DE4113576A1 - Mehrschichtkondensator - Google Patents
MehrschichtkondensatorInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Mehrschichtkondensator gemäß dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 1, insbesondere einen Mehrschichtkondensator mit einer
verbesserten Struktur von inneren Elektroden.
Ein Beispiel eines konventionellen Mehrschichtkondensators wird nachfolgend
unter Bezugnahme auf die Fig. 16A bis 17B näher beschrieben. Dieser
Mehrschichtkondensator besteht aus einem gesinterten Körper 5, der durch
wechselweises Aufeinanderschichten von keramischen Rohschichten (ceramic
green sheets) 1 und 3 hergestellt wird. Die keramischen Rohschichten 1 und 3
bestehen aus einer dielektrischen Keramik und tragen jeweils auf ihrer einen
Oberfläche innere Elektroden 2 und 4, wie die Fig. 16A und 16B zeigen. Dabei
sind jeweils benachbarte keramische Rohschichten in der Schichtebene um
180°C gegeneinander verdreht. Die aufeinandergeschichteten keramischen
Rohschichten werden dann in Richtung senkrecht zur Schichtebene gepreßt
und anschließend gemeinsam gebrannt, um den gesinterten Körper 5 zu erhalten.
Genauer gesagt sind die im gesinterten Körper 5 vorhandenen inneren Elektroden
2 und 4 schichtförmig übereinander angeordnet, wobei sie durch die dieelektrischen
Schichten voneinander getrennt sind, wie die Fig. 17A und 17B erkennen
lassen. Zusätzlich befinden sich äußere Elektroden 6 und 7 an beiden Endoberflächen
des gesinterten Körpers 5. Zwischen den inneren Elektroden 2 und
4, die sich einander überlappen und die durch die dielektrischen Schichten
voneinander getrennt sind, bildet sich eine Kapazität aus.
Die inneren Elektroden 2 und 4 können aus einem Edelmetall hergestellt sein,
beispielsweise aus Pd oder aus einer Ag-Pd-Legierung. In diesem Fall sind die
Herstellungskosten des oben beschriebenen Mehrschichtkondensators relativ
groß, da die inneren Elektroden 2 und 4 eine große Fläche einnehmen.
In der offengelegten japanischen Patentpublikation Nr. 1 56 619/1990 wird ein
Mehrschichtkondensator vorgeschlagen, bei dem die inneren Elektroden jeweils
eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern aufweisen. Ein Mehrschichtkondensator
dieses Typs wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die
Fig. 18A bis 19 näher beschrieben. Bei diesem Mehrschichtkondensator kommen
einerseits keramische Rohschichten 11 (ceramic green sheets) zum Einsatz,
auf deren einen Oberfläche innere Elektroden 12 aufgedruckt sind, die jeweils
eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern 12a aufweisen, und andererseits
keramische Rohschichten 13 zum Einsatz, auf deren einen Oberfläche
innere Elektroden 14 aufgedruckt sind, die eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern
14a aufweisen. Die inneren Elektrodenfinger 12a und 14a besitzen
jeweils dieselbe Breite und sind jeweils so positioniert, daß in Schichtebene gesehen
zwischen ihnen Spalte 15 und 16 bzw. Lücken mit derselben Breite vorhanden
sind.
Bei dem Mehrschichtkondensator mit den oben beschriebenen inneren Elektroden
12 und 14 überlappen sich jeweils die mehreren inneren Elektrodenfinger
12a und 14a, wobei sie durch die dielektrischen Schichten 5a voneinander
getrennt sind, wie anhand des in Fig. 19 gezeigten Querschnitts zu erkennen
ist.
Bei diesem Aufbau wird ein elektrisches Feld an der Kante jeder der inneren
Elektrodenfinger 12a und 14a konzentriert, so daß ein sogenannter Kanteneffekt
auftritt, durch den sich die Kapazität um 20 bis 30% erhöhen läßt, und
zwar im Vergleich zum oben beschriebenen Mehrschichtkondensator, welcher
die inneren Elektroden 2 und 4 enthält, die dieselbe Fläche einnehmen. Es ist
somit möglich, den Bereich der inneren Elektroden beim Mehrschichtkondensator
nach den Fig. 18A bis 19 im Vergleich zur Elektrodenfläche beim Mehrschichtkondensator
nach den Fig. 17A und 17B zu verringern, und zwar bei jeweils
denselben Kapazitäten. Der Mehrschichtkondensator nach Fig. 19 läßt
sich dadurch kostengünstiger herstellen.
Allerdings weisen die inneren Elektroden 12 und 14 beim Mehrschichtkondensator
nach den Fig. 18A bis 19 jeweils die mehreren inneren Elektrodenfinger
12a und 14a auf. Es kann daher leicht der Fall auftreten, daß Bereiche gebildet
werden, in denen sich die inneren Elektrodenfinger 12a und 14a in Richtung
der Schichtdicke gesehen nicht überlappen, wenn laterale Verschiebungen
auftreten (Verschiebungen in Richtung des Pfeils P in Fig. 19), und zwar bei der
Bildung der inneren Elektroden 12 und 14 auf den keramischen Rohschichten
11 und 13 oder beim Aufeinanderschichten der keramischen Rohschichten 11
und 13, wenn diese nicht genau zueinander ausgerichtet werden. Die Kapazität
des in Fig. 19 dargestellten Mehrschichtkondensators kann somit sehr stark
schwanken, wie die durchgezogene Linie C in Fig. 7 zeigt, und zwar in Abhängigkeit
der Größe der Verschiebung zwischen den inneren Elektroden in Lateralrichtung.
Um die oben beschriebenen Kapazitätsschwankungen zu reduzieren, wurde bereits
ein Mehrschichtkondensator vorgeschlagen, der innere Elektroden 32
und 34 enthält, wie die Fig. 20A und 20B zeigen. Bei diesem Mehrschichtkondensator
weist die innere Elektrode 32 eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern
32a auf, während die andere innere Elektrode 34 eine rechteckförmige
Form besitzt und keine innere Elektrodenfinger aufweist. Die inneren Elektroden
32 und 34 werden wechselweise aufeinandergeschichtet, um einen Mehrschichtkondensator
zu erhalten, wie er in Fig. 21 dargestellt ist, die einen Querschnitt
dieses Kondensators zeigt.
