DE3833938C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3833938C2
DE3833938C2 DE3833938A DE3833938A DE3833938C2 DE 3833938 C2 DE3833938 C2 DE 3833938C2 DE 3833938 A DE3833938 A DE 3833938A DE 3833938 A DE3833938 A DE 3833938A DE 3833938 C2 DE3833938 C2 DE 3833938C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
program
rom
cpu
application program
application
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3833938A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3833938A1 (de
Inventor
Atsuo Yamaguchi
Shigeru Furuta
Takesi Inoue
Kenichi Takahira
Shuzo Fujioka
Toshiyuki Itami Hyogo Jp Matsubara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of DE3833938A1 publication Critical patent/DE3833938A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3833938C2 publication Critical patent/DE3833938C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Description

Die Erfindung betrifft eine IC-Karte, umfassend eine CPU, einen ersten Speicher, in welchem ein Testprogramm gespeichert ist, einen zweiten Speicher, in welchem ein Anwendungsprogramm gespeichert ist, und einen Bus, der die CPU und die beiden Speicher miteinander verbindet.
Derartige IC-Karten sind beispielsweise aus der US-PS 46 97 072 bekannt und dem Fachmann generell geläufig. Bei herkömmlichen IC-Karten dieser Art ist es für die Praxis erforderlich, ein Testprogramm in der IC-Karte zu haben. Das Testprogramm wird im allgemeinen vom Hersteller des Mikrocomputers erstellt, während das Anwendungsprogramm zur Durchführung von verschiedenen Funktionen der IC-Karte von dem Designer des Kartensystems erstellt wird.
Fig. 6 zeigt im Blockdiagramm den Aufbau einer herkömmlichen IC-Karte. In der dargestellten Weise ist eine Zentraleinheit oder CPU 1 sowohl an einen System-ROM 3 als auch an einen Anwendungs-ROM 4 über einen Bus 2 angeschlossen. Wie in Fig. 7 dargestellt, speichert der System-ROM 3 ein Testprogramm 31 zur Durchführung eines Tests auf der IC-Karte selbst, und der Anwendungs-ROM 4 speichert ein Anwendungs­ programm 41 zur Durchführung von verschiedenen Funktionen, die im Gebrauch der IC-Karte erforderlich sind. Der System-ROM 3 speichert weiterhin eine Verzweigungsroutine 32, um zuerst festzustellen, ob das Testprogramm 31 oder das Anwendungs­ programm 41 auszuführen sind, und um dann eine Verzweigung zu dem auszuführenden Programm vorzunehmen.
Wie aus Fig. 6 ersichtlich, sind bei einer solchen IC-Karte ein elektrisch löschbarer programmierbarer Festwertspeicher oder EEPROM 5 zum Speichern von variablen Daten, ein RAM 6 zum vorübergehenden Speichern von Daten sowie eine Eingabe/ Ausgabe-Schaltung 7 zur Durchführung einer Datenübertragung mit externen Geräten an den Bus 2 angeschlossen.
Wie in Fig. 8 dargestellt, sind der System-ROM 3, der An­ wendungs-ROM 4, der EEPROM 5, der RAM 6 und die Eingabe/ Ausgabe-Schaltung 7 in demselben Speicherbereich angeordnet. Es ist somit in einfacher Weise möglich, Zugriff zu einem gewünschten Bereich der jeweiligen Speicher mit der gleichen Art von Befehl zu erhalten.
Außerdem sind der System-ROM 3, der Anwendungs-ROM 4, der EEPROM 5, der RAM 6 und die Eingabe/Ausgabe-Schaltung 7 an entsprechende Wählschaltungen 13, 14, 15, 16 und 17 angeschlossen, um die entsprechenden Speicher und die Eingabe/Ausgabe-Schaltung 7 auf der Basis der Anordnung des Speicherraumes gemäß Fig. 8 und in Abhängigkeit von dem Zustand des Bus 2 zu wählen.
In Fig. 6 ist ein Anschluß P1 ein positiver Anschluß einer Stromversorgung; ein Anschluß P2 ist ein Erdanschluß einer Stromversorgung; ein Anschluß P3 ist ein Rücksetzsignal­ anschluß zum Empfang eines Rücksetzsignals, das die CPU 1 initialisiert; der Anschluß P4 ist ein Taktanschluß, der ein Taktsignal erhält; und der Anschluß P5 ist ein Eingabe/ Ausgabe-Anschluß.
