DE2028821A1 - Gehäuse fur eine Halbleitervor richtung - Google Patents
Gehäuse fur eine Halbleitervor richtungInfo
- Publication number
- DE2028821A1 DE2028821A1 DE19702028821 DE2028821A DE2028821A1 DE 2028821 A1 DE2028821 A1 DE 2028821A1 DE 19702028821 DE19702028821 DE 19702028821 DE 2028821 A DE2028821 A DE 2028821A DE 2028821 A1 DE2028821 A1 DE 2028821A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- vessel
- sleeve
- edge
- layer
- hermetically
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 18
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 18
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000283160 Inia Species 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000139306 Platt Species 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCEXQRKSUSSDFT-UHFFFAOYSA-N [Mn].[Mo] Chemical compound [Mn].[Mo] PCEXQRKSUSSDFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- MHKKFFHWMKEBDW-UHFFFAOYSA-N dimethyl 2,5-dioxocyclohexane-1,4-dicarboxylate Chemical compound COC(=O)C1CC(=O)C(C(=O)OC)CC1=O MHKKFFHWMKEBDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 235000015149 toffees Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/043—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
- H01L23/047—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body the other leads being parallel to the base
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/053—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
- H01L23/057—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body the leads being parallel to the base
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32153—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
- H01L2224/32175—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being arranged next to each other, e.g. on a common substrate the item being metallic
- H01L2224/32188—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being arranged next to each other, e.g. on a common substrate the item being metallic the layer connector connecting to a bonding area protruding from the surface of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/45124—Aluminium (Al) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01019—Potassium [K]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01025—Manganese [Mn]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01039—Yttrium [Y]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01063—Europium [Eu]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/0132—Binary Alloys
- H01L2924/01322—Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16152—Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49169—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor
- Y10T29/49171—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
Patentanwälte
Dlpl.-Ing. R. B E E T Z sen.
Dip!-Ing. K. LAMPRECHT
Dr.-Ing. R1BEETZJr.
8 München 22, SUlntdorfttr. 10
88 11.6.1970
HITACHI / LTD., T ο k i ο (Japan)
Die Erfindung bezieht sich auf ein Gehäuse für eine
Halbleitervorrichtung, insbesondere zur Verwendung bei einer integrierten Halbleiterschaltung mit hoher Ausgangeleistungo
Obwohl es bei einer Vorrichtung mit integrierter Halbleiterschaltung praktiziert wurde, einen Halbleiterkörper
in einer keramischen Hülle vorwiegend aus Aluminiumoxyd anzuordnen, ist die Abstrahlung der im Halbleiterkörper
erzeugten Hitze aufgrund der schlechten Wärmeleitfähigkeit des Keramikwerketoffee selbst nicht gut. Daher ist entsprechend einem bekannten Hüllenaufbau i« Tall einer integrierten Halbleiterschaltung aur Verwendung mit hoher
