DE3700777A1 - Vorrichtung zur ermittlung einer bezugsposition und mit dieser vorrichtung ausgestatteter verschluessler - Google Patents
Vorrichtung zur ermittlung einer bezugsposition und mit dieser vorrichtung ausgestatteter verschluesslerInfo
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 23
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 10
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 9
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 6
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 6
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 241000282326 Felis catus Species 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000003292 diminished effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 230000004438 eyesight Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
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- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Ermitt
lung einer Bezugsposition, um ein Bezugssignal für jede Bewe
gung oder Drehung eines sich bewegenden Objekts um einen vor
bestimmten Wert zur Verwendung in einem den Bewegungszustand
oder -status eines sich bewegenden Objekts messenden Geräts
zu erzeugen.
Die Erfindung bezieht sich auch auf einen Entschlüßler zur
photoelektrischen Messung des Bewegungs- oder Drehungszustan
des eines Objekts und insbesondere auf einen Verschlüßler,
bei dem ein Lichtstrahl, vor allem ein kohärenter Licht
strahl, in ein am Objekt fest angebrachtes Beugungsgitter
eingeführt wird, um durch die Interferenz der von dem Beu
gungsgitter gebeugten Lichtstrahlen Interferenzstreifen zu
bilden, so daß ein Signal für eine Bezugsposition, um den
Bewegungszustand des Objekts zu messen, durch Zählen der An
zahl der Interferenzstreifen leistungsfähig und genau erhal
ten werden kann.
Moderne Präzisionsausrüstungen, wie numerisch gesteuerte
Werkzeugmaschinen und Schrittmotoren, zur Fertigung von Halb
leiterelementen erfordern eine genaue Positionsvermessung
in der Größenordnung von Submikron (<1 µm).
Für eine derartige Messung im Submikronbereich ist bereits
ein linearer Verschlüßler bekannt, bei dem durch gebeugte
Lichtstrahlen von einem sich bewegenden Objekt, das mit einem
kohärenten Licht, wie einem Laserstrahl, bestrahlt wird,
gebildete Interferenzstreifen verwendet werden.
Ein solcher linearer Verschlüßler wurde bereits offenbart,
und zwar beispielsweise in den US-PS′en Nr. 37 26 595 und
37 38 753, in der JP-GM-OS SHO 57-81 510 und in den JP-
Patent-OS′en SHO 57-207 805, SHO 57-19 202, SHO 57-19 203
sowie SHO 60-98 302.
Andererseits weist ein photoelektrischer Drehverschlüßler
eine sog. Meßmarkenstruktur auf, wie die beigefügte Fig. 1
zeigt, die mit einer aus lichtundurchlässigen sowie licht
durchlässigen Teilen von gleicher Teilung, die entlang der
Peripherie einer Scheibe 35, welche mit einer Drehwelle 30
verbunden ist, bestehenden Hauptskala 31, mit einer aus licht
undurchlässigen sowie -durchlässigen Teilen von gleicher Tei
lung wie diejenige der Hauptskala bestehenden festen Meßmar
kenskala 32 sowie mit quer zu den beiden Skalen angeordneten
Lichtemittern 33 und Lichtempfängern 34 versehen ist. Bei
diesem Verschlüßler wird durch die Drehung der Hauptskala
ein zur Teilung der lichtundurchlässigen und -durchlässigen
Teile von beiden Skalen synchronisiertes Signal erzeugt, das
einer Frequenzanalyse unterworfen wird, um die Änderung in
der Umlaufgeschwindigkeit der Drehwelle zu ermitteln.
Um ein Bezugspositionssignal zu erhalten, ist die Scheibe
35 mit einer Schlitzstruktur 36 versehen, die mit einer Licht
quelle 38 und einem Lichtempfänger 37 zusammenwirkt.
Auf diese Weise wird für jede Drehung der Scheibe 35 ein
Ausgangs-Impulssignal erhalten, das zur Prüfung eines Meß
fehlers und zur Durchführung von absoluten Messungen verwen
det wird.
Im beschriebenen Fall empfängt jedoch der Lichtempfänger 37
das Licht nur dann, wenn der Lichtstrahl durch die Schlitz
struktur 36 tritt, und die Bezugsposition wird bestimmt,
wenn das Ausgangssignal vom Lichtempfänger 37 einen vorbe
stimmten Pegel überschreitet. Demzufolge ändert sich entspre
chend der Bewegungsrichtung der Struktur 36 die Bezugspositi
on, wobei auch ein Einfluß durch die Intensität des Licht
strahls und die Empfindlichkeit des Lichtempfängers vorhan
den ist.
Es ist auch möglich, zwei einander überlappende Schlitzreihen
mit inkohärentem Licht, wie von einer Leuchtdiode, zu bestrah
len und die Bezugsposition zu bestimmen, wenn das übertragene
Licht ein Maximum erreicht. Bei diesem Verfahren wird das
Auflösungsvermögen durch die maximale Raumfrequenz (minimale
Teilung) der Schlitzreihe festgelegt und kann lediglich durch
Verwendung einer kleineren Teilung der Schlitze verbessert
werden. Die Verwendung einer kleineren Teilung, z.B. einer
der Wellenlänge der Lichtquelle nahegelegenen Teilung, ver
mindert auf Grund einer Beugung das übertragene Licht und
erfordert eine präzise Justierung im Abstand der beiden
Schlitzreihen.
Im Hinblick auf die obigen Feststellungen ist es die Aufgabe
der Erfindung, eine Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugs
position, die imstande ist, die Bezugsposition präzis fest
zustellen, und einen mit einer solchen Einrichtung ausgestat
teten Verschlüßler von hoher Leistung zu schaffen.
Ein Ziel der Erfindung ist es, eine Vorrichtung zur Ermitt
lung einer Bezugsposition mit einem hohen Auflösungsvermö
gen sowie einen ein hohes Auflösungsvermögen aufweisenden
Verschlüßler, der mit dieser Vorrichtung versehen ist, zu
schaffen.
Das wird erfindungsgemäß durch eine Vorrichtung zur Ermitt
lung einer Bezugsposition erreicht, die optische Elemente,
um einen Lichtstrahl auf eine die Bezugsposition angebende
Struktur zu richten, und eine Mehrzahl von Lichtfühlelemen
ten zum Empfang des durch die Struktur hindurch empfangenen
Lichtstrahls umfaßt, so daß ein Bezugspositionssignal aus
den Signalen der in Mehrzahl vorhandenen Lichtfühlerelemente
erhalten wird.
Der Verschlüßler gemäß der Erfindung umfaßt eine erste opti
sche Einrichtung, die einen kohärenten Lichtstrahl auf ein
längs der Bewegungs- oder Drehrichtung eines Objekts ausge
bildetes Beugungsgitter richtet, Interferenzeinrichtungen,
die die gebeugten Lichtstrahlen einer bestimmten Ordnung,
die von dem Beugungsgitter austreten, überlagern, um Inter
ferenzstreifen zu erzeugen, Lichtfühleinrichtungen zur photo
elektrischen Umwandlung dieser Inteferenzstreifen, eine eine
Bezugsposition angebende Struktur, die in der Nachbarschaft
des Beugungsgitters angeordnet ist, eine zweite optische Ein
richtung, die einen Lichtstrahl auf diese Struktur richtet,
und mehrere Lichtfühlelemente zum Empfang des durch die
Struktur hindurch erhaltenen Lichtstrahls.
Die Erfindung wird unter Bezugnahme auf die Zeichnungen an
hand von verschiedenen bevorzugten Ausführungsformen er
läutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines herkömmlichen
photoelektrischen Drehverschlüßlers;
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Verschlüßlers
gemäß der Erfindung;
Fig. 3 schematisch eine in dem Verschlüßler von Fig. 2
verwendete Reflexionseinrichtung;
Fig. 4A und 4B schematische Darstellungen des Aufbaus und
des Arbeitsprinzips einer in dem Verschlüßler von
Fig. 2 verwendeten Vorrichtung zur Ermittlung einer
Bezugsposition;
Fig. 5A bis 5E Kurvenbilder zu Ausgangssignalen von zwei
Lichtempfangseinrichtungen (Sehzellen) der in Fig. 4
gezeigten Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugs
position;
Fig. 6 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen
Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition in
einer zweiten Ausführungsform;
Fig. 7A und 7B schematische Darstellungen einer dritten und
vierten Ausführungsform für eine Vorrichtung zur
Ermittlung einer Bezugsposition gemäß der Erfindung;
Fig. 8A und 8B schematische Darstellungen einer fünften und
sechsten Ausführungsform einer erfindungsgemäßen
Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition;
Fig. 9 schematisch eine siebente Ausführungsform einer er
findungsgemäßen Vorrichtung zur Ermittlung einer
Bezugsposition;
Fig. 10 eine schematische Darstellung eines Verschlüßlers
gemäß der Erfindung in einer weiteren Ausführungs
form;
Fig. 11 schematisch eine achte Ausführungsform der in dem
Verschlüßler von Fig. 10 verwendeten Vorrichtung
zur Ermittlung einer Bezugsposition;
Fig. 12 schematisch eine neunte Ausführungsform einer erfin
dungsgemäßen Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugs
position;
Fig. 13A und 13B eine zehnte Ausführungsform der Vorrich
tung zur Ermittlung einer Bezugsposition gemäß der
Erfindung;
Fig. 14 eine elfte Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition
in schematischer Darstellung;
Fig. 15 schematisch eine zwölfte Ausführungsform einer Vor
richtung zur Ermittlung einer Bezugsposition gemäß
der Erfindung;
Fig. 16 schematisch einen Verschlüßler in einer weiteren
Ausführungsform gemäß der Erfindung;
Fig. 17 schematisch einen Verschlüßler in einer weiteren
Ausführungsform gemäß der Erfindung.
