times (N '<1) is tested to determine the mean and standard deviation of the parameter again;
  • - der Mittelwert und die Standardabweichung, die so bestimmt wurden, mit ihren jeweiligen Rahmenwerten verglichen wer den; - the mean and the standard deviation were determined as compared to their respective frame values ​​who the;
  • - wenn der Mittelwert der Standardabweichung außerhalb der Rahmenwerte liegt, wird das Test- und Sortiergerät entweder angehalten, oder aber es wird der zweite Schritt zur Kon trolle erneut ausgeführt; - if the average of the standard deviation is outside the frame values, the testing and sorting machine is either stopped or it is the second step for scrutiny executed again;
  • - wenn der Mittelwert und die Standardabweichung innerhalb der Rahmenwerte liegen, werden die Messungen fortgesetzt, indem das Verfahren mit dem zweiten Schritt wiederaufgenom men wird. - the mean and standard deviation lie within the frame values, the measurements are continued by repeating the procedure with the second step recurrent genome is men.

Das oben beschriebene Verfahren ist ein permanentes und dyna misches Verfahren, durch welches ein zeitliches Mitgehen mit den Abdriften oder der Dispersion der Meßwerte des Meßkopfes ermöglicht wird. The method described above is a permanent and dyna-mix method by which a temporal drift or walking with the dispersion of the measured values ​​of the measuring head is made possible.

So machen es die Standardabweichungen möglich, einer eventu ellen Dispersion in den Meßwerten für das Referenzteil auf grund einer schlechten Kontaktqualität, einer schlechten Po sitionierung des Referenzteils unter den Meßkontakten oder einem Versagen des Test- und Sortiergerätes zu folgen. So make it the standard deviations possible a eventu ellen dispersion in the measured values ​​for the reference part on the basis of a poor connection quality, poor Po sitioning of the reference part under the measuring contacts or failure of the test and the sorter to follow.

Vorzugsweise werden gemäß einem weiteren Merkmal der Erfin dung für den Mittelwert und die Standardabweichung zwei Paare von Rahmenwerten bestimmt, die als Überwachungs-Grenzen und Kontroll-Grenzen bezeichnet werden; Preferably, extension for the mean and standard deviation of two pairs of frame values ​​are determined according to a further feature of the OF INVENTION, referred to as a monitoring limits and control limits; wenn der Mittelwert und/oder die Standardabweichung außerhalb der Kontroll-Gren zen liegen, wird das Test- und Sortiergerät angehalten; when the average and / or standard deviation outside the control Gren zen are, the testing and sorting machine is stopped; wenn hingegen der Mittelwert und/oder die Standardabweichung au ßerhalb der Überwachungs-Grenzen liegen, wird das Verfahren erneut mit dem zweiten Schritt begonnen, und das Test- und Sortiergerät wird angehalten, wenn der Mittelwert und/oder die Standardabweichung erneut außerhalb der Überwachungs- Grenzen liegen. whereas when the average and / or standard deviation au are ßerhalb the monitoring boundaries, the method is started again with the second step and the testing and sorting apparatus is stopped when the average and / or standard deviation again outside the monitoring boundaries lie.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform werden für bestimmte Kenngrößen wie die Kapazität von Kondensatoren die Rahmenwer te des Mittelwertes allesamt ausgehend von einer mittleren Standardabweichung berechnet, die ein für allemal ausgehend von einer Menge von Messungen bestimmt wird, die an dem Refe renzteil vorgenommen werden. According to a preferred embodiment, as the capacitance of capacitors can be calculated for certain parameters which Rahmenwer te of the mean value all starting from a mean standard deviation, which is a once and for all determined from a set of measurements that are made to the Refe rence part.

