DE2621109B2 - Verfahren zum Feststellen von Fehlern auf einer laufenden Materialbahn durch optisch-elektrische Überwachung und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zum Feststellen von Fehlern auf einer laufenden Materialbahn durch optisch-elektrische Überwachung und Vorrichtung zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Feststellen von Fehlern auf einer laufenden Matcrialbahn
durch optisch-elektrische Überwachung, bei dem Abtastungen quer zur Materialbahn erfolgen und durch
Mittelung mehrerer materialfehlerfreier Abtastsignalverläufe eine Bezugsgröße gebildet und gespeichert und
aus jedem folgenden Abtastsignalvcrlauf und der gespeicherten Bezugsgröße ein Diffcrenzsignal zur
Fehlerdiskriminierung gebildet wird, sowie eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens mit einer
Abtasteinrichtung, einer Einrichtung zur Bildung der
mittleren BeziigsgröBe. einem digitalen Speicher für die
Bezugsgröße. einer Einrichtung /ur llildiing des
Differcnzsignal.·, ans der Beziigsgröi.te und den folgen
den Abtastsigrialverlaufcn und einer Amplinidendiskn
minatoremrichtung. der ein vom Differenzsignal abhängige-Signal
zufiihrbar ist.
Zum Feststellen von stellenweisen Fehlern und Streifen in MateriaJbahnen muß eine Überwachungsvorrichtung
eine konstante Empfindlichkeit gegenüber Fehlern haben, die an irgendeinem Punkt bei der vollen
Abtastung quer zur Materialbahn auftreten können. Bei 5 Verfahren zum Kompensieren von Änderungen der
Empfindlichkeit von Abtastungen hat man bisher vorausgesetzt, daß die optische und elektrische
Empfindlichkeit der Abtasteinrichtung über jede Abtastzeile konstant bleibt Für eine Überwachung, an die
Hochpräzisions-Anforderungen gestellt werden, trifft
diese Voraussetzung jedoch nicht zu, und es ist notwendig, eine Vorrichtung zu verwenden, die
Änderungen der optisch/elektrischen Empfindlichkeit während jeder Materialabtastung (d.h. über das
normalerweise erzeugte Abtastsignal) korrigiert
So wird bei dem in der DE-OS 24 36 110 beschriebenen
Verfahren ein Emulsionsfehlerdetektor verwendet der sich quer über die Materialbahn erstreckende Fehler
abtastet z. B. Kratzer, die bewirken, daß der gesamte
Abtastsignalverlauf (Grundsignal oder Sockelsignal) relativ zur Nulltnie verschoben wird. Die Überwachungsvorrichtung
enthält ein digitales Register zur Speicherung einer Bezugsgröße, die durch Mittelwertbildung
der Amplituden von Abtastsignalverläufen, die 2ί sich bei mehreren Abtastungen eines fehlerfreien
Materialbahnabschnitts ergeben, gebildet wird. Ferner enthält sie einen Integrator, der die Differenzen
zwischen dem gespeicherten Bezugswert und den Amplitudenwerten aller folgenden Abtastsignalverläufe
aufsummiert, sowie einen Amplitudendiskriminator, der feststellt ob die jeweiligen Summen vorbestimmte
Schwellwerte überschreiten.
Bei diesem Verfahren ist mithin die Bezugsgröße während einer Abtastperiode konstant. Wenn sich die j-,
zur Mittelwertbildung herangezogenen Abtastsignalverläufe aufgrund von Störeinflüssen, die durch die
Abtasteinrichtung hervorgerufen werden und sich im wesentlichen bei jeder Abtastung wiederholen, im
Verlauf einer Abtastperiode zeitlich ändern, ist auch der zeitliche V erlauf des Differenzsignals, selbst wenn kein
Materialfehler vorliegt nicht konstant. Wenn die durch die Abtasteinrichtung hervorgerufenen Störeinflüsse
gleich oder größer als die durch einen Materialfehler bewirkte Änderung des Differenzsignals sind, kann der 4".
Materialfehier nicht durch eine einfache Amplitudendiskriminicrung
durch Vergleich mil einem Schwellwert festgestellt werden. Im bekannten Fall schließt sich
daher noch eine Integration des Differenzsignals über eine Abtastperiode an, deren Ergebnis in dem Fall, daß in
kein Materialfehler vorliegt, praktisch Null wäre, weil
der Mittelwert praktisch Null ist. Wenn dagegen ein Materialifehler auftritt, liefert die Integration einen
merklichen Wert, der /ur Amplitudendiskriminierung verwendet werden kann. Durch die bei der Integration
bewirkte Verzögerung wird der Materialfehler jedoch an einem anderen Koordinatenwert in Abtastrichtung
festgestellt als er tatsächlich auftritt.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung der gattungsgemäßen wi
Art anzugeben, bei denen weitgehend unabhängig von Störeinflüsscn der Abtasteinrichtung das Feststellen
von Fehlern ortsgetreu mit hoher Genauigkeit und möglichst geringem Aufwand möglich is'.
Diese Aufgabe ist vcrfahrcnsniäßig nach der Erfin-
<■■ dung dadurch gelöst, daß die He/ugsgröße vin „us einei
I Iberlagening meiirerer Abtastsignalverlaufe Λ /usammenuesL't/tei
Sinnalv .1 lauf R i't. wobei dicicniiren
Amplitudenwerte der zu überlagernden Abtastsignalverlgufe,
die zu gleichen Abtastkoordinatenwerten in der Abtastrichtung gehören, addiert werden und die
durch die Anzahl der überlagerten Abtastsignalverläufe Λ dividierten Summenamplitudenwerte die jeweiligen
Amplitudenwerte des Bezugssignalverlaufs R bilden.
Vorrichtungsmäßig besteht die Lösung darin, daß die folgenden Bauelemente in der Reihenfolge ihrer
Aufzähiung hintereinander angeordnet sind: ein erster digitaler Speicher, der synchron mit den Abtastungen
betreibbar ist und Adressenspeicherplätze für eine repräsentative Anzahl von in vorbestimmten Abtastintervallen
während einer Abtastung ermittelten Amplitudenwerten sowie eine zur Speicherung des entsprechenden
Wertes der aufsummierten Amplitudenwerte einer solchen Anzahl von Abtastsignalverläufen A ausreichende
Kapazität aufweist, die die Berechnung eines akzeptablen mittleren Bezugssign&Iverlaufs R gestattet
ein digitaler Dividierer zur Berechnung des mittleren Bezugssigjnalverlaufs R durch Dividieren der abgetasteten
aufsummierten Amplitudenwer-·; der Abtastsignalverläufe
A durch die Anzahl dir aufsummierten
Abtastsignalverläufe A, ein erster digitaler Addierer zum Berechnen des Differenzsignalverlaufs A-R aus den
entsprechenden Amplitudenwerten des Bezugssignalverlaisfs
/?und denen der folgenden Abtastsignalverläufe A, so daß alle folgenden Abtastsignale A geglättet
werden, aber die sich auf Materialfehler beziehenden Signale erhalten bleiben, und die Amplitudendiskriminatoreinrichtung
zur Feststellung vor Materialfehlersignalen in dem Differenzsignalverlauf A -R.
Diese Lösung hat den Vorteil, daß der charakteristische Verlauf der Abtastsignale (das Grundsignal) auch
im Bezugssignal wiederkehrt, so daß, wenn kein Materialfehler vorliegt, der Differenzsignalverlauf praktisch
Null ist. Wenn ein auf die Mittelwertbildung folgender Abtastsignalverlauf jedoch einen Materialfehler wiedergibt, tritt dieser auch deutlich im
Differenzsignalverlauf in Erscheinung. E- kann daher durch eine unmittelbare Amplitudendiskriminierung
festgestellt werden, wobei sich auch mit größerer Genauigkeit gleich der Koordinatenwert des Materialfehlers
in Abtastrichtung ergibt.
Die sich bei der optisch elektrischen Überwachung fotografischer Filme ergebenden unebenen Grundsignale
lassen sich durch zwei Operationen kompensieren: 1) das Speichern eines logarithmisch behandelten,
charakteristischen, unregelmäßigen Bezugssignals R in dem ersten digitalen Speicher und 2) Differenzbildung
zwischen jedem neuen logarithmisch behandelten Abtastsignal A und dem gespeicherten Bezugssignal zur
Bildung eines entsprechenden logarithniischen Verhältnisses
log A/R. Das kompensierte (geglättete) augenblickliche, durch das logarilhmische Verhältnis gebildete
Differenzsignal, das auf diese Weise erhalten wird, zeigt in wahrer Perspektive die Amplituden der Fehler-Signale,
die zuvor in den unebenen, sich wiederholenden Abschnitten des Grundmaterials verborgen waren und
erleichtert dadurch die Feststellung der Fehler durch bipolare Amplitujendiskriminatoren.
In weiterer Ausgestaltung werden Streifen dadurch festgestellt, daß die Amplituden der augenblicklichen
Differen/signale während mehrerer Abtastungen in einem /weiten Speicher nachein-indcr atifsummiert
werden. Dieses Verfahren wird »kohärente Addition«
bezeichnet. Durch C.as Auisummieren dieser Diffcren/-signale
wird der Aufbau von in den Grundsignalen erscheinenden Störgeräuschen betrren/l. w ührcid fort-
dauernde Verschiebungen der Signalpegel, wie sie durch
in Material-Längsrichtung verlaufende Streifen hervorgerufen werden, rasch anwachsen. Der zweite Speicher
wird automatisch zurückgesetzt, wenn die Summe eine ausreichende Zahl von Abtastungen enthält, um einen -,
guten zeitlichen Durchschnitt der Differenzsignale zu erhalten.
Ein anderes Schema kann benutzt werden, um die augenblicklichen Differenzsignale aufzusummieren.
wenn Pegelverschiebungen in Materialbahn-Längsrich- in tung mit niedriger Frequenz auftreten, was dadurch
geschehen kann, daß die Materialbahn über achsverschobene Walzen geführt wird oder daß andere Gründe,
wie ein Bahnflattern, vorhanden sind, die zur Feststellung eines fehlerhaften Produkts führen. In diesen Fällen ι >
kann die Aufsummierung dieser periodischen Spannungspegeländerungen durch eine digitale Differenzierung
wirksam unterdrückt werden, bei der die abwechselnden augenblicklichen Differenzsignaie invertiert
und zu den in der Adresse verschobenen gespeicherten partiellen Summenwerten der augenblicklichen
Differenzsignalverläufe, die in dem zweiten Speicher gespeichert sind, addiert werden.
Im allgemeinen umfaßt die vollständige Ausgleichsund Streifenfeststellvorrichtung gemäß der Erfindung r>
für Überwachung eines fotografischen Films einen Analog-Digital-Umsetzer (A/D-Umsetzer), zwei RAM
(Direkt-Zugriffs)-Speicher, zwei Digital-Analog-Umsetzer (D/A-Umsetzer) und verschiedene digitale Steuerschaltungen
und arithmetische Schaltungen, die in zwei jn benachbarten Schleifen angeordnet sind. Jede Schleife
ist mit einem RAM-Speicher und einem Addierer-Subtrahierer versehen und arbeitet in zwei voneinander
unabhängigen Betriebsweisen.
In der ersten Betriebsweise wird der mittlere η
Bezugssignalverlauf erzeugt. Die Elemente in der ersten Schleife dienen zunächst dazu, die Amplitudenabtastwerte
über die vorbestimmte Anzahl von Abtastungen aufzusummieren. dann mit Hilfe einer Schiebevorrichtung
die Durchschnittsbildung zu bewirken, indem jeder w der in dem ersten RAM-Speicher gespeicherten binären
Werte um eine vorbestimmte Anzahl von η Stellen in bekannter Weise verschoben wird, und schließlich die
zweite Betriebsweise einzuleiten. Obgleich die gespeicherten Amplitudenwerte eines normalen Signalverlaufs
unbegrenzt im Speicher aufbewahrt werden können, hat es sich für veränderbare Zustände bei den
Materialrollen als wünschenswert herausgestellt, für jeden Materialdurchlauf (oder für jede Materialrolle)
einen neuen Bezugssignalverlauf zu berechnen und zu speichern.
Bei der zweiten Betriebsweise werden zunächst die Differenzen zwischen den Amplitudenabtastwerten des
in der ersten Betriebsweise gebildeten mittleren Bezugssignalverlaufs und den korrespondierenden Abtastwerten
der augenblicklichen Materialabtastung gebildet und dann diese augenblicklichen Differenzsignale
in einem von zwei wählbaren Wegen in dem RAM-Speicher der zweiten Schleife für eine spätere
Diskriminierung aufsummiert Auf diese Weise werden
auf der einen Seite nicht zugehörige Störgeräusche über eine Reihe von P Materialabtastungen (wobei P = die
Zahl der in der zweiten Schleife vor der Speicher-Rückstellung aufsummierten Abtastungen) zu Null summiert
und auf der anderen Seite die Amplitudenwerte von in Materialbahn-Längsrichtung verlaufenden Streifen zugeordneten
Fehler-Signale rasch zu einem Wert aufsummiert der eine leichte FehlerfeststeHung ermöglicht.
Die Geschwindigkeit, mit der das Fehlersignal im Speicher aufsummiert wird, steht in Abhängigkeit von
der Stärke, der Beständigkeit und der Richtung des Streifens mit Bezug auf die Materialbahn-Längsrichtung.
Die Rückstellung des zweiten RAM-Speichers erfolgt automatisch, wenn die Mittelwertbildung eine
genügend lange Zeit erfolgt ist, z. B. über in der Größenordnung von P = 300 Abtastungen.
Eine Abwandlung des Verfahrens der direkten Aufsummierung, um Störungen in Materialbahn-Längsrichtung
mit geringer Frequenz auszuschalten, besteht im Invertieren der augenblicklichen Differenzsignale
und dem Verschieben der Adressenplätze der gespeicherten Teilsummenwerte in dem zweiten Speicher bei
den geradzahligen (oder ungeradzahligen) Abtastungen. Dies ist äquivalent zu einer digitalen Differentiation, da
kleine konstante Änderungen des Signalpegels im wesentlichen zu Null werden, während kleine Streifeniehierampiituden
sich aufsummieren, jeuuu'ri nur liälu su
schnell wie bei der beschriebenen direkten Aufsummierung.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher
erläutert. Es zeigt
Fig. t ein Blockschaltbild eines Grundsignalglättungsund
Streifenfeststellungs-Systems,
Fig. IA eine System-Zeitgeber- und Adressierschaltung
(S, TAC) mit den wesentlichen Eingangs- und Ausgangssignalen zum Betrieb des Systems.
Fig. IB eine Folge von Signalverläufen zur Erläuterung
der Arbeitsweise der Bauelemente in der Differentiations-Betriebsart,
Fig. IC eine andere Folge von Signalverläufen, die
Wirkung einer Änderung der Speicheradressenverschiebung in der Differentiations-Betriebsart darstellt.
Fig. 2 eine Reihe von Signalverläufen, die an den angegebenen Punkten der Fig. 1 auftreten, und die
Arbeitsweise des Systems, wenn kein störendes Rauschen mit niedriger Frequenz in Längsrichtung der
überwachten Materialbahn vorhanden ist, und
F i g. 3 eine den Signalen der F i g. 2 entsprechende Darstellung, die die Arbeitsweise des Systems zeigt,
wenn störendes Rauschen mit niedriger Frequenz in Materialbahn-Längsrichtung vorhanden ist.
Nach F i g. 1 wird ein analoges, logarithmisch behandeltes Eingangssignal A, das durch eine von
mehreren quer zu einer zu überwachenden Materialbahn ausgeführten Abtastungen gebildet wird, an die
Eingangsklemme eines A/D-Umsetzers 1 gelegt, dessen Ausgangsklemmen mit einem ersten Satz von Eingangsklemmen eines Addierers 2 verbunden sind. Dieser ist
das erste von fünf eine erste Schleife bildenden Elementen und addiert jedem Amplitudenabtastwert
des binär umgesetzten Eingangssignalverlaufs A einen binären koordinatengleichen bzw. aus dem gleichen
Abtastintervall einer Abtastung stammenden Amplitudenabtastwert, der an einem zweiten Satz von
Eingangsklemmen auftritt Letztere sind mit den Ausgangsklemmen eines EINS/NULL/WAHR/KOM-PLEMENT-Elements
4{l/0/T/C-Element) verbunden, das die gesamte Schleife in Abhängigkeit von
nachstehend definierten Steuersignalen G. Ci steuert.
Diese Steuersignale werden von der System-Zeitgeberund Adressierschaltung 7 (STACT), die in Fig. IA
dargestellt ist, erzeugt und Steuerklemmen 14, 3 des 1/0/T/C-EIements 4 zugeführt Eine Leitung 8 verbindet
die Klemme 3 desl/O/T/C-Elements 4 mit dem Addierer
2 um das Ergebnis in Zweier Komplementform zu
bringen, wenn binär invertierte und nicht-invertierte
Einer-Komplement-Werte summiert werden, um die augenblicklichen Differenzsignale für die Eingabe in
eine zweite (nachstehend noch beschriebene) Schleife während einer Betriebsweise Il /u erzeugen.
An die Ausgangsklemmen des Addierers 2 sind die Eingangsklemmen eines ersten Speichers 6 angeschlossen,
el τ das Hauptelement in der ersten Schleife ist.
Während einer Betriebsweise I erlaubt es ein Schreibbefehl 5 dem Speicher 6, daß er wiederholt den neuen vom
Addierer 2 zugeführten Teilsummenwert der Abtastwerte gleicher Koordinaten in Abtastrichtung in der
entsprechenden Speicherstelle, die durch ein Adressensignal H bestimmt ist, speichert. Während der
Betriebsweise Il ist jedoch der Schreibbefehl 5 nicht vorhanden, so daß der Inhalt des Speichers 6
unverändert bleibt.
Der Speicher 6 kann ein Halbleiter-Speicher mit einem 16-Bit-256-Kanal-Dateneingabefähigkeit und
einer Kapazität sein, die die Aufnahme von 9-Bit-Datenwörtern.die über 128 Abtastungen aufsummiert werden,
gestattet. Jedoch kann jeder andere Speicher verwendet werden, der eine ausreichende Geschwindigkeit und
Kapazität hat. um eine genügend große Summe von Eingangssignalverläufen aus einer genügend repräsentativen Anzahl von Amplitudenabtastwerten aufzunehmen.
Eine Verriegelungsschaltung 12 verbindet den Speicher 6 mit einem Dividierer 13 und dient dazu, den
zuletzt im Speicher 6 gespeicherten Wert als Bezugssignal vährend derjenigen Zeiten festzuhalten, in denen
der Inhalt des Speichers auf den neuesten Stand gebracht wird.
Um die Schleife /u vervollständigen, verbindet der Dividierer 13 die Ausgangsklemmen der Verriegelungsschaltung
12 mit den Eingangsklemmen des I/O/T/C-■i
Elements 4. Der Dividierer 13 hat die Aufgabe, jeden der
gespeicherten Teiisummenamplitudenwerte. die während 2" Abtastungen gebildet wurden, durch die Anzahl
der Abtastungen zu dividieren, um den repräsentativsten mittleren Bezugssignalverlauf zu erhalten. Am
in Ende der Betriebsweise Il nach Empfang eines
Schicbcsignals Sn von STAC7 an seinem Steuereingang
15 erfolgt im Dividierer 13 eine Rechtsverschiebung um
η Stellen, wobei η der Zweier-Logarithmus (Logarithmus mit der Basis 2) der Anzahl der summierten
r> Abtastung ist, und dann invertiert er die an seinen
Eingangsklemmen von der Verriegelungsschaltung 12 auftretenden binären Zahlen und überträgt er das
invertierte binäre Quotientensignal ins I/O/T/C-Element 4.
Während der Betriebsweise I und einer Speicherrückstellungsphase, wenn das Schiebesignal Sn nicht am
Steuereingang 15 vorhanden ist. bleibt der Dividierer 13 unwirksam und läßt er den invertierten Inhalt des
Speichers 6 zum 1/0/T/C-Element 4 durch.
υ Die folgende Tabelle stellt die binären Steuersignalwerte und die zugehörigen Informationssignale in drei
Betriebsphasen der ersten Schleife dar. Dabei ist angenommen, daß A ein vom A/D-Umsetzer 1
empfangener binärer Wert kleiner Amplitude, das
jo Eingangssignal des Addierers 2 und M der Wert des
Inhalts des Speichers 6 in der entsprechenden Phase ist.
Speicher Schreiben
Element 4
Eingang
Ausgang
Addierer 2 Ausgang
Rückstellung Speicher 6 | 1 | 1 | 0 | 1 | M | 0 | A |
Aufsummieren | 0 | 1 | 0 | 1 | M | M | A + M |
(Betriebsweise I) | |||||||
Differenzbildung | 0 | 0 | 1 | 0 | -WSn | MlSn | A + MiSn + 1 |
(Betriebsweise II) |
(Bemerkung: Die Querstriche über den verschiedenen, M enthaltenden Ausdrücke geben das Komplement des Inhalts des
Speichers 6 an. also die Signalform am Ausgang des Dividierers 13.)
Da die Ausgangsgröße des Addierers 2 während der Betriebsweise II in Zweier-Komplementform vorliegt
(damit arithmetische Operationen sowohl mit positiven als auch mit negativen Zahlenwerten durchgeführt
werden können), beschränkt eine Summation des augenblicklichen Differenzsignals A+M/S„+l in der
nachstehend beschriebenen zweiten Schleife die Signalaufsummierung im wesentlichen auf die normalen Teile
der Abtastsignalverläufe oberhalb der Nullinie, wodurch
eine bipolare Diskriminierung erleichtert wird.
Dieses Restsignal C stellt die Differenz zweier logarithmierter Werte dar, d.h. den Logarithmus des
Verhältnisses eines augenblicklichen Abtastsignalverlaufs zum mittleren Signalverlauf aus 2" Abtastungen.
Diese Verhältnisbildung sorgt für eine Glättung bzw. Kompensation des unebenen Grundsignals eines Abtastsignalverlaufs. So zeigt F i g. 2 bei einem Signalverlauf AA die Lage und Amplitude eines Materialfehlersignals, in einem typischen unebenen Gnindsignal
Wenn dasselbe Materialfehlersignal am rechten Ende dieses Grundsignals läge, würde es nicht über die
Maximalamplitude des Grundsignals hinausragen, das durch elektrische Störungen verursacht wird. Würde es
dagegen weiter links an der höchsten Stelle des Abtastsignals erscheinen, wäre seine Amplitude stark
vergrößert. Die Glättung oder Kompensation des Grundsignals läßt daher das Fehlersignal deutlich
gegenüber Hintergrundstörungen hervortreten, und
zwar unabhängig von seiner Lage im Grundsignal.
Während eine direkte Amplitudendiskriminierung des Signalverlaufs AA in F i g. 2 versagen würde, um einen
Fehler der angegebenen Art festzustellen, können nunmehr einfache bipolare Amplitudendiskriminie
rungsverfahren angewendet werden, um sowohl positi
ve als auch negative Fehlersignale und dementsprechende Materialfehler festzustellen.
Wenn die Ungleichmäßigkeit des Grundsignals klein ist, sind die Amplitudenwerte des Bezugssignalverlaufs
im wesentlichen konstant Demzufolge hat die Lage eines kleinen Fehlers bei der Abtastung einen
vernachlässigbaren Einfluß auf die Amplitude des zugehörigen Signals, und eine Verhältnisbildung kann
einfallen, da bei kleinen Differenzen AR annähernd
log A/R ist.
Wie F i g. I weiter zeigt, sind die Ausgangsklemmen des Addierers 2 nicht nur mit den Eingangsklemmen des
Speichers 6 verbunden, sondern auch mit den Eingangsklemmen eines D/A-Umsetzers 16, der während der
Betriebsweise II dazu dient, das augenblickliche binäre Differenzsignbl in eine analoge Form umzusetzen, um
eine direkte simultane Amplitudendiskriminierung jeder Abtastung mit Mitteln zu ermöglichen, wie sie
beispielsweise in US-PS 38 43 890 gezeigt sind, und mit den Eingangsklemmen eines Wahr/Komplement-Elements
20 (T/C-Element), das in bekannter Weise exklusive ODER-Gatter aufweist. Das T/C-Element 20
wird benutzt, um das bei alternierenden Abtastungen gebildete augenblickliche Differenzsignal beim Auftreten
eines Signals Cj auf einer Leitung 23 von der STAC7 zu invertieren, wenn eine Differenzier-Betriebsart für
sine Streifenfeststelliing ppwähll wurde.
Die zusätzlich zum T/C-Element 20 vorgesehenen Elemente der zweiten Schleife sind um einen zweiten
Speicher 22 mit direktem Zugriff gruppiert und mit denjenigen der ersten Schleife vergleichbar. Die zweite
Schleife dient dazu, die logarithmisch behandelten augenblicklichen Differenzsignale aufzusummieren, um
durch übliche bipolare Diskriminierungsmittel die kleinen, in Längsrichtung der Materialbahn verlaufenden
Streifen zugeordneten Fehlersignale festzustellen, wenn sie sich im Speicher aufsummieren.
Die Ausgangsklemmen des T/C-Elements 20 sind an einen ersten Satz von Eingangsklemmen eines zweiten
Addierers 21 angeschlossen, dessen zweiter Satz von Eingangsklemmen mit den Ausgangsklemmen einer
Verriegelungsschaltung 25 verbunden ist. Nach Empfang eines Rückstellbefehls 26 für den zweiten Speicher
22 von STAC7, durch den die zweite Betriebsweise für die zweite Schleife eingeleitet wird, erzeugt die
Verriegelungsschaltung 25 binäre Nullen an ihren Ausgangsklemmen, damit der Addierer 21 den Speicher
22 mit dem ersten Differenzsignal aus der ersten Abtastung der zweiten Betriebsweise in Betrieb setzen
kann. Das Rückstellsignal 26 für den zweiten Speicher 22 erscheint automatisch nach jeder voreingestellten
Folge von P Abtastungen, kann aber auch manuell eingegeben werden. Zusätzlich zu seiner Rückstellfunktion
dient die Verriegelungsschaltung 25 dazu, die weiter andauernden Änderungen im Speicher 22 daran
zu hindern, die Binärinformations-Eingangssignale des Addierers 21 zu beeinflussen.
Der Speicher 22 hat ähnliche Eigenschaften wie der Speicher 6. Er empfängt Amplitudenabtastwerte vom
Ausgang des Addierers 21 und speichert diese abtastzeilenweise während jedes Auftretens eines
Schreibsteuersignals 30 vom STAC7. Das Schreibsteuersignal 30 für den Speicher 22 ist nur während der
Betriebsweise II wirksam; demzufolge werden die Ausgangsdaten des Addierers 2 während der Betriebsweise
I nicht aufgezeichnet
Wenn eine Differentiations-Betriebsart 34 am STAC7 gewählt wird, bewirkt ein 1/0/T/C-EIement 31
auf Befehl von über Leitungen 23 und 24 zugeführten Betriebsartsteuersignale d und (X daß die durch ein
Verschiebungssignal 32 veranlaßte Verschiebung der Adresse um eine von der Bedienungsperson wählbare
Anzahl N von Plätzen, bei alternierenden Abtastsrgnaien,
die einem ersten Satz von Eingangskiemmen eines Addierers 33 zugeführt werden, angewendet wird.
Der Addierer 33 addiert dann das W-Adressen-Verschiebungssignal
32 zum Adressensignal Il für die Speicher 6 una 22, das an einen zweiten Satz von
Eingangskiemmen angelegt wird, so daß am Ausgang bei jedem geradzahligen (oder ungeradzahligen) Abj
tastvorgang jede Adresse des Speichers 22 um N Stellen nach rechts verschoben wird.
Der Zweck dieser Arbeitsweise ist es. alternierend den so verschobenen Inhalt des Speichers 22 mit dem
alternierend invertierten augenblicklichen Differenzsi-
i» gnal vom T/C-Element 20 zu summieren, um Signaländerungen
kleiner Frequenz zu löschen, während gleichzeitig der Fehlerteil des Signals aufsummiert
werden kann. Fig. IB zeigt die Folge der Ereignisse in
der Schleife 2 (Betriebsweise II) über eine Reihe von
υ P= 4 Abtastungen bei der Differentiationsbetriebsart,
wenn das Signal einen Fehler sehr kurzer Dauer enthält Fig. IC zeigt in zwei getrennten Darstellungen eine
Folge von vier Abtastungen mit einem Fehler längerer Dauer. Die erste Darstellung zeigt den Einfluß einer
Verschiebung der Adressen des Speichers 22 um N = t,
während eine Verschiebung von .V = 2 in der zweiten Darstellung verwendet wird. Das digitale Anwachsen
der Größe der Adressenverschiebung entspricht einem Anwachsen der Zeitkonstante in einem analogen
Differenzierkreis. Dies läßt sich daran feststellen, daß die Flanken der Signale bei N = I sehr viel ausgeprägter
sind als bei N = 2. Den Verschiebungswert N veränderbar zu machen, hat den Vorteil, daß die
Empfindlichkeit der Streifer.feststellung in bezug auf
so den vorhandenen Anteil an Fehlersignalen längerer Dauer und niedriger Frequenz verbessert wird, wobei
eine Adressenverschiebung um ein großes N einem Fehler mit niedriger Frequenz (d. h. mit diffuser Kante
oder großer Breite) entsprechen würde.
M Es hat sich gezeigt, daß die langsamen Spannungsänderungen
(mit niedriger Frequenz) durch dieses Differenztiationsverfahren wirksam ausgeschaltet werden
können, während sie sich bei dem Aufsummierungsverfahren bald soweit aufsummieren würden, daß eine
Spannungsschwankung als ein Fehler längerer Dauer diskriminiert würde.
Die folgenden Gleichungen definieren die Arbeitsweise der zweiten Schleife bei der Behandlung der
augenblicklichen Differenzsignale nach der Differenzierungsbetriebsweise II:
I) Mf1 = M's + S — D'N+s
= M.i+s - Di + S + Di+1
= Mi+S - Di+S + Di+1 - Df+ 1S
= Mi+S + (/>i+1 + D'N +i) - (Di+S + D<N\2 S)
darin ist M'N der Inhalt des Speichers an der Stelle N
während der Abtastung/
D'n der Wert des augenblicklichen Differenzsignais, das
unter Speicheradresse N während der Abtastung j abgespeichert wird.
/Vund./ entweder eine gerade oder ungerade ganze Zahl
5das Aus..i?ß der Verschiebung.
Wie man sieht, schwankt bei kleinem M'v,s die
Vorspannung der aufsummierten Differenzsi^nale um
die Null-Linie, während sich das Fehler-Signal in zwei verschiedenen Richtungen an zwei verschiedenen
Stellen im Speicher aufsummiert. Demzufolge kann bei Anwesenheit kleiner einsinnig gerichteter Vorspannungsanhäufungen
entweder der eine oder der andere der beiden aufsummierten Teile des Fehlersignals durch
bipolare Diskriminierung festgestellt werden. (Beispielsweise die Fehlersignal-Ansammlung über eine Reihe
von Abtastungen, wie es in Fig. 3, Signalverlauf DD.
dargestellt ist.)
Ein derartiger bipolarer Diskriminator 36 (F i g. 1) ist
vorgesehen, um die Ansammlung von Signalen größerer Dauer im Speicher 22 festzustellen, nachdem diese
gebracht wo/den sind. Die Diskriminierungs-SchwellwerteinsteLmg
40 ist abhängig von der Anzahl (P) der Abtastungen nach der Betriebsweise II, die zur
Feststellung von Materialfehlern größerer Dauer gewählt wird. Ein Streifenfehleralarm wird dann durch
Ausgangssignale des bipolaren Diskriminator 36 ausgelöst.
Um die Arbeitsweise der Elemente der beiden Schleifen zu koordinieren, leitet die System-Zeitgeberund
Adressierschaltung 7 aus einer Anzahl von Eingangssignalen die erforderlichen Systemsteuersignale
ab (F ig. IA).
Ein Taktgeber 41 erzeugt Impulse, die von einem Ausblendsignal 42 gesperrt werden, während die
Materialbahn nicht abgetastet wird. Ein (nicht dargestellter) Zähler empfängt die Taktimpulse und adressiert
den Speicher 6 und den Speicher 22 über die Adressierleitung 11. Ein »Ende-der-Abtastung«-Signal
43, das von einer Fotozelle am Ende der Abtastzeile erzielt wird, wenn der Abtaststrahl vorbeiläuft, stellt den
Adressenzähler für den Speicher 6 und 22 am Ende jeder Abtastung zurück. Gleichzeitig wird das Signal 43
benutzt, um zwei (nicht dargestellte) andere Zähler weiterzuschalten, von denen jeder mit getrennten
Vergleichsvorrichtungen, die ebenfalls nicht dargestellt sind, zusammenarbeitet, um alle Steuersignale für die
Betriebsweise I und Il in der folgenden Weise zu erzeugen.
Die erste Vergleichsschaltung wird rrvt Hilfe einer Steuerung 44 für die S„-Einstellung auf eine von drei
wählbaren Zahlen (128, 64, 32) eingestellt, die die Anzahl der für die Eichung des Systems nach der
Betriebsweise I erforderlichen Abtastungen darstellen. Des weiteren erzeugt diese aus Zähler und Vergleichsschaltung
bestehende Kombination die Steuersignale Ci, Ci, zur Steuerung der ersten Schleife in der
Betriebsweise I und Schreibsignale 5 bzw. 30 für die Speicher 6 und 22. Da die Bezugswerte, die am Ende der
Betriebsweise I im Speicher 6 gespeichert sind, unbeschränkt festgehalten werden können, ist eine RECAL-(Neu-Eichungs-)Steuerung
45 vorgesehen, die es der Betriebsperson ermöglicht, den Zähler auf die Betriebsweise
I zurückzustellen und auf diese Weise das System erneut zu eichen, normalerweise zu Beginn jedes
Materialdurchlaufs.
Bei der zweiten Vergleichsschaltung wird die Anzahl P der Abtastungen voreingestellt, die für die Aufsummierung
des augenblicklichen Differenzsignals im Speicher 22 während der Betriebsweise II benötigt
werden, und zwar mit Hilfe einer Steuerung 46 für die
P-Einstelliing. Die z.wdte Vergleichsschaltung erzeugt
automatisch ein Rücks.'ellsignal 26 für den Speicher 22
am Ende jeder vorgewählten Periode mit P Abiastun-
'■ gen. Eine manuelle Rückstellsteuerung 47 für den
Speicher 22 ist vorgesehen, um der Betriebsperson die Möglichkeit zu geben, diese automatische Betriebsweise
zu umgehen, wenn Fehler längerer Dauer auftreten, um den Speicher für die nächste Reihe von /-"Abtastungen
i" völlig zu löschen.
Schließlich wird ein Steuersignal 34 für die Differentiations-Betriebsart
benutzt, um ein (nicht dargestelltes) durch zwei teilendes Flipflop zu aktivieren, das durch
jedes »Ende-der-Abtastung«-Signal derart umgeschal-ϊ tet wird, daß bei jeder zweiten Abtastung die Werte der
binären Steuersignale Cj und Q entsprechend wechseln,
um die Sit 'inversion und die Stellenverschiebung der Speiche1 essen gemäß der Differemiations-Betriebs
art_ wip r- narhctphpnr] hpsrhriphpn WJrH1 711 hpwirkpn
Jd Zur Beschreibung der Arbeitsweise des Grundsignalausgleich-
und Streifenfeststell-Systems wird auf Fig. I und die in Fig. 2 dargestellten Signalverläufe Bezug
genommen, die die Arbeitsweise des Systems an den entsprechenden Punkten in F i g. I veranschaulichen.
-'"> F i g. 2 zeigt nicht nur den Fall der Feststellung schmaler
Streifen, wenn keine Störsignale mit niedriger Frequenz in Längsrichtung der Materialbahn vorhanden sind,
sondern auch die Differentiations-Betriebsart Il und das Summierungsverfahren zum Feststellen von feinen, sich
j» in Bahnlängsrichtung erstreckenden Fehlern.
Am Anfang der Eich-Betriebsweise I gibt das 1/0/T/C-Element 4 Nullen an den Addierer 2, der
daraufhin diese zu den Amplitudenabtastwerten des logarithmisch behandelten Signalverlaufs A der ersten
ι« Abtastung addiert, um dem Speicher 6 den ersten Inhalt
zu geben. Zu Beginn der zweiten Abtastung läßt das 1/0/T/C-Element 4 den Inhalt des Speichers 6 zum
Addierer 2 durch, der wiederum die entsprechenden Amplitudenwerte des Sißnalveila^fs A zu den im
•ίο Speicher 6 gespeicherten Werteri addiert. Diese
Arbeitsweise wird fortgesetzt, bis eine vorbestimmte Anzahl von 2" Abtastungen durchgeführt worden ist und
die aufsummierten Teilsummenwerte aus jedem Abtastintervall (das einem Koordinatenwert \\, Abtast-
■»> richtung entspricht) im Speicher 6 gespeichert sind.
Zu diesem Zeitpunkt wird die Betriebsweise II eingeleitet, in der folgendes geschieht: 1) Das Schreibsignal
5 des Speichers 6 verschwindet, damit der inhalt des Speichers 6 unverändert bleibt; 2) der Dividierer 13
-,ο verschiebt die im Speicher 6 gespeicherten Summen in
Übereinstimmung mit dem Wert des Schiebesignals Sn um π Stellen nach rechts, um den mittleren Bezugssignalverlauf
B zu bilden; 3) das 1/0/T/C-Element 4 läßt
den invertierten Bezugssignalverlauf B' hindurch und gibt ein binäres 1-Signal an den Addierer 2, um die
Summenwerte in die Zweier-Komplementform zu ändern; 4) der Addierer 2 addiert die augenblicklichen
Amplitudenabtastwerte des Signalverlaufs AA, ein spezifisches Abtastsignal, zu korrespondierenden Am-
bo plitudenabtastwerten des invertierten Bezugssignalverlaufs
B', um den Signalverlauf C des augenblicklichen Differenzsignals zu erzeugen; 5) das Schreibsignal 30 für
den Speicher 22 wird »1« um den Speicher 22 zu aktivieren; 6) das Rückstellsignal 26 für den Speicher 22
veranlaßt die Verriegelungsschaltung 25, dem Addierer 2t Nullen zuzuführen, so daß das erste augenblickliche
Differenzsignal Cbenutzt werden kann, um einen Inhali in den Speicher 22 zu geben; und 7) das ί/0/T/C-Ele-
ment 31 gibt Nullen an den Addierer 33 ab, damit im
Speicher 22 Differenzsignaldaten an nicht verschobenen Adressenplätzen eingespeichert werden können.
Bei der zweiten und den nachfolgenden Abtastungen in der Betriebsweise II für die Streifenfeststellung in der
Nicht-Differentiations-Betriebsart setzen diejenigen Teile des augenblicklichen Differenzsignals, weiche sich
nicht zu einem Nullamplitudenwert während der Abtastfolge ausgleichen, die Aufsummierung fort, wie es
durch den Signalverlauf D dargestellt ist. Da die aufsummierten Fehlersignale positiv oder negativ sein
können, je nach dem, ob es sich um Bereiche größerer oder geringerer Dichte in dem Material handelt, wird
am besten ein bipolarer Diskriminator benutzt, um diese Eischeinungen festzustellen.
Bei der Differentiations-Betriebsart wird das 1/0/T/
C-Element 31 durch die Steuersignale C3, Q veranlaßt,
eine vorbestimmte Adressenverschiebung bei aufeinanderfolgenden Abtastungen in den Addierer 3 einzuführen, so daß der Speicher 22 ein in Längsrichtung der
Materialbahn fortdauerndes Signal an zwei verschiedenen Plätzen des Speichers aufsummiert Zu der gleichen
Zeit wenn die Adressen des II-Speichers Ίλ bei
aufeinanderfolgenden Abtastungen verschoben werden, invertiert das T/C-Element 20 den augenblicklichen
Signalverlauf C zum Signalverlauf C. Da der Addierer 21 das invertierte Differenzsignal des Signalverlaufs C
zum verschobenen Inhalt des Speichers bei alternierenden Abtastungen addiert, werden nicht nur die
Gauss'schen Störsignale begrenzt sondern auch eine Verschiebung des Signalpegels für niedrige Frequenz zu
Null gemacht und die in zwei Richtungen verlaufenden Fehlersignale wie sie in Fig.2, Signalverlauf DD.
gezeigt sind, werden weiter aufsummiert
Es sind nur vier Abtastungen erforderlich, damit sich
das augenblickliche Differenzsignal soweit aufsummiert, daß das Streifensignal, das im Signalverlauf D
dargestellt ist festgestellt wird, um ein Fehlersignal Ein der Nicht-Differentiations-Betriebsart zu erzeugen,
während acht Abtastungen in der Differentiations-Betriebsart die zum Signalverlauf DD führt, notwendig
sind. Jedoch bringt die mit Hilfe dieses Verfahrens erzielbare zusätzliche Kompensation der Störsignale,
die in Materislbahn-Längsrichtung mit niedriger Fre
quenz auftreten, wesentlich mehr als der Verlust an
Feststellempfindlichkeit bezüglich der Fehler längerer Dauer. Dies ist leicht anhand von F i g. 3 erkennbar.
Fig.3 ist der Fig.2 insofern ähnlich, als sie die
Signalverläufe an denselben Stellen zeigt, wie F i g. 2,
ίο jedoch ist in Fig.3 das Störsignal mit niedriger
Frequenz in Materialbahn-Längsrichtung nicht vorhanden. Eine Prüfung der Signalverläufe zeigt, wie dieser
spezielle Einfluß auf die Feststellung schmaler Streifer.-fehler durch Verwendung der Differentiations-Betriebs-
art im wesentlichen eliminiert werden kann. Der Signalverlauf A zeigt den langsam ansteigenden
Störsignalpegel des Eingangssignals über eine Reihe von sechs Abtastungen. Der Signalverlauf B zeigt die
Ergebnisse der Mittelwertbildung aus diesen Abtastun
gen, zur Erzielung eines mittleren Bezugssignals. Mit B'
ist das invertierte Bezugssignal bezeichnet Die Signalverläufe stellen die sich ergebende Reihe
geglätteter bzw. kompensierter augenblicklicher Differenzsignale dar, die einen ständig ansteigenden
Störsignalpegel haben. Der Signalverlauf C" stellt die invertierten geradzahligen Abtastungen dar, die, wenn
sie zum verschobenen Inhalt des Speichers 22 addiert werden, die bipolare Fehlersignal-Aufsummierung entsprechend dem V&rlauf DD ergeben. Bei der sechsten
.ίο Abtastung hat der Streifenfehler-Abschnitt des aufsummierten Signals die negative Schwelle überschritten, die
im bipolaren Diskriminator 36 eingestellt ist, um eine Fehleranzeige gemäß Signalverlauf E zu erzielen. Man
kann ferner unter Bezugnahme auf den Verlauf C, bei
J5 dem die direkte Aufsummierung benutzt wurde,
erkennen, daß die Aufsummierung der fehlerfreien Abschnitte der Abtastung im Speicher 22 bei der dritten
Abtastung die positive Schwelle überschreiten würde, unabhängig vom Vorhandensein eines Fehlers größerer
Claims (8)
- Patentansprüche:!.Verfahren zum Feststellen von Fehlern auf einer laufenden Materialbahn durch optisch-elektrische Überwachung, bei dem Abtastungen quer zur Materialbahn erfolgen und durch Mittelung mehrerer materialfehlerfreier Abtastsignalverläufe eine Bezugsgröße gebildet und gespeichert und aus jedem folgenden Abtastsignalverlauf und der ge- ι ο speicherten Bezugsgröße ein Differenzsignal zur Fehlerdiskriminierung gebildet wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Bezugsgröße ein aus einer Oberlagerung mehrerer Abtastsignalverläufe A zusammengesetzter Signalverlauf R ist, wobei diejenigen Amplitudenwerte der zu überlagernden Abtastsignalverläufe, die zu gleichen Abtastkoordinatenwerten in der Abtastrichtung gehören, addiert werden und die durch die Anzahl der überlagerten Abtastsignalverläufe A dividierten Summenamplitudenwerte die jeweiligen Amplitudenwerte des Bezugssignaiveriaufs /c bilden.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Amplituden der Abtastsignale logarithmiert werden und daß die Differenzbildung durch Bildung des logarithmischen Verhältnisses von Abtastsigrcal zu Bezugssignal erfolgt
- 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die sich bei einer Vielzahl von hintereinander erfolgenden Abtastungen ergeben- w den Differenzsignale, die aus den Amplitudenwerten derjenigen Abtast- und Bezugssignale gebildet werden, die jeweils zu dem in Abtastrichtung gleichen Abtastkoordinatenwert gehören, addiert werden. Jr>
- 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenzsignale über mehrere Abtastungen in der Weise aufsummiert werden, daß die augenblicklichen DifferenzsignalverläuFe für alternierende Abtastungen invertiert und entsprenhend invertiert oder nicht invertiert zu den bereits aufsummierten Differenzsignalverläufen addiert werden, welch letztere jedoch vor jeder alterniererden Addition um einen vorwählbaren Wert in Abtastkoordinatenrichtung verschoben werden. λ-,
- 5. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 4, mit einer Abtasteinrichtung, einer Einrichtung zur Bildung der mittleren Bezugsgröße, einem digitalen Speicher für die Bezugsgröße, einer Einrichtung zur Bildung des ">» Differenzsignals aus der Bezugsgröße und den folgenden Abtastsignalverläufen und einer Amplitudendiskriminatoreinrichtung,derein vom Differenzsignal abhängiges Signal zuführbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß die folgenden Bauelemente in v> der Reihenfolge ihrer Aufzählung hintereinander angeordnet sind: ein erster digitaler Speicher (6), der synchron mit den Abtastungen betreibbar ist und Adressenspeicherplätzc für eine repräsentative Anzahl von in vorbestimmten Abtastintervallen w> während einer Abtastung ermittelten Amplitudenwcricn sowie eine zur Speicherung des entsprechenden Wertes der aufsummiertcn Amplitiidcnwrrle einer solchen Anzahl von Abtastsignalvcrläufcii Λ ausreichende K;ip;r/itiit aufweist, die die Berech >■■'< mmc eines akzeptablen mittleren H c / π u s s 14; η ;ι Ι ν ς· r Imil'es Ii gestattet, ein digitaler Dividierer (M) zur Hercclin'inc des mittleren Uivii;rssiinialverlaufs R durch Dividieren der abgetasteten aufsummierten Amplitudenwerte der Abtastsignalverläufe A durch die Anzahl der aufsummierten Abtastsignalverläufe A, ein erster digitaler Addierer (2) zum Berechnen des Differenzsignalverlaufs A-R aus den entsprechenden Amplitudenwerten des Bezugssignalverlaufs R und denen der folgenden Abtastsignalverläufe A, so daß alle folgenden Abtastsignale A geglättet werden, aber die sich auf Materialfehler beziehenden Signale erhalten bleiben, und die Amplitudendiskriminatoreinrichtung zur Feststellung von Materialfehlersignalen in dem Differenzsignalverlauf A-R.
- 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch einen zweiten digitalen Speicher (22) mit einem zweiten digitalen Addierer (21) zum kohärenten Addieren aufeinanderfolgender augenblicklicher Differenzsignalverläufe A-R in jeder Gruppe aus einer vorbestimmten Anzahl P von Abtastungen und die Diskriminierung jeder aufsummierten Gruppe von P Signalverläufen A-R mittels eines bipolaren Diskriminaiors (36) mit Schwellwerten, die der vorbestimmten Anzahl fernsprechen.
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch einen dritten digitalen Addierer (33), der durch ein Eins/Null/Wahr/Komplement-Element (31) so betätigbar ist, daß die Adressenspeicherplätze für die aufsummiei ien Teilsummenwerte um eine vorbestimmte Anzahl von Einheiten bei aufeinanderfolgenden geradzahligen oder ungeradzahligen Abtastungen in dem zweiten digitalen Speicher (22) verschoben werden; und ein Wahr/Komplement-Element (20) zum Invertieren der augenblicklichen Differenzsignalverläufe A-R bei den geradzahligen (oder ungeradzahligen) Abtastungen am Eingang des zweiten digitalen Addierers (21).
- 8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein Analog/Digital-Umselzer (1) zur Umsetzung logarithmisch behandelter Abtastsignale A in digitak.r Form vorgesehen ist, so daß der erste digitale Addierer (2) Verhältnissignalverläufe log zVÄaus aufeinanderfolgenden Abtastsignalverläufen A bildet, aber die Materialfchlersignale weiterhin in unveränderter Größe relativ zu den fehlerfreien Teilen der Verhältnissignalverläufe log A/R in Erscheinung treten.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/577,394 US4005281A (en) | 1975-05-14 | 1975-05-14 | Defect identification with normalizing of gain function in optical-electrical inspection |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2621109A1 DE2621109A1 (de) | 1976-11-25 |
DE2621109B2 true DE2621109B2 (de) | 1980-07-10 |
Family
ID=24308526
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2621109A Ceased DE2621109B2 (de) | 1975-05-14 | 1976-05-13 | Verfahren zum Feststellen von Fehlern auf einer laufenden Materialbahn durch optisch-elektrische Überwachung und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4005281A (de) |
DE (1) | DE2621109B2 (de) |
LU (1) | LU74943A1 (de) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1975
- 1975-05-14 US US05/577,394 patent/US4005281A/en not_active Expired - Lifetime
-
1976
- 1976-05-13 DE DE2621109A patent/DE2621109B2/de not_active Ceased
- 1976-05-13 LU LU74943A patent/LU74943A1/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
LU74943A1 (de) | 1977-02-11 |
DE2621109A1 (de) | 1976-11-25 |
US4005281A (en) | 1977-01-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8235 | Patent refused |