Wie anhand der Fig. 21 zu erkennen ist, überlappen sich die mehreren inneren
Elektrodenfinger 32a mit der inneren Elektrode 34, die in Lateralrichtung
durchgehend ausgebildet ist, wobei zwischen beiden Elektroden 32 und 34 eine
dielektrische Schicht 5a vorhanden ist. Hierdurch wird es möglich, Schwankungen
in der Kapazität zu reduzieren, auch wenn die innere Elektrode 32 mit
den mehreren inneren Elektrodenfingern 32a und die innere Elektrode 34 in Lateralrichtung
gegeneinander verschoben sind. Die Lateralrichtung ist in Fig. 21
durch den Doppelpfeil P markiert. Beim Mehrschichtkondensator nach Fig. 21
muß die innere Elektrode 34 jedoch in einem großen Bereich gebildet werden,
wobei sie eine rechteckige Form aufweist, wie in Fig. 20B gezeigt ist. Das bedeutet,
daß er in Fig. 21 dargestellte Mehrschichtkondenssatoren ebenfalls nur unter
hohen Kosten hergestellt werden kann. Darüber hinaus hat sich herausgestellt,
daß der Mehrschichtkondensator nach Fig. 21 auch eine verminderte
Spannungsfestigkeit (withstanding voltage) besitzt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Mehrschichtkondensator zu
schaffen, der sich durch Verwendung innerer Elektroden, die eine Mehrzahl
von inneren Elektrodenfingern aufweisen, kostengüstig und ohne große Kapazitätsschwankungen
herstellen läßt.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs
1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den
Unteransprüchen zu entnehmen.
Ein Mehrschichtkondensator nach der Erfindung mit einer Mehrzahl von übereinanderliegend
angeordneten inneren Elektroden, die durch dielektrische
Schichten voneinander getrennt sind, zeichnet sich dadurch aus, daß
- - er einen dielektrischen Körper aufweist,
- - eine Mehrzahl von inneren Elektroden so im dielektrischen Körper angeordnet ist, daß sie sich in Dickenrichtung gesehen einander überlappen, wobei sie durch dielektrische Schichten voneinander getrennt sind,
- - jede der inneren Elektroden eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern aufweist, die durch freie Spalte bzw. Lücken voneinander getrennt sind, wobei die zu einer jeweiligen inneren Elektrode gehörenden Elektrodenfinger wenigstens zwei verschiedene Breiten besitzt, und
- - äußere Elektroden an einem Paar von Endflächen des dielektrischen Körpers angebracht und mit vorbestimmten der mehreren inneren Elektroden elektrisch verbunden ist.
Der Mehrschichtkondensator nach der Erfindung ist so aufgebaut, daß jede der
inneren Elektroden eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern aufweist. Auf
diese Weise wird es möglich, die Kapazität des Mehrschichtkondensators zu
vergrößern, und zwar aufgrund des oben beschriebenen Kanteneffekts. Soll
dieselbe Kapazität erzielt werden, so kann im Vergleich zum herkömmlichen
Mehrschichtkondensator die Fläche der inneren Elektroden bzw. die Fläche einer
jeden der inneren Elektroden beim Mehrschichtkondensator nach der Erfindung
verkleinert werden. Der Mehrschichtkondensator nach der Erfindung
läßt sich somit kostengünstig herstellen, selbst wenn ein Edelmetall als Material
für die inneren Elektroden verwendet wird.
Die inneren Elektrodenfinger können so ausgebildet sein, daß innerhalb der jeweiligen
inneren Elektroden Elektrodenfinger mit unterschiedlichen Breiten
vorhanden sind. Dabei können Elektrodenfinger mit zwei oder mehreren verschiedenen
Breiten verwendet werden. Ist bei einem Paar von inneren Elektrodenfingern,
welche sich überlappen und durch eine dielektrische Schicht voneinander
getrennt sind, der innere Elektrodenfinger mit relativ geringer Breite
dem inneren Elektrodenfinger mit relativ großer Breite gegenüberliegend angeordnet,
wobei zwischen ihnen die dielektrische Schicht liegt, so wird der innere
Elektrodenfinger mit relativ geringer Breite in den meisten Fällen innerhalb des
Bereichs des inneren Elektrodenfingers mit relativ großer Breite bewegt, so daß
der schmalere innere Elektrodenfinger nicht so leicht aus dem Bereich des breiteren
inneren Elektrodenfingers herausbewegt werden kann, wenn eine Positionsverschiebung
in Lateralrichtung zwischen den genannten inneren Elektrodenfingern
erfolgt. Auf diese Weise läßt sich eine Kapazitätsschwankung erheblich
reduzieren.
Darüber hinaus läßt sich, wei nachfolgend noch beschrieben wird, die Induktanz
des Mehrschichtkondensators nach der Erfindung verringern, da jede der
inneren Elektroden so ausgebildet ist, daß sie eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern
aufweist.
Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher
beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 einen Querschnitt durch einen Mehrschichtkondensator nach einem
ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung entlang einer Linie I-I in
Fig. 2,
Fig. 2 einen Längsschnitt durch den Mehrschichtkondensator nach dem ersten
Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 3A und 3B Draufsichten auf Formen innerer Elektroden, die beim Mehrschichtkondensator nach dem ersten Ausführungsbeispiel verwendet
werden,
Fig. 4A und 4B Draufsichten modifizierter Formen von inneren Elektroden, die
beim Schichtkondensator nach dem ersten Ausführungsbeispiel verwendet
werden,
Fig. 5 eine Querschnittsdarstellung des Mehrschichtkondensators nach
dem ersten Ausführungsbeispiel zur Erläuterung der Abmessungen
von inneren Elektrodenfingern der verwendeten inneren Elektroden,
Fig. 6 ein Diagramm zur Erläutertung der Beziehung zwischen dem Betrag der
Positionsverschiebung der inneren Elektroden unteinander und der
Kapazität, und zwar sowohl für den Mehrschichtkondensator nach
dem ersten Ausführungsbeispiel als auch für den konventionellen
Mehrschichtkondensator,
Fig. 7 ein Diagramm zur Erläuterung der Beziehung zwischen dem Betrag der
Positionsverschiebung der inneren Elektroden untereinander und der
Änderungsrate der Kapazität, und zwar sowohl für den Mehrschichtkondensator
nach dem ersten Ausführungsbeispiel als auch für den
konventionellen Mehrschichtkondensator,
Fig. 8 ein Diagramm zur Erläuterung der Beziehung zwischen dem Betrag der
Positionsverschiebung der inneren Elektroden untereinander und der
Kapazität in einem Mehrschichtkondensator, der durch Wechsel der