Vorzugsweise sind die Überwachungs-Grenzen für den Mittelwert annähernd gleich Preferably, the monitoring limits for the mean are approximately equal

LSS ≃ M + 2σ LSS ≃ M + 2σ

LIS ≃ M - 2σ LIS ≃ M - 2σ

Darin ist M der aus dem ersten Schritt gewonnene Mittelwert, und σ ist die Standardabweichung. Therein, M is the mean value obtained from the first step, and σ is the standard deviation. Die Kontroll-Grenzen für den Mittelwert sind annähernd gleich: The control limits for the mean are approximately equal to:

LSC ≃ M + 3σ LSC ≃ M + 3σ

LIC ≃ M - 3σ LIC ≃ M - 3σ

Darin ist M der aus dem ersten Schritt gewonnene Mittelwert, und σ ist die Standardabweichung. Therein, M is the mean value obtained from the first step, and σ is the standard deviation.

Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens und aus der Zeichnung, auf die Bezug genommen wird. Further features and advantages of the invention will become apparent from the following description of a preferred embodiment of the method and from the drawing, which is incorporated by reference. In der Zeichnung zeigen: die bereits erwähnte Fig. 1 eine schematische Ansicht eines Test- und Sortiergerä tes, bei dem das erfindungsgemäße Verfahren zur Anwen dung gelangen kann; In the drawings: the already mentioned Figure 1 is a schematic view of a testing and Sortiergerä tes, in the method of the invention for appli cation may be in;. die ebenfalls bereits erwähnte Fig. 2 einen teilweise aufgebrochenen Schnitt der zylindri schen Schale des in Fig. 1 gezeigten Gerätes; also the already mentioned Figure 2 is a partly broken section of the cylindricity rule shell of the apparatus shown in Fig. 1. und die Fig. 3 und 4 Kontrollkarten, die bei der Durchführung des erfin dungsgemäßen Verfahrens erstellt werden. and Figs. 3 and 4 control cards that are created in the implementation of the method according OF INVENTION dung.

Die Erfindung wird nun anhand eines Test- und Sortiergerätes für Kondensatoren beschrieben, bei welchem die Überprüfung und die Sortierung der Kondensatoren auf der Grundlage von Messungen der Kapazität und der Tangente des Verlustwinkels erfolgt. The invention will now be described by way of test and sorting device for capacitors, wherein the checking and sorting of the capacitors on the basis of measurements of the capacitance and the tangent of the loss angle is carried out. Es ist jedoch ersichtlich, daß das erfindungsgemäße Kontrollverfahren auch auf Test- und Sortiergeräte anwendbar ist, die andersartige Miniaturgegenstände verarbeiten und Messungen anderer Kenngrößen vornehmen. It is apparent, however, that the control method of the invention is also applicable to test and sorting devices that handle other types of miniature objects and make measurements of other parameters.

Gemäß der Erfindung wird zur Durchführung des Verfahrens für jeden Bereich von zu sortierenden Kondensatoren ein Referenz kondensator verwendet, dessen Werte für Kapazität und Tangen te des Verlustwinkels zeitlich stabil sind. According to the invention, a reference capacitor is used for performing the method for each region to be sorted capacitors whose values ​​for capacitance and Tangen te of the loss angle are stable over time. Dieser Referenz kondensator wird dauerhaft in einer der Zellen der Drehplatte 3 angeordnet, die in Fig. 2 gezeigt ist. This reference capacitor is permanently arranged in one of the cells of the rotating plate 3, which is shown in Fig. 2. Dieser Kondensator wird also bei jedem Durchgang unter dem Meßkopf 8 durch die Test- und Sortiervorrichtung gemessen, nämlich alle 14 Sekun den in einem Test- und Sortiergerät, bei welchem die Erfin dung zur Anwendung gelangt ist. This capacitor is thus measured at each pass under the measuring head 8 by the testing and sorting apparatus, namely, every 14-seconds has passed in a testing and sorting apparatus in which the dung OF INVENTION applied.

