DE3328821A1 - Autofokus fuer mikroskope - Google Patents

Autofokus fuer mikroskope

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Description

  • Autofokus für Mikroskope
  • Autofokus für Mikroskope Zur automatischen Fokusnachstellung an Mikroskopen sind eine ganze Reihe nach unterschiedlichen Prinzipien arbeitender Systeme bekannt, die sich aber bisher aus Gründen zu hohen Aufwandes oder mangeinder Zuverlässigkeit nicht allgemein durchsetzen konnten.
  • So ist ein Autofokus bekannt, der auf der Ausfilterung bestimmter für den Fokussierzustand charakteristischer Frequenzen aus dem Videosignal einer mit dem Mikroskop verbundenen Kamera basiert. Das so aus dem Bildinhalt gewonnene Signal zur Fokusnachstellung enthält jedoch keine Richtungsinformation, deswegen muß die Nachstellung in Form eines Suchlaufs erfolgen. Nachteilig ist außerdem die erfordernis einer Fernsehkamera.
  • Weiterhin ist es bekannt ein der Fokusverstellung dienendes Signal durch Überlagerung des Zwischenbildes mit einem schwingenden Gitter zu erzeugen, dem mehrere Fotoempfänger nachgeschaltet sind. Zur Richtungserkennung wird die Phase der Signale jeweils paarweise nebeneinander in der Pupillenebene angeordneter Empfönger verglichen. Dieses System besitzt Nachteile wegen der Verwendung mechanisch bewegter Teile.
  • Aus der DE-OS 24 47 398 ist ein Autofokus, allerdings für Photoapparate, bekannt, der ein in der Bildebene eines bJilfsobjektivs angeordnetes, aus mehreren Eìnzeldioden bestehendes Detektorfeld besitzt. In der Pupille des Hilfsobjektivs sind Mittel angeordnet, die jeweils alternierend nur eine Hälfte der Pupille freigeben. nei Defokussierung tritt bezüglich der beiden, den jeweiligen Pupillenhälften zugeordneten Teilbildern eine Parallaxe auf, so daß die Detektoren ein Wechselspannungssignal im Takte der Pupillenabdeckung liefern, das der Fokusnachstellung dient. Dieses System hat sich jedoch nicht durchgesetzt, da es schwierig ist, geeignete Mittel zur wechselseitigen Abdeckung der Objektivpupille zu finden, die möglichst ohne mechanisch bewegte Teile arbeiten. Für die Mikroskopie ist ein solches an die Verwendung eines Hilfsobjektivs gebundenes Fokussiersystem außerdem nicht geeignet.
  • Für Photoapparate sind weiterhin Fokussiersysteme bekannt, die in einen vom Hauptstrahlengang abgezweigten, zweiten Strahlengang eine Pupillenteilung vornehmen und die bei Defokussierung auftretende statische Parallaxe im Intensitätsmuster zweier, den jeweiligen Pupillenhälften zugeordneter, zeilenförmiger Detektoren zur Gewinnung des Fokussiersignals auswerten. Solche Systeme sind z.B. in der DE-OS 29 22 080, der DE-OS 29 46 380 oder der US-PS 41 32 888 beschrieben. Bei diesen Systemen ist der Autofokus entweder während des Belichtungsvorganges abgeschaltet oder er benötigt einen Teil des eigentlich zur Pildentstehung vorgesehenen Lichtes. Der Einsatz dieses Systems bei einem Mikroskop ist problematisch, weil hier ein ständiges Fokussieren gefordert wird und eine zusätzliche Verminderung des durch Kontrastierungsverfahren ohnehin meist recht intensitätsgeschwächten Nutzlichtes für den hutofokus unerwünscht ist. Zudem arbeiten die bisher genannten Autofokussysteme zufriedenstellend nur dann, wenn das beobachtete Objekt einen ausreichenden Eigenkontrast besitzt.