Eine solche IC-Karte arbeitet folgendermaßen. Wenn ein Rücksetzsignal über den Rücksetzsignalanschluß P3 der IC-Karte eingegeben wird, liest die CPU 1 eine Routinestartadresse, bei der die Ausführung der Verzweigungsroutine 32 eingeleitet wird, wobei die Routinestartadresse vorher in dem System-ROM 3 an einer vorgegebenen Adresse gespeichert wird. Die CPU 1 startet die Ausführung der Verzweigungsroutine bei dieser Routinestartadresse.
Wenn ein Befehl zur Ausführung des Testprogramms 31 von einem nicht dargestellten externen Gerät am Eingabe/Ausgabe-Anschluß P5 während der Ausführung der Verzweigungsroutine 32 eingegeben wird, so sorgt die CPU 1 dafür, daß die Verarbeitung von der Verzweigungsroutine 32 zum anschließenden Testprogramm 31 weitergeht. Das Testprogramm 31 ist mit einer Funktion ver­ sehen, um Zugriff zu einer willkürlichen Adresse zu erhalten, um einen zufriedenstellenden Produkttest zu ermöglichen. Die CPU 1 nimmt Zugriff zu einzelnen Adressen in Abhängigkeit von dem Testprogramm 31, um dadurch einen Produkttest durch­ zuführen.
Wenn andererseits kein Befehl zur Ausführung des Testprogramms 31 eingegeben wird, liest die CPU 1 eine Programmstartadresse aus, bei der die Ausführung des Anwendungsprogrammes 41 einge­ leitet wird, wobei die Programmstartadresse vorher in dem Anwendungs-ROM 4 an einer vorgegebenen Adresse gespeichert worden ist. Die CPU 1 leitet die Ausführung des Anwendungs­ programmes 41 bei dieser Programmstartadresse ein.
Da jedoch der System-ROM 3 und der Anwendungs-ROM 4 in der oben erwähnten Weise in einem identischen Speicherraum ange­ ordnet sind, kann die CPU 1, wenn die IC-Karte in ihrer normalen Speicheranordnung verwendet wird, also während der Ausführung des Anwendungsprogrammes 41, das Testprogramm 31 auslesen und eine Prozedur finden, um das Testprogramm 31 einzugeben. Dies führt zu dem Problem, daß die CPU 1 Zugriff zu einer willkürlichen Adresse nehmen kann, indem sie eine Funktion verwendet, die in dem Testprogramm 31 vorgesehen ist, so daß ein nicht korrekter Zugriff erfolgt.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine IC-Karte anzugeben, mit der zuverlässig verhindert werden kann, daß das Auftreten eines nicht korrekten Zugriffes verhindert wird, so daß ein sicherer Betrieb gewährleistet ist.
Die erfindungsgemäße Lösung besteht darin, eine IC-Karte der eingangs genannten Art so auszubilden, daß sie eine Abtasteinrichtung zur Überprüfung, ob die CPU das in dem zweiten Speicher gespeicherte Anwendungsprogramm aktiviert hat, und eine Trenneinrichtung aufweist, die so ausgelegt ist, daß sie die Verbindung zwischen dem ersten Speicher und dem Bus unterbricht, wenn die Abtasteinrichtung festgestellt hat, daß die CPU das Anwendungsprogramm aktiviert hat.
In Weiterbildung der erfindungsgemäßen IC-Karte ist vor­ gesehen, daß die Abtasteinrichtung die Aktivierung des An­ wendungsprogrammes auf der Basis des Wertes einer Adresse feststellt, die von der CPU über den Bus spezifiert wird.