Vor der Verwendung des Referenzkondensators in einem Test- und Sortiergerät für Kondensatoren wurden als Kenngrößen die Kapazität und die Tangente des Verlustwinkels dieses Refe renzkondensators während mehrerer Monate in einem Gerät der verwendeten Art und unter optimalen Meßbedingungen gemessen. Prior to use of the reference capacitor in a testing and sorting device for capacitors, the capacitance and the tangent of the loss angle were measured Refe rence this capacitor during several months in a device of the type used under optimum measurement conditions as parameters. Auf der Grundlage dieser Messungen wurde eine Standardabwei chung berechnet, welche die Meßstreuung des Gerätes wieder gibt. Based on these measurements, a standard deviation was calculated, which gives the Meßstreuung the device again. Die globale Verteilung der Meßwerte folgt einem Gauß schen Gesetz mit dem Mittelwert M und der Standardabweichung σ. The global distribution of the measured values ​​follows a Gaussian law with the average value M and the standard deviation σ. Man verwendet also diese Werte, um die beiden Rahmenwerte zu bestimmen, die bei der Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens benutzt werden. So, use these values ​​to determine the two frame values ​​that are used in the process of the invention.

Im Rahmen der Erfindung werden zwei Paare von Rahmenwerten für den Mittelwert benutzt, nämlich Überwachungs-Grenzen und Kontroll-Grenzen. In the invention, two pairs of frame values ​​are used for the average value, namely, monitoring and control limits boundaries. Insbesondere werden die Überwachungs-Gren zen in solcher Weise bestimmt, daß zu einem Zeitpunkt T, wenn der Mittelwert der gemessenen Probe innerhalb der genannten Grenzen liegt, 95% Wahrscheinlichkeit besteht, daß das Test- und Sortiergerät gut eingestellt ist. In particular, the monitor-Gren be zen in such a manner determined that when the average of the measured sample is located at a time t within the stated limits, 95% probability exists that the testing and sorting apparatus is properly set. Die Überwachungs-Gren zen sind so gewählt, daß: The monitoring Gren zen are selected such that:

LSS (obere Überwachungs-Grenze) ≃ M+2 σ, LSS (upper limit monitoring) ≃ M + 2 σ,
LIS (untere Überwachungs-Grenze) ≃ M- 2 σ. LIS (lower limit monitoring) ≃ M 2 σ.

In analoger Weise werden die Kontroll-Grenzen so gewählt, daß für einen Mittelwert der zu einem Zeitpunkt T gemessenen Pro be, der innerhalb dieser Grenzen liegt, 99,8% Wahrschein lichkeit besteht, daß das Test- und Sortiergerät gut einge stellt ist. In analogous manner, the control limits are selected so as to be an average value of the measured at a time T Pro, which lies within these limits, 99.8% plausibility consists friendliness in that the testing and sorting device is well inserted is. Die Kontroll-Grenzen sind so gewählt, daß: The control limits are chosen such that:

LSC (obere Kontroll-Grenze) ≃ M+3, LSC (upper control limit) ≃ + 3 M,
LIC (untere Kontroll-Grenze) ≃ M-3. LIC (lower control limit) ≃ M-3rd

Nachdem diese Werte für den Proben-Kondensator, der einem Bereich von Kondensatoren entspricht, bestimmt wurden, kann das Verfahren zur Kontrolle der in einem Test- und Sortierge rät für Kondensatoren durchgeführten Messungen für die Über prüfung und das Sortieren einer Menge von Kondensatoren ein gesetzt werden. After these values ​​have been determined for the sample capacitor, which corresponds to a range of capacitors, the method for controlling the advises in a test and Sortierge for capacitors measurements carried out for the inspection and sorting of a set of capacitors, a are set , Zu Beginn jeder Menge von zu sortierenden Kondensatoren werden beispielsweise die 20 ersten Werte für Kapazität und Tangente des Verlustwinkels des Referenzkonden sators gemessen. At the beginning of each set of capacitors to be sorted, the first 20 values ​​of capacitance and loss tangent of the angle of the crystallizer Referenzkonden be measured, for example. Auf der Grundlage dieser 20 ersten Meßwerte werden unter Verwendung eines Verarbeitungssystems bekannter Art, beispielsweise ein Informationsverarbeitungssystem, der Mittelwert für die Kapazität und der Mittelwert für die Tan gente des Verlustwinkels berechnet. Based on these first 20 measurements, for example, an information processing system, the mean value for the capacitance and the average value for the Tan gent of the loss angle are calculated using a processing system of a known type. Aufgrund der Kenntnis, je nach Meßbereich, des Wertes der Standardabweichung für die Kapazität und den Wert der Standardabweichung für die Tangen te können Kontrollkarten für Kapazität und Tangente erstellt werden, wie in den Fig. 3 und 4 gezeigt. Based on the knowledge, according to the measuring of the value of the standard deviation of the capacitance and the value of the standard deviation for the Tangen te control cards for capacity and tangent can 3 and 4 are created, as shown in Figs.. Die so gewonnenen Werte dienen als Referenzwerte zum Vergleichen der nächsten Werte der Mengen von Meßwerten. The values ​​obtained are used as reference values ​​for comparing the next values ​​of the quantities of measured values.