  • In bekannten Autofokussystemen für Geräte zur Beobachtung schwach strukturierter Objekte wird in der gel eine Marke auf das Objekt projiziert und in Autokollimation auf sich selbst abgebildet. Derartige Systeme sind z.B. in der DE-PS 24 47 663, der US-PS 34 21 815 und der DE-PS 21 02 922 beschrieben. Das aus der DE-PS 24 47 663 bekannte System benutzt jedoch ein Hilfsobjektiv zur Markenprojektion und liefert ein Autofokussignal ohne Richtungsinformation. Auch der aus der US-PS 34 21 815 bekannte Autofokus für einen Diaprojektor arbeitet mit einem Hilfsobjektiv, hier in Form einer Zylinderlinse, und ist daher nicht zur Verwendung in einem Mikroskop geeignet.
  • Lediglich der aus der DE-PS 21 02 922 bekannte Autofokus ist auf die Verwendung in einem Mikroskop zugeschnitten. Er besitzt die im Oberbegriff des Hauptanspruches genannten Merkmale. In einer zur Pupille des Objektivs konjugierten Ebene des Strahlenganges der Hilfsbeleuchtung ist eine Blende angeordnet, die das Licht der Hilfsbeleuchtung auf eine Pupillenhälfte begrenzt. In zur Objektebene konjugierten Fbenen sind je eine Marke in Form einer Spalt- oder lochblende und eine zwischen zwei Empfängern liegende Dunkelmarke angeordnet, auf die das Licht der Lochblende nach Reflexion am Objekt bei exakter Fokussierung fällt. Im defokussierten Zustand des Mikroskops wird die Lochblende aufgrund des Parallaxeneffektes nicht exakt auf die Dunkelmarke abgebildet sondern auf einen der beiden photoelektrischen Empfänger, der dann ein der Fokusstellung dienendes Signol liefert.
  • Bei diesem statischen System wirken sich Zentrierfehler der Flenden und Verkippungen der Objektfläche sehr stark auf die Genauigkeit der roKusverstellung aus.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung einen zuverlässig und mit hoher Genauigkeit arbeitenden Autofokus für Mikroskope zu schaffen, der möglichst einfach aufgebaut ist.
  • Ausgehend von einem System nach dem Oberbegriff des Hauptanspruches wird diese Aufgabe durch eine Ausbildung gemäß den im Kennzeichen angegebenen Merkmalen dadurch gelöst, daß die Hilfsbeleuchtung mindestens zwei alternierend geschaltete Lichtquellen enthält, die nebeneinander in der Nähe einer Pupille des Mikroskops angeordnet sind.
  • Durch diese Ausbildung bleiben Gleichlichtanteile, die aus Dejustierungen und Objektverkippungen resultieren, ohne Einfluß auf das Regelsignal. Ein Eingriff in die im allgemeinen wenig zugängliche Objektivpupille ist nicht erforderlich. Das System gewährleistet außerdem das Erkennen der Richtung der Defokussierung, beispeilsweise durch einen Vergleich der Phase zwischen der Schaltspannung für die Lichtquellen und den von den Detektoren abgegebenen Signalen.
  • Es ist vorteilhaft, wenn die Einspiegelung der Hilfsbeleuchtung in Auflicht erfolgt und eine von der Hilfsbeleuchtung be- bzw. durchstrahlte spiegelnde Marke in der Nähe einer Luke angeordnet und in Autokollimation auf sich selbst abgebildet wird. Diese Marke ist zweckmäßig ein metallbedampftes Spritzgußteil in Form eines aus durchlässigen und spiegelnden Streifen gebildeten Gitters, wobei die spiegelnden Streifen in zwei Gruppen angeordnet sind, die gegen die optische Achse symmetrisch geneigt sind.