Anzahl der inneren Elektroden und der Breite der inneren Elektrodenfinger
erhalten wird, und zwar sowohl für den Mehrschichtkondensator
nach dem ersten Ausführungsbeispiel als auch für den konventionellen
Mehrschichtkondensator,
Fig. 9 ein Diagramm zur Erläuterung der Beziehung zwischen dem Betrag der
Positionsverschiebung der inneren Elektroden untereinander und der
Änderungsrate der Kapazität im Mehrschichtkondensator, der durch
Wechsel der Anzahl der inneren Elektroden und der Breite der inneren
Elektrodenfinger erhalten wird, und zwar sowohl für den Mehrschichtkondensator
nach dem ersten Ausführungsbeispiel als auch
für den konventionellen Mehrschichtkondensator,
Fig. 10 einen Querschnitt zur Erläuterung eines Mehrschichtkondensators
nach einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 11 einen Querschnitt zur Erläuterung eines Mehrschichtkondensators
nach einem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 12 einen Querschnitt zur Erläuterung eines Mehrschichtkondensators
nach einem vierten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 13 einen Querschnitt zur Erläuterung der Struktur von inneren Elektroden
in einem Mehrschichtkondensator nach einem fünften Ausführungsbeispiel
der Erfindung,
Fig. 14 einen Querschnitt zur Erläuterung eines Mehrschichtkondensators
nach einem sechsten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 15 einen Querschnitt zur Erläuterung eines Mehrschichtkondensators
nach einem siebten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 16A und 16B Draufsichten zur Erläuterung der Formen von keramischen
Rohschichten und darauf angeordneten inneren Elektroden bei einem
konventionellen Mehrschichtkondensator,
Fig. 17A und 17B weitere Diagramme zur Erläuterung des konventionellen
Mehrschichtkondensators, wobei Fig. 17A einen Längsschnitt zeigt,
während Fig. 17B einen Querschnitt entlang der Linie X-X in Fig. 17A
darstellt,
Fig. 18A und 18B Draufsichten zur Erläuterung der Formen von inneren Elektroden
bei einem anderen konventionellen Mehrschichtkondensator,
Fig. 19 einen schematischen Querschnitt durch den anderen konventionellen
Mehrschichtkondensator,
Fig. 20A und 20B Draufsichten zur Erläuterung der Formen von inneren Elektroden
bei einem noch anderen konventionellen Mehrschichtkondensator und
Fig. 21 einen Querschnitt zur Erläuterung des Aufbaus dieses noch anderen
konventionellen Mehrschichtkondensators.
Die Fig. 1 und 2 zeigen jeweils eine Frontquerschnittsansicht und eine Seitenquerschnittsansicht
eines Mehrschichtkondensators nach einem ersten Ausführungsbeispiel
der Erfindung. Ein Mehrschichtkondensator 40 nach dem
vorliegenden Ausführungsbeispiel enthält innere Elektroden, deren ebene Formen
in den Fig. 3A und 3B dargestellt sind.
Entsprechend der Fig. 3A weist eine innere Elektrode 42 eine Mehrzahl von inneren
Elektrodenfingern 42a bis 42d auf, wobei die innere Elektrode 42 auf einer
keramischen Rohschicht 41 liegt (ceramic green sheet), die hauptsächlich
aus einer dielektrischen Keramik besteht. Die mehreren inneren Elektrodenfinger
42a bis 42d sind elektrisch miteinander verbunden, und zwar über einen
leitenden Verbindungsteil 42e, der sich entlang einer Kante der keramischen
Rohschicht 42 erstreckt. In ähnlicher Weise ist eine innere Elektrode 44 aufgebaut,
die eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern 44a bis 44d aufweist.
Die innere Elektrode 44 liegt auf einer keramischen Rohschicht 43. Auch bei der
inneren Elektrode 44 sind die mehreren inneren Elektrodenfinger 44a bis 44d
elektrisch über einen leitenden Verbindungsteil 44e miteinander verbunden.
Die mehreren inneren Elektrodenfinger 42a bis 42d enthalten innere Elektrodenfinger
42a und 42c, die eine relativ kleine Breite aufweisen, sowie innere
Elektrodenfinger 42b und 42d, die eine relativ große Breite aufweisen. Ähnlich
enthalten die mehreren inneren Elektrodenfinger 44a bis 44d innere Elektrodenfinger
44a und 44c mit relativ großer Breite sowie innere Elektrodenfinger
44b und 44d mit relativ kleiner Breite. Darüber hinaus sind die Abstände zwischen
den inneren Elektrodenfingern 42a bis 42d und die Abstände zwischen
den inneren Elektrodenfingern 44a bis 44d zueinander gleich gewählt.
Die oben beschriebenen inneren Elektroden 42 und 44 werden allgemein so
hergestellt, daß jeweils eine leitfähige Paste auf die keramischen Rohschichten
41 und 43 aufgedruckt wird. Die leitfähige Paste enthält ein Edelmetall, beispielsweise
Ag oder Ag-Pd. Der Mehrschichtkondensator 40 nach dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel wird dadurch gebildet, daß die in den Fig. 3A und
3B gezeigten keramischen Rohschichten 41 und 43 abwechselnd aufeinandergeschichtet
werden. Der durch Aufeinanderlegen mehrerer dieser Schichten erhaltene
Körper wird dann in Richtung der Schichtdicke gepreßt und anschließend
gebrannt, um einen gesinterten Körper zu erhalten. Sodann werden an
beiden Endoberflächen des gesinterten Körpers äußere Elektroden 45 und 46
gebildet, wie in Fig. 2 gezeigt ist. Diese äußeren Elektroden 45 und 46 stehen jeweils
mit den leitenden Verbindungsteilen 42e und 44e in elektrisch leitendem
Kontakt. Das Aufeinanderschichten der keramischen Rohschichten und der inneren
Elektroden, das gemeinsame Brennen des geschichteten Körpers und
das Anbringen der äußeren Elektroden können leicht in Übereinstimmung mit
herkömmlichen Verfahren zur Herstellung eines Mehrschichtkondensators
durchgeführt werden.
Bei dem Mehrschichtkondensator nach dem ersten Ausführungsbeispiel dienen
die leitenden Verbindungsteile 42e und 44e jeweils dazu, die mehreren inneren
Elektrodenfinger 42a bis 42d bzw. 44a bis 44d der inneren Elektroden 42
und 44 miteinander elektrisch zu verbinden. Können allerdings die mehreren
inneren Elektrodenfinger zuverlässig mit den äußeren Elektroden elektrisch
verbunden werden, so können die leitenden Verbindungsteile 42e und 44e auch
entfallen, wie die Fig. 4A und 4B zeigen. Genauer gesagt lassen sich die inneren
Elektroden 42 und 44 jeweils auch so ausbilden, daß sie nur die mehreren inneren
Elektrodenfinger 42 bis 42d bzw. die inneren Elektrodenfinger 44a bis 44d
besitzen.