In Weiterbildung der erfindungsgemäßen IC-Karte ist vor­ gesehen, daß im zweiten Speicher die Programmstartadresse des Anwendungsprogrammes gespeichert ist und daß die Abtastein­ richtung die Aktivierung des Anwendungsprogrammes auf der Basis des Umstandes feststellt, daß die CPU die Programm­ startadresse des Anwendungsprogrammes über den Bus vorgegeben hat.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Beschreibung von Ausführungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. Die Zeichnungen zeigen in
Fig. 1 ein Blockdiagramm zur Erläuterung des Aufbaus einer IC-Karte gemäß einer ersten Ausführungs­ form der Erfindung;
Fig. 2A ein Diagramm zur Erläuterung einer normalen Speicheranordnung gemäß der ersten Aus­ führungsform;
Fig. 2B ein Diagramm zur Erläuterung einer Speicher­ anordnung für die Ausführung eines Anwendungs­ programmes gemäß der ersten Ausführungsform;
Fig. 3 ein Schaltbild zur Erläuterung des wesentlichen Bereiches einer zweiten Ausführungsform gemäß der Erfindung;
Fig. 4A ein Diagramm zur Erläuterung einer normalen Speicheranordnung gemäß der zweiten Ausführungs­ form;
Fig. 4B ein Diagramm zur Erläuterung einer Speicher­ anordnung zur Ausführung eines Anwendungs­ programmes gemäß der zweiten Ausführungsform;
Fig. 5 ein Zeitablaufdiagramm zur Erläuterung der Wirkungsweise der zweiten Ausführungsform;
Fig. 6 ein Blockdiagramm zur Erläuterung des Aufbaus einer herkömmlichen IC-Karte;
Fig. 7 ein Blockdiagramm zur Erläuterung des Aufbaus von System-ROM und Anwendungs-ROM; und in
Fig. 8 ein Diagramm zur Erläuterung einer Speicher­ anordnung bei der herkömmlichen IC-Karte.
Eine erste Ausführungsform der Erfindung wird nachstehend zunächst unter Bezugnahme auf Fig. 1 erläutert, wobei gleiche Bauelemente und Komponenten durchgehend mit gleichen Bezugszeichen wie vorher bezeichnet sind.
Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm zur Erläuterung des Aufbaus einer IC-Karte gemäß einer ersten Ausführungsform. Die IC-Karte umfaßt eine CPU 1, einen System-ROM 3, der als erster Speicher dient, und einen Anwendungs-ROM 4, der als zweiter Speicher dient, wobei diese beiden Speicher über einen Bus 2 an die CPU 1 angeschlossen sind. Außerdem sind ein EEPROM 5 zur Speicherung von variablen Daten, ein RAM 6 zum vorüber­ gehenden Speichern von Daten und eine Eingabe/Ausgabe-Schaltung 7 zur Durchführung einer Datenübertragung mit nicht dargestellten externen Geräten an den Bus 2 angeschlossen.
Der System-ROM 3 speichert ein Testprogramm zur Durchführung eines Tests auf der IC-Karte selbst, und der Anwendungs-ROM 4 speichert ein Anwendungsprogramm zur Durchführung von ver­ schiedenen Funktionen, die im Betrieb der IC-Karte erforder­ lich sind. Der System-ROM 3 speichert außerdem eine Ver­ zweigungsroutine, um zuerst festzustellen, ob das Testprogramm oder das Anwendungsprogramm auszuführen ist, und um dann die Verzweigung zu dem auszuführenden Programm vorzunehmen.
Wählschaltungen 14, 15, 16 und 17 sind an den Anwendungs-ROM 4, den EEPROM 5, den RAM 6 bzw. die Eingabe/Ausgabe-Schaltung 7 angeschlossen. Die Wählschaltungen 14, 15, 16 und 17 dienen dazu, die entsprechenden Speicher 4, 5 und 6 oder die Eingabe/ Ausgabe-Schaltung 7 gemäß dem Zustand vom Bus 2 zu wählen.
Eine Wählschaltung 8, die als Trenneinrichtung dient, ist an den System-ROM 3 angeschlossen, und eine Abtastschaltung 9, die als Prüfeinrichtung dient, ist an die Wählschaltung 8 ange­ schlossen. Wenn die Abtastschaltung 9 über den Bus den Umstand feststellt, daß die CPU 1 die Programmstartadresse des An­ wendungsprogrammes in dem Anwendungs-ROM 4 ausgelesen hat, so gibt die Abtastschaltung 9 ein System-ROM-Sperrsignal an die Wählschaltung 8.