Die Fig. 2 zeigt eine schematische Darstellung des optischen
Systems gemäß der Erfindung in Anwendung auf einen Drehver
schlüßler (Kodedrehgeber).
Bei dieser Ausführungsform wird ein von einem Laser 1 ausge
sandter Lichtstrahl durch ein Kollimatorobjektiv 2 in einen
parallelen Lichtstrahl umgewandelt, der in einen Strahlentei
ler 3 geleitet wird, um zwei linear polarisierte Strahlen,
d.h. einen übertragenen und einen reflektierten Lichtstrahl,
von nahezu gleichen Intensitäten zu erhalten. Der reflektier
te Lichtstrahl wird durch ein g/4-Plättchen in einen zir
kular polarsierten Lichtstrahl umgewandelt und durch ein
Prisma 16 mit zwei reflektierenden Flächen auf eine Position
M 1 eines radialen Beugungsgitters 7 einer Scheibe 6, die mit
einem zu vermessenden drehenden Objekt verbunden ist, einge
leitet. Das übertragene und gebeugte Licht einer bestimmten
Ordnung, das von dem Gitter 7 erhalten wurde, wird durch ein
Reflexionselement 8 reflektiert, um auf dem gleichen Licht
weg in nahezu dieselbe Position M 1 des Gitters einzutreten.
Das durch eine erneute Beugung (Wiederbeugung) durch das Git
ter 7 erhaltene gebeugte Licht einer bestimmten Ordnung wird
durch das λ/4-Plättchen 4 in einen linear polarisierten
Lichtstrahl umgesetzt, dessen Polarisationsrichtung um 90°
zu der des einfallenden Lichtstrahls unterschiedlich ist
und der in einen polarisierten Strahlenteiler 3 eintritt.
Bei dieser Ausführungsform bewegt sich das gebeugte Licht
der bestimmten Ordnung auf demselben Lichtweg wie der ein
fallende Lichtstrahl zwischen dem polarisierten Strahlen
teiler 3 und dem Reflexionselement 8. Die Fig. 3 zeigt sche
matisch eine Ausführungsform für das Reflexionselement 8
oder 9, die in Fig. 2 gezeigt sind.
Gemäß Fig. 3 ist ein Spiegel 40 annähernd in der Brennebene
einer Kondensorlinse 41 angeordnet, wobei das als ein paral
leler Strahl in diese Linse allein eintretende gebeugte
Licht der bestimmten Ordnung durch eine Apertur 43 einer
Maske 42 übertragen wird, durch den Spiegel 40 reflektiert
wird und längs des einfallenden Lichtweges (Strahlenganges)
zurückkehrt, während das gebeugte Licht anderer Ordnungen
durch die Maske 42 aufgefangen wird. Das Reflexionselement
kann jedoch bei gleicher Funktion irgendeinen anderen Aufbau
aufweisen, z.B. kann es ein optisches Katzenaugesystem sein.
Ein solches optisches System hat einen Vorteil insofern,
als der einfallende Lichtstrahl längs eines annähernd glei
chen Weges zurückkehrt, selbst wenn der Beugungswinkel durch
eine mögliche Änderung in der Oszillationswellenlänge des
Lasers geringfügig verändert wird.
Auch kann das optische Katzenaugesystem mit einer verteil
ten Brechungsindexlinse, z.B. einer unter dem Namen "Celfoc
Micro Lens", hergestellt von Nippon Plate Glass Co., bekann
ten Linse, mit einer an einer ebenen Fläche dieser Linse
vorgesehenen reflektierenden Schicht kombiniert werden, wo
bei diese Kombination bei dem Erfindungsgegenstand leistungs
fähig als ein optisches Element, das einen einfachen Aufbau
aufweist und ohne Schwierigkeiten herzustellen ist, zur
Anwendung gelangen kann.
Gemäß Fig. 2 wird der durch den Strahlenteiler 3 übertragene
Lichtstrahl durch ein λ/4-Plättchen 5 in einen zirkular
polarisierten Lichtstrahl umgewandelt, der an der Stelle M 2
des Gitters 7 auf der Scheibe 6 eintritt, wobei diese Stel
le M 2 mit Bezug zur Drehwelle 50 nahezu symmetrisch zum Punkt
M 1 liegt. Das von diesem Gitter 7 übertragene und gebeugte
Licht einer bestimmten Ordnung wird durch das Reflexionsele
ment 9, das dem Reflexionselement 8 gleichartig ist, reflek
tiert und tritt über den gleichen Lichtweg an nahezu derselben
Stelle M 2 des Gitters 7 ein. Das durch erneute Beugung durch
das Gitter 7 erhaltene gebeugte Licht einer bestimmten Ord
nung wird durch das λ/4-Plättchen 5 in linear polarisiertes
Licht umgewandelt, dessen Polarisationsrichtung um 90° zu
derjenigen des einfallenden Strahls unterschiedlich ist, und
es tritt in den Strahlenteiler 3 ein.
Auch bei diesem übertragenen Lichtstrahl bewegt sich wie im
Fall des oben erläuterten Lichtstrahls das gebeugte Licht
der bestimmten Ordnung auf dem gleichen Lichtweg wie der ein
fallende Lichtstrahl zwischen dem Strahlenteiler 3 und dem
Reflexionselement 9. Dieses gebeugte Licht wird von dem vom
Reflexionselement 8 kommenden Licht überlagert, dann durch
ein λ/4-Plättchen 10 in zirkular polarisiertes Licht umge
setzt und durch einen Strahlenteiler 11 in zwei Lichtstrahlen
aufgeteilt. Diese Lichtstrahlen werden durch Polarisatoren
12 und 13 geführt, deren Polarisationsrichtungen jeweils um
45° geneigt sind, um Lichtstrahlen mit einer gegenseitigen
Phasendifferenz von 90° zu erhalten, und sie werden jeweils
in Lichtempfänger (Sehzellen) 14 und 15 eingeführt, um die
Intensität der von den beiden Lichtstrahlen gebildeten Inter
ferenzstreifen zu ermitteln.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform wird ein direkt
vom Laser 1 oder von einer nicht dargestellten getrennten
Lichtquelle kommender Lichtstrahl oder ein gebeugter Licht
strahl beispielsweise der Ordnung -m oder (m+1) von der
Stelle M 1 des Gitters 7 außer dem, der in das Reflexionsele
ment 8 eintritt, beispielsweise der gebeugte Lichtstrahl der
Ordnung m, durch einen Spiegel 18 sowie einen Strahlentei
ler 19 geführt und durch eine Zylinderlinse 21 zum Eintritt
in ein Bezugsposition-Nachweiselement 22, das an der Scheibe
6 vorgesehen ist, in einen linearen Lichtstrahl umgewandelt.
Das Bezugsposition-Nachweiselement 22 besteht beispielsweise
aus einem rechteckigen, reflektierenden Bereich (Fläche),
wobei ein Bezugspositionssignal durch Empfang des vom Bezugs
position-Nachweiselement 22 übertragenen Lichts mittels
einer zwei Sehzellen 24 A und 24 B umfassenden Lichtempfangs
einrichtung erhalten wird. Diese Lichtempfangseinrichtung
24 kann auch aus einem Lichtempfangselement bestehen, das
zwei integrierte Lichtempfangsflächen aufweist. Ein Bezugs
signal, um den Zustand der Drehung der Scheibe 6 zu messen,
beispielsweise ein Bezugssignal für jede Umdrehung, kann
auf diese Weise erhalten werden.
Durch die hier besprochene Ausführungsform kann der Einfluß
von Staub und Flecken vermindert und die Genauigkeit in der
Ermittlung der Bezugsposition gesteigert werden, indem ein
linearer Lichtstrahl sowie eine reflektie
rende Fläche von gleichartiger Gestalt verwendet werden.