Ausgangsleistung ein Teil in der jKeramikhülle, an de» die :
Halbleiterwaffei befestigt wird, durchbohrt, und ein Me- :
tallaapfen aus x. B· Kupfer «it guter Leitfähigkeit wird
8i-(pos. 2i 823)Tp-r (7) 009882/1443
da eingefügt and fsetgelogto Iss eiaer a®l@iaoia
-jedochg da Icöramiaehsa Material taad Ma tall
WärnieaissdeliMiagskoaffizi®!a^©a
befestigt SiBd9 Fofaier um£$ ljmd©E3 di© Toil© zusammenpassen und dor IseirosiiosBKä) Uorkstsoff aiii; Festigkcsit cfairch themssiscSiio s3jp>©iMiua]nig vQS'fQE'Hi'fe cjAjrdljj ΐ7© durch ein Miß is diesos analTteitf taad θi©lh gims zwischen dem keraaaiaeSissa Uerksfeoff wrad d©ii Metall ©s'glb Beim Versuch dey V©s*ojoidiasi^ solcher Mosäteilo uäirdl oäsn© Metallaohiehtj z· Bo aus einer iS@baltIogi©inia dem keraaiieüli®n Werkstoff mnü dom Metall QlQ ein© soleJae Yerforsanang eingefügt, doch dia Yerformuag nand Zerstörung der keramischen Hülles die durch das raangelnd® thermische Ziasaaaiaenpasseai auftreten» laeseia si<sla so jmielat völlig vermaiden«
befestigt SiBd9 Fofaier um£$ ljmd©E3 di© Toil© zusammenpassen und dor IseirosiiosBKä) Uorkstsoff aiii; Festigkcsit cfairch themssiscSiio s3jp>©iMiua]nig vQS'fQE'Hi'fe cjAjrdljj ΐ7© durch ein Miß is diesos analTteitf taad θi©lh gims zwischen dem keraaaiaeSissa Uerksfeoff wrad d©ii Metall ©s'glb Beim Versuch dey V©s*ojoidiasi^ solcher Mosäteilo uäirdl oäsn© Metallaohiehtj z· Bo aus einer iS@baltIogi©inia dem keraaiieüli®n Werkstoff mnü dom Metall QlQ ein© soleJae Yerforsanang eingefügt, doch dia Yerformuag nand Zerstörung der keramischen Hülles die durch das raangelnd® thermische Ziasaaaiaenpasseai auftreten» laeseia si<sla so jmielat völlig vermaiden«
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde9 ein ksraii*
solle». Geliäma© zu schaffenf das eine
lisng asiififeist und geeignet ist» di© Verfformaiag Tand
rums des keramischen Materials infolge der tltenisehen
AusdehnungsunterschiedQ zu urerraeideiio
Gegenstand der Erfindung$ mit der disco Aufgabe gc
löst wirdj ist ein Gehäuse für eine
insbesondere zur Verwendung bei eines* integriertem
leiterschaltung, gekennzeichnet durchs
ein Gefäß aus keramischem Material- mit einer
ein Wärmeabatrahltail ma metall!acheoa Material mit
einem vorragenden TeIl9 der.in äia
fftßes hineinragt und «inen J.b»t«n4 το« QmtBM
eine Hüls® aus
lichen dem gleichen Ausdehnungskoeffizienten wie dem de· Gefäßes, die an einem Ende einen hermetisch an
der Bodenfläche des Gefäßes haftenden Rand aufweist, wobei sich das Wärmeabstrahlteil durch die Hülse erstreckt und hermetisch an der Hülse haftet?
einen Halbleiterkörper, der mit der Oberseite des
vorragenden Teils des Wärmeabstrahlteils verbunden ist ι und
einen am Gefäß angebrachten Deckel zur Bildung eines den Halbleiterkörper zwischen dem Deckel und dem Gefäß einschließenden Raumes.
Nach einem Ausführungsbeispiel der Erfindung werden das keramische Material und das metallische Material zur
Wärmeabstrahlung mit einem gegenseitigen Zwischenraum angeordnet und mittels einer Metal!hülse mit einem zylindrischen Vorsprung verbunden«
Die Merkmale und Vorteile der Erfindung werden anhand der in der Zeichnung veranschaulichten Ausführungsbeispiele näher erläutert; darin zeigent
Fig. 1 einen vollständigen Längsschnitt zur Erläuterung des wesentlichen Aufbaues eines Gehäuses
gemäß einem AusfUhrungsbeispiel der Erfindung}
Fig. 2 und 3 Längsschnitte von Hauptteilen von Gehäusen zur Erläuterung weiterer Aueführungsbeispiele der Erfindung.