Wie die anderen Wählschaltungen 14 bis 17 wählt die Wähl­ schaltung 8 den System-ROM 3 auf der Basis des Zustands vom Bus 2, um eine Datenübertragung mit dem Bus 2 zu ermöglichen. Wenn das System-ROM-Sperrsignal von der Abtastschaltung 9 in die Wählschaltung 8 eingegeben wird, wird die Wählschaltung 8 daran gehindert, den System-ROM 3 zu wählen, und zwar unab­ hängig vom Zustand des Bus 2, und sie unterbricht im wesentlichen die Verbindung zwischen dem System-ROM 3 und dem Bus 2.
Wie bei der herkömmlichen Ausführungsform der IC-Karte gemäß Fig. 6 ist die IC-Karte gemäß der Erfindung ebenfalls mit einem positiven Anschluß P1 einer Stromversorgung, einem Erdanschluß P2 einer Stromversorgung, einem Rücksetzsignal­ anschluß P3, einem Taktsignalanschluß P4 und einem Eingabe/ Ausgabe-Anschluß P5 ausgestattet.
Die Wirkungsweise der ersten Ausführungsform gemäß der Erfindung wird nachstehend näher erläutert:
Wenn ein Rücksetzsignal an den Rücksetzsignalanschluß P3 angelegt wird, liest die CPU 1 die Routinestartadresse der Verzweigungsroutine aus, die an einer vorgegebenen Adresse in dem System-ROM 3 gespeichert ist, und leitet die Ausführung der Verzweigungsroutine bei der Routinestartadresse ein.
In der Verzweigungsroutine wird der Zustand des Eingabe/Aus­ gabe-Anschlusses P5 zuerst untersucht, um die Anwesenheit oder Abwesenheit eines Befehls zur Ausführung eines Produkttestes festzustellen. Wenn der Befehl zur Ausführung des Produkttestes festgestellt wird, wird das Testprogramm im Anschluß an die Ver­ zweigungsroutine ausgeführt. Dieses Testprogramm ist mit einer Funktion versehen, um Zugriff zu einer willkürlichen Adresse zu nehmen, um einen zufriedenstellenden Produkttest auszuführen. Die CPU 1 nimmt Zugriff zu einzelnen Adressen in Abhängigkeit von dem Testprogramm und führt den Produkt­ test durch.
Während dieser Zeit sind der System-ROM 3, der Anwendungs-ROM 4, der EEPROM 5 und der RAM 6 sowie die Eingabe/Ausgabe-Schaltung 7, die an den Bus 2 angeschlossen sind, in dem gleichen Speicher­ raum angeordnet, wie es Fig. 2A zeigt, und diese Speicher 3, 4, 5 und 6 sowie die Eingabe/Ausgabe-Schaltung 7 können von den entsprechenden Wählschaltungen 8, 14, 15, 16 und 17 auf der Basis des Zustands vom Bus 2 angewählt werden.
Wenn andererseits der Befehl zum Ausführen des Produkttestes nicht eingegeben wird, liest die CPU 1 die Programmstart­ adresse des Anwendungsprogrammes aus, das an einer vorgegebenen Adresse in dem Anwendungs-ROM 4 gespeichert ist, um dafür zu sorgen, daß die Verarbeitung und der Programmablauf von der Verzweigungsroutine zum Anwendungsprogramm in dem An­ wendungs-ROM 4 weitergeht.
Zu diesem Zeitpunkt stellt die Abtastschaltung 9 die Tatsache fest, daß die CPU 1 die Programmstartadresse des Anwendungs­ programmes ausgelesen hat, so daß das System-ROM-Sperrsignal von der Abtastschaltung 9 an die Wählschaltung 8 gegeben wird. Somit ist die Wählschaltung 8 daran gehindert, den System-ROM 3 zu wählen, und zwar unabhängig vom Zustand des Bus 2. Mit anderen Worten, die Verbindung zwischen dem System-ROM 3 und dem Bus 2 wird im wesentlichen unterbrochen, und in der in Fig. 2B dargestellten Weise ist der System-ROM 3 vom Speicher­ bereich ausgeschlossen.
In einem solchen Zustand führt die CPU 1 das Anwendungsprogramm durch. Dementsprechend wird es unmöglich, von dem Anwendungs­ programm zum Testprogramm in dem System-ROM 3 Zugriff zu nehmen, so daß ein nicht-korrekter Zugriff verhindert wird.