Die Fig. 5 zeigt einen Querschnitt durch einen Mehrschichtkondensator nach
dem ersten Ausführungsbeispiel in einem Zustand, bei dem sich die inneren
Elektroden 42 und 44 einander überlappen. Wie die Fig. 5 erkennen läßt, sind
die inneren Elektrodenfinger 42a bis 42d und die inneren Elektrodenfinger 44a
bis 44d so angeordnet, daß sie einander gegenüberliegen bzw. sich überlappen,
wobei sie innerhalb eines gesinterten Körpers 47 zu liegen kommen, der als dielektrischer
Körper dient, und wobei ferner eine dielektrische Schicht 47a zwischen
den inneren Elektroden 42 und 44 liegt. Sämtliche inneren Elektrodenfinger
verlaufen parallel zueinander. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel
weisen die inneren Elektrodenfinger 42a und 42c eine relativ geringe Breite auf,
wobei sich diese inneren Elektrodenfinger 42a und 42c mit inneren Elektrodenfingern
44a und 44c überlappen, die eine relativ große Breite aufweisen. Durch
die dielektrische Schicht 47a sind die inneren Elektrodenfinger 42a und 44a sowie
die inneren Elektrodenfinger 42c und 44c voneinander getrennt. In ähnlicher
Weise überlappen sich die inneren Elektrodenfinger 42b und 42d, die eine
relativ große Breite aufweisen, jeweils mit den inneren Elektrodenfingern 44b
und 44d, die eine relativ geringe Breite aufweisen, wobei die dielektrische
Schicht 47a wiederum zwischen den inneren Elektrodenfingern 42b und 44b
sowie zwischen den inneren Elektrodenfingern 42d und 44d liegt.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 5 bis 9 wird nun die Tatsache näher beschrieben,
daß sich die Kapazität nicht wesentlich verändert, selbst wenn die inneren
Elektroden 42 und 44 innerhalb des Mehrschichtkondensators nach dem ersten
Ausführungsbeispiel in Lateralrichtung gegeneinander verschoben werden.
Entsprechend der Fig. 5 ist die Gesamtzahl der im Körper 47 liegenden inneren
Elektroden gleich 2, wobei α die Breite der inneren Elektrodenfinger 42a, 42c,
44b und 44d bezeichnet, die eine relativ geringe Breite aufweisen, β die Breite
der inneren Elektrodenfinger 42b, 42d, 44a und 44c bezeichnet, die eine relativ
große Breite aufweisen, γ die Breite der Lücken zwischen den inneren Elektrodenfingern
bezeichnet und d die Dicke der dielektrischen Schicht 47a ist. Im
vorliegenden Fall betragen die Abmessungen α, β, γ und d jeweils 0,088 mm,
0,132 mm, 0,110 mm und 0,050 mm. Das bedeutet, daß das Verhältnis β/α, also
das Verhältnis der Breite der inneren Elektrodenfinger mit relativ großer
Breite zur Breite der inneren Elektrodenfinger mit relativ geringer Breite gleich
1,5 ist.
Bei dem so aufgebauten Mehrschichtkondensator wird die Beziehung zwischen
der Kapazität und der Größe der Positionsverschiebung zwischen den inneren
Elektroden 42 und 44 in Lateralrichtung, also in Richtung des Pfeils P in Fig. 5,
durch die strichpunktierte Linie A in Fig. 6 repräsentiert.
Dagegen zeigt zu Vergleichszwecken die gebrochene Linie B die Beziehung zwischen
der Größe der Positionsverschiebung der inneren Elektroden untereinander
und der Kapazität beim konventionellen Mehrschichtkondensator nach
den Fig. 16A bis 17B, der so aufgebaut ist, daß die Anzahl der inneren Elektroden
dieselbe ist wie beim Mehrschichtkondensator nach dem ersten Ausführungsbeispiel,
wobei die inneren Elektroden dieselbe Fläche aufweisen. Andererseits
zeigt die durchgezogene Linie C in Fig. 6 die Relation zwischen der Größe
der Positionsverschiebung der inneren Elektroden untereinander und der
Kapazität beim konventionellen Mehrschichtkondensator nach den Fig. 18A
bis 19, der so aufgebaut ist, daß die inneren Elektroden dieselbe Fläche aufweisen.
Die Flächen der jeweiligen Elektroden in sämtlichen Beispielen A, B und C
sind also untereinander gleich.
Die Fig. 7 zeigt die Beziehung zwischen der Positionsverschiebung der inneren
Elektroden untereinander und der Änderungsrate der Kapazität einerseits für
den Mehrschichtkondensator nach der Erfindung gemäß dem obigen Ausführungsbeispiel
und andererseits für zwei konventionelle Mehrschichtkondensatoren.
Die Änderungsrate der Kapazität ist ein in Prozenten angegebenes Verhältnis
der Kapazitätsänderung für einen Fall, bei dem die Positionsverschiebung
zwischen oberen und unteren inneren Elektroden auftritt, zur Kapazitätsänderung
in einem Fall, bei dem keine Positionsverschiebung zwischen den
inneren Elektroden erfolgt.
Wie die Fig. 6 und 7 erkennen lassen, ist beim Mehrschichtkondensator nach
dem Ausführungsbeispiel der Erfindung auch bei einer Positionsverschiebung
zwischen den oberen und unteren inneren Elektroden die Kapazitätsänderungsrate
kleiner als beim konventionellen Mehrschichtkondensator, der eine
Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern aufweist (Mehrschichtkondensator
mit inneren Elektroden gemäß Fig. 18A und 18B), während die Kapazität selbst
signifikant größer ist im Vergleich zum konventionellen Mehrschichtkondensator,
der keine inneren Elektrodenfigur besitzt (Mehrschichtkondensator mit
inneren Elektroden nach den Fig. 16A und 16B). Dabei sei darauf hingewiesen,
daß die Anzahl der inneren Elektrodenfinger innerhalb einer inneren Elektrode
groß sein soll, um unter Ausnutzung des oben beschriebenen Kanteneffekts die
Kapazität beträchtlich zu erhöhen.
Es wird dann ein Mehrschichtkondensator nach der Erfindung mit gegenüber
Fig. 5 geänderten Abmessungen hergestellt, der insgesamt vier innere Elektroden
enthält. Die Abmessungen α, β, γ und d betragen jeweils 0,221 mm, 0,261
mm, 0,052 mm und 0,018 mm. In diesem Fall ergibt sich das obengenannte
Verhältnis β/α der Breite β der inneren Elektrodenfinger 42b, 42d, 44a und 44c,
die eine relativ große Breite aufweisen, zur Breite α der inneren Elektrodenfinger
42a, 42c, 44b und 44d, die eine relativ kleine Breite aufweisen, zu 1,18. Die
Breite γ der Spalte zwischen den mehreren inneren Elektrodenfingern in jeder
der inneren Elektroden und die Dicke d der dielektrischen Schicht 47a zwischen
den inneren Elektroden verbleibt jeweils konstant.