009882/1U3
Zunächst soll ein Ausführungsbeisplel der Erfindung
anhand der Fig. 1 erläutert werden! Mit 1 ist ein keramisches
Gefäß bezeichnet» das der Hauptbestandteil des Gehäuaes
ist, mit 2 ist eine Öffnung, z. B« eine kreisförmige Öffnung bezeichnet, die in der Mitte des Bodens des
Keramikgefäßes gebohrt ist, mit 3 ist ein WHrmeabstrahlteil
bezeichnet, das lose lii die kreisförmige Öffnung 2
eingefUgt ist und einen zylindrischen Vorsprung 4 aufweist, mit 5 ist eine Metallhülse bezeichnet, die ©ng in Berührung mit dem Boden des Keramikgefaßes 1 und dem Abstrahlteil 3 ist und einen hohlen zylindrischen Vorsprung 6 aufweist, um den Raum, in welchem ein Halbleiterkörper einzukapseln ist, dicht abzuschließen, mit 7 ißt ein
Schraubenteil bezeichnet, das unter dem Abstrahlte!! 3
vorgesehen ist, mit 8 ist ein Halbleiterkörper bezeichnet, der auf der Endfläche dee zylindrischen Vorsprung® k befestigt ist, mit 9 ist eine äußere Zuführung bezeichnet» mit 10 ist ein Anschlußdraht aus Aluminium oder Gold zur Verbindung einer Halbleiterelektrode mit der äußeren Zuführung bezeichnet, mit 11 1st eine Glasechicht bezeichnet, und mit 12 1st ein Deckel aus ze B« keramischem Werkstoff bezeichnet, der eng an der Glasechicht 11 angebracht ist, um die obere Öffnung des Keramikgehäuses abzudichten«
eingefUgt ist und einen zylindrischen Vorsprung 4 aufweist, mit 5 ist eine Metallhülse bezeichnet, die ©ng in Berührung mit dem Boden des Keramikgefaßes 1 und dem Abstrahlteil 3 ist und einen hohlen zylindrischen Vorsprung 6 aufweist, um den Raum, in welchem ein Halbleiterkörper einzukapseln ist, dicht abzuschließen, mit 7 ißt ein
Schraubenteil bezeichnet, das unter dem Abstrahlte!! 3
vorgesehen ist, mit 8 ist ein Halbleiterkörper bezeichnet, der auf der Endfläche dee zylindrischen Vorsprung® k befestigt ist, mit 9 ist eine äußere Zuführung bezeichnet» mit 10 ist ein Anschlußdraht aus Aluminium oder Gold zur Verbindung einer Halbleiterelektrode mit der äußeren Zuführung bezeichnet, mit 11 1st eine Glasechicht bezeichnet, und mit 12 1st ein Deckel aus ze B« keramischem Werkstoff bezeichnet, der eng an der Glasechicht 11 angebracht ist, um die obere Öffnung des Keramikgehäuses abzudichten«
Das keramische Gefäß 1 und der keramische Deckel 12 bestehen aus keramischem Werkstoff, dessen Hauptbestandteil
Aluminiumoxyd, Al O. ist. Das Abstrahlteil 3 besteht aus hochwärmeleitfählgem Material wie Kupfer oder einer
hauptsächlich aus Kupfer bestehenden Legierung· Die Metallhülse 5 besteht aus einem Metall, z. B. Koval (Warenzeichen für eine Legierung aus Fe-Co-Ni) und hat den gleichen oder einen ähnlichen Wärmeausdehnungskoeffizienten wie den des Keramikgefäßes 1. Die Schicht 13 ist eine Molybdän und
hauptsächlich aus Kupfer bestehenden Legierung· Die Metallhülse 5 besteht aus einem Metall, z. B. Koval (Warenzeichen für eine Legierung aus Fe-Co-Ni) und hat den gleichen oder einen ähnlichen Wärmeausdehnungskoeffizienten wie den des Keramikgefäßes 1. Die Schicht 13 ist eine Molybdän und
009882/UA3
Mangan enthaltende metallisierte Schicht« die nach bekannten Drucktechniken auf dem Boden dea Keramikgefäßes 1
angebracht ist» Die Schicht 14 ist eine Metallschicht,
z. B. eine plattierte Metallschicht aus Nickel oder Kupfer, die Z0 B. durch Elektroplattieren auf die metallisierte Schicht 13 aufgebracht ist. Die Schicht 15 ist
eine Silberlötschicht, die an der Flattierschicht haftet. So ist die Metallhülse 5 mit der Bodenfläche des Keramikgefäßes 1 über diese Schichten 13, i4 und 15 verbunden« Die Kupfer- bzw· Nickelschicht 14 wird benutzt, um
eine gute Haftung der Lötschicht 15 zu erhalten, da es
schwierig ist, die Molybdän-Manganschicht 13 direkt alt der Metallhülse 5 zu verlöten·
Ein Teil des zylindrischen Vorsprung» 6 der Metallhülse 5 und das Abstrahlten 3 sind über ein· Lötsohlcht
16 aus z. B. Goldlötmittel verbunden. Der Halbleiterkörper 8 ist mit dem Abstrahlteil 3 über eine Gold-Silizium-Butektikumschicht oder ein· Silberfoliensohioht 17 verbunden. Die Verbindung zwischen dem Boden des Keramikgefäß·· 1 und der Metallhüls· j$ kann direkt vorgenommen wurden, indem man z« B. ein Glas mit «inem niedrigen Schmelzpunkt verwendet·
Bei einem solchen Aufbau passen das Xeramikgefftfi 1
und die Metallhüls· 5 thermisch zueinander» da sie den
gleichen oder nahezu gleichen Wärmeausdehnungskoeffieien..
ton aufweisen. Vas die MetallhUlse 5 und das Abstrahlteil 3 betrifft, so ist, obwohl sie aufgrund ihrer verschiedenen Wärmeausdehnungskoeffizienten thermisch nicht
zueinander passen, die Wärmespannung im hohlen zylindrischen Vorsprung 6 der Metallhülse 5 konzentriert· Der zy-
009882/U4 3
2028827
lindrische Vorsprung k des Ab strahl teils und das Keramikgefäß
1 haben einen ringförmigen Raum 2 zwischen einander
und können sich so in diesem Ramm bewegen,, so daß kein
Einfluß der thermischen Spannung auf* da« Keramikgefäß 1
auftritt, und daher besteht keine Gefahr der Rißbildung
und des Absohälens usw.
Einfluß der thermischen Spannung auf* da« Keramikgefäß 1
auftritt, und daher besteht keine Gefahr der Rißbildung
und des Absohälens usw.
Die Metallhülse 5 alt einem kohlen zylindrischen Vorsprung
6, der die thermische Spannung zwischen dem Keramikgefäß
1 und dem Abstrahlteil 3 absorbiert9 kann auch
in anderen Formen als its Äiiefühnisngabeispiel nach Fig. 1
dargestellt ist, auegebildet werctaa» Sie kann mit dem Abstrahlteil 3 in der Welea wirbundera werden 9 daß das Ende
18 des hohlen zylindrischen Vorspruags 6 weiter nach außen gebogen ist» wie Fig. 2 sgeigt» ©€ΐ©κ> in der WeiseB daß das End« 19 nach innen g«bogen ist«, wie Fig* 3
in anderen Formen als its Äiiefühnisngabeispiel nach Fig. 1
dargestellt ist, auegebildet werctaa» Sie kann mit dem Abstrahlteil 3 in der Welea wirbundera werden 9 daß das Ende
18 des hohlen zylindrischen Vorspruags 6 weiter nach außen gebogen ist» wie Fig. 2 sgeigt» ©€ΐ©κ> in der WeiseB daß das End« 19 nach innen g«bogen ist«, wie Fig* 3
Es braucht nistit. ®rwähnt xu w»TU@np dmß auoh der Boden das Abstrahlfeile 3 ist im<i©rer Weise ausgebildet werden kann, um an einer gedmsektea Platt« festlagt»«« zu sei
dl« von der in Figo 1 bis 3 dargestellten Weise mit einer
Schraube 7 und einer ¥®rtoindurigiStmirit®r
009882/144
Claims (1)