Fig. 3 zeigt ein Schaltbild zur Erläuterung eines konkreten Aufbaus der Abtastschaltung 9 und der Wählschaltungen 8 und 14, die dem System-ROM 3 bzw. dem Anwendungs-ROM 4 zugeordnet sind. Die dargestellte Schaltung besteht aus einer Flip-Flop-Schaltung 18, AND-Schaltungen 19, 20 und 21, einer NAND-Schaltung 22 sowie Invertern 23, 24 und 25. Die Schaltung gemäß Fig. 3 sorgt für die Steuerung und Kontrolle über die Wahl zwischen dem System- ROM 3 und dem Anwendungs-ROM 4 in Abhängigkeit von einer speziellen Adresse in dem Speicherbereich, der Adressen von vierstelligen hexadezimalen Zahlen (16-Bit-Aufbau) hat.
Fig. 4A zeigt eine Speicheranordnung, die normalerweise ge­ wählt wird. In der normalen Speicheranordnung ist der An­ wendungs-ROM 4 in einem Bereich angeordnet, der von Adressen 4000 bis 7FFF gebildet wird, und der System-ROM 3 ist in einem Bereich angeordnet, der von Adressen C000 bis FFFF gebildet wird. Die Programmstartadresse des Anwendungsprogrammes in dem Anwendungs-ROM 4 ist 5000, und ein Anfangsbefehl A9 in dem Anwendungsprogramm ist an der Adresse 5000 gespeichert.
Außerdem ist die Programmstartadresse 5000 an den Adressen 7FFE und 7FFF im Anwendungs-ROM 4 gespeichert. Von diesen Adressen, bei denen die Programmstartadresse 5000 des Anwendungsprogrammes gespeichert ist, ist die untere Adresse 7FFE bei Adressen E001 und E002 in dem System-ROM 3 gespeichert. Ein Sprungbefehl 6C, gespeichert an der Adresse E000, die an die Adresse E001 in Richtung nach unten anschließt, er­ möglicht es, daß die Verarbeitung von den Adressen 7FFE und 7FFF zur Programmstartadresse 5000 des Anwendungsprogrammes springt.
Die Wirkungsweise der Schaltung gemäß Fig. 3 wird nachstehend unter Bezugnahme auf das Zeitablaufdiagramm in Fig. 5 näher erläutert.
Wenn die Stromversorgung eingeschaltet und ein Rücksetzsignal an den Anschluß RD der Flip-Flop-Schaltung 18 angelegt wird, wird die Flip-Flop-Schaltung 18 zurückgesetzt, und das System- ROM-Sperrsignal geht auf niedrigen Pegel. Somit wird ein Signal mit hohem Pegel über den Inverter 25 an die AND-Schaltung 20 angelegt. Somit wird die Speicheranordnung gebildet, die in Fig. 4A dargestellt ist.
Wenn eine willkürliche Adresse unter den Adressen C000 bis FFFF spezifiziert wird, welche den Bereich des System-ROM 3 bilden, wird ein System-ROM-Wählsignal mit hohem Pegel über die AND-Schaltungen 19 und 20 an den System-ROM 3 angelegt, da die beiden Bits AD14 und AD15 an höchster Stelle jeder 16-Bit- Adresse, die AD0 (Bit an niedrigster Stelle) bis AD15 (Bit an höchster Stelle) enthält, notwendigerweise auf hohen Pegeln liegen. Somit wird der System-ROM 3 gewählt.
Wenn andererseits eine willkürliche Adresse aus den Adressen 4000 bis 7FFF spezifiziert wird, welche den Bereich des Anwendungs-ROM 4 bilden, so wird ein Anwendungs-ROM-Wählsignal mit hohem Pegel über die AND-Schaltungen 19 und 21 sowie den Inverter 24 an den Anwendungs-ROM 4 angelegt, da die beiden Bits AD14 und AD15 an höchster Stelle jeder Adresse in diesem Bereich notwendigerweise auf dem hohen Pegel bzw. dem niedrigen Pegel liegen. Somit wird der Anwendungs-ROM 4 gewählt.