Die Fig. 4A ist eine detaillierte Teildarstellung, die die
Art der Ermittlung des Bezugspositionssignals gemäß der in
Rede stehenden Ausführungsform zeigt, während die Fig. 4B
schematisch einen Zustand zeigt, wobei das Bezugsposition-
Nachweiselement 22, das aus einer Spiegelfläche 22′ mit einer
Breite P in der Drehrichtung besteht, in den fokussierten
Bereich eines Lichtstrals der Breite P′ eingetreten ist.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform wird ein Teil des
Lichtstrahls vom Laser durch den Strahlenteiler 19 reflek
tiert und durch die Zylinderlinse 21 in einer linearen Form
in der Nachbarschaft des Bezugsposition-Nachweiselements 22
auf der Scheibe 6 scharf eingestellt. Der auf diese Weise
fokussierte Lichtstrahl wird durch die Spiegelfläche 22′ re
flektiert, wenn die Scheibe 6 eine bestimmte Lage erreicht.
Wenn sich die Spiegelfläche 22′ bei Betrachtung von Fig. 4A
von links nach rechts bewegt, dann tritt das anfangs reflek
tierte Licht in die Sehzelle 24 A durch die Zylinderlinse 21
und den Strahlenteiler 19 ein.
Bei einer weiteren Bewegung der Spiegelfläche 22′ nach rechts
tritt das Licht auch in die Sehzelle 24 B ein. Somit empfangen
die Sehzellen 24 A und 24 B in einem bestimmten Moment im Ver
lauf der Bewegung der Spiegelfläche 22′ gleiche Lichtmengen.
Bei der beschriebenen Ausführungsform wird eine Position
von gleichen Ausgangssignalen von den Sehzellen 24 A und 24 B
als eine Bezugsposition oder eine Nullage genommen, wobei
in dieser Position ein Null-Phasensignal erzeugt wird.
Die Fig. 5A bis 5E zeigen die Änderungen in den von den Seh
zellen 24 A und 24 B empfangenen Lichtmengen als eine Funktion
einer Relativbeziehung in der Breite P der Spiegelfläche 22′
und der Breite P′ des fokussierten Lichtstrahls, wobei die
Fig. 5A, 5B, 5C, 5D und 5E jeweils den Fällen von P′<2P,
P′=2P, P′=1, 5P, P′=P und P′<P entsprechen. Wie sich
aus der Fig. 5B ergibt, ist für eine genaue Ermittlung der
Nullage eine Beziehung P′=2P erwünscht. Andererseits ist
eine genaue Ermittlung im Fall von P′≦P, wie Fig. 5E zeigt,
schwierig.
Die Fig. 6 zeigt eine weitere Ausführungsform, wobei die Zy
linderlinse 21 vor dem Strahlenteiler 19, d.h. näher an der
Lichtquelle, angeordnet ist. Der übrige Aufbau entspricht
demjenigen der Fig. 4, wobei gleiche Bauteile zu Fig. 4 mit
denselben Bezugszeichen bezeichnet sind und deshalb nicht
näher erläutert werden.
Bei den bisherigen Ausführungsformen kann die Zylinderlinse
durch einen Schlitz und eine Kugelflächenlinse ersetzt werden,
um in der Nähe des Bezugsposition-Nachweiselements 22 auf
der Scheibe 6 einen schlitzförmigen Lichtstrahl zu bilden.
Ferner können bei den besprochenen Ausführungsformen die Ein
fallsrichtung des Lichtstrahls auf die Scheibe 6 und die Rich
tung der beiden Sehzellen 24 A, 24 B gegenseitig ausgetauscht
werden.
Des weiteren kann anstelle der beiden unabhängigen Sehzellen
24 A und 24 B, die beiden erläuterten Ausführungsformen verwen
det wurden, ein sog. zweigeteilter Fühler mit zwei Lichtemp
fangsflächen an einem Element zur Anwendung kommen, um einen
einfacheren Aufbau und eine einfachere Justierung zu erlan
gen. Anstelle des Erfassens des reflektierten Lichts im Zu
stand eines parallelen Strahls nach Durchtritt durch die Zy
linderlinse kann auch eine Positivlinse, wie Fig. 7B zeigt,
vorgesehen werden, um einen konvergierenden Strahl zu den
Sehzellen zu führen. In diesem Fall können kleinere Sehzellen
verwendet werden, so daß eine Vereinfachung und eine kompakte
re Bauweise der Vorrichtung erreicht werden.
Durch die Kombination einer schlitzförmigen Spiegelfläche
und eines schlitzförmigen Lichtstrahls wird bei den beschrie
benen Ausführungsformen eine Nullage-Ermittlung mit hoher
Genauigkeit erreicht, jedoch kann natürlich auch ein fleck
förmiger Lichtstrahl oder eine reflektierende oder absorbie
rende Fläche von anderer Gestalt zur Anwendung kommen.
Bei den besprochenen Ausführungsformen ist es nicht notwendig,
den Laserstrahl durch die Zylinderlinse 21 auf die Nachbar
schaft des Bezugsposition-Nachweiselements 22 der Scheibe
6 zu fokussieren.
Die Fig. 7A und 7B zeigen jeweils eine dritte und vierte Aus
führungsform der Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposi
tion gemäß der Erfindung, wobei zu den vorherigen Ausführungs
formen gleiche Bauteile mit denselben Bezugszeichen bezeich
net sind. Darüber hinaus ist eine positive Kondensorlinse
71 vorgesehen.
Der Laserstrahl kann vor der Scheibe 6, wie die Fig. 7A zeigt,
oder jenseits der Scheibe 6, wie die Fig. 7B zeigt, konver
giert werden, und das mit der Erfindung verfolgte Ziel kann
durch Konzentrieren des reflektierten Lichtstrahls auf die
Sehzellen 24 A, 24 B durch die Kondensorlinse 71 erreicht wer
den.
Um eine wirksame Verwendung des Lichtstrahls zu erreichen,
ist es auch möglich, den Strahlenteiler, wie Fig. 8A zeigt,
durch schräges Einführen des Lichtstrahls von einem Laser
80 auf die Scheibe 6 durch die Zylinderlinse 21 und Führen
des reflektierten Lichts von der Scheibe 6 zu den Sehzellen
24 A, 24 B durch eine Zylinderlinse 81 zu ersetzen. Wie die
Fig. 8B zeigt, kann die Zylinderlinse 81, die gemäß der Fig.
8A zur Anwendung kommt, auch weggelassen werden.
Bei den beschriebenen Ausführungsformen wird das Bezugsposi
tionssignal aus dem durch das Bezugsposition-Nachweiselement
22 reflektierten Licht erhalten, jedoch kann, wie die Fig. 9
zeigt, auch ein übertragenes Licht verwendet werden.
Bei der Ausführungsform von Fig. 9 wird der von einem unter
halb einer transparenten Scheibe 6 angeordneten Laser 90 aus
gehende Lichtstrahl durch die Zylinderlinse 21 zur Scheibe
6 geführt und das durch diese Scheibe getretene Licht durch
eine Zylinderlinse 91 zu den Sehzellen 24 A und 24 B geleitet.
Bei diesen Ausführungsformen kann der in das Bezugsposition-
Nachweiselement eintretende Lichtstrahl in der Bewegungsrich
tung der Bezugsstruktur verkürzt werden, beispielsweise in
ovaler oder rechteckiger Form.
Die Bezugsstruktur wird bei den besprochenen Ausführungsfor
men durch einen konvergierenden oder divergierenden Licht
strahl bestrahlt, jedoch kann ein gleiches Ermittlungsprin
zip mit einem parallelen Lichtstrahl zur Anwendung kommen.
Wie unter Bezugnahme auf die Fig. 3-9 erläutert wurde,
zeichnet sich die Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugs
position gemäß der Erfindung dadurch aus, daß der Lichtstrahl
von einer sich zusammen mit dem Objekt bewegenden oder drehen
den Bezugsstruktur (Spiegelfläche 22′) mit Hilfe von zwei
Sehzellen empfangen wird und ein Null-Signal abgegeben wird,
wenn die Ausgänge der Sehzellen gegenseitig gleich werden.
Aus den vorherigen Ausführungsformen wird klar, daß die Mitte
der Bezugsstruktur als die Bezugsposition ermittelt wird.
Demzufolge besteht gemäß der Erfindung im Gegensatz zu her
kömmlichen Vorrichtungen keine Abhängigkeit der Bezugsposi
tion von der Bewegungsrichtung der Struktur. Ferner wird,
weil das erwähnte Null-Signal durch Überwachung der Ausgänge
von mehreren Sehzellen erzeugt wird, die Bezugsposition nicht
länger durch die Intensität des Lichtstrahls oder durch eine
Änderung in der Empfindlichkeit der Sehzellen beeinflußt.