Im Anschluß an die Erstellung der Kontrollkarten werden er neut beispielsweise 20 Werte für die Kapazität und die Tan gente des Verlustwinkels des Kondensators gemessen. Following the creation of the control cards he will neut example, 20 values ​​for the capacitance and the tan gent of the loss angle of the capacitor measured. Mittels dieser 20 Werte werden erneut der Mittelwert für die Kapazi tät und die Tangente des Verlustwinkels sowie die Standardab weichung für die Kapazität und die Standardabweichung für die Tangente berechnet. By means of these 20 values ​​are again the mean value for the capaci ty and the tangent of the loss angle, and the Standard deviation of the capacitance, and calculates the standard deviation of the tangent. Diese Mittelwerte und die so bestimmten Standardabweichungen werden mit ihren entsprechenden Rahmen werten verglichen. These averages and standard deviations thus determined values ​​are compared with their corresponding frame.

Wenn ein Mittelwert oder eine Standardabweichung außerhalb der oberen oder unteren Überwachungs-Grenze liegt, bestehen 2,5% Wahrscheinlichkeit, daß das Test- und Sortiergerät kor rekt eingestellt ist. When a mean value or a standard deviation is outside the upper and lower monitoring threshold is, consist of 2.5% probability that the testing and sorting apparatus kor is rectly set. In diesem Falle wird eine zweite Menge von 20 Messungen vorgenommen. In this case, a second set of 20 measurements is taken. Wenn erneut einer der Mittel werte oder eine der Standardabweichungen außerhalb der Über wachungs-Grenzen liegt, besteht eine Wahrscheinlichkeit von 6,25 auf 10 000, daß das Test- und Sortiergerät korrekt ein gestellt ist. If again one of the central values ​​or the standard deviation is outside the over-wachungs limits, there is a probability of 6.25 per 10 000 that the testing and sorting equipment is correctly placed. Infolgedessen wird das Gerät automatisch ange halten. the device will result, hold automatically. Wenn andererseits einer der Mittelwerte oder eine der Standardabweichungen außerhalb der Kontroll-Grenzen liegt, besteht eine Wahrscheinlichkeit von 1 zu 1000, daß das Gerät korrekt eingestellt ist. On the other hand one of the mean values ​​or standard deviations is outside the control limits, there is a probability of 1 to 1000, that the device is adjusted correctly. In diesem Falle wird das Gerät auto matisch angehalten. In this case, the device car is stopped automatically.

Im Verlaufe des Sortierens werden die oben erwähnten Messun gen nach je N′ Messungen wiederholt, bei der beschriebenen Ausführungsform also nach je 20 Messungen, es werden erneut der Kapazitäts-Mittelwert, der Mittelwert der Tangente des Verlustwinkels, die Kapazitäts-Standardabweichung und die Standardabweichung des Tangente des Verlustwinkels berechnet, und diese Werte werden mit den bestimmten Rahmenwerten ver glichen. In the course of sorting the above-mentioned Messun be gen repeated after each N 'measurements, so in the embodiment described after every 20 measurements, there are again the capacity average, the average of the tangent of the loss angle, the capacitance standard deviation and the standard deviation of the tangent of the loss angle calculated, and these values ​​are adjusted ver with the particular frame values.