In der Verzweigungsroutine, die in dem System-ROM 3 gespeichert ist, wird die Verzweigung zum Anwendungsprogramm in dem Anwendungs-ROM 4 folgendermaßen durchgeführt. Zunächst wird der Sprungbefehl 6C an der Adresse E000 gelesen, dann wird die Adresse 7FFE, die an den Adressen E001 und E002 gespeichert ist, in Abhängigkeit von dem Sprungbefehl 6C gelesen, und dann wird die Programmstartadresse 5000 des Anwendungsprogrammes, die an der Adresse 7FFE und der folgenden Adresse 7FFF gespeichert ist, ausgelesen.
Zum Zeitpunkt t1, an dem die Programmstartadresse 5000 des Anwendungs-ROM 4 gelesen wird, die in dem Bereich des An­ wendungs-ROM 4 gespeichert ist, wird ein Signal mit niedrigem Pegel in der in Fig. 3 dargestellten Weise von der NAND-Schaltung 22 an die Flip-Flop-Schaltung 18 angelegt, da das Anwendungs- ROM-Wählsignal mit hohem Pegel an den Anwendungs-ROM 4 angelegt wird und das Bit AD0 der niedrigsten Stelle, welches die Adresse 5000 bezeichnet, auf hohem Pegel liegt.
Somit wird das System-ROM-Sperrsignal, das von der Flip-Flop- Schaltung 18 abgegeben wird, auf hohem Pegel invertiert, und anschließend wird das System-ROM-Sperrsignal auf dem hohen Pegel gehalten, bis wieder ein Rücksetzsignal an die Flip-Flop- Schaltung 18 angelegt wird.
Dementsprechend wird das Signal mit niedrigem Pegel über den Inverter 25 an die AND-Schaltung 20 angelegt, die an den System-ROM 3 angeschlossen ist, und das System-ROM-Wählsignal wird - unabhängig vom Zustand des Bus 2 - auf niedrigem Pegel gehalten, insbesondere die Pegel der Bits AD14 und AD15, so daß es unmöglich wird, den System-ROM 3 zu wählen.
Mit anderen Worten, die Verbindung zwischen dem System-ROM 3 und dem Bus 2 wird unterbrochen, so daß die Speicheranordnung gemäß Fig. 4B gebildet wird, welche den System-ROM 3 ausschließt.
Selbstverständlich sind die beiden Ausführungsformen gemäß Fig. 1 bis 5 lediglich beispielhaft zu verstehen, wobei zahl­ reiche konstruktive Abwandlungen getroffen werden können.

Claims (4)

1. IC-Karte, umfassend
  • - eine CPU (1),
  • - einen ersten Speicher (3), in welchem ein Testprogramm (31) gespeichert ist,
  • - einen zweiten Speicher (4), in welchem ein Anwendungspro­ gramm (41) gespeichert ist, und
  • - einen Bus (2), der die CPU (1) und die beiden Speicher (3, 4) miteinander verbindet,
gekennzeichnet durch
  • - eine Abtasteinrichtung (9) zur Überprüfung, ob die CPU (1) das in dem zweiten Speicher (4) gespeicherte Anwendungspro­ gramm (41) aktiviert hat, und
  • - eine Trenneinrichtung (8), die so ausgelegt ist, daß sie die Verbindung zwischen dem ersten Speicher (3) und dem Bus (2) unterbricht, wenn die Abtasteinrichtung (9) fest­ gestellt hat, daß die CPU (1) das Anwendungsprogramm (41) aktiviert hat.
2. IC-Karte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrichtung (9) die Aktivierung des Anwen­ dungsprogrammes (41) auf der Basis des Wertes einer Adresse feststellt, die von der CPU (1) über den Bus (2) spezifi­ ziert wird.
3. IC-Karte nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß im zweiten Speicher (4) die Programmstartadresse (5000) des Anwendungsprogrammes (41) speichert und daß die Abtasteinrichtung (9) die Aktivierung des Anwendungspro­ grammes (41) auf der Basis des Umstandes feststellt, daß die CPU (1) die Programmstartadresse (5000) des Anwendungs­ programmes (41) über den Bus (2) vorgegeben hat.
DE3833938A 1988-06-30 1988-10-05 Ic-karte Granted DE3833938A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63160742A JPH0758502B2 (ja) 1988-06-30 1988-06-30 Icカード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3833938A1 DE3833938A1 (de) 1990-01-04
DE3833938C2 true DE3833938C2 (de) 1991-01-10

Family

ID=15721474

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3833938A Granted DE3833938A1 (de) 1988-06-30 1988-10-05 Ic-karte

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5016212A (de)
JP (1) JPH0758502B2 (de)
DE (1) DE3833938A1 (de)
FR (1) FR2633755B1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19711478A1 (de) * 1997-03-19 1998-10-01 Siemens Ag Integrierte Schaltung und Verfahren zum Testen der integrierten Schaltung

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5228139A (en) * 1988-04-19 1993-07-13 Hitachi Ltd. Semiconductor integrated circuit device with test mode for testing CPU using external signal
JPH0758503B2 (ja) * 1989-02-17 1995-06-21 三菱電機株式会社 Icカード
JP2682700B2 (ja) * 1989-05-09 1997-11-26 三菱電機株式会社 Icカード
US5202923A (en) * 1989-11-30 1993-04-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Portable electronic device capable of registering subprograms
FR2667419A1 (fr) * 1990-10-02 1992-04-03 Gemplus Card Int Procede de debogage de programme d'application de carte a memoire et systeme de debogage.
JP2724046B2 (ja) * 1991-02-07 1998-03-09 富士写真フイルム株式会社 Icメモリカードシステム
US5276839A (en) * 1991-03-07 1994-01-04 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force System for programming EEPROM with data loaded in ROM by sending switch signal to isolate EEPROM from host system
JPH06236447A (ja) * 1993-02-09 1994-08-23 Mitsubishi Electric Corp Icカード用マイクロコンピュータ
US5410544A (en) * 1993-06-30 1995-04-25 Intel Corporation External tester control for flash memory
DE4403531A1 (de) * 1993-12-23 1995-06-29 Amphenol Tuchel Elect Elektronisches Sicherheitssystem mit Chipkarten
JP4312272B2 (ja) * 1995-10-06 2009-08-12 モトローラ・インコーポレイテッド 内部メモリへのアクセスを制限するマイクロコントローラ
US6095416A (en) * 1998-02-24 2000-08-01 Privicom, Inc. Method and device for preventing unauthorized use of credit cards
WO2009006633A1 (en) * 2007-07-05 2009-01-08 Mastercard International Incorporated Method and system for simulating a proximity-based transaction device
US8442796B2 (en) * 2007-07-05 2013-05-14 Mastercard International Incorporated Method and system for simulating a proximity-based transaction device

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1561482A (en) * 1976-11-18 1980-02-20 Ibm Protection of data processing system against unauthorised programmes
US4127768A (en) * 1977-01-03 1978-11-28 Honeywell Information Systems Inc. Data processing system self-test enabling technique
IT1117593B (it) * 1979-01-24 1986-02-17 Cselt Centro Studi Lab Telecom Sistema di aotodiagnosi per una apparecchiatura di controllo gestita da elaboratore
JPS55128641A (en) * 1979-03-23 1980-10-04 Nissan Motor Co Ltd Controlling system for vehicle
US4433413A (en) * 1981-10-22 1984-02-21 Siemens Corporation Built-in apparatus and method for testing a microprocessor system
US4481627A (en) * 1981-10-30 1984-11-06 Honeywell Information Systems Inc. Embedded memory testing method and apparatus
JPS59168527A (ja) * 1983-03-16 1984-09-22 Sharp Corp 電源制御方式
JPS59216249A (ja) * 1983-05-23 1984-12-06 Toshiba Corp 集積回路装置
US4577273A (en) * 1983-06-06 1986-03-18 Sperry Corporation Multiple microcomputer system for digital computers
US4709137A (en) * 1984-04-16 1987-11-24 Omron Tateisi Electronics Co. IC card and financial transaction processing system using IC card
US4646298A (en) * 1984-05-01 1987-02-24 Texas Instruments Incorporated Self testing data processing system with system test master arbitration