Der hier beschriebene Verschlüßler mißt die Größe in der Be
wegung oder Drehung eines Objekts durch Ermitteln der Inteni
tätsänderung von Interferenzstreifen. Diese Vorrichtung hat
ein Auflösungsvermögen in der Größenordnung von Submikron,
worauf noch eingegangen werden wird. Demzufolge sollte die
Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition, die in einem
derartigen Verschlüßler zur Anwendung kommen soll, bevorzug
terweise imstande sein, ein Null-Phasensignal mit einem Auf
lösungsvermögen zu liefern, das demjenigen in der Umdrehung
vergleichbar ist.
Die Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition gemäß
der Erfindung ist in der Lage, ein Null-Phasensignal eines
sehr hohen Auflösungsvermögens zu liefern. Vor allem kann
die Breite der Bezugsstruktur in der Bewegungsrichtung in
Übereinstimmung mit dem erwünschten Auflösungsvermögen klei
ner oder enger gemacht werden.
Bei den beschriebenen Ausführungsformen wird zur Ermittlung
der Bezugsposition ein Laserstrahl verwendet, jedoch kann
auch Licht von anderen Lichtquellen, z.B. einer Leuchtdiode,
zur Anwendung kommen.
Um ein höheres Auflösungsvermögen und eine höhere Ausnutzung
des Lichtstrahls zu erzielen, ist die Verwendung eines Laser
strahls, der in zufriedenstellender Weise gerichtet und fokus
siert werden kann, wirksam.
Um eine kompakte Bauweise der Vorrichtung zu erlangen, ist
die Verwendung eines Halbleiterlasers geeignet.
Im folgenden wird die Funktion der in Fig. 2 gezeigten Aus
führungsform als ein Verschlüßler erläutert.
Bei dieser Ausführungsform ruft eine Drehung des zu vermes
senden Objekts 6 um eine Teilung des Beugungsgitters 7 eine
Änderung von 2m π in der Phase des gebeugten Lichts mit der
Ordnung m hervor. Auch die Phase des durch das Gitter 7 erneut
gebeugten Lichts der Ordnung n ändert sich in gleicher Weise
um 2n π. Demzufolge liefert die Lichtempfangseinrichtung
insgesamt sinusförmige Wellenformen von (2m-2n), wobei die
Größe der Drehung bei der in Rede stehenden Ausführungsform
durch Erfassen der sinusförmigen Wellenformen ermittelt wird.
Beispielsweise erzeugt im Fall der Verwendung eines Beugungs
gitters mit einer Teilung von 3,2 µm und von gebeugten Strah
len der 1. Ordnung und der -1. Ordnung eine Drehung des dre
henden Objekts um 3,2 µm vier sinusförmige Wellen. Somit ist
das Auflösungsvermögen für jede sinusförmige Welle gleich
3,2/4=0,8 µm oder ein Viertel einer Teilung des Beugungs
gitters.
Mit der in Rede stehenden Ausführungsform ist es auch möglich,
die Drehrichtung des drehenden Objekts 6 zu bestimmen, indem,
der Lichtstrahl mit dem Strahlenteiler 11 geteilt und zwi
schen zwei Lichtstrahlen ein Phasenunterschied von 90° gebil
det wird.
Wenn die Messung der Größe der Drehung ausreichend ist, dann
können der Strahlenteiler 11, die Polarisatoren 12 und 13
sowie eine Sehzelle weggelassen werden. Die Umdrehungsge
schwindigkeit kann auch durch Messen der Frequenz der erhalte
nen sinusförmigen Wellen ermittelt werden.
Bei der besprochenen Ausführungsform werden die gebeugten
Lichtstrahlen von zwei Stellen M 1 und M 2, die annähernd sym
metrisch zur Drehmitte liegen, verwendet, um den Meßfehler
zu verhindern, der aus einer Aberration zwischen der Dreh
mitte des drehenden Objekts und der Mitte des radialen Beu
gungsgitters 7 resultiert.
Anstelle der beiden gebeugten Lichtstrahlen von zwei nahezu
symmetrischen Punkten können, um eine im wesentlichen gleiche
Wirkung zu erreichen, gebeugte Lichstrahlen von mehreren
willkürlichen Positionen verwendet werden. Beispielsweise
können die gebeugten Strahlen von drei zueinander unter 120°
getrennten Punkten wirksam zur Anwendung gelangen.
Auch kann der aus der Differenz in der Teilung zwischen der Außen
und der Innenseite des radialen Gitters resultierende Einfluß
der Wellenfrontaberration durch Überlagern einer der Drehwel
le nahen Strahlkomponente mit derjenigen des anderen Strahls,
der in die nahezu symmetrische Position eintritt, und durch
eine gleichartige Überlagerung der Strahlkomponenten der
Außenseite eliminiert werden.
Bei der besprochenen Ausführungsform durchläuft das gebeugte
Licht der bestimmten Ordnung denselben Lichtweg wie dasjenige
des einfallenden Strahls zwischen dem Strahlenteiler und dem
Reflexionselement 8 oder 9, so daß die Überlagerung der zwei
gebeugten Lichtstrahlen am Strahlenteiler 3 erleichtert und
die Genauigkeit im Zusammenbau der gesamten Vorrichtung ge
steigert wird.
In dem Fall, da die Meßgenauigkeit nicht kritisch ist, kann
anstelle der beiden Lichtstrahlen von zwei gegenseitig symme
trischen Punkten nur ein Lichtstrahl verwendet werden.
Bei den bisherigen Ausführungsformen können die λ/4-Plätt
chen 4 und 5 an irgendwelchen Stellen zwischen dem Strahlen
teiler 3 und den Reflexionselementen angeordnet werden. Auch
können bei diesen Ausführungsformen die Sehzellen 14 und 15
anstelle von übertragenem gebeugten Licht reflektierte ge
beugte Lichtstrahlen empfangen.
Obwohl die bisherigen Ausführungsformen auf drehende Ver
schlüßler (Kodedrehgeber) abgestellt sind, kann der techni
sche Grundgedanke der Erfindung auch auf lineare Verschlüß
ler angewendet werden.
Auch ist die Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition
gemäß der Erfindung nicht nur auf Verschlüßler der oben er
wähnten Arten anwendbar, sondern auch auf verschiedenartige
andere Geräte, wie z.B. einen herkömmlichen photoelektri
schen Verschlüßler, wie er in Fig. 1 gezeigt ist, oder auf
einen Verschlüßler, der Moirestreifen erfaßt.
Ferner wird die Ermittlung der Bezugsposition in der in Fig. 2
gezeigten Vorrichtung durch einen ungenutzten gebeugten
Strahl erreicht, jedoch ist es auch möglich, eine eigene
Lichtquelle vorzusehen oder einen Teil des durch einen Strah
lenteiler getrennten Lichts von der Lichtquelle zur Ermitt
lung der Interferenzstreifen zu verwenden.
Das bei dem Verschlüßler gemäß der Erfindung verwendete Beu
gungsgitter ist ein Beugungsgitter der sog. Amplituden-Bau
art, das aus lichtundurchlässigen sowie lichtdurchlässigen
Teilen besteht, oder ein Gitter der Phasen-Bauart, das aus
Teilen von wechselseitig verschiedenartigen Brechungsindices
zusammengesetzt ist. Insbesondere kann das Gitter der Phasen-
Bauart gefertigt werden, indem an der Peripherie einer trans
parenten Scheibe Reliefstrukturen ausgebildet werden, womit
das Gitter durch Prägen oder Pressen als Massenprodukt gefer
tigt werden kann.
Durch die Erfindung wird somit ein Verschlüßler geschaffen,
mit dem man imstande ist, mit einem einfachen Aufbau, indem
eine Bezugsstruktur in der Bewegungs- oder Drehrichtung eines
Objekts ausgebildet wird, ein Lichtstrahl auf diese Struktur
geführt und der von wenigstens einem Teil dieser Struktur
übertragene oder reflektierte Lichtstrahl durch mehrere
Sehzellen empfangen wird, ein Bezugspositionssignal mit einem
hohen Auflösungsvermögen zu erhalten.
Die Fig. 10 zeigt schematisch eine weitere Ausführungsform
des erfindungsgemäß ausgebildeten optischen Systems in Anwen
dung auf einen drehenden Verschlüßler.