Für die Werte, die auf den zuvor erstellten Kontrollkarten angegeben sind, wird das Gerät automatisch angehalten, wenn Werte außerhalb der Rahmenwerte festgestellt werden; For the values ​​that are indicated on the previously created control cards, the device is automatically stopped when values ​​outside the frame values ​​are found; je nach Art der Werte, die außerhalb dieser Grenzen liegen, wird dann auf das Gerät eingewirkt. depending on the values ​​that lie outside these limits, is then applied to the device. Wenn beispielsweise der Kapazitäts- Mittelwert oder der Mittelwert für die Tangente des Verlust winkels außerhalb der Rahmengrenzen liegt, wird die Position des Referenzkondensators überprüft, und es wird die Funktion des Test- und Sortiergerätes verifiziert. For example, if the capacity average or mean value for the tangent of the loss angle is outside the frame boundaries, the position of the reference capacitor is checked, and it is verified the operation of the testing and sorting device. Wenn hingegen die Kapazitäts-Standardabweichung oder die Standardabweichung der Tangente des Verlustwinkels außerhalb der Grenzen liegt, wer den der Referenzkondensator, seine Position unter den Meßkon takten, die Qualität der Kontakte und ebenfalls das Test- und Sortiergerät überprüft. Conversely, if the capacitance standard deviation or the standard deviation of the tangent of the loss angle is outside the limits of who overclock the reference capacitor, its position among the Meßkon, checks the quality of the contacts and also the testing and sorting equipment.

Nachdem die Überprüfungen in ihrer Gesamtheit abgeschlossen sind, werden neue Messungen durchgeführt. After the checks are completed in their entirety, new measurements are made. Wenn der Mittelwert oder die Standardabweichung wieder innerhalb der Grenzen liegt, ist das Gerät erneut gut eingestellt; When the average value or the standard deviation is within the set limits, the device is well adjusted again; andernfalls wird auf einen anderen Parameter eingewirkt, bis das Gerät ein wandfrei eingestellt ist. otherwise acted upon another parameter until the device is a wall-free set.

Nachstehend wird ein Beispiel für die Werte angegeben, die gewonnen werden können, wenn das Messungs-Kontrollverfahren in einem Test- und Sortiergerät für Kondensatoren zum Einsatz kommt. An example of the values ​​is specified, which can be obtained when the measurement control method is used in a test and sorting device for capacitors used. Diese Werte wurden bei der Messung von Kondensatoren gewonnen, die in dem Bereich von 2 nF bis 20 nF vom Typ I lie gen. In diesem Falle wurden die obere Kontroll-Grenze und die untere Kontroll-Grenze ein für allemal bei der Messung wäh rend mehrerer Mengen bestimmt. These values ​​were obtained in the measurement of capacitors, which in the range of 2 nF to 20 nF Type I lie gene. In this case, the upper control limit and lower control limit was a currency end once and for all during the measurement of several amounts determined. Sie liegen bei ±1 pF in bezug auf CM, während die obere und die untere Überwachungs-Grenze bei ±0,6 pF von CM liegen (die Standardabweichung entspre chend der Meßstreuung des Gerätes ist ein konstanter Wert für jeden Bereich von Kondensatoren und =0,33 pF im Bereich 2 nF bis 20 nF vom Typ I). They are ± 1 pF with respect to CM, while the upper and lower limit monitoring at ± 0.6 pF are of CM (the standard deviation accordingly the Meßstreuung the device is a constant value for each region of capacitors and = 0 , 33 pF in the range of 2 nF to 20 nF type I). Anschließend wird nach den ersten 20 Messungen der Kapazitäts-Mittelwert CM bestimmt, der im vor liegenden Fall gleich 3,1595 nF ist. Capacity mean CM is then determined after the first 20 measurements, which is in the present case equal to 3.1595 nF. Gleichfalls werden die oberen und unteren Kontroll- und Überwachungs-Grenzen bezüg lich der Kapazitäts-Standardabweichung ein für allemal für einen Bereich von Kondensatoren festgelegt, wobei der Mittel wert der Standardabweichung nach den ersten 20 Messungen ge wonnen wird. Likewise, the upper and lower control and monitoring limits are bezüg Lich Capacity standard deviation determined once and for all for a range of capacitors, wherein the agent is of the standard deviation after the first 20 measurements ge gained. In dem dargestellten Fall gilt: Etm=0,00150, LSC=0,002, LIC=0,0007, LSS=0,0017, LIS=0,0009. In the illustrated case: Etm = 0.00150, LSC = 0.002, LIC = 0.0007, LSS = 0.0017, LIS = 0.0009.