- Patentanspruch·Gehäuse für eine Halbleitervorrichtung, insbesondere zur Verwendung bei einer integrierten Halbleiter» schaltung, gekennzeichnet durchsein Gefäß (i) aus keramischem Material mit einer Öffnung (2)|ein VUrmeabstrahlteil (3) aus metallischem Material mit einem vorragenden Teil (*»), der in die Öffnung des Gefäßes hineinragt und einen Abstand vom Gefite hat}eine Hülse (5) aus metallischem Material mit im wesentlichen dem gleichen Ausdehnungskoeffizienten wie dem des Gefäßes, die an einem Ende einen hermetisch an der Bodenfläch· des Gefäßes haftenden Rand aufweist, wobei sich das Wärmeabstrahlteil durch die HUlse erstreckt und hermetisch an der Hülse haftet}einen Halbleiterkörper (8), der mit der Oberseite des vorragenden Teils des Värmeabstrahlteils verbunden istj undeinen am Gefäß angebrachten Deckel (i2) zur Bildung eines den Halbleiterkörper zwischen dem Deckel und dem Gefäß einschließenden Raumes·2. Gehäuse nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Hülse (5) am anderen Ende einen hermetisch am Värmeabstrahl teil (3) haftenden Rand (Vorsprung 6) aufweist.3. Gehäuse nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,009882/UA3daß das Wärmeabstrahlteil (3) einen Rand hats dessen Oberfläche sich im wesentlichen parallel zur Bodenseite des Gefäßes (1) erstrecktt wobei der Rand der Hülse (5) am oberen Ende hermetisch an der Fläche des Randes des Värmeabstrahlteils haftet.h. Gehäuse nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß" das Gefäß (1) im wesentlichen aus Aluminiumoxyd besteht, während die Hülse (5) im wesentlichen aus einer Legierung von Lisen, Kobalt und Nickel besteht.5. Gehäuse nach Anspruch ks dadurch gekennzeichnet,, daß die Hülse (5) über eine dreifache Schicht aus einer metallisierten Schicht (13) aus Molybdän und Mangan, die auf der Bodenschicht des Gefäßes (1) ausgebildet istfl einer mittleren Schicht (lh) aus der Gruppe Nickel und Kupfer, die auf der metallisierten Schicht angebracht ist, und einer Lötschicht (15)? die zwischen der mittleren Schicht und dem Rand der Hülse angebracht ists hermetisch am Gefäß (i) haftet.009882/UA3
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1969055882U JPS4913660Y1 (de) | 1969-06-16 | 1969-06-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2028821A1 true DE2028821A1 (de) | 1971-01-07 |
DE2028821B2 DE2028821B2 (de) | 1976-01-22 |
Family
ID=13011453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702028821 Pending DE2028821B2 (de) | 1969-06-16 | 1970-06-11 | Gehaeuse fuer ein halbleiterbauelement |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3644798A (de) |
JP (1) | JPS4913660Y1 (de) |
DE (1) | DE2028821B2 (de) |
FR (1) | FR2047890B1 (de) |
GB (1) | GB1296744A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2248303A1 (de) * | 1971-10-02 | 1973-04-12 | Kyoto Ceramic | Halbleiterbauelement |
DE3231389A1 (de) * | 1981-08-29 | 1983-03-10 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Gleichrichteranordnung mit einem halbleiter-diodenplaettchen |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3836825A (en) * | 1972-10-06 | 1974-09-17 | Rca Corp | Heat dissipation for power integrated circuit devices |
US4262300A (en) * | 1978-11-03 | 1981-04-14 | Isotronics, Inc. | Microcircuit package formed of multi-components |
US5650593A (en) * | 1994-05-26 | 1997-07-22 | Amkor Electronics, Inc. | Thermally enhanced chip carrier package |
US5640045A (en) * | 1996-02-06 | 1997-06-17 | Directed Energy, Inc. | Thermal stress minimization in power semiconductor devices |
US6020628A (en) * | 1997-07-21 | 2000-02-01 | Olin Corporation | Optical component package with a hermetic seal |
US20110281136A1 (en) * | 2010-05-14 | 2011-11-17 | Jenq-Gong Duh | Copper-manganese bonding structure for electronic packages |
US9559036B1 (en) | 2014-08-01 | 2017-01-31 | Altera Corporation | Integrated circuit package with plated heat spreader |
-
1969
- 1969-06-16 JP JP1969055882U patent/JPS4913660Y1/ja not_active Expired
-
1970
- 1970-06-04 GB GB1296744D patent/GB1296744A/en not_active Expired
- 1970-06-05 US US43787A patent/US3644798A/en not_active Expired - Lifetime
- 1970-06-11 DE DE19702028821 patent/DE2028821B2/de active Pending
- 1970-06-15 FR FR707021899A patent/FR2047890B1/fr not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2248303A1 (de) * | 1971-10-02 | 1973-04-12 | Kyoto Ceramic | Halbleiterbauelement |
DE3231389A1 (de) * | 1981-08-29 | 1983-03-10 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Gleichrichteranordnung mit einem halbleiter-diodenplaettchen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3644798A (en) | 1972-02-22 |
GB1296744A (de) | 1972-11-15 |
FR2047890A1 (de) | 1971-03-19 |
DE2028821B2 (de) | 1976-01-22 |
JPS4913660Y1 (de) | 1974-04-04 |
FR2047890B1 (de) | 1973-01-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3887801T2 (de) | Mit einer Wärmeabfuhrvorrichtung versehene gedruckte Schaltung. | |
DE102009055691B4 (de) | Leistungshalbleitermodul | |
DE4135189B4 (de) | Verfahren zur Montage des Gehäuses eines Halbleiter-Bauelements | |
DE2240781B2 (de) | FlussigkristallzeUe | |
DE60111330T2 (de) | Lötstruktur und elektronische leiterplatte | |
DE29825062U1 (de) | Optoelektronisches Bauelement | |
DE2937050C2 (de) | ||
DE102005039165B4 (de) | Draht- und streifengebondetes Halbleiterleistungsbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung | |
EP0931343A1 (de) | Chipmodul insbesondere zur implantation in einen chipkartenkörper | |
DE2236007A1 (de) | Elektronischer schaltungsblock und verfahren zu seiner herstellung | |
DE19829197A1 (de) | Strahlungsaussendendes und/oder empfangendes Halbleiter-Bauelement | |
DE2248303A1 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE2028821A1 (de) | Gehäuse fur eine Halbleitervor richtung | |
EP1699089A1 (de) | Verfahren und Giessform zur Herstellung eines optischen Halbleitermoduls | |
DE2315711A1 (de) | Verfahren zum kontaktieren von in einem halbleiterkoerper untergebrachten integrierten schaltungen mit hilfe eines ersten kontaktierungsrahmens | |
DE10297264B4 (de) | Halbleitervorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE2937051A1 (de) | Flachpaket zur aufnahme von elektrischen mikroschaltkreisen und verfahren zu seiner herstellung | |
DE10301510B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Verkleinerten Chippakets | |
DE1907567A1 (de) | Elektrische Schaltungseinheit | |
DE4423561A1 (de) | Oberflächenmontage-Elektronikbauteil mit Schmelzsicherung | |
EP0171838B1 (de) | Umhülltes elektrisches Element | |
DE3619636A1 (de) | Gehaeuse fuer integrierte schaltkreise | |
DE4238438A1 (en) | Semiconductor component - comprises chip with bonding sites, base with hollow to house chip and lid on upper surface of chip | |
DE3885624T2 (de) | UV-Lichtdurchlässiges Gehäuse für integrierte Schaltungen. | |
DE3110080A1 (de) | Verfahren zum verbinden eines halbleiterkoerpers mit einem metallischen systemtraeger und danach hergestellte halbleiteranordnung |