Bei dieser Ausführungsform wird ein von einem Laser 1 ausge
sandter Lichtstrahl durch ein Kollimatorobjektiv 2 in einen
parallelen Lichtstrahl umgewandelt und in einen Strahlentei
ler 3 eingeführt, um zwei linear polarisierte Strahlen, d.
h. einen übertragenen und einen reflektierten Strahl, von
nahezu gleichen Intensitäten zu erhalten. Der reflektierte
Strahl wird durch ein λ/4-Plättchen 4 in einen zirkular po
larisierten Strahl umgewandelt und durch ein Prisma mit zwei
reflektierenden Flächen an einer Stelle M 1 eines radialen
Beugungsgitters einer mit einem zu vermessenden drehenden
Objekt verbundenen Scheibe 6 eingeführt. Das übertragene und
gebeugte Licht einer bestimmten Ordnung, das vom Gitter 7
erhalten wird, wird durch ein Reflexionselement 8 reflek
tiert, um an einer annähernd gleichen Stelle M 1 des Gitters
7 über denselben Lichtweg einzutreten. Das durch erneute Beu
gung (Wiederbeugung) durch das Gitter 7 erhaltene gebeugte
Licht einer bestimmten Ordnung wird durch das λ/4-Plättchen
in einen linear polarisierten Lichtstrahl umgewandelt, dessen
Polarisationsrichtung um 90° zu derjenigen des einfallenden
Lichtstrahls unterschiedlich ist, und dieser Lichtstrahl
tritt in den Strahlenteiler 3 ein.
Bei dieser Ausführungsform durchläuft das gebeugte Licht der
bestimmten Ordnung den gleichen Lichtweg wie dasjenige des
einfallenden Strahls zwischen dem Strahlenteiler 3 und dem
Reflexionselement 8.
Der durch den Strahlenteiler 3 übertragene Lichtstrahl wird
durch ein g/4-Plättchen 5 zu einem zirkular polarisierten
Strahl umgewandelt, der in eine Stelle M 2 des Gitters 7 auf
der Scheibe 6, die mit Bezug zur Drehwelle 50 nahezu symme
trisch zur Stelle M 1 liegt, eintritt. Das vom Gitter 7 übertra
gene und gebeugte Licht einer bestimmten Ordnung wird durch
ein dem Reflexionselement 8 ähnliches Reflexionselement 9
reflektiert und tritt auf demselben Lichtweg in die nahezu
gleiche Stelle M 2 des Gitters 7 ein. Das durch erneute Beu
gung durch das Gitter 7 erhaltene gebeugte Licht einer be
stimmten Ordnung wird durch das λ/4-Plättchen 5 in ein linear
polarisiertes Licht umgewandelt, dessen Polarisationsrich
tung um 90° zu derjenigen des einfallenden Lichtstrahls un
terschiedlich ist, und dann tritt der Lichtstrahl in den
Strahlenteiler 3 ein.
Das gebeugte Licht der bestimmten Ordnung in diesem übertra
genen Lichtstrahl durchläuft ebenfalls denselben Lichtweg
wie dasjenige des einfallenden Lichtstrahls zwischen dem
Strahlenteiler 3 und dem Reflexionselement 9, wie es bei dem
oben erläuterten reflektierten Lichtstrahl auch der Fall ist.
Das gebeugte Licht wird durch das vom Reflexionselement 8
kommende gebeugte Licht überlagert, wird dann durch ein λ/4-
Plättchen 10 in zirkular polarisiertes Licht umgewandelt und
durch einen Strahlenteiler 11 in zwei Lichtstrahlen geteilt.
Diese Lichtstrahlen werden durch Polarisatoren 12 und 13 ge
führt, deren Polarisationsrichtungen jeweils um 45° geneigt
sind, um linear polarisierte Lichtstrahlen mit einer gegen
seitigen Phasendifferenz von 90° zu erhalten, und sie werden
jeweils in Lichtempfänger (Sehzellen) 14 und 15 eingeführt,
um die Intensität der von den beiden Lichtstrahlen gebilde
ten Interferenzstreifen zu ermitteln.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform wird ein von der
Position M 1 des Gitters gebeugter Lichtstrahl, z.B. der
Ordnung -m oder (m+1), außer dem in das Reflexionselement
eintretenden Licht, beispielsweise der Ordnung m, durch
Spiegel 18 sowie 25 und eine Zylinderlinse 21 zu einer Mas
ke 23 geführt, um zwei Strahlen von gleicher Intensität zu
erhalten, die jeweils in ein Bezugsposition-Nachweiselement
22, das an der Scheibe 6 ausgebildet ist, eingeführt werden.
Dieses Nachweiselement 22 besteht beispielsweise aus einem
Strukturpaar, wie zwei Schlitzen, die in der Bewegungsrich
tung der Scheibe 6 einen Phasenunterschied haben, wobei ein
Bezugspositionssignal durch Empfang des von den Gitterstruk
turen übertragenen Lichts mit einer Lichtempfangseinrich
tung 24, die zwei Lichtempfangsflächen hat, erhalten wird.
Diese Lichtempfangseinrichtung 24 kann auch aus zwei unab
hängigen Sehzellen gebildet sein. Auf diese Weise wird ein
Bezugssignal erhalten, das zur maßlichen Ermittlung des
Drehzustandes der Scheibe 6, z.B. für einen Bezugspunkt bei
jeder Umdrehung, verwendet wird.
Ferner wird ein aus der Schwankung in der Intensität der
Lichtquelle resultierender Fehler durch Aufteilen des Licht
strahls von einer Lichtquelle in zwei Strahlen vermieden.
Die Fig. 11 zeigt Einzelheiten zur Ermittlung der Bezugs
position bei der in Rede stehenden Ausführungsform, wobei
zwei durch die Maske 23 geteilte Lichtstrahlen 141 und 142
von gleicher Intensität in Gitterstrukturen 143 und 144,
die das Bezugsposition-Ermittlungsteil bilden und aus einem
Paar von Schlitzen mit einem Phasenunterschied in der Bewe
gungsrichtung der Scheibe 6 bestehen, eingeführt werden und
die übertragenen Lichtstrahlen durch eine Lichtempfangsein
richtung 24 mit zwei Lichtempfangsflächen 45 sowie 46 emp
fangen werden. In einem bestimmten Moment im Verlauf der
Bewegung der Scheibe 6 übertragen die Strukturen 143 und
144 wechselseitig gleiche Lichtmengen der Strahlen 141
und 142, so daß die Lichtempfangsflächen der Lichtempfangs
einrichtung 24 zueinander gleiche Ausgangssignale abgeben.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform wird das Bezugs
positionssignal durch Ermitteln der Ausgänge der Lichtemp
fangseinrichtung in diesem Moment erhalten.
Die Fig. 12 zeigt schematisch eine neunte Ausführungsform
einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Ermittlung einer
Bezugsposition, wobei die Maske 23 den Lichtstrahl in zwei
zur Bewegungsrichtung der Scheibe 6 derart parallel angeord
nete Strahlen 51 und 52 unterteilt, daß eine Struktur 53
beginnt, den Strahl 52 freizugeben, wenn ein Ende dieser
Struktur beginnt, den anderen Strahl 51 aufzufangen. Die
Bezugsposition wird ermittelt, wenn die zwei Lichtempfangs
flächen 54 und 55 zueinander gleiche Ausgangsignale abgeben.
Die Abmessungen der Bauteile werden so gewählt, daß unter
Verwendung der in Fig. 12 dargestellten Symbole eine Bezie
hung b-c<a<b+c erfüllt wird.
Bei den in den Fig. 11 und 12 gezeigten Ausführungsformen
können die Strukturen 143 und 144 (s. Fig. 11) durch die
in Fig. 13A gezeigten Gitterstrukturen 61 und 62, wobei
sich die Gitterteilung längs der Bewegungsrichtung verän
dert, oder kann die Struktur 53 (s. Fig. 12) durch die in
Fig. 13B gezeigte Struktur 73, bei der sich die Gittertei
lung symmetrisch ändert, ersetzt werden.
Bei der in Fig. 10 gezeigten Ausführungsform wird das Bezugs
positionssignal von den durch das Bezugsposition-Nachweis
element 22 übertragenen Lichtstrahlen erhalten, jedoch ist
es auch möglich, den Reflexionsgrad der Struktur zu demjeni
gen der Scheibe 6, wie die Fig. 14 und 15 zeigen, unterschied
lich zu machen und die von zwei Strukturen reflektierten
Lichtstrahlen zu verwenden.
Die Fig. 14 und 15 zeigen Lichtstrahlen 181, 182 und 191,
192 sowie einen Strahlenteiler 95, der mit einer Halbspiegel
fläche 96 versehen ist.
Bei den erläuterten Ausführungsformen kann der in die Struk
tur eintretende Lichtstrahl anstelle einer Kreisform als
ein Oval oder ein Rechteck ausgebildet sein, das in der Be
wegungsrichtung der Scheibe verkürzt ist, um das Auflösungs
vermögen in der Ermittlung der Bezugsposition zu steigern.
Das mit der Erfindung verfolgte Ziel kann auch durch Ausbil
den der Scheibe 6 als transparente Platte und der Gitter
struktur mit lichtundurchlässigen Elementen erreicht werden.