Bezüglich der Kontrollkarte, die für die Tangente des Ver lustwinkels für dieselbe Menge von Kondensatoren erstellt wurde, erhält man folgende Werte: Regarding the control map that was created for the tangent of the angle Ver loss for the same amount of capacitors, we obtain the following values:
Tangente M=2; Tangent M = 2; LSC=7,44; LSC = 7.44; LIC=0; LIC = 0; LSS=5,63; LSS = 5.63; LIS=0; LIS = 0; Standardabweichung M=1,815; Standard deviation = 1.815 M; LSC=3,1; LSC = 3.1; LIC=1,1. LIC = 1.1. In diesem Falle sind nur LSC und LIC für die Standardabweichung für einen Bereich von Kondensatoren festgelegt. In this case only LSC and LIC are fixed for the standard deviation for a range of capacitors. Die anderen Gren zen werden während der 20 ersten Messungen gewonnen, indem die oben angegebenen Formeln verwendet werden. The other Gren zen be obtained during the first 20 measurements by the formulas given above are used.

Nachstehend werden verschiedene Werte aufgeführt, die für verschiedene Proben von 20 Messungen gewonnen wurden. Hereinafter, various values ​​are listed, which were obtained for different samples of 20 measurements. Diese Werte sind auf den zwei Kontrollkarten aufgeführt, so daß ihre Streuung in bezug auf die Mittelwerte ersichtlich wird: These values ​​are shown on the two control cards, so that their scattering is seen in relation to the mean values ​​of:

Claims (6)