In der Fig. 8 zeigt die strichpunktierte Linie D für den Fall des Mehrschichtkondensators
nach dem Ausführungsbeispiel der Erfindung die Beziehung zwischen
der Größe der Positionsverschiebung der oberen und unteren inneren
Elektroden untereinander und der Kapazität, während die strichpunktierte Linie
D in Fig. 9 ebenfalls für den Fall des Mehrschichtkondensators nach der Erfindung
die Beziehung zwischen der Größe der Positionsverschiebung und der
Änderungsrate der Kapazität zeigt. Zu Vergleichszwecken zeigen die gebrochenen
Linien E in den Fig. 8 und 9 jeweils die Beziehung zwischen der Größe der
Verschiebeposition der inneren Elektroden untereinander und der Kapazität
sowie die Beziehung zwischen der Größe der Positionsverschiebung und der Änderungsrate
der Kapazität beim konventionellen Mehrschichtkondensator,
dessen innere Elektroden gemäß den Fig. 16A und 16B aufgebaut sind. Darüber
hinaus zeigen die Linien F in den Fig. 8 und 9 jeweils die Beziehung zwischen
der Größe der Positionsverschiebung der inneren Elektroden untereinander
und der Kapazität sowie die Beziehung zwischen der Größe der Positionsverschiebung
und der Änderungsrate der Kapazität beim Mehrschichtkondensator,
dessen innere Elektroden gemäß der Fig. 18A und 18B aufgebaut sind.
Wie anhand der Fig. 8 und 9 zu erkennen ist, wird auch dann eine verringerte
Schwankung bezüglich der Kapazität erhalten, und zwar im Vergleich zu den
konventionellen Mehrschichtkondensatoren, wenn die Gesamtanzahl der inneren
Elektroden gleich vier ist und das obige Verhältnis β zu α einen Wert von
1,18 aufweist. Beim erfindungsgemäßen Mehrschichtkondensator wird darüber
hinaus eine vergrößerte Kapazität erhalten, und zwar im Vergleich zum
konventionellen Mehrschichtkondensator, der keine inneren Elektrodenfinger
besitzt.
Die Fig. 10 zeigt eine Frontquerschnittsansicht eines Mehrschichtkondensators
nach einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung. Innerhalb des
Mehrschichtkondensators 50 nach dem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung
befinden sich innere Elektroden 52, die innere Elektrodenfinger 52a
und 52d aufweisen, die eine relativ geringe Breite besitzen, und die ferner innere
Elektrodenfinger 52b und 52c aufweisen, die eine relativ große Breite besitzen.
Darüber hinaus sind andere innere Elektroden 54 vorhanden, die innere
Elektrodenfinger 54b und 54c aufweisen, welche eine relativ geringe Breite besitzen,
und darüber hinaus innere Elektrodenfinger 54a und 54d aufweisen, die
eine relativ große Breite besitzen. Mit anderen Worten sind in einer Schichtebene
bzw. einer inneren Elektrode innere Elektrodenfinger mit geringerer und mit
größerer Breite nicht abwechselnd nebeneinanderliegend angeordnet. Nach
der Erfindung ist es somit nicht erforderlich, die inneren Elektrodenfinger mit
geringerer Breite und die inneren Elektrodenfinger mit größerer Breite abwechselnd
nebeneinanderliegend vorzusehen.
Genauer gesagt sind in Fig. 10 vier innere Elektroden übereinanderliegend vorhanden.
Jede der inneren Elektroden weise jeweils vier innere Elektrodenfinger
auf, wobei sämtliche inneren Elektrodenfinger parallel zueinander verlaufen.
Die oberste innere Elektrode in Fig. 10 enthält außen jeweils breitere innere
Elektrodenfinger und in der Mitte zwei schmalere innere Elektrodenfinger,
während die zweite darunterliegende innere Elektrode außen zwei schmalere
und in der Mitte zwei breitere innere Elektrodenfinger aufweist, usw.
Die Fig. 11 zeigt einen Mehrschichtkondensator nach einem dritten Ausführungsbeispiel
der Erfindung, wobei der Mehrschichtkondensator innere Elektrodenfinger
62b, 62c, 64a und 64b besitzt, die eine geringe Breite aufweisen,
sowie innere Elektrodenfinger 62a und 64c, die eine große Breite aufweisen. In
jeder der inneren Elektroden 62 und 64 muß somit die Anzahl der inneren Elektrodenfinger,
die eine geringere Breite aufweisen, und die Anzahl der inneren
Elektrodenfinger, die eine große Breite aufweisen, nicht notwendigerweise
gleich sein.
Beim oben beschriebenen ersten Ausführungsbeispiel können die Abmessungen
α,β und γ sowie die Dicke d der dielektrischen Schicht in Abhängigkeit vom
angestrebten Kapazitätswert und in Abhängigkeit der Genauigkeit beim
Schichtungsprozeß, also beim Aufeinanderlegen der einzelnen Keramikrohschichten,
bestimmt werden. Dies wird nachfolgend beispielsweise anhand der
inneren Elektrodenfinger 42a und 44a gemäß Fig. 5 näher beschrieben.
Im vorliegenden Fall wird vorzugsweise der Wert von β/α so groß gewählt, daß
verhindert wird, daß die inneren Elektrodenfinger 42a, die eine geringe Breite
aufweisen, aus dem Bereich der inneren Elektrodenfinger 44a infolge der Positionsverschiebung
herausbewegt werden, die eine große Breite aufweisen. Ist
allerdings der Wert von β/α zu groß, so wird der Abstand zwischen den inneren
Elektrodenfingern, die in einer inneren Elektrode benachbart zueinander liegen,
also die Breite γ des Spalts, ebenfalls zu groß, was eine Kapazitätsverminderung
nach sich zieht. Aus diesem Grunde wird vorzugsweise der Wert von β/α
so eingestellt, daß er wenigstens annähernd Zwei oder kleiner ist.
Beim Mehrschichtkondensator nach der Erfindung ist es darüber hinaus möglich,
nicht nur den Wert der Kapazität zu vergrößern und die Kapazitätsschwankungen
zu vermindern, wie oben beschrieben, sondern ebenfalls auch
die Induktanz zu verringern. Wird ein Mehrschichtkondensator hergestellt, bei
dem der dielektrische Körper aus einem dielektrischen Material besteht, dessen
dielektrische Konstante 3200 beträgt, und soll der Kondensator eine Kapazität
von 4,7 nF aufweisen, so läßt sich sein ESL-Wert (Äquivalent-Serien-Induktanz-
Wert) um etwa 24% von 114 pH beim konventionellen Mehrschichtkondensator
auf 87 pH reduzieren.
