DE2128127A1 - Verfahren zur Ermittlung der opti malen Fokussierung eines Elektronen Strahls einer Schweißmaschine mittels Ana lyse der durch die Schweißstelle emit tierten Infrarotstrahlung - Google Patents
Verfahren zur Ermittlung der opti malen Fokussierung eines Elektronen Strahls einer Schweißmaschine mittels Ana lyse der durch die Schweißstelle emit tierten InfrarotstrahlungInfo
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| LU61048 | 1970-06-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2128127A1 true DE2128127A1 (de) | 1971-12-09 |
Family
ID=19726380
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19712128127 Pending DE2128127A1 (de) | 1970-06-02 | 1971-06-02 | Verfahren zur Ermittlung der opti malen Fokussierung eines Elektronen Strahls einer Schweißmaschine mittels Ana lyse der durch die Schweißstelle emit tierten Infrarotstrahlung |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3760144A (en:Method) |
| BE (1) | BE767727A (en:Method) |
| CA (1) | CA972819A (en:Method) |
| DE (1) | DE2128127A1 (en:Method) |
| FR (1) | FR2095825A5 (en:Method) |
| GB (1) | GB1330226A (en:Method) |
| LU (1) | LU61048A1 (en:Method) |
| NL (1) | NL7107490A (en:Method) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3344683A1 (de) * | 1983-12-10 | 1985-06-20 | Gustav Stähler GmbH & Co KG, 5909 Burbach | Verfahren und einrichtung zum ueberwachen oder steuern des schweissvorgangs beim verschweissen von werkstuecken im lichtbogenschweissverfahren |
| IT1180008B (it) * | 1984-03-02 | 1987-09-23 | Fiat Ricerche | Metodo e dispositivo per il controllo dei processi di saldatura mediante l'analisi della luminosita generata durante il processo |
| GB2509069B (en) * | 2012-12-19 | 2021-01-13 | Aquasium Tech Limited | A method of positioning an electron beam |
| US9267842B2 (en) | 2013-01-21 | 2016-02-23 | Sciaps, Inc. | Automated focusing, cleaning, and multiple location sampling spectrometer system |
| US9243956B2 (en) | 2013-01-21 | 2016-01-26 | Sciaps, Inc. | Automated multiple location sampling analysis system |
| US9435742B2 (en) * | 2013-01-21 | 2016-09-06 | Sciaps, Inc. | Automated plasma cleaning system |
| US9360367B2 (en) | 2013-01-21 | 2016-06-07 | Sciaps, Inc. | Handheld LIBS spectrometer |
| US9952100B2 (en) | 2013-01-21 | 2018-04-24 | Sciaps, Inc. | Handheld LIBS spectrometer |
| US9664565B2 (en) | 2015-02-26 | 2017-05-30 | Sciaps, Inc. | LIBS analyzer sample presence detection system and method |
| US9651424B2 (en) | 2015-02-26 | 2017-05-16 | Sciaps, Inc. | LIBS analyzer sample presence detection system and method |
| US10209196B2 (en) | 2015-10-05 | 2019-02-19 | Sciaps, Inc. | LIBS analysis system and method for liquids |
| US9939383B2 (en) | 2016-02-05 | 2018-04-10 | Sciaps, Inc. | Analyzer alignment, sample detection, localization, and focusing method and system |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2089015A (en) * | 1935-10-05 | 1937-08-03 | Union Carbide & Carbon Corp | Control system for welding and cutting machines |
| CH311812A (de) * | 1951-11-05 | 1955-12-15 | Zeiss Carl Fa | Aufdampfeinrichtung. |
| NL240710A (en:Method) * | 1958-07-01 | |||
| US3049618A (en) * | 1959-05-13 | 1962-08-14 | Commissariat Energie Atomique | Methods and devices for performing spectrum analysis, in particular in the far ultraviolet region |
| DE1299498B (de) * | 1964-07-24 | 1969-07-17 | Steigerwald Strahltech | Vorrichtung zur UEberwachung des Strahlauftreffbereichs in Korpuskularstrahl-Bearbeitungsgeraeten |
| US3299250A (en) * | 1965-09-17 | 1967-01-17 | Welding Research Inc | Welding system |
-
1970
- 1970-06-02 LU LU61048D patent/LU61048A1/xx unknown
-
1971
- 1971-05-27 BE BE767727A patent/BE767727A/xx unknown
- 1971-05-28 US US00148113A patent/US3760144A/en not_active Expired - Lifetime
- 1971-06-01 NL NL7107490A patent/NL7107490A/xx unknown
- 1971-06-01 CA CA114,593A patent/CA972819A/en not_active Expired
- 1971-06-02 DE DE19712128127 patent/DE2128127A1/de active Pending
- 1971-06-02 GB GB1863671*[A patent/GB1330226A/en not_active Expired
- 1971-06-02 FR FR7120010A patent/FR2095825A5/fr not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US3760144A (en) | 1973-09-18 |
| CA972819A (en) | 1975-08-12 |
| BE767727A (en:Method) | 1971-10-18 |
| FR2095825A5 (en:Method) | 1972-02-11 |
| LU61048A1 (en:Method) | 1971-08-13 |
| GB1330226A (en) | 1973-09-12 |
| NL7107490A (en:Method) | 1971-12-06 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| OHA | Expiration of time for request for examination |