  • Dann sind lediglich zwei, den jeweiligen Gruppen von Spiegelstreifen zugeordnete Empfänger nötig, die nur dann mit Licht beaufschlagt wer- den, wenn nicht korrekt fokussiert ist. Auf diese Weise erhält man einen vom Bildinhalt bzw. dem Bildkontrast unabhängig arbeitenden Autofokus, der mit wenigen preiswerten Bauteilen arbeitet und äußerst empfindlich ist. Dieser Autofokus ist nicht nur für Auflichtmikroskope sondern auch für Durchlichtaufbauten brauchbar, wenn dafür gesorgt ist, daß der Objektträger in dem Spektralbereich der Hilfsbeleuchtung genügend gut reflektiert, was durch eine geeignete Beschichtung immer erreicht werden kann.
  • Es ist jedoch auch möglich und insbesondere bei häufigem Arbeiten mit gut strukturierten Durchlichtobjekten vorteilhaft die Einspiegelung der Hilfsbeleuchtung im Durchlicht vorzunehmen und in der Bildebene einen Empfänger zu verwenden, der aus einer Vielzahl von einzelnen Detektorelementen besteht, z.B. ein sogenanntes selbstabtastendes Detektorarray, das eine der Objekthelligkeitsverteilung entsprechende Signal folge liefert.
  • Bei Defokussierung verschiebt sich diese Signalfolge im Takte der Umschaltung der Hilfsbeleuchtung und kann daher bei geeigneter Auswertung zur Bildung eines Nachführsigncis für die Fokussiermechanik des Mikroskops dienen.
  • Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen finden sich in den Unteransprüchen und sind nachstehend anhand der Fig. 1-5 der beigefügten Zeichnungen erläutert: Fig. 1 ist eine Prinzipskizze eines ersten Ausführungsbeipiels der Erfindung; Fig. 2 ist eine detailliertere Darstellung des Gitters 15 aus Fig. 1 in geändertem Maßstab; Fig. 3 ist eine Prinzipskizze eines zweiten Ausführungsbeispiels der Erfindung; Fig. 4 ist ein Diagramm zur Erläuterung des Signal verlaufs des Detektors 121 aus Fig. 3; Fig. 5 ist eine Teilskizze eines gegenüber Fig. 3 leicht modifizierten Ausführungsbeispiels.
  • In Fig. 1 ist mit 1 der vertikal verstellbare Tisch eines Auflichtmikroskops bezeichnet, auf den das zu untersuchende Objekt 2 aufgelegt ist. Dieses wird durch das Objektiv 3 beobachtet, hinter dem ein halbdurchlässiger Teilerspiegel 4 zur Einspiegelung des Beleuchtungsstrahlengangs angeordnet ist. Darauf folgen die Tubuslinse 10 und ein Prisma 11 zur Ausspiegelung des Beobachtungsstrahlenganges in die nicht dargestellten Okulare. Die Tubuslinse 10 entwirft an der Stelle der Blende 13 das vom Beobachter wahrgenommene Zwischenbild des Objekts 2.
  • Der Beleuchtungsstrahlengang enthält eine Glühlampe 9, einen Kondensor 8, eine Aperturblende 7, eine Leuchtfeldblende 6 sowie eine Hilfslinse 5 zur Abbildung der Aperturblende 7 in die hintere Brennebene des Objektivs 3. Soweit entspricht die Darstellung der eines herkömmlichen Au fl icht-hlikroskops.
  • Das Prisma 11 besteht aus zwei Teilen, zwischen denen eine wellenlängenselektive Teilerschicht 30 angeordnet ist. Über diese Teilerschicht wird das von zwei Infrarotdioden 17 und 18 abgegebene Licht der Hilfsbeleuchtung für den Autofokus nach Umlenkung am Vollspiegel 14 in den Strahlengang des Mikroskops eingespiegelt. Selbstverständlich ist es -auch möglich dieses Ausführungsbeispiel 30 abzuwandeln, daß zusätzlich noch eine Kamera angeschlossen werden kann. In diesem Falle würde man die wellenlängenselektive Teilerschicht in den Spiegel 14 verlegen und die Schicht 30 als einfachen Strahlteiler ausbilden oder das Prisma 11 verschiebbar lagern.
  • Zwischen den nebeneinander in einer Pupille angeordneten Dioden 17 bzw.
  • 18 und dem Spiegel 14 ist in einer der Objektoberfläche konjugierten Ebene eine Marke 15 angeordnet. Diese Marke wird von den Dioden 17 und 18 mit Fhlfe der Linse 16 beleuchtet und von der Tubuslinse 10 und dem Objektiv 3 in die Objektebene und in Autokollimation wieder auf sich selbst abgebildet.
  • Die Marke 15 besteht aus einer transparenten Platte aus Kunststoff, die wie Fig. 2 zeigt auf der Seite der Dioden 17/18 eben und unverspiegelt ist und objektseitig mehrere gitterförmige, nebeneinander angeordnete Rillen aufweist. Diese Rillen besitzen ebene, schräggestellte und verspiegelte Seitenwände 26 und 28 und sind durch unverspiegelte Stege 27 voneinander getrennt.
  • Zwischen der Marke 15 und dem Spiegel 14 sind außerhalb der optischen Achse jedoch symmetrisch zu ihr ein Paar Detektoren 21 und 22 mit zugehörigen Hilfslinsen 19 bzw. 20 angeordnet. Die !4ilfslinsen 19 und 20 bilden in Verbindung mit den ihnen zugeordneten Spiegelstreifen 28 und 26 jeweils die Pupille des Objektivs 3 auf die Empfänger 21 bzw. 22 ab.
  • Die Empfänger sind ebenso wie die Leuchtdioden 17 und 18 mit einer Elektronikeinheit 23 verbunden, die die Dioden 18 und 19 alternierend ansteuert und die von den Detektoren 21 und 22 gelieferten Signale im Takte der Diodensteuerung zu einem Fokusfehlersignal verarbeitet, das zur Ansteuerung eines Motors 24 dient. Dieser Motor 24 verstellt über ein Getriebe 25 den Tisch 1 in seiner Höhe.
  • Alle Bauteile des Autofokus sind zu einer am Stativ des Mikroskops zu befestigenden Baugruppe 29 zusammengefaßt.
  • Die Wirkungsweise dieser Einrichtung ist folgende: Befindet sich das Objekt 2 im Fokus, so werden die transparenten Stege 27 der Spiegelmarke 15 exakt auf sich selbst abgebildet, gleichgültig von welcher Diode 17 oder 18 die Marke 15 gerade beleuchtet wird. Angedeutet ist dies in Fig. 2 durch den schräg auf den Steg 27 auffallenden Strahl a der Diode 17, der nach Reflexion an der Objektoberfläche als Strahl a' wieder an der gleichen Stelle durch den Steg 27 hindurchtritt.
  • Befindet sich das Objekt 2 nicht exakt im Fokus, so erfährt der Strahl a bei der Reflexion am Objekt einen seitlichen Versatz und gelangt je nach Vorzeichen der Defokussierung als Strahl b bzw. Strahl c auf eine der schräggestellten Spiegel flächen 26 bzw. 28 und nachstehend durch die Optik 19 bzw. 20 auf einem der Detektoren 21 oder 22. Entsprechendes gilt für das von der zweiten Diode 18 abgegebene Licht. Dabei ist jedoch festzustellen, daß aufgrund des Parallaxeneffektes von den bei- den in utterschiedlichen Pupillenhälften angeordneten Dioden jeweils unterschiedliche Detektoren beleuchtet werden.
  • Aus dem Gesagten ergibt sich, daß die beiden in Differenz geschalteten Detektoren 21 und 22 ein Wechselspannungssignal abgeben, dessen Amplitude der Größe der Defokussierung entspricht und dessen Phasenlage in Bezug auf die Schaltspannung der Dioden 17 und 18 die Richtung der Refokussierung angibt. Dieses Signal dient nach phasenempfindlicher Gleichrichtung in der Steuereinheit 23 zur Regelung des Motors 24, der zur Refokussierung den Tisch 1 verstellt.
  • Das in Fig. 3 dargestellte Ausführungsbeispiel eines Autofokussiersystems für Durchlichtmikroskope verwendet keine in Autokollimation auf sich selbst abgebildete Marke sondern basiert wie nachstehend beschrieben auf dem Prinzip der Autokorrelation zweier Objektbilder.
  • Der Beobachtungsstrahlengang des ttikroskops besteht wieder aus einem Objektiv 103, mit dem das auf dem Tisch 101 aufliegende Durchlichtobjekt 102 betrachtet wird. Das Objektiv 103 erzeugt in Verbindung mit der Tubuslinse 110 ein Bild des Objekts an der Stelle der Feldblende 113 nach Umlenkung des Strahlenganges durch das aus zwei Teilen 111 und 112 bestehende Prisma. Die Kittschicht zwischen den Teilen 111 und 112 ist als Strahlteiler ausgebildet, so daß über das Prisma 112 ein Zusatzteil z.B. eine Kamera angeschlossen werden kann.
  • Beleuchtet wird das Objekt 102 von einer Glühlompe 109, die von einem Kollektor 108 und einer dorauffolgenden Hilfslinse 105 nach Umlenkung am Spiegel 120 in die hintere Brennebene des Kondensors 119 abgebildet wird, wo sich die Aperturblende 107 befindet. Mit 106 ist die Leuchtfeldblende bezeichnet.
  • Zwischen der Leuchtfeldblende 106 und dem Kondensor 119 ist ein wellenlängenselektiver Strahlteiler 114 angeordnet, der die Infrarotstrahlung zweier wiederum alternierend geschalteter Leuchtdioden 117 und 118 in den Beleuchtungsstrahlengang einspiegelt. Die Dioden 117 und 118 sind nebeneinander angeordnet und werden von der Linse 116 in die Ebene der Aperturblende 107 abgebildet.
  • Hinter dem Objektiv 103, an einer Stelle, an der üblicherweise die Auflichtbeleuchtung eingespiegelt wird, ist ein zweiter wellenlängenselektiver Strahlteiler 104 angeordnet, der die von den Dioden 117 und 118 abgegebene Strahlung aus dem Beobachtungsstrahlengang wieder ausspiegelt. Eine Linse 115 erzeugt das Bild der Probe 102 im Lichte dieser Strahlung.
  • In der Bildebene ist ein selbstabtastendes Detektorarray 121 angeordnet, dessen Abtastfrequenz mit der Schaltfrequenz der Dioden 1171118 synchronisiert ist. Die Abtastung von Detektorarray und Dioden erfolgt durch eine Steuereinheit 123, die auch das von der Detektorzeile abgegebene Signal verarbeitet und daraus ein Steuersignal zur Verstellung des Tisches 101 für den über das Getriebe 125 mit dem Tisch 101 verbundenen Elektromotor 124 bildet.
  • Befindet sich das auf dem Tisch 101 aufliegende Objekt 102 im Fokus des Objektivs 103, so sind die beiden Signal folgen, die das Array 121 bei Beleuchtung des Objekts einmal durch die Diode 117 und das andere mal durch die Diode 118 abgibt, identisch und entsprechen der Helligkeitsverteilung im Objektbild an der Stelle des Arrays 112.
  • Ist das Objekt jedoch außer Fokus, so tritt aufgrund der außerochsialen Beleuchtung durch die. Dioden 117 und 118 ein Parallaxeneffekt auf und das Bild des Objekts 102 verschiebt sich in der Ebene des Detektorarrays 121 alternierend im Takte der Schaltfrequenz der Dioden. Dieser Fall ist in Fig. 4 erläutert. Aufgetrogen ist dort die Bildhelligkeit I über die Elemente des Arrays 121. Der Graph L 17 gibt die Helligkeitsverteilung bei Beleuchtung des Objekts 102 durch die Diode 117 und der Graph L 18 die Verteilung bei Beleuchtung des Objekts durch die Diode 118 wieder. Richtung und Ausmaß der Verschiebung beider Kurven sind durch Richtung und Ausmaß der Defokussierung bestimmt.
  • Die Abtastung des Arrays 121 im Takte der Schaltfrequenz der Dioden 117 und 118 liefert also zwei Signalfolgen, deren Phasenverschiebung durch eine geeignete Schaltung im Steuerteil 123 erkannt und zur Bildung des Regelsignals für den Motor 124 herangezogen wird.
  • In der modifizierten Ausführungsform nach Fig. 5 ist das Array 121 in der Bildebene mittels einer nicht dargestellten Handhobe verschiebbar gelagert, wie dies durch die Pfeile 129 angedeutet ist. Das ermöglicht ein gezieltes Auswählen des Probenortes, auf den der Autofokus scharf stellt. Damit die Lage des Arrays 21 für den Beobachter sichtbar ist, sind an beiden Enden des Arrays 121 je eine Leuchtdiode 127 bzw. 128 befestigt. Diese Dioden werden mit Hilfe eines hinter dem Teilerspiegel 104 angeordneten Tripelprismas in die Zwischenbildebene am Ort der Blende 113 abgebildet.

Claims (10)

  1. Patentansprüche: 1. Autofokus für Mikroskope mit einer Hilfsbeleuchtung, die in den Strahlengang des Mikroskops eingespiegelt wird, und einem oder mehreren auf den Wellenlängenbereich dieser Beleuchtung abgestimmten Detektoren zur Erzeugung eines dem Fokussierzustand entsprechenden Signals, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfsbeleuchtung mindestens zwei alternierend geschaltete Lichtquellen (17,18; 117,118) enthält, die nebeneinander in der Nähe einer Pupille des Mikroskops angeordnet sind.
  2. 2. Autofokus nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einspiegelung der Hilfsbeleuchtung in Auflicht erfolgt und in der Nähe einer Luke eine von der Hilfsbeleuchtung be- bzw. durchstrahlte Marke (5) angeordnet ist, die in Autokollimation auf sich selbst abgebildet wird.
  3. 3. Autofokus nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Marke ein aus durchlässigen und spiegelnden Streifen (26-28) gebildetes Gitter ist, wobei die spiegelnden Streifen in zwei Gruppen angeordnet sind, und je der Gruppe von Spiegelstreifen mindestens ein Detektor (20,21) zugeordnet ist.
  4. 4. Autofokus nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Marke (15) ein metallbedampftes Spritzgußteil ist.
  5. 5. Autofokus nach Anspruch 2-4, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfsbeleuchtung, die Marke und die Empfänger zu einer am Mikroskoptubus zu befestigenden Baugruppe (29) zusammengefaßt sind.
  6. 6. Autofokus nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Cinspiegelung der Hilfsbeleuchtung im Durchlicht erfolgt und der Empfänger (121) aus einer Vielzahl von einzelnen Detektorelementen besteht.
  7. 7. Autofokus nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Empfänger (121) ein selbstabtastendes Detektorarray ist.
  8. 8. Autofokus nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Detektorarray verschiebbar ist und eine Einrichtung zur Projektion des Arroys in das mikroskopische Zwischenbild vorgesehen ist.
  9. 9. Autofokus nach Anspruch 1-8, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei den Lichtquellen um im Infraroten strahlende Leucht- bzw. Laserdioden handelt.
  10. 10. Autofokus nach Anspruch 1-9, dadurch gekennzeichnet, daß die Signal-10. Autofokus nach Anspruch 1-,°, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitung der Empfänger (21,22; 121) im Takte der Umschaltung der Lichtquellen (17,18; 117,118) erfolgt.
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3430569A1 (de) * 1983-08-18 1985-03-07 Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo Vorrichtung zur brennpunktermittlung
DE3446727A1 (de) * 1983-08-10 1986-07-03 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Autofokuseinrichtung fuer mikroskope
FR2605751A1 (fr) * 1986-10-22 1988-04-29 Bioconcept Sarl Dispositif pour la mise au point automatique d'un microscope
FR2606522A1 (fr) * 1986-11-06 1988-05-13 Zeiss Jena Veb Carl Dispositif et procede optique de mise au point photoelectrique, notamment pour microscopes d'operations chirurgicales
US4958920A (en) * 1988-08-20 1990-09-25 Carl-Zeiss-Stiftung Process and apparatus for the automatic focusing of microscopes
EP0502583A1 (de) * 1991-03-07 1992-09-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Abbildungseinrichtung mit einer Vorrichtung zur Detektion eines Fokussierfehlers und/oder einer Verkantung
US5446582A (en) * 1989-08-23 1995-08-29 Kabushiki Kaisha Topcon Operation microscope
WO2001067154A2 (en) * 2000-03-08 2001-09-13 Tibotec Bvba A microscope suitable for high-throughput screening having an autofocusing apparatus
WO2002088819A2 (de) * 2001-04-28 2002-11-07 Evotec Oai Ag Vorrichtung und verfahren zur optischen messung von chemischen und/oder biologischen proben
EP1333304A1 (de) * 2002-02-02 2003-08-06 Leica Microsystems Semiconductor GmbH Autofokusmodul mit Zusatzlichtquellen für mikroskopbasierte Systeme und Zweistrahl-Fokusdetektionsverfahren unter Benutzung des Moduls
WO2004029691A1 (de) * 2002-09-26 2004-04-08 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie Verfahren und vorrichtung zum bestimmen eines abstands, autofokus-modul, mikroskop und verfahren zum autofokussieren eines mikroskops
EP1494059A1 (de) * 2003-07-03 2005-01-05 Carl Zeiss SMS GmbH Verfahren zum automatischen Fokussieren bei der Abbildung eines Objektes
DE102009012248A1 (de) 2008-03-14 2009-09-17 Carl Zeiss Sms Gmbh Autofokusverfahren und Abbildungsvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
WO2018099652A1 (de) * 2016-11-30 2018-06-07 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Bestimmung der anordnung eines probenobjekts mittels winkelselektiver beleuchtung
US10705326B2 (en) 2015-11-11 2020-07-07 Scopio Labs Ltd. Autofocus system for a computational microscope

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4734570A (en) * 1985-11-20 1988-03-29 Olympus Optical Co., Ltd. Active focus detecting device with infrared source
JP2614843B2 (ja) * 1985-12-02 1997-05-28 オリンパス光学工業株式会社 自動焦点顕微鏡
DE102011082756A1 (de) 2011-09-15 2013-03-21 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Autofokussierverfahren und -einrichtung für ein Mikroskop
TWI571341B (zh) * 2014-12-04 2017-02-21 Metal Ind Res And Dev Centre An auto focus system and method that can focus on beam sensitivity

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2102922C3 (de) * 1971-01-22 1978-08-24 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Anordnung zum selbsttätigen Fokussieren auf in optischen Geräten zu betrachtende Objekte

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2102922C3 (de) * 1971-01-22 1978-08-24 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Anordnung zum selbsttätigen Fokussieren auf in optischen Geräten zu betrachtende Objekte

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3446727A1 (de) * 1983-08-10 1986-07-03 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Autofokuseinrichtung fuer mikroskope
DE3430569A1 (de) * 1983-08-18 1985-03-07 Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo Vorrichtung zur brennpunktermittlung
FR2605751A1 (fr) * 1986-10-22 1988-04-29 Bioconcept Sarl Dispositif pour la mise au point automatique d'un microscope
FR2606522A1 (fr) * 1986-11-06 1988-05-13 Zeiss Jena Veb Carl Dispositif et procede optique de mise au point photoelectrique, notamment pour microscopes d'operations chirurgicales
US4958920A (en) * 1988-08-20 1990-09-25 Carl-Zeiss-Stiftung Process and apparatus for the automatic focusing of microscopes
US5446582A (en) * 1989-08-23 1995-08-29 Kabushiki Kaisha Topcon Operation microscope
EP0502583A1 (de) * 1991-03-07 1992-09-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Abbildungseinrichtung mit einer Vorrichtung zur Detektion eines Fokussierfehlers und/oder einer Verkantung
AU779909B2 (en) * 2000-03-08 2005-02-17 Tibotec Bvba A microscope suitable for high-throughput screening having an autofocusing apparatus
WO2001067154A2 (en) * 2000-03-08 2001-09-13 Tibotec Bvba A microscope suitable for high-throughput screening having an autofocusing apparatus
WO2001067154A3 (en) * 2000-03-08 2002-01-10 Tibotec Nv A microscope suitable for high-throughput screening having an autofocusing apparatus
US6974938B1 (en) 2000-03-08 2005-12-13 Tibotec Bvba Microscope having a stable autofocusing apparatus
US7474777B2 (en) 2001-04-28 2009-01-06 Evotec Oai Ag Device and method for optical measurement of chemical and/or biological samples
WO2002088819A3 (de) * 2001-04-28 2003-09-25 Evotec Ag Vorrichtung und verfahren zur optischen messung von chemischen und/oder biologischen proben
WO2002088819A2 (de) * 2001-04-28 2002-11-07 Evotec Oai Ag Vorrichtung und verfahren zur optischen messung von chemischen und/oder biologischen proben
US6879440B2 (en) 2002-02-02 2005-04-12 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Autofocus module and method for a microscope-based system
EP1333304A1 (de) * 2002-02-02 2003-08-06 Leica Microsystems Semiconductor GmbH Autofokusmodul mit Zusatzlichtquellen für mikroskopbasierte Systeme und Zweistrahl-Fokusdetektionsverfahren unter Benutzung des Moduls
WO2004029691A1 (de) * 2002-09-26 2004-04-08 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie Verfahren und vorrichtung zum bestimmen eines abstands, autofokus-modul, mikroskop und verfahren zum autofokussieren eines mikroskops
DE10244767A1 (de) * 2002-09-26 2004-04-08 Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Abstands zwischen einer Referenzebene und einer inneren oder äußeren optischen Grenzfläche eines Objekts sowie Verwendung derselben zum Bestimmen eines Oberflächenprofils eines, inbesondere metallischen, Objekts, Autofokus-Modul, Mikroskop und Verfahren zum Autofokussieren eines Mikroskops
EP1494059A1 (de) * 2003-07-03 2005-01-05 Carl Zeiss SMS GmbH Verfahren zum automatischen Fokussieren bei der Abbildung eines Objektes
DE102009012248A1 (de) 2008-03-14 2009-09-17 Carl Zeiss Sms Gmbh Autofokusverfahren und Abbildungsvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US10705326B2 (en) 2015-11-11 2020-07-07 Scopio Labs Ltd. Autofocus system for a computational microscope
WO2018099652A1 (de) * 2016-11-30 2018-06-07 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Bestimmung der anordnung eines probenobjekts mittels winkelselektiver beleuchtung
CN110121629A (zh) * 2016-11-30 2019-08-13 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 借助角度选择的照射确定样本对象的布置
CN110121629B (zh) * 2016-11-30 2022-01-11 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 借助角度选择的照射确定样本对象的布置

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