Das Bezugspositionssignal wird gemäß der Erfindung ohne eine
neuerliche oder weitere Lichtquelle erhalten, indem das un
genutzte gebeugte Licht einer bestimmten Ordnung, das vom
Gitter 7 erhalten, jedoch im Verschlüßler nicht genutzt
wird, wirksam verwendet wird; jedoch ist es auch möglich,
einen Teil des Lichts von der Lichtquelle 1 direkt zum Be
zugsposition-Nachweiselement oder -teil zu richten.
Auch in dem Fall, da das ungenutzte gebeugte Licht einer
bestimmten Ordnung schwach ist, kann durch Abwandlung der
optischen Anordnung, z.B. durch Überdecken von mehreren un
genutzten gebeugten Strahlen oder durch Verwenden eines
Phasenbeugungsgitters, das aus einer transparenten Relief
struktur von geeigneter Gestalt und Teilung besteht, um nur
ein gebeugtes Licht der Ordnung 0 und ein gebeugtes Licht
einer erwünschten höheren Ordnung freizugeben, eine gewünsch
te Lichtintensität erhalten werden.
Wenngleich bei den erläuterten Ausführungsformen eine Maske
zur Erzeugung von mehreren Lichtstrahlen für eine Ermitt
lung einer Bezugsposition verwendet wird, so ist die Ver
wendung einer derartigen Maske dann nicht erwünscht, wenn
der genutzte gebeugte Strahl schwach ist, da die Maske die
Lichtintensität weiter herabsetzen wird. Ein derartiger Ver
lust in der Lichtintensität kann dadurch verhindert werden,
daß mehrere Lichtstrahlen durch Beugung unter Verwendung
eines optischen Systems mit einem transparenten Reliefphasen
gitter erzeugt werden, um die gebeugten Lichtstrahlen 1. Ord
nung nur vom Gitter zu erhalten, so daß der Verlust im we
sentlichen auf Null vermindert wird.
Im folgenden wird die Funktion des Verschlüßlers gemäß der
Erfindung erläutert.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform bewirkt eine Dre
hung des drehenden Objekts um eine Teilung des Beugungs
gitters 7 eine Änderung um 2m π in der Phase des gebeugten
Lichts der Ordnung m. Auch die Phase des erneut durch das
Gitter 7 gebeugten Lichts der Ordnung n ändert sich in glei
cher Weise um 2n π. Demzufolge liefert die Lichtempfangs
einrichtung insgesamt (2m-2n)-Sinuswellen, wobei die
Größe der Drehung im in Rede stehenden Fall durch Ermitt
lung der sinusförmigen Wellen erfaßt wird.
Beispielsweise erzeugt im Fall der Verwendung eines Beugungs
gitters mit einer Teilung von 3,2 µm und von gebeugten Strah
len der 1. Ordnung und der -1. Ordnung eine Drehung von
3,2 µm des drehenden Objekts vier Sinuswellen. Somit ist
das Auflösungsvermögen für jede Sinuswelle gleich
3,2/4=0,8 µm oder ein Viertel einer Teilung des Beu
gungsgitters.
Die in Rede stehende Ausführungsform ist auch dazu in der
Lage, die Drehrichtung des drehenden Objekts durch Teilen
des Lichtstrahls mit dem Strahlenteiler 11 und Bilden eines
Phasenunterschieds von 90° zwischen zwei Lichtstrahlen zu
ermitteln.
Wenn die Messung der Größe der Drehung ausreichend ist, so
können der Strahlenteiler 11, die Polarisatoren 12 und 13
sowie eine Sehzelle weggelassen werden. Auch kann die Umlauf
geschwindigkeit durch Messen der Frequenz der erhaltenen
Sinuswellen bestimmt werden.
Bei der besprochenen Ausführungsform werden die gebeugten
StrahIen von zwei zur Drehmitte annähernd symmetrischen
Stellen M 1 und M 2 verwendet, um den Meßfehler, der aus der
Aberration zwischen der Drehmitte des drehenden Objekts und
der Mitte der radialen Beugungsgitter 7 resultiert, zu ver
mindern.
Anstelle der gebeugten Lichtstrahlen von zwei nahezu symme
trischen Punkten können, um einen im wesentlichen gleichen
Effekt zu erreichen, gebeugte Strahlen von mehreren willkür
lich gewählten Stellen wirksam verwendet werden, z.B. von
drei zueinander um 120° beabstandeten Stellen.
Auch kann der Einfluß der aus dem Unterschied in der Tei
lung zwischen der Außen- sowie der Innenseite des radialen
Gitters resultierende Einfluß der Wellenfront-Aberration
eliminiert werden, indem eine der Drehwelle nahe Strahlkom
ponente mit einer solchen des anderen Strahls, der an der
nahezu symmetrischen Stelle eintritt, überlagert wird und
in gleichartiger Weise die Strahlkomponenten der Außenseite
überlagert werden.
Bei der besprochenen Ausführungsform bewegt sich das gebeug
te Licht der bestimmten Ordnung auf demselben Lichtweg wie
dasjenige des einfallenden Strahls zwischen dem Strahlen
teiler 3 und dem Reflexionselement 8 oder 9, so daß das
Überlappen der beiden gebeugten Lichtstrahlen an diesem
Strahlenteiler 3 erleichtert und die Genauigkeit im Zusammen
bau der gesamten Vorrichtung verbessert wird.
Falls die Meßgenauigkeit nicht kritisch ist, so kann anstel
le der zwei Lichtstrahlen von zwei wechselseitig symmetri
schen Punkten nur ein Lichtstrahl angewendet werden.
Die λ/4-Plättchen 4 und 5 können bei den vorstehenden Aus
führungsformen an irgendwelchen Stellen zwischen dem Strah
lenteiler 3 und der Reflexionseinrichtung angeordnet werden.
Auch können die Sehzellen 14 und 15 anstelle von übertrage
nen gebeugten Lichtstrahlen reflektierte gebeugte Lichtstrah
len empfangen.
Natürlich können die gebeugten Lichtstrahlen außer denen,
die für Messungen und für eine Ermittlung einer Bezugsposi
tion verwendet werden, für andere Funktionen genutzt werden.
Wenngleich die besprochene Ausführungsform auf einen drehen
den Verschlüßler (Kodedrehgeber) ausgerichtet ist, so kann
der technische Grundgedanke auch auf einen linearen Ver
schlüßler Anwendung finden.
Durch die erfindungsgemäße Ausführungsform wird somit ein
Verschlüßler geschaffen, der imstande ist, mit einem einfa
chen Aufbau, indem Gitterstrukturen mit einem Phasenunter
schied an einem sich bewegenden Objekt ausgebildet, zwei
Lichtstrahlen in die Gitterstrukturen eingeführt und die
von wenigstens einem Teil dieser Gitterstrukturen übertrage
nen oder reflektierten Lichtstrahlen empfangen werden, ein
Bezugspositionssignal mit einem hohen Auflösungsvermögen
zu liefern, so daß der Einfluß eine Schwankung in der Inten
sität der Lichtquelle ausgeschaltet wird.
Auch wird bei den in den Fig. 11-15 gezeigten Vorrichtun
gen zur Ermittlung einer Bezugsposition das Null-Phasensi
gnal in Abhängigkeit von der Erfassung des Zentrums der Be
zugstruktur erzeugt, so daß die Bezugsposition ohne Rück
sicht auf die Bewegungs- oder Drehrichtung des Objekts kon
stant bleibt.
Bei den in den Fig. 3-9 gezeigten Vorrichtungen zur Ermitt
lung einer Bezugsposition wird ein einzelner Lichtstrahl ver
wendet, während bei den Vorrichtungen nach den Fig. 11-15
ein Paar von Lichtstrahlen Anwendung findet. Das Ermittlungs
prinzip ist jedoch in beiden Fällen dasselbe, wobei das
Null-Phasensignal freigegeben wird, wenn mehrere Sehzellen
zueinander gleiche Ausgangssignale abgeben.
Demzufolge sind die in den Fig. 3-9 gezeigten Vorrichtun
gen im Hinblick auf die Vereinfachung der Konstruktion vor
zuziehen.
Das Auflösungsvermögen bei den in den Fig. 11-15 gezeigten
Vorrichtungen kann durch Vermindern der Breiten (a, b in
Fig. 11) der Bezugsstruktur verbessert werden.
Die Fig. 16 zeigt schematisch eine weitere Ausführungsform
eines erfindungsgemäßen optischen Systems in Anwendung auf
einen drehenden Verschlüßler.
Hierbei wird ein von einem Laser 1 ausgesandter Lichtstrahl
durch ein Kollimatorobjektv 2 in einen parallelen Licht
strahl umgewandelt, der in einen Strahlenteiler 3 eingeführt
wird, um zwei linear polarisierte Lichtstrahlen, d.h. einen
übertragenen und einen reflektierten Lichtstrahl, von annä
hernd gleichen Intensitäten zu erhalten. Durch ein λ/4-Plätt
chen 4 wird der reflektierte Strahl in einen zirkular pola
risierten Strahl umgewandelt, der durch ein Prisma 16 mit
zwei reflektierenden Flächen in eine Stelle M 1 eines radia
len Beugungsgitters 7 einer mit einem zu vermessenden, dre
henden Objekt verbundenen Scheibe 6 eingeleitet wird. Das
vom Gitter 7 übertragene und gebeugte Licht einer bestimm
ten Ordnung wird durch ein Reflexionselement 8 reflektiert,
so daß es auf demselben Lichtweg in die nahezu gleiche Stel
le M 1 des Gitters 7 eintritt. Das durch erneute Beugung
durch das Gitter 7 erhaltene Licht einer bestimmten Ordnung
wird durch das g/4-Plättchen 4 in einen linear polarisier
ten Strahl umgewandelt, dessen Polarisationsrichtung zu
der des einfallenden Strahls um 90° verschieden ist, worauf
der Strahl in den Strahlenteiler 3 eintritt.
Bei dieser Ausführungsform bewegt sich das gebeugte Licht
der bestimmten Ordnung auf demselben Lichtweg wie das Licht
des einfallenden Strahls zwischen dem Strahlenteiler 3 und
dem Reflexionselement 8.
Der durch den Strahlenteiler 3 übertragene Lichtstrahl wird
durch ein λ/4-Plättchen 5 in einen zirkular polarisierten
Strahl umgewandelt, der in eine mit Bezug zur Drehwelle 50
nahezu zum Punkt M 1 symmetrische Stelle M 2 des Gitters 7 an
der Scheibe 6 eintritt. Das vom Gitter 7 übertragene und -
gebeugte Licht einer bestimmten Ordnung wird durch ein zum
Reflexionselement 8 gleichartiges Reflexionselement 9 re
flektiert und tritt in die nahezu gleiche Stelle M 2 des
Gitters 7 auf dem gleichen Lichtweg ein. Das durch erneute
Beugung durch das Gitter 7 erhaltene gebeugte Licht der be
stimmten Ordnung wird durch das λ/4-Plättchen 5 in linear
polarisiertes Licht umgewandelt, dessen Polarisationsrich
tung um 90° zu derjenigen des einfallenden Lichtstrahls
unterschiedlich ist, worauf der Strahl in den Strahlentei
ler 3 eintritt.
Wie im Fall des oben erläuterten Lichtstrahls bewegt sich
auch in diesem übertragenen Lichtstrahl das gebeugte Licht
der bestimmten Ordnung auf dem gleichen Lichtweg wie dasje
nige des einfallenden Lichtstrahls zwischen dem Strahlentei
ler 3 und dem Reflexionselement 9. Dem gebeugten Licht wird
vom Reflexionselement 8 kommendes gebeugtes Licht überla
gert, es wird dann durch ein λ/4-Plättchen 10 zu zirkular
polarisiertem Licht ausgebildet und durch einen Strahlen
teiler 11 in zwei Lichtstrahlen geteilt. Diese beiden Licht
strahlen werden durch Polarisatoren 12 und 13, deren Pola
risationsrichtungen jeweils um 45° geneigt sind, um linear
polarisiertes Licht mit einem gegenseitigen Phasenunter
schied von 90° zu erhalten, geführt und jeweils in Sehzel
len 14 sowie 15 eingeführt, um die Intensität der durch
die beiden Lichtstrahlen gebildeten Interferenzstreifen zu
ermitteln.
Auch bei dieser Ausführungsform wird ein von der Stelle M 1
des Gitters 7 gebeugter Lichtstrahl, z.B. der Ordnung -m
oder (m+1) neben dem in das Reflexionselement 8 eintreten
den Licht, z.B. der Ordnung m, durch Spiegel 18 sowie 25
und eine Zylinderlinse 21 zu einem Bezugspositon-Nachweisele
ment 22, das an der Scheibe 6 vorhanden ist, geführt.
Dieses Nachweiselement 22 besteht beispielsweise aus einer
an der Scheibe 6 ausgebildeten Schlitzöffnung, wobei die
Änderung der Intensität des durch den Schlitz tretenden
Lichts durch eine Lichtempfangseinrichtung 24 photoelek
trisch erfaßt wird, um die Nullage zu bestimmen.
Auf diese Weise wird ein Bezugssignal zum maßlichen Erfas
sung des Drehzustandes der Scheibe 6, beispielsweise für
jede Umdrehung, erhalten.
Bei der beschriebenen Ausführungsform wird das Bezugsposi
tionssignal ohne eine neuerliche Lichtquelle erhalten, indem
ein gebeugtes, vom Gitter 7 erhaltenes Licht einer bestimm
ten Ordnung genutzt, jedoch im Verschlüßler nicht verwendet
wird.
Auch kann, falls das ungenutzte gebeugte Licht einer bestimm
ten Ordnung schwach ist, eine gewünschte Lichtintensität
erhalten werden, indem die optische Anordnung abgewandelt
wird, beispielsweise durch Überlappen von mehreren ungenutz
ten gebeugten Strahlen oder durch Verwendung eines aus einer
transparenten Reliefstruktur mit geeigneter Gestalt und Tei
lung, um lediglich gebeugtes Licht der 0. Ordnung und ein
gewünschtes gebeugtes Licht höherer Ordnung freizusetzen.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform bewirkt eine Dre
hung des zu vermessenden drehenden Objekts um eine Teilung
des Beugungsgitters 7 eine Änderung von 2m π in der Phase
des gebeugten Lichts der Ordnung m. In gleichartiger Weise
ändert sich auch die Phase des durch das Gitter 7 erneut
gebeugten Lichts der Ordnung n um 2n π. Demzufolge liefert
die Lichtempfangseinrichtung insgesamt (2m-2n)-Sinuswel
len, wobei die Größe der Drehung bei dieser Ausführungs
form durch Erfassen dieser Sinuswellen ermittelt wird.
Beispielsweise erzeugt im Fall der Verwendung eines Beugungs
gitters mit einer Teilung von 3,2 µm und von gebeugten Strah
len der 1. Ordnung und -1. Ordnung eine Drehung von 3,2 µm
des drehenden Objekts vier Sinuswellen. Somit ist das Auflö
sungsvermögen pro jede Sinuswelle gleich 3,2/4=0,8 µm oder
ein Viertel einer Teilung des Beugungsgitters.
Die in Rede stehende Ausführungsform ist auch imstande, die
Drehrichtung des drehenden Objekts zu bestimmen, indem der
Lichtstrahl durch den Strahlenteiler 11 geteilt und zwi
schen zwei Lichtstrahlen ein Phasenunterschied von 90° ge
bildet wird.
Falls allein die Messung der Größe in der Drehung erforder
lich ist, so können der Strahlenteiler 11, die Polarisatoren
12 sowie 13 und eine Sehzelle entfallen.
Auch wird bei dieser Ausführungsform der aus einer Aberra
tion zwischen der Drehmitte des drehenden Objekts und der
Mitte des radialen Beugungsgitters 7 resultierende Meßfeh
ler durch die Verwendung der gebeugten Strahlen von zwei
zur Drehmitte annähernd symmetrischen Stellen M 1 und M 2
vermindert.
Anstelle der gebeugten Lichtstrahlen von zwei nahezu symme
trischen Stellen können gebeugte Strahlen von mehreren will
kürlichen Stellen verwendet werden, um eine im wesentlichen
gleiche Wirkung zu erzielen. Beispielsweise können wirksam
die gebeugten Strahlen von drei zueinander mit 120° beabstan
deten Stellen verwendet werden.
Auch kann der aus dem Unterschied in der Teilung zwischen
der Außen- und der Innenseite des radialen Gitters hervor
gerufene Einfluß der Wellenfrontaberration ausgeschaltet
werden, indem eine der Drehachse nahe Strahlkomponente mit
einer solchen des anderen, in die nahezu symmetrische Stelle
eintretenden Strahls überlagert wird und die Strahlkompo
nenten an der Außenseite in gleichartiger Weise überlagert
werden.
Bei der in Rede stehenden Ausführungsform bewegt sich das
gebeugte Licht der bestimmten Ordnung auf demselben Lichtweg
wie dasjenige des einfallenden Strahls zwischen dem Strah
lenteiler 3 und dem Reflexionselement 8 oder 9, so daß das
Überdecken der zwei gebeugten Lichtstrahlen am Strahlentei
ler 3 erleichtert und die Präzision im Zusammenbau der gesam
ten Vorrichtung gesteigert wird.
Falls die Meßgenauigkeit nicht kritisch ist, kann anstelle
der zwei Lichtstrahlen von zwei zueinander symmetrischen
Punkten nur ein Lichtstrahl zur Anwendung kommen.
Die Fig. 17 zeigt schematisch eine weitere Ausführungsform
des erfindungsgemäßen optischen Systems in Anwendung auf
einen Verschlüßler, wobei zu Fig. 16 gleiche Elemente mit
denselben Bezugszeichen bezeichnet sind.
Bei dieser Ausführungsform wird das vom Beugungsgitter 7
übertragene gebeugte Licht einer bestimmten Ordnung in ein
Reflexionselement 8 eingeführt, während das reflektierte
gebeugte Licht einer bestimmten Ordnung durch ein Prisma
27 mit einer reflektierenden Fläche, zwei Spiegel 18 sowie
25 und eine Zylinderlinse 21 zum Bezugsposition-Nachweis
element 22 gelenkt wird, wobei der von diesem Nachweisele
ment 22 übertragene Lichtstrahl durch eine Maske 23 von einer
Lichtempfangseinrichtung 24 aufgenommen wird, um ein Bezugs
positionssignal zu erhalten.
Weitere bauliche Ausbildungen entsprechen der in Fig. 16
gezeigten Ausführungsform.
Das Verfahren, um das Bezugspositonssignal zu erhalten, und
die optische Anordnung sind nicht auf die in den vorstehen
den Ausführungsformen beschriebenen Einzelheiten begrenzt,
sondern können in irgendeiner Weise abgewandelt werden, so
lange ein optisches Verfahren zur Anwendung gelangt.
Bei den vorgenannten Ausführungsformen können die λ/4-Plätt
chen 4 und 5 an jeglichen Stellen zwischen dem Strahlentei
ler und der Reflexionseinrichtung angeordnet werden. Ferner
können die Sehzellen 14, 15 anstelle des übertragenen gebeug
ten Lichts das reflektierte Licht gebeugte Licht empfangen.
Darüber hinaus können neben den gebeugten Lichtstrahlen,
die für eine Messung und Ermittlung einer Bezugsposition
verwendet werden, gebeugte Lichtstrahlen natürlich für ande
re Zwecke genutzt werden.
Wenngleich die zuletzt beschriebenen Ausführungsformen auf
einen drehenden Verschlüßler abgestellt sind, so kann der
erläuterte technische Grundgedanke unmittelbar auf einen
linearen Verschlüßler angewendet werden.
Gemäß den erläuterten Ausführungsformen wird folglich ein
Verschlüßler geschaffen, der imstande ist, ohne eine zusätz
liche Lichtquelle und mit einem einfachen Aufbau ein Bezugs
positionssignal auf einfache Weise zu liefern, indem außer
dem gebeugten Licht einer bestimmten Ordnung, das zur maßli
chen Erfassung des Bewegungszustands eines sich bewegenden
Objekts verwendet wird, ein Lichtstrahl genutzt wird.
Claims (14)
1. Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition, gekenn
zeichnet durch optische, einen Lichtstrahl auf eine beweg
bare, eine Bezugsposition angebende Struktur (7, 22, 22′,
61, 62, 73, 143, 144) richtende Einrichtungen und durch
mehrere, einen durch die Struktur erhaltenen Nachweislicht
strahl erfassende Lichtempfangselemente (14, 15, 24 A,
24 B), wobei ein Bezugspositionssignal erzeugt wird, wenn
die Ausgänge der Lichtempfangselemente eine bestimmte Be
ziehung erfüllen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Struktur als eine rechteckige Struktur ausgebildet
ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
der Lichtstrahl als ein schlitzförmiger Lichtstrahl ausge
bildet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der Lichtstrahl aus einem Laserstrahl besteht.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekenn
zeichnet durch zwei Lichtempfangselemente (14, 15; 24 A,
24 B), wobei das Bezugspositionssignal bei zueinander glei
chen Ausgängen der beiden Lichtempfangselemente erzeugt
wird.
6. Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition, gekenn
zeichnet durch optische, einen Lichtstrahl auf ein sich
bewegendes oder drehendes Objekt (6) richtende Einrich
tungen und durch ein paar von Lichtempfangselementen
(14, 15; 24 A, 24 B), die einen bei Durchlaufen einer auf
dem Objekt ausgestalteten Bezugsstruktur (7, 22, 22′,
61, 62, 73, 143, 144) durch den von dem Lichtstrahl gebil
deten Fleck reflektierten oder übertragenen Lichtstrahl
empfangen, wobei ein Bezugspositionssignal erzeugt wird,
wenn die Ausgänge des Paars der Lichtempfangselemente
zueinander gleich werden.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Bezugsstruktur als eine rechteckige Struktur ausgebil
det ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
der Lichtstrahl ein Laserstrahl ist.
9. Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition, gekenn
zeichnet durch ein Lichtstrahlenpaar (51, 52; 141, 142;
181, 182; 191, 192) auf ein sich bewegendes oder dre
hendes Objekt (6) richtende optische Einrichtungen und
durch ein Paar von Lichtempfangselementen (45, 46;
54, 55), die jeweils bei Durchlauf einer auf dem Objekt
ausgebildeten Bezugsstruktur (53, 61, 62, 73, 143, 144)
durch die von dem Lichtstrahlenpaar erlangten Lichtflecke
übertragene oder reflektierte Lichtstrahlen empfangen,
wobei ein Bezugspositionssignal erzeugt wird, wenn die
Ausgänge des Paars von Lichtempfangselementen zueinander
gleich werden.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß
die Lichtstrahlen Laserstrahlen sind.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Bezugsstruktur mehrere Strukturen längs
der Bewegungsrichtung des Objekts umfaßt.
12. Vorrichtung zur Ermittlung einer Bezugsposition, gekenn
zeichnet durch optische, einen Lichtstrahl auf eine beweg
bare, eine Bezugsposition angebende Struktur richtende
Einrichtungen und durch eine die mittige Lage der Bezugs
struktur im Ansprechen auf den von dieser reflektierten
oder durch diese übertragenen Lichtstrahl ermittelnde
Erfassungseinrichtung, wobei im Ansprechen auf die Ermitt
lung der mittigen Lage ein Bezugspositionssignal erzeugt
wird.
13. Verschlüßler, gekennzeichnet
- - durch einen kohärenten Lichtstrahl auf ein längs der Bewegungs- oder Drehrichtung eines sich bewegenden oder drehenden Objekts (6) ausgebildetes Beugungsgitter (7, 53, 61, 62, 143, 144) richtende Einrichtungen,
- - durch optische Einrichtungen, die unter Verwendung eines gebeugten, vom Bewegungsgitter austretenden Lichtstrahls Interferenzstreifen bilden,
- - durch eine die Änderung in der Intensität der Interfe renzstreifen erfassende Ermittlungseinrichtung,
- - durch eine einen Teil des kohärenten Lichtstrahls auf die am Objekt (6) ausgebildete Bezugsstruktur richten de Einrichtung und
- - durch Lichtempfangseinrichtungen (14, 15, 24 A, 24 B), die im Ansprechen auf den von der Bezugsstruktur reflek tierten oder durch diese übertragenen Lichtstrahl ein Bezugspositionssignal erzeugen,
- - wobei der Bewegungs- oder Drehungzustand des Objekts aus den Ausgangssignalen der Ermittlungseinrichtung und der Lichtempfangseinrichtungen erfaßt wird.
14. Verschlüßler, gekennzeichnet
- - durch einen kohärenten Lichtstrahl auf ein längs der Bewegungs- oder Drehrichtung eines sich bewegenden oder drehenden Objekts (6) ausgebildete Beugungsgitter (7, 53, 61, 62, 143, 144) richtende Einrichtungen,
- - durch optische Einrichtungen, die unter Verwendung eines gebeugten, vom Bewegungsgitter austretenden Licht strahls Interferenzstreifen bilden,
- - durch eine die Änderung in der Intensität der Interfe renzstreifen erfassende Ermittlungseinrichtung,
- - durch eine einen weiteren gebeugten Lichtstrahl vom Beugungsgitter auf eine am Objekt ausgebildete Bezugs struktur richtende Einrichtung und
- - durch Lichtempfangseinrichtungen (14, 15, 24 A, 24 B), die im Ansprechen auf den von der Bezugsstruktur reflek tierten oder durch diese übertragenen Lichtstrahl ein Bezugspositionssignal erzeugen,
- - wobei der Bewegungs- oder Drehungszustand des Objekts aus den Ausgangssignalen der Ermittlungseinrichtung und der Lichtempfangseinrichtungen erfaßt wird.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: TIEDTKE, H., DIPL.-ING. BUEHLING, G., DIPL.-CHEM. |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |