DE2908534C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE2908534C2 DE2908534C2 DE2908534A DE2908534A DE2908534C2 DE 2908534 C2 DE2908534 C2 DE 2908534C2 DE 2908534 A DE2908534 A DE 2908534A DE 2908534 A DE2908534 A DE 2908534A DE 2908534 C2 DE2908534 C2 DE 2908534C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- workpiece
- gauge
- measured
- housing
- longitudinal axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
- G01B11/046—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0691—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
- G01B11/105—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßlehre der im Ober
begriff des Patentanspruchs 1 angegebenen Gattung.
Eine solche Meßlehre ist aus der US-PS 39 01 606 bekannt. Bei
dieser bekannten Vorrichtung, die zur Messung des Durch
messers einer runden Stahlstange während eines Walzvor
ganges dient, ist eine ortsfeste Lichtquelle vorgesehen,
die über eine Linse parallelisierte Lichtstrahlen auf die
Stange richtet, deren Schatten zusammen mit den an der
Stange vorbeilaufenden Lichtstrahlen auf einen Schlitz
fokussiert wird, hinter dem ein Schirm mit lichtempfind
lichen Elementen angeordnet ist, auf dem ein vergrößertes
Bild des Werkstücks erzeugt wird. Die Stange wird dabei
einer Vibration unterworfen, um Meßfehler auszugleichen.
Durch diese bekannte Vorrichtung kann nur der mittlere
Durchmesser über einem einzigen Querschnitt eines runden
Gegenstandes festgestellt werden. Eine Änderung im Durch
messer, der nicht dem geprüften Durchmesser entspricht,
wird maskiert und bleibt unerkannt. Auch lassen sich der
artige Meßlehren nicht zur Überprüfung von Werkstücken
einsetzen, die hinsichtlich ihrer Querschnittsgestalt
variierende Abmessungen besitzen, beispielsweise ovale
Stangen oder polygonale Querschnitte.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Meßlehre
zu schaffen, die Abweichungen einer vorbestimmten Quer
schnittsgestalt über den gesamten Umfang erkennt und auch
zur Prüfung von unrunden Werkstücken geeignet ist.
Gelöst wird die gestellte Aufgabe durch die im Kennzeich
nungsteil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale.
Durch die drehbare Lagerung wird der gesamte Umfang des
Werkstücks abgetastet, und es wird eine kontinuierliche
Messung der Oberflächengestalt vorgenommen.
Es ist zwar durch die DE-PS 9 32 933 bereits eine Material
prüfvorrichtung bekannt geworden, bei der eine Röntgen
strahlquelle zusammen mit einem Beobachtungsschirm um
einen Prüfling schwenkbar angeordnet ist. Hier erfolgt
jedoch keine kontinuierliche Drehung, sondern eine Ver
schwenkung jeweils nur um 90°, um eine Untersuchung des
Prüflings in zwei zueinander senkrechten Richtungen
durchführen zu können. Im übrigen handelt es sich gat
tungsgemäß um eine völlig andere Vorrichtung, bei der
nicht die Oberflächengestalt, sondern Materialfehler in
isolierten elektrischen Leitungen im Durchlaufverfahren
festgestellt werden sollen.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus
den Unteransprüchen.
Die Meßlehre kann benutzt werden, um die Querschnittsab
messung eines Metallstabes oder einer Metallstange fest
zustellen, der aus einem Walzstuhl austritt. Außerdem
oder stattdessen kann die Meßlehre benutzt werden, um die
Geradlinigkeit einer Metallstange festzustellen. Bei die
ser letztgenannten Ausbildung wird die Stange sowohl vor
als auch hinter der Lehre abgestützt, um zu gewährlei
sten, daß eine Stange, wenn sie gerade ist, sich im we
sentlichen in der Längsachse der Öffnung des zylindri
schen Gehäuses bewegt. Die Lehre kann benutzt werden, um
Gegenstände zu messen, die verschiedene Querschnitte be
sitzen. So können beispielsweise die Abmessungen von Ge
genständen festgestellt werden, die einen kreisförmigen,
einen quadratischen, einen hexagonalen, einen rautenför
migen oder einen ovalen Querschnitt besitzen.
Nachstehend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung
anhand der Zeichnung beschrieben. In der Zeichnung zeigt
Fig. 1 eine schematische Schnittansicht einer gemäß
der Erfindung ausgebildeten Meßlehre,
Fig. 2 einen Vertikalschnit einer Meßlehre gemäß
Fig. 1,
Fig. 3 eine Seitenansicht der Meßlehre gemäß Fig. 2
in Arbeitsstellung.
Bei der in Fig. 1 dargestellten Meßlehre wird ein konti
nuierlicher oder ein gepulster gebündelter Lichtstrahl
(1) einer Lichtquelle (2) über eine Kondenserlinse (3)
nach einem Werkstück in Gestalt einer sich bewegenden
Stange (4) geschickt, um Bilder gegenüberliegender Grenz
abschnitte der Stange (4) zu erzeugen. Die Bilder werden
durch eine Abbildungsoptik (7) auf zwei Reihen (8 und 9)
von Photodioden (5, 6) abgebildet, die über eine elektri
sche Schaltung mit einer elektronischen Signalverarbei
tungsstufe (14) verbunden sind, die Ausgangssignale lie
fert, die Größe und/oder Geradlinigkeit der Stange (4)
repräsentieren, die durch den Lichtstrahl (1) abgetastet
werden.
Die Lichtquelle (2), die Linsen (3, 7) und die Photodiode
(5, 6) sind sämtlich auf einem rohrförmigen Gehäuse (10)
montiert, durch das die Stange (4) hindurchtreten kann,
wobei Lichtquelle und Photodiodenreihen diametral gegen
überliegend zueinander angeordnet sind. In der Wand des
Gehäuses (10) sind optische Fenster (11, 12) eingebaut,
um eine Beleuchtung der Stange (4) zu ermöglichen, wenn
diese durch das Gehäuse (10) hindurchtritt. Das Gehäuse
(10) ist um seine Längsachse drehbar, um eine schrauben
förmige Abtastung des Umfangs der Stange (4) zu bewirken,
wenn diese durch das Gehäuse (10) hindurchtritt. Bei
einer Stange mit einem Durchmesser in einem Bereich zwi
schen 20 und 80 mm hat sich eine Drehzahl des Gehäuses
von etwa 100 u/min als zweckmäßig erwiesen, wodurch sich
ein vollständiger Meßzyklus einer Stange von 250 mm Länge
bei einer Vorschubgeschwindigkeit von 50 m/min ergibt.
In Fällen, wo die Bewegung der Stange (4) in Ebenen
normal zu ihrer Bewegungsrichtung begrenzt ist, kann ein
kontinuierlicher Parallellichtstrahl benutzt werden. Wenn
jedoch solche Bewegungen stattfinden können, wird ein ge
pulster Sammellichtstrahl benutzt, um die Lage der Stange
wirksam "einzufrieren", wenn die Messung erfolgt.
Im folgenden wird auf die Fig. 2 und 3 Bezug genommen, wo
die der Fig. 1 entsprechenden Teile mit gleichen Bezugs
zeichen versehen sind. Die Meßlehre weist ein zylindri
sches Gehäuse (21) auf, welches in einem Ständer (22) von
zwei Wälzlagern (23) drehbar abgestützt ist. Das Gehäuse
besteht aus zwei Abschnitten, nämlich einem Auslauf
abschnitt (24) über dem Ständer (22) und einem Einlauf
abschnitt (25), der vom Auslaufabschnitt (24) durch eine
Stahlringscheibe (26) getrennt ist, und an dieser Ring
scheibe (26) ist der Einlaufabschnitt (25) durch Schrau
ben (27) festgelegt. Die Ringscheibe (26) ist ihrerseits
mit dem Auslaufabschnitt (24) über Schrauben (28) verbun
den und trägt an der nach hinten weisenden Stirnfläche
eine Riemenscheibe (29), über die ein Riemen (30) läuft,
der durch einen Elektromotor (31) (Fig. 3) angetrieben
wird, um das zylindrische Gehäuse (21) um seine Längs
achse zu drehen.
An der nach vorn weisenden Stirnfläche der Ringscheibe
(26) befindet sich eine ringförmige Aluminiumträgerplatte
(33), die die Lichtquelle (2), die beiden Linsen (3, 7)
und die Photodioden (5, 6) trägt. Die Linsen (7) und die
Dioden-Reihen (8, 9) sind so angeordnet, daß sie der
Lichtquelle (2) und der Linse (3) diametral gegenüberlie
gen. Der gerichtete Lichtstrahl tritt aus der Lichtquelle
(2) in die Diodenreihen (8, 9) über die optischen Fenster
(11, 12) ein, die auf gegenüberliegenden Seiten des Ein
laufabschnittes (25) des Gehäuses (21) angeordnet sind.
Das Ende des Einlaufabschnitts (25), das dem Auslaufab
schnitt (24) entgegengesetzt liegt, trägt eine Stahlring
scheibe (34) mit gleichem Innen- und Außendurchmesser wie
die Ringscheibe (26). Die Ringscheibe (34) ist am Ein
laufabschnitt (25) mittels Schrauben (35) befestigt. Der
Abstand zwischen den beiden Scheiben (26 und 34) ist
durch einen Abdeckring (36) abgeschlossen, der durch
Schrauben am äußeren Umfang der beiden Scheiben befestigt
ist. An der nach außen weisenden Fläche der Stahlscheibe
(34) ist mittels Schrauben (37) ein Schleifringaufbau
(38) befestigt, der mit der Stromquelle für die Lampe (2)
in Verbindung steht und elektrische Signale über eine
elektrische Verbindung (39) von den Diodenreihen (8, 9)
erhält, um diese Signale der Elektronikauswertstufe (14)
zuzuführen. Das stationäre Gehäuse (41) des Schleifring
aufbaus (38) wird von einem hohlen festen Ständer (42)
getragen, und die elektrische Verdrahtung von dem
Schleifringaufbau (38) verläuft nach unten durch den hoh
len Ständer (42) nach der elektronischen Signalverarbei
tungsstufe.
Ein Ständer (44) trägt außerdem einen stationären Ein
laufführungstrichter (43), durch den das zu messende
Werkstück hindurchtritt, wenn es nach dem Gehäuse (21)
wandert. Der Führungstrichter (43) steht in das benach
barte Ende des Einlaufabschnitts (25) des Gehäuses (21)
bis zu einer Stelle vor, die kurz stromauf der Fenster
(11, 12) liegt.
Wie aus Fig. 3 ersichtlich, wird das zu messende Werk
stück durch Diabolo-Rollen (45) getragen, die sowohl vor
als auch nach der Meßlehre so angeordnet sind, daß das zu
messende Werkstück, wenn es gerade ist, durch die Meß
lehre derart hindurchläuft, daß seine Längsachse mit der
Längsachse des rohrförmigen Gehäuses (21) zusammen
fällt.
Eine elektronische Auswertestufe (47) empfängt Signale
von der Meßlehre, die repräsentativ sind für die gemesse
ne Querschnittsabmessung der Stange, die durch das Gehäu
se (21) hindurchtritt. Die von der Meßlehre empfangenen
Signale werden mit einem Standardbezugssignal verglichen,
wodurch sich ein Fehlersignal ergibt, welches der Abwei
chung zwischen gemessenem Signal und Standardbezugssignal
entspricht.
Es können als Lichtquelle eine Wolframglühfadenlampe oder
eine Laserdiode benutzt werden.
Wenn die Meßlehre in Betrieb befindlich ist, dann läuft
das zu messende Werkstück längs des Pfades, der durch die
strichlierte Linie in Fig. 3 angedeutet ist. Die Diabolo-
Rollen sind so angeordnet, daß eine gerade Stange vorbe
stimmten Durchmessers durch das Gehäuse (21) derart hin
durchläuft, daß die Längsachse der Stange mit der Längs
achse des Gehäuses zusammenfällt. Die Stange durchläuft
den Einlaßführungstrichter (43) und läuft durch das Ge
häuse (21) hindurch.
Wenn das Werkstück einen ovalen Querschnitt besitzt, er
zeugt dies eine zyklische Änderung der Bildgröße, die von
jeder Photodiodenreihe (8, 9) nacheinander empfangen
wird, während eine Änderung der Geradlinigkeit der Stange
eine zyklische Änderung der Lage der Bilder bewirkt, die
von den beiden Photodiodenreihen empfangen werden.
Weil Änderungen in bezug auf die Geradlinigkeit der
Stange die gleichen zyklischen Veränderungen in den von
den Photodiodenreihen empfangenen Bildern erzeugen wie
jene, die erzeugt würden, wenn sich der Stangendurch
messer insgesamt ändert infolge der konsequenten Bewegung
der Längsachse des Gehäuses, werden Signale, die dem ge
messenen Stangendurchmesser entsprechen, der
Auswertungsstufe (47) zugeführt, deren Ausgangssignale
benutzt werden, um die Stangengeradlinigkeitsmessung
automatisch im Hinblick auf die Änderungen des gemessenen
Stangendurchmessers zu kompensieren.
Wenn eine Abweichung im Stangendurchmesser, in der
Stangengestalt oder in der Geradlinigkeit der Stange
durch die Meßvorrichtung festgestellt wird, dann kann ein
Warn- oder Anzeigesystem in Tätigkeit gesetzt werden, um
die Aufmerksamkeit der Bedienungsperson zu wecken oder
einen defekten Abschnitt des gemessenen Werkstücks zu
kennzeichnen.
Es ist klar, daß die Erfindung auch zum Messen langge
streckter Werkstücke benutzt werden kann, die nicht me
tallisch ausgebildet sind.
Claims (3)
1. Meßlehre zur Feststellung oder Messung einer Quer
schnittsabmessung oder einer Abweichung von einer
vorbestimmten Gestalt von langgestreckten Werk
stücken, die sich relativ zu der Meßlehre bewegen,
mit einem parallel gebündelten Lichtstrahl, der von einer Lichtquelle aus auf das zu messende Werkstück gerichtet wird, und
mit Photodioden, die die Bilder der Grenzabschnitte des sich durch den Lichtstrahl bewegenden Werk stücks empfangen und die elektrische Signale erzeu gen, aus denen die Querschnittsabmessung des Werk stücks bestimmt werden kann, dadurch gekennzeichnet, daß ein rohrförmiges Gehäuse (10) vorgesehen ist, welches um seine Längsachse drehbar ist und dessen Längsachse mit dem Durchlaufpfad des zu messenden Werkstücks (4) zusammenfällt,
daß die Lichtquelle (2) und die die Lichtbündelung bewirkende Optik (3) am drehbaren Gehäuse fest so an geordnet sind, daß der gebündelte Lichtstrahl auf das Werkstück (4) gerichtet wird, wenn dieses das Gehäuse (10) durchläuft,
daß die Photodiodenanordnung (5, 6) aus einer Viel zahl individueller Photodioden (5, 6) besteht, die so abgetastet werden, daß die elektrischen Signale der tatsächlichen Größe und räumlichen Anordnung der reellen Bilder des Werkstücks entsprechen, die von der Photodiodenanordnung empfangen werden,
daß die Signale einer Signalverarbeitungsstufe (14) zugeführt werden, deren Ausgangssignale der gemesse nen Dimension des Werkstücks (4) entsprechen, und
daß die der gemessenen Dimension des Werkstücks (4) entsprechenden Signale zur Bestimmung der Abweichung von einer vorbestimmten Gestalt einer elektronischen Auswertungsstufe (47) zugeführt werden.
mit einem parallel gebündelten Lichtstrahl, der von einer Lichtquelle aus auf das zu messende Werkstück gerichtet wird, und
mit Photodioden, die die Bilder der Grenzabschnitte des sich durch den Lichtstrahl bewegenden Werk stücks empfangen und die elektrische Signale erzeu gen, aus denen die Querschnittsabmessung des Werk stücks bestimmt werden kann, dadurch gekennzeichnet, daß ein rohrförmiges Gehäuse (10) vorgesehen ist, welches um seine Längsachse drehbar ist und dessen Längsachse mit dem Durchlaufpfad des zu messenden Werkstücks (4) zusammenfällt,
daß die Lichtquelle (2) und die die Lichtbündelung bewirkende Optik (3) am drehbaren Gehäuse fest so an geordnet sind, daß der gebündelte Lichtstrahl auf das Werkstück (4) gerichtet wird, wenn dieses das Gehäuse (10) durchläuft,
daß die Photodiodenanordnung (5, 6) aus einer Viel zahl individueller Photodioden (5, 6) besteht, die so abgetastet werden, daß die elektrischen Signale der tatsächlichen Größe und räumlichen Anordnung der reellen Bilder des Werkstücks entsprechen, die von der Photodiodenanordnung empfangen werden,
daß die Signale einer Signalverarbeitungsstufe (14) zugeführt werden, deren Ausgangssignale der gemesse nen Dimension des Werkstücks (4) entsprechen, und
daß die der gemessenen Dimension des Werkstücks (4) entsprechenden Signale zur Bestimmung der Abweichung von einer vorbestimmten Gestalt einer elektronischen Auswertungsstufe (47) zugeführt werden.
2. Meßlehre nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß Diabolo-Rollen (45)
sowohl vor als auch nach der Meßlehre so angeordnet
sind, daß das langgestreckte zu messende Werkstück
(4), wenn es gerade ist, durch das rohrförmige Gehäu
se (10) derart hindurchtritt, daß seine Längsachse
mit der Längsachse des rohrförmigen Gehäuses zusam
menfällt.
3. Meßlehre nach den Ansprüchen 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß eine
gepulste Lichtquelle (2) Verwendung findet.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB938878 | 1978-03-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2908534A1 DE2908534A1 (de) | 1979-09-13 |
DE2908534C2 true DE2908534C2 (de) | 1989-07-06 |
Family
ID=9871018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19792908534 Granted DE2908534A1 (de) | 1978-03-09 | 1979-03-05 | Messlehre |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4895449A (de) |
JP (2) | JPS54139576A (de) |
BE (1) | BE874706A (de) |
DE (1) | DE2908534A1 (de) |
FR (1) | FR2419508A1 (de) |
IT (1) | IT1119691B (de) |
NL (1) | NL186405C (de) |
SE (1) | SE7902066L (de) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5875017A (ja) * | 1981-10-30 | 1983-05-06 | Hitachi Ltd | 位置検出方法 |
GB8310611D0 (en) * | 1983-04-19 | 1983-05-25 | Beta Instr Co | Measurement of profiles of irregular objects |
DE3817387A1 (de) * | 1988-05-19 | 1989-11-30 | Mannesmann Ag | Verfahren und vorrichtung zur erfassung der aeusseren gestalt eines langgestreckten, im querschnitt prismatischen koerpers |
EP0359664B1 (de) * | 1988-09-16 | 1993-02-03 | SOCIETE NATIONALE D'EXPLOITATION INDUSTRIELLE DES TABACS ET ALLUMETTES Société Anonyme française | Vorrichtung zum Messen einer Querabmessung eines im wesentlichen zylindrischen Objektes |
FR2636731B1 (fr) * | 1988-09-16 | 1990-11-30 | Tabacs & Allumettes Ind | Dispositif de mesure d'une dimension transversale d'un objet sensiblement cylindrique |
FR2646904B1 (fr) * | 1989-05-09 | 1991-08-23 | Tabacs & Allumettes Ind | Dispositif de mesure d'une dimension transversale d'un objet sensiblement cylindrique, pour une pluralite de sections de cet objet |
US5043588A (en) * | 1990-06-18 | 1991-08-27 | Westinghouse Electric Corp. | Pellet diameter measurement apparatus and method detecting non-orthogonally to the common axis of the pellets |
DE4023610C2 (de) * | 1990-07-25 | 1995-03-30 | Sikora Industrieelektronik | Optische Vorrichtung für die Prüfung von Strängen, insbesondere von Kabeln |
US5113591A (en) * | 1991-03-20 | 1992-05-19 | Crucible Materials Corporation | Device for measuring out-of-roundness |
FR2678727A1 (fr) * | 1991-07-04 | 1993-01-08 | Tabacs & Allumettes Ind | Procede et dispositif de calibrage, en particulier de cigarettes, mettant en óoeuvre la determination du temps d'interception d'un faisceau laser. |
US5448362A (en) * | 1993-07-06 | 1995-09-05 | Perchak; Robert M. | Non-contact measurement of displacement and changes in dimension of elongated objects such as filaments |
US5600700A (en) † | 1995-09-25 | 1997-02-04 | Vivid Technologies, Inc. | Detecting explosives or other contraband by employing transmitted and scattered X-rays |
US6116306A (en) * | 1998-09-24 | 2000-09-12 | The Coe Manufacturing Company | Method and apparatus for positioning log blocks on optimum center in lathe charger for transfer to veneer lathe |
US6480290B1 (en) | 2000-01-31 | 2002-11-12 | Carnegie Mellon University | Method and apparatus to measure the cross-sectional area of an object |
EP1397961B1 (de) * | 2002-09-11 | 2006-06-28 | Hauni Maschinenbau AG | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Länge und des Durchmessers von Filterstäben |
US7595893B2 (en) * | 2006-09-20 | 2009-09-29 | Mitutoyo Corporation | Shape measurement method and shape measurement apparatus |
CZ304682B6 (cs) * | 2013-07-16 | 2014-08-27 | Rieter Cz S.R.O. | CMOS optický snímač obsahující množství optických prvků pro zařízení ke zjišťování parametrů pohybující se příze na textilních strojích |
US10175036B2 (en) * | 2015-07-02 | 2019-01-08 | Rolex Sa | Method of measuring at least one dimension of an object |
JP7240937B2 (ja) * | 2019-04-05 | 2023-03-16 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置および光学式測定方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE932933C (de) * | 1953-07-28 | 1955-09-12 | Siemens Reiniger Werke Ag | Anordnung zur Roentgendurchleuchtung fuer die Materialpruefung |
CH424316A (de) * | 1965-05-25 | 1966-11-15 | Zellweger Uster Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung von Doppelfäden |
GB1379473A (en) * | 1972-03-04 | 1975-01-02 | Sensors Inc | Inspection methods apparatus and systems |
JPS5737806B2 (de) * | 1972-12-27 | 1982-08-12 | ||
SE376966B (de) * | 1973-10-12 | 1975-06-16 | Aga Ab | |
JPS5237063A (en) * | 1975-09-18 | 1977-03-22 | Daido Steel Co Ltd | Size measuring method without contact |
DE2620240A1 (de) * | 1976-05-07 | 1977-11-24 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und vorrichtung zur pruefung lichtundurchlaessiger werkstuecke |
-
1979
- 1979-03-05 DE DE19792908534 patent/DE2908534A1/de active Granted
- 1979-03-07 NL NLAANVRAGE7901815,A patent/NL186405C/xx not_active IP Right Cessation
- 1979-03-08 SE SE7902066A patent/SE7902066L/ unknown
- 1979-03-08 BE BE0/193916A patent/BE874706A/xx not_active IP Right Cessation
- 1979-03-08 IT IT67497/79A patent/IT1119691B/it active
- 1979-03-09 FR FR7906071A patent/FR2419508A1/fr active Granted
- 1979-03-09 JP JP2681079A patent/JPS54139576A/ja active Pending
-
1984
- 1984-12-10 JP JP1984187212U patent/JPS60118904U/ja active Pending
-
1988
- 1988-08-23 US US07/235,167 patent/US4895449A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BE874706A (fr) | 1979-07-02 |
NL186405B (nl) | 1990-06-18 |
NL7901815A (nl) | 1979-09-11 |
FR2419508B1 (de) | 1984-06-22 |
US4895449A (en) | 1990-01-23 |
SE7902066L (sv) | 1979-09-10 |
DE2908534A1 (de) | 1979-09-13 |
IT1119691B (it) | 1986-03-10 |
IT7967497A0 (it) | 1979-03-08 |
JPS54139576A (en) | 1979-10-30 |
JPS60118904U (ja) | 1985-08-12 |
NL186405C (nl) | 1990-11-16 |
FR2419508A1 (fr) | 1979-10-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2908534C2 (de) | ||
DE3219389C2 (de) | ||
DE2725756C2 (de) | ||
EP2957859B1 (de) | Prüfvorrichtung und verfahren zum prüfen von innenwandungen eines hohlkörpers | |
EP0740770B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur vermessung von exzenterdrehteilen | |
DE102011119806B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Sichtbarmachen eines Signierzeichens auf einem Brillenglas | |
DE3007233A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen der koerperlichen eigentuemlichkeit einer objektoberflaeche | |
DE2642170A1 (de) | Spektrophotometer | |
DE102015201823B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur automatisierten Klassifizierung der Güte von Werkstücken | |
DE3805785A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur optischen erfassung des rauheitsprofils einer materialoberflaeche | |
DE10220872A1 (de) | Einrichtung zur messtechnischen Bewertung von reflektierenden Objekten, insbesondere von reflektiven Anzeigen | |
DE102012008110B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Gestaltvermessung von Hohlglasartikeln | |
DE3220948A1 (de) | Abtastvorrichtung | |
DE3237950C2 (de) | Vorrichtung zum Feststellen von Fehlern an Dichtkanten von Lippendichtungen | |
EP3511739A1 (de) | Prüfvorrichtung für optisches messsystem | |
DE3232885A1 (de) | Verfahren zur automatischen pruefung von oberflaechen | |
DE4000121C1 (en) | Photoelectric quality control for sealing rings - has carrier for light source slidable and pivotable about axis in parallel with its length axis | |
DE2655704C3 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fremdkörpern in Glasflaschen | |
DE3819058C2 (de) | ||
DE3643723C2 (de) | ||
DE3414500C2 (de) | ||
DE3314686C2 (de) | Einrichtung zum Messen des Flächeninhaltes der Projektion eines Prüfkörpers auf eine Ebene | |
DE4025682C2 (de) | ||
DE2211708A1 (de) | Elektro-optisches system und verfahren zur untersuchung von gegenstaenden | |
DE19605232C2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Bestimmung einer Blutsenkung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: BRITISH STEEL PLC, LONDON, GB |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: INTEGRATED PHOTOMATRIX LTD., LONDON, GB |
|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: HOORMANN, W., DIPL.-ING. DR.-ING., 28209 BREMEN GODDAR, H., DIPL.-PHYS. DR.RER.NAT. LIESEGANG, R., DIPL.-ING. DR.-ING., 80801 MUENCHEN WINKLER, A., DR.RER.NAT., 28209 BREMEN TOENHARDT, M., DIPL.-PHYS. DR.RER.NAT., PAT.-ANWAELTE, 40593 DUESSELDORF STAHLBERG, W. KUNTZE, W. KOUKER, L., DR. HUTH, M. EBERT-WEIDENFELLER, A., DR. JUR., 28209 BREMEN NORDEMANN, W., PROF. DR. VINCK, K., DR. HERTIN, P., PROF. DR. VOM BROCKE, K. OMSELS, H., 10719 BERLIN SCHELLENBERGER, M., DR., 04103 LEIPZIG NORDEMANN, A., |