DE3620301A1 - Vorrichtung und aufzeichnungstraeger fuer einen optischen plattenspeicher und schneidevorrichtung fuer eine master-platte - Google Patents
Vorrichtung und aufzeichnungstraeger fuer einen optischen plattenspeicher und schneidevorrichtung fuer eine master-platteInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen optischen Aufzeichnungsträger,
wie zum Beispiel eine optisch auslesbare Platte, und eine
Vorrichtung zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Information
für den optischen Aufzeichnungsträger und insbesondere einen
optischen Aufzeichnungsträger mit einer stabilen Spurverfolgung
und einer Vorrichtung zum Aufzeichnen bzw. Wiedergeben
von Information für einen solchen optischen Aufzeichnungsträger.
Ferner betrifft die vorliegende Erfindung eine Vorrichtung
zum Schneiden von Master-Platten zum Herstellen
für die Massenproduktion geeigneter Master-Platten für
Aufzeichnungsträger, auf denen eine Führungsspur, Vorlaufvertiefungen
und Spurfolge-Fehlererfassungs-Vertiefungsmuster
von vornherein ausgebildet sind.
Eine Vorrichtung zum Aufzeichnen von Information auf einem
Steg zwischen benachbarten Führungsspuren und zur Wiedergabe
der aufgezeichneten Information ist aus der japanischen
Patentanmeldung Nr. 58-41446 bekannt. Bei dieser Vorrichtung
wird eine Abweichung des Lichtflecks von der Spur mittels
eines Dreipunktspurverfolgungsservomechanismus erfaßt. Das
Abweichen des Lichtflecks von der Spur kann jedoch ebenfalls
durch eine Veränderung in den Lichtmustern des an der Führungsspur
gestreuten Lichtes erfaßt werden. In diesem Fall
tritt das Problem auf, daß aufgrund einer Änderung der
Intensitätsverteilung des gestreuten Lichts auf einem Photodetektor
Regelabweichungen auftreten, die durch ein Verkippen
des Aufzeichnungsträgers, der Bewegung des Lichtflecks, etc.
auftreten. Mittel zur Reduzierung solcher Spurabweichungen
sind zum Beispiel in der japanischen Patentanmeldung Nr.
59-19250 (entspricht der US-Patentanmeldung Serial Nr.
515 520 und der EP-A 83107110.5) beschrieben.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Aufzeichnungsträger
anzugeben, der in der Lage ist, Spurabweichungen auszugleichen,
die durch ein Verkippen des Aufzeichnungsträgers,
d.h. der optischen Platte, oder durch andere Ursachen hervorgerufen
werden, wenn die Information optisch auf einem Steg
aufgezeichnet und von diesem Steg wieder ausgelesen
wird, wobei dieser Steg zwischen benachbarten Führungsspuren
liegt; und ferner eine Vorrichtung zum Aufzeichnen und
Wiedergeben von Information für den obengenannten Aufzeichnungsträger
anzugeben.
Der Erfindung liegt ferner die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung
zum Schneiden von Master-Platten anzugeben, die
Vertiefungsmuster zum Erfassen von Spurfolgefehlern, eine
Führungsspur und Vorlaufvertiefungen in eine Master-Platte
schneiden kann, ohne daß der schneidende Lichtstrahl gewobbelt
werden muß.
Zur Lösung der ersten Teilaufgabe wird auf dem Aufzeichnungsträger
ein Vertiefungsmuster zum Erfassen der Abweichung
eines Lichtflecks von einer Spur, ohne daß dieser durch
das Verkippen des Aufzeichnungsträgers, d.h. der optischen
Platte, der Bewegung des Lichtflecks oder anderem beeinträchtigt
wäre, an Stellen im vornherein angebracht, die
in Intervallen entlang der Richtung in der die Information
aufgezeichnet und wiedergegeben wird, wobei ein fehlerfreies
Spurfolge-Fehlersignal von diesen Vertiefungsmustern
intermittierend erfaßt wird und ein weiteres Spurfolge-
Fehlersignal dadurch erhalten wird, daß das von der Führungsspur
gestreute Licht verwendet wird und wobei die
Führungsspuren vorher auf dem Aufzeichnungsträger angebracht
wurden. Dadurch wird eine stabile und genaue Spurverfolgung
in einem großen Frequenzbereich von hohen Frequenzen bis zu
niederigen Frequenzen durch die Verwendung zweier Spurfehlersignale
erreicht.
Bei dem erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger wird eine Führungsspur,
die als optische Führung dient und optisch erfaßt
werden kann, spiralförmig oder konzentrisch vorweg gebildet
und die Information wird entlang dieser Spuren auf dem
Steg aufgezeichnet, der zwischen benachbarten Stegen existiert.
Die Mittellinie der Aufzeichnungsspur ist also identisch mit
der Mittellinie zwischen benachbarten Führungsspuren. Ferner
ist ein Vertiefungsmuster zum Erfassen der wahren Abweichung
des Lichtflecks von der Spur, ohne daß diese Information beeinträchtigt
ist durch ein Verkippen des Informationsträgers, der Bewegung
des Lichtflecks oder ähnlichem, auf dem Aufzeichnungsträger
an Stellen angebracht, die in Intervallen entlang der Spur
in Form von Unebenheiten der Oberfläche des Aufzeichnungsträgers
angeordnet sind. Ferner ist jede Aufzeichnungsspur unterteilt
in mehrere Sektoren, von denen jeder ein Vorlauffeld
aufweist, in dem ein Anfangssignal einschließlich einer
Sektorkennung, Adresseninformation und Synchronisierungsinformation
aufgezeichnet sind und wobei jeder Sektor ein
Aufzeichnungsfeld aufweist, in dem vom Verwender Daten
aufgezeichnet werden. Das Vorlaufsignal wird auf einem
Steg aufgezeichnet, der zwischen benachbarten Führungsstegen
liegt, wobei das Vorlaufsignal in Form von Vertiefungen
aufgezeichnet ist, die die Unebenheiten der Oberfläche
des Stegs angeben. In dem Aufzeichnungsfeld werden
Daten auf verschiedene Arten aufgezeichnet, je nach den
charakteristischen Eigenschaften der Aufzeichnungsschicht
des Aufzeichnungsträgers. Um ein Vertiefungsmuster zu
erstellen, mit dem die wahre Abweichung eines Lichtflecks
von einer Spur erfaßt werden kann, ist der erste Teil des
Vertiefungsmusters in der Führungsspur ausgebildet an
Stellen, die so in Intervallen angeordnet sind, daß der
erste Teil dieselbe Mittellinie hat, wie die Führungsspur
und derart, daß sich dessen optischen Eigenschaften von denen
der Führungsspur unterscheiden. Der erste Teil der
benachbarten Führungsspuren ist so angeordnet, daß sich
diese nicht gegenseitig in Radialrichtung gesehen überlappen.
Der erste Teil kann wie ein spiegelgleicher
Oberflächenteil ausgeführt sein, der erhalten wird durch
ein Unterbrechen der Führungsspur, einer Phasenvertiefung
(insbesondere einer Vertiefung mit einer Phasenstruktur),
dessen Breite verschieden ist von der der Führungsspur
und einer Phasenvertiefung mit einer Tiefe, die unterschiedlich
ist von der der Führungsspur. Wenn der Lichtfleck,
der die Mittellinie zwischen benachbarten Führungsspuren
abtastet, durch ein Paar dieser Vertiefungsmuster läuft,
die jeweils in dem ersten Teil ausgebildet sind, verändert
sich die von den Führungsspuren reflektierte Lichtmenge
derart, als ob die Führungsspuren gewobbelt wären. Durch
die Verwendung des ersten Teils kann die Abweichung des
Lichtflecks von der Spur erfaßt werden ohne beeinträchtigt
zu werden durch eine Spurabweichung, die durch eine Verkippung
des Aufzeichnungsträgers oder durch eine Bewegung
des Lichtflecks hervorgerufen wird. Ferner kann der zweite
Teil, der in seinen optischen Eigenschaften von der Führungsspur
verschieden ist, auf einem Steg ausgebildet sein, der
zwischen den ersten Teilen entlang der Mittellinie des
Stegs ausgebildet ist. Das in der Spur ausgebildete Vertiefungsmuster
hat also eine umgekehrte Polarität wie das
Vertiefungsmuster, das auf der nächsten Spur ausgebildet
ist. Dies ergibt somit eine Kennung, die angibt, ob der
rechte oder der linke erste Teil zuerst mit dem Lichtfleck
bestrahlt wird, wobei die Kennung entlang der Mittellinie
zwischen benachbarten Führungsspuren derart angeordnet ist,
daß die Kennung sich in ihren optischen Eigenschaften von
denen der Führungsspur unterscheidet. Im folgenden werden
mehrere Arten von Vertiefungsmustern zum Erfassen der wahren
Abweichung des Lichtflecks von der Spurmitte im Detail erläutert.
Die Vorrichtung für optisch auslesbare Platten verwendet erfindungsgemäß
Aufzeichnungsträger, die eine Führungsspur und
die oben erwähnten Vertiefungsmuster aufweisen, die in
Intervallen entlang der Führungsspur ausgebildet sind und
weist ferner auf: Mittel zum Erfassen eines ersten Spurfolge-
Fehlersignals, das auf dem von der Führungsspur gestreuten
Licht basiert und Mittel zum Erfassen des zweiten Spurfolge-
Fehlersignals, das sich aus den Vertiefungsmustern
ergibt, die in Intervallen entlang der Führungsspur ausgebildet
sind und so ein Spurfolge-Servosystem zu bilden,
das erste und zweite Spurfolge-Fehlersignale verwendet,
und wobei die Spurabweichung, die durch ein Verkippen des
Aufzeichnungsträgers oder durch eine Bewegung des Lichtflecks
verursacht wird, somit zu korrigieren. Die Vorrichtung
für optisch auslesbare Platten kann somit Information
aufzeichnen, wiedergeben und löschen auf bzw. von einem
Steg, der zwischen benachbarten Führungsspuren "gesandwiched"
ist, wobei gleichzeitig die Spurverfolgung genau und
stabil erfolgt.
Zur Lösung der zweiten Teilaufgabe wird eine Vorrichtung
zum Schneiden von Master-Platten angegeben, mit der eine
Master-Platte eines erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträgers
hergestellt werden kann, bei der ein Laserstrahl Vorlaufvertiefungen
ausbildet und ein weiterer Laserstrahl die
Führungsspur bildet, wobei beide Laserstrahlen gleichzeitig
auf eine Fokussierungslinse einfallen und unabhängig voneinander
moduliert werden. Der erste Teil der Vertiefungsmuster
zum Erfassen der wahren Abweichung eines Lichtflecks
von einer Spur hat dieselbe Mittellinie wie die Führungsspur
und kann somit nur ausgebildet werden, indem die Intensität
des Laserstrahls zum Ausbilden der Führungsspur moduliert
wird. Der zweite Teil der obengenannten Vertiefungsmuster
ist entlang der Mittellinie eines eines Stegs angeordnet,
der zwischen zwei benachbarten Führungsspuren angeordnet
ist (d.h. die Mittellinie der Spur), und kann somit
nur ausgebildet werden, indem die Intensität des Laserstrahls,
mit dem die Vorlaufvertiefungen erstellt werden,
moduliert wird. Somit können die obengenannten Vertiefungsmuster
in einer Master-Platte hergestellt werden, ohne die
Laserstrahlen zu wobbeln und wobei die Führungsspur und die
Vorlaufvertiefungen gleichzeitig in die Master-Platte eingeprägt
werden. Ein Aufzeichnungsträger mit einer Führungsspur,
Vorlaufvertiefungen und einem Vertiefungsmuster zum Erfassen
der Abweichung eines Lichtflecks von einer Spur kann erfindungsgemäß
ausgehend von der obengenannten Master-Platte
mittels einer wohlbekannten Vervielfältigungstechnik als
Massenartikel hergestellt werden.
Im folgenden wird die Erfindung durch die Beschreibung bevorzugter
Ausführungsformen anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigen
Fig. 1a und 1b die Struktur eines Aufzeichnungsträger, wobei
Fig. 1a eine perspektivische Ansicht eines
Ausschnitts einer Aufzeichnungsschicht des Aufzeichnungsträgers
darstellt und Fig. 1b eine
Draufsicht, die die Lage der Führungsspur, der
Vorlaufvertiefungen und der Datenvertiefungen
wiedergibt, die auf dem Informationsträger geformt
sind.
Fig. 2 zeigt eine Draufsicht auf ein Beispiel eines Vertiefungsmusters,
das im vorweg auf einem erfindungsgemäßen
Aufzeichnungsträger für die Erfassung der
Spurabweichung eines Lichtflecks ausgebildet ist.
Fig. 3a, 3b, 3c zeigen Draufsichten auf Beispiele von Vertiefungsmustern,
die im vorweg auf einen erfindungsgemäßen
Aufzeichnungsträger durch Wobblung aufgebracht
wurden, um die Abweichung eines Lichtflecks von
einer Spur zu erfassen.
Fig. 4a bis 6d zeigen Draufsichten auf Beispiele von Vertiefungsmustern,
die im vorweg auf einen erfindungsgemäßen
Aufzeichnungsträger ohne Wobblung aufgebracht sind,
um die Abweichung eines Lichtflecks von einer Spur
zu erfassen, Fig. 4a bis 4d zeigen Ausführungen,
bei denen der erste Teil des Vertiefungsmusters
entlang der Mittellinie der Führungsspur derart
ausgebildet ist, daß die ersten Teile in benachbarten
Führungsspuren sich nicht in einer Richtung
senkrecht zu den Führungsspuren gesehen, überlappen,
Fig. 5a bis 5d zeigen Ausführungen, in
denen zusätzlich zu den ersten Teilen, die entlang
der Mittellinie der Führungsspur ausgebildet sind
ein zweiter Teil von Vertiefungsmustern in einem
Bereich ausgebildet ist, der zwischen dem in
benachbart liegenden Führungsspuren liegenden
ersten Teilen entlang der Mittelinie des obengenannten
Bereichs liegt und Fig. 6a bis 6d zeigen
eine Ausführung, bei der der erste Teil der Vertiefungsmuster
in einem Bereich ausgebildet ist,
in dem die Führungsspur unterbrochen ist derart,
daß der erste Teil mit der Führungsspur verbunden
ist.
Fig. 7 zeigt ein Blockdiagramm einer Ausführungsform der
erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Schneiden einer
Master-Platte.
Fig. 8a und 8b zeigen Diagramme die den Betrieb der in Fig. 7
gezeigten Ausführungsform veranschaulichen.
Fig. 9a und 9b zeigen Diagramme anderer Beispiele von Betriebsarten
für die Ausführung gemäß Fig. 7.
Fig. 10 zeigt schematisch eine Ausführungsform einer optischen
Plattenvorrichtung gemäß der Erfindung.
Fig. 11 und 12 zeigen Blockdiagramme von Beispielen einer Spurfolge-
Fehlererfassungsschaltung, die für einen
Aufzeichnungsträger gemäß der Erfindung verwendet
wird.
Fig. 13 zeigt Wellendiagramme, die mit der Schaltung
gemäß der Fig. 12 erzielt werden.
Fig. 14 zeigt ein Blockdiagramm einer weiteren Ausführungsform
einer Spurfolge-Fehlererfassungsschaltung,
die bei einem erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger
verwendet wird.
Fig. 15 ist ein Blockdiagramm, das den generellen Aufbau
eines Spurfolge-Fehlererfassungssystems zeigt,
das bei einem erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger
Verwendung findet.
Fig. 16 zeigt die Gewinn-Frequenzkennlinie des Systems
nach Fig. 15.
Fig. 17 zeigt ein Blockdiagramm einer weiteren Ausführungsform
einer erfindungsgemäßen Vorrichtung für
optisch auslesbare Platten.
Fig. 18 ein Blockdiagramm zur Erläuterung des Spurfolge-
Steuersystems.
Fig. 19 ein Blockdiagramm, das eine weitere Ausführungsform
einer Spurfolge-Fehlererfassungsschaltung zeigt,
die bei einem erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger
verwendet wird.
Fig. 20 im Diagramm eine Spuranordnung, mit sowohl dem
Vertiefungsmuster nach Fig. 6a und dem Vertiefungsmuster
nach Fig. 6b und Signale, die aus dieser
Spuranordnung durch die Schaltung gemäß Fig. 19
erhalten werden.
Fig. 21 zeigt im Blockdiagramm den Betrieb der Spurfolge-
Fehlererfassungsschaltung nach Fig. 19 im einzelnen
durch die Verwendung von Transferfunktionen.
Fig. 1a und 1b zeigen ein Beispiel eine erfindungsgemäßen
Aufzeichnungsträgers. Dabei zeigt Fig. 1a eine vergrößerte
perspektivische Ansicht der Aufzeichnungsschicht des Aufzeichnungsträgers
und Fig. 1b eine Draufsicht, die die
räumliche Lage zwischen der Führungsspur, einer Vorlaufvertiefung
und einer Datenvertiefung zeigt, die auf dem
Aufzeichnungsträger ausgebildet sind. Die in Fig. 1a gezeigte
Aufzeichnungsschicht 4 besteht aus einem scheibenförmigen
transparenten Substrat, das, falls nötig, mit
einem Schutzfilm bedeckt ist. Licht trifft auf die Aufzeichnungsschicht
4 durch das transparente Substrat.
Im folgenden soll der Fall einer magnetooptischen Platte
beispielsweise erläutert werden. Eine solche Platte ist
mit einer Aufzeichnungsschicht versehen, die eine Dicke von
etwa 1000 nm aufweist und hauptsächlich aus einer Tb-Fe-
Legierung hergestellt ist, um eine Schicht mit senkrechter
Magnetisierung zu erzeugen. Information wird auf dieser
Aufzeichnungsschicht in Form einer Kombination von aufwärts
gerichteter und abwärts gerichteter Magnetisierung aufgezeichnet.
Eine Führungsspur 1 wird im vorweg auf die Aufzeichnungsschicht
4 spiralförmig oder konzentrisch so ausgebildet,
daß die Spiralsteigung der Führungsspur beispielsweise
1,6 μm beträgt. Im Querschnitt hat die Führungsspur 1
im wesentlichen die Form eines Dreiecks und die optische
Tiefe der Spur 1 beträgt nahezu λ/8 (wobei λ die Wellenlänge
des Wiedergabe-Laserstrahls bedeutet). Die dem Licht
ausgesetzte Oberfläche der Führungsspur 1 hat einen höheren
Oberflächenrauschsignalpegel als der zwischen benachbarten
Führungsspuren angeordnete Steg. Information wird auf dem
Steg in Form magnetischer Domänen 3 aufgezeichnet. Eine
Umdrehung der Führungsspur 1 ist, falls nötig, in mehrere Sektoren
unterteilt und jeder Sektor ist vorab versehen mit
einer Sektorkennung zur Anzeige des Anfangs eines Sektors,
mit Adresseninformation einschließlich der Spurnummer und
der Sektornummer zum Identifizieren des Sektors und mit
Synchronisierungsinformation, falls erforderlich. Ein solches
Vorabsignal wird auf dem Steg zwischen Führungsspuren in Form
von Phasenvertiefungen (nämlich Vertiefungen mit einer Phasenstruktur)
2 wie in Fig. 1b gezeigt, ausgeführt, wenn der
Steg mit einem Lichtfleck abgetastet wird. Die optische Tiefe
der Vertiefungen 2 ist nahezu identisch einem Viertel der
Wellenlänge des auslesenden Laserstrahls. Eine magnetooptische
Scheibe, in der Vorlaufvertiefungen vorab auf einem Steg
ausgebildet sind, der zwischen benachbarten Führungsspuren
angeordnet ist, ist aus der US-Patentanmeldung No 685,123
bekannt.
Wenn jede Spur, deren Spiralsteigung 1,6 μm beträgt,
mit einem Lichtfleck abgetastet wird, dessen Durchmesser
etwa 1,8 μm beträgt, fällt der Lichtfleck auf benachbarte
Führungsspuren und es treten Interferenzmuster zwischen
gestreutem Licht nullter Ordnung und dem gestreuten Licht
erster Ordnung auf einem Photodektor auf, der zwei Sensoren
hat. Wenn der Lichtfleck genau auf der Spur ausgerichtet ist,
ist das Interferenzmuster symmetrisch bezüglich der Spur.
Wenn der Lichtfleck von der Mittellinie der Spur abweicht,
wird das Interferenzmuster unsymmetrisch und die Differenz
zwischen den Ausgangswerten der beiden Sensoren des Photodetektors
wird ungleich Null. Die oben erläuterte Differenz
entspricht der Abweichung des Lichtflecks von der Spur.
Ein solches Spurfolge-Fehlererfassungsverfahren wird auch
push-pull-Verfahren genannt. Bei dem oben erläuterten Erfassungsverfahren
werden die Interferenzmuster auf dem Photodetektor
durch das Verkippen des Aufzeichnungsträgers oder der
Bewegung des Lichtflecks bewegt. Es wird also eine Abweichung
zwischen den Ausgabewerten der beiden Sensoren erzeugt,
was zu einem Fehler führt.
Die Hauptfrequenzkomponente des Verkippens des Aufzeichnungsträgers
und der Bewegung des Lichtflecks, die jeweils die
obengenannte Abweichung erzeugen, ist die Drehfrequenz des
Aufzeichnungsträgers. Daher muß ein fehlerloses Spurfolge-
Fehlererfassungssignal zur Korrektur der oben erwähnten Abweichung
mit einer Frequenz erfaßt werden, die doppelt so hoch
oder höher als die Drehfrequenz des Aufzeichnungsträgers ist.
Das erfaßte Signal wird jedoch als Steuersignal bei der
Spurverfolgung verwendet, und eine Zeitverzögerung wird
unvermeidbar bei dieser Spurverfolgung erzeugt. Es ist
daher notwendig, die Abtastfrequenz des fehlerlosen Spurfolge-
Fehlersignals fünfmal größer oder noch größer als die Drehfrequenz
des Aufzeichnungsträgers zu wählen. Das bedeutet,
fünf oder mehr Teile zum Erfassen des fehlerlosen Spurfolge-
Fehlererfassungssignals müssen pro Spur (was einem Umlauf
auf dem Aufzeichnungsträger entspricht) in gleichmäßigen
Abständen vorgesehen sein.
Ein Vorlauffeld ist vor solchen Bereichen angeordnet. Im
folgenden wird eine Ausführungsform erläutert, bei der
das Vertiefungsmuster zum Erzeugen eines fehlerlosen Spurfolge-
Fehlersignals im Vorlauffeld gebildet wird. Die oben
erwähnten Vertiefungsmuster können jedoch an beliebiger
Stelle vorgesehen sein, vorausgesetzt daß die Vorteile der
vorliegenden Erfindung erhalten bleiben.
Fig. 2 zeigt eine Ausführung eines Aufzeichnungsträgers,
auf dem Vertiefungsmuster zum Erfassen eines fehlerlosen
Spurfolge-Fehler-Signals in Intervallen entlang einer Spur
ausgebildet sind. Im einzelnen zeigt Fig. 2 einen Teil
eines Vorlauffeldes dieser Ausführungsform. Benachbarte
Führungsspuren 1 sind an entsprechenden Stellen unterbrochen
und eine Vertiefung 5 ist zwischen den Bereichen, in
denen die Führungsspuren 1 unterbrochen sind, angeordnet,
um die Abweichung eines Lichtstrahls von einer Spur durch
das Heterodyn-Erfassungsverfahren zu erfassen, so daß die
Mittellinie der Vertiefung 5 auf der Mittelinie zwischen
den obengenannten Bereichen angeordnet ist. Ebenso wie
die Anfangsvertiefung 2 hat die Vertiefung 5 eine Phasenstruktur.
Die Kante der Vertiefung 5 ist von der Kante
der unterbrochenen Führungsspur 1 derart entfernt, daß
ein Beugungsmuster, das erhalten wird, wenn ein Lichtfleck
die Kante der Vertiefung 5 erreicht, nicht durch die Kante
der unterbrochenen Führungsspur 1 beeinträchtigt wird.
Eine optisch auslesbare Platte, d.h. der Aufzeichnungsträger,
wird in der Richtung bewegt, die durch den Pfeil
angezeigt ist. Mit anderen Worten, der Lichtfleck wandert
entlang der Mittellinie zwischen benachbarten Führungslinien
von links nach rechts. Bei den folgenden Ausführungsformen
erfolgt dieselbe Bewegung in derselben Richtung.
In der vorliegenden Ausführungsform ist die Vertiefung 5
am Ende des Vorlauffeldes ausgebildet. Die Vertiefung 5
kann jedoch auch am Anfang und in der Mitte des Vorlauffeldes
angeordnet sein.
Die Fig. 3a bis 3c zeigen weitere Ausführungsformen
eines Aufzeichnungsträgers gemäß der Erfindung. Bei der
in Fig. 3a gezeigten Ausführungsform haben die Vertiefungen
6 und 7 die gleiche Form und sind auf beiden Seiten
einer Mittellinie 8 zwischen benachbarten Führungsspuren 1
derart angeordnet, daß die Mittellinie einer jeden Vertiefung
6 und 7 von der Mittellinie 8 um einen Betrag Δ
in radialer Richtung versetzt ist und die Vertiefung 6 und 7
sich in Radialrichtung gesehen, d.h. der Richtung senkrecht
zur Richtung in der die Information aufgezeichnet und
ausgelesen wird, nicht überlappt. Vorzugsweise haben die
Vertiefungen 6 und 7 die gleiche optische Tiefe wie die
der Anfangsvertiefung 2 (nämlich λ/4). In Fig. 3a kann
zwischen den Vertiefungen 6 und 7 eine spiegelgleiche Oberfläche
angeordnet werden. Gemäß der vorliegenden Ausführungsform
kann das fehlerlose Spurfolge-Fehlersignal durch die
Wobbelerfassungsmethode unter Verwendung der Vertiefungen
6 und 7 erfaßt werden. Um zu verhindern, daß das oben erwähnte
Signal durch die Führungsspur 1 beeinträchtigt wird,
ist die Führungsspur in regelmäßigen Abständen unterbrochen
und die Vertiefungen 6 und 7 sind in den Bereichen, in denen
die Führungsspuren unterbrochen sind, angeordnet. Es wird
ferner bevorzugt die räumliche Beziehung zwischen den Vertiefungen
6 und 7 und den Kanten der unterbrochenen Führungsspuren
so zu wählen, daß, wenn ein Lichtfleck die Kante
einer jeden Vertiefung 6 und 7 erreicht oder verläßt, das
oben beschriebene Signal nicht durch die Führungsspuren
beeinträchtigt wird. Wenn jedoch nur eine kontinuierliche
Führungsspur mit Hilfe der Spurschneidevorrichtung erzeugt
werden kann, so kann auch eine solche nicht unterbrochene
Spur verwendet werden. Es ist ferner vorteilhaft, die
Vertiefung 6 und 7 voneinander in radialer Richtung gesehen,
zu trennen, so daß, wenn der Lichtfleck auf mindestens
einem Teil einer der Vertiefungen 6 und 7 liegt, die
andere Vertiefung nicht durch denselben Lichtfleck beschienen
wird. Vom Standpunkt des Signal zu Rauschen-Verhältnisses
ist es günstig, den Wert Δ nahezu gleich
einem Viertel des Spurabstandes zu wählen. Bei der in Fig. 3b
gezeigten Ausführungsform ist ein "vorgewobbeltes" Muster
gewählt. Das heißt, benachbarte Führungsspuren 1′ sind an einer
Stelle vorgewobbelt, die einem Teil des Vorlauffeldes entspricht
(z.B. einem Lückenteil), wobei die Wobblung um einen
kleinen Betrag Δ erfolgt, so daß ein zwischen benachbarten
Führungsspuren gelegener Steg ebenfalls vorgewobbelt ist.
Bei der Ausführungsform gemäß Fig. 3c sind die Führungsspuren
1 an einer Stelle gewobbelt, die einem Vorlauffeld in einer
der Aufwärts- oder Abwärtsrichtungen entspricht und ferner
ebenfalls an einer anderen Stelle gewobbelt, die dem nächsten
Vorlauffeld in der anderen Richtung entspricht, um die Abweichung
des Lichtflecks von einer Spur durch die Verwendung
von Signalen zu erfassen, die an zwei verschiedenen Orten
erhalten werden.
Bei den in den Fig. 3a bis 3c gezeigten Ausführungsformen
muß ein Lichtstrahl gewobbelt werden, wenn die Vertiefungen
6 und 7 oder die Führungsspur 1′ durch einen Laserstrahl
hergestellt werden. Bei den folgenden Ausführungsformen
wird ein fehlerloses Spurfolge-Fehlererfassungssignal aus
Vertiefungsmustern erfaßt, die nicht gewobbelt sind.
Zuerst wird die in Fig. 4a gezeigte Ausführungsform erläutert.
Gemäß Fig. 4a ist in der Führungsspur 1 ein Bereich
9 vorgesehen, der sich in den optischen Eigenschaften
von der Führungsspur 1 unterscheidet, wobei dieser
Bereich 9 in der Führungsspur 1 an regelmäßig beabstandeten
Stellen derart angeordnet ist, daß die Mittellinie
des Bereichs 9 mit der der Führungsspur 1 zusammenfällt
und die Bereiche 9 benachbarter Führungsspuren 1 in Radialrichtung
gesehen nicht aufeinanderfallen, d.h. in der
Richtung senkrecht zur Richtung in der die Information aufgezeichnet
und ausgelesen wird. Wenn der Lichtfleck, der
der Mittelinie zwischen benachbarten Führungsspuren folgt,
durch einen der oben erläuterten Bereiche 9 läuft, ändert
sich die von der Spur reflektierte Lichtmenge als ob die
Führungsspuren gewobbelt wären. Ferner wird zwischen zwei
benachbarten Führungsspuren eine Kennung 10 angebracht,
die angibt, welche der rechten und der linken Führungsspuren
zuerst mit dem Lichtfleck bestrahlt wird, wobei diese Kennungen
vor den oben erwähnten Bereichen 9 liegen. Die Kennung
10 kann dadurch dargestellt werden, daß entweder eine bestimmte
Vertiefung vorhanden ist oder nicht oder durch die Länge
einer bestimmten Vertiefung in Umfangsrichtung. Der in seinen
optischen Eigenschaften von der Führungsspur 1 unterschiedliche
Bereich 9 kann als spiegelgleicher Oberflächenbereich ausgeführt
werden, der dadurch erhalten wird, daß die Führungsspur
1 (wie in Fig. 4b gezeigt) unterbrochen wird. Ferner
kann, wie in Fig. 4c gezeigt, der Bereich 9 ein breiter
(oder dünner) Bereich sein, der dadurch erhalten wird, daß
die Intensität des Lichtstrahls zur Bildung der Führungsspur
1 vergrößert (oder verkleinert) wird. Alternativ dazu
kann die Tiefe der Führungsspur im Bereich 9 vergrößert
oder verkleinert werden, wie in Fig. 4d gezeigt. In den , in
den Fig. 4a bis 4d gezeigten Fällen bewegt sich die
optisch auslesbare Platte, d.h. der Aufzeichnungsträger, in
Richtung des gezeigten Pfeils.
Bei den in den Fig. 4a bis 4d gezeigten Ausführungsformen
ist die effektive Wobbelamplitude der Führungsspur gleich
der Hälfte des Spurabstands, so daß die Erfassungsempfindlichkeit
bei der Erfassung der Abweichung des Lichtflecks
von der Spur gering ist. Dieses Problem kann mit einer Ausführungsform,
wie sie in Fig. 5a gezeigt ist, gelöst werden.
Gemäß Fig. 5a sind die Führungsspuren 1 in Intervallen unterbrochen,
und vier Vertiefungen 50 bis 53 sind in einem Bereich
ausgeformt, der durch die unterbrochenen Bereiche eines
Paares benachbarter Führungsspuren definiert wird, derart,
daß die ersten Vertiefungen 50 und 53 auf den Mittellinien
der benachbarten Führungsspuren 1 und die zweiten Vertiefungen
51 und 52 auf der Mittelinie zwischen den benachbarten Führungsspuren
1 angeordnet sind und wobei die Vertiefungen 50 und 51
sich in einer Radialrichtung gesehen überlappen und die Vertiefungen
52 und 53 sich aus einer anderen Radialrichtung
gesehen ebenfalls überlappen. Dadurch wird eine Änderung
der reflektierten Lichtmenge, hervorgerufen; durch die Vertiefung
50 und 51 stark und maximal, wenn die Mitte des
Lichtflecks zwischen der Führungsspur 1 und der Mittellinie
8 zwischen benachbarten Führungsspuren gelegen ist. Dementsprechend
wird die Erfassungsempfindlichkeit zum Erfassen
der Abweichung des Lichtflecks von einer Spur stark verbessert.
Ferner kann bei der Ausführungsform gemäß den Fig. 4c
und 4d die zweite Vertiefung auf der Mittellinie 8 zwischen
benachbarten Führungsspuren ausgebildet werden, so daß die
Kombination der Bereiche 9 und der zweiten Vertiefung die
effektive Wobblungsamplitude maximal werden lassen.
Bei der in Fig. 5b gezeigten Ausführungsform ist die erste
Vertiefung 56 auf der Mittellinie einer der benachbarten
Führungsspuren und die zweite Vertiefung 54 auf der Mittellinie
8 zwischen benachbarten Führungsspuren ausgebildet, so daß
ein dreieckiger oder trapezförmiger Bereich durch die Vertiefung
54 und 56 definiert wird, der asymmetrisch bezüglich
der Mittellinie 8 ist. Ferner wird eine ähnliche Form durch
die erste Vertiefung 55 und die zweite Vertiefung 57 definiert.
Die ersten Vertiefungen 55 und 56 sind so angeordnet,
daß sie in Radialrichtung gesehen nicht überlappen. Die Abweichung
der Mitte eines Lichtflecks auf der Spur von der
Mittellinie 8 kann erfaßt werden durch Vergleichen eines
Signalsschwingungsdiagramms, das zu dem Zeitpunkt erhalten
wird, in dem der Lichtfleck durch eine Vetiefungsgruppe A
(gebildet von den Vertiefungen 54 und 56) passiert, mit
einem Signalschwingungsdiagramm, das zu einem Zeitpunkt erhalten
wird, an dem der Lichtfleck eine Vertiefungsgruppe B
(gebildet durch die Vertiefungen 55 und 57) passiert. Das
heißt, die oben erwähnte Abweichung kann durch Vergleich
solcher Amplituden zweier Signale erfaßt werden, die von den
Vertiefungsgruppen A und B erhalten werden, die entsprechend
abgetastet werden, oder durch Vergleich der Weite eines
Pulses, der erhalten wird durch Begrenzen eines der oben
erwähnten Signale auf einen Signalpegel mit der Weite eines
anderen Pulses, der erhalten wird durch Begrenzen des anderen
Signals auf den oben erwähnten Signalpegel.
Die in Fig. 5c gezeigte Ausführungsform basiert auf denselben
Gedanken wie die Ausführungsform gemäß Fig. 5b. Gemäß Fig. 5c
wird eine dreieckige oder trapezförmige Form durch eine
Vertiefungsgruppe C gebildet, die die Vertiefungen 58, 59
und 60 einschließt und eine ähnliche dreieckige oder trapezförmige
Form wird durch eine Vertiefungsgruppe D gebildet,
die die Vertiefungen 61, 62 und 63 umfaßt, wobei diese Form
jedoch umgekehrt ausgerichtet ist wie die Dreiecke bzw.
Trapeze, die durch die Vertiefungsgruppe C gebildet werden.
Wie bei der Ausführungsform gemäß Fig. 5b kann ein Spurfolge-
Fehlersignal dadurch erhalten werden, daß Signalwellenformen
miteinander verglichen werden, die durch die Vertiefungsgruppen
C und D erhalten werden. Die Vertiefungen 60 und 61 können in der
Ausführungsform gemäß Fig. 5c entfallen.
Die in Fig. 5d gezeigte Ausführungsform hat Bereiche, in denen
sich Signale ändern, die invertierten Versionen der Signaländerungsbereiche
gemäß der Ausführungsform nach Fig. 5c
entsprechen. Mit anderen Worten, dreieckige Bereiche, die
durch die Kanten der Vertiefungen 64 bis 69 gebildet werden,
wirken wie die Vertiefungsgruppe C gemäß Fig. 5c und ein
dreieckiger Bereich, der durch die Kanten der Vertiefungen
67 bis 72 definiert wird, wirkt wie die Vertiefungsgruppe D
gemäß Fig. 5c.
Bei den Ausführungsformen gemäß der Fig. 5a bis 5d sind
benachbarte Führungsspuren in dem Spurfolge-Fehlererfassungsbereich
unterbrochen ausgeführt. Um jedoch Probleme zu vermeiden,
die bei verschiedenen Spurfolge-Fehlererfassungsmethoden
auftreten, kann die Führungsspur auch kontinuierlich ausgeführt
sein. Ein Problem ist z.B., daß solche unterbrochenen
Bereiche der Führungsspur als äußere Störung des Spurführungsfehlersignals
auftreten können. Die optische Tiefe eines Vertiefungsmusters
zum Erfassen der Abweichung des Lichtflecks
von der Spur wird z.B. gleich λ/4 gewählt. Dann können die
Vertiefungsmuster optisch von der Führungsspur unterschieden
werden.
Bei den obenstehend erläuterten Ausführungsformen wurde lediglich
der Fall eines Paares benachbarter Führungsspuren und
eines dazwischen geformten Stegs erklärt. Ein Paar benachbarter
Stege hat jedoch eine Führungsspur gemeinsam und verschiedene
Vertiefungsmuster erscheinen auf einer Führungsspur auf beiden
Seiten eines Stegs. Somit werden Vertiefungsmuster in
benachbarten Führungsspuren und Stegen im folgenden erläutert.
Vertiefungsmuster werden so ausgebildet, daß sie symmetrisch
zur Mittellinie des Führungsstegs sind. Damit wird das Vertiefungsmuster
auf einem der benachbarten Stege die umgekehrte
Version des Vertiefungsmusters auf dem anderen Steg
sein. Um die Polarität des erfaßten Spurfolgefehlers festzustellen,
ist es notwendig zu wissen, wie ein Vertiefungsmuster
auf einem Steg angeordnet ist, der mit einem Lichtfleck
abgetastet wird. Daher ist die Markierung 10 zum
Anzeigen der Anordnung eines Vertiefungsmusters auf der
Mittellinie eines Stegs so angeordnet, daß er vor dem
Vertiefungsmuster liegt.
Fig. 6a bis 6d zeigen weitere Ausführungsformen eines Aufzeichnungsträgers,
auf dem Vertiefungsmuster zum Erfassen eines
fehlerfreien Spurfolge-Fehlersignals diskret ausgebildet ist.
Bei diesen Ausführungsformen ist die Führungsspur bei jedem
Vorlauffeld unterbrochen, so daß der unterbrochene Teil einen
spiegelgleichen Oberflächenteil 75 bildet und die Teile 75
auf benachbarten Führungsspuren überlappen sich in radialer
Richtung gesehen nicht. Der Teil 76 einer benachbarten Führungsspur,
der dem spiegelgleichen Teil 75 auf der anderen Führungsspur
gegenüberliegt, ist eine erste Phasenvertiefung mit
einer Tiefe von λ/4, um den Signalpegel eines Signals zu
erhöhen, der von dem Vertiefungsmuster erhalten wird und um
die Erfassungsempfindlichkeit bei der Erfassung der Abweichung
des Lichtflecks von einer Spur zu verbessern. Ferner kann
eine zweite Phasenvertiefung 77, die die Form eines Streifens
hat und Mittenvertiefung genannt wird, in einem Bereich des
Stegs ausgebildet werden, der zwischen einem Paar erster
Phasenvertiefungen 76 liegt. Die Ausführungen gemäß der
Fig. 6a und 6c schließen keine Mittelvertiefung 77 ein,
sondern lediglich die Ausführungsform nach den Fig. 6b
und 6d. Dort hat die Mittenvertiefung eine Tiefe d (wobei
gilt: 0≦ωτd ≦ λ/4). Bei diesen Ausführungsformen unterscheiden
sich benachbarte Spuren durch die Anordnung der
Vertiefungsmuster und haben Spurfolge-Fehlersignale mit
umgekehrter Polarität. Um die oben beschriebenen Schwierigkeiten
zu überwinden, wird eine Polaritätsmarkierung 10 auf
jeder anderen Spur ausgebildet, wobei diese Markierung eine
Tiefe von g/4 hat, um eine maximale Modulation zu erreichen.
Die Polaritätsmarkierung 10 kann in einem Lückenfeld angeordnet
sein, das zwischen dem Vorläuferfeld und dem Aufzeichnungsfeld,
wie in den Fig. 6a und 6b gezeigt, existiert
oder sie kann in dem Vertiefungsmuster, wie in den Fig. 6c
und 6d gezeigt, angeordnet sein. In beiden Fällen wird
dieselbe Wirkung erzielt. Bei den Ausführungsformen gemäß
der Fig. 6c und 6d ist die Länge der ersten Phasenvertiefung
76 kleiner als bei den Ausführungsformen gemäß der
Fig. 6a und 6b, um eine Polaritätsmarkierung 10 in einem
zentralen Bereich zwischen benachbarten ersten Phasenvertiefungen
76 anzuordnen. Die in den Fig. 5a bis 5d und
6a bis 6d gezeigten Vertiefungsmuster entsprechen dem
Vor-Wobbelerfassungsverfahren, bei dem ein Wobbelabstand Δ
gleich p/2 verwendet wird (wobei p den Spurabstand angibt).
Bei der Vor-Wobbelerfassungsmethode wird die Erfassungsempfindlichkeit
beim Erfassen einer Abweichung des Lichtflecks
von der Spur maximal, wenn der Wobbelabstand Δ gleich
p/4 gewählt wird. Um jedoch eine Vertiefung von einer vorbestimmten
Lage um p/4 auszulenken, ist es notwendig, zwei
Signale mit verschiedenen Frequenzen asynchron an einen
akusto-optischen Modulator/Deflektor anzulegen, um somit einen
Lichtstrahl umzulenken. Dementsprechend wird eine Schneidevorrichtung,
um solche Vertiefungsmuster auszubilden, sehr
kompliziert im Aufbau. In dem Fall, in dem Information auf
einem Steg aufgezeichnet wird, der zwischen zwei benachbarten
Führungsspuren ausgebildet ist, wird die Mittellinie eines
vorgewobbelten Vertiefungsmusters als Mittellinie einer
Spur angesehen und es ist somit notwendig, die Mittellinie
des vorgewobbelten Vertiefungsmusters genau im Verhältnis
zur Mittellinie der Führungsspur zu lokalisieren. Die in
den Fig. 5a bis 5d und 6a bis 6d gezeigten Vertiefungsmuster
haben etwas schlechtere Empfindlichkeitswerte bei der
Erfassung der Abweichung des Lichtflecks von einer Spur
bezüglich vorgewobbelter Vertiefungsmuster, sie können jedoch
einfach durch Modulation der Intensität des Laserstrahls
durch einen akusto-optischen Modulator erzeugt werden. Ferner
kann die Mittenlinie der Führungsspur von jeder dieser Vertiefungsmuster
erfaßt werden. Dementsprechend kann Information
auf der Mittellinie der Spur aufgezeichnet werden, selbst
wenn das Vorlauffeld, das auf einem Steg angeordnet ist,
leicht von der Mittellinie der Spur abweicht.
Im folgenden wird eine Vorrichtung zum Schneiden einer Master-
Platte zur Herstellung der Master-Platte eines Aufzeichnungsträgers
gemäß der Erfindung erläutert.
Fig. 7 zeigt eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung
zum Schneiden einer Master-Platte. Wie Fig. 7 zeigt,
trifft ein linear-polarisierter Laserstrahl, der von einem
Argonlaser 11 emittiert wird, auf einen Modulator 12, in
dem die Intensität des Laserstrahls derart moduliert wird,
daß sie proportional zu einem Radius zwischen eine Auftreffpunkt
des Laserstrahls auf einer mit einer Photowiderstandsschicht
beschichteten Glasscheibe 23 und der durch die
Mitte der Glasscheibe 23 verlaufenden Achse ist. Der von
dem Modulator 12 ausgehende Laserstrahl wird durch einen
Strahlteiler 13 in zwei Teile geteilt, von denen einer
durch einen optischen Modulator 17 in einen gepulsten Laserstrahl
umgewandelt wird, in Übereinstimmung mit einem Signal
zur Ausbildung von Vorlaufvertiefungen. Die Polarisation
dieses Teils des Laserstrahls wird dann mit Hilfe eines
Halbwellenplättchens 27 um 90° gedreht. Die Polarisationsebene
des linear polarisierten Laserstrahls hinter dem
Halbwellenplättchen 27 ist in Fig. 7 parallel zur Papierebene.
Dieser Teil des Laserstrahls verläuft durch einen
Polarisationsstrahlteiler 19. Der andere Teil des Laserstrahls
hinter dem Strahlteiler 13 wird durch einen optischen
Modulator 24 zerhackt, um die Führungsspur 1 in gewünschter
Weise zu unterbrechen. Der linear polarisierte Laserstrahl,
der durch den optischen Modulator 24 gelaufen ist, wird
am Polarisationsstrahlteiler 19 reflektiert. Die beiden
von dem Polarisationsstrahlteiler 19 ausgehenden Laserstrahlen
schließen einen kleinen Winkel untereinander ein.
Diese Laserstrahlen laufen durch eine Collimatorlinse 20 und
werden dann auf die Photowiderstandsschicht der Glasscheibe
23 mittels einer Fokussierungslinse 22 fokussiert. Die Bezugszeichen
16, 18 und 21 bezeichnen Reflektionsspiegel.
Angenommen, der Spurabstand ist gleich 1,6 μm und die Fokussierungslinse
22 hat eine numerische Appertur von 0,9.
Um eine Vorlaufvertiefung 2 in einem im wesentlichen zentralen
Bereich eines Stegs auszubilden, ist es notwendig,
den Winkel zwischen den beiden Laserstrahlen, die auf
die Fokussierungslinse 22 fallen, nahezu 0,02° zu wählen.
Dieser Winkel wird dadurch gebildet, daß der vom optischen
Modulator 24 ausgehende Laserstrahl durch ein Prisma 25
umgelenkt wird. Wenn der Einfallswinkel des Laserstrahls
vom optischen Modulator 17 auf die Fokussierungslinse 22
und der Vergrößerungsfaktor der Linse 20 bekannt sind,
kann der Apexwinkel des Prismas 25 bestimmt werden, um
den obengenannten Winkel zwischen den beiden Laserstrahlen
zu erhalten. Auf diese Weise kann ein stabiler optischer
Weg leicht bestimmt werden.
Obenstehend wurde die optische Konstruktion dieser Ausführungsform
erläutert. Im folgenden wird der elektrische Aufbau
dieser Ausführung erklärt.
Nach Fig. 7 ist die Glasscheibe 23 über eine Motorwelle 83
mit einem Motor 81 verbunden und dreht sich auf einer Drehachse
80. Ferner ist ein Winkeldekodierer 82 auf der Achse
des Motors 81 angebracht. Die Ausgangswerte des Winkeldekodierers
82 sind an eine Umdrehungssteuerungsschaltung 93
geschaltet, in der das Ausgangssignal des Winkeldekodierers
82 mit einem Rotationsbezugssignal 92 verglichen wird, um
dem Motor 81 ein Steuersignal zu liefern, wodurch der Motor
81 mit dem Bezugssignal 92 synchronisiert wird. Dieses
Bezugssignal 92 wird später näher erläutert.
Die Glasscheibe 23 und der Motor 81 sind auf einer verschiebbaren
Basis angeordnet, die mit einem Vorschubmotor 87 über eine
Vorschubschraube 86 verbunden ist. Ein weiterer Winkeldekodierer
88 ist am Vorschubmotor 87 angebracht und die Ausgangswerte
dieses Winkeldekodierers 88 sind an eine Steuerschaltung 89
angelegt, wo sie mit einem Vorschubsbezugssignal 90 verglichen
werden. Der Vorschubmotor 87 wird auf der Grundlage des Ergebnisses
des oben erläuterten Vergleichs gesteuert. Das Rotationsbezugssignal
92 und das Vorschubsbezugssignal 90 werden
so eingestellt, daß der Abstand zwichen den Führungsspuren
konstant gehalten wird.
Um die Lage der verschiebbaren Basis 84 feststellen zu können,
ist ein Skalenorgan an dieser befestigt, das ein Positionssignal
91 abgibt, das die Lage des Skalenorgans angibt.
Das Positionssignal 91 wird an eine Leistungssteuerschaltung
95 angeschlossen, die ein Signal zum Steuern für das Aufzeichnen
notwendigen Laserleistung in Abhängigkeit vom Radius zwischen
dem Punkt, auf dem der Laserstrahl auf die Glasscheibe 23
auftrifft und der Mittenachse der Scheibe 23, generiert.
Die Leistungssteuerschaltung 95 wird ebenfalls mit einem
Bezugszeittaktsignal von einem Oszillator 94 beaufschlagt
und das Ausgangssignal der Leistungssteuerschaltung 95
steuert den Modulator 12, so daß der Laserstrahl, der vom
Laser 11 emittiert wird, eine für das Aufzeichnen geeignete
Intensität aufweist. Das Positionssignal 91 wird ebenfalls
an eine Schaltung zur Erzeugung eines Bezugssignal angelegt,
die Bezugssignale 90 und 92 mit Hilfe des Bezugstaktsignals
erzeugt. Die Bezugssignalerzeugungsschaltung 96 generiert
ebenfalls ein Adressensignal 97, das eine Spurnummer und
eine Sektornummer umfaßt, auf der Grundlage des Positionssignals
91 und des Bezugszeittaktsignals.
Das Adressensignal 97 und das Bezugszeittaktsignal werden
zusammen an eine Modulationsschaltung 98 angelegt, die ein
Signal zum Bestimmen eines Vertiefungsmusters auf der Führungsspur
bestimmt. Dieses Signal wird über eine Verzögerungsschaltung
100 an eine Steuerschaltung 101 angelegt,
die den optischen Modulator 24 betätigt. Somit tritt aus dem
optischen Modulator 24 ein modulierter, eine Führungsspur
bildender Laserstrahl 104 aus.
Das Adressensignal 97 und das Bezugszeittaktsignal werden
ebenfalls an eine weitere Modulationsschaltung 99 angelegt,
die ein Signal zum Bestimmen eines Vertiefungsmusters auf
dem Steg zwischen benachbarten Führungsspuren erzeugt.
Dieses Signal wird über eine weitere Verzögerungsschaltung
102 an eine weitere Steuerschaltung 103 angelegt, die
den optischen Modulator 17 steuert. Somit tritt aus dem
optischen Modulator 17 ein modulierter Laserstrahl 105 aus,
der den Steg schneidet. Die Verzögerungsschaltungen 100 und
102 werden verwendet, um den Laserstrahl 104, der die
Führungsspur erzeugt und den Laserstrahl 105, der den
Steg schneidet, aneinander anzupassen. Genauer gesagt, jeder
der beiden Modulatoren 17 und 24 kann ein Modulator sein,
der den elektrooptischen Effekt ausnutzt oder ein Modulator,
der den akusto-optischen Effekt verwendet. In beiden Fällen
ist eine Zeitverzögerung bei jeder optischen Modulation unvermeidbar
und darüberhinaus sind die optischen Modulatoren
17 und 24 bezüglich der Zeitverzögerung verschieden voneinander.
Die Verzögerungsschaltungen 100 und 102 sind somit unverzichtbar,
um die Laserstrahlen 104 und 105 aneinander
anzupassen. Es sei im folgenden angenommen, das in Fig. 5c
gezeigte Vertiefungsmuster werde in eine Master-Platte geschnitten
und das in Fig. 6b gezeigte Vertiefungsmuster
werde in eine andere Master-Platte geschnitten. Um das Vertiefungsmuster
gemäß Fig. 5c zu schneiden, ist es notwendig,
daß die Laserstrahlen 104 und 105 die in den Intensitätsdiagrammen
der Fig. 8a und 8b gezeigten Intensitäten
haben. Ferner, um das Vertiefungsmuster der Fig. 6b zu erzeugen,
ist es notwendig, daß die Laserstrahlen 104 und 105
die Intensitäten haben, wie sie in den Fig. 9a und 9b
gezeigt sind. Die Fig. 8a und 8b zeigen den Intensitätsverlauf
vor und nach einer Umdrehung der Scheibe 23. In den
Fig. 8a, 8b, 9a und 9b entsprechen die einfach gestrichenen
Bezugszeichen (z.B. 2′, 10′, 58′, 59′, 76′, 77′) den Bezugszeichen
ohne Strich in den Fig. 5c und 6b (z.B. 2, 10, 58,
28, 76, 77) und eine doppelt gestrichene Bezugsziffer (d.h. 1″)
entspricht dem Bezugszeichen 1 in den Fig. 5c und 6b. Der
Puls 10′, der der Markierung 10 entspricht, erscheint bei
jeder weiteren Umdrehung. Um das Vertiefungsmuster zu wobbeln
oder um die Führungsspur, wie in den Fig. 3a bis 3c gezeigt,
zu wobbeln ist es erforderlich, eine optische Umlenkeinrichtung
in einem der beiden optischen Wege, die in Fig. 7
gezeigt sind, vorzusehen oder den akusto-optischen Modulator
17 oder 24 zu veranlassen, als ein optischer Modulator und
als ein optische Umlenkeinrichtung zu arbeiten. In diesem
Fall wird ein Umlenksignal aus dem Adressensignal 97 gebildet
und das Bezugszeittaktsignal steuert die oben erwähnte optische
Umlenkeinrichtung über eine Verzögerungsschaltung, um das
Umlenken mit der Intensitätsmodulation des Laserstrahls in
Übereinstimmung zu bringen. Die Photowiderstandschicht auf
der Scheibe 23, die den Laserstrahlen der Schneidevorrichtung
gemäß Fig. 7 ausgesetzt ist, wird entwickelt, um die der
Strahlung ausgesetzten Teile zu entfernen, wodurch eine
Führungsspur, Vorläufervertiefungen und Vertiefungsmuster
zum Erfassen der Abweichung des Lichtflecks von der Spur
gebildet werden. Damit ist die Master-Platte vollständig
hergestellt. Die Masterplatte wird einer Bearbeitung unterzogen,
bei der ihre Oberfläche leitend gemacht wird und
anschließend elektrisch vernickelt, um eine Matrize zu
bilden. Eine große Anzahl scheibenförmiger Substrate mit
den oben erwähnten Führungsspuren, Vorläufervertiefungen
und Vertiefungsmustern können von der Matrize ausgehend
durch Vervielfältigungstechniken hergestellt werden.
Jedes Substrat wird mit einer entsprechenden Aufzeichnungsschicht
je nach Aufzeichnungsmethode beschichtet, um einen
Aufzeichnungsträger zu bilden.
Fig. 10 zeigt eine Ausführungsform einer optischen Plattenvorrichtung,
mit der das Aufzeichnen, das Wiedergeben und das
Löschen einer magneto- optischen Platte (bzw. eines Aufzeichnungsträgers)
durchgeführt werden kann. Fig. 10 zeigt
einen von einem Halbleiterlaser 31 emittierten Laserstrahl, der
auf eine Collimatorlinse 32 gerichtet ist, so daß der durch
parallele Lichtstrahlen gebildete Laserstrahl aus der Linse 32
austritt. Der Laserstrahl von der Linse 32 wird durch ein
Dreiecksprisma 33 umgelenkt, so daß er einen kreisförmigen
Querschnitt hat und verläuft anschließend durch einen Strahlteiler
34, um anschließend auf einen Spiegel 38 zu treffen.
Der vom Spiegel 38 reflektierte Laserstrahl wird auf die
Aufzeichnungsschicht der Platte 30 mittels einer Linse 35
fokussiert. Eine elektromagnetische Spule 49 zum Erzeugen
eines für das Aufzeichnen und Löschen erforderlichen magnetischen
Feldes ist so angeordnet, daß die Scheibe 30 zwischen
der Linse 35 und der Spule 49 angeordnet ist. Der
von der Scheibe 30 zurückreflektierte Strahl wird vom
Strahlteiler 34 reflektiert und trifft dann auf den Strahlteiler
36. Der vom Strahlteiler 36 reflektierte Laserstrahl
passiert einen Analysator 37 und wird anschließend an einem
Spiegel M 1 reflektiert. Der vom Spiegel M 1 ausgehende Laserstrahl
trifft durch eine Linse L 1 auf einen Photodetektor 39,
wodurch Information über die Magnetisierung und ein Vorlaufsignal
erfaßt werden kann. Währenddessen wird der Laserstrahl,
der den Strahlteiler 36 durchquert hat, in ein
optisches System 40 geführt, zum Erhalten von Steuersignalen,
die für das automatische Fokussieren und die Spurfolgesteuerung
erforderlich sind. Z.B. der vom Strahlteiler
36 ausgehende Laserstrahl wird durch den Strahlteiler 41
in zwei Teile aufgespalten, von denen einer durch eine
Linse 48 verläuft und anschließend einen Photodetektor
42 beaufschlagt, der zwei Sensoren aufweist zum Erfassen
der Ablenkung des Lichtflecks von einer Spur und wobei
der andere Teil des Laserstrahls durch ein automatisches
optisches System läuft, das aus einer sphärischen Linse
44 und einer Zylinderlise 45 besteht. Dieser Teil wird
anschließend am Spiegel 46 reflektiert. Der vom Spiegel 46
ausgehende Laserstrahl wird teilweise durch eine Messerschneide
47 unterbrochen und trifft dann auf einen Photodetektor
43, der die Defokussierung erfaßt. Ein System zum
Erfassen der Defokussierung ist aus der US-PS 44 50 547 bekannt.
Die oben erwähnten optischen Teile ergeben einen
optischen Kopf und dieser Kopf kann als Ganzes oder zumindest
teilweise in Radialrichtung der Scheibe 30 bewegt
werden. Es sind bereits viele Verfahren zum Erfassen der
Defokussierung vorgeschlagen worden und alle diese Verfahren
sind bei einer erfindungsgemäßen Platte (bzw. einem erfindungsgemäßen
Aufnahmeträger) anwendbar.
Im folgenden wird erläutert, wie ein Spurfolge-Fehlersignal
erhalten wird, das vom Verkippen der Scheibe oder der Bewegung
des Lichtflecks unabhängig ist, aus den Vertiefungsmustern,
die bei den Ausführungsformen eines erfindungsgemäßen
Aufzeichnungsträgers verwendet werden.
Bei der Ausführung gemäß Fig. 2 wird die Vertiefung 5 mittels
eines Heterodynverfahrens erfaßt. Diese Erfindungsmethode
ist detailliert in der japanischen Patentanmeldung N⁰ 58-203636
beschrieben und lediglich das die vorliegende Erfindung betreffende
Verfahren wird im folgenden erläutert. Der Photodetektor
42 weist vier Sensoren auf, die bezüglich der
Spurrichtung, wie in Fig. 11 gezeigt, angeordnet sind.
Die Ausgabesignale zweier Sensoren auf einer Diagonalen
werden an einen Addierer 110 angelegt, um die Summe der
oben genannten Ausgabesignale zu bilden. Auf gleiche Weise
wird die Summe der Ausgabesignale der beiden Sensoren auf
der anderen Diagonale mit Hilfe des Addierers 111 gebildet.
Die Ausgabewerte der Addierer 110 und 111 werden an Vergleicher
112 und 113 angelegt und digitalisiert. Die
Ausgangssignale der Vergleicher 112 und 113 werden an Integrierschaltungen
114 und 116 angelegt. In jeder Integrierschaltung
beginnt die Integration mit einer vorbestimmten
Zeitkonstante, wenn ein Eingangssignal an den ST-Terminal
angelegt wird. Wenn ein Eingangssignal an einen SP-Terminal
angelegt wird, wird die Integration angehalten und der
integrierte Wert wird festgehalten. Die Integrationsschaltungen
114 und 116 liefern eine analoge Größe, die proportional
zur Differenz der Zeitpunkte des Integrationsbeginns
oder den Integrationsendes zwischen den Vergleichern 112
und 113 ist. Die Differenz zwischen den Ausgabewerten der
Integrationsschaltung 113 und 116 wird durch eine Differenzierschaltung
117 erhalten, und wird als Spurfolge-Fehlersignal
118 verwendet, das schrittweise erhalten wird.
Ferner wird die Summe der Ausgangssignale des Sensorpaars,
das symmetrisch bezüglich der Richtung der Spur ist, durch
einen Addierer 119 erhalten und die Summe der Ausgangssignale
des anderen Sensorpaares, das symmetrisch bezüglich
der Richtung der Spur ist, wird durch einen Addierer 120
erhalten. Die Ausgangssignale der Addierer 119 und 120 werden
an einen Differenzverstärker 121 angelegt, dessen Ausgangssignal
als Spurfolge-Fehlersignal 122 verwendet wird,
das auf dem gestreuten Licht basiert.
Im folgenden wird der Fall erläutert, in dem das Spurfolge-
Fehlersignal durch das vorgewobbelte Vertiefungsmuster erhalten
wird, das in Fig. 3a gezeigt ist oder durch die vorgewobbelte
Führungsspur, gemäß Fig. 3b. In diesem Fall weist der Photodetektor
42, wie in Fig. 12 gezeigt, ein Sensorpaar 131-1
und 131-2 auf, die beiden symmetrisch bezüglich der Richtung
der Spur ausgerichtet sind. Die Summe der Ausgangssignale
der beiden Sensoren 131-1 und 131-2 wird durch einen Addierer
130 erhalten und an eine Zeittaktsignalerzeugungsschaltung
132 und an sample- and-hold-Schaltungen 133 und 134 angelegt.
Mit der Zeittakterzeugungsschaltung 132 wird eine synchronisierende
Vertiefung im Vorlauffeld erfaßt und das so erhaltene
Synchronisiersignal wird dazu verwendet, ein Zeittaktsignal
zu bilden, das notwendig ist, um ein Signal von den gewobbelten
Vertiefungen 6 und 7 zu erhalten. Das oben erwähnte Zeittaktsignal
wird an die sample-and-hold-Schaltung 133 und 134
angelegt und die Ausgangssignale dieser Schaltung werden
an einen Differenzverstärker 135 angelegt, dessen Ausgangssignal
als Spurfolge-Fehlersignal 118 verwendet wird.
Die oben erwähnte Synchronisierungsvertiefung kann ersetzt
werden durch die Sektormarkierung, gemäß der japanischen
Patentanmeldung Nr. 58-169337 oder der SYNC-Markierung, die
in der japanischen Patentanmeldung Nr. 58-169341 offenbart
ist. Schließlich kann die synchronisierende Vertiefung ersetzt
werden durch ein bei Kompact-Disks verwendetes Langloch.
Wenn die gewobbelten Führungsspuren gemäß Fig. 3c verwendet
werden, ist es notwendig, daß das Zeittaktsignal von der
Zeittaktsignalgeneratorschaltung 132 nicht innerhalb eines
Sektors vervollständigt wird, sondern für eine Dauer, die
zwei Sektoren entspricht, anhält, um eine der sample-and-
hold-Schaltungen 133 und 134 zu steuern, wenn der Lichtfleck
beide Sektoren passiert hat.
Bei den in den Fig. 4a bis 4d und 5a gezeigten Vertiefungsmustern
ist die Polarität des durchgeführten Wobbelns in
Abständen eines Sektors umgekehrt und eine Polarisierungsmarkierung
10 ist auf einem Steg angeordnet. Dementsprechend
werden, wenn die Markierung 10 durch die Zeittaktsignalerzeugungsschaltung
132 erfaßt wird, die an die sample- and-
hold-Schaltungen 133 und 134 angelegten Abtastpulse ausgetauscht.
Somit wird ein stabiles Spurfolge-Fehlersignal
von zwei aufeinanderfolgenden Sektoren erhalten.
Wenn die Vertiefungsmuster gemäß den Fig. 5b bis 5d verwendet
werden, werden die sample-and-hold-Schaltungen 133
und 134 so gesteuert, daß die Signalpegel, die den jeweiligen
Mittenbereichen der Vertiefungsgruppen A und B entsprechen
oder die Signalpegel, die den jeweiligen Mittenbereichen
der Vertiefungsgruppen C oder D entsprechen, von den Schaltungen
133 und 134 geliefert werden.
Ferner kann folgendes Kurvenformverarbeitungsverfahren
verwendet werden. Angenommen ein Lichtfleck bewegt sich in
Richtung einer Spur und läuft durch Vertiefungsmuster, wie
sie in Fig. 5c gezeigt sind. Wenn der Lichtfleck von der
Mittellinie 8 nach oben oder unten zwischen benachbarten
Führungsspuren abweicht, ergeben sich die in Fig. 13 gezeigten
Kurvenformen. Das heißt, wenn der Lichtfleck auf
der Mittellinie 8 wandert, wird eine Kurvenform erhalten,
die durch die ausgezogene Linie in Fig. 13 dargestellt
ist. Wenn der Lichtfleck jedoch nach oben von der Mittellinie
8 abweicht, wird eine Signalkurvenform erhalten, die
durch die gestrichpunktete Linie in Fig. 13 angedeutet ist.
Wenn der Lichtfleck ferner nach unten von der Mittelinie 8
abweicht, ergibt sich eine Kurvenform, die durch die gestrichene
Linie in Fig. 13 beschrieben ist. Mit anderen
Worten, wenn der Lichtfleck nach oben oder unten von der
Mittellinie 8 abweicht, unterscheidet sich das vom Lichtfleck
benötigte Zeitintervall um eine Vertiefungsgruppe C zu durchqueren,
von dem Zeitintervall, das notwendig ist, damit der
Lichtfleck die Vertiefungsgruppe D durchquert. Die Differenz
zwischen den beiden Zeitintervallen kann derart festgestellt
werden, daß die in Fig. 13 gezeigten Kurvenformen durch
Begrenzen der Signalkurvenformen nach Fig. 13 auf einen
Signalpegel werden oder die führenden oder fallenden Kanten
der Signalkurven aus Fig. 13 werden erfaßt dadurch, daß die
Signalkurvenformen differenziert werden. Wenn die Differenz
zwischen den oben erwähnten Zeitintervallen auf der Grundlage
der führenden und fallenden Kanten in einer der Kurvenformen
detektiert worden ist, wird die Differenz nicht durch eine
elektrische Abweichung oder einer Änderung in der Intensität
des Lichtflecks beeinträchtigt. Die führenden und fallenden
Kanten in der Signalkurvenform können so erfaßt werden, daß
die Signalkurvenform durch eine Verzögerungsschaltung geschickt
wird und die Differenz zwischen dem Eingangs- und
dem Ausgangssignal der Verzögerungsschaltung ausgegeben wird.
Die Differenz zwischen den Zeitintervallen, die der Lichtfleck
benötigt, um die Vertiefungsgruppen C und D zu durchqueren
kann in ein Spurfolge-Fehlersignal umgewandelt werden,
in dem Integrationsschaltungen und Differenzverstärker,
wie in Fig. 11 gezeigt, verwendet werden. In diesem Fall
wird der ST-Terminal einer solchen Integrationsschaltung
mit einem Signal beaufschlagt, das die fallende Signalkante
angibt und der SP-Terminal wird mit einem Signal beaufschlagt,
das die führende Kante angibt. Die gesamte Schaltungsanordnung
zur Erzeugung des Spurfolge-Fehlersignals
ist in Fig. 14 dargestellt. Wie sich aus Fig. 14 ergibt,
wird die Summe aus den Ausgangssignalen der Sensoren 131-1
und 131-2 an eine Zeittaktsignalerzeugungsschaltung 132′
engelegt, die sowohl eine Polaritätserfassungsschaltung 140
zum Erfassen der Polarität der Identifikationsmarkierung
10 und zum Erzeugen eines Polaritätsumkehrsignals und
eine Kantenerfassungsschaltung 141 zum Erzeugen eines Signals,
das die oben erwähnten führenden und fallenden Kanten
angibt, aufweist. Die Kantenerfassungsschaltung 141 liefert
führende und fallende Kanten, die der Vertiefungsgruppe A
(oder C) entsprechend an eine Integrationsschaltung 142, und
liefert führende und fallende Kanten, die der Vertiefungsgruppe
B (oder D) entsprechen an eine Integrationsschaltung
143. Die Ausgabewerte der Integrationsschaltungen 142 und
143 werden an eine Polaritätsumkehrschaltung 144 angelegt,
wo deren Polarität umgekehrt wird in Abhängigkeit vom Zustand
des Ausgangssignals der Polaritätserfassungsschaltung
140. Ausgangswerte der Polaritätsumkehrschaltung 144 werden
an einen Differenzverstärker 135 angelegt, dessen Ausgangssignal
als Spurfolge-Fehlersignal 118 verwendet wird.
Im folgenden wird ein Steuersystem erläutert, das die Spurfolge-
Fehlersignale 118 und 122 verwendet, die auf die
oben beschriebene Art erhalten werden. Dieses Spurfolge-
Fehlererfassungssystem kann wie in Fig. 15 gezeigt, zusammengefaßt
dargestellt werden. Wie in Fig. 15 gezeigt, ist
ein Signal vom Photodetektor 42 an eine Abtast- und Erfassungschaltung
180 zur Erzeugung des fehlerlosen Spurfolge-Fehlererfassungssignals
118, an eine Zeittaktsignalerzeugungsschaltung
170 und eine Schaltung 160 zum Erfassen gestreuten Lichts,
die das Spurfolge-Fehlersignal 122, das auf dem gestreuten
Licht basiert, erzeugt, angelegt. Die Zeittaktsignalerzeugungsschaltung
170 erzeugt Steuersignale für die Zeittakterzeugungsschaltung
132 und 132′, für die sample-and-hold-Schaltung
150 zum Abtasten und Festhalten des fehlerlosen Spurfolge-
Fehlersignals 118 und für die sample-and-hold-Schaltung
151, zum Abtasten und Festhalten des Spurfolge-Fehlersignals
122, das auf der Grundlage des gestreuten Lichts gewonnen
wird. Das fehlerlose Spurfolge-Fehlersignal 118 wird zu
einem Zeitpunkt abgetastet, an dem der Signalwert festgelegt
ist und der abgetastete Wert wird bis zur nächsten
Abtastzeit festgehalten. Somit wird eine Signal 152 von
der Schaltung 150 geliefert. Bei dem Vertiefungsmuster
gemäß Fig. 2 wird der Signalwert 118 zu einem Zeitpunkt
erzeugt, der direkt auf den Moment folgt, in dem der Lichtfleck
die Vertiefung 5 passiert hat. Bei den Vertiefungsmustern
gemäß der Fig. 3a bis 3c, 4a bis 4d und 5a wird
der Signalwert 118 zu einem Zeitpunkt etabliert, an dem der
Lichtfleck die vorgewobbelten oder effektiv gewobbelten
Vertiefungsgruppen durchquert hat. Bei den Vertiefungsmustern,
wie sie in den Fig. 5b bis 5d gezeigt sind,
wird der Signalwert 118 zu einem Zeitpunkt erzeugt, an
dem der Lichtfleck gerade die Vertiefungsgruppe B oder D
durchquert hat. Das Spurfolge-Fehlersignal 122 wird zu
einem Zeitpunkt abgetastet, bevor die Führungsspur unterbrochen
wird und der abgetastete Wert des Signals 122 wird
solange festgehalten, bis die Führungsspur wieder erscheint.
Das Signal 153 wird daher von der sample- and-hold-Schaltung
151 geliefert. Wenn die Führungsspur kontinuierlich ausgebildet
ist, ist es erwünscht, den Wert des Signals 122 an
einer Stelle zu halten, die vor dem Bereich liegt, an der
das fehlerfreie Spurfolge-Fehlersignal 118 erfaßt wird.
Im folgenden wird das Umlenkspiegel-Steuersystem, d.h. das
System zum Steuern des Spurfolge-Stellglieds erläutert.
Wie Fig. 10 zeigt, wird ein Ausgangssignal 153 der sample-
and-hold-Schaltung 155 und ein Ausgangssignal 152 der
sample- and-hold-Schaltung 150 an einen Addierer 156
über Phasenkompensationsschaltungen 155 bzw. 154 angelegt,
um die Ausgangssignale 152 und 153 zu kombinieren. Im folgenden
werden die Transferfunktionen auf der Seite der sample-
and-hold-Schaltung 151 und auf der Seite der sample- and-
hold-Schaltung 150 durch G 1 und G 2 bezeichnet. Der Verstärkungsfaktor
bei niedrigen Frequenzen der Transferfunktion
G 2 , die eine niederfrequente Komponente hat, ist so gewählt,
daß er 20 bis 40 db größer als der Verstärkerfaktor der
Transferfunktion G 1 für das Spurfolge-Fehlersignal 122,
das auf dem gestreuten Licht passiert, ist, wie in Fig. 16
gezeigt. Vorzugsweise werden die Transferfunktionen G 1 und G 2
bei einer Frequenz zwischen 100 und 200 Hz einander angeglichen.
Das so von dem Addierglied 156 erhaltene Spurfolgesignal
wird an eine Spiegelsteuerschaltung 155 angelegt,
um den Umlenkspiegel 38 zu steuern, wodurch eine Spurverfolgung
durchgeführt wird. Wenn die Transfercharakteristik,
die in Fig. 16 gezeigt ist, gewählt wird, wird die elektrische
Abweichung, aufgrund eines Verkippens der Scheibe oder
aus anderen Gründen, korrigiert und eine stabile Spurverfolgung
kann durchgeführt werden, da der Verstärkungsfaktor
bei niedrigen Frequenzen des Erfassungssystems hoch ausgelegt
ist. Bei der Vorrichtung gemäß Fig. 10 wird die Spurverfolgung
auf der Grundlage der Auslenkung des Spiegels 38
durchgeführt. Die Spurverfolgung ist jedoch nicht auf solch
ein Verfahren beschränkt, sondern kann auch auf der Grundlage
einer Vibration der Objektivlinse 35 erfolgen.
Im folgenden wird eine weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen
Aufzeichnungs-Wiedergabevorrichtung mit Bezugnahme
auf Fig. 17 erläutert.
Die Spurverfolgung kann mittels eines Zweistufenservosystems,
wie z.B. in der japanischen Patentanmeldung Nr. 58-91536 und
der US-Patentanmeldung Nr. 736 165 beschrieben ist, erfolgen.
Bei dem Zweistufenservosystem wird der ganze optische Kopf
durch ein Grob-Regelsystem bewegt und die Umlenkung des
Spiegels oder die Vibration einer Linse wird durch ein
Fein-Regelsystem bewirkt. Die in Fig. 17 gezeigte Ausführungsform
verwendet ein solches zweistufiges Servosystem. Das
heißt, ein lineares Stellglied 210 ermöglicht den schnellen
Zugriff des gesamten optischen Kopfes 200 zu einer
vorbestimmten Spur in Radialrichtung und die Abweichung wird
durch eine niederfrequente Komponente des Spurfolgesignals
korrigiert. In Fig. 17 werden gleiche Bezugszeichen wie
in den Fig. 10 und 15 für gleiche optische oder elektrische
Bauelemente verwendet. Auf die Erläuterung der den
Fig. 10, 15 und 17 gemeinsamen Bauelemente wird verzichtet.
Nach Fig. 17 basiert das Spurfolge-Fehlersignal
153 auf dem Streulicht und wird von der sample- and-hold-
Schaltung 151 geliefert, läuft durch die Phasenkompensationsschaltung
155 und wird dann an die Steuerschaltung 157 angelegt,
um den Spiegel 38 (oder die Linse 35), die im optischen
Kopf 200 angeordnet sind, zu steuern. Das fehlerfreie Spurfolge-
Fehlersignal 152 läuft durch die Phasenkompensationsschaltung
154 und wird dann an die lineare Stellgliedsteuerschaltung
211 angelegt, um das lineare Stellglied 210 zu
steuern. Somit ist das zweistufige Servosystem gebildet.
Wenn die Transferfunktionen G 1 des Spiegel- oder Linsen-
Steuersystems und die Transferfunktion G 2 des Steuersystems
für lineare Stellglied wie in Fig. 16 gezeigt, gewählt sind,
ist der Verstärkungsfaktor bei niedriger Frequenzen hoch
und eine stabile Spurverfolgung kann durchgeführt werden.
Im folgenden wird der Betrieb des Spurfolgesteuersystems
auf der Grundlage der in Fig. 10 gezeigten Ausführungsform
erläutert. Bei dieser Ausführungsform wird der Betrieb des
Steuersystems durch das Blockdiagramm gemäß Fig. 18 erläutert.
In Fig. 18 bedeuten G′ 1 und G′ 2 die Transferfunktionen des
elektrischen Systems zum Erfassen des Spurfolge-Fehlersignals,
G′ 2 die Transferfunktioneines elektrischen Systems für das
fehlerlose, Spurfolge-Fehlersignal, das abgetastet wurde
und G0 die Transferfunktion des Stellglieds.
Dementsprechend sind die Transferfunktionen G 1 und G 2 bei der
obigen Ausführungsform gegeben durch folgende Gleichungen:
Wenn eine Fehlerkomponente (d.h. eine Spurabweichung) aufgrund
einer Verkippung der Scheibe oder ähnlichem, der
Bewegung der Spur und der Bewegung des Lichtflecks durch
δ, x t und x s ausgedrückt werden, kann folgende Gleichung
erhalten werden:
wobei der erste Term auf der rechten Seite der Gleichung
die Regelcharakteristik eines gewöhnlichen Regelsystem
wiedergibt und der zweite Term einen Rest angibt, der
auf der Spurabweichung beruht, deren Ursache die Verkippung
der Platte oder ähnliches ist. Der zweite Term kann verkleinert
werden, indem der Wert von G 1 verkleinert wird.
Wenn jedoch der Wert von G 1 verkleinert wird, wird die Spurfolgekapazität
verringert. Dementsprechend ist es notwendig,
den zweiten Term klein zu halten, ohne den Wert von G 1
zu verringern.
Die Größe δ basiert auf der Verkippung der Scheibe, der
Bewegung des Lichtflecks oder ähnlichem und hat somit
nur Frequenzkomponenten in einem Frequenzbereich, der
einige Male größer ist als die Rotationsfrequenz der
Platte. Es ist dementsprechend notwendig, den zweiten Term
in dem oben erwähnten Frequenzbereich niedrig zu halten.
Wenn der Wert von G 2 kleiner oder gleich dem Wert von G 1
in diesem Frequenzbereich ist, ist es unmöglich, den zweiten
Term ausreichend klein zu halten. Mit anderen Worten,
Transferfunktion G 2 muß eine Frequenzcharakteristik haben,
wie sie in Fig. 16 gezeigt ist. Wenn die Größe
ausgedrückt wird durch die Formel
dann liegt die Größe G 3 in einem Bereich, der von den Verstärkungsfaktor-
Frequenzkurven der Transferfunktionen G 1 und
G 2 in Fig. 16 eingeschlossen ist. Die obere Grenze für
einen Frequenzbereich, in dem der zweite Term klein gehalten
werden kann, wird durch eine Frequenz gegeben, bei der die
oben erwähnten Verstärkungsfaktor-Frequenzkurven einander
schneiden. Diese Frequenz wird durch die Frequenzkomponente
der oben erwähnten Spurabweichung bestimmt.
Damit die Transferfunktion G 2 eine in Fig. 16 gezeigte Frequenzcharakteristik
hat, ist es notwendig, daß die Verstärkungsfaktor-
Frequenzkurve einen steilen Verlauf hat. Dementsprechend
ist es vorteilhaft, die Transferfunktion G′2
nahezu gleich der Transferfunktion eines sekundären Tiefpassfilters
zu machen, in dem die Abtastcharakteristik berücksichtigt
wird. Das Blockdiagramm gemäß Fig. 18, das
den Betrieb eines Steuersystems zeigt, ist nicht auf die
Ausführungsform gemäß Fig. 10 beschränkt, die nur ein
Stellglied aufweist, sondern ist auch bei der Ausführungsform
gemäß Fig. 17 anwendbar, die zwei Stellglieder aufweist.
In diesem Fall wird die Transferfunktion G 0 gleich 1
gesetzt und jede der Transferfunktionen G′1 und G′2 schließt
die Transferfunktion eines entsprechenden Schalters ein.
Im folgenden wird die Erfassung eines Spurfolge-Fehlersignals
von Vertiefungsmustern gemäß der Fig. 6a und 6b
durch die Erfassungsschaltung gemäß Fig. 19 mit Bezugnahme
auf Fig. 20 erläutert. Die in Fig. 19 gezeigte Erfassungsschaltung
ist ähnlich der Erfassungsschaltun gemäß Fig. 12,
unterscheidet sich davon jedoch dadurch, daß die Polaritätsmarkierung
10, die in dem Vertiefungsmuster oder an einer
Stelle direkt hinter dem Vorläuferfeld erfaßt wird und die
Polarität des Spurfolge-Fehlersignals 118 zum Beispiel durch
einen Analogschalter 136 umgekehrt wird. Die Polarität des
Spurfolge-Fehlersignals 118 wird in Abhängigkeit von der Anwesenheit
oder der Abwesenheit der Polaritätsmarkierung 10
oder der Zeitdauer eines durch die Polaritätmarkierung 10
hervorgerufenen Signals, umgekehrt. Ferner kann ein Signal
von dem letzten signifikanten Bit eines Adressenzählers,
der in der Zeittaktsignalerzeugungsschaltung 132 enthalten
ist, anstelle des Signals, das durch die Markierung 10
hervorgerufen wird, verwendet werden. Das Spurfolge-Fehlersignal
118, das mit Hilfe eines Vertiefungsmusters und dem
Spurfolge-Fehlersignal 122, das auf dem Streulicht von
der Führungsspur basiert, erhalten wird, passieren die Phasenkompensationsschaltungen
154 bzw. 155 und werden dann an
den Addierer 156 angelegt, um ein Spurfolgesignal für ein
geschlossenes Regelsystem zu bilden, wodurch eine Spurverfolgung
erfolgt. Fig. 20 zeigt Signalkurvenverläufe, die
an verschiedenen Stellen der oben erwähnten Erfassungsschaltung
auftreten, wenn eine Spur mit Vertiefungsmustern gemäß
der Fig. 6a und 6b mit einem Lichtfleck abgetastet wird.
In Fig. 20 ist eine Spurstruktur, die durch benachbarte
Führungsspuren definiert ist und die oben erwähnten Vertiefungsmuster
aufweist, in der ersten Zeile gezeigt und
die zweite Zeile zeigt ein Signal RD SIG, das aus der obigen
Spurstruktur ausgelesen wird. Ferner sind in der dritten und
vierten Zeile Zeittaktsignale SAMPLE PLS1 und SAMPLE PLS2
zum Erfassen zweiter Signalpegel des Auslesesignals RD SIG
gezeigt, die den Vertiefungsmustern entsprechen. Diese Zeittaktsignale
werden durch eine Zeittaktsignalerzeugungsschaltung
132 generiert. Wenn die oben erwähnten beiden
Pegel der Auslesesignale RD SIG durch das Zeittaktsignal
erfaßt werden, werden Signale OFFSET1 und ein Signal OFFSET2
gebildet, wie in der fünften bzw. sechsten Zeile gezeigt.
Diese Signale werden an einen Differenzverstärker 135 angelegt,
um ein Differenzsignal zu erhalten. Das Spurfolge-
Fehlersignal OFFSET, das die Abweichung des Lichtflecks von
der Spur anzeigt, wird gebildet, wie in der 7. Zeile dargestellt.
Ferner wird der Zustand der Polaritätsmarkierung
10 von dem Auslesesignal RD SIG durch einen Zeittaktpuls
TIMING PLS erfaßt, der in der 8. Zeile gezeigt ist und
durch die Zeittaktsignalerzeugungsschaltung 133 generiert
wird. Darauf wird die Polarisation des Spurfolge-Fehlersignals
OFFSET SIG umgekehrt, in Abhängigkeit des Zustandes
der Polaritätsmarkierung 10. Dann wird der Verstärkungsfaktor
für das Spurfolge-Fehlersignal OFFSET SIG eingestellt
und zu dem Spurfolge-Fehlersignal 122 addiert, das
auf dem Streulicht von der Führungsspur basiert. Es wird
also ein Spurfolgesignal TR gebildet, wie es in der 9. Zeile
von Fig. 20 gezeigt ist. Fig. 21 zeigt ein Regelsystem,
daß das oben ausgeführte Verfahren durchführen kann. In
Fig. 21 bezeichnet das Bezugszeichen X t die Bewegung der
Spur, X s die Bewegung des Lichtflecks, α die Spurabweichung,
K d die Erfassungsempfindlichkeit für das Spurfolge-Fehlersignal,
das auf den Vertiefungsmustern basiert, K w die
Erfassungsempfindlichkeit für das Spurfolge-Fehlersignal,
das auf dem Streulicht von der Führungsspur basiert, g 1
die Transferfunktion des Erfassungssystems für das Spurfolge-
Fehlersignal, das auf dem Streulicht von der Führungsspur
basiert, g 2 die Transferfunktion des Erfassungssystems
für das Spurfolge-Fehlersignal, das auf den
Vertiefungsmustern basiert und G 0 die Transferfunktion
eines Stellglieds (d.h. ein Stellglied für einen Galvano-
Spiegel oder ein Linsenstellglied). Das Verhältnis von
X t zu X s ist gegeben durch folgende Gleichung:
worin der erste Term auf der rechten Seite die Regelcharakteristik
eines gewöhnlichen Regelsystems angibt und der
zweite Term einen Rest, der durch die Spurabweichung verursacht
wird. Wenn das Regelsystem eine Transfercharakteristik
hat, wie in Fig. 16 gezeigt ist, dann ist der
Verstärkungsfaktor bei niedrigen Frequenzen der Transferfunktion
g 2 10 bis 40 db höher als der Verstärkungsfaktor
der Transferfunktion g 1. Entsprechend wird die Spurabweichung
korrigiert und ein stabiles Spurfolgen kann durchgeführt
werden.
Ein Aufzeichnungsträger kann erfindungsgemäß aus einer anderen
aufzeichenbaren optischen Platte bestehen, die eine
Aufzeichnungsschicht verwendet, in der reversible Phasentransformation
zwischen der amorphen und der kristallinen
Phase durchgeführt werden können.
Ferner kann ein Aufzeichnungsträger erfindungsgemäß aus einer
optischen Platte vom "Addiertyp" bestehen, bei der Löcher
in die Aufzeichnungsschicht auf der Basis eines Temperaturanstiegs
aufgrund von Lichtabsorption gebildet werden. In
diesem Fall wird ein hohes Signal zu Rauschenverhältnis
erzielt und es ist nicht möglich, eine hohe Aufzeichnungsdichte
auf der optischen Platte und eine Hochgeschwindigkeitswiedergabe
zu erzielen.
Ferner kann die Wahrscheinlichkeit von Erfassungsfehlern
zu dem Zeitpunkt reduziert werden, an dem fehlerfreie
Spurführungs-Fehler von einem Vertiefungsmuster erfaßt wird,
gesenkt werden, durch eine Anordnung einer Vielzahl von
Vertiefungsmustern, wobei die Vertiefungen dieselbe Form
haben. Bei dem Aufzeichnungsträger gemäß der Erfindung
kann jedes Vertiefungsmuster verwendet werden, das aus
einer Gruppe von Vertiefungen gebildet wird, die asymmetrisch
bezüglich der Mittellinie zwischen benachbarten Führungsspuren
angeordnet ist.
Ferner kann jede Kombination von Vertiefungsmustern, wie
in den Fig. 2, 3a bis 3c, 4a bis 4d, 5a bis 5d und
6a bis 6d gezeigt, bei dem erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger
verwendet werden.
Wie obenstehend erläutert wurde, kann die Abweichungskomponente
in einem Spurfolge-Signal korrigiert werden
und darüberhinaus der Verstärkungsfaktor bei niedrigen
Frequenzen eines Spurfolgesignalerfassungssystems erhöht
werden. Eine stabile Spurverfolgung kann somit durchgeführt
werden.
Ferner kann, wenn Vertiefungsmuster erfindungsgemäß in
einer optischen Platte ausgeführt werden, das Rauschen
aufgrund der optischen Platte auf ein niedriges Niveau
abgesenkt werden. Insbesondere wenn das Vertiefungsmuster
in einer abspielbaren optischen Platte eingeprägt ist,
von der aus ein reproduziertes Signal mit niedrigem
Signal-Rauschenverhältnis ausgelesen wird, wie z.B.
einer magneto-optischen Platte, kann das Signal-zu-
Rauschen-Verhältnis des reproduzierten Signals stark
verbessert werden.
Ferner kann die erfindungsgemäße Vorrichtung zum Schneiden
einer Master-Platte schnell und gleichmäßig eine Führungsspur,
eine Anfangsvertiefung und ein Vertiefungsmuster auf derselben
Spur der Master-Platte erstellen. Ein Aufzeichnungsträger,
der von dieser Master-Platte abgeformt ist, die
mit der oben erwähnten Schneidevorrichtung hergestellt
wurde, kann ein reproduziertes Signal erzeugen, das einen
3 db niedrigeren Rauschpegel aufweist, als das reproduzierte
Signal von einem konventionellen Aufzeichnungsträger, der
eine Anfangsvertiefung auf einer Führungsspur aufweist.
Ferner hat das von einem erfindungsgemäßen magneto-optischen
Aufzeichnungsträger reproduzierte Signal einen etwa 1 db
höheren Signalpegel als ein von einem konventionellen Aufzeichnungsträger
reproduziertes Signal.
Claims (20)
1. Aufzeichnungsträger mit einem scheibenförmigen Substrat
und einer Aufzeichnungsschicht (4) zum optische Einschreiben
von Information,
gekennzeichnet durch
eine Führungsspur (1), die in Drehrichtung des Aufzeichnungsträgers
so angeordnet ist, daß bei mehreren Umdrehungen
die Führungsspuren in Radialrichtung voneinander beabstandet
sind und durch Vertiefungsmuster (5, 6, 7, 9,
50 bis 72, 75 bis 77), die zwischen den Führungsspuren
an Orten angeordnet sind, die in Intervallen in Drehrichtung
positioniert sind, zum Erfassen der Abweichung
eines Lichtflecks von der Mittenlinie (8) zwischen benachbarten
Führungsspuren.
2. Aufzeichnungsträger nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
jede Umdrehung der Führungsspur in mehrere Sektoren
unterteilt ist, wobei jeder Sektor ein Vorlauffeld
aufweist, in dem ein Anfangssignal, das Adresseninformation
zur Identifizierung des Sektors enthält, die
vorherig zwischen benachbarten Führungsspuren in Form
von Vertiefungen (2), die jeweils eine Phasenstruktur
haben, angebracht ist und dadurch, daß jeder Sektor
ein Aufzeichnungsfeld aufweist, das dem Vorlauffeld
folgt und wobei Vertiefungsmuster im Vorlauffeld angeordnet
sind, die eine Phasenstruktur aufweisen.
3. Aufzeichnungsträger nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Führungsspur in Drehrichtung des Aufzeichnungsträgers
in Intervallen unterbrochen ist und daß das Vertiefungsmuster
aus einer Vertiefung (5) besteht, die eine Phasenstruktur
aufweist und auf der Mittenlinie (8) zwischen benachbarten
Führungsspuren in dem Bereich angeordnet ist,
in dem die Führungsspur unterbrochen ist.
4. Aufzeichnungsträger nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Vertiefungsmuster durch Wobbeln der Führungsspur (1)
um einen vorbestimmten Betrag erstellt sind.
5. Aufzeichnungsträger nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Vertiefungsmuster erste Vertiefungen (9; 50, 53; 55,
56; 58, 60, 61, 63; 64, 66, 67, 69, 70, 72) aufweist, die in ihren
optischen Eigenschaften sich von den Führungsspuren (1)
unterscheiden und auf jeweiligen Mittenlinien benachbarter
Führungsspuren angeordnet sind, derart, daß sie
in Radialrichtung gesehen sich nicht überlappen.
6. Aufzeichnungsträger nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Vertiefungsmuster ferner zweite Vertiefungen (51, 52;
54, 57; 59, 62; 65, 68, 71) aufweist, die sich in ihren
optischen Eigenschaften von der Führungsspur (1) unterscheiden
und auf der Mittenlinie (8) zwischen benachbarten
Führungsspuren in einem Bereich zwischen den ersten Vertiefungen
angebracht sind.
7. Aufzeichnungsträger nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß
eine Vertiefungsgruppe (A, B, C, D) aus den ersten Vertiefungen
gebildet ist und die zweite Vertiefung asymmetrisch
bezüglich der Mittenlinie (8) zwischen benachbarten
Führungsspuren angeordnet liegt.
8. Aufzeichnungsträger nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
eine Vertiefung (10) zur Identifikation des Vertiefungsmustern
zusammen mit dem Vertiefungsmuster auf jeder,
Spur angeordnet ist.
9. Vorrichtung zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Information
auf einem Aufzeichnungsträger nach einem der Ansprüche
1 bis 8,
gekennzeichnet durch
einen optischen Kopf (31 - 47, M1, L1; 210) zur Bestrahlung
des Aufzeichnungsträgers (30) mit einem Lichtfleck, wobei
der optische Kopf in Radialrichtung des Aufzeichnungsträgers
beweglich ist,
erste Erfassungsmittel (121) zur Erfassung eines ersten
Spurfolge-Fehlersignals (122), das auf dem Streulicht aus
der Führungsspur (1) basiert,
zweite Erfassungsmittel (130, 132, 133, 134, 135) zur
Erfassung eines zweiten Spurfolge-Fehlersignals (118)
durch eine Abtastung des Vertiefungsmusters und
Spurfolgesteuervorrichtung (150, 151, 154, 155, 157,
211, 38, 210) zum Steuerung der Lage des Lichtflecks auf
dem Aufzeichnungsträger unter Verwendung der ersten und
zweiten Spurfolge-Fehlersignale, derart, daß ein zwischen
benachbarten Führungsspuren gebildeter Steg mit dem
Lichtfleck abgetastet wird.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß
das zweite Erfassungsmittel eine Vorrichtung (136) zum
Invertieren der Polarität des zweiten Spurfolge-Fehlersignals
auf jeder Spur aufweist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß
eine Vertiefung (10), die dem Vertiefungsmuster entspricht
und zur Identifizierung des Vertiefungsmusters
dient auf jeder weiteren Spur des Aufzeichnungsträgers
vorgesehen ist und die Polaritätsinversionsvorrichtung
(136) durch ein Signal gesteuert wird, das durch diese
Vertiefung zur Identifikation des Vertiefungsmusters
erhalten wird.
12. Vorrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die
Spurfolge-Steuervorrichtung Mittel (154, 155, 156) aufweist,
die mit den ersten und zweiten Spurfolge-Fehlersignalen
beaufschlagt sind, um ein Spurfolge-Signal
auszugeben, das verwendet wird, um die Lage des Lichtflecks
auf dem Aufzeichnungsträger in dessen Radialrichtung
gesehen zu steuern und eine im optischen Kopf
integrierte Vorrichtung (38) zum Bewegen der Lage des
Lichtflecks auf dem Aufzeichnungsträger in dessen Radialrichtung,
um die Vorrichtung zum Verschieben des Lichtflecks
durch das Spurfolge-Signal zu steuern.
13. Vorrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Spurfolge-Steuervorrichtung eine erste Verschiebungsvorrichtung
(210) zum Verschieben des optischen Kopfes
(200) in Radialrichtung auf dem Aufzeichnungsträger,
eine zweite Verschiebevorrichtung (38), die im optischen
Kopf integriert ist, zum Verschieben der Lage des Lichtflecks
auf dem Aufzeichnungsträger in dessen Radialrichtung,
eine Vorrichtung (211), die mit dem zweiten Spurfolge-
Fehlersignal (118) beaufschlagt ist, um ein Steuersignal
an die erste Verschiebevorrichtung (210) abzugeben und
eine Vorrichtung (157), die mit dem ersten Spurfolge-
Fehlersignal (122) beaufschlagt ist, um ein weiteres
Steuersignal an die zweite Verschiebevorrichtung (38)
anzulegen, aufweist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Polaritätsinvertierungsvorrichtung (136) durch den
letzten signifikanten Bit eines Zählers zum Heraufzählen
einer Zahl, die vorher auf den Aufzeichnungsträger aufgezeichnet
wurde, um eine Adresse anzugeben, gesteuert
wird.
15. Vorrichtung zum Schneiden einer Master-Platte,
gekennzeichnet durch
eine Fokussierungslinse (22) zum Fokussieren erster und
zweiter Lichtstrahlen auf eine Master-Platte (23), derart,
daß der erste und der zweite Lichtstrahl voneinander
in Radialrichtung der Master-Platte mit einem vorbestimmten
Abstand voneinander getrennt auf dieser auftreffen,
erste und zweite optische Modulatoren (17, 24), die
in den optischen Wegen der ersten und zweiten Lichtstrahlen
angeordnet sind,
eine Vorrichtung (84) zur Änderung der Lagebeziehung zwischen
der Fokussierungslinse und der Master-Platte, und
durch eine Steuervorrichtung, bestehend aus einem ersten
und einem zweiten Steuersystem, wobei das erste Steuersystem
verwendet wird, um den ersten optischen Modulator
(17) zu steuern und das zweite Steuersystem dazu den
zweiten optischen Modulator (24) zu steuern, wobei beide
Steuersysteme ein Modulationsschaltung (98, 99) zum Erzeugen
eines Aufzeichnungssignals, eine Verzögerungsschaltung
(100, 102) zum Verzögern des Ausgangssignals der
Modulationsschaltung und eine Steuerschaltung (103, 104)
zum Steuern eines der ersten und zweiten optischen Modulatoren
in Übereinstimmung mit dem Ausgabesignal der
Verzögerungsschaltung, aufweisen.
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