  1. 1. Verfahren zur Kontrolle von Messungen, die in einem Test- und Sortiergerät für Miniaturteile durchgeführt werden, mit einer Zellen aufweisenden Übergabevorrichtung zur Aufnahme der zu testenden und zu sortierenden Miniaturteile, dadurch gekennzeichnet, daß: 1. A method for control of measurements which are carried out in a testing and sorting device for miniature components, characterized by having a cell having transfer device for receiving the test and sorting miniature components, in that:
    • - in einer der Zellen dauerhaft ein Referenzteil in Stellung gebracht wird, welches zeitlich stabile Kenngrößen auf weist; - in one of the cells permanently reference member is brought into position, which has stable characteristics over time on;
    • - in einer ersten Stufe wenigstens eine der Kenngrößen des Teils N-mal (N < 1) geprüft wird, um den Mittelwert und die Standardabweichung dieser Kenngröße zu bestimmen; - it is checked in a first step at least one of the characteristics of the portion of N times (N <1) to determine the mean and standard deviation of this characteristic quantity;
    • - für den Mittelwert und die Standardabweichung dieser Kenn größe wenigstens zwei Rahmenwerte bestimmt werden; - are determined for the mean and the standard deviation of this ratio at least two frame data;
    • - in einer zweiten Stufe die Kenngröße des Referenzteils N′-mal (N′ < 1) überprüft wird, um erneut den Mittelwert und die Standardabweichung der Kenngröße zu bestimmen; - the characteristic of the reference part N'-times (N '<1) is checked in a second step to determine the mean and standard deviation of the parameter again;
    • - der Mittelwert und die Standardabweichung, die so bestimmt wurden, mit ihren entsprechenden Rahmenwerten verglichen werden; are compared with the mean and standard deviation were determined as to their respective frame values ​​-;
    • - wenn der Mittelwert und die Standardabweichung außerhalb der Rahmenwerte liegen, entweder das Test- und Sortiergerät angehalten wird oder die zweite Stufe zur Kontrolle erneut begonnen wird; when the mean value and the standard deviation are outside the frame values, either the test and sorting apparatus is stopped or the second stage to control started again -;
    • - wenn der Mittelwert und die Standardabweichung innerhalb der Rahmenwerte liegen, die Messungen fortgesetzt werden, indem das Verfahren mit der zweiten Stufe wiederaufgenommen wird. - the mean and standard deviation lie within the frame values, the measurements are continued by repeating the procedure with the second stage is resumed.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß für den Mittelwert und die Standardabweichung zwei Paare von Rah menwerten bestimmt werden, die als Überwachungs-Grenzen und Kontroll-Grenzen bezeichnet werden, und daß, wenn der Mittel wert und/oder die Standardabweichung außerhalb der Kontroll- Grenzen liegen, das Test- und Sortiergerät angehalten wird, während dann, wenn der Mittelwert und/oder die Standardabwei chung außerhalb der Überwachungs-Grenzen liegen, das Verfah ren mit der zweiten Stufe wieder begonnen wird und das Test- und Sortiergerät angehalten wird, wenn der Mittelwert und/oder die Standardabweichung erneut außerhalb der Überwa chungs-Grenzen liegen. 2. The method according to claim 1, characterized in that are used for the mean and standard deviation of two pairs of Rah menwerten determined, referred to as a monitoring limits and control limits, and that when the mean value and / or the standard deviation is outside the control limits, the testing and sorting apparatus is stopped, whereas when the average and / or standard deviation lie outside of the monitoring limits, the procedural ren with the second stage again is started, and the testing and sorting machine is stopped is, when the average and / or standard deviation are again outside the moni toring boundaries.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Rahmenwerte für den Mittelwert ausgehend von einer mittleren Standardabweichung berechnet werden, die ein für allemal im Anschluß an eine Menge von Messungen des Referenz teils bestimmt wurde. 3. The method of claim 1 or 2, characterized in that the frame values ​​for the mean on the basis of a mean standard deviation are calculated, which was partly determined once and for all in connection with a set of measurements of the reference one.
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge kennzeichnet, daß die Überwachungs-Grenzen für den Mittelwert im wesentlichen von folgender Größe sind: LSS ≃ M + 2σLIS ≃ M - 2σworin M der in der ersten Stufe gewonnene Mittelwert und σ die mittlere Standardabweichung oder die in der ersten Stufe bestimmte Standardabweichung ist. 4. The method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that the monitoring limits for the mean essentially of the following size: LSS ≃ M + 2σLIS ≃ M - M 2σworin the average value obtained in the first stage and the σ is mean standard deviation or the particular stage in the first standard deviation.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge kennzeichnet, daß die Kontroll-Grenzen für den Mittelwert im wesentlichen folgende Größe haben: LSC ≃ M + 3σLIC ≃ M - 3σworin M der in der ersten Stufe gewonnene Mittelwert und σ die mittlere Standardabweichung oder die in der ersten Stufe bestimmte Standardabweichung ist. 5. The method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that have the control limits for the average value substantially equal to: LSC ≃ M + 3σLIC ≃ M - M 3σworin the average value obtained in the first stage, and σ, the mean is standard deviation, or the particular stage in the first standard deviation.
  6. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge kennzeichnet, daß das Miniaturteil ein Kondensator ist und daß die gemessenen Kenngrößen die Kapazität und die Tangente des Verlustwinkels sind. 6. A method according to any one of claims 1 to 5, characterized in that the miniature part is a capacitor and in that the measured parameters are the capacity and the tangent of the loss angle.
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