US4633466A (en) * 1984-05-01 1986-12-30 Texas Instruments Incorporated Self testing data processing system with processor independent test program
US4703446A (en) * 1984-07-03 1987-10-27 Nec Corporation Data processing unit diagnosis control apparatus
US4650975A (en) * 1984-08-30 1987-03-17 Casio Computer Co., Ltd. IC card and an identification system thereof
JPH0670818B2 (ja) * 1984-09-07 1994-09-07 カシオ計算機株式会社 照合カード及びその認証方法
JPS61278992A (ja) * 1985-06-04 1986-12-09 Toppan Moore Co Ltd 故障検査機能を備えたicカ−ド
US4829169A (en) * 1985-07-01 1989-05-09 Toppan Moore Company, Inc. IC card having state marker for record access
JPH0756636B2 (ja) * 1985-12-11 1995-06-14 株式会社日立製作所 データ処理方法
US4853850A (en) * 1985-09-10 1989-08-01 Krass Jr James E Vehicle computer diagnostic interface apparatus
JPS6295689A (ja) * 1985-10-22 1987-05-02 Casio Comput Co Ltd Icカ−ドシステム
JP2664137B2 (ja) * 1985-10-29 1997-10-15 凸版印刷株式会社 Icカード
JPH0682405B2 (ja) * 1986-01-14 1994-10-19 カシオ計算機株式会社 テストプログラム起動方式
US4726024A (en) * 1986-03-31 1988-02-16 Mieczyslaw Mirowski Fail safe architecture for a computer system
JPS62251963A (ja) * 1986-04-25 1987-11-02 Casio Comput Co Ltd Icカ−ドの認証方式
US4804825A (en) * 1986-06-17 1989-02-14 Casio Computer Co., Ltd. I C card system
DE3743639A1 (de) * 1986-12-24 1988-07-07 Mitsubishi Electric Corp Ic-karte und system zur ueberpruefung ihrer funktionstuechtigkeit
US4839895A (en) * 1987-01-07 1989-06-13 Nec Corporation Early failure detection system for multiprocessor system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19711478A1 (de) * 1997-03-19 1998-10-01 Siemens Ag Integrierte Schaltung und Verfahren zum Testen der integrierten Schaltung

Also Published As

Publication number Publication date
FR2633755A1 (fr) 1990-01-05
FR2633755B1 (fr) 1993-05-21
DE3833938A1 (de) 1990-01-04
JPH0758502B2 (ja) 1995-06-21
US5016212A (en) 1991-05-14
JPH0212485A (ja) 1990-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3833938C2 (de)
DE4305442C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Testvektors
DE2424820C3 (de) Einrichtung zur Durchsuchung eines Datenspeichers
DE2715751C3 (de) Speicheranordnung mit defekten Modulen
DE3844032C2 (de) Chip-Karte
DE2247704C3 (de) Aus monolithisch integrierten Schaltkreisen aufgebaute bit-unterteilte Datenverarbeitungsanlage
WO2000005723A2 (de) Integrierte schaltung mit einer selbsttesteinrichtung zur durchführung eines selbsttests der integrierten schaltung
DE2413805A1 (de) Verfahren zum pruefen von logischen schaltkreisen sowie dafuer geeignete logische schaltung
DE2844357A1 (de) Speichererweiterung
DE2753062A1 (de) Einrichtung zur durchfuehrung programmierter befehle
EP0603196B1 (de) Fuzzy logic controller mit optimierter speicherorganisation
DE2926322A1 (de) Speicher-subsystem
DE2935101C2 (de)
DE2006987A1 (de) Automatische Prüfvorrichtung für Rechenanlagen
DE3546332C2 (de) Mikroprozessor mit verbessertem Befehlszyklus
DE19543411A1 (de) Analog-Digital-Wandlervorrichtung
CH636699A5 (de) Einrichtung zur fortlaufenden ermittlung eines ueber eine messperiode konstanter dauer gemittelten wertes eines verbrauchs.
DE3603975A1 (de) Software-programmierbare logikanordnung
DE4026581A1 (de) Integriertes steuerungssystem fuer eine textilmaschine mit einer vielzahl von separat angetriebenen spindeln
DE2847479A1 (de) Schablonenfamilien-schnittstelleneinrichtung
DE3638256C2 (de)
DE4206079A1 (de) Halbleiterspeichereinrichtung und datenleseverfahren hierfuer
DE10252059B3 (de) Verfahren zum Betreiben einer Speicheranordnung
DE10152916B4 (de) Informationsenthaltungseinrichtung für Speichermodule und Speicherchips
EP1088311B1 (de) Elektronische prüfungsspeichereinrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8320 Willingness to grant licences declared (paragraph 23)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee