DE2356304A1 - Verfahren zur gewinnung von fehleranalysedaten - Google Patents

Verfahren zur gewinnung von fehleranalysedaten

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Peter Dolph
Hans H Lampe
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    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS54147797A (en) * 1978-05-11 1979-11-19 Seiko Epson Corp Electronic device of liquid crystal display
JPS56144764U (enrdf_load_stackoverflow) * 1980-03-28 1981-10-31
US4589080A (en) * 1982-06-11 1986-05-13 International Business Machines Corporation Apparatus and method for predicting failure in a copier's paper path
FR2552953B1 (fr) * 1983-09-30 1988-03-25 Cepe Resonateur piezo-electrique pour environnement severe
JPS6326761A (ja) * 1986-07-21 1988-02-04 Hitachi Ltd ソフトウエア異常診断方式
GB2281631A (en) * 1993-09-07 1995-03-08 Liu Shun Fa Test apparatus

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