Bei den oben beschriebenen ersten bis dritten Ausführungsbeispielen der Erfindung
konnten die inneren Elektrodenfinger jeweils einer inneren Elektrode
nur zwei unterschiedliche Breiten aufweisen. Hierauf ist die Erfindung jedoch
nicht beschränkt. Innerhalb einer Elektrode können auch so viele Elektrodenfinger
vorhanden sein, daß drei oder mehrere unterschiedliche Breiten von
Elektrodenfingern möglich sind. Darüber hinaus braucht die Breite γ der
Lücken bzw. Spalte zwischen jeweils benachbarten der mehreren inneren Elektrodenfinger
nicht unbedingt konstant zu sein. Die Lückenbreite γ kann auch
von Elektrodenfingerpaar zu Elektrodenfingerpaar verschieden sein.
Bei einem in Fig. 12 dargestellten Mehrschichtkondendator nach der Erfindung
weisen die inneren Elektrodenfinger 72a bis 72c einer inneren Elektrode 72 jeweils
unterschiedliche Breiten auf. Ebenso weisen die inneren Elektrodenfinger
74a bis 74c einer inneren Elektrode 74 unterschiedliche Breiten untereinander
auf. Innerhalb der jeweiligen inneren Elektroden befinden sich also innere
Elektrodenfinger mit drei verschiedenen Breiten. Im vorliegenden Fall sind
die Breiten der inneren Elektrodenfinger 72b und 74b im Zentralbereich der inneren
Elektroden 72 und 74 untereinander gleich, wie die Fig. 12 erkennen
läßt. Tritt somit eine Positionsverschlechterung zwischen den inneren Elektroden
72 und 74 in Lateralrichtung auf, so verringert sich der Überlappungsbereich
der inneren Elektrodenfinger 72b und 74b, was zu einer Kapazitätsschwankung
führt. Da jedoch die inneren Elektrodenfinger 72a, die eine geringere Breite
aufweisen, und die inneren Elektrodenfinger 72c, die eine große Breite aufweisen,
jeweils einem inneren Elektrodenfinger 74a, der eine große Breite aufweist,
und einem inneren Elektrodenfinger 74c, der eine kleine Breite aufweist,
gegenüberliegen, reduziert sich die Kapazitätsschwankung wiederum, und
zwar im Vergleich zum konventionellen Mehrschichtkondensator, der eine
Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern aufweist, die untereinander dieselbe
Breite besitzen.
Wenn andererseits gemäß Fig. 13 innere Elektrodenfinger 82b und 84b mit einer
mittleren Breite im Zentralbereich der inneren Elektroden so angeordnet
sind, daß sich Teile von ihnen jeweils mit Teilen von inneren Elektrodenfingern
84a und 82c überlappen, die eine große Breite besitzen und zur jeweils anderen
inneren Elektrode gehören, so läßt sich eine Kapazitätsschwankung verhindern,
auch wenn eine Positionsverschiebung in Lateralrichtung erfolgt.
Bei den in den Fig. 12 und 13 gezeigten Mehrschichtkondensatoren kann die
Anzahl der inneren Elektroden auch drei oder mehr betragen.
Die Fig. 14 zeigt eine Frontquerschnittsansicht eines Mehrschichtkondensators
nach einem sechsten Ausführungsbeispiel der Erfindung. In einem Mehrschichtkondensator
90 nach dem sechsten Ausführungsbeispiel der Erfindung
weist eine innere Elektrode 92 eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern
92a bis 92d auf. In dieser inneren Elektrode 92 besitzt der innere Elektrodenfinger
92c eine relativ große Breite, während zwei innere Elektrodenfinger 92b
und 92c eine mittlere Breite aufweisen und der innere Elektrodenfinger 92d eine
relativ kleine Breite besitzt. Entsprechend sind in der inneren Elektrode 94
ein innerer Elektrodenfinger 94a mit relativ kleiner Breite, zwei innere Elektrodenfinger
94b und 94c mit einer mittleren Breite und ein innerer Elektrodenfinger
94d mit einer relativ großen Breite vorhanden.
Im Ausführungsbeispiel nach Fig. 14 weisen die inneren Elektrodenfinger 92b,
92c, 94b und 94c, die sich im mittleren Teil der inneren Elektroden befinden,
jeweils dieselbe Breite auf. Andererseits sind die inneren Elektrodenfinger 92a
und 94a sowie die inneren Elektrodenfinger 92d und 94d, die an beiden Enden
der inneren Elektroden und einander gegenüberliegend angeordnet sind, mit
unterschiedlichen Breiten ausgestattet, wobei zwischen den einander gegenüberliegenden
Elektrodenfingern die unterschiedlichen inneren Elektroden eine
dielektrische Schicht vorhanden ist.
Die Fig. 15 zeigt einen Mehrschichtkondensator 100 nach einem siebten Ausführungsbeispiel
der Erfindung. Bei diesem Ausführungsbeispiel weisen innere
Elektrodenfinger 102b, 102c, 104b und 104c eine mittlere Breite auf und
sind im mittleren Bereich von inneren Elektroden so angeordnet, daß sich Teile
von ihnen jeweils mit Teilen von inneren Elektrodenfingern überlappen, die zur
jeweils anderen inneren Elektrode gehören und eine mittlere Breite oder eine
große Breite aufweisen. Beim Mehrschichtkondensator 100 nach Fig. 15 läßt
sich somit die Kapazitätsschwankung, die bei einer Positionsverschiebung zwischen
den inneren Elektroden in Lateralrichtung erzeugt wird, noch wirksamer
unterdrücken bzw. verhindern, und zwar im Vergleich zum Mehrschichtkondensator
90 gemäß dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 14.
Für jeden der Mehrschichtkondensatoren nach den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen
gilt, daß mit steigender Anzahl von aufeinandergeschichteten
inneren Elektroden auch die Anzahl der elektrischen Felder steigt, und zwar
infolge der überlagerten Lücken bzw. Spalte. Aus den Fig. 6 und 8 kann somit
geschlossen werden, daß selbst dann, wenn im Vergleich zum konventionellen
Mehrschichtkondensator die Fläche einer jeden der inneren Elektroden verkleinert
wird, dieselbe Kapazität wie beim konventionellen Mehrschichtkondensator
gemäß den Fig. 16A bis 17B erhalten werden kann, bei dem rechteckförmige
innere Elektroden verwendet werden, die keine Lücken bzw. Spalten enthalten.
Claims (11)
1. Mehrschichtkondensator mit einer Mehrzahl von übereinanderliegend
angeordneten inneren Elektroden, die durch dielektrische Schichten voneinander
getrennt sind, dadurch gekennzeichnet, daß
- - er einen dielektrischen Körper (47; 50; 90; 100) aufweist,
- - eine Mehrzahl von inneren Elektroden (42, 44; 52, 54; 92, 94; . . .) so im dielektrischen Körper angeordnet ist, daß sie sich in Dickenrichtung gesehen einander überlappen, wobei sie durch dielektrische Schichten (47a; . . .) voneinander getrennt sind,
- - jede der inneren Elektroden eine Mehrzahl von inneren Elektrodenfingern (42a bis 42d, 44a bis 44d; 52a bis 52d, 54a bis 54d; 92a bis 92d, 94a bis 94d; 102a bis 102d, 104a bis 104d) aufweist, die durch freie Spalte bzw. Lücken voneinander getrennt sind, wobei die zu einer jeweiligen inneren Elektrode gehörenden Elektrodenfinger wenigstens zwei verschiedene Breiten (α, β) besitzen, und
- - äußere Elektroden (45, 46; . . .) an einem Paar von Endflächen des dielektrischen Körpers angebracht und mit vorbestimmten der mehreren inneren Elektroden elektrisch verbunden sind.
2. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem Paar von inneren Elektroden (42, 44), die sich einander überlappen
und durch eine dielektrische Schicht (47a) voneinander getrennt sind, die
Breite (α, β) wenigstens eines inneren Elektrodenfingers (44d, 44c) an der oberen
Seite und die Breite (β, α) eines an der unteren Seite liegenden inneren Elektrodenfingers
(42d, 42c), der sich mit dem inneren Elektrodenfinger an der oberen
Seite überlappt, voneinander verschieden sind.
3. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem Paar von inneren Elektroden, die sich einander überlappen und
durch eine dielektrische Schicht voneinander getrennt sind, die Breiten der inneren
Elektrodenfinger (74a bis 74c) an der oberen Seite und die Breiten der an
der unteren Seite liegenden inneren Elektrodenfinger (72a bis 72c), die sich mit
den inneren Elektrodenfingern an der oberen Seite überlappen, jeweils alle voneinander
verschieden sind (Fig. 12).
4. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei Breiten zur Bildung der Elektrodenfinger verwendet werden.
5. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die mehreren inneren Elektrodenfinger innere Elektrodenfinger mit zwei
Typen von Breiten enthalten, insbesondere innere Elektrodenfinger mit relativ
großer Breite und innere Elektrodenfinger mit relativ geringer Breite, und daß
die inneren Elektrodenfinger mit relativ großer Breite und die inneren Elektrodenfinger
mit relativ geringer Breite abwechselnd zueinander angeordnet sind.
6. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem Paar von inneren Elektroden, die sich einander überlappen und
durch eine dielektrische Schicht voneinander getrennt sind, ein innerer Elektrodenfinger
mit relativ großer Breite in der inneren Elektrode auf der dielektrischen
Schicht und ein innerer Elektrodenfinger mit relativ geringer Breite in
der unterhalb der dielektrischen Schicht liegenden inneren Elektrode, der sich
mit dem inneren Elektrodenfinger mit relativ großer Breite überlappt, vorhanden
sind, wobei beide inneren Elektrodenfinger durch die dielektrische Schicht
voneinander getrennt sind, und daß das Verhältnis der Breite des inneren Elektrodenfingers
mit relativ großer Breite zur Breite des inneren Elektrodenfingers
mit relativ geringer Breite einen Wert von Zwei oder weniger aufweist.
7. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Breiten der inneren Elektrodenfinger drei Breitentypen umfassen.
8. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder der inneren Elektroden einen leitenden Verbindungsteil (42e, 44e)
aufweist, um einen Kontakt mit den mehreren inneren Elektrodenfingern zu ermöglichen,
und daß die mehreren inneren Elektrodenfinger miteinander über
den leitenden Verbindungsteil elektrisch verbunden sind.
9. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Breiten der Spalte bzw. Lücken zwischen den mehreren inneren Elektrodenfingern
konstant sind.
10. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Breite wenigstens eines Spalts bzw. einer Lücke zwischen den mehreren
inneren Elektrodenfingern von den Breiten der restlichen Spalte bzw. Lücken
verschieden ist.
11. Mehrschichtkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der dielektrische Körper ein gesinterter Keramikkörper ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2113077A JPH0831392B2 (ja) | 1990-04-26 | 1990-04-26 | 積層コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4113576A1 true DE4113576A1 (de) | 1991-10-31 |
DE4113576C2 DE4113576C2 (de) | 1994-02-17 |
Family
ID=14602897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4113576A Expired - Lifetime DE4113576C2 (de) | 1990-04-26 | 1991-04-25 | Vielschichtkondensator |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5172299A (de) |
JP (1) | JPH0831392B2 (de) |
DE (1) | DE4113576C2 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6974744B1 (en) | 2000-09-05 | 2005-12-13 | Marvell International Ltd. | Fringing capacitor structure |
US6980414B1 (en) | 2004-06-16 | 2005-12-27 | Marvell International, Ltd. | Capacitor structure in a semiconductor device |
DE102006013227A1 (de) * | 2005-11-11 | 2007-05-16 | Epcos Ag | Elektrisches Vielschichtbauelement |
EP2523267A1 (de) * | 2010-01-05 | 2012-11-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Kabelverbinder |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5442516A (en) * | 1993-01-19 | 1995-08-15 | Moncrieff; J. Peter | Method for controlling electric charge movement by segementing conductive surface |
US5973909A (en) * | 1995-05-15 | 1999-10-26 | Moncrieff; J. Peter | Capacitor and method with extraneous plate surface area |
JPH09298127A (ja) * | 1996-05-09 | 1997-11-18 | Murata Mfg Co Ltd | 積層コンデンサ |
US7336468B2 (en) | 1997-04-08 | 2008-02-26 | X2Y Attenuators, Llc | Arrangement for energy conditioning |
US9054094B2 (en) | 1997-04-08 | 2015-06-09 | X2Y Attenuators, Llc | Energy conditioning circuit arrangement for integrated circuit |
US7321485B2 (en) | 1997-04-08 | 2008-01-22 | X2Y Attenuators, Llc | Arrangement for energy conditioning |
EP1075004A4 (de) * | 1999-02-17 | 2007-05-02 | Tdk Corp | Kondensator |
US6356429B2 (en) * | 1999-02-18 | 2002-03-12 | Tdk Corporation | Capacitor |
US6979486B2 (en) * | 1999-07-21 | 2005-12-27 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor |
US6818392B2 (en) * | 2000-12-06 | 2004-11-16 | Abbott Laboratories | Monoclonal antibodies to human immunodeficiency virus and uses thereof |
DE10241674A1 (de) * | 2002-09-09 | 2004-03-25 | Epcos Ag | Mehrfachresonanzfilter |
JP4574283B2 (ja) * | 2004-08-20 | 2010-11-04 | 京セラ株式会社 | 積層コンデンサ |
GB2439862A (en) | 2005-03-01 | 2008-01-09 | X2Y Attenuators Llc | Conditioner with coplanar conductors |
US8716778B2 (en) * | 2008-11-17 | 2014-05-06 | Altera Corporation | Metal-insulator-metal capacitors |
US7994609B2 (en) * | 2008-11-21 | 2011-08-09 | Xilinx, Inc. | Shielding for integrated capacitors |
US8362589B2 (en) * | 2008-11-21 | 2013-01-29 | Xilinx, Inc. | Integrated capacitor with cabled plates |
US8207592B2 (en) * | 2008-11-21 | 2012-06-26 | Xilinx, Inc. | Integrated capacitor with array of crosses |
US7956438B2 (en) * | 2008-11-21 | 2011-06-07 | Xilinx, Inc. | Integrated capacitor with interlinked lateral fins |
US7994610B1 (en) | 2008-11-21 | 2011-08-09 | Xilinx, Inc. | Integrated capacitor with tartan cross section |
US7944732B2 (en) * | 2008-11-21 | 2011-05-17 | Xilinx, Inc. | Integrated capacitor with alternating layered segments |
US8380302B2 (en) * | 2009-12-31 | 2013-02-19 | Cardiac Pacemakers, Inc. | Implantable medical device including eddy current reducing capacitor |
EP2583090B1 (de) | 2010-06-15 | 2016-04-06 | 3M Innovative Properties Company | Variable kapazitätssensoren und verfahren zu ihrer herstellung |
US8493708B2 (en) | 2011-02-21 | 2013-07-23 | International Business Machines Corporation | Capacitor structure |
US8653844B2 (en) | 2011-03-07 | 2014-02-18 | Xilinx, Inc. | Calibrating device performance within an integrated circuit |
US8941974B2 (en) | 2011-09-09 | 2015-01-27 | Xilinx, Inc. | Interdigitated capacitor having digits of varying width |
DE102011113496A1 (de) * | 2011-09-15 | 2013-03-21 | Epcos Ag | Vielschichtbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung |
JP2013115425A (ja) * | 2011-11-30 | 2013-06-10 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 積層セラミック電子部品及びその製造方法 |
KR101487591B1 (ko) * | 2013-03-04 | 2015-01-29 | 주식회사 동부하이텍 | Mom 커패시터 |
US9270247B2 (en) | 2013-11-27 | 2016-02-23 | Xilinx, Inc. | High quality factor inductive and capacitive circuit structure |
US9524964B2 (en) | 2014-08-14 | 2016-12-20 | Xilinx, Inc. | Capacitor structure in an integrated circuit |
CN104576057B (zh) * | 2014-12-23 | 2017-07-04 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 多层陶瓷电容器 |
CN104576058B (zh) * | 2014-12-23 | 2017-07-04 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 多层陶瓷电容器 |
CN104576042B (zh) * | 2014-12-23 | 2017-07-07 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 多层陶瓷电容器 |
US20170207024A1 (en) * | 2016-01-18 | 2017-07-20 | Apple Inc. | Multi-layer ceramic capacitors with bottom or side terminations |
JP7474934B2 (ja) * | 2019-12-26 | 2024-04-26 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 積層バリスタ |
US11670453B2 (en) * | 2020-07-20 | 2023-06-06 | Knowles UK Limited | Electrical component having layered structure with improved breakdown performance |
JP2022083829A (ja) | 2020-11-25 | 2022-06-06 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3930623C2 (de) * | 1988-09-13 | 1993-03-18 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo, Kyoto, Jp |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1899176A (en) * | 1929-10-24 | 1933-02-28 | Gen Electric | High frquency condenser |
US3292063A (en) * | 1964-08-03 | 1966-12-13 | Kellerman David | Wound capacitors |
JPS5562721A (en) * | 1978-11-02 | 1980-05-12 | Tdk Electronics Co Ltd | Laminated capacitor |
JPS6016411A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-28 | 株式会社村田製作所 | 積層磁器コンデンサ |
US4729058A (en) * | 1986-12-11 | 1988-03-01 | Aluminum Company Of America | Self-limiting capacitor formed using a plurality of thin film semiconductor ceramic layers |
JPH0247024U (de) * | 1988-09-27 | 1990-03-30 |
-
1990
- 1990-04-26 JP JP2113077A patent/JPH0831392B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-04-19 US US07/687,846 patent/US5172299A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-04-25 DE DE4113576A patent/DE4113576C2/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3930623C2 (de) * | 1988-09-13 | 1993-03-18 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo, Kyoto, Jp |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP 2-156619 A. in: Patents Abstracts of Japan, Sect. E, Vol. 14 (1990), Nr. 413, (E-974) * |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6974744B1 (en) | 2000-09-05 | 2005-12-13 | Marvell International Ltd. | Fringing capacitor structure |
US9017427B1 (en) | 2001-01-18 | 2015-04-28 | Marvell International Ltd. | Method of creating capacitor structure in a semiconductor device |
US6980414B1 (en) | 2004-06-16 | 2005-12-27 | Marvell International, Ltd. | Capacitor structure in a semiconductor device |
US7116544B1 (en) | 2004-06-16 | 2006-10-03 | Marvell International, Ltd. | Capacitor structure in a semiconductor device |
US7578858B1 (en) | 2004-06-16 | 2009-08-25 | Marvell International Ltd. | Making capacitor structure in a semiconductor device |
US7988744B1 (en) | 2004-06-16 | 2011-08-02 | Marvell International Ltd. | Method of producing capacitor structure in a semiconductor device |
US8537524B1 (en) | 2004-06-16 | 2013-09-17 | Marvell International Ltd. | Capacitor structure in a semiconductor device |
DE102006013227A1 (de) * | 2005-11-11 | 2007-05-16 | Epcos Ag | Elektrisches Vielschichtbauelement |
EP2523267A1 (de) * | 2010-01-05 | 2012-11-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Kabelverbinder |
EP2523267A4 (de) * | 2010-01-05 | 2014-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | Kabelverbinder |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0831392B2 (ja) | 1996-03-27 |
JPH0410406A (ja) | 1992-01-14 |
US5172299A (en) | 1992-12-15 |
DE4113576C2 (de) | 1994-02-17 |
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DE3832658C2 (de) | ||
DE3942623C2 (de) | ||
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DE3518055C2 (de) | ||
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DE102010008809B4 (de) | Folienkondensator sowie Verfahren zur Herstellung eines Folienkondensators